JPH02129544A - Ultrasonic flaw detecting device - Google Patents

Ultrasonic flaw detecting device

Info

Publication number
JPH02129544A
JPH02129544A JP63283181A JP28318188A JPH02129544A JP H02129544 A JPH02129544 A JP H02129544A JP 63283181 A JP63283181 A JP 63283181A JP 28318188 A JP28318188 A JP 28318188A JP H02129544 A JPH02129544 A JP H02129544A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
waveform
ultrasonic
ultrasonic wave
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63283181A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Nagai
敏 長井
Ichiro Furumura
古村 一朗
Taiji Hirasawa
平沢 泰治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63283181A priority Critical patent/JPH02129544A/en
Publication of JPH02129544A publication Critical patent/JPH02129544A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PURPOSE:To supervise the phase variation of the waveform of an ultrasonic wave reflected at each probe position visually by storing the reflection waveform of the ultrasonic wave from the adhesion surface in a sample which is detected by an ultrasonic wave probe together with position information on the probe. CONSTITUTION:The ultrasonic wave received signal from the sample 3 which is received by an ultrasonic wave transmitter receiver 1 through the ultrasonic wave probe 2 is supplied to a high-speed A/D converter 5 and converted into a digital waveform signal, which is stored in a digital memory 6 together with the probe position information of a position detector 4 for the probe 2. Then the ultrasonic wave data stored in the memory 6 is processed by a signal processor 7 and supplied to a display recorder 8 to display its image. Thus, the phase variation of the reflection waveform from the adhesive surface in the sample can be displayed visually to easily inspect a peeling state with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は超音波を用いて金属材料や非金属材料等の接着
面でのハクリ状況を検査する超音波探傷装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to an ultrasonic flaw detection device that uses ultrasonic waves to inspect peeling conditions on adhesive surfaces of metallic materials, non-metallic materials, and the like.

(従来の技術) 従来、金属とプラスチックあるいは材質の異なる金属同
志を接着した構造部材等の場合、これら部材の接着面の
品質を確保するため、超音波によるハクリ検査が実施さ
れている。
(Prior Art) Conventionally, in the case of structural members etc. in which metal and plastic or metals of different materials are bonded together, an ultrasonic peel inspection has been carried out to ensure the quality of the bonded surfaces of these members.

ところで、異種材質を接着した場合、これらの接着面で
はそれぞれの材質の音響インピータンスの差が比較的大
きいことから接着が確実になされていても、その接着面
で超音波の反射が生じることがある。このことは接着面
からのエコー高さだけで接着面でのハクリ状況を判定す
ることは極めて不正確な結果を招くことになり、このた
め限られたものにしか適用できなかった。
By the way, when dissimilar materials are bonded together, there is a relatively large difference in acoustic impedance between the two materials, so even if the bonding is secure, ultrasonic waves may be reflected at the bonded surfaces. be. This means that determining the peeling situation on the adhesive surface only based on the echo height from the adhesive surface would lead to extremely inaccurate results, and therefore could only be applied to a limited number of applications.

そこで、従来、接着面のエコー高さだけでなく音響イン
ピータンスの差による接着面エコーの位相変化に管口し
たハクリ検出法が考えられている。
Therefore, conventional peeling detection methods have been considered that rely not only on the echo height of the adhesive surface but also on the phase change of the adhesive surface echo due to the difference in acoustic impedance.

この音響インピータンスによる位相の変化は、例えば、
社団法人日本能率協会編「超音波試験技術(理論と実際
)」の第21頁〜第23頁に詳述されている。
This change in phase due to acoustic impedance is, for example,
It is explained in detail on pages 21 to 23 of ``Ultrasonic Testing Technology (Theory and Practice)'' edited by the Japan Management Association.

すなわち、音響インピータンスZlの媒質lから音響イ
ンピータンスZ2の媒質■との境界に垂直に入射した超
音波の音圧をPe、反射音圧をPrとすると、境界面で
の超音波の反射率はR−P r / P eであり、ま
た音響インピータンスとの関係は 22−2゜ Z2  +21 で表わされる。
In other words, if the sound pressure of an ultrasound that is perpendicularly incident on the boundary between a medium 1 with an acoustic impedance Zl and a medium 2 with an acoustic impedance Z2 is Pe and the reflected sound pressure is Pr, then the reflectance of the ultrasound at the interface is is R-Pr/Pe, and the relationship with acoustic impedance is expressed as 22-2°Z2+21.

ここでZ、>22の場合、Rは負の値になり反射波は入
射波に対して位相が逆になる。
Here, when Z>22, R becomes a negative value and the phase of the reflected wave is opposite to that of the incident wave.

このことから、前述の接る面に対し、ZlくZ2となる
ような方向から超音波を入射すれば、確実に接着してい
る場合の反射波は入射波と同位相になるものが、仮にパ
クリしている場合は、その境界は空気と接することから
、音響インピーダンスはほぼ0に近い空気層の影響によ
りZl>22の関係になり、反射波は入射波に対し位相
が逆位相となる。したがってこの関係の変化を利用すれ
ばハクリの検出ができることになる。
From this, it can be seen that if ultrasonic waves are incident on the above-mentioned contacting surfaces from a direction such that Z1 minus Z2, the reflected waves will have the same phase as the incident waves when the bond is secure, but if In the case of plagiarism, the boundary is in contact with the air, so the acoustic impedance has a relationship of Zl>22 due to the influence of the air layer, which is close to 0, and the reflected wave has an opposite phase to the incident wave. Therefore, peeling can be detected by utilizing changes in this relationship.

(発明が解決しようとしている課題) ところで、反射波の位相が入射波と同位相であるかを判
断するのは、入射波との比較結果からであるが、実際に
観測できるのは反射波形状だけであるため、確実に接着
した状態での反射波形とハクリ時の反射波形を間接的に
比較して判断しなければならない。
(Problem to be solved by the invention) By the way, whether the phase of the reflected wave is in the same phase as the incident wave can be determined from the comparison result with the incident wave, but what can actually be observed is the shape of the reflected wave. Therefore, it is necessary to make a judgment by indirectly comparing the reflected waveform when the adhesive is firmly adhered and the reflected waveform during peeling.

このことは、オペレータが接着状態およびハクリ状態の
夫々の波形の位相変化を熟知していなければならない。
This requires the operator to be familiar with the phase changes of the waveforms in the adhesion state and in the peeling state.

しかもこの場合の判断は波形の立上がり方向及び波形の
正側、負側の対称性等を基準としてなされるため、オペ
レータの主観に左右されやすいと共に、反射波形が乱れ
た場合等にそれらの波形の特徴が不明瞭になり誤判定し
てしまう問題点がありだ。
Moreover, in this case, the judgment is made based on the rising direction of the waveform and the symmetry of the positive and negative sides of the waveform, so it is easily influenced by the subjectivity of the operator, and when the reflected waveform is disturbed, etc. There is a problem that the characteristics may become unclear, leading to incorrect judgments.

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、被検体接着
面からの反射波形の位相変化を視覚表示することができ
、ハクリ状況を簡単に、しかも高精度に検査できる超音
波探傷装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and provides an ultrasonic flaw detection device that can visually display the phase change of the reflected waveform from the adhesive surface of the object and that can easily and highly accurately inspect the peeling situation. The purpose is to

[考案の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は異種材質を接着してなる被検体表面を走査され
る超音波探触子より検出される被検体内部の接着面から
の超音波反射波形をRF波形の状態で上記探触子の位置
情報とともに記憶し、この超音波RF波形を上記超音波
探触子位置と超音波伝播時間軸とによる二次元座標上に
該超音波RF波形の振幅に対応させたカラー階調により
表示するようになっている。
[Structure of the invention] (Means for solving the problem) The present invention uses ultrasonic waves from the adhesive surface inside the object detected by an ultrasonic probe that scans the surface of the object made by bonding different materials. The reflected waveform is stored as an RF waveform together with the position information of the probe, and the ultrasonic RF waveform is stored on a two-dimensional coordinate system based on the ultrasonic probe position and the ultrasound propagation time axis. The image is displayed using color gradation corresponding to the amplitude of the image.

(作 用) この結果、超音波探触子の走査位置に応じて収録された
被検体の接着面からの反射超音波波形データは探触子位
置と超音波波形データの時間軸との2次元座標上に上記
超音波波形データのRF波形の振幅をカラー階調に対応
づけして表示記録器に画像表示できるので探触子位置毎
に接着面より反射されてくる超音波波形の位相変化を視
覚的に監視できるようになる。
(Function) As a result, the reflected ultrasound waveform data from the adhesive surface of the object recorded according to the scanning position of the ultrasound probe is two-dimensional between the probe position and the time axis of the ultrasound waveform data. The amplitude of the RF waveform of the ultrasonic waveform data described above can be displayed on the display/recorder by associating it with the color gradation on the coordinates, so it is possible to see the phase change of the ultrasonic waveform reflected from the adhesive surface at each probe position. Visual monitoring becomes possible.

(実施例) 以下本発明の一実施例を図面にしたがい説明する。(Example) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は同実施例の回路構成を示すものである。図にお
いて、1は超音波送受信器で、この超音波送受信器1に
は超音波探触子2を接続している。この探触子2は異種
材質のものを接着して成る被検体3上に配置され、超音
波の送受信を行なうようになっている。また、この超音
波探触子2には探触子の走査と連動してその位置を検出
する位置検出器4を接続している。
FIG. 1 shows the circuit configuration of the same embodiment. In the figure, 1 is an ultrasonic transceiver, and an ultrasonic probe 2 is connected to this ultrasonic transceiver 1. The probe 2 is placed on a subject 3 made of different materials and is configured to transmit and receive ultrasonic waves. Further, a position detector 4 is connected to the ultrasonic probe 2 to detect its position in conjunction with scanning of the probe.

超音波探触子2を介して超音波送受信S1で受信した被
検体3からの超音波受信号を高速のアナログ・ディジタ
ル変換器5に与え、ここでディジタルの波形信号に変換
し、探触子2の位置検出器4の探触子位置情報とともに
ディジタルメモリ6に格納するようになっている。そし
て、ディジタルメモリ6に格納した超音波波形データを
、信号処理器7によって信号処理を行ない、表示記録器
8に与え、画像表示するようにしている。
The ultrasonic reception signal from the subject 3 received by the ultrasonic transmitter/receiver S1 via the ultrasonic probe 2 is applied to the high-speed analog-to-digital converter 5, where it is converted into a digital waveform signal and sent to the probe. The probe position information of the second position detector 4 is stored in the digital memory 6. Then, the ultrasonic waveform data stored in the digital memory 6 is subjected to signal processing by a signal processor 7, and is supplied to a display/recorder 8 for image display.

ここで信号処理器7は、ディジタルメモリ6に格納され
た探触子位置情報と超音波波形データから、探触子位置
と超音波波形の二次元座標上に表示される、超音波波形
の振幅を、カラー階調で対応づけした画像表示信号に変
換する機能と、位置検出器からの位置情報を基にアナロ
グ・ディジタル変換器5の動作を制御する機能を存する
もので、マイクロプロセッサ−により構成している。ま
た表示記録器8は、カラー画像を表示するカラーCRT
あるいはカラープリンターからなっている。
Here, the signal processor 7 calculates the amplitude of the ultrasonic waveform, which is displayed on the two-dimensional coordinates of the probe position and the ultrasonic waveform, from the probe position information and the ultrasonic waveform data stored in the digital memory 6. It has the function of converting the image into an image display signal associated with color gradation, and the function of controlling the operation of the analog-to-digital converter 5 based on the position information from the position detector, and is configured by a microprocessor. are doing. The display/recorder 8 is a color CRT for displaying color images.
Or it consists of a color printer.

次に、このように構成した実施例の動作を説明する。こ
の場合、被検体3は、第1図に示すように異種材料3a
、3bを接着して成るもので、このような被検体3の接
着面3Cでの71クリ状況を検査する場合を述べる。こ
の場合、超音波探触子2は探傷面側の材質3aの音響イ
ンピータンス21が他方の材質3bの音響インピータン
スZ2よりも小さくなるように探傷面を選択して配置す
る。
Next, the operation of the embodiment configured as described above will be explained. In this case, the object 3 is made of a different material 3a as shown in FIG.
, 3b are bonded together, and a case will be described in which the condition of 71 creases on the bonded surface 3C of the subject 3 is inspected. In this case, the ultrasonic probe 2 is arranged on the flaw detection surface so that the acoustic impedance 21 of the material 3a on the flaw detection surface side is smaller than the acoustic impedance Z2 of the other material 3b.

この状態から超音波探触子2を被検体3表面上で走査し
つつ所定の探触子位置毎に被検体3の接6面3Cからの
反射波形を超音波送受信器1に送出する。そして、高速
のアナログディジタル変換器5により、ディジタル信号
に変換したのちメモリ6へ、位置検出器4からの探触子
位置情報と共に格納する。この時アナログディジタル変
換器5では、超音波送受信器1より出力された超音波受
信号をRF波形のまま、ディジタル信号に変換する。
From this state, while scanning the surface of the subject 3 with the ultrasound probe 2, the reflected waveform from the contact surface 3C of the subject 3 is transmitted to the ultrasound transmitter/receiver 1 at each predetermined probe position. The signal is then converted into a digital signal by a high-speed analog-to-digital converter 5, and then stored in the memory 6 together with the probe position information from the position detector 4. At this time, the analog-to-digital converter 5 converts the ultrasonic reception signal output from the ultrasonic transceiver 1 into a digital signal without changing the RF waveform.

このようにして探触子位置毎の超音波波形データは順次
ディジタルメモリ6に収録されるが、同時に、この時の
超音波波形データは、信号処理器7により画像化して表
示記録器8に与えられるようになる。この場合、信号処
理器7は探触子位置と超音波波形の時間軸とによる二次
元座標上にRF波形の振幅をカラー快調で対応づけした
画像表示信号を出力するようになるので、表示記録器8
にはカラー階調二次元画像が表示される。
In this way, the ultrasonic waveform data for each probe position is sequentially recorded in the digital memory 6, but at the same time, the ultrasonic waveform data at this time is converted into an image by the signal processor 7 and provided to the display/recorder 8. You will be able to do it. In this case, the signal processor 7 outputs an image display signal that correlates the amplitude of the RF waveform in color on the two-dimensional coordinates of the probe position and the time axis of the ultrasonic waveform, so the display record Vessel 8
A color gradation two-dimensional image is displayed.

この状態から第2図(a)に示すように、被検体3の接
着面3Cに部分的なノ\クリ部3dがある場合、探触子
位置Xに対する超音波送受信波形10は第2図(b)に
示すように変化する。すなわち確実に接むしている接着
部に対応する探触子位置x1.x5では、材質3aの音
響インピータンスZ1と、材質3bの音響インピータン
スZ2の関係がz、<z2であるから接着面からの反射
波eは入射波と同位相になるが、ハクリ部3dに対応す
る探触子位置X3ではハクリ部3dが空隙であるとすれ
ば材質3aと接する媒質(空気)の音響インピータンス
Z2 はほぼ0であるからZl>22  となって反射
波elの位相は入射波と逆位相となる。このことは、探
触子位置X 1 + X 5とx3とでは反射波形e1
の波形が正負反対となって検出されることである。一方
、接着部と71クリ部3dの境界部の探触子位置X2、
X4ではそれぞれからの逆位相の波形を加算された形で
検出されるため反射波形e1の振幅は小さくなる。
In this state, as shown in FIG. 2(a), if there is a partial notch 3d on the adhesive surface 3C of the subject 3, the ultrasonic transmission and reception waveform 10 with respect to the probe position X is as shown in FIG. It changes as shown in b). In other words, the probe position x1.corresponds to the adhesive part that is in reliable contact. At x5, since the relationship between the acoustic impedance Z1 of the material 3a and the acoustic impedance Z2 of the material 3b is z<z2, the reflected wave e from the adhesive surface has the same phase as the incident wave, but At the corresponding probe position It is in opposite phase to the wave. This means that at the probe positions X 1 + X 5 and x 3, the reflected waveform e1
This means that the waveforms are detected with opposite polarity. On the other hand, the probe position X2 at the boundary between the adhesive part and the 71 crevice part 3d,
At X4, the amplitude of the reflected waveform e1 becomes small because waveforms of opposite phases from each are detected in a summed form.

このようにして各探触子位置X、、X、毎の超音波受信
波形10がディジタルメモリ6に収録されると、信号処
理器7は第2図(C)に示すように、探触子位置Xと、
波形の時間tの二次元座標上に、波形の振幅をカラー階
調11が対応づけした画像表示信号を生成し画像表示1
2として表示記録器8に表示させる。このようにして得
られた画像表示12による被検体3の接着面3Cからの
反射波形e1は、探触子位置X軸方向にカラーの縞模様
として表示され、かつ、RF波形のカラー階調表示であ
るため、探触子位置に対する波形の位相変化が明瞭に表
示される。この結果接着部とハクリ部3dの境界位置X
2、X4を境に縞模様が逆転して表示されるようになる
ため、視覚的にハクリ部の状況を簡単に、しかも高精度
に検査できることになる。またハクリ部3dの超音波反
射率は、はぼR−1に等しいのに対し、接着部では、そ
れぞれの音響インピータンスの差によるため、その反射
率はR<1であるところから、カラー階調表示とした接
着面からの超音波反射波形の画像表示において探触子位
置に対する反射波形の強度分布を容品に知ることができ
るので、ハクリに伴なう位相変化だけでなく振幅変化を
考慮したハクリ判定も可能になる。
When the received ultrasonic waveform 10 for each probe position X, , X, is recorded in the digital memory 6 in this way, the signal processor 7 Position X and
An image display signal is generated in which the amplitude of the waveform is associated with color gradation 11 on the two-dimensional coordinates of time t of the waveform, and image display 1 is generated.
2 on the display/recorder 8. The reflected waveform e1 from the adhesive surface 3C of the subject 3 according to the image display 12 obtained in this way is displayed as a colored striped pattern in the X-axis direction of the probe position, and the RF waveform is displayed in color gradation. Therefore, the phase change of the waveform with respect to the probe position is clearly displayed. As a result, the boundary position X between the adhesive part and the peeling part 3d
Since the striped pattern is displayed in reverse at 2. In addition, the ultrasonic reflectance of the peeling part 3d is equal to R-1, whereas in the adhesive part, the reflectance is R<1 due to the difference in acoustic impedance, so the color scale is The intensity distribution of the reflected waveform with respect to the probe position can be seen on the product by displaying the image of the ultrasonic wave reflected from the adhesive surface as a scale display, so not only the phase change due to peeling but also the amplitude change can be taken into account. It also becomes possible to detect peeling.

[発明の効果] 以上述べたように、本発明によれば、被検体表面を走査
される超音波探触子による被検体内部の接着面からの超
音波反射波形をRF波形の状態でディジタル化して収録
した超音波形データを超音波探触子位置と超音波波形の
時間軸とによる二次元座標上に波形の振幅をカラー階調
で対応づけして表示するとともに、その画像表示におけ
る探触子位置方向にカラー階調の縞模様を、反射波形の
位相変化および振幅変化と対応させるようにしたので視
覚的に、接着面のハクリ状況を簡単に、しかも高精度に
検査することができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the ultrasonic wave reflected from the adhesive surface inside the object by the ultrasonic probe scanning the surface of the object is digitized in the form of an RF waveform. The ultrasound data recorded by the ultrasound probe is displayed on a two-dimensional coordinate system based on the ultrasound probe position and the time axis of the ultrasound waveform, with the amplitude of the waveform associated with color gradation. Since the color gradation striped pattern is made to correspond to the phase change and amplitude change of the reflected waveform in the child position direction, it is possible to visually inspect the peeling condition of the adhesive surface easily and with high precision.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第2図は
同実施例の動作を説明するための図である。 1・・・超音波送受信器、2・・・超音波探触子、3・
・・被検体、3a・・・材質I、3b・・・材質■、3
C・・・接着面、3d・・・ハクリ部、4・・・位置検
出器、5・・・アナログ・ディジタル変換器、6・・・
ディジタルメモリ、7・・・信号処理器、8・・・表示
記録器、10・・・超音波受信波形、11・・・画像表
示、12・・・カラー階調レベル。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram for explaining the operation of the embodiment. 1... Ultrasonic transmitter/receiver, 2... Ultrasonic probe, 3...
...Test, 3a...Material I, 3b...Material ■, 3
C... Adhesive surface, 3d... Peeling part, 4... Position detector, 5... Analog-digital converter, 6...
Digital memory, 7... Signal processor, 8... Display recorder, 10... Ultrasonic reception waveform, 11... Image display, 12... Color gradation level.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 異種材質を接着してなる被検体表面を走査される超音波
探触子と、この超音波探触子より検出された被検体内部
の接着面からの超音波反射波形をRF波形の状態で上記
探触子の位置情報とともに記憶する記憶手段と、上記超
音波探触子位置と超音波伝播時間軸とによる二次元座標
上での上記超音波RF波形の振幅をカラー階調で対応ず
けした画像表示信号として出力する信号処理手段と、こ
の信号処理手段による画像表示信号を表示する表示記録
手段とを具備したことを特徴とする超音波探傷装置。
An ultrasonic probe scans the surface of an object made by bonding dissimilar materials, and the ultrasonic reflected waveform from the adhesive surface inside the object detected by this ultrasonic probe is shown above in the form of an RF waveform. A storage means for storing the position information of the probe, and the amplitude of the ultrasonic RF waveform on a two-dimensional coordinate based on the ultrasonic probe position and the ultrasonic propagation time axis are mapped in color gradation. An ultrasonic flaw detection apparatus comprising: a signal processing means for outputting an image display signal; and a display recording means for displaying the image display signal produced by the signal processing means.
JP63283181A 1988-11-09 1988-11-09 Ultrasonic flaw detecting device Pending JPH02129544A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63283181A JPH02129544A (en) 1988-11-09 1988-11-09 Ultrasonic flaw detecting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63283181A JPH02129544A (en) 1988-11-09 1988-11-09 Ultrasonic flaw detecting device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02129544A true JPH02129544A (en) 1990-05-17

Family

ID=17662190

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63283181A Pending JPH02129544A (en) 1988-11-09 1988-11-09 Ultrasonic flaw detecting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02129544A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0580034A (en) * 1991-09-19 1993-03-30 Tokimec Inc Ultrasonic flaw detector
JPH08178985A (en) * 1994-12-21 1996-07-12 Nec Corp Measuring apparatus for leak current
JP2001194348A (en) * 2000-01-06 2001-07-19 Nikko Kensa Service Kk Roll separation inspection method
JP2001221782A (en) * 2000-02-07 2001-08-17 Mitsui Chemicals Inc Method and device for detecting poor fusion, and resin pipe
JP2015081849A (en) * 2013-10-23 2015-04-27 大同特殊鋼株式会社 Ultrasonic defect determination method
JP2015219020A (en) * 2014-05-14 2015-12-07 ミナモト通信株式会社 Steel pole diagnostic device and steel pole diagnostic method
JP2016200565A (en) * 2015-04-14 2016-12-01 積水化学工業株式会社 Layer thickness testing method of multilayer body and layer thickness testing apparatus of the same
JP2017075866A (en) * 2015-10-15 2017-04-20 東京理学検査株式会社 Measuring apparatus and measuring method
WO2018092726A1 (en) * 2016-11-21 2018-05-24 三菱重工業株式会社 Inspecting device, inspecting unit, and inspecting method

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0580034A (en) * 1991-09-19 1993-03-30 Tokimec Inc Ultrasonic flaw detector
JPH08178985A (en) * 1994-12-21 1996-07-12 Nec Corp Measuring apparatus for leak current
JP2001194348A (en) * 2000-01-06 2001-07-19 Nikko Kensa Service Kk Roll separation inspection method
JP2001221782A (en) * 2000-02-07 2001-08-17 Mitsui Chemicals Inc Method and device for detecting poor fusion, and resin pipe
JP2015081849A (en) * 2013-10-23 2015-04-27 大同特殊鋼株式会社 Ultrasonic defect determination method
JP2015219020A (en) * 2014-05-14 2015-12-07 ミナモト通信株式会社 Steel pole diagnostic device and steel pole diagnostic method
JP2016200565A (en) * 2015-04-14 2016-12-01 積水化学工業株式会社 Layer thickness testing method of multilayer body and layer thickness testing apparatus of the same
JP2017075866A (en) * 2015-10-15 2017-04-20 東京理学検査株式会社 Measuring apparatus and measuring method
WO2018092726A1 (en) * 2016-11-21 2018-05-24 三菱重工業株式会社 Inspecting device, inspecting unit, and inspecting method
CN109716124A (en) * 2016-11-21 2019-05-03 三菱重工业株式会社 Check device, inspection unit and inspection method
EP3486646A4 (en) * 2016-11-21 2019-07-24 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Inspecting device, inspecting unit, and inspecting method
US10697897B2 (en) 2016-11-21 2020-06-30 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Inspection system, inspection device, and inspecting method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102893145B (en) Method for subjecting structure form of weld to imaging and device therefor
TWI408699B (en) Nuclear reactor vibration surveillance system and its method
CA2733730A1 (en) Method for performing ultrasonic testing
JPH01248053A (en) Ultrasonic measuring method and apparatus
EP0212899B1 (en) Ultrasonic testing of materials
JPH02129544A (en) Ultrasonic flaw detecting device
US6823737B2 (en) Non-contact inspection system for large concrete structures
JP6797646B2 (en) Ultrasonic inspection equipment and ultrasonic inspection method
JPS6317184B2 (en)
JP2609647B2 (en) Ultrasonic flaw detector
JP2005147770A (en) Ultrasonic flaw detector
JP2659236B2 (en) Ultrasonic probe
CN108369214A (en) The method of ultrasound examination object
JP2840656B2 (en) Peak detection type ultrasonic thickness gauge
Ossant et al. Airborne ultrasonic imaging system for parallelepipedic object localization
JPS61172055A (en) Apparatus for inspecting interior of piping
KR20040099762A (en) System and its method for processing digital ultrasonic image
JPS60170764A (en) Ultrasonic flaw detector for turbine disk
JPS6044618B2 (en) Ultrasonic flaw detection method and device for dissimilar metal welds
JP2006132981A (en) Ultrasonic wall-thickness measuring instrument and ultrasonic wall-thickness measuring method
JPH02150766A (en) Ultrasonic flaw detecting device
JPH10253340A (en) Method for measuring scale thickness on inside surface of tube
JPS61266907A (en) Detector for surface condition
RU2270998C2 (en) Method for ultrasound non-destructive testing of products and device for realization of said method
JPS62112059A (en) Ultrasonic flaw inspection device