JP6931985B2 - How to make a display device - Google Patents
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Description
本発明の一態様は、表示装置の作製方法に関する。 One aspect of the present invention relates to a method for manufacturing a display device.
なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、電子機器、照明装置、それらの駆動方法、またはそれらの製造方法を一例として挙げることができる。 One aspect of the present invention is not limited to the above technical fields. Examples of the technical field of one aspect of the present invention include semiconductor devices, display devices, light emitting devices, electronic devices, lighting devices, driving methods thereof, or manufacturing methods thereof.
なお、本明細書等において、半導体装置とは、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指す。トランジスタ、半導体回路、表示装置、発光装置、演算装置、記憶装置等は半導体装置の一態様である。また、撮像装置、電気光学装置、発電装置(薄膜太陽電池、有機薄膜太陽電池等を含む)、及び電子機器は半導体装置を有している場合がある。 In the present specification and the like, the semiconductor device refers to all devices that can function by utilizing the semiconductor characteristics. Transistors, semiconductor circuits, display devices, light emitting devices, arithmetic devices, storage devices, and the like are one aspect of semiconductor devices. Further, an imaging device, an electro-optical device, a power generation device (including a thin-film solar cell, an organic thin-film solar cell, etc.), and an electronic device may have a semiconductor device.
近年、表示装置は様々な用途への応用が期待されている。表示装置としては、例えば、発光素子を有する発光装置、液晶素子を有する液晶表示装置等が開発されている。 In recent years, display devices are expected to be applied to various applications. As the display device, for example, a light emitting device having a light emitting element, a liquid crystal display device having a liquid crystal element, and the like have been developed.
例えば、特許文献1に、有機EL(Electroluminescence)素子が適用された可撓性を有する発光装置が開示されている。
For example,
特許文献2には、可視光を反射する領域と可視光を透過する領域とを有し、十分な外光が得られる環境下では反射型液晶表示装置として利用することができ、十分な外光が得られない環境下では透過型液晶表示装置として利用することができる、半透過型の液晶表示装置が開示されている。
本発明の一態様は、低コストで量産性の高い表示装置の作製方法を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、大判基板を用いて表示装置を作製することを課題の一つとする。本発明の一態様は、表示装置を低温で作製することを課題の一つとする。本発明の一態様は、新規な表示装置の作製方法を提供することを課題の一つとする。 One of the problems of one aspect of the present invention is to provide a method for manufacturing a display device at low cost and with high mass productivity. One of the problems of one aspect of the present invention is to manufacture a display device using a large format substrate. One aspect of the present invention is to manufacture a display device at a low temperature. One of the problems of one aspect of the present invention is to provide a method for manufacturing a novel display device.
本発明の一態様は、消費電力の低い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、表示品位が良好な表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、利便性の高い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、信頼性の高い表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、表示装置の薄型化または軽量化を課題の一つとする。本発明の一態様は、可撓性を有する、または曲面を有する表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、破損しにくい表示装置を提供することを課題の一つとする。本発明の一態様は、新規な表示装置または電子機器などを提供することを課題の一つとする。 One aspect of the present invention is to provide a display device having low power consumption. One of the problems of one aspect of the present invention is to provide a display device having high visibility regardless of the ambient brightness. One aspect of the present invention is to provide a display device having good display quality. One aspect of the present invention is to provide a highly convenient display device. One aspect of the present invention is to provide a highly reliable display device. One aspect of the present invention is to make the display device thinner or lighter. One aspect of the present invention is to provide a display device having flexibility or a curved surface. One aspect of the present invention is to provide a display device that is not easily damaged. One aspect of the present invention is to provide a new display device, an electronic device, or the like.
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。本発明の一態様は、必ずしも、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。明細書、図面、請求項の記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。 The description of these issues does not prevent the existence of other issues. One aspect of the present invention does not necessarily have to solve all of these problems. Issues other than these can be extracted from the description, drawings, and claims.
本発明の一態様は、第1の基板と第2の基板の間に第1の表示素子及び第2の表示素子を有する表示装置の作製方法である。 One aspect of the present invention is a method for manufacturing a display device having a first display element and a second display element between the first substrate and the second substrate.
(1)本発明の一態様の表示装置の作製方法は、第1の基板上に、可視光を透過する機能を有する共通電極を形成する工程と、作製基板上に、第1の層を形成する工程と、第1の層上に、第2の層を形成する工程と、第2の層上に、可視光を反射する機能を有する画素電極を形成する工程と、画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に、可視光を発する機能を有する第2の表示素子を形成する工程と、第2の基板を用いて、第2の表示素子を封止する工程と、光を照射することで、第1の層と第2の層とを分離する工程と、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、を有する。共通電極を形成する工程の前に、第1の基板上に機能層を形成する工程を有してもよい。機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される。 (1) The method for manufacturing a display device according to one aspect of the present invention includes a step of forming a common electrode having a function of transmitting visible light on a first substrate and forming a first layer on the manufactured substrate. A step of forming a second layer on the first layer, a step of forming a pixel electrode having a function of reflecting visible light on the second layer, and insulation on the pixel electrode. A step of forming a layer, a step of forming a second display element having a function of emitting visible light on the insulating layer, and a step of sealing the second display element using the second substrate. The process of separating the first layer and the second layer by irradiating light, and the first substrate and the second substrate with the liquid crystal layer arranged between the common electrode and the pixel electrode. It has a step of forming a first display element by laminating the above. Prior to the step of forming the common electrode, there may be a step of forming a functional layer on the first substrate. The functional layer is formed so as to have one or both of the detection element and the colored layer.
(2)本発明の一態様の表示装置の作製方法は、第1の作製基板上に、第1の剥離層を形成する工程と、第1の剥離層上に、可視光を透過する機能を有する共通電極を形成する工程と、第2の作製基板上に、第2の剥離層を形成する工程と、第2の剥離層上に、可視光を反射する機能を有する画素電極を形成する工程と、画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に、可視光を発する機能を有する第2の表示素子を形成する工程と、第2の基板を用いて、第2の表示素子を封止する工程と、第2の剥離層を用いて、第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、第1の作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、第1の剥離層を用いて、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、第1の基板と第2の基板との間に第1の表示素子を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程と、を有する。第1の剥離層及び第2の剥離層のうち一方または双方は、第1の層と、第1の層上の第2の層を有するように形成される。第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程、及び、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程のうち一方または双方では、光が照射されることで、第1の層と第2の層とが分離する。 (2) The method for manufacturing a display device according to one aspect of the present invention includes a step of forming a first release layer on a first production substrate and a function of transmitting visible light on the first release layer. A step of forming a common electrode having a common electrode, a step of forming a second release layer on the second production substrate, and a step of forming a pixel electrode having a function of reflecting visible light on the second release layer. A step of forming an insulating layer on the pixel electrode, a step of forming a second display element having a function of emitting visible light on the insulating layer, and a second display using the second substrate. A step of sealing the element, a step of separating the second fabrication substrate and the second substrate by using the second release layer, and a state in which the liquid crystal layer is arranged between the common electrode and the pixel electrode. , The step of forming the first display element by laminating the first fabrication substrate and the second substrate, and using the first release layer, the first fabrication substrate and the second substrate are attached to each other. It includes a step of separating and a step of bonding the first substrate and the second substrate in a state where the first display element is arranged between the first substrate and the second substrate. One or both of the first release layer and the second release layer is formed so as to have a first layer and a second layer on the first layer. In one or both of the step of separating the second manufacturing substrate and the second substrate and the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate, light is irradiated to the first step. Layer and the second layer are separated.
上記(2)において、共通電極を形成する工程の前に、第1の剥離層上に第1の機能層を形成する工程を有してもよい。第1の機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される。第1の基板は、第2の機能層が設けられている面を有してもよい。第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程は、第1の基板と第2の基板との間に第2の機能層を配置した状態で行われる。第2の機能層は、光拡散層及び偏光板のうち一方または双方を有するように形成される。 In the above (2), there may be a step of forming the first functional layer on the first peeling layer before the step of forming the common electrode. The first functional layer is formed so as to have one or both of the detection element and the colored layer. The first substrate may have a surface on which a second functional layer is provided. The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state where the second functional layer is arranged between the first substrate and the second substrate. The second functional layer is formed so as to have one or both of the light diffusing layer and the polarizing plate.
または、上記(2)において、第3の作製基板上に第3の剥離層を形成する工程と、第3の剥離層上に機能層を形成する工程と、を有し、さらに、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程の前に、第3の作製基板と第1の基板との間に第3の剥離層を配置した状態で、第3の作製基板と第1の基板とを貼り合わせる工程と、第3の剥離層を用いて、第3の作製基板と第1の基板とを分離する工程と、を有してもよい。第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程は、第1の基板と第2の基板との間に機能層を配置した状態で行われる。機能層は、検知素子、光拡散層、及び偏光板のうち一つまたは複数を有するように形成される。 Alternatively, in the above (2), the process includes a step of forming a third release layer on the third production substrate and a step of forming a functional layer on the third release layer, and further, the first Before the step of bonding the substrate and the second substrate, the third fabrication substrate and the first substrate are arranged in a state where the third release layer is arranged between the third fabrication substrate and the first substrate. There may be a step of bonding the above and a step of separating the third production substrate and the first substrate by using the third release layer. The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state where the functional layer is arranged between the first substrate and the second substrate. The functional layer is formed so as to have one or more of a detection element, a light diffusion layer, and a polarizing plate.
上記(2)において、第1の基板に、厚さ0.1mm以上0.5mm未満のガラス基板を用いることが好ましい。または、上記(2)において、第1の基板に、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板を用いることが好ましい。 In the above (2), it is preferable to use a glass substrate having a thickness of 0.1 mm or more and less than 0.5 mm as the first substrate. Alternatively, in the above (2), it is preferable to use a resin substrate having a thickness of 1 μm or more and 200 μm or less as the first substrate.
上記の各作製方法において、第1の基板の、第2の基板側の面とは逆側の面に、反射防止部材が設けられることが好ましい。反射防止部材は、凸部を有するように設けられてもよい。 In each of the above-mentioned manufacturing methods, it is preferable that the antireflection member is provided on the surface of the first substrate opposite to the surface on the second substrate side. The antireflection member may be provided so as to have a convex portion.
上記の各作製方法において、液晶層は、二色性色素を有するように設けられることが好ましい。 In each of the above-mentioned production methods, it is preferable that the liquid crystal layer is provided so as to have a dichroic dye.
上記の各作製方法において、第2の表示素子を形成する工程の前に、絶縁層上に、チャネル形成領域に金属酸化物を有するトランジスタを形成する工程を有することが好ましい。 In each of the above-mentioned manufacturing methods, it is preferable to have a step of forming a transistor having a metal oxide in the channel forming region on the insulating layer before the step of forming the second display element.
上記の各作製方法において、第1の層と第2の層とを分離する工程の後に、第2の基板を含む積層体の露出面に残存する第2の層を除去する工程を有することが好ましい。第2の層を除去する工程では、アッシングが行われることが好ましい。 In each of the above-mentioned manufacturing methods, after the step of separating the first layer and the second layer, there may be a step of removing the second layer remaining on the exposed surface of the laminate including the second substrate. preferable. In the step of removing the second layer, it is preferable that ashing is performed.
上記の各作製方法において、第2の層は、厚さが0.1μm以上5μm以下の領域を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above-mentioned production methods, it is preferable that the second layer is formed so as to have a region having a thickness of 0.1 μm or more and 5 μm or less.
上記の各作製方法において、光として、レーザ光を用い、レーザ光が、第1の層と第2の層との界面またはその近傍に照射されることにより、第1の層と第2の層とが分離することが好ましい。 In each of the above-mentioned production methods, a laser beam is used as the light, and the laser beam is irradiated to the interface between the first layer and the second layer or the vicinity thereof, so that the first layer and the second layer are formed. And are preferably separated.
上記の各作製方法において、第1の層は、チタン、モリブデン、アルミニウム、タングステン、シリコン、インジウム、亜鉛、ガリウム、タンタル、及び錫のうち一つまたは複数を有するように形成されることが好ましい。第1の層は、チタン及び酸化チタンのうち一方または双方を有するように形成されることが好ましい。第1の層は、チタンと酸化チタンとの積層構造を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above fabrication methods, the first layer is preferably formed to have one or more of titanium, molybdenum, aluminum, tungsten, silicon, indium, zinc, gallium, tantalum, and tin. The first layer is preferably formed so as to have one or both of titanium and titanium oxide. The first layer is preferably formed so as to have a laminated structure of titanium and titanium oxide.
上記の各作製方法において、第2の層は、構造式(100)で表される化合物の残基を有するように形成されることが好ましい。 In each of the above-mentioned production methods, it is preferable that the second layer is formed so as to have a residue of the compound represented by the structural formula (100).
上記の各作製方法において、第2の層は、開口を有するように形成され、開口を覆うように、導電層が形成され、第1の層と第2の層とが分離することで、導電層が露出することが好ましい。 In each of the above-mentioned manufacturing methods, the second layer is formed so as to have an opening, a conductive layer is formed so as to cover the opening, and the first layer and the second layer are separated to be conductive. It is preferable that the layer is exposed.
上記の各作製方法において、光は、波長領域が180nm以上450nm以下を有するように照射されることが好ましい。光は、波長領域が308nmまたはその近傍を有するように照射されることが好ましい。光は、レーザ装置を用いて照射されることが好ましい。光は、線状レーザ装置を用いて照射されることが好ましい。光は、250mJ/cm2以上360mJ/cm2以下のエネルギー密度で照射されることが好ましい。 In each of the above-mentioned production methods, it is preferable that the light is irradiated so that the wavelength region has 180 nm or more and 450 nm or less. The light is preferably irradiated so that the wavelength region has 308 nm or its vicinity. The light is preferably emitted using a laser device. The light is preferably emitted using a linear laser device. The light is preferably irradiated with an energy density of 250 mJ / cm 2 or more and 360 mJ / cm 2 or less.
本発明の一態様により、低コストで量産性の高い表示装置の作製方法を提供できる。本発明の一態様により、大判基板を用いて表示装置を作製できる。本発明の一態様により、表示装置を低温で作製できる。本発明の一態様により、新規な表示装置の作製方法を提供できる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing a display device at low cost and with high mass productivity. According to one aspect of the present invention, a display device can be manufactured using a large format substrate. According to one aspect of the present invention, the display device can be manufactured at a low temperature. According to one aspect of the present invention, a method for producing a novel display device can be provided.
本発明の一態様により、消費電力の低い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、周囲の明るさによらず、視認性の高い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、表示品位が良好な表示装置を提供できる。本発明の一態様により、利便性の高い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、信頼性の高い表示装置を提供できる。本発明の一態様により、表示装置の薄型化または軽量化が可能である。本発明の一態様により、可撓性を有する、または曲面を有する表示装置を提供できる。本発明の一態様により、破損しにくい表示装置を提供できる。本発明の一態様により、新規な表示装置または電子機器などを提供できる。 According to one aspect of the present invention, a display device having low power consumption can be provided. According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a display device having high visibility regardless of the ambient brightness. According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a display device having good display quality. According to one aspect of the present invention, a highly convenient display device can be provided. According to one aspect of the present invention, a highly reliable display device can be provided. According to one aspect of the present invention, the display device can be made thinner or lighter. According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a display device having flexibility or a curved surface. According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a display device that is not easily damaged. According to one aspect of the present invention, a new display device, an electronic device, or the like can be provided.
なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。明細書、図面、請求項の記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。 The description of these effects does not preclude the existence of other effects. One aspect of the present invention does not necessarily have all of these effects. It is possible to extract effects other than these from the description, drawings, and claims.
実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。 The embodiment will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following description, and it is easily understood by those skilled in the art that the form and details of the present invention can be variously changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Therefore, the present invention is not construed as being limited to the description of the embodiments shown below.
なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分または同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。 In the configuration of the invention described below, the same reference numerals are commonly used between different drawings for the same parts or parts having similar functions, and the repeated description thereof will be omitted. Further, when referring to the same function, the hatch pattern may be the same and no particular reference numeral may be added.
また、図面において示す各構成の、位置、大きさ、範囲などは、理解の簡単のため、実際の位置、大きさ、範囲などを表していない場合がある。このため、開示する発明は、必ずしも、図面に開示された位置、大きさ、範囲などに限定されない。 In addition, the position, size, range, etc. of each configuration shown in the drawings may not represent the actual position, size, range, etc. for the sake of easy understanding. Therefore, the disclosed invention is not necessarily limited to the position, size, range, etc. disclosed in the drawings.
なお、「膜」という言葉と、「層」という言葉とは、場合によっては、または、状況に応じて、互いに入れ替えることが可能である。例えば、「導電層」という用語を、「導電膜」という用語に変更することが可能である。または、例えば、「絶縁膜」という用語を、「絶縁層」という用語に変更することが可能である。 The word "membrane" and the word "layer" can be interchanged with each other in some cases or depending on the situation. For example, the term "conductive layer" can be changed to the term "conductive layer". Alternatively, for example, the term "insulating film" can be changed to the term "insulating layer".
本明細書等において、金属酸化物(metal oxide)とは、広い表現での金属の酸化物である。金属酸化物は、酸化物絶縁体、酸化物導電体(透明酸化物導電体を含む)、酸化物半導体(Oxide Semiconductorまたは単にOSともいう)などに分類される。例えば、トランジスタの半導体層に金属酸化物を用いた場合、当該金属酸化物を酸化物半導体と呼称する場合がある。つまり、OS FETと記載する場合においては、金属酸化物または酸化物半導体を有するトランジスタと換言することができる。 In the present specification and the like, a metal oxide is a metal oxide in a broad expression. Metal oxides are classified into oxide insulators, oxide conductors (including transparent oxide conductors), oxide semiconductors (also referred to as Oxide Semiconductor or simply OS) and the like. For example, when a metal oxide is used in the semiconductor layer of a transistor, the metal oxide may be referred to as an oxide semiconductor. That is, when it is described as an OS FET, it can be rephrased as a transistor having a metal oxide or an oxide semiconductor.
また、本明細書等において、窒素を有する金属酸化物も金属酸化物(metal oxide)と総称する場合がある。また、窒素を有する金属酸化物を、金属酸窒化物(metal oxynitride)と呼称してもよい。 Further, in the present specification and the like, a metal oxide having nitrogen may also be collectively referred to as a metal oxide. Further, a metal oxide having nitrogen may be referred to as a metal oxynitride.
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置とその作製方法について図1〜図37を用いて説明する。
(Embodiment 1)
In the present embodiment, a display device according to one aspect of the present invention and a method for manufacturing the display device will be described with reference to FIGS. 1 to 37.
≪表示装置とその作製方法の概要≫
本発明の一態様は、第1の基板と第2の基板の間に第1の表示素子及び第2の表示素子を有する表示装置の作製方法である。
≪Overview of display device and its manufacturing method≫
One aspect of the present invention is a method for manufacturing a display device having a first display element and a second display element between the first substrate and the second substrate.
本実施の形態の表示装置は、可視光を反射する第1の表示素子と、可視光を発する第2の表示素子とを有する。 The display device of the present embodiment includes a first display element that reflects visible light and a second display element that emits visible light.
本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子が反射する光と、第2の表示素子が発する光のうち、いずれか一方または両方により、画像を表示する機能を有する。 The display device of the present embodiment has a function of displaying an image by one or both of the light reflected by the first display element and the light emitted by the second display element.
第1の表示素子には、外光を反射して表示する素子を用いることができる。このような素子は光源を持たないため、表示の際の消費電力を極めて小さくすることが可能となる。 As the first display element, an element that reflects and displays external light can be used. Since such an element does not have a light source, it is possible to extremely reduce the power consumption during display.
第1の表示素子には、代表的には反射型の液晶素子を用いることができる。または、第1の表示素子として、シャッター方式のMEMS(Micro Electro Mechanical System)素子、光干渉方式のMEMS素子の他、マイクロカプセル方式、電気泳動方式、エレクトロウェッティング方式、電子粉流体(登録商標)方式等を適用した素子などを用いることができる。 As the first display element, a reflective liquid crystal element can be typically used. Alternatively, as the first display element, in addition to a shutter type MEMS (Micro Electro Mechanical System) element and an optical interference type MEMS element, a microcapsule type, an electrophoresis method, an electrowetting method, and an electron powder fluid (registered trademark). An element or the like to which a method or the like is applied can be used.
第2の表示素子には、発光素子を用いることが好ましい。発光素子が射出する光は、その輝度や色度が外光に左右されることがないため、色再現性が高く(色域が広く)、コントラストの高い、鮮やかな表示を行うことができる。 It is preferable to use a light emitting element as the second display element. Since the brightness and chromaticity of the light emitted by the light emitting element are not affected by the external light, the color reproducibility is high (the color gamut is wide), and high contrast and vivid display can be performed.
第2の表示素子には、例えばOLED(Organic Light Emitting Diode)、LED(Light Emitting Diode)、QLED(Quantum−dot Light Emitting Diode)、半導体レーザなどの自発光性の発光素子を用いることができる。 As the second display element, for example, a self-luminous light emitting element such as an OLED (Organic Light Emitting Dide), an LED (Light Emitting Dide), a QLED (Quantum-dot Light Emitting Dide), or a semiconductor laser can be used.
本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子のみを用いて画像を表示する第1のモード、第2の表示素子のみを用いて画像を表示する第2のモード、並びに、第1の表示素子及び第2の表示素子を用いて画像を表示する第3のモードを有し、これらのモードを自動または手動で切り替えて使用することができる。 The display device of the present embodiment has a first mode for displaying an image using only the first display element, a second mode for displaying an image using only the second display element, and a first mode. It has a third mode for displaying an image using a display element and a second display element, and these modes can be switched automatically or manually for use.
第1のモードでは、第1の表示素子と外光を用いて画像を表示する。第1のモードは光源が不要であるため、極めて低消費電力なモードである。例えば、表示装置に外光が十分に入射されるとき(明るい環境下など)は、第1の表示素子が反射した光を用いて表示を行うことができる。例えば、外光が十分に強く、かつ外光が白色光またはその近傍の光である場合に有効である。第1のモードは、文字を表示することに適したモードである。また、第1のモードは、外光を反射した光を用いるため、目に優しい表示を行うことができ、目が疲れにくいという効果を奏する。 In the first mode, an image is displayed using the first display element and external light. The first mode is an extremely low power consumption mode because it does not require a light source. For example, when external light is sufficiently incident on the display device (such as in a bright environment), the light reflected by the first display element can be used for display. For example, it is effective when the external light is sufficiently strong and the external light is white light or light in the vicinity thereof. The first mode is a mode suitable for displaying characters. Further, since the first mode uses the light reflected from the outside light, the display can be displayed in a manner that is easy on the eyes, and the effect that the eyes are not tired is obtained.
第2のモードでは、第2の表示素子による発光を利用して画像を表示する。そのため、照度や外光の色度によらず、極めて鮮やかな(コントラストが高く、且つ色再現性の高い)表示を行うことができる。例えば、夜間や暗い室内など、照度が極めて低い場合などに有効である。また周囲が暗い場合、明るい表示を行うと使用者が眩しく感じてしまう場合がある。これを防ぐために、第2のモードでは輝度を抑えた表示を行うことが好ましい。これにより、眩しさを抑えることに加え、消費電力も低減することができる。第2のモードは、鮮やかな画像(静止画及び動画)などを表示することに適したモードである。 In the second mode, an image is displayed by utilizing the light emitted by the second display element. Therefore, extremely vivid (high contrast and high color reproducibility) display can be performed regardless of the illuminance and the chromaticity of external light. For example, it is effective when the illuminance is extremely low, such as at night or in a dark room. In addition, when the surroundings are dark, the user may feel dazzling when the display is bright. In order to prevent this, it is preferable to perform display with reduced brightness in the second mode. As a result, in addition to suppressing glare, power consumption can also be reduced. The second mode is a mode suitable for displaying vivid images (still images and moving images) and the like.
第3のモードでは、第1の表示素子による反射光と、第2の表示素子による発光の両方を利用して表示を行う。第1のモードよりも鮮やかな表示をしつつ、第2のモードよりも消費電力を抑えることができる。例えば、室内照明下や、朝方や夕方の時間帯など、照度が比較的低い場合、外光の色度が白色ではない場合などに有効である。 In the third mode, display is performed using both the reflected light from the first display element and the light emission from the second display element. It is possible to reduce the power consumption as compared with the second mode while displaying more vividly than the first mode. For example, it is effective when the illuminance is relatively low, such as under indoor lighting, in the morning or evening time, or when the chromaticity of the outside light is not white.
このような構成とすることで、周囲の明るさによらず視認性が高く、利便性の高い表示装置を実現できる。具体的には、外光下でも室内でも視認性が高く、利便性の高い表示装置を実現できる。 With such a configuration, it is possible to realize a highly convenient display device with high visibility regardless of the ambient brightness. Specifically, it is possible to realize a highly convenient display device with high visibility both in outside light and indoors.
本実施の形態では、第1の表示素子として、反射型の液晶素子を作製し、第2の表示素子として発光素子(具体的にはEL素子)を作製する例を示す。 In the present embodiment, an example in which a reflective liquid crystal element is manufactured as the first display element and a light emitting element (specifically, an EL element) is manufactured as the second display element is shown.
本実施の形態の表示装置の作製方法は、第1の基板上に、可視光を透過する機能を有する共通電極を形成する工程と、作製基板上に、第1の層を形成する工程と、第1の層上に、第2の層を形成する工程と、第2の層上に、可視光を反射する機能を有する画素電極を形成する工程と、画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に、可視光を発する機能を有する第2の表示素子を形成する工程と、第2の基板を用いて、第2の表示素子を封止する工程と、光を照射することで、第1の層と第2の層とを分離する工程と、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、を有する。 The method for manufacturing the display device of the present embodiment includes a step of forming a common electrode having a function of transmitting visible light on the first substrate, and a step of forming a first layer on the manufactured substrate. A step of forming a second layer on the first layer, a step of forming a pixel electrode having a function of reflecting visible light on the second layer, and a step of forming an insulating layer on the pixel electrode. A step of forming a second display element having a function of emitting visible light on the insulating layer, a step of sealing the second display element using the second substrate, and irradiating light. Therefore, the step of separating the first layer and the second layer and the state where the liquid crystal layer is arranged between the common electrode and the pixel electrode are bonded to the first substrate and the second substrate. The process includes a step of forming the first display element.
ここで、第1の表示素子を有する表示パネルと、第2の表示素子を有する表示パネルとを単に貼り合わせる構成では、第1の表示素子と第2の表示素子との間に、ガラスや樹脂などの厚い層(主に基板として用いられる層)が存在するため、第1の表示素子と第2の表示素子との間の距離を狭くすることが困難である。 Here, in the configuration in which the display panel having the first display element and the display panel having the second display element are simply bonded together, glass or resin is placed between the first display element and the second display element. Since there is a thick layer (a layer mainly used as a substrate) such as, it is difficult to reduce the distance between the first display element and the second display element.
一方、本実施の形態の表示装置の作製方法では、作製基板を剥離し、作製基板から第2の基板に、第1の表示素子の画素電極及び第2の表示素子、さらにはトランジスタ等を転置する工程を有する。そして、第1の表示素子の共通電極が設けられた第1の基板と、第2の基板とを、液晶層を挟んで貼り合わせることで、一対の基板間に第1の表示素子と第2の表示素子とを配置することができる。これにより、第1の表示素子と第2の表示素子との間に厚い基板などが存在せず、第1の表示素子と第2の表示素子との距離を近づけることができる。例えば、第1の表示素子が反射型の液晶素子であり、第2の表示素子が発光素子である場合、液晶素子と発光素子との厚さ方向の距離を30μm未満、好ましくは10μm未満、さらに好ましくは5μm未満とすることができる。なお、上記厚さ方向の距離とは、例えば、液晶素子が有する反射電極と、発光素子が有する画素電極との間の最短距離である。 On the other hand, in the manufacturing method of the display device of the present embodiment, the manufacturing substrate is peeled off, and the pixel electrodes of the first display element, the second display element, the transistor, and the like are transposed from the manufacturing substrate to the second substrate. Has a step to do. Then, by bonding the first substrate provided with the common electrode of the first display element and the second substrate with the liquid crystal layer sandwiched between them, the first display element and the second substrate are sandwiched between the pair of substrates. Display elements can be arranged. As a result, there is no thick substrate or the like between the first display element and the second display element, and the distance between the first display element and the second display element can be shortened. For example, when the first display element is a reflective liquid crystal element and the second display element is a light emitting element, the distance between the liquid crystal element and the light emitting element in the thickness direction is less than 30 μm, preferably less than 10 μm, and further. It can be preferably less than 5 μm. The distance in the thickness direction is, for example, the shortest distance between the reflection electrode of the liquid crystal element and the pixel electrode of the light emitting element.
第1の表示素子は、第1の基板側に反射光を射出する。第2の表示素子は、第1の基板側に光を発する。第1の表示素子と第2の表示素子との距離が近いと、第1の基板と第2の表示素子との距離も近くなり、第2の表示素子の輝度を高めることができる。また、第2の表示素子が発した光の減衰及び消光を抑制できる。これにより、表示装置の光取り出し効率を高めることができる。または、第1の表示素子及び第2の表示素子を同時に用いて表示する場合、あるいは交互に用いて表示する場合において、第1の表示素子を用いた表示と第2の表示素子を用いた表示との間に生じる視差を少なくすることができる。 The first display element emits reflected light toward the first substrate side. The second display element emits light toward the first substrate side. When the distance between the first display element and the second display element is short, the distance between the first substrate and the second display element is also short, and the brightness of the second display element can be increased. Further, it is possible to suppress the attenuation and quenching of the light emitted by the second display element. As a result, the light extraction efficiency of the display device can be improved. Alternatively, when displaying using the first display element and the second display element at the same time, or when displaying by using them alternately, the display using the first display element and the display using the second display element. The parallax that occurs between and can be reduced.
本実施の形態の表示装置の作製方法では、作製基板上に、まず、第1の表示素子の画素電極を形成し、その後に、トランジスタや第2の表示素子等を形成することが好ましい。これにより、トランジスタや第2の表示素子等に起因する凹凸の影響を受けず、画素電極を平坦に形成することができる。 In the manufacturing method of the display device of the present embodiment, it is preferable that the pixel electrodes of the first display element are first formed on the manufacturing substrate, and then the transistor, the second display element, and the like are formed. As a result, the pixel electrode can be formed flat without being affected by the unevenness caused by the transistor, the second display element, or the like.
画素電極を平坦に形成することで、液晶の初期配向のばらつきを低減でき、表示不良を抑制できる。また、トランジスタと画素電極のコンタクト部においても、画素電極は平坦であるため、コンタクト部における液晶の配向不良を抑制できる。そのため、液晶の配向不良に起因する開口率の縮小を抑制できる。 By forming the pixel electrodes flat, it is possible to reduce variations in the initial orientation of the liquid crystal display and suppress display defects. Further, also in the contact portion between the transistor and the pixel electrode, since the pixel electrode is flat, it is possible to suppress the orientation failure of the liquid crystal in the contact portion. Therefore, it is possible to suppress the reduction of the aperture ratio due to the poor orientation of the liquid crystal display.
例えば、液晶の初期配向が揃いにくい領域を表示に用いると、コントラストが低下することがある。また、隣接する2つの画素間に、液晶の初期配向が揃いにくい領域が生じた場合は、当該領域を遮光層等で覆うことでコントラストの低下を抑制できるが、開口率が低下することがある。一方、本実施の形態の表示装置の作製方法では、画素電極を平坦に形成できるため、配向膜も平坦に形成できる。ラビング処理等の配向処理での不良が発生しにくく、画素電極の端部においても初期配向を揃えやすくなる。隣接する2つの画素間に、液晶の初期配向が揃いにくい領域が生じることを抑制できる。したがって、開口率を高めることができ、表示装置の高精細化が容易となる。 For example, if a region where the initial orientation of the liquid crystal is difficult to align is used for display, the contrast may decrease. Further, when a region where the initial orientation of the liquid crystal is difficult to align occurs between two adjacent pixels, the reduction in contrast can be suppressed by covering the region with a light-shielding layer or the like, but the aperture ratio may decrease. .. On the other hand, in the method of manufacturing the display device of the present embodiment, since the pixel electrodes can be formed flat, the alignment film can also be formed flat. Defects in orientation processing such as rubbing treatment are unlikely to occur, and it becomes easy to align the initial orientation even at the end of the pixel electrode. It is possible to suppress the occurrence of a region where the initial orientation of the liquid crystal is difficult to align between two adjacent pixels. Therefore, the aperture ratio can be increased, and the display device can be easily made high-definition.
また、当該凹凸の影響を抑制するためにトランジスタや第2の表示素子等と、画素電極との間に平坦化機能を有する絶縁膜を厚く設ける必要がなくなる。そのため、第1の表示素子と第2の表示素子の距離を近づけることができる。 Further, in order to suppress the influence of the unevenness, it is not necessary to provide a thick insulating film having a flattening function between the transistor, the second display element, or the like and the pixel electrode. Therefore, the distance between the first display element and the second display element can be shortened.
液晶素子の画素電極と発光素子の距離を近づけることができるため、表示装置における高い視野角特性と、液晶素子の高い開口率を両立することができる。また、液晶素子と発光素子の合算開口率を高めることができる。また、表示装置の薄型化が可能となる。 Since the distance between the pixel electrode of the liquid crystal element and the light emitting element can be brought close to each other, it is possible to achieve both a high viewing angle characteristic in the display device and a high aperture ratio of the liquid crystal element. In addition, the total aperture ratio of the liquid crystal element and the light emitting element can be increased. In addition, the display device can be made thinner.
または、本実施の形態の表示装置の作製方法は、第1の作製基板上に、第1の剥離層を形成する工程と、第1の剥離層上に、可視光を透過する機能を有する共通電極を形成する工程と、第2の作製基板上に、第2の剥離層を形成する工程と、第2の剥離層上に、可視光を反射する機能を有する画素電極を形成する工程と、画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、絶縁層上に、可視光を発する機能を有する第2の表示素子を形成する工程と、第2の基板を用いて、第2の表示素子を封止する工程と、第2の剥離層を用いて、第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、第1の作製基板と第2の基板とを貼り合わせることで、第1の表示素子を形成する工程と、第1の剥離層を用いて、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程と、第1の基板と第2の基板との間に第1の表示素子を配置した状態で、第1の基板と第2の基板とを貼り合わせる工程と、を有する。第1の剥離層及び第2の剥離層のうち一方または双方は、第1の層と、第1の層上の第2の層を有するように形成される。第2の作製基板と第2の基板とを分離する工程、及び、第1の作製基板と第2の基板とを分離する工程のうち一方または双方では、光が照射されることで、第1の層と第2の層とが分離する。 Alternatively, the method for manufacturing the display device of the present embodiment is common in that it has a step of forming a first release layer on the first production substrate and a function of transmitting visible light on the first release layer. A step of forming an electrode, a step of forming a second release layer on the second production substrate, and a step of forming a pixel electrode having a function of reflecting visible light on the second release layer. A step of forming an insulating layer on a pixel electrode, a step of forming a second display element having a function of emitting visible light on the insulating layer, and a step of forming a second display element using a second substrate. The step of sealing, the step of separating the second production substrate and the second substrate by using the second release layer, and the step of arranging the liquid crystal layer between the common electrode and the pixel electrode, the first step. The process of forming the first display element by laminating the first manufactured substrate and the second substrate, and the first release layer are used to separate the first manufactured substrate and the second substrate. It includes a step and a step of bonding the first substrate and the second substrate in a state where the first display element is arranged between the first substrate and the second substrate. One or both of the first release layer and the second release layer is formed so as to have a first layer and a second layer on the first layer. In one or both of the step of separating the second manufacturing substrate and the second substrate and the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate, light is irradiated to the first step. Layer and the second layer are separated.
表示面側の基板である第1の基板の厚さは十分に薄いことが好ましい。第1の基板には、例えば、厚さ0.1mm以上0.5mm未満、好ましくは0.1mm以上0.3mm以下のガラス基板、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板などを適用することが好ましい。これにより、画像のボケを低減し、画像を鮮明に表示することができる。 It is preferable that the thickness of the first substrate, which is the substrate on the display surface side, is sufficiently thin. For the first substrate, for example, it is preferable to apply a glass substrate having a thickness of 0.1 mm or more and less than 0.5 mm, preferably 0.1 mm or more and 0.3 mm or less, a resin substrate having a thickness of 1 μm or more and 200 μm or less. .. As a result, blurring of the image can be reduced and the image can be displayed clearly.
一方、第1の基板の厚さが薄いと、表示装置の作製工程中に製造装置間または製造装置内の搬送が困難となり、表示装置の作製の歩留まりが低下する恐れがある。 On the other hand, if the thickness of the first substrate is thin, it becomes difficult to transfer the first substrate between manufacturing devices or within the manufacturing device during the manufacturing process of the display device, and the manufacturing yield of the display device may decrease.
本実施の形態の表示装置の作製方法では、第1の作製基板と第2の基板との間に第1の表示素子と第2の表示素子とを配置した後、第1の作製基板を第2の基板から剥離し、第2の基板と第1の基板とを貼り合わせる。第1の作製基板上に、第1の表示素子の共通電極、さらには、検出素子、着色層等を形成し、あとから第1の基板に転置する。第1の作製基板は表示装置の構成要素ではないため、耐熱性や厚さなど、製造工程に合った耐熱性、及び製造装置に合った厚さの材料を選択することができる。そのため、表示装置の作製工程において、基板の搬送が容易であり、また、十分に高い温度で良質な膜を形成することができる。また、厚さの薄い第1の基板を用いることができ、表示装置の表示品位を高めることができる。 In the manufacturing method of the display device of the present embodiment, after arranging the first display element and the second display element between the first manufacturing substrate and the second substrate, the first manufacturing substrate is first. It is peeled off from the second substrate, and the second substrate and the first substrate are bonded together. A common electrode for the first display element, a detection element, a colored layer, and the like are formed on the first fabrication substrate, and later transferred to the first substrate. Since the first manufacturing substrate is not a component of the display device, it is possible to select a material having heat resistance suitable for the manufacturing process such as heat resistance and thickness, and a material having a thickness suitable for the manufacturing device. Therefore, in the manufacturing process of the display device, the substrate can be easily transported, and a good quality film can be formed at a sufficiently high temperature. Further, a first substrate having a thin thickness can be used, and the display quality of the display device can be improved.
<光学部材>
第1の基板の、第2の基板側の面とは逆側の面(外側の面)には、光学部材として、偏光板、位相差板、光拡散層、反射防止部材、集光フィルムなどのうち一つまたは複数を設けることができる。また、光学部材以外の機能性部材としては、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜などが挙げられる。
<Optical member>
On the surface (outer surface) of the first substrate opposite to the surface on the second substrate side, as optical members, a polarizing plate, a retardation plate, a light diffusion layer, an antireflection member, a light collecting film, etc. One or more of them can be provided. Further, examples of the functional member other than the optical member include an antistatic film that suppresses the adhesion of dust, a water-repellent film that makes it difficult for dirt to adhere, and a hard coat film that suppresses the occurrence of scratches due to use.
光拡散層は、液晶素子の反射電極で反射した光を拡散する機能を有する。当該機能により、反射型の液晶素子でも自然な発色を行うことができる。また、白紙に近い白色を表示させることができる。 The light diffusion layer has a function of diffusing the light reflected by the reflection electrode of the liquid crystal element. With this function, even a reflective liquid crystal element can develop a natural color. In addition, it is possible to display white that is close to blank paper.
晴天時の屋外などの強光下では、表示面における外光反射が強く、表示装置の内部から放たれる光(表示)の視認性が低下する。反射防止部材を設けることで、強光下において、表示面の外光反射を十分に抑えることができ、さらに視認性を向上させることができる。 Under strong light such as outdoors in fine weather, the reflection of external light on the display surface is strong, and the visibility of the light (display) emitted from the inside of the display device is reduced. By providing the antireflection member, it is possible to sufficiently suppress the reflection of external light on the display surface under strong light, and it is possible to further improve the visibility.
反射防止部材としては、反射防止層(AR(Anti‐Reflection)層ともいう)、低反射層(LR(Low‐Reflection)層ともいう)、及び防眩層(AG(Anti‐Glare)層、ノングレア層ともいう)等が挙げられる。 The antireflection member includes an antireflection layer (also referred to as AR (Anti-Reflection) layer), a low reflection layer (also referred to as LR (Low-Reflection) layer), an antiglare layer (AG (Anti-Glare) layer, and non-glare). (Also called a layer) and the like.
AR層は、光の干渉作用を利用して、外光の正反射(鏡面反射)を低減する機能を有する。 The AR layer has a function of reducing normal reflection (specular reflection) of external light by utilizing the interference action of light.
AR層は、第1の基板の屈折率と異なる屈折率を有する材料で形成される。AR層は、例えば、酸化ジルコニウム、フッ化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化シリコンなどを用いて単層または積層で形成することができる。 The AR layer is formed of a material having a refractive index different from that of the first substrate. The AR layer can be formed as a single layer or a laminate using, for example, zirconium oxide, magnesium fluoride, aluminum oxide, silicon oxide, or the like.
AG層は、入射した外光を拡散させることにより、正反射(鏡面反射)を低減する機能を有する。 The AG layer has a function of reducing normal reflection (specular reflection) by diffusing the incident external light.
AG層の形成方法としては、表面に微細な凹凸を設ける方法、屈折率の異なる材料を混合する方法、または、双方を組み合わせる方法などが挙げられる。例えば、透光性を有する樹脂に、セルロース繊維などのナノファイバ、酸化シリコンなどの無機ビーズ、または樹脂ビーズなどを混合して、AG層を形成することができる。 Examples of the method for forming the AG layer include a method of providing fine irregularities on the surface, a method of mixing materials having different refractive indexes, and a method of combining both. For example, an AG layer can be formed by mixing nanofibers such as cellulose fibers, inorganic beads such as silicon oxide, resin beads, and the like with a translucent resin.
また、AR層に重ねてAG層を設けてもよい。AR層とAG層を積層して設けることで、外光の反射や映り込みを防ぐ機能をより高めることができる。AR層及びAG層のうち一方又は双方を用いることにより、表示装置の表面の外光反射率を1%未満、好ましくは0.3%未満とするとよい。 Further, the AG layer may be provided on the AR layer. By providing the AR layer and the AG layer in a laminated manner, the function of preventing reflection and reflection of external light can be further enhanced. By using one or both of the AR layer and the AG layer, the external light reflectance on the surface of the display device may be less than 1%, preferably less than 0.3%.
<トランジスタのチャネル形成領域>
本実施の形態の表示装置は、トランジスタのチャネル形成領域に、金属酸化物を有することが好ましい。金属酸化物は、酸化物半導体として機能することができる。
<Transistor channel formation region>
The display device of the present embodiment preferably has a metal oxide in the channel forming region of the transistor. The metal oxide can function as an oxide semiconductor.
トランジスタのチャネル形成領域に低温ポリシリコン(LTPS(Low Temperature Poly−Silicon))を用いる場合、500℃から550℃程度の温度をかける必要があるため、樹脂層に耐熱性が求められる。また、レーザ結晶化の工程でのダメージを緩和するため、樹脂層の厚膜化が必要となることがある。 When low-temperature polysilicon (LTPS (Low Temperature Poly-Silicon)) is used in the channel formation region of the transistor, it is necessary to apply a temperature of about 500 ° C. to 550 ° C., so that the resin layer is required to have heat resistance. Further, in order to alleviate damage in the process of laser crystallization, it may be necessary to thicken the resin layer.
一方、チャネル形成領域に金属酸化物を用いたトランジスタは、350℃以下、さらには300℃以下で形成することができる。そのため、樹脂層に高い耐熱性は求められない。したがって、樹脂層の耐熱温度を低くすることができ、材料の選択の幅が広がる。 On the other hand, a transistor using a metal oxide in the channel forming region can be formed at 350 ° C. or lower, further 300 ° C. or lower. Therefore, high heat resistance is not required for the resin layer. Therefore, the heat resistant temperature of the resin layer can be lowered, and the range of material selection is widened.
また、チャネル形成領域に金属酸化物を用いたトランジスタは、レーザ結晶化の工程が不要である。LTPSを用いる場合に比べて、工程が簡略化でき好ましい。 Further, a transistor using a metal oxide in the channel forming region does not require a laser crystallization step. Compared with the case of using LTPS, the process can be simplified, which is preferable.
ただし、本発明の一態様の表示装置は、トランジスタのチャネル形成領域に、金属酸化物を有する構成に限定されない。例えば、本実施の形態の表示装置は、トランジスタのチャネル形成領域に、シリコンを用いることができる。シリコンとしては、アモルファスシリコンまたは結晶性シリコンを用いることができる。結晶性シリコンとしては、微結晶シリコン、多結晶シリコン、単結晶シリコン等が挙げられる。 However, the display device of one aspect of the present invention is not limited to the configuration in which the metal oxide is contained in the channel forming region of the transistor. For example, in the display device of the present embodiment, silicon can be used for the channel formation region of the transistor. As the silicon, amorphous silicon or crystalline silicon can be used. Examples of crystalline silicon include microcrystalline silicon, polycrystalline silicon, and single crystal silicon.
チャネル形成領域にシリコンを用いる場合、LTPSを用いることが好ましい。LTPSなどの多結晶シリコンは、単結晶シリコンに比べて低温で形成でき、かつアモルファスシリコンに比べて高い電界効果移動度と高い信頼性を備える。 When silicon is used for the channel formation region, it is preferable to use LTPS. Polycrystalline silicon such as LTPS can be formed at a lower temperature than single crystal silicon, and has higher field effect mobility and higher reliability than amorphous silicon.
≪分離方法の概要≫
本実施の形態の表示装置の作製方法は、光の照射を用いた分離工程を有する。当該工程における分離方法について説明する。なお、本発明の一態様の表示装置の作製方法は、他の分離方法を用いた分離工程を有してもよい。例えば、分離工程が複数回行われる場合、光の照射を用いた分離工程は、1回以上行われる。すべての分離工程を、同じ分離方法で行うことで、材料や製造装置等を同一にでき、コストが削減できることがある。また、分離工程によって分離方法を変えることで、分離に要する力に差をつけることができる場合がある。これにより、所望のタイミングで所望の界面で分離が生じるよう制御できることがある。
≪Overview of separation method≫
The method for producing the display device of the present embodiment includes a separation step using light irradiation. The separation method in the step will be described. The method for producing the display device according to one aspect of the present invention may include a separation step using another separation method. For example, when the separation step is performed a plurality of times, the separation step using light irradiation is performed once or more. By performing all the separation steps by the same separation method, the materials, manufacturing equipment, etc. can be made the same, and the cost may be reduced. Further, by changing the separation method depending on the separation step, it may be possible to make a difference in the force required for separation. This may allow control to occur at the desired interface at the desired timing.
本実施の形態では、まず、作製基板上に第1の材料、ここでは金属酸化物層を形成する。次に、金属酸化物層上に、第2の材料、ここでは樹脂層を形成する。そして、光を照射することで、金属酸化物層と樹脂層とを分離する。 In the present embodiment, first, a first material, here a metal oxide layer, is formed on the fabrication substrate. Next, a second material, here a resin layer, is formed on the metal oxide layer. Then, by irradiating with light, the metal oxide layer and the resin layer are separated.
金属酸化物層と樹脂層とを分離する際に、光を用いると好ましい。光は、金属酸化物層と樹脂層との界面またはその近傍(界面または界面近傍とも記す)に照射されることが好ましい。また、光は、金属酸化物層中に照射されてもよい。また、光は、樹脂層中に照射されてもよい。なお、本明細書等において、「AとBとの界面またはその近傍」、「AとBとの界面または界面近傍」とは、少なくともAとBとの界面を含み、AとBとの界面から、AまたはBのいずれか一方の厚さの20%以内の範囲を含むものとする。 It is preferable to use light when separating the metal oxide layer and the resin layer. Light is preferably applied to the interface between the metal oxide layer and the resin layer or its vicinity (also referred to as an interface or the vicinity of the interface). Further, the light may be irradiated into the metal oxide layer. Further, the light may be irradiated into the resin layer. In the present specification and the like, "the interface between A and B or its vicinity" and "the interface between A and B or the vicinity of the interface" include at least the interface between A and B, and the interface between A and B. From, it shall include the range within 20% of the thickness of either A or B.
光を照射することで、金属酸化物層と樹脂層との界面(さらには金属酸化物層中及び樹脂層中)を加熱し、金属酸化物層と樹脂層との密着性(接着性)を低くすることができる。さらには金属酸化物層と樹脂層とを分離することができる。 By irradiating light, the interface between the metal oxide layer and the resin layer (further, in the metal oxide layer and the resin layer) is heated, and the adhesion (adhesiveness) between the metal oxide layer and the resin layer is improved. Can be lowered. Furthermore, the metal oxide layer and the resin layer can be separated.
<光の照射>
次に、光の照射について説明する。
<Irradiation of light>
Next, light irradiation will be described.
ランプ、レーザ装置等を用いて光を照射することができる。 Light can be irradiated using a lamp, a laser device, or the like.
線状レーザ装置を用いてレーザ光を照射することが好ましい。低温ポリシリコン(LTPS(Low Temperature Poly−Silicon))等の製造ラインのレーザ装置を使用することができるため、これらの装置の有効利用が可能である。線状レーザは、矩形長尺状に集光(線状レーザビームに成形)して、金属酸化物層と樹脂層との界面に光を照射する。 It is preferable to irradiate the laser beam using a linear laser device. Since laser devices on a production line such as low-temperature polysilicon (LTPS (Low Temperature Poly-Silicon)) can be used, these devices can be effectively used. The linear laser collects light in a rectangular elongated shape (formed into a linear laser beam) and irradiates the interface between the metal oxide layer and the resin layer with light.
光は、波長領域が180nm以上450nm以下を有するように照射されることが好ましい。光は、波長領域が308nmまたはその近傍を有するように照射されることがより好ましい。 The light is preferably irradiated so that the wavelength region has 180 nm or more and 450 nm or less. It is more preferable that the light is irradiated so that the wavelength region has 308 nm or its vicinity.
光のエネルギー密度は、250mJ/cm2以上400mJ/cm2以下が好ましく、250mJ/cm2以上360mJ/cm2以下がより好ましい。 The energy density of the light is preferably from 250 mJ / cm 2 or more 400 mJ / cm 2 or less, 250 mJ / cm 2 or more 360 mJ / cm 2 or less being more preferred.
レーザ装置を用いて光を照射する場合、同一箇所に照射されるレーザ光のショット数は、1ショット以上50ショット以下とすることができ、1ショットより多く10ショット以下が好ましく、1ショットより多く5ショット以下がより好ましい。 When irradiating light using a laser device, the number of shots of the laser beam radiated to the same location can be 1 shot or more and 50 shots or less, preferably more than 1 shot and 10 shots or less, and more than 1 shot. 5 shots or less is more preferable.
ビームの短軸方向の両端には、光の強度が低い部分が存在する。そのため、当該光の強度が低い部分の幅以上、一つのショットと次のショットの間にオーバーラップする部分を設けることが好ましい。そのため、レーザ光のショット数は、1.1ショット以上とすることが好ましく、1.25ショット以上とすることがより好ましい。 At both ends of the beam in the short axis direction, there are portions with low light intensity. Therefore, it is preferable to provide an overlapping portion between one shot and the next shot, which is equal to or larger than the width of the portion where the light intensity is low. Therefore, the number of shots of the laser beam is preferably 1.1 shots or more, and more preferably 1.25 shots or more.
なお、本明細書中、レーザ光のショット数とは、ある点(領域)に照射されるレーザ光の照射回数を指し、ビーム幅、スキャン速度、周波数、またはオーバーラップ率などで決定される。また、線状のビームをあるスキャン方向に移動させているパルスとパルスの間、即ち、一つのショットと次のショットの間にオーバーラップする部分があり、その重なる比率がオーバーラップ率である。なお、オーバーラップ率が100%に近ければ近いほどショット数は多く、離れれば離れるほどショット数は少なくなり、スキャン速度が速ければ速いほどショット数は少なくなる。 In the present specification, the number of shots of the laser beam refers to the number of times the laser beam is irradiated to a certain point (region), and is determined by the beam width, the scan speed, the frequency, the overlap rate, and the like. Further, there is an overlapping portion between the pulses moving the linear beam in a certain scanning direction, that is, between one shot and the next shot, and the overlapping ratio is the overlap ratio. The closer the overlap rate is to 100%, the larger the number of shots, the farther away, the smaller the number of shots, and the faster the scanning speed, the smaller the number of shots.
上記のレーザ光のショット数が1.1ショットとは、連続する2つのショットの間にビームの10分の1程度の幅のオーバーラップを有することを示し、オーバーラップ率10%といえる。同様に、1.25ショットとは、連続する2つのショットの間にビームの4分の1程度の幅のオーバーラップを有することを示し、オーバーラップ率25%といえる。 The number of shots of the laser beam of 1.1 shots means that there is an overlap with a width of about 1/10 of the beam between two consecutive shots, and it can be said that the overlap rate is 10%. Similarly, 1.25 shots means that there is an overlap with a width of about a quarter of the beam between two consecutive shots, and it can be said that the overlap rate is 25%.
ここで、LTPSのレーザ結晶化の工程で照射する光のエネルギー密度は高く、例えば350mJ/cm2以上400mJ/cm2以下が挙げられる。また、レーザのショット数も多く必要であり、例えば10ショット以上100ショット以下が挙げられる。 Here, the energy density of the light irradiated in the process of laser crystallization of LTPS is high, and examples thereof include 350 mJ / cm 2 or more and 400 mJ / cm 2 or less. In addition, a large number of laser shots is required, and examples thereof include 10 shots or more and 100 shots or less.
一方、本実施の形態において、金属酸化物層と樹脂層とを分離するために行う光の照射は、レーザ結晶化の工程で用いる条件よりも低いエネルギー密度、または少ないショット数で行うことができる。そのため、レーザ装置での処理可能な基板枚数を増やすことができる。また、レーザ装置のメンテナンスの頻度の低減など、レーザ装置のランニングコストの低減が可能となる。したがって、表示装置などの作製コストを低減することができる。 On the other hand, in the present embodiment, the irradiation of light performed to separate the metal oxide layer and the resin layer can be performed with a lower energy density or a smaller number of shots than the conditions used in the laser crystallization step. .. Therefore, the number of substrates that can be processed by the laser device can be increased. Further, it is possible to reduce the running cost of the laser device, such as reducing the frequency of maintenance of the laser device. Therefore, it is possible to reduce the manufacturing cost of the display device and the like.
また、光の照射が、レーザ結晶化の工程で用いる条件よりも低いエネルギー密度、または少ないショット数で行われることから、基板がレーザ光の照射による受けるダメージを低減できる。そのため、基板を一度使用しても、強度が低下しにくく、基板を再利用できる。したがって、コストを抑えることが可能となる。 Further, since the light irradiation is performed with an energy density lower than the conditions used in the laser crystallization step or a small number of shots, the damage to the substrate due to the laser light irradiation can be reduced. Therefore, even if the substrate is used once, the strength does not easily decrease and the substrate can be reused. Therefore, it is possible to reduce the cost.
また、本実施の形態では、作製基板と樹脂層との間に金属酸化物層を配置する。金属酸化物層を用いることで、金属酸化物層を用いない場合に比べて、光の照射を、低いエネルギー密度、または少ないショット数で行うことができることがある。 Further, in the present embodiment, the metal oxide layer is arranged between the production substrate and the resin layer. By using the metal oxide layer, it may be possible to irradiate light with a lower energy density or a smaller number of shots as compared with the case where the metal oxide layer is not used.
作製基板を介して光を照射する際、作製基板の光照射面にゴミなどの異物が付着していると、光の照射ムラが生じ、剥離性が低い部分が形成され、金属酸化物層と樹脂層とを分離する工程の歩留まりが低下することがある。そのため、光を照射する前、または光を照射している間に、光照射面を洗浄することが好ましい。例えば、アセトンなどの有機溶剤、水等を用いて作製基板の光照射面を洗浄することができる。また、エアナイフを用いて気体を噴きつけてもよい。これにより、光の照射ムラを低減し、分離の歩留まりを向上させることができる。 When irradiating light through the production substrate, if foreign matter such as dust adheres to the light irradiation surface of the production substrate, uneven light irradiation occurs, a portion having low peelability is formed, and the metal oxide layer and the metal oxide layer are formed. The yield of the process of separating from the resin layer may decrease. Therefore, it is preferable to clean the light-irradiated surface before or during the light irradiation. For example, the light-irradiated surface of the production substrate can be cleaned with an organic solvent such as acetone, water, or the like. Alternatively, the gas may be sprayed using an air knife. As a result, uneven light irradiation can be reduced and the yield of separation can be improved.
<樹脂層>
樹脂層を薄く形成することで、低コストで表示装置を作製できる。また、表示装置の軽量化及び薄型化が可能となる。また、表示装置の可撓性を高めることができる。例えば、樹脂層の厚さは、0.1μm以上5μm以下としてもよい。
<Resin layer>
By forming the resin layer thinly, a display device can be manufactured at low cost. In addition, the weight and thickness of the display device can be reduced. In addition, the flexibility of the display device can be increased. For example, the thickness of the resin layer may be 0.1 μm or more and 5 μm or less.
樹脂層の可視光の透過性は特に限定されない。例えば、有色の層であってもよく、透明の層であってもよい。ここで、表示装置の表示面側に樹脂層が位置する場合、樹脂層が着色している(有色である)と、光取り出し効率が低下する、取り出される光の色味が変わる、表示品位が低下する等の不具合が生じることがある。樹脂層の厚さが薄いと、樹脂層の可視光の透過性を高めることができ好ましい。 The transparency of visible light in the resin layer is not particularly limited. For example, it may be a colored layer or a transparent layer. Here, when the resin layer is located on the display surface side of the display device, if the resin layer is colored (colored), the light extraction efficiency is lowered, the color of the extracted light is changed, and the display quality is deteriorated. Problems such as deterioration may occur. When the thickness of the resin layer is thin, the transparency of visible light of the resin layer can be increased, which is preferable.
また、樹脂層は、ウエットエッチング装置、ドライエッチング装置、アッシング装置等を用いて除去することができる。特に、酸素プラズマを用いたアッシングを行って樹脂層を除去することが好適である。樹脂層の厚さが薄いと、樹脂層を除去する工程にかかる時間を短縮でき好ましい。 Further, the resin layer can be removed by using a wet etching apparatus, a dry etching apparatus, an ashing apparatus or the like. In particular, it is preferable to remove the resin layer by performing ashing using oxygen plasma. When the thickness of the resin layer is thin, the time required for the step of removing the resin layer can be shortened, which is preferable.
本実施の形態では、作製基板と樹脂層との間に金属酸化物層を有する。金属酸化物層が光を吸収する機能を有するため、樹脂層の光の吸収率が低くても、光照射による効果が得られる。したがって、可視光の透過率が高い樹脂層を用いることができる。そのため、表示装置の表示面側に樹脂層が位置していても、高い表示品位を実現できる。また、表示品位を高めるために、着色している(有色の)樹脂層を除去する工程を削減できる。また、樹脂層の材料の選択の幅が広がる。 In this embodiment, a metal oxide layer is provided between the production substrate and the resin layer. Since the metal oxide layer has a function of absorbing light, the effect of light irradiation can be obtained even if the light absorption rate of the resin layer is low. Therefore, a resin layer having a high visible light transmittance can be used. Therefore, even if the resin layer is located on the display surface side of the display device, high display quality can be realized. Further, in order to improve the display quality, the step of removing the colored (colored) resin layer can be reduced. In addition, the range of choices for the material of the resin layer is widened.
樹脂層の波長450nm以上700nm以下の範囲の光の透過率の平均値は、70%以上100%以下が好ましく、80%以上100%以下が好ましく、90%以上100%以下がより好ましい。 The average value of the light transmittance in the wavelength range of 450 nm or more and 700 nm or less of the resin layer is preferably 70% or more and 100% or less, preferably 80% or more and 100% or less, and more preferably 90% or more and 100% or less.
本実施の形態では、樹脂層の耐熱温度以下の温度で、トランジスタ等を形成する。樹脂層の耐熱性は、例えば、加熱による重量減少率、具体的には5%重量減少温度等で評価できる。本実施の形態の剥離方法及び表示装置の作製方法では、工程中の最高温度を低くすることができる。例えば、本実施の形態では、樹脂層の5%重量減少温度を、200℃以上650℃以下、200℃以上500℃以下、200℃以上400℃以下、または200℃以上350℃以下とすることができる。そのため、材料の選択の幅が広がる。なお、樹脂層の5%重量減少温度は、650℃より高くてもよい。 In the present embodiment, a transistor or the like is formed at a temperature equal to or lower than the heat resistant temperature of the resin layer. The heat resistance of the resin layer can be evaluated, for example, by the weight loss rate due to heating, specifically, the 5% weight loss temperature or the like. In the peeling method and the manufacturing method of the display device of the present embodiment, the maximum temperature during the process can be lowered. For example, in the present embodiment, the 5% weight loss temperature of the resin layer may be set to 200 ° C. or higher and 650 ° C. or lower, 200 ° C. or higher and 500 ° C. or lower, 200 ° C. or higher and 400 ° C. or lower, or 200 ° C. or higher and 350 ° C. or lower. can. Therefore, the range of material selection is widened. The 5% weight loss temperature of the resin layer may be higher than 650 ° C.
≪表示装置の構成例1≫
以下では、図1及び図2を用いて表示装置300Aについて説明する。
<< Display device configuration example 1 >>
Hereinafter, the
図1は、表示装置300Aの斜視概略図である。表示装置300Aは、基板351と基板361とが貼り合わされた構成を有する。図1では、基板361を破線で明示している。
FIG. 1 is a schematic perspective view of the
表示装置300Aは、表示部362、回路364、配線365等を有する。図1では表示装置300AにIC(集積回路)373及びFPC372が実装されている例を示している。そのため、図1に示す構成は、表示装置300A、IC、及びFPCを有する表示モジュールということもできる。
The
回路364としては、例えば走査線駆動回路を用いることができる。
As the
配線365は、表示部362及び回路364に信号及び電力を供給する機能を有する。当該信号及び電力は、FPC372を介して外部から、またはIC373から配線365に入力される。
The
図1では、COG(Chip On Glass)方式またはCOF(Chip on Film)方式等により、基板351にIC373が設けられている例を示す。IC373は、例えば走査線駆動回路または信号線駆動回路などを有するICを適用できる。なお、表示装置100及び表示モジュールは、ICを設けない構成としてもよい。また、ICを、COF方式等により、FPCに実装してもよい。
FIG. 1 shows an example in which an
図1には、表示部362の一部の拡大図を示している。表示部362には、複数の表示素子が有する電極311bがマトリクス状に配置されている。電極311bは、可視光を反射する機能を有し、液晶素子180の反射電極として機能する。
FIG. 1 shows an enlarged view of a part of the
また、図1に示すように、電極311bは開口451を有する。さらに表示部362は、電極311bよりも基板351側に、発光素子170を有する。発光素子170からの光は、電極311bの開口451を介して基板361側に射出される。発光素子170の発光領域の面積と開口451の面積とは等しくてもよい。発光素子170の発光領域の面積と開口451の面積のうち一方が他方よりも大きいと、位置ずれに対するマージンが大きくなるため好ましい。特に、開口451の面積は、発光素子170の発光領域の面積に比べて大きいことが好ましい。開口451を十分に大きくすることで、発光素子170からの光が電極311bによって遮られることを抑制し、発光素子170の発光が無駄になることを抑制できる。
Further, as shown in FIG. 1, the
図2に、図1で示した表示装置300Aの、FPC372を含む領域の一部、回路364を含む領域の一部、及び表示部362を含む領域の一部をそれぞれ切断したときの断面の一例を示す。
FIG. 2 shows an example of a cross section of the
図2に示す表示装置300Aは、基板351と基板361の間に、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、トランジスタ206、液晶素子180、発光素子170、絶縁層220、着色層131、着色層134等を有する。基板361と絶縁層220は接着層141を介して接着されている。基板351と絶縁層220は接着層142を介して接着されている。
The
基板361には、着色層131、遮光層132、絶縁層121、及び液晶素子180の共通電極として機能する電極113、配向膜133b、絶縁層117等が設けられている。基板361の外側の面には、偏光板135を有する。絶縁層121は、平坦化層としての機能を有していてもよい。絶縁層121により、電極113の表面を概略平坦にできるため、液晶層112の配向状態を均一にできる。絶縁層117は、液晶素子180のセルギャップを保持するためのスペーサとして機能する。絶縁層117が可視光を透過する場合は、絶縁層117を液晶素子180の表示領域と重ねて配置してもよい。
The
液晶素子180は反射型の液晶素子である。液晶素子180は、画素電極として機能する電極311a及び電極311bと、液晶層112と、電極113とが積層された積層構造を有する。電極311aの基板351側に接して、可視光を反射する電極311bが設けられている。電極311bは開口451を有する。電極311a及び電極113は可視光を透過する。液晶層112と電極311aの間に配向膜133aが設けられている。液晶層112と電極113の間に配向膜133bが設けられている。
The
液晶素子180において、電極311bは可視光を反射する機能を有し、電極113は可視光を透過する機能を有する。基板361側から入射した光は、偏光板135により偏光され、電極113、液晶層112を透過し、電極311bで反射する。そして液晶層112及び電極113を再度透過して、偏光板135に達する。このとき、電極311bと電極113の間に与える電圧によって液晶の配向を制御し、光の光学変調を制御することができる。すなわち、偏光板135を介して射出される光の強度を制御することができる。また光は着色層131によって特定の波長領域以外の光が吸収されることにより、取り出される光は、例えば赤色を呈する光となる。
In the
図2に示すように、開口451には可視光を透過する電極311aが設けられていることが好ましい。これにより、開口451と重なる領域においてもそれ以外の領域と同様に液晶層112が配向するため、これらの領域の境界部で液晶の配向不良が生じ、意図しない光が漏れてしまうことを抑制できる。
As shown in FIG. 2, it is preferable that the
接続部207において、電極311bは、導電層221bを介して、トランジスタ206が有する導電層222aと電気的に接続されている。トランジスタ206は、液晶素子180の駆動を制御する機能を有する。
In the connecting
接着層141が設けられる一部の領域には、接続部252が設けられている。接続部252において、電極311aと同一の導電膜を加工して得られた電極311eと、電極113の一部が、接続体243により電気的に接続されている。したがって、基板361側に形成された電極113に、基板351側に接続されたFPC372から入力される信号または電位を、接続部252を介して供給することができる。
A connecting
発光素子170は、ボトムエミッション型の発光素子である。発光素子170は、絶縁層220側から画素電極として機能する電極191、EL層192、及び共通電極として機能する電極193の順に積層された積層構造を有する。電極191は、絶縁層214に設けられた開口を介して、トランジスタ205が有する導電層222aと接続されている。トランジスタ205は、発光素子170の駆動を制御する機能を有する。絶縁層216が電極191の端部を覆っている。電極193は可視光を反射する材料を含み、電極191は可視光を透過する材料を含む。電極193を覆って絶縁層194が設けられている。発光素子170が発する光は、着色層134、絶縁層220、開口451、電極311a等を介して、基板361側に射出される。
The
液晶素子180及び発光素子170は、画素によって着色層の色を変えることで、様々な色を呈することができる。表示装置300Aは、液晶素子180及び着色層を用いて、カラー表示を行うことができる。表示装置300Aは、発光素子170及び着色層を用いて、カラー表示を行うことができる。
The
カラー表示を実現するために、発光素子170及び液晶素子180と組み合わせる着色層の色は、赤、緑、青の組み合わせだけでなく、黄、シアン、マゼンダの組み合わせであってもよい。例えば、発光素子170と組み合わせる着色層の色を赤、緑、青とし、液晶素子180と組み合わせる着色層の色をシアン、マゼンダ、黄としてもよい。組み合わせる着色層の色は、目的または用途などに応じて適宜設定すればよい。発光素子170と組み合わせる着色層と液晶素子180と組み合わせる着色層とがそれぞれ異なる色である場合、着色層131と発光素子170の発光領域が重ならないよう、着色層131に開口を設けることが好ましい。また、液晶素子180を用いて白黒表示またはグレースケールでの表示を行う場合、着色層131を形成しなくてもよい。
In order to realize the color display, the color of the coloring layer to be combined with the
トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206は、いずれも絶縁層220の基板351側の面上に形成されている。これらのトランジスタは、同一の工程を用いて作製することができる。
The
液晶素子180と電気的に接続される回路は、発光素子170と電気的に接続される回路と同一面上に形成されることが好ましい。これにより、2つの回路を別々の面上に形成する場合に比べて、表示装置の厚さを薄くすることができる。また、2つのトランジスタを同一の工程で作製できるため、2つのトランジスタを別々の面上に形成する場合に比べて、作製工程を簡略化することができる。
The circuit electrically connected to the
液晶素子180の画素電極は、トランジスタが有するゲート絶縁層を挟んで、発光素子170の画素電極とは反対に位置する。
The pixel electrode of the
ここで、チャネル形成領域に金属酸化物を有し、オフ電流が極めて低いトランジスタ206を適用した場合や、トランジスタ206と電気的に接続される記憶素子を適用した場合などでは、液晶素子180を用いて静止画を表示する際に画素への書き込み動作を停止しても、階調を維持させることが可能となる。すなわち、フレームレートを極めて小さくしても表示を保つことができる。本発明の一態様では、フレームレートを極めて小さくでき、消費電力の低い駆動を行うことができる。
Here, when a
トランジスタ203は、画素の選択、非選択状態を制御するトランジスタ(スイッチングトランジスタまたは選択トランジスタともいう)である。トランジスタ205は、発光素子170に流れる電流を制御するトランジスタ(駆動トランジスタともいう)である。
The
絶縁層220の基板351側には、絶縁層211、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214等の絶縁層が設けられている。絶縁層211は、その一部が各トランジスタのゲート絶縁層として機能する。絶縁層212は、トランジスタ206等を覆って設けられる。絶縁層213は、トランジスタ205等を覆って設けられている。絶縁層214は、平坦化層としての機能を有する。なお、トランジスタを覆う絶縁層の数は限定されず、単層であっても2層以上であってもよい。
Insulating layers such as an insulating
各トランジスタを覆う絶縁層の少なくとも一層に、水や水素などの不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。これにより、絶縁層をバリア膜として機能させることができる。このような構成とすることで、トランジスタに対して外部から不純物が拡散することを効果的に抑制することが可能となり、信頼性の高い表示装置を実現できる。 It is preferable to use a material in which impurities such as water and hydrogen do not easily diffuse into at least one layer of the insulating layer covering each transistor. As a result, the insulating layer can function as a barrier membrane. With such a configuration, it is possible to effectively suppress the diffusion of impurities from the outside to the transistor, and a highly reliable display device can be realized.
トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206は、ゲートとして機能する導電層221a、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211、ソース及びドレインとして機能する導電層222a及び導電層222b、並びに、半導体層231を有する。ここでは、同一の導電膜を加工して得られる複数の層に、同じハッチングパターンを付している。
The
トランジスタ201及びトランジスタ205は、トランジスタ203及びトランジスタ206の構成に加えて、ゲートとして機能する導電層223を有する。
The
トランジスタ201及びトランジスタ205には、チャネルが形成される半導体層を2つのゲートで挟持する構成が適用されている。このような構成とすることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。2つのゲートを接続し、これらに同一の信号を供給することによりトランジスタを駆動してもよい。このようなトランジスタは他のトランジスタと比較して電界効果移動度を高めることが可能であり、オン電流を増大させることができる。その結果、高速駆動が可能な回路を作製することができる。さらには、回路部の占有面積を縮小することが可能となる。オン電流の大きなトランジスタを適用することで、表示装置を大型化、または高精細化したときに配線数が増大したとしても、各配線における信号遅延を低減することが可能であり、表示ムラを抑制することができる。
A configuration in which a semiconductor layer on which a channel is formed is sandwiched between two gates is applied to the
または、2つのゲートのうち、一方に閾値電圧を制御するための電位を与え、他方に駆動のための電位を与えることで、トランジスタの閾値電圧を制御することができる。 Alternatively, the threshold voltage of the transistor can be controlled by giving a potential for controlling the threshold voltage to one of the two gates and giving a potential for driving to the other.
表示装置が有するトランジスタの構造に限定はない。回路364が有するトランジスタと、表示部362が有するトランジスタは、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。回路364が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。同様に、表示部362が有する複数のトランジスタは、全て同じ構造であってもよく、2種類以上の構造が組み合わせて用いられていてもよい。
The structure of the transistor of the display device is not limited. The transistor included in the
導電層223には、酸化物を含む導電性材料を用いることが好ましい。導電層223を構成する導電膜の成膜時に、酸素を含む雰囲気下で成膜することで、絶縁層212に酸素を供給することができる。成膜ガス中の酸素ガスの割合を90%以上100%以下の範囲とすることが好ましい。絶縁層212に供給された酸素は、後の熱処理により半導体層231に供給され、半導体層231中の酸素欠損の低減を図ることができる。
It is preferable to use a conductive material containing an oxide for the
特に、導電層223には、低抵抗化された金属酸化物を用いることが好ましい。このとき、絶縁層213に水素を放出する絶縁膜、例えば窒化シリコン膜等を用いることが好ましい。絶縁層213の成膜中、またはその後の熱処理によって導電層223中に水素が供給され、導電層223の電気抵抗を効果的に低減することができる。
In particular, it is preferable to use a metal oxide having a low resistance for the
絶縁層213に接して着色層134が設けられている。着色層134は、絶縁層214に覆われている。
A
基板351の基板361と重ならない領域には、接続部204が設けられている。接続部204では、配線365が接続層242を介してFPC372と電気的に接続されている。接続部204は接続部207と同様の構成を有している。接続部204の上面は、電極311aと同一の導電膜を加工して得られた電極311cが露出している。これにより、接続部204とFPC372とを接続層242を介して電気的に接続することができる。
A connecting
接続層242としては、様々な異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)及び異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)等を用いることができる。
As the connecting
液晶素子180は反射型の液晶素子である。よって、偏光板135として円偏光板を用いる。円偏光板としては、例えば直線偏光板と1/4波長位相差板を積層したものを用いることができる。また、偏光板の種類に応じて、液晶素子180に用いる液晶素子のセルギャップ、配向、駆動電圧等を調整することで、所望のコントラストが実現されるようにすれる。また、目的、用途、素子構成などによっては、円偏光板に代えて直線偏光板を用いてもよい。
The
基板351及び基板361には、それぞれ、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、有機樹脂などを用いることができる。基板351及び基板361に可撓性を有する材料を用いると、表示装置の可撓性を高めることができる。
Glass, quartz, ceramic, sapphire, organic resin and the like can be used for the
表示装置を構成する基板の厚さは、それぞれ、十分に薄いことが好ましい。基板には、例えば、厚さ0.1mm以上0.5mm未満、好ましくは0.1mm以上0.3mm以下のガラス基板、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板などを適用することが好ましい。基板の厚さを薄くすることで、表示装置の薄型化及び軽量化が可能となる。また、表示面側の基板の厚さを薄くすることで、画像のボケを低減し、画像を鮮明に表示することができる。 It is preferable that the thickness of the substrate constituting the display device is sufficiently thin. For the substrate, for example, it is preferable to apply a glass substrate having a thickness of 0.1 mm or more and less than 0.5 mm, preferably 0.1 mm or more and 0.3 mm or less, a resin substrate having a thickness of 1 μm or more and 200 μm or less. By reducing the thickness of the substrate, the display device can be made thinner and lighter. Further, by reducing the thickness of the substrate on the display surface side, blurring of the image can be reduced and the image can be displayed clearly.
液晶素子180は、例えば、ゲスト・ホスト液晶モードを用いて駆動することが好ましい。ゲスト・ホスト液晶モードを用いる場合、偏光板を用いなくてよい。偏光板による光の吸収を低減できるため、光取り出し効率を高め、表示装置の表示を明るくすることができる。
The
液晶材料は、二色性色素を有することが好ましい。なお、二色性色素を含む液晶材料をゲスト・ホスト液晶という。ゲスト・ホスト液晶は、具体的には、分子の長軸方向に大きな吸光度を有し、長軸方向と直交する短軸方向に小さな吸光度を有する材料を、二色性色素に用いることができる。好ましくは、10以上の二色性比を有する材料を二色性色素に用いることができ、より好ましくは、20以上の二色性比を有する材料を二色性色素に用いることができる。 The liquid crystal material preferably has a dichroic dye. A liquid crystal material containing a dichroic dye is called a guest host liquid crystal. Specifically, as the guest-host liquid crystal, a material having a large absorbance in the major axis direction of the molecule and a small absorbance in the minor axis direction orthogonal to the major axis direction can be used for the bicolor dye. Preferably, a material having a dichroic ratio of 10 or more can be used for the dichroic dye, and more preferably, a material having a dichroic ratio of 20 or more can be used for the dichroic dye.
例えば、アゾ系色素、アントラキノン系色素、ジオキサジン系色素等を、二色性色素に用いることができる。または、ホモジニアス配向した二色性色素を含む二層の液晶層を、配向方向が互いに直交するように重ねた構造を、液晶材料を含む層に用いることができる。これにより、全方位について光を吸収しやすくすることができる。または、コントラストを高めることができる。 For example, azo dyes, anthraquinone dyes, dioxazine dyes and the like can be used as dichroic dyes. Alternatively, a structure in which two liquid crystal layers containing a homogenically oriented dichroic dye are stacked so that the orientation directions are orthogonal to each other can be used for the layer containing the liquid crystal material. This makes it easier to absorb light in all directions. Alternatively, the contrast can be increased.
また、相転移型ゲスト・ホスト液晶や、ゲスト・ホスト液晶を含む液滴を高分子に分散した構造を、液晶材料に用いてもよい。 Further, a phase transition type guest host liquid crystal or a structure in which droplets containing the guest host liquid crystal are dispersed in a polymer may be used as the liquid crystal material.
液晶素子180は、ゲスト・ホスト液晶モードに限定されず、TN(Twisted Nematic)モード、OCB(Optically Compensated Birefringence)モード、垂直配向(VA)モードなどの駆動方法を用いて駆動してもよい。
The
垂直配向モードとしては、MVA(Multi−Domain Vertical Alignment)モード、PVA(Patterned Vertical Alignment)モード、ASV(Advanced Super View)モードなどを用いることができる。 As the vertical orientation mode, an MVA (Multi-Domain Vertical Alignment) mode, a PVA (Patterned Vertical Alignment) mode, an ASV (Advanced Super View) mode, and the like can be used.
液晶素子180には、その他、様々なモードが適用された液晶素子を用いることができる。例えばIPS(In−Plane−Switching)モード、VA−IPSモード、FFS(Fringe Field Switching)モード、ASM(Axially Symmetric aligned Micro−cell)モード、FLC(Ferroelectric Liquid Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liquid Crystal)モード、STN(Super Twisted Nematic)モード、TBA(Transverse Bend Alignment)モード、ECB(Electrically Controlled Birefringence)モード等が適用された液晶素子を用いることができる。
As the
液晶素子は、液晶の光学的変調作用によって光の透過または非透過を制御する素子である。液晶の光学的変調作用は、液晶にかかる電界(横方向の電界、縦方向の電界または斜め方向の電界を含む)によって制御される。液晶素子に用いる液晶としては、サーモトロピック液晶、低分子液晶、高分子液晶、高分子分散型液晶(PDLC:Polymer Dispersed Liquid Crystal)、高分子ネットワーク型液晶(PNLC:Polymer Network Liquid Crystal)、強誘電性液晶、反強誘電性液晶等を用いることができる。これらの液晶材料は、条件により、コレステリック相、スメクチック相、キュービック相、カイラルネマチック相、等方相等を示す。 The liquid crystal element is an element that controls the transmission or non-transmission of light by the optical modulation action of the liquid crystal. The optical modulation action of the liquid crystal is controlled by an electric field applied to the liquid crystal (including a horizontal electric field, a vertical electric field, or an oblique electric field). The liquid crystal used for the liquid crystal element includes a thermotropic liquid crystal, a low molecular weight liquid crystal, a high molecular weight liquid crystal, a high molecular weight dispersed liquid crystal (PDLC: Polymer Dispersed Liquid Crystal), a high molecular weight network type liquid crystal (PNLC: Polymer Network Liquid Crystal), and a strong dielectric. Sexual liquid crystal, anti-strong dielectric liquid crystal and the like can be used. Depending on the conditions, these liquid crystal materials exhibit a cholesteric phase, a smectic phase, a cubic phase, a chiral nematic phase, an isotropic phase and the like.
液晶材料としては、ポジ型の液晶またはネガ型の液晶のいずれを用いてもよく、適用するモードや設計に応じて最適な液晶材料を用いればよい。 As the liquid crystal material, either a positive type liquid crystal display or a negative type liquid crystal display may be used, and the optimum liquid crystal material may be used according to the applicable mode and design.
液晶の配向を制御するため、配向膜を設けることができる。なお、横電界方式を採用する場合、配向膜を用いないブルー相を示す液晶を用いてもよい。ブルー相は液晶相の一つであり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリック相から等方相へ転移する直前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発現しないため、温度範囲を改善するために数重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組成物を液晶に用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速度が短く、光学的等方性である。また、ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、配向処理が不要であり、視野角依存性が小さい。また配向膜を設けなくてもよいのでラビング処理も不要となるため、ラビング処理によって引き起こされる静電破壊を防止することができ、作製工程中の液晶表示装置の不良や破損を軽減することができる。 An alignment film can be provided to control the orientation of the liquid crystal display. When the transverse electric field method is adopted, a liquid crystal showing a blue phase that does not use an alignment film may be used. The blue phase is one of the liquid crystal phases, and is a phase that appears immediately before the transition from the cholesteric phase to the isotropic phase when the temperature of the cholesteric liquid crystal is raised. Since the blue phase is expressed only in a narrow temperature range, a liquid crystal composition mixed with a chiral agent of several weight% or more is used for the liquid crystal in order to improve the temperature range. A liquid crystal composition containing a liquid crystal exhibiting a blue phase and a chiral agent has a short response rate and is optically isotropic. Further, the liquid crystal composition containing the liquid crystal exhibiting the blue phase and the chiral agent does not require an orientation treatment and has a small viewing angle dependence. In addition, since it is not necessary to provide an alignment film, the rubbing process is not required, so that electrostatic breakdown caused by the rubbing process can be prevented, and defects and breakage of the liquid crystal display device during the manufacturing process can be reduced. ..
偏光板135よりも外側に、フロントライトを設けてもよい。フロントライトとしては、エッジライト型のフロントライトを用いることが好ましい。LEDを備えるフロントライトを用いると、消費電力を低減できるため好ましい。
A front light may be provided outside the
ここでは、発光素子170として、ボトムエミッション型の発光素子を作製する例を示したが、本発明の一態様はこれに限られない。
Here, an example of producing a bottom emission type light emitting element as the
発光素子170は、トップエミッション型、ボトムエミッション型、デュアルエミッション型のいずれであってもよい。光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。
The
EL層192は少なくとも発光層を有する。EL層192は、発光層以外の層として、正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、正孔ブロック材料、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、またはバイポーラ性の物質(電子輸送性及び正孔輸送性が高い物質)等を含む層をさらに有していてもよい。また、EL層192は、量子ドットなどの無機化合物を有していてもよい。
The
カラー表示を実現する方法としては、発光色が白色の発光素子170と着色層を組み合わせて行う方法と、副画素毎に発光色の異なる発光素子170を設ける方法がある。前者の方法は後者の方法よりも生産性が高い。一方、後者の方法では副画素毎にEL層192を作り分ける必要があるため、前者の方法よりも生産性が劣る。ただし、後者の方法では、前者の方法よりも色純度の高い発光色を得ることができる。また、発光素子170にマイクロキャビティ構造を付与することにより色純度を高めることができる。
As a method of realizing color display, there are a method of combining a
≪表示装置の作製方法例1≫
以下では、図3〜図11を用いて、表示装置300Aの作製方法について説明する。
<< Example 1 of manufacturing method of display device >>
Hereinafter, a method of manufacturing the
なお、表示装置を構成する薄膜(絶縁膜、半導体膜、導電膜等)は、スパッタリング法、化学気相堆積(CVD:Chemical Vapor Deposition)法、真空蒸着法、パルスレーザ堆積(PLD:Pulse Laser Deposition)法、原子層成膜(ALD:Atomic Layer Deposition)法等を用いて形成することができる。CVD法としては、プラズマ化学気相堆積(PECVD)法や、熱CVD法でもよい。熱CVD法の例として、有機金属化学気相堆積(MOCVD:Metal Organic CVD)法を使ってもよい。 The thin films (insulating film, semiconductor film, conductive film, etc.) constituting the display device include a sputtering method, a chemical vapor deposition (CVD) method, a vacuum deposition method, and a pulse laser deposition (PLD). ) Method, atomic layer deposition (ALD) method, etc. can be used for formation. The CVD method may be a plasma chemical vapor deposition (PECVD) method or a thermal CVD method. As an example of the thermal CVD method, the metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) method may be used.
表示装置を構成する薄膜(絶縁膜、半導体膜、導電膜等)は、スピンコート、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等の方法により形成することができる。 The thin films (insulating film, semiconductor film, conductive film, etc.) that make up the display device are spin coating, dip, spray coating, inkjet, dispense, screen printing, offset printing, doctor knife, slit coating, roll coating, curtain coating, knife. It can be formed by a method such as coating.
表示装置を構成する薄膜を加工する際には、リソグラフィ法等を用いて加工することができる。または、遮蔽マスクを用いた成膜方法により、島状の薄膜を形成してもよい。または、ナノインプリント法、サンドブラスト法、リフトオフ法などにより薄膜を加工してもよい。フォトリソグラフィ法としては、加工したい薄膜上にレジストマスクを形成して、エッチング等により当該薄膜を加工し、レジストマスクを除去する方法と、感光性を有する薄膜を成膜した後に、露光、現像を行って、当該薄膜を所望の形状に加工する方法と、がある。 When processing the thin film constituting the display device, it can be processed by using a lithography method or the like. Alternatively, an island-shaped thin film may be formed by a film forming method using a shielding mask. Alternatively, the thin film may be processed by a nanoimprint method, a sandblast method, a lift-off method, or the like. Photolithography methods include a method of forming a resist mask on a thin film to be processed and processing the thin film by etching or the like to remove the resist mask, and a method of forming a photosensitive thin film and then exposing and developing the film. There is a method of processing the thin film into a desired shape.
リソグラフィ法において光を用いる場合、露光に用いる光は、例えばi線(波長365nm)、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)、またはこれらを混合させた光を用いることができる。そのほか、紫外線やKrFレーザ光、またはArFレーザ光等を用いることもできる。また、液浸露光技術により露光を行ってもよい。また、露光に用いる光として、極端紫外光(EUV:Extreme Ultra−violet)やX線を用いてもよい。また、露光に用いる光に換えて、電子ビームを用いることもできる。極端紫外光、X線または電子ビームを用いると、極めて微細な加工が可能となるため好ましい。なお、電子ビームなどのビームを走査することにより露光を行う場合には、フォトマスクは不要である。
When light is used in the lithography method, for example, i-line (
薄膜のエッチングには、ドライエッチング法、ウエットエッチング法、サンドブラスト法などを用いることができる。 A dry etching method, a wet etching method, a sandblasting method, or the like can be used for etching the thin film.
[ステップS1:作製基板14を準備する]
まず、作製基板14を準備する(図3及び図4(A))。
[Step S1: Prepare the fabrication substrate 14]
First, the
作製基板14は、搬送が容易となる程度に剛性を有し、かつ作製工程にかかる温度に対して耐熱性を有する。作製基板14に用いることができる材料としては、例えば、ガラス、石英、セラミック、サファイヤ、樹脂、半導体、金属または合金などが挙げられる。ガラスとしては、例えば、無アルカリガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、アルミノホウケイ酸ガラス等が挙げられる。
The
作製基板14の厚さは、例えば、0.5mm以上1mm以下であり、具体的には0.5mmや0.7mmが挙げられる。
The thickness of the
[ステップS2:金属酸化物層20を形成する]
次に、作製基板14上に、金属酸化物層20を形成する(図3及び図4(B1))。または、作製基板14上に、金属層19と金属酸化物層20とを積層する(図4(B2))。
[Step S2: Forming the metal oxide layer 20]
Next, the
金属層19には、各種金属や合金等を用いることができる。
Various metals, alloys, and the like can be used for the
金属酸化物層20には、各種金属の酸化物を用いることができる。金属酸化物としては、例えば、酸化チタン(TiOx)、酸化モリブデン、酸化アルミニウム、酸化タングステン、シリコンを含むインジウム錫酸化物(ITSO)、インジウム亜鉛酸化物、In−Ga−Zn酸化物等が挙げられる。
Oxides of various metals can be used for the
そのほか、金属酸化物としては、酸化インジウム、チタンを含むインジウム酸化物、タングステンを含むインジウム酸化物、インジウム錫酸化物(ITO)、チタンを含むITO、タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛(ZnO)、ガリウムを含むZnO、酸化ハフニウム、酸化イットリウム、酸化ジルコニウム、酸化ガリウム、酸化タンタル、酸化マグネシウム、酸化ランタン、酸化セリウム、酸化ネオジム、酸化スズ、酸化ビスマス、チタン酸塩、タンタル酸塩、ニオブ酸塩等が挙げられる。 Other metal oxides include indium oxide, indium oxide containing titanium, indium oxide containing tungsten, indium tin oxide (ITO), ITO containing titanium, indium zinc oxide containing tungsten, and zinc oxide (ZnO). ), ZnO containing gallium, hafnium oxide, yttrium oxide, zirconium oxide, gallium oxide, tantalum oxide, magnesium oxide, lanthanum oxide, cerium oxide, neodymium oxide, tin oxide, bismuth oxide, titanate, tantalumate, niobic acid Examples include salt.
金属酸化物層20の形成方法に特に限定は無い。例えば、スパッタリング法、プラズマCVD法、蒸着法、ゾルゲル法、電気泳動法、スプレー法等を用いて形成することができる。
The method for forming the
金属層を成膜した後に、当該金属層に酸素を導入することで、金属酸化物層20を形成することができる。このとき、金属層の表面のみ、または金属層全体を酸化させる。前者の場合、金属層に酸素を導入することで、金属層19と金属酸化物層20との積層構造が形成される(図4(B2))。
The
例えば、酸素を含む雰囲気下で金属層を加熱することで、金属層を酸化させることができる。酸素を含むガスを流しながら金属層を加熱することが好ましい。金属層を加熱する温度は、100℃以上500℃以下が好ましく、100℃以上450℃以下がより好ましく、100℃以上400℃以下がより好ましく、100℃以上350℃以下がさらに好ましい。 For example, the metal layer can be oxidized by heating the metal layer in an atmosphere containing oxygen. It is preferable to heat the metal layer while flowing a gas containing oxygen. The temperature for heating the metal layer is preferably 100 ° C. or higher and 500 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or higher and 450 ° C. or lower, more preferably 100 ° C. or higher and 400 ° C. or lower, and further preferably 100 ° C. or higher and 350 ° C. or lower.
金属層は、トランジスタの作製における最高温度以下で加熱されることが好ましい。これにより、表示装置の作製における最高温度が高くなることを防止できる。トランジスタの作製における最高温度以下とすることで、トランジスタの作製工程における製造装置などを流用することが可能となるため、追加の設備投資などを抑制することができる。したがって、生産コストが抑制された表示装置とすることができる。例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、加熱処理の温度は350℃以下とすることが好ましい。 The metal layer is preferably heated below the maximum temperature in the fabrication of the transistor. This makes it possible to prevent the maximum temperature in the production of the display device from becoming high. By setting the temperature below the maximum temperature in the manufacturing of the transistor, it is possible to divert the manufacturing equipment and the like in the manufacturing process of the transistor, so that additional capital investment and the like can be suppressed. Therefore, the display device can be a display device in which the production cost is suppressed. For example, when the manufacturing temperature of the transistor is up to 350 ° C., the heat treatment temperature is preferably 350 ° C. or lower.
または、金属層の表面にラジカル処理を行うことで金属層を酸化させることができる。ラジカル処理では、酸素ラジカル及びヒドロキシラジカルのうち少なくとも一方を含む雰囲気に、金属層の表面を曝すことが好ましい。例えば、酸素または水蒸気(H2O)のうち一方または双方を含む雰囲気でプラズマ処理を行うことが好ましい。
Alternatively, the metal layer can be oxidized by radically treating the surface of the metal layer. In the radical treatment, it is preferable to expose the surface of the metal layer to an atmosphere containing at least one of oxygen radicals and hydroxyl radicals. For example, it is preferable to perform plasma treatment in an atmosphere containing one or both of the oxygen or water vapor (
金属酸化物層20の表面または内部に、水素、酸素、水素ラジカル(H*)、酸素ラジカル(O*)、ヒドロキシラジカル(OH*)等を含ませることで、金属酸化物層20と樹脂層23との分離に要する力を低減できる。このことからも、金属酸化物層20の形成に、ラジカル処理もしくはプラズマ処理を行うことは好適である。
The
金属層の表面にラジカル処理もしくはプラズマ処理を行うことで金属層を酸化させる場合、金属層を高温で加熱する工程が不要となる。そのため、表示装置の作製における最高温度が高くなることを防止できる。 When the metal layer is oxidized by radical treatment or plasma treatment on the surface of the metal layer, the step of heating the metal layer at a high temperature becomes unnecessary. Therefore, it is possible to prevent the maximum temperature in manufacturing the display device from becoming high.
または、酸素雰囲気下で、金属酸化物層20を形成することができる。例えば、酸素を含むガスを流しながら、スパッタリング法を用いて金属酸化物膜を成膜することで、金属酸化物層20を形成できる。この場合も、金属酸化物層20の表面にラジカル処理を行うことが好ましい。ラジカル処理では、酸素ラジカル、水素ラジカル、及びヒドロキシラジカルのうち少なくとも1種を含む雰囲気に、金属酸化物層20の表面を曝すことが好ましい。例えば、酸素、水素、または水蒸気(H2O)のうち一つまたは複数を含む雰囲気でプラズマ処理を行うことが好ましい。
Alternatively, the
ラジカル処理は、プラズマ発生装置またはオゾン発生装置を用いて行うことができる。 The radical treatment can be performed using a plasma generator or an ozone generator.
例えば、酸素プラズマ処理、水素プラズマ処理、水プラズマ処理、オゾン処理等を行うことができる。酸素プラズマ処理は、酸素を含む雰囲気下でプラズマを生成して行うことができる。水素プラズマ処理は、水素を含む雰囲気下でプラズマを生成して行うことができる。水プラズマ処理は、水蒸気(H2O)を含む雰囲気下でプラズマを生成して行うことができる。特に水プラズマ処理を行うことで、金属酸化物層20の表面または内部に水分を多く含ませることができ好ましい。
For example, oxygen plasma treatment, hydrogen plasma treatment, water plasma treatment, ozone treatment and the like can be performed. The oxygen plasma treatment can be performed by generating plasma in an atmosphere containing oxygen. The hydrogen plasma treatment can be performed by generating plasma in an atmosphere containing hydrogen. Water plasma treatment can be performed by generating a plasma in an atmosphere containing water vapor (
酸素、水素、水(水蒸気)、及び不活性ガス(代表的にはアルゴン)のうち2種以上を含む雰囲気下でのプラズマ処理を行ってもよい。当該プラズマ処理としては、例えば、酸素と水素とを含む雰囲気下でのプラズマ処理、酸素と水とを含む雰囲気下でのプラズマ処理、水とアルゴンとを含む雰囲気下でのプラズマ処理、酸素とアルゴンとを含む雰囲気下でのプラズマ処理、または酸素と水とアルゴンとを含む雰囲気下でのプラズマ処理などが挙げられる。プラズマ処理のガスの一つとして、アルゴンガスを用いることで金属層または金属酸化物層20にダメージを与えながら、プラズマ処理を行うことが可能となるため好適である。
Plasma treatment may be performed in an atmosphere containing two or more of oxygen, hydrogen, water (water vapor), and an inert gas (typically argon). The plasma treatment includes, for example, plasma treatment in an atmosphere containing oxygen and hydrogen, plasma treatment in an atmosphere containing oxygen and water, plasma treatment in an atmosphere containing water and argon, and oxygen and argon. Examples include plasma treatment in an atmosphere containing and, or plasma treatment in an atmosphere containing oxygen, water, and argon. By using argon gas as one of the gases for plasma treatment, it is possible to perform plasma treatment while damaging the metal layer or the
2種以上のプラズマ処理を大気に暴露することなく連続で行ってもよい。例えば、アルゴンプラズマ処理を行った後に、水プラズマ処理を行ってもよい。 Two or more kinds of plasma treatments may be continuously performed without exposure to the atmosphere. For example, water plasma treatment may be performed after argon plasma treatment.
そのほか、酸素、水素、水等の導入方法としては、イオン注入法、イオンドーピング法、プラズマイマージョンイオン注入法等を用いることができる。 In addition, as a method for introducing oxygen, hydrogen, water, etc., an ion implantation method, an ion doping method, a plasma imaging ion implantation method, or the like can be used.
金属層19の厚さは、1nm以上100nm以下が好ましく、1nm以上50nm以下がより好ましく、1nm以上20nm以下がより好ましい。
The thickness of the
金属酸化物層20の厚さは、例えば、1nm以上200nm以下が好ましく、5nm以上100nm以下がより好ましく、5nm以上50nm以下がより好ましい。なお、金属層を用いて金属酸化物層20を形成する場合、最終的に形成される金属酸化物層20の厚さは、成膜した金属層の厚さよりも厚くなることがある。
The thickness of the
分離前または分離中に、金属酸化物層20と樹脂層23との界面に水を含む液体を供給することで、分離に要する力を低減させることができる。
By supplying a liquid containing water to the interface between the
金属酸化物層20は、表面張力が小さく、水を含む液体に対する濡れ性が高いことが好ましい。金属酸化物層20の表面全体に水を含む液体を行き渡らせ、分離界面に水を含む液体を容易に供給できる。金属酸化物層20全体に水が広がることで、均一な剥離ができる。
The
金属酸化物層20と当該液体との接触角が小さいほど、液体供給による効果を高めることができる。具体的には、金属酸化物層20の水を含む液体との接触角は、0°より大きく60°以下が好ましく、0°より大きく50°以下がより好ましい。なお、水を含む液体に対する濡れ性が極めて高い場合(例えば接触角が約20°以下の場合)には、接触角の正確な値の取得が困難なことがある。金属酸化物層20は、水を含む液体に対する濡れ性が高いほど好適であるため、上記接触角の正確な値が取得できないほど、水を含む液体に対する濡れ性が高くてもよい。
The smaller the contact angle between the
金属酸化物層20には、酸化チタン、酸化タングステン等が好適である。酸化チタンを用いると、酸化タングステンよりもコストを低減でき、好ましい。
Titanium oxide, tungsten oxide and the like are suitable for the
[ステップS3:樹脂層23を形成する]
次に、金属酸化物層20上に、第1の層24を形成する(図4(C))。そして、第1の層24に対して加熱処理を行うことで、樹脂層23を形成する(図3及び図4(D))。
[Step S3: Forming the resin layer 23]
Next, the
第1の層24は、各種樹脂材料(樹脂前駆体を含む)を用いて形成することができる。
The
第1の層24は、熱硬化性を有する材料を用いて形成することが好ましい。
The
第1の層24は、感光性を有する材料を用いて形成してもよく、感光性を有さない材料(非感光性の材料ともいう)を用いて形成してもよい。
The
感光性を有する材料を用いると、フォトリソグラフィ法により、第1の層24の一部を除去し、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。具体的には、第1の層24を成膜した後、溶媒を除去するための熱処理(プリベーク処理)を行い、その後フォトマスクを用いて露光を行う。続いて、現像処理を施すことで、不要な部分を除去することができる。
When a photosensitive material is used, a part of the
また、第1の層24または樹脂層23上にレジストマスク、ハードマスク等のマスクを形成し、エッチングすることで、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。この方法は、非感光性の材料を用いる場合に特に好適である。
Further, a
例えば、樹脂層23上に無機膜を形成し、無機膜上にレジストマスクを形成する。レジストマスクを用いて、無機膜をエッチングした後、無機膜をハードマスクに用いて、樹脂層23をエッチングすることができる。
For example, an inorganic film is formed on the
ハードマスクとして用いることができる無機膜としては、各種無機絶縁膜や、導電層に用いることができる金属膜及び合金膜などが挙げられる。 Examples of the inorganic film that can be used as a hard mask include various inorganic insulating films, metal films and alloy films that can be used for the conductive layer.
マスクを極めて薄い厚さで形成し、エッチングと同時にマスクを除去することができると、マスクを除去する工程を削減でき、好ましい。 It is preferable that the mask is formed to have an extremely thin thickness and the mask can be removed at the same time as etching because the step of removing the mask can be reduced.
第1の層24は、ポリイミド樹脂またはポリイミド樹脂前駆体を含む材料を用いて形成されることが好ましい。第1の層24は、例えば、ポリイミド樹脂と溶媒を含む材料、またはポリアミック酸と溶媒を含む材料等を用いて形成できる。ポリイミドは、表示装置の平坦化膜等に好適に用いられる材料であるため、成膜装置や材料を共有することができる。そのため本発明の一態様の構成を実現するために新たな装置や材料を必要としない。
The
具体的には、樹脂層23は、構造式(100)で表される化合物(オキシジフタル酸)の残基を有することが好ましい。
Specifically, the
樹脂層23には、オキシジフタル酸またはオキシジフタル酸誘導体を含む酸成分と、芳香族アミンまたは芳香族アミン誘導体を含むアミン成分と、を用いて得られるポリイミド樹脂が好適である。オキシジフタル酸誘導体としては、例えば、オキシジフタル酸無水物が挙げられる。
For the
そのほか、第1の層24の形成に用いることができる樹脂材料としては、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂、及びこれら樹脂の前駆体等が挙げられる。
In addition, as the resin material that can be used for forming the
第1の層24は、スピンコータを用いて形成することが好ましい。スピンコート法を用いることで、大判基板に薄い膜を均一に形成することができる。
The
第1の層24は、粘度が5cP以上500cP未満、好ましくは5cP以上100cP未満、より好ましくは10cP以上50cP以下の溶液を用いて形成することが好ましい。溶液の粘度が低いほど、塗布が容易となる。また、溶液の粘度が低いほど、気泡の混入を抑制でき、良質な膜を形成できる。
The
そのほか、第1の層24の形成方法としては、ディップ、スプレー塗布、インクジェット、ディスペンス、スクリーン印刷、オフセット印刷、ドクターナイフ、スリットコート、ロールコート、カーテンコート、ナイフコート等が挙げられる。
In addition, as a method for forming the
加熱処理は、例えば、加熱装置のチャンバーの内部に、酸素、窒素、及び希ガス(アルゴンなど)のうち一つまたは複数を含むガスを流しながら行うことができる。または、加熱処理は、大気雰囲気下で加熱装置のチャンバー、ホットプレート等を用いて行うことができる。 The heat treatment can be performed, for example, by flowing a gas containing one or more of oxygen, nitrogen, and a rare gas (argon, etc.) inside the chamber of the heating device. Alternatively, the heat treatment can be performed in an air atmosphere using a chamber of a heating device, a hot plate, or the like.
大気雰囲気下や酸素を含むガスを流しながら加熱を行うと、樹脂層23が酸化により着色し、可視光に対する透過性が低下することがある。
When heating is performed in an air atmosphere or while flowing a gas containing oxygen, the
そのため、窒素ガスを流しながら、加熱を行うことが好ましい。これにより、樹脂層23の可視光に対する透過性を高めることができる。
Therefore, it is preferable to heat while flowing nitrogen gas. As a result, the transparency of the
加熱処理により、樹脂層23中の脱ガス成分(例えば、水素、水等)を低減することができる。特に、樹脂層23上に形成する各層の作製温度以上の温度で加熱することが好ましい。これにより、トランジスタの作製工程における、樹脂層23からの脱ガスを大幅に抑制することができる。
By heat treatment, the degassing component (for example, hydrogen, water, etc.) in the
例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、樹脂層23となる膜を350℃以上450℃以下で加熱することが好ましく、400℃以下がより好ましく、375℃以下がさらに好ましい。これにより、トランジスタの作製工程における、樹脂層23からの脱ガスを大幅に抑制することができる。
For example, when the fabrication temperature of the transistor is up to 350 ° C., the film to be the
加熱処理の温度は、トランジスタの作製における最高温度以下とすることが好ましい。トランジスタの作製における最高温度以下とすることで、トランジスタの作製工程における製造装置などを流用することが可能となるため、追加の設備投資などを抑制することができる。したがって、生産コストが抑制された表示装置とすることができる。例えば、トランジスタの作製温度が350℃までである場合、加熱処理の温度は350℃以下とすることが好ましい。 The temperature of the heat treatment is preferably equal to or lower than the maximum temperature in the fabrication of the transistor. By setting the temperature below the maximum temperature in the manufacturing of the transistor, it is possible to divert the manufacturing equipment and the like in the manufacturing process of the transistor, so that additional capital investment and the like can be suppressed. Therefore, the display device can be a display device in which the production cost is suppressed. For example, when the manufacturing temperature of the transistor is up to 350 ° C., the heat treatment temperature is preferably 350 ° C. or lower.
トランジスタの作製における最高温度と、加熱処理の温度を等しくすると、加熱処理を行うことで表示装置の作製における最高温度が高くなることを防止でき、かつ樹脂層23の脱ガス成分を低減できるため、好ましい。
By making the maximum temperature in the fabrication of the transistor equal to the temperature in the heat treatment, it is possible to prevent the maximum temperature in the fabrication of the display device from becoming high by performing the heat treatment, and it is possible to reduce the degassing component of the
処理時間を長くすることで、加熱温度が比較的低い場合であっても、加熱温度がより高い条件の場合と同等の剥離性を実現できる場合がある。そのため、加熱装置の構成により加熱温度を高められない場合には、処理時間を長くすることが好ましい。 By lengthening the treatment time, even when the heating temperature is relatively low, it may be possible to achieve the same peelability as when the heating temperature is higher. Therefore, when the heating temperature cannot be raised due to the configuration of the heating device, it is preferable to lengthen the treatment time.
加熱処理の時間は、例えば、5分以上24時間以下が好ましく、30分以上12時間以下がより好ましく、1時間以上6時間以下がさらに好ましい。なお、加熱処理の時間はこれに限定されない。例えば、加熱処理を、RTA(Rapid Thermal Annealing)法を用いて行う場合などは、5分未満としてもよい。 The heat treatment time is, for example, preferably 5 minutes or more and 24 hours or less, more preferably 30 minutes or more and 12 hours or less, and further preferably 1 hour or more and 6 hours or less. The heat treatment time is not limited to this. For example, when the heat treatment is performed by using the RTA (Rapid Thermal Annealing) method, it may be less than 5 minutes.
加熱装置としては、電気炉や、抵抗発熱体などの発熱体からの熱伝導または熱輻射によって被処理物を加熱する装置等、様々な装置を用いることができる。例えば、GRTA(Gas Rapid Thermal Anneal)装置、LRTA(Lamp Rapid Thermal Anneal)装置等のRTA装置を用いることができる。LRTA装置は、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、キセノンアークランプ、カーボンアークランプ、高圧ナトリウムランプ、高圧水銀ランプなどのランプから発する光(電磁波)の輻射により、被処理物を加熱する装置である。GRTA装置は、高温のガスを用いて加熱処理を行う装置である。RTA装置を用いることによって、処理時間が短縮することができるので、量産する上で好ましい。また、加熱処理はインライン型の加熱装置を用いて行ってもよい。 As the heating device, various devices such as an electric furnace and a device for heating an object to be processed by heat conduction or heat radiation from a heating element such as a resistance heating element can be used. For example, an RTA device such as a GRTA (Gas Rapid Thermal Anneal) device or an LRTA (Lamp Rapid Thermal Anneal) device can be used. The LRTA device is a device that heats an object to be processed by radiation of light (electromagnetic waves) emitted from lamps such as halogen lamps, metal halide lamps, xenon arc lamps, carbon arc lamps, high-pressure sodium lamps, and high-pressure mercury lamps. The GRTA device is a device that performs heat treatment using a high-temperature gas. By using the RTA device, the processing time can be shortened, which is preferable for mass production. Further, the heat treatment may be performed using an in-line type heating device.
なお、加熱処理により、樹脂層23の厚さは、第1の層24の厚さから変化する場合がある。例えば、第1の層24に含まれていた溶媒が除去されることや、硬化が進行し密度が増大することにより、体積が減少し、第1の層24よりも樹脂層23が薄くなる場合がある。
The thickness of the
加熱処理を行う前に、第1の層24に含まれる溶媒を除去するための熱処理(プリベーク処理ともいう)を行ってもよい。プリベーク処理の温度は用いる材料に応じて適宜決定することができる。例えば、50℃以上180℃以下、80℃以上150℃以下、または90℃以上120℃以下で行うことができる。または、加熱処理がプリベーク処理を兼ねてもよく、加熱処理によって、第1の層24に含まれる溶媒を除去してもよい。
Before the heat treatment, a heat treatment (also referred to as a prebaking treatment) for removing the solvent contained in the
樹脂層23は、可撓性を有する。作製基板14は、樹脂層23よりも可撓性が低い。
The
樹脂層23の厚さは、0.01μm以上10μm未満であることが好ましく、0.1μm以上5μm以下であることがより好ましく、0.5μm以上3μm以下であることがさらに好ましい。樹脂層を薄く形成することで、低コストで表示装置を作製できる。また、表示装置の軽量化及び薄型化が可能となる。また、表示装置の可撓性を高めることができる。低粘度の溶液を用いることで、樹脂層23を薄く形成することが容易となる。ただし、これに限定されず、樹脂層23の厚さは、10μm以上としてもよい。例えば、樹脂層23の厚さを10μm以上200μm以下としてもよい。樹脂層23の厚さを10μm以上とすることで、表示装置の剛性を高めることができるため好適である。
The thickness of the
樹脂層23の熱膨張係数は、0.1ppm/℃以上50ppm/℃以下であることが好ましく、0.1ppm/℃以上20ppm/℃以下であることがより好ましく、0.1ppm/℃以上10ppm/℃以下であることがさらに好ましい。樹脂層23の熱膨張係数が低いほど、加熱により、トランジスタ等を構成する層にクラックが生じることや、トランジスタ等が破損することを抑制できる。
The coefficient of thermal expansion of the
[ステップS4:トランジスタを形成する]
次に、樹脂層23上に、トランジスタを含む被剥離層を形成する。
[Step S4: Forming a transistor]
Next, a layer to be peeled off including a transistor is formed on the
被剥離層として、例えば、絶縁層、機能素子(トランジスタ、表示素子など)を設けることができる。 As the layer to be peeled off, for example, an insulating layer and a functional element (transistor, display element, etc.) can be provided.
被剥離層は、樹脂層23の耐熱温度以下で形成する。上記加熱処理の温度より低い温度で形成することが好ましい。
The peelable layer is formed at a temperature equal to or lower than the heat resistant temperature of the
樹脂層23上に絶縁層31を形成することが好ましい(図4(E))。
It is preferable to form the insulating
絶縁層31は、樹脂層23に含まれる不純物が、後に形成するトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐバリア層として用いることができる。例えば、絶縁層31は、樹脂層23を加熱した際に、樹脂層23に含まれる水分等がトランジスタや表示素子に拡散することを防ぐことが好ましい。そのため、絶縁層31は、バリア性が高いことが好ましい。
The insulating
絶縁層31としては、酸化絶縁膜、窒化絶縁膜、酸化窒化絶縁膜、及び窒化酸化絶縁膜などを用いることができる。絶縁層31は、単層または積層で形成することができる。酸化絶縁膜としては、酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化ゲルマニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ランタン膜、酸化ネオジム膜、酸化ハフニウム膜、及び酸化タンタル膜などが挙げられる。窒化絶縁膜としては、窒化シリコン膜、及び窒化アルミニウムなどが挙げられる。酸化窒化絶縁膜としては、酸化窒化シリコン膜などが挙げられる。窒化酸化絶縁膜としては、窒化酸化シリコン膜などが挙げられる。特に、樹脂層23上に窒化シリコン膜を形成し、窒化シリコン膜上に酸化シリコン膜を形成することが好ましい。
As the insulating
なお、本明細書等において「酸化窒化シリコン」とは、その組成として、窒素よりも酸素の含有量が多いものをいう。また、本明細書等において、「窒化酸化シリコン」とは、その組成として、酸素よりも窒素の含有量が多いものをいう。 In the present specification and the like, the term "silicon oxide nitride" refers to a composition having a higher oxygen content than nitrogen. Further, in the present specification and the like, "silicon nitride oxide" refers to a composition having a higher nitrogen content than oxygen.
無機絶縁膜は、成膜温度が高いほど緻密でバリア性の高い膜となるため、高温で形成することが好ましい。絶縁層31の成膜時の基板温度は、室温(25℃)以上350℃以下が好ましく、100℃以上300℃以下がさらに好ましい。
The higher the film formation temperature, the denser the inorganic insulating film and the higher the barrier property, so it is preferable to form the inorganic insulating film at a high temperature. The substrate temperature at the time of film formation of the insulating
絶縁層31を設けず、樹脂層23上に直接、機能素子を形成してもよい。
The functional element may be formed directly on the
次に、絶縁層31上に電極311a、電極311c、及び電極311eを形成する(図5(A))。そして、電極311a上に電極311bを、電極311c上に電極311dを、電極311e上に電極311fを形成する。電極311bは、電極311a上に開口451を有する。電極311aは、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。電極311bは、可視光を反射する導電材料を用いて形成する。
Next, the
表示装置が有する電極及び導電層は、それぞれ、導電膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該導電膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。 The electrodes and the conductive layer of the display device can be formed by forming a conductive film, forming a resist mask, etching the conductive film, and then removing the resist mask.
表示装置が有する電極及び導電層には、それぞれ、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、もしくはタングステン等の金属、またはこれを主成分とする合金を単層構造または積層構造として用いることができる。または、酸化インジウム、インジウム錫酸化物(ITO)、タングステンを含むインジウム酸化物、タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、チタンを含むインジウム酸化物、チタンを含むITO、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛(ZnO)、ガリウムを含むZnO、またはシリコンを含むITO等の透光性を有する導電性材料を用いてもよい。また、不純物元素を含有させる等して低抵抗化させた、多結晶シリコンもしくは酸化物半導体等の半導体、またはニッケルシリサイド等のシリサイドを用いてもよい。また、グラフェンを含む膜を用いることもできる。グラフェンを含む膜は、例えば膜状に形成された酸化グラフェンを含む膜を還元して形成することができる。また、不純物元素を含有させた酸化物半導体等の半導体を用いてもよい。または、銀、カーボン、もしくは銅等の導電性ペースト、またはポリチオフェン等の導電性ポリマーを用いて形成してもよい。導電性ペーストは、安価であり、好ましい。導電性ポリマーは、塗布しやすく、好ましい。 The electrodes and conductive layers of the display device are made of a single layer of a metal such as aluminum, titanium, chromium, nickel, copper, yttrium, zirconium, molybdenum, silver, tantalum, or tungsten, or an alloy containing this as the main component, respectively. It can be used as a structure or a laminated structure. Alternatively, indium oxide, indium tin oxide (ITO), indium oxide containing tungsten, indium zinc oxide containing tungsten, indium oxide containing titanium, ITO containing titanium, indium zinc oxide, zinc oxide (ZnO). , ZnO containing gallium, ITO containing silicon, and other conductive materials having translucency may be used. Further, a semiconductor such as polycrystalline silicon or an oxide semiconductor, which has been reduced in resistance by containing an impurity element or the like, or a silicide such as nickel silicide may be used. A membrane containing graphene can also be used. The graphene-containing film can be formed by reducing, for example, a film-like graphene oxide-containing film. Further, a semiconductor such as an oxide semiconductor containing an impurity element may be used. Alternatively, it may be formed by using a conductive paste such as silver, carbon or copper, or a conductive polymer such as polythiophene. Conductive pastes are inexpensive and preferred. Conductive polymers are preferred because they are easy to apply.
次に、絶縁層220を形成する(図5(A))。そして、絶縁層220に電極311bに達する開口及び電極311dに達する開口を設ける。
Next, the insulating
絶縁層220としては、絶縁層31に用いることができる無機絶縁膜を用いることができる。また、アクリル、エポキシなどの樹脂を用いてもよい。
As the insulating
次に、絶縁層220上に、トランジスタ201、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206を形成する(図3及び図5(A))。また、絶縁層220上には、接続部204及び接続部207も形成する(図5(A))。
Next, the
表示装置が有するトランジスタの構造は特に限定されない。例えば、プレーナ型のトランジスタとしてもよいし、スタガ型のトランジスタとしてもよいし、逆スタガ型のトランジスタとしてもよい。また、トップゲート構造またはボトムゲート構造のいずれのトランジスタ構造としてもよい。または、チャネルの上下にゲート電極が設けられていてもよい。 The structure of the transistor included in the display device is not particularly limited. For example, it may be a planar type transistor, a stagger type transistor, or an inverted stagger type transistor. Further, a transistor structure having either a top gate structure or a bottom gate structure may be used. Alternatively, gate electrodes may be provided above and below the channel.
トランジスタに用いる半導体材料は特に限定されず、例えば、第14族の元素、化合物半導体または酸化物半導体を半導体層に用いることができる。代表的には、シリコンを含む半導体、ガリウムヒ素を含む半導体、またはインジウムを含む酸化物半導体等を適用できる。
The semiconductor material used for the transistor is not particularly limited, and for example, a
ここでは、半導体層231として金属酸化物層を有する、ボトムゲート構造のトランジスタを作製する場合を示す。金属酸化物は、酸化物半導体として機能することができる。
Here, a case where a transistor having a bottom gate structure having a metal oxide layer as the
本実施の形態において、トランジスタの半導体には、酸化物半導体を用いる。シリコンよりもバンドギャップが広く、且つキャリア密度の小さい半導体材料を用いると、トランジスタのオフ状態における電流を低減できるため好ましい。 In the present embodiment, an oxide semiconductor is used as the semiconductor of the transistor. It is preferable to use a semiconductor material having a wider bandgap and a smaller carrier density than silicon because the current in the off state of the transistor can be reduced.
トランジスタ203及びトランジスタ206において、導電層221aの一部はゲートとして機能し、絶縁層211の一部はゲート絶縁層として機能し、導電層222aの一部は、ソースまたはドレインの一方として機能し、導電層222bの一部は、ソースまたはドレインの他方として機能する。トランジスタ201及びトランジスタ205は、トランジスタ203及びトランジスタ206の構成に導電層223及び絶縁層212を追加した構成であり、2つのゲートを有する。トランジスタ201及びトランジスタ205において、導電層221aの一部及び導電層223の一部はゲートとして機能し、絶縁層211の一部及び絶縁層212の一部はゲート絶縁層として機能する。
In the
各トランジスタ及び各接続部の作製方法を具体的に説明する。 A method for manufacturing each transistor and each connection portion will be specifically described.
まず、絶縁層220上に、導電層221a、導電層221b、及び導電層221cを形成する。ここで、絶縁層220の開口を介して、導電層221bと電極311bとが接続し、導電層221cと電極311dとが接続する。
First, the
続いて、絶縁層211を形成する。絶縁層211としては、絶縁層31に用いることができる無機絶縁膜を用いることができる。
Subsequently, the insulating
続いて、半導体層231を形成する。本実施の形態では、半導体層231として、金属酸化物層を形成する。金属酸化物層は、金属酸化物膜を成膜した後、レジストマスクを形成し、当該金属酸化物膜をエッチングした後にレジストマスクを除去することで形成できる。
Subsequently, the
金属酸化物膜の成膜時の基板温度は、350℃以下が好ましく、室温以上200℃以下がより好ましく、室温以上130℃以下がさらに好ましい。 The substrate temperature at the time of forming the metal oxide film is preferably 350 ° C. or lower, more preferably room temperature or higher and 200 ° C. or lower, and further preferably room temperature or higher and 130 ° C. or lower.
金属酸化物膜は、不活性ガス及び酸素ガスのいずれか一方または双方を用いて成膜することができる。なお、金属酸化物膜の成膜時における酸素の流量比(酸素分圧)に、特に限定はない。ただし、電界効果移動度が高いトランジスタを得る場合においては、金属酸化物膜の成膜時における酸素の流量比(酸素分圧)は、0%以上30%以下が好ましく、5%以上30%以下がより好ましく、7%以上15%以下がさらに好ましい。 The metal oxide film can be formed by using either one or both of the inert gas and the oxygen gas. The oxygen flow rate ratio (oxygen partial pressure) at the time of forming the metal oxide film is not particularly limited. However, in the case of obtaining a transistor having high field effect mobility, the oxygen flow rate ratio (oxygen partial pressure) at the time of film formation of the metal oxide film is preferably 0% or more and 30% or less, and 5% or more and 30% or less. Is more preferable, and 7% or more and 15% or less is further preferable.
金属酸化物膜は、少なくともインジウムまたは亜鉛を含むことが好ましい。特にインジウム及び亜鉛を含むことが好ましい。 The metal oxide film preferably contains at least indium or zinc. In particular, it preferably contains indium and zinc.
金属酸化物は、エネルギーギャップが2eV以上であることが好ましく、2.5eV以上であることがより好ましく。3eV以上であることがさらに好ましい。このように、エネルギーギャップの広い金属酸化物を用いることで、トランジスタのオフ電流を低減することができる。 The metal oxide preferably has an energy gap of 2 eV or more, and more preferably 2.5 eV or more. It is more preferably 3 eV or more. As described above, by using the metal oxide having a wide energy gap, the off-current of the transistor can be reduced.
金属酸化物膜は、スパッタリング法により形成することができる。そのほか、PLD法、PECVD法、熱CVD法、ALD法、真空蒸着法などを用いてもよい。 The metal oxide film can be formed by a sputtering method. In addition, the PLD method, PECVD method, thermal CVD method, ALD method, vacuum deposition method and the like may be used.
続いて、導電層222a、導電層222b、及び配線365を形成する。導電層222a及び導電層222bは、それぞれ、半導体層231と接続される。ここで、トランジスタ206が有する導電層222aは、導電層221bと電気的に接続される。これにより、接続部207では、電極311bと導電層222aを電気的に接続することができる。また、配線365は、導電層221cと電気的に接続される。これにより、接続部204では、配線365と電極311dを電気的に接続することができる。
Subsequently, the
なお、導電層222a及び導電層222bの加工の際に、レジストマスクに覆われていない半導体層231の一部がエッチングにより薄膜化する場合がある。
When processing the
以上のようにして、トランジスタ203、トランジスタ206、接続部204、及び接続部207を作製できる。
As described above, the
次に、トランジスタ206等を覆う絶縁層212を形成し、絶縁層212上に導電層223を形成する。
Next, the insulating
絶縁層212は、絶縁層211と同様の方法により形成することができる。
The insulating
以上のようにして、トランジスタ201及びトランジスタ205を作製できる。
As described above, the
次に、絶縁層213を形成する。絶縁層213は、絶縁層211と同様の方法により形成することができる。
Next, the insulating
また、絶縁層212として、酸素を含む雰囲気下で成膜した酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜等の酸化物絶縁膜を用いることが好ましい。さらに、当該酸化シリコン膜や酸化窒化シリコン膜上に、絶縁層213として、窒化シリコン膜などの酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層することが好ましい。酸素を含む雰囲気下で形成した酸化物絶縁膜は、加熱により多くの酸素を放出しやすい絶縁膜とすることができる。このような酸素を放出する酸化絶縁膜と、酸素を拡散、透過しにくい絶縁膜を積層した状態で、加熱処理を行うことにより、金属酸化物層に酸素を供給することができる。その結果、金属酸化物層中の酸素欠損、及び金属酸化物層と絶縁層212の界面の欠陥を修復し、欠陥準位を低減することができる。絶縁層213が酸素を拡散、透過しにくいと、放出された酸素が発光素子170に入り込みにくく、発光素子170の信頼性も高めることができる。これにより、極めて信頼性の高い表示装置を実現できる。
Further, as the insulating
次に、絶縁層213上に、着色層134を形成し、その後、絶縁層214を形成する(図5(B))。着色層134は、電極311bの開口451と重なるように配置する。
Next, the
着色層134は、感光性の材料を用いて形成することで、フォトリソグラフィ法等により島状に加工することができる。後に形成するEL層192を副画素毎に作り分ける場合など、着色層134が不要なときは、着色層134を設けなくてよい。
By forming the
絶縁層214は、後に形成する表示素子の被形成面を有する層であるため、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層214は、絶縁層220に用いることのできる樹脂または無機絶縁膜を援用できる。
Since the insulating
次に、絶縁層212、絶縁層213、及び絶縁層214に、トランジスタ205が有する導電層222aに達する開口を形成する。
Next, openings are formed in the insulating
[ステップS5:発光素子170を形成する]
次に、発光素子170を形成する(図3及び図5(B))。発光素子170は、一部が画素電極として機能する電極191、EL層192、及び一部が共通電極として機能する電極193が積層された構成を有する。
[Step S5: Forming the light emitting element 170]
Next, the
まず、電極191を形成する。ここで、トランジスタ205が有する導電層222aと電極191とが接続する。電極191は、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。
First, the
次に、電極191の端部を覆う絶縁層216を形成する。絶縁層216は、絶縁層220に用いることのできる樹脂または無機絶縁膜を援用できる。絶縁層216は、電極191と重なる部分に開口を有する。
Next, an insulating
次に、EL層192及び電極193を形成する(図5(B))。電極193は、可視光を反射する導電材料を用いて形成する。
Next, the
EL層192は、蒸着法、塗布法、印刷法、吐出法などの方法で形成することができる。EL層192を画素毎に作り分ける場合、メタルマスクなどのシャドウマスクを用いた蒸着法、またはインクジェット法等により形成することができる。EL層192を画素毎に作り分けない場合には、メタルマスクを用いない蒸着法を用いることができる。
The
EL層192には、低分子系化合物及び高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無機化合物を含んでいてもよい。
Either a low molecular weight compound or a high molecular weight compound can be used for the
EL層192の形成後に行う各工程は、EL層192にかかる温度が、EL層192の耐熱温度以下となるように行う。電極193は、蒸着法やスパッタリング法等を用いて形成することができる。
Each step performed after the formation of the
以上のようにして、発光素子170を形成することができる(図3及び図5(B))。発光素子170は、発光領域が着色層134及び電極311bの開口451と重なるように作製する。
As described above, the
次に、電極193を覆って絶縁層194を形成する(図5(B))。絶縁層194は、発光素子170に水などの不純物が拡散することを抑制する保護層として機能する。発光素子170は、絶縁層194によって封止される。電極193を形成した後、大気に曝すことなく、絶縁層194を形成することが好ましい。
Next, the
絶縁層194は、絶縁層31に用いることのできる無機絶縁膜を適用することができる。
As the insulating
絶縁層194の成膜時の基板温度は、EL層192の耐熱温度以下の温度であることが好ましい。絶縁層194は、ALD法やスパッタリング法等を用いて形成することができる。ALD法及びスパッタリング法は低温成膜が可能であるため好ましい。ALD法を用いると絶縁層194のカバレッジが良好となり好ましい。
The substrate temperature at the time of film formation of the insulating
[ステップS6:発光素子170を封止する]
次に、発光素子170を封止する(図3及び図6)。具体的には、絶縁層194の表面に、接着層142を用いて基板351を貼り合わせる。
[Step S6: Seal the light emitting element 170]
Next, the
接着層142には、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤等の各種硬化型接着剤を用いることができる。また、接着シート等を用いてもよい。
For the
基板351には、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリカーボネート(PC)樹脂、ポリエーテルスルホン(PES)樹脂、ポリアミド樹脂(ナイロン、アラミド等)、ポリシロキサン樹脂、シクロオレフィン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)樹脂、ABS樹脂、セルロースナノファイバー等を用いることができる。基板351には、ガラス、石英、樹脂、金属、合金、半導体等の各種材料を用いてもよい。基板351には、可撓性を有する程度の厚さのガラス、石英、樹脂、金属、合金、半導体等の各種材料を用いてもよい。
The
[ステップS7:光を照射する・分離する]
次に、金属酸化物層20と樹脂層23とを分離する(図3、図7、及び図8)。これにより、作製基板14上に作製したトランジスタ、発光素子170等を、基板351に転置することができる。
[Step S7: Irradiate / separate light]
Next, the
図7では、レーザ光55を照射する例を示す。レーザ光55は、例えば、図7においては、左側から右側に走査される線状レーザビームで、その長軸は、その走査方向及びその入射方向(上から下)に垂直である。レーザ装置において、作製基板14が上側にくるように積層体を配置する。積層体には、積層体(作製基板14)の上側からレーザ光55が照射される。
FIG. 7 shows an example of irradiating the
レーザ光55は、作製基板14を介して金属酸化物層20と樹脂層23との界面またはその近傍に照射されることが好ましい。また、レーザ光55は、金属酸化物層20中に照射されてもよく、樹脂層23中に照射されてもよい。
The
金属酸化物層20は、レーザ光55を吸収する。樹脂層23は、レーザ光55を吸収してもよい。
The
作製基板14と金属酸化物層20の積層構造におけるレーザ光55の吸収率は、50%以上100%以下が好ましく、75%以上100%以下がより好ましく、80%以上100%以下がさらに好ましい。当該積層構造が、レーザ光55の大半を吸収することで、金属酸化物層20と樹脂層23との界面で確実に剥離することが可能となる。また、樹脂層23が光から受けるダメージを低減できる。
The absorption rate of the
レーザ光55の照射により、金属酸化物層20と樹脂層23の密着性もしくは接着性が低下する。レーザ光55の照射により、樹脂層23が脆弱化されることがある。
Irradiation with the
レーザ光55としては、少なくともその一部が作製基板14を透過し、かつ金属酸化物層20に吸収される波長の光を選択して用いる。レーザ光55は、可視光線から紫外線の波長領域の光であることが好ましい。例えば波長が180nm以上450nm以下の光、好ましくは200nm以上400nm以下の光、より好ましくは波長が250nm以上350nm以下の光を用いることができる。
As the
レーザ光55は、金属酸化物層20のエネルギーギャップよりも高いエネルギーを有することが好ましい。例えば、酸化チタンのエネルギーギャップは、約3.2eVである。したがって、金属酸化物層20に酸化チタンを用いる場合、光は、3.2eVより高いエネルギーを有することが好ましい。
The
特に、波長308nmのエキシマレーザを用いると、生産性に優れるため好ましい。エキシマレーザは、LTPSにおけるレーザ結晶化にも用いるため、既存のLTPS製造ラインの装置を流用することができ、新たな設備投資を必要としないため好ましい。波長308nmの光のエネルギーは、約4.0eVである。つまり、金属酸化物層20に酸化チタンを用いる場合、波長308nmのエキシマレーザは好適である。また、Nd:YAGレーザの第三高調波である波長355nmのUVレーザなどの固体UVレーザ(半導体UVレーザともいう)を用いてもよい。固体レーザはガスを用いないため、エキシマレーザに比べて、ランニングコストを低減でき、好ましい。また、ピコ秒レーザ等のパルスレーザを用いてもよい。
In particular, it is preferable to use an excimer laser having a wavelength of 308 nm because it is excellent in productivity. Since the excimer laser is also used for laser crystallization in LTPS, the equipment of the existing LTPS production line can be diverted, and new capital investment is not required, which is preferable. The energy of light with a wavelength of 308 nm is about 4.0 eV. That is, when titanium oxide is used for the
レーザ光55として、線状のレーザ光を用いる場合には、作製基板14と光源とを相対的に移動させることでレーザ光55を走査し、剥離したい領域に亘ってレーザ光55を照射する。
When a linear laser beam is used as the
図8では、金属酸化物層20と樹脂層23との界面で分離が生じる例を示す。金属酸化物層20と樹脂層23との密着性もしくは接着性が低下することで、金属酸化物層20と樹脂層23との界面で分離が生じる。また、脆弱化された樹脂層23中で分離が生じる場合もある。
FIG. 8 shows an example in which separation occurs at the interface between the
ここで、分離時に、分離界面に水や水溶液など、水を含む液体を添加し、該液体が分離界面に浸透するように分離を行うことで、分離を容易に行うことができる。また、分離時に生じる静電気が、トランジスタなどの機能素子に悪影響を及ぼすこと(半導体素子が静電気により破壊されるなど)を抑制できる。 Here, at the time of separation, a liquid containing water such as water or an aqueous solution is added to the separation interface, and the separation is performed so that the liquid permeates the separation interface, whereby the separation can be easily performed. Further, it is possible to suppress that the static electricity generated at the time of separation adversely affects the functional element such as a transistor (such as the semiconductor element being destroyed by the static electricity).
供給する液体としては、水(好ましくは純水)、中性、アルカリ性、もしくは酸性の水溶液や、塩が溶けている水溶液が挙げられる。また、エタノール、アセトン等が挙げられる。また、各種有機溶剤を用いてもよい。 Examples of the liquid to be supplied include water (preferably pure water), a neutral, alkaline or acidic aqueous solution, and an aqueous solution in which a salt is dissolved. Further, ethanol, acetone and the like can be mentioned. Moreover, various organic solvents may be used.
分離界面に液体を供給した場合は、分離により露出した被剥離層の表面を乾燥してもよい。 When a liquid is supplied to the separation interface, the surface of the layer to be peeled exposed by separation may be dried.
分離前に、樹脂層23の一部を作製基板14から分離することで、分離の起点を形成してもよい。例えば、作製基板14と樹脂層23との間に、刃物などの鋭利な形状の器具を差し込むことで分離の起点を形成してもよい。または、基板351側から鋭利な形状の器具で樹脂層23を切り込み、分離の起点を形成してもよい。または、レーザアブレーション法等のレーザを用いた方法で、分離の起点を形成してもよい。
Before the separation, a part of the
[ステップS8−1:樹脂層23を除去するか判断する]
分離後、樹脂層23を除去する場合は、ステップS8−2に進む。樹脂層23を除去しない場合は、ステップ9に進む。
[Step S8-1: Determine whether to remove the resin layer 23]
When removing the
本作製方法例1では、樹脂層23を除去する場合を説明する。電極311a、電極311c、及び電極311eのうち一つ又は複数を露出する必要がある場合などに、樹脂層23を除去することが好ましい。樹脂層23を除去しない場合、工程を削減でき好ましい。
In the present production method Example 1, the case where the
[ステップS8−2:樹脂層23を除去する]
次に樹脂層23を除去する(図3及び図9(A))。さらに、絶縁層31を除去してもよい(図9(A))。
[Step S8-2: Remove the resin layer 23]
Next, the
樹脂層23及び絶縁層31を除去することで、表示装置の薄型化及び軽量化が可能となる。
By removing the
樹脂層23及び絶縁層31が厚く設けられていると、表示装置に入射された光の多くが樹脂層23で吸収されてしまう。そのため、画素の反射率が低下し、表示が暗くなってしまう。液晶素子の駆動電圧が一定の場合、樹脂層23及び絶縁層31が厚いほど、液晶層にかかる電界が弱くなり、表示のコントラストが低下する。樹脂層23及び絶縁層31の厚さを変えずに表示のコントラストを高めるためには、液晶素子の駆動電圧を高くする必要がある。したがって、樹脂層23及び絶縁層31を除去することが好ましい。
If the
なお、樹脂層23及び絶縁層31の厚さが十分に薄い場合など、樹脂層23及び絶縁層31を完全に除去しなくてもよいこともある。
It may not be necessary to completely remove the
また、絶縁層31のバリア性が高い場合、絶縁層31を残存させることで、トランジスタ及び発光素子170に不純物が入り込むことを抑制でき、表示装置の信頼性を高めることができる。絶縁層31の厚さは、50nm以上300nm以下が好ましく、100nm以上200nm以下がより好ましい。
Further, when the barrier property of the insulating
例えば、図9(B)に示すように、電極311c及び電極311eが露出するように、絶縁層31の一部を除去してもよい。
For example, as shown in FIG. 9B, a part of the insulating
また、基板361と貼り合わせる前に、基板351上に、液晶素子180の画素電極として機能する電極311bと重ねて、配向膜133aを形成する。配向膜133aは、後に液晶層と接する層である。配向膜133aは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。
Further, before bonding to the
[ステップS9:液晶素子180を形成する]
次に、液晶素子180を形成する(図3)。液晶素子180は、共通電極と画素電極との間に液晶層を配置した状態で、基板351と基板361とを貼り合わせることで形成される。
[Step S9: Forming the liquid crystal element 180]
Next, the
基板351と貼り合わせる前に、基板361上に、液晶素子180の共通電極として機能する電極113等を形成する。
An
図10を用いて、基板361上に電極113等を形成する工程について説明する。
The step of forming the
まず、基板361上に、着色層131及び遮光層132を形成する。表示部362には、着色層131は、感光性の材料を用いて形成することで、フォトリソグラフィ法等により島状に加工することができる。遮光層132は、金属または樹脂等を用いて形成することができる。なお、基板361上にバリア性の高い絶縁層を形成した後、当該絶縁層上に着色層131及び遮光層132を形成してもよい。
First, the
基板361は表示面側に位置する基板である。そのため、基板361には、可視光を透過する材料を用いる。例えば、上述した作製基板14または基板351に用いることができる材料のうち、可視光を透過する材料を適用することができる。
The
次に、着色層131及び遮光層132上に、絶縁層121を形成する。
Next, the insulating
絶縁層121は、平坦化層として機能することが好ましい。絶縁層121には、アクリル、エポキシなどの樹脂を好適に用いることができる。
The insulating
絶縁層121には、無機絶縁膜を適用してもよい。絶縁層121としては、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などの無機絶縁膜を用いることができる。また、酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜、及び酸化ネオジム膜等を用いてもよい。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。
An inorganic insulating film may be applied to the insulating
次に、電極113を形成する。電極113は、可視光を透過する導電材料を用いて形成する。
Next, the
次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。絶縁層117には、有機絶縁膜を用いることが好ましい。
Next, the insulating
次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する。配向膜133bは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。
Next, the
以上の工程が完了した基板361及び基板351を、接着層141を用いて貼り合わせる(図11)。基板361及び基板351は、配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112を挟んだ状態で貼り合わせる。接着層141は、接着層142に用いることのできる材料を援用できる。
The
図11に示す液晶素子180は、一部が画素電極として機能する電極311a及び電極311bと、液晶層112と、一部が共通電極として機能する電極113とが積層された構成を有する。液晶素子180は、着色層131と重なるように作製される。
The
接続部252では、接続体243を介して、電極113と電極311eとが電気的に接続される。
In the connecting
接続体243としては、例えば導電性の粒子を用いることができる。導電性の粒子としては、有機樹脂またはシリカなどの粒子の表面を金属材料で被覆したものを用いることができる。金属材料としてニッケルや金を用いると接触抵抗を低減できるため好ましい。またニッケルをさらに金で被覆するなど、2種類以上の金属材料を層状に被覆させた粒子を用いることが好ましい。また接続体243として、弾性変形、または塑性変形する材料を用いることが好ましい。このとき導電性の粒子である接続体243は、図11等に示すように上下方向に潰れた形状となる場合がある。こうすることで、接続体243と、これと電気的に接続する導電層との接触面積が増大し、接触抵抗を低減できるほか、接続不良などの不具合の発生を抑制することができる。
As the connecting
接続体243は、接着層141に覆われるように配置することが好ましい。例えば硬化前の接着層141に、接続体243を分散させておけばよい。
The connecting
[ステップS10:実装する]
その後、FPC372やICなどを電気的に接続させることができる。また、基板361の表示面に偏光板135等を配置することができる。
[Step S10: Implement]
After that, the
以上により、図2に示す表示装置300Aを作製することができる。
From the above, the
≪表示装置の構成例2≫
以下では、図12〜図14を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 2 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the
図12に、表示装置300Bの断面図を示す。表示装置300Bは、基板361及び偏光板135を有さず、絶縁層91、接着層392、基板390、及び反射防止部材396を有する。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。表示装置300Bは、液晶素子180にゲスト・ホスト液晶モードで動作する液晶材料を用いる場合の構成例である。
FIG. 12 shows a cross-sectional view of the
図13に、表示装置300Cの断面図を示す。表示装置300Cは、基板361を有さず、絶縁層91、接着層392、光拡散層136、基板390、及び反射防止部材396を有する。また、表示装置300Cは、偏光板135の位置が表示装置300Aと異なる。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。表示装置300Cは、液晶素子180にTNモードで動作する液晶材料を用いる場合の構成例である。
FIG. 13 shows a cross-sectional view of the
表示面側の基板である基板(ここでは基板390)の厚さは十分に薄いことが好ましい。基板390には、例えば、厚さ0.1mm以上0.5mm未満、好ましくは0.1mm以上0.3mm以下のガラス基板、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板などを適用することが好ましい。これにより、画像のボケを低減し、画像を鮮明に表示することができる。
It is preferable that the thickness of the substrate (here, the substrate 390), which is the substrate on the display surface side, is sufficiently thin. For the
表示装置300B及び表示装置300Cは、作製基板上で着色層131、電極113等を作製し、作製基板から基板351にこれらを転置した後、接着層392を用いて基板351に基板390を貼り合わせることで作製される。そのため、基板390に作製工程に耐えうる高い耐熱性や高い剛性が求められない。また、基板を薄くする工程、代表的には研磨工程を削減することができる。研磨工程を削減することで、表示装置の作製の歩留まりを高めることができる。
The
なお、上述の表示装置300Aは、基板361上に直接、着色層131、電極113等を形成することで作製される構成である。このような構成の場合は、基板351と基板361とを貼り合わせた後に、基板361の厚さを研磨等により薄くすることが好ましい。
The
液晶素子180にゲスト・ホスト液晶モードで動作する液晶材料を用いることにより、光拡散層136及び偏光板135を省略することができる。よって、表示装置の生産性を高めることができる。また、光拡散層136及び偏光板135を設けないことにより、表示装置の表示を明るくすることができる。よって、表示装置の視認性を高めることができる。
By using a liquid crystal material that operates in the guest-host liquid crystal mode for the
図14に、表示装置300Dの断面図を示す。表示装置300Dは、基板361及び偏光板135を有さず、タッチセンサ、接着層392、基板390、及び反射防止部材396を有する。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。なお、図14ではトランジスタ203の図示を省略している。また、液晶素子180の動作モードによっては、偏光板及び光拡散層のうち一方又は双方を設ける。
FIG. 14 shows a cross-sectional view of the
本発明の一態様では、タッチセンサが搭載された表示装置(入出力装置、タッチパネルともいう)を作製することができる。 In one aspect of the present invention, a display device (also referred to as an input / output device or a touch panel) equipped with a touch sensor can be manufactured.
表示装置が有するタッチセンサを入力装置の一例ということもできる。入力装置は表示部と重ねて設けられ、ユーザーが表示部をタッチする動作を電気信号に変換して出力する機能を有する。 The touch sensor of the display device can be said to be an example of the input device. The input device is provided so as to overlap the display unit, and has a function of converting the operation of the user touching the display unit into an electric signal and outputting the input device.
本発明の一態様の表示装置が有する検知素子(センサ素子ともいう)に限定は無い。指またはスタイラス等の被検知体の近接または接触を検知することのできる様々なセンサを、検知素子として適用することができる。 The detection element (also referred to as a sensor element) included in the display device of one aspect of the present invention is not limited. Various sensors capable of detecting the proximity or contact of the object to be detected such as a finger or a stylus can be applied as a detection element.
例えばセンサの方式としては、静電容量方式、抵抗膜方式、表面弾性波方式、赤外線方式、光学方式、感圧方式等様々な方式を用いることができる。 For example, as a sensor method, various methods such as a capacitance method, a resistance film method, a surface acoustic wave method, an infrared method, an optical method, and a pressure sensitive method can be used.
本実施の形態では、静電容量方式の検知素子を有する表示装置を例に挙げて説明する。 In the present embodiment, a display device having a capacitance type detection element will be described as an example.
静電容量方式としては、表面型静電容量方式、投影型静電容量方式等がある。また、投影型静電容量方式としては、自己容量方式、相互容量方式等がある。相互容量方式を用いると、同時多点検出が可能となるため好ましい。 As the capacitance method, there are a surface type capacitance method, a projection type capacitance method and the like. Further, as the projection type capacitance method, there are a self-capacitance method, a mutual capacitance method and the like. The mutual capacitance method is preferable because simultaneous multipoint detection is possible.
本発明の一態様の表示装置は、別々に作製された表示パネルと検知素子とを貼り合わせる構成、表示パネルが有する一対の基板の一方または双方に検知素子を構成する電極等を設ける構成等、様々な構成を適用することができる。 The display device according to one aspect of the present invention has a configuration in which a separately manufactured display panel and a detection element are bonded together, a configuration in which electrodes or the like constituting the detection element are provided on one or both of a pair of substrates of the display panel, and the like. Various configurations can be applied.
検知素子の配線及び電極として、可視光を透過する導電層を用いることができる。また、当該配線及び当該電極として、より抵抗が低く大型の表示装置にも適用可能なメタルメッシュを用いることが好ましい。なお、一般的に金属は反射率が大きい材料であるが、酸化処理などを施すことにより暗色にすることができる。したがって、基板390側から視認した場合においても、外光の反射による視認性の低下を抑えることができる。
A conductive layer that transmits visible light can be used as the wiring and electrodes of the detection element. Further, it is preferable to use a metal mesh as the wiring and the electrode, which has a lower resistance and can be applied to a large display device. In general, metal is a material having a high reflectance, but it can be darkened by subjecting it to an oxidation treatment or the like. Therefore, even when visually recognized from the
また、当該配線及び当該電極を、金属層と反射率の小さい層(「暗色層」ともいう。)の積層で形成してもよい。暗色層の一例としては、酸化銅を含む層、塩化銅または塩化テルルを含む層などがある。また、暗色層を、Ag粒子、Agファイバー、Cu粒子等の金属微粒子、カーボンナノチューブ(CNT)、グラフェン等のナノ炭素粒子、並びに、PEDOT、ポリアニリン、ポリピロールなどの導電性高分子などを用いて形成してもよい。 Further, the wiring and the electrode may be formed by laminating a metal layer and a layer having a low reflectance (also referred to as a “dark color layer”). Examples of dark-colored layers include layers containing copper oxide, layers containing copper chloride or tellurium chloride, and the like. Further, the dark color layer is formed by using metal fine particles such as Ag particles, Ag fibers and Cu particles, nanocarbon particles such as carbon nanotubes (CNT) and graphene, and conductive polymers such as PEDOT, polyaniline and polypyrrole. You may.
入力装置は、トランジスタ、液晶素子180、及び発光素子170のうち少なくとも一つの製造工程とは別工程で作製することができるため、それぞれの要素の歩留りを向上させることができる。
Since the input device can be manufactured in a process separate from the manufacturing process of at least one of the transistor, the
図14に示す表示装置300Dは、導電層331、絶縁層332、導電層333、導電層334、電極113a、電極311g、電極311h等を有する。
The
導電層334を挟んで設けられた2つの導電層333は、導電層331を介して電気的に接続される。導電層331と導電層334は、絶縁層332によって互いに電気的に絶縁されている。
The two
導電層333は、電極113aと電気的に接続されている。電極113aは、電極113と同一の導電膜、同一の工程で形成することができる。接続部253において、電極113aは、接続体243を介して、電極311gと電気的に接続されている。これにより、基板390側に設けられたタッチセンサに、基板351側に接続されたFPC(FPC372またはそれとは異なるFPC)から入力される信号または電位を、接続部253を介して供給することができる。
The
≪表示装置の作製方法例2≫
表示装置の作製方法例1で説明したステップS1からステップS10までの工程のうち、ステップS9の工程を変更することで、表示装置300B、表示装置300C、及び表示装置300Dを作製することができる。表示装置300B、表示装置300C、及び表示装置300Dを作製する場合、ステップS9は、下記ステップS11からステップS18までの工程を有する。以下では、図15〜図19を用いて、表示装置300Dの作製方法について説明する。なお、表示装置300Aの作製方法と同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Example 2 of manufacturing method of display device >>
Manufacturing Method of Display Device Among the steps from step S1 to step S10 described in Example 1, the
[ステップS11:作製基板94を準備する]
まず、ステップS1(図3及び図4(A))と同様に、作製基板94を準備する(図15)。
[Step S11: Preparing the fabrication substrate 94]
First, the
[ステップS12:金属酸化物層90を形成する]
次に、ステップS2(図3及び図4(B1))と同様に、作製基板94上に、金属酸化物層90を形成する(図15)。
[Step S12: Forming Metal Oxide Layer 90]
Next, the
[ステップS13:樹脂層93を形成する]
次に、ステップS3(図3、図4(C)、及び図4(D))と同様に、金属酸化物層90上に第1の層を形成し、加熱処理を行うことで、樹脂層93を形成する(図15)。
[Step S13: Forming the resin layer 93]
Next, in the same manner as in step S3 (FIGS. 3, 4 (C), and 4 (D)), the resin layer is formed by forming a first layer on the
[ステップS14:機能層を形成する]
次に、樹脂層93上に機能層を形成する(図15及び図16(A))。なお、表示装置300Bまたは表示装置300Cを作製する場合の断面図を図16(B)に示す。図16(B)は、機能層が検知素子を有さない場合の断面図ともいえる。
[Step S14: Forming a functional layer]
Next, a functional layer is formed on the resin layer 93 (FIGS. 15 and 16 (A)). A cross-sectional view of the
まず、図16(A)に示すように、樹脂層93上に、導電層331を形成する。なお、樹脂層93上にバリア性の高い絶縁層を形成した後、当該絶縁層上に導電層331を形成してもよい。
First, as shown in FIG. 16A, the
そして、導電層331を覆う絶縁層332を形成する。次に、絶縁層332に導電層331に達する開口を形成する。そして、絶縁層332上に、導電層333及び導電層334を形成する。導電層333は、絶縁層332の開口を介して導電層331と電気的に接続される。
Then, the insulating
ここでは、検知素子の配線及び電極にメタルメッシュを用いる例を示すため、検知素子を液晶素子180及び発光素子170を用いた表示領域以外の部分に形成する。なお、検知素子の配線及び電極を、可視光を透過する導電材料を用いて形成する場合、当該配線及び当該電極を表示領域に配置してもよい。
Here, in order to show an example in which a metal mesh is used for the wiring and the electrodes of the detection element, the detection element is formed in a portion other than the display region using the
次に、導電層333及び導電層334を覆う絶縁層335を形成する。絶縁層332及び絶縁層335としては、それぞれ、無機絶縁膜及び樹脂等を用いることができる。
Next, the insulating
次に、絶縁層335上に着色層131及び遮光層132を形成する。なお、図16(B)に示すように、機能層に検知素子を設けない場合は、樹脂層93上に絶縁層91を形成し、絶縁層91上に、着色層131及び遮光層132を形成する。絶縁層91はバリア性の高い無機絶縁膜を有するように形成されることが好ましい。
Next, the
次に、着色層131及び遮光層132上に、絶縁層121を形成する。次に、絶縁層121及び絶縁層335に導電層333に達する開口を形成する。
Next, the insulating
次に、電極113及び電極113aを形成する。電極113aは、絶縁層121及び絶縁層335の開口を介して、導電層333と電気的に接続される。
Next, the
次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。
Next, the insulating
次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する。配向膜133bは、樹脂等の薄膜を形成した後に、ラビング処理を行うことで形成できる。
Next, the
[ステップS15:液晶層112を封止する]
以上の工程が完了した作製基板94と、ステップS8までの工程が完了した基板351を、接着層141を用いて貼り合わせる(図15及び図17)。作製基板94及び基板351は、配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112を挟んだ状態で貼り合わせる。
[Step S15: Seal the liquid crystal layer 112]
The
接続部253では、接続体243を介して、電極113aと電極311gとが電気的に接続される。
In the connecting
[ステップS16:光を照射する・分離する]
次に、ステップS7(図3、図7、及び図8)と同様に、金属酸化物層90と樹脂層93とを分離する(図15及び図18)。これにより、作製基板94上に作製した検知素子、着色層131等を、基板351に転置することができる。
[Step S16: Irradiate / separate light]
Next, the
なお、液晶素子180において、電極と液晶層の密着性が低いことがある。そのため、作製基板94を、人間の手、治具、ローラ等を用いて引き剥がそうとすると、液晶素子180中で膜剥がれが生じ、液晶素子180が破壊される恐れがある。本実施の形態では、光照射を行うことで、金属酸化物層90と樹脂層93とを分離することができる。作製基板94を強い力で引き剥がす必要がないため、液晶素子180中の膜剥がれを抑制し、分離の歩留まりを高めることができる。
In the
[ステップS17−1:樹脂層93を除去するか判断する]
分離後、樹脂層93を除去する場合は、ステップS17−2に進む。樹脂層93を除去しない場合は、ステップ18に進む。樹脂層93は、表示素子よりも表示面側に位置する層であるため、樹脂層93を除去することで、表示装置の表示品位を向上できることがある。樹脂層93の透光性の程度、厚さの程度によっては、樹脂層93を除去しなくてもよい。
[Step S17-1: Determine whether to remove the resin layer 93]
When removing the
本作製方法例2では、樹脂層93を除去する場合を説明する。
In the second production method example 2, a case where the
[ステップS17−2:樹脂層93を除去する]
ステップS8−2(図3及び図9(A))と同様の方法で、樹脂層93を除去することができる(図15)。
[Step S17-2: Remove the resin layer 93]
The
[ステップS18:基板390を貼り合わせる]
次に、接着層392を用いて、基板351と基板390とを貼り合わせる(図15及び図19)。反射防止部材396が設けられた基板390を基板351と貼り合わせることができる。または、基板351と基板390とを貼り合わせた後に、基板390上に反射防止部材396を設けてもよい。
[Step S18: Bonding the substrates 390]
Next, the
以上のように、図3のステップS9において、図15のステップS11からステップS18を行う。 As described above, in step S9 of FIG. 3, steps S11 to S18 of FIG. 15 are performed.
その後、ステップS10(図3)において、FPC372やICなどを電気的に接続させることができる。
After that, in step S10 (FIG. 3), the
以上により、図14に示す表示装置300Dを作製することができる。
From the above, the
≪表示装置の構成例3≫
以下では、図20を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 3 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the
図20に、表示装置300Eの断面図を示す。表示装置300Eは、基板361及び偏光板135を有さず、絶縁層91a、接着層97、絶縁層91b、タッチセンサ、接着層392、基板390、及び反射防止部材396を有する。また、表示装置300Eは、FPC及び接続体を少なくとも2つずつ有する(FPC372a、FPC372b、接続層242a、及び接続層242b)。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。なお、液晶素子180の動作モードによっては、偏光板及び光拡散層のうち一方又は双方を設ける。
FIG. 20 shows a cross-sectional view of the
表示装置300Eは、導電層331、絶縁層332、導電層333、導電層334、導電層336等を有する。
The
導電層334を挟んで設けられた2つの導電層333は、導電層331を介して電気的に接続される。導電層331と導電層334は、絶縁層332によって互いに電気的に絶縁されている。
The two
導電層333は、導電層336と電気的に接続されている。導電層336は、導電層331と同一の導電膜、同一の工程で形成することができる。導電層336は、接続層242bを介して、FPC372bと電気的に接続されている。
The
≪表示装置の作製方法例3≫
以下では、図21〜図29を用いて、表示装置300Eの作製方法について説明する。なお、表示装置300Aの作製方法と同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Example 3 of manufacturing method of display device >>
Hereinafter, a method of manufacturing the
表示装置の作製方法例1で説明したステップS1からステップS10までの工程のうち、ステップS9の工程を変更することで、表示装置300Eを作製することができる。表示装置300Eを作製する場合、ステップS9は、ステップS21からステップS27までの工程と、ステップS31からステップS37までの工程と、ステップS28の工程を有する。ステップS21からステップS27までの工程と、ステップS31からステップS37までの工程と、は、それぞれ独立に行うことができる。ステップS27及びステップS37の後に、ステップS28を行う。
Manufacturing Method of Display Device Among the steps from step S1 to step S10 described in Example 1, the
[ステップS21:作製基板94aを準備する]
まず、ステップS1(図3及び図4(A))と同様に、作製基板94aを準備する(図21)。
[Step S21: Prepare the
First, the
[ステップS22:金属酸化物層90aを形成する]
次に、ステップS2(図3及び図4(B1))と同様に、作製基板94a上に、金属酸化物層90aを形成する(図21)。
[Step S22: Forming
Next, the
[ステップS23:樹脂層93aを形成する]
次に、ステップS3(図3、図4(C)、及び図4(D))と同様に、金属酸化物層90a上に第1の層を形成し、加熱処理を行うことで、樹脂層93aを形成する(図21)。
[Step S23: Forming the
Next, in the same manner as in step S3 (FIGS. 3, 4 (C), and 4 (D)), a first layer is formed on the
[ステップS24:第1の機能層を形成する]
次に、樹脂層93a上に第1の機能層を形成する(図21及び図22)。
[Step S24: Forming the First Functional Layer]
Next, the first functional layer is formed on the
まず、樹脂層93a上に、絶縁層91aを形成することが好ましい。絶縁層91aはバリア性の高い無機絶縁膜を有するように形成されることが好ましい。
First, it is preferable to form the insulating
次に、絶縁層91a上に着色層131及び遮光層132を形成する。次に、着色層131及び遮光層132上に、絶縁層121を形成する。次に、電極113を形成する。次に、電極113上に、絶縁層117を形成する。次に、電極113及び絶縁層117上に、配向膜133bを形成する。これらの形成方法の詳細は、作製方法例1を参照できる。
Next, the
[ステップS25:液晶層112を封止する]
ステップS24の工程が完了した作製基板94aと、ステップS8までの工程が完了した基板351を、接着層141を用いて貼り合わせる(図21及び図23)。作製基板94a及び基板351は、配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112を挟んだ状態で貼り合わせる。
[Step S25: Seal the liquid crystal layer 112]
The
[ステップS26:光を照射する・分離する]
次に、ステップS7(図3、図7、及び図8)と同様に、金属酸化物層90aと樹脂層93aとを分離する(図21及び図24)。
[Step S26: Irradiate / separate light]
Next, the
[ステップS27−1:樹脂層93aを除去するか判断する]
分離後、樹脂層93aを除去する場合は、ステップS27−2に進む。樹脂層93aを除去しない場合は、ステップ28に進む。樹脂層93aは、表示素子よりも表示面側に位置する層であるため、樹脂層93aを除去することで、表示装置の表示品位を向上できることがある。樹脂層93aの透光性の程度、厚さの程度によっては、樹脂層93aを除去しなくてもよい。
[Step S27-1: Determine whether to remove the
When removing the
本作製方法例3では、樹脂層93aを除去する場合を説明する。
In the present production method Example 3, the case where the
[ステップS27−2:樹脂層93aを除去する]
ステップS8−2(図3及び図9)と同様の方法で、樹脂層93aを除去することができる(図25)。
[Step S27-2: Remove the
The
以上のように、ステップS21からステップS27を行うことで、作製基板94a上に作製した電極113、着色層131等を、基板351に転置することができる。
As described above, by performing steps S21 to S27, the
また、ステップS21からステップS27とは独立して、下記ステップS31からステップS37を行う。 Further, steps S31 to S37 are performed independently of steps S21 to S27.
[ステップS31:作製基板94bを準備する]
まず、ステップS1(図3及び図4(A))と同様に、作製基板94bを準備する(図21)。
[Step S31: Prepare the
First, the
[ステップS32:金属酸化物層90bを形成する]
次に、ステップS2(図3及び図4(B1))と同様に、作製基板94b上に、金属酸化物層90bを形成する(図21)。
[Step S32: Forming the
Next, the
[ステップS33:樹脂層93bを形成する]
次に、ステップS3(図3、図4(C)、及び図4(D))と同様に、金属酸化物層90b上に第1の層を形成し、加熱処理を行うことで、樹脂層93bを形成する(図21)。
[Step S33: Forming the
Next, in the same manner as in step S3 (FIGS. 3, 4 (C), and 4 (D)), a first layer is formed on the
[ステップS34:第2の機能層を形成する]
次に、樹脂層93b上に第2の機能層を形成する(図21及び図26(A))。
[Step S34: Forming a Second Functional Layer]
Next, a second functional layer is formed on the
まず、樹脂層93b上に、絶縁層91bを形成することが好ましい。絶縁層91bはバリア性の高い無機絶縁膜を有するように形成されることが好ましい。
First, it is preferable to form the insulating
次に、絶縁層91b上に、導電層331及び導電層336を形成する。そして、導電層331及び導電層336を覆う絶縁層332を形成する。次に、絶縁層332に導電層331及び導電層336に達する開口を形成する。そして、絶縁層332上に、導電層333及び導電層334を形成する。導電層333は、絶縁層332の開口を介して導電層331と電気的に接続される。また、導電層333は、絶縁層332の開口を介して導電層336と電気的に接続される。
Next, the
また、表示装置に偏光板及び光拡散層のうち一方または双方を設ける場合、図26(B)に示すように、絶縁層332、導電層331、及び導電層336上に、光拡散層136を設け、光拡散層136上に偏光板135を設けることができる。
When one or both of the polarizing plate and the light diffusing layer are provided in the display device, the
[ステップS35:基板390を貼り合わせる]
次に、接着層392を用いて、作製基板94bと基板390とを貼り合わせる(図21及び図27(A))。ここでは、反射防止部材396が設けられた基板390を用いる。
[Step S35: Bonding the substrates 390]
Next, the
[ステップS36:光を照射する・分離する]
次に、ステップS7(図3、図7、及び図8)と同様に、金属酸化物層90bと樹脂層93bとを分離する(図21、図27(B)、及び図28(A))。
[Step S36: Irradiate / separate light]
Next, the
[ステップS37−1:樹脂層93bを除去するか判断する]
分離後、樹脂層93bを除去する場合は、ステップS37−2に進む。樹脂層93bを除去しない場合は、ステップ38に進む。樹脂層93bは、表示素子よりも表示面側に位置する層であるため、樹脂層93bを除去することで、表示装置の表示品位を向上できることがある。樹脂層93bの透光性の程度、厚さの程度によっては、樹脂層93bを除去しなくてもよい。
[Step S37-1: Determine whether to remove the
When removing the
本作製方法例3では、樹脂層93bを除去する場合を説明する。
In the present production method Example 3, the case where the
[ステップS37−2:樹脂層93bを除去する]
ステップS8−2(図3及び図9)と同様の方法で、樹脂層93bを除去することができる(図28(B))。
[Step S37-2: Remove the
The
以上のように、ステップS31からステップS37を行うことで、作製基板94b上に作製した検知素子を、基板390に転置することができる。
As described above, by performing steps S31 to S37, the detection element manufactured on the manufactured
[ステップS28:第1の機能層と第2の機能層を貼り合わせる]
ステップS27までが完了した基板351と、ステップS37までが完了した基板390を、接着層141を用いて貼り合わせる(図21及び図29)。
[Step S28: Paste the first functional layer and the second functional layer]
The
以上のように、図3のステップS9において、図21に示すステップを行う。 As described above, in step S9 of FIG. 3, the step shown in FIG. 21 is performed.
その後、ステップS10(図3)において、FPC372a、FPC372b、及びICなどを電気的に接続させることができる。 After that, in step S10 (FIG. 3), the FPC372a, FPC372b, IC, and the like can be electrically connected.
以上により、図20に示す表示装置300Eを作製することができる。
From the above, the
≪表示装置の構成例4≫
以下では、図30及び図31を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 4 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the
図30に、表示装置300Fの断面図を示す。表示装置300Fは、樹脂層23及び絶縁層31を有する。電極311cは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を介して、接続層242と電気的に接続されている。同様に、電極311eは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を介して、接続体243と電気的に接続されている。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。なお、液晶素子180の動作モードによっては、偏光板及び光拡散層のうち一方又は双方を設ける。
FIG. 30 shows a cross-sectional view of the
図31に、表示装置300Gの断面図を示す。表示装置300Gは、表示装置300Fに比べて樹脂層23の厚さが薄い。また、表示装置300Gは、配向膜133aを有していない。それ以外の構成は、表示装置300Fと同様である。表示装置300Gでは、樹脂層23が配向膜として機能する。電極311cは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を貫通して、接続層242と電気的に接続されている。同様に、電極311eは、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を貫通して、接続体243と電気的に接続されている。樹脂層23の表面から電極311c及び電極311eは突出している。
FIG. 31 shows a cross-sectional view of the
≪表示装置の作製方法例4≫
以下では、図3及び図32〜図34を用いて、表示装置300F及び表示装置300Gの作製方法について説明する。なお、表示装置300Aの作製方法と同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Example 4 of manufacturing method of display device >>
Hereinafter, a method of manufacturing the
[ステップS1:作製基板14を準備する]
まず、作製基板14を準備する(図3)。
[Step S1: Prepare the fabrication substrate 14]
First, the
[ステップS2:金属酸化物層20を形成する]
次に、作製基板14上に、金属酸化物層20を形成する(図3)。
[Step S2: Forming the metal oxide layer 20]
Next, the
[ステップS3:樹脂層23を形成する]
次に、金属酸化物層20上に、第1の層を形成する。そして、第1の層に対して加熱処理を行うことで、樹脂層23を形成する(図3及び図32(A))。
[Step S3: Forming the resin layer 23]
Next, a first layer is formed on the
ここでは、樹脂層23に金属酸化物層20に達する開口を設ける。
Here, the
後述の通り、樹脂層23に開口を設けた部分では、金属酸化物層20と導電層との界面で分離が生じる。樹脂層23の1つの開口の大きさが小さいほど、金属酸化物層20と導電層との界面での分離が容易となり、歩留まりを高めることができる。例えば、樹脂層23に設けられる1つの開口の面積は、10μm四方よりも小さいことが好ましく、5μm四方以下がより好ましく、3μm四方以下がさらに好ましい。また、樹脂層23に複数の開口を設ける場合、隣接する2つの開口の最短距離が長いほど、金属酸化物層20と導電層との界面での分離が容易となり、歩留まりを高めることができる。例えば、隣接する2つの開口の最短距離は、1μm以上が好ましく、5μm以上がより好ましく、10μm以上がより好ましく、50μm以上がより好ましく、200μm以上がさらに好ましい。
As will be described later, in the portion where the
図32(A)では、樹脂層23に開口部を1つ図示したが、当該開口部に小さな開口が複数設けられていてもよい。複数の開口はマトリクス状など規則的に配置されていても、不規則に配置されていてもよい。
Although one opening is shown in the
感光性を有する材料を用いる場合、例えば、フォトリソグラフィ法を用いて、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。
When a photosensitive material is used, for example, a photolithography method can be used to form the
非感光性の材料を用いる場合、例えば、マスクを用いてエッチングすることで、所望の形状の樹脂層23を形成することができる。
When a non-photosensitive material is used, for example, the
[ステップS4:トランジスタを形成する]
次に、樹脂層23上に、トランジスタを含む被剥離層を形成する。
[Step S4: Forming a transistor]
Next, a layer to be peeled off including a transistor is formed on the
樹脂層23上に絶縁層31を形成することが好ましい(図32(B))。
It is preferable to form the insulating
図32(B)に示すように、絶縁層31には、金属酸化物層20に達する開口を形成する。
As shown in FIG. 32 (B), the insulating
次に、絶縁層31上に電極311a、電極311c、及び電極311eを形成する(図32(B))。そして、電極311a上に電極311bを、電極311c上に電極311dを、電極311e上に電極311fを形成する。電極311bは、電極311a上に開口451を有する。
Next, the
電極311c及び電極311eは、それぞれ、樹脂層23及び絶縁層31に設けられた開口を介して、金属酸化物層20と接する。
The
その後、絶縁層220から絶縁層214までを形成する。これらの工程の詳細は、作製方法例1を参照できる。
After that, the insulating
[ステップS5:発光素子170を形成する]
次に、発光素子170を形成する(図3)。
[Step S5: Forming the light emitting element 170]
Next, the
[ステップS6:発光素子170を封止する]
次に、発光素子170を封止する(図3)。これにより、図32(C)に示す積層構造を作製することができる。
[Step S6: Seal the light emitting element 170]
Next, the
[ステップS7:光を照射する・分離する]
次に、金属酸化物層20と樹脂層23とを分離する(図3及び図33)。樹脂層23の開口部では、金属酸化物層20と電極311cの界面、金属酸化物層20と電極311eの界面で、分離が生じる。これにより、作製基板14上に作製したトランジスタ、発光素子170等を、基板351に転置することができる。
[Step S7: Irradiate / separate light]
Next, the
[ステップS8−1:樹脂層23を除去するか判断する]
分離後、樹脂層23を除去する場合は、ステップS8−2に進む。樹脂層23を除去しない場合は、ステップ9に進む。
[Step S8-1: Determine whether to remove the resin layer 23]
When removing the
表示装置300Fを作製する場合、樹脂層23の除去工程は不要である。
When manufacturing the
表示装置300Gを作製する場合、樹脂層23の一部を除去してもよい。具体的には、樹脂層23を配向膜として機能させるために適した厚さまで薄くしてもよい。
When manufacturing the
[ステップS8−2:樹脂層23を除去する]
図34に、樹脂層23の一部を除去し、樹脂層23の厚さを薄くした例を示す。樹脂層23の一部が除去されることで、電極311cの一部及び電極311eの一部が突出する。
[Step S8-2: Remove the resin layer 23]
FIG. 34 shows an example in which a part of the
[ステップS9:液晶素子180を形成する]
次に、液晶素子180を形成する(図3)。
[Step S9: Forming the liquid crystal element 180]
Next, the
[ステップS10:実装する]
その後、FPC372やICなどを電気的に接続させることができる。また、基板361の表示面に偏光板135等を配置することができる。
[Step S10: Implement]
After that, the
以上により、図30に示す表示装置300F及び図31に示す表示装置300Gをそれぞれ作製することができる。
As described above, the
≪表示装置の構成例5≫
以下では、図35を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 5 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the
図35に表示装置300Hの断面図を示す。表示装置300Hは、トランジスタの構造が表示装置300Aと異なる。それ以外の構成は、表示装置300Aと同様である。
FIG. 35 shows a cross-sectional view of the
表示装置300Aが有するトランジスタ203及びトランジスタ206は、BGTC(Bottom Gate Top Contact)型である。一方、表示装置300Hが有するトランジスタ203及びトランジスタ206は、(Top Gate Self Align)型である。
The
具体的には、表示装置300Hが有するトランジスタ203及びトランジスタ206は、ゲートとして機能する導電層223、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211b、ソース及びドレインとして機能する導電層222a及び導電層222b、並びに、半導体層231を有する。
Specifically, the
表示装置300Hが有するトランジスタ201及びトランジスタ205は、トランジスタ203及びトランジスタ206の構成に加えて、ゲートとして機能する導電層221aと、ゲート絶縁層として機能する絶縁層211aを有する。
The
≪表示装置の構成例6≫
以下では、図36を用いて、表示装置300Aとは異なる構成の表示装置について説明する。なお、表示装置300Aと同様の部分について詳細な説明は省略する。
<< Display device configuration example 6 >>
Hereinafter, a display device having a configuration different from that of the
図36に表示装置300Jの断面図を示す。
FIG. 36 shows a cross-sectional view of the
配向膜133aと配向膜133bの間に液晶層112が挟持されるように、基板351と基板361とが貼り合わされている。液晶素子180は、電極311a、電極311b、電極311c、液晶層112、電極113を有する。
The
液晶素子180の画素電極として、配向膜133a側から、電極311a、電極311b、及び電極311cがこの順で積層されている。電極311aの端部と電極311cの端部は、電極311bの端部よりも外側に位置し、互いに接している。電極311a及び電極311cには、可視光を透過する導電膜を用いる。電極311bには、可視光を反射する導電膜を用いる。電極311bには、開口451が設けられている。開口451は発光素子170の発光領域と重なる。
As the pixel electrodes of the
配向膜133aと液晶素子180の画素電極との間には絶縁層115が形成されている。絶縁層115は、バリア性が高いことが好ましい。絶縁層115には、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜などの窒素を含むシリコン膜が好適である。
An insulating
電極311cと導電層224とは、絶縁層220aを介して重なる。導電層224は、容量素子の一方の電極として機能する。導電層224は、絶縁層220bを介して、トランジスタ203、トランジスタ205、及びトランジスタ206と重なる。トランジスタ206のソースまたはドレインは、接続部207において、電極311cと電気的に接続されている。トランジスタ205は、2つのゲートを有する。2つのゲートは、電気的に接続されている。トランジスタ205のソースまたはドレインは、導電層228を介して、発光素子170の電極191と電気的に接続される。各トランジスタは、絶縁層212、絶縁層213、絶縁層214、絶縁層225、及び絶縁層215で覆われている。これらのうち1つまたは複数の絶縁層のバリア性が高いことが好ましい。図36では、絶縁層213及び絶縁層225にバリア性が高い材料を用いる例を示す。絶縁層213は、絶縁層220a、絶縁層220b、絶縁層212等に設けられた開口の端部を覆って設けられる。絶縁層225は、絶縁層214に設けられた開口の端部を覆って設けられる。被覆膜226は、可視光を反射する膜である。被覆膜226は、発光素子170の発光の一部を反射して、開口451側に供給する機能を有する。レンズ227は、発光素子170の発光を透過する機能を有する。レンズ227は、発光素子170の発光領域と重なる。表示装置は、絶縁層115から絶縁層215まで多くの絶縁膜を有する。そこで、開口451と重ねて、1層以上の絶縁層にも開口を形成することで、発光素子170からの光が入射する層の数を減らすことができる。これにより、光の取り出し効率を高めることができる。光が通過する領域に、屈折率の差が大きい界面が生じないことが好ましい。図36では、絶縁層220a及び絶縁層220bなどに、開口451と重なる開口が形成されている例を示す。発光素子170は、電極191、EL層192、及び電極193を有する。EL層192は、副画素ごとに塗り分けられている。電極191の端部は、絶縁層216で覆われている。絶縁層217は、スペーサとしての機能を有する。接着層142によって、発光素子170と基板351とが貼り合わされている。
The
基板361の一方の面に、着色層131、絶縁層121、絶縁層232、電極113、絶縁層117、及び配向膜133bが設けられている。図36では、着色層131が、発光素子170の発光領域と重ならない例を示す。絶縁層121は、オーバーコートとして機能する。絶縁層232には、バリア性の高い絶縁膜が好適である。電極113は、液晶素子180の共通電極として機能する。絶縁層117は、液晶素子180のセルギャップを保持するためのスペーサとして機能する。絶縁層117は、可視光を透過する。
A
さらに、基板361の他方の面に、拡散フィルム233及び偏光板135が貼り合わされている。一方の面にタッチセンサが設けられた基板235が偏光板135に貼り合わされている。なお、図36では、接着層の図示を省略している箇所がある。基板235の他方の面には、反射防止加工が施されていることが好ましい。例えば、アンチグレア処理が施されていることが好ましい。表面の凹凸により、反射光を拡散し、映り込みを低減することができる。タッチセンサの導電層234aと導電層234bとの間には、絶縁層234cが設けられている。導電層234bは、絶縁層234dで覆われている。
Further, a
<レーザ照射ユニット>
次に、図37(A)、(B)を用いて、レーザ照射ユニットの一例を説明する。
<Laser irradiation unit>
Next, an example of the laser irradiation unit will be described with reference to FIGS. 37 (A) and 37 (B).
図37(A)、(B)に示す積層体56は、例えば被剥離体56aと支持体56bが積層された構成を有する。積層体56は、被剥離体56aと支持体56bとの間で剥離が生じる。被剥離体56aは例えば樹脂層を有し、支持体56bは例えば作製基板を有する。
The
搬送ローラ644は、積層体56を搬送することができる。積層体56を搬送する搬送機構は、搬送ローラに限られず、ベルトコンベア、または搬送ロボット等を用いてもよい。また、搬送機構上のステージに、積層体56を配置してもよい。
The
レーザ照射ユニット610は、積層体56にレーザを照射するユニットである。レーザとしては、例えば波長308nmの紫外光を出力するエキシマレーザなどを用いることができる。また、高圧水銀ランプやUV−LEDなどを用いてもよい。
The
図37(A)に示すように、積層体56は、上側に支持体56bが位置する状態で、レーザ照射ユニット610に搬送される。
As shown in FIG. 37 (A), the
エキシマレーザは高出力のパルスレーザであり、光学系にてビームを線状に整形することができる。線状ビームのレーザ光の照射位置において基板を移動させることで基板全体または必要箇所にレーザ光を照射することができる。なお、線状ビームは、用いる基板の一辺と同等以上の長さとすれば、基板を一方向に移動するのみで基板全体にレーザ光を照射することができる。パルスレーザの発振周波数は、1Hz以上300Hz以下が好ましく、60Hz近傍がより好ましい。 The excimer laser is a high-power pulse laser, and the beam can be linearly shaped by an optical system. By moving the substrate at the irradiation position of the laser beam of the linear beam, the laser beam can be irradiated to the entire substrate or a necessary place. If the linear beam has a length equal to or longer than one side of the substrate to be used, the entire substrate can be irradiated with the laser beam only by moving the substrate in one direction. The oscillation frequency of the pulse laser is preferably 1 Hz or more and 300 Hz or less, and more preferably around 60 Hz.
エキシマレーザ装置には、レーザ発振器を一つ搭載した装置の他、二つ以上のレーザ発振器を搭載する装置を用いることもできる。複数のレーザ発振器を搭載する装置においては、それぞれのレーザ発振器から同期されて出力されたレーザ光を光学系にて合成する(重ね合わす)ことで高エネルギー密度のレーザ光を得ることができる。したがって、本実施の形態の用途においては、第3.5世代(600mm×720mm)以上、第6世代ガラス基板(1500mm×1850mm)以上、第7世代(1870mm×2200mm)以上、または第8世代ガラス基板(2160mm×2460mm)以上のサイズの処理を行うこともできる。また、複数のレーザ発振器を搭載する装置では、それぞれのレーザ発振器から出力されるレーザ光が互いに出力ばらつきを補完するため、1パルス毎の強度ばらつきが少なくなり、歩留りの高い処理を行うことができる。なお、複数の発振器に替えて、複数のエキシマレーザ装置を用いてもよい。 As the excimer laser device, in addition to a device equipped with one laser oscillator, a device equipped with two or more laser oscillators can also be used. In a device equipped with a plurality of laser oscillators, a laser beam having a high energy density can be obtained by synthesizing (superimposing) the laser beams synchronously output from the respective laser oscillators in an optical system. Therefore, in the application of the present embodiment, the third generation (600 mm × 720 mm) or more, the sixth generation glass substrate (1500 mm × 1850 mm) or more, the seventh generation (1870 mm × 2200 mm) or more, or the eighth generation glass. It is also possible to perform processing having a size larger than that of a substrate (2160 mm × 2460 mm). Further, in a device equipped with a plurality of laser oscillators, the laser beams output from the respective laser oscillators complement each other's output variation, so that the intensity variation for each pulse is reduced and high yield processing can be performed. .. A plurality of excimer laser devices may be used instead of the plurality of oscillators.
図37(A)にエキシマレーザを用いたレーザ照射ユニット610の一例を示す。二つのレーザ発振器を有するエキシマレーザ装置660から出力されたレーザ光610a、610bは光学系635にて合成される。さらに光学系635にて横長に伸張されたレーザ光610cは、ミラー650を介してレンズ680に入射する。レンズ680を透過したレーザ光610dはレーザ光610cに比べて縮小される。このとき、レーザ光610dが、積層体56が有する加工領域640に支持体56b(例えばガラス基板)を介して照射されるようにする。以下では、レーザ光610dのうち、加工領域640に照射される部分を、線状ビーム610eと記す。
FIG. 37 (A) shows an example of the
なお、ここでは二つのレーザ発振器を有する例を示したが、一つのレーザ発振器を有する構成としてもよく、これにより、装置を簡略化できる。また、三つ以上のレーザ発振器を有する構成としてもよく、これにより線状ビーム610eの強度を高めることができる。
Although an example having two laser oscillators is shown here, a configuration having one laser oscillator may be used, whereby the apparatus can be simplified. Further, the configuration may include three or more laser oscillators, whereby the intensity of the
そして、搬送ローラ644により図中の矢印方向に積層体56を移動させることで、加工領域640に線状ビーム610eを照射することができる。
Then, by moving the
図37(A)に示すように、積層体56を搬送ローラ644により一定の速度で搬送しながら線状ビーム610eを照射することにより、プロセス時間を短縮することが可能となる。なお、積層体56を少なくとも一方向に移動可能なステージに配置し、ステージを動かしながら線状ビーム610eを照射してもよい。なお、ステージを用いる場合には、進行方向に対して横方向、及び高さ方向に移動可能なステージを用い、線状ビーム610eの焦点の位置や深さを調整できる構成とすることが好ましい。なお、図37(A)では、積層体56を移動させることで、線状ビーム610eを照射する構成について例示したがこれに限定されない。例えば、積層体56を固定し、エキシマレーザ装置660などを移動させて、積層体56に線状ビーム610eを照射してもよい。
As shown in FIG. 37 (A), the process time can be shortened by irradiating the
図37(A)では、線状ビーム610eが照射される加工領域640が、積層体56の端部よりも内側に位置する例を示している。これにより、加工領域640の外側の領域は密着性が高い状態を維持するため、搬送時に剥離が生じてしまうことを抑制できる。なお、線状ビーム610eの幅が積層体56の幅と等しい、または積層体56の幅よりも大きくてもよい。その場合、積層体56全体に線状ビーム610eが照射することができる。
FIG. 37A shows an example in which the processed
図37(B)に、線状ビーム610eが積層体56の加工領域640に照射される様子を示す。積層体56は、作製基板58と、第1の層57aと、第2の層57bとを有する。ここで、作製基板58と第2の層57bを含む部分が支持体56bに相当し、第1の層57aを含む部分が被剥離体56aに相当する。
FIG. 37B shows how the
例えば、第1の層57aが上記樹脂層23に相当し、第2の層57bが上記金属酸化物層20に相当する。
For example, the
レーザ光610dは、作製基板58を透過し、線状ビーム610eは、第1の層57aと第2の層57bの界面、またはその近傍に照射されることが好ましい。特に、線状ビーム610eは、第1の層57aと第2の層57bの界面、またはその近傍に焦点が位置することが好ましい。
It is preferable that the
また、第1の層57aと第2の層57bとの界面に線状ビーム610eの焦点が位置することで、第1の層57aと第2の層57bとの界面に存在しうる水が気化し、水の体積が急激に膨張する場合がある。この場合、水の体積の膨張に伴い、第1の層57aと第2の層57bとの界面、またはその近傍で剥離現象が生じると推定される。
Further, since the focal point of the
なお、アモルファスシリコン膜にレーザ光を照射して、アモルファスシリコン膜を結晶化させる技術がある。当該技術の場合、アモルファスシリコン膜の内部にレーザ光の焦点を合わせる。しかしながら、本発明の一態様においては、図37(B)に示すように、レーザ光(ここでは、線状ビーム610e)の焦点は、第1の層57aと、第2の層57bとの界面またはその近傍である。このように本発明の一態様は、レーザ光の焦点位置がアモルファスシリコン膜を結晶化させる技術と相違している。
There is a technique for crystallizing an amorphous silicon film by irradiating the amorphous silicon film with a laser beam. In the case of this technique, the laser beam is focused inside the amorphous silicon film. However, in one aspect of the present invention, as shown in FIG. 37 (B), the focal point of the laser beam (here, the
また、線状ビーム610eの焦点深度が十分に大きい(深い)場合、第1の層57aと第2の層57bの界面またはその近傍だけでなく、第1の層57aの厚さ方向全体、第2の層57bの厚さ方向全体、または第1の層57aと第2の層57bの両方の厚さ方向全体に亘って、線状ビーム610eの焦点が位置する場合がある。
When the depth of focus of the
なお、エキシマレーザとしては、波長308nmまたはそれよりも波長が長いものを用いることが好ましい。波長308nm以上であれば、支持体56bにガラス基板を用いた場合においても加工に必要なレーザ光を十分に透過させることができる。
As the excimer laser, it is preferable to use a laser having a wavelength of 308 nm or longer. When the wavelength is 308 nm or more, the laser beam required for processing can be sufficiently transmitted even when a glass substrate is used for the
<その他の分離方法について>
本実施の形態の表示装置の作製方法で用いることができるその他の分離方法について説明する。
<About other separation methods>
Other separation methods that can be used in the method for manufacturing the display device of the present embodiment will be described.
例えば、光の照射を用いた分離方法を用いる場合、金属酸化物層を設けず、作製基板に直接樹脂層を形成してもよい。 For example, when the separation method using light irradiation is used, the resin layer may be formed directly on the production substrate without providing the metal oxide layer.
また、物理的に分離する方法を用いてもよい。このとき、例えば、作製基板上に剥離層を形成し、剥離層上に被剥離層を形成することが好ましい。剥離層としては、例えば、タングステンなどの高融点金属材料を含む層と、当該金属材料の酸化物を含む層の積層構造を用いることができる。例えば、高融点金属材料を含む金属層を形成し、該金属層の表面を酸素プラズマ処理などにより酸化させることで当該積層構造を形成できる。 Moreover, you may use the method of physically separating. At this time, for example, it is preferable to form a release layer on the manufactured substrate and form a layer to be peeled on the release layer. As the release layer, for example, a laminated structure of a layer containing a refractory metal material such as tungsten and a layer containing an oxide of the metal material can be used. For example, the laminated structure can be formed by forming a metal layer containing a refractory metal material and oxidizing the surface of the metal layer by oxygen plasma treatment or the like.
被剥離層のうち、剥離層に接する層として、無機絶縁膜を形成することが好ましい。そして無機絶縁膜上に機能素子を形成することが好ましい。剥離層及び無機絶縁膜を形成した支持基板に、垂直方向に引っ張る力を加えることで、剥離層と無機絶縁膜とを分離することができる。 Of the layers to be peeled, it is preferable to form an inorganic insulating film as a layer in contact with the peeling layer. Then, it is preferable to form a functional element on the inorganic insulating film. The release layer and the inorganic insulating film can be separated by applying a pulling force in the vertical direction to the support substrate on which the release layer and the inorganic insulating film are formed.
物理的に分離する方法においても、分離時に、分離界面に水や水溶液など、水を含む液体を添加し、該液体が分離界面に浸透するように分離を行うことで、分離を容易に行うことができる。また、分離時に生じる静電気が、トランジスタなどの機能素子に悪影響を及ぼすこと(半導体素子が静電気により破壊されるなど)を抑制できる。 Also in the method of physically separating, at the time of separation, a liquid containing water such as water or an aqueous solution is added to the separation interface, and the separation is performed so that the liquid permeates the separation interface, thereby facilitating the separation. Can be done. Further, it is possible to suppress that the static electricity generated at the time of separation adversely affects the functional element such as a transistor (such as the semiconductor element being destroyed by the static electricity).
以上のように、本実施の形態の表示装置の作製方法を用いて、周囲の明るさによらず視認性が高く、利便性の高い表示装置を作製することができる。本実施の形態の表示装置の作製方法では、作製基板上に、金属酸化物層と樹脂層とを積層し、光を照射することによって樹脂層の金属酸化物層に対する剥離性を制御する。したがって、高い歩留まりで表示装置を作製できる。 As described above, by using the method of manufacturing the display device of the present embodiment, it is possible to manufacture a display device having high visibility and high convenience regardless of the ambient brightness. In the manufacturing method of the display device of the present embodiment, the metal oxide layer and the resin layer are laminated on the manufacturing substrate, and the peelability of the resin layer to the metal oxide layer is controlled by irradiating with light. Therefore, the display device can be manufactured with a high yield.
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。また、本明細書において、1つの実施の形態の中に、複数の構成例が示される場合は、構成例を適宜組み合わせることが可能である。 This embodiment can be appropriately combined with other embodiments. Further, in the present specification, when a plurality of configuration examples are shown in one embodiment, the configuration examples can be appropriately combined.
(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置について図38〜図40を用いて説明する。
(Embodiment 2)
In the present embodiment, the display device of one aspect of the present invention will be described with reference to FIGS. 38 to 40.
<表示装置の概念>
本発明の一態様を適用して作製できる表示装置としては、例えば、ハイブリッドディスプレイが挙げられる。ハイブリッドディスプレイは、ハイブリッド表示を行うことができる。
<Concept of display device>
An example of a display device that can be manufactured by applying one aspect of the present invention is a hybrid display. The hybrid display can perform a hybrid display.
ハイブリッド表示とは、1つのパネルにおいて、反射光と自発光とを併用して、色調または光強度を互いに補完して、文字または画像を表示する方法である。または、ハイブリッド表示とは、同一画素または同一副画素において、複数の表示素子からそれぞれの光を用いて、文字及び/または画像を表示する方法である。ただし、ハイブリッド表示を行っているハイブリッドディスプレイを局所的にみると、複数の表示素子のいずれか一を用いて表示される画素または副画素と、複数の表示素子の二以上を用いて表示される画素または副画素と、を有する場合がある。 The hybrid display is a method of displaying characters or images on one panel by using both reflected light and self-luminous light to complement each other in color tone or light intensity. Alternatively, the hybrid display is a method of displaying characters and / or images on the same pixel or the same sub-pixel using the respective lights from a plurality of display elements. However, when a hybrid display performing hybrid display is locally viewed, it is displayed using two or more of a pixel or a sub-pixel displayed using any one of a plurality of display elements and a plurality of display elements. It may have a pixel or a sub-pixel.
なお、本明細書等において、上記構成のいずれか1つまたは複数の表現を満たすものを、ハイブリッド表示という。 In the present specification and the like, a display that satisfies any one or more of the above configurations is referred to as a hybrid display.
また、ハイブリッドディスプレイは、同一画素または同一副画素に複数の表示素子を有する。なお、複数の表示素子としては、例えば、光を反射する反射型素子と、光を射出する自発光素子とが挙げられる。なお、反射型素子と、自発光素子とは、それぞれ独立に制御することができる。ハイブリッドディスプレイは、表示部において、反射光、及び自発光のいずれか一方または双方を用いて、文字及び/または画像を表示する機能を有する。 Further, the hybrid display has a plurality of display elements in the same pixel or the same sub-pixel. Examples of the plurality of display elements include a reflective element that reflects light and a self-luminous element that emits light. The reflective element and the self-luminous element can be controlled independently. The hybrid display has a function of displaying characters and / or images in the display unit by using either one or both of reflected light and self-luminous light.
<表示装置の構成例>
本実施の形態の表示装置は、第1の表示素子を有する第1の画素と、第2の表示素子を有する第2の画素とをそれぞれ複数有する。第1の画素と第2の画素は、それぞれ、マトリクス状に配置されることが好ましい。
<Display device configuration example>
The display device of the present embodiment has a plurality of first pixels having a first display element and a plurality of second pixels having a second display element. It is preferable that the first pixel and the second pixel are arranged in a matrix, respectively.
第1の画素と第2の画素は、同数且つ同ピッチで、表示領域内に配置されていることが好ましい。このとき、隣接する第1の画素と第2の画素を合わせて、画素ユニットと呼ぶことができる。これにより、後述するように複数の第1の画素のみで表示された画像と、複数の第2の画素のみで表示された画像、並びに複数の第1の画素及び複数の第2の画素の両方で表示された画像のそれぞれは、同じ表示領域に表示することができる。なお、第1の画素と第2の画素は、数及びピッチの一方または双方が異なってもよい。 It is preferable that the first pixel and the second pixel are arranged in the display area with the same number and the same pitch. At this time, the adjacent first pixel and second pixel can be collectively called a pixel unit. As a result, as will be described later, both the image displayed only by the plurality of first pixels, the image displayed only by the plurality of second pixels, and the plurality of first pixels and the plurality of second pixels. Each of the images displayed in can be displayed in the same display area. The number and pitch of the first pixel and the second pixel may be different from each other or both.
第1の画素及び第2の画素は、それぞれ、1つ以上の副画素を有する構成とすることができる。例えば、画素には、副画素を1つ有する構成(白色(W)など)、副画素を3つ有する構成(赤色(R)、緑色(G)、及び青色(B)の3色、または、黄色(Y)、シアン(C)、及びマゼンタ(M)の3色など)、または、副画素を4つ有する構成(赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、白色(W)の4色、または、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、黄色(Y)の4色など)を適用できる。 The first pixel and the second pixel can each have one or more sub-pixels. For example, the pixel has a configuration having one sub-pixel (white (W), etc.), a configuration having three sub-pixels (red (R), green (G), and blue (B), or three colors, or Yellow (Y), cyan (C), and magenta (M), etc.) or a configuration with four sub-pixels (red (R), green (G), blue (B), white (W)) (4 colors of red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), etc.) can be applied.
本実施の形態の表示装置は、第1の画素と第2の画素のどちらでも、フルカラー表示を行う構成とすることができる。または、本実施の形態の表示装置は、第1の画素では白黒表示またはグレースケールでの表示を行い、第2の画素ではフルカラー表示を行う構成とすることができる。第1の画素を用いた白黒表示またはグレースケールでの表示は、文書情報など、カラー表示を必要としない情報を表示することに適している。 The display device of the present embodiment can be configured to perform full-color display on both the first pixel and the second pixel. Alternatively, the display device of the present embodiment may be configured to perform black-and-white display or grayscale display on the first pixel and full-color display on the second pixel. The black-and-white display or the grayscale display using the first pixel is suitable for displaying information that does not require color display, such as document information.
また、本発明の一態様の表示装置は、さまざまな規格の色域を再現することができる。例えば、テレビ放送で使われるPAL(Phase Alternating Line)規格及びNTSC(National Television System Committee)規格、パーソナルコンピュータ、デジタルカメラ、プリンタなどの電子機器に用いる表示装置で広く使われているsRGB(standard RGB)規格及びAdobe RGB規格、HDTV(High Definition Television、ハイビジョンともいう)で使われるITU−R BT.709(International Telecommunication Union Radiocommunication Sector Broadcasting Service(Television) 709)規格、デジタルシネマ映写で使われるDCI−P3(Digital Cinema Initiatives P3)規格、UHDTV(Ultra High Definition Television、スーパーハイビジョンともいう)で使われるITU−R BT.2020(REC.2020(Recommendation 2020))規格などの色域を再現することができる。 Further, the display device of one aspect of the present invention can reproduce color gamuts of various standards. For example, the PAL (Phase Alternate Line) standard used in television broadcasting, the NTSC (National Television System Committee) standard, and sRGB (standard RGB) widely used in display devices used in electronic devices such as personal computers, digital cameras, and printers. ITU-R BT. Standards and Adobe RGB standards, used in HDTV (High Definition Television, also referred to as HDTV). 709 (International Telecommunication Union Radiocommunication Vector Broadcasting Service (Television) 709) Standard, DCI-P3 (Digital Cinema Initiative) used in Digital Cinema Projection, Ultra-High-Definition Television Standard RBT. It is possible to reproduce a color gamut such as the 2020 (REC. 2020 (Recommendation 2020)) standard.
図38は、本発明の一態様の表示装置が有する画素アレイ40を説明する図である。画素アレイ40は、マトリクス状に配置された複数の画素ユニット45を有する。画素ユニット45は、画素46と、画素47を有する。
FIG. 38 is a diagram illustrating a
図38では、画素46及び画素47が、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の3色に対応する表示素子を有する場合の例を示している。
FIG. 38 shows an example in which the
画素46は、赤色(R)に対応する表示素子46R、緑色(G)に対応する表示素子46G、青色(B)に対応する表示素子46Bを有する。表示素子46R、46G、46Bはそれぞれ、外光の反射を利用した第1の表示素子である。
The
画素47は、赤色(R)に対応する表示素子47R、緑色(G)に対応する表示素子47G、青色(B)に対応する表示素子47Bを有する。表示素子47R、47G、47Bはそれぞれ、光源の光を利用した第2の表示素子である。
The
<画素ユニットの構成例>
続いて、図39(A)、(B)、(C)を用いて画素ユニット45について説明する。図39(A)、(B)、(C)は、画素ユニット45の構成例を示す模式図である。
<Pixel unit configuration example>
Subsequently, the
画素46は、表示素子46R、表示素子46G、表示素子46Bを有する。表示素子46Rは、外光を反射し、画素46に入力される第1の階調値に含まれる赤色に対応する階調値に応じた輝度の赤色の光R1を、表示面側に射出する。表示素子46G、表示素子46Bも同様に、それぞれ緑色の光G1または青色の光B1を、表示面側に射出する。
The
画素47は、表示素子47R、表示素子47G、表示素子47Bを有する。表示素子47Rは、光源を有し、画素47に入力される第2の階調値に含まれる赤色に対応する階調値に応じた輝度の赤色の光R2を、表示面側に射出する。表示素子47G、表示素子47Bも同様に、それぞれ緑色の光G2または青色の光B2を、表示面側に射出する。
The
[第1のモード]
図39(A)は、外光を反射する表示素子46R、表示素子46G、表示素子46Bを駆動して画像を表示する動作モードの例を示している。図39(A)に示すように、画素ユニット45は、例えば外光の照度が十分に高い場合などでは、画素47を駆動させずに、画素46からの光(光R1、光G1、及び光B1)のみを混色させることにより、所定の色の光54を表示面側に射出することもできる。これにより、極めて低消費電力な駆動を行うことができる。
[First mode]
FIG. 39A shows an example of an operation mode in which the
[第2のモード]
図39(B)は、表示素子47R、表示素子47G、表示素子47Bを駆動して画像を表示する動作モードの例を示している。図39(B)に示すように、画素ユニット45は、例えば外光の照度が極めて小さい場合などでは、画素46を駆動させずに、画素47からの光(光R2、光G2、及び光B2)のみを混色させることにより、所定の色の光54を表示面側に射出することもできる。これにより鮮やかな表示を行うことができる。また外光の照度が小さい場合に輝度を低くすることで、使用者が感じる眩しさを抑えると共に消費電力を低減できる。
[Second mode]
FIG. 39B shows an example of an operation mode in which the
[第3のモード]
図39(C)は、外光を反射する表示素子46R、表示素子46G、表示素子46Bと、光を発する表示素子47R、表示素子47G、表示素子47Bの両方を駆動して画像を表示する動作モードの例を示している。図39(C)に示すように、画素ユニット45は、光R1、光G1、光B1、光R2、光G2、及び光B2の6つの光を混色させることにより、所定の色の光54を表示面側に射出することができる。
[Third mode]
FIG. 39C shows an operation of driving both the
<表示装置の動作モード>
次に、第1の表示素子及び第2の表示素子で行うことができる動作モードについて、図40を用いて説明を行う。
<Display device operation mode>
Next, the operation modes that can be performed by the first display element and the second display element will be described with reference to FIG. 40.
なお、以下では、通常のフレーム周波数(代表的には60Hz以上240Hz以下)で動作する通常動作モード(Normal mode)と、低速のフレーム周波数で動作するアイドリング・ストップ(IDS)駆動モードと、を例示して説明する。 In the following, a normal mode (Normal mode) that operates at a normal frame frequency (typically 60 Hz or more and 240 Hz or less) and an idling stop (IDS) drive mode that operates at a low frame frequency are exemplified. I will explain.
なお、IDS駆動モードとは、画像データの書き込み処理を実行した後、画像データの書き換えを停止する駆動方法のことをいう。一旦画像データの書き込みをして、その後、次の画像データの書き込みまでの間隔を延ばすことで、その間の画像データの書き込みに要する分の消費電力を削減することができる。IDS駆動モードは、例えば、通常動作モードの1/100乃至1/10程度のフレーム周波数とすることができる。静止画は、連続するフレーム間でビデオ信号が同じである。よって、IDS駆動モードは、静止画を表示する場合に特に有効である。IDS駆動を用いて画像を表示させることで、消費電力が低減されるとともに、画面のちらつき(フリッカー)が抑制され、眼精疲労も低減できる。 The IDS drive mode refers to a drive method for stopping the rewriting of image data after executing the image data writing process. By writing the image data once and then extending the interval until the next image data is written, it is possible to reduce the power consumption required for writing the image data during that period. The IDS drive mode can be, for example, a frame frequency of about 1/100 to 1/10 of the normal operation mode. A still image has the same video signal between consecutive frames. Therefore, the IDS drive mode is particularly effective when displaying a still image. By displaying an image using IDS drive, power consumption can be reduced, screen flicker can be suppressed, and eye strain can be reduced.
図40(A1)、図40(A2)、図40(B)、図40(C)は、画素回路、及び、通常駆動モードとIDS駆動モードを説明するタイミングチャートである。なお、図40(A1)では、第1の表示素子501(ここでは反射型の液晶素子)と、第1の表示素子501に電気的に接続される画素回路506と、を示している。また、図40(A)に示す画素回路506では、信号線SLと、ゲート線GLと、信号線SL及びゲート線GLに接続されたトランジスタM1と、トランジスタM1に接続される容量素子CsLCとを示している。
40 (A1), 40 (A2), 40 (B), and 40 (C) are pixel circuits and timing charts for explaining a normal drive mode and an IDS drive mode. Note that FIG. 40 (A1) shows a first display element 501 (here, a reflective liquid crystal element) and a
また、図40(A2)では、第2の表示素子502(発光素子、例えばEL素子)と、第2の表示素子502に電気的に接続される画素回路507と、を示している。また、図40(A2)に示す画素回路507では、信号線SLと、ゲート線GLと、信号線SL及びゲート線GLに接続されたトランジスタM1と、トランジスタM1及び第2の表示素子502に接続されたトランジスタM2と、トランジスタM1、トランジスタM2、及び第2の表示素子502接続される容量素子CsELと、を示している。
Further, FIG. 40 (A2) shows a second display element 502 (light emitting element, for example, an EL element) and a
トランジスタM1は、データD1のリークパスと成り得る。よって、トランジスタM1のオフ電流は小さいほど好ましい。トランジスタM1としては、チャネルが形成される半導体層に金属酸化物を有するトランジスタを用いることが好ましい。金属酸化物が増幅作用、整流作用、及びスイッチング作用の少なくとも1つを有する場合、当該金属酸化物を、金属酸化物半導体(metal oxide semiconductor)または酸化物半導体(oxide semiconductor)、略してOSと呼ぶことができる。以下、トランジスタの代表例として、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を用いたトランジスタ(「OSトランジスタ」ともいう。)を用いて説明する。OSトランジスタは、多結晶シリコンなどを用いたトランジスタよりも非導通状態時のリーク電流(オフ電流)が極めて低い特徴を有する。トランジスタM1にOSトランジスタを用いることでノードND1に供給された電荷を長期間保持することができる。 Transistor M1 may become a leak path data D 1. Therefore, the smaller the off current of the transistor M1, the more preferable it is. As the transistor M1, it is preferable to use a transistor having a metal oxide in the semiconductor layer on which the channel is formed. When a metal oxide has at least one of an amplification action, a rectifying action, and a switching action, the metal oxide is referred to as a metal oxide semiconductor or an oxide semiconductor, or OS for short. be able to. Hereinafter, as a typical example of the transistor, a transistor using an oxide semiconductor in the semiconductor layer on which the channel is formed (also referred to as an “OS transistor”) will be described. The OS transistor has a feature that the leakage current (off current) in the non-conducting state is extremely lower than that of the transistor using polycrystalline silicon or the like. By using an OS transistor for the transistor M1, the electric charge supplied to the node ND1 can be retained for a long period of time.
特に、第2の表示素子502として用いるEL素子は、液晶素子と比較して応答速度が速く、ノードND1の電圧変動に敏感である。よって、画素回路507のトランジスタM1にOSトランジスタを用いることで、ノードND1の電荷の変動を原因とするフリッカーを低減することが可能であり、好ましい。なお、第3の表示モードで一部の第2の表示素子502をIDS駆動する際に、当該効果が顕著である。
In particular, the EL element used as the
また、トランジスタM2に用いるトランジスタも、オフ電流が小さいほど好ましい。トランジスタM2にオフ電流が小さいトランジスタを用いることで、黒表示時にわずかに発光してしまう現象(「黒浮き」ともいう。)を低減することができる。よって、画素回路507のトランジスタM2にOSトランジスタを用いることが好ましい。
Further, the transistor used for the transistor M2 is also preferably as small as the off current. By using a transistor having a small off-current for the transistor M2, it is possible to reduce a phenomenon (also referred to as "black floating") in which a slight amount of light is emitted when displaying black. Therefore, it is preferable to use an OS transistor for the transistor M2 of the
なお、図40(A1)に示す回路図において、液晶素子LCはデータD1のリークパスとなる。したがって、適切にIDS駆動を行うには、液晶素子LCの抵抗率を1.0×1014Ω・cm以上とすることが好ましい。 In the circuit diagram shown in FIG. 40 (A1), the liquid crystal element LC serves as a leak path for the data D 1. Therefore, in order to properly drive the IDS, it is preferable that the resistivity of the liquid crystal element LC is 1.0 × 10 14 Ω · cm or more.
なお、上記OSトランジスタのチャネル領域には、例えば、In−Ga−Zn酸化物、In−Zn酸化物などを好適に用いることができる。また、上記In−Ga−Zn酸化物としては、代表的には、In:Ga:Zn=4:2:4.1[原子数比]近傍の組成を用いることができる。 For example, In-Ga-Zn oxide, In-Zn oxide, or the like can be preferably used in the channel region of the OS transistor. Further, as the In-Ga-Zn oxide, a composition in the vicinity of In: Ga: Zn = 4: 2: 4.1 [atomic number ratio] can be typically used.
図40(B)は、通常駆動モードでの信号線SL及びゲート線GLにそれぞれ与える信号の波形を示すタイミングチャートである。通常駆動モードでは通常のフレーム周波数(例えば60Hz)で動作する。1フレーム期間を期間T1からT3までで表すと、各フレーム期間でゲート線GLに走査信号を与え、信号線SLからデータD1をノードND1に書き込む動作を行う。この動作は、期間T1からT3までで同じデータD1を書き込む場合、または異なるデータを書き込む場合でも同じである。 FIG. 40B is a timing chart showing waveforms of signals given to the signal line SL and the gate line GL in the normal drive mode, respectively. In the normal drive mode, it operates at a normal frame frequency (for example, 60 Hz). When the one-frame period is represented by the periods T 1 to T 3 , a scanning signal is given to the gate line GL in each frame period, and the operation of writing the data D 1 from the signal line SL to the node ND 1 is performed. This operation is the same even when the same data D 1 is written in the periods T 1 to T 3 or when different data are written.
一方、図40(C)は、IDS駆動モードでの信号線SL及びゲート線GLに、それぞれ与える信号の波形を示すタイミングチャートである。IDS駆動では低速のフレーム周波数(例えば1Hz)で動作する。1フレーム期間を期間T1で表し、その中でデータの書き込み期間を期間TW、データの保持期間を期間TRETで表す。IDS駆動モードは、期間TWでゲート線GLに走査信号を与え、信号線SLのデータD1を書き込み、期間TRETでゲート線GLをローレベルの電圧に固定し、トランジスタM1を非導通状態として一旦書き込んだデータD1を保持させる動作を行う。なお、低速のフレーム周波数としては、例えば、0.1Hz以上60Hz未満とすればよい。 On the other hand, FIG. 40C is a timing chart showing waveforms of signals given to the signal line SL and the gate line GL in the IDS drive mode. The IDS drive operates at a low frame frequency (for example, 1 Hz). Represents one frame period in the period T 1, representing the period T W a write period of data therein, the data retention period in the period T RET. IDS drive mode gives a scanning signal to the gate line GL in a period T W, write data D 1 of the signal line SL, and a gate line GL is fixed to the low level of the voltage in the period T RET, nonconductive transistor M1 The operation of holding the data D 1 once written as is performed. The low-speed frame frequency may be, for example, 0.1 Hz or more and less than 60 Hz.
IDS駆動モードは、上述した第1のモード、第2のモード、または第3のモードと組み合わせることで、さらなる低消費電力化を図ることができるため有効である。 The IDS drive mode is effective because the power consumption can be further reduced by combining with the above-mentioned first mode, second mode, or third mode.
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be appropriately combined with other embodiments.
(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置の、より具体的な構成例について図41〜図43を用いて説明する。
(Embodiment 3)
In the present embodiment, a more specific configuration example of the display device of one aspect of the present invention will be described with reference to FIGS. 41 to 43.
図41(A)は、表示装置400のブロック図である。表示装置400は、表示部362、回路GD、及び回路SDを有する。表示部362は、マトリクス状に配列した複数の画素410を有する。
FIG. 41 (A) is a block diagram of the
表示装置400は、複数の配線G11、複数の配線G12、複数の配線ANO、複数の配線CSCOM、複数の配線S1、及び複数の配線S2を有する。複数の配線G11、複数の配線G12、複数の配線ANO、及び複数の配線CSCOMは、それぞれ、矢印Rで示す方向に配列した複数の画素410及び回路GDと電気的に接続する。複数の配線S1及び複数の配線S2は、それぞれ、矢印Cで示す方向に配列した複数の画素410及び回路SDと電気的に接続する。
The
なお、ここでは簡単のために回路GDと回路SDを1つずつ有する構成を示したが、液晶素子を駆動する回路GD及び回路SDと、発光素子を駆動する回路GD及び回路SDとを、別々に設けてもよい。 Although the configuration having one circuit GD and one circuit SD is shown here for the sake of simplicity, the circuit GD and the circuit SD for driving the liquid crystal element and the circuit GD and the circuit SD for driving the light emitting element are separated. It may be provided in.
画素410は、反射型の液晶素子と、発光素子を有する。
The
図41(B1)〜(B4)に、画素410が有する電極311の構成例を示す。電極311は、液晶素子の反射電極として機能する。図41(B1)、(B2)の電極311には、開口451が設けられている。
41 (B1) to (B4) show a configuration example of the
図41(B1)、(B2)には、電極311と重なる領域に位置する発光素子360を破線で示している。発光素子360は、電極311が有する開口451と重ねて配置されている。これにより、発光素子360が発する光は、開口451を介して表示面側に射出される。
In FIGS. 41 (B1) and 41 (B2), the
図41(B1)では、矢印Rで示す方向に隣接する画素410が異なる色に対応する画素である。このとき、図41(B1)に示すように、矢印Rで示す方向に隣接する2つの画素において、開口451が一列に配列されないように、電極311の異なる位置に設けられていることが好ましい。これにより、2つの発光素子360を離すことが可能で、発光素子360が発する光が隣接する画素410が有する着色層に入射してしまう現象(クロストークともいう)を抑制することができる。また、隣接する2つの発光素子360を離して配置することができるため、発光素子360のEL層をシャドウマスク等により作り分ける場合であっても、高い精細度の表示装置を実現できる。
In FIG. 41 (B1),
図41(B2)では、矢印Cで示す方向に隣接する画素410が異なる色に対応する画素である。図41(B2)においても同様に、矢印Cで示す方向に隣接する2つの画素において、開口451が一列に配列されないように、電極311の異なる位置に設けられていることが好ましい。
In FIG. 41 (B2),
非開口部の総面積に対する開口451の総面積の比の値が小さいほど、液晶素子を用いた表示を明るくすることができる。また、非開口部の総面積に対する開口451の総面積の比の値が大きいほど、発光素子360を用いた表示を明るくすることができる。
The smaller the value of the ratio of the total area of the
開口451の形状は、例えば多角形、四角形、楕円形、円形または十字等の形状とすることができる。また、細長い筋状、スリット状、市松模様状の形状としてもよい。また、開口451を隣接する画素に寄せて配置してもよい。好ましくは、開口451を同じ色を表示する他の画素に寄せて配置する。これにより、クロストークを抑制できる。
The shape of the
また、図41(B3)、(B4)に示すように、電極311が設けられていない部分に、発光素子360の発光領域が位置していてもよい。これにより、発光素子360が発する光は、表示面側に射出される。
Further, as shown in FIGS. 41 (B3) and 41 (B4), the light emitting region of the
図41(B3)では、矢印Rで示す方向に隣接する2つの画素410において、発光素子360が一列に配列されていない。図41(B4)では、矢印Rで示す方向に隣接する2つの画素において、発光素子360が一列に配列されている。
In FIG. 41 (B3), the
図41(B3)の構成は、隣接する2つの画素410が有する発光素子360どうしを離すことができるため、上述の通り、クロストークの抑制、及び、高精細化が可能となる。また、図41(B4)の構成では、発光素子360の矢印Cに平行な辺側に、電極311が位置しないため、発光素子360の光が電極311に遮られることを抑制でき、高い視野角特性を実現できる。
In the configuration of FIG. 41 (B3), since the
回路GDには、シフトレジスタ等の様々な順序回路等を用いることができる。回路GDには、トランジスタ及び容量素子等を用いることができる。回路GDが有するトランジスタは、画素410に含まれるトランジスタと同じ工程で形成することができる。
Various sequential circuits such as shift registers can be used for the circuit GD. Transistors, capacitive elements, and the like can be used in the circuit GD. The transistor included in the circuit GD can be formed in the same process as the transistor included in the
回路SDは、配線S1と電気的に接続される。回路SDには、例えば、集積回路を用いることができる。具体的には、回路SDには、シリコン基板上に形成された集積回路を用いることができる。 The circuit SD is electrically connected to the wiring S1. For the circuit SD, for example, an integrated circuit can be used. Specifically, an integrated circuit formed on a silicon substrate can be used for the circuit SD.
例えば、COG方式またはCOF方式等を用いて、画素410と電気的に接続されるパッドに回路SDを実装することができる。具体的には、異方性導電膜を用いて、パッドに集積回路を実装できる。
For example, the circuit SD can be mounted on a pad electrically connected to the
図42は、画素410の回路図の一例である。図42では、隣接する2つの画素410を示している。
FIG. 42 is an example of a circuit diagram of the
画素410は、スイッチSW1、容量素子C1、液晶素子340、スイッチSW2、トランジスタM、容量素子C2、及び発光素子360等を有する。また、画素410には、配線G11、配線G12、配線ANO、配線CSCOM、配線S1、及び配線S2が電気的に接続されている。また、図42では、液晶素子340と電気的に接続する配線VCOM1、及び発光素子360と電気的に接続する配線VCOM2を示している。
The
図42では、スイッチSW1及びスイッチSW2にトランジスタを用いた場合の例を示している。 FIG. 42 shows an example in which a transistor is used for the switch SW1 and the switch SW2.
スイッチSW1のゲートは、配線G11と接続されている。スイッチSW1のソース及びドレインのうち一方は、配線S1と接続され、他方は、容量素子C1の一方の電極、及び液晶素子340の一方の電極と接続されている。容量素子C1の他方の電極は、配線CSCOMと接続されている。液晶素子340の他方の電極が配線VCOM1と接続されている。
The gate of the switch SW1 is connected to the wiring G11. One of the source and drain of the switch SW1 is connected to the wiring S1, and the other is connected to one electrode of the capacitance element C1 and one electrode of the
スイッチSW2のゲートは、配線G12と接続されている。スイッチSW2のソース及びドレインのうち一方は、配線S2と接続され、他方は、容量素子C2の一方の電極、及びトランジスタMのゲートと接続されている。容量素子C2の他方の電極は、トランジスタMのソースまたはドレインの一方、及び配線ANOと接続されている。トランジスタMのソースまたはドレインの他方は、発光素子360の一方の電極と接続されている。発光素子360の他方の電極は、配線VCOM2と接続されている。
The gate of the switch SW2 is connected to the wiring G12. One of the source and drain of the switch SW2 is connected to the wiring S2, and the other is connected to one electrode of the capacitive element C2 and the gate of the transistor M. The other electrode of the capacitive element C2 is connected to one of the source or drain of the transistor M and the wiring ANO. The other of the source or drain of the transistor M is connected to one electrode of the
図42では、トランジスタMが半導体を挟む2つのゲートを有し、これらが接続されている例を示している。これにより、トランジスタMが流すことのできる電流を増大させることができる。 FIG. 42 shows an example in which the transistor M has two gates sandwiching the semiconductor and these are connected to each other. As a result, the current that can be passed through the transistor M can be increased.
配線G11には、スイッチSW1を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM1には、所定の電位を与えることができる。配線S1には、液晶素子340が有する液晶の配向状態を制御する信号を与えることができる。配線CSCOMには、所定の電位を与えることができる。
A signal for controlling the switch SW1 to a conductive state or a non-conducting state can be given to the wiring G11. A predetermined potential can be applied to the wiring VCOM1. A signal for controlling the orientation state of the liquid crystal of the
配線G12には、スイッチSW2を導通状態または非導通状態に制御する信号を与えることができる。配線VCOM2及び配線ANOには、発光素子360が発光する電位差が生じる電位をそれぞれ与えることができる。配線S2には、トランジスタMの導通状態を制御する信号を与えることができる。
A signal for controlling the switch SW2 in a conductive state or a non-conducting state can be given to the wiring G12. The wiring VCOM2 and the wiring ANO can be given potentials that cause a potential difference in which the
図42に示す画素410は、例えば反射モードの表示を行う場合には、配線G11及び配線S1に与える信号により駆動し、液晶素子340による光学変調を利用して表示することができる。また、透過モードで表示を行う場合には、配線G12及び配線S2に与える信号により駆動し、発光素子360を発光させて表示することができる。また両方のモードで駆動する場合には、配線G11、配線G12、配線S1及び配線S2のそれぞれに与える信号により駆動することができる。
For example, when displaying the reflection mode, the
なお、図42では一つの画素410に、一つの液晶素子340と一つの発光素子360とを有する例を示したが、これに限られない。図43(A)は、一つの画素410に一つの液晶素子340と4つの発光素子360(発光素子360r、360g、360b、360w)を有する例を示している。図43(A)に示す画素410は、図42とは異なり、1つの画素で発光素子を用いたフルカラーの表示が可能である。
Note that FIG. 42 shows an example in which one
図43(A)では図42の例に加えて、画素410に配線G13及び配線S3が接続されている。
In FIG. 43A, in addition to the example of FIG. 42, the wiring G13 and the wiring S3 are connected to the
図43(A)に示す例では、例えば4つの発光素子360に、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、青色(B)、及び白色(W)を呈する発光素子を用いることができる。また液晶素子340として、白色を呈する反射型の液晶素子を用いることができる。これにより、反射モードの表示を行う場合には、反射率の高い白色の表示を行うことができる。また透過モードで表示を行う場合には、演色性の高い表示を低い電力で行うことができる。
In the example shown in FIG. 43 (A), for example, for the four
図43(B)に、図43(A)に対応した画素410の構成例を示す。画素410は、電極311が有する開口部と重なる発光素子360wと、電極311の周囲に配置された発光素子360r、発光素子360g、及び発光素子360bとを有する。発光素子360r、発光素子360g、及び発光素子360bは、発光面積がほぼ同等であることが好ましい。
FIG. 43 (B) shows a configuration example of the
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be appropriately combined with other embodiments.
(実施の形態4)
本実施の形態では、タッチセンサの駆動方法の例について、図面を参照して説明する。
(Embodiment 4)
In the present embodiment, an example of a touch sensor driving method will be described with reference to the drawings.
<センサの検知方法の例>
図44(A)は、相互容量方式のタッチセンサの構成を示すブロック図である。図44(A)では、パルス電圧出力回路551、電流検出回路552を示している。なお図44(A)では、パルス電圧が与えられる電極521、電流の変化を検知する電極522をそれぞれ、X1−X6、Y1−Y6のそれぞれ6本の配線として示している。また図44(A)は、電極521及び電極522が重畳することで形成される容量553を図示している。なお、電極521と電極522とはその機能を互いに置き換えてもよい。
<Example of sensor detection method>
FIG. 44A is a block diagram showing a configuration of a mutual capacitance type touch sensor. FIG. 44A shows a pulse
パルス電圧出力回路551は、X1−X6の配線に順にパルス電圧を印加するための回路である。X1−X6の配線にパルス電圧が印加されることで、容量553を形成する電極521と電極522の間に電界が生じる。この電極間に生じる電界が遮蔽等により容量553の相互容量に変化を生じさせることを利用して、被検知体の近接または接触を検出することができる。
The pulse
電流検出回路552は、容量553での相互容量の変化による、Y1乃至Y6の配線での電流の変化を検出するための回路である。Y1乃至Y6の配線では、被検知体の近接または接触がないと検出される電流値に変化はないが、検出する被検知体の近接または接触により相互容量が減少する場合には電流値が減少する変化を検出する。なお電流の検出は、積分回路等を用いて行えばよい。
The
なお、パルス電圧出力回路551及び電流検出回路552の一方または両方を、図1等に示す基板351上または基板361上に形成してもよい。例えば、表示部362や回路364などと同時に形成すると、工程を簡略化できることに加え、タッチセンサの駆動に用いる部品数を削減することができるため好ましい。また、パルス電圧出力回路551及び電流検出回路552の一方または両方を、IC373に実装してもよい。
One or both of the pulse
特に、基板351に形成されるトランジスタとして、チャネルが形成される半導体層に多結晶シリコンや単結晶シリコンなどの結晶性シリコンを用いると、パルス電圧出力回路551や電流検出回路552等の回路の駆動能力が向上し、タッチセンサの感度を向上させることができる。
In particular, when crystalline silicon such as polycrystalline silicon or single crystal silicon is used for the semiconductor layer on which the channel is formed as the transistor formed on the
図44(B)には、図44(A)で示す相互容量方式のタッチセンサにおける入出力波形のタイミングチャートを示す。図44(B)では、1フレーム期間で各行列での被検知体の検出を行うものとする。また図44(B)では、被検知体を検出しない場合(非タッチ)と被検知体を検出する場合(タッチ)との2つの場合について示している。なおY1−Y6の配線については、検出される電流値に対応する電圧値とした波形を示している。 FIG. 44 (B) shows a timing chart of input / output waveforms in the mutual capacitance type touch sensor shown in FIG. 44 (A). In FIG. 44 (B), it is assumed that the detected object is detected in each matrix in one frame period. Further, FIG. 44B shows two cases, a case where the detected object is not detected (non-touch) and a case where the detected object is detected (touch). The Y1-Y6 wiring shows a waveform with a voltage value corresponding to the detected current value.
X1−X6の配線には、順にパルス電圧が与えられ、該パルス電圧にしたがってY1−Y6の配線での波形が変化する。被検知体の近接または接触がない場合には、X1−X6の配線の電圧の変化に応じてY1−Y6の波形が一様に変化する。一方、被検知体が近接または接触する箇所では、電流値が減少するため、これに対応する電圧値の波形も変化する。 A pulse voltage is sequentially applied to the wirings of X1-X6, and the waveform in the wirings of Y1-Y6 changes according to the pulse voltage. When there is no proximity or contact of the object to be detected, the waveform of Y1-Y6 changes uniformly according to the change of the voltage of the wiring of X1-X6. On the other hand, since the current value decreases at the location where the object to be detected is close to or in contact with the object to be detected, the corresponding voltage value waveform also changes.
このように、相互容量の変化を検出することにより、被検知体の近接または接触を検知することができる。 By detecting the change in mutual capacitance in this way, the proximity or contact of the object to be detected can be detected.
<表示装置の駆動方法例>
図45(A)は、表示装置の構成例を示すブロック図である。図45(A)ではゲート駆動回路GD(走査線駆動回路)、ソース駆動回路SD(信号線駆動回路)、複数の画素pixを有する表示部を示している。なお図45(A)では、ゲート駆動回路GDに電気的に接続されるゲート線x_1乃至x_m(mは自然数)、ソース駆動回路SDに電気的に接続されるソース線y_1乃至y_n(nは自然数)に対応して、画素pixではそれぞれに(1,1)乃至(n,m)の符号を付している。
<Example of driving method of display device>
FIG. 45A is a block diagram showing a configuration example of the display device. FIG. 45A shows a gate drive circuit GD (scanning line drive circuit), a source drive circuit SD (signal line drive circuit), and a display unit having a plurality of pixel pixes. In FIG. 45 (A), the gate lines x_1 to x_m (m are natural numbers) electrically connected to the gate drive circuit GD, and the source lines y_1 to y_n (n are natural numbers) electrically connected to the source drive circuit SD. ), Each of the pixels pix is designated with a reference numeral (1,1) to (n, m).
図45(B)は、図45(A)で示す表示装置におけるゲート線及びソース線に与える信号のタイミングチャート図である。図45(B)では、1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換える場合と、データ信号を書き換えない場合と、に分けて示している。なお図45(B)では、帰線期間等の期間を考慮していない。 FIG. 45 (B) is a timing chart diagram of signals given to the gate line and the source line in the display device shown in FIG. 45 (A). In FIG. 45B, the case where the data signal is rewritten for each frame period and the case where the data signal is not rewritten are shown separately. Note that FIG. 45 (B) does not consider a period such as a blanking interval.
1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換える場合、x_1乃至x_mのゲート線には、順に走査信号が与えられる。走査信号がHレベルの期間である水平走査期間1Hでは、各列のソース線y_1乃至y_nにデータ信号Dが与えられる。
When the data signal is rewritten every one frame period, scanning signals are sequentially given to the gate lines of x_1 to x_m. In the
1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換えない場合、ゲート線x_1乃至x_mに与える走査信号を停止する。また水平走査期間1Hでは、各列のソース線y_1乃至y_nに与えるデータ信号を停止する。
If the data signal is not rewritten every one frame period, the scanning signal given to the gate lines x_1 to x_m is stopped. Further, in the
1フレーム期間ごとにデータ信号を書き換えない駆動方法は、特に、画素pixが有するトランジスタとしてチャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を適用する場合に有効である。酸化物半導体が適用されたトランジスタはシリコン等の半導体が適用されたトランジスタに比べて極めてオフ電流を小さくすることが可能である。そのため、1フレーム期間ごとにデータ信号の書き換えを行わずに前の期間に書き込んだデータ信号を保持させることができ、例えば1秒以上、好ましくは5秒以上に亘って画素の階調を保持することもできる。 The driving method in which the data signal is not rewritten every one frame period is particularly effective when the oxide semiconductor is applied to the semiconductor layer in which the channel is formed as the transistor of the pixel pix. Transistors to which oxide semiconductors are applied can have an extremely small off-current as compared to transistors to which semiconductors such as silicon are applied. Therefore, the data signal written in the previous period can be retained without rewriting the data signal every frame period, and the pixel gradation is maintained for, for example, 1 second or longer, preferably 5 seconds or longer. You can also do it.
また、画素pixが有するトランジスタとしてチャネルが形成される半導体層に多結晶シリコンなどを適用する場合には、画素が有する保持容量の大きさをあらかじめ大きくしておくことが好ましい。保持容量が大きいほど、画素の階調を長時間に亘って保持することができる。保持容量の大きさは、保持容量に電気的に接続するトランジスタや表示素子のリーク電流に応じて設定すればよいが、例えば、1画素あたりの保持容量を5fF以上5pF以下、好ましくは10fF以上5pF以下、より好ましくは20fF以上1pF以下とすると、1フレーム期間ごとにデータ信号の書き換えを行わずに前の期間に書き込んだデータ信号を保持させることができ、例えば数フレームまたは数10フレームの期間に亘って画素の階調を保持することが可能となる。 Further, when polycrystalline silicon or the like is applied to the semiconductor layer in which the channel is formed as the transistor of the pixel pix, it is preferable to increase the size of the holding capacity of the pixel in advance. The larger the holding capacity, the longer the pixel gradation can be held. The size of the holding capacity may be set according to the leakage current of the transistor or display element electrically connected to the holding capacity. For example, the holding capacity per pixel is 5 fF or more and 5 pF or less, preferably 10 fF or more and 5 pF. Hereinafter, more preferably, when it is set to 20 fF or more and 1 pF or less, the data signal written in the previous period can be retained without rewriting the data signal every frame period, for example, in a period of several frames or several tens of frames. It is possible to maintain the gradation of the pixels throughout.
<表示部とタッチセンサの駆動方法の例>
図46(A)乃至(D)は、一例として図44(A)、(B)で説明したタッチセンサと、図45(A)、(B)で説明した表示部を1sec.(1秒間)駆動する場合に、連続するフレーム期間の動作について説明する図である。なお図46(A)では、表示部の1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)、タッチセンサの1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)とした場合について示している。
<Example of how to drive the display and touch sensor>
46 (A) to (D) show, as an example, the touch sensor described in FIGS. 44 (A) and 44 (B) and the display unit described in FIGS. 45 (A) and 45 (B) for 1 sec. It is a figure explaining the operation of the continuous frame period when it is driven (1 second). Note that FIG. 46 (A) shows a case where one frame period of the display unit is 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz) and one frame period of the touch sensor is 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz).
本発明の一態様の表示装置は、表示部の動作とタッチセンサの動作は互いに独立しており、表示期間と平行してタッチ検知期間を設けることができる。そのため図46(A)に示すように、表示部及びタッチセンサの1フレーム期間を共に16.7ms(フレーム周波数:60Hz)と設定することができる。また、タッチセンサと表示部のフレーム周波数を異ならせてもよい。例えば図46(B)に示すように、表示部の1フレーム期間を8.3ms(フレーム周波数:120Hz)と設定し、タッチセンサの1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)とすることもできる。また、図示しないが、表示部のフレーム周波数を33.3ms(フレーム周波数:30Hz)としてもよい。 In the display device of one aspect of the present invention, the operation of the display unit and the operation of the touch sensor are independent of each other, and a touch detection period can be provided in parallel with the display period. Therefore, as shown in FIG. 46 (A), the one frame period of the display unit and the touch sensor can both be set to 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz). Further, the frame frequencies of the touch sensor and the display unit may be different. For example, as shown in FIG. 46 (B), one frame period of the display unit is set to 8.3 ms (frame frequency: 120 Hz), and one frame period of the touch sensor is set to 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz). You can also. Further, although not shown, the frame frequency of the display unit may be 33.3 ms (frame frequency: 30 Hz).
また表示部のフレーム周波数を切り替え可能な構成とし、動画像の表示の際にはフレーム周波数を大きく(例えば60Hz以上または120Hz以上)し、静止画像の表示の際にはフレーム周波数を小さく(例えば60Hz以下、30Hz以下、または1Hz以下)することで、表示装置の消費電力を低減することができる。またタッチセンサのフレーム周波数を切り替え可能な構成とし、待機時と、タッチを感知した時とでフレーム周波数を異ならせてもよい。 In addition, the frame frequency of the display unit can be switched, the frame frequency is increased (for example, 60 Hz or more or 120 Hz or more) when displaying a moving image, and the frame frequency is decreased (for example, 60 Hz) when displaying a still image. Hereinafter, the power consumption of the display device can be reduced by setting the frequency to 30 Hz or less, or 1 Hz or less). Further, the frame frequency of the touch sensor may be switched, and the frame frequency may be different between the standby state and the time when the touch is detected.
また本発明の一態様の表示装置は、表示部におけるデータ信号の書き換えを行わずに、前の期間に書き換えたデータ信号を保持することで、表示部の1フレーム期間を16.7msよりも長い期間とすることができる。そのため、図46(C)に示すように、表示部の1フレーム期間を1sec.(フレーム周波数:1Hz)と設定し、タッチセンサの1フレーム期間を16.7ms(フレーム周波数:60Hz)とすることもできる。 Further, in the display device of one aspect of the present invention, one frame period of the display unit is longer than 16.7 ms by holding the data signal rewritten in the previous period without rewriting the data signal in the display unit. It can be a period. Therefore, as shown in FIG. 46 (C), one frame period of the display unit is set to 1 sec. (Frame frequency: 1 Hz) can be set, and one frame period of the touch sensor can be set to 16.7 ms (frame frequency: 60 Hz).
なお、表示部におけるデータ信号の書き換えを行わずに、前の期間に書き換えたデータ信号を保持する構成については、先に説明のIDS駆動モードを参照することができる。なお、IDS駆動モードについては、表示部におけるデータ信号の書き換えを特定の領域だけ行う、部分IDS駆動モードとしてもよい。部分IDS駆動モードとは、表示部におけるデータ信号の書き換えを特定の領域だけ行い、それ以外の領域においては、前の期間に書き換えたデータ信号を保持する構成である。 For the configuration of holding the data signal rewritten in the previous period without rewriting the data signal in the display unit, the IDS drive mode described above can be referred to. The IDS drive mode may be a partial IDS drive mode in which the data signal in the display unit is rewritten only in a specific area. The partial IDS drive mode is a configuration in which the data signal in the display unit is rewritten only in a specific area, and the data signal rewritten in the previous period is held in the other areas.
また、本実施の形態に開示するタッチセンサの駆動方法によれば、図46(C)に示す駆動を行う場合、継続してタッチセンサの駆動を行うことができる。そのため、図46(D)に示すようにタッチセンサにおける被検知体の近接または接触を検知したタイミングで、表示部のデータ信号を書き換えることもできる。 Further, according to the touch sensor driving method disclosed in the present embodiment, when the driving shown in FIG. 46C is performed, the touch sensor can be continuously driven. Therefore, as shown in FIG. 46 (D), the data signal of the display unit can be rewritten at the timing when the touch sensor detects the proximity or contact of the object to be detected.
ここで、タッチセンサのセンシング期間に表示部のデータ信号の書き換え動作を行うと、データ信号の書き換え時に生じるノイズがタッチセンサに伝わることで、タッチセンサの感度を低下させてしまう恐れがある。したがって、表示部のデータ信号の書き換え期間と、タッチセンサのセンシング期間とをずらすように駆動することが好ましい。 Here, if the data signal of the display unit is rewritten during the sensing period of the touch sensor, the noise generated when the data signal is rewritten is transmitted to the touch sensor, which may reduce the sensitivity of the touch sensor. Therefore, it is preferable to drive the data signal of the display unit so as to stagger the rewriting period and the sensing period of the touch sensor.
図47(A)では、表示部のデータ信号の書き換えと、タッチセンサのセンシングとを交互に行う例を示している。また、図47(B)では、表示部のデータ信号の書き換え動作を2回行うごとに、タッチセンサのセンシングを1回行う例を示している。なお、これに限られず3回以上の書き換え動作を行うごとにタッチセンサのセンシングを1回行う構成としてもよい。 FIG. 47A shows an example in which the data signal of the display unit is rewritten and the touch sensor is sensed alternately. Further, FIG. 47B shows an example in which the touch sensor is sensed once every time the data signal rewriting operation of the display unit is performed twice. Not limited to this, the touch sensor may be sensed once every time the rewriting operation is performed three or more times.
また、画素pixに適用されるトランジスタに、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を用いる場合、オフ電流を極めて低減することが可能なため、データ信号の書き換えの頻度を十分に低減することができる。具体的には、データ信号の書き換えを行った後、次にデータ信号を書き換えるまでの間に、十分に長い休止期間を設けることが可能となる。休止期間は、例えば0.5秒以上、1秒以上、または5秒以上とすることができる。休止期間の上限は、トランジスタに接続される容量や表示素子等のリーク電流によって制限されるが、例えば1分以下、10分以下、1時間以下、または1日以下などとすることができる。 Further, when an oxide semiconductor is used for the semiconductor layer in which the channel is formed for the transistor applied to the pixel pix, the off-current can be extremely reduced, so that the frequency of data signal rewriting should be sufficiently reduced. Can be done. Specifically, it is possible to provide a sufficiently long pause period between the time when the data signal is rewritten and the time when the data signal is rewritten next time. The rest period can be, for example, 0.5 seconds or longer, 1 second or longer, or 5 seconds or longer. The upper limit of the pause period is limited by the capacitance connected to the transistor and the leak current of the display element or the like, but can be, for example, 1 minute or less, 10 minutes or less, 1 hour or less, or 1 day or less.
図47(C)では、5秒間に1度の頻度で表示部のデータ信号の書き換えを行う例を示している。図47(C)では、表示部はデータ信号を書き換えたのち、次のデータ信号の書き換え動作までの期間は、書き換え動作を停止する休止期間が設けられている。休止期間では、タッチセンサがフレーム周波数iHz(iは表示装置のフレーム周波数以上、ここでは0.2Hz以上)で駆動することができる。また図47(C)に示すように、タッチセンサのセンシングを休止期間に行い、表示部のデータ信号の書き換え期間には行わないようにすると、タッチセンサの感度を向上させることができ好ましい。また、図47(D)に示すように、表示部のデータ信号の書き換えとタッチセンサのセンシングを同時に行うと、駆動のための信号を簡略化することができる。 FIG. 47C shows an example in which the data signal of the display unit is rewritten once every 5 seconds. In FIG. 47C, the display unit is provided with a pause period for stopping the rewriting operation during the period from the rewriting of the data signal to the next rewriting operation of the data signal. During the pause period, the touch sensor can be driven at a frame frequency of iHz (i is equal to or higher than the frame frequency of the display device, here 0.2 Hz or higher). Further, as shown in FIG. 47 (C), it is preferable to perform the sensing of the touch sensor during the pause period and not during the rewriting period of the data signal of the display unit, because the sensitivity of the touch sensor can be improved. Further, as shown in FIG. 47 (D), if the data signal of the display unit is rewritten and the touch sensor is sensed at the same time, the signal for driving can be simplified.
また、表示部のデータ信号の書き換え動作を行わない休止期間では、表示部へのデータ信号の供給を停止するだけでなく、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方の動作を停止してもよい。さらに、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方への電力供給を停止してもよい。このようにすることで、ノイズをより低減し、タッチセンサの感度をさらに良好なものとすることができる。また、表示装置の消費電力をさらに低減することができる。 Further, in the pause period in which the data signal rewriting operation of the display unit is not performed, not only the supply of the data signal to the display unit is stopped, but also the operation of one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD is stopped. You may. Further, the power supply to one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD may be stopped. By doing so, noise can be further reduced and the sensitivity of the touch sensor can be further improved. In addition, the power consumption of the display device can be further reduced.
また、表示装置として、先に説明のハイブリッドディスプレイを用いる場合、上述のIDS駆動モード、または部分IDS駆動モードと、上述のタッチセンサの駆動方法と、を組み合わせることができる。また、ハイブリッドディスプレイを用いる場合、複数の表示素子は、それぞれ独立してIDS駆動モードまたは部分IDS駆動モードを行うことができる。ハイブリッドディスプレイを用いる場合、以下のような駆動方法を実現できる。 Further, when the hybrid display described above is used as the display device, the above-mentioned IDS drive mode or partial IDS drive mode and the above-mentioned touch sensor drive method can be combined. Further, when a hybrid display is used, the plurality of display elements can independently perform the IDS drive mode or the partial IDS drive mode. When a hybrid display is used, the following driving methods can be realized.
例えば、上記ハイブリッドディスプレイが反射型素子と、自発光素子とを有する場合、反射型素子にて白黒の画像を表示させる。その後、反射型素子をIDS駆動モードにし、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方への電力供給を停止する。その後、タッチセンサのセンシングを行い、当該センシングが行われていない領域の反射型素子を部分IDS駆動モードへと移行させる。その後、部分IDS駆動モードが行われていない領域の自発光素子を発光させる。その後、当該自発光素子を駆動させている、ゲート駆動回路GD及びソース駆動回路SDの一方または双方への電力供給を停止させて、自発光素子を部分IDS駆動モードへと移行する。 For example, when the hybrid display has a reflective element and a self-luminous element, the reflective element displays a black-and-white image. After that, the reflective element is put into the IDS drive mode, and the power supply to one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD is stopped. After that, the touch sensor is sensed, and the reflective element in the region where the sensing is not performed is shifted to the partial IDS drive mode. After that, the self-luminous element in the region where the partial IDS drive mode is not performed is made to emit light. After that, the power supply to one or both of the gate drive circuit GD and the source drive circuit SD driving the self-luminous element is stopped, and the self-luminous element shifts to the partial IDS drive mode.
上記のような駆動方法を行うことで、消費電力を低減させ、且つタッチセンサの検出感度が高められた優れた表示装置を実現することができる。 By performing the driving method as described above, it is possible to realize an excellent display device in which the power consumption is reduced and the detection sensitivity of the touch sensor is enhanced.
本発明の一態様の表示装置は、2つの基板で表示部とタッチセンサが挟持された構成を有する。よって、表示部とタッチセンサの距離を極めて近づけることができる。このとき、表示部の駆動時のノイズがタッチセンサに伝搬しやすくなり、タッチセンサの感度が低下してしまう恐れがある。本実施の形態で例示した駆動方法を適用することで、薄型化と高い検出感度を両立した、タッチセンサを有する表示装置を実現できる。 The display device of one aspect of the present invention has a configuration in which a display unit and a touch sensor are sandwiched between two substrates. Therefore, the distance between the display unit and the touch sensor can be made extremely close. At this time, the noise when the display unit is driven tends to propagate to the touch sensor, and the sensitivity of the touch sensor may decrease. By applying the drive method illustrated in the present embodiment, it is possible to realize a display device having a touch sensor that achieves both thinness and high detection sensitivity.
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be appropriately combined with other embodiments.
(実施の形態5)
本実施の形態では、本発明の一態様で開示されるトランジスタに用いることができる金属酸化物について説明する。以下では特に、金属酸化物とCAC(Cloud−Aligned Composite)の詳細について説明する。
(Embodiment 5)
In the present embodiment, the metal oxide that can be used for the transistor disclosed in one aspect of the present invention will be described. In particular, the details of metal oxides and CAC (Cloud-Aligned Composite) will be described below.
CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、材料の一部では導電性の機能と、材料の一部では絶縁性の機能とを有し、材料の全体では半導体としての機能を有する。なお、CAC−OSまたはCAC−metal oxideを、トランジスタのチャネル形成領域に用いる場合、導電性の機能は、キャリアとなる電子(またはホール)を流す機能であり、絶縁性の機能は、キャリアとなる電子を流さない機能である。導電性の機能と、絶縁性の機能とを、それぞれ相補的に作用させることで、スイッチングさせる機能(On/Offさせる機能)をCAC−OSまたはCAC−metal oxideに付与することができる。CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、それぞれの機能を分離させることで、双方の機能を最大限に高めることができる。 The CAC-OS or CAC-metal oxide has a conductive function in a part of the material and an insulating function in a part of the material, and has a function as a semiconductor in the whole material. When CAC-OS or CAC-metal oxide is used in the channel formation region of the transistor, the conductive function is the function of flowing electrons (or holes) that become carriers, and the insulating function is the carrier. It is a function that does not allow electrons to flow. By making the conductive function and the insulating function act in a complementary manner, a switching function (on / off function) can be imparted to the CAC-OS or CAC-metal oxide. In CAC-OS or CAC-metal oxide, by separating each function, both functions can be maximized.
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、導電性領域、及び絶縁性領域を有する。導電性領域は、上述の導電性の機能を有し、絶縁性領域は、上述の絶縁性の機能を有する。また、材料中において、導電性領域と、絶縁性領域とは、ナノ粒子レベルで分離している場合がある。また、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ材料中に偏在する場合がある。また、導電性領域は、周辺がぼけてクラウド状に連結して観察される場合がある。 Further, CAC-OS or CAC-metal oxide has a conductive region and an insulating region. The conductive region has the above-mentioned conductive function, and the insulating region has the above-mentioned insulating function. Further, in the material, the conductive region and the insulating region may be separated at the nanoparticle level. Further, the conductive region and the insulating region may be unevenly distributed in the material. In addition, the conductive region may be observed with the periphery blurred and connected in a cloud shape.
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideにおいて、導電性領域と、絶縁性領域とは、それぞれ0.5nm以上10nm以下、好ましくは0.5nm以上3nm以下のサイズで材料中に分散している場合がある。 Further, in CAC-OS or CAC-metal oxide, when the conductive region and the insulating region are dispersed in the material in a size of 0.5 nm or more and 10 nm or less, preferably 0.5 nm or more and 3 nm or less, respectively. There is.
また、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、異なるバンドギャップを有する成分により構成される。例えば、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、絶縁性領域に起因するワイドギャップを有する成分と、導電性領域に起因するナローギャップを有する成分と、により構成される。当該構成の場合、キャリアを流す際に、ナローギャップを有する成分において、主にキャリアが流れる。また、ナローギャップを有する成分が、ワイドギャップを有する成分に相補的に作用し、ナローギャップを有する成分に連動してワイドギャップを有する成分にもキャリアが流れる。このため、上記CAC−OSまたはCAC−metal oxideをトランジスタのチャネル形成領域に用いる場合、トランジスタのオン状態において高い電流駆動力、つまり大きなオン電流、及び高い電界効果移動度を得ることができる。 Further, CAC-OS or CAC-metal oxide is composed of components having different band gaps. For example, CAC-OS or CAC-metal oxide is composed of a component having a wide gap due to an insulating region and a component having a narrow gap due to a conductive region. In the case of this configuration, when the carriers flow, the carriers mainly flow in the components having a narrow gap. Further, the component having a narrow gap acts complementarily to the component having a wide gap, and the carrier flows to the component having a wide gap in conjunction with the component having a narrow gap. Therefore, when the CAC-OS or CAC-metal oxide is used in the channel formation region of the transistor, a high current driving force, that is, a large on-current and a high field effect mobility can be obtained in the on-state of the transistor.
すなわち、CAC−OSまたはCAC−metal oxideは、マトリックス複合材(matrix composite)または金属マトリックス複合材(metal matrix composite)と呼称することもできる。 That is, the CAC-OS or CAC-metal oxide can also be referred to as a matrix composite or a metal matrix composite.
CAC−OSは、例えば、金属酸化物を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、金属酸化物において、一つあるいはそれ以上の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上2nm以下またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状またはパッチ状ともいう。 CAC-OS is, for example, a composition of a material in which elements constituting a metal oxide are unevenly distributed in a size of 0.5 nm or more and 10 nm or less, preferably 1 nm or more and 2 nm or less or a size close thereto. In the following, in the metal oxide, one or more metal elements are unevenly distributed, and the region having the metal element has a size of 0.5 nm or more and 10 nm or less, preferably 1 nm or more and 2 nm or less or its vicinity. The mixed state is also called a mosaic shape or a patch shape.
なお、金属酸化物は、少なくともインジウムを含むことが好ましい。特にインジウム及び亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種または複数種が含まれていてもよい。 The metal oxide preferably contains at least indium. In particular, it preferably contains indium and zinc. Also, in addition to them, aluminum, gallium, yttrium, copper, vanadium, beryllium, boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lantern, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, or magnesium, etc. It may contain one or more species selected from.
例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OS(CAC−OSの中でもIn−Ga−Zn酸化物を、特にCAC−IGZOと呼称してもよい。)とは、インジウム酸化物(以下、InOX1(X1は0よりも大きい実数)とする。)、またはインジウム亜鉛酸化物(以下、InX2ZnY2OZ2(X2、Y2、及びZ2は0よりも大きい実数)とする。)と、ガリウム酸化物(以下、GaOX3(X3は0よりも大きい実数)とする。)、またはガリウム亜鉛酸化物(以下、GaX4ZnY4OZ4(X4、Y4、及びZ4は0よりも大きい実数)とする。)などと、に材料が分離することでモザイク状となり、モザイク状のInOX1、またはInX2ZnY2OZ2が、膜中に均一に分布した構成(以下、クラウド状ともいう。)である。 For example, CAC-OS in In-Ga-Zn oxide (In-Ga-Zn oxide may be particularly referred to as CAC-IGZO in CAC-OS) is indium oxide (hereinafter, InO). X1 (X1 is a real number larger than 0), or indium zinc oxide (hereinafter, In X2 Zn Y2 O Z2 (X2, Y2, and Z2 are real numbers larger than 0)) and gallium. With oxide (hereinafter, GaO X3 (X3 is a real number larger than 0)) or gallium zinc oxide (hereinafter, Ga X4 Zn Y4 O Z4 (X4, Y4, and Z4 are real numbers larger than 0)) The material is separated into a mosaic-like structure, and the mosaic-like InO X1 or In X2 Zn Y2 O Z2 is uniformly distributed in the film (hereinafter, also referred to as cloud-like). be.
つまり、CAC−OSは、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とが、混合している構成を有する複合金属酸化物である。なお、本明細書において、例えば、第1の領域の元素Mに対するInの原子数比が、第2の領域の元素Mに対するInの原子数比よりも大きいことを、第1の領域は、第2の領域と比較して、Inの濃度が高いとする。
That is, CAC-OS is a composite metal oxide having a structure in which a region containing GaO X3 as a main component and a region containing In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 as a main component are mixed. In the present specification, for example, the atomic number ratio of In to the element M in the first region is larger than the atomic number ratio of In to the element M in the second region. It is assumed that the concentration of In is higher than that of
なお、IGZOは通称であり、In、Ga、Zn、及びOによる1つの化合物をいう場合がある。代表例として、InGaO3(ZnO)m1(m1は自然数)、またはIn(1+x0)Ga(1−x0)O3(ZnO)m0(−1≦x0≦1、m0は任意数)で表される結晶性の化合物が挙げられる。 In addition, IGZO is a common name, and may refer to one compound consisting of In, Ga, Zn, and O. As a typical example, it is represented by InGaO 3 (ZnO) m1 (m1 is a natural number) or In (1 + x0) Ga (1-x0) O 3 (ZnO) m0 (-1 ≦ x0 ≦ 1, m0 is an arbitrary number). Crystalline compounds can be mentioned.
上記結晶性の化合物は、単結晶構造、多結晶構造、またはCAAC(c−axis aligned crystal)構造を有する。なお、CAAC構造とは、複数のIGZOのナノ結晶がc軸配向を有し、かつa−b面においては配向せずに連結した結晶構造である。 The crystalline compound has a single crystal structure, a polycrystalline structure, or a CAAC (c-axis aligned crystalline) structure. The CAAC structure is a crystal structure in which a plurality of IGZO nanocrystals have a c-axis orientation and are connected without being oriented on the ab plane.
一方、CAC−OSは、金属酸化物の材料構成に関する。CAC−OSとは、In、Ga、Zn、及びOを含む材料構成において、一部にGaを主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。従って、CAC−OSにおいて、結晶構造は副次的な要素である。 On the other hand, CAC-OS relates to the material composition of metal oxides. CAC-OS is a region that is partially observed as nanoparticles containing Ga as a main component and nanoparticles containing In as a main component in a material composition containing In, Ga, Zn, and O. The regions observed in a shape refer to a configuration in which the regions are randomly dispersed in a mosaic shape. Therefore, in CAC-OS, the crystal structure is a secondary element.
なお、CAC−OSは、組成の異なる二種類以上の膜の積層構造は含まないものとする。例えば、Inを主成分とする膜と、Gaを主成分とする膜との2層からなる構造は、含まない。 The CAC-OS does not include a laminated structure of two or more types of films having different compositions. For example, it does not include a structure consisting of two layers, a film containing In as a main component and a film containing Ga as a main component.
なお、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。 In some cases, a clear boundary cannot be observed between the region containing GaO X3 as the main component and the region containing In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 as the main component.
なお、ガリウムの代わりに、アルミニウム、イットリウム、銅、バナジウム、ベリリウム、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、またはマグネシウムなどから選ばれた一種、または複数種が含まれている場合、CAC−OSは、一部に該金属元素を主成分とするナノ粒子状に観察される領域と、一部にInを主成分とするナノ粒子状に観察される領域とが、それぞれモザイク状にランダムに分散している構成をいう。 Instead of gallium, select from aluminum, ittrium, copper, vanadium, beryllium, boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lanthanum, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, or magnesium. When one or more of these are contained, CAC-OS has a region observed in the form of nanoparticles containing the metal element as a main component and a nano having In as a main component. The regions observed in the form of particles refer to a configuration in which the regions are randomly dispersed in a mosaic pattern.
CAC−OSは、例えば基板を意図的に加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、CAC−OSをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス(代表的にはアルゴン)、酸素ガス、及び窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば酸素ガスの流量比を0%以上30%未満、好ましくは0%以上10%以下とすることが好ましい。 The CAC-OS can be formed by a sputtering method, for example, under the condition that the substrate is not intentionally heated. When CAC-OS is formed by the sputtering method, one or more selected from an inert gas (typically argon), an oxygen gas, and a nitrogen gas may be used as the film forming gas. good. Further, the lower the flow rate ratio of the oxygen gas to the total flow rate of the film-forming gas at the time of film formation is preferable. For example, the flow rate ratio of the oxygen gas is preferably 0% or more and less than 30%, preferably 0% or more and 10% or less. ..
CAC−OSは、X線回折(XRD:X−ray diffraction)測定法のひとつであるOut−of−plane法によるθ/2θスキャンを用いて測定したときに、明確なピークが観察されないという特徴を有する。すなわち、X線回折から、測定領域のa−b面方向、及びc軸方向の配向は見られないことが分かる。 CAC-OS is characterized by the fact that no clear peak is observed when measured using the θ / 2θ scan by the Out-of-plane method, which is one of the X-ray diffraction (XRD) measurement methods. Have. That is, from the X-ray diffraction, it can be seen that the orientation of the measurement region in the ab plane direction and the c-axis direction is not observed.
またCAC−OSは、プローブ径が1nmの電子線(ナノビーム電子線ともいう。)を照射することで得られる電子線回折パターンにおいて、リング状に輝度の高い領域と、該リング領域に複数の輝点が観測される。従って、電子線回折パターンから、CAC−OSの結晶構造が、平面方向、及び断面方向において、配向性を有さないnc(nano−crystal)構造を有することがわかる。 Further, CAC-OS has a ring-shaped high-luminance region and a plurality of bright regions in the ring region in an electron diffraction pattern obtained by irradiating an electron beam (also referred to as a nanobeam electron beam) having a probe diameter of 1 nm. A point is observed. Therefore, from the electron diffraction pattern, it can be seen that the crystal structure of CAC-OS has an nc (nano-crystal) structure having no orientation in the planar direction and the cross-sectional direction.
また例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSでは、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X−ray spectroscopy)を用いて取得したEDXマッピングにより、GaOX3が主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。 Further, for example, in CAC-OS in In-Ga-Zn oxide, a region in which GaO X3 is a main component is obtained by EDX mapping acquired by using energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX). And, it can be confirmed that the region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component is unevenly distributed and has a mixed structure.
CAC−OSは、金属元素が均一に分布したIGZO化合物とは異なる構造であり、IGZO化合物と異なる性質を有する。つまり、CAC−OSは、GaOX3などが主成分である領域と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域と、に互いに相分離し、各元素を主成分とする領域がモザイク状である構造を有する。 CAC-OS has a structure different from that of the IGZO compound in which metal elements are uniformly distributed, and has properties different from those of the IGZO compound. That is, the CAC-OS is a region in which GaO X3 or the like is the main component and a region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component are phase-separated from each other and each element is the main component. Has a mosaic-like structure.
ここで、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域は、GaOX3などが主成分である領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域を、キャリアが流れることにより、酸化物半導体としての導電性が発現する。従って、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域が、酸化物半導体中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度(μ)が実現できる。 Here, the region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component is a region having higher conductivity than the region in which GaO X3 or the like is the main component. That is, when the carrier flows through the region where In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component, the conductivity as an oxide semiconductor is exhibited. Therefore, a high field effect mobility (μ) can be realized by distributing the region containing In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 as the main component in the oxide semiconductor in a cloud shape.
一方、GaOX3などが主成分である領域は、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1が主成分である領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、GaOX3などが主成分である領域が、酸化物半導体中に分布することで、リーク電流を抑制し、良好なスイッチング動作を実現できる。 On the other hand, the region in which GaO X3 or the like is the main component is a region having higher insulating property than the region in which In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 is the main component. That is, since the region containing GaO X3 or the like as the main component is distributed in the oxide semiconductor, the leakage current can be suppressed and a good switching operation can be realized.
従って、CAC−OSを半導体素子に用いた場合、GaOX3などに起因する絶縁性と、InX2ZnY2OZ2、またはInOX1に起因する導電性とが、相補的に作用することにより、高いオン電流(Ion)、及び高い電界効果移動度(μ)を実現することができる。 Therefore, when CAC-OS is used for a semiconductor element, the insulating property caused by GaO X3 and the like and the conductivity caused by In X2 Zn Y2 O Z2 or InO X1 act complementarily to be high. On current (I on ) and high field effect mobility (μ) can be achieved.
また、CAC−OSを用いた半導体素子は、信頼性が高い。従って、CAC−OSは、ディスプレイをはじめとするさまざまな半導体装置に最適である。 Further, the semiconductor element using CAC-OS has high reliability. Therefore, CAC-OS is most suitable for various semiconductor devices such as displays.
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be appropriately combined with other embodiments.
(実施の形態6)
本実施の形態では、本発明の一態様の電子機器について説明する。
(Embodiment 6)
In the present embodiment, the electronic device of one aspect of the present invention will be described.
本発明の一態様により、平面を有し、信頼性の高い電子機器を作製できる。また、本発明の一態様により、曲面を有し、信頼性の高い電子機器を作製できる。また、本発明の一態様により、可撓性を有し、信頼性の高い電子機器を作製できる。 According to one aspect of the present invention, an electronic device having a flat surface and high reliability can be manufactured. Further, according to one aspect of the present invention, it is possible to manufacture an electronic device having a curved surface and high reliability. Further, according to one aspect of the present invention, a flexible and highly reliable electronic device can be manufactured.
電子機器としては、例えば、テレビジョン装置、デスクトップ型もしくはノート型のパーソナルコンピュータ、コンピュータ用などのモニタ、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機などの大型ゲーム機などが挙げられる。 Electronic devices include, for example, television devices, desktop or notebook personal computers, monitors for computers, digital cameras, digital video cameras, digital photo frames, mobile phones, portable game machines, personal digital assistants, and acoustic devices. Examples include a playback device and a large game machine such as a pachinko machine.
また、本発明の一態様の表示装置は、外光の強さによらず、高い視認性を実現することができる。そのため、携帯型の電子機器、装着型の電子機器(ウェアラブル機器)、及び電子書籍端末などに好適に用いることができる。 Further, the display device of one aspect of the present invention can realize high visibility regardless of the intensity of external light. Therefore, it can be suitably used for portable electronic devices, wearable electronic devices (wearable devices), electronic book terminals, and the like.
図48(A)、(B)に示す携帯情報端末800は、筐体801、筐体802、表示部803、及びヒンジ部805等を有する。
The
筐体801と筐体802は、ヒンジ部805で連結されている。携帯情報端末800は、折り畳んだ状態(図48(A))から、図48(B)に示すように展開させることができる。これにより、持ち運ぶ際には可搬性に優れ、使用するときには大きな表示領域により、視認性に優れる。
The
携帯情報端末800には、ヒンジ部805により連結された筐体801と筐体802に亘って、フレキシブルな表示部803が設けられている。
The
本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部803に用いることができる。これにより、高い歩留まりで携帯情報端末を作製することができる。
A display device manufactured using one aspect of the present invention can be used for the
表示部803は、文書情報、静止画像、及び動画像等のうち少なくとも一つを表示することができる。表示部に文書情報を表示させる場合、携帯情報端末800を電子書籍端末として用いることができる。
The
携帯情報端末800を展開すると、表示部803が大きく湾曲した形態で保持される。例えば、曲率半径1mm以上50mm以下、好ましくは5mm以上30mm以下に湾曲した部分を含んで、表示部803が保持される。表示部803の一部は、筐体801から筐体802にかけて、連続的に画素が配置され、曲面状の表示を行うことができる。
When the
表示部803は、タッチパネルとして機能し、指やスタイラスなどにより操作することができる。
The
表示部803は、一つのフレキシブルディスプレイで構成されていることが好ましい。これにより、筐体801と筐体802の間で途切れることのない連続した表示を行うことができる。なお、筐体801と筐体802のそれぞれに、ディスプレイが設けられる構成としてもよい。
The
ヒンジ部805は、携帯情報端末800を展開したときに、筐体801と筐体802との角度が所定の角度よりも大きい角度にならないように、ロック機構を有することが好ましい。例えば、ロックがかかる(それ以上に開かない)角度は、90度以上180度未満であることが好ましく、代表的には、90度、120度、135度、150度、または175度などとすることができる。これにより、携帯情報端末800の利便性、安全性、及び信頼性を高めることができる。
The
ヒンジ部805がロック機構を有すると、表示部803に無理な力がかかることなく、表示部803が破損することを防ぐことができる。そのため、信頼性の高い携帯情報端末を実現できる。
When the
筐体801及び筐体802は、電源ボタン、操作ボタン、外部接続ポート、スピーカ、マイク等を有していてもよい。
The
筐体801または筐体802のいずれか一方には、無線通信モジュールが設けられ、インターネットやLAN(Local Area Network)、Wi−Fi(Wireless Fidelity:登録商標)などのコンピュータネットワークを介して、データを送受信することが可能である。
A wireless communication module is provided in either the
図48(C)に示す携帯情報端末810は、筐体811、表示部812、操作ボタン813、外部接続ポート814、スピーカ815、マイク816、カメラ817等を有する。
The
本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部812に用いることができる。これにより、高い歩留まりで携帯情報端末を作製することができる。
A display device manufactured using one aspect of the present invention can be used for the
携帯情報端末810は、表示部812にタッチセンサを備える。電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる操作は、指やスタイラスなどで表示部812に触れることで行うことができる。
The
また、操作ボタン813の操作により、電源のON、OFF動作や、表示部812に表示される画像の種類の切り替えを行うことができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュー画面に切り替えることができる。
Further, by operating the
また、携帯情報端末810の内部に、ジャイロセンサまたは加速度センサ等の検出装置を設けることで、携帯情報端末810の向き(縦か横か)を判断して、表示部812の画面表示の向きを自動的に切り替えることができる。また、画面表示の向きの切り替えは、表示部812に触れること、操作ボタン813の操作、またはマイク816を用いた音声入力等により行うこともできる。
Further, by providing a detection device such as a gyro sensor or an acceleration sensor inside the
携帯情報端末810は、例えば、電話機、手帳または情報閲覧装置等から選ばれた一つまたは複数の機能を有する。具体的には、スマートフォンとして用いることができる。携帯情報端末810は、例えば、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、動画再生、インターネット通信、ゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。
The
図48(D)に示すカメラ820は、筐体821、表示部822、操作ボタン823、シャッターボタン824等を有する。またカメラ820には、着脱可能なレンズ826が取り付けられている。
The
本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部822に用いることができる。これにより、高い歩留まりでカメラを作製することができる。
A display device manufactured using one aspect of the present invention can be used for the
ここではカメラ820を、レンズ826を筐体821から取り外して交換することが可能な構成としたが、レンズ826と筐体821とが一体となっていてもよい。
Here, the
カメラ820は、シャッターボタン824を押すことにより、静止画または動画を撮像することができる。また、表示部822はタッチパネルとしての機能を有し、表示部822をタッチすることにより撮像することも可能である。
The
なお、カメラ820は、ストロボ装置や、ビューファインダーなどを別途装着することができる。または、これらが筐体821に組み込まれていてもよい。
The
図49(A)〜(E)は、電子機器を示す図である。これらの電子機器は、筐体9000、表示部9001、スピーカ9003、操作キー9005(電源スイッチまたは操作スイッチを含む)、接続端子9006、センサ9007(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、においまたは赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン9008等を有する。
49 (A) to 49 (E) are diagrams showing electronic devices. These electronic devices include a
本発明の一態様を用いて作製された表示装置を、表示部9001に好適に用いることができる。これにより、高い歩留まりで電子機器を作製することができる。
A display device manufactured by using one aspect of the present invention can be suitably used for the
図49(A)〜(E)に示す電子機器は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信または受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出して表示部に表示する機能、等を有することができる。なお、図49(A)〜(E)に示す電子機器が有する機能はこれらに限定されず、その他の機能を有していてもよい。 The electronic devices shown in FIGS. 49 (A) to 49 (E) can have various functions. For example, a function to display various information (still images, moving images, text images, etc.) on the display unit, a touch panel function, a function to display a calendar, date or time, etc., a function to control processing by various software (programs), Wireless communication function, function to connect to various computer networks using wireless communication function, function to transmit or receive various data using wireless communication function, read and display programs or data recorded on recording media It can have a function of displaying on a unit, and the like. The functions of the electronic devices shown in FIGS. 49 (A) to 49 (E) are not limited to these, and may have other functions.
図49(A)は腕時計型の携帯情報端末9200を、図49(B)は腕時計型の携帯情報端末9201を、それぞれ示す斜視図である。
FIG. 49 (A) is a perspective view showing a wristwatch-type
図49(A)に示す携帯情報端末9200は、移動電話、電子メール、文章閲覧及び作成、音楽再生、インターネット通信、コンピュータゲームなどの種々のアプリケーションを実行することができる。また、表示部9001はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。また、携帯情報端末9200は、通信規格された近距離無線通信を実行することが可能である。例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。また、携帯情報端末9200は、接続端子9006を有し、他の情報端末とコネクターを介して直接データのやりとりを行うことができる。また接続端子9006を介して充電を行うこともできる。なお、充電動作は接続端子9006を介さずに無線給電により行ってもよい。
The personal
図49(B)に示す携帯情報端末9201は、図49(A)に示す携帯情報端末と異なり、表示部9001の表示面が湾曲していない。また、携帯情報端末9201の表示部の外形が非矩形状(図49(B)においては円形状)である。
Unlike the mobile information terminal shown in FIG. 49 (A), the
図49(C)〜(E)は、折り畳み可能な携帯情報端末9202を示す斜視図である。なお、図49(C)が携帯情報端末9202を展開した状態の斜視図であり、図49(D)が携帯情報端末9202を展開した状態または折り畳んだ状態の一方から他方に変化する途中の状態の斜視図であり、図49(E)が携帯情報端末9202を折り畳んだ状態の斜視図である。
49 (C) to 49 (E) are perspective views showing a foldable
携帯情報端末9202は、折り畳んだ状態では可搬性に優れ、展開した状態では、継ぎ目のない広い表示領域により表示の一覧性に優れる。携帯情報端末9202が有する表示部9001は、ヒンジ9055によって連結された3つの筐体9000に支持されている。ヒンジ9055を介して2つの筐体9000間を屈曲させることにより、携帯情報端末9202を展開した状態から折りたたんだ状態に可逆的に変形させることができる。例えば、携帯情報端末9202は、曲率半径1mm以上150mm以下で曲げることができる。
The
本実施の形態は、他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。 This embodiment can be appropriately combined with other embodiments.
14 作製基板
19 金属層
20 金属酸化物層
23 樹脂層
24 第1の層
31 絶縁層
40 画素アレイ
45 画素ユニット
46 画素
46B 表示素子
46G 表示素子
46R 表示素子
47 画素
47B 表示素子
47G 表示素子
47R 表示素子
54 光
55 レーザ光
56 積層体
56a 被剥離体
56b 支持体
57a 第1の層
57b 第2の層
58 作製基板
90 金属酸化物層
90a 金属酸化物層
90b 金属酸化物層
91 絶縁層
91a 絶縁層
91b 絶縁層
93 樹脂層
93a 樹脂層
93b 樹脂層
94 作製基板
94a 作製基板
94b 作製基板
97 接着層
100 表示装置
112 液晶層
113 電極
113a 電極
115 絶縁層
117 絶縁層
121 絶縁層
131 着色層
132 遮光層
133a 配向膜
133b 配向膜
134 着色層
135 偏光板
136 光拡散層
141 接着層
142 接着層
170 発光素子
180 液晶素子
191 電極
192 EL層
193 電極
194 絶縁層
201 トランジスタ
203 トランジスタ
204 接続部
205 トランジスタ
206 トランジスタ
207 接続部
211 絶縁層
211a 絶縁層
211b 絶縁層
212 絶縁層
213 絶縁層
214 絶縁層
215 絶縁層
216 絶縁層
217 絶縁層
220 絶縁層
220a 絶縁層
220b 絶縁層
221a 導電層
221b 導電層
221c 導電層
222a 導電層
222b 導電層
223 導電層
224 導電層
225 絶縁層
226 被覆膜
227 レンズ
228 導電層
231 半導体層
232 絶縁層
233 拡散フィルム
234a 導電層
234b 導電層
234c 絶縁層
234d 絶縁層
235 基板
242 接続層
242a 接続層
242b 接続層
243 接続体
252 接続部
253 接続部
300A 表示装置
300B 表示装置
300C 表示装置
300D 表示装置
300E 表示装置
300F 表示装置
300G 表示装置
300H 表示装置
300J 表示装置
311 電極
311a 電極
311b 電極
311c 電極
311d 電極
311e 電極
311f 電極
311g 電極
311h 電極
331 導電層
332 絶縁層
333 導電層
334 導電層
335 絶縁層
336 導電層
340 液晶素子
351 基板
360 発光素子
360b 発光素子
360g 発光素子
360r 発光素子
360w 発光素子
361 基板
362 表示部
364 回路
365 配線
372 FPC
372a FPC
372b FPC
373 IC
390 基板
392 接着層
396 反射防止部材
400 表示装置
410 画素
451 開口
501 表示素子
502 表示素子
506 画素回路
507 画素回路
521 電極
522 電極
551 パルス電圧出力回路
552 電流検出回路
553 容量
610 レーザ照射ユニット
610a レーザ光
610b レーザ光
610c レーザ光
610d レーザ光
610e 線状ビーム
635 光学系
640 加工領域
644 搬送ローラ
650 ミラー
660 エキシマレーザ装置
680 レンズ
800 携帯情報端末
801 筐体
802 筐体
803 表示部
805 ヒンジ部
810 携帯情報端末
811 筐体
812 表示部
813 操作ボタン
814 外部接続ポート
815 スピーカ
816 マイク
817 カメラ
820 カメラ
821 筐体
822 表示部
823 操作ボタン
824 シャッターボタン
826 レンズ
9000 筐体
9001 表示部
9003 スピーカ
9005 操作キー
9006 接続端子
9007 センサ
9008 マイクロフォン
9055 ヒンジ
9200 携帯情報端末
9201 携帯情報端末
9202 携帯情報端末
14 Fabrication board 19 Metal layer 20 Metal oxide layer 23 Resin layer 24 First layer 31 Insulation layer 40 Pixel array 45 Pixel unit 46 Pixel 46B Display element 46G Display element 46R Display element 47 Pixel 47B Display element 47G Display element 47R Display element 54 Light 55 Laser light 56 Laminated body 56a Exfoliated body 56b Support 57a First layer 57b Second layer 58 Fabrication substrate 90 Metal oxide layer 90a Metal oxide layer 90b Metal oxide layer 91 Insulation layer 91a Insulation layer 91b Insulation layer 93 Resin layer 93a Resin layer 93b Resin layer 94 Fabrication substrate 94a Fabrication substrate 94b Fabrication substrate 97 Adhesive layer 100 Display device 112 Liquid crystal layer 113 Electrode 113a Electrode 115 Insulation layer 117 Insulation layer 121 Insulation layer 131 Colored layer 132 Light-shielding layer 133a Orientation Film 133b Alignment film 134 Colored layer 135 Plate plate 136 Light diffusion layer 141 Adhesive layer 142 Adhesive layer 170 Light emitting element 180 Liquid crystal element 191 Electrode 192 EL layer 193 Electrode 194 Insulation layer 201 Transistor 203 Transistor 204 Connection part 205 Transistor 206 Transistor 207 Connection part 211 Insulation layer 211a Insulation layer 211b Insulation layer 212 Insulation layer 213 Insulation layer 214 Insulation layer 215 Insulation layer 216 Insulation layer 217 Insulation layer 220 Insulation layer 220a Insulation layer 220b Insulation layer 221a Conductive layer 221b Conductive layer 221c Conductive layer 222a Conductive layer 222b Conductive Layer 223 Conductive layer 224 Conductive layer 225 Insulation layer 226 Coating film 227 Lens 228 Conductive layer 231 Semiconductor layer 232 Insulation layer 233 Diffusion film 234a Conductive layer 234b Conductive layer 234c Insulation layer 234d Insulation layer 235 Substrate 242 Connection layer 242a Connection layer 242b Connection Layer 243 Connection body 252 Connection part 253 Connection part 300A Display device 300B Display device 300C Display device 300D Display device 300E Display device 300F Display device 300G Display device 300H Display device 300J Display device 311 Electrode 311a Electrode 311b Electrode 311c Electrode 311d Electrode 311e Electrode 311f Electrode 311g Electrode 311h Electrode 331 Conductive layer 332 Insulation layer 333 Conductive layer 334 Conductive layer 335 Insulation layer 336 Conductive layer 340 Liquid crystal element 351 Substrate 360 Light emitting element 360b Light emitting element 360g Light emitting element 360r Light emitting element 360w Light emitting element 361 Board 362 Display 364 Circuit 365 Wiring 372 FPC
372a FPC
372b FPC
373 IC
390
Claims (19)
前記第1の基板上に、可視光を透過する機能を有する共通電極を形成する工程と、
作製基板上に、第1の層を形成する工程と、
前記第1の層上に、第2の層を形成する工程と、
前記第2の層上に、可視光を反射する機能を有する画素電極を形成する工程と、
前記画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上に、可視光を発する機能を有する前記第2の表示素子を形成する工程と、
前記第2の基板を用いて、前記第2の表示素子を封止する工程と、
光を照射することで、前記第1の層と前記第2の層とを分離する工程と、
前記共通電極と前記画素電極との間に液晶層を配置した状態で、前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせることで、前記第1の表示素子を形成する工程と、を有し、
前記第1の層は、チタン、モリブデン、アルミニウム、タングステン、シリコン、インジウム、亜鉛、ガリウム、タンタル、及び錫のうち一つまたは複数を有し、
前記第2の層は、ポリイミド樹脂またはポリイミド樹脂前駆体を有する、表示装置の作製方法。 It is a method of manufacturing a display device having a first display element and a second display element between the first substrate and the second substrate.
A step of forming a common electrode having a function of transmitting visible light on the first substrate, and
The process of forming the first layer on the manufacturing substrate and
A step of forming a second layer on the first layer and
A step of forming a pixel electrode having a function of reflecting visible light on the second layer, and
A step of forming an insulating layer on the pixel electrode and
A step of forming the second display element having a function of emitting visible light on the insulating layer, and
A step of sealing the second display element using the second substrate, and
A step of separating the first layer and the second layer by irradiating with light, and
A step of forming the first display element by laminating the first substrate and the second substrate in a state where a liquid crystal layer is arranged between the common electrode and the pixel electrode. Have and
The first layer comprises one or more of titanium, molybdenum, aluminum, tungsten, silicon, indium, zinc, gallium, tantalum, and tin.
It said second layer has a polyimide resin or a polyimide resin precursor, a method for manufacturing a Viewing device.
前記共通電極を形成する工程の前に、前記第1の基板上に機能層を形成する工程を有し、
前記機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。 In claim 1,
Prior to the step of forming the common electrode, there is a step of forming a functional layer on the first substrate.
A method for manufacturing a display device, wherein the functional layer is formed so as to have one or both of a detection element and a colored layer.
第1の作製基板上に、第1の剥離層を形成する工程と、
前記第1の剥離層上に、可視光を透過する機能を有する共通電極を形成する工程と、
第2の作製基板上に、第2の剥離層を形成する工程と、
前記第2の剥離層上に、可視光を反射する機能を有する画素電極を形成する工程と、
前記画素電極上に、絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上に、可視光を発する機能を有する前記第2の表示素子を形成する工程と、
前記第2の基板を用いて、前記第2の表示素子を封止する工程と、
前記第2の剥離層を用いて、前記第2の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程と、
前記共通電極と前記画素電極との間に液晶層を配置した状態で、前記第1の作製基板と前記第2の基板とを貼り合わせることで、前記第1の表示素子を形成する工程と、
前記第1の剥離層を用いて、前記第1の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間に前記第1の表示素子を配置した状態で、前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程と、を有し、
前記第1の剥離層及び前記第2の剥離層のうち一方または双方は、第1の層と、前記第1の層上の第2の層を有するように形成され、
前記第1の層は、チタン、モリブデン、アルミニウム、タングステン、シリコン、インジウム、亜鉛、ガリウム、タンタル、及び錫のうち一つまたは複数を有し、
前記第2の層は、ポリイミド樹脂またはポリイミド樹脂前駆体を有し、
前記第2の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程、及び、前記第1の作製基板と前記第2の基板とを分離する工程のうち一方または双方では、光が照射されることで、前記第1の層と前記第2の層とが分離する、表示装置の作製方法。 It is a method of manufacturing a display device having a first display element and a second display element between the first substrate and the second substrate.
The step of forming the first release layer on the first production substrate and
A step of forming a common electrode having a function of transmitting visible light on the first release layer, and
A step of forming a second release layer on the second production substrate, and
A step of forming a pixel electrode having a function of reflecting visible light on the second peeling layer, and
A step of forming an insulating layer on the pixel electrode and
A step of forming the second display element having a function of emitting visible light on the insulating layer, and
A step of sealing the second display element using the second substrate, and
A step of separating the second production substrate and the second substrate by using the second release layer, and
A step of forming the first display element by laminating the first manufacturing substrate and the second substrate in a state where a liquid crystal layer is arranged between the common electrode and the pixel electrode.
A step of separating the first production substrate and the second substrate by using the first release layer, and
It has a step of bonding the first substrate and the second substrate in a state where the first display element is arranged between the first substrate and the second substrate.
One or both of the first peeling layer and the second peeling layer is formed so as to have a first layer and a second layer on the first layer.
The first layer comprises one or more of titanium, molybdenum, aluminum, tungsten, silicon, indium, zinc, gallium, tantalum, and tin.
The second layer has a polyimide resin or a polyimide resin precursor and has a polyimide resin or a polyimide resin precursor.
Light is irradiated in one or both of the step of separating the second manufacturing substrate and the second substrate and the step of separating the first manufacturing substrate and the second substrate. A method for manufacturing a display device, wherein the first layer and the second layer are separated from each other.
前記共通電極を形成する工程の前に、前記第1の剥離層上に第1の機能層を形成する工程を有し、
前記第1の機能層は、検知素子及び着色層のうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。 In claim 3,
Prior to the step of forming the common electrode, there is a step of forming a first functional layer on the first peeling layer.
A method for manufacturing a display device, wherein the first functional layer is formed so as to have one or both of a detection element and a colored layer.
前記第1の基板は、第2の機能層が設けられている面を有し、
前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程は、前記第1の基板と前記第2の基板との間に前記第2の機能層を配置した状態で行われ、
前記第2の機能層は、光拡散層及び偏光板のうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。 In claim 3 or 4,
The first substrate has a surface on which a second functional layer is provided.
The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state where the second functional layer is arranged between the first substrate and the second substrate.
The second functional layer is formed so as to have one or both of the light diffusion layer及beauty polarizing plate, a method for manufacturing a display device.
第3の作製基板上に、第3の剥離層を形成する工程と、
前記第3の剥離層上に、機能層を形成する工程と、を有し、さらに、
前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程の前に、前記第3の作製基板と前記第1の基板との間に前記第3の剥離層を配置した状態で、前記第3の作製基板と前記第1の基板とを貼り合わせる工程と、前記第3の剥離層を用いて、前記第3の作製基板と前記第1の基板とを分離する工程と、を有し、
前記第1の基板と前記第2の基板とを貼り合わせる工程は、前記第1の基板と前記第2の基板との間に前記機能層を配置した状態で行われ、
前記機能層は、検知素子、光拡散層、及び偏光板のうち一つまたは複数を有するように形成される、表示装置の作製方法。 In claim 3,
A step of forming a third release layer on the third production substrate, and
It has a step of forming a functional layer on the third release layer, and further.
Prior to the step of bonding the first substrate and the second substrate, the third release layer is arranged between the third production substrate and the first substrate, and the third release layer is arranged. It has a step of adhering the manufacturing substrate of 3 and the first substrate, and a step of separating the third manufacturing substrate and the first substrate by using the third release layer.
The step of bonding the first substrate and the second substrate is performed in a state where the functional layer is arranged between the first substrate and the second substrate.
A method for manufacturing a display device, wherein the functional layer is formed so as to have one or more of a detection element, a light diffusion layer, and a polarizing plate.
前記第1の基板に、厚さ0.1mm以上0.5mm未満のガラス基板を用いる、表示装置の作製方法。 In any one of claims 3 to 6,
A method for manufacturing a display device, which uses a glass substrate having a thickness of 0.1 mm or more and less than 0.5 mm as the first substrate.
前記第1の基板に、厚さ1μm以上200μm以下の樹脂基板を用いる、表示装置の作製方法。 In any one of claims 3 to 6,
A method for manufacturing a display device, which uses a resin substrate having a thickness of 1 μm or more and 200 μm or less as the first substrate.
前記第1の基板の、前記第2の基板側の面とは逆側の面に、反射防止部材が設けられる、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 8,
A method for manufacturing a display device, wherein an antireflection member is provided on a surface of the first substrate opposite to the surface on the second substrate side.
前記反射防止部材は、凸部を有するように設けられる、表示装置の作製方法。 In claim 9.
A method for manufacturing a display device, wherein the antireflection member is provided so as to have a convex portion.
前記液晶層は、二色性色素を有するように設けられる、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 10,
A method for manufacturing a display device, wherein the liquid crystal layer is provided so as to have a dichroic dye.
前記第2の表示素子を形成する工程の前に、前記絶縁層上に、チャネル形成領域に金属酸化物を有するトランジスタを形成する工程を有する、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 11,
A method for manufacturing a display device, comprising a step of forming a transistor having a metal oxide in a channel forming region on the insulating layer before the step of forming the second display element.
前記第1の層と前記第2の層とを分離する工程の後に、前記第2の基板を含む積層体の露出面に残存する前記第2の層を除去する工程を有する、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 12,
Fabrication of a display device comprising a step of separating the first layer and the second layer and then removing the second layer remaining on the exposed surface of the laminate including the second substrate. Method.
前記第2の層を除去する工程では、アッシングが行われる、表示装置の作製方法。 In claim 13,
A method for manufacturing a display device, in which ashing is performed in the step of removing the second layer.
前記第2の層は、厚さが0.1μm以上5μm以下の領域を有するように形成される、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 14,
A method for manufacturing a display device, wherein the second layer is formed so as to have a region having a thickness of 0.1 μm or more and 5 μm or less.
前記光として、レーザ光を用い、
前記レーザ光が、前記第1の層と前記第2の層との界面またはその近傍に照射されることにより、前記第1の層と前記第2の層とが分離する、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 15,
Laser light is used as the light.
A method for manufacturing a display device, in which the first layer and the second layer are separated by irradiating the interface between the first layer and the second layer or the vicinity thereof with the laser beam. ..
前記第1の層は、チタン及び酸化チタンのうち一方または双方を有するように形成される、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 16,
A method for manufacturing a display device, wherein the first layer is formed so as to have one or both of titanium and titanium oxide.
前記第2の層は、構造式(100)で表される化合物の残基を有するように形成される、表示装置の作製方法。
A method for producing a display device, wherein the second layer is formed so as to have a residue of a compound represented by the structural formula (100).
前記第2の層は、開口を有するように形成され、
前記開口を覆うように、導電層が形成され、
前記第1の層と前記第2の層とが分離することで、前記導電層が露出する、表示装置の作製方法。 In any one of claims 1 to 18,
The second layer is formed so as to have an opening.
A conductive layer is formed so as to cover the opening.
A method for manufacturing a display device, in which the conductive layer is exposed by separating the first layer and the second layer.
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