JP6784540B2 - Polarizing plate inspection method and inspection equipment - Google Patents

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Description

本発明は、非偏光部を有する偏光板の検査方法および検査装置に関する。代表的には、非偏光部を有する偏光子を含む偏光板の検査方法および検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for a polarizing plate having a non-polarizing portion. Typically, the present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for a polarizing plate including a polarizing element having a non-polarizing portion.

携帯電話、ノート型パーソナルコンピューター(PC)等の画像表示装置には、カメラ等の内部電子部品が搭載されているものがある。このような画像表示装置のカメラ性能等の向上を目的として、種々の検討がなされている(例えば、特許文献1〜7)。しかし、スマートフォン、タッチパネル式の情報処理装置の急速な普及により、カメラ性能等のさらなる向上が望まれている。また、画像表示装置の形状の多様化および高機能化に対応するために、部分的に偏光性能を有する偏光板が求められている。これらの要望を工業的および商業的に実現するためには許容可能なコストで画像表示装置および/またはその部品を製造することが望まれるところ、そのような技術を確立するためには種々の検討事項が残されている。 Some image display devices such as mobile phones and notebook personal computers (PCs) are equipped with internal electronic components such as cameras. Various studies have been made for the purpose of improving the camera performance of such an image display device (for example, Patent Documents 1 to 7). However, with the rapid spread of smartphones and touch panel type information processing devices, further improvement in camera performance and the like is desired. Further, in order to cope with the diversification and high functionality of the shape of the image display device, a polarizing plate having a partial polarization performance is required. In order to realize these demands industrially and commercially, it is desired to manufacture an image display device and / or its parts at an acceptable cost, and various studies are made to establish such a technique. Matters are left.

特開2011−81315号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-81315 特開2007−241314号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-241314 米国特許出願公開第2004/0212555号明細書U.S. Patent Application Publication No. 2004/0212555 韓国公開特許第10−2012−0118205号公報Korean Publication No. 10-2012-0118205 韓国特許第10−1293210号公報Korean Patent No. 10-1293210 特開2012−137738号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-137738 米国特許出願公開第2014/0118826号明細書U.S. Patent Application Publication No. 2014/0118826

本発明者らが、部分的に偏光性能を有する偏光板として、非偏光部を有する偏光子を用いて偏光板を作製し、得られた偏光板を外観検査に供したところ、非偏光部が誤って欠陥として検出されるという問題に直面した。本発明は、当該問題を解決するためになされたものであり、その主たる目的は、非偏光部を有する偏光子を含み、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板の外観を好適に検査する方法を提供することにある。 The present inventors prepared a polarizing plate using a polarizing element having a non-polarizing portion as a polarizing plate having a partially polarized light performance, and subjected the obtained polarizing plate to an appearance inspection. As a result, the non-polarizing portion was found. Faced with the problem of being mistakenly detected as a defect. The present invention has been made to solve the problem, and a main object thereof is a long length including a polarizing element having a non-polarizing part and having non-polarizing parts arranged at predetermined intervals in a long direction. An object of the present invention is to provide a method for preferably inspecting the appearance of a shaped polarizing plate.

本発明によれば、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法が提供される。該検査方法は、該偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、該欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、該欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、を含む。
1つの実施形態においては、上記偏光板が、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。
1つの実施形態においては、上記画像データの取得が、上記偏光板の連続的な撮像に基づいて行われる。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部の抽出が、上記画像データの輝度情報に基づいて行われる。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部が上記長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程をさらに含み、上記欠陥を検出する工程が、上記欠陥候補部のサイズおよび周期性の有無に基づいて欠陥を検出する工程である。
1つの実施形態においては、上記基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、上記長尺方向に周期性を有するか否かを判断する。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、上記欠陥候補部の長尺方向における位置座標に基づいて行われる。
1つの実施形態においては、上記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部との長尺方向の距離が、所定の距離であるか否かに基づいて行われる。
本発明の別の局面によれば、偏光板の製造方法が提供される。該製造方法は、上記検査方法によって偏光板を検査することを含む。
本発明のさらに別の局面によれば、長尺状の偏光板の外観検査装置が提供される。該外観検査装置は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を撮像して画像データを取得する撮像装置と、該画像データを解析して該偏光板の欠陥を検出する画像解析装置と、を備える。該画像解析装置が、該画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部と、欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部と、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部と、を有する。
According to the present invention, there is provided a method for inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction while transporting the long polarizing plate in the long direction. The inspection method includes a step of capturing an image of the polarizing plate to acquire image data, a step of analyzing the image data to extract a defect candidate portion, and whether or not the defect candidate portion has a size equal to or less than a reference value. It includes a step of determining whether or not the defect is detected, and a step of detecting the defect based on the size of the defect candidate portion.
In one embodiment, the polarizing plate has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction and the width direction.
In one embodiment, the acquisition of the image data is based on the continuous imaging of the polarizing plate.
In one embodiment, the defect candidate portion is extracted based on the luminance information of the image data.
In one embodiment, the step of determining whether or not the defect candidate portion has periodicity in the long direction is further included, and the step of detecting the defect is the size and periodicity of the defect candidate portion. This is a process of detecting defects based on the presence or absence.
In one embodiment, it is determined whether or not the defect candidate portion having a size exceeding the reference value has periodicity in the long direction.
In one embodiment, the determination of the presence or absence of periodicity of the defect candidate portion is performed based on the position coordinates of the defect candidate portion in the longitudinal direction.
In one embodiment, the determination of the presence or absence of periodicity of the defect candidate portion is determined by determining the distance between the defect candidate portion to be determined and the non-polarizing portion existing on the upstream side in the transport direction in the long direction. It is done based on whether it is a distance or not.
According to another aspect of the present invention, there is provided a method for producing a polarizing plate. The manufacturing method includes inspecting the polarizing plate by the above-mentioned inspection method.
According to yet another aspect of the present invention, there is provided an appearance inspection device for a long polarizing plate. The visual inspection device includes an imaging device that acquires image data by imaging a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction, and an imaging device that analyzes the image data to obtain the polarized light. It is provided with an image analysis device for detecting defects in the plate. The image analysis device extracts a defect candidate unit based on the image data, a defect candidate unit extraction unit, a size determination unit that determines whether or not the defect candidate unit has a size equal to or less than a reference value, and a defect candidate unit. Defect detection that detects defects based on the periodicity determination unit that determines whether or not the image has periodicity in the long direction and the size of the defect candidate unit, or the size of the defect candidate unit and the presence or absence of periodicity. It has a part and.

本発明の検査方法によれば、非偏光部を誤って欠陥として検出することを回避し得るので、非偏光部を有する偏光子を含み、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板の外観を好適に検査することができる。 According to the inspection method of the present invention, it is possible to avoid erroneously detecting the non-polarized portion as a defect. Therefore, the non-polarized portion including the polarizing element having the non-polarized portion and arranged at predetermined intervals in the long direction. The appearance of the elongated polarizing plate having the above can be suitably inspected.

本発明の検査方法に供され得る偏光板の概略断面図である。It is the schematic sectional drawing of the polarizing plate which can be used for the inspection method of this invention. 非偏光部の配置パターンの一例を説明する概略平面図である。It is a schematic plan view explaining an example of the arrangement pattern of a non-polarized part. 非偏光部の配置パターンの別の例を説明する概略平面図である。It is the schematic plan view explaining another example of the arrangement pattern of a non-polarized part. 非偏光部の配置パターンのさらに別の例を説明する概略平面図である。It is the schematic plan view explaining still another example of the arrangement pattern of a non-polarized part. 本発明の検査方法に用いられ得る検査装置を説明する概略図である。It is the schematic explaining the inspection apparatus which can be used in the inspection method of this invention. 本発明の1つの実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the specific procedure of defect detection in one Embodiment of this invention. 本発明の別の実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the specific procedure of defect detection in another embodiment of this invention. 図5で示す実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明する概略図である。It is a schematic diagram explaining the specific procedure of defect detection in the embodiment shown in FIG.

[A.検査方法および検査装置]
本発明は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法を提供する。本発明の検査方法は、非偏光部を有する偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、を含む。欠陥を検出する工程においては、例えば、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部を非偏光部と認識して区別し、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出することができる。
[A. Inspection method and inspection equipment]
The present invention provides a method for inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction while transporting the long polarizing plate in the long direction. The inspection method of the present invention includes a step of acquiring image data by imaging a polarizing plate having a non-polarizing portion, a step of analyzing the image data to extract a defect candidate portion, and a defect candidate portion having a defect candidate portion of a reference value or less. It includes a step of determining whether or not it has a size and a step of detecting a defect based on the size of a defect candidate portion. In the step of detecting a defect, for example, a defect candidate portion having a size exceeding the reference value can be recognized and distinguished as a non-polarized portion, and a defect candidate portion having a size equal to or less than the reference value can be detected as a defect.

本発明の検査方法は、欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程をさらに含み得る。この場合、上記欠陥を検出する工程において、欠陥候補部のサイズおよび周期性の有無に基づいて欠陥を検出する。より具体的には、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出するととも、周期性を有さない欠陥候補部も欠陥として検出する。欠陥候補部をサイズと周期性との2つの側面から評価することにより、検査精度を向上することができる。検査効率の観点からは、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、周期性の有無を判断することが好ましい。この場合、基準値以下のサイズを有する全ての欠陥候補部を欠陥として検出するとともに、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部については、周期性を有さないもののみを欠陥として検出する。 The inspection method of the present invention may further include a step of determining whether or not the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction. In this case, in the step of detecting the defect, the defect is detected based on the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity. More specifically, a defect candidate portion having a size equal to or less than a reference value is detected as a defect, and a defect candidate portion having no periodicity is also detected as a defect. The inspection accuracy can be improved by evaluating the defect candidate portion from the two aspects of size and periodicity. From the viewpoint of inspection efficiency, it is preferable to determine the presence or absence of periodicity only for the defect candidate portion having a size exceeding the reference value. In this case, all defect candidate portions having a size equal to or less than the reference value are detected as defects, and only those having no periodicity are detected as defects from the defect candidate portions having a size exceeding the reference value.

A−1.偏光板
本発明の検査方法に供される偏光板は、長尺状であり、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。該非偏光部は、代表的には、偏光子に形成された非偏光部に起因する。なお、本明細書において「長尺状」とは、幅に対して長さが十分に長い細長形状を意味し、例えば、幅に対して長さが10倍以上、好ましくは20倍以上の細長形状を含む。
A-1. Polarizing plate The polarizing plate used in the inspection method of the present invention is long and has non-polarized parts arranged at predetermined intervals in the long direction. The unpolarized portion is typically caused by the non-polarized portion formed on the polarizer. In addition, in this specification, "long-shaped" means an elongated shape having a length sufficiently long with respect to a width, and for example, an elongated shape having a length of 10 times or more, preferably 20 times or more with respect to a width. Including shape.

図1は、本発明の検査方法に供され得る偏光板の概略断面図である。偏光板30は、非偏光部を有する偏光子10と、偏光子10の両側に配置された保護フィルム11、12と、を有する。図示例では、偏光子の両側に保護フィルムが配置されているが、片側にのみ保護フィルムが配置されていてもよい。あるいは、偏光板は偏光子のみから構成されていてもよい(すなわち、偏光板は偏光子であってもよい)。 FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a polarizing plate that can be used in the inspection method of the present invention. The polarizing plate 30 has a polarizer 10 having a non-polarizing portion, and protective films 11 and 12 arranged on both sides of the polarizing element 10. In the illustrated example, the protective films are arranged on both sides of the polarizer, but the protective films may be arranged on only one side. Alternatively, the polarizing plate may be composed of only a polarizer (that is, the polarizing plate may be a polarizer).

偏光子10は、代表的には、二色性物質を含む樹脂フィルムで構成される。偏光板30が長尺状であることから、偏光子10もまた長尺状である。偏光子10は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。1つの実施形態において、偏光子10は、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。非偏光部の配置パターンは、目的に応じて適切に設定され得る。代表的には、上記非偏光部は、偏光子を所定サイズの画像表示装置に取り付けるために所定サイズに裁断(例えば、長尺方向および/または幅方向への切断、打ち抜き)した際に、該画像表示装置のカメラ部に対応する位置に配置され得る。1つの実施形態においては、非偏光部は長尺方向および幅方向のいずれにおいても実質的に等間隔で配置される。なお、「長尺方向および幅方向のいずれにおいても実質的に等間隔」とは、長尺方向の間隔が等間隔であり、かつ、幅方向の間隔が等間隔であることを意味し、長尺方向の間隔と幅方向の間隔とが等しい必要はない。別の実施形態においては、非偏光部は、長尺方向に実質的に等間隔で配置され、かつ、幅方向に異なる間隔で配置されてもよい。幅方向において非偏光部が異なる間隔で配置される場合、隣接する非偏光部の間隔はすべて異なっていてもよく、一部(特定の隣接する非偏光部の間隔)のみが異なっていてもよい。また、偏光子の長尺方向に複数の領域を規定し、それぞれの領域ごとに長尺方向および/または幅方向における非偏光部の間隔を設定してもよい。 The polarizer 10 is typically composed of a resin film containing a dichroic substance. Since the polarizing plate 30 has a long shape, the polarizer 10 also has a long shape. The polarizer 10 has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction. In one embodiment, the polarizer 10 has unpolarized portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction and the width direction. The arrangement pattern of the non-polarized portion can be appropriately set according to the purpose. Typically, the non-polarized portion is said to be cut to a predetermined size (for example, cut or punched in a long direction and / or a width direction) in order to attach a polarizer to an image display device of a predetermined size. It may be arranged at a position corresponding to the camera unit of the image display device. In one embodiment, the non-polarized portions are arranged at substantially equal intervals in both the longitudinal and width directions. In addition, "substantially evenly spaced in both the long direction and the width direction" means that the intervals in the long direction are evenly spaced and the intervals in the width direction are evenly spaced. The spacing in the shaku direction and the spacing in the width direction do not have to be equal. In another embodiment, the non-polarized portions may be arranged at substantially equal intervals in the longitudinal direction and at different intervals in the width direction. When the non-polarized parts are arranged at different intervals in the width direction, the intervals of the adjacent non-polarized parts may be all different, or only a part (the interval of a specific adjacent non-polarized part) may be different. .. Further, a plurality of regions may be defined in the elongated direction of the polarizer, and the spacing between the non-polarized portions in the elongated direction and / or the width direction may be set for each region.

図2A〜Cはそれぞれ、偏光子10における非偏光部の配置パターンの一例を説明する概略平面図である。1つの実施形態においては、非偏光部10aは、図2Aに示すように、長尺方向において隣接する非偏光部を結ぶ直線が、長尺方向に対して実質的に平行であり、ならびに、幅方向において隣接する非偏光部を結ぶ直線が、幅方向に対して実質的に平行であるように配置される。 2A to 2C are schematic plan views for explaining an example of the arrangement pattern of the non-polarizing portion in the polarizer 10, respectively. In one embodiment, in the non-polarized portion 10a, as shown in FIG. 2A, a straight line connecting adjacent non-polarized portions in the elongated direction is substantially parallel to the elongated direction and has a width. The straight lines connecting the non-polarized parts adjacent to each other in the direction are arranged so as to be substantially parallel to the width direction.

非偏光部の平面視形状は、目的に応じて任意の適切な形状が採用され得る。例えば、非偏光部の平面視形状は、偏光子が用いられる画像表示装置のカメラ性能に悪影響を与えない限りにおいて、任意の適切な形状が採用され得る。図示例の非偏光部は円形であるが、例えば、楕円形、正方形、矩形、ひし形等に形成されていてもよい。 As the plan view shape of the non-polarized portion, any appropriate shape may be adopted depending on the purpose. For example, as the plan view shape of the non-polarizing portion, any suitable shape can be adopted as long as it does not adversely affect the camera performance of the image display device in which the polarizer is used. The non-polarized portion of the illustrated example is circular, but may be formed in, for example, an ellipse, a square, a rectangle, a rhombus, or the like.

非偏光部の透過率(例えば、23℃における波長550nmの光で測定した透過率)は、好ましくは50%以上であり、より好ましくは60%以上であり、さらに好ましくは75%以上であり、特に好ましくは90%以上である。このような透過率であれば、例えば、非偏光部が画像表示装置のカメラ部に対応するよう偏光子を配置した場合に、カメラの撮影性能に対する悪影響を防止することができる。 The transmittance of the non-polarized portion (for example, the transmittance measured with light having a wavelength of 550 nm at 23 ° C.) is preferably 50% or more, more preferably 60% or more, still more preferably 75% or more. Particularly preferably, it is 90% or more. With such a transmittance, it is possible to prevent an adverse effect on the shooting performance of the camera, for example, when the polarizer is arranged so that the non-polarizing portion corresponds to the camera portion of the image display device.

非偏光部は、任意の適切な形態であり得る。1つの実施形態においては、非偏光部は、部分的に脱色された脱色部である。脱色部は、例えば、レーザー照射または化学処理により形成される。別の実施形態においては、非偏光部は貫通穴である。貫通穴は、例えば、機械的打ち抜き(例えば、パンチング、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット)または所定部分の除去(例えば、レーザーアブレーションまたは化学的溶解)により形成される。 The non-polarized portion can be in any suitable form. In one embodiment, the non-polarized portion is a partially decolorized decolorized portion. The decolorized portion is formed by, for example, laser irradiation or chemical treatment. In another embodiment, the non-polarized portion is a through hole. Through holes are formed, for example, by mechanical punching (eg punching, Thomson blade punching, plotters, water jets) or removal of predetermined portions (eg laser ablation or chemical dissolution).

保護フィルム11、12の形成材料としては、例えば、ジアセチルセルロース、トリアセチルセルロース等のセルロース系樹脂、(メタ)アクリル系樹脂、シクロオレフィン系樹脂、ポリプロピレン等のオレフィン系樹脂、ポリエチレンテレフタレート系樹脂等のエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、これらの共重合体樹脂等が挙げられる。目的や所望の構成に応じて、保護フィルム11、12の一方は省略してもよい。 Examples of the material for forming the protective films 11 and 12 include cellulose resins such as diacetyl cellulose and triacetyl cellulose, (meth) acrylic resins, cycloolefin resins, olefin resins such as polypropylene, and polyethylene terephthalate resins. Examples thereof include ester-based resins, polyamide-based resins, polycarbonate-based resins, and copolymer resins thereof. One of the protective films 11 and 12 may be omitted depending on the purpose and the desired configuration.

保護フィルムの厚みは、代表的には10μm〜100μmである。保護フィルムは、代表的には、接着層(具体的には、接着剤層、粘着剤層)を介して偏光子に積層される。接着剤層は、代表的にはPVA系接着剤や活性エネルギー線硬化型接着剤で形成される。粘着剤層は、代表的にはアクリル系粘着剤で形成される。 The thickness of the protective film is typically 10 μm to 100 μm. The protective film is typically laminated on the polarizer via an adhesive layer (specifically, an adhesive layer and an adhesive layer). The adhesive layer is typically formed of a PVA-based adhesive or an active energy ray-curable adhesive. The pressure-sensitive adhesive layer is typically formed of an acrylic pressure-sensitive adhesive.

実用的には、偏光板30は、最外層として粘着剤層13を有する。粘着剤層13は、代表的には画像表示装置側の最外層となる。粘着剤層13には、セパレーター14が剥離可能に仮着され、実際の使用まで粘着剤層を保護するとともに、ロール形成を可能としている。 Practically, the polarizing plate 30 has an adhesive layer 13 as the outermost layer. The pressure-sensitive adhesive layer 13 is typically the outermost layer on the image display device side. A separator 14 is temporarily attached to the pressure-sensitive adhesive layer 13 so as to be peelable, which protects the pressure-sensitive adhesive layer until actual use and enables roll formation.

偏光板30は、目的に応じて任意の適切な光学機能層をさらに有していてもよい。光学機能層の代表例としては、位相差フィルム(光学補償フィルム)、表面処理層が挙げられる。例えば、保護フィルム12と粘着剤層13との間に位相差フィルムが配置され得る(図示せず)。位相差フィルムの光学特性(例えば、屈折率楕円体、面内位相差、厚み方向位相差)は、目的、画像表示装置の特性等に応じて適切に設定され得る。 The polarizing plate 30 may further have an arbitrary suitable optical functional layer depending on the purpose. Typical examples of the optical functional layer include a retardation film (optical compensation film) and a surface treatment layer. For example, a retardation film may be placed between the protective film 12 and the pressure-sensitive adhesive layer 13 (not shown). The optical characteristics of the retardation film (for example, refractive index ellipsoid, in-plane retardation, thickness direction retardation) can be appropriately set according to the purpose, the characteristics of the image display device, and the like.

表面処理層は、保護フィルム11の外側に配置され得る(図示せず)。表面処理層の代表例としては、ハードコート層、反射防止層、アンチグレア層が挙げられる。表面処理層は、例えば、偏光子の加湿耐久性を向上させる目的で透湿度の低い層であることが好ましい。表面処理層を設ける代わりに、保護フィルム11の表面に同様の表面処理を施してもよい。 The surface treatment layer may be arranged on the outside of the protective film 11 (not shown). Typical examples of the surface treatment layer include a hard coat layer, an antireflection layer, and an antiglare layer. The surface treatment layer is preferably a layer having low moisture permeability for the purpose of improving the humidification durability of the polarizer, for example. Instead of providing the surface treatment layer, the surface of the protective film 11 may be subjected to the same surface treatment.

A−2.検査装置
図3は、本発明の検査方法に用いられ得る検査装置を説明する概略図である。図示した実施形態においては、長尺状の偏光板30が検査装置100に搬送されて外観検査が行われる。検査装置100は、偏光板30を撮像して画像データを取得する撮像装置50と、得られた画像データを解析して該偏光板30の欠陥を検出する画像解析装置80と、を備える。画像解析装置80は、得られた画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部82と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部84と、欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部86と、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部88と、を有する。
A-2. Inspection device FIG. 3 is a schematic view illustrating an inspection device that can be used in the inspection method of the present invention. In the illustrated embodiment, the elongated polarizing plate 30 is conveyed to the inspection device 100 to perform a visual inspection. The inspection device 100 includes an image pickup device 50 that captures an image of the polarizing plate 30 and acquires image data, and an image analysis device 80 that analyzes the obtained image data and detects defects in the polarizing plate 30. The image analysis device 80 includes a defect candidate unit extraction unit 82 that extracts defect candidate units based on the obtained image data, and a size determination unit 84 that determines whether or not the defect candidate unit has a size equal to or less than a reference value. , Defects are determined based on the periodicity determination unit 86 that determines whether or not the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction, the size of the defect candidate portion, or the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity. It has a defect detection unit 88 for detection.

A−3.画像データを取得する工程(1)
工程(1)は、撮像装置50を用いて、上記非偏光部を有する偏光板を撮像して画像データを得ることにより行われ得る。撮像装置50は、代表的には、照明部52と撮像部54とを備える。
A-3. Step of acquiring image data (1)
The step (1) can be performed by using the imaging device 50 to image the polarizing plate having the non-polarizing portion to obtain image data. The image pickup apparatus 50 typically includes an illumination unit 52 and an image pickup unit 54.

照明部52は、任意の適切な光源を用いて構成され得る。光源は、白色光源であってもよく、単色光源であってもよい。光源の具体例としては、蛍光灯、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、LED等が挙げられる。 The illumination unit 52 can be configured using any suitable light source. The light source may be a white light source or a monochromatic light source. Specific examples of the light source include fluorescent lamps, halogen lamps, metal halide lamps, LEDs and the like.

撮像部54は、代表的には、レンズおよびイメージセンサを用いて構成されたカメラである。撮像部は、好ましくは偏光板の全幅が撮像可能となるように1つまたは複数設けられる。また、撮像部は、好ましくは長尺方向に連続した画像を撮像可能とされている。1つの実施形態において、撮像部は、ラインセンサカメラである。 The image pickup unit 54 is typically a camera configured by using a lens and an image sensor. The imaging unit is preferably provided with one or more so that the entire width of the polarizing plate can be imaged. Further, the imaging unit is preferably capable of capturing continuous images in the long direction. In one embodiment, the imaging unit is a line sensor camera.

図3に示す実施形態においては、上記偏光板の一方の側に配置された照明部52から偏光板30に対して光を照射し、偏光板30の他方の側に照明部52と対向するように配置された撮像部54によって偏光板30を透過した光を撮像する。透過光を撮像することにより、非偏光部に対応する領域の輝度が他の部分に対応する領域の輝度よりも高い像が得られ得る。 In the embodiment shown in FIG. 3, the illumination unit 52 arranged on one side of the polarizing plate irradiates the polarizing plate 30 with light so that the other side of the polarizing plate 30 faces the illumination unit 52. The light transmitted through the polarizing plate 30 is imaged by the imaging unit 54 arranged in. By imaging the transmitted light, an image in which the brightness of the region corresponding to the non-polarized portion is higher than the brightness of the region corresponding to the other portion can be obtained.

別の実施形態(図示せず)においては、上記偏光板の一方の側に照明部と撮像部を配置し、該照明部から偏光板に対して斜め方向から光を照射し、照明部と同じ側に配置された撮像部によって偏光板に反射された光を撮像する。 In another embodiment (not shown), the illumination unit and the imaging unit are arranged on one side of the polarizing plate, and the illumination unit irradiates the polarizing plate with light from an oblique direction, which is the same as the illumination unit. The light reflected by the polarizing plate is imaged by the imaging unit arranged on the side.

さらに別の実施形態(図示せず)においては、上記偏光板の一方の側に照明部と撮像部とを配置し、該撮像部のカメラの光軸と照射光の光軸とが一致するように、偏光板に対して垂直に光を照射し、その反射光を撮像する。 In yet another embodiment (not shown), the illumination unit and the imaging unit are arranged on one side of the polarizing plate so that the optical axis of the camera of the imaging unit and the optical axis of the irradiation light coincide with each other. Light is irradiated perpendicularly to the polarizing plate, and the reflected light is imaged.

非偏光部の形態(脱色部、貫通孔等)、偏光板の構成等に応じて適切な撮像方法を選択して偏光板を撮像することにより、非偏光部に対応する領域の輝度とその他の部分に対応する領域の輝度との差が大きい(結果として、コントラスト比が大きい)画像が得られ得る。偏光板の撮像は、上記実施形態のいずれか1つに従って行われてもよく、2つ以上の実施形態を組み合わせて行ってもよい。 By selecting an appropriate imaging method according to the form of the non-polarized part (bleached part, through hole, etc.), the configuration of the polarizing plate, and imaging the polarizing plate, the brightness of the region corresponding to the non-polarized part and other factors can be obtained. An image having a large difference from the brightness of the region corresponding to the portion (as a result, a large contrast ratio) can be obtained. Imaging of the polarizing plate may be performed according to any one of the above embodiments, or may be performed by combining two or more embodiments.

好ましくは、長尺状の偏光板を長尺方向に搬送しながら撮像を行う。搬送しながら撮像を行うことにより、製造ラインの停止を回避して製造効率を維持し得る。 Preferably, imaging is performed while transporting a long polarizing plate in the long direction. By performing imaging while transporting, it is possible to avoid a stoppage of the production line and maintain production efficiency.

A−4.欠陥候補部を抽出する工程(2)
撮像装置50によって得られた画像データは、電気信号として画像解析装置80に送信される。送信された画像データは、欠陥候補部抽出部82によって解析され、これにより、欠陥候補部が抽出される。
A-4. Step of extracting defect candidate part (2)
The image data obtained by the image pickup device 50 is transmitted to the image analysis device 80 as an electric signal. The transmitted image data is analyzed by the defect candidate unit extraction unit 82, whereby the defect candidate unit is extracted.

1つの実施形態においては、画像データの輝度情報に基づいて欠陥候補部を抽出する。具体的には、予め正常な偏光板を撮像して正常と判定される輝度基準を設定し、該基準に基づいて欠陥候補部を抽出する。例えば、正常と判定される輝度の上限を超える高輝度部、正常と判定される輝度の下限を超える低輝度部等を欠陥候補部と判定し得る。異物、気泡、ピンホール等の外観不良の原因となる欠陥部は、通常、偏光板の正常領域と透過率、反射率等が異なることから、上記のような輝度基準により欠陥候補部として抽出される。一方、得られた画像データにおいては、非偏光部に対応する領域も、その他の部分に対応する領域と透過率、反射率等が異なることから欠陥候補部として抽出され得る。 In one embodiment, the defect candidate portion is extracted based on the luminance information of the image data. Specifically, a normal polarizing plate is imaged in advance to set a brightness standard to be determined to be normal, and a defect candidate portion is extracted based on the standard. For example, a high-luminance portion exceeding the upper limit of the brightness determined to be normal, a low-luminance portion exceeding the lower limit of the brightness determined to be normal, and the like can be determined as defect candidate portions. Defects that cause poor appearance such as foreign matter, air bubbles, and pinholes are usually extracted as defect candidate parts according to the above-mentioned luminance criteria because the transmittance, reflectance, etc. are different from the normal region of the polarizing plate. To. On the other hand, in the obtained image data, the region corresponding to the non-polarized portion can also be extracted as a defect candidate portion because the transmittance, reflectance and the like are different from the region corresponding to the other portion.

欠陥候補抽出部82は、好ましくは欠陥候補部の位置情報(例えば、長尺方向に連続した画像における長尺方向および幅方向の位置座標(X,Y))を記憶し、周期性判断部86に送信する。 The defect candidate extraction unit 82 preferably stores the position information of the defect candidate unit (for example, the position coordinates (X, Y) in the long direction and the width direction in the continuous image in the long direction), and the periodicity determination unit 86 Send to.

A−5.欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程(3)
欠陥候補部抽出部82によって欠陥候補部が抽出されると、抽出された個々の欠陥候補部について、サイズ判断部84でそのサイズを決定し、さらには、そのサイズが基準値以下であるか否かを判断する。
A-5. Step of determining whether or not the defect candidate portion has a size smaller than the reference value (3)
When the defect candidate unit is extracted by the defect candidate unit extraction unit 82, the size determination unit 84 determines the size of each extracted defect candidate unit, and further, whether or not the size is equal to or less than the reference value. To judge.

欠陥候補部のサイズの決定は任意の適切な方法によって行われ得る。例えば、画像データ中における欠陥候補部の画素数、径、面積等に基づいてサイズを決定することができる。欠陥候補部の径は、代表的には、画像データにおいて、欠陥候補部の外周上の任意の2点を結ぶ直線のうち、もっとも長いものの長さを径として決定され得る。面積は、画素数または径に基づいて算出され得る。 Determining the size of the defect candidate can be done by any suitable method. For example, the size can be determined based on the number of pixels, diameter, area, and the like of the defect candidate portion in the image data. The diameter of the defect candidate portion can be typically determined with the length of the longest straight line connecting any two points on the outer circumference of the defect candidate portion as the diameter in the image data. The area can be calculated based on the number of pixels or diameter.

上記基準値は、任意の適切な方法によって決定され得る。例えば、上記基準値は、非偏光部のサイズに基づいて決定され得る。例えば、径によってサイズを判断する場合、上記基準値(径の基準値)は、以下のようにして決定することができる。すなわち、設計上の非偏光部の形状および寸法に基づいて非偏光部の径(理論値)を算出するか、あるいは、実際に偏光子に形成された非偏光部の径(実測値)を測定し、得られた非偏光部の径の例えば90%、好ましくは95%を基準値とすることができる。また、例えば、欠陥の平均サイズが非偏光部のサイズに比べて十分に小さい場合(例えば、欠陥の平均径が非偏光部の径の1/8以下である場合)、上記基準値は、非偏光部の径の1/4〜1/2の値とすることができる。具体例として、非偏光部の径が2800μm程度であり、欠陥の平均径が150μm〜300μmである場合、上記基準値を1000μm程度とすることができる。 The reference value can be determined by any suitable method. For example, the reference value can be determined based on the size of the non-polarized portion. For example, when the size is determined by the diameter, the reference value (reference value of the diameter) can be determined as follows. That is, the diameter of the non-polarized portion (theoretical value) is calculated based on the shape and dimensions of the non-polarized portion in design, or the diameter of the non-polarized portion actually formed on the polarizer (measured value) is measured. However, for example, 90%, preferably 95%, of the diameter of the obtained non-polarized portion can be used as a reference value. Further, for example, when the average size of the defect is sufficiently smaller than the size of the non-polarized portion (for example, when the average diameter of the defect is 1/8 or less of the diameter of the non-polarized portion), the above reference value is not set. The value can be 1/4 to 1/2 of the diameter of the polarizing portion. As a specific example, when the diameter of the non-polarized portion is about 2800 μm and the average diameter of the defects is 150 μm to 300 μm, the reference value can be set to about 1000 μm.

A−6.欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程(4)
周期性判断部86は、抽出された欠陥候補部の全てを周期性の判断対象としてもよく、サイズ判断部84において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象としてもよい。好ましくは、サイズ判断部84において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象とする。
A-6. Step of determining whether or not the defect candidate portion has periodicity in the long direction (4)
The periodicity determination unit 86 may use all of the extracted defect candidate units as periodicity determination targets, and only the defect candidate units confirmed by the size determination unit 84 to have a size exceeding the reference value as a determination target. May be good. Preferably, only the defect candidate portion confirmed by the size determination unit 84 to have a size exceeding the reference value is set as the determination target.

1つの実施形態においては、3つ以上の欠陥候補部が任意の方向に伸びる直線上に等間隔に存在するとき、これらの欠陥候補部は周期性を有すると判断することができる。 In one embodiment, when three or more defect candidate portions are present at equal intervals on a straight line extending in an arbitrary direction, it can be determined that these defect candidate portions have periodicity.

検査対象の偏光板においては、少なくとも長尺方向に所定の間隔で非偏光部が配置されていることから、長尺方向における非偏光部間の間隔に基づいて周期性を判断することができる。よって、偏光板表面における判断対象の欠陥候補部の位置を決定し、上記所定の間隔で存在するものをスクリーニングすること等により、周期性の有無を効率的に判断することができる。 In the polarizing plate to be inspected, since the non-polarized parts are arranged at least at predetermined intervals in the long direction, the periodicity can be determined based on the distance between the non-polarized parts in the long direction. Therefore, the presence or absence of periodicity can be efficiently determined by determining the position of the defect candidate portion to be determined on the surface of the polarizing plate and screening those existing at the above-mentioned predetermined intervals.

1つの実施形態においては、欠陥候補部の周期性の有無の判断は、欠陥候補部の位置座標(例えば、長尺方向における位置座標)に基づいて行われる。例えば、欠陥候補部抽出部から送信される欠陥候補部(例えば長尺方向に2つ以上、好ましくは3つ以上隣接する欠陥候補部)の位置座標を、設計上(理論上)の非偏光部の位置座標と照らし合わせ、位置座標が一致した場合には、該欠陥候補部は周期性を有すると判断できる。また、例えば、欠陥候補部抽出部から送信される欠陥候補部の長尺方向の位置座標に基づいて、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部(欠陥ではないとの判断済みの欠陥候補部であり得る)との長尺方向の距離を求め、該距離が、所定の距離であるか否かに基づいて行われる。該距離は、例えば、長尺方向における非偏光部の配置間隔(すなわち、上記長尺方向における所定の間隔)、または、該所定の間隔を整数倍した距離であり得る。 In one embodiment, the determination of the presence or absence of periodicity of the defect candidate portion is performed based on the position coordinates of the defect candidate portion (for example, the position coordinates in the longitudinal direction). For example, the position coordinates of the defect candidate part (for example, two or more, preferably three or more adjacent defect candidate parts in the longitudinal direction) transmitted from the defect candidate part extraction unit are set as a design (theoretical) non-polarized part. If the position coordinates match with each other, it can be determined that the defect candidate portion has periodicity. Further, for example, based on the position coordinates in the long direction of the defect candidate portion transmitted from the defect candidate portion extraction unit, the defect candidate portion to be determined and the non-polarized portion (not a defect) existing on the upstream side in the transport direction thereof. The distance in the long direction from the defect candidate portion that has been determined to be) is obtained, and the distance is determined based on whether or not the distance is a predetermined distance. The distance may be, for example, an arrangement interval of non-polarized parts in the long direction (that is, a predetermined distance in the long direction), or a distance obtained by multiplying the predetermined distance by an integer.

A−7.欠陥を検出する工程(5)
欠陥検出部88は、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する。具体的には、欠陥検出部88は、サイズ判断部84において基準値以下のサイズを有すると判断された欠陥候補部を欠陥として検出する。欠陥検出部88はさらに、周期性判断部86において周期性を有すると判断された欠陥候補部を非偏光部と認識して欠陥候補部と区別し、残りの欠陥候補部を欠陥として検出することができる。換言すれば、欠陥検出部88は、基準値以下のサイズを有すると判断された欠陥候補部および周期性を有さないと判断された欠陥候補部を欠陥として検出し得る。
A-7. Step of detecting defects (5)
The defect detection unit 88 detects a defect based on the size of the defect candidate unit, or the size of the defect candidate unit and the presence or absence of periodicity. Specifically, the defect detection unit 88 detects a defect candidate unit determined by the size determination unit 84 to have a size equal to or less than a reference value as a defect. The defect detection unit 88 further recognizes the defect candidate unit determined to have periodicity by the periodicity determination unit 86 as a non-polarized part, distinguishes it from the defect candidate unit, and detects the remaining defect candidate unit as a defect. Can be done. In other words, the defect detection unit 88 can detect the defect candidate unit determined to have a size equal to or less than the reference value and the defect candidate unit determined to have no periodicity as defects.

図4は、本発明の1つの実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明するフローチャートである。図4に示す実施形態においては、まず、偏光板の画像データを取得する(上記工程(1))。次いで、画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する(上記工程(2))。次いで、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断し(上記工程(3))、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部を非偏光部と判断する一方で、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出する(上記工程(5))。 FIG. 4 is a flowchart illustrating a specific procedure for defect detection in one embodiment of the present invention. In the embodiment shown in FIG. 4, first, the image data of the polarizing plate is acquired (step (1) above). Next, a defect candidate portion is extracted based on the image data (step (2) above). Next, it is determined whether or not the defect candidate portion has a size equal to or less than the reference value (step (3) above), and the defect candidate portion having a size exceeding the reference value is determined to be a non-polarized portion, while being equal to or less than the reference value. A defect candidate portion having the size of is detected as a defect (step (5) above).

図5は、本発明の別の実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明するフローチャートである。図5に示す実施形態においては、まず、偏光板の画像データを取得する(上記工程(1))。次いで、画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する(上記工程(2))。次いで、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断し(上記工程(3))、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部について、周期性の有無を判断する(上記工程(4))。得られた結果に基づいて、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部および基準値を超えるサイズを有するが、周期性を有さない欠陥候補部を欠陥として検出する(上記工程(5))。なお、図6(a)中の白円は、当該実施形態による工程(2)において抽出された全ての欠陥候補部を示し、図6(b)中の白円は、基準値を超えるサイズを有し、周期性の有無の判断対象となる欠陥候補部を示し、図6(c)中の黒円は、周期性を有すると判断された欠陥候補部(非偏光部)を示し、白円は、周期性を有さないと判断された欠陥候補部(欠陥)を示し、図6(d)中の白円は、最終的に検出される欠陥を示す。 FIG. 5 is a flowchart illustrating a specific procedure for defect detection in another embodiment of the present invention. In the embodiment shown in FIG. 5, first, the image data of the polarizing plate is acquired (step (1) above). Next, a defect candidate portion is extracted based on the image data (step (2) above). Next, it is determined whether or not the defect candidate portion has a size equal to or less than the reference value (step (3) above), and whether or not the defect candidate portion having a size exceeding the reference value has periodicity is determined (the above step (step (3)). 4)). Based on the obtained results, a defect candidate portion having a size equal to or less than the reference value and a defect candidate portion having a size exceeding the reference value but not having periodicity are detected as defects (step (5) above). The white circles in FIG. 6 (a) show all the defect candidate portions extracted in the step (2) according to the embodiment, and the white circles in FIG. 6 (b) have a size exceeding the reference value. The defect candidate portion having and to be judged whether or not it has periodicity is shown, and the black circle in FIG. 6C indicates the defect candidate portion (non-polarized portion) determined to have periodicity, and is a white circle. Indicates a defect candidate portion (defect) determined to have no periodicity, and a white circle in FIG. 6D indicates a defect finally detected.

A−8.マーキング工程(6)
検査装置100は、マーキング装置(図示せず)をさらに備えていてもよい。マーキング装置は、画像処理装置と接続され、画像処理装置(実質的には、欠陥検出部)が欠陥を検出すると、該欠陥の位置情報をマーキング装置に送信する。マーキング装置は、該位置情報に基づいて、欠陥部にマーキングを行う。マーキングされた領域は、裁断後に不良偏光板として容易に排除され得る。マーキングとしては、マーカーペンを用いたマーキングやレーザーマーキングが挙げられる。
A-8. Marking process (6)
The inspection device 100 may further include a marking device (not shown). The marking device is connected to the image processing device, and when the image processing device (substantially, the defect detecting unit) detects a defect, the marking device transmits the position information of the defect to the marking device. The marking device marks the defective portion based on the position information. The marked region can be easily removed as a defective polarizing plate after cutting. Examples of the marking include marking using a marker pen and laser marking.

[B.偏光板の製造方法]
本発明の非偏光部を有する偏光子を含む長尺状の偏光板の製造方法は、長尺状の偏光子に非偏光部を形成すること、該非偏光部を有する長尺状の偏光子を用いて偏光板を作製すること、および、上記検査方法により偏光板の外観を検査することを含む。
[B. Method for manufacturing polarizing plate]
The method for producing a long polarizing plate including a polarizing element having a non-polarizing portion of the present invention is to form a non-polarizing portion on the long polarizing element, and to form a long polarizing element having the non-polarizing portion. It includes producing a polarizing plate using the above-mentioned method and inspecting the appearance of the polarizing plate by the above-mentioned inspection method.

B−1.偏光子
偏光子は、代表的には、二色性物質を含む樹脂フィルムから構成される。二色性物質としては、例えば、ヨウ素、有機染料等が挙げられる。これらは、単独で、または二種以上組み合わせて用いられ得る。好ましくはヨウ素が用いられる。
B-1. Polarizer Polarizer is typically composed of a resin film containing a dichroic substance. Examples of the dichroic substance include iodine and organic dyes. These can be used alone or in combination of two or more. Iodine is preferably used.

上記樹脂フィルムを形成する樹脂としては、任意の適切な樹脂が用いられ得る。好ましくは、ポリビニルアルコール系樹脂が用いられる。ポリビニルアルコール系樹脂としては、例えば、ポリビニルアルコール、エチレン−ビニルアルコール共重合体が挙げられる。ポリビニルアルコールは、ポリ酢酸ビニルをケン化することにより得られる。エチレン−ビニルアルコール共重合体は、エチレン−酢酸ビニル共重合体をケン化することにより得られる。 Any suitable resin can be used as the resin for forming the resin film. Preferably, a polyvinyl alcohol-based resin is used. Examples of the polyvinyl alcohol-based resin include polyvinyl alcohol and ethylene-vinyl alcohol copolymers. Polyvinyl alcohol is obtained by saponification of polyvinyl acetate. The ethylene-vinyl alcohol copolymer is obtained by saponifying the ethylene-vinyl acetate copolymer.

偏光子(非偏光部を除く)は、好ましくは、波長380nm〜780nmのいずれかの波長で吸収二色性を示す。偏光子(非偏光部を除く)の単体透過率は、好ましくは39%以上、より好ましくは39.5%以上、さらに好ましくは40%以上、特に好ましくは40.5%以上である。なお、単体透過率の理論上の上限は50%であり、実用的な上限は46%である。また、単体透過率は、JIS Z8701の2度視野(C光源)により測定して視感度補正を行なったY値であり、例えば、顕微分光システム(ラムダビジョン製、LVmicro)を用いて測定することができる。偏光子の偏光度(非偏光部を除く)は、好ましくは99.9%以上、より好ましくは99.93%以上、さらに好ましくは99.95%以上である。 The polarizer (excluding the non-polarizing portion) preferably exhibits absorption dichroism at any wavelength of 380 nm to 780 nm. The simple substance transmittance of the polarizer (excluding the non-polarizing portion) is preferably 39% or more, more preferably 39.5% or more, still more preferably 40% or more, and particularly preferably 40.5% or more. The theoretical upper limit of the simple substance transmittance is 50%, and the practical upper limit is 46%. The single transmittance is a Y value measured with a JIS Z8701 two-degree field of view (C light source) and corrected for luminosity factor. For example, it is measured using a microspectroscopy system (manufactured by Lambdavision, LVmicro). Can be done. The degree of polarization of the polarizer (excluding the non-polarized portion) is preferably 99.9% or more, more preferably 99.93% or more, still more preferably 99.95% or more.

偏光子の厚みは、任意の適切な値に設定され得る。厚みは、好ましくは30μm以下、より好ましくは25μm以下、さらに好ましくは20μm以下、特に好ましくは10μm以下である。一方で、厚みは、好ましくは0.5μm以上、さらに好ましくは1μm以上である。 The thickness of the polarizer can be set to any suitable value. The thickness is preferably 30 μm or less, more preferably 25 μm or less, still more preferably 20 μm or less, and particularly preferably 10 μm or less. On the other hand, the thickness is preferably 0.5 μm or more, more preferably 1 μm or more.

偏光子の吸収軸は、目的に応じて任意の適切な方向に設定され得る。吸収軸の方向は、例えば、長尺方向であってもよく幅方向であってもよい。長尺方向に吸収軸を有する偏光子は、例えば、製造効率に優れるという利点がある。幅方向に吸収軸を有する偏光子は、例えば、長尺方向に遅相軸を有する位相差フィルムとロールトゥロールで積層できるという利点がある。1つの実施形態においては、吸収軸は長尺方向または幅方向に実質的に平行であり、かつ、偏光子の幅方向両端は長尺方向に平行にスリット加工されている。このような構成によれば、偏光子の端辺を基準に裁断でき、所望の位置に非偏光部を有し、かつ適切な方向に吸収軸を有する複数の偏光子を、容易に製造することができる。なお、偏光子の吸収軸は、後述の延伸処理における延伸方向に対応し得る。 The absorption axis of the polarizer can be set in any suitable direction depending on the purpose. The direction of the absorption axis may be, for example, a long direction or a width direction. A polarizer having an absorption axis in the long direction has an advantage that, for example, it is excellent in manufacturing efficiency. A polarizer having an absorption axis in the width direction has an advantage that it can be laminated with a retardation film having a slow phase axis in the long direction by roll-to-roll, for example. In one embodiment, the absorption shaft is substantially parallel in the longitudinal or width direction, and both ends of the polarizer in the width direction are slitted parallel to the longitudinal direction. According to such a configuration, it is possible to easily manufacture a plurality of polarizers which can be cut with reference to the end edge of the polarizer, have a non-polarizing portion at a desired position, and have an absorption axis in an appropriate direction. Can be done. The absorption axis of the polarizer can correspond to the stretching direction in the stretching treatment described later.

偏光子は、代表的には、上記樹脂フィルムに膨潤処理、延伸処理、上記二色性物質による染色処理、架橋処理、洗浄処理、乾燥処理等の各種処理を施すことにより得られる。各種処理を施す際、樹脂フィルムは、基材上に形成された樹脂層であってもよい。上記非偏光部の形成は、偏光子の作製工程の途中でも行い得る。 The polarizer is typically obtained by subjecting the resin film to various treatments such as swelling treatment, stretching treatment, dyeing treatment with the dichroic substance, cross-linking treatment, cleaning treatment, and drying treatment. When performing various treatments, the resin film may be a resin layer formed on the base material. The formation of the non-polarizing portion can also be performed during the process of manufacturing the polarizer.

B−2.非偏光部の形成
好ましくは、非偏光部は、脱色部である。このような構成によれば、機械的に(例えば、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット等を用いて機械的に抜き落とす方法により)、貫通穴が形成されている場合に比べて、クラック、デラミ(層間剥離)、糊はみ出し等の品質上の問題が回避される。脱色部は、好ましくは、偏光子(二色性物質を含む樹脂フィルム)の所望の位置に塩基性溶液を接触させることにより形成される。このような方法により形成される非偏光部は、他の部位(非接触部)よりも二色性物質の含有量が低い低濃度部とされ得る。低濃度部は二色性物質自体の含有量が低いので、レーザー光等により二色性物質を分解して脱色部が形成されている場合に比べて、非偏光部の透明性が良好に維持される。
B-2. Formation of non-polarized portion Preferably, the non-polarized portion is a decolorized portion. According to such a configuration, cracks and delaminations are formed as compared with the case where a through hole is formed mechanically (for example, by a method of mechanically punching out using a Thomson blade punch, a plotter, a water jet, etc.). Quality problems such as (delamination) and glue squeeze out are avoided. The decolorized portion is preferably formed by bringing a basic solution into contact with a desired position of a polarizer (a resin film containing a dichroic substance). The non-polarized portion formed by such a method can be a low-concentration portion having a lower content of the dichroic substance than other portions (non-contact portions). Since the content of the dichroic substance itself is low in the low-concentration part, the transparency of the non-polarized part is maintained better than in the case where the dichroic substance is decomposed by laser light or the like to form the decolorized part. Will be done.

上記低濃度部の二色性物質の含有量は、好ましくは1.0重量%以下、より好ましくは0.5重量%以下、さらに好ましくは0.2重量%以下である。低濃度部の二色性物質の含有量の下限値は、通常、検出限界値以下である。上記他の部位における二色性物質の含有量と低濃度部における二色性物質の含有量との差は、好ましくは0.5重量%以上、さらに好ましくは1重量%以上である。二色性物質としてヨウ素を用いる場合、ヨウ素含有量は、例えば、蛍光X線分析で測定したX線強度から、予め標準試料を用いて作成した検量線により求められる。 The content of the dichroic substance in the low concentration portion is preferably 1.0% by weight or less, more preferably 0.5% by weight or less, still more preferably 0.2% by weight or less. The lower limit of the content of the dichroic substance in the low concentration portion is usually below the detection limit. The difference between the content of the dichroic substance in the other portion and the content of the dichroic substance in the low concentration portion is preferably 0.5% by weight or more, more preferably 1% by weight or more. When iodine is used as the dichroic substance, the iodine content is determined, for example, from the X-ray intensity measured by fluorescent X-ray analysis by a calibration curve prepared in advance using a standard sample.

上記塩基性溶液に含まれる塩基性化合物としては、任意の適切な化合物が用いられ得る。塩基性化合物としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム等のアルカリ金属の水酸化物、水酸化カルシウム等のアルカリ土類金属の水酸化物、炭酸ナトリウム等の無機アルカリ金属塩、酢酸ナトリウム等の有機アルカリ金属塩、アンモニア水等が挙げられる。これらの中でも、好ましくはアルカリ金属および/またはアルカリ土類金属の水酸化物が用いられ、さらに好ましくは水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウムが用いられる。二色性物質を効率良くイオン化することができ、より簡便に脱色部を形成することができる。これらの塩基性化合物は単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。 Any suitable compound can be used as the basic compound contained in the basic solution. Examples of the basic compound include alkali metal hydroxides such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and lithium hydroxide, alkaline earth metal hydroxides such as calcium hydroxide, and inorganic alkali metal salts such as sodium carbonate. , Organic alkali metal salts such as sodium acetate, aqueous ammonia and the like. Among these, hydroxides of alkali metals and / or alkaline earth metals are preferably used, and sodium hydroxide, potassium hydroxide, and lithium hydroxide are more preferably used. The dichroic substance can be efficiently ionized, and the decolorized portion can be formed more easily. These basic compounds may be used alone or in combination of two or more.

塩基性溶液の溶媒としては、水、アルコールが好ましく用いられる。塩基性溶液の濃度は、例えば0.01N〜5Nであり、好ましくは0.05N〜3Nであり、さらに好ましくは0.1N〜2.5Nである。塩基性溶液の液温は、例えば20℃〜50℃である。塩基性溶液の接触時間は、偏光子の厚み、塩基性溶液に含まれる塩基性化合物の種類や濃度に応じて設定され得る。接触時間は、例えば5秒〜30分であり、好ましくは5秒〜5分である。 Water and alcohol are preferably used as the solvent for the basic solution. The concentration of the basic solution is, for example, 0.01N to 5N, preferably 0.05N to 3N, and more preferably 0.1N to 2.5N. The temperature of the basic solution is, for example, 20 ° C to 50 ° C. The contact time of the basic solution can be set according to the thickness of the polarizer and the type and concentration of the basic compound contained in the basic solution. The contact time is, for example, 5 seconds to 30 minutes, preferably 5 seconds to 5 minutes.

塩基性溶液の接触方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。例えば、偏光子に対し、塩基性溶液を滴下、塗工、スプレーする方法、偏光子を塩基性溶液に浸漬する方法が挙げられる。塩基性溶液の接触に際し、所望の部位以外に塩基性溶液が接触しないように、任意の適切な保護材で偏光子を保護してもよい。このような保護材としては、例えば、保護フィルム、表面保護フィルムが用いられる。保護フィルムは、偏光子の保護フィルムとしてそのまま利用され得るものである。表面保護フィルムは、偏光子の製造時に一時的に用いられるものである。表面保護フィルムは、任意の適切なタイミングで偏光子から取り除かれるため、代表的には、偏光子に粘着剤層を介して貼り合わされる。保護材の別の具体例としては、フォトレジスト等が挙げられる。また、上記偏光子の作製工程で用いられる基材も保護材として用い得る。 Any suitable method can be adopted as the contact method for the basic solution. For example, a method of dropping, coating, and spraying a basic solution on a polarizer, and a method of immersing the polarizer in the basic solution can be mentioned. Upon contact with the basic solution, the polarizer may be protected with any suitable protective material so that the basic solution does not come into contact with any part other than the desired site. As such a protective material, for example, a protective film and a surface protective film are used. The protective film can be used as it is as a protective film for the polarizer. The surface protective film is temporarily used during the manufacture of the polarizer. Since the surface protective film is removed from the polarizer at an arbitrary appropriate timing, it is typically attached to the polarizer via an adhesive layer. Another specific example of the protective material is a photoresist or the like. Further, the base material used in the above-mentioned process of producing the polarizer can also be used as a protective material.

好ましくは、塩基性溶液の接触に際し、偏光子表面は、その少なくとも一部が露出するように表面保護フィルムで被覆されている。図示例のような非偏光部の配置パターンを有する偏光子は、当該配置パターンに対応する位置に、所望の非偏光部サイズに対応する小円形の貫通孔が形成された表面保護フィルムを偏光子の片側に貼り合わせて偏光フィルム積層体を準備し、これに塩基性溶液を接触させることで製造される。その際、偏光子のもう片側(貫通孔が形成された表面保護フィルム(第1の保護フィルム)が配置されていない側)も保護されていることが好ましい。保護フィルムや表面保護フィルムの貼り合わせは、ロールトゥロールにより行われるのが好ましい。本明細書において、「ロールトゥロール」とは、ロール状のフィルムを搬送しながら互いの長尺方向を揃えて積層することをいう。 Preferably, the surface of the polarizer is coated with a surface protective film so that at least a part thereof is exposed upon contact with the basic solution. A polarizer having a non-polarized portion arrangement pattern as shown in the illustrated example is a surface protective film having a small circular through hole formed at a position corresponding to the arrangement pattern and a small circular through hole corresponding to a desired non-polarized portion size. A polarizing film laminate is prepared by laminating it on one side of the surface, and a basic solution is brought into contact with the polarizing film laminate. At that time, it is preferable that the other side of the polarizer (the side on which the surface protective film (first protective film) having through holes is not arranged) is also protected. The protective film and the surface protective film are preferably bonded by roll-to-roll. As used herein, the term "roll-to-roll" refers to laminating roll-shaped films while transporting them so that their longitudinal directions are aligned with each other.

上記表面保護フィルムの形成材料としては、ポリエチレンテレフタレート系樹脂等のエステル系樹脂、ノルボルネン系樹脂等のシクロオレフィン系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のオレフィン系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、これらの共重合体樹脂等が挙げられる。好ましくは、エステル系樹脂(特に、ポリエチレンテレフタレート系樹脂)である。弾性率が十分に高く、例えば、搬送および/または貼り合わせ時に張力をかけても貫通孔の変形が生じにくいからである。表面保護フィルムの厚みは、代表的には20μm〜250μmであり、好ましくは30μm〜150μmである。 Examples of the material for forming the surface protective film include ester resins such as polyethylene terephthalate resins, cycloolefin resins such as norbornene resins, olefin resins such as polyethylene and polypropylene, polyamide resins, and polycarbonate resins. Examples include polymer resins. An ester resin (particularly, a polyethylene terephthalate resin) is preferable. This is because the elastic modulus is sufficiently high, and for example, even if tension is applied during transportation and / or bonding, deformation of the through hole is unlikely to occur. The thickness of the surface protective film is typically 20 μm to 250 μm, preferably 30 μm to 150 μm.

第1の表面保護フィルムは、所定のパターンで配置された貫通孔を有する。貫通孔の位置は、非偏光部が形成される位置に対応する。貫通孔の形状は、所望の非偏光部の形状に対応する。貫通孔は、例えば、機械的打ち抜き(例えば、パンチング、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット)またはフィルムの所定部分の除去(例えば、レーザーアブレーションまたは化学的溶解)により形成される。 The first surface protective film has through holes arranged in a predetermined pattern. The position of the through hole corresponds to the position where the unpolarized portion is formed. The shape of the through hole corresponds to the shape of the desired non-polarized portion. Through holes are formed, for example, by mechanical punching (eg punching, Thomson blade punching, plotters, water jets) or removal of certain parts of the film (eg laser ablation or chemical dissolution).

1つの実施形態においては、上記塩基性溶液は、偏光子と接触後、任意の適切な手段により偏光子から除去される。このような実施形態によれば、例えば、偏光子の使用に伴う非偏光部の透過率の低下をより確実に防止することができる。塩基性溶液の除去方法の具体例としては、洗浄、ウエス等による拭き取り除去、吸引除去、自然乾燥、加熱乾燥、送風乾燥、減圧乾燥等が挙げられる。好ましくは、塩基性溶液は洗浄される。洗浄に用いる洗浄液としては、例えば、水(純水)、メタノール、エタノール等のアルコール、および、これらの混合溶媒等が挙げられる。好ましくは、水が用いられる。洗浄回数は特に限定されず、複数回行ってもよい。塩基性溶液を乾燥により除去する場合、その乾燥温度は、例えば20℃〜100℃である。 In one embodiment, the basic solution is removed from the polarizer by any suitable means after contact with the polarizer. According to such an embodiment, for example, it is possible to more reliably prevent a decrease in the transmittance of the non-polarized portion due to the use of the polarizer. Specific examples of the method for removing the basic solution include washing, wiping removal with a waste cloth, suction removal, natural drying, heat drying, blast drying, vacuum drying and the like. Preferably, the basic solution is washed. Examples of the cleaning liquid used for cleaning include water (pure water), alcohols such as methanol and ethanol, and mixed solvents thereof. Preferably water is used. The number of washings is not particularly limited and may be performed a plurality of times. When the basic solution is removed by drying, the drying temperature is, for example, 20 ° C to 100 ° C.

好ましくは、上記塩基性溶液との接触後、塩基性溶液を接触させた接触部において、樹脂フィルムに含まれるアルカリ金属および/またはアルカリ土類金属を低減させる。アルカリ金属および/またはアルカリ土類金属を低減させることにより、寸法安定性に優れた非偏光部を得ることができる。具体的には、加湿環境下においても、塩基性溶液との接触により形成された非偏光部の形状をそのまま維持することができる。 Preferably, after the contact with the basic solution, the alkali metal and / or the alkaline earth metal contained in the resin film is reduced at the contact portion with which the basic solution is contacted. By reducing the amount of alkali metal and / or alkaline earth metal, a non-polarized portion having excellent dimensional stability can be obtained. Specifically, even in a humidified environment, the shape of the non-polarized portion formed by contact with the basic solution can be maintained as it is.

塩基性溶液を接触させることにより、接触部にアルカリ金属および/またはアルカリ土類金属の水酸化物が残存し得る。また、塩基性溶液を接触させることにより、接触部にアルカリ金属および/またはアルカリ土類金属の金属塩(例えば、ホウ酸塩)が生成し得る。これらは水酸化物イオンを生成し得、生成した水酸化物イオンは、接触部周囲に存在する二色性物質(例えば、ヨウ素錯体)に作用(分解・還元)して、非偏光領域を広げ得る。したがって、アルカリ金属および/またはアルカリ土類金属塩を低減させることにより、経時的に非偏光領域が広がるのを抑制して、所望の非偏光部形状が維持され得ると考えられる。 By contacting with a basic solution, hydroxides of alkali metals and / or alkaline earth metals may remain at the contacts. Further, by contacting with a basic solution, a metal salt of an alkali metal and / or an alkaline earth metal (for example, borate) can be formed at the contact portion. These can generate hydroxide ions, and the generated hydroxide ions act (decompose / reduce) on a dichroic substance (for example, an iodine complex) existing around the contact portion to widen the non-polarized region. obtain. Therefore, it is considered that by reducing the alkali metal and / or alkaline earth metal salt, it is possible to suppress the expansion of the non-polarized region over time and maintain the desired non-polarized portion shape.

上記非偏光部は、アルカリ金属および/またはアルカリ土類金属の含有量が3.6重量%以下であることが好ましく、より好ましくは2.5重量%以下であり、さらに好ましくは1.0重量%以下であり、特に好ましくは0.5重量%以下である。アルカリ金属および/またはアルカリ土類金属の含有量は、例えば、蛍光X線分析により測定したX線強度から予め標準試料を用いて作成した検量線により求めることができる。 The non-polarized portion preferably has an alkali metal and / or alkaline earth metal content of 3.6% by weight or less, more preferably 2.5% by weight or less, still more preferably 1.0% by weight. % Or less, particularly preferably 0.5% by weight or less. The content of the alkali metal and / or alkaline earth metal can be determined, for example, from the X-ray intensity measured by fluorescent X-ray analysis by a calibration curve prepared in advance using a standard sample.

上記低減させる方法としては、好ましくは、塩基性溶液との接触部に酸性溶液を接触させる方法が用いられる。このような方法によれば、酸性溶液にアルカリ金属および/またはアルカリ土類金属を効率的に移行させて、その含有量を低減させることができる。酸性溶液との接触は、上記塩基性溶液の除去後に行ってもよいし、塩基性溶液を除去することなく行ってもよい。 As the method for reducing the above, preferably, a method of bringing an acidic solution into contact with a contact portion with the basic solution is used. According to such a method, the alkali metal and / or the alkaline earth metal can be efficiently transferred to the acidic solution to reduce the content thereof. The contact with the acidic solution may be performed after the removal of the basic solution, or may be performed without removing the basic solution.

上記酸性溶液に含まれる酸性化合物としては、任意の適切な酸性化合物を用いることができる。酸性化合物としては、例えば、塩酸、硫酸、硝酸、フッ化水素等の無機酸、ギ酸、シュウ酸、クエン酸、酢酸、安息香酸等の有機酸等が挙げられる。酸性溶液に含まれる酸性化合物は、これらの中でも、好ましくは無機酸であり、さらに好ましくは塩酸、硫酸、硝酸である。これらの酸性化合物は単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。 Any suitable acidic compound can be used as the acidic compound contained in the acidic solution. Examples of the acidic compound include inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid and hydrogen fluoride, and organic acids such as formic acid, oxalic acid, citric acid, acetic acid and benzoic acid. Among these, the acidic compound contained in the acidic solution is preferably an inorganic acid, and more preferably hydrochloric acid, sulfuric acid, or nitric acid. These acidic compounds may be used alone or in combination of two or more.

酸性溶液の溶媒としては、水、アルコールが好ましく用いられる。酸性溶液の濃度は、例えば0.01N〜5Nであり、好ましくは0.05N〜3Nであり、さらに好ましくは0.1N〜2.5Nである。酸性溶液の液温は、例えば20℃〜50℃である。酸性溶液の接触時間は、例えば5秒〜5分である。なお、酸性溶液の接触方法は、上記塩基性溶液の接触方法と同様の方法が採用され得る。また、酸性溶液は、偏光子から除去され得る。酸性溶液の除去方法は、上記塩基性溶液の除去方法と同様の方法が採用され得る。 Water and alcohol are preferably used as the solvent for the acidic solution. The concentration of the acidic solution is, for example, 0.01N to 5N, preferably 0.05N to 3N, and more preferably 0.1N to 2.5N. The liquid temperature of the acidic solution is, for example, 20 ° C to 50 ° C. The contact time of the acidic solution is, for example, 5 seconds to 5 minutes. As the contact method for the acidic solution, the same method as the contact method for the basic solution can be adopted. Also, the acidic solution can be removed from the polarizer. As the method for removing the acidic solution, the same method as the method for removing the basic solution can be adopted.

代表的には、上記のようにして非偏光部が形成された後(好ましくは、アルカリ金属および/またはアルカリ土類金属の低減後)、表面保護フィルムは剥離除去され得る。 Typically, after the non-polarized portion is formed as described above (preferably after reduction of alkali metals and / or alkaline earth metals), the surface protective film can be stripped and removed.

B−3.偏光板の作製
上記のようにして得られる非偏光部を有する長尺状の偏光子は、代表的には、偏光子/保護フィルムの積層体を構成している。該積層体は、そのまま偏光板として用いることができる一方で、目的等に応じて、該積層体に保護フィルム等の他の構成部材を積層することにより、最終製品としての任意の適切な構成を有する偏光板が得られ得る。また、単一の樹脂フィルムからなる偏光子が得られる場合も同様に、用途等に応じて、その片側または両側に保護フィルム等の他の構成部材を積層することにより、最終製品としての任意の適切な構成を有する偏光板が得られ得る。積層される他の構成部材については、A−1項で記載したとおりである。
B-3. Fabrication of Polarizing Plate A long-shaped polarizer having a non-polarizing portion obtained as described above typically constitutes a laminate of a polarizer / protective film. While the laminate can be used as a polarizing plate as it is, by laminating other constituent members such as a protective film on the laminate according to the purpose or the like, an arbitrary appropriate configuration as a final product can be obtained. A polarizing plate having a polarizing plate can be obtained. Similarly, when a polarizing element made of a single resin film can be obtained, an arbitrary final product can be obtained by laminating other constituent members such as a protective film on one side or both sides thereof depending on the intended use. A polarizing plate having an appropriate configuration can be obtained. The other constituent members to be laminated are as described in Section A-1.

上記他の構成部材の積層は、いわゆるロールトゥロールで行われ得る。 Lamination of the other constituent members can be performed by so-called roll-to-roll.

B−4.偏光板の外観検査
上記のようにして得られた偏光板をA項に記載の検査方法に供する。A項に記載の検査方法で、非偏光部を有する偏光板の外観を検査することにより、非偏光部を欠陥として誤って検出することなく、目的とする欠陥(異物、気泡、ピンホール等)を検出できるので、検査効率と検査精度とが高次に両立可能となる。その結果、高品質の偏光板が優れた製造効率で得られ得る。
B-4. Appearance inspection of polarizing plate The polarizing plate obtained as described above is subjected to the inspection method according to Item A. By inspecting the appearance of the polarizing plate having the non-polarized part by the inspection method described in Item A, the target defect (foreign matter, air bubbles, pinholes, etc.) can be inspected without erroneously detecting the non-polarized part as a defect. Can be detected, so that inspection efficiency and inspection accuracy can be compatible with each other at a high level. As a result, a high quality polarizing plate can be obtained with excellent production efficiency.

B−5.偏光板の裁断
本発明の偏光板の製造方法は、長尺状の偏光板を所望のサイズに裁断する工程をさらに含み得る。裁断は、切断、打ち抜き等によって行われ得る。長尺状の偏光板は、好ましくは、取り付けられる画像表示装置に対応するサイズを有するとともに、画像表示装置に取り付けられた際にそのカメラ部と対応する位置に非偏光部を有するように裁断される。
B-5. Cutting a Polarizing Plate The method for producing a polarizing plate of the present invention may further include a step of cutting a long polarizing plate into a desired size. Cutting can be done by cutting, punching, etc. The elongated polarizing plate is preferably cut so as to have a size corresponding to the attached image display device and to have a non-polarizing portion at a position corresponding to the camera portion when attached to the image display device. To.

裁断される偏光板は、好ましくは、欠陥部にマーキングが施されているので、裁断後に該マーキングに基づいて不良品の偏光板が容易に排除され得る。 Since the defective portion of the polarizing plate to be cut is preferably marked, the defective polarizing plate can be easily removed based on the marking after cutting.

本発明の検査方法は、例えば、スマートフォン等の携帯電話、ノート型PC、タブレットPC等のカメラ付き画像表示装置(液晶表示装置、有機ELデバイス)に備えられる偏光板を製造する際に好適に用いられる。 The inspection method of the present invention is suitably used for manufacturing a polarizing plate provided in an image display device (liquid crystal display device, organic EL device) with a camera such as a mobile phone such as a smartphone, a notebook PC, or a tablet PC. Be done.

10 偏光子
10a 非偏光部
30 偏光板
50 撮像装置
80 画像解析装置
82 欠陥候補部抽出部
84 サイズ判断部
86 周期性判断部
88 欠陥検出部
100 検査装置
10 Polarizer 10a Non-polarizing part 30 Polarizing plate 50 Imaging device 80 Image analysis device 82 Defect candidate part Extraction part 84 Size judgment part 86 Periodic judgment part 88 Defect detection part 100 Inspection device

Claims (8)

長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法であって、
該偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、
該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、
欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、
基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、該欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程と、
陥を検出する工程と、
を含み、
該欠陥を検出する工程は、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部および基準値を超えるサイズを有し、かつ、周期性を有さない欠陥候補部を欠陥として検出することを含む、検査方法。
A method of inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction while transporting the long polarizing plate in the long direction.
The process of imaging the polarizing plate and acquiring image data,
A process of analyzing the image data and extracting a defect candidate portion,
The process of determining whether the defect candidate part has a size smaller than the reference value, and
Only for the defect candidate portion having a size exceeding the reference value, a step of determining whether or not the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction, and
And the step of detecting the defect,
Only including,
The step of detecting the defect includes detecting a defect candidate portion having a size equal to or less than a reference value and a defect candidate portion having a size exceeding the reference value and having no periodicity as a defect. ..
前記偏光板が、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する、請求項1に記載の検査方法。 The inspection method according to claim 1, wherein the polarizing plate has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction and the width direction. 前記画像データの取得が、前記偏光板の連続的な撮像に基づいて行われる、請求項1または2に記載の検査方法。 The inspection method according to claim 1 or 2, wherein the acquisition of the image data is performed based on the continuous imaging of the polarizing plate. 前記欠陥候補部の抽出が、前記画像データの輝度情報に基づいて行われる、請求項1から3のいずれかに記載の検査方法。 The inspection method according to any one of claims 1 to 3, wherein the defect candidate portion is extracted based on the luminance information of the image data. 前記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、前記欠陥候補部の長尺方向における位置座標に基づいて行われる、請求項1から4のいずれかに記載の検査方法。 The inspection method according to any one of claims 1 to 4 , wherein the presence or absence of periodicity of the defect candidate portion is determined based on the position coordinates of the defect candidate portion in the longitudinal direction. 前記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部との長尺方向の距離が、長尺方向における前記非偏光部の配置間隔または該間隔を整数倍した距離であるか否かに基づいて行われる、請求項1から4のいずれかに記載の検査方法。 The determination of the presence or absence of periodicity of the defect candidate portion is made by determining that the distance between the defect candidate portion to be determined and the non-polarized portion existing on the upstream side in the transport direction in the long direction is the distance of the non-polarized portion in the long direction. The inspection method according to any one of claims 1 to 4 , which is performed based on whether or not the arrangement interval or the distance is an integral multiple of the interval . 請求項1からのいずれかに記載の検査方法によって偏光板を検査することを含む、非偏光部を有する偏光子を含む長尺状の偏光板の製造方法。 A method for producing a long-shaped polarizing plate including a polarizing element having a non-polarizing portion, which comprises inspecting the polarizing plate by the inspection method according to any one of claims 1 to 6 . 長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を撮像して画像データを取得する撮像装置と、
該画像データを解析して該偏光板の欠陥を検出する画像解析装置と、を備え、
該画像解析装置が、
該画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部と、
欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部と、
欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部と、
欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて基準値以下のサイズを有する欠陥候補部および周期性を有さない欠陥候補部を欠陥として検出する欠陥検出部と、を有し、
該周期性判断部が、サイズ判断部において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象とする、
長尺状の偏光板の外観検査装置。
An imaging device that acquires image data by imaging a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the elongated direction.
An image analysis device that analyzes the image data and detects defects in the polarizing plate is provided.
The image analyzer
A defect candidate part extraction unit that extracts a defect candidate part based on the image data,
A size determination unit that determines whether or not the defect candidate unit has a size smaller than the reference value,
A periodicity determination unit that determines whether or not the defect candidate unit has periodicity in the long direction, and a periodicity determination unit.
Defect detection unit that detects defect candidate parts with a size equal to or less than the reference value and defect candidate parts without periodicity as defects based on the size of the defect candidate part or the size of the defect candidate part and the presence or absence of periodicity. and, the possess,
The periodicity determination unit determines only the defect candidate unit whose size is confirmed to have a size exceeding the reference value in the size determination unit .
Visual inspection device for long polarizing plates.
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