JP6813259B2 - 半導体装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 77
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 111
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 111
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 105
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 105
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 26
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 16
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 14
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 7
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 229920001707 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 3
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 3
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011231 conductive filler Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- -1 polybutylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/367—Cooling facilitated by shape of device
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/043—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
- H01L23/047—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body the other leads being parallel to the base
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3737—Organic materials with or without a thermoconductive filler
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/16—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
- H01L23/18—Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
- H01L23/24—Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device solid or gel at the normal operating temperature of the device
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
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- H—ELECTRICITY
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19107—Disposition of discrete passive components off-chip wires
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
前記放熱部材が熱伝導性樹脂であり、かつ、前記熱伝導性樹脂が前記主端子の内側の端部と外側の端部との間を全面的に覆い、前記樹脂ケースの外側の側壁まで配置されている。
以下、本発明の半導体装置の実施形態について、図面を参照しつつ具体的に説明する。
図1に模式的な断面図で示す本実施形態の半導体装置であるパワー半導体モジュール1は、金属ベース2と、半導体チップ5と、樹脂ケース6と、主端子7と、放熱部材である金属ブロック8と備えている。パワー半導体モジュール1は、更に積層基板3と、ボンディングワイヤ9と、封止材10とを備えている。
積層基板3は、金属ベース2よりも小さい略四角形の平面形状を有している。積層基板3は、回路板3cと、絶縁板3aと、金属板3bとが積層されて構成されている。絶縁板3a及び金属板3bは、略四角形の平面形状を有している。また、回路板3cは、パワー半導体モジュール1内部の所定の回路を構成するパターン形状を有している。絶縁板3aは例えば窒化アルミニウムや窒化珪素、酸化アルミニウム等の絶縁性セラミックスよりなり、金属板3b、回路板3cは、例えば銅やアルミよりなる。積層基板3は、例えばDCB(Direct Copper Bond)基板や、AMB(Active Metal Blazing)基板を用いることができる。積層基板3の金属板3bと、金属ベース2の主面とが、接合材4、例えばはんだにより接合されている。
また、接着剤を金属ベース2の側面2aと樹脂ケース6とが接する部分にのみ塗布することで、金属ベース2の側面2aと樹脂ケース6とを固定することもできる。この場合には、金属ブロック8と金属ベース2との間に接着剤を塗布しない例も可能である。
図2に、図1に示したパワー半導体モジュール1の放熱の経路及び大きさを模式的に矢印で示す。図面中、大きい矢印ほど放熱量が大きいことを示している。
特許文献1に記載された半導体装置は、端子に接して金属部材が配置されている。そのため、複数の端子を並べて配置する場合、金属部材の幅を大きくとると金属部材同士が接触し、結果として端子同士が短絡する恐れがある。
一方、図3(a)に示すように、本実施の形態においては、複数の主端子7を配置する場合、それらに対応する金属ブロック8の幅は、主端子7の幅よりも大きくすることができる。理由は以下の通りである。各金属ブロック8を近接させた場合でも、主端子7と金属ブロック8との間には樹脂ケース6が介在しているので、主端子7と金属ブロック8との絶縁性は確保されている。そのため、金属ブロック8同士がたとえ接触していたとしても、主端子7同士の絶縁性は確保することができるからである。したがって、本実施の形態においては、金属ブロック8から金属ベース2までの放熱経路の幅を大きくでき、より放熱性を向上させることができる。
さらに、図3(b)に示すように、主端子7が複数個を並列に配置されている場合には、複数個の主端子7にわたって延びる一体的な金属ブロック8を配置することができる。金属ブロック8は広幅であるほど、放熱効果を向上させることができる。さらに、複数の金属ブロック8をそれぞれ配置する必要が無くなるため、製造工程も簡略化することができる。
本実施形態のパワー半導体モジュール1の変形例として、図5に示すように金属ブロック8の代わりに、金属ベース2が、金属ブロック8と同一形状の突起2bを有している態様とすることもできる。
図7に、図6に示したパワー半導体モジュール1の放熱の経路及び大きさを模式的に矢印で示す。図面中、大きい矢印ほど放熱量が大きいことを示している。
図8のパワー半導体モジュール21は、金属ベース2と主端子7の内側の端部7aとの間に、金属ベース2に接して金属ブロック8が配置されている。さらに、主端子7を覆うように熱伝導性樹脂8Bが配置されている。
図1に示した、金属ブロック8を備えるパワー半導体モジュール1の製造方法の一例は、主端子7と金属ブロック8とを一体的に固定した樹脂ケース6を成形する工程を含む。この工程は、より具体的には、(1)インサート成形用金型に、主端子7と金属ブロック8とをセットし、(2)インサート成形用金型の上下の金型を位置合わせし、(3)樹脂ケース6用の樹脂を金型内に充填させ、固化後、(4)上下の金型を開いて樹脂ケース6を取り出して冷却し、(5)バリ取りをして完成させる。この(1)〜(5)の工程は、主端子を一体的に固定した樹脂ケース6の成形工程と同様であり、従来から製造工程を増加させずに主端子7の放熱性を向上させたパワー半導体モジュールを製造することができる。
。
2 金属ベース
3 積層基板
3a 絶縁板
3b 金属板
3c 回路板
4 接合材
5 半導体チップ
6 樹脂ケース
7 主端子
7a 内側の端部
7b 外側の端部
8 金属ブロック
8A セラミックブロック
8B 熱伝導性樹脂
9 ボンディングワイヤ
10 封止材
Claims (4)
- 金属ベースと、
前記金属ベースに接着された枠形状の樹脂ケースと、
主電極を有し、前記樹脂ケースの内側に配置された半導体チップと、
前記半導体チップの前記主電極と電気的に接続され、前記樹脂ケースに一体的に固定され、前記樹脂ケースの内側で露出する内側の端部、及び前記樹脂ケースの外側で露出する外側の端部を有する主端子と、
前記金属ベースと前記主端子の前記内側の端部との間に、前記金属ベースに接して配置されるとともに前記樹脂ケースの一部を構成し、前記樹脂ケースの他の部分よりも熱伝導率が高い放熱部材と、
を備え、
前記放熱部材が熱伝導性樹脂であり、かつ、前記熱伝導性樹脂が前記主端子の内側の端部と外側の端部との間を全面的に覆い、前記樹脂ケースの外側の側壁まで配置されている半導体装置。 - 前記金属ベースと前記主端子の前記内側の端部との間に配置される前記放熱部材の幅が前記主端子の幅よりも大きい請求項1記載の半導体装置。
- 前記金属ベースと前記主端子の前記内側の端部との間に配置される前記放熱部材が複数の前記主端子にわたって延びて配置された請求項2記載の半導体装置。
- 前記放熱部材が、前記熱伝導性樹脂に加えて金属ブロックを備え、
前記金属ブロックは、前記金属ベースと前記主端子の内側の端部との間に、前記金属ベースに接して配置されている請求項1〜3のいずれか一項に記載の半導体装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015130242A JP6813259B2 (ja) | 2015-06-29 | 2015-06-29 | 半導体装置 |
US15/141,088 US10163752B2 (en) | 2015-06-29 | 2016-04-28 | Semiconductor device |
CN201610291336.7A CN106298700B (zh) | 2015-06-29 | 2016-05-05 | 半导体装置 |
DE102016208029.6A DE102016208029A1 (de) | 2015-06-29 | 2016-05-10 | Halbleitervorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015130242A JP6813259B2 (ja) | 2015-06-29 | 2015-06-29 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017017109A JP2017017109A (ja) | 2017-01-19 |
JP6813259B2 true JP6813259B2 (ja) | 2021-01-13 |
Family
ID=57537260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015130242A Active JP6813259B2 (ja) | 2015-06-29 | 2015-06-29 | 半導体装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10163752B2 (ja) |
JP (1) | JP6813259B2 (ja) |
CN (1) | CN106298700B (ja) |
DE (1) | DE102016208029A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7049120B2 (ja) * | 2018-01-19 | 2022-04-06 | 株式会社小糸製作所 | 灯具ユニット及び車両用灯具並びに灯具ユニット製造方法 |
JP7183551B2 (ja) | 2018-03-15 | 2022-12-06 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
JP7045975B2 (ja) * | 2018-11-20 | 2022-04-01 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法、ならびに電力変換装置 |
CN110581110A (zh) * | 2019-08-16 | 2019-12-17 | 珠海零边界集成电路有限公司 | 一种功率模块组件 |
WO2021039849A1 (ja) * | 2019-08-30 | 2021-03-04 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 座板付きコンデンサ |
JP7543703B2 (ja) | 2020-05-22 | 2024-09-03 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
JP7484766B2 (ja) | 2021-02-19 | 2024-05-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
JP2023061445A (ja) * | 2021-10-20 | 2023-05-02 | 富士電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
DE102022133512A1 (de) | 2022-12-15 | 2024-06-20 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungshalbleitermodul mit einem Gehäuse, einer leistungselektronischen Baugruppe und mit einem Formkörper |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11238838A (ja) * | 1998-02-19 | 1999-08-31 | Kyocera Corp | 混成集積回路装置 |
JP3169578B2 (ja) * | 1998-03-23 | 2001-05-28 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品用基板 |
JP2000082774A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-03-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | パワ―モジュ―ル用基板およびその基板を用いたパワ―モジュ―ル |
JP4148383B2 (ja) * | 1999-06-09 | 2008-09-10 | 日本インター株式会社 | 複合半導体装置 |
JP2002334975A (ja) * | 2001-05-08 | 2002-11-22 | Nec Corp | 半導体装置の支持構造、ccd半導体装置、その製造方法、及び、ccd半導体装置用パッケージ |
JP2005032912A (ja) | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Hitachi Industrial Equipment Systems Co Ltd | 電力変換装置 |
JP2006073651A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
US7944042B2 (en) * | 2007-03-08 | 2011-05-17 | Fuji Electric Device Technology Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
JP5040418B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2012-10-03 | 日産自動車株式会社 | 半導体装置 |
KR20130050969A (ko) * | 2010-10-07 | 2013-05-16 | 닛산 지도우샤 가부시키가이샤 | 반도체 장치 및 반도체 장치의 생산 방법 |
JP6214163B2 (ja) * | 2013-01-23 | 2017-10-18 | 三菱電機株式会社 | 放熱構造 |
JP6186142B2 (ja) | 2013-03-12 | 2017-08-23 | 新電元工業株式会社 | 端子の放熱構造及び半導体装置 |
JP5975180B2 (ja) * | 2013-10-03 | 2016-08-23 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
CN105531819B (zh) * | 2014-03-14 | 2018-05-08 | 富士电机株式会社 | 冷却器及具有该冷却器的半导体装置 |
JP2015220341A (ja) * | 2014-05-19 | 2015-12-07 | 三菱電機株式会社 | 金属ベース基板、パワーモジュール、および金属ベース基板の製造方法 |
-
2015
- 2015-06-29 JP JP2015130242A patent/JP6813259B2/ja active Active
-
2016
- 2016-04-28 US US15/141,088 patent/US10163752B2/en active Active
- 2016-05-05 CN CN201610291336.7A patent/CN106298700B/zh active Active
- 2016-05-10 DE DE102016208029.6A patent/DE102016208029A1/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017017109A (ja) | 2017-01-19 |
CN106298700A (zh) | 2017-01-04 |
US20160379912A1 (en) | 2016-12-29 |
DE102016208029A1 (de) | 2016-12-29 |
US10163752B2 (en) | 2018-12-25 |
CN106298700B (zh) | 2020-07-21 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
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A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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C211 | Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings |
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|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
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|
C30 | Protocol of an oral hearing |
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C302 | Record of communication |
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C13 | Notice of reasons for refusal |
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C23 | Notice of termination of proceedings |
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C03 | Trial/appeal decision taken |
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C30A | Notification sent |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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