JP5934069B2 - 積層構造体、半導体製造装置用部材及び積層構造体の製造方法 - Google Patents
積層構造体、半導体製造装置用部材及び積層構造体の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5934069B2 JP5934069B2 JP2012203586A JP2012203586A JP5934069B2 JP 5934069 B2 JP5934069 B2 JP 5934069B2 JP 2012203586 A JP2012203586 A JP 2012203586A JP 2012203586 A JP2012203586 A JP 2012203586A JP 5934069 B2 JP5934069 B2 JP 5934069B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mol
- less
- aluminum
- raw material
- rare earth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
- H01L21/6833—Details of electrostatic chucks
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B18/00—Layered products essentially comprising ceramics, e.g. refractory products
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/515—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics
- C04B35/58—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/515—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics
- C04B35/58—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides
- C04B35/581—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides based on aluminium nitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/622—Forming processes; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/64—Burning or sintering processes
- C04B35/645—Pressure sintering
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32211—Means for coupling power to the plasma
- H01J37/3222—Antennas
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32192—Microwave generated discharge
- H01J37/32211—Means for coupling power to the plasma
- H01J37/32238—Windows
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32458—Vessel
- H01J37/32477—Vessel characterised by the means for protecting vessels or internal parts, e.g. coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32532—Electrodes
- H01J37/3255—Material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32715—Workpiece holder
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
- C04B2235/3205—Alkaline earth oxides or oxide forming salts thereof, e.g. beryllium oxide
- C04B2235/3206—Magnesium oxides or oxide-forming salts thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
- C04B2235/3217—Aluminum oxide or oxide forming salts thereof, e.g. bauxite, alpha-alumina
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
- C04B2235/3217—Aluminum oxide or oxide forming salts thereof, e.g. bauxite, alpha-alumina
- C04B2235/3222—Aluminates other than alumino-silicates, e.g. spinel (MgAl2O4)
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
- C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
- C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
- C04B2235/3225—Yttrium oxide or oxide-forming salts thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/38—Non-oxide ceramic constituents or additives
- C04B2235/3852—Nitrides, e.g. oxynitrides, carbonitrides, oxycarbonitrides, lithium nitride, magnesium nitride
- C04B2235/3865—Aluminium nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/38—Non-oxide ceramic constituents or additives
- C04B2235/3852—Nitrides, e.g. oxynitrides, carbonitrides, oxycarbonitrides, lithium nitride, magnesium nitride
- C04B2235/3865—Aluminium nitrides
- C04B2235/3869—Aluminium oxynitrides, e.g. AlON, sialon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/70—Aspects relating to sintered or melt-casted ceramic products
- C04B2235/72—Products characterised by the absence or the low content of specific components, e.g. alkali metal free alumina ceramics
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/70—Aspects relating to sintered or melt-casted ceramic products
- C04B2235/80—Phases present in the sintered or melt-cast ceramic products other than the main phase
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/70—Aspects relating to sintered or melt-casted ceramic products
- C04B2235/96—Properties of ceramic products, e.g. mechanical properties such as strength, toughness, wear resistance
- C04B2235/9607—Thermal properties, e.g. thermal expansion coefficient
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/30—Composition of layers of ceramic laminates or of ceramic or metallic articles to be joined by heating, e.g. Si substrates
- C04B2237/32—Ceramic
- C04B2237/36—Non-oxidic
- C04B2237/366—Aluminium nitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2237/00—Aspects relating to ceramic laminates or to joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/50—Processing aspects relating to ceramic laminates or to the joining of ceramic articles with other articles by heating
- C04B2237/60—Forming at the joining interface or in the joining layer specific reaction phases or zones, e.g. diffusion of reactive species from the interlayer to the substrate or from a substrate to the joining interface, carbide forming at the joining interface
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/26—Web or sheet containing structurally defined element or component, the element or component having a specified physical dimension
- Y10T428/263—Coating layer not in excess of 5 mils thick or equivalent
- Y10T428/264—Up to 3 mils
- Y10T428/265—1 mil or less
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Description
マグネシウム−アルミニウム酸窒化物を主相とする第1構造体と、
窒化アルミニウムを主相とし、ガーネット型の結晶構造を有する希土類アルミニウム複合酸化物の粒界相を含む第2構造体と、
前記第1構造体と前記第2構造体との間に存在し希土類アルミニウム複合酸化物の粒界相の希薄な窒化アルミニウムの層である反応層と、を備え、
前記反応層は、厚さが150μm以下であり、
前記第1構造体と前記第2構造体の線熱膨張係数の差が0.3ppm/K以下であるものである。
第1構造体と第2構造体とを積層した積層構造体の製造方法であって、
前記第1構造体と前記第2構造体の線熱膨張係数の差が0.3ppm/K以下となり、窒化アルミニウムを主相としガーネット型の結晶構造を有する希土類アルミニウム複合酸化物が粒界相となる前記第2構造体の原料粉体を、マグネシウム−アルミニウム酸窒化物を含む焼結体である前記第1構造体に形成し、ホットプレス焼成する第2構造体作製工程、を含むものである。
AlN原料、MgO原料及びAl2O3原料を、表1に示すmol%となるように秤量し、イソプロピルアルコールを溶媒とし、ナイロン製のポット、直径20mmの鉄芯入りナイロンボールを用いて4時間湿式混合した。ここで、AlN原料、MgO原料及びAl2O3原料は、純度99.9質量%以上、平均粒径1μm以下の市販品を使用した。なお、AlN原料については1質量%程度の酸素の含有は不可避であるため、酸素を不純物元素から除いた純度である。次に、混合後スラリーを取り出し、窒素気流中110℃で乾燥した。その後30メッシュの篩に通し、第1構造体の調合粉体とした。この調合粉体を、100kgf/cm2の圧力で一軸加圧成形し、円盤状成形体を作製し、焼成用黒鉛モールドに収納した。円盤状成形体をホットプレス焼成した後、加工によって直径50mm、厚さ10mmの円盤状の第1構造体を得た。ホットプレス焼成では、プレス圧力を200kgf/cm2とし、表1に示す焼成温度(最高温度)で焼成し、焼成終了まで窒素雰囲気とした。焼成温度での保持時間は4時間とした。
AlN原料、Y2O3原料及びAl2O3原料を、表1に示すmol%となるように秤量し、イソプロピルアルコールを溶媒とし、ナイロン製のポット、直径20mmの鉄芯入りナイロンボールを用いて4時間湿式混合した。ここで、AlN原料及びAl2O3原料は第1構造体と同じものを用い、Y2O3原料は純度99.9%以上、平均粒径1μm以下の市販品を使用した。次に、混合後スラリーを取り出し、窒素気流中110℃で乾燥した。その後30メッシュの篩に通し、第2構造体の調合粉体とした。円筒型の金型内に第2構造体の調合粉体を充填し、200kgf/cm2の圧力で一軸加圧成形することにより、第2構造体の円盤状成形体を作製した。その後、上記にて作製した第1構造体の上に第2構造体の成形体を積み上げた積層体を焼成用黒鉛モールドに収納し、ホットプレス焼成することにより、一体焼結された積層構造体を得た。ホットプレス焼成では、プレス圧力を200kgf/cm2とし、表1に示す積層焼成温度で焼成し、焼成終了まで窒素雰囲気とした。積層焼成温度での保持時間は4時間とした。こうして得られた焼結体は、上部をマグネシウム−アルミニウム酸窒化物を主相とする高耐食な表面とし、下部を窒化アルミニウムを主相とし希土類アルミニウム複合酸化物を含む高熱伝導な基材とすることができる。なお、第2構造体の厚さは、17mmとした。
第1構造体については、AlN原料が80.3mol%、MgO原料が10.9mol%、Al2O3原料が8.8mol%の組成比で混合して焼成温度を1950℃とし、第2構造体については、AlN原料が97.8mol%、Y2O3原料が2.2mol%、Al2O3原料が0mol%の組成比で混合して焼成温度を1800℃として作製した積層構造体を比較例1とした。また、第2構造体についてAlN原料が89.9mol%、Y2O3原料が10.1mol%、Al2O3原料が0mol%の組成比で混合した以外は比較例1と同様の工程で作製した積層構造体を比較例2とした。この比較例1,2では、希土類酸化物及び酸化アルミニウムのモル総量(R+A)に対する希土類酸化物のモル量Rの比(R/(R+A))は、1.00である。作製した各積層構造体の作製条件を表1に示す。
第1構造体については、AlN原料が80.3mol%、MgO原料が10.9mol%、Al2O3原料が8.8mol%の組成比で混合して焼成温度を1950℃とし、第2構造体については、AlN原料が93.5mol%、Y2O3原料が2.7mol%、Al2O3原料が3.8mol%の組成比で混合して焼成温度を1700℃として作製した積層構造体を実施例1とした。また、積層体の焼成温度を1750℃、1800℃とした以外は実施例1と同様の工程を経て得られた積層構造体をそれぞれ実施例2,3とした。
また、積層体の焼成温度を1850℃とした以外は実施例1と同様の工程を経て得られた積層構造体を比較例3とした。また、積層体の焼成温度を1900℃とした以外は実施例1と同様の工程を経て得られた積層構造体を比較例4とした。実施例1〜3及び比較例3,4の比(R/(R+A))は、0.41である。実施例1〜3及び比較例3,4は、第2構造体の焼成温度について検討するものである。
また、第2構造体のAlN原料が98.8mol%、Y2O3原料が0.7mol%、Al2O3原料が0.5mol%の組成比で混合して焼成温度を1800℃とした以外は実施例1と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例4とした。また、第2構造体のAlN原料が96.9mol%、Y2O3原料が1.7mol%、Al2O3原料が1.4mol%の組成比で混合した以外は実施例4と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例5とした。また、第2構造体のAlN原料が97.0mol%、Y2O3原料が1.5mol%、Al2O3原料が1.5mol%の組成比で混合した以外は実施例4と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例6とした。また、第2構造体のAlN原料が95.4mol%、Y2O3原料が2.0mol%、Al2O3原料が2.6mol%の組成比で混合した以外は実施例4と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例7とした。また、第2構造体のAlN原料が92.1mol%、Y2O3原料が3.2mol%、Al2O3原料が4.7mol%の組成比で混合した以外は実施例4と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例8とした。実施例4〜8の比(R/(R+A))は、それぞれ、0.60、0.55、0.50、0.43、0.41である。
また、第2構造体のAlN原料が86.7mol%、Y2O3原料が5.2mol%、Al2O3原料が8.1mol%の組成比で混合した以外は実施例4と同様の工程を経て得られた積層構造体を比較例5とした。
第1構造体については、AlN原料が88.8mol%、MgO原料が5.3mol%、Al2O3原料が5.9mol%の組成比で混合して焼成温度を1950℃とし、第2構造体については、AlN原料が96.7mol%、Y2O3原料が1.5mol%、Al2O3原料が1.8mol%の組成比で混合して焼成温度を1700℃として作製した積層構造体を実施例9とした。また、積層体の焼成温度を1800℃とした以外は実施例9と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例10とした。
第1構造体については、AlN原料が73.6mol%、MgO原料が18.3mol%、Al2O3原料が8.1mol%の組成比で混合して焼成温度を1950℃とし、第2構造体については、AlN原料が92.1mol%、Y2O3原料が3.2mol%、Al2O3原料が4.7mol%の組成比で混合して焼成温度を1700℃として作製した積層構造体を実施例11とした。また、積層体の焼成温度を1800℃とした以外は実施例11と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例12とした。
第1構造体については、AlN原料が74.7mol%、MgO原料が21.2mol%、Al2O3原料が4.1mol%の組成比で混合して焼成温度を1950℃とし、第2構造体については、AlN原料が86.7mol%、Y2O3原料が5.2mol%、Al2O3原料が8.1mol%の組成比で混合して焼成温度を1700℃として作製した積層構造体を実施例13とした。また、積層体の焼成温度を1800℃とした以外は実施例13と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例14とした。
第1構造体については、AlN原料が54.0mol%、MgO原料が31.5mol%、Al2O3原料が14.5mol%の組成比で混合して焼成温度を1950℃とし、第2構造体については、AlN原料が86.7mol%、Y2O3原料が5.2mol%、Al2O3原料が8.1mol%の組成比で混合して焼成温度を1700℃として作製した積層構造体を実施例15とした。また、積層体の焼成温度を1800℃とした以外は実施例15と同様の工程を経て得られた積層構造体を実施例16とした。
純水を媒体としたアルキメデス法により測定した。
第1構造体と第2構造体との反応層から十分に離れた部分を乳鉢で粉砕し、X線回折装置により結晶相を同定した。測定条件はCuKα,40kV,40mA,2θ=5〜70°とし、封入管式X線回折装置(ブルカー・エイエックスエス製 D8 ADVANCE)を使用した。比較例1の第2構造体以外の測定試料には、標準物質としてSiを添加した。また、第2構造体に含まれる結晶相の簡易定量を行った。この簡易定量は、第2構造体に含まれる結晶相の含有量をX線回折のピークに基づいて求めるものである。本例では、AlN、モノクリニック型の希土類アルミニウム複合酸化物(M)、ガーネット型の希土類アルミニウム複合酸化物(G)、ペロブスカイト型の希土類アルミニウム複合酸化物(P)及びそれ以外の希土類酸化物(RE2O3)に分けて簡易定量を行い含有量を求めた。簡易定量には、ブルカー・エイエックスエス社の粉末回折データ解析用ソフトウェア「EVA」の簡易プロファイルフィッティング機能(FPM Eval.)を利用した。本機能は定性した結晶相のICDD PDFカードのI/Icor(コランダムの回折強度に対する強度比)を用いて構成相の量比を算出するものである。本機能により、2θ=10〜60°の範囲で、各構成相のICDD PDFカード番号に、AlN:00-025-1133、M(Y4Al2O9):00-055-1088、G(Y3Al5O12):01-070-7794、P(YAlO3):01-070-1677を用いて解析した。
作製した積層構造体の外観を観察することにより、界面及び上下面のクラックの有無を判定した。クラック評価では、積層構造体の外面に市販の蛍光探傷液を浸透させ、ブラックライト(紫外線)を照射し、クラックの有無を目視により評価した
作製した積層構造体のSEM観察を行った。SEM観察では、第1構造体及び第2構造体の接合部分を含む断面を電子顕微鏡(SEM;フィリップス社製XL30)により反射電子像で観察した。SEM撮影は、加速電圧20kV、スポットサイズ4の条件で行った。このとき、微構造測定結果及びSEM−EDSによる組成分析結果から第1構造体と第2構造体との初期界面や、第2構造体から希土類の粒界相が拡散した二次界面を決定した。この初期界面と二次界面との間の層を反応層とし、この反応層の厚さをSEMのスケールを用いて実測した。なお、初期界面及び二次界面は、撮影した画像のコントラストから判別可能であった。
熱膨張計(マックサイエンス製TD5000S)を用いてアルゴン雰囲気中で測定した。
各測定結果をまとめて表2に示す。図2は、実施例1,15の第1構造体の断面のSEM写真である。図3は、実施例3,4の反応層を含む断面のSEM写真である。図4〜7は、それぞれ比較例1、2及び実施例1,4の第2構造体のX線回折測定結果である。図8,9は、それぞれ実施例1,15の第1構造体のX線回折測定結果である。なお、第1構造体については、実施例1〜8及び比較例1〜5は同じ構成であり、実施例9と10、11と12、13と14、15と16は同じ構成である。図2に示すように、実施例1ではマグネシウム−アルミニウム酸窒化物(Mg−Al−O−N)が確認され、実施例15ではマグネシウム−アルミニウム酸窒化物及び副相として少量のMgAl2O4が確認された。図3に示すように、実施例3,4など、作製した積層構造体では、初期界面から第2構造体中の希土類アルミニウム複合酸化物が第1構造体側へ拡散し、希土類を含む粒界相が希薄となった、窒化アルミニウムを主とする反応層が形成されていた。この反応層の厚さは、第2構造体の組成などを含む作製条件に依存して変化することがわかった。また、X線回折測定により、すべての第2構造体は、窒化アルミニウムが主相であり、モノクリニック型、ガーネット型及びペロブスカイト型のうちいずれか1以上のイットリウム−アルミニウム複合酸化物(以下、単に複合酸化物とも称する)の粒界相を含むことが確認された。図3に示すように、比較例1では、第2構造体に含まれる粒界相は、モノクリニック型及びペロブスカイト型の複合酸化物であった。この比較例1の反応層は、365μmと厚く、その積層構造体の外周面にはクラックが発生していた。また、図4に示すように、比較例2では、第2構造体に含まれる粒界相は、モノクリニック型の複合酸化物及び希土類酸化物(RE2O3)であった。この比較例2の反応層は、370μmと厚く、その積層構造体の外周面にはクラックが発生していた。このように、モノクリニック型の複合酸化物の粒界相を含む場合には、第2構造体に含まれる粒界相が、耐食層である第1構造体のマグネシウム−アルミニウム酸窒化物へ容易に拡散し、その結果反応層が厚くなり、クラックが生じやすくなるものと推察された。なお、図8に示すように、実施例1の第1構造体は、主相がマグネシウム−アルミニウム酸窒化物であった。
Claims (16)
- マグネシウム−アルミニウム酸窒化物を主相とする第1構造体と、
窒化アルミニウムを主相とし、ガーネット型の結晶構造を有する希土類アルミニウム複合酸化物の粒界相を含む第2構造体と、
前記第1構造体と前記第2構造体との間に存在し希土類アルミニウム複合酸化物の粒界相の希薄な窒化アルミニウムの層である反応層と、を備え、
前記反応層は、厚さが150μm以下であり、
前記第1構造体と前記第2構造体の線熱膨張係数の差が0.3ppm/K以下である、
積層構造体。 - 前記反応層は、厚さが100μm以下である、請求項1に記載の積層構造体。
- 前記第2構造体は、更にペロブスカイト型の結晶構造を有する希土類アルミニウム複合酸化物を含む、請求項1又は2に記載の積層構造体。
- 前記第1構造体は、CuKα線を用いたときのXRDピークが少なくとも2θ=47〜50°に現れるマグネシウム−アルミニウム酸窒化物相を主相とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の積層構造体。
- 前記第1構造体は、窒化アルミニウムが50mol%以上95mol%以下、酸化マグネシウムが1mol%以上40mol%以下、酸化アルミニウムが1mol%以上25mol%以下の原料組成である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の積層構造体。
- 前記第2構造体は、窒化アルミニウムが84mol%以上99mol%以下、酸化アルミニウムが0.5mol%以上15mol%以下、希土類酸化物が0.5mol%以上10mol%以下の原料組成である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の積層構造体。
- 前記希土類アルミニウム複合酸化物に含まれる希土類は、Y、Dy、Ho、Er、Tm、Yb及びLuのうち1以上である、請求項1〜6のいずれか1項に記載の積層構造体。
- 請求項1〜7のいずれか1項に記載の積層構造体を有する、半導体製造装置用部材。
- 第1構造体と第2構造体とを積層した積層構造体の製造方法であって、
前記第1構造体と前記第2構造体の線熱膨張係数の差が0.3ppm/K以下となり、窒化アルミニウムを主相としガーネット型の結晶構造を有する希土類アルミニウム複合酸化物が粒界相となる前記第2構造体の原料粉体を、マグネシウム−アルミニウム酸窒化物を含む焼結体である前記第1構造体に形成し、ホットプレス焼成する第2構造体作製工程、を含み、
前記第1構造体と前記第2構造体との間に存在しうる希土類アルミニウム複合酸化物の粒界相の希薄な窒化アルミニウムの層である反応層の厚さを150μm以下として前記積層構造体を製造する、積層構造体の製造方法。 - 前記第2構造体作製工程では、前記第2構造体の原料粉体の組成を、窒化アルミニウムが84mol%以上99mol%以下、酸化アルミニウムが0.5mol%以上15mol%以下、希土類酸化物が0.5mol%以上10mol%以下の範囲とする、請求項9に記載の積層構造体の製造方法。
- 前記希土類は、Y、Dy、Ho、Er、Tm、Yb及びLuのうち1以上を含む、請求項9又は10に記載の積層構造体の製造方法。
- 前記第2構造体作製工程では、前記第2構造体の原料組成を、希土類酸化物及び酸化アルミニウムのモル総量に対する希土類酸化物のモル量の比が0.7以下の範囲とする、請求項9〜11のいずれか1項に記載の積層構造体の製造方法。
- 前記第2構造体作製工程では、前記ホットプレスの焼成温度が1650℃を超え1850℃未満である、請求項9〜12のいずれか1項に記載の積層構造体の製造方法。
- 前記第1構造体は、窒化アルミニウムが50mol%以上95mol%以下、酸化マグネシウムが1mol%以上40mol%以下、酸化アルミニウムが1mol%以上25mol%以下の原料組成である、請求項9〜13のいずれか1項に記載の積層構造体の製造方法。
- 前記第1構造体は、1850℃以上2000℃以下の温度範囲でホットプレス焼成されている、請求項9〜14のいずれか1項に記載の積層構造体の製造方法。
- 請求項9〜15のいずれか1項に記載の積層構造体の製造方法であって、
マグネシウム−アルミニウム酸窒化物となる前記第1構造体の原料粉体を成形しホットプレス焼成する第1構造体作製工程、を含む積層構造体の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012203586A JP5934069B2 (ja) | 2012-09-14 | 2012-09-14 | 積層構造体、半導体製造装置用部材及び積層構造体の製造方法 |
TW102131945A TWI564266B (zh) | 2012-09-14 | 2013-09-05 | A laminated structure, a member for a semiconductor manufacturing apparatus, and a method for manufacturing the laminated structure |
CN201310410613.8A CN103681793B (zh) | 2012-09-14 | 2013-09-10 | 叠层结构体、半导体制造装置用构件及叠层结构体的制造方法 |
US14/022,629 US9142439B2 (en) | 2012-09-14 | 2013-09-10 | Laminated structure, member for semiconductor manufacturing apparatus, and method for producing laminated structure |
KR1020130108390A KR102062358B1 (ko) | 2012-09-14 | 2013-09-10 | 적층 구조체, 반도체 제조 장치용 부재 및 적층 구조체의 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012203586A JP5934069B2 (ja) | 2012-09-14 | 2012-09-14 | 積層構造体、半導体製造装置用部材及び積層構造体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014058418A JP2014058418A (ja) | 2014-04-03 |
JP5934069B2 true JP5934069B2 (ja) | 2016-06-15 |
Family
ID=50274779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012203586A Active JP5934069B2 (ja) | 2012-09-14 | 2012-09-14 | 積層構造体、半導体製造装置用部材及び積層構造体の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9142439B2 (ja) |
JP (1) | JP5934069B2 (ja) |
KR (1) | KR102062358B1 (ja) |
CN (1) | CN103681793B (ja) |
TW (1) | TWI564266B (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9034199B2 (en) | 2012-02-21 | 2015-05-19 | Applied Materials, Inc. | Ceramic article with reduced surface defect density and process for producing a ceramic article |
US9212099B2 (en) | 2012-02-22 | 2015-12-15 | Applied Materials, Inc. | Heat treated ceramic substrate having ceramic coating and heat treatment for coated ceramics |
DE102013103028A1 (de) * | 2013-03-25 | 2014-09-25 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Sinterkörper mit mehreren Werkstoffen und Druckmessgerät mit einem solchen Sinterkörper |
US9850568B2 (en) | 2013-06-20 | 2017-12-26 | Applied Materials, Inc. | Plasma erosion resistant rare-earth oxide based thin film coatings |
US9583369B2 (en) | 2013-07-20 | 2017-02-28 | Applied Materials, Inc. | Ion assisted deposition for rare-earth oxide based coatings on lids and nozzles |
US9440886B2 (en) | 2013-11-12 | 2016-09-13 | Applied Materials, Inc. | Rare-earth oxide based monolithic chamber material |
US9725799B2 (en) | 2013-12-06 | 2017-08-08 | Applied Materials, Inc. | Ion beam sputtering with ion assisted deposition for coatings on chamber components |
US9869013B2 (en) | 2014-04-25 | 2018-01-16 | Applied Materials, Inc. | Ion assisted deposition top coat of rare-earth oxide |
CN108463345B (zh) | 2015-11-16 | 2021-04-09 | 阔斯泰公司 | 耐腐蚀组件和制造方法 |
WO2018093414A1 (en) * | 2016-11-16 | 2018-05-24 | Coorstek, Inc. | Corrosion-resistant components and methods of making |
CN110662728A (zh) * | 2017-05-30 | 2020-01-07 | 京瓷株式会社 | 氮化铝质烧结体以及半导体保持装置 |
JP7412242B2 (ja) * | 2020-03-27 | 2024-01-12 | 日本碍子株式会社 | 積層構造体および半導体製造装置部材 |
CN112582330A (zh) * | 2021-02-22 | 2021-03-30 | 北京中硅泰克精密技术有限公司 | 半导体工艺设备及其静电卡盘组件 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS559426A (en) | 1978-07-07 | 1980-01-23 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
US6344271B1 (en) * | 1998-11-06 | 2002-02-05 | Nanoenergy Corporation | Materials and products using nanostructured non-stoichiometric substances |
US6447937B1 (en) | 1997-02-26 | 2002-09-10 | Kyocera Corporation | Ceramic materials resistant to halogen plasma and components using the same |
JP3559426B2 (ja) | 1997-05-30 | 2004-09-02 | 京セラ株式会社 | 耐食性部材 |
EP1770142A3 (en) * | 2000-10-06 | 2008-05-07 | 3M Innovative Properties Company | A method of making agglomerate abrasive grain |
US6607836B2 (en) * | 2000-10-23 | 2003-08-19 | Ngk Insulators, Ltd. | Material of low volume resistivity, an aluminum nitride sintered body and a member used for the production of semiconductors |
JP4514379B2 (ja) * | 2000-12-21 | 2010-07-28 | 日本碍子株式会社 | 窒化アルミニウム焼結体及び半導体製造装置用部材 |
TWI243158B (en) * | 2000-12-21 | 2005-11-11 | Ngk Insulators Ltd | Aluminum nitride sintered bodies |
JP2004244312A (ja) * | 2004-02-20 | 2004-09-02 | Kyocera Corp | 半導体製造用チャンバ構成部材 |
US20080029032A1 (en) * | 2006-08-01 | 2008-02-07 | Sun Jennifer Y | Substrate support with protective layer for plasma resistance |
JP5180034B2 (ja) * | 2008-11-21 | 2013-04-10 | 日本碍子株式会社 | 窒化アルミニウム焼結体、その製法及びそれを用いた静電チャック |
WO2012056807A1 (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-03 | 日本碍子株式会社 | セラミックス材料、積層体、半導体製造装置用部材及びスパッタリングターゲット部材 |
US9916998B2 (en) * | 2012-12-04 | 2018-03-13 | Applied Materials, Inc. | Substrate support assembly having a plasma resistant protective layer |
-
2012
- 2012-09-14 JP JP2012203586A patent/JP5934069B2/ja active Active
-
2013
- 2013-09-05 TW TW102131945A patent/TWI564266B/zh active
- 2013-09-10 KR KR1020130108390A patent/KR102062358B1/ko active IP Right Grant
- 2013-09-10 CN CN201310410613.8A patent/CN103681793B/zh active Active
- 2013-09-10 US US14/022,629 patent/US9142439B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140079946A1 (en) | 2014-03-20 |
CN103681793A (zh) | 2014-03-26 |
TWI564266B (zh) | 2017-01-01 |
KR20140035834A (ko) | 2014-03-24 |
US9142439B2 (en) | 2015-09-22 |
CN103681793B (zh) | 2017-12-19 |
TW201425263A (zh) | 2014-07-01 |
KR102062358B1 (ko) | 2020-01-03 |
JP2014058418A (ja) | 2014-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5934069B2 (ja) | 積層構造体、半導体製造装置用部材及び積層構造体の製造方法 | |
TWI600634B (zh) | 緻密質複合材料、其製法、接合體及半導體製造裝置用構件 | |
JP5307671B2 (ja) | 窒化アルミニウム基複合材料、その製造方法及び半導体製造装置用部材 | |
KR101597881B1 (ko) | 가열 장치 | |
JP6591455B2 (ja) | 高熱伝導性窒化珪素焼結体、それを用いた窒化珪素基板および窒化珪素回路基板並びに半導体装置 | |
JP6697363B2 (ja) | 半導体製造装置用部材、その製法及びシャフト付きヒータ | |
JP5819816B2 (ja) | 半導体製造装置用耐食性部材及びその製法 | |
JP2002356387A (ja) | 耐プラズマ性部材 | |
KR100756619B1 (ko) | 질화알루미늄 소결체, 반도체 제조용 부재 및 질화알루미늄소결체의 제조 방법 | |
KR20140113364A (ko) | 치밀질 복합 재료, 그 제법 및 반도체 제조 장치용 부재 | |
CN112789256B (zh) | 陶瓷烧结体以及半导体装置用基板 | |
KR20140116015A (ko) | 세라믹스 부재 및 반도체 제조 장치용 부재 | |
KR20210120847A (ko) | 적층 구조체 및 반도체 제조 장치 부재 | |
JPWO2019188148A1 (ja) | 複合焼結体、半導体製造装置部材および複合焼結体の製造方法 | |
TW202043176A (zh) | 燒成夾具 | |
JP2010208871A (ja) | 酸化アルミニウム焼結体、その製法及び半導体製造装置部材 | |
US10631370B2 (en) | Member for semiconductor manufacturing apparatus, method for producing the same, and heater including shaft | |
JP5767209B2 (ja) | 半導体製造装置用耐食性部材及びその製法 | |
Son et al. | High-strength pseudobrookite-type MgTi2O5 by spark plasma sintering | |
JP2021072350A (ja) | 複合焼結体および複合焼結体の製造方法 | |
WO2018021491A1 (ja) | セラミック接合体 | |
JP4277950B2 (ja) | 電子部品焼成用治具 | |
JP2023047311A (ja) | 低熱伝導シャフトを備える高温用サセプタ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150520 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160118 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160126 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160219 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160426 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160506 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5934069 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |