JPH02176515A

JPH02176515A - 塗装膜厚測定装置

Info

Publication number: JPH02176515A
Application number: JP33208988A
Authority: JP
Inventors: Kaneo Yonekawa; 米川　鐘雄; Yasutoshi Kon; 近　泰俊
Original assignee: Central Motor Co Ltd
Current assignee: Central Motor Co Ltd
Priority date: 1988-12-28
Filing date: 1988-12-28
Publication date: 1990-07-09

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、塗装膜厚測定装置、さらに詳細には鋼板等
金属面の被塗装面に塗布された塗装の膜厚を被塗装面に
接触することなく測定可能な塗装膜厚測定装置にかかる
。

（従来の技術）従来の膜厚測定装置としては、塗料の非磁性性質を利用
して行うものであった。すなわち、塗布された塗料が凝
固後の塗装面に接触子を接触させ、受発信コイルを内臓
した各接触子間に磁界を生成する。磁界は、塗装皮膜に
よる電磁気抵抗により減衰され、受信コイルにて感知さ
れる。

従って、膜厚に反比例した磁束の変化を検出することで
演算により塗装膜厚を求める。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら、従来の塗装膜厚測定装置では接触端子は
塗装面に接触させる必要があった。そのため、塗装膜厚
の測定は塗装後乾燥させてからはじめて可能であり、測
定値の塗装装置へのフィードバックは、塗装工程、乾燥
工程、測定工程、データ解析工程、塗装装置へのフィー
ドバック工程の各工程をへてはじめて可能であった。そ
のため、塗装状態に応じた塗布量等の塗装条件変更への
対応が遅れ、塗装状態の品質向上、安定化が困難となる
課題を有した。

他方、金属の電気的磁気的性質を利用することで、金属
板表面との距離を金属板と接触することなくもとめる測
定装置としては、渦電流式の測定装置、静電容量を利用
した測定装置等が知られている。さらに、発明者は、塗
装された金属板に投光した場合塗装表面で反射すること
、したがって金属板表面との距離を金属板と接触するこ
となくもとめる測定装置によりえられた値と、反射光を
受光することにより得られる塗装面との距離の値の差を
演算することにより、塗装膜厚を求められることを知見
した。

（課題を解決するための手段）この発明は、これら知見に基づくもので、表面に塗装さ
れた被塗装物の被塗装表面との距離を被塗装物の電気的
性質を利用して塗装面と接触することなく測定する被塗
装物表面距離測定手段と、被塗装物表面に塗布された液
状塗装膜表面に投光しその反射光を受光するごとにより
塗装膜表面との距離を測定する塗装面距離測定手段と、
被値と塗装面距離測定手段によりえられる測定値との差
から塗装膜厚を演算する演算手段とからなることを特徴
とする塗装膜厚測定装置を提供する。

（作用）被塗装物表面距離測定手段により、表面に塗装された被
塗装物の被塗装表面との距離を被塗装物の電気的性質を
利用して塗装面と接触することなく測定する。他方、塗
装面距離測定手段により、被塗装物表面に塗布された液
状塗装膜表面に投光しその反射光を受光することにより
塗装面との距離を測定する。ついで、演算手段により被
塗装物表面距離測定手段によりえられる測定値と塗装面
距離測定手段によりえられる測定値との差から塗装膜厚
を演算する。

（実施例）この発明の実施例をあられす第１図、同一部拡大を表す
第２図、第３図にしたがって説明する。（１１）は、被
塗装物でありこの実施例では鋼板製の自動車ボデーであ
る。（１２）は、塗装膜であり、自動車組立ラインの塗
装工程で塗料を、塗着されて形成される。（２１）は、
被塗装物表面距離測定手段である。被塗装物表面距離測
定手段（２１）は、第１図、第２図に図示するように塗
装膜（１２）から離れて接触しない状態に設置される。

被塗装物表面距離測定手段（２１）は、第２図に図示す
るように、先端に高周波発振コイル（２２）と、検出コ
イル（２３）、開閉素子（２４）を設け、高周波発振コ
イル（２２）から高周波を発振する。すると、被塗装物
（１１）は、磁性金属からなるため密度の高い磁界の中
におかれることで帯電する。この時、発生した渦形の電
流が、高周波によって生じた磁界を打ち消す方向に流れ
ることから磁性金属内では、ミクロ的な発熱が起こり受
けた磁界が減衰される。すなわち、渦電流損を生ずる。

渦電流損により高周波は減衰されるため、発振コイルで
は内部抵抗が変化する。すなわち、インピーダンス変化
を生ずる。インピーダンス変化を検出コイル（２３）で
感知すると高周波発振コイル（２２）の発振を停止する
が、同時に検出コイル（２３）で磁界を検出する。した
がって、渦電流損により減衰された磁界を検出すること
になる。そして物体の渦電流損の変化は、距離の変位に
比例するので、塗装膜（１２）を無視した被塗装物（１
１）の塗装膜（１２）側表面と被塗装物表面距離測定手
段（２１）との距離が求められる。

この実施例では、被塗装物表面距離測定手段（２１）と
して、渦電流式近接センサーを使用したが、被塗装物（
１１）と非接触状態で測定可能であれば他の手段でもよ
く、例えば、第３図に図示するような静電容量を利用す
る静電容量近接センサー（３１）を用いてもよい。

（４１）は、塗装面距離測定手段である。（４２）は、
半導体レーザ駆動回路、（４３）は半導体し−ザ、（４
４）は投光レンズ、（４８）は受光レンズ、（４６）は
光位置検出素子、（４７）はアンプであり、塗装面距離
測定手段（４１）を構成する。塗装面距離測定手段（４
１）では、投光レンズ（４４）を通してレーザ光を塗装
表面に投光する。すると、レーザ光は被塗装物（１１）
との相対角度±ｌＯ。

以内のほぼ面直状態において塗装膜（１２）表面で反射
する。塗装膜（１２）表面が塗装面距離測定手段（４１
）に第４図に図示するようにＡＢ力方向近接隔離すると
反射角が変化し、角度の変化は、受光レンズ（４５）を
通して光位置検出素子（４６）でもＡＢ力方向移動とし
て感知され、アンプ（４７）で増幅される。

（５１）は、演算手段であり被塗装物表面距離測定手段
（２１）と塗装面距離測定手段（４１）とに接続する。

そこで、被塗装物表面距離測定手段（２１）により、表
面に塗装された被塗装物（１１）の塗装膜（１２）側面
との距離を被塗装物（１１）の電気的磁気的性質を利用
して塗装面と接触することなく測定する。他方、塗装面
距離測定手段（４１）により、被塗装物（１１）表面に
塗布された塗装表面にレーザを投光しその反射光を光位
置検出素子（４６）で受光することにより塗装面との距
離を測定する。ついで、演算手段（５１）により被塗装
物表面距離測定手段（２１）によりえられる測定値と塗
装面距離測定手段（４１）によりえられる測定値との差
から塗装膜厚を演算する。このとき、両測定手段の設置
位置から生ずる誤差及び、シンナー分と塗粒分の比率（
レベリング）変化による、乾燥後膜厚の予測等には、テ
ィーチングにより得られる数値等によって修正又は補正
を行う。

（発明の効果）したがって、この発明では、非接触型であるため塗装膜
の乾燥を待つことなく測定可能であり、タイムリーなデ
ータを塗装面情報としてフィードバック可能である。そ
のため、塗装状態に応じた塗布量等の塗布条件の変化に
応じた塗布を行うことが可能であり塗装状態の品質安定
、向上が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の実施例図、第２図、第４図は一部
拡大図、第３図は他の実施例の一部拡大図である。（１１）・・・被塗装物、（１２）・・・塗装膜、（２
１）・・・被塗装物表面距離測定手段、（４１）・・・
塗装面距離測定手段、（５１）・・・演算手段

Claims

【特許請求の範囲】

表面に塗装された被塗装物の被塗装表面との距離を被塗
装物の電気的性質を利用して塗装膜と接触することなく
測定する被塗装物表面距離測定手段と、被塗装物表面に
塗布された液状塗装膜表面に投光しその反射光を受光す
ることにより塗装膜表面との距離を測定する塗装面距離
測定手段と、被塗装物表面距離測定手段によりえられる
測定値と塗装面距離測定手段によりえられる測定値との
差から塗装膜厚を演算する演算手段とからなることを特
徴とする塗装膜厚測定装置。