JP6115303B2 - 隣接基としてカルボニル基を有するフェノール化合物およびその用途 - Google Patents
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Description
(1)熱・光等に対する高い安定性。
(2)高い透明点。
(3)液晶相の低い下限温度。
(4)小さな粘度(η)。
(5)適切な光学異方性の値(Δn)。
(6)大きな負の誘電率異方性の値(Δε)。
(7)適切な弾性定数(K33:ベンド弾性定数)。
(8)他の液晶性化合物との優れた相溶性。
(1)のように、熱・光等に対する高い安定性を有する化合物は、素子の電圧保持率を大きくする。これによって、素子の寿命が長くなる。(2)のように、高い透明点を有する化合物は、素子の使用可能な温度範囲を広げる。(3)のように、ネマチック相またはスメクチック相等の液晶相の低い下限温度、特にネマチック相の低い下限温度を有する化合物も、素子の使用可能な温度範囲を広げる。(4)のように、小さな粘度を有する化合物は、素子の応答時間を短くする。
Z1は、単結合、−(CH2)2−、−CH2O−、−OCH2−、−CF2O−、−OCF2−、−COO−または−OCO−であり;Yは、ハロゲン、−CF3、−CF2Hまたは−CH2Fであり;m、nおよびpは、独立して、0、1または2であり、m+nは、0、1または2である。]
「液晶性化合物」は、ネマチック相またはスメクチック相等の液晶相を有する化合物、および液晶相を有しないが液晶組成物の成分として有用な化合物の総称である。
「液晶表示素子」は、液晶表示パネルおよび液晶表示モジュールの総称である。
「液晶表示素子」を、「表示素子」または「素子」と略すことがある。
各式の説明において「ハロゲン」は、好ましくはフッ素または塩素である。
1−1.液晶性化合物の構造
本発明の液晶性化合物は、式(1)で表される。
式(1)において、R1およびR2は、独立して、水素、ハロゲンまたは炭素数1〜10のアルキルである。前記アルキルにおいて、少なくとも1つの−CH2−は−O−で置き換えられてもよく、少なくとも1つの−(CH2)2−は−CH=CH−で置き換えられてもよく、少なくとも1つの水素はハロゲンで置き換えられてもよい。以下、前記アルキルにおいてこれらの置き換えがなされた基を「置換アルキル」ともいう。
式(1)において、環A1および環A2は、独立して、1,4−シクロへキシレンまたは1,4−フェニレンである。1,4−シクロへキシレンを構成する少なくとも1つの−(CH2)2−は−CH=CH−で置き換えられてもよく、1,4−シクロへキシレンを構成する少なくとも1つの
式(1)において、Yは、ハロゲン、−CF3、−CF2Hまたは−CH2Fである。Yは、双極子モーメントの観点から、好ましくはフッ素、−CF3、または−CF2Hであり、分子の短軸方向への広がりを小さくする観点から、特に好ましくはフッ素である。
式(1)において、Z1は、単結合、−(CH2)2−、−CH2O−、−OCH2−、−CF2O−、−OCF2−、−COO−または−OCO−である。
式(1)において、m、nおよびpは、独立して、0、1または2であり、mおよびnの和(m+n)は、0、1または2である。mおよびnの和が0であるときは、化合物(1)は粘度が小さい。mおよびnの和が2であるときは、化合物(1)は上限温度が高い。pが0であるときは、化合物(1)は粘度が小さい。pが2であるときは、化合物(1)は透明点が高い傾向にある。
本発明の化合物(1)としては、式(1−1)で表される化合物(式(1)中、m=n=1)、式(1−2)で表される化合物(式(1)中、m=0かつn=1)、式(1−3)で表される化合物(式(1)中、m=n=p=0)がより好ましい。
本発明の化合物(1)は、分子内に、フェノール部位と、このフェノール部位のベンゼン環炭素に結合したカルボニル基と、分子短軸方向を向いたフェノール性水酸基および極性基Yとを同時に有する。ここで、カルボニル基は前記フェノール部位の2位のベンゼン環炭素に結合しているので、このカルボニル基の酸素原子とフェノール性水酸基の水素原子とで分子内水素結合が形成され、その結果、カルボニル基とフェノール性水酸基および極性基Yとは同一の分子単軸方向を向いている。化合物(1)は、このような構造を有するため、大きな負の誘電率異方性、適切な光学異方性および適切な弾性定数K33を有する。
本発明の化合物(1)の合成法について説明する。化合物(1)は、有機合成化学の方法を適切に組み合わせることにより合成することができる。出発物質に目的の末端基R1およびR2、環A1および環A2、ならびに結合基Z1等を導入する方法は、「オーガニックシンセシス」(Organic Syntheses, John Wiley & Sons, Inc)、「オーガニック・リアクションズ」(Organic Reactions, John Wiley & Sons, Inc)、「コンプリヘンシブ・オーガニック・シンセシス」(Comprehensive Organic Synthesis, Pergamon Press)、「新実験化学講座」(丸善)等の成書に記載されている。
本発明の化合物(1)中の結合基Z1等を生成する方法の例は、以下のスキームに示す。このスキームにおいて、MSG1またはMSG2は、少なくとも1つの環を有する一価の有機基である。複数のMSG1またはMSG2が表す一価の有機基は、同一であってもよく、異なってもよい。化合物(1A)〜(1E)は、本発明の化合物(1)に相当する。
有機ハロゲン化合物(a1)を、n−ブチルリチウムまたはマグネシウムと反応させて得られた中間体を、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)等のホルムアミドと反応させて、アルデヒド(a2)を得る。アルデヒド(a2)と、ホスホニウム塩(a3)をカリウムt−ブトキシド等の塩基で処理して得られるリンイリドとを反応させて、二重結合を有する化合物(a4)を得る。化合物(a4)を炭素担持パラジウム(Pd/C)等の触媒の存在下で水素化することにより、−(CH2)2−を有する化合物(1A)を合成する。
有機ハロゲン化合物(a1)とn−ブチルリチウムまたはマグネシウムとを反応させて、リチウム塩またはグリニャール試薬を調製する。このリチウム塩またはグリニャール試薬と、ホウ酸トリメチル等のホウ酸エステルとを反応させ、塩酸等の酸の存在下で加水分解することにより、ジヒドロキシボラン(a5)を得る。ジヒドロキシボラン(a5)と有機ハロゲン化合物(a6)とを、炭酸塩水溶液中、テトラキス(トリフェニルホスフィン)パラジウム(Pd(PPh3)4)触媒の存在下で反応させることにより、化合物(1B)を合成する。
ジヒドロキシボラン(a5)を過酸化水素等の酸化剤により酸化し、水酸基含有化合物(a7)を得る。別途、アルデヒド(a2)を水素化ホウ素ナトリウム等の還元剤で還元してアルコール(a8)を得る。アルコール(a8)を臭化水素酸等でハロゲン化してハロゲン化物(a9)を得る。ハロゲン化物(a9)と先に得られた水酸基含有化合物(a7)とを、炭酸カリウム等の存在下で反応させることにより、−CH2O−を有する化合物(1C)を合成する。この方法によって−OCH2−を有する化合物も合成することができる。
有機ハロゲン化合物(a6)にn−ブチルリチウムを、続いて二酸化炭素を反応させてカルボン酸(a10)を得る。カルボン酸(a10)と水酸基含有化合物(a11)とを、DCC(1,3−ジシクロヘキシルカルボジイミド)およびDMAP(4−ジメチルアミノピリジン)の存在下で脱水させて、−COO−を有する化合物(1D)を合成する。この方法によって−OCO−を有する化合物も合成することができる。
化合物(1D)をローソン試薬等の硫黄化剤で処理して化合物(a12)を得る。化合物(a12)をフッ化水素ピリジン錯体およびNBS(N−ブロモスクシンイミド)でフッ素化して、−CF2O−を有する化合物(1E)を合成する。M. Kuroboshi et al., Chem. Lett., 1992,827.を参照。化合物(1E)は、化合物(a12)を(ジエチルアミノ)サルファートリフルオリド(DAST)でフッ素化しても合成することができる。W.H. Bunnelle et al., J. Org. Chem. 1990, 55, 768.を参照。この方法によって−OCF2−を有する化合物を合成することもできる。Peer. Kirsch et al., Angew. Chem. Int. Ed. 2001, 40, 1480.に記載の方法によって、これらの結合基を生成させることも可能である。
本発明の化合物(1)の合成方法の例を、以下のスキームに示す。
本発明の液晶組成物は、本発明の化合物(1)を成分Aとして含有する。本発明の液晶組成物は、化合物(1)を1種のみ含有してもよく、化合物(1)を2種以上含有してもよい。また、本発明の液晶組成物は、液晶性化合物の成分として2種以上の化合物(1)のみ含有してもよく、液晶性化合物の成分として化合物(1)と本明細書中に記載しなかった種々の液晶性化合物とを含有してもよい。
本発明の液晶組成物は、式(2)〜(7)で表される化合物の群から選択される少なくとも1種の化合物(成分B)を含有してもよい。成分Bは、負の誘電率異方性を有し、2,3−ジフルオロ−1,4−フェニレンのように、ラテラル位が2つのハロゲンで置き換えられたベンゼン環を有する。
R3およびR4は、独立して、炭素数1〜10のアルキルまたは炭素数2〜10のアルケニルであり、前記アルキルおよびアルケニルにおいて、少なくとも1つの水素はフッ素で置き換えられてもよく、少なくとも1つの−CH2−は−O−で置き換えられてもよい。
L1およびL2は、独立して、フッ素または塩素である。
q、r、s、t、uおよびvは、独立して0または1である。
r、s、tおよびuの和は、1または2である。
本発明の液晶組成物は、式(8)〜(10)で表される化合物の群から選択される少なくとも1種の化合物(成分C)を含有してもよい。成分Cは、2つの末端基がアルキル等であり、誘電率異方性の絶対値が小さいので、中性に近い化合物である。成分Cを用いることにより、しきい値電圧、液晶相の温度範囲、誘電率異方性の値、光学異方性の値、および粘度等を調整することができる。
R5およびR6は、独立して、炭素数1〜10のアルキルまたは炭素数2〜10のアルケニルであり、前記アルキルおよびアルケニルにおいて、少なくとも1つの水素はフッ素で置き換えられてもよく、少なくとも1つの−CH2−は−O−で置き換えられてもよい。
成分Bのうち、式(2)〜(7)で表される化合物の好適例として、それぞれ式(2−1)〜(2−6)、式(3−1)〜(3−15)、式(4−1)、式(5−1)〜(5−3)、式(6−1)〜(6−11)、および式(7−1)〜(7−10)で表される化合物が挙げられる。
本発明の液晶組成物は、光学活性化合物を1種または2種以上含有してもよい。光学活性化合物として、公知のキラルド−プ剤が挙げられる。このキラルド−プ剤は、液晶のらせん構造を誘起して必要なねじれ角を与えることによって逆ねじれを防ぐ等の効果を有する。キラルド−プ剤としては、例えば、式(Op−1)〜(Op−13)で表される光学活性化合物が挙げられる。
本発明の液晶組成物は、重合可能な化合物(ただし、上述した成分A〜成分Cに該当する化合物を除く。)を1種または2種以上添加して、PSAモード用途の液晶組成物として使用することもできる。また、重合可能な化合物を添加する場合、重合開始剤を用いることが好ましい。これらの場合、重合可能な化合物の含有量は、液晶組成物の全質量に対して、0.1〜2質量%であることが好ましい。
本発明の液晶組成物は、酸化防止剤および紫外線吸収剤の群から選択される少なくとも1種をさらに含有してもよい。酸化防止剤は、大きな電圧保持率を維持するために有効な成分である。酸化防止剤としては、例えば、2,6−ジ−tert−ブチル−4−アルキルフェノール等のフェノール系酸化防止剤が挙げられる。紫外線吸収剤は、上限温度の低下を防ぐために有効な成分である。紫外線吸収剤としては、例えば、ベンゾフェノン誘導体、ベンゾエート誘導体、トリアゾール誘導体が挙げられ、立体障害のあるアミン等の光安定剤もまた好ましい。
本発明の液晶組成物は、メロシアニン系、スチリル系、アゾ系、アゾメチン系、アゾキシ系、キノフタロン系、アントラキノン系、テトラジン系等の二色性色素などの染料を添加して、GH(guest host)モード用途の液晶組成物として使用することもできる。
本発明の液晶組成物を調製する場合、例えば、成分Aの誘電率異方性の値を考慮して各種成分を選択することができる。本発明の液晶組成物は、高い上限温度、低い下限温度、小さな粘度、大きな負の誘電率異方性、適切な光学異方性、および適切な弾性定数を有する。ここで「適切な」とは、本発明の液晶組成物を含む液晶表示素子の動作モードに応じて、例えば、光学異方性および弾性定数の好適範囲が適宜決定されることを意味する。
本発明の液晶表示素子は、本発明の液晶組成物を含み、素子を使用できる広い温度範囲、短い応答時間、大きな電圧保持率、大きなコントラスト比、および長い寿命を有する。
物性の測定方法は、以下のとおりである。
測定装置として、DRX−500(ブルカーバイオスピン(株)製)を用いた。1H−NMRの測定は、試料をCDCl3等の重水素化溶媒に溶解させ、室温で、500MHz、積算回数16回の条件で行った。テトラメチルシランを内部標準として用いた。19F−NMRの測定は、CFCl3を内部標準として用い、積算回数24回の条件で行った。核磁気共鳴スペクトルの説明において、sはシングレット、dはダブレット、tはトリプレット、qはカルテット、quinはクインテット、sexはセクステット、mはマルチプレット、brはブロード、ddはダブルダブレットであることを意味する。
液晶性化合物そのものを試料として用いて、液晶性化合物についての(1)相構造および(2)相転移温度を測定した。液晶性化合物を母液晶と混合して調製された組成物を試料として用いて、この組成物について、(3)低温相溶性、(4)(5)ネマチック相の上限温度および下限温度、(6)(7)粘度、(8)光学異方性、(9)誘電率異方性、(10)弾性定数、(11)しきい値電圧、(12)(13)電圧保持率等の物性値を測定した。
物性の測定は、後述する方法で行った。これらの多くは、社団法人電子情報技術産業協会(Japan Electronics and Information Technology Industries Association;以下「JEITA」ともいう。)で審議制定されるJEITA規格(JEITA・ED−2521A)に記載された方法、またはこれを修飾した方法であった。測定に用いたTN素子には、TFTを取り付けなかった。
偏光顕微鏡を備えた融点測定装置のホットプレート(メトラー社FP−52型ホットステージ)に試料(液晶性化合物)を置き、3℃/分の速度で加熱しながら相状態およびその変化を偏光顕微鏡で観察し、相の種類を特定した。
パーキンエルマー社製走査熱量計DSC−7システムまたはDiamond DSCシステムを用いて、3℃/分速度で昇降温し、試料(液晶性化合物)の相変化に伴う、吸熱ピークまたは発熱ピークの開始点を外挿により求め、相転移温度を決定した。
液晶性化合物の混合割合が、20%、15%、10%、5%、3%および1%となるように母液晶Aと液晶性化合物とを混合した試料を調製し、試料をガラス瓶に入れた。このガラス瓶を、−10℃または−20℃のフリーザー中に一定期間保管した後、結晶(またはスメクチック相)が析出しているかどうかを観察した。
偏光顕微鏡を備えた融点測定装置のホットプレート(メトラー社FP−52型ホットステージ)に試料(液晶組成物、または液晶性化合物と母液晶との混合物)を置き、1℃/分の速度で加熱した。試料の一部がネマチック相から等方性液体に変化したときの温度を測定した。試料が液晶性化合物と母液晶Aとの混合物であるときは、上限温度をTNIの記号で示した。試料が液晶性化合物と成分B等との混合物であるときは、上限温度をNIの記号で示した。液晶性化合物についてのTNIは上述の外挿法により算出される外挿値であり、液晶組成物についてのTNIおよびNIは混合物そのものの測定値である。
ネマチック相を有する試料を0℃、−10℃、−20℃、−30℃および−40℃のフリーザー中に10日間保管した後、液晶相を観察した。例えば、試料が−20℃ではネマチック相のままであり、−30℃では結晶またはスメクチック相に変化したとき、TCを≦−20℃と記載した。
粘度(バルク粘度)は、E型回転粘度計を用いて測定した。
粘度(回転粘度)の測定は、M. Imai et al., Molecular Crystals and Liquid Crystals, Vol. 259, 37 (1995) に記載された方法に従った。2枚のガラス基板の間隔(セルギャップ)が20μmのVA素子に試料を入れた。この素子に30V〜50Vの範囲で1V毎に段階的に電圧を印加した。0.2秒の無印加の後、ただ1つの矩形波(矩形パルス;0.2秒)と無印加(2秒)との条件で印加を繰り返した。この印加によって発生した過渡電流(transient current)のピーク電流(peak current)とピーク時間(peak time)とを測定した。これらの測定値とM. Imai et al.の論文、40頁の計算式(8)とから、回転粘度の値を得た。この計算に必要な誘電率異方性の値は、下記〈誘電率異方性の値(Δε;25℃で測定)〉で測定した値を用いた。
光学異方性の値(Δn)の測定は、25℃の温度下で、波長589nmの光を用い、接眼鏡に偏光板を取り付けたアッベ屈折計により行なった。主プリズムの表面を一方向にラビングした後、試料を主プリズムに滴下した。屈折率(n‖)は、偏光の方向がラビングの方向と平行であるときに測定した。屈折率(n⊥)は、偏光の方向がラビングの方向と垂直であるときに測定した。光学異方性の(Δn)は、Δn=n‖−n⊥の式から計算した。
誘電率異方性の値は、Δε=ε‖−ε⊥の式から計算した。
誘電率(ε‖およびε⊥)は、次のように測定した。
弾性定数の測定には、EC−1型弾性定数測定器((株)東陽テクニカ製)を用いた。2枚のガラス基板の間隔(セルギャップ)が20μmである垂直配向素子に試料を入れた。この素子に20V〜0Vの電圧を印加し、静電容量および印加電圧を測定した。静電容量(C)および印加電圧(V)の値を、「液晶デバイスハンドブック」(日刊工業新聞社)、75頁にある式(2.98)および式(2.101)を用いてフィッティングし、式(2.100)から弾性定数の値を得た。
しきい値電圧(Vth)の測定には、LCD5100型輝度計(大塚電子(株)製)を用いた。光源はハロゲンランプである。2枚のガラス基板の間隔(セルギャップ)が4μmであり、ラビング方向がアンチパラレルであるノーマリーブラックモード(normally black mode)のVA素子に試料を入れ、この素子を紫外線で硬化する接着剤を用いて密閉した。この素子に印加する電圧(60Hz、矩形波)を、0V〜20Vまで0.02Vずつ段階的に増加させた。この際に、素子に垂直方向から光を照射し、素子を透過した光量を測定した。この光量が最大になったときが透過率100%であり、この光量が最小であったときが透過率0%である電圧−透過率曲線を作成した。しきい値電圧は、透過率が10%になったときの電圧である。
電圧保持率(VHR−1)の測定に用いたTN素子は、ポリイミド配向膜を有し、そして2枚のガラス基板の間隔(セルギャップ)は5μmである。この素子に試料を入れた後、紫外線で硬化する接着剤を用いて密閉した。このTN素子にパルス電圧(5Vで60マイクロ秒)を印加して充電した。減衰する電圧を高速電圧計で16.7ミリ秒の間測定し、単位周期における電圧曲線と横軸との間の面積Aを求めた。面積Bは減衰しなかったときの面積である。電圧保持率は面積Bに対する面積Aの百分率である。
電圧保持率(VHR−2)の測定に用いたTN素子は、ポリイミド配向膜を有し、そして2枚のガラス基板の間隔(セルギャップ)は5μmである。この素子に試料を入れた後、紫外線で硬化する接着剤を用いて密閉した。このTN素子にパルス電圧(5Vで60マイクロ秒)を印加して充電した。減衰する電圧を高速電圧計で16.7ミリ秒の間測定し、単位周期における電圧曲線と横軸との間の面積Aを求めた。面積Bは減衰しなかったときの面積である。電圧保持率は面積Bに対する面積Aの百分率である。
[実施例1]化合物(No.81)の合成
反応器へo−フルオロフェノール(s1)(50g,446mmol)、炭酸カリウム(123.3g,892mmol)、テトラブチルアンモニウムブロミド(TBAB)(7.2g,22.3mmol)、およびN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)(250ml)を入れた。ヨウ化エチル(139.1g,892mmol)を室温でゆっくりと滴下し、次に室温にて5時間攪拌した。反応混合物を飽和食塩水に注ぎ込み、ヘキサンで抽出した。一緒にした有機層を水、飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣を減圧蒸留(2670Pa)にて精製して、化合物(s2)(52.3g,373mmol;83モル%)を得た。
窒素雰囲気下、反応器へ化合物(s2)(20g,142.7mmol)とTHF(300ml)を入れて、−70℃以下に冷却した。そこへ、sec−ブチルリチウム(1.08M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;165ml,178.3mmol)を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、さらに1時間攪拌した。ホウ酸トリメチル(21.05ml,178.3mmol)のTHF(50ml)溶液を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、25℃に戻しつつ3時間攪拌した。そこへ、酢酸(12.25ml,214.0mmol)を20℃から25℃の温度範囲で滴下した。30分後、過酸化水素(30%水溶液、32.3g,285.4mmol)を25℃から35℃の温度範囲で滴下し、さらに10時間攪拌した。反応混合物を水に注ぎ込み、酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水、亜硫酸ナトリウム水溶液、水、および飽和食塩水の順で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、化合物(s3)(22.0g,141.0mol;99モル%)を得た。化合物(s3)は精製せずに次の反応に用いた。
反応器へ水素化ナトリウム(60%,6.77g,169.2mol))およびTHF(220ml)を入れ、氷冷した。化合物(s3)(22.0g,141.0mol)のTHF(30ml)溶液を0℃から10℃の温度範囲で滴下し、25℃に戻しつつ1時間攪拌した。再び氷冷したのち、クロロメチルメチルエーテル(MOMCl)(13.6g,169.2mol)を0℃から10℃の温度範囲で滴下し、25℃に戻しつつ3時間攪拌した。反応混合物を氷水に注ぎ込み、10分間攪拌したのち酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水、飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=20:1)で精製したのち、減圧蒸留(530Pa)することによって、化合物(s4)(17.7g,88.6mmol;62モル%)を得た。
窒素雰囲気下、反応器へ化合物(s4)(5g,25.0mmol)とTHF(75ml)を入れて、−70℃以下に冷却した。そこへ、sec−ブチルリチウム(1.08M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;27.8ml,30.0mmol)を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、さらに1時間攪拌した。化合物(s5)(6.26g,25.0mmol)のTHF(20ml)溶液を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、−70℃以下で3時間攪拌した。反応混合物を氷水に注ぎ込んだのち30分間攪拌し、酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水および飽和食塩水の順で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=4:1)で精製し、化合物(s6)(8.8g,19.5mmol;78モル%)を得た。
窒素雰囲気下、反応器へ化合物(s6)(4.5g,9.99mmol)および塩化メチレン(45ml)を入れた。この溶液を0℃に冷却し、デスマーチンペルヨージナン(DMP;5.1g,12.0mmol)を3回に分けて加えた。室温に戻しながらさらに2時間攪拌した。反応混合物を飽和重曹水へ注ぎ込み、酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水、亜硫酸ナトリウム水溶液、水、および飽和食塩水の順で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=9:1)で精製して、化合物(s7)(1.61g,3.6mmol;36モル%)を得た。
反応器へ化合物(s7)(1.61g,3.6mmol)、2N−塩酸(2.15ml,4.3mmol)、およびエタノール(30ml)を入れた。この混合物を加熱還流下1時間半攪拌した。25℃まで冷却後、この反応混合物へ水を加え、酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水、飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=20:1)で精製したのち、再結晶(溶媒;ヘプタン)することによって、化合物(No.81)(17.7g,88.6mmol;62モル%)を得た。
相転移温度:C 137.2 I.
化合物(s4)(2.93g,14.7mmol)および化合物(s8)(4.5g,14.7mmol)を出発原料とし、sec−ブチルリチウム(1.06M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;16.6ml,17.6mmol)を反応剤として用い、実施例1の第4工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s9)(5.64g,11.1mmol)を得た。化合物(s8)からの収率は76モル%であった。
化合物(s9)(5.64g,11.1mmol)を出発原料とし、デスマーチンペルヨージナン(DMP;5.65g,13.3mmol)を反応剤として用い、実施例1の第5工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s10)(4.3g,8.5mmol)を得た。化合物(s9)からの収率は77モル%であった。
化合物(s10)(4.3g,8.5mmol)を出発原料とし、2N−塩酸(5.1ml,10.2mmol)を反応剤として用い、実施例1の第6工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(No.83)(2.2g,4.77mmol)を得た。化合物(s10)からの収率は56モル%であった。
相転移温度:C 129.0 (N 122.0) I.
化合物(s4)(1.8g,9.0mmol)および化合物(s11)(2.5g,9.0mmol)を出発原料とし、sec−ブチルリチウム(1.06M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;10.2ml,10.8mmol)を反応剤として用い、実施例1の第4工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s12)(2.57g,5.37mmol)を得た。化合物(s11)からの収率は60モル%であった。
化合物(s12)(2.57g,5.37mmol)を出発原料とし、デスマーチンペルヨージナン(DMP;2.7g,6.4mmol)を反応剤として用い、実施例1の第5工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s13)(2.25g,4.7mmol)を得た。化合物(s12)からの収率は88モル%であった。
化合物(s13)(2.25g,4.7mmol)を出発原料とし、2N−塩酸(2.8ml,5.6mmol)を反応剤として用い、実施例1の第6工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(No.121)(1.5g,3.5mmol)を得た。化合物(s13)からの収率は74モル%であった。
相転移温度:C 99.3 C 147.8 N 158.7 I.
化合物(s4)(3.0g,15.0mmol)および化合物(s14)(2.5g,15.0mmol)を出発原料とし、sec−ブチルリチウム(1.08M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;16.7ml,18.0mmol)を反応剤として用い、実施例1の第4工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s15)(3.4g,9.2mmol)を得た。化合物(s14)からの収率は61モル%であった。
化合物(s15)(3.1g,8.4mmol)を出発原料とし、デスマーチンペルヨージナン(DMP;4.3g,10.1mmol)を反応剤として用い、実施例1の第5工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s16)(2.9g,7.9mmol)を得た。化合物(s15)からの収率は94モル%であった。
化合物(s16)(2.8g,7.6mmol)を出発原料とし、2N−塩酸(4.6ml,9.2mmol)を反応剤として用い、実施例1の第6工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(No.21)(1.9g,5.9mmol)を得た。化合物(s16)からの収率は78モル%であった。
相転移温度:C 107.4 I.
化合物(s4)(7.5g,37.5mmol)およびバレルアルデヒド(s17)(3.87g,45mmol)を出発原料とし、sec−ブチルリチウム(1.06M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;42.4ml,45mmol)を反応剤として用い、実施例1の第4工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s18)(8.7g,30.4mmol)を得た。化合物(s17)からの収率は81モル%であった。
化合物(s18)(8.2g,28.6mmol)を出発原料とし、デスマーチンペルヨージナン(DMP;14.6g,34.4mmol)を反応剤として用い、実施例1の第5工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(s19)(6.0g,21.2mmol)を得た。化合物(s18)からの収率は74モル%であった。
化合物(s19)(6.0g,21.2mmol)を出発原料とし、2N−塩酸(12.7ml,25.4mmol)を反応剤として用い、実施例1の第6工程に準じて反応操作を行なうことで、化合物(No.3)(3.5g,14.6mmol)を得た。化合物(s19)からの収率は69モル%であった。
相転移温度:C 47.0 C 48.7 I.
相転移温度:C 53.6 I.
相転移温度:C 117.7 I.
相転移温度:C 99.0 I.
相転移温度:C 125.4 I.
相転移温度:C 72.8 I.
実施例1の第4工程にて得られた化合物(s6)(3.0g,6.66mmol)およびp−トルエンスルホン酸(60mg,0.33mmol)をトルエン(60ml)中にて1時間加熱還流した。反応液を室温まで冷却したのち、飽和重曹水、水、および飽和食塩水にて洗浄後、無水硫酸ナトリウムにて乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=20:1)および再結晶(溶媒;ヘプタン)にて精製することによって、化合物(s20)(0.9g,2.32mmol;35モル%)を得た。
化合物(s20)(0.9g,2.32mmol)および5%パラジウム−炭素触媒デスマーチンペルヨージナン(14.6g)をトルエン(4.5ml)およびイソプロパノール4.(5ml)中に混合したのち、水素雰囲気下にて3時間攪拌した。反応液を濾過したのち濾液を濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=20:1)および再結晶(溶媒;ヘプタン)にて精製することによって、化合物(CoNo1)(0.6g,1.54mmol;66モル%)を得た。
相転移温度:C 85.3 SA 153 N 167 I.
窒素雰囲気下、反応器へ化合物(s21)(80g,365mmol)および金属マグネシウム(10.65g,438mmol)を入れて、THF(800ml)中にてグリニャール試薬を調製した。2時間後、ホウ酸トリメチル(56.0ml,474.5mmol)のTHF(110ml)溶液を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、25℃に戻しつつ20時間攪拌した。そこへ、酢酸(31.3ml,547.5mmol)を20℃から25℃の温度範囲で滴下した。30分後、過酸化水素(30%水溶液、82.7g,730mmol)を25℃から35℃の温度範囲で滴下し、さらに10時間攪拌した。反応混合物を水に注ぎ込み、酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水、亜硫酸ナトリウム水溶液、水、および飽和食塩水の順で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮したのち、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=20:1)および減圧蒸留(930Pa)にて精製して、化合物(s22)(38.0g,243mmol;66モル%)を得た。
反応器へ化合物(s22)(19.4g,124mmol)、炭酸カリウム(34.2g,248mmol)、テトラブチルアンモニウムブロミド(TBAB)(4.0g,12.4mmol)、およびN,N−ジメチルホルムアミド(DMF)(450ml)を入れた。化合物(s23)(45g,149mmol)を室温でゆっくりと滴下し、80℃にて10時間攪拌した。室温まで冷却した反応混合物を飽和食塩水に注ぎ込み、トルエンで抽出した。一緒にした有機層を水、飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=20:1)および再結晶(溶媒;ヘプタン、エタノール)にて精製することによって、化合物(s24)(32.4g,87.6mmol;69モル%)を得た。
窒素雰囲気下、反応器へ化合物(s24)(5g,13.3mmol)およびTHF(125ml)を入れて、−70℃以下に冷却した。そこへ、sec−ブチルリチウム(1.08M;n−ヘキサン/シクロヘキサン溶液;14.77ml,15.96mmol)を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、さらに1時間攪拌した。ホウ酸トリメチル(1.88ml,15.96mmol)のTHF(5ml)溶液を−75℃から−70℃の温度範囲で滴下し、25℃に戻しつつ3時間攪拌した。そこへ、酢酸(1.14ml,19.95mmol)を20℃から25℃の温度範囲で滴下した。30分後、過酸化水素(30%水溶液、3.76g,33.25mmol)を25℃から35℃の温度範囲で滴下し、さらに10時間攪拌した。反応混合物を水に注ぎ込み、酢酸エチルで抽出した。一緒にした有機層を水、亜硫酸ナトリウム水溶液、水、および飽和食塩水の順で洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。この溶液を減圧下で濃縮し、残渣をシリカゲルクロマトグラフィー(体積比、ヘプタン:酢酸エチル=9:1)および再結晶(溶媒;ヘプタン)にて精製することによって、化合物(CoNo.2)(3.1g,7.9mmol;59モル%)を得た。
相転移温度:C 100 N 157.6 I.
(1)95%の母液晶Aと、5%の液晶性化合物(No.81)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=76.2℃;誘電率異方性の値(Δε)=−2.00;光学異方性の値(Δn)=0.0895。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.81)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=106.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−15.30;光学異方性の値(Δn)=0.137。
(2)97%の母液晶Aと、3%の液晶性化合物(No.83)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=75.3℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.73;光学異方性の値(Δn)=0.0882。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.83)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=97.9℃;誘電率異方性の値(Δε)=−15.63;光学異方性の値(Δn)=0.127。
(3)95%の母液晶Aと、5%の液晶性化合物(No.121)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=78.1℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.96;光学異方性の値(Δn)=0.090。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.121)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=144.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−14.50;光学異方性の値(Δn)=0.147。
(4)95%の母液晶Aと、5%の液晶性化合物(No.21)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=70.0℃;誘電率異方性の値(Δε)=−2.24;光学異方性の値(Δn)=0.0875。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.21)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=−17.4℃;誘電率異方性の値(Δε)=−20.10;光学異方性の値(Δn)=0.097。
(5)85%の母液晶Aと、15%の液晶性化合物(No.3)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=48.4℃;誘電率異方性の値(Δε)=−3.07;光学異方性の値(Δn)=0.081。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.3)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=−100.1℃;誘電率異方性の値(Δε)=−13.10;光学異方性の値(Δn)=0.047。
(6)85%の母液晶Aと、15%の液晶性化合物(No.6)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=51.8℃;誘電率異方性の値(Δε)=−3.07;光学異方性の値(Δn)=0.082。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.6)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=−77.4℃;誘電率異方性の値(Δε)=−13.10;光学異方性の値(Δn)=0.052。
(7)95%の母液晶Aと、5%の液晶性化合物(No.127)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=75.0℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.91;光学異方性の値(Δn)=0.091。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.127)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=82.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−11.98;光学異方性の値(Δn)=0.165。
(8)95%の母液晶Aと、5%の液晶性化合物(No.141)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=75.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.83;光学異方性の値(Δn)=0.093。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(No.141)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=94.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−10.38;光学異方性の値(Δn)=0.207。
(9)85%の母液晶Aと、15%の液晶性化合物(CoNo.1)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=82.7℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.28;光学異方性の値(Δn)=0.0883。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(CoNo.1)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=128.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.17;光学異方性の値(Δn)=0.096。
(10)85%の母液晶Aと、15%の液晶性化合物(CoNo.2)とからなる試料(液晶組成物)を調製した。この試料の物性は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=82.4℃;誘電率異方性の値(Δε)=−1.80;光学異方性の値(Δn)=0.0885。母液晶Aおよび上記試料の物性値と液晶性化合物の混合比とから、外挿法により算出した液晶性化合物(CoNo.2)の物性値は、以下のとおりであった。上限温度(TNI)=126.6℃;誘電率異方性の値(Δε)=−4.63;光学異方性の値(Δn)=0.097。
前記の合成法、実施例1〜5に記載された合成方法と同様の方法により、下記の化合物(No.1〜No.220)を合成することができる。なお、実施例1〜10による化合物(No.3、6、14、21、81、83、121、127、131および141)も列挙した。
Claims (11)
- 式(1)で表される化合物。
R1およびR2は、独立して、炭素数1〜10のアルキルであり、前記アルキルにおいて、少なくとも1つの−CH2−は−O−で置き換えられてもよく、少なくとも1つの−(CH2)2−は−CH=CH−で置き換えられてもよく;
環A1および環A2は、独立して、1,4−シクロへキシレンまたは1,4−フェニレンであり、1,4−シクロへキシレンを構成する少なくとも1つの−(CH2)2−は−CH=CH−で置き換えられてもよく、1,4−シクロへキシレンを構成する少なくとも1つの
Z1は、単結合、−(CH2)2−、−CH2O−、−OCH2−、−CF2O−、−OCF2−、−COO−または−OCO−であり;
Yは、フッ素、塩素、−CF3、−CHF2または−CH2Fであり;
m、nおよびpは、独立して、0、1または2であり、
m+nは、0、1または2である。] - 式(1)において、
R1およびR2が、独立して、炭素数1〜10のアルキル、炭素数2〜10のアルケニル、炭素数1〜9のアルコキシ、炭素数2〜9のアルコキシアルキルまたは炭素数2〜9のアルケニルオキシであり;
環A1および環A2が、独立して、1,4−シクロへキシレン、1,4−シクロヘキセニレン、テトラヒドロピラン−2,5−ジイル、1,4−フェニレン、2−フルオロ−1,4−フェニレンまたは2,3−ジフルオロ−1,4−フェニレンである;
請求項1に記載の化合物。 - 式(1)において、Yがフッ素である、請求項2に記載の化合物。
- 式(1)において、m=n=1である、請求項2または3に記載の化合物。
- 式(1)において、m=0かつn=1である、請求項2または3に記載の化合物。
- 式(1)において、m=n=p=0である、請求項2または3に記載の化合物。
- 請求項1〜6のいずれか1項に記載の化合物の、液晶組成物の含有成分としての使用。
- 請求項1〜6のいずれか1項に記載の化合物を少なくとも1種含有する液晶組成物。
- 光学活性化合物および重合可能な化合物から選択される少なくとも1種をさらに含有する請求項8に記載の液晶組成物。
- 酸化防止剤および紫外線吸収剤から選択される少なくとも1種をさらに含有する請求項8または9に記載の液晶組成物。
- 請求項8〜10のいずれか1項に記載の液晶組成物を含む液晶表示素子。
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