JP6288313B2 - 質量分析方法、クロマトグラフ質量分析装置、及び質量分析用プログラム - Google Patents

Description

本発明は、試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング（ＭＲＭ）測定する条件を最適化するために用いられる質量分析方法及び質量分析用プログラムに関する。

試料に含まれる目的化合物の同定や定量を行うための質量分析の一つの手法としてＭＳ／ＭＳ分析（タンデム分析）と呼ばれる手法がある。ＭＳ／ＭＳ分析は、例えばプリカーサイオンを選別する前段質量分離部、プリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成するコリジョンセル、及びプロダクトイオンを選別する後段質量分離部を有する質量分析装置を用いて行われる。このような質量分析装置に例えばタンデム四重極型質量分析装置がある。

ＭＳ／ＭＳ分析における測定の１つにＭＲＭ測定がある。ＭＲＭ測定では、前段質量分離部と後段質量分離部を通過させるイオンの質量電荷比をそれぞれ固定し、特定のプリカーサイオンに対する特定のプロダクトイオンの強度（量）を測定する。このプリカーサイオンとプロダクトイオンの組はＭＲＭトランジションと呼ばれる。こうしたＭＲＭ測定では、２段の質量分離部によって非測定対象の化合物や夾雑成分由来のイオンや中性粒子を除去するため、高いＳ／Ｎ比でイオン強度信号を得ることができる。そのため、ＭＲＭ測定は特に微量成分の定量などに威力を発揮する。

目的化合物についてＭＲＭ測定を行うためには、ＭＲＭ測定条件を予め決めておく必要がある。ＭＲＭ測定条件には、ＭＲＭトランジションや、コリジョンセルにおいてプリカーサイオンを開裂させるための衝突エネルギー（ＣＥ：Collision Energy）の値が含まれる。ＣＥ値の大きさによってプロダクトイオンの生成効率が変化するため、最も高い検出感度が得られるＭＲＭトランジションとＣＥ値の組み合わせがＭＲＭ測定条件として設定される。

従来、ＭＲＭトランジションやＣＥ値は、次のように決定していた。
まず、分析者が質量分析装置の制御ソフトウェア上で目的化合物から生成される１乃至複数のプリカーサイオン候補と複数のＣＥ候補値を入力する。制御ソフトウェアは、入力されたプリカーサイオン候補とＣＥ候補値の全ての組み合わせを測定条件に決定する。そして、測定条件のうちの１つを用いてプロダクトイオンスキャン測定を行う。これを全ての測定条件についてそれぞれ行い、プロダクトイオンスペクトルを取得する（図４(a)）。こうして得られたプロダクトイオンスペクトル（図４(b)）の中から検出強度が大きい順にプロダクトイオンを選出し、該プロダクトイオンと対応するプリカーサイオン候補の組（ＭＲＭトランジション）、及び当該プロダクトイオンスペクトルが得られたＣＥ候補値をＭＲＭ測定条件として決定する（図４(c)。例えば特許文献１、２参照）。
一般的に、こうしたプロダクトイオンスキャン測定は、純粋な目的化合物である標準試料を、直接質量分析装置に導入して行う。

特開2013-15485号公報 特開2012-104389号公報

一方、土壌から採取した試料や生体由来の試料に含まれる化合物では、純粋な目的化合物を標準試料として入手することが困難な場合がある。こうした場合には、測定対象試料をクロマトグラフ（ガスクロマトグラフや液体クロマトグラフ）と質量分析装置を有するクロマトグラフ質量分析装置に導入し、クロマトグラフにおいて目的化合物を他の化合物から分離した後に質量分析装置においてプロダクトイオンスキャン測定を行う。この場合、クロマトグラフから質量分析装置に目的化合物が導入されている時間は限られるうえに、その時間内でも質量分析装置に導入される目的化合物の量は時間的に変化する。そのため、従来、上述したプリカーサイオン候補とＣＥ候補値の全ての組み合わせのそれぞれについて、クロマトグラフ質量分析装置に測定対象試料を毎回導入し、クロマトグラフから質量分析装置へ導入される目的化合物の量が最大になる時点（クロマトグラムのピークトップに相当する時点）付近でプロダクトイオンスペクトルを取得し、該プロダクトイオンスペクトルにおけるプロダクトイオンの検出強度に基づいてＭＲＭ測定条件を決定していた。

しかし、この方法では、ＭＲＭ測定条件を最適化するためにプリカーサイオン候補とＣＥ候補値の組み合わせの数を多くすると、クロマトグラフへの測定対象試料の導入、目的化合物の分離、及び目的化合物のプロダクトイオンスキャン測定、という一連の測定を行う回数が多くなる。例えば、プリカーサイオンを５種類、ＣＥ候補値を５Ｖ〜６０Ｖの間で５Ｖ間隔で１２個設定すると、上記一連の測定を６０回も繰り返すことになる。このように測定回数が増加すると、ＭＲＭ測定条件の最適化に時間がかかるという問題があった。また、測定対象の試料が微量である場合には上記組み合わせを多数設定してそれら全ての組み合わせについてプロダクトイオンスキャン測定を行うこと自体が難しい、という問題があった。

本発明が解決しようとする課題は、目的化合物のＭＲＭ測定条件を短時間で最適化することができ、また、測定対象の試料が微量である場合にもＭＲＭ測定条件を最適化することができる質量分析方法、クロマトグラフ質量分析装置、及び質量分析用プログラムを提供することである。

上記課題を解決するために成された本発明の第１の態様は、クロマトグラフと、コリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を有するクロマトグラフ質量分析装置を用いて、試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング測定する条件を最適化するために用いられる質量分析方法であって、
a) 前記目的化合物から生成される１乃至複数のプリカーサイオン候補と、１乃至複数の衝突エネルギーの候補値の全ての組み合わせに対応する複数の測定条件を作成し、
b) 前記試料を前記クロマトグラフ質量分析装置に導入し、
c) 前記クロマトグラフのカラムで分離された前記目的化合物が前記質量分析装置に導入される導入時間内に、前記複数の測定条件を用いたプロダクトイオンスキャン測定をそれぞれ少なくとも１回実行するとともに、同一条件で複数回、前記目的化合物から生成される所定のイオンを検出する基準測定を実行し、
d) 前記基準測定の結果に基づき、前記導入時間内での前記目的化合物の前記質量分析装置への導入量の変化を表す関数であるピーク関数を作成し、
e) 前記ピーク関数に基づいて、前記導入時間内での前記目的化合物の導入量を正規化する正規化関数を作成し、
f) 前記正規化関数を用いて、前記全ての組み合わせについて実行したプロダクトイオンスキャン測定により得られたプロダクトイオンスペクトルの強度を正規化する
ことを特徴とする。

上記基準測定は、上記導入時間内での目的化合物の導入量の変化を把握するために行う測定であり、例えば選択イオンモニタリング（ＳＩＭ）測定とすることができる。あるいは、プリカーサイオンスキャン測定を行い検出したイオンの総強度を用いるようにしてもよい。また、上記ピーク関数は、例えばガウス関数とすることができる。

本発明に係る質量分析方法では、目的化合物がクロマトグラフのカラムから質量分析装置に導入される導入時間内に、１乃至複数のプリカーサイオン候補と、１乃至複数の衝突エネルギーの候補値の全ての組み合わせに対するプロダクトイオンスキャン測定をそれぞれ少なくとも１回行うとともに同一条件で所定のイオンを検出する基準測定を少なくとも複数回行う。そして、基準測定の結果に基づき、上記導入時間内に変化する目的化合物の導入量を正規化する正規化関数を作成して、上記全ての組み合わせについて得たプロダクトイオンスペクトルの強度を正規化する。

本発明に係る質量分析方法では、クロマトグラフへの試料の導入、目的化合物の分離、及び目的化合物のプロダクトイオンスキャン測定という一連の測定を１回実行するのみでＭＲＭ測定条件の最適化に必要なプロダクトイオンスペクトルを全て取得することができる。従って、ＭＲＭ測定条件の最適化を短時間で完了することができ、また、測定対象の試料が微量である場合にもＭＲＭ測定条件を最適化することができる。

上記基準測定は、前記導入時間内の前半と後半に、それぞれ少なくとも１回実行することが望ましい。これにより、ピーク関数の精度をさらに高めることができる。

目的成分の導入量が少ないタイミングで行ったプロダクトイオンスキャン測定では、正規化関数を用いたプロダクトイオンスペクトルの強度の拡大率が大きくなるため測定誤差が大きくなる。
そこで、前記プロダクトイオンスキャン測定は、前記全ての組み合わせについて少なくとも２回ずつ実行することが望ましい。これにより、プロダクトイオンスペクトルの測定誤差を小さくすることができる。

上記課題を解決するために成された本発明の第２の態様は、試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング測定する条件を最適化するために用いられるクロマトグラフ質量分析装置であって、
a) 前記目的化合物を他の化合物から分離するカラムを有するクロマトグラフと、
b) コリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置と、
c) 使用者の入力に基づき、１乃至複数のプリカーサイオン候補と、１乃至複数の衝突エネルギーの候補値の全ての組み合わせに対応する複数の測定条件を作成する測定条件作成部と、
d) 前記カラムにおいて分離された前記目的化合物が前記質量分析装置に導入される導入時間内に、前記複数の測定条件を用いたプロダクトイオンスキャン測定をそれぞれ少なくとも１回実行するとともに、同一条件で複数回、前記目的化合物から生成される所定のイオンを検出する基準測定を実行する測定実行部と、
e) 前記基準測定の結果に基づき、前記導入時間内での前記目的化合物の前記質量分析装置への導入量の変化を表す関数であるピーク関数を作成するピーク関数作成部と、
f) 前記ピーク関数に基づいて、前記導入時間内での前記目的化合物の導入量を正規化する正規化関数を作成する正規化関数作成部と、
g) 前記正規化関数を用いて、前記全ての組み合わせについて実行したプロダクトイオンスキャン測定により得られたプロダクトイオンスペクトルの強度を正規化するスペクトル強度正規化部と、
を備えることを特徴とする。

上記課題を解決するために成された本発明の第３の態様である質量分析用プログラムは、コンピュータを上記第２の態様に記載の測定条件作成部、測定実行部、ピーク関数作成部、正規化関数作成部、及びスペクトル強度正規化部として動作させることを特徴とする。

本発明に係る質量分析方法、クロマトグラフ質量分析装置、あるいは質量分析用プログラムを用いることにより、目的化合物のＭＲＭ測定条件を短時間で最適化することができ、測定対象の試料が微量である場合にもＭＲＭ測定条件を最適化することができる。

本発明に係るクロマトグラフ質量分析装置の一実施例である液体クロマトグラフ質量分析装置の要部構成図。 本発明に係る質量分析方法の一実施例におけるフローチャート。 ＭＲＭ測定条件を最適化する本実施例の方法を説明する図。 ＭＲＭ測定条件を最適化する従来の方法を説明する図。

以下、本発明に係る質量分析方法、クロマトグラフ質量分析装置、及び質量分析用プログラムの一実施例について、図面を参照して説明する。図１は本実施例のクロマトグラフ質量分析装置の要部構成図、図２は本実施例の質量分析方法に関するフローチャートである。

本実施例のクロマトグラフ質量分析装置は、液体クロマトグラフ部１、質量分析部２、及びこれらの動作を制御する制御部４から構成された、液体クロマトグラフ質量分析装置である。

本実施例の液体クロマトグラフ質量分析装置において、液体クロマトグラフ部１は、移動相が貯留された移動相容器１０と、移動相を吸引して一定流量で送給するポンプ１１と、移動相中に所定量の試料液を注入するインジェクタ１２と、試料液に含まれる各種化合物を時間方向に分離するカラム１３と、を備える。

質量分析部２は、略大気圧であるイオン化室２０と真空ポンプ（図示なし）により真空排気された高真空の分析室２３との間に、段階的に真空度が高められた第１、第２中間真空室２１、２２を備えた多段差動排気系の構成を有している。イオン化室２０には、試料溶液に電荷を付与しながら噴霧するエレクトロスプレイイオン化用プローブ（ＥＳＩプローブ）２０１が設置されている。イオン化室２０と後段の第１中間真空室２１との間は細径の加熱キャピラリ２０２を通して連通している。第１中間真空室２１と第２中間真空室２２との間は頂部に小孔を有するスキマー２１２で隔てられ、第１中間真空室２１と第２中間真空室２２にはそれぞれ、イオンを収束させつつ後段へ輸送するためのイオンガイド２１１、２２１が設置されている。分析室２３には、多重極イオンガイド（ｑ２）２３３が内部に設置されたコリジョンセル２３２を挟み、イオンを質量電荷比に応じて分離する前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１と、同じくイオンを質量電荷比に応じて分離する後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４、及びイオン検出器２３５が設置されている。

コリジョンセル２３２の内部には、アルゴン、窒素などのＣＩＤガスを連続的又は間欠的に供給することができる。電源部２４は、ＥＳＩプローブ２０１、イオンガイド２１１、２２１、２３３、四重極マスフィルタ２３１、２３４などにそれぞれ所定の電圧を印加する。なお、四重極マスフィルタ２３１、２３４はそれぞれ、メインロッド電極の前段に、入口端での電場の乱れを補正するためのプリロッド電極を有しており、プリロッド電極にはメインロッド電極とは異なる電圧が印加できるようになっている。

質量分析部２では、ＳＩＭ（選択イオンモニタリング）測定、プロダクトイオンスキャン測定、ＭＲＭ（多重反応モニタリング）測定等を行うことができる。ＳＩＭ測定では、前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１ではイオンを選別せず（マスフィルタとして機能させず）、後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４を通過させるイオンの質量電荷比を固定してイオンを検出する。

一方、ＭＳ／ＭＳスキャン測定（プロダクトイオンスキャン測定）及びＭＲＭ測定では、前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１及び後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４の両方をマスフィルタとして機能させる。前段四重極マスフィルタ（Ｑ１）２３１ではプリカーサイオンとして設定されたイオンのみを通過させる。また、コリジョンセル２３２の内部にＣＩＤガスを供給し、プリカーサイオンを開裂させてプロダクトイオンを生成する。ＭＳ／ＭＳスキャン測定では後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４を通過するイオンの質量電荷比を走査し、ＭＲＭ測定では後段四重極マスフィルタ（Ｑ３）２３４を通過するイオンの質量電荷比を固定する。

制御部４は、記憶部４１を有するとともに、機能ブロックとして、測定条件作成部４２、測定実行部４３、ピーク関数作成部４４、正規化関数作成部４５、及びスペクトル強度正規化部４６を備えている。また、上記各部の動作に合わせて液体クロマトグラフ部１のポンプ１１やインジェクタ１２、質量分析部２の電源部２４やＣＩＤガス供給部（図示せず）などの各部の動作をそれぞれ制御する機能を有している。制御部４の実体はパーソナルコンピュータであり、該コンピュータに予めインストールされた質量分析用プログラム（本実施例における質量分析用プログラムに相当）を実行することにより上記各部として機能させるようにすることができる。また、制御部４には、入力部６、表示部７が接続されている。

以下、本実施例における質量分析方法について、図２のフローチャートを参照して説明する。本実施例では、試料に含まれる目的化合物をＭＲＭ測定する条件を最適化する。

まず、分析者が、入力部６を通じて、試料に含まれる目的化合物が液体クロマトグラフ部１のカラム１３から質量分析部２に導入される時間帯（クロマトグラムのピーク開始時間とピーク終了時間）を入力する。また、プリカーサイオン候補（本実施例では５種類のプリカーサイオン候補）、及びＣＥ候補値（本実施例では５Ｖ〜６０Ｖまで、５Ｖ単位で１２候補）を入力し、プロダクトイオンスキャン測定回数（本実施例では２回）を入力する（ステップＳ１）。さらに、分析者は後述する基準測定の条件（本実施例ではプリカーサイオン候補の１つをＳＩＭ測定）と基準測定回数（本実施例では３回）を入力する（ステップＳ２）。

分析者により上記の測定条件及び測定回数が入力されると、測定条件作成部４２は、それらを記憶部４１に保存するとともに、プリカーサイオン候補とＣＥ候補値の全ての組み合わせ（本実施例では６０組）にそれぞれ対応するプロダクトイオンスキャン測定条件を作成する（ステップＳ３）。続いて、測定実行部４３が、基準測定（１回）、プロダクトイオンスキャン測定（６０組×各１回）、基準測定（１回）、プロダクトイオンスキャン測定（６０組×各１回）、基準測定（１回）の順に測定を実行するメソッドファイルを作成し記憶部４１に保存する（ステップＳ４）。

基準測定は、ピーク開始時間、ピークトップの時間、及びピーク終了時間に各１回実行し、プロダクトイオンスキャン測定は、基準測定と基準測定の間に実行する。また、基準測定及びプロダクトイオンスキャン測定の実行時間（質量分析部２の各部に印加する電圧の切り替え時間を含む）は目的化合物の導入時間の長さと測定回数に基づき決定する。こうして、図３(a)に示すように測定を実行するメソッドファイルが作成される。

分析者による所定の操作によって測定開始が指示されると、測定実行部４３は、所定量の測定対象試料を液体クロマトグラフ部１のインジェクタ１２から導入する。そして、試料に含まれる目的化合物がカラム１３から質量分析部２のＥＳＩプローブ２０１に導入される時間（導入時間）まで待機する（ステップＳ６）。目的化合物の導入時間になると（ステップＳ６でＹＥＳ）、測定実行部４３は上述したメソッドファイルに基づき、基準測定（３回）、及びプロダクトイオンスキャン測定（６０組×各２回）を実行して測定データを記憶部４１に保存する（ステップＳ７）。

上記測定を完了すると、ピーク関数作成部４４は、記憶部４１から３点の基準測定データを読出しピーク関数を作成する（ステップＳ８）。本実施例ではガウス関数を用いて３点の基準測定データをフィッティングしてピーク関数を作成して記憶部４１に保存する。このピーク関数により、目的化合物の導入時間内における質量分析部２への該目的化合物の導入量の変化が表される。

続いて、正規化関数作成部４５は、上記ピーク関数の逆関数である正規化関数を作成して記憶部４１に保存する（ステップＳ９）。この正規化関数により、導入時間内で変化する目的化合物の導入量を正規化する。

正規化関数が作成されると、スペクトル強度正規化部４６は、記憶部４１からプロダクトイオンスキャン測定データを読み出し、正規化関数を用いて各回の測定で検出したイオンの強度を正規化する。そして、プリカーサイオン候補とＣＥ値候補の各組についてそれぞれ２回ずつ取得した測定データを平均して、各組に対するプロダクトイオンスペクトルを作成し、表示部７に表示する（ステップＳ１０）（図３(b)）。また、プロダクトイオンスペクトルとともに、プロダクトイオンの検出強度が大きい順に、対応するプリカーサイオン候補とＣＥ候補値、及び検出したプロダクトイオンの質量電荷比をリストアップして表示部７に表示する。分析者は、表示部７に表示されたリストから所要数の組み合わせを抽出し、ＭＲＭ測定条件（ＭＲＭトランジション及びＣＥ値）を決定する（図３(c)）。

以上説明したように、本実施例のクロマトグラフ質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラムを用いると、１度の測定で基準測定（３回）及びプリカーサイオン候補とＣＥ値候補の全ての組み合わせに対するプロダクトイオンスキャン測定（各２回）を行い、該全ての組み合わせに対するプロダクトイオンスペクトルを取得することができる。また、基準測定データに基づき導入時間内での目的化合物の導入量の変化を正規化する正規化関数を作成し、プロダクトイオンスペクトルの強度を正規化するため、１度の測定で全ての組み合わせに対するプロダクトイオンスペクトルを正確な強度で取得することができる。従って、目的化合物のＭＲＭ測定条件を短時間で最適化することができ、また、測定対象の試料が微量である場合にもＭＲＭ測定条件を最適化することができる。

上記実施例は一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。
上記実施例では液体クロマトグラフ質量分析装置を用いてＭＲＭ測定条件を最適化する例を説明したが、ガスクロマトグラフ質量分析装置においても同様にＭＲＭ測定条件を最適化することができる。
また、上記実施例ではピーク関数としてガウス関数を用いたが、別の関数や多項式を用いてピーク関数を作成することもできる。

上記実施例では、基準測定を３回実行したが、目的化合物のクロマトグラムのピークトップの位置（時間）が既知である場合には基準測定を少なくとも２回実行すればピーク関数を作成することができる。当然、基準測定を４回以上実行してピーク関数の精度を高めても良い。また、上記実施例では基準測定をＳＩＭ測定としてイオンの検出強度を基準測定データとしたが、その他、基準測定をＭＳスキャン測定として検出したイオンの総強度を基準測定データとしたり、特定のＭＲＭトランジションを設定したＭＲＭ測定を基準測定としてプロダクトイオンの検出強度を基準測定データとしてもよい。なお、プリカーサイオン候補を決定するために、目的化合物を予備測定したデータがある場合には、基準測定を行ってピーク関数を作成する代わりに、当該予備測定データからピーク関数及び正規化関数を作成するようにしてもよい。

上記実施例ではプロダクトイオンスキャン測定を各組について２回ずつ実行したが、この実行回数も適宜に変更することができる。ただし、目的成分の導入量が少ないタイミングで行ったプロダクトイオンスキャン測定では、正規化関数を用いたプロダクトイオンスペクトルの強度の拡大率が大きくなるため測定誤差が大きくなることを踏まえると、各組について少なくとも２回ずつ実行することが望ましい。これにより、プロダクトイオンスペクトルの測定誤差を小さくすることができる。プロダクトイオンスキャン測定の回数を増加させると、目的化合物の導入量の変化に依存する測定のばらつきを小さくすることができる一方、各回の測定時間が短くなり測定誤差を生じやすくなる。そのため、測定回数は、導入時間の長さと測定回数を考慮して分析者が都度決定することが好ましい。

１…液体クロマトグラフ
１０…移動相容器
１１…ポンプ
１２…インジェクタ
１３…カラム
２…質量分析部
２０…イオン化室
２０１…ＥＳＩプローブ
２０２…加熱キャピラリ
２１…第１中間真空室
２１１…イオンガイド
２１２…スキマー
２２…第２中間真空室
２３…分析室
２３１…四重極マスフィルタ
２３２…コリジョンセル
２３５…イオン検出器
２４…電源部
４…制御部
４１…記憶部
４２…測定条件作成部
４３…測定実行部
４４…ピーク関数作成部
４５…正規化関数作成部
４６…スペクトル強度正規化部
６…入力部
７…表示部

Claims (6)

1. クロマトグラフと、コリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を有するクロマトグラフ質量分析装置を用いて、試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング測定する条件を最適化するために用いられる質量分析方法であって、
   a) 前記目的化合物から生成される１乃至複数のプリカーサイオン候補と、１乃至複数の衝突エネルギーの候補値の候補値の全ての組み合わせに対応する複数の測定条件を作成し、
   b) 前記試料を前記クロマトグラフ質量分析装置に導入し、
   c) 前記クロマトグラフのカラムで分離された前記目的化合物が前記質量分析装置に導入される導入時間内に、前記複数の測定条件を用いたプロダクトイオンスキャン測定をそれぞれ少なくとも１回実行するとともに、同一条件で複数回、前記目的化合物から生成される所定のイオンを検出する基準測定を実行し、
   d) 前記基準測定の結果に基づき、前記導入時間内での前記目的化合物の前記質量分析装置への導入量の変化を表す関数であるピーク関数を作成し、
   e) 前記ピーク関数に基づいて、前記導入時間内での前記目的化合物の導入量を正規化する正規化関数を作成し、
   f) 前記正規化関数を用いて、前記全ての組み合わせについて実行したプロダクトイオンスキャン測定により得られたプロダクトイオンスペクトルの強度を正規化する
   ことを特徴とする質量分析方法。
2. 前記基準測定が選択イオンモニタリング測定であることを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
3. 前記基準測定が、前記導入時間内の前半と後半に、それぞれ少なくとも１回実行されることを特徴とする請求項１又は２に記載の質量分析方法。
4. 前記導入時間内に、前記プロダクトイオンスキャン測定が、前記全ての組み合わせについて少なくとも２回ずつ実行されることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の質量分析方法。
5. 試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング測定する条件を最適化するために用いられるクロマトグラフ質量分析装置であって、
   a) 前記目的化合物を他の化合物から分離するカラムを有するクロマトグラフと、
   b) コリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置と、
   c) 使用者の入力に基づき、１乃至複数のプリカーサイオン候補と、１乃至複数の衝突エネルギーの候補値の全ての組み合わせに対応する複数の測定条件を作成する測定条件作成部と、
   d) 前記カラムにおいて分離された前記目的化合物が前記質量分析装置に導入される導入時間内に、前記複数の測定条件を用いたプロダクトイオンスキャン測定をそれぞれ少なくとも１回実行するとともに、同一条件で複数回、前記目的化合物から生成される所定のイオンを検出する基準測定を実行する測定実行部と、
   e) 前記基準測定の結果に基づき、前記導入時間内での前記目的化合物の前記質量分析装置への導入量の変化を表す関数であるピーク関数を作成するピーク関数作成部と、
   f) 前記ピーク関数に基づいて、前記導入時間内での前記目的化合物の導入量を正規化する正規化関数を作成する正規化関数作成部と、
   g) 前記正規化関数を用いて、前記全ての組み合わせについて実行したプロダクトイオンスキャン測定により得られたプロダクトイオンスペクトルの強度を正規化するスペクトル強度正規化部と、
   を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
6. クロマトグラフと、コリジョンセルを挟んで前後に質量分離部を有する質量分析装置を有するクロマトグラフ質量分析装置を用いて、試料に含まれる目的化合物を多重反応モニタリング測定する条件を最適化するために用いられる質量分析用プログラムであって、コンピュータを
   a) 使用者の入力に基づき、１乃至複数のプリカーサイオン候補と、１乃至複数の衝突エネルギーの候補値の全ての組み合わせに対応する複数の測定条件を作成する測定条件作成部と、
   b) 前記カラムにおいて分離された前記目的化合物が前記質量分析装置に導入される導入時間内に、前記複数の測定条件を用いたプロダクトイオンスキャン測定をそれぞれ少なくとも１回実行するとともに、同一条件で前記目的化合物から生成される所定のイオンを検出する基準測定を複数回実行する測定実行部と、
   c) 前記基準測定の結果に基づき、前記導入時間内での前記目的化合物の前記質量分析装置への導入量の変化を表す関数であるピーク関数を作成するピーク関数作成部と、
   d) 前記ピーク関数に基づいて、前記導入時間内での前記目的化合物の導入量を正規化する正規化関数を作成する正規化関数作成部と、
   e) 前記正規化関数を用いて、前記全ての組み合わせについて実行したプロダクトイオンスキャン測定により得られたプロダクトイオンスペクトルの強度を正規化するスペクトル強度正規化部
   として機能させることを特徴とする質量分析用プログラム。

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