JP6345493B2 - Hairspring - Google Patents

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Description

本発明は、機械部品に関し、特に機械式時計用の調速機や脱進機、時計に用いる装飾部材に関する。
The present invention relates to a machine part article, in particular a mechanical adjusting for a timepiece gear box and escapement relates to decorative member used in the timepiece.

従来の機械式時計においては、機械の運転を規則正しく一定の速度に保つために、ひげぜんまいとてん輪(てん真付)とで構成される調速機(てんぷ)が使われている。等時性のあるひげぜんまいの伸縮により、てん真を軸としててん輪が規則正しく往復回転運動をおこなう。   In a conventional mechanical timepiece, a speed governor (balance balance) composed of a hairspring and a balance wheel (with a balance spring) is used in order to keep the operation of the machine regularly at a constant speed. Due to the expansion and contraction of the isochronous balance spring, the balance wheel regularly reciprocates around the balance spring.

てんぷには、がんぎ車とアンクルとで構成される脱進機という機構が接続されており、ぜんまいからエネルギーが伝達されて、振動を持続するようになっている。   The balance with the escapement composed of escape wheel and ankle is connected to the balance with the balance, and the energy is transmitted from the mainspring to maintain the vibration.

知られているひげぜんまいは、金属を加工して形成する場合が多い。このため、その加工精度のばらつきや金属が有する内部応力の影響などによって、設計通りの形状が得られない場合がある。   Known balance springs are often formed by processing metal. For this reason, the shape as designed may not be obtained due to variations in processing accuracy or the influence of internal stress of the metal.

ひげぜんまいは規則的にてん輪を往復回転運動させる必要があるから、設計通りの形状が得られないとてんぷは等時性のある動作ができなくなり、時計の歩度ずれが生じてしまう。時計の歩度とは、一日あたりの時計の進み又は遅れの程度を示すものである。   Since the balance spring needs to regularly rotate the balance wheel in a reciprocating manner, the balance with the balance cannot be operated in an isochronous manner unless the shape as designed is obtained, resulting in a deviation in the rate of the watch. The rate of the watch indicates the degree of advance or delay of the watch per day.

ところで近年、シリコン基板をエッチング加工することによって時計部品を製造する試みがなされている。従来の金属部品を用いる時計部品の製造に比べ軽量にできるという利点と、安価で大量生産ができる利点とがあると言われている。これにより、小型軽量の時計を製造することができると期待されている。   In recent years, attempts have been made to manufacture timepiece parts by etching a silicon substrate. It is said that it has the advantage that it can be made lighter than the manufacture of watch parts using conventional metal parts, and the advantage that it can be mass-produced at low cost. Thereby, it is expected that a small and lightweight watch can be manufactured.

シリコン基板をエッチングする際、近年ではドライエッチング技術である反応性イオンエッチング(Reactive Ion Etching:RIE)技術が進歩してきた。中でも、深堀りRIE(Deep RIE)技術が開発され、アスペクト比が高いエッチングが可能になってきた。   When etching a silicon substrate, a reactive ion etching (RIE) technique, which is a dry etching technique, has recently progressed. Among them, deep RIE (Deep RIE) technology has been developed, and etching with a high aspect ratio has become possible.

この技術によると、エッチングがフォトレジストなどでマスクした部分の下に回り込まないために、垂直深さ方向にマスクパターンを忠実に再現できるようになり、シリコン基板をエッチングする際に、時計部品を設計通りの形状で精度よく製造することが可能となってきた。   According to this technology, since the etching does not go under the part masked with photoresist, the mask pattern can be faithfully reproduced in the vertical depth direction, and the watch part is designed when etching the silicon substrate. It has become possible to manufacture accurately with the street shape.

そもそもシリコンは、金属よりも温度特性がよいから、シリコンでひげぜんまいを形成すると、従来のひげぜんまいの材料として用いられる金属よりも環境温度に対して変形しにくいため、歩度ずれが起きにくくなるという特徴がある。このことから、時計の調速機にシリコンを主成分とするひげぜんまいを用いることが知られている。   In the first place, silicon has better temperature characteristics than metal, so if the balance spring is made of silicon, it will be less likely to deform with respect to the ambient temperature than the metal used as the material for conventional balance springs, so it will be difficult for the rate deviation to occur. There are features. For this reason, it is known to use a balance spring mainly composed of silicon for a time governor of a timepiece.

しかしながら、シリコンは脆性材料であるから、時計が大きな衝撃を受けたときにひげぜんまいが破損してしまう恐れがある。こうした点に配慮したシリコン製のひげぜんまいが知られている(例えば、特許文献1参照。)。   However, since silicon is a brittle material, the mainspring may be damaged when the watch is subjected to a large impact. A silicon hairspring in consideration of these points is known (for example, see Patent Document 1).

特許文献1に示した従来技術は、ひげぜんまいを平面視したときの一平面であるぜんまい部の上面に開口部を設けてひげぜんまいの質量を減少させることによって、開口部のな
い場合と同じ剛性を維持しつつ衝撃による影響を受け難くしたものである。
The conventional technique shown in Patent Document 1 has the same rigidity as the case where there is no opening by providing an opening on the upper surface of the mainspring that is a flat surface when the mainspring is viewed in plan to reduce the mass of the mainspring. It is made difficult to be affected by impact while maintaining.

特開2012−21984号公報(第6頁、図2、図4)JP 2012-21984 (6th page, FIG. 2 and FIG. 4)

しかし、特許文献1に示した従来技術では、時計に大きな衝撃が加わった場合に、ひげぜんまいの破損を十分に防ぐことができないことが分かった。
すなわち、ぜんまい部に開口部を設けると、その部分が薄くなり開口部周辺の強度が足りなくなってしまうのである。そうすると、衝撃を受けた際に、例えば、隣り合うコイル形状のぜんまい部が接触してしまうと、そのぜんまい部が容易に破損してしまう可能性がある。
However, it has been found that the prior art disclosed in Patent Document 1 cannot sufficiently prevent the hairspring from being damaged when a large impact is applied to the timepiece.
That is, if an opening is provided in the mainspring portion, the portion becomes thin and the strength around the opening becomes insufficient. Then, when the impact is received, for example, if the adjacent coil-shaped mainspring portions come into contact with each other, the mainspring portion may be easily damaged.

ひげぜんまいの大きさは組み込まれる時計のサイズや性能によって自由に選択できるものである。例えば一般的な腕時計の場合であれば、その直径は5mm〜8mm程度であり、その場合のぜんまい部を構成する部分の上面の幅は数十μmとなる。そのような薄い部分に開口部を設けると、かえって破損し易くなってしまうのである。   The size of the hairspring can be freely selected according to the size and performance of the built-in watch. For example, in the case of a general wristwatch, the diameter is about 5 mm to 8 mm, and the width of the upper surface of the portion constituting the mainspring portion in that case is several tens of μm. If an opening is provided in such a thin part, it tends to be damaged.

ぜんまいが破損すると、その破片が飛び散って時計機構に入り込むこともあり、ひげぜんまいが動かなくなるだけではなく、時計そのものに致命的な障害を起こす恐れもある。   When the mainspring is broken, the fragments may scatter and enter the timepiece mechanism, not only causing the hairspring to move, but also causing a fatal failure to the timepiece itself.

本発明の目的は、上記従来技術の課題に鑑み、シリコン製の機械部品を採用しても衝撃に強い機械部品及びその製造方法を提供することであり、機械式時計の調速機においては、シリコン製のひげぜんまいを採用しても衝撃に強いひげぜんまい及びその製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a mechanical component that is resistant to impact even if a silicon mechanical component is employed and a method for manufacturing the mechanical component, in view of the above-described problems of the prior art. An object of the present invention is to provide a hairspring and a method of manufacturing the same which are resistant to impact even if a silicon hairspring is employed.

前述した目的を達成するための本発明におけるひげぜんまいは、以下の構成を採用する。
The hairspring in the present invention for achieving the above-described object employs the following configuration.

シリコンを主成分とする第1の部分と、金属を主成分とする第2の部分とを有するひげぜんまいであって、ひげぜんまいは、貫通孔を有するひげ玉と、貫通孔を中心にしてひげ玉に巻回されるコイル形状のぜんまい部と、ぜんまい部の巻き終わりと接続しているひげ持と、を有し、第1の部分は、少なくともぜんまい部において、その幅方向に、第2の部分を挟んで構成され、第2の部分は、ぜんまい部の少なくとも一方の平面側に、埋め込むようにして設けられていることを特徴とする。
A first portion mainly composed of silicon, a hairspring for perforated and a second portion mainly comprising metal, a hairspring is centered and beard ball, a through-hole having a through-hole A coil-shaped mainspring portion wound around the hairball, and a hairspring connected to the winding end of the mainspring portion, and the first portion at least in the width direction of the mainspring portion in the width direction. The second portion is provided so as to be embedded on at least one plane side of the mainspring portion .

シリコンを主成分とする第1の部分の内側に金属を主成分とする第2の部分が挟まれることで、第2の部分が補強材の役目をし、機械部品に衝撃が加わったとしても破壊から保護することができる。   Even if an impact is applied to a machine part by the second part serving as a reinforcing material by sandwiching the second part mainly composed of metal inside the first part mainly composed of silicon. Can be protected from destruction.

ぜんまい部の一方の平面側と、一方の平面に対向する他方の平面側に、第2の部分が、それぞれ埋め込むようにして設けられてもよい。
The second portion may be provided so as to be embedded in one plane side of the mainspring portion and the other plane side opposite to the one plane .

一方の平面側に設けられた第2の部分と、他方の平面側に設けられた第2の部分とは、平面的位置、幅又は深さの少なくともいずれか1つが互いに異なっていてもよい
The second portion provided on the one plane side and the second portion provided on the other plane side may be different from each other in at least one of the planar position, width, and depth .

一方の平面側に設けられた第2の部分と、他方の平面側に設けられた第2の部分とは、互いに材質が異なっていてもよい。
The second part provided on one plane side and the second part provided on the other plane side may be made of different materials .

第1の部分と第2の部分の間に金属膜が形成されており、一方の平面側に設けられた第2の部分と、他方の平面側に設けられた第2の部分とは、互いに金属膜の材質が異なっていてもよい。また、ぜんまい部の位置に応じて、第2の部分の幅又は深さが異なっていてもよい。さらに、ひげ持は、第2の部分のみで構成されていてもよい。A metal film is formed between the first part and the second part, and the second part provided on one plane side and the second part provided on the other plane side are mutually The material of the metal film may be different. Further, the width or depth of the second portion may be different depending on the position of the mainspring portion. Furthermore, the whisker may be composed of only the second portion.

シリコンで形成された機械部品が強靱になるので、衝撃を受けたとしても機械部品が破壊しにくくなる。   Since mechanical parts made of silicon become tough, the mechanical parts are less likely to be destroyed even when subjected to an impact.

本発明の第1の実施形態であるひげぜんまいの構成を説明する平面図及び断面図である。It is the top view and sectional drawing explaining the structure of the hairspring which is the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態であるひげぜんまいのぜんまい部を詳細に説明する拡大断面図である。It is an expanded sectional view explaining in detail the mainspring part of the hairspring which is the 1st embodiment of the present invention. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第1の製造方法を説明する断面図であって、溝部を形成する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 1st manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining to the process of forming a groove part. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第1の製造方法を説明する断面図であって、溝部に第2の部分を形成する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 1st manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining even the process of forming the 2nd part in a groove part. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第1の製造方法を説明する断面図であって、ひげぜんまいの形状を形作るためのマスクを形成する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 1st manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining to the process of forming the mask for shaping the shape of a hairspring. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第1の製造方法を説明する断面図であって、ひげぜんまいを基体から分離する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 1st manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining to the process of isolate | separating a hairspring from a base | substrate. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第2の製造方法を説明する断面図であって、溝部を形成する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 2nd manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining to the process of forming a groove part. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第2の製造方法を説明する断面図であって、溝部に第2の部分を形成する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 2nd manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining even the process of forming the 2nd part in a groove part. 本発明の第2の実施形態であるひげぜんまいの第2の製造方法を説明する断面図であって、ひげぜんまいの形状を形成する工程までを説明する図である。It is sectional drawing explaining the 2nd manufacturing method of the hairspring which is the 2nd Embodiment of this invention, Comprising: It is a figure explaining to the process of forming the shape of a hairspring. 本発明の第3の実施形態であるひげぜんまいの構成を説明する平面図及び断面図である。It is the top view and sectional drawing explaining the structure of the hairspring which is the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態であるひげぜんまいの変形例を説明する平面図である。It is a top view explaining the modification of the hairspring which is the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施形態であるてん輪の構成を説明する平面図及び断面図である。It is the top view and sectional drawing explaining the structure of the balance wheel which is the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施形態であるてん輪の変形例を説明する平面図及び断面図である。It is the top view and sectional drawing explaining the modification of the balance wheel which is the 6th Embodiment of this invention.

本発明の機械部品は、シリコンを主成分とする第1の部分と、金属を主成分とする第2の部分とを有し、所定の幅を有する機械部品であって、第1の部分は、その幅方向に、前記第2の部分を挟んで構成している。   The mechanical component of the present invention is a mechanical component having a first part mainly composed of silicon and a second part mainly composed of metal and having a predetermined width, wherein the first part is The second portion is sandwiched in the width direction.

一般にシリコンは脆性を有しており、金属は粘靭性を有している。脆性とは外部からの圧力に対して壊れやすい性質、もろさのことを言い、粘靭性とは、外部からの圧力に対して壊れにくい性質、粘り強さのことを言う。脆性材料であるシリコンを主成分とする第1の部分の内側に、粘靭性を有する金属を主成分とする第2の部分が挟み込まれることにより、機械部品はもろさが緩和され、強靭になる。   Generally, silicon has brittleness, and metal has toughness. Brittleness refers to the property and brittleness that is fragile to external pressure, and toughness refers to the property and tenacity that is difficult to break against external pressure. When the second part mainly composed of a metal having toughness is sandwiched inside the first part mainly composed of silicon which is a brittle material, the mechanical parts are reduced in brittleness and become tough.

以下、本発明の機械部品について、図面を参照して詳細に説明する。
ここでは、本発明の機械部品の一例として、機械式時計の調速機に用いられるシリコン製のひげぜんまい及びてん輪を例に挙げて説明する。また、第1の部分と第2の部分との間に、第2の部分よりも膜厚の薄い金属膜を設ける例で説明する。
Hereinafter, the mechanical parts of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
Here, as an example of the mechanical component of the present invention, a silicon hairspring and balance wheel used in a speed governor of a mechanical timepiece will be described as an example. Further, an example in which a metal film having a thickness smaller than that of the second portion is provided between the first portion and the second portion will be described.

説明にあっては、最初に機械部品の構造を説明し、次いで製造方法を説明する。そして、機械部品の他の例の構造を説明する。   In the description, the structure of the machine part will be described first, and then the manufacturing method will be described. And the structure of the other example of a machine component is demonstrated.

すなわち、第1の実施形態として、図1を用いて本発明の機械部品の一例であるひげぜんまいの概略の構成を説明し、次に、図2を用いてぜんまい部の更に詳細な構成について説明する。そして、このひげぜんまいの製造方法を第2の実施形態として、図3〜図9を用いて説明する。その後に、本発明の機械部品のその他の例として、ひげぜんまいの異なる構成を第3及び第4の実施形態に、ひげぜんまいと共に調速機を構成する要素のてん輪の構成を第5及び第6の実施形態として、それぞれ説明する。   That is, as a first embodiment, a schematic configuration of a hairspring, which is an example of a mechanical component of the present invention, will be described with reference to FIG. 1, and then a further detailed configuration of the mainspring portion will be described with reference to FIG. To do. A method for manufacturing the hairspring will be described as a second embodiment with reference to FIGS. After that, as other examples of the mechanical parts of the present invention, different configurations of the balance spring are used in the third and fourth embodiments, and the configurations of the balance wheel of the elements constituting the governor together with the balance spring are the fifth and fifth embodiments. Each of the six embodiments will be described.

説明にあっては、必要部分のみを示す模式図とし、発明に関係のない部分は省略している。また、同一の構成には同一の番号を付与するものとし、説明を省略する。   In the description, a schematic diagram showing only necessary portions is shown, and portions not related to the invention are omitted. Further, the same number is assigned to the same configuration, and the description is omitted.

[ひげぜんまいの構成の説明:図1]
図1を用いてひげぜんまいの第1の実施形態を説明する。
図1(a)は、ひげぜんまいの平面図である。図1(b)は、ぜんまい部を拡大した図面であって、図1(a)に示す切断線A−A´における断面の様子を模式的に示す断面図である。
[Description of the structure of the hairspring: FIG. 1]
A first embodiment of the hairspring will be described with reference to FIG.
FIG. 1A is a plan view of the hairspring. FIG.1 (b) is drawing which expanded the mainspring part, Comprising: It is sectional drawing which shows typically the mode of the cross section in the cutting line AA 'shown to Fig.1 (a).

図1において、ひげぜんまい1は、中心部に図示しない回転軸体であるてん真と嵌合するための貫通孔3aを有するひげ玉3と、貫通孔3aを中心にしてひげ玉3に巻回されるように設計されたコイル形状のぜんまい部2と、ぜんまい部2の巻き終わりと接続しているひげ持4とから構成されている。ぜんまい部2の巻きとひげ玉3とは接続部3bで接続している。   In FIG. 1, a hairspring 1 is wound around a whisker ball 3 having a through-hole 3a having a through-hole 3a for fitting with a spring which is a rotating shaft body (not shown) at the center, and the through-hole 3a as a center. The coil-shaped mainspring portion 2 is designed so as to be configured, and the whisker 4 is connected to the winding end of the mainspring portion 2. The winding of the mainspring portion 2 and the whisker ball 3 are connected by a connecting portion 3b.

なお、てん真は、調速機を構成するひげぜんまいとてん輪とを同軸に固定する主に円柱形状を有する軸体であり、金属で構成する場合が多い。ひげぜんまいとてん真とは、接着剤を用いて接着してもよい。   Note that the balance spring is a shaft body having a mainly cylindrical shape that coaxially fixes the hairspring and the balance wheel constituting the governor, and is often made of metal. The hairspring and the balance spring may be bonded using an adhesive.

ひげぜんまい1を機械式時計に用いるとき、ひげ持4は、図示しない所定の部材(例えば、地板やフレーム)に接着剤等で固定される。
ひげ玉3の貫通孔3aは、図示しないてん真と嵌合しているため、ひげぜんまい1が伸縮運動を行うことで、てん真が回転する。ひげ持4は、このぜんまい1の動作時に、主に引っ張り力と圧縮力とを受けるが、それらの力に抗うように固定されている。
When the hairspring 1 is used in a mechanical timepiece, the whiskers 4 are fixed to a predetermined member (not shown) (for example, a ground plate or a frame) with an adhesive or the like.
Since the through-hole 3a of the hair ball 3 is fitted with a spring stem (not shown), the balance spring 1 is expanded and contracted to rotate the spring stem. The whiskers 4 receive mainly a tensile force and a compressive force during the operation of the mainspring 1, but are fixed so as to resist these forces.

ひげぜんまい1は、第1の部分11として、シリコンを主成分とする材料から構成されており、図1(a)に示すように、金属を主成分とする第2の部分21は第1の部分11に取り囲まれるようにして構成されている。すなわち、ぜんまい部は、その幅方向に第2の部分21を第1の部分11が挟んでいる。   The hairspring 1 is made of a material whose main component is silicon as the first portion 11, and the second portion 21 whose main component is a metal is the first portion 11, as shown in FIG. It is configured so as to be surrounded by the portion 11. In other words, the mainspring portion has the first portion 11 sandwiching the second portion 21 in the width direction.

ひげぜんまい1を構成する第1の部分11はシリコンであるので、ひげぜんまい1の製造や加工に際して、シリコン半導体基板に対しておこなう深堀りRIE技術を用いることができ、半導体部品を製造する際と同様な公知の製造技術を用いることができる。なお、製造方法の詳細は後述する。   Since the first portion 11 constituting the hairspring 1 is made of silicon, the manufacturing and processing of the hairspring 1 can use the deep RIE technique performed on the silicon semiconductor substrate, and the production of semiconductor components. Similar known manufacturing techniques can be used. Details of the manufacturing method will be described later.

上述のように、ひげぜんまい1は基材となるシリコン半導体基板をドライエッチングして形成するため、図1(a)に示すように、ひげぜんまい1のぜんまい部2と、ひげ玉3と、ひげ持4とは、一体で形成されている。   As described above, the hairspring 1 is formed by dry etching a silicon semiconductor substrate serving as a base material. Therefore, as shown in FIG. 1A, the hairspring portion 2 of the hairspring 1, the hair ball 3, and the hairspring 1 The holding 4 is integrally formed.

ひげぜんまい1を図示しない回転軸体の軸方向から平面視したときの様子が図1(a)に示すものである。図1(b)は、切断線A−A´におけるぜんまい部2の4つの部分を拡大して示す断面図である。   FIG. 1A shows a state in which the hairspring 1 is viewed in plan from the axial direction of a rotating shaft body (not shown). FIG. 1B is an enlarged cross-sectional view showing four portions of the mainspring portion 2 along the cutting line AA ′.

ぜんまい部2は上述の通りひげ玉3及びひげ持4と一体で形成されており、ひげ玉3の周囲を巻回されているような形状を有している。切断線A−A´の部分は、ぜんまい部2の一部分である。このぜんまい部2は上述のごとく1つの構造体であるが、説明しやすいように断面で見たときのそれぞれの周回に当たる4つの部分に、ぜんまい腕201a、201b、201c、201dの名称を付与することにする。   The mainspring portion 2 is formed integrally with the beard ball 3 and the beard holder 4 as described above, and has a shape wound around the beard ball 3. The part of the cutting line AA ′ is a part of the mainspring part 2. The mainspring portion 2 is a single structure as described above, but the names of the mainspring arms 201a, 201b, 201c, and 201d are given to the four portions corresponding to the respective laps when viewed in cross section for easy explanation. I will decide.

図1(b)に示すように、ぜんまい腕201a〜201dは、シリコンを主成分とする第1の部分11a〜11dに挟まれるようにして金属を主成分とする第2の部分21a〜21dが構成されている。また、第1の部分11a〜11dと第2の部分21a〜21dのとの間には、金属膜51a〜51dが構成されている。図1(a)において、金属膜は非常に薄いため、省略している。   As shown in FIG. 1B, the mainspring arms 201a to 201d have second portions 21a to 21d mainly composed of metal so as to be sandwiched between first portions 11a to 11d mainly composed of silicon. It is configured. Further, metal films 51a to 51d are formed between the first portions 11a to 11d and the second portions 21a to 21d. In FIG. 1A, the metal film is omitted because it is very thin.

図1(b)に示す例では、4つのぜんまい腕201a〜201dに、それぞれに第1の部分11a〜11dと第2の部分21a〜21dとが設けてあるが、上述の説明の通り、ぜんまい腕201a〜201dは一体の構造物であるから、第1の部分11a〜11d及び第2の部分21a〜21dさらに金属膜51a〜51dも1つの連続した構造体である。   In the example shown in FIG. 1B, the four mainspring arms 201a to 201d are provided with a first portion 11a to 11d and a second portion 21a to 21d, respectively. Since the arms 201a to 201d are an integral structure, the first portions 11a to 11d, the second portions 21a to 21d, and the metal films 51a to 51d are also one continuous structure.

上述の通り、一体で形成されたぜんまい腕は1つの連続した構造体であるが、このぜんまい腕に設ける第2の部分は複数としてもよい。例えば、図示はしないが、1つのぜんまい腕に設ける第2の部分を複数に分断し、1つのぜんまい腕に断続的に複数の第2の部分が形成されていてもよいのである。   As described above, the integrally formed mainspring arm is one continuous structure, but a plurality of second portions provided on the mainspring arm may be provided. For example, although not shown, the second portion provided on one mainspring arm may be divided into a plurality of portions, and a plurality of second portions may be formed intermittently on one mainspring arm.

また、その分断された第2の部分は、図1(a)のようにぜんまい腕の一平面から見たとき(ひげぜんまい1を図示しない回転軸体の軸方向から平面視したとき)に、図示はしないが四角形や多角形、円形や楕円形などの形状を有するようにしてもよい。   Further, the divided second portion is viewed from one plane of the mainspring arm as shown in FIG. 1A (when the balance spring 1 is viewed in plan from the axial direction of the rotary shaft not shown), Although not shown, the shape may be a rectangle, a polygon, a circle, an ellipse, or the like.

本実施形態では、第1の部分11a〜11dをシリコンで形成し、第2の部分21a〜
21dをニッケル(Ni)で形成し、金属膜51a〜51dを銅(Cu)で形成した。ニッケル(Ni)は粘靱性の高い材料である。よって第2の部分21a〜21dに、ニッケル(Ni)を用いれば、第2の部分21a〜21dが補強材の役目をして、外部から衝撃が加わったとしてもひげぜんまいは破壊され難くなる。
In the present embodiment, the first portions 11a to 11d are formed of silicon, and the second portions 21a to 21d are formed.
21d was formed of nickel (Ni), and the metal films 51a to 51d were formed of copper (Cu). Nickel (Ni) is a highly tough material. Therefore, if nickel (Ni) is used for the second portions 21a to 21d, the second portions 21a to 21d serve as a reinforcing material, and even if an external impact is applied, the hairspring is difficult to be destroyed.

もちろん、第2の部分に用いられる部材はニッケル(Ni)に限定されるものではない。粘靭性を有する金属であれば、いかなる部材であってもかまわない。例えば、金(Au)、銅(Cu)、ニッケルリン(Ni−P)合金、ニッケルタングステン(Ni−W)合金等を使用してもよい。   Of course, the member used for the second portion is not limited to nickel (Ni). Any member may be used as long as it is a metal having toughness. For example, gold (Au), copper (Cu), nickel phosphorus (Ni—P) alloy, nickel tungsten (Ni—W) alloy, or the like may be used.

ひげぜんまいの製造方法は後述するが、金属膜51a〜51dは、導電性を有している部材から選ぶとよい。さらに望ましくは、シリコンに対して密着性が高い部材から選ばれるのがよい。また金属膜51a〜51dを積層膜にしてもよい。本実施形態では金属膜51a〜51dに銅(Cu)を用いたが、この他にニッケル(Ni)やクロム(Cr)と金(Au)の積層膜等を用いてもよい。   Although the method for manufacturing the hairspring will be described later, the metal films 51a to 51d may be selected from members having conductivity. More preferably, the member is selected from members having high adhesion to silicon. The metal films 51a to 51d may be a laminated film. In the present embodiment, copper (Cu) is used for the metal films 51a to 51d. However, a stacked film of nickel (Ni), chromium (Cr) and gold (Au) may be used.

本実施形態において、ぜんまい腕201a〜201dは、幅が50μm、高さが100μmである。また、いずれのぜんまい腕201a〜201dにおいても第1の部分11a〜11dは19.8μmの幅であり、第1の部分11a〜11dに挟まれた第2の部分21a〜21dは10μmの幅で形成されている。   In the present embodiment, the mainspring arms 201a to 201d have a width of 50 μm and a height of 100 μm. In any of the mainspring arms 201a to 201d, the first portions 11a to 11d have a width of 19.8 μm, and the second portions 21a to 21d sandwiched between the first portions 11a to 11d have a width of 10 μm. Is formed.

さらに、第1の部分11a〜11dと第2の部分21a〜21dとの間にある金属膜51a〜51dは0.2μmの厚さで形成されており、第2の部分21a〜21dに比べて非常に薄く形成されている。   Furthermore, the metal films 51a to 51d between the first portions 11a to 11d and the second portions 21a to 21d are formed with a thickness of 0.2 μm, compared with the second portions 21a to 21d. It is very thin.

このように幅方向に50μmしかなく非常に薄い形状のぜんまい腕201a〜201dであっても、粘靭性を有する10μm幅の第2の部分21a〜21dを設けることによって、ぜんまい部2はもろさが緩和され、強靭にすることができる。   Thus, even if the mainspring arms 201a to 201d have only 50 μm in the width direction and have a very thin shape, the mainspring portion 2 is reduced in brittleness by providing the 10 μm wide second portions 21a to 21d having toughness. And can be tough.

金属膜51a〜51dは第1の部分11a〜11dと第2の部分21a〜21dの密着層としての役目をするものであり、十分な密着性が保持されていれば厚くする必要はない。本実施形態においては、強度を向上させるのが目的であり、補強材の役目をする第2の部分をできる限り厚くする方が望ましく、金属膜51a〜51dはできる限り薄く形成するのがよい。   The metal films 51a to 51d serve as an adhesion layer for the first portions 11a to 11d and the second portions 21a to 21d, and need not be thick as long as sufficient adhesion is maintained. In the present embodiment, the purpose is to improve the strength, and it is desirable to make the second portion serving as a reinforcing material as thick as possible, and the metal films 51a to 51d are preferably made as thin as possible.

図1(b)に示す例では、第2の部分21a〜21dを同じ幅で表現しているが、それぞれを異なる幅で形成しても構わない。つまり、ぜんまい部2の周回ごとに幅を変えてもよい。例えば、ひげ玉3からひげ持4に至って、漸次第2の部分の幅を変えるような形状にしてもよいのである。これは、ひげぜんまい1に対して欲するばね特性(例えば、ヤング率など)に鑑みて自由に選択することができる。   In the example shown in FIG. 1B, the second portions 21a to 21d are expressed with the same width, but each may be formed with a different width. That is, the width may be changed for each turn of the mainspring portion 2. For example, the shape may be such that the width of the second portion gradually changes from the whistle ball 3 to the whiskers 4. This can be freely selected in view of the spring characteristics (for example, Young's modulus) desired for the hairspring 1.

[ぜんまい部の形状の説明1:図2]
次に、ひげぜんまいのぜんまい部の異なる構成例を、図2を用いて説明する。説明にあっては、周回方向の1つのぜんまい腕を例にして説明する。
[Description of mainspring shape 1: FIG. 2]
Next, a different configuration example of the mainspring portion of the hairspring will be described with reference to FIG. In the description, a single mainspring arm in the circumferential direction will be described as an example.

図2において、図2(a)はぜんまい腕の一平面側だけに第2の部分を設ける例であり、図2(b)はぜんまい腕の一平面側と対向する他平面側とのそれぞれに第2の部分を設ける例である。いずれも、ぜんまい部は、その幅方向に第2の部分を第1の部分が挟んでいる。   2 (a) is an example in which the second portion is provided only on one plane side of the mainspring arm, and FIG. 2 (b) is an example on each of the other plane side opposite to the one plane side of the mainspring arm. This is an example of providing a second portion. In either case, the mainspring portion has the first portion sandwiching the second portion in the width direction.

図2(a)に示すように、ぜんまい部のぜんまい腕202aにはその一平面2aに第2の部分22aが埋め込まれるようにして設けてある。第2の部分22aと第1の部分12aとの間には金属膜52aが形成されている。   As shown in FIG. 2A, the mainspring arm 202a of the mainspring portion is provided so that the second portion 22a is embedded in the one plane 2a. A metal film 52a is formed between the second portion 22a and the first portion 12a.

本実施形態において、第1の部分12aはシリコンであり、第2の部分22aはニッケル(Ni)であり、金属膜52aは銅(Cu)で形成した。第2の部分22aは粘靭性を有する金属であれば、いかなる部材であってもかまわない。また金属膜52aは導電性を有している部材であれば、いかなる部材であってもかまわない。   In the present embodiment, the first portion 12a is made of silicon, the second portion 22a is made of nickel (Ni), and the metal film 52a is made of copper (Cu). The second portion 22a may be any member as long as it is a metal having toughness. The metal film 52a may be any member as long as it is a conductive member.

図2(a)は周回方向の1つのぜんまい腕を示した図であるが、ぜんまい腕の位置に応じて第2の部分22aの幅や深さを異ならせてもよい。例えば、ひげ玉3からひげ持4に至って、漸次第2の部分の幅と深さを変えるような形状にしてもよい。   FIG. 2A is a diagram showing one mainspring arm in the circumferential direction, but the width and depth of the second portion 22a may be varied depending on the position of the mainspring arm. For example, the shape may be changed so that the width and depth of the second portion are gradually changed from the whiskers 3 to the whiskers 4.

図2(b)に示す例は、ぜんまい部のぜんまい腕203aにはその一平面2aと対向する他平面2bとに2つの第2の部分23a、24aを、それぞれ埋め込むようにして設ける例である。第2の部分23aと第1の部分13aとの間には金属膜53aが形成されており、第2の部分24aと第1の部分13aとの間には金属膜54aが、それぞれ形成されている。   The example shown in FIG. 2B is an example in which the mainspring arm 203a of the mainspring portion is provided with two second portions 23a and 24a embedded in the other plane 2b opposite to the one plane 2a. . A metal film 53a is formed between the second portion 23a and the first portion 13a, and a metal film 54a is formed between the second portion 24a and the first portion 13a. Yes.

本実施形態において、第1の部分13aはシリコンであり、第2の部分23a、24aはニッケル(Ni)であり、金属膜53a、54aは銅(Cu)で形成した。第2の部分23a、24aは粘靭性を有する金属であれば、いかなる部材であってもかまわない。さらに、一平面2a側の第2の部分23aと他平面2b側の第2の部分24aとを異なる部材にしてもよい。また金属膜52aは導電性を有している部材であれば、いかなる部材であってもかまわない。さらに、一平面2a側の金属膜53aと他平面2b側の金属膜54aとを異なる部材にしてもよい。   In the present embodiment, the first portion 13a is silicon, the second portions 23a and 24a are nickel (Ni), and the metal films 53a and 54a are formed of copper (Cu). The second portions 23a and 24a may be any members as long as they are metals having toughness. Further, the second portion 23a on the one plane 2a side and the second portion 24a on the other plane 2b side may be different members. The metal film 52a may be any member as long as it is a conductive member. Further, the metal film 53a on the one plane 2a side and the metal film 54a on the other plane 2b side may be different members.

本実施形態において、一平面2a側に形成した第2の部分23a及び対向する他平面2b側に形成した第2の部分24aの幅と深さはそれぞれ異ならせてもかまわない。また、第2の部分23aと第2の部分24aとの位置を平面的にずらして形成してもよい。それぞれの幅や深さを異ならせたり、位置をずらしたりすることでひげぜんまいとしての重量バランスを取ることができる。   In the present embodiment, the width and depth of the second portion 23a formed on the one plane 2a side and the second portion 24a formed on the opposite other plane 2b side may be different from each other. Further, the positions of the second portion 23a and the second portion 24a may be formed by shifting in a plane. It is possible to balance the weight of the hairspring by changing the width and depth of each, and shifting the position.

図1(b)と図2(a)と図2(b)との構成の違いは、ひげぜんまいを組み込んだ時計の構造などに鑑みて自由に選択すればよく、いずれの構造であっても、本発明の目的である衝撃を受けても破壊しにくいひげぜんまいを提供することができる。   The difference in configuration between FIG. 1 (b), FIG. 2 (a), and FIG. 2 (b) may be freely selected in view of the structure of a watch incorporating a hairspring, and any structure may be used. Therefore, it is possible to provide a hairspring that is not easily broken even when subjected to an impact, which is an object of the present invention.

上述では、本発明の機械部品の一例として、機械式時計の調速機に用いられるシリコン製のひげぜんまいを例に挙げて説明したが、本発明はひげぜんまいに限定されるものではない。シリコンで形作られた機械部品で、衝撃を受けやすい部分に構成される部品であれば、いかなる部品においても本発明は適用可能である。詳しくは後述するが、例えば、調速機を構成するてん輪、時計部品である歯車、ガンギ車、アンクル等、文字板や文字板に設ける装飾部材(マークや時字など)、時刻等を報知するための指針にも用いることができる。   In the above description, the silicon hairspring used for the governor of the mechanical timepiece has been described as an example of the mechanical component of the present invention. However, the present invention is not limited to the hairspring. The present invention can be applied to any part as long as it is a mechanical part formed of silicon and configured in a portion susceptible to impact. Although details will be described later, for example, a dial wheel constituting a governor, a gear as a clock part, an escape wheel, an ankle, etc., a dial or a decorative member (such as a mark or a time letter) provided on the dial, time, etc. It can also be used as a guideline.

[第2の実施形態の説明:図3〜図9]
次に、第2の実施形態として機械部品の製造方法について、工程図を用いて説明する。
ここでは、本発明の機械部品の製造方法の一例として、機械式時計の調速機に用いられるシリコン製のひげぜんまいの製造方法を例に挙げて説明する。
第1の製造方法は、主に図3、図4、図5、図6を用いて説明する。第2の製造方法は
、主に図7、図8、図9を用いて説明する。
[Explanation of Second Embodiment: FIGS. 3 to 9]
Next, a method for manufacturing a mechanical component will be described as a second embodiment with reference to process drawings.
Here, as an example of the method for manufacturing a mechanical component of the present invention, a method for manufacturing a silicon hairspring used for a governor of a mechanical timepiece will be described as an example.
The first manufacturing method will be described mainly with reference to FIG. 3, FIG. 4, FIG. 5, and FIG. The second manufacturing method will be described mainly with reference to FIGS.

製造方法はひげぜんまい全体を形成する技術であるが、本発明の特徴である第1の部分及び第2の部分を見やすくするために、ぜんまい腕部分を拡大した図1(b)の断面図を用いて説明する。したがって、説明にあっては適宜図1(a)も参照されたい。また、本実施形態では、第1の部分はシリコン、第2の部分はニッケル(Ni)で形成した例で説明する。   Although the manufacturing method is a technique for forming the entire hairspring, the cross-sectional view of FIG. 1B in which the mainspring arm portion is enlarged is shown in order to make the first portion and the second portion that are the features of the present invention easier to see. It explains using. Therefore, in the description, please refer to FIG. In the present embodiment, an example in which the first portion is formed of silicon and the second portion is formed of nickel (Ni) will be described.

[第1の製造方法の説明:図3、図4、図5、図6]
第1の製造方法は一平面から対向する他平面に縦貫する第2の部分を設けたひげぜんまいを製造する方法であり、作業性に優れ生産性が良好な製造方法である。
まず、図3(a)に示すように、少なくともひげぜんまい1が取り出せる大きさの面積と厚みとを有するSOI(Silicon On Insulatorの略)基板60を準備する。SOI基板60とは、シリコンからなる基体630とシリコンからなるシリコン活性層610との間に酸化シリコン(SiO2)からなる絶縁層620を挟んだ構造のシリコン半導体基板である。トランジスタの寄生容量を減らせるので、LSIの動作速度向上と消費電力削減を目的に、半導体部品の製造分野で広く用いられている基板である。
[Description of First Manufacturing Method: FIGS. 3, 4, 5, and 6]
The first manufacturing method is a method for manufacturing a hairspring provided with a second portion that penetrates from one plane to the opposite other plane, and has excellent workability and good productivity.
First, as shown in FIG. 3A, an SOI (abbreviation of Silicon On Insulator) substrate 60 having at least an area and a thickness that allow the hairspring 1 to be taken out is prepared. The SOI substrate 60 is a silicon semiconductor substrate having a structure in which an insulating layer 620 made of silicon oxide (SiO 2 ) is sandwiched between a base 630 made of silicon and a silicon active layer 610 made of silicon. Since the parasitic capacitance of the transistor can be reduced, the substrate is widely used in the field of manufacturing semiconductor components for the purpose of improving the operation speed of LSI and reducing power consumption.

本第1の製造方法では、このSOI基板60のシリコン活性層610を利用してひげぜんまい1を製造する。したがって、ひげぜんまい1の厚みよりも厚いシリコン活性層610を有するSOI基板60を準備するなど、製造するひげぜんまい1の厚みにあわせて、シリコン活性層610の厚みを選択する。   In the first manufacturing method, the hairspring 1 is manufactured using the silicon active layer 610 of the SOI substrate 60. Therefore, the thickness of the silicon active layer 610 is selected in accordance with the thickness of the hairspring 1 to be manufactured, such as preparing an SOI substrate 60 having the silicon active layer 610 thicker than the thickness of the hairspring 1.

しかし、シリコン活性層610の厚みが得たいひげぜんまい1の厚みと同じであるSOI基板60とすれば、シリコン活性層610を切削や研磨するなどしてひげぜんまい1の厚みと同じにする工程が省略できる。   However, if the SOI substrate 60 is the same as the thickness of the hairspring 1 where the thickness of the silicon active layer 610 is desired to be obtained, the step of making the silicon active layer 610 the same as the thickness of the hairspring 1 by cutting or polishing the silicon active layer 610 is performed. Can be omitted.

本実施形態では100μmの厚みのひげぜんまいを製造するために100μmの厚みのシリコン活性層610を有するSOI基板60を用意した。また絶縁層620の厚みは2μmで、基体630の厚みは500μmである。基体630は後述する製造方法においては基台となる部分であるので、その厚みは厚い方が好ましい。
なお、ひげぜんまい1の生産性を考慮に入れれば、ひげぜんまい1が多数個取り出せる大きさのSOI基板60である方が好ましい。
In this embodiment, an SOI substrate 60 having a silicon active layer 610 having a thickness of 100 μm is prepared in order to manufacture a hairspring having a thickness of 100 μm. The insulating layer 620 has a thickness of 2 μm, and the base 630 has a thickness of 500 μm. Since the base 630 is a part that becomes a base in the manufacturing method described later, it is preferable that the base 630 is thick.
If the productivity of the hairspring 1 is taken into consideration, it is preferable that the SOI substrate 60 has a size that allows a large number of hairsprings 1 to be taken out.

次に、図3(b)に示すように、SOI基板60のシリコン活性層610上に、ひげぜんまい1の第2の部分21a〜21dを形成するためにこの第2の部分21a〜21dに相当する形状で開口したマスク80を形成する。マスク80の形成は、半導体部品の製造分野で一般に用いられているフォトリソグラフィ技術で形成する。マスク80は、例えばシリコン酸化膜である。特に限定しないが、このマスク80は1μmの膜厚で形成する。   Next, as shown in FIG. 3B, the second portions 21a to 21d of the mainspring 1 are formed on the silicon active layer 610 of the SOI substrate 60 so as to correspond to the second portions 21a to 21d. A mask 80 opened in a shape to be formed is formed. The mask 80 is formed by a photolithography technique generally used in the field of manufacturing semiconductor components. The mask 80 is, for example, a silicon oxide film. Although not particularly limited, the mask 80 is formed with a film thickness of 1 μm.

その後、図3(c)に示すように、処理時間を管理しながら混合ガス30(SF6+C48)を用いて、シリコン活性層610をRIE技術でドライエッチングすることにより、所定の幅と深さの溝部70a〜70dがシリコン活性層611に加工される。シリコン活性層611自体はすでに説明したシリコン活性層610そのものであるが、加工された形状であるため、便宜上、別符号を付与することにする。 Thereafter, as shown in FIG. 3C, the silicon active layer 610 is dry-etched by the RIE technique using the mixed gas 30 (SF 6 + C 4 F 8 ) while managing the processing time, thereby obtaining a predetermined width. The groove portions 70 a to 70 d having the depths are processed into the silicon active layer 611. The silicon active layer 611 itself is the silicon active layer 610 already described, but since it has a processed shape, another reference numeral is given for convenience.

このとき、酸化シリコンからなる絶縁層620はシリコンに比べてドライエッチングされ難いため、エッチング防御層の役目をなし、下層のシリコンからなる基体630まではドライエッチングされない。   At this time, since the insulating layer 620 made of silicon oxide is harder to be dry etched than silicon, the insulating layer 620 serves as an etching protection layer, and the base 630 made of lower silicon is not dry etched.

その後に、マスク80のみを除去することで、図4(a)に示すような、溝部70a〜70dがシリコン活性層611に加工されたSOI基板60を得る。このマスク80の除去は、例えば、SOI基板60をフッ化水素酸を主成分とする公知のエッチング液に浸漬しておこなう。   Thereafter, by removing only the mask 80, an SOI substrate 60 in which the groove portions 70a to 70d are processed into the silicon active layer 611 as shown in FIG. The removal of the mask 80 is performed, for example, by immersing the SOI substrate 60 in a known etching solution mainly containing hydrofluoric acid.

マスク80を除去するときに、シリコンからなるシリコン活性層611と基体630はエッチングされないが、マスク80と同じ酸化シリコンからなる絶縁層620はエッチング液に接触する部分が多少エッチングされる。図4(a)に示すように、溝部70a〜70dの底部の絶縁層620の膜厚が薄くなっているのはそのためである。   When the mask 80 is removed, the silicon active layer 611 made of silicon and the base 630 are not etched, but the insulating layer 620 made of the same silicon oxide as that of the mask 80 is slightly etched at the portion in contact with the etching solution. For this reason, as shown in FIG. 4A, the thickness of the insulating layer 620 at the bottom of the grooves 70a to 70d is reduced.

しかしながら、絶縁層620が部分的にエッチングされたとしても、第1の製造方法においては問題にはならない。後述するように、この絶縁層620は除去してしまうためである。したがって、この絶縁層620は、エッチング防御層として多少厚く形成してもよい。   However, even if the insulating layer 620 is partially etched, there is no problem in the first manufacturing method. This is because the insulating layer 620 is removed as will be described later. Therefore, the insulating layer 620 may be formed to be somewhat thick as an etching protection layer.

次に、図4(b)に示すように、SOI基板60の溝部70a〜70dが加工されたシリコン活性層611の表面及び溝部70a〜70dの内面(内壁と底部)に導電性の金属膜50を成膜する。本実施形態では金属膜50として銅(Cu)を真空成膜法の1つであるスパッタリング法で0.2μmの厚さで成膜した。   Next, as shown in FIG. 4B, a conductive metal film 50 is formed on the surface of the silicon active layer 611 in which the groove portions 70a to 70d of the SOI substrate 60 are processed and the inner surfaces (inner walls and bottom portions) of the groove portions 70a to 70d. Is deposited. In this embodiment, copper (Cu) is formed as the metal film 50 with a thickness of 0.2 μm by sputtering, which is one of vacuum film formation methods.

金属膜50は銅(Cu)に限定されるものでなく、導電性を有しておりシリコン活性層611と密着性が良好であれば、いかなる部材を選んでもかまわない。また、単層膜である必要もなく、積層膜であってもよい。例えばニッケル(Ni)や、クロム(Cr)と金(Au)との積層膜であってもかまわない。   The metal film 50 is not limited to copper (Cu), and any member may be selected as long as it has conductivity and has good adhesion to the silicon active layer 611. Further, it is not necessary to be a single layer film, and may be a laminated film. For example, a laminated film of nickel (Ni) or chromium (Cr) and gold (Au) may be used.

また、金属膜50の成膜方法もスパッタリング法に限定されるものではない。シリコン活性層611の表面及び溝部70a〜70dの内面に成膜することができれば、いかなる成膜法を利用してもかまわない。例えば蒸着法、溶射法、インクジェット法、無電解メッキ法等が利用可能である。   Further, the method for forming the metal film 50 is not limited to the sputtering method. Any film forming method may be used as long as it can be formed on the surface of the silicon active layer 611 and the inner surfaces of the grooves 70a to 70d. For example, a vapor deposition method, a thermal spraying method, an ink jet method, an electroless plating method, or the like can be used.

その後、溝部70a〜70dを覆うように、SOI基板60の上部に第2の部分20となる金属膜を、真空成膜法の1つであるスパッタリング法で成膜する。もちろん、これは一例であって、その他の知られている成膜技術を用いてもよい。   Thereafter, a metal film to be the second portion 20 is formed on the SOI substrate 60 so as to cover the groove portions 70a to 70d by a sputtering method which is one of vacuum film forming methods. Of course, this is only an example, and other known film formation techniques may be used.

もちろん、第2の部分20を構成する金属膜の形成方法は、上述のスパッタリング法に代表されるような成膜技術とは異なる技術を用いてもよい。   Of course, the metal film forming the second portion 20 may be formed using a technique different from the film forming technique represented by the above-described sputtering method.

例えば、図4(c)に示すように、金属膜50を電極として利用し、メッキ液の浴中で金属膜50に電界を印加し、所定の金属イオンを金属膜50上に電着させて第2の部分20を形成するのである。金属膜50は溝部70a〜70dの内面にも成膜されているので、溝部70a〜70dの内側にも第2の部分20は形成され、最終的に第2の部分20は溝部70a〜70dの内側に充填される。このように電解メッキによって構造体を形成する方法を一般に電鋳法と称する。   For example, as shown in FIG. 4C, the metal film 50 is used as an electrode, an electric field is applied to the metal film 50 in a bath of plating solution, and predetermined metal ions are electrodeposited on the metal film 50. The second portion 20 is formed. Since the metal film 50 is also formed on the inner surfaces of the groove portions 70a to 70d, the second portion 20 is also formed inside the groove portions 70a to 70d, and finally the second portion 20 is formed of the groove portions 70a to 70d. Filled inside. Such a method of forming a structure by electrolytic plating is generally called an electroforming method.

本実施形態では、スルファミン酸ニッケルメッキ液を用いて電鋳することで、溝部70a〜70dの内面にニッケル(Ni)をメッキ成長させ、ニッケル(Ni)からなる第2の部分20を形成した。   In the present embodiment, nickel (Ni) is plated on the inner surfaces of the groove portions 70a to 70d by electroforming using a nickel sulfamate plating solution to form the second portion 20 made of nickel (Ni).

第2の部分20はニッケル(Ni)に限定されるものではなく、電鋳法によって形成することができれば、いかなる部材であってもかまわない。例えば金(Au)、銅(Cu)
、ニッケルリン(Ni−P)合金、ニッケルタングステン(Ni―W)合金等が形成可能である。
The second portion 20 is not limited to nickel (Ni), and may be any member as long as it can be formed by electroforming. For example, gold (Au), copper (Cu)
Nickel phosphorus (Ni—P) alloy, nickel tungsten (Ni—W) alloy, etc. can be formed.

このように、電鋳法を用いて第2の部分20を形成するときは、下地の金属膜50を電極として用いることができる。この場合、図示はしないがシリコン活性層611上の金属膜50の形状を、メッキ液の浴中に電界を印加する端子が金属膜50に接触しやすいような面積の広いランド形状などにすると好ましい。   As described above, when the second portion 20 is formed by electroforming, the underlying metal film 50 can be used as an electrode. In this case, although not shown, it is preferable that the shape of the metal film 50 on the silicon active layer 611 be a land shape having a wide area such that a terminal to which an electric field is applied in the bath of the plating solution is easily in contact with the metal film 50. .

その後に、シリコン活性層611の平面上に形成された第2の部分20と金属膜50とを除去することで、図5(a)に示すようなシリコン活性層611に第2の部分21a〜21dが金属膜51a〜51dを介して埋め込まれた状態のSOI基板60を得る。   Thereafter, the second portion 20 formed on the plane of the silicon active layer 611 and the metal film 50 are removed, so that the second portions 21a to 21a on the silicon active layer 611 as shown in FIG. An SOI substrate 60 in which 21d is embedded through the metal films 51a to 51d is obtained.

この金属膜51a〜51dは、図4に示す金属膜50から加工されたものであるが、図5(a)以降は、溝部70a〜70dに対応した部分ごとに、金属膜51a〜51dの番号を付与することにする。   These metal films 51a to 51d are processed from the metal film 50 shown in FIG. 4, but in FIG. 5A and subsequent figures, the numbers of the metal films 51a to 51d are provided for each of the portions corresponding to the groove portions 70a to 70d. Will be given.

このシリコン活性層611の平面上に形成された第2の部分20と金属膜50との除去は、例えば、研磨加工によっておこなう。このようにすれば、ぜんまい腕の高さ方向に第1の部分及び第2の部分を露出させるようにでき、ぜんまい腕の幅方向にのみ第1の部分が第2の部分を挟むような構成にできる。   The removal of the second portion 20 and the metal film 50 formed on the plane of the silicon active layer 611 is performed by, for example, polishing. In this way, the first portion and the second portion can be exposed in the height direction of the mainspring arm, and the first portion sandwiches the second portion only in the width direction of the mainspring arm. Can be.

研磨加工は、第2の部分20と金属膜50とを除去するだけでなく、シリコン活性層611の高さを調整したり、シリコン活性層611の平面を鏡面化したりすることができる。これにより、寸法精度の高いひげぜんまい1を製造できる。   The polishing process can not only remove the second portion 20 and the metal film 50 but also adjust the height of the silicon active layer 611 or mirror the plane of the silicon active layer 611. Thereby, the hairspring 1 with high dimensional accuracy can be manufactured.

本実施形態において研磨加工の方法は限定はしない。例えば、公知のCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学機械研磨)法を用いることができる。   In this embodiment, the polishing method is not limited. For example, a known CMP (Chemical Mechanical Polishing) method can be used.

次に、図5(b)に示すように、SOI基板60のぜんまい部2となるぜんまい腕201a〜201dの幅に相当する部分を覆うようにマスク81を知られているフォトリソグラフィ技術で形成する。上述の通りこのマスク81は図示しないがひげぜんまい1の全体を形作る形状である。マスク81は、例えばシリコン酸化膜である。特に限定しないが、このマスク81は、SOI基板60のシリコン活性層611の表面より2μmの膜厚となるように形成する。   Next, as shown in FIG. 5B, a mask 81 is formed by a known photolithography technique so as to cover a portion corresponding to the width of the mainspring arms 201a to 201d to be the mainspring portion 2 of the SOI substrate 60. . As described above, the mask 81 has a shape that forms the entire hairspring 1 although not shown. The mask 81 is, for example, a silicon oxide film. Although not particularly limited, the mask 81 is formed to have a thickness of 2 μm from the surface of the silicon active layer 611 of the SOI substrate 60.

その後に、図6(a)に示すように、混合ガス30(SF6+C48)を用いて、SOI基板60のシリコン活性層611を深堀りRIE技術でドライエッチングする。これにより、シリコン活性層611は第1の部分11a〜11dの形状に加工され、絶縁層620上に第1の部分11a〜11dで第2の部分21a〜21dを挟んだ構造のひげぜんまい1の形状を得る。この状態では、図示はしないが、ひげ玉3の貫通孔3aも絶縁層620まで貫通している。 Thereafter, as shown in FIG. 6A, the silicon active layer 611 of the SOI substrate 60 is deeply etched using the mixed gas 30 (SF 6 + C 4 F 8 ) and dry-etched by the RIE technique. Accordingly, the silicon active layer 611 is processed into the shape of the first portions 11a to 11d, and the hairspring 1 having a structure in which the second portions 21a to 21d are sandwiched between the first portions 11a to 11d on the insulating layer 620. Get shape. In this state, although not shown, the through hole 3 a of the whistle ball 3 also penetrates to the insulating layer 620.

その後に、マスク81と絶縁層620と金属膜51a〜51dの絶縁層620側の一部とを除去することで、図6(b)に示すようにひげぜんまい1を基体630から分離して完成に至る。マスク81及び絶縁層620は、いずれも酸化シリコンからなるので、同時に除去することができ、例えば、SOI基板60をフッ化水素酸を主成分とする公知のエッチング液に浸漬しておこなう。このような手法を一般的にリフトオフと称する。   Thereafter, the mask 81, the insulating layer 620, and a part of the metal films 51a to 51d on the insulating layer 620 side are removed, whereby the hairspring 1 is separated from the base body 630 and completed as shown in FIG. To. Since both the mask 81 and the insulating layer 620 are made of silicon oxide, they can be removed at the same time. For example, the SOI substrate 60 is immersed in a known etching solution mainly containing hydrofluoric acid. Such a method is generally called lift-off.

図6(b)に示す金属膜51a〜51dの形状は、ひげぜんまい1を基体630から分
離した後に、基体630側の金属膜51a〜51dをエッチングすることができるエッチング液に浸漬させることで得られる。本実施形態では金属膜51a〜51dを銅(Cu)で形成したので、塩化第二鉄系のエッチング液で除去した。この金属膜の除去は、上述のリフトオフと連続して行ってもよい。
The shapes of the metal films 51a to 51d shown in FIG. 6B are obtained by separating the mainspring 1 from the base 630 and then immersing the metal films 51a to 51d on the base 630 side in an etching solution capable of etching. It is done. In this embodiment, since the metal films 51a to 51d are formed of copper (Cu), they are removed with a ferric chloride-based etching solution. The removal of the metal film may be performed continuously with the lift-off described above.

もちろん、CMP法を用いて研磨することで、基体630側の金属膜51a〜51dを除去することができるが、その場合は、研磨中にひげぜんまい1が伸縮するなどしないように固定する必要がある。研磨中にひげぜんまい1が動いてしまうと、研磨に係る力で破壊が生じてしまいかねないからである。   Of course, the metal films 51a to 51d on the base 630 side can be removed by polishing using the CMP method, but in this case, it is necessary to fix the hairspring 1 so as not to expand and contract during the polishing. is there. This is because if the balance spring 1 moves during polishing, the force related to polishing may cause destruction.

本実施形態では、最後に金属膜51a〜51dの一部分をエッチングしてぜんまい腕の基体630側の平面から金属膜を除去したが、その平面に金属膜を残しても構わない。
その場合は、ぜんまい腕201a〜201dに対応するように残留させた金属膜以外の部分の除去を行ってから、深堀りRIE技術によりSOI基板60をドライエッチングすればよい。
In the present embodiment, finally, a part of the metal films 51a to 51d is etched to remove the metal film from the plane on the main body 630 side of the mainspring arm, but the metal film may be left on the plane.
In that case, after removing portions other than the remaining metal film so as to correspond to the mainspring arms 201a to 201d, the SOI substrate 60 may be dry etched by the deep RIE technique.

以上説明した第1の製造方法は、SOI基板60をドライエッチングして形成したシリコン活性層610を貫通する溝部70a〜70dに、スパッタリング法や電鋳法によって第2の部分21a〜21dを充填し、リフトオフにより基体から分離するという手法である。   In the first manufacturing method described above, the groove portions 70a to 70d penetrating the silicon active layer 610 formed by dry etching the SOI substrate 60 are filled with the second portions 21a to 21d by sputtering or electroforming. In this method, the substrate is separated from the substrate by lift-off.

この第1の製造方法によれば、SOI基板60の一平面だけを加工するので、作業工程が少なく、生産性が良好であるというメリットがある。また、非常に薄い形状のひげぜんまい1を製造しようとした場合でも、シリコン活性層610の厚みを薄くするだけでよく、基台となる厚みの厚い基体630は加工されずに最終工程まで残るので、SOI基板60を製造工程区画間で移動させるときに、作業性が良好であるというメリットもある。   According to the first manufacturing method, since only one plane of the SOI substrate 60 is processed, there are advantages that the number of work steps is small and the productivity is good. Even when trying to manufacture the hairspring 1 having a very thin shape, it is only necessary to reduce the thickness of the silicon active layer 610, and the thick base 630 as a base remains without being processed until the final process. There is also a merit that workability is good when the SOI substrate 60 is moved between the manufacturing process sections.

[第2の製造方法の説明:図2、図7、図8、図9]
次に、第2の製造方法を説明する。この製造方法は、図2(b)に示す、ひげぜんまいの一平面2aと対向する他平面2bとにそれぞれ異なる第2の部分23a、24aを設けるものである。安価な単層の基板を利用できるので、ひげぜんまいのコストダウンに貢献できるというメリットがある。
[Description of Second Manufacturing Method: FIGS. 2, 7, 8, and 9]
Next, the second manufacturing method will be described. In this manufacturing method, different second portions 23a and 24a are provided on one plane 2a of the hairspring and the other plane 2b opposite to each other as shown in FIG. Since an inexpensive single-layer substrate can be used, there is an advantage that the cost of the hairspring can be reduced.

まず、図7(a)に示すように、少なくともひげぜんまい1が取り出せる大きさの面積と厚みとを有するシリコンのバルク基板63を準備する。一般に第1の製造方法で用いた絶縁層を内挿した積層構造のSOI基板に対して、シリコン単体からなる単層のシリコン半導体基板をバルク基板と称する。ひげぜんまいの生産性を考慮に入れれば、ひげぜんまい1が多数個取り出せる大きさのバルク基板63である方が好ましい。   First, as shown in FIG. 7A, a silicon bulk substrate 63 having at least an area and a thickness that allow the hairspring 1 to be taken out is prepared. In general, a single-layer silicon semiconductor substrate made of silicon alone is referred to as a bulk substrate with respect to an SOI substrate having a stacked structure in which an insulating layer used in the first manufacturing method is inserted. In consideration of the productivity of the hairspring, it is preferable that the bulk substrate 63 is sized so that a large number of hairsprings 1 can be taken out.

次に、図7(b)に示すように、バルク基板63の一平面6aとそれに対向する他平面6bとに、ひげぜんまい1の第2の部分23a、24aを形成するために、この第2の部分23a、24aに相当する形状で開口したマスク82a、82bを形成する。   Next, as shown in FIG. 7B, in order to form the second portions 23a and 24a of the hairspring 1 on one plane 6a of the bulk substrate 63 and the other plane 6b opposite to the second plane 6a, Masks 82a and 82b having openings corresponding to the portions 23a and 24a are formed.

マスク82a、82bの形成は、半導体部品の製造分野で一般に用いられているフォトリソグラフィ技術で形成する。マスク82a、82bは、例えばシリコン酸化膜である。特に限定しないが、このマスク82a、82bはそれぞれ1μmの膜厚で形成する。   The masks 82a and 82b are formed by a photolithography technique generally used in the field of manufacturing semiconductor components. The masks 82a and 82b are, for example, silicon oxide films. Although not particularly limited, the masks 82a and 82b are each formed with a film thickness of 1 μm.

マスク82aとマスク82bとは必ずしも同時に形成する必要はない。まず一平面6a側のマスク82aを形成してから、次に他平面6b側のマスク82bを形成してもよい。最終的に、図7(b)に示すように一平面6aと他平面6bとにマスク82aとマスク8
2bとがそれぞれ形成されればよい。
The mask 82a and the mask 82b are not necessarily formed at the same time. First, the mask 82a on the one plane 6a side may be formed, and then the mask 82b on the other plane 6b side may be formed. Finally, as shown in FIG. 7B, a mask 82a and a mask 8 are formed on one plane 6a and another plane 6b.
2b may be formed.

また本実施形態ではマスク82aの開口部とマスク82bの開口部がバルク基板63の厚さ方向に位置ずれなく同じ位置に形成されているが、それぞれの開口部をずれた位置関係で形成してもかまわない。さらにマスク82aの開口部とマスク82bの開口部との幅を異ならせてもかまわない。このようにするとぜんまい腕の断面は矩形ではなくなるが、多角形にすることができるため、製造しようとするひげぜんまい1に対して欲するばね特性(例えば、ヤング率など)を鑑みて自由に選択することができる。   Further, in this embodiment, the opening of the mask 82a and the opening of the mask 82b are formed at the same position without being displaced in the thickness direction of the bulk substrate 63. It doesn't matter. Further, the width of the opening of the mask 82a may be different from the width of the opening of the mask 82b. In this way, the cross-section of the mainspring arm is not rectangular, but can be made polygonal, so that it can be freely selected in view of the spring characteristics (for example, Young's modulus) desired for the hairspring 1 to be manufactured. be able to.

そして次に、図7(c)に示すように、処理時間を管理しながら混合ガス30(SF6+C48)を用いて、バルク基板63をRIE技術でドライエッチングすることにより、バルク基板63の一平面6a側に所定の幅と深さの溝部71a〜71dを、対向する他平面6b側に所定の幅と深さの溝部72a〜72dを形成する。 Then, as shown in FIG. 7C, the bulk substrate 63 is dry-etched by the RIE technique using the mixed gas 30 (SF 6 + C 4 F 8 ) while managing the processing time, thereby obtaining the bulk substrate. Grooves 71a to 71d having a predetermined width and depth are formed on one flat surface 6a side of 63, and groove portions 72a to 72d having a predetermined width and depth are formed on the opposite other flat surface 6b side.

バルク基板63の一平面6a側の溝部71a〜71dと他平面側の溝部72a〜72dとは必ずしも同時に形成する必要はない。まず一平面6a側の溝部71a〜71dを形成してから次に他平面6b側の溝部72a〜72dを形成してもよい。最終的に、図7(c)に示すように一平面6aと他平面6bとに溝部71a〜71dと溝部72a〜72dとがそれぞれ形成されればよい。   The groove portions 71a to 71d on the one plane 6a side of the bulk substrate 63 and the groove portions 72a to 72d on the other plane side are not necessarily formed simultaneously. First, the grooves 71a to 71d on the one plane 6a side may be formed, and then the grooves 72a to 72d on the other plane 6b side may be formed. Finally, as shown in FIG.7 (c), the groove parts 71a-71d and the groove parts 72a-72d should just be formed in the one plane 6a and the other plane 6b, respectively.

その後に、マスク82a、82bを除去することで、図8(a)に示す一平面6a側に溝部71a〜71dが設けられ、対向する他平面6b側に溝部72a〜72dが設けられたバルク基板63を得る。このマスク82a、82bの除去は、例えば、バルク基板63をフッ化水素酸を主成分とする公知のエッチング液に浸漬することで、同時におこなうことができる。   Thereafter, by removing the masks 82a and 82b, the bulk substrate in which the grooves 71a to 71d are provided on the one plane 6a side shown in FIG. 8A and the grooves 72a to 72d are provided on the opposite other plane 6b side. 63 is obtained. The removal of the masks 82a and 82b can be performed simultaneously by, for example, immersing the bulk substrate 63 in a known etching solution mainly containing hydrofluoric acid.

次に、図8(b)に示すように、バルク基板63の一平面6aと溝部71a〜71dの内面とに導電性の金属膜501を、一方、バルク基板63の他平面6bと溝部72a〜72dの内面とに導電性の金属膜502を成膜する。両面を同時に成膜することができる両面スパッタリング装置を利用すれば、金属膜501と金属膜502とを同時に成膜することができ、効率よく成膜できる。本実施形態では、いずれも銅(Cu)を0.2μmの厚さで成膜した。   Next, as shown in FIG. 8B, a conductive metal film 501 is formed on one plane 6a of the bulk substrate 63 and the inner surfaces of the grooves 71a to 71d, while the other plane 6b of the bulk substrate 63 and the grooves 72a to 72d. A conductive metal film 502 is formed on the inner surface of 72d. If a double-sided sputtering apparatus that can form both surfaces at the same time is used, the metal film 501 and the metal film 502 can be simultaneously formed, and the film can be formed efficiently. In this embodiment, copper (Cu) was formed in a thickness of 0.2 μm in all cases.

バルク基板63の一平面6a側に成膜される金属膜501と、他平面6b側に成膜される金属膜502とは必ずしも同時に成膜する必要はない。まず一平面6a側の金属膜501を成膜してから、次に他平面6b側の金属膜502を成膜してもよい。最終的に、図8(b)に示すように一平面6aに金属膜501が成膜され、他平面6bに金属膜502が成膜されればよい。   The metal film 501 formed on the one plane 6a side of the bulk substrate 63 and the metal film 502 formed on the other plane 6b side are not necessarily formed simultaneously. The metal film 501 on the one plane 6a side may be formed first, and then the metal film 502 on the other plane 6b side may be formed. Finally, as shown in FIG. 8B, the metal film 501 may be formed on the one plane 6a and the metal film 502 may be formed on the other plane 6b.

さらに、金属膜501、502は銅(Cu)に限定されるものでなく、導電性を有しておりシリコンからなるバルク基板63と密着性が良好であれば、いかなる部材を選んでもかまわない。また、単層膜である必要もなく、積層膜であってもよい。例えばニッケル(Ni)や、クロム(Cr)と金(Au)の積層膜であってもかまわない。   Furthermore, the metal films 501 and 502 are not limited to copper (Cu), and any member may be selected as long as it has conductivity and has good adhesion to the bulk substrate 63 made of silicon. Further, it is not necessary to be a single layer film, and may be a laminated film. For example, a laminated film of nickel (Ni) or chromium (Cr) and gold (Au) may be used.

また、金属膜501、502の成膜方法もスパッタリング法に限定されるものではない。バルク基板64の一平面6aと、対向する他平面6bと、溝部71a〜71dの内面と、溝部72a〜72bとに成膜することができれば、いかなる成膜法を利用してもかまわない。例えば蒸着法、溶射法、インクジェット法、無電解メッキ法等も利用可能である。   Further, the deposition method of the metal films 501 and 502 is not limited to the sputtering method. Any film forming method may be used as long as the film can be formed on one flat surface 6a of the bulk substrate 64, the opposite flat surface 6b, the inner surfaces of the groove portions 71a to 71d, and the groove portions 72a to 72b. For example, a vapor deposition method, a thermal spraying method, an ink jet method, an electroless plating method, or the like can be used.

その後、すでに説明した第1の実施形態と同様に、溝部71a〜71d及び溝部72a
〜72dを埋めるように、第2の部分20a、20bをスパッタリング法などの成膜技術を用いて形成する。
Thereafter, as in the first embodiment already described, the groove portions 71a to 71d and the groove portion 72a.
The second portions 20a and 20b are formed using a film forming technique such as a sputtering method so as to fill up to 72d.

もちろん、電鋳法を用いてもよく、その場合は、図8(c)に示すように、金属膜501、502を電極として利用し、メッキ液の浴中で金属膜501、502に電界を印加し、所定の金属イオンを金属膜501、502上に電着させて第2の部分20a、20bを形成する。   Of course, an electroforming method may be used. In this case, as shown in FIG. 8C, the metal films 501 and 502 are used as electrodes, and an electric field is applied to the metal films 501 and 502 in a bath of plating solution. Then, predetermined metal ions are electrodeposited on the metal films 501 and 502 to form the second portions 20a and 20b.

金属膜501は溝部71a〜71dの内面にも成膜されているので、溝部71a〜71dの内側にも第2の部分20aは形成され、一方、金属膜502は溝部72a〜72dの内面にも成膜されているので、溝部72a〜72dの内側にも第2の部分20bは形成される。その結果、最終的には溝部71a〜71d、72a〜72dの内側に第2の部材20a、20bが充填されるのである。   Since the metal film 501 is also formed on the inner surfaces of the groove portions 71a to 71d, the second portion 20a is also formed inside the groove portions 71a to 71d, while the metal film 502 is also formed on the inner surfaces of the groove portions 72a to 72d. Since the film is formed, the second portion 20b is also formed inside the groove portions 72a to 72d. As a result, the second members 20a and 20b are finally filled inside the grooves 71a to 71d and 72a to 72d.

本実施形態では、バルク基板63をスルファミン酸ニッケルメッキ液中に浸漬させて、で金属膜501、502に同時に電解を印加して電鋳することで、金属膜501、502上に同時にニッケル(Ni)をメッキ成長させ、ニッケル(Ni)からなる第2の部分20a、20bを形成した。第2の部分20a、20bは同時に形成しなくてはならないわけではなく、別々に形成しても何ら問題はない。   In the present embodiment, the bulk substrate 63 is immersed in a nickel sulfamate plating solution, and electrolysis is simultaneously applied to the metal films 501 and 502 to perform electroforming, whereby nickel (Ni) is simultaneously formed on the metal films 501 and 502. ) Was grown by plating to form second portions 20a and 20b made of nickel (Ni). The second portions 20a and 20b do not have to be formed at the same time, and there is no problem even if they are formed separately.

また、第2の部分20a、20bはニッケル(Ni)に限定されるものではなく、電鋳法によって形成することができれば、いかなる部材であってもかまわない。例えば金(Au)、銅(Cu)、ニッケルリン(Ni−P)合金、ニッケルタングステン(Ni―W)合金等が利用可能である。   The second portions 20a and 20b are not limited to nickel (Ni), and any member may be used as long as it can be formed by electroforming. For example, gold (Au), copper (Cu), nickel phosphorus (Ni—P) alloy, nickel tungsten (Ni—W) alloy, etc. can be used.

その後に、バルク基板63の一平面6a上に形成された第2の部分20a及び金属膜501と、対向する他平面6b上に形成された第2の部分20b及び金属膜502とを除去することで、図9(a)に示すような、一平面6aに第2の部分23a〜23dが金属膜53a〜53dを介して埋め込まれ、他平面6bに第2の部分24a〜24dが金属膜54a〜54dを介して埋め込まれたバルク基板64を得る。この第2の部分20a、20bと金属膜501、502との除去は、例えば、研磨加工によっておこなう。   Thereafter, the second portion 20a and the metal film 501 formed on the one plane 6a of the bulk substrate 63 and the second portion 20b and the metal film 502 formed on the opposite other plane 6b are removed. Then, as shown in FIG. 9A, the second portions 23a to 23d are embedded in the one plane 6a via the metal films 53a to 53d, and the second portions 24a to 24d are embedded in the other plane 6b to the metal film 54a. The bulk substrate 64 embedded through -54d is obtained. The removal of the second portions 20a and 20b and the metal films 501 and 502 is performed by polishing, for example.

なお、図9(a)以降は、この金属膜501、502は、溝部71a〜71d及び溝部72a〜72dにそれぞれ対応した部分に、金属膜53a〜53d、金属膜54a〜54dの番号を付与することにする。   9A and subsequent figures, the metal films 501 and 502 give the numbers of the metal films 53a to 53d and the metal films 54a to 54d to the portions corresponding to the groove portions 71a to 71d and the groove portions 72a to 72d, respectively. I will decide.

本実施形態においても研磨加工の方法は限定はしないが、例えば、公知のCMP法を用いることができる。本実施形態では、一平面6aと他平面6bとを研磨することで、それら平面の金属膜501、502を除去したが、すでに説明した第1の実施形態と同様に、その平面に金属膜を残しても構わない。その場合は、ぜんまい腕203a〜203dに対応するように残留させた金属膜以外の部分の除去を行ってから、後述する深堀りRIE技術によるバルク基板63のドライエッチングを行えばよい。   Also in this embodiment, the polishing method is not limited, but for example, a known CMP method can be used. In the present embodiment, the metal film 501 and 502 on these planes are removed by polishing the one plane 6a and the other plane 6b. However, as in the first embodiment described above, a metal film is formed on the plane. You can leave it. In that case, after removing portions other than the remaining metal film so as to correspond to the mainspring arms 203a to 203d, the bulk substrate 63 may be dry-etched by the deep RIE technique described later.

次に、図9(b)に示すように、バルク基板63のぜんまい部2となるぜんまい腕203a〜203dの幅に相当する部分を覆うように、バルク基板63の一平面6aにマスク83を一般に知られているフォトリソグラフィ技術で形成する。このマスク83は図示しないがひげぜんまい1の全体を形作る形状である。マスク83は、例えばシリコン酸化膜である。特に限定しないが、このマスク83は、バルク基板63の一平面6aより2μmの膜厚となるように形成する。   Next, as shown in FIG. 9B, a mask 83 is generally provided on one flat surface 6a of the bulk substrate 63 so as to cover a portion corresponding to the width of the mainspring arms 203a to 203d to be the mainspring portion 2 of the bulk substrate 63. It is formed by a known photolithography technique. Although not shown, the mask 83 has a shape that forms the entire hairspring 1. The mask 83 is, for example, a silicon oxide film. Although not particularly limited, the mask 83 is formed so as to have a thickness of 2 μm from the one plane 6 a of the bulk substrate 63.

その後に、図9(c)に示すように、混合ガス30(SF6+C48)を用いて、バルク基板63を深堀りRIE技術でドライエッチングする。これにより、バルク基板63は第1の部分13a〜13dの形状に加工され、これにより、バルク基板63からぜんまい腕203a〜203dを離断する。この状態では、図示はしないが、ひげぜんまい1はバルク基板63から独立して切り出されており、ひげ玉3の貫通孔3aも貫通している。 Thereafter, as shown in FIG. 9C, the bulk substrate 63 is deeply etched using the mixed gas 30 (SF 6 + C 4 F 8 ) and dry-etched by the RIE technique. Thereby, the bulk substrate 63 is processed into the shape of the first portions 13 a to 13 d, and thereby the mainspring arms 203 a to 203 d are separated from the bulk substrate 63. In this state, although not illustrated, the hairspring 1 is cut out independently from the bulk substrate 63, and the through hole 3 a of the whistle ball 3 also penetrates.

その後に、マスク83を除去することで、図2(b)に示すような、ぜんまい腕の一平面2aと対向する他平面2bとに2つの第2の部分23a、24a埋め込むようにして設けられたひげぜんまい1が完成する。マスク83の除去は、例えばバルク基板63をフッ化水素酸を主成分とする公知のエッチング液に浸漬しておこなう。   After that, by removing the mask 83, two second portions 23a and 24a are embedded in one surface 2a of the mainspring arm and the other surface 2b facing the mainspring arm as shown in FIG. 2B. The beard spring 1 is completed. The removal of the mask 83 is performed, for example, by immersing the bulk substrate 63 in a known etching solution mainly containing hydrofluoric acid.

本実施形態では図2(b)に示すぜんまい腕203aの一平面2aと対向する他平面2bに2つの第2の部分23a、24a埋め込むようにして設けられたひげぜんまい1の製造方法を示したが、バルク基板63の一平面6aだけを加工すれば、図2(a)に示すぜんまい腕202aの一平面2aのみに第2の部分22aが設けられたひげぜんまい1も同様にして製造できる。   In the present embodiment, a method of manufacturing the hairspring 1 provided by embedding the two second portions 23a and 24a in the other plane 2b facing the one plane 2a of the mainspring arm 203a shown in FIG. However, if only one flat surface 6a of the bulk substrate 63 is processed, the hairspring 1 in which the second portion 22a is provided only on the one flat surface 2a of the mainspring arm 202a shown in FIG.

以上説明した第2の製造方法は、シリコンからなるバルク基板63をドライエッチングして形成した溝部71a〜71d、72a〜72dにスパッタリング法や電鋳法によって第2の部分23a〜23d、24a〜24dを充填する手法である。   In the second manufacturing method described above, the second portions 23a to 23d and 24a to 24d are formed on the grooves 71a to 71d and 72a to 72d formed by dry etching the bulk substrate 63 made of silicon by sputtering or electroforming. Is a method of filling.

この第2の製造方法によれば、安価な単層のバルク基板63を用いて製造することができるので、衝撃を受けても破壊しにくいひげぜんまいの製造にかかるコストを削減することができるというメリットがある。   According to the second manufacturing method, since it can be manufactured using an inexpensive single-layer bulk substrate 63, it is possible to reduce the cost for manufacturing a hairspring that is difficult to be destroyed even when subjected to an impact. There are benefits.

以上説明した実施形態では、機械部品及びその製造方法の一例として、機械式時計の調速機に用いられるシリコン製のひげぜんまいを例に挙げて説明したが、もちろん、機械部品はひげぜんまいに限定されるものではない。   In the above-described embodiment, as an example of a mechanical part and a manufacturing method thereof, a silicon hairspring used in a speed governor of a mechanical timepiece has been described as an example, but of course, the mechanical part is limited to a hairspring. Is not to be done.

[第3の実施形態(異なるひげぜんまいの構成)の説明:図10]
次に、図10を用いて、第3の実施形態として、すでに説明した第1の実施形態のひげぜんまいとは異なる構成のひげぜんまいを説明する。
第3の実施形態の特徴は、第1の部分に挟まれた第2の部分を延長し、第2の部分によってひげぜんまいの構造の一部を構成する例である。説明にあっては、その構造の一部をひげ持とする例で説明する。
[Description of Third Embodiment (Configuration of Different Hairsprings): FIG. 10]
Next, a hairspring having a configuration different from the hairspring of the first embodiment described above will be described as a third embodiment with reference to FIG.
The feature of the third embodiment is an example in which the second portion sandwiched between the first portions is extended, and the second portion constitutes a part of the structure of the hairspring. In the description, an example in which a part of the structure has a beard will be described.

図10(a)は、ひげぜんまいの平面図である。図10(b)は、ぜんまい部を拡大した図面であって、図10(a)に示す切断線B−B´における断面の様子を模式的に示す断面図である。図10(c)は、ぜんまい部のひげ持近傍の部分を拡大した図面であって、図10(a)に示す切断線C−C´における断面の様子を模式的に示す断面である。   FIG. 10A is a plan view of the hairspring. FIG. 10B is an enlarged view of the mainspring portion, and is a cross-sectional view schematically showing a state of a cross section taken along a cutting line BB ′ shown in FIG. FIG. 10C is an enlarged view of the vicinity of the mainspring portion of the mainspring portion, and is a cross-sectional view schematically showing a state of a cross section taken along a cutting line CC ′ shown in FIG.

図10(a)に示すように、ひげぜんまい100は、第1の実施形態のひげぜんまい1と同様に、中心部に図示しない回転軸体であるてん真と嵌合するための貫通孔3aを有するひげ玉3と、貫通孔3aを中心にしてひげ玉3に巻回されるように設計されたコイル形状のぜんまい部2と、ぜんまい部2の巻き終わりと接続しているひげ持41とから構成されている。ぜんまい部2の巻きとひげ玉3とは接続部3bで接続している。ひげ持41には貫通孔41aが形成されている。   As shown in FIG. 10 (a), the hairspring 100 has a through hole 3a for fitting with a spring, which is a rotating shaft body (not shown), at the center, as with the hairspring 1 of the first embodiment. A hairspring ball 3 having a coil shape designed to be wound around the hairball 3 around the through-hole 3a, and a hairspring 41 connected to the winding end of the mainspring portion 2. It is configured. The winding of the mainspring portion 2 and the whisker ball 3 are connected by a connecting portion 3b. A through hole 41 a is formed in the whisker 41.

図10(a)に示すように、ひげぜんまい100は、第1の部分15として、シリコンを主成分とする材料から構成されており、図10(b)に示すように、そのぜんまい部は
、幅方向に金属を主成分とする第2の部分25を第1の部分15が挟んでいる。
As shown in FIG. 10 (a), the hairspring 100 is made of a material whose main component is silicon as the first portion 15, and as shown in FIG. The first portion 15 sandwiches the second portion 25 mainly composed of metal in the width direction.

そして、その第2の部分25を延長するようにしてひげ持41を形成している。すなわち、図10(c)に示すように、ひげ持41は、第1の部分15がなく第2の部分25で構成している。   And the whisker 41 is formed so that the 2nd part 25 may be extended. That is, as shown in FIG. 10C, the whisker 41 is constituted by the second portion 25 without the first portion 15.

図10(b)、図10(c)に示すように、第1の部分15と第2の部分25との間には、金属膜55a、55dが構成されている。金属膜55a、55dは、すでに説明した第1の実施形態と同様に第1の部分15と第2の部分25との密着層としての役目をする。また、第2の実施形態で説明した通り、第2の部分を電鋳法を用いて形成するときは、下地の電極として用いることができる。なお、図10(a)においては、この金属膜は非常に薄いため、省略している。   As shown in FIGS. 10B and 10C, metal films 55 a and 55 d are formed between the first portion 15 and the second portion 25. The metal films 55a and 55d serve as an adhesion layer between the first portion 15 and the second portion 25 as in the first embodiment already described. Further, as described in the second embodiment, when the second portion is formed by electroforming, it can be used as a base electrode. In FIG. 10A, the metal film is omitted because it is very thin.

ひげぜんまいを機械式時計に用いるとき、すでに説明したように、ひげ持は、図示しない所定の部材(例えば、地板やフレーム)に固定される。その固定は、例えば接着剤を用いた接着で成すが、第3の実施形態のひげぜんまい100は、ひげ持41が金属で構成しているため、その他の手法も用いることができる。   When the hairspring is used in a mechanical timepiece, as described above, the whiskers are fixed to a predetermined member (for example, a ground plate or a frame) not shown. The fixing is performed by, for example, bonding using an adhesive. However, since the hairspring 41 of the third embodiment is made of metal, other methods can also be used.

例えば、貫通孔41aに金属部材を嵌合させるなどして固定できる。また、この貫通孔41aを用いて所定の部材にねじ止めしてもよい。いずれにしても、ひげ持41と所定の部材とは、より強く固定することができる。   For example, it can be fixed by fitting a metal member into the through hole 41a. Moreover, you may screw to a predetermined member using this through-hole 41a. In any case, the whisker 41 and the predetermined member can be more strongly fixed.

ひげ持41は金属であり強度も高いから、機械式時計の組み立て時に、固定のために力が加わっても破壊されにくくなる。加えて、機械式時計を運用するときに、予期せぬ大きな衝撃(例えば、落下)が加わっても、ひげ持41と所定の部材とが離断しにくくなるのである。したがって、第3の実施形態のひげぜんまい100は、衝撃に強い機械式時計を構成することができるのである。   Since the whisker 41 is a metal and has high strength, even when a force is applied to fix the mechanical timepiece when it is assembled, it is difficult to be destroyed. In addition, when operating a mechanical timepiece, even if an unexpected large impact (for example, dropping) is applied, the beard 41 and the predetermined member are not easily separated. Accordingly, the hairspring 100 of the third embodiment can constitute a mechanical timepiece that is resistant to impact.

また、第3の実施形態のひげぜんまい100は、ひげ持41が金属で構成しているため、機械式時計は、調速機に公知の緩急針機構を用いることができるようにもなる。
緩急針機構とは、てん輪の回転周期を調整するための機構である。調整針に接続されたひげ棒やひげ受とひげぜんまいのひげ持との接続位置を、調整針を操作することで変更する。そうすると、ひげぜんまいのぜんまい部の有効長を可変することができ、てん輪の回転周期を変更することができるという機構である。
Further, in the hairspring 100 of the third embodiment, since the whisker 41 is made of metal, the mechanical timepiece can also use a known slow / fast hand mechanism for the speed governor.
The slow / fast needle mechanism is a mechanism for adjusting the rotation cycle of the balance wheel. The connection position of the whistle stick connected to the adjusting needle or the beard holder and the hairspring of the hairspring is changed by operating the adjusting needle. Then, the effective length of the mainspring portion of the hairspring can be varied, and the rotation cycle of the balance wheel can be changed.

すでに説明しているように、シリコンでひげぜんまいを構成すると、設計通りの形状が得られることや、環境温度に対して変形しにくいことから、金属でひげぜんまいを構成する場合に比べ、歩度ずれが起きにくくなる。   As already explained, if the balance spring is made of silicon, the shape as designed is obtained, and it is difficult to deform against the environmental temperature. Is less likely to occur.

しかし、製造工程における、いわゆるプロセスばらつきにより、ひげぜんまいが設計した形状にならない場合がある。例えば、深堀りRIEの工程で、予期せぬオーバーエッチングやアンダーエッチングのようなエッチングむらが発生する場合や、エッチング用のマスクが剥離できず僅かに残ってしまう場合などである。そうすると、ひげぜんまいの形状がわずかに変わるため、設計通りの伸縮運動を行えず、結果として機械式時計の歩度がずれてしまうのである。   However, there are cases where the balance spring does not have the designed shape due to so-called process variations in the manufacturing process. For example, in the deep RIE process, unexpected etching unevenness such as overetching or underetching occurs, or the etching mask cannot be removed and remains slightly. Then, since the shape of the hairspring changes slightly, the designed extension / contraction movement cannot be performed, and as a result, the rate of the mechanical timepiece shifts.

そのような不測の事態があっても、緩急針機構を搭載できれば、そのプロセスばらつきによる歩度のずれを調整することができるのである。   Even in such an unforeseen situation, the rate deviation due to process variations can be adjusted if a slow and quick needle mechanism can be mounted.

緩急針機構は、構成する殆どの部品が金属で構成している。ひげ持をシリコンで構成す
ると、シリコンは脆性材料であるから、調整針を操作してひげ棒やひげ受とひげ持との接続箇所を変更しようとしても、双方の当たり部分でシリコンが破損してしまう。
しかし、このようにひげ持を金属で構成すれば、公知の緩急針機構を用いても破損がなく、歩度の調整ができるようになるのである。
Most of the components of the slow / fast needle mechanism are made of metal. If the whisker is made of silicon, silicon is a brittle material. End up.
However, if the whisker is made of metal in this way, it is possible to adjust the rate without damage even if a known slow and steep needle mechanism is used.

以上、図10を用いて説明した例では、第1の部分15により第2の部分25が挟まれている部分は、ひげ持41の近傍のみであるが、もちろんそれに限定されない。図1に示すように、ぜんまい部(巻回されるぜんまい腕の部分)に亘って第2の部分25を設けてもよい。   As described above, in the example described with reference to FIG. 10, the portion where the second portion 25 is sandwiched by the first portion 15 is only in the vicinity of the whisker 41, but of course not limited thereto. As shown in FIG. 1, you may provide the 2nd part 25 over the mainspring part (part of the mainspring arm wound).

なお、第3の実施形態のひげぜんまい100を構成する第1の部分15、第2の部分25、金属膜55a、55bは、すでに説明した第1の実施形態の第1の部分11、第2の部分21、金属膜51a〜51dと同じ材料を用いることができるため、それぞれ対応する材料についての説明は省略する。   The first portion 15, the second portion 25, and the metal films 55a and 55b constituting the hairspring 100 of the third embodiment are the same as the first portion 11 and the second portion of the first embodiment already described. Since the same material as the portion 21 and the metal films 51a to 51d can be used, description of the corresponding materials will be omitted.

また、第3の実施形態のひげぜんまい100の製造方法については、すでに説明した第2の実施形態と同様であるため、説明は省略する。   Moreover, since the manufacturing method of the hairspring 100 of the third embodiment is the same as that of the second embodiment already described, the description thereof is omitted.

[第4の実施形態(異なるひげぜんまい変形例の構成)の説明:図11]
次に、図11を用いて、第4の実施形態として、すでに説明した第3の実施形態のひげぜんまいの変形例を説明する。
第4の実施形態の特徴は、第3の実施形態と同様に、第1の部分に挟まれた第2の部分を延長し、第2の部分によってひげぜんまいの構造の一部を構成する例であり、その構造の一部をひげ玉とする構成である。
[Description of Fourth Embodiment (Configuration of Different Hairspring Variations): FIG. 11]
Next, a modified example of the hairspring of the third embodiment described above will be described as a fourth embodiment with reference to FIG.
The feature of the fourth embodiment is an example in which, as in the third embodiment, the second portion sandwiched between the first portions is extended and a part of the structure of the hairspring is constituted by the second portion. In this configuration, a part of the structure is a whisker.

図11に示すように、ひげぜんまい101は、第1の部分16として、シリコンを主成分とする材料から構成されており、そのぜんまい部(図11では接続部3bの近傍)は、幅方向に金属を主成分とする第2の部分26を第1の部分16が挟んでいる。   As shown in FIG. 11, the hairspring 101 is made of a material mainly composed of silicon as the first portion 16, and the mainspring portion (in the vicinity of the connection portion 3 b in FIG. 11) extends in the width direction. The first portion 16 sandwiches the second portion 26 mainly composed of metal.

そして、その第2の部分26を延長するようにしてひげ玉31を形成している。すなわち、ひげ玉31は、第1の部分16がなく第2の部分26で構成している。   The whistle ball 31 is formed so as to extend the second portion 26. That is, the whistle ball 31 is constituted by the second part 26 without the first part 16.

すでに説明した第1及び第3の実施形態と同様に、第1の部分16と第2の部分26との間には、金属膜が構成されているが、図11においては、この金属膜は非常に薄いため、省略している。   As in the first and third embodiments already described, a metal film is formed between the first portion 16 and the second portion 26. In FIG. Omitted because it is very thin.

ひげぜんまいを機械式時計に用いるとき、すでに説明したように、ひげ玉は、その貫通孔にて図示しない回転軸体であるてん真と嵌合する。その固定は、例えば接着剤を用いた接着でもよい。てん真は、金属で構成する場合が多いから、その場合、第4の実施形態のひげぜんまい101は、ひげ玉31が金属で構成しているため、双方が同じ材料同士であるから、より強固に固定することができる。   When the hairspring is used in a mechanical timepiece, as described above, the hairball is fitted to a balance, which is a rotating shaft body (not shown), through the through hole. The fixing may be, for example, adhesion using an adhesive. In many cases, the balance spring 101 is made of metal. In this case, since the hairspring 101 of the fourth embodiment is made of metal, both are made of the same material. Can be fixed to.

ひげ玉をシリコンで構成すると、シリコンは脆性材料であるので、てん真を挿入した際に、双方の当たり部分でシリコンが破損してしまうことがある。しかし、ひげ玉を金属で構成すれば、その破損を防ぐことができる。   If the whisker ball is made of silicon, silicon is a brittle material, so when the balance is inserted, the silicon may be damaged at the contact portions of both. However, if the whisker is made of metal, the damage can be prevented.

また、てん真をひげ玉13の貫通孔3aに圧入してもよい。圧入しても金属同士であるから破損することがなく強固に固定することができる。その際には、接着剤の塗布を省略することもできる。   Further, the balance stem may be press-fitted into the through hole 3 a of the whistle ball 13. Even if it press-fits, since it is metal, it can fix firmly, without being damaged. In that case, application of the adhesive may be omitted.

てん真は、図示しないが地板やクレームに設けた軸受け機構を介して固定されている。機械式時計を運用するときに、予期せぬ大きな衝撃(例えば、落下)が加わると、てん真がその軸受け機構内で暴れてしまい、てん真の回転軸が歪むことがある。ひげ玉を脆性材料のシリコンで構成すると、ひげ玉との嵌合部に予期せぬ方向の力が加わり、破損してしまうことがある。   Although not shown, the balance is fixed via a bearing mechanism provided in the main plate or the claim. When operating a mechanical timepiece, if an unexpectedly large impact (for example, dropping) is applied, the balance stem may be violated within the bearing mechanism, and the true rotation shaft may be distorted. If the whisker ball is made of brittle silicon, an unexpected force may be applied to the fitting part with the whistle ball, causing damage.

しかし、第4の実施形態のひげぜんまい101のひげ玉31は、粘靭性を有する金属で構成しているため、てん真の回転軸の歪みに対しても、粘るため耐性を有するのである。したがって、第4の実施形態のひげぜんまい101は、衝撃に強い機械式時計を構成することができるのである。   However, since the hair ball 31 of the hairspring 101 of the fourth embodiment is made of a metal having toughness, the hairball 31 is resistant to distortion of the true rotation axis, and thus has resistance. Accordingly, the hairspring 101 of the fourth embodiment can constitute a mechanical timepiece that is resistant to impact.

ところで、ひげ玉をシリコンで構成したとき、図示はしないが、ひげ玉の貫通孔の内壁を覆うように金属製のスリーブを嵌め込むこともある。そうすると、てん真とスリーブとは同じ金属同士であるから強固に固定できるというメリットがある。   By the way, when the whisker is made of silicon, although not shown, a metal sleeve may be fitted to cover the inner wall of the through hole of the whisker. Then, since Tenshin and the sleeve are the same metal, there exists an advantage that it can fix firmly.

しかし、スリーブを用いると部品数が増加し、スリーブを挿入する製造工程も増加する。スリーブはサイズも小さく加工精度も要求される部品であるから、コストアップに繋がるという問題がある。   However, when a sleeve is used, the number of parts increases and the manufacturing process for inserting the sleeve also increases. Since the sleeve is a component that is small in size and requires high processing accuracy, there is a problem that the cost is increased.

このような問題は、第4の実施形態のひげぜんまい101を用いれば解決する。スリーブが不要になっても、ひげ玉はスリーブを用いるときと同等の強度を有するので、コストダウンに貢献できる。   Such a problem can be solved by using the hairspring 101 of the fourth embodiment. Even if the sleeve is not required, the whisker ball has the same strength as when the sleeve is used, which can contribute to cost reduction.

以上、図11を用いて説明した例では、第1の部分16により第2の部分26が挟まれている部分は、ひげ玉31の近傍のみであるが、もちろんそれに限定されない。図1に示すように、ぜんまい部(巻回されるぜんまい腕の部分)に亘って第2の部分26を設けてもよい。   As described above, in the example described with reference to FIG. 11, the portion where the second portion 26 is sandwiched by the first portion 16 is only in the vicinity of the whistle ball 31, but is not limited thereto. As shown in FIG. 1, the second portion 26 may be provided across the mainspring portion (the portion of the mainspring arm to be wound).

なお、第4の実施形態のひげぜんまい101を構成する第1の部分16、第2の部分26、これらの間に設ける図示しない金属膜は、すでに説明した第1の実施形態の第1の部分11、第2の部分21、金属膜51a〜51dと同じ材料を用いることができるため、それぞれ対応する材料についての説明は省略する。   The first portion 16 and the second portion 26 constituting the hairspring 101 of the fourth embodiment and the metal film (not shown) provided between them are the first portion of the first embodiment already described. 11, since the same material as that of the second portion 21 and the metal films 51a to 51d can be used, description of the corresponding materials will be omitted.

また、第4の実施形態のひげぜんまい101の製造方法についても、すでに説明した第2の実施形態と同様であるため、説明は省略する。   Further, the method for manufacturing the hairspring 101 of the fourth embodiment is also the same as that of the second embodiment already described, and thus the description thereof is omitted.

[第5の実施形態(てん輪の構成)の説明:図12]
次に、図12を用いて、第5の実施形態として、ひげぜんまいと共に時計機構の調速機を構成する、てん輪について説明する。
第5の実施形態の特徴は、てん輪を第1の部分で構成し、そのリムに第1の部分に挟まれた第2の部分を設ける構成である。
[Description of Fifth Embodiment (Configuration of Balance Wheel): FIG. 12]
Next, a balance wheel that constitutes a speed governor of a timepiece mechanism together with a hairspring will be described as a fifth embodiment with reference to FIG.
A feature of the fifth embodiment is that the balance wheel is constituted by a first portion, and a second portion sandwiched between the first portions is provided on the rim.

図12(a)は、てん輪の平面図である。図12(b)は、図12(a)に示す切断線D−D´における断面の様子を模式的に示す断面図である。   FIG. 12A is a plan view of the balance wheel. FIG. 12B is a cross-sectional view schematically showing the state of the cross section along the cutting line DD ′ shown in FIG.

図12(a)に示すように、てん輪5は、中心部に図示しない回転軸体であるてん真と嵌合するための貫通孔8を有するアーム7と、その周囲に設ける円周形状のリム6とで構成している。リム6の中心が貫通孔8となるように、アーム7はリム6の内周と接続する、所謂スポーク形状を有している。   As shown in FIG. 12 (a), the balance wheel 5 has an arm 7 having a through hole 8 for fitting to a balance which is a rotating shaft body (not shown) in the center and a circumferential shape provided around the arm 7. It consists of a rim 6. The arm 7 has a so-called spoke shape that is connected to the inner periphery of the rim 6 so that the center of the rim 6 becomes the through hole 8.

図12(a)に示すように、てん輪5は、第1の部分17として、シリコンを主成分とする材料から構成されており、図12(b)に示すように、そのリム6は、幅方向に金属を主成分とする第2の部分27を第1の部分17が挟んでいる。   As shown in FIG. 12A, the balance wheel 5 is made of a material mainly composed of silicon as the first portion 17, and as shown in FIG. The first portion 17 sandwiches the second portion 27 mainly composed of metal in the width direction.

図12(b)に示すように、第1の部分17と第2の部分27との間には、金属膜56が構成されている。金属膜56は、すでに説明した第1及び第3の実施形態と同様に、第1の部分17と第2の部分27との密着層としての役目をする。また、第2の実施形態で説明した通り、第2の部分を電鋳法を用いて形成するときは、下地の電極として用いることができる。なお、図12(a)においては、この金属膜は非常に薄いため、省略している。   As shown in FIG. 12B, a metal film 56 is formed between the first portion 17 and the second portion 27. The metal film 56 serves as an adhesion layer between the first portion 17 and the second portion 27 as in the first and third embodiments already described. Further, as described in the second embodiment, when the second portion is formed by electroforming, it can be used as a base electrode. In FIG. 12A, the metal film is omitted because it is very thin.

てん輪は、ひげぜんまいの伸縮運動により往復回転運動を行うが、てん輪の外径や質量が大きいほど、慣性モーメントが大きくなり、機械式時計に組み込んだ後、機械式時計に加わる外乱(落下の衝撃など)に対する耐性が向上することが知られている。つまり、歩度ずれが起きにくい時計とすることができるのである。   The balance wheel reciprocates by the expansion and contraction of the balance spring, but the greater the outer diameter and mass of the balance wheel, the larger the moment of inertia increases. It is known that the resistance to the impact of the above is improved. In other words, it can be a timepiece in which the rate deviation is unlikely to occur.

しかし、機械式時計が小型である場合や腕時計の場合などは、てん輪の大型化には制限がある。そこで、リム6において第1の部分17がその幅方向に第2の部分27を挟んでいる構成とすることで、てん輪5の慣性モーメントを増加させているのである。第1の部分17の主成分であるシリコンに比べ、第2の部分27の主成分である金属の方が、その比重が重いためである。   However, there is a limit to the enlargement of the balance wheel when the mechanical timepiece is small or a wristwatch. Therefore, the moment of inertia of the balance wheel 5 is increased by adopting a configuration in which the first portion 17 sandwiches the second portion 27 in the width direction of the rim 6. This is because the specific gravity of the metal that is the main component of the second portion 27 is heavier than that of silicon that is the main component of the first portion 17.

てん輪5のリム6にあっては、第1の部分17と第2の部分27との幅方向の厚みは、略同じとしているが、もちろんこれに限定するものではない。てん輪5に欲する慣性モーメントを付与するように、第2の部分27の幅や材質を自由に選ぶことができる。   In the rim 6 of the balance wheel 5, the first portion 17 and the second portion 27 have substantially the same thickness in the width direction, but the present invention is not limited to this. The width and material of the second portion 27 can be freely selected so as to give the moment of inertia desired for the balance wheel 5.

ところで、機械式時計に落下などの不測の衝撃が加わると、てん輪に他の部材(例えば、ひげぜんまい)が当たってしまうことがある。しかし、そのような事態になっても、第5の実施形態のてん輪5であれば、リム6が第2の部分27を有しているために強度があり、リム6やアーム7の破断を防止することができる。   By the way, when an unexpected impact such as dropping is applied to the mechanical timepiece, another member (for example, a hairspring) may hit the balance wheel. However, even in such a situation, the balance wheel 5 of the fifth embodiment is strong because the rim 6 has the second portion 27, and the rim 6 and the arm 7 are broken. Can be prevented.

このような第5の実施形態のてん輪5は、てん輪5の大部分を、シリコンを主成分とする第1の部分17で構成することで設計通りの形状にできること、シリコンを主成分とすることで環境温度に対して変形しにくいということ、リム6の一部に金属を主成分とする第2の部分27を設けることで慣性モーメント及び強度が向上すること、などのメリットを有するのである。そして、そのようなてん輪5を用いた機械式時計は、歩度ずれが起きにくく、外乱に強くなるのである。   In the balance wheel 5 of the fifth embodiment, the majority of the balance wheel 5 can be formed as the design by configuring the first portion 17 mainly composed of silicon, and silicon as a major component. As a result, it is difficult to be deformed with respect to the environmental temperature, and the moment of inertia and the strength are improved by providing the second portion 27 mainly composed of metal on a part of the rim 6. is there. A mechanical timepiece using such a balance wheel 5 is unlikely to cause a rate shift and is resistant to disturbance.

以上、図12を用いて説明した例では、第1の部分17により第2の部分27が挟まれている部分はリム6であるが、もちろんそれに限定されない。図示はしないが、アーム7や貫通孔8の周囲にも、第1の部分17で第2の部分27を挟む構成を設けてもよい。   As described above, in the example described with reference to FIG. 12, the portion where the second portion 27 is sandwiched by the first portion 17 is the rim 6, but of course it is not limited thereto. Although not shown, a configuration in which the second portion 27 is sandwiched between the first portion 17 may also be provided around the arm 7 and the through hole 8.

なお、第5の実施形態のてん輪5を構成する第1の部分17、第2の部分27、金属膜56は、すでに説明した第1の実施形態の第1の部分11、第2の部分21、金属膜51a〜51dと同じ材料を用いることができるため、それぞれ対応する材料についての説明は省略する。   The first portion 17, the second portion 27, and the metal film 56 constituting the balance wheel 5 of the fifth embodiment are the same as the first portion 11 and the second portion of the first embodiment already described. 21, since the same material as the metal films 51a to 51d can be used, the description of the corresponding material is omitted.

なお、第2の部分27は、慣性モーメントを増加する目的もあるから、高密度な材料を用いる方がより好ましい。例えば、金(Au)、銅(Cu)、ニッケルリン(Ni−P)合金、ニッケルタングステン(Ni−W)合金等が挙げられる。   In addition, since the 2nd part 27 also has the objective of increasing a moment of inertia, it is more preferable to use a high-density material. For example, gold (Au), copper (Cu), a nickel phosphorus (Ni-P) alloy, a nickel tungsten (Ni-W) alloy, etc. are mentioned.

また、第5の実施形態のてん輪5の製造方法については、すでに説明した第2の実施形態と同様な加工方法を用いることができるため、その説明は省略する。   Moreover, about the manufacturing method of the balance wheel 5 of 5th Embodiment, since the processing method similar to 2nd Embodiment already demonstrated can be used, the description is abbreviate | omitted.

[第6の実施形態(てん輪の他の構成)の説明:図13]
次に、図13を用いて、第6の実施形態として、ひげぜんまいと共に時計機構の調速機を構成する、てん輪の他の構成について説明する。
第6の実施形態の特徴は、てん輪を第1の部分で構成し、その中心に位置する貫通孔の近傍を、第1の部分に挟まれた第2の部分とする構成である。そして、第1の部分に挟まれた第2の部分を延長し、第2の部分によっててん輪の中心部を構成する例である。
[Description of Sixth Embodiment (Other Configuration of Balance Wheel): FIG. 13]
Next, another configuration of a balance wheel that constitutes a speed governor of a timepiece mechanism together with a hairspring will be described as a sixth embodiment with reference to FIG.
The feature of the sixth embodiment is that the balance wheel is constituted by a first portion, and the vicinity of the through hole located at the center thereof is a second portion sandwiched between the first portions. And it is the example which extends the 2nd part pinched | interposed into the 1st part, and comprises the center part of a balance wheel with a 2nd part.

図13(a)は、てん輪の平面図である。図13(b)は、図13(a)に示す切断線E−E´における断面の様子を模式的に示す断面図である。   FIG. 13A is a plan view of the balance wheel. FIG.13 (b) is sectional drawing which shows typically the mode of the cross section in the cutting line EE 'shown to Fig.13 (a).

図13(a)に示すように、てん輪150は、中心部に図示しない回転軸体であるてん真と嵌合するための貫通孔88を有するアーム77と、その周囲に設ける円周形状のリム66とで構成している。リム66の中心が貫通孔88となるように、アーム77はリム66の内周と接続する、所謂スポーク形状を有している。   As shown in FIG. 13 (a), the balance wheel 150 has an arm 77 having a through hole 88 for fitting to a balance which is a rotating shaft body (not shown) in the center, and a circumferential shape provided around the arm 77. The rim 66 is configured. The arm 77 has a so-called spoke shape that connects to the inner periphery of the rim 66 so that the center of the rim 66 becomes the through hole 88.

図13(a)に示すように、てん輪150は、第1の部分18として、シリコンを主成分とする材料から構成されており、図13(b)に示すように、そのリム66は、幅方向に金属を主成分とする第2の部分28を第1の部分18が挟んでいる。   As shown in FIG. 13 (a), the balance wheel 150 is made of a material whose main component is silicon as the first portion 18, and as shown in FIG. The first portion 18 sandwiches the second portion 28 mainly composed of metal in the width direction.

そして、その第2の部分28を延長するようにしてアーム77の貫通孔88を含む構造体を形成している。すなわち、てん輪150の中心部は、第1の部分18がなく第2の部分28で構成している。   And the structure containing the through-hole 88 of the arm 77 is formed so that the 2nd part 28 may be extended. That is, the center portion of the balance wheel 150 is configured by the second portion 28 without the first portion 18.

図13(b)に示すように、第1の部分18と第2の部分28との間には、金属膜57が構成されている。金属膜57は、すでに説明した第1、第3、第5の実施形態と同様に、第1の部分18と第2の部分28との密着層としての役目をする。また、第2の実施形態で説明した通り、第2の部分を電鋳法を用いて形成するときは、下地の電極として用いることができる。なお、図13(a)においては、この金属膜は非常に薄いため、省略している。   As shown in FIG. 13B, a metal film 57 is formed between the first portion 18 and the second portion 28. The metal film 57 serves as an adhesion layer between the first portion 18 and the second portion 28 as in the first, third, and fifth embodiments already described. Further, as described in the second embodiment, when the second portion is formed by electroforming, it can be used as a base electrode. In FIG. 13A, the metal film is omitted because it is very thin.

てん輪を機械式時計に用いるとき、その中心部の貫通孔にて図示しない回転軸体であるてん真と嵌合する。その固定は、例えば接着剤を用いた接着でもよい。てん真は、金属で構成する場合が多いから、その場合、第6の実施形態のてん輪150は、貫通孔88を有する中心部分が金属で構成しているため、双方が同じ材料同士となり、より強固に固定することができる。   When the balance wheel is used in a mechanical timepiece, it is fitted with a balance shaft, which is a rotating shaft body (not shown), through a through hole at the center thereof. The fixing may be, for example, adhesion using an adhesive. Since the balance is often made of metal, in that case, since the balance wheel 150 of the sixth embodiment is made of metal in the central portion having the through hole 88, both are made of the same material. It can be fixed more firmly.

てん輪の中心部分をシリコンで構成すると、シリコンは脆性材料であるので、貫通孔にてん真を挿入した際に、双方の当たり部分でシリコンが破損してしまうことがある。しかし、金属で構成すれば、その破損を防ぐことができる。   When the central portion of the balance wheel is made of silicon, silicon is a brittle material, and therefore silicon may be damaged at the contact portions of both when inserting the core through the through hole. However, if it is made of metal, the damage can be prevented.

また、てん真をてん輪150の貫通孔88に圧入してもよい。圧入しても金属同士であるから破損することがなく強固に固定することができる。その際には、接着剤の塗布を省略することもできる。   Further, the balance may be press-fitted into the through hole 88 of the balance wheel 150. Even if it press-fits, since it is metal, it can fix firmly, without being damaged. In that case, application of the adhesive may be omitted.

すでに説明したように、機械式時計を運用するときに、予期せぬ大きな衝撃(例えば、落下)が加わると、てん真がその軸受け機構内で暴れてしまい、てん真の回転軸が歪むこ
とがある。てん輪の中心部分を脆性材料のシリコンで構成すると、その嵌合部に予期せぬ方向の力が加わり、破損してしまうことがある。
As already explained, when an unexpectedly large impact (for example, dropping) is applied when operating a mechanical watch, the balance stem may be violated in the bearing mechanism, and the rotation axis of the balance stem may be distorted. is there. If the center portion of the balance wheel is made of silicon of a brittle material, an unexpected force may be applied to the fitting portion, resulting in damage.

しかし、第6の実施形態のてん輪150の中心部分の貫通孔88部分は、粘靭性を有する金属で構成しているため、てん真の回転軸の歪みに対しても、粘るため耐性を有するのである。したがって、第6の実施形態のてん輪150は、衝撃に強い機械式時計を構成することができるのである。   However, since the through-hole 88 part of the center part of the balance wheel 150 of 6th Embodiment is comprised with the metal which has toughness, since it sticks also with respect to distortion of a true rotation axis, it has tolerance. It is. Therefore, the balance wheel 150 of the sixth embodiment can constitute a mechanical timepiece resistant to impact.

また、すでに説明したように、ひげぜんまいの場合、そのひげ玉の貫通孔の内壁を覆うように金属製のスリーブを嵌め込み、てん真と固定することがある。てん輪も同様であって、シリコンでてん輪を構成するとき、その中心部分の貫通孔に金属製のスリーブを設けることもある。しかし、スリーブを用いると部品数が増加し、スリーブを挿入する製造工程も増加する。   In addition, as described above, in the case of a hairspring, a metal sleeve may be fitted so as to cover the inner wall of the through hole of the whisker ball and fixed to the balance. The balance wheel is the same, and when the balance wheel is made of silicon, a metal sleeve may be provided in the through hole in the central portion. However, when a sleeve is used, the number of parts increases and the manufacturing process for inserting the sleeve also increases.

このような問題も、第6の実施形態のてん輪150を用いれば解決する。スリーブが不要になっても、てん輪150はスリーブを用いるときと同等の強度を有するので、コストダウンに貢献できる。   Such a problem can also be solved by using the balance wheel 150 of the sixth embodiment. Even if the sleeve is not necessary, the balance wheel 150 has the same strength as when the sleeve is used, which can contribute to cost reduction.

以上、図13を用いて説明した例では、第1の部分18により第2の部分28が挟まれている部分はアーム77及びてん輪150の中心部分の貫通孔88を含む部分であるが、もちろんそれに限定されない。図示はしないが、アーム77やリム66にも、第1の部分18で第2の部分28を挟む構成を設けてもよい。   As described above, in the example described with reference to FIG. 13, the portion where the second portion 28 is sandwiched by the first portion 18 is a portion including the through hole 88 in the central portion of the arm 77 and the balance wheel 150. Of course, it is not limited to this. Although not shown, the arm 77 and the rim 66 may be provided with a structure in which the second portion 28 is sandwiched between the first portions 18.

なお、第6の実施形態のてん輪150を構成する第1の部分18、第2の部分28、金属膜57は、すでに説明した第1の実施形態の第1の部分11、第2の部分21、金属膜51a〜51dと同じ材料を用いることができるため、それぞれ対応する材料についての説明は省略する。   The first portion 18, the second portion 28, and the metal film 57 constituting the balance wheel 150 of the sixth embodiment are the same as the first portion 11 and the second portion of the first embodiment already described. 21, since the same material as the metal films 51a to 51d can be used, the description of the corresponding material is omitted.

また、第6の実施形態のてん輪150の製造方法については、すでに説明した第2の実施形態と同様な加工方法を用いることができるため、その説明は省略する。   Moreover, about the manufacturing method of the balance wheel 150 of 6th Embodiment, since the processing method similar to 2nd Embodiment already demonstrated can be used, the description is abbreviate | omitted.

なお、説明した第1、第3〜第6の実施形態の構成については、互いに組み合わせて用いてもよい。例えば、第1の実施形態のひげぜんまいと第3及び第4の実施形態のひげぜんまいとの構成を組み合わせ、ひげ玉、ぜんまい部、ひげ持において、シリコンを主成分とする第1の部分が金属を主成分とする第2の部分を幅方向に挟む構成としてもよいのである。   The configurations of the first, third to sixth embodiments described may be used in combination with each other. For example, the configuration of the hairspring of the first embodiment and the hairspring of the third and fourth embodiments is combined, and the first portion mainly composed of silicon is a metal in the hairball, the mainspring portion, and the whiskers. It is good also as a structure which pinches | interposes the 2nd part which has as a main component in the width direction.

また、第5の実施形態のてん輪と第6の実施形態のてん輪との構成を組み合わせ、リム、アーム、てん輪の中心部分において、シリコンを主成分とする第1の部分が金属を主成分とする第2の部分を幅方向に挟む構成としてもよいのである。   In addition, the configuration of the balance wheel of the fifth embodiment and the balance wheel of the sixth embodiment is combined, and in the central portion of the rim, arm, and balance wheel, the first portion mainly composed of silicon is mainly made of metal. The second portion as the component may be sandwiched in the width direction.

そして、もちろん、第1、第3及び第4の実施形態のひげぜんまいと、第5及び第6の実施形態のてん輪と、を組み合わせた調速機を構成してもよいのである。   And of course, you may comprise the governor which combined the balance spring of 1st, 3rd and 4th embodiment, and the balance wheel of 5th and 6th embodiment.

以上、本発明の機械部品について、ひげぜんまいとてん輪とを例示して説明した。しかし、シリコンを主成分とする機械部品で、衝撃を受けやすい部分に用いられる部品であれば、いかなる部品においても本発明は適用可能である。例えば、機械式時計の部品では、歯車、ガンギ車、アンクル等にも適用できる。また、電気機械変換器の可動部品、さらに、小型軽量の板ばねなど、弾性力を有する機械部品にも適用できる。   The mechanical parts of the present invention have been described above by exemplifying the hairspring and the balance wheel. However, the present invention can be applied to any component as long as it is a mechanical component mainly composed of silicon and used in a portion that is susceptible to impact. For example, it can be applied to gears, escape wheels, ankles, etc. in the parts of mechanical watches. The present invention can also be applied to movable parts of electromechanical transducers and mechanical parts having elasticity such as small and light leaf springs.

また、本発明の機械部品は、軽量化と強度とを兼ね備えた部品にも用いることができる。例えば、時計の文字板や文字板に設ける装飾部材(マークや時字など)、時刻等を報知するための指針などにも用いることができる。指針においては、第4、第6の実施形態にて説明したように、指針を固定する軸体との嵌合部である貫通孔を含む部分を第2の金属で構成すれば、強度も増して好ましい。   Further, the mechanical component of the present invention can be used for a component having both weight reduction and strength. For example, it can be used for a dial of a watch, a decorative member (such as a mark or a time character) provided on the dial, a pointer for notifying time, and the like. In the pointer, as described in the fourth and sixth embodiments, if the portion including the through hole that is a fitting portion with the shaft body that fixes the pointer is made of the second metal, the strength is increased. It is preferable.

本発明は、機械部品の強度を向上させることができるから、特に腕時計に代表される可搬型の機械式時計のような、不測の衝撃が印加される機会がある製品の部品に好適である。   Since the strength of the mechanical part can be improved, the present invention is particularly suitable for a product part that has an opportunity to receive an unexpected impact, such as a portable mechanical timepiece represented by a wristwatch.

1、100、101 ひげぜんまい
2 ぜんまい部
2a、6a 一平面
2b、6b 他平面
3、31 ひげ玉
3a 貫通孔
3b 接続部
4 ひげ持
5、150 てん輪
6、66 リム
7、77 アーム
8、88 貫通孔
11a〜11d、12a、13a〜13d、15、16、17、18 第1の部分
21a〜21d、22a、23a〜23d、24a〜24d、25、26、27、28
第2の部分
30 混合ガス
51a〜51d、52a、53a〜53d、54a〜54d、55a、55b、56 金属膜
60 SOI基板
63 バルク基板
70a〜70d、71a〜71d、72a〜72d 溝部
80、81、82a、82b、83 マスク
201a〜201d、202a、203a〜203d ぜんまい腕
610、611 シリコン活性層
620 絶縁層
630 基体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,100,101 Hairspring 2 Spring main part 2a, 6a One plane 2b, 6b Other plane 3,31 Whistle ball 3a Through-hole 3b Connection part 4 Beard 5,150 Balance wheel 6,66 Rim 7,77 Arm 8,88 Through hole 11a to 11d, 12a, 13a to 13d, 15, 16, 17, 18 First portion 21a to 21d, 22a, 23a to 23d, 24a to 24d, 25, 26, 27, 28
Second part 30 Mixed gas 51a-51d, 52a, 53a-53d, 54a-54d, 55a, 55b, 56 Metal film 60 SOI substrate 63 Bulk substrate 70a-70d, 71a-71d, 72a-72d Groove 80, 81, 82a, 82b, 83 Masks 201a-201d, 202a, 203a-203d Mainspring arms 610, 611 Silicon active layer 620 Insulating layer 630 Base

Claims (7)

シリコンを主成分とする第1の部分と、金属を主成分とする第2の部分と
を有するひげぜんまいであって、
該ひげぜんまいは、貫通孔を有するひげ玉と、
前記貫通孔を中心にして前記ひげ玉に巻回されるコイル形状のぜんまい部と、
該ぜんまい部の巻き終わりと接続しているひげ持と、を有し、
前記第1の部分は、少なくとも前記ぜんまい部において、その幅方向に、前記第2の部分を挟んで構成され、
前記第2の部分は、前記ぜんまい部の少なくとも一方の平面側に、埋め込むようにして設けられている
ことを特徴とするひげぜんまい
A first part mainly composed of silicon, a second part mainly composed of metal ,
A balance spring to have a,
The hairspring is a whisker ball having a through hole;
A coil-shaped mainspring portion wound around the whisker ball around the through hole;
Having a whisker connected to the winding end of the mainspring part,
The first part is configured to sandwich the second part in the width direction at least in the mainspring part ,
The second portion on at least one plane side of the mainspring portion, beard and being provided so as to fill the mainspring.
前記ぜんまい部の一方の平面側と、該一方の平面に対向する他方の平面側に、On one plane side of the mainspring portion and on the other plane side facing the one plane,
前記第2の部分が、それぞれ埋め込むようにして設けられているEach of the second portions is provided so as to be embedded.
ことを特徴とする請求項1に記載のひげぜんまい。The hairspring according to claim 1, wherein:
前記一方の平面側に設けられた前記第2の部分と、The second portion provided on the one plane side;
前記他方の平面側に設けられた前記第2の部分とは、The second portion provided on the other plane side is:
平面的位置、幅又は深さの少なくともいずれか1つが互いに異なっているAt least one of the planar position, width and depth is different from each other
ことを特徴とする請求項2に記載のひげぜんまい。The hairspring according to claim 2, wherein:
前記一方の平面側に設けられた前記第2の部分と、The second portion provided on the one plane side;
前記他方の平面側に設けられた前記第2の部分とは、互いに材質が異なっているThe material of the second portion provided on the other plane side is different from that of the second portion.
ことを特徴とする請求項2又は3に記載のひげぜんまい。The hairspring according to claim 2 or 3, characterized in that
前記第1の部分と前記第2の部分の間に金属膜が形成されており、A metal film is formed between the first part and the second part;
前記一方の平面側に設けられた前記第2の部分と、The second portion provided on the one plane side;
前記他方の平面側に設けられた前記第2の部分とは、互いに前記金属膜の材質が異なっていることを特徴とする請求項2から4のいずれか1つに記載のひげぜんまい。The hairspring according to any one of claims 2 to 4, wherein a material of the metal film is different from that of the second portion provided on the other plane side.
前記ぜんまい部の位置に応じて、前記第2の部分の幅又は深さが異なるDepending on the position of the mainspring portion, the width or depth of the second portion is different.
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか1つに記載のひげぜんまい。The hairspring according to any one of claims 1 to 5, characterized in that:
前記ひげ持は、前記第2の部分のみで構成されるThe whisker is composed only of the second part.
ことを特徴とする請求項1から6のいずれか1つに記載のひげぜんまい。The hairspring according to any one of claims 1 to 6, characterized in that:
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