JP6898962B2 - Magnetic tape device - Google Patents
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Description
本発明は、磁気テープ装置に関する。 The present invention relates to a magnetic tape device.
磁気記録媒体へのデータの記録および/または記録されたデータの読み取り(再生)を行う磁気記録再生装置は、磁気ディスク装置と磁気テープ装置に大別される。磁気ディスク装置の代表例はHDD(Hard Disk Drive)である。磁気ディスク装置では、磁気記録媒体として磁気ディスクが使用される。一方、磁気テープ装置では、磁気記録媒体として磁気テープが使用される。 A magnetic recording / reproducing device that records data on a magnetic recording medium and / or reads (reproduces) the recorded data is roughly classified into a magnetic disk device and a magnetic tape device. A typical example of a magnetic disk device is an HDD (Hard Disk Drive). In a magnetic disk device, a magnetic disk is used as a magnetic recording medium. On the other hand, in a magnetic tape device, a magnetic tape is used as a magnetic recording medium.
磁気ディスク装置および磁気テープ装置のいずれにおいても、記録トラック幅を狭小化することは記録容量を高めるため(高容量化)に好ましい。他方、記録トラック幅を狭小化するほど、再生時に読取対象トラックの信号に隣接トラックの信号が混入し易くなるため、SNR(Signal−to−Noise Ratio)等の再生品質を維持することは困難になる。この点に関し、近年、複数の読取素子(「再生素子」とも呼ばれる。)によって記録トラックの信号を二次元的に読み取ることにより、再生品質の向上を図ることが提案されている(例えば特許文献1〜3参照)。こうして再生品質を向上できれば、記録トラック幅を狭小化しても再生品質を維持することができるため、記録トラック幅の狭小化により記録容量を高めることが可能となる。 In both the magnetic disk device and the magnetic tape device, narrowing the recording track width is preferable for increasing the recording capacity (increasing the capacity). On the other hand, as the recording track width is narrowed, the signal of the adjacent track is likely to be mixed with the signal of the track to be read during reproduction, so that it is difficult to maintain the reproduction quality such as SNR (Signal-to-Noise Ratio). Become. In this regard, in recent years, it has been proposed to improve the reproduction quality by two-dimensionally reading the signal of the recording track by a plurality of reading elements (also referred to as “reproduction elements”) (for example, Patent Document 1). See ~ 3). If the reproduction quality can be improved in this way, the reproduction quality can be maintained even if the recording track width is narrowed, so that the recording capacity can be increased by narrowing the recording track width.
特許文献1および2では、磁気ディスク装置に関する検討が行われている。一方、磁気テープは、近年、大容量のデータを長期間保存するためのデータストレージメディアとして注目されている。しかし、磁気テープ装置は、一般に、磁気テープと読取素子とが接触し摺動することによってデータ読取(再生)が行われる摺動型の装置である。そのため、再生時に読取素子と読取対象トラックとの相対位置が変動し易く、再生品質の向上は、磁気ディスク装置と比べてより困難な傾向がある。特許文献3には、磁気テープ装置(テープドライブ)に関する記載はあるものの、磁気テープ装置における再生品質向上のための具体的な手段は示されていない。
本発明の一態様は、再生品質の向上が可能な磁気テープ装置を提供する。 One aspect of the present invention provides a magnetic tape device capable of improving reproduction quality.
本発明の一態様は、
磁気テープと、
読取素子ユニットと、
抽出部と、
を含み、
上記磁気テープは、非磁性支持体上に強磁性粉末および結合剤を含む磁性層を有し、
上記磁性層は、サーボパターンを有し、
上記強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末であり、
In−Plane法を用いた上記磁性層のX線回折分析により求められる六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)に対する(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)の強度比(Int(110)/Int(114);以下、「XRD(X−ray diffraction)強度比」とも記載する。)は0.5以上4.0以下であり、
上記磁気テープの垂直方向角型比は、0.65以上1.00以下であり、
上記読取素子ユニットは、上記磁気テープに含まれるトラック領域のうちの読取対象トラックを含む特定トラック領域からデータをリニアスキャン方式で各々読み取る複数の読取素子を有し、
上記抽出部は、上記読取素子毎の読取結果の各々に対して、上記磁気テープと上記読取素子ユニットとの位置のずれ量に応じた波形等化処理を施すことにより、上記読取結果から、上記読取対象トラックに由来するデータを抽出し、
上記ずれ量は、上記磁気テープの磁性層が有するサーボパターンをサーボ素子が読み取ることにより得られた結果に応じて定められる、磁気テープ装置、
に関する。
One aspect of the present invention is
With magnetic tape
With the reading element unit
Extractor and
Including
The magnetic tape has a magnetic layer containing a ferromagnetic powder and a binder on a non-magnetic support.
The magnetic layer has a servo pattern and has a servo pattern.
The above ferromagnetic powder is a hexagonal ferrite powder.
Peak intensity of the diffraction peak on the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure obtained by X-ray diffraction analysis of the magnetic layer using the In-Plane method Int (114) with respect to the peak intensity Int of the diffraction peak on the (110) plane. The intensity ratio of (110) (Int (110) / Int (114); hereinafter, also referred to as “XRD (X-ray diffraction) intensity ratio”) is 0.5 or more and 4.0 or less.
The vertical angular ratio of the magnetic tape is 0.65 or more and 1.00 or less.
The reading element unit has a plurality of reading elements that read data from a specific track area including a track to be read among the track areas included in the magnetic tape by a linear scan method.
The extraction unit performs waveform equalization processing on each of the reading results for each reading element according to the amount of displacement between the magnetic tape and the reading element unit. Extract the data derived from the track to be read and
The amount of deviation is determined according to the result obtained by reading the servo pattern of the magnetic layer of the magnetic tape by the servo element.
Regarding.
一態様では、上記複数の読取素子の互いの一部は、上記磁気テープの走行方向で重なっていることができる。 In one aspect, some of the plurality of reading elements may overlap each other in the traveling direction of the magnetic tape.
一態様では、上記特定トラック領域は、上記読取対象トラックと上記読取対象トラックに隣接している隣接トラックとを含む領域であることができ、上記複数の読取素子の各々は、上記磁気テープとの位置関係が変化した場合に、上記読取対象トラックおよび上記隣接トラックの双方に対して、共に跨っていることができる。 In one aspect, the specific track region can be a region including the read target track and an adjacent track adjacent to the read target track, and each of the plurality of reading elements is connected to the magnetic tape. When the positional relationship changes, both the read target track and the adjacent track can be straddled.
一態様では、上記複数の読取素子は、上記磁気テープの幅方向に、近接した状態で並べて配置されていることができる。 In one aspect, the plurality of reading elements can be arranged side by side in close proximity to each other in the width direction of the magnetic tape.
一態様では、上記磁気テープの幅方向において、上記複数の読取素子は、上記読取対象トラック内に収まっていることができる。 In one aspect, the plurality of reading elements can be contained within the reading target track in the width direction of the magnetic tape.
一態様では、上記波形等化処理は、上記ずれ量に応じて定められるタップ係数を用いて行われ得る。 In one aspect, the waveform equalization process can be performed using a tap coefficient determined according to the deviation amount.
一態様では、上記複数の読取素子の各々について、上記読取対象トラックとの重複領域と上記読取対象トラックに隣接している隣接トラックとの重複領域との比が上記ずれ量から特定され得て、特定された上記比に応じて上記タップ係数が定められ得る。 In one aspect, for each of the plurality of reading elements, the ratio of the overlapping area with the reading target track and the overlapping area with the adjacent track adjacent to the reading target track can be specified from the deviation amount. The tap coefficient can be determined according to the specified ratio.
一態様では、上記サーボ素子により行われる読取動作に同期して、上記読取素子ユニットの読取動作が行われ得る。 In one aspect, the reading operation of the reading element unit can be performed in synchronization with the reading operation performed by the servo element.
一態様では、上記抽出部は、2次元FIR(Finite Impulse Response)フィルタを有することができ、上記2次元FIRフィルタは、上記読取素子毎の読取結果の各々に対して上記波形等化処理を施すことにより得られた各結果を合成することによって、上記読取結果から上記読取対象トラックに由来するデータを抽出することができる。 In one aspect, the extraction unit can have a two-dimensional FIR (Finite Impulse Response) filter, and the two-dimensional FIR filter performs the waveform equalization processing on each of the reading results for each reading element. By synthesizing each of the obtained results, data derived from the read target track can be extracted from the read result.
一態様では、上記複数の読取素子は一対の読取素子であることができる。 In one aspect, the plurality of reading elements can be a pair of reading elements.
一態様では、上記磁気テープの垂直方向角型比は、0.65以上0.90以下であることができる。 In one aspect, the vertical angular ratio of the magnetic tape can be 0.65 or more and 0.90 or less.
一態様では、上記六方晶フェライト粉末の活性化体積は、1600nm3以下であることができる。 In one aspect, the activated volume of the hexagonal ferrite powder can be 1600 nm 3 or less.
本発明の一態様によれば、磁気テープに記録されたデータを高い再生品質で再生可能な磁気テープ装置を提供することができる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a magnetic tape device capable of reproducing data recorded on a magnetic tape with high reproduction quality.
本発明の一態様にかかる磁気テープ装置は、磁気テープと、読取素子ユニットと、抽出部と、を含む。 The magnetic tape device according to one aspect of the present invention includes a magnetic tape, a reading element unit, and an extraction unit.
磁気テープからのデータの読み取りに関して、図21に示す従来例では、長尺状の読取ヘッド200が、長手方向に沿って複数の読取素子202を備えている。磁気テープ204には、複数のトラック206が形成されている。読取ヘッド200は、長手方向が磁気テープ204の幅方向に一致するように配置されている。また、複数の読取素子202の各々は、複数のトラック206の各々に対して1対1の関係で割り当てられており、対向する位置のトラック206からデータを読み取る。
Regarding the reading of data from the magnetic tape, in the conventional example shown in FIG. 21, the
しかし、磁気テープ204は、通常、経時、環境、およびテンションの変動等に起因して伸縮する。磁気テープ204の幅方向に磁気テープが伸縮すると、読取ヘッド200において、長手方向の両端に配置された読取素子202の中心は、トラック206の中心からずれてしまう。磁気テープ204が幅方向に伸縮することにより変形すると、特に、複数の読取素子202のうち、読取ヘッド200の両端に近い読取素子202ほど、オフトラックの影響を大きく受けてしまう。オフトラックの影響を小さくするためには、例えば、トラック206の幅に余裕を持たせるという方法が考えられる。しかし、トラック206の幅を広げるほど、磁気テープ204の記録容量は小さくなってしまう。
However, the
また、一例として図22に示す従来例のように、読取ヘッド200には、通常、サーボ素子208が設けられている。磁気テープ204に対して、磁気テープ204の走行方向に沿って予め付与されたサーボパターンは、サーボ素子208によって読み取られる。そして、サーボ素子208によってサーボパターンが読み取られて得られたサーボ信号から、制御装置(図示省略)によって、例えば、一定の時間間隔で、読取素子202が磁気テープ204上のどの位置を走行しているかが特定される。これにより、磁気テープ204の幅方向のPES(Position Error Signal)が制御装置によって検出される。
Further, as an example, as in the conventional example shown in FIG. 22, the reading
このように、制御装置により読取素子202の走行位置が特定されると、特定された走行位置に基づいて、制御装置により、読取ヘッド用のアクチュエータ(図示省略)に対して帰還制御が行われることにより、磁気テープ204の幅方向のトラッキングが実現される。
In this way, when the traveling position of the
しかし、トラッキングが行われたとしても、急峻な振動およびジッタの高周波成分等は、PESが増大する要因となり、読取対象トラックから読み取られたデータの再生品質の低下に繋がってしまう。
これに対し、本発明の一態様にかかる磁気テープ装置において、読取素子ユニットは、磁気テープに含まれるトラック領域のうちの読取対象トラックを含む特定トラック領域からデータをリニアスキャン方式で各々読み取る複数の読取素子を有し、上記抽出部は、上記読取素子毎の読取結果の各々に対して、上記磁気テープと上記読取素子ユニットとの位置のずれ量に応じた波形等化処理を施すことにより、上記読取結果から、上記読取対象トラックに由来するデータを抽出する。これにより、上記磁気テープ装置によれば、読取対象トラックからリニアスキャン方式で単一の読取素子のみによってデータが読み取られる場合に比べ、読取対象トラックから読み取られるデータの再生品質を高めることができる。その結果、良好な再生品質を確保できるずれ量(トラックオフセット量)の許容量を大きくすることができる。
また、上記のずれ量は、サーボパターンの読み取りにより検出される。しかしサーボパターンの読み取りにより検出されるずれ量と実際に生じているずれ量との誤差が大きいと、磁気テープの各箇所で読み取られた読取結果に対して、上記のずれ量に応じた波形等化処理が、必ずしも最適な波形等化処理とは言えない場合がある。これに対し、サーボパターンの読み取りにより検出されるずれ量と実際に生じているずれ量との誤差を小さくすることができれば、各箇所で読み取られた読取結果に対して、より適した波形等化処理を施すことが可能となる。その結果、上記の波形等化処理によって良好な再生品質を確保できるずれ量の許容量を大きくすることができる。
以上のように、良好な再生品質を確保できるずれ量の許容量を大きくできることは、トラックマージン(記録トラック幅−再生素子幅)を小さくしても高い再生品質(例えば高SNR、低エラーレート等)での再生を可能にすることに寄与し得る。そしてトラックマージンを小さくできることは、記録トラック幅を小さくして磁気テープの幅方向に配置可能な記録トラック数を増すこと、即ち高容量化に寄与し得る。
以上の点に関して、上記磁気テープ装置においてデータの読み取りが行われる磁気テープのXRD強度比が0.5以上4.0以下であり、かつ垂直方向角型比を0.65以上1.00以下であることは、サーボパターンを読み取って読取素子の位置を特定する精度を高めることに寄与すると考えられる。このことが、サーボパターンの読み取りにより検出されるずれ量と実際に生じているずれ量との誤差を小さくすることにつながると推察される。この点については更に後述する。
However, even if tracking is performed, steep vibrations, high-frequency components of jitter, and the like cause an increase in PES, which leads to deterioration in reproduction quality of data read from the track to be read.
On the other hand, in the magnetic tape device according to one aspect of the present invention, the reading element unit reads data from a specific track area including a read target track among the track areas included in the magnetic tape by a linear scan method. The extraction unit has a reading element, and the extraction unit performs waveform equalization processing on each of the reading results for each reading element according to the amount of displacement between the magnetic tape and the reading element unit. From the reading result, data derived from the reading target track is extracted. As a result, according to the magnetic tape device, it is possible to improve the reproduction quality of the data read from the read target track as compared with the case where the data is read from the read target track by only a single reading element by the linear scan method. As a result, it is possible to increase the allowable amount of deviation (track offset amount) that can ensure good reproduction quality.
Further, the above deviation amount is detected by reading the servo pattern. However, if the error between the amount of deviation detected by reading the servo pattern and the amount of deviation actually occurring is large, the waveform or the like corresponding to the above amount of deviation will be obtained with respect to the reading result read at each part of the magnetic tape. The conversion process may not always be the optimum waveform equalization process. On the other hand, if the error between the amount of deviation detected by reading the servo pattern and the amount of deviation actually occurring can be reduced, the waveform equalization more suitable for the reading result read at each location can be achieved. It becomes possible to perform processing. As a result, it is possible to increase the allowable amount of deviation that can ensure good reproduction quality by the above waveform equalization processing.
As described above, the fact that the permissible amount of deviation that can ensure good reproduction quality can be increased means that high reproduction quality (for example, high SNR, low error rate, etc.) can be achieved even if the track margin (recording track width-reproduction element width) is reduced. ) Can contribute to enabling reproduction. The fact that the track margin can be reduced can contribute to reducing the recording track width and increasing the number of recording tracks that can be arranged in the width direction of the magnetic tape, that is, increasing the capacity.
Regarding the above points, the XRD intensity ratio of the magnetic tape on which data is read by the magnetic tape device is 0.5 or more and 4.0 or less, and the vertical square type ratio is 0.65 or more and 1.00 or less. It is considered that this contributes to improving the accuracy of reading the servo pattern and identifying the position of the reading element. It is presumed that this leads to reducing the error between the amount of deviation detected by reading the servo pattern and the amount of deviation actually occurring. This point will be described later.
以下、上記磁気テープ装置について、更に詳細に説明する。以下では、上記磁気テープ装置について図面を参照して説明することがある。ただし上記磁気テープ装置は、図面に示す態様に限定されるものではない。 Hereinafter, the magnetic tape device will be described in more detail. Hereinafter, the magnetic tape device may be described with reference to the drawings. However, the magnetic tape device is not limited to the mode shown in the drawings.
[磁気テープ装置の構成および磁気テープ読取処理]
一例として図1に示すように、磁気テープ装置10は、磁気テープカートリッジ12、搬送装置14、読取ヘッド16、および制御装置18を備えている。
[Structure of magnetic tape device and magnetic tape reading process]
As an example, as shown in FIG. 1, the
磁気テープ装置10は、磁気テープカートリッジ12から磁気テープMTを引き出し、引き出した磁気テープMTから読取ヘッド16を用いてデータをリニアスキャン方式で読み取る装置である。データの読み取りとは、データの再生とも言うことができる。
The
制御装置18は、磁気テープ装置10の全体を制御する。一態様では、制御装置18により行われる制御は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)によって実現され得る。また、一態様では、制御装置18により行われる制御は、FPGA(Field−Programmable Gate Array)によって実現され得る。また、制御装置18により行われる制御は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、およびRAM(Random Access Memory)を含むコンピュータによって実現されてもよい。また、AISC、FPGA、およびコンピュータのうちの2つ以上の組み合わせにより、上記制御が実現されてもよい。
The
搬送装置14は、磁気テープMTを順方向および逆方向に選択的に搬送する装置であり、送出モータ20、巻取リール22、巻取モータ24、複数のガイドローラGR、および制御装置18を備えている。
The
磁気テープカートリッジ12内には、カートリッジリールCRが設けられている。カートリッジリールCRには磁気テープMTが巻き掛けられている。送出モータ20は、制御装置18の制御下で、磁気テープカートリッジ12内のカートリッジリールCRを回転駆動させる。制御装置18は、送出モータ20を制御することで、カートリッジリールCRの回転方向、回転速度、および回転トルク等を制御する。
A cartridge reel CR is provided in the
磁気テープMTが巻取リール22によって巻き取られる場合には、制御装置18によって、磁気テープMTを順方向に走行させるように送出モータ20を回転させる。送出モータ20の回転速度および回転トルク等は、巻取リール22によって巻き取られる磁気テープMTの速度に応じて調整される。
When the magnetic tape MT is wound by the take-
巻取モータ24は、制御装置18の制御下で、巻取リール22を回転駆動させる。制御装置18は、巻取モータ24を制御することで、巻取リール22の回転方向、回転速度、および回転トルク等を制御する。
The take-up
磁気テープMTが巻取リール22によって巻き取られる場合には、制御装置18によって、磁気テープMTを順方向に走行させるように巻取モータ24を回転させる。巻取モータ24の回転速度および回転トルク等は、巻取リール22によって巻き取られる磁気テープMTの速度に応じて調整される。
When the magnetic tape MT is wound by the take-
このようにして送出モータ20および巻取モータ24の各々の回転速度および回転トルク等が調整されることで、磁気テープMTに既定範囲内の張力が付与される。ここで、既定範囲内とは、例えば、磁気テープMTから読取ヘッド16によってデータが読取可能な張力の範囲として、コンピュータシミュレーションおよび/または実機試験等により得られた張力の範囲を指す。
By adjusting the rotation speed, rotation torque, and the like of each of the
磁気テープMTをカートリッジリールCRに巻き戻す場合には、制御装置18によって、磁気テープMTを逆方向に走行させるように送出モータ20および巻取モータ24を回転させる。
When the magnetic tape MT is rewound to the cartridge reel CR, the
一態様では、送出モータ20および巻取モータ24の回転速度および回転トルク等が制御されることにより磁気テープMTの張力が制御されている。また、一態様では、磁気テープMTの張力は、ダンサローラを用いて制御されてもよいし、バキュームチャンバに磁気テープMTを引き込むことによって制御されてもよい。
In one aspect, the tension of the magnetic tape MT is controlled by controlling the rotational speed, rotational torque, and the like of the
複数のガイドローラGRの各々は、磁気テープMTを案内するローラである。磁気テープMTの走行経路は、複数のガイドローラGRが磁気テープカートリッジ12と巻取リール22との間において読取ヘッド16を跨ぐ位置に分けて配置されることによって定められている。
Each of the plurality of guide rollers GR is a roller that guides the magnetic tape MT. The traveling path of the magnetic tape MT is defined by arranging a plurality of guide rollers GR separately at positions straddling the reading
読取ヘッド16は、読取部26およびホルダ28を備えている。読取部26は、走行中の磁気テープMTに接触するようにホルダ28によって保持されている。
The reading
一例として図2に示すように、磁気テープMTは、トラック領域30およびサーボパターン32を備えている。サーボパターン32は、磁気テープMTに対する読取ヘッド16の位置の検出に用いられるパターンである。サーボパターン32は、テープ幅方向の両端部に、第1既定角度(例えば、95度)の第1斜線32Aと、第2既定角度(例えば、85度)の第2斜線32Bとが磁気テープMTの走行方向に沿って一定のピッチ(周期)で交互に配置されたパターンである。ここで言う「テープ幅方向」とは、磁気テープMTの幅方向を指す。
As an example, as shown in FIG. 2, the magnetic tape MT includes a
トラック領域30は、読取対象とされるデータが書き込まれた領域であり、磁気テープMTのテープ幅方向の中央部に形成されている。ここで言う「テープ幅方向の中央部」とは、例えば、磁気テープMTのテープ幅方向の一端部のサーボパターン32と他端部のサーボパターン32との間の領域を指す。以下では、説明の便宜上、「磁気テープMTの走行方向」を単に「走行方向」と称する。
The
読取部26は、サーボ素子対36および複数の読取素子ユニット38を備えている。ホルダ28は、テープ幅方向に長尺状に形成されており、ホルダ28の長手方向の全長は、磁気テープMTの幅よりも長い。サーボ素子対36は、ホルダ28の長手方向の両端部に配置されており、複数の読取素子ユニット38は、ホルダ28の長手方向の中央部に配置されている。
The
サーボ素子対36は、サーボ素子36Aおよび36Bを備えている。サーボ素子36Aは、磁気テープMTのテープ幅方向の一端部のサーボパターン32に対向する位置に配置されており、サーボ素子36Bは、磁気テープMTのテープ幅方向の他端部のサーボパターン32に対向する位置に配置されている。
The
ホルダ28において、サーボ素子36Aとサーボ素子36Bとの間には、複数の読取素子ユニット38がテープ幅方向に沿って配置されている。トラック領域30は、複数のトラックをテープ幅方向に等間隔に備えており、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、複数の読取素子ユニット38の各々がトラック領域30内の各トラックに対向して配置されている。
In the
よって、読取部26と磁気テープMTとが磁気テープMTの長手方向に沿って直線状に相対移動することにより、トラック領域30内の各トラックのデータは、複数の読取素子ユニット38のうちの位置が対応する読取素子ユニット38の各々によってリニアスキャン方式で読み取られる。また、リニアスキャン方式では、読取素子ユニット38の読取動作と同期して、サーボ素子対36によってサーボパターン32が読み取られる。すなわち、リニアスキャン方式の一態様では、複数の読取素子ユニット38とサーボ素子対36によって磁気テープMTに対する読み取りが並行して行われる。
Therefore, the
ここで、上記の「トラック領域30内の各トラック」とは、「磁気テープに含まれるトラック領域のうちの読取対象トラックを各々含む複数の特定トラック領域の各々」に含まれるトラックを指す。
Here, the above-mentioned "each track in the
上記の「磁気テープ装置10がデフォルトの状態」とは、磁気テープMTが変形することなく、かつ、磁気テープMTと読取ヘッド16との位置関係が正しい位置関係にある状態を指す。ここで、「正しい位置関係」とは、例えば、磁気テープMTのテープ幅方向の中心と読取ヘッド16の長手方向の中心とが一致する位置関係を指す。
The above-mentioned "default state of the
一態様において、複数の読取素子ユニット38の各々は同じ構成である。以下では、説明の便宜上、複数の読取素子ユニット38のうちの1つを例に挙げて説明する。一例として図3に示すように、読取素子ユニット38は、一対の読取素子を備えている。図3に示す例において、「一対の読取素子」とは、第1読取素子40および第2読取素子42を指す。第1読取素子40および第2読取素子42の各々は、トラック領域30のうち読取対象トラック30Aを含む特定トラック領域31からデータを読み取る。
In one aspect, each of the plurality of reading
図3に示す例では、説明の便宜上、1つの特定トラック領域31を示している。実際には、通常、トラック領域30には、複数の特定トラック領域31が存在し、各々の特定トラック領域31に読取対象トラック30Aが含まれている。そして、複数の特定トラック領域31の各々に対して読取素子ユニット38が1つずつ割り当てられている。具体的には、複数の特定トラック領域31の各々の読取対象トラック30Aに対して読取素子ユニット38が1つずつ割り当てられている。
In the example shown in FIG. 3, one
特定トラック領域31とは、隣接する3つのトラックを指す。隣接する3つのトラックのうちの1つ目のトラックは、トラック領域30のうちの読取対象トラック30Aである。隣接する3つのトラックのうちの2つ目のトラックは、読取対象トラック30Aに隣接する隣接トラックの1つである第1のノイズ混入源トラック30Bである。隣接する3つのトラックのうちの3つ目のトラックは、読取対象トラック30Aに隣接する隣接トラックの1つである第2のノイズ混入源トラック30Cである。読取対象トラック30Aは、トラック領域30において読取素子ユニット38に対向する位置のトラックである。すなわち、読取対象トラック30Aとは、換言すると、読取素子ユニット38のデータの読取対象とされたトラックを指す。
The
第1のノイズ混入源トラック30Bは、読取対象トラック30Aに対してテープ幅方向の一側方に隣接しており、読取対象トラック30Aから読み取られたデータに混入するノイズの混入源となるトラックである。第2のノイズ混入源トラック30Cは、読取対象トラック30Aに対してテープ幅方向の他側方に隣接しており、読取対象トラック30Aから読み取られたデータに混入するノイズの混入源となるトラックである。以下では、説明の便宜上、第1のノイズ混入源トラック30Bと第2のノイズ混入源トラック30Cとを区別して説明する必要がない場合、符号を付さずに「隣接トラック」と称する。
The first noise mixing
一態様では、トラック領域30内において、テープ幅方向に一定の間隔で複数の特定トラック領域31が配置されている。例えば、トラック領域30内において、テープ幅方向に一定の間隔で32個の特定トラック領域31が配置されており、各特定トラック領域31に対して読取素子ユニット38が1つずつ割り当てられている。
In one aspect, in the
第1読取素子40と第2読取素子42とは、走行方向で近接した状態で、かつ、走行方向で一部が重なる位置に配置されている。磁気テープ装置10のデフォルトの状態で、第1読取素子40は、読取対象トラック30Aと第1のノイズ混入源トラック30Bとを跨ぐ位置に配置されている。磁気テープ装置10のデフォルトの状態で、第2読取素子42は、読取対象トラック30Aと第1のノイズ混入源トラック30Bとを跨ぐ位置に配置されている。
The
磁気テープ装置10のデフォルトの状態で、平面視において、第1読取素子40のうちの読取対象トラック30Aと対向している部分の面積は、第1読取素子40のうちの第1のノイズ混入源トラック30Bと対向している部分の面積よりも大きい。一方、磁気テープ装置10のデフォルトの状態で、平面視において、第2読取素子42のうちの第1のノイズ混入源トラック30Bと対向している部分の面積は、第1読取素子40のうちの読取対象トラック30Aと対向している部分の面積よりも大きい。
In the default state of the
第1読取素子40によって読み取られたデータに対しては後述の第1等化器70(図7参照)によって波形等化処理が施される。第2読取素子42によって読み取られたデータに対しては後述の第2等化器72(図7参照)によって波形等化処理が施される。第1等化器70および第2等化器72の各々によって波形等化処理が施されて得られた各データは、加算器44によって加算されることで合成される。
The data read by the
図3では、読取素子ユニット38が第1読取素子40および第2読取素子42を有する態様を例に説明している。ただし、例えば、一対の読取素子のうちの1つの読取素子のみ(以下、単一読取素子とも称する)を用いても、読取素子ユニット38から得られる再生信号に相当する信号が得られる。
In FIG. 3, a mode in which the
この場合、例えば、一例として図8に示すように、単一読取素子から得られる再生信号を、再生信号と同期してサーボ素子対36によって取得されたサーボ信号から算出されるトラック上の平面位置に割り当てる。そして、これをテープ幅方向に単一読取素子を移動させながら繰り返すことで、再生信号の2次元像(以下、単に「2次元像」と称する)を得る。ここで、2次元像、または、2次元像の一部を構成する再生信号(例えば、複数のトラックの位置に相当する再生信号)は、読取素子ユニット38から得られる再生信号に相当する信号である。
In this case, for example, as shown in FIG. 8 as an example, the plane position on the track calculated from the servo signal acquired by the
図23には、ループ状にした磁気テープMT(以下、「ループテープ」とも称する)を、ループテスタを用いて得た再生信号の2次元像の一例が示されている。ここで、ループテスタとは、例えば、ループテープを単一読取素子に対して繰り返し接触させた状態で搬送させる装置を指す。ループテスタと同様に2次元像を得るためには、リールテスタを用いてもよいし、実際のテープドライブを用いてもよい。ここで言う「リールテスタ」とは、例えば、磁気テープMTをリール形態で搬送させる装置を指す。 FIG. 23 shows an example of a two-dimensional image of a reproduced signal obtained by using a loop tester on a looped magnetic tape MT (hereinafter, also referred to as “loop tape”). Here, the loop tester refers to, for example, a device that conveys a loop tape in a state of being repeatedly brought into contact with a single reading element. In order to obtain a two-dimensional image as in the loop tester, a reel tester may be used, or an actual tape drive may be used. The "reel tester" referred to here refers to, for example, a device that conveys a magnetic tape MT in a reel form.
このように、近接した位置に複数の読取素子を搭載した読取素子ユニットを有しない従来型の磁気テープ用ヘッドを用いたとしても、本明細書に記載の技術に係る効果を定量的に評価することができる。本明細書に記載の技術に係る効果を定量的に評価するための指標の一例として、SNR、エラーレート等が挙げられる。 As described above, even if a conventional magnetic tape head that does not have a reading element unit in which a plurality of reading elements are mounted at close positions is used, the effect of the technique described in the present specification is quantitatively evaluated. be able to. Examples of an index for quantitatively evaluating the effect of the technique described in the present specification include SNR, error rate, and the like.
図4〜図6には、本発明者らが実験して得られた結果が示されている。一例として図4に示すように、トラック領域49上には読取素子対50が配置されている。トラック領域49は、テープ幅方向に隣接する第1トラック49A、第2トラック49B、および第3トラック49Cを含む。読取素子対50は、第1読取素子50Aおよび第2読取素子50Bからなる。第1読取素子50Aと第2読取素子50Bとは、テープ幅方向で近接する位置に配置されている。また、第1読取素子50Aは、読取対象トラックである第2トラック49Bに対向し、かつ、第2トラック49Bに収まるように配置されている。また、第2読取素子50Bは、第2トラック49Bの一側方に隣接する第1トラック49Aに対向し、かつ、第1トラック49Aに収まるように配置されている。
4 to 6 show the results obtained by the present inventors in an experiment. As an example, as shown in FIG. 4, a
図5には、単一読取素子データと第1条件下での第1合成データとの各々に関するSNRとトラックオフセットとの相関の一例が示されている。また、図6には、単一読取素子データと第2条件下での第2合成データとの各々に関するSNRとトラックオフセットとの相関の一例が示されている。 FIG. 5 shows an example of the correlation between the SNR and the track offset for each of the single reading element data and the first composite data under the first condition. Further, FIG. 6 shows an example of the correlation between the SNR and the track offset for each of the single reading element data and the second composite data under the second condition.
ここで、単一読取素子データとは、図3に示す第1読取素子40と同様に、第1読取素子50Aによって読み取られたデータに対して波形等化処理が施されて得られたデータを指す。第1条件とは、読取素子ピッチが700nm(ナノメートル)との条件を指す。第2条件とは、読取素子ピッチが500nmとの条件を指す。読取素子ピッチとは、一例として図4に示すように、第1読取素子50Aと第2読取素子50Bとのテープ幅方向のピッチを指す。トラックオフセットとは、一例として図4に示すように、第2トラック49Bのテープ幅方向の中心と第1読取素子50Aのトラック幅方向の中心とのずれ量を指す。
Here, the single reading element data is the data obtained by subjecting the data read by the
第1合成データとは、第1条件下で各々得られた第1波形等化処理済みデータと第2波形等化処理済みデータとが加算されることで合成されたデータを指す。第1波形等化処理済みデータとは、図3に示す第1読取素子40と同様に、第1読取素子50Aによって読み取られたデータに対して波形等化処理が施されて得られたデータを指す。第2波形等化処理済みデータとは、図3に示す第2読取素子42と同様に、第2読取素子50Bによって読み取られたデータに対して波形等化処理が施されて得られたデータを指す。第2合成データとは、第2条件下で各々得られた第1波形等化処理済みデータと第2波形等化処理済みデータとが加算されることで合成されたデータを指す。
The first composite data refers to data synthesized by adding the first waveform equalization processed data and the second waveform equalization processed data obtained under the first condition. The first waveform equalization processed data is the data obtained by subjecting the data read by the
図5に示す第1合成データのSNRと図6に示す第2合成データのSNRとを比較すると、第1合成データのSNRは、トラックオフセットが−0.4μm(マイクロメートル)〜0.2μm辺りで急激に下落してグラフの途中で溝が生じているのに対し、第2合成データのSNRは、第1合成データのSNRのグラフのように途中で急激に下落することはない。第1合成データのSNRおよび第2合成データのSNRの各々は、単一読取素子データのSNRよりも高く、特に、第2合成データのSNRは、トラックオフセットの全範囲において、単一読取素子データのSNRよりも高い。 Comparing the SNR of the first composite data shown in FIG. 5 with the SNR of the second composite data shown in FIG. 6, the SNR of the first composite data has a track offset of about −0.4 μm (micrometer) to 0.2 μm. The SNR of the second composite data does not drop sharply in the middle as in the graph of the SNR of the first composite data, whereas the SNR of the second composite data drops sharply in the middle of the graph. Each of the SNR of the first composite data and the SNR of the second composite data is higher than the SNR of the single read element data, and in particular, the SNR of the second composite data is the single read element data in the entire range of the track offset. Higher than the SNR of.
本発明者らは、図5および図6に示す実験結果から、第1読取素子50Aのみによりデータの読み取りが行われる場合に比べ、第1読取素子50Aと第2読取素子50Bとをテープ幅方向に近接させた状態でデータの読み取りを行わせることが好ましいことを知見した。ここで言う「近接させた状態」とは、例えば、第1読取素子50Aと第2読取素子50Bとが、接触することなく、トラックオフセットの全範囲において、単一読取素子データのSNRよりもSNRが高くなるようにテープ幅方向に並べて配置された状態を指す。
From the experimental results shown in FIGS. 5 and 6, the present inventors have compared the
一態様では、一例として図3に示すように、読取素子ユニット38において、第1読取素子40と第2読取素子42とが走行方向に対して互いの一部をオーバーラップさせることで磁気テープMTに含まれるトラックの高密度化を実現している。
In one aspect, as shown in FIG. 3 as an example, in the
一例として図7に示すように、磁気テープ装置10は、アクチュエータ60、抽出部62、A/D(Analog/Digital)変換器64、66、68、復号部69、およびコンピュータ73を備えている。
As an example, as shown in FIG. 7, the
制御装置18は、サーボ素子対36に対してA/D(Analog−to−digital)変換器68を介して接続されている。A/D変換器68は、サーボ素子対36に含まれるサーボ素子36Aおよび36Bによってサーボパターン32が読み取られて得られたアナログ信号をデジタル信号に変換することで得たサーボ信号を制御装置18に出力する。
The
制御装置18は、アクチュエータ60に接続されている。アクチュエータ60は、読取ヘッド16に取り付けられており、制御装置18の制御下で、動力を読取ヘッド16に付与することにより、読取ヘッド16をテープ幅方向に変動させる。アクチュエータ60は、例えば、ボイスコイルモータを含んでおり、読取ヘッド16に付与される動力は、磁石のエネルギーを媒体として、コイルに流れる電流に基づく電気エネルギーが運動エネルギーに変換されることによって得られる動力である。
The
ここでは、アクチュエータ60にボイスコイルモータが搭載されている態様を挙げている。ただし、上記磁気テープ装置は、かかる態様に限定されず、例えば、ボイスコイルモータに代えて圧電素子を採用することも可能である。また、ボイスコイルモータおよび圧電素子を併用することも可能である。
Here, the mode in which the voice coil motor is mounted on the
磁気テープMTと読取素子ユニット38との位置のずれ量は、サーボパターン32をサーボ素子対36が読み取って得た結果であるサーボ信号に応じて定められる。制御装置18は、アクチュエータ60を制御することにより、磁気テープMTと読取素子ユニット38との位置のずれ量に応じた動力を読取ヘッド16に付与することによって、読取ヘッド16をテープ幅方向に変動させ、読取ヘッド16の位置を正常な位置に調整する。ここで、正常な位置とは、例えば、図3に示すように、磁気テープ装置10がデフォルトの状態での読取ヘッド16の位置を指す。
The amount of misalignment between the magnetic tape MT and the
以下では、説明の便宜上、磁気テープMTと読取素子ユニット38との位置のずれ量を単に「ずれ量」と称する。ずれ量は、例えば、図8に示すように、距離Bに対する距離Aの割合に基づいて算出される。距離Aとは、隣接する第1斜線32Aと第2斜線32Bとがサーボ素子36Aによって読み取られることで得た結果から算出された距離を指す。距離Bとは、隣接する2つの第1斜線32Aがサーボ素子36Aによって読み取られることで得た結果から算出された距離を指す。
Hereinafter, for convenience of explanation, the amount of displacement between the magnetic tape MT and the
抽出部62は、制御装置18および2次元FIRフィルタ71を備えている。2次元FIRフィルタ71は、加算器44、第1等化器70、および第2等化器72を備えている。
The
第1等化器70は、A/D変換器64を介して第1読取素子40に接続されている。また、第1等化器70は、制御装置18および加算器44の各々に接続されている。第1読取素子40によって特定トラック領域31から読み取られたデータはアナログ信号であり、A/D変換器64は、第1読取素子40によって特定トラック領域31から読み取られたデータをデジタル信号に変換することで得た第1読取信号を第1等化器70に出力する。
The
第2等化器72は、A/D変換器66を介して第2読取素子42に接続されている。また、第2等化器72は、制御装置18および加算器44の各々に接続されている。第2読取素子42によって特定トラック領域31から読み取られたデータはアナログ信号であり、A/D変換器66は、第2読取素子42によって特定トラック領域31から読み取られたデータをデジタル信号に変換することで得た第2読取信号を第2等化器72に出力する。なお、第1読取信号および第2読取信号は、「読取素子毎の読取結果」の一例である。
The
第1等化器70は、入力された第1読取信号に対して、波形等化処理を施す。例えば、第1等化器70は、入力された第1読取信号に対して、タップ係数を畳み込み演算し、演算処理後の信号である第1の演算処理済み信号を出力する。
The
第2等化器72は、入力された第2読取信号に対して、波形等化処理を施す。例えば、第2等化器72は、入力された第2読取信号に対して、タップ係数を畳み込み演算し、演算処理後の信号である第2の演算処理済み信号を出力する。
The
第1等化器70および第2等化器72の各々は、第1の演算処理済み信号および第2の演算処理済み信号を加算器44に出力する。加算器44は、第1等化器70から入力された第1の演算処理済み信号と、第2等化器72から入力された第2の演算処理済み信号とを加算することで合成し、合成して得た合成データを復号部69に出力する。
Each of the
第1等化器70および第2等化器72の各々は、1次元FIRフィルタである。
Each of the
一態様では、FIRフィルタ自体は、正負を含む実数値の系列であり、系列の行数はタップ数と称され、数値自体はタップ係数と称される。また、一態様では、波形等化とは、読取信号に対して、上記の実数値の系列、すなわち、タップ係数を畳み込み演算(積和算)する処理を指す。ここで言う「読取信号」とは、第1読取信号および第2読取信号の総称を指す。また、一態様では、等化器とは、読取信号またはその他の入力信号に対し、タップ係数を畳み込み演算し、演算処理後の信号を出力する処理を実行する回路を指す。また、一態様では、加算器とは、単純に2つの系列を加算する回路を指す。2つの系列の重み付けは、第1等化器70および第2等化器72で用いられるFIRフィルタの数値、すなわち、タップ係数に反映される。
In one aspect, the FIR filter itself is a series of real values including positive and negative, the number of rows in the series is referred to as the number of taps, and the numerical value itself is referred to as the tap coefficient. In one aspect, waveform equalization refers to a process of convolving (multiply-accumulate) the above-mentioned series of real values, that is, tap coefficients, with respect to the read signal. The term "read signal" as used herein refers to a general term for the first read signal and the second read signal. Further, in one aspect, the equalizer refers to a circuit that executes a process of convolving a tap coefficient with respect to a read signal or other input signal and outputting a signal after the calculation process. In one aspect, the adder simply refers to a circuit that adds two sequences. The weighting of the two series is reflected in the numerical value of the FIR filter used in the
制御装置18は、第1等化器70および第2等化器72の各々のFIRフィルタに対して、ずれ量に応じたタップ係数を設定することにより、第1等化器70および第2等化器72の各々に対して、ずれ量に応じた波形等化処理を実行させる。
The
制御装置18は、対応テーブル18Aを備えている。対応テーブル18Aでは、第1等化器70および第2等化器72の各々について、タップ係数とずれ量とが対応付けられている。タップ係数とずれ量との組み合わせは、例えば、実機の試験およびシミュレーションのうちの少なくとも一方が実施された結果に基づいて、加算器44によって最良の合成データが得られるタップ係数とずれ量との組み合わせとして予め得られた組み合わせである。ここで言う「最良の合成データ」とは、読取対象トラックデータに相当するデータを指す。
The
ここで、「読取対象トラックデータ」とは、「読取対象トラック30Aに由来するデータ」を指す。「読取対象トラック30Aに由来するデータ」とは、換言すると、読取対象トラック30Aに書き込まれているデータに相当するデータを指す。読取対象トラック30Aに書き込まれているデータに相当するデータの一例としては、読取対象トラック30Aから読み出されたデータであって、隣接トラックからのノイズ成分が混入されていないデータが挙げられる。
Here, the "reading target track data" refers to "data derived from the
上記では、対応テーブル18Aを例示している。他の態様では、対応テーブル18Aに代えて、演算式を採用してもよい。ここで言う「演算式」とは、例えば、独立変数をずれ量とし、従属変数をタップ係数とした演算式を指す。 In the above, the corresponding table 18A is illustrated. In another aspect, an arithmetic expression may be adopted instead of the corresponding table 18A. The "calculation formula" referred to here refers to, for example, a calculation formula in which the independent variable is the deviation amount and the dependent variable is the tap coefficient.
上記では、タップ係数とずれ量との組み合わせが規定された対応テーブル18Aからタップ係数が導出される態様が挙げられている。他の態様では、例えば、タップ係数と比との組み合わせが規定された対応テーブルまたは演算式からタップ係数が導出されてもよい。ここで言う「比」とは、第1読取素子40および第2読取素子42の各々についての、読取対象トラック30Aとの重複領域と隣接トラックとの重複領域との比を指す。比は、制御装置18により、ずれ量から算出されることで特定され、特定された比に応じて、タップ係数が定められる。
In the above, the mode in which the tap coefficient is derived from the corresponding table 18A in which the combination of the tap coefficient and the deviation amount is defined is mentioned. In another aspect, for example, the tap coefficient may be derived from a corresponding table or arithmetic expression in which the combination of the tap coefficient and the ratio is defined. The “ratio” referred to here refers to the ratio of the overlapping region with the
復号部69は、加算器44から入力された合成データを復号し、復号して得た復号信号をコンピュータ73に出力する。コンピュータ73は、復号部69から入力された復号信号に対して各種処理を施す。
The
次に、抽出部62によって実行される磁気テープ読取処理について、図9を参照して説明する。以下では、説明の便宜上、サンプリングの時期が到来すると、サーボ信号が制御装置18に入力されることを前提として説明する。ここで、サンプリングとは、サーボ信号のサンプリングに限らず、読取信号のサンプリングも意味する。すなわち、一態様では、トラック領域30が走行方向に沿ってサーボパターン32と並行して形成されているので、サーボ素子対36の読取動作に同期して読取素子ユニット38の読取動作が行われる。
Next, the magnetic tape reading process executed by the
図9に示す処理では、先ず、ステップ100で、制御装置18は、サンプリングの時期が到来したか否かを判定する。ステップ100において、サンプリングの時期が到来した場合は、判定が肯定されて、磁気テープ読取処理はステップ102へ移行する。ステップ100において、サンプリングの時期が到来していない場合は、判定が否定されて、ステップ100の判定が再び行われる。
In the process shown in FIG. 9, first, in
ステップ102で、第1等化器70は、第1読取信号を取得し、第2等化器72は、第2読取信号を取得し、その後、磁気テープ読取処理はステップ104へ移行する。
In
ステップ104で、制御装置18は、サーボ信号を取得し、取得したサーボ信号からずれ量を算出し、その後、磁気テープ読取処理はステップ106へ移行する。
In
ステップ106で、制御装置18は、第1等化器70および第2等化器72の各々の第1〜第3タップについて、ステップ104の処理で算出したずれ量に対応するタップ係数を対応テーブル18Aから導出する。すなわち、本ステップ106の処理が実行されることで、第1等化器70の一例である1次元FIRフィルタと第2等化器72の一例である1次元フィルタとの組み合わせとして最適な組み合わせが定められる。ここで言う「最適な組み合わせ」とは、例えば、後述のステップ112の処理が実行されることで出力される合成データを、読取対象トラックデータに相当するデータにする組み合わせを指す。
In
次のステップ108で、制御装置18は、ステップ106の処理で導出したタップ係数を第1等化器70および第2等化器72の各々に対して設定し、その後、磁気テープ読取処理はステップ110へ移行する。
In the
ステップ110で、第1等化器70は、ステップ102の処理で取得した第1読取信号に対して波形等化処理を施すことで、第1の演算処理済み信号を生成する。第1等化器70は、生成した第1の演算処理済み信号を加算器44に出力する。第2等化器72は、ステップ102の処理で取得した第2読取信号に対して波形等化処理を施すことで、第2の演算処理済み信号を生成する。第2等化器72は、生成した第2の演算処理済み信号を加算器44に出力する。
In
次のステップ112で、加算器44は、一例として図10に示すように、第1等化器70から入力された第1の演算処理済み信号と、第2等化器72から入力された第2の演算処理済み信号とを加算することで合成する。そして、加算器44は、合成して得た合成データを復号部69に出力する。
In the
図3に示す例のように読取素子ユニット38が特定トラック領域31上に配置されている場合、本ステップ112の処理が実行されることにより、合成データとして、第1のノイズ混入源トラック30Bからのノイズ成分が除去された読取対象トラックデータに相当するデータが出力される。つまり、ステップ102〜ステップ112の処理が実行されることにより、抽出部62によって、読取対象トラック30Aに由来するデータのみが抽出される。
When the
磁気テープMTのテープ幅方向が伸縮したり、磁気テープMTおよび読取ヘッド16の少なくとも一方に対して振動が付与されたりした場合に、読取素子ユニット38が、一例として図3に示す位置から図11に示す位置に変位することがある。図11に示す例では、第1読取素子40と第2読取素子42とが、読取対象トラック30Aと第2のノイズ混入源トラック30Cとの双方に対して、共に跨る位置に配置される。この場合、ステップ102〜ステップ112の処理が実行されることで、第2のノイズ混入源トラック30Cからのノイズ成分が除去された読取対象トラックデータに相当するデータが合成データとして復号部69に出力される。
When the tape width direction of the magnetic tape MT expands or contracts, or when vibration is applied to at least one of the magnetic tape MT and the reading
次のステップ114で、制御装置18は、磁気テープ読取処理を終了する条件(以下、「終了条件」と称する)を満たしたか否かを判定する。終了条件とは、例えば、磁気テープMTの全てが巻取リール22によって巻き取られたとの条件、磁気テープ読取処理を強制終了する指示が外部から与えられたとの条件等を指す。
In the
ステップ114において、終了条件を満たしていない場合は、判定が否定されて、磁気テープ読取処理はステップ100へ移行する。ステップ114において、終了条件を満たした場合は、判定が肯定されて、磁気テープ読取処理が終了する。
If the end condition is not satisfied in
以上説明したように、磁気テープ装置10の一態様では、近接した状態で配置された第1読取素子40および第2読取素子42により、特定トラック領域31からデータが各々読み取られる。そして、抽出部62により、第1読取素子40および第2読取素子42の各々に対して、ずれ量に応じた波形等化処理が施されることで、第1読取信号および第2読取信号から、読取対象トラック30Aに由来するデータが抽出される。従って、磁気テープ装置10は、読取対象トラック30Aからリニアスキャン方式で単一の読取素子のみによってデータが読み取られる場合に比べ、読取対象トラック30Aからリニアスキャン方式で読み取られるデータの再生品質の低下を抑制することができる。
As described above, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、第1読取素子40および第2読取素子42の互いの一部が走行方向で重なっている。従って、磁気テープ装置10は、複数の読取素子の互いの全体が走行方向で重なっている場合に比べ、読取対象トラック30Aからリニアスキャン方式で読み取られるデータの再生品質を高めることができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、特定トラック領域31は、読取対象トラック30A、第1のノイズ混入源トラック30B、および第2のノイズ混入源トラック30Cを含み、第1読取素子40および第2読取素子42の各々は、磁気テープMTとの位置関係が変化した場合に、読取対象トラック30Aおよび隣接トラックの双方に対して、共に跨っている。従って、磁気テープ装置10は、読取対象トラック30Aからリニアスキャン方式で単一の読取素子のみによってデータが読み取られる場合に比べ、テープ幅方向において読取対象トラック30Aから隣接トラックに入り込むことにより第1読取素子40および第2読取素子42のうちの一方の読取素子で生じるノイズ成分を、テープ幅方向において読取対象トラック30Aから隣接トラックに入り込んでいる他方の読取素子の読取結果を利用して低減することができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、波形等化処理で用いられるタップ係数はずれ量に応じて定められる。従って、磁気テープ装置10は、タップ係数がずれ量とは関連性のないパラメータに応じて定められる場合に比べ、テープ幅方向において隣接トラックから読取対象トラック30Aに入り込むことで生じるノイズ成分を、磁気テープMTと読取素子ユニット38との位置関係の変化に追従して即時的に低減することができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、第1読取素子40および第2読取素子42の各々について、読取対象トラック30Aとの重複領域と隣接トラックとの重複領域との比がずれ量から特定され、特定された比に応じてタップ係数が定められる。これにより、磁気テープ装置10は、複数の読取素子の各々についての読取対象トラック30Aとの重複領域と隣接トラックとの重複領域との比とは関連性のないパラメータに応じてタップ係数が定められる場合に比べ、磁気テープMTと読取素子ユニット38との位置関係が変化したとしても、ノイズ成分を正確に低減することができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、ずれ量は、サーボパターン32をサーボ素子対36が読み取ることで得た結果に応じて定められる。これにより、磁気テープ装置10は、磁気テープMTにサーボパターン32が付与されていない場合に比べ、容易にずれ量を定めることができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、サーボ素子対36の読取動作に同期して読取素子ユニット38の読取動作が行われる。これにより、磁気テープ装置10は、サーボパターンとデータとを同期して読み取ることができない磁気ディスクおよびヘリカルスキャン方式の磁気テープに比べ、磁気テープの幅方向において隣接トラックから読取対象トラックに入り込むことで生じるノイズ成分を即時的に低減することができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、抽出部62が2次元FIRフィルタ71を有している。そして、2次元FIRフィルタ71により、第1読取信号および第2読取信号の各々に対して波形等化処理が施されることで得られた各結果を合成することで、第1読取信号および第2読取信号から読取対象トラック30Aに由来するデータが抽出される。これにより、磁気テープ装置10は、1次元FIRフィルタのみを用いる場合に比べ、第1読取信号および第2読取信号から読取対象トラック30Aに由来するデータを迅速に抽出することができる。また、磁気テープ装置10は、行列演算を行う場合に比べ、より少ない演算量での演算を実現することができる。
Further, in one aspect of the
また、磁気テープ装置10の一態様では、一対の読取素子として第1読取素子40および第2読取素子42が採用されている。これにより、磁気テープ装置10は、3つ以上の読取素子を用いる場合に比べ、読取素子ユニット38の小型化に寄与することができる。読取素子ユニット38が小型化されることにより、読取部26および読取ヘッド16も小型化可能となる。また、磁気テープ装置10は、隣接する読取素子ユニット38同士で接触するという事態の発生も抑制することができる。
Further, in one aspect of the
更に、磁気テープ装置10の一態様では、複数の読取素子ユニット38の各々により、複数の特定トラック領域31の各々に含まれる対応する読取対象トラック30Aからリニアスキャン方式でデータが読み取られる。これにより、磁気テープ装置10は、複数の読取対象トラック30Aの各々から単一の読取素子ユニット38のみによってデータが読み取られる場合に比べ、複数の読取対象トラック30Aからのデータの読み取りを迅速に完遂することができる。
Further, in one aspect of the
上記の態様では、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第1読取素子40および第2読取素子42の各々が、読取対象トラック30Aおよび第1のノイズ混入源トラック30Bの双方に対して、共に跨るように設けられている、ただし、上記磁気テープ装置は、かかる態様に限定されない。図12に示す例では、上記で説明した読取素子ユニット38に代えて読取素子ユニット138が採用されている。読取素子ユニット138は、第1読取素子140および第2読取素子142を備えている。磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第1読取素子140のテープ幅方向の中心は、読取対象トラック30Aのテープ幅方向の中心CLと一致している。また、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第1読取素子140および第2読取素子142は、第1のノイズ混入源トラック30Bおよび第2のノイズ混入源トラック30Cに食み出すことなく、読取対象トラック30Aに収まっている。更に、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、上記実施形態で説明した第1読取素子40および第2読取素子42と同様に、第1読取素子140および第2読取素子142の各々は、走行方向で互いの一部が重なるように設けられている。
In the above embodiment, with the
一例として図12に示すように第1読取素子140および第2読取素子142が読取対象トラック30Aから食み出ることなく読取対象トラック30Aに対面している状態であっても、読取素子ユニット138と磁気テープMTとの位置関係が変化することがある。すなわち、読取素子ユニット138が読取対象トラック30Aと第1のノイズ混入源トラック30Bとに跨る場合と読取素子ユニット138が読取対象トラック30Aと第2のノイズ混入源トラック30Cとに跨る場合とがある。これらの場合であっても、上述したステップ102〜ステップ112の処理が実行されることにより、第1のノイズ混入源トラック30Bまたは第2のノイズ混入源トラック30Cからのノイズ成分が除去された読取対象トラックデータに相当するデータを得ることが可能となる。
As an example, as shown in FIG. 12, even when the
また、第1読取素子140および第2読取素子142が走行方向で互いの一部が重なる位置に配置されているので、読取対象トラック30Aのうち、第1読取素子140では読み取ることができない部分から第2読取素子142がデータを読み出すことができる。この結果、第1読取素子140が単一で読取対象トラック30Aからデータを読み取る場合に比べ、読取対象トラックデータの信頼性を高めることができる。
Further, since the
また、一例として図11に示すように、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第1読取素子40および第2読取素子42の各々が、読取対象トラック30Aおよび第2のノイズ混入源トラック30Cの双方に対して、共に跨る位置に配置されるようにしてもよい。
Further, as shown in FIG. 11, as an example, in the default state of the
また、上記では、第1読取素子40および第2読取素子42を含む読取素子ユニット38を例示した。ただし上記磁気テープ装置は、かかる態様に限定されない。図13に示す例では、読取素子ユニット38に代えて読取素子ユニット238が採用されている。読取素子ユニット238は、読取素子ユニット38に比べ、第3読取素子244を有する点が異なる。磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第3読取素子244は、第1読取素子40との間で、走行方向で互いの一部が重なる位置に配置されている。また、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第3読取素子244は、読取対象トラック30Aおよび第2のノイズ混入源トラック30Cに跨る位置に配置されている。
Further, in the above, the
この場合、第1読取素子40に対して第1等化器70を割り当て、第2読取素子42に第2等化器72を割り当てた場合と同様に、第3読取素子244に対しても第3等化器(図示省略)を割り当てる。第3等化器も、上記で説明した第1等化器および第2等化器と同様の機能を有しており、第3読取素子244によって読み取られて得られた第3読取信号に対して波形等化処理を施す。そして、第3等化器は、第3読取信号に対して、例えばタップ係数を畳み込み演算し、演算処理後の信号である第3の演算処理済み信号を出力する。加算器44は、第1読取信号に対応する第1の演算処理済み信号と、第2読取信号に対応する第2の演算処理済み信号と、第3読取信号に対応する第3の演算処理済み信号とを加算することで合成し、合成して得た合成データを復号部69に出力する。
In this case, the
図13に示す例では、磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第3読取素子244が読取対象トラック30Aと第2のノイズ混入源トラック30Cとに跨った位置に配置されているが、本開示の技術はこれに限定されない。磁気テープ装置10がデフォルトの状態で、第3読取素子244が読取対象トラック30Aから食み出すことなく読取対象トラック30Aに対面する位置に配置されるようにしてもよい。
In the example shown in FIG. 13, the
また、上記では、読取素子ユニット38を例示した。ただし上記磁気テープ装置は、かかる態様に限定されない。例えば、読取素子ユニット38に代えて、図4に示す読取素子対50が採用されてもよい。この場合、第1読取素子50Aおよび第2読取素子50Bは、テープ幅方向で近接する位置に配置されるようにする。また、第1読取素子50Aと第2読取素子50Bとが、接触することなく、一例として図6に示すように、トラックオフセットの全範囲において、単一読取素子データのSNRよりもSNRが高くなるようにテープ幅方向に並べて配置されるようにする。
Moreover, in the above, the
図4に示す例では、例えば、第1読取素子50Aが平面視で第2トラック49B内に納まっており、第2読取素子50Bが平面視で第1トラック49A内に収まっている。
In the example shown in FIG. 4, for example, the
また、上記では、サーボ素子対36を例示した。ただし上記磁気テープ装置は、かかる態様に限定されない。例えば、サーボ素子対36に代えて、サーボ素子36Aおよび36Bのうちの1つを採用してもよい。
Moreover, in the above, the
また、上記では、トラック領域30内において、複数の特定トラック領域31がテープ幅方向に一定の間隔で配列されている態様について説明した。ただし上記磁気テープ装置は、かかる態様に限定されない。例えば、複数の特定トラック領域31のうち、隣接する2つの特定トラック領域31において、一方の特定トラック領域31と他方の特定トラック領域31とがテープ幅方向において1トラック分だけ重複するようにテープ幅方向に配列させるようにしてもよい。この場合、一方の特定トラック領域31に含まれる一方の隣接トラック(例えば、第1のノイズ混入源トラック30B)が他方の特定トラック領域31では読取対象トラック30Aになる。また、一方の特定トラック領域31に含まれる読取対象トラック30Aは、他方の特定トラック領域31では隣接トラック領域(例えば、第2のノイズ混入源トラック30C)になる。
Further, in the above description, a mode in which a plurality of
以上説明した磁気テープ装置の構成および磁気テープ読取処理はあくまでも例示である。従って、主旨を逸脱しない範囲内において、不要なステップの削除、新たなステップの追加、処理順序の入れ替え等が可能であることは言うまでもない。
また、上記磁気テープ装置は、磁気テープに記録されたデータの読み取り(再生)を行うことができ、更に、磁気テープへのデータの記録を行うための構成を有することもできる。
The configuration of the magnetic tape device and the magnetic tape reading process described above are merely examples. Therefore, it goes without saying that it is possible to delete unnecessary steps, add new steps, change the processing order, and the like within a range that does not deviate from the purpose.
Further, the magnetic tape device can read (reproduce) the data recorded on the magnetic tape, and can also have a configuration for recording the data on the magnetic tape.
[磁気テープ]
次に、上記磁気テープ装置においてデータの読み取りが行われる磁気テープの詳細について説明する。
[Magnetic tape]
Next, the details of the magnetic tape on which data is read in the magnetic tape device will be described.
<XRD強度比、垂直方向角型比>
以下に、XRD強度比および垂直方向角型比について説明する。
上記磁気テープの磁性層に含まれる強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末である。磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末の中には、六方晶フェライト粉末(粒子の集合)の磁気特性に影響を及ぼす粒子(以下、「前者の粒子」ともいう。)と、影響を及ぼさないか影響が少ないと考えられる粒子(以下、「後者の粒子」ともいう。)とが含まれていると推察される。後者の粒子は、例えば磁性層形成用組成物の調製時に行われる分散処理により粒子が一部欠けること(チッピング(chipping))により発生した微細な粒子と考えられる。そして磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末を構成する粒子の中で、前者の粒子は、In−Plane法を用いたX線回折分析において回折ピークをもたらす粒子と考えられ、一方、後者の粒子は微細なため回折ピークをもたらさないか回折ピークへの影響は小さいと考えられる。そのため、In−Plane法を用いた磁性層のX線回折分析によってもたらされる回折ピークの強度に基づけば、六方晶フェライト粉末の磁気特性に影響を及ぼす粒子の磁性層における存在状態を制御することができると推察される。XRD強度比は、この点に関する指標と考えられる。
一方、垂直方向角型比とは、磁性層表面に対して垂直な方向で測定される飽和磁化に対する残留磁化の比であって、残留磁化が小さいほど値が小さくなる。上記の後者の粒子は微細であり磁化を保持し難いと考えられるため、磁性層において後者の粒子が多く含まれるほど、垂直方向角型比は小さくなる傾向があると推察される。そのため、垂直方向角型比は、磁性層における上記の後者の粒子(微細な粒子)の存在量の指標になり得ると考えられる。
サーボパターンを読み取って読取素子の位置を特定する精度が低下する原因は、サーボライトヘッドによって磁化(サーボパターンを形成)する時に磁性層上の意図しない箇所も磁化されてしまうことにあると考えられる。そして、上記の意図しない箇所の磁化は、磁性層に磁気的な歪が発生することによって生じやすくなると推察される。これに対し、XRD強度比を0.5以上4.0以下とすること、および垂直方向角型比を0.65以上1.00以下とすることは、それぞれ以下のように磁性層における磁気的な歪の発生を抑制することに寄与するのではないかと推察される。
XRD強度比が0.5以上4.0以下であることは、前者の粒子が磁性層において適度に整列していることを意味すると考えられ、このことが磁性層における磁気的な歪の発生の抑制に寄与すると推察される。また、後者の粒子は微細なため、磁化反転しやすいと考えられる。垂直方向角型比が0.65以上1.00以下であることは、磁化反転しやすい後者の粒子の存在量が少ないことを意味すると考えられ、このことも磁性層における磁気的な歪の発生の抑制に寄与すると推察される。
以上により、サーボパターンを読み取って読取素子の位置を特定する精度を高めることができれば、サーボパターンの読み取りにより検出されるずれ量と実際に生じているずれ量との誤差を小さくすることが可能になると推察される。ただし以上は推察であって、本発明を何ら限定するものではない。
<XRD intensity ratio, vertical angle type ratio>
The XRD intensity ratio and the vertical angular type ratio will be described below.
The ferromagnetic powder contained in the magnetic layer of the magnetic tape is hexagonal ferrite powder. Among the hexagonal ferrite powders contained in the magnetic layer, there are particles that affect the magnetic properties of the hexagonal ferrite powder (aggregate of particles) (hereinafter, also referred to as "former particles"), and whether or not they have an effect. It is presumed that particles that are considered to have little effect (hereinafter, also referred to as "the latter particles") are included. The latter particles are considered to be fine particles generated by, for example, partial chipping (chipping) of the particles due to the dispersion treatment performed at the time of preparing the composition for forming a magnetic layer. Among the particles constituting the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer, the former particles are considered to be particles that cause diffraction peaks in X-ray diffraction analysis using the In-Plane method, while the latter particles are. Since it is fine, it is considered that the diffraction peak is not caused or the influence on the diffraction peak is small. Therefore, based on the intensity of the diffraction peak brought about by the X-ray diffraction analysis of the magnetic layer using the In-Plane method, it is possible to control the presence state of the particles in the magnetic layer, which affects the magnetic properties of the hexagonal ferrite powder. It is presumed that it can be done. The XRD intensity ratio is considered to be an index in this regard.
On the other hand, the vertical angular ratio is the ratio of the residual magnetization to the saturation magnetization measured in the direction perpendicular to the surface of the magnetic layer, and the smaller the residual magnetization, the smaller the value. Since the latter particles are considered to be fine and difficult to maintain magnetization, it is presumed that the more the latter particles are contained in the magnetic layer, the smaller the vertical angular ratio tends to be. Therefore, it is considered that the vertical angular ratio can be an index of the abundance of the latter particles (fine particles) in the magnetic layer.
It is considered that the reason why the accuracy of reading the servo pattern and identifying the position of the reading element is lowered is that when the servo light head magnetizes (forms the servo pattern), an unintended part on the magnetic layer is also magnetized. .. Then, it is presumed that the magnetization of the above-mentioned unintended portion is likely to occur due to the occurrence of magnetic strain in the magnetic layer. On the other hand, setting the XRD intensity ratio to 0.5 or more and 4.0 or less and setting the vertical azimuth ratio to 0.65 or more and 1.00 or less are magnetic in the magnetic layer as follows. It is speculated that it may contribute to suppressing the occurrence of various strains.
It is considered that the XRD intensity ratio of 0.5 or more and 4.0 or less means that the former particles are appropriately aligned in the magnetic layer, and this is the occurrence of magnetic strain in the magnetic layer. It is presumed to contribute to suppression. Further, since the latter particles are fine, it is considered that the magnetization is easily reversed. The vertical angular ratio of 0.65 or more and 1.00 or less is considered to mean that the abundance of the latter particles, which are easily reversed in magnetization, is small, and this also causes magnetic strain in the magnetic layer. It is presumed that it contributes to the suppression of.
From the above, if the accuracy of reading the servo pattern and identifying the position of the reading element can be improved, it is possible to reduce the error between the amount of deviation detected by reading the servo pattern and the amount of deviation actually occurring. It is inferred that it will be. However, the above is a guess and does not limit the present invention in any way.
(XRD強度比)
上記磁気テープは、磁性層に六方晶フェライト粉末を含む。XRD強度比は、六方晶フェライト粉末を含む磁性層をIn−Plane法を用いてX線回折分析することによって求められる。以下において、In−Plane法を用いて行われるX線回折分析を、「In−Plane XRD」とも記載する。In−Plane XRDは、薄膜X線回折装置を用いて、以下の条件で、磁性層表面にX線を照射して行うものとする。測定方向は、磁気テープの長手方向とする。
Cu線源使用(出力45kV、200mA)
Scan条件:20〜40degreeの範囲を0.05degree/step、0.1degree/min
使用光学系:平行光学系
測定方法::2θχスキャン(X線入射角0.25°)
上記条件は、薄膜X線回折装置における設定値である。薄膜X線回折装置としては、公知の装置を用いることができる。薄膜X線回折装置の一例としては、リガク社製SmartLabを挙げることができる。In−Plane XRDの分析に付す試料は、測定対象の磁気テープから切り出したテープ試料であって、後述する回折ピークが確認できればよく、その大きさおよび形状は限定されるものではない。
(XRD intensity ratio)
The magnetic tape contains hexagonal ferrite powder in the magnetic layer. The XRD intensity ratio is determined by X-ray diffraction analysis of a magnetic layer containing hexagonal ferrite powder using the In-Plane method. In the following, the X-ray diffraction analysis performed by using the In-Plane method will also be referred to as "In-Plane XRD". In-Plane XRD shall be performed by irradiating the surface of the magnetic layer with X-rays under the following conditions using a thin film X-ray diffractometer. The measurement direction is the longitudinal direction of the magnetic tape.
Uses Cu radiation source (output 45 kV, 200 mA)
Scan condition: The range of 20 to 40 degrees is 0.05 degree / step, 0.1 degree / min.
Optical system used: Parallel optical system Measurement method :: 2θχ scan (X-ray incident angle 0.25 °)
The above conditions are set values in the thin film X-ray diffractometer. As the thin film X-ray diffractometer, a known device can be used. As an example of the thin film X-ray diffractometer, a SmartLab manufactured by Rigaku Corporation can be mentioned. The sample to be analyzed for In-Plane XRD is a tape sample cut out from the magnetic tape to be measured, and the size and shape thereof are not limited as long as the diffraction peak described later can be confirmed.
X線回折分析の手法としては、薄膜X線回折と粉末X線回折が挙げられる。粉末X線回折は粉末試料のX線回折を測定するのに対し、薄膜X線回折によれば基板上に形成された層等のX線回折を測定することができる。薄膜X線回折は、In−Plane法とOut−Of−Plane法とに分類される。測定時のX線入射角は、Out−Of−Plane法では5.00〜90.00°の範囲であるのに対し、In−Plane法では通常0.20〜0.50°の範囲である。本発明および本明細書におけるIn−Plane XRDでは、上記の通りX線入射角は0.25°とする。In−Plane法は、Out−Of−Plane法と比べてX線入射角が小さいためX線の侵入深さが浅い。したがって、In−Plane法を用いるX線回折分析(In−Plane XRD)によれば、測定対象試料の表層部のX線回折分析を行うことができる。テープ試料については、In−Plane XRDによれば磁性層のX線回折分析を行うことができる。上記のXRD強度比とは、かかるIn−Plane XRDにより得られたX線回折スペクトルの中で、六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)に対する(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)の強度比(Int(110)/Int(114))である。Intは、Intensity(強度)の略称として用いている。In−Plane XRDにより得られるX線回折スペクトル(縦軸:Intensity、横軸:回折角2θχ(degree))において、(114)面の回折ピークは、2θχが33〜36degreeの範囲で検出されるピークであり、(110)面の回折ピークは、2θχが29〜32degreeの範囲で検出されるピークである。 Examples of the X-ray diffraction analysis method include thin film X-ray diffraction and powder X-ray diffraction. While powder X-ray diffraction measures the X-ray diffraction of a powder sample, thin film X-ray diffraction can measure the X-ray diffraction of a layer or the like formed on a substrate. Thin film X-ray diffraction is classified into an In-Plane method and an Out-Of-Plane method. The X-ray incident angle at the time of measurement is in the range of 5.00 to 90.00 ° in the Out-Of-Plane method, whereas it is usually in the range of 0.20 to 0.50 ° in the In-Plane method. .. In the In-Plane XRD of the present invention and the present specification, the X-ray incident angle is 0.25 ° as described above. The In-Plane method has a smaller X-ray incident angle than the Out-Of-Plane method, and therefore has a shallower penetration depth of X-rays. Therefore, according to the X-ray diffraction analysis (In-Plane XRD) using the In-Plane method, it is possible to perform the X-ray diffraction analysis of the surface layer portion of the sample to be measured. For tape samples, according to In-Plane XRD, X-ray diffraction analysis of the magnetic layer can be performed. The above XRD intensity ratio is the (110) plane of the diffraction peak of the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure with respect to the peak intensity Int (114) in the X-ray diffraction spectrum obtained by the In-Plane XRD. It is the intensity ratio (Int (110) / Int (114)) of the peak intensity Int (110) of the diffraction peak of. Int is used as an abbreviation for Intensity. In the X-ray diffraction spectrum (vertical axis: Integrity, horizontal axis: diffraction angle 2θχ (degree)) obtained by In-Plane XRD, the diffraction peak of the (114) plane is a peak in which 2θχ is detected in the range of 33 to 36 degrees. The diffraction peak of the (110) plane is a peak in which 2θχ is detected in the range of 29 to 32 degrees.
回折面の中で、六方晶フェライト結晶構造の(114)面は、六方晶フェライト粉末の粒子(六方晶フェライト粒子)の磁化容易軸方向(c軸方向)近くに位置する。また、六方晶フェライト結晶構造の(110)面は、磁化容易軸方向と直交する方向に位置する。
In−Plane XRDによって求められるX線回折スペクトルにおいて、六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)に対する(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)の強度比(Int(110)/Int(114);XRD強度比)が大きいほど、磁化容易軸方向と直交する方向が磁性層表面に対してより平行に近い状態で存在する前者の粒子が磁性層に多く存在することを意味すると考えられ、一方、XRD強度比が小さいほど、そのような状態で存在する前者の粒子が磁性層に少ないことを意味すると考えられる。そして、XRD強度比が0.5以上4.0以下である状態とは、前者の粒子が磁性層において適度に整列した状態にあることを意味すると考えられる。このことが、磁性層における磁気的な歪の発生の抑制に寄与すると推察される。サーボライトヘッドによって磁化(サーボパターンを形成)する時に磁性層上の意図しない箇所も磁化されてしまうことをより一層抑制する観点から、XRD強度比は、3.5以下であることが好ましく、3.0以下であることがより好ましい。また、同様の観点から、XRD強度比は、0.7以上であることが好ましく、1.0以上であることがより好ましい。XRD強度比は、例えば、磁気テープの製造工程において行われる配向処理の処理条件によって制御することができる。配向処理としては、垂直配向処理を行うことが好ましい。垂直配向処理は、好ましくは、湿潤状態(未乾燥状態)の磁性層形成用組成物の塗布層の表面に対して垂直に磁場を印加することにより行うことができる。配向条件を強化するほど、XRD強度比の値は大きくなる傾向がある。配向処理の処理条件としては、配向処理における磁場強度等が挙げられる。配向処理の処理条件は特に限定されるものではない。0.5以上4.0以下のXRD強度比が実現できるように配向処理の処理条件を設定すればよい。一例として、垂直配向処理における磁場強度は、0.10〜0.80Tとすることができ、または0.10〜0.60Tとすることもできる。磁性層形成用組成物における六方晶フェライト粉末の分散性を高めるほど、垂直配向処理によりXRD強度比の値は大きくなる傾向がある。
Among the diffraction planes, the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure is located near the easily magnetized axial direction (c-axis direction) of the hexagonal ferrite powder particles (hexagonal ferrite particles). Further, the (110) plane of the hexagonal ferrite crystal structure is located in a direction orthogonal to the easy magnetization axial direction.
In the X-ray diffraction spectrum obtained by In-Plane XRD, the peak intensity of the diffraction peak on the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure, the peak intensity of the diffraction peak on the (110) plane, Int (110) with respect to Int (114). The larger the ratio (Int (110) / Int (114); XRD intensity ratio), the more the former particles existing in a state in which the direction orthogonal to the easy-diffraction axial direction is closer to the surface of the magnetic layer becomes the magnetic layer. On the other hand, it is considered that the smaller the XRD intensity ratio is, the less the former particles existing in such a state are in the magnetic layer. The state in which the XRD intensity ratio is 0.5 or more and 4.0 or less is considered to mean that the former particles are in a state of being appropriately aligned in the magnetic layer. It is presumed that this contributes to the suppression of the occurrence of magnetic strain in the magnetic layer. The XRD intensity ratio is preferably 3.5 or less from the viewpoint of further suppressing the magnetization of unintended parts on the magnetic layer when magnetizing (forming a servo pattern) by the servo light head. More preferably, it is 0.0 or less. From the same viewpoint, the XRD intensity ratio is preferably 0.7 or more, and more preferably 1.0 or more. The XRD intensity ratio can be controlled, for example, by the processing conditions of the orientation treatment performed in the manufacturing process of the magnetic tape. As the orientation treatment, it is preferable to perform a vertical orientation treatment. The vertical alignment treatment can preferably be performed by applying a magnetic field perpendicular to the surface of the coating layer of the composition for forming a magnetic layer in a wet state (undried state). The stronger the orientation condition, the larger the value of the XRD intensity ratio tends to be. Examples of the treatment condition for the alignment treatment include the magnetic field strength in the alignment treatment. The treatment conditions for the orientation treatment are not particularly limited. The processing conditions for the orientation treatment may be set so that an XRD intensity ratio of 0.5 or more and 4.0 or less can be realized. As an example, the magnetic field strength in the vertical alignment treatment can be 0.10 to 0.80T, or can be 0.10 to 0.60T. The higher the dispersibility of the hexagonal ferrite powder in the composition for forming a magnetic layer, the larger the value of the XRD intensity ratio tends to be due to the vertical alignment treatment.
(垂直方向角型比)
垂直方向角型比とは、磁気テープの垂直方向において測定される角型比である。角型比に関して記載する「垂直方向」とは、磁性層表面と直交する方向をいう。垂直方向角型比は、振動試料型磁束計を用いて測定される。詳しくは、本発明および本明細書における垂直方向角型比は、振動試料型磁束計において、23℃±1℃の測定温度において、磁気テープに外部磁場を最大外部磁場1194kA/m(15kOe)かつスキャン速度4.8kA/m/秒(60Oe/秒)の条件で掃引して求められる値であって、反磁界補正後の値とする。測定値は、振動試料型磁束計のサンプルプローブの磁化をバックグラウンドノイズとして差し引いた値として得るものとする。
(Vertical square ratio)
The vertical square ratio is a square ratio measured in the vertical direction of the magnetic tape. The "vertical direction" described with respect to the square ratio means a direction orthogonal to the surface of the magnetic layer. The vertical azimuth ratio is measured using a vibrating sample magnetometer. Specifically, the vertical angular ratio in the present invention and the present specification is a maximum external magnetic field of 1194 kA / m (15 kOe) on the magnetic tape at a measurement temperature of 23 ° C. ± 1 ° C. in a vibrating sample magnetometer. It is a value obtained by sweeping under the condition of a scan speed of 4.8 kA / m / sec (60 Oe / sec), and is a value after demagnetic field correction. The measured value shall be obtained as the value obtained by subtracting the magnetization of the sample probe of the vibrating sample magnetometer as background noise.
上記テープの垂直方向角型比は、0.65以上1.00以下である。磁気テープの垂直方向角型比は、先に記載した後者の粒子(微細な粒子)の存在量の指標になり得ると推察される。磁気テープの垂直方向角型比が0.65以上1.00以下である磁性層は、かかる微細な粒子の存在量が少ないと考えられる。このことが、磁性層における磁気的な歪の発生の抑制に寄与すると推察される。サーボライトヘッドによって磁化(サーボパターンを形成)する時に磁性層上の意図しない箇所も磁化されてしまうことをより一層抑制する観点から、上記垂直方向角型比は0.68以上であることが好ましく、0.70以上であることがより好ましく、0.73以上であることが更に好ましく、0.75以上であることが一層好ましい。また、角型比は、原理上、最大で1.00である。したがって、上記磁気テープの垂直方向角型比は1.00以下である。上記垂直方向角型比は、例えば0.95以下、0.90以下、0.87以下または0.85以下であってもよい。垂直方向角型比の値が大きいほど、磁性層中に上記の後者の粒子(微細な粒子)が少なく、磁性層における磁気的な歪の発生を抑制する観点から好ましいと考えられる。したがって、上記垂直方向角型比は、上記例示した値を上回ってもよい。 The vertical angle ratio of the tape is 0.65 or more and 1.00 or less. It is presumed that the vertical azimuth ratio of the magnetic tape can be an index of the abundance of the latter particles (fine particles) described above. It is considered that the abundance of such fine particles is small in the magnetic layer in which the vertical angular ratio of the magnetic tape is 0.65 or more and 1.00 or less. It is presumed that this contributes to the suppression of the occurrence of magnetic strain in the magnetic layer. The vertical angular ratio is preferably 0.68 or more from the viewpoint of further suppressing magnetization of unintended parts on the magnetic layer when magnetizing (forming a servo pattern) by the servo light head. , 0.70 or more, more preferably 0.73 or more, and even more preferably 0.75 or more. In principle, the square ratio is 1.00 at the maximum. Therefore, the vertical angular ratio of the magnetic tape is 1.00 or less. The vertical angular ratio may be, for example, 0.95 or less, 0.90 or less, 0.87 or less, or 0.85 or less. It is considered that the larger the value of the vertical angular ratio, the smaller the number of the latter particles (fine particles) in the magnetic layer, which is preferable from the viewpoint of suppressing the occurrence of magnetic strain in the magnetic layer. Therefore, the vertical azimuth ratio may exceed the above-exemplified value.
上記垂直方向角型比を0.65以上1.00以下とするためには、磁性層形成用組成物の調製工程において、粒子が一部欠けること(チッピング)によって微細な粒子が発生することを抑制することが好ましいと考えられる。チッピングの発生を抑制するための具体的手段は後述する。 In order to make the vertical angular ratio of 0.65 or more and 1.00 or less, it is necessary that fine particles are generated due to partial chipping (chipping) of particles in the step of preparing the composition for forming a magnetic layer. It is considered preferable to suppress it. Specific means for suppressing the occurrence of chipping will be described later.
次に、上記磁気テープに含まれる磁性層等について、更に詳細に説明する。 Next, the magnetic layer and the like included in the magnetic tape will be described in more detail.
<磁性層>
(強磁性粉末)
磁性層に含まれる強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末である。六方晶フェライト粉末の粒子サイズの指標としては、磁化反転の単位である活性化体積を採用することができる。一態様では、上記磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末の活性化体積は、1600nm3以下であることができ、1500nm3以下または1400nm3以下であってもよい。一般に、活性化体積が小さいほど高密度記録化に適していると言うことができる。一方、磁化の安定性の観点からは、上記六方晶フェライト粉末の活性化体積は、800nm3以上であることが好ましく、1000nm3以上であることがより好ましく、1200nm3以上であることが更に好ましい。
<Magnetic layer>
(Ferromagnetic powder)
The ferromagnetic powder contained in the magnetic layer is hexagonal ferrite powder. As an index of the particle size of the hexagonal ferrite powder, the activated volume, which is a unit of magnetization reversal, can be adopted. In one aspect, the activated volume of the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer can be 1600 nm 3 or less, and may be 1500 nm 3 or less or 1400 nm 3 or less. In general, it can be said that the smaller the activated volume, the more suitable for high-density recording. On the other hand, from the viewpoint of magnetization stability, the activated volume of the hexagonal ferrite powder is preferably 800 nm 3 or more, more preferably 1000 nm 3 or more, and further preferably 1200 nm 3 or more. ..
「活性化体積」とは、磁化反転の単位であって、粒子の磁気的な大きさを示す指標である。本発明および本明細書に記載の活性化体積および後述の異方性定数Kuは、振動試料型磁力計を用いて保磁力Hc測定部の磁場スイープ速度3分と30分とで測定し(測定温度:23℃±1℃)、以下のHcと活性化体積Vとの関係式から求められる値である。なお異方性定数Kuの単位に関して、1erg/cc=1.0×10−1J/m3である。
Hc=2Ku/Ms{1−[(kT/KuV)ln(At/0.693)]1/2}
[上記式中、Ku:異方性定数(単位:J/m3)、Ms:飽和磁化(単位:kA/m)、k:ボルツマン定数、T:絶対温度(単位:K)、V:活性化体積(単位:cm3)、A:スピン歳差周波数(単位:s−1)、t:磁界反転時間(単位:s)]
The "activated volume" is a unit of magnetization reversal and is an index indicating the magnetic size of a particle. The activated volume described in the present invention and the present specification and the anisotropic constant Ku described later are measured using a vibrating sample magnetometer at magnetic field sweep speeds of 3 minutes and 30 minutes in the coercive force Hc measuring unit (measurement). Temperature: 23 ° C ± 1 ° C), which is a value obtained from the following relational expression between Hc and activated volume V. Regarding the unit of the anisotropy constant Ku, 1 erg / cc = 1.0 × 10 -1 J / m 3 .
Hc = 2Ku / Ms {1-[(kT / KuV) ln (At / 0.693)] 1/2 }
[In the above formula, Ku: anisotropic constant (unit: J / m 3 ), Ms: saturation magnetization (unit: kA / m), k: Boltzmann constant, T: absolute temperature (unit: K), V: activity. Volume (unit: cm 3 ), A: spin lag frequency (unit: s -1 ), t: magnetic field reversal time (unit: s)]
以上記載した活性化体積は、粉末として存在する六方晶フェライト粉末については、粉末そのものを測定用試料として用いて求めることができる。一方、磁気テープの磁性層に含まれている六方晶フェライト粉末については、磁性層から粉末を採取し測定用試料を得ることができる。測定用試料の採取は、例えば以下の方法により行うことができる。
1.磁性層表面にヤマト科学製プラズマリアクターで1〜2分間表面処理を施し、磁性層表面の有機物成分(結合剤等)を灰化して取り除く。
2.シクロヘキサノン、アセトン等の有機溶媒を浸したろ紙を金属棒のエッジ部に貼り付け、その上で上記1.の処理後の磁性層表面をこすり、磁性層成分を磁気テープからろ紙へ転写し剥離する。
3.上記2.で剥離した成分をシクロヘキサノン、アセトン等の有機溶媒の中に振るい落とし(ろ紙ごと有機溶媒の中に入れ超音波分散機で振るい落とす)、有機溶媒を乾燥させ剥離成分を取り出す。
4.上記3.で振るい落とした成分を十分洗浄したガラス試験管に入れ、その中にn−ブチルアミンを、例えば20ml程度加えてガラス試験管を密閉する。(n−ブチルアミンは、灰化せず残留した有機物成分を分解できる量加える。)
5.ガラス試験管を内温170℃で20時間以上加熱し、有機物成分を分解する。
6.上記5.の分解後の沈殿物を純水で十分に洗浄後乾燥させ、粉末を取り出す。
7.上記6.で採取した粉末にネオジム磁石を近づけ吸着した粉末(即ち六方晶フェライト粉末)を取り出す。
以上の工程により、磁性層から活性化体積を測定するための六方晶フェライト粉末を採取することができる。上記処理によって六方晶フェライト粉末が受けるダメージはほとんどないため、上記方法により、磁性層に含まれていた状態の六方晶フェライト粉末について活性化体積の測定が可能である。
The activation volume described above can be determined by using the powder itself as a measurement sample for the hexagonal ferrite powder existing as a powder. On the other hand, with respect to the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer of the magnetic tape, the powder can be collected from the magnetic layer to obtain a sample for measurement. The measurement sample can be collected by, for example, the following method.
1. 1. The surface of the magnetic layer is surface-treated with a plasma reactor manufactured by Yamato Scientific Co., Ltd. for 1 to 2 minutes to incinerate and remove organic components (binders, etc.) on the surface of the magnetic layer.
2. A filter paper soaked with an organic solvent such as cyclohexanone or acetone is attached to the edge of the metal rod, and then the above 1. The surface of the magnetic layer after the treatment is rubbed, and the magnetic layer component is transferred from the magnetic tape to the filter paper and peeled off.
3. 3. Above 2. Shake off the exfoliated component in an organic solvent such as cyclohexanone or acetone (put the filter paper in an organic solvent and shake it off with an ultrasonic disperser), dry the organic solvent, and take out the exfoliated component.
4. Above 3. The components shaken off in
5. The glass test tube is heated at an internal temperature of 170 ° C. for 20 hours or more to decompose organic components.
6. 5. Above. After the decomposition of the above, the precipitate is thoroughly washed with pure water and dried, and the powder is taken out.
7. 6. Above. The neodymium magnet is brought close to the powder collected in
By the above steps, hexagonal ferrite powder for measuring the activated volume can be collected from the magnetic layer. Since the hexagonal ferrite powder is hardly damaged by the above treatment, the activated volume of the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer can be measured by the above method.
本発明および本明細書において、強磁性粉末とは、複数の強磁性粒子の集合を意味するものとし、集合とは、集合を構成する粒子が直接接触している態様に限定されず、結合剤、添加剤等が、粒子同士の間に介在している態様も包含される。以上の点は、非磁性粉末等の、本発明および本明細書における各種粉末についても同様とする。六方晶フェライト粉末を構成する粒子(六方晶フェライト粒子)を、「六方晶フェライト粒子」または単に「粒子」とも呼ぶ。六方晶フェライト粉末の詳細については、例えば、特開2011−225417号公報の段落0012〜0030、特開2011−216149号公報の段落0134〜0136、特開2012−204726号公報の段落0013〜0030および特開2015−127985号公報の段落0029〜0084を参照できる。 In the present invention and the present specification, the ferromagnetic powder means an aggregate of a plurality of ferromagnetic particles, and the aggregate is not limited to a mode in which the particles constituting the aggregate are in direct contact with each other, and the binder is used. , Additives and the like are also included in the manner in which the particles are interposed between the particles. The above points also apply to various powders of the present invention and the present specification, such as non-magnetic powders. The particles constituting the hexagonal ferrite powder (hexagonal ferrite particles) are also referred to as "hexagonal ferrite particles" or simply "particles". For details of the hexagonal ferrite powder, for example, paragraphs 0012 to 0030 of JP2011-225417A, paragraphs 0134 to 0136 of JP2011-216149A, paragraphs 0013 to 0030 of JP2012-204726 and the like. References can be made to paragraphs 0029 to 0084 of JP-A-2015-127985.
六方晶フェライト粉末に関して、六方晶フェライトの結晶構造としては、マグネトプランバイト型(「M型」とも呼ばれる。)、W型、Y型およびZ型が知られている。上記磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末は、いずれの結晶構造を取るものであってもよい。また、六方晶フェライトの結晶構造には、構成原子として、鉄原子および二価金属原子が含まれる。二価金属原子とは、イオンとして二価のカチオンになり得る金属原子であり、バリウム原子、ストロンチウム原子、カルシウム原子等のアルカリ土類金属原子、鉛原子等を挙げることができる。例えば、二価金属原子としてバリウム原子を含む六方晶フェライトは、バリウムフェライトであり、ストロンチウム原子を含む六方晶フェライトは、ストロンチウムフェライトである。また、六方晶フェライトは、二種以上の六方晶フェライトの混晶であってもよい。混晶の一例としては、バリウムフェライトとストロンチウムフェライトの混晶を挙げることができる。 Regarding the hexagonal ferrite powder, as the crystal structure of the hexagonal ferrite, a magnetoplumbite type (also referred to as "M type"), a W type, a Y type, and a Z type are known. The hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer may have any crystal structure. Further, the crystal structure of hexagonal ferrite includes an iron atom and a divalent metal atom as constituent atoms. The divalent metal atom is a metal atom that can be a divalent cation as an ion, and examples thereof include an alkaline earth metal atom such as a barium atom, a strontium atom and a calcium atom, and a lead atom. For example, a hexagonal ferrite containing a barium atom as a divalent metal atom is a barium ferrite, and a hexagonal ferrite containing a strontium atom is a strontium ferrite. Further, the hexagonal ferrite may be a mixed crystal of two or more types of hexagonal ferrite. As an example of the mixed crystal, a mixed crystal of barium ferrite and strontium ferrite can be mentioned.
六方晶フェライト粉末を構成する粒子の形状は、六方晶フェライト粉末を透過型電子顕微鏡を用いて撮影倍率100000倍で撮影し、総倍率500000倍になるように印画紙にプリントして得た粒子写真において、デジタイザーで粒子(一次粒子)の輪郭をトレースして特定するものとする。一次粒子とは、凝集のない独立した粒子をいう。透過型電子顕微鏡を用いる撮影は、加速電圧300kVで透過型電子顕微鏡を用いて直接法により行うものとする。透過型電子顕微鏡観察および測定は、例えば日立製透過型電子顕微鏡H−9000型およびカールツァイス製画像解析ソフトKS−400を用いて行うことができる。六方晶フェライト粉末を構成する粒子の形状に関して、「板状」とは、対向する2つの板面を有する形状をいう。一方、そのような板面を持たない粒子形状の中で、長軸と短軸の区別のある形状が「楕円状」である。長軸とは、粒子の長さを最も長く取ることができる軸(直線)として決定する。一方、短軸とは、長軸と直交する直線で粒子長さを取ったときに長さが最も長くなる軸として決定する。長軸と短軸の区別がない形状、即ち長軸長=短軸長となる形状が「球状」である。形状から長軸および短軸が特定できない形状を不定形と呼ぶ。上記の粒子形状を特定するための透過型電子顕微鏡を用いる撮影は、撮影対象粉末に配向処理を施さずに行う。磁性層形成用組成物の調製に用いる原料粉末および磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末の形状は、板状、楕円状、球状および不定形のいずれでもよい。 The shape of the particles constituting the hexagonal ferrite powder is a particle photograph obtained by photographing the hexagonal ferrite powder with a transmission electron microscope at an imaging magnification of 100,000 times and printing it on photographic paper so as to have a total magnification of 500,000 times. In, the contour of the particle (primary particle) is traced and specified by the digitizer. Primary particles are independent particles without agglomeration. Photography using a transmission electron microscope shall be performed by a direct method using a transmission electron microscope at an acceleration voltage of 300 kV. Observation and measurement with a transmission electron microscope can be performed using, for example, a transmission electron microscope H-9000 manufactured by Hitachi and an image analysis software KS-400 manufactured by Carl Zeiss. Regarding the shape of the particles constituting the hexagonal ferrite powder, the “plate-like” means a shape having two opposing plate surfaces. On the other hand, among the particle shapes that do not have such a plate surface, the shape that distinguishes between the major axis and the minor axis is the "elliptical shape". The major axis is determined as the axis (straight line) that can take the longest particle length. On the other hand, the minor axis is determined as the axis having the longest particle length when the particle length is taken by a straight line orthogonal to the major axis. A shape in which there is no distinction between a major axis and a minor axis, that is, a shape in which the major axis length = the minor axis length is "spherical". A shape in which the long axis and the short axis cannot be specified from the shape is called an indeterminate form. Imaging using a transmission electron microscope for identifying the particle shape is performed without orienting the powder to be photographed. The shape of the raw material powder used for preparing the composition for forming the magnetic layer and the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer may be plate-shaped, elliptical, spherical or amorphous.
本発明および本明細書に記載の各種粉末に関する平均粒子サイズは、上記のように撮影された粒子写真を用いて、無作為に抽出した500個の粒子について求められた値の算術平均とする。後述の実施例に示す平均粒子サイズは、透過型電子顕微鏡として日立製透過型電子顕微鏡H−9000型、画像解析ソフトとしてカールツァイス製画像解析ソフトKS−400を用いて得られた値である。 The average particle size for the various powders described in the present invention and the present specification is the arithmetic mean of the values obtained for 500 randomly selected particles using the particle photographs taken as described above. The average particle size shown in the examples described later is a value obtained by using a transmission electron microscope H-9000 manufactured by Hitachi as a transmission electron microscope and an image analysis software KS-400 manufactured by Carl Zeiss as an image analysis software.
本発明および本明細書において、「六方晶フェライト粉末」とは、X線回折分析によって、主相として六方晶フェライト型の結晶構造が検出される強磁性粉末をいうものとする。主相とは、X線回折分析によって得られるX線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが帰属する構造をいう。例えば、X線回折分析によって得られるX線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが六方晶フェライト型の結晶構造に帰属される場合、六方晶フェライト型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。X線回折分析によって単一の構造のみが検出された場合には、この検出された構造を主相とする。六方晶フェライト型の結晶構造は、構成原子として、少なくとも鉄原子、二価金属原子および酸素原子を含む。二価金属原子とは、イオンとして二価のカチオンになり得る金属原子であり、ストロンチウム原子、バリウム原子、カルシウム原子等のアルカリ土類金属原子、鉛原子等を挙げることができる。本発明および本明細書において、六方晶ストロンチウムフェライト粉末とは、この粉末に含まれる主な二価金属原子がストロンチウム原子であるものをいい、六方晶バリウムフェライト粉末とは、この粉末に含まれる主な二価金属原子がバリウム原子であるものをいう。主な二価金属原子とは、この粉末に含まれる二価金属原子の中で、原子%基準で最も多くを占める二価金属原子をいうものとする。ただし、上記の二価金属原子には、希土類原子は包含されないものとする。本発明および本明細書における「希土類原子」は、スカンジウム原子(Sc)、イットリウム原子(Y)、およびランタノイド原子からなる群から選択される。ランタノイド原子は、ランタン原子(La)、セリウム原子(Ce)、プラセオジム原子(Pr)、ネオジム原子(Nd)、プロメチウム原子(Pm)、サマリウム原子(Sm)、ユウロピウム原子(Eu)、ガドリニウム原子(Gd)、テルビウム原子(Tb)、ジスプロシウム原子(Dy)、ホルミウム原子(Ho)、エルビウム原子(Er)、ツリウム原子(Tm)、イッテルビウム原子(Yb)、およびルテチウム原子(Lu)からなる群から選択される。 In the present invention and the present specification, the "hexagonal ferrite powder" refers to a ferromagnetic powder in which a hexagonal ferrite type crystal structure is detected as the main phase by X-ray diffraction analysis. The main phase refers to a structure to which the highest intensity diffraction peak belongs in the X-ray diffraction spectrum obtained by X-ray diffraction analysis. For example, when the highest intensity diffraction peak in the X-ray diffraction spectrum obtained by X-ray diffraction analysis belongs to the hexagonal ferrite type crystal structure, it is determined that the hexagonal ferrite type crystal structure is detected as the main phase. It shall be. When only a single structure is detected by X-ray diffraction analysis, this detected structure is used as the main phase. The hexagonal ferrite type crystal structure contains at least iron atoms, divalent metal atoms and oxygen atoms as constituent atoms. The divalent metal atom is a metal atom that can be a divalent cation as an ion, and examples thereof include alkaline earth metal atoms such as strontium atom, barium atom and calcium atom, and lead atom. In the present invention and the present specification, the hexagonal strontium ferrite powder means that the main divalent metal atom contained in this powder is a strontium atom, and the hexagonal barium ferrite powder is the main contained in this powder. A divalent metal atom is a barium atom. The main divalent metal atom is a divalent metal atom that occupies the largest amount on an atomic% basis among the divalent metal atoms contained in this powder. However, rare earth atoms are not included in the above divalent metal atoms. The "rare earth atom" in the present invention and the present specification is selected from the group consisting of a scandium atom (Sc), a yttrium atom (Y), and a lanthanoid atom. The lanthanoid atoms are lanthanum atom (La), terbium atom (Ce), placeodim atom (Pr), neodymium atom (Nd), promethium atom (Pm), samarium atom (Sm), uropyum atom (Eu), gadolinium atom (Gd). ), Terbium atom (Tb), dysprosium atom (Dy), formium atom (Ho), erbium atom (Er), samarium atom (Tm), ytterbium atom (Yb), and lutetium atom (Lu). To.
以下に、六方晶フェライト粉末の一態様である六方晶ストロンチウムフェライト粉末について、更に詳細に説明する。 The hexagonal strontium ferrite powder, which is one aspect of the hexagonal ferrite powder, will be described in more detail below.
熱揺らぎの低減、換言すれば熱的安定性の向上の指標としては、異方性定数Kuを挙げることができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、好ましくは1.8×105J/m3以上のKuを有することができ、より好ましくは2.0×105J/m3以上のKuを有することができる。また、六方晶ストロンチウムフェライト粉末のKuは、例えば2.5×105J/m3以下であることができる。ただしKuが高いほど熱的安定性が高いことを意味し好ましいため、上記例示した値に限定されるものではない。 Anisotropy constant Ku can be mentioned as an index for reducing thermal fluctuation, in other words, improving thermal stability. Hexagonal strontium ferrite powder can preferably have 1.8 × 10 5 J / m 3 or more Ku, more preferably have a 2.0 × 10 5 J / m 3 or more Ku. Also, Ku of hexagonal strontium ferrite powder can be, for example, not 2.5 × 10 5 J / m 3 or less. However, the higher the Ku, the higher the thermal stability, which is preferable, and therefore, the value is not limited to the above-exemplified value.
六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子を含んでいてもよく、含まなくてもよい。六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、鉄原子100原子%に対して、0.5〜5.0原子%の含有率(バルク含有率)で希土類原子を含むことが好ましい。希土類原子を含む六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、一態様では、希土類原子表層部偏在性を有することができる。本発明および本明細書における「希土類原子表層部偏在性」とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を酸により部分溶解して得られた溶解液中の鉄原子100原子%に対する希土類原子含有率(以下、「希土類原子表層部含有率」または希土類原子に関して単に「表層部含有率」と記載する。)が、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を酸により全溶解して得られた溶解液中の鉄原子100原子%に対する希土類原子含有率(以下、「希土類原子バルク含有率」または希土類原子に関して単に「バルク含有率」と記載する。)と、
希土類原子表層部含有率/希土類原子バルク含有率>1.0
の比率を満たすことを意味する。後述の六方晶ストロンチウムフェライト粉末の希土類原子含有率とは、希土類原子バルク含有率と同義である。これに対し、酸を用いる部分溶解は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部を溶解するため、部分溶解により得られる溶解液中の希土類原子含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部における希土類原子含有率である。希土類原子表層部含有率が、「希土類原子表層部含有率/希土類原子バルク含有率>1.0」の比率を満たすことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在(即ち内部より多く存在)していることを意味する。本発明および本明細書における表層部とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面から内部に向かう一部領域を意味する。
The hexagonal strontium ferrite powder may or may not contain rare earth atoms. When the hexagonal strontium ferrite powder contains rare earth atoms, it is preferable that the hexagonal strontium ferrite powder contains rare earth atoms at a content rate (bulk content) of 0.5 to 5.0 atom% with respect to 100 atom% of iron atoms. In one aspect, the hexagonal strontium ferrite powder containing rare earth atoms can have uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms. The term "rare earth atomic surface uneven distribution" as used in the present invention and the present specification refers to the rare earth atom content with respect to 100 atomic% of iron atoms in the solution obtained by partially dissolving hexagonal strontium ferrite powder with an acid (hereinafter referred to as "rare earth atom content"). “Rare earth atom surface layer content” or simply “surface layer content” for rare earth atoms) is 100 atomic% of iron atoms in the solution obtained by completely dissolving hexagonal strontium ferrite powder with an acid. Rare earth atom content (hereinafter referred to as "rare earth atom bulk content" or simply referred to as "bulk content" for rare earth atoms).
Rare earth atom surface layer content / Rare earth atom bulk content> 1.0
Means that the ratio of The rare earth atom content of the hexagonal strontium ferrite powder described later is synonymous with the rare earth atom bulk content. On the other hand, partial dissolution using an acid dissolves the surface layer of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder. Therefore, the rare earth atom content in the solution obtained by partial dissolution is the composition of the hexagonal strontium ferrite powder. It is the rare earth atom content in the surface layer of the particles. The fact that the rare earth atom surface layer content satisfies the ratio of "rare earth atom surface layer content / rare earth atom bulk content>1.0" means that the rare earth atom is present in the surface layer of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder. It means that it is unevenly distributed (that is, it exists more than inside). The surface layer portion in the present invention and the present specification means a partial region from the surface to the inside of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder.
六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、希土類原子含有率(バルク含有率)は、鉄原子100原子%に対して0.5〜5.0原子%の範囲であることが好ましい。上記範囲のバルク含有率で希土類原子を含み、かつ六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に希土類原子が偏在していることは、繰り返し再生における再生出力の低下を抑制することに寄与すると考えられる。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末が上記範囲のバルク含有率で希土類原子を含み、かつ六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に希土類原子が偏在していることにより、異方性定数Kuを高めることができるためと推察される。異方性定数Kuは、この値が高いほど、いわゆる熱揺らぎと呼ばれる現象の発生を抑制すること(換言すれば熱的安定性を向上させること)ができる。熱揺らぎの発生が抑制されることにより、繰り返し再生における再生出力の低下を抑制することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の粒子表層部に希土類原子が偏在することが、表層部の結晶格子内の鉄(Fe)のサイトのスピンを安定化することに寄与し、これにより異方性定数Kuが高まるのではないかと推察される。
また、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末を磁性層の強磁性粉末として用いることは、磁気ヘッドとの摺動によって磁性層表面が削れることを抑制することにも寄与すると推察される。即ち、磁気テープの走行耐久性の向上にも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末が寄与し得ると推察される。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面に希土類原子が偏在することが、粒子表面と磁性層に含まれる有機物質(例えば、結合剤および/または添加剤)との相互作用の向上に寄与し、その結果、磁性層の強度が向上するためではないかと推察される。
繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点および/または走行耐久性の更なる向上の観点からは、希土類原子含有率(バルク含有率)は、0.5〜4.5原子%の範囲であることがより好ましく、1.0〜4.5原子%の範囲であることが更に好ましく、1.5〜4.5原子%の範囲であることが一層好ましい。
When the hexagonal strontium ferrite powder contains rare earth atoms, the rare earth atom content (bulk content) is preferably in the range of 0.5 to 5.0 atom% with respect to 100 atom% of iron atoms. The fact that the rare earth atoms are contained in the bulk content in the above range and the rare earth atoms are unevenly distributed on the surface layer of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder contributes to suppressing the decrease in the regeneration output in the repeated regeneration. Conceivable. This is because the hexagonal strontium ferrite powder contains rare earth atoms at a bulk content in the above range, and the rare earth atoms are unevenly distributed on the surface layer of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder. It is presumed that this is because it can be enhanced. The higher the value of the anisotropy constant Ku, the more the occurrence of a phenomenon called thermal fluctuation can be suppressed (in other words, the thermal stability can be improved). By suppressing the occurrence of thermal fluctuation, it is possible to suppress a decrease in the reproduction output during repeated reproduction. The uneven distribution of rare earth atoms on the surface layer of the hexagonal strontium ferrite powder contributes to stabilizing the spin of iron (Fe) sites in the crystal lattice of the surface layer, which results in anisotropy constant Ku. It is speculated that it will increase.
In addition, it is presumed that the use of hexagonal strontium ferrite powder, which has uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms, as the ferromagnetic powder of the magnetic layer also contributes to suppressing the surface of the magnetic layer from being scraped by sliding with the magnetic head. To. That is, it is presumed that the hexagonal strontium ferrite powder having uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms can also contribute to the improvement of the running durability of the magnetic tape. This is because the uneven distribution of rare earth atoms on the surface of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder improves the interaction between the particle surface and the organic substances (for example, binder and / or additive) contained in the magnetic layer. As a result, it is presumed that the strength of the magnetic layer is improved.
The rare earth atom content (bulk content) is in the range of 0.5 to 4.5 atomic% from the viewpoint of further suppressing the decrease in the reproduction output in the repeated regeneration and / or further improving the running durability. It is more preferably in the range of 1.0 to 4.5 atomic%, further preferably in the range of 1.5 to 4.5 atomic%.
上記バルク含有率は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められる含有率である。なお本発明および本明細書において、特記しない限り、原子について含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められるバルク含有率をいうものとする。希土類原子を含む六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子として一種の希土類原子のみ含んでもよく、二種以上の希土類原子を含んでもよい。二種以上の希土類原子を含む場合の上記バルク含有率とは、二種以上の希土類原子の合計について求められる。この点は、本発明および本明細書における他の成分についても同様である。即ち、特記しない限り、ある成分は、一種のみ用いてもよく、二種以上用いてもよい。二種以上用いられる場合の含有量または含有率とは、二種以上の合計についていうものとする。 The bulk content is the content obtained by completely dissolving the hexagonal strontium ferrite powder. Unless otherwise specified, in the present invention and the present specification, the content of atoms means the bulk content obtained by completely dissolving hexagonal strontium ferrite powder. The hexagonal strontium ferrite powder containing a rare earth atom may contain only one kind of rare earth atom as a rare earth atom, or may contain two or more kinds of rare earth atoms. The bulk content when two or more kinds of rare earth atoms are contained is determined for the total of two or more kinds of rare earth atoms. This point is the same for the present invention and other components in the present specification. That is, unless otherwise specified, a certain component may be used alone or in combination of two or more. The content or content rate when two or more types are used shall mean the total of two or more types.
六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、含まれる希土類原子は、希土類原子のいずれか一種以上であればよい。繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点から好ましい希土類原子としては、ネオジム原子、サマリウム原子、イットリウム原子およびジスプロシウム原子を挙げることができ、ネオジム原子、サマリウム原子およびイットリウム原子がより好ましく、ネオジム原子が更に好ましい。 When the hexagonal strontium ferrite powder contains a rare earth atom, the rare earth atom contained may be any one or more of the rare earth atoms. Examples of the rare earth atom preferable from the viewpoint of further suppressing the decrease in the reproduction output in the repeated regeneration include a neodymium atom, a samarium atom, an ythrium atom and a dysprosium atom, and a neodymium atom, a samarium atom and an yttrium atom are more preferable, and a neodymium atom is preferable. Atoms are more preferred.
希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末において、希土類原子は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に偏在していればよく、偏在の程度は限定されるものではない。例えば、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末について、後述する溶解条件で部分溶解して求められた希土類原子の表層部含有率と後述する溶解条件で全溶解して求められた希土類原子のバルク含有率との比率、「表層部含有率/バルク含有率」は1.0超であり、1.5以上であることができる。「表層部含有率/バルク含有率」が1.0より大きいことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在(即ち内部より多く存在)していることを意味する。また、後述する溶解条件で部分溶解して求められた希土類原子の表層部含有率と後述する溶解条件で全溶解して求められた希土類原子のバルク含有率との比率、「表層部含有率/バルク含有率」は、例えば、10.0以下、9.0以下、8.0以下、7.0以下、6.0以下、5.0以下、または4.0以下であることができる。ただし、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末において、希土類原子は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に偏在していればよく、上記の「表層部含有率/バルク含有率」は、例示した上限または下限に限定されるものではない。 In the hexagonal strontium ferrite powder having uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms, the rare earth atoms may be unevenly distributed on the surface layer of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder, and the degree of uneven distribution is not limited. For example, a hexagonal strontium ferrite powder having uneven distribution on the surface layer of a rare earth atom is partially melted under the melting conditions described later and the content of the surface layer of the rare earth atom and the rare earth obtained by completely melting under the melting conditions described later. The ratio of atoms to the bulk content, "surface layer content / bulk content", is more than 1.0 and can be 1.5 or more. When the "surface layer content / bulk content" is larger than 1.0, it means that the rare earth atoms are unevenly distributed (that is, more than the inside) in the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder. To do. In addition, the ratio of the surface layer content of rare earth atoms obtained by partial melting under the dissolution conditions described later to the bulk content of rare earth atoms obtained by total dissolution under the dissolution conditions described later, "Surface layer content / The "bulk content" can be, for example, 10.0 or less, 9.0 or less, 8.0 or less, 7.0 or less, 6.0 or less, 5.0 or less, or 4.0 or less. However, in the hexagonal strontium ferrite powder having uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms, the rare earth atoms need only be unevenly distributed on the surface layer of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder. The "rate" is not limited to the upper or lower limit illustrated.
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の部分溶解および全溶解について、以下に説明する。粉末として存在している六方晶ストロンチウムフェライト粉末については、部分溶解および全溶解する試料粉末は、同一ロットの粉末から採取する。一方、磁気テープの磁性層に含まれている六方晶ストロンチウムフェライト粉末については、磁性層から取り出した六方晶ストロンチウムフェライト粉末の一部を部分溶解に付し、他の一部を全溶解に付す。磁性層からの六方晶ストロンチウムフェライト粉末の取り出しは、例えば、特開2015−91747号公報の段落0032に記載の方法によって行うことができる。
上記部分溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認できる程度に溶解することをいう。例えば、部分溶解により、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子について、粒子全体を100質量%として10〜20質量%の領域を溶解することができる。一方、上記全溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認されない状態まで溶解することをいう。
上記部分溶解および表層部含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。ただし、下記の試料粉末量等の溶解条件は例示であって、部分溶解および全溶解が可能な溶解条件を任意に採用できる。
試料粉末12mgおよび1mol/L塩酸10mLを入れた容器(例えばビーカー)を、設定温度70℃のホットプレート上で1時間保持する。得られた溶解液を0.1μmのメンブレンフィルタでろ過する。こうして得られたろ液の元素分析を誘導結合プラズマ(ICP;Inductively Coupled Plasma)分析装置によって行う。こうして、鉄原子100原子%に対する希土類原子の表層部含有率を求めることができる。元素分析により複数種の希土類原子が検出された場合には、全希土類原子の合計含有率を、表層部含有率とする。この点は、バルク含有率の測定においても、同様である。
一方、上記全溶解およびバルク含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。
試料粉末12mgおよび4mol/L塩酸10mLを入れた容器(例えばビーカー)を、設定温度80℃のホットプレート上で3時間保持する。その後は上記の部分溶解および表層部含有率の測定と同様に行い、鉄原子100原子%に対するバルク含有率を求めることができる。
Partial and total melting of hexagonal strontium ferrite powder will be described below. For hexagonal strontium ferrite powder that exists as a powder, the sample powder that is partially or completely dissolved is collected from the same lot of powder. On the other hand, regarding the hexagonal strontium ferrite powder contained in the magnetic layer of the magnetic tape, a part of the hexagonal strontium ferrite powder taken out from the magnetic layer is subjected to partial dissolution, and the other part is subjected to total dissolution. The hexagonal strontium ferrite powder can be taken out from the magnetic layer by, for example, the method described in paragraph 0032 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2015-91747.
The above partial dissolution means that the hexagonal strontium ferrite powder is dissolved in the liquid to the extent that the residue can be visually confirmed at the end of the dissolution. For example, partial melting can dissolve a region of 10 to 20% by mass of the particles constituting the hexagonal strontium ferrite powder, with the entire particles as 100% by mass. On the other hand, the above-mentioned total dissolution means that the hexagonal strontium ferrite powder is dissolved in the liquid until the residue is not visually confirmed at the end of the dissolution.
The partial melting and the measurement of the surface layer content are carried out by, for example, the following methods. However, the following dissolution conditions such as the amount of sample powder are examples, and dissolution conditions capable of partial dissolution and total dissolution can be arbitrarily adopted.
A container (for example, a beaker) containing 12 mg of sample powder and 10 mL of 1 mol / L hydrochloric acid is held on a hot plate at a set temperature of 70 ° C. for 1 hour. The obtained solution is filtered through a 0.1 μm membrane filter. Elemental analysis of the filtrate thus obtained is performed by an inductively coupled plasma (ICP) analyzer. In this way, the surface layer content of rare earth atoms with respect to 100 atomic% of iron atoms can be determined. When a plurality of rare earth atoms are detected by elemental analysis, the total content of all rare earth atoms is defined as the surface layer content. This point is the same in the measurement of bulk content.
On the other hand, the total dissolution and the measurement of the bulk content are carried out by, for example, the following methods.
A container (for example, a beaker) containing 12 mg of sample powder and 10 mL of 4 mol / L hydrochloric acid is held on a hot plate at a set temperature of 80 ° C. for 3 hours. After that, the bulk content with respect to 100 atomic% of iron atoms can be obtained by performing the same procedure as the above-mentioned partial melting and measurement of the surface layer content.
磁気テープに記録されたデータを再生する際の再生出力を高める観点から、磁気テープに含まれる強磁性粉末の質量磁化σsが高いことは望ましい。この点に関して、希土類原子を含むものの希土類原子表層部偏在性を持たない六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子を含まない六方晶ストロンチウムフェライト粉末と比べてσsが大きく低下する傾向が見られた。これに対し、そのようなσsの大きな低下を抑制するうえでも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末は好ましいと考えられる。一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末のσsは、45A・m2/kg以上であることができ、47A・m2/kg以上であることもできる。一方、σsは、ノイズ低減の観点からは、80A・m2/kg以下であることが好ましく、60A・m2/kg以下であることがより好ましい。σsは、振動試料型磁力計等の磁気特性を測定可能な公知の測定装置を用いて測定することができる。本発明および本明細書において、特記しない限り、質量磁化σsは、磁場強度15kOeで測定される値とする。1[kOe]=106/4π[A/m]である。 From the viewpoint of increasing the reproduction output when reproducing the data recorded on the magnetic tape, it is desirable that the mass magnetization σs of the ferromagnetic powder contained in the magnetic tape is high. In this regard, the hexagonal strontium ferrite powder containing rare earth atoms but not having uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms tended to have a significantly lower σs than the hexagonal strontium ferrite powder containing no rare earth atoms. On the other hand, hexagonal strontium ferrite powder having uneven distribution on the surface layer of rare earth atoms is considered to be preferable in order to suppress such a large decrease in σs. In one aspect, the σs of the hexagonal strontium ferrite powder can be 45 A · m 2 / kg or more, and can also be 47 A · m 2 / kg or more. Meanwhile, [sigma] s from the viewpoint of noise reduction, is preferably not more than 80A · m 2 / kg, more preferably not more than 60A · m 2 / kg. σs can be measured using a known measuring device capable of measuring magnetic characteristics such as a vibrating sample magnetometer. Unless otherwise specified, in the present invention and the present specification, the mass magnetization σs is a value measured at a magnetic field strength of 15 kOe. 1 [koe] = 10 6 / 4π [A / m].
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の構成原子の含有率(バルク含有率)に関して、ストロンチウム原子含有率は、鉄原子100原子%に対して、例えば2.0〜15.0原子%の範囲であることができる。一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、この粉末に含まれる二価金属原子がストロンチウム原子のみであることができる。また他の一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、ストロンチウム原子に加えて一種以上の他の二価金属原子を含むこともできる。例えば、バリウム原子および/またはカルシウム原子を含むことができる。ストロンチウム原子以外の他の二価金属原子が含まれる場合、六方晶ストロンチウムフェライト粉末におけるバリウム原子含有率およびカルシウム原子含有率は、それぞれ、例えば、鉄原子100原子%に対して、0.05〜5.0原子%の範囲であることができる。 Regarding the content of constituent atoms (bulk content) of the hexagonal strontium ferrite powder, the strontium atom content can be in the range of, for example, 2.0 to 15.0 atom% with respect to 100 atom% of iron atoms. .. In one aspect, the hexagonal strontium ferrite powder can contain only strontium atoms as divalent metal atoms contained in the powder. In another aspect, the hexagonal strontium ferrite powder can also contain one or more other divalent metal atoms in addition to the strontium atom. For example, it can contain barium and / or calcium atoms. When a divalent metal atom other than the strontium atom is contained, the barium atom content and the calcium atom content in the hexagonal strontium ferrite powder are, for example, 0.05 to 5 with respect to 100 atomic% of iron atoms, respectively. It can be in the range of 0.0 atomic%.
六方晶フェライトの結晶構造としては、マグネトプランバイト型(「M型」とも呼ばれる。)、W型、Y型およびZ型が知られている。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、いずれの結晶構造を取るものであってもよい。結晶構造は、X線回折分析によって確認することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、X線回折分析によって、単一の結晶構造または二種以上の結晶構造が検出されるものであることができる。例えば一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、X線回折分析によってM型の結晶構造のみが検出されるものであることができる。例えば、M型の六方晶フェライトは、AFe12O19の組成式で表される。ここでAは二価金属原子を表し、六方晶ストロンチウムフェライト粉末がM型である場合、Aはストロンチウム原子(Sr)のみであるか、またはAとして複数の二価金属原子が含まれる場合には、上記の通り原子%基準で最も多くをストロンチウム原子(Sr)が占める。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の二価金属原子含有率は、通常、六方晶フェライトの結晶構造の種類により定まるものであり、特に限定されるものではない。鉄原子含有率および酸素原子含有率についても、同様である。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、少なくとも、鉄原子、ストロンチウム原子および酸素原子を含み、更に希土類原子を含むこともできる。更に、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、これら原子以外の原子を含んでもよく、含まなくてもよい。一例として、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、アルミニウム原子(Al)を含むものであってもよい。アルミニウム原子の含有率は、鉄原子100原子%に対して、例えば0.5〜10.0原子%であることができる。繰り返し再生における再生出力低下をより一層抑制する観点からは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、鉄原子、ストロンチウム原子、酸素原子および希土類原子を含み、これら原子以外の原子の含有率が、鉄原子100原子%に対して、10.0原子%以下であることが好ましく、0〜5.0原子%の範囲であることがより好ましく、0原子%であってもよい。即ち、一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、鉄原子、ストロンチウム原子、酸素原子および希土類原子以外の原子を含まなくてもよい。上記の原子%で表示される含有率は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められる各原子の含有率(単位:質量%)を、各原子の原子量を用いて原子%表示の値に換算して求められる。また、本発明および本明細書において、ある原子について「含まない」とは、全溶解してICP分析装置により測定される含有率が0質量%であることをいう。ICP分析装置の検出限界は、通常、質量基準で0.01ppm(parts per million)以下である。上記の「含まない」とは、ICP分析装置の検出限界未満の量で含まれることを包含する意味で用いるものとする。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、一態様では、ビスマス原子(Bi)を含まないものであることができる。 As the crystal structure of hexagonal ferrite, magnetoplumbite type (also referred to as "M type"), W type, Y type and Z type are known. The hexagonal strontium ferrite powder may have any crystal structure. The crystal structure can be confirmed by X-ray diffraction analysis. Hexagonal strontium ferrite powder can be one in which a single crystal structure or two or more kinds of crystal structures are detected by X-ray diffraction analysis. For example, in one aspect, the hexagonal strontium ferrite powder can be such that only the M-type crystal structure is detected by X-ray diffraction analysis. For example, M-type hexagonal ferrite is represented by the composition formula of AFe 12 O 19. Here, A represents a divalent metal atom, and when the hexagonal strontium ferrite powder is M-type, A is only a strontium atom (Sr), or when A contains a plurality of divalent metal atoms. As mentioned above, the strontium atom (Sr) occupies the largest amount on the basis of atomic%. The divalent metal atom content of the hexagonal strontium ferrite powder is usually determined by the type of crystal structure of the hexagonal ferrite, and is not particularly limited. The same applies to the iron atom content and the oxygen atom content. The hexagonal strontium ferrite powder contains at least iron atoms, strontium atoms and oxygen atoms, and can also contain rare earth atoms. Further, the hexagonal strontium ferrite powder may or may not contain atoms other than these atoms. As an example, the hexagonal strontium ferrite powder may contain an aluminum atom (Al). The content of aluminum atoms can be, for example, 0.5 to 10.0 atomic% with respect to 100 atomic% of iron atoms. From the viewpoint of further suppressing the decrease in regeneration output during repeated regeneration, the hexagonal strontium ferrite powder contains iron atoms, strontium atoms, oxygen atoms and rare earth atoms, and the content of atoms other than these atoms is 100 iron atoms. % Is preferably 10.0 atomic% or less, more preferably in the range of 0 to 5.0 atomic%, and may be 0 atomic%. That is, in one aspect, the hexagonal strontium ferrite powder does not have to contain atoms other than iron atoms, strontium atoms, oxygen atoms and rare earth atoms. The content expressed in atomic% above is the content (unit: mass%) of each atom obtained by completely dissolving the hexagonal strontium ferrite powder, and is converted to the value expressed in atomic% using the atomic weight of each atom. Calculated by conversion. Further, in the present invention and the present specification, "not contained" for a certain atom means that the content is completely dissolved and the content measured by an ICP analyzer is 0% by mass. The detection limit of an ICP analyzer is usually 0.01 ppm (parts per million) or less on a mass basis. The above-mentioned "not included" is used in the sense of including the inclusion in an amount less than the detection limit of the ICP analyzer. The hexagonal strontium ferrite powder can, in one aspect, be free of bismuth atoms (Bi).
磁性層における強磁性粉末の含有量(充填率)は、好ましくは50〜90質量%の範囲であり、より好ましくは60〜90質量%の範囲である。磁性層の強磁性粉末以外の成分は少なくとも結合剤であり、任意に一種以上の更なる添加剤が含まれ得る。磁性層において強磁性粉末の充填率が高いことは、記録密度向上の観点から好ましい。 The content (filling rate) of the ferromagnetic powder in the magnetic layer is preferably in the range of 50 to 90% by mass, and more preferably in the range of 60 to 90% by mass. The components of the magnetic layer other than the ferromagnetic powder are at least a binder and may optionally include one or more additional additives. A high filling rate of the ferromagnetic powder in the magnetic layer is preferable from the viewpoint of improving the recording density.
(結合剤)
上記磁気テープは塗布型磁気テープであって、磁性層に結合剤を含む。結合剤とは、一種以上の樹脂である。樹脂はホモポリマーであってもコポリマー(共重合体)であってもよい。磁性層に含まれる結合剤としては、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル樹脂、スチレン、アクリロニトリル、メチルメタクリレート等を共重合したアクリル樹脂、ニトロセルロース等のセルロース樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール、ポリビニルブチラール等のポリビニルアルキラール樹脂等から選択したものを単独で用いることができ、または複数の樹脂を混合して用いることができる。これらの中で好ましいものはポリウレタン樹脂、アクリル樹脂、セルロース樹脂および塩化ビニル樹脂である。これらの樹脂は、後述する非磁性層および/またはバックコート層においても結合剤として使用することができる。以上の結合剤については、特開2010−24113号公報の段落0029〜0031を参照できる。結合剤として使用される樹脂の平均分子量は、重量平均分子量として、例えば10,000以上200,000以下であることができる。本発明および本明細書における重量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)によって測定された値をポリスチレン換算して求められる値である。測定条件としては、下記条件を挙げることができる。後述の実施例に示す重量平均分子量は、下記測定条件によって測定された値をポリスチレン換算して求めた値である。
GPC装置:HLC−8120(東ソー社製)
カラム:TSK gel Multipore HXL−M(東ソー社製、7.8mmID(Inner Diameter(内径))×30.0cm)
溶離液:テトラヒドロフラン(THF)
(Binder)
The magnetic tape is a coating type magnetic tape, and the magnetic layer contains a binder. A binder is one or more resins. The resin may be a homopolymer or a copolymer. Examples of the binder contained in the magnetic layer include polyurethane resin, polyester resin, polyamide resin, vinyl chloride resin, styrene, acrylonitrile, acrylic resin obtained by copolymerizing methyl methacrylate and the like, cellulose resin such as nitrocellulose, epoxy resin and phenoxy resin. A resin selected from polyvinyl archylal resins such as polyvinyl acetal and polyvinyl butyral can be used alone, or a plurality of resins can be mixed and used. Of these, polyurethane resins, acrylic resins, cellulose resins and vinyl chloride resins are preferred. These resins can also be used as binders in the non-magnetic layer and / or the backcoat layer described later. For the above binder, paragraphs 0029 to 0031 of JP-A-2010-24113 can be referred to. The average molecular weight of the resin used as the binder can be, for example, 10,000 or more and 200,000 or less as the weight average molecular weight. The weight average molecular weight in the present invention and the present specification is a value obtained by converting a value measured by gel permeation chromatography (GPC) into polystyrene. The following conditions can be mentioned as the measurement conditions. The weight average molecular weight shown in Examples described later is a value obtained by converting a value measured under the following measurement conditions into polystyrene.
GPC device: HLC-8120 (manufactured by Tosoh)
Column: TSK gel Multipore HXL-M (manufactured by Tosoh Corporation, 7.8 mm ID (Inner Diameter (inner diameter)) x 30.0 cm)
Eluent: tetrahydrofuran (THF)
また、結合剤として使用可能な樹脂とともに硬化剤を使用することもできる。硬化剤は、一態様では加熱により硬化反応(架橋反応)が進行する化合物である熱硬化性化合物であることができ、他の一態様では光照射により硬化反応(架橋反応)が進行する光硬化性化合物であることができる。硬化剤は、磁気テープの製造工程の中で硬化反応が進行することにより、少なくとも一部は、結合剤等の他の成分と反応(架橋)した状態で磁性層に含まれ得る。好ましい硬化剤は、熱硬化性化合物であり、ポリイソシアネートが好適である。ポリイソシアネートの詳細については、特開2011−216149号公報の段落0124〜0125を参照できる。硬化剤は、磁性層形成用組成物中に、結合剤100.0質量部に対して例えば0〜80.0質量部、磁性層の強度向上の観点からは好ましくは50.0〜80.0質量部の量で使用することができる。 Further, a curing agent can be used together with a resin that can be used as a binder. The curing agent can be a thermosetting compound which is a compound in which a curing reaction (crosslinking reaction) proceeds by heating in one aspect, and a photocuring agent in which a curing reaction (crosslinking reaction) proceeds by light irradiation in another aspect. It can be a sex compound. The curing agent can be contained in the magnetic layer in a state of reacting (crosslinking) with other components such as a binder as a result of the curing reaction proceeding in the process of manufacturing the magnetic tape. Preferred curing agents are thermosetting compounds, with polyisocyanates being preferred. For details of the polyisocyanate, refer to paragraphs 0124 to 0125 of JP2011-216149A. The curing agent is, for example, 0 to 80.0 parts by mass with respect to 100.0 parts by mass of the binder in the composition for forming the magnetic layer, preferably 50.0 to 80.0 from the viewpoint of improving the strength of the magnetic layer. It can be used in the amount of parts by mass.
(添加剤)
磁性層には、強磁性粉末および結合剤が含まれ、必要に応じて一種以上の添加剤が含まれていてもよい。添加剤としては、一例として、上記の硬化剤が挙げられる。また、磁性層に含まれる添加剤としては、非磁性粉末(例えば無機粉末、カーボンブラック等)、潤滑剤、分散剤、分散助剤、防黴剤、帯電防止剤、酸化防止剤等を挙げることができる。また、非磁性粉末としては、研磨剤として機能することができる非磁性粉末、磁性層表面に適度に突出する突起を形成する突起形成剤として機能することができる非磁性粉末(例えば非磁性コロイド粒子等)等が挙げられる。なお後述の実施例に示すコロイダルシリカ(シリカコロイド粒子)の平均粒子サイズは、特開2011−048878号公報の段落0015に平均粒径の測定方法として記載されている方法により求められた値である。添加剤は、所望の性質に応じて市販品を適宜選択して、または公知の方法で製造して、任意の量で使用することができる。研磨剤を含む磁性層に使用され得る添加剤の一例としては、特開2013−131285号公報の段落0012〜0022に記載の分散剤を、研磨剤の分散性を向上するための分散剤として挙げることができる。例えば、潤滑剤については、特開2016−126817号公報の段落0030〜0033、0035および0036を参照できる。非磁性層に潤滑剤が含まれていてもよい。非磁性層に含まれ得る潤滑剤については、特開2016−126817号公報の段落0030、0031、0034、0035および0036を参照できる。分散剤については、特開2012−133837号公報の段落0061および0071を参照できる。分散剤は、非磁性層に含まれていてもよい。非磁性層に含まれ得る分散剤については、特開2012−133837号公報の段落0061を参照できる。
(Additive)
The magnetic layer contains a ferromagnetic powder and a binder, and may contain one or more additives, if necessary. Examples of the additive include the above-mentioned curing agent. Examples of the additive contained in the magnetic layer include non-magnetic powder (for example, inorganic powder, carbon black, etc.), lubricant, dispersant, dispersion aid, fungicide, antistatic agent, antioxidant, and the like. Can be done. The non-magnetic powder includes a non-magnetic powder that can function as an abrasive, and a non-magnetic powder that can function as a protrusion-forming agent that forms protrusions that appropriately project on the surface of the magnetic layer (for example, non-magnetic colloidal particles). Etc.) etc. The average particle size of colloidal silica (silica colloidal particles) shown in Examples described later is a value obtained by the method described as a method for measuring the average particle size in paragraph 0015 of JP2011-048878A. .. As the additive, a commercially available product can be appropriately selected according to the desired properties, or the additive can be produced by a known method and used in an arbitrary amount. As an example of an additive that can be used for a magnetic layer containing an abrasive, the dispersants described in paragraphs 0012 to 0022 of JP2013-131285A are mentioned as dispersants for improving the dispersibility of the abrasive. be able to. For example, for lubricants, paragraphs 0030 to 0033, 0035 and 0036 of JP2016-126817A can be referred to. The non-magnetic layer may contain a lubricant. For the lubricants that can be contained in the non-magnetic layer, reference can be made to paragraphs 0030, 0031, 0034, 0035 and 0036 of JP2016-126817A. For the dispersant, paragraphs 0061 and 0071 of JP2012-133387A can be referred to. The dispersant may be contained in the non-magnetic layer. For the dispersant that can be contained in the non-magnetic layer, paragraph 0061 of JP2012-133387A can be referred to.
また、添加剤の一例である分散剤としては、カルボキシ基含有化合物、含窒素化合物等の公知の分散剤を使用することができる。例えば、含窒素化合物は、NH2Rで表される第一級アミン、NHR2で表される第二級アミン、NR3で表される第三級アミンのいずれであってもよい。上記において、Rは含窒素化合物を構成する任意の構造を示し、複数存在するRは同一であっても異なっていてもよい。含窒素化合物は、分子中に複数の繰り返し構造を有する化合物(ポリマー)であってもよい。含窒素化合物の含窒素部が六方晶フェライト粉末の粒子表面への吸着部として機能することが、含窒素化合物が分散剤として働くことができる理由と考えられる。カルボキシ基含有化合物としては、例えばオレイン酸等の脂肪酸を挙げることができる。カルボキシ基含有化合物については、カルボキシ基が六方晶フェライト粉末の粒子表面への吸着部として機能することが、カルボキシ基含有化合物が分散剤として働くことができる理由と考えられる。カルボキシ基含有化合物と含窒素化合物を併用することも、好ましい。 Further, as the dispersant which is an example of the additive, a known dispersant such as a carboxy group-containing compound and a nitrogen-containing compound can be used. For example, the nitrogen-containing compound may be any of a primary amine represented by NH 2 R, a secondary amine represented by NHR 2 , and a tertiary amine represented by NR 3. In the above, R indicates an arbitrary structure constituting the nitrogen-containing compound, and a plurality of Rs existing may be the same or different. The nitrogen-containing compound may be a compound (polymer) having a plurality of repeating structures in the molecule. It is considered that the reason why the nitrogen-containing compound can act as a dispersant is that the nitrogen-containing portion of the nitrogen-containing compound functions as an adsorption portion of the hexagonal ferrite powder on the particle surface. Examples of the carboxy group-containing compound include fatty acids such as oleic acid. Regarding the carboxy group-containing compound, it is considered that the carboxy group functions as an adsorption portion of the hexagonal ferrite powder on the particle surface, which is the reason why the carboxy group-containing compound can act as a dispersant. It is also preferable to use a carboxy group-containing compound and a nitrogen-containing compound in combination.
以上説明した磁性層は、非磁性支持体表面上に直接、または非磁性層を介して間接的に、設けることができる。 The magnetic layer described above can be provided directly on the surface of the non-magnetic support or indirectly via the non-magnetic layer.
<非磁性層>
次に非磁性層について説明する。上記磁気テープは、非磁性支持体上に直接磁性層を有していてもよく、非磁性支持体と磁性層との間に非磁性粉末および結合剤を含む非磁性層を有していてもよい。非磁性層に使用される非磁性粉末は、無機物質の粉末でも有機物質の粉末でもよい。また、カーボンブラック等も使用できる。無機物質としては、例えば金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物、金属硫化物等が挙げられる。これらの非磁性粉末は、市販品として入手可能であり、公知の方法で製造することもできる。その詳細については、特開2011−216149号公報の段落0146〜0150を参照できる。非磁性層に使用可能なカーボンブラックについては、特開2010−24113号公報の段落0040〜0041も参照できる。非磁性層における非磁性粉末の含有量(充填率)は、好ましくは50〜90質量%の範囲であり、より好ましくは60〜90質量%の範囲である。
<Non-magnetic layer>
Next, the non-magnetic layer will be described. The magnetic tape may have a magnetic layer directly on the non-magnetic support, or may have a non-magnetic layer containing a non-magnetic powder and a binder between the non-magnetic support and the magnetic layer. Good. The non-magnetic powder used for the non-magnetic layer may be an inorganic substance powder or an organic substance powder. In addition, carbon black or the like can also be used. Examples of the inorganic substance include metals, metal oxides, metal carbonates, metal sulfates, metal nitrides, metal carbides, metal sulfides and the like. These non-magnetic powders are commercially available and can also be produced by known methods. For details thereof, refer to paragraphs 0146 to 0150 of JP2011-216149A. For carbon black that can be used for the non-magnetic layer, paragraphs 0040 to 0041 of JP2010-24113A can also be referred to. The content (filling rate) of the non-magnetic powder in the non-magnetic layer is preferably in the range of 50 to 90% by mass, and more preferably in the range of 60 to 90% by mass.
非磁性層の結合剤、添加剤等のその他詳細は、非磁性層に関する公知技術が適用できる。また、例えば、結合剤の種類および含有量、添加剤の種類および含有量等に関しては、磁性層に関する公知技術も適用できる。 For other details such as binders and additives of the non-magnetic layer, known techniques relating to the non-magnetic layer can be applied. Further, for example, with respect to the type and content of the binder, the type and content of the additive, and the like, known techniques relating to the magnetic layer can also be applied.
上記磁気テープの非磁性層には、非磁性粉末とともに、例えば不純物として、または意図的に、少量の強磁性粉末を含む実質的に非磁性な層も包含されるものとする。ここで実質的に非磁性な層とは、この層の残留磁束密度が10mT以下であるか、保磁力が7.96kA/m(100Oe)以下であるか、または、残留磁束密度が10mT以下であり、かつ保磁力が7.96kA/m(100Oe)以下である層をいうものとする。非磁性層は、残留磁束密度および保磁力を持たないことが好ましい。 The non-magnetic layer of the magnetic tape includes, for example, as an impurity or intentionally, a substantially non-magnetic layer containing a small amount of ferromagnetic powder as well as the non-magnetic powder. Here, the substantially non-magnetic layer means that the residual magnetic flux density of this layer is 10 mT or less, the coercive force is 7.96 kA / m (100 Oe) or less, or the residual magnetic flux density is 10 mT or less. It refers to a layer having a coercive force of 7.96 kA / m (100 Oe) or less. The non-magnetic layer preferably has no residual magnetic flux density and coercive force.
<非磁性支持体>
次に、非磁性支持体について説明する。非磁性支持体(以下、単に「支持体」とも記載する。)としては、二軸延伸を行ったポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミド、ポリアミドイミド、芳香族ポリアミド等の公知のものが挙げられる。これらの中でもポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミドが好ましい。これらの支持体には、あらかじめコロナ放電、プラズマ処理、易接着処理、加熱処理等を行ってもよい。
<Non-magnetic support>
Next, the non-magnetic support will be described. Examples of the non-magnetic support (hereinafter, also simply referred to as “support”) include known biaxially stretched polyethylene terephthalates, polyethylene naphthalates, polyamides, polyamideimides, aromatic polyamides and the like. Among these, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, and polyamide are preferable. These supports may be subjected to corona discharge, plasma treatment, easy adhesion treatment, heat treatment and the like in advance.
<バックコート層>
上記磁気テープは、非磁性支持体の磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末および結合剤を含むバックコート層を有することもできる。バックコート層には、カーボンブラックおよび無機粉末の一方または両方が含有されていることが好ましい。バックコート層に含まれる結合剤、任意に含まれ得る各種添加剤については、バックコート層に関する公知技術を適用することができ、磁性層および/または非磁性層の処方に関する公知技術を適用することもできる。例えば、特開2006−331625号公報の段落0018〜0020および米国特許第7,029,774号明細書の第4欄65行目〜第5欄38行目の記載を、バックコート層について参照できる。
<Back coat layer>
The magnetic tape may also have a backcoat layer containing a non-magnetic powder and a binder on the surface side opposite to the surface side having the magnetic layer of the non-magnetic support. The backcoat layer preferably contains one or both of carbon black and inorganic powder. For the binder contained in the backcoat layer and various additives that may be optionally contained, the known technique relating to the backcoat layer can be applied, and the known technique relating to the formulation of the magnetic layer and / or the non-magnetic layer shall be applied. You can also. For example, paragraphs 0018 to 0020 of JP-A-2006-331625 and the description of US Pat. No. 7,029,774,
<各種厚み>
非磁性支持体の厚みは、好ましくは3.0〜6.0μmである。
磁性層の厚みは、近年求められている高密度記録化の観点からは0.15μm以下であることが好ましく、0.1μm以下であることがより好ましい。磁性層の厚みは、更に好ましくは0.01〜0.1μmの範囲である。磁性層は少なくとも一層あればよく、磁性層を異なる磁気特性を有する2層以上に分離してもかまわず、公知の重層磁性層に関する構成が適用できる。2層以上に分離する場合の磁性層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。
<Various thickness>
The thickness of the non-magnetic support is preferably 3.0 to 6.0 μm.
The thickness of the magnetic layer is preferably 0.15 μm or less, and more preferably 0.1 μm or less, from the viewpoint of high-density recording that has been demanded in recent years. The thickness of the magnetic layer is more preferably in the range of 0.01 to 0.1 μm. The magnetic layer may be at least one layer, and the magnetic layer may be separated into two or more layers having different magnetic characteristics, and a known configuration relating to a multi-layer magnetic layer can be applied. The thickness of the magnetic layer when separated into two or more layers is the total thickness of these layers.
非磁性層の厚みは、例えば0.1〜1.5μmであり、0.1〜1.0μmであることが好ましい。 The thickness of the non-magnetic layer is, for example, 0.1 to 1.5 μm, preferably 0.1 to 1.0 μm.
バックコート層の厚みは、0.9μm以下であることが好ましく、0.1〜0.7μmの範囲であることが更に好ましい。 The thickness of the backcoat layer is preferably 0.9 μm or less, more preferably 0.1 to 0.7 μm.
磁気テープの各層および非磁性支持体の厚みは、公知の膜厚測定法により求めることができる。一例として、例えば、磁気テープの厚み方向の断面を、イオンビーム、ミクロトーム等の公知の手法により露出させた後、露出した断面において走査型電子顕微鏡を用いて断面観察を行う。断面観察において厚み方向の1箇所において求められた厚み、または無作為に抽出した2箇所以上の複数箇所、例えば2箇所、において求められた厚みの算術平均として、各種厚みを求めることができる。または、各層の厚みは、製造条件から算出される設計厚みとして求めてもよい。 The thickness of each layer of the magnetic tape and the non-magnetic support can be determined by a known film thickness measuring method. As an example, for example, a cross section in the thickness direction of a magnetic tape is exposed by a known method such as an ion beam or a microtome, and then the cross section is observed using a scanning electron microscope in the exposed cross section. Various thicknesses can be obtained as the arithmetic mean of the thickness obtained at one location in the thickness direction in the cross-sectional observation, or at two or more randomly selected locations, for example, two locations. Alternatively, the thickness of each layer may be obtained as a design thickness calculated from the manufacturing conditions.
<製造工程>
(各層形成用組成物の調製)
磁性層、非磁性層またはバックコート層を形成するための組成物は、先に説明した各種成分とともに、通常、溶媒を含む。溶媒としては、塗布型磁気記録媒体を製造するために一般に使用される各種有機溶媒を用いることができる。中でも、塗布型磁気記録媒体に通常使用される結合剤の溶解性の観点からは、各層形成用組成物には、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ジイソブチルケトン、シクロヘキサノン、イソホロン、テトラヒドロフラン等のケトン溶媒の一種以上が含まれることが好ましい。各層形成用組成物における溶媒量は特に限定されるものではなく、通常の塗布型磁気記録媒体の各層形成用組成物と同様にすることができる。また、各層形成用組成物を調製する工程は、通常、少なくとも混練工程、分散工程、およびこれらの工程の前後に必要に応じて設けた混合工程を含むことができる。個々の工程はそれぞれ2段階以上に分かれていてもかまわない。各層形成用組成物の調製に用いられる成分は、どの工程の最初または途中で添加してもかまわない。また、個々の原料を2つ以上の工程で分割して添加してもかまわない。例えば、結合剤を混練工程、分散工程、および分散後の粘度調整のための混合工程で分割して投入してもよい。磁気テープの製造のために、従来の公知の製造技術を各種工程において用いることができる。混練工程では、オープンニーダ、連続ニーダ、加圧ニーダ、エクストルーダ等の強い混練力をもつニーダを使用することが好ましい。これらの混練処理の詳細については特開平1−106338号公報および特開平1−79274号公報に記載されている。分散機は公知のものを使用することができる。各層形成用組成物を、塗布工程に付す前に公知の方法によってろ過してもよい。ろ過は、例えばフィルタろ過によって行うことができる。ろ過に用いるフィルタとしては、例えば孔径0.01〜3μmのフィルタ(例えばガラス繊維製フィルタ、ポリプロピレン製フィルタ等)を用いることができる。
<Manufacturing process>
(Preparation of composition for forming each layer)
The composition for forming the magnetic layer, the non-magnetic layer or the backcoat layer usually contains a solvent together with the various components described above. As the solvent, various organic solvents generally used for producing a coating type magnetic recording medium can be used. Above all, from the viewpoint of solubility of a binder usually used for a coating type magnetic recording medium, each layer-forming composition contains a ketone solvent such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, diisobutyl ketone, cyclohexanone, isophorone, and tetrahydrofuran. It is preferable that one or more of the above is contained. The amount of the solvent in each layer-forming composition is not particularly limited, and can be the same as that of each layer-forming composition of a normal coating type magnetic recording medium. In addition, the step of preparing each layer-forming composition can usually include at least a kneading step, a dispersion step, and a mixing step provided before and after these steps as necessary. Each step may be divided into two or more steps. The components used in the preparation of each layer-forming composition may be added at the beginning or in the middle of any step. Further, each raw material may be added separately in two or more steps. For example, the binder may be divided and added in a kneading step, a dispersion step, and a mixing step for adjusting the viscosity after dispersion. Conventionally known manufacturing techniques can be used in various steps to manufacture magnetic tapes. In the kneading step, it is preferable to use a kneader having a strong kneading force such as an open kneader, a continuous kneader, a pressurized kneader, and an extruder. Details of these kneading treatments are described in JP-A-1-106338 and JP-A-1-79274. A known disperser can be used. Each layer-forming composition may be filtered by a known method before being subjected to the coating step. Filtration can be performed, for example, by filter filtration. As the filter used for filtration, for example, a filter having a pore size of 0.01 to 3 μm (for example, a glass fiber filter, a polypropylene filter, etc.) can be used.
磁性層形成用組成物の分散処理に関しては、先に記載したように、チッピングの発生を抑制することが好ましい。そのためには、磁性層形成用組成物を調製する工程において、六方晶フェライト粉末の分散処理を二段階の分散処理により行い、第一の段階の分散処理により六方晶フェライト粉末の粗大な凝集物を解砕した後、分散ビーズとの衝突によって六方晶フェライト粉末の粒子に加わる衝突エネルギーが第一の分散処理より小さな第二の段階の分散処理を行うことが好ましい。かかる分散処理によれば、六方晶フェライト粉末の分散性向上とチッピングの発生の抑制とを両立することができる。 Regarding the dispersion treatment of the composition for forming a magnetic layer, it is preferable to suppress the occurrence of chipping as described above. For that purpose, in the step of preparing the composition for forming a magnetic layer, the hexagonal ferrite powder is dispersed by a two-step dispersion treatment, and the coarse agglomerates of the hexagonal ferrite powder are formed by the first-step dispersion treatment. After crushing, it is preferable to perform a second-stage dispersion treatment in which the collision energy applied to the particles of the hexagonal ferrite powder by collision with the dispersed beads is smaller than that of the first dispersion treatment. According to such a dispersion treatment, it is possible to improve the dispersibility of the hexagonal ferrite powder and suppress the occurrence of chipping at the same time.
上記の二段階の分散処理の好ましい態様としては、六方晶フェライト粉末、結合剤および溶媒を、第一の分散ビーズの存在下で分散処理することにより分散液を得る第一の段階と、第一の段階で得られた分散液を、第一の分散ビーズよりビーズ径および密度が小さい第二の分散ビーズの存在下で分散処理する第二の段階と、を含む分散処理を挙げることができる。以下に、上記の好ましい態様の分散処理について、更に説明する。 Preferred embodiments of the above two-step dispersion treatment include a first step of obtaining a dispersion liquid by dispersing the hexagonal ferrite powder, a binder and a solvent in the presence of the first dispersion beads. A second step of dispersing the dispersion obtained in the above step in the presence of a second dispersed bead having a smaller bead diameter and density than the first dispersed bead can be mentioned. The dispersion treatment of the above-mentioned preferable embodiment will be further described below.
六方晶フェライト粉末の分散性を高めるためには、上記の第一の段階および第二の段階は、六方晶フェライト粉末を他の粉末成分と混合する前の分散処理として行うことが好ましい。例えば、上記非磁性フィラーを含む磁性層を形成する場合、上記非磁性フィラーと混合する前に、六方晶フェライト粉末、結合剤、溶媒および任意に添加される添加剤を含む液(磁性液)の分散処理として、上記の第一の段階および第二の段階を行うことが好ましい。 In order to enhance the dispersibility of the hexagonal ferrite powder, it is preferable that the first step and the second step described above are performed as a dispersion treatment before mixing the hexagonal ferrite powder with other powder components. For example, when forming a magnetic layer containing the non-magnetic filler, a liquid (magnetic liquid) containing a hexagonal ferrite powder, a binder, a solvent and an additive optionally added before being mixed with the non-magnetic filler. As the distributed treatment, it is preferable to carry out the first step and the second step described above.
第二の分散ビーズのビーズ径は、好ましくは、第一の分散ビーズのビーズ径の1/100以下であり、より好ましくは1/500以下である。また、第二の分散ビーズのビーズ径は、例えば第一の分散ビーズのビーズ径の1/10000以上であることができる。ただし、この範囲に限定されるものではない。例えば、第二の分散ビーズのビーズ径は、80〜1000nmの範囲であることが好ましい。一方、第一の分散ビーズのビーズ径は、例えば0.2〜1.0mmの範囲であることができる。
本発明および本明細書におけるビーズ径は、先に記載した粉末の平均粒子サイズの測定方法と同様の方法で測定される値とする。
The bead diameter of the second dispersed beads is preferably 1/100 or less, more preferably 1/500 or less of the bead diameter of the first dispersed beads. Further, the bead diameter of the second dispersed beads can be, for example, 1/10000 or more of the bead diameter of the first dispersed beads. However, it is not limited to this range. For example, the bead diameter of the second dispersed beads is preferably in the range of 80 to 1000 nm. On the other hand, the bead diameter of the first dispersed beads can be in the range of, for example, 0.2 to 1.0 mm.
The bead diameter in the present invention and the present specification is a value measured by the same method as the method for measuring the average particle size of the powder described above.
上記の第二の段階は、質量基準で、第二の分散ビーズが、六方晶フェライト粉末の10倍以上の量で存在する条件下で行うことが好ましく、10倍〜30倍の量で存在する条件下で行うことがより好ましい。
一方、第一の段階における第一の分散ビーズ量も、上記範囲とすることが好ましい。
The second step described above is preferably performed under the condition that the second dispersed beads are present in an amount of 10 times or more that of the hexagonal ferrite powder on a mass basis, and is present in an amount of 10 to 30 times. It is more preferable to carry out under the conditions.
On the other hand, the amount of the first dispersed beads in the first step is also preferably in the above range.
第二の分散ビーズは、第一の分散ビーズより密度が小さいビーズである。「密度」とは、分散ビーズの質量(単位:g)を体積(単位:cm3)で除して求められる。測定は、アルキメデス法によって行われる。第二の分散ビーズの密度は、好ましくは3.7g/cm3以下であり、より好ましくは3.5g/cm3以下である。第二の分散ビーズの密度は、例えば2.0g/cm3以上であってもよく、2.0g/cm3を下回ってもよい。密度の点から好ましい第二の分散ビーズとしては、ダイヤモンドビーズ、炭化ケイ素ビーズ、窒化ケイ素ビーズ等を挙げることができ、密度および硬度の点で好ましい第二の分散ビーズとしては、ダイヤモンドビーズを挙げることができる。
一方、第一の分散ビーズとしては、密度が3.7g/cm3超の分散ビーズが好ましく、密度が3.8g/cm3以上の分散ビーズがより好ましく、4.0g/cm3以上の分散ビーズが更に好ましい。第一の分散ビーズの密度は、例えば7.0g/cm3以下であってもよく、7.0g/cm3超でもよい。第一の分散ビーズとしては、ジルコニアビーズ、アルミナビーズ等を用いることが好ましく、ジルコニアビーズを用いることがより好ましい。
The second dispersed beads are beads having a lower density than the first dispersed beads. The "density" is obtained by dividing the mass (unit: g) of the dispersed beads by the volume (unit: cm 3). The measurement is performed by the Archimedes method. The density of the second dispersed beads is preferably 3.7 g / cm 3 or less, and more preferably 3.5 g / cm 3 or less. The density of the second dispersed beads may be, for example, 2.0 g / cm 3 or more, or less than 2.0 g / cm 3. Examples of the second dispersed beads preferable from the viewpoint of density include diamond beads, silicon carbide beads, silicon nitride beads and the like, and examples of the second dispersed beads preferable from the viewpoint of density and hardness include diamond beads. Can be done.
On the other hand, the first dispersion beads, preferably density is 3.7 g / cm 3 greater than the dispersion beads, density is 3.8 g / cm 3 or more dispersing beads more preferably, 4.0 g / cm 3 or more dispersion Beads are more preferred. The density of the first dispersed beads may be, for example, 7.0 g / cm 3 or less, or more than 7.0 g / cm 3 . As the first dispersed beads, it is preferable to use zirconia beads, alumina beads and the like, and it is more preferable to use zirconia beads.
分散時間は特に限定されるものではなく、用いる分散機の種類等に応じて設定すればよい。 The dispersion time is not particularly limited, and may be set according to the type of the disperser to be used.
(塗布工程)
磁性層は、磁性層形成用組成物を非磁性支持体の表面に直接塗布するか、または非磁性層形成用組成物と逐次もしくは同時に重層塗布することにより形成することができる。バックコート層は、バックコート層形成用組成物を、非磁性支持体の磁性層を有する(または磁性層が追って設けられる)表面側とは反対の表面側に塗布することにより形成することができる。各層形成のための塗布の詳細については、特開2010−231843号公報の段落0066を参照できる。
(Applying process)
The magnetic layer can be formed by directly applying the magnetic layer forming composition to the surface of the non-magnetic support, or by applying multiple layers sequentially or simultaneously with the non-magnetic layer forming composition. The backcoat layer can be formed by applying the backcoat layer forming composition to the surface side opposite to the surface side having the magnetic layer of the non-magnetic support (or the magnetic layer is provided later). .. For details of the coating for forming each layer, refer to paragraph 0066 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-231843.
(その他の工程)
磁気テープ製造のためのその他の各種工程については、特開2010−231843号公報の段落0067〜0070を参照できる。磁性層形成用組成物の塗布層には、この塗布層が湿潤(未乾燥)状態にあるうちに配向処理を施すことが好ましい。配向処理については、特開2010−231843号公報の段落0067の記載をはじめとする各種公知技術を適用することができる。先に記載したように、配向処理としては垂直配向処理を行うことが、XRD強度比を制御する観点から好ましい。配向処理については、先の記載も参照できる。例えば、垂直配向処理は、異極対向磁石を用いる方法等の公知の方法によって行うことができる。配向ゾーンでは、乾燥風の温度、風量および/または配向ゾーンにおける磁気テープの搬送速度によって塗布層の乾燥速度を制御することができる。また、配向ゾーンに搬送する前に塗布層を予備乾燥させてもよい。
(Other processes)
For other various steps for manufacturing the magnetic tape, paragraphs 0067 to 0070 of JP2010-231843A can be referred to. It is preferable that the coating layer of the composition for forming a magnetic layer is subjected to an orientation treatment while the coating layer is in a wet (undried) state. For the orientation treatment, various known techniques such as the description in paragraph 0067 of JP-A-2010-231843 can be applied. As described above, it is preferable to perform the vertical alignment treatment as the orientation treatment from the viewpoint of controlling the XRD intensity ratio. Regarding the orientation treatment, the above description can also be referred to. For example, the vertical alignment treatment can be performed by a known method such as a method using a magnet opposite to the opposite pole. In the alignment zone, the drying rate of the coating layer can be controlled by the temperature of the drying air, the air volume, and / or the transport rate of the magnetic tape in the alignment zone. Alternatively, the coating layer may be pre-dried before being transported to the alignment zone.
上記の磁気テープの製造方法は例示であって、XRD強度比および垂直方向角型比を調整可能な任意の手段によって、XRD強度比および垂直方向角型比をそれぞれ上記範囲に制御することができ、そのような態様も本発明に包含される。 The above-mentioned method for manufacturing a magnetic tape is an example, and the XRD intensity ratio and the vertical azimuth ratio can be controlled within the above ranges by any means capable of adjusting the XRD intensity ratio and the vertical azimuth ratio, respectively. , Such aspects are also included in the present invention.
上記磁気テープの磁性層には、サーボパターンが形成される。磁性層へのサーボパターンの形成は、サーボパターン記録ヘッド(「サーボライトヘッド(servo write head)」とも呼ばれる。)により、磁性層の特定の位置を磁化することにより行われる。トラッキングを可能とするためのサーボパターンの形状および磁性層における配置は公知であり、サーボライトヘッドにより磁化する領域(サーボパターンを形成する位置)は規格により定められている。上記磁気テープの磁性層が有するサーボパターンについては、公知技術を適用することができる。例えば、トラッキングの方式としては、タイミングベースサーボ方式と振幅ベースサーボ方式が知られている。上記磁気テープの磁性層に形成され得るサーボパターンは、いずれの方式のトラッキングを可能とするサーボパターンでもよい。また、タイミングベースサーボ方式でのトラッキングを可能とするサーボパターンと振幅ベースサーボ方式でのトラッキングを可能とするサーボパターンとが磁性層に形成されていてもよい。 A servo pattern is formed on the magnetic layer of the magnetic tape. The formation of a servo pattern on the magnetic layer is performed by magnetizing a specific position of the magnetic layer with a servo pattern recording head (also referred to as a "servo write head"). The shape of the servo pattern and the arrangement in the magnetic layer for enabling tracking are known, and the region magnetized by the servo light head (the position where the servo pattern is formed) is defined by the standard. A known technique can be applied to the servo pattern of the magnetic layer of the magnetic tape. For example, as a tracking method, a timing-based servo method and an amplitude-based servo method are known. The servo pattern that can be formed on the magnetic layer of the magnetic tape may be a servo pattern that enables tracking of any method. Further, a servo pattern that enables tracking by the timing-based servo method and a servo pattern that enables tracking by the amplitude-based servo method may be formed on the magnetic layer.
磁気テープでは、通常、データは磁気テープのデータバンド上に記録される。これによりデータバンドにトラックが形成される。詳しくは、磁気テープには、通常、サーボパターンを有する領域(「サーボバンド」と呼ばれる。)が長手方向に沿って複数本存在する。データバンドは、2本のサーボバンドに挟まれた領域である。例えば、図2中のトラック領域30がデータバンドである。データの記録はデータバンド上で行われ、データバンドには複数のトラックが長手方向に沿って形成される。一例として、例えば、業界標準規格であるLTO(Linear−Tape−Open)Ultriumフォーマットテープには、タイミングベースサーボ方式でのトラッキングが可能なサーボパターンが形成される。タイミングベースサーボ方式でのトラッキングのためには、二種以上の異なる形状の複数のサーボパターンが磁性層に形成される。サーボヘッドが異なる形状の2つのサーボパターンを再生した(読み取った)時間間隔と、サーボヘッドが同種の形状の2つのサーボパターンを再生した時間間隔と、により、サーボヘッドの位置が認識される。こうして認識されたサーボヘッドの位置に基づき、トラッキングが行われる。詳しくは、LTO Ultriumフォーマットテープのテープ製造時に、図14に示すようにテープ幅方向に対して傾斜した複数のサーボパターンが、サーボバンド上に形成される。図14中、サーボバンド上のサーボフレームSFは、サーボサブフレーム1(SSF1)およびサーボサブフレーム2(SSF2)から構成される。サーボサブフレーム1は、Aバースト(図14中、符号A)およびBバースト(図14中、符号B)から構成される。AバーストはサーボパターンA1〜A5から構成され、BバーストはサーボパターンB1〜B5から構成される。一方、サーボサブフレーム2は、Cバースト(図14中、符号C)およびDバースト(図14中、符号D)から構成される。CバーストはサーボパターンC1〜C4から構成され、DバーストはサーボパターンD1〜D4から構成される。このような18本のサーボパターンが5本と4本のセットで、5、5、4、4、の配列で並べられたサブフレームに配置され、サーボフレームを識別するために用いられる。図14には、説明のために1つのサーボフレームを示した。ただし、実際には、タイミングベースサーボ方式のトラッキングが行われる磁気テープの磁性層では、各サーボバンドに、複数のサーボフレームが走行方向に配置されている。図14中、矢印は走行方向を示している。例えば、LTO Ultriumフォーマットテープは、通常、磁性層の各サーボバンドに、テープ長1mあたり5000以上のサーボフレームを有する。サーボ素子は、磁気テープ装置内で搬送される磁気テープの磁性層表面と接触し摺動しながら、複数のサーボフレームにおいて順次サーボパターンの読み取りを行う。以下、タイミングベースサーボ方式でのトラッキングが可能なサーボパターンを、「タイミングベースサーボパターン」という。
With magnetic tape, the data is usually recorded on the data band of the magnetic tape. This forms a track in the data band. Specifically, the magnetic tape usually has a plurality of regions having a servo pattern (referred to as "servo bands") along the longitudinal direction. The data band is an area sandwiched between two servo bands. For example, the
サーボライトヘッドによって磁化(サーボパターンを形成)する時に磁性層上の意図しない箇所も磁化されてしまうことが抑制されていることは、例えば、タイミングベースサーボパターンの磁気力顕微鏡観察により特定されるエッジ形状の磁気テープの長手方向における理想形状からの位置ずれ幅の累積分布関数99.9%の値L99.9と上記累積分布関数0.1%の値L0.1との差分(L99.9−L0.1)(以下、単に「差分(L99.9−L0.1)」とも記載する。)により評価することができる。タイミングベースサーボパターンは、磁性層に二種以上の異なる形状の複数のサーボパターンとして形成される。一例では、二種以上の異なる形状の複数のサーボパターンが、同種の形状の複数のサーボパターンごとに連続して一定の間隔をもって配置される。他の一例では、異なる種類のサーボパターンが交互に配置される。サーボパターンが同種の形状であることに関しては、サーボパターンのエッジ形状の位置ずれは不問とする。タイミングベースサーボ方式でのトラッキングが可能なサーボパターンの形状およびサーボバンド上での配置は公知であり、図14に示されているサーボパターンがその具体例である。本発明および本明細書において、タイミングベースサーボパターンの磁気力顕微鏡観察により特定されるエッジ形状は、磁気信号(データ)を記録する際の磁気テープ走行方向(以下、単に「走行方向」とも記載する。)に対して下流側に位置するエッジ(端辺)の形状とする。例えば図14中、矢印の進行方向側が上流側であり、反対側が下流側である。 It is suppressed that unintended parts on the magnetic layer are also magnetized when magnetized (forming a servo pattern) by the servo light head, for example, the edge specified by the magnetic force microscope observation of the timing-based servo pattern. Difference between the cumulative distribution function L 99.9 of the position deviation width from the ideal shape in the longitudinal direction of the magnetic tape of the shape L 99.9 and the value L 0.1 of the above cumulative distribution function 0.1% (L 99) It can be evaluated by .9- L 0.1 ) (hereinafter, also simply referred to as "difference (L 99.9- L 0.1)"). The timing-based servo pattern is formed on the magnetic layer as a plurality of servo patterns having two or more different shapes. In one example, a plurality of servo patterns having two or more different shapes are continuously arranged at regular intervals for each of a plurality of servo patterns having the same shape. In another example, different types of servo patterns are arranged alternately. Regarding the fact that the servo patterns have the same shape, the positional deviation of the edge shape of the servo pattern does not matter. The shape of the servo pattern that can be tracked by the timing-based servo method and the arrangement on the servo band are known, and the servo pattern shown in FIG. 14 is a specific example. In the present invention and the present specification, the edge shape specified by the magnetic force microscope observation of the timing-based servo pattern is also described as the magnetic tape traveling direction (hereinafter, simply referred to as "traveling direction") when recording a magnetic signal (data). The shape of the edge is located on the downstream side with respect to.). For example, in FIG. 14, the traveling direction side of the arrow is the upstream side, and the opposite side is the downstream side.
以下に、タイミングベースサーボパターンの磁気力顕微鏡観察により特定されるエッジ形状、このエッジ形状の磁気テープの長手方向における理想形状からの位置ずれ幅の累積分布関数99.9%の値L99.9と上記累積分布関数0.1%の値L0.1との差分(L99.9−L0.1)、および理想形状について説明する。
以下では、磁気テープの幅方向の一方から他方に向かって連続的に延び、磁気テープの幅方向に対して角度αで傾斜した直線状サーボパターンを主に例に取り説明する。上記の角度αとは、磁気信号(データ)を記録する際の磁気テープの走行方向に対して下流側に位置するサーボパターンのエッジのテープ幅方向の端部2箇所を結ぶ線分と磁気テープの幅方向とのなす角度をいうものとする。この点を含め、以下に更に説明する。
Below, the edge shape specified by the magnetic force microscope observation of the timing-based servo pattern, and the cumulative distribution function of the position deviation width from the ideal shape in the longitudinal direction of the magnetic tape of this edge shape L 99.9% value L 99.9 The difference between the cumulative distribution function 0.1% and the value L 0.1 (L 99.9- L 0.1 ), and the ideal shape will be described.
In the following, a linear servo pattern that extends continuously from one side in the width direction of the magnetic tape toward the other and is inclined at an angle α with respect to the width direction of the magnetic tape will be mainly described as an example. The above angle α is a line segment connecting two ends in the tape width direction of the edge of the servo pattern located on the downstream side of the traveling direction of the magnetic tape when recording a magnetic signal (data) and the magnetic tape. It means the angle formed by the width direction of. Including this point, it will be further described below.
図15および図16は、角度αの説明図である。図14に示すサーボパターンにおいて、サーボパターンA1〜A5、C1〜C4のように走行方向の上流側に向けて傾斜しているサーボパターンについては、下流側のエッジELの端部2箇所を結ぶ線分(図15中、破線L1)とテープ幅方向(図15中、破線L2)とのなす角度を角度αとする。一方、サーボパターンB1〜B5、D1〜D4のように走行方向の下流側に向けて傾斜しているサーボパターンについては、下流側のエッジELの端部2箇所を結ぶ線分(図16中、破線L1)とテープ幅方向(図16中、破線L2)とのなす角度を角度αとする。この角度αは、一般にアジマス角と呼ばれ、サーボバンド上に磁化領域(サーボパターン)を形成する際のサーボライトヘッドの設定により定められる。 15 and 16 are explanatory views of the angle α. In the servo pattern shown in FIG. 14, the servo pattern A1 to A5, for servo pattern which is inclined toward the upstream side in the running direction as C1 -C4, connecting the ends two locations on the downstream side of the edge E L The angle formed by the line segment (broken line L1 in FIG. 15) and the tape width direction (broken line L2 in FIG. 15) is defined as the angle α. On the other hand, the servo pattern B1 to B5, the servo pattern which is inclined toward the downstream side in the traveling direction as shown in D1 to D4, the line segment connecting the ends two locations on the downstream side of the edge E L (in FIG. 16 , The angle formed by the broken line L1) and the tape width direction (broken line L2 in FIG. 16) is defined as an angle α. This angle α is generally called an azimuth angle, and is determined by the setting of the servo light head when forming a magnetization region (servo pattern) on the servo band.
サーボバンド上に磁化領域(サーボパターン)を形成する際、サーボパターンが理想的に形成されたならば、上記の磁気テープの幅方向に対して角度αで傾斜したサーボパターンのエッジ形状は、上記のエッジ端部2箇所を結ぶ線分(図15および図16中、破線L1)の形状と一致する。即ち直線になる。したがって、エッジ上の各箇所において、磁気テープの長手方向における理想形状からの位置ずれ幅(以下、単に「位置ずれ幅」とも記載する。)はゼロになる。しかし、図17に一例を示すようにサーボパターンのエッジ形状が理想形状からずれてしまい、この位置ずれ幅が大きく、かつエッジ各箇所での位置ずれ幅の値のばらつきが大きいことは、サーボパターンを読み取って読取素子の位置を特定する精度を低下させる要因になると考えられる。これに対し、上記の差分(L99.9−L0.1)は、サーボパターンのエッジ各位置で理想形状からの位置ずれ幅が小さく、かつエッジ各箇所での位置ずれ幅の値のばらつきが小さいことの指標となり得る値である。 If the servo pattern is ideally formed when the magnetization region (servo pattern) is formed on the servo band, the edge shape of the servo pattern inclined at an angle α with respect to the width direction of the magnetic tape is as described above. It matches the shape of the line segment (broken line L1 in FIGS. 15 and 16) connecting the two edge ends of the above. That is, it becomes a straight line. Therefore, at each location on the edge, the misalignment width from the ideal shape in the longitudinal direction of the magnetic tape (hereinafter, also simply referred to as “misalignment width”) becomes zero. However, as shown in FIG. 17, the edge shape of the servo pattern deviates from the ideal shape, and the large variation in the misalignment width and the large variation in the value of the misalignment width at each edge are the servo patterns. It is considered to be a factor that lowers the accuracy of identifying the position of the reading element by reading. On the other hand, the above difference (L 99.9- L 0.1 ) shows that the displacement width from the ideal shape is small at each edge position of the servo pattern, and the value of the displacement width is different at each edge location. Is a value that can be an indicator that is small.
差分(L99.9−L0.1)は、以下の方法により求められる値である。
サーボパターンが形成された磁気テープの磁性層表面を磁気力顕微鏡(MFM;Magnetic Force Microscope)で観察する。測定範囲は、サーボパターンが5本含まれる範囲とする。例えば、LTO Ultriumフォーマットテープでは、測定範囲を90μm×90μmとすることにより、AバーストまたはBバーストの5本のサーボパターンを観察することができる。測定範囲を100nmピッチで測定(粗測定)することによりサーボパターン(磁化領域)を抽出する。
その後、サーボパターンの、走行方向に対して下流側に位置するエッジにおいて磁化領域と非磁化領域との境界を検出するために、上記境界近傍において5nmピッチで測定を行い磁気プロファイルを得る。得られた磁気プロファイルが、磁気テープの幅方向に対して角度α傾斜している場合には、解析ソフトにより磁気テープ幅方向に沿うように(α=0°となるように)回転補正する。その後、解析ソフトにより、5nmピッチで測定された各プロファイルのピーク値の位置座標を算出する。このピーク値の位置座標は、磁化領域と非磁化領域との境界の位置を示している。位置座標は、例えば、走行方向をx座標、幅方向をy座標とするxy座標系により特定される。
理想形状が直線であって直線上のある位置の位置座標が(x,y)=(a,b)である場合を例に取ると、実際に求められたエッジ形状(上記境界の位置座標)が理想形状と一致していたならば、算出される位置座標は、(x,y)=(a,b)となる。この場合、位置ずれ幅はゼロである。これに対し、実際に求められたエッジ形状が理想形状からずれていたならば、上記境界のy=bの位置のx座標は、x=a+cまたはx=a―cとなる。x=a+cとは、例えば走行方向に対して上流側に幅cずれている場合であり、x=a−cとは、例えば走行方向に対して下流側に幅c(即ち上流側を基準にすると−c)ずれている場合である。ここでcが、位置ずれ幅である。即ち、理想形状からのx座標の位置ずれ幅の絶対値が、磁気テープの長手方向における理想形状からの位置ずれ幅である。こうして、5nmピッチでの測定により求められた走行方向の下流側のエッジ各箇所での位置ずれ幅を求める。
各サーボパターンについて得られた値から、解析ソフトにより累積分布関数を得る。得られた累積分布関数から、累積分布関数99.9%の値L99.9と0.1%の値L0.1とを求め、求められた値から各サーボパターンについて差分(L99.9−L0.1)を求める。
以上の測定を、異なる3箇所の測定範囲で行う(測定数N=3)。
各サーボパターンについて得られた差分(L99.9−L0.1)の算術平均を、磁気テープについての上記の差分(L99.9−L0.1)と定義する。
The difference (L 99.9- L 0.1 ) is a value obtained by the following method.
The surface of the magnetic layer of the magnetic tape on which the servo pattern is formed is observed with a magnetic force microscope (MFM; Magnetic Force Microscope). The measurement range is a range that includes five servo patterns. For example, in the LTO Ultra format tape, by setting the measurement range to 90 μm × 90 μm, five servo patterns of A burst or B burst can be observed. The servo pattern (magnetization region) is extracted by measuring the measurement range at a pitch of 100 nm (coarse measurement).
Then, in order to detect the boundary between the magnetized region and the non-magnetized region at the edge of the servo pattern located downstream with respect to the traveling direction, measurement is performed at a pitch of 5 nm in the vicinity of the boundary to obtain a magnetic profile. When the obtained magnetic profile is tilted by an angle α with respect to the width direction of the magnetic tape, rotation correction is performed by analysis software along the width direction of the magnetic tape (so that α = 0 °). After that, the position coordinates of the peak value of each profile measured at a pitch of 5 nm are calculated by the analysis software. The position coordinates of this peak value indicate the position of the boundary between the magnetized region and the non-magnetized region. The position coordinates are specified by, for example, an xy coordinate system in which the traveling direction is the x coordinate and the width direction is the y coordinate.
Taking the case where the ideal shape is a straight line and the position coordinates of a certain position on the straight line are (x, y) = (a, b), the actually obtained edge shape (position coordinates of the boundary) is taken. If is consistent with the ideal shape, the calculated position coordinates are (x, y) = (a, b). In this case, the misalignment width is zero. On the other hand, if the actually obtained edge shape deviates from the ideal shape, the x-coordinate of the position of y = b at the boundary becomes x = a + c or x = a-c. For example, x = a + c means that the width c is deviated to the upstream side with respect to the traveling direction, and x = a−c means, for example, the width c (that is, based on the upstream side) to the downstream side with respect to the traveling direction. Then -c) is the case where there is a deviation. Here, c is the misalignment width. That is, the absolute value of the displacement width of the x-coordinate from the ideal shape is the displacement width from the ideal shape in the longitudinal direction of the magnetic tape. In this way, the misalignment width at each point on the downstream side in the traveling direction obtained by the measurement at the pitch of 5 nm is obtained.
From the values obtained for each servo pattern, the cumulative distribution function is obtained by analysis software. From the obtained cumulative distribution function, the cumulative distribution function 99.9% value L 99.9 and the 0.1% value L 0.1 were obtained, and the difference (L 99.) was obtained for each servo pattern from the obtained values. 9- L 0.1 ) is calculated.
The above measurement is performed in three different measurement ranges (measurement number N = 3).
The arithmetic mean of the difference (L 99.9- L 0.1 ) obtained for each servo pattern is defined as the above difference (L 99.9- L 0.1) for the magnetic tape.
本明細書におけるサーボパターンのエッジ形状の「理想形状」とは、位置ずれなくサーボパターンが形成された場合のエッジ形状をいう。例えば、一態様では、上記サーボパターンは、磁気テープの幅方向の一方から他方に向かって連続的または不連続に延びる直線状サーボパターンである。サーボパターンについての「直線状」とは、エッジ形状の位置ずれは不問として、パターン形状として曲線部分を含まないことをいう。「連続的」とは、傾斜角度の変曲点なく、かつ途切れることなく、テープ幅方向の一方から他方に向かって延びることをいう。磁気テープの幅方向の一方から他方に向かって連続的に延びるサーボパターンの一例は、図14に示したサーボパターンである。これに対し、「不連続」とは、傾斜角度の変曲点が1つ以上あるか、および/または、1箇所以上で途切れて延びていることをいう。傾斜角度の変曲点はあるが途切れずに延びる形状は、いわゆる折れ線形状である。傾斜角度の変曲点が1つで途切れることなくテープ幅方向の一方から他方に向かって延びる不連続なサーボパターンの一例は、図18に示すサーボパターンである。一方、傾斜角度の変曲点なく1箇所で途切れてテープ幅方向の一方から他方に向かって延びる不連続なサーボパターンの一例は、図19に示すサーボパターンである。また、傾斜角度の変曲点が1つで、1箇所で途切れてテープ幅方向の一方から他方に向かって延びる不連続なサーボパターンの一例は、図20に示すサーボパターンである。
テープ幅方向の一方から他方に向かって連続的に延びる直線状サーボパターンについて、エッジ形状の「理想形状」とは、直線状のサーボパターンの走行方向の下流側のエッジの端部2箇所を結ぶ線分の形状(直線形状)である。例えば図14に示した直線状サーボパターンについては、図15または図16中のL1で示した直線の形状である。一方、不連続に延びる直線状サーボパターンについては、理想形状とは、傾斜角度の変曲点がある形状については、傾斜角度が同じ部分の一端から他端を結ぶ線分の形状(直線形状)である。また、1箇所以上で途切れて延びている形状については、連続的に延びている各部分のそれぞれの一端から他端を結ぶ線分の形状(直線形状)である。例えば、図18に示すサーボパターンについては、e1とe2とを結ぶ線分、およびe2とe3とを結ぶ線分である。図19に示すサーボパターンについては、e4とe5とを結ぶ線分、およびe6とe7とを結ぶ線分である。図20に示すサーボパターンについては、e8とe9とを結ぶ線分、およびe10とe11とを結ぶ線分である。
The "ideal shape" of the edge shape of the servo pattern in the present specification means the edge shape when the servo pattern is formed without misalignment. For example, in one aspect, the servo pattern is a linear servo pattern that extends continuously or discontinuously from one side to the other in the width direction of the magnetic tape. The "straight line" of the servo pattern means that the pattern shape does not include a curved portion regardless of the positional deviation of the edge shape. "Continuous" means extending from one side in the tape width direction toward the other without any inflection point and uninterrupted tilt angle. An example of a servo pattern that continuously extends from one side to the other in the width direction of the magnetic tape is the servo pattern shown in FIG. On the other hand, "discontinuity" means that there is one or more inflection points of the inclination angle and / or that the inclination angle is interrupted and extended at one or more points. The shape that has an inflection point of the inclination angle but extends without interruption is a so-called polygonal line shape. An example of a discontinuous servo pattern in which one inflection point of the inclination angle extends from one side in the tape width direction toward the other without interruption is the servo pattern shown in FIG. On the other hand, an example of a discontinuous servo pattern that is interrupted at one point without an inflection point of the inclination angle and extends from one side in the tape width direction toward the other is the servo pattern shown in FIG. Further, an example of a discontinuous servo pattern in which the inclination angle has one inflection point and is interrupted at one point and extends from one side in the tape width direction toward the other is the servo pattern shown in FIG.
For a linear servo pattern that extends continuously from one side in the tape width direction to the other, the "ideal shape" of the edge shape connects two ends of the edge on the downstream side in the traveling direction of the linear servo pattern. It is the shape of a line segment (straight line shape). For example, the linear servo pattern shown in FIG. 14 has a linear shape shown by L1 in FIG. 15 or 16. On the other hand, for a linear servo pattern that extends discontinuously, the ideal shape is the shape of a line segment connecting one end to the other end of a portion having the same inclination angle (straight shape) for a shape having an inflection point of the inclination angle. Is. Further, the shape that is interrupted and extended at one or more points is the shape of a line segment (straight line shape) that connects one end to the other end of each continuously extending portion. For example, the servo pattern shown in FIG. 18 is a line segment connecting e1 and e2 and a line segment connecting e2 and e3. The servo pattern shown in FIG. 19 is a line segment connecting e4 and e5 and a line segment connecting e6 and e7. The servo pattern shown in FIG. 20 is a line segment connecting e8 and e9 and a line segment connecting e10 and e11.
上記では、直線状サーボパターンを例に説明した。ただし、サーボパターンはエッジ形状の理想形状が曲線形状のサーボパターンであってもよい。例えば走行方向に対して下流側のエッジ形状が理想的には部分円弧形状のサーボパターンについては、この部分円弧の位置座標に対して、走行方向に対して下流側のエッジ形状の磁気力顕微鏡により求められる位置座標により求められる位置ずれ幅から、差分(L99.9−L0.1)を求めることができる。 In the above, the linear servo pattern has been described as an example. However, the servo pattern may be a servo pattern in which the ideal edge shape is a curved shape. For example, for a servo pattern whose edge shape on the downstream side with respect to the traveling direction is ideally a partial arc shape, a magnetic force microscope with an edge shape on the downstream side with respect to the traveling direction is used with respect to the position coordinates of this partial arc. The difference (L 99.9- L 0.1 ) can be obtained from the position deviation width obtained from the obtained position coordinates.
以上の測定で用いる磁気力顕微鏡としては、市販の、または公知の構成の磁気力顕微鏡を周波数変調(FM:Frequency Modulation)モードで用いる。磁気力顕微鏡のプローブとしては、例えば、Nanoworld社製SSS−MFMR(公称曲率半径15nm)を用いることができる。磁気力顕微鏡観察時の磁性層表面とプローブ先端との間の距離は、20〜50nmの範囲とする。
また、上記解析ソフトとしては、市販の解析ソフト、または公知の演算式を組み込んだ解析ソフトを用いることができる。
As the magnetic force microscope used in the above measurement, a commercially available magnetic force microscope having a known configuration is used in the frequency modulation (FM) mode. As the probe of the magnetic force microscope, for example, SSS-MFMR (nominal radius of curvature of 15 nm) manufactured by Nowold can be used. The distance between the surface of the magnetic layer and the tip of the probe when observed with a magnetic force microscope shall be in the range of 20 to 50 nm.
Further, as the analysis software, commercially available analysis software or analysis software incorporating a known arithmetic expression can be used.
上記の差分(L99.9−L0.1)は、180nm以下であることができ、170nm以下、160nm以下、150nm以下、140nm以下、130nm以下、120nm以下、110nm以下、または100nm以下であることができる。また、差分(L99.9−L0.1)は、例えば50nm以上、60nm以上、または70nm以上であることができる。差分(L99.9−L0.1)は、サーボパターンを形成するために用いるサーボライトヘッドの種類(具体的には漏れ磁界)により制御することができる。サーボライトヘッドとしては、例えば漏れ磁界が150〜400kA/m、好ましくは200〜400kA/mの範囲のサーボライトヘッドを用いることができる。ただし、磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末の活性化体積が小さくなるほど、サーボライトヘッドの能力を高めるのみでは、差分(L99.9−L0.1)を小さくすることが容易ではなくなる傾向がある。これは、活性化体積が小さいことに起因して、磁性層における六方晶フェライト粉末の粒子の配列が歪み易く、磁性層に磁気的な歪が生じやすいことが理由ではないかと推察される。ただし、推察に過ぎない。これに対し、上記範囲のXRD強度比および垂直方向角型比を有する磁気テープは、磁性層に含まれる六方晶フェライト粉末の活性化体積が小さいとしても、差分(L99.9−L0.1)を小さくすること、例えば180nm以下にすることが容易である。この点は、タイミングベースサーボパターン以外のサーボパターンについても当てはまり得る。即ち、XRD強度比および垂直方向角型比が先に記載した範囲であることは、サーボライトヘッドによって磁化(サーボパターンを形成)する時に磁性層上の意図しない箇所も磁化されてしまうことを抑制することに寄与し得る。 The above difference (L 99.9- L 0.1 ) can be 180 nm or less, 170 nm or less, 160 nm or less, 150 nm or less, 140 nm or less, 130 nm or less, 120 nm or less, 110 nm or less, or 100 nm or less. be able to. The difference (L 99.9- L 0.1 ) can be, for example, 50 nm or more, 60 nm or more, or 70 nm or more. The difference (L 99.9- L 0.1 ) can be controlled by the type of servo light head (specifically, the leakage magnetic field) used to form the servo pattern. As the servo light head, for example, a servo light head having a leakage magnetic field in the range of 150 to 400 kA / m, preferably 200 to 400 kA / m can be used. However, as the activated volume of the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer becomes smaller, it tends to be difficult to reduce the difference (L 99.9- L 0.1) only by increasing the capacity of the servo light head. There is. It is presumed that this is because the arrangement of the hexagonal ferrite powder particles in the magnetic layer is easily distorted due to the small activated volume, and magnetic distortion is likely to occur in the magnetic layer. However, it is just a guess. On the other hand, the magnetic tape having the XRD intensity ratio and the vertical angular ratio in the above range has a difference (L 99.9- L 0.) Even if the activated volume of the hexagonal ferrite powder contained in the magnetic layer is small. It is easy to reduce 1 ), for example, to 180 nm or less. This point may also apply to servo patterns other than the timing-based servo pattern. That is, the fact that the XRD intensity ratio and the vertical azimuth ratio are in the ranges described above suppresses that an unintended portion on the magnetic layer is also magnetized when being magnetized (forming a servo pattern) by the servo light head. Can contribute to doing so.
タイミングベースサーボシステムでは、例えば、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置された、互いに非平行な一対のサーボパターン(「サーボストライプ」とも呼ばれる。)がサーボ素子によって読み取られることにより、サーボ信号が得られる。 In a timing-based servo system, for example, a pair of servo patterns (also referred to as "servo stripes") that are not parallel to each other and are continuously arranged in a plurality in the longitudinal direction of a magnetic tape are read by a servo element to obtain a servo signal. Is obtained.
一態様では、特開2004−318983号公報に示されているように、各サーボバンドには、サーボバンドの番号を示す情報(「サーボバンドID(identification)」または「UDIM(Unique DataBand Identification Method)情報」とも呼ばれる。)が埋め込まれている。このサーボバンドIDは、サーボバンド中に複数ある一対のサーボパターンのうちの特定のものを、その位置が磁気テープの長手方向に相対的に変位するように、ずらすことによって記録されている。具体的には、複数ある一対のサーボパターンのうちの特定のもののずらし方を、サーボバンド毎に変えている。これにより、記録されたサーボバンドIDはサーボバンド毎にユニークなものとなるため、一つのサーボバンドをサーボ素子で読み取るだけで、そのサーボバンドを一意に(uniquely)特定することができる。 In one aspect, as shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-318983, each servo band has information indicating the number of the servo band (“servo band ID (identification)” or “UDIM (Unique DataBand Identification Method)”. Also called "information") is embedded. The servo band ID is recorded by shifting a specific one of a plurality of pairs of servo patterns in the servo band so that the position thereof is displaced relative to the longitudinal direction of the magnetic tape. Specifically, the method of shifting a specific one of a plurality of pairs of servo patterns is changed for each servo band. As a result, the recorded servo band ID becomes unique for each servo band, so that the servo band can be uniquely identified by simply reading one servo band with the servo element.
なお、サーボバンドを一意に特定する方法には、ECMA(European Computer Manufacturers Association)―319に示されているようなスタッガード方式を用いたものもある。このスタッガード方式では、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置された、互いに非平行な一対のサーボパターン(サーボストライプ)の群を、サーボバンド毎に磁気テープの長手方向にずらすように記録する。隣接するサーボバンド間における、このずらし方の組み合わせは、磁気テープ全体においてユニークなものとされているため、2つのサーボ素子によりサーボパターンを読み取る際に、サーボバンドを一意に特定することも可能となっている。 As a method for uniquely specifying the servo band, there is also a method using a staggered method as shown in ECMA (European Computer Manufacturers Association) -319. In this staggered method, a group of a pair of servo patterns (servo stripes) that are continuously arranged in the longitudinal direction of the magnetic tape and are not parallel to each other are recorded so as to be shifted in the longitudinal direction of the magnetic tape for each servo band. To do. This combination of shifting methods between adjacent servo bands is unique to the entire magnetic tape, so it is possible to uniquely identify the servo band when reading the servo pattern with two servo elements. It has become.
また、各サーボバンドには、ECMA―319に示されている通り、通常、磁気テープの長手方向の位置を示す情報(「LPOS(Longitudinal Position)情報」とも呼ばれる。)も埋め込まれている。このLPOS情報も、UDIM情報と同様に、一対のサーボパターンの位置を、磁気テープの長手方向にずらすことによって記録されている。ただし、UDIM情報とは異なり、このLPOS情報では、各サーボバンドに同じ信号が記録されている。 Further, as shown in ECMA-319, information indicating the position of the magnetic tape in the longitudinal direction (also referred to as "LPOS (Longitorial Position) information") is usually embedded in each servo band. This LPOS information, like the UDIM information, is also recorded by shifting the positions of the pair of servo patterns in the longitudinal direction of the magnetic tape. However, unlike the UDIM information, in this LPOS information, the same signal is recorded in each servo band.
上記のUDIM情報およびLPOS情報とは異なる他の情報を、サーボバンドに埋め込むことも可能である。この場合、埋め込まれる情報は、UDIM情報のようにサーボバンド毎に異なるものであってもよいし、LPOS情報のようにすべてのサーボバンドに共通のものであってもよい。
また、サーボバンドに情報を埋め込む方法としては、上記以外の方法を採用することも可能である。例えば、一対のサーボパターンの群の中から、所定の対を間引くことによって、所定のコードを記録するようにしてもよい。
It is also possible to embed other information different from the above UDIM information and LPOS information in the servo band. In this case, the embedded information may be different for each servo band such as UDIM information, or may be common to all servo bands such as LPOS information.
Further, as a method of embedding information in the servo band, a method other than the above can be adopted. For example, a predetermined code may be recorded by thinning out a predetermined pair from a group of a pair of servo patterns.
サーボライトヘッドは、上記一対のサーボパターンに対応した一対のギャップを、サーボバンドの数だけ有する。通常、各一対のギャップには、それぞれコアとコイルが接続されており、コイルに電流パルスを供給することによって、コアに発生した磁界が、一対のギャップに漏れ磁界を生じさせることができる。サーボパターンの形成の際には、サーボライトヘッド上に磁気テープを走行させながら電流パルスを入力することによって、一対のギャップに対応した磁気パターンを磁気テープに転写させて、サーボパターンを形成することができる。 各ギャップの幅は、形成されるサーボパターンの密度に応じて適宜設定することができる。各ギャップの幅は、例えば、1μm以下、1〜10μm、10μm以上等に設定可能である。 The servo light head has a pair of gaps corresponding to the pair of servo patterns as many as the number of servo bands. Normally, a core and a coil are connected to each pair of gaps, and by supplying a current pulse to the coil, a magnetic field generated in the core can generate a leakage magnetic field in the pair of gaps. When forming the servo pattern, the magnetic pattern corresponding to the pair of gaps is transferred to the magnetic tape by inputting a current pulse while running the magnetic tape on the servo light head to form the servo pattern. Can be done. The width of each gap can be appropriately set according to the density of the formed servo pattern. The width of each gap can be set to, for example, 1 μm or less, 1 to 10 μm, 10 μm or more, and the like.
磁気テープにサーボパターンを形成する前には、磁気テープに対して、通常、消磁(イレース)処理が施される。このイレース処理は、直流磁石または交流磁石を用いて、磁気テープに一様な磁界を加えることによって行うことができる。イレース処理には、DC(Direct Current)イレースとAC(Alternating Current)イレースとがある。ACイレースは、磁気テープに印加する磁界の方向を反転させながら、その磁界の強度を徐々に下げることによって行われる。一方、DCイレースは、磁気テープに一方向の磁界を加えることによって行われる。DCイレースには、更に2つの方法がある。第一の方法は、磁気テープの長手方向に沿って一方向の磁界を加える、水平DCイレースである。第二の方法は、磁気テープの厚み方向に沿って一方向の磁界を加える、垂直DCイレースである。イレース処理は、磁気テープ全体に対して行ってもよいし、磁気テープのサーボバンド毎に行ってもよい。 Before forming a servo pattern on a magnetic tape, the magnetic tape is usually demagnetized (erase). This erasing process can be performed by applying a uniform magnetic field to the magnetic tape using a DC magnet or an AC magnet. The erase processing includes DC (Direct Current) erase and AC (Alternating Current) erase. AC erasing is performed by gradually reducing the strength of the magnetic field while reversing the direction of the magnetic field applied to the magnetic tape. On the other hand, DC erasing is performed by applying a unidirectional magnetic field to the magnetic tape. There are two more methods for DC erase. The first method is horizontal DC erase, which applies a unidirectional magnetic field along the longitudinal direction of the magnetic tape. The second method is vertical DC erase, which applies a unidirectional magnetic field along the thickness direction of the magnetic tape. The erasing process may be performed on the entire magnetic tape, or may be performed on each servo band of the magnetic tape.
形成されるサーボパターンの磁界の向きは、イレースの向きに応じて決まる。例えば、磁気テープに水平DCイレースが施されている場合、サーボパターンの形成は、磁界の向きがイレースの向きと反対になるように行われる。これにより、サーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号の出力を、大きくすることができる。なお、特開2012−53940号公報に示されている通り、垂直DCイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いたパターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、単極パルス形状となる。一方、水平DCイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いたパターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、双極パルス形状となる。 The direction of the magnetic field of the formed servo pattern is determined by the direction of erase. For example, when the magnetic tape is horizontally DC erased, the servo pattern is formed so that the direction of the magnetic field is opposite to the direction of the erase. As a result, the output of the servo signal obtained by reading the servo pattern can be increased. As shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-53940, when a pattern is transferred to a vertically DC-erased magnetic tape using the above gap, the formed servo pattern is read and obtained. The signal has a unipolar pulse shape. On the other hand, when the pattern using the gap is transferred to the horizontally DC-erased magnetic tape, the servo signal obtained by reading the formed servo pattern has a bipolar pulse shape.
以上説明した磁気テープは、通常、磁気テープカートリッジに収容され、磁気テープカートリッジが磁気テープ装置に装着される。磁気テープカートリッジの構成は公知である。 The magnetic tape described above is usually housed in a magnetic tape cartridge, and the magnetic tape cartridge is mounted on the magnetic tape device. The configuration of the magnetic tape cartridge is known.
一態様によれば、以下の磁気テープも提供される。
非磁性支持体上に強磁性粉末および結合剤を含む磁性層を有し、
磁性層は、サーボパターンを有し、
強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末であり、
In−Plane法を用いた上記磁性層のX線回折分析により求められる六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)に対する(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)の強度比(Int(110)/Int(114))は0.5以上4.0以下であり、磁気テープの垂直方向角型比は、0.65以上1.00以下である磁気テープ。
According to one aspect, the following magnetic tapes are also provided.
Having a magnetic layer containing ferromagnetic powder and binder on a non-magnetic support,
The magnetic layer has a servo pattern and
The ferromagnetic powder is a hexagonal ferrite powder,
Peak intensity of the diffraction peak on the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure obtained by X-ray diffraction analysis of the magnetic layer using the In-Plane method Int. Peak intensity Int of the diffraction peak on the (110) plane with respect to Int (114). The intensity ratio (Int (110) / Int (114)) of (110) is 0.5 or more and 4.0 or less, and the vertical angular type ratio of the magnetic tape is 0.65 or more and 1.00 or less. tape.
一態様によれば、以下の磁気テープも提供される。
データの記録および記録されたデータの読み取りのために使用される磁気テープであって、
非磁性支持体上に強磁性粉末および結合剤を含む磁性層を有し、
磁性層は、サーボパターンを有し、
強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末であり、
In−Plane法を用いた上記磁性層のX線回折分析により求められる六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)に対する(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)の強度比(Int(110)/Int(114))は0.5以上4.0以下であり、磁気テープの垂直方向角型比は、0.65以上1.00以下である磁気テープ。
一態様では、上記データの読み取りは、読取素子ユニットにより行われ得る。
一態様では、上記読取素子ユニットは、上記磁気テープに含まれるトラック領域のうちの読取対象トラックを含む特定トラック領域からデータをリニアスキャン方式で各々読み取る複数の読取素子を有することができる。
一態様では、上記読取素子毎の読取結果は、抽出部によって抽出され得る。
一態様では、上記抽出部は、上記読取素子毎の読取結果から、上記読取対象トラックに由来するデータを抽出することができる。
一態様では、上記抽出部は、上記読取素子毎の読取結果の各々に対して、上記磁気テープと上記読取素子ユニットとの位置のずれ量に応じた波形等化処理を施すことにより、上記読取結果から、上記読取対象トラックに由来するデータを抽出することができる。
According to one aspect, the following magnetic tapes are also provided.
A magnetic tape used to record data and read recorded data.
Having a magnetic layer containing ferromagnetic powder and binder on a non-magnetic support,
The magnetic layer has a servo pattern and
The ferromagnetic powder is a hexagonal ferrite powder,
Peak intensity of the diffraction peak on the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure obtained by X-ray diffraction analysis of the magnetic layer using the In-Plane method Int. Peak intensity Int of the diffraction peak on the (110) plane with respect to Int (114). The intensity ratio (Int (110) / Int (114)) of (110) is 0.5 or more and 4.0 or less, and the vertical angular type ratio of the magnetic tape is 0.65 or more and 1.00 or less. tape.
In one aspect, the reading of the data can be performed by the reading element unit.
In one aspect, the reading element unit can have a plurality of reading elements that read data from a specific track area including a reading target track in the track area included in the magnetic tape by a linear scan method.
In one aspect, the reading result for each reading element can be extracted by the extraction unit.
In one aspect, the extraction unit can extract data derived from the reading target track from the reading result for each reading element.
In one aspect, the extraction unit performs waveform equalization processing on each of the reading results for each reading element according to the amount of displacement between the magnetic tape and the reading element unit, thereby reading the reading. From the result, the data derived from the read target track can be extracted.
上記磁気テープ、読取素子ユニットおよび抽出部が取り得る具体的態様については、先の記載を参照できる。 The above description can be referred to for specific embodiments that the magnetic tape, the reading element unit, and the extraction unit can take.
以下に、本発明を実施例に基づき説明する。ただし、本発明は実施例に示す態様に限定されるものではない。以下に記載の「部」、「%」の表示は、特に断らない限り、「質量部」、「質量%」を示す。以下に記載の「eq」は、当量( equivalent)であり、SI単位に換算不可の単位である。また、以下に記載の工程および評価は、特記しない限り、雰囲気温度23℃±1℃の環境において行った。 Hereinafter, the present invention will be described based on examples. However, the present invention is not limited to the embodiments shown in the examples. Unless otherwise specified, the indications of "part" and "%" described below indicate "parts by mass" and "% by mass". The "eq" described below is an equivalent and is a unit that cannot be converted into SI units. Further, unless otherwise specified, the steps and evaluations described below were performed in an environment with an atmospheric temperature of 23 ° C. ± 1 ° C.
1.磁気テープの作製
[実施例1]
各層形成用組成物の処方を、下記に示す。
1. 1. Fabrication of Magnetic Tape [Example 1]
The formulation of each layer-forming composition is shown below.
<磁性層形成用組成物の処方>
(磁性液)
板状六方晶フェライト粉末(M型バリウムフェライト):100.0部
オレイン酸:2.0部
塩化ビニル共重合体(カネカ社製MR−104):10.0部
SO3Na基含有ポリウレタン樹脂:4.0部
(重量平均分子量:70000、SO3Na基:0.07meq/g)
アミン系ポリマー(ビックケミー社製DISPERBYK−102):6.0部
メチルエチルケトン:150.0部
シクロヘキサノン:150.0部
(研磨剤液)
α−アルミナ:6.0部
(BET(Brunauer−Emmett−Teller)比表面積:19m2/g、モース硬度:9)
SO3Na基含有ポリウレタン樹脂:0.6部
(重量平均分子量:70000、SO3Na基:0.1meq/g)
2,3−ジヒドロキシナフタレン:0.6部
シクロヘキサノン:23.0部
(突起形成剤液)
コロイダルシリカ:2.0部
(平均粒子サイズ:80nm)
メチルエチルケトン:8.0部
(潤滑剤および硬化剤液)
ステアリン酸:3.0部
ステアリン酸アミド:0.3部
ステアリン酸ブチル:6.0部
メチルエチルケトン:110.0部
シクロヘキサノン:110.0部
ポリイソシアネート(東ソー社製コロネート(登録商標)L):3.0部
<Prescription of composition for forming magnetic layer>
(Magnetic liquid)
Plate-shaped hexagonal ferrite powder (M-type barium ferrite): 10.0 parts Oleic acid: 2.0 parts Vinyl chloride copolymer (MR-104 manufactured by Kaneka Co., Ltd.): 10.0 parts SO 3 Na group-containing polyurethane resin: 4.0 parts (weight average molecular weight: 70,000, SO 3 Na group: 0.07 meq / g)
Amine-based polymer (DISPERBYK-102 manufactured by Big Chemie): 6.0 parts Methyl ethyl ketone: 150.0 parts Cyclohexanone: 150.0 parts (abrasive solution)
α-Alumina: 6.0 parts (BET (Brunauer-Emmett-Teller) specific surface area: 19 m 2 / g, Mohs hardness: 9)
SO 3 Na group-containing polyurethane resin: 0.6 parts (weight average molecular weight: 70,000, SO 3 Na group: 0.1 meq / g)
2,3-Dihydroxynaphthalene: 0.6 parts Cyclohexanone: 23.0 parts (protrusion forming agent solution)
Colloidal silica: 2.0 parts (average particle size: 80 nm)
Methyl ethyl ketone: 8.0 parts (lubricant and curing agent solution)
Stearic acid: 3.0 parts Stearic acid amide: 0.3 parts Butyl stearate: 6.0 parts Methyl ethyl ketone: 110.0 parts Cyclohexanone: 110.0 parts Polyisocyanate (Tosoh Coronate (registered trademark) L): 3 .0 copies
<非磁性層形成用組成物の処方>
非磁性無機粉末 α−酸化鉄:100.0部
(平均粒子サイズ:10nm、BET比表面積:75m2/g)
カーボンブラック:25.0部
(平均粒子サイズ:20nm)
SO3Na基含有ポリウレタン樹脂:18.0部
(重量平均分子量:70000、SO3Na基含有量:0.2meq/g)
ステアリン酸:1.0部
シクロヘキサノン:300.0部
メチルエチルケトン:300.0部
<Prescription of non-magnetic layer forming composition>
Non-magnetic inorganic powder α-iron oxide: 100.0 parts (average particle size: 10 nm, BET specific surface area: 75 m 2 / g)
Carbon black: 25.0 parts (average particle size: 20 nm)
SO 3 Na group-containing polyurethane resin: 18.0 parts (weight average molecular weight: 70,000, SO 3 Na group content: 0.2 meq / g)
Stearic acid: 1.0 parts Cyclohexanone: 300.0 parts Methyl ethyl ketone: 300.0 parts
<バックコート層形成用組成物の処方>
非磁性無機粉末 α−酸化鉄:80.0部
(平均粒子サイズ:0.15μm、BET比表面積:52m2/g)
カーボンブラック:20.0部
(平均粒子サイズ:20nm)
塩化ビニル共重合体:13.0部
スルホン酸塩基含有ポリウレタン樹脂:6.0部
フェニルホスホン酸:3.0部
シクロヘキサノン:155.0部
メチルエチルケトン:155.0部
ステアリン酸:3.0部
ステアリン酸ブチル:3.0部
ポリイソシアネート:5.0部
シクロヘキサノン:200.0部
<Prescription of composition for forming back coat layer>
Non-magnetic inorganic powder α-iron oxide: 80.0 parts (average particle size: 0.15 μm, BET specific surface area: 52 m 2 / g)
Carbon black: 20.0 parts (average particle size: 20 nm)
Vinyl chloride copolymer: 13.0 parts Sulfonic acid base-containing polyurethane resin: 6.0 parts Phenylphosphonic acid: 3.0 parts Cyclohexanone: 155.0 parts Methyl ethyl ketone: 155.0 parts Stealic acid: 3.0 parts Steric acid Butyl: 3.0 parts Polyisocyanate: 5.0 parts Cyclohexanone: 200.0 parts
<磁性層形成用組成物の調製>
磁性層形成用組成物を、以下の方法によって調製した。
上記磁性液の各種成分を、バッチ式縦型サンドミルによりビーズ径0.5mmのジルコニアビーズ(第一の分散ビーズ、密度6.0g/cm3)を使用して24時間分散し(第一の段階)、その後、0.5μmの孔径を有するフィルタを用いてろ過することにより分散液Aを調製した。ジルコニアビーズは、六方晶バリウムフェライト粉末に対して、質量基準で10倍量用いた。
その後、分散液Aをバッチ式縦型サンドミルにより表1に示すビーズ径のダイヤモンドビーズ(第二の分散ビーズ、密度3.5g/cm3)を使用して1時間分散し(第二の段階)、遠心分離機を用いてダイヤモンドビーズを分離した分散液(分散液B)を調製した。下記磁性液は、こうして得られた分散液Bである。ダイヤモンドビーズは、六方晶バリウムフェライト粉末に対して、質量基準で10倍量の処方量で用いた。
研磨剤液は、上記の研磨剤液の各種成分を混合してビーズ径0.3mmのジルコニアビーズとともに横型ビーズミル分散機に入れ、ビーズ体積/(研磨剤液体積+ビーズ体積)が80%になるように調整し、120分間ビーズミル分散処理を行い、処理後の液を取り出し、フロー式の超音波分散ろ過装置を用いて、超音波分散ろ過処理を施した。こうして研磨剤液を調製した。
調製した磁性液および研磨剤液、ならびに残りの成分をディゾルバーに導入し、周速10m/秒で30分間撹拌した後、フロー式超音波分散機により流量7.5kg/分で3パス処理した後に、孔径1μmのフィルタでろ過して磁性層形成用組成物を調製した。
<Preparation of composition for forming magnetic layer>
The composition for forming a magnetic layer was prepared by the following method.
Various components of the above magnetic liquid were dispersed for 24 hours using zirconia beads (first dispersed beads, density 6.0 g / cm 3) having a bead diameter of 0.5 mm by a batch type vertical sand mill (first step). ), Then, the dispersion liquid A was prepared by filtering using a filter having a pore size of 0.5 μm. The amount of zirconia beads used was 10 times the amount of hexagonal barium ferrite powder on a mass basis.
Then, the dispersion liquid A was dispersed for 1 hour by using a batch type vertical sand mill using diamond beads having the bead diameter shown in Table 1 (second dispersion beads, density 3.5 g / cm 3) (second step). , A dispersion liquid (dispersion liquid B) from which diamond beads were separated was prepared using a centrifuge. The following magnetic liquid is the dispersion liquid B thus obtained. The diamond beads were used in a
The abrasive liquid is a mixture of various components of the above abrasive liquid and placed in a horizontal bead mill disperser together with zirconia beads having a bead diameter of 0.3 mm, so that the bead volume / (abrasive liquid volume + bead volume) becomes 80%. The bead mill dispersion treatment was performed for 120 minutes, the liquid after the treatment was taken out, and the ultrasonic dispersion filtration treatment was performed using a flow-type ultrasonic dispersion filtration device. In this way, the abrasive liquid was prepared.
The prepared magnetic solution, abrasive solution, and the remaining components were introduced into the dissolver, stirred at a peripheral speed of 10 m / sec for 30 minutes, and then treated with a flow type ultrasonic disperser at a flow rate of 7.5 kg / min for 3 passes. , A composition for forming a magnetic layer was prepared by filtering with a filter having a pore size of 1 μm.
<非磁性層形成用組成物の調製>
上記の非磁性層形成用組成物の各種成分を、バッチ式縦型サンドミルによりビーズ径0.1mmのジルコニアビーズを使用して24時間分散し、その後、0.5μmの孔径を有するフィルタを用いてろ過することにより、非磁性層形成用組成物を調製した。
<Preparation of composition for forming non-magnetic layer>
Various components of the above non-magnetic layer forming composition were dispersed by a batch type vertical sand mill using zirconia beads having a bead diameter of 0.1 mm for 24 hours, and then using a filter having a pore size of 0.5 μm. A composition for forming a non-magnetic layer was prepared by filtration.
<バックコート層形成用組成物の調製>
上記のバックコート層形成用組成物の各種成分のうち潤滑剤(ステアリン酸およびステアリン酸ブチル)、ポリイソシアネートならびにシクロヘキサノン200.0部を除いた成分をオープンニーダにより混練および希釈した後、横型ビーズミル分散機によりビーズ径1mmのジルコニアビーズを用い、ビーズ充填率80体積%、ローター先端周速10m/秒で1パスあたりの滞留時間を2分間とし、12パスの分散処理に供した。その後、上記の残りの成分を添加してディゾルバーで撹拌し、得られた分散液を1μmの孔径を有するフィルタを用いてろ過することにより、バックコート層形成用組成物を調製した。
<Preparation of composition for backcoat layer formation>
Of the various components of the backcoat layer forming composition described above, the components excluding the lubricant (stearic acid and butyl stearate), polyisocyanate and 200.0 parts of cyclohexanone are kneaded and diluted with an open kneader, and then dispersed in a horizontal bead mill. Using a zirconia bead having a bead diameter of 1 mm by a machine, the bead filling rate was 80% by volume, the rotor tip peripheral speed was 10 m / sec, the residence time per pass was set to 2 minutes, and 12 passes were subjected to the dispersion treatment. Then, the remaining components described above were added and stirred with a dissolver, and the obtained dispersion was filtered using a filter having a pore size of 1 μm to prepare a composition for forming a back coat layer.
<磁気テープの作製方法>
厚み5.0μmのポリエチレンナフタレート製支持体の表面上に、乾燥後の厚みが1.0μmになるように上記で調製した非磁性層形成用組成物を塗布し乾燥させて非磁性層を形成した。形成した非磁性層の表面上に、乾燥後の厚みが0.1μmになるように上記で調製した磁性層形成用組成物を塗布して塗布層を形成した。この磁性層形成用組成物の塗布層が湿潤(未乾燥)状態にあるうちに、表1に示す強度の磁場を上記塗布層の表面に対し垂直方向に印加し垂直配向処理を施した。その後、上記塗布層を乾燥させて磁性層を形成した。
その後、上記支持体の非磁性層および磁性層を形成した表面とは反対の表面上に乾燥後の厚みが0.4μmになるように上記で調製したバックコート層形成用組成物を塗布し、乾燥させた。
こうして得られた磁気テープを金属ロールのみから構成されるカレンダロールにより、速度100m/min、線圧300kg/cm(294kN/m)、カレンダロールの表面温度90℃でカレンダ処理(表面平滑化処理)し、その後雰囲気温度70℃の環境で36時間加熱処理を施した。加熱処理後1/2インチ(0.0127メートル)幅にスリットし、磁気テープを作製した。 作製した磁気テープの磁性層を消磁した状態で、サーボライトヘッド(漏れ磁界:表1参照)によって、LTO Ultriumフォーマットにしたがう配置および形状のサーボパターンを磁性層に形成した。これにより、磁性層に、LTO Ultriumフォーマットにしたがう配置でデータバンド、サーボバンド、およびガイドバンドを有し、かつサーボバンド上にLTO Ultriumフォーマットにしたがう配置および形状のサーボパターン(タイミングベースサーボパターン)を有する磁気テープを得た。
<How to make magnetic tape>
On the surface of a polyethylene naphthalate support having a thickness of 5.0 μm, the composition for forming a non-magnetic layer prepared above so as to have a thickness of 1.0 μm after drying is applied and dried to form a non-magnetic layer. did. A coating layer was formed by applying the composition for forming a magnetic layer prepared above so that the thickness after drying would be 0.1 μm on the surface of the formed non-magnetic layer. While the coating layer of the composition for forming a magnetic layer was in a wet (undried) state, a magnetic field having the strength shown in Table 1 was applied in the direction perpendicular to the surface of the coating layer to perform a vertical alignment treatment. Then, the coating layer was dried to form a magnetic layer.
Then, the backcoat layer forming composition prepared above was applied onto the surface of the support opposite to the surface on which the non-magnetic layer and the magnetic layer were formed so that the thickness after drying would be 0.4 μm. It was dried.
The magnetic tape thus obtained is calendared (surface smoothing) at a speed of 100 m / min, a linear pressure of 300 kg / cm (294 kN / m), and a calendar roll surface temperature of 90 ° C. by a calendar roll composed of only metal rolls. Then, the heat treatment was performed for 36 hours in an environment having an ambient temperature of 70 ° C. After the heat treatment, slits were made to a width of 1/2 inch (0.0127 m) to prepare a magnetic tape. With the magnetic layer of the produced magnetic tape degaussed, a servo light head (leakage magnetic field: see Table 1) was used to form a servo pattern of arrangement and shape according to the LTO Ultra format on the magnetic layer. As a result, the magnetic layer has a data band, a servo band, and a guide band in an arrangement according to the LTO Ultra format, and a servo pattern (timing-based servo pattern) having an arrangement and a shape according to the LTO Ultra format is provided on the servo band. Obtained a magnetic tape to have.
[実施例2〜5、比較例1〜8]
表1に示す各種項目を表1に示すように変更した点以外、実施例1と同様に磁気テープを作製した。
表1中、分散ビーズの欄および時間の欄に「なし」と記載されている比較例については、磁性液分散処理において第二の段階を実施せずに磁性層形成用組成物を調製した。
表1中、垂直配向処理磁場強度の欄に「なし」と記載されている比較例については、配向処理を行わずに磁性層を形成した。
サーボライトヘッドは、漏れ磁界の値が大きいほどサーボパターンを記録する能力は高いと言うことができる。実施例、比較例では、漏れ磁界の異なる2種のサーボライトヘッドを用いた。
[Examples 2 to 5, Comparative Examples 1 to 8]
A magnetic tape was produced in the same manner as in Example 1 except that the various items shown in Table 1 were changed as shown in Table 1.
For the comparative examples in which "None" is described in the column of dispersed beads and the column of time in Table 1, a composition for forming a magnetic layer was prepared without carrying out the second step in the magnetic liquid dispersion treatment.
In Table 1, for the comparative example in which “None” is described in the column of the vertical alignment treatment magnetic field strength, the magnetic layer was formed without the orientation treatment.
It can be said that the larger the value of the leakage magnetic field of the servo light head, the higher the ability to record the servo pattern. In the examples and comparative examples, two types of servo light heads having different leakage magnetic fields were used.
[評価方法]
(1)活性化体積
実施例および比較例の各磁気テープの一部を切り出し、測定用試料の採取方法として先に例示した方法によって、磁性層から六方晶フェライト粉末を採取した。採取した六方晶フェライト粉末について、活性化体積を求めるための測定を行った。測定は、振動試料型磁束計(東英工業社製)を用いて保磁力Hc測定部の磁場スイープ速度3分と30分とで行い、先に記載した関係式から活性化体積を算出した。測定は23℃±1℃の環境で行った。測定された活性化体積は、いずれも1600nm3であった。
[Evaluation method]
(1) Activated volume A part of each magnetic tape of Examples and Comparative Examples was cut out, and hexagonal ferrite powder was collected from the magnetic layer by the method exemplified above as a method for collecting a sample for measurement. The collected hexagonal ferrite powder was measured to determine the activated volume. The measurement was performed using a vibration sample type magnetic flux meter (manufactured by Toei Kogyo Co., Ltd.) at magnetic field sweep speeds of 3 minutes and 30 minutes in the coercive force Hc measuring unit, and the activated volume was calculated from the relational expression described above. The measurement was performed in an environment of 23 ° C. ± 1 ° C. The measured activation volumes were all 1600 nm 3 .
(2)XRD強度比
作製した磁気テープから、テープ試料を切り出した。
切り出したテープ試料について、薄膜X線回折装置(リガク社製SmartLab)を用いて磁性層表面にX線を入射させて、先に記載した方法によりIn−PlaneXRDを行った。
In−Plane XRDにより得られたX線回折スペクトルから、六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)および(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)を求め、XRD強度比(Int(110)/Int(114))を算出した。
(2) XRD intensity ratio A tape sample was cut out from the produced magnetic tape.
The cut-out tape sample was subjected to In-Plane XRD by the method described above by injecting X-rays on the surface of the magnetic layer using a thin film X-ray diffractometer (SmartLab manufactured by Rigaku Co., Ltd.).
From the X-ray diffraction spectrum obtained by In-Plane XRD, the peak intensity Int (114) of the diffraction peak on the (114) plane and the peak intensity Int (110) of the diffraction peak on the (110) plane of the hexagonal ferrite crystal structure can be obtained. The XRD intensity ratio (Int (110) / Int (114)) was calculated.
(3)垂直方向角型比
作製した磁気テープについて、振動試料型磁束計(東英工業社製)を用いて先に記載した方法により垂直方向角型比を求めた。
(3) Vertical azimuth ratio For the produced magnetic tape, the vertical azimuth ratio was determined by the method described above using a vibration sample type magnetic flux meter (manufactured by Toei Kogyo Co., Ltd.).
(4)差分(L99.9−L0.1)の測定および算出
実施例および比較例の各磁気テープについて、以下の方法により差分(L99.9−L0.1)を求めた。
磁気力顕微鏡としてBruker製Dimension 3100を周波数変調モードで使用し、プローブとしてNanoworld社製SSS−MFMR(公称曲率半径15nm)を使用して、サーボパターンを形成した磁気テープの磁性層表面の90μm×90μmの測定範囲で、100nmピッチで粗測定を行いサーボパターン(磁化領域)を抽出した。磁気力顕微鏡観察時の磁性層表面とプローブ先端との間の距離は、20nmとした。上記測定範囲には、LTO Ultriumフォーマットにしたがい形成されたAバーストの5本のサーボパターンが含まれるため、これら5本のサーボパターンが抽出された。
上記磁気力顕微鏡およびプローブを用いて、各サーボパターンの走行方向に対して下流側のエッジについて、磁化領域と非磁化領域との境界近傍を5nmピッチで測定し磁気プロファイルを得た。得られた磁気プロファイルは、角度α=12°で傾斜していたため、解析ソフトにより角度α=0°となるように回転補正を行った。
測定は、磁性層表面の異なる3箇所で行った。各測定範囲には、それぞれAバーストの5本のサーボパターンが含まれていた。
その後、解析ソフトを用いて先に記載した方法により差分(L99.9−L0.1)を求めた。解析ソフトとしては、MathWorks製MATLABを使用した。こうして求められた差分(L99.9−L0.1)を、表2に示す。
(4) For each of the magnetic tapes of the measurement and calculation examples and comparative examples of the difference (L 99.9 -L 0.1), was determined difference (L 99.9 -L 0.1) by the following method.
90 μm × 90 μm of the magnetic layer surface of the magnetic tape on which the servo pattern was formed using Bruker's Dimensions 3100 as a magnetic force microscope in frequency modulation mode and Nanold's SSS-MFMR (nominal radius of
Using the above magnetic force microscope and probe, the vicinity of the boundary between the magnetized region and the non-magnetized region was measured at a pitch of 5 nm for the edge on the downstream side with respect to the traveling direction of each servo pattern to obtain a magnetic profile. Since the obtained magnetic profile was tilted at an angle α = 12 °, rotation correction was performed by analysis software so that the angle α = 0 °.
The measurement was performed at three different locations on the surface of the magnetic layer. Each measurement range contained five A-burst servo patterns.
Then, the difference (L 99.9- L 0.1 ) was obtained by the method described above using analysis software. As the analysis software, MATLAB manufactured by MathWorks was used. The difference (L 99.9- L 0.1 ) thus obtained is shown in Table 2.
(5)性能評価
(i)実施例および比較例の各磁気テープの磁性層に対して、IBM社製TS1155テープドライブに搭載されている記録再生ヘッドを用いて、速度:6m/s、線記録密度:600kbpi(255bitPRBS)およびトラックピッチ:2μmの記録条件にて、データの記録を行った。上記の単位kbpiは、線記録密度の単位(SI単位系に換算不可)である。上記のPRBSは、Pseudo Random Bit Sequenceの略称である。
上記記録により、各磁気テープの磁性層に、2つの隣接トラックの間、即ち第1のノイズ混入源トラックと第2のノイズ混入源トラックとの間に、読取対象トラックが位置する特定トラック領域が形成される。
(ii)近接した状態で配置された2つの読取素子を有する読取素子ユニットを用いてデータ読取を行うモデル実験として、以下のデータ読取を行った。以下のモデル実験では、磁性層表面と読取素子とが接触し摺動することによってデータ読取が行われた。
単一の読取素子を有する磁気ヘッドを、読取対象トラックのテープ幅方向の中心と読取素子のトラック幅方向の中心とが一致するように配置した状態で読取を開始し、1回目のデータ読取を行った。この1回目のデータ読取中、サーボ素子によってサーボパターンを読み取り、タイミングベースサーボ方式のトラッキングも行った。また、サーボパターン読取動作に同期して読取素子によりデータ読取動作が行われた。
次いで同一の磁気ヘッドをテープ幅方向(一方の隣接トラック側)に500nmずらして、2回目のデータ読取を1回目のデータ読取と同様に行った。上記の2回のデータ読取は、それぞれ再生素子幅:0.2μm、速度:4m/s、サンプリングレート:ビットレートの1.25倍の読取条件で行った。
1回目のデータ読取で得られた読取信号を等化器に入力し、1回目のデータ読取における磁気テープと磁気ヘッド(読取素子)との位置のずれ量に応じた波形等化処理を施した。この波形等化処理は、次のように行われる処理である。一定周期で形成されているサーボパターンをサーボ素子によって読み取ることにより得られた位置のずれ量から、読取素子と読取対象トラックとの重複領域と、読取素子と隣接トラックとの重複領域との比を特定する。この特定された比から演算式を用いて導出されたタップ係数を読取信号に対して畳み込み演算することにより、波形等化処理を行う。上記演算式は、EPR4(Extended Partial Response class4)を基本波形(ターゲット)とする演算式である。2回目のデータ読取で得られた読取信号についても、同様に波形等化処理を施した。
上記の波形等化処理が施された2つの読取信号の位相合わせ処理(以下、「2次元信号処理」と記載する。)を行うことにより、近接した状態で配置された2つの読取素子(読取素子ピッチ=500nm)を有する読取素子ユニットにより得られるであろう読取信号を得た。こうして得られた読取信号について、信号検出点でのSNRを算出した。
(iii)上記の(ii)を、1回目のデータ読取開始時の読取素子の位置を、読取対象トラックのテープ幅方向の中心から0.1μm間隔で第1のノイズ混入源トラック側および第2のノイズ混入源トラック側にそれぞれトラックオフセットさせながら繰り返し、トラック位置に対するSNRのエンベローブを得た。
表2中、「2次元信号処理」の欄に「有」と記載されている実施例および比較例については、上記方法によりSNRのエンベローブを得た。
表2中、「2次元信号処理」の欄に「無」と記載されている比較例については、上記の2回目のデータ読取を行わずに1回目のデータ読取結果(即ち単一素子のみでのデータ読取結果)に関してSNRのエンベローブを得た。
(iv)比較例1のSNRのエンベローブを参照エンベローブとし、参照エンベローブにおけるトラックセンターのSNRからSNRが−3dB低下したところを、SNR下限値として設定した。各エンベローブにおいて、この下限値以上で最大のトラックオフセット量を、許容可能トラックオフセット量とした。実施例および比較例のそれぞれについて、比較例1の許容可能トラックオフセット量に対する許容可能トラックオフセット量の増加率を、「許容可能トラックオフセット量増加率」として求めた。
(5) Performance evaluation (i) For the magnetic layer of each of the magnetic tapes of Examples and Comparative Examples, a recording / playback head mounted on an IBM TS1155 tape drive was used to record lines at a speed of 6 m / s. Data was recorded under recording conditions of density: 600 kbps (255 bit PRBS) and track pitch: 2 μm. The above-mentioned unit kbpi is a unit of line recording density (cannot be converted into SI unit system). The above PRBS is an abbreviation for Pseudo Random Bit Sequence.
According to the above recording, the magnetic layer of each magnetic tape has a specific track area in which the track to be read is located between two adjacent tracks, that is, between the first noise mixing source track and the second noise mixing source track. It is formed.
(Ii) The following data reading was performed as a model experiment in which data reading was performed using a reading element unit having two reading elements arranged in close proximity to each other. In the following model experiment, data reading was performed by contacting and sliding the surface of the magnetic layer and the reading element.
Reading is started with the magnetic head having a single reading element arranged so that the center of the track to be read in the tape width direction and the center of the reading element in the track width direction coincide with each other, and the first data reading is performed. went. During this first data reading, the servo pattern was read by the servo element, and the tracking of the timing-based servo method was also performed. Further, the data reading operation was performed by the reading element in synchronization with the servo pattern reading operation.
Next, the same magnetic head was shifted by 500 nm in the tape width direction (one adjacent track side), and the second data reading was performed in the same manner as the first data reading. The above two data readings were performed under reading conditions of a reproduction element width: 0.2 μm, a speed: 4 m / s, and a sampling rate: 1.25 times the bit rate.
The read signal obtained in the first data reading was input to the equalizer, and waveform equalization processing was performed according to the amount of displacement between the magnetic tape and the magnetic head (reading element) in the first data reading. .. This waveform equalization process is a process performed as follows. The ratio of the overlapping area between the reading element and the track to be read and the overlapping area between the reading element and the adjacent track is calculated from the amount of position deviation obtained by reading the servo pattern formed at a fixed cycle by the servo element. Identify. Waveform equalization processing is performed by convolving the tap coefficient derived from this specified ratio using an arithmetic expression with respect to the read signal. The above calculation formula is a calculation formula using EPR4 (Exted Partial Response class 4) as a basic waveform (target). The read signal obtained by the second data reading was also subjected to waveform equalization processing in the same manner.
By performing the phase matching processing (hereinafter, referred to as "two-dimensional signal processing") of the two read signals subjected to the above waveform equalization processing, the two reading elements (reading) arranged in close proximity to each other are performed. A reading signal would be obtained by a reading element unit having an element pitch = 500 nm). For the read signal thus obtained, the SNR at the signal detection point was calculated.
(Iii) In the above (ii), the position of the reading element at the start of the first data reading is set to the first noise mixing source track side and the second noise mixing source track side at intervals of 0.1 μm from the center in the tape width direction of the track to be read. The SNR envelope with respect to the track position was obtained by repeating the process while offsetting each track to the noise mixing source track side.
In Table 2, for Examples and Comparative Examples in which “Yes” is described in the “Two-dimensional signal processing” column, an SNR envelope was obtained by the above method.
In Table 2, for the comparative example in which “None” is described in the column of “Two-dimensional signal processing”, the result of the first data reading (that is, only with a single element) without performing the above-mentioned second data reading. The envelope of SNR was obtained with respect to the data reading result).
(Iv) The envelope of the SNR of Comparative Example 1 was used as the reference envelope, and the place where the SNR decreased by -3 dB from the SNR of the track center in the reference envelope was set as the lower limit of the SNR. For each envelope, the maximum track offset amount above this lower limit was defined as the allowable track offset amount. For each of the Examples and Comparative Examples, the rate of increase in the allowable track offset amount with respect to the allowable track offset amount in Comparative Example 1 was determined as the “allowable track offset amount increase rate”.
以上の結果を、表2に示す。 The above results are shown in Table 2.
表2に示すように、実施例によれば、20%以上の許容可能トラックオフセット量増加率を実現することができた。
上記方法により求められる許容可能トラックオフセット量が大きいことは、トラックマージンを小さくしても高い再生品質での再生を可能にするうえで有利である。この点から、許容トラックオフセット量増加率が20%以上であることは好ましい。
As shown in Table 2, according to the examples, an allowable track offset amount increase rate of 20% or more could be realized.
A large allowable track offset amount required by the above method is advantageous in enabling reproduction with high reproduction quality even if the track margin is reduced. From this point, it is preferable that the allowable track offset amount increase rate is 20% or more.
本発明の一態様は、高密度記録されたデータを高い再生品質で再生することが望まれる磁気記録用途において有用である。 One aspect of the present invention is useful in magnetic recording applications where it is desired to reproduce high density recorded data with high reproduction quality.
Claims (12)
読取素子ユニットと、
抽出部と、
を含み、
前記磁気テープは、非磁性支持体上に強磁性粉末および結合剤を含む磁性層を有し、
前記磁性層は、サーボパターンを有し、
前記強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末であり、
In−Plane法を用いた前記磁性層のX線回折分析により求められる六方晶フェライト結晶構造の(114)面の回折ピークのピーク強度Int(114)に対する(110)面の回折ピークのピーク強度Int(110)の強度比、Int(110)/Int(114)、は0.5以上4.0以下であり、
前記磁気テープの垂直方向角型比は、0.65以上1.00以下であり、
前記読取素子ユニットは、前記磁気テープに含まれるトラック領域のうちの読取対象トラックを含む特定トラック領域からデータをリニアスキャン方式で各々読み取る複数の読取素子を有し、
前記抽出部は、前記読取素子毎の読取結果の各々に対して、前記磁気テープと前記読取素子ユニットとの位置のずれ量に応じた波形等化処理を施すことにより、前記読取結果から、前記読取対象トラックに由来するデータを抽出し、
前記ずれ量は、前記磁気テープの磁性層が有するサーボパターンをサーボ素子が読み取ることにより得られた結果に応じて定められる、磁気テープ装置。 With magnetic tape
With the reading element unit
Extractor and
Including
The magnetic tape has a magnetic layer containing a ferromagnetic powder and a binder on a non-magnetic support.
The magnetic layer has a servo pattern and has a servo pattern.
The ferromagnetic powder is a hexagonal ferrite powder.
Peak intensity of the diffraction peak on the (114) plane of the hexagonal ferrite crystal structure obtained by X-ray diffraction analysis of the magnetic layer using the In-Plane method Int Peak intensity of the diffraction peak on the (110) plane with respect to Int (114) The intensity ratio of (110), Int (110) / Int (114), is 0.5 or more and 4.0 or less.
The vertical angular ratio of the magnetic tape is 0.65 or more and 1.00 or less.
The reading element unit has a plurality of reading elements that read data from a specific track area including a track to be read among the track areas included in the magnetic tape by a linear scan method.
The extraction unit performs waveform equalization processing on each of the reading results for each reading element according to the amount of displacement between the magnetic tape and the reading element unit, and from the reading results, the above-mentioned Extract the data derived from the track to be read and
The amount of deviation is determined according to the result obtained by reading the servo pattern of the magnetic layer of the magnetic tape by the servo element.
前記複数の読取素子の各々は、前記磁気テープとの位置関係が変化した場合に、前記読取対象トラックおよび前記隣接トラックの双方に対して、共に跨っている、請求項2に記載の磁気テープ装置。 The specific track area is an area including the read target track and an adjacent track adjacent to the read target track.
The magnetic tape device according to claim 2, wherein each of the plurality of reading elements straddles both the reading target track and the adjacent track when the positional relationship with the magnetic tape changes. ..
前記2次元FIRフィルタは、前記読取素子毎の読取結果の各々に対して前記波形等化処理を施すことにより得られた各結果を合成することによって、前記読取結果から前記読取対象トラックに由来するデータを抽出する、請求項1〜8のいずれか1項に記載の磁気テープ装置。 The extraction unit has a two-dimensional FIR filter and has a two-dimensional FIR filter.
The two-dimensional FIR filter derives from the reading result from the reading target track by synthesizing each result obtained by performing the waveform equalization processing on each of the reading results for each reading element. The magnetic tape device according to any one of claims 1 to 8, wherein the data is extracted.
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