JP5724958B2 - 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 - Google Patents
両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5724958B2 JP5724958B2 JP2012149203A JP2012149203A JP5724958B2 JP 5724958 B2 JP5724958 B2 JP 5724958B2 JP 2012149203 A JP2012149203 A JP 2012149203A JP 2012149203 A JP2012149203 A JP 2012149203A JP 5724958 B2 JP5724958 B2 JP 5724958B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ring
- shaped holder
- fluid
- rotation axis
- rigidity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 64
- 230000002706 hydrostatic effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 14
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 13
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- MKYBYDHXWVHEJW-UHFFFAOYSA-N N-[1-oxo-1-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)propan-2-yl]-2-[[3-(trifluoromethoxy)phenyl]methylamino]pyrimidine-5-carboxamide Chemical compound O=C(C(C)NC(=O)C=1C=NC(=NC=1)NCC1=CC(=CC=C1)OC(F)(F)F)N1CC2=C(CC1)NN=N2 MKYBYDHXWVHEJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008400 supply water Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/07—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
- B24B37/08—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for double side lapping
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
- B24B37/28—Work carriers for double side lapping of plane surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
- B24B41/067—Work supports, e.g. adjustable steadies radially supporting workpieces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/10—Single-purpose machines or devices
- B24B7/16—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings
- B24B7/17—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings for simultaneously grinding opposite and parallel end faces, e.g. double disc grinders
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/20—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
- B24B7/22—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B7/228—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Description
図10に示すように、両頭研削装置101は、薄板状のワークWを支持する自転可能なリング状ホルダー102と、リング状ホルダー102を流体の静圧により非接触支持する一対の静圧支持部材103と、リング状ホルダー102により支持されたワークWの両面を同時に研削する一対の砥石104を備えている。一対の静圧支持部材103はリング状ホルダー102の側面の両側にそれぞれ位置している。砥石104はモータ112に取り付けられており、高速回転できるようになっている。
しかしながら、このような静圧軸受を用いても、ナノトポグラフィーが悪化してしまうことがあり、安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができないという問題がある。
本発明は前述のような問題に鑑みてなされたもので、ワークのロットや砥石に依存して発生するナノトポグラフィーのばらつきを改善し、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる両頭研削装置及びワークの両頭研削方法を提供することを目的とする。
上記したように、ナノトポグラフィーの悪化の要因として、原料ワークや使用する砥石の影響があることが本発明者の調査により判明した。更に、本発明者は、リング状ホルダーの支持に静圧軸受方式を採用した方法において、原料ワークや使用する砥石の影響を低減する方法について鋭意検討を重ねた。その結果、以下のことを見出した。
しかし、従来の静圧軸受では、リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から供給する流体を1つの供給源から供給し、その供給圧力が全て同じになるように構成されているため、リング状ホルダーの自転軸方向の支持の自由度を向上させることにより、その自転軸に垂直な方向の支持剛性も同時に低下してしまう。そのため、リング状ホルダーの自転軸に垂直な方向の偏心回転が容易に発生するようになり、安定した研削加工を妨げてしまう。
本発明者はこの検討結果を基に、更にこれらを実施するための最良の形態について精査し、本発明を完成させた。
図1に示すように、本発明の両頭研削装置1は、主に、ワークWを支持するリング状ホルダー2と、リング状ホルダー2を流体の静圧により非接触支持する静圧軸受3と、ワークWの両面を同時に研削する一対の砥石4を備えている。
また、図2(A)に示すように、キャリア5の保持孔の縁部に内側に向かって突出した突起14が形成されている。この突起はワークWの周縁部に形成されたノッチと呼ばれる切り欠きの形状に適合し、リング状ホルダー2の回転動作をワークWに伝達することができるようになっている。
ここで、静圧軸受3について述べる。図3に示すように、静圧軸受3はリング状ホルダー2の両方の側面側に対向して配置される軸受部3aと、リング状ホルダー2の外周面に対向して配置される軸受部3bとで構成されている。軸受部3aにはリング状ホルダー2の両方の側面に対して流体を供給するための供給孔が設けられ、軸受部3bには外周面に対して流体を供給するための供給孔が設けられている。
図3に示すように、これら供給孔を介し、流体供給手段20から流体13aがリング状ホルダー2の自転軸方向からリング状ホルダー2の側面と軸受部3aとの間に供給され、流体13bが自転軸に垂直な方向からリング状ホルダー2の外周面と軸受部3bとの間に供給される。
流体供給手段20は、自転軸方向から供給される流体13aと自転軸に垂直な方向から供給される流体13bの供給圧力をそれぞれ独立して制御可能に構成される。これ以外、流体供給手段20は特に限定されず、例えば、流体の供給経路上に圧力調整弁を設けてそれぞれの供給圧力を調整したり、完全に独立した流体供給手段を2つ設けるようにしても良い。ここで静圧軸受3に供給する流体としては、特に限定されることはないが、例えば水や空気を用いることができる。
このようなものであれば、上記した局所的な圧力差をより確実に抑制でき、より高精度なナノトポグラフィーを確実に安定して得ることができる。
なお、供給水圧は特別な増圧手段を用いなければ通常0.30MPa前後となり、この場合の剛性の上限は1500gf/μm前後である。また、リング状ホルダーの重さに依るが、静圧軸受として機能するには、50gf/μm以上の剛性が必要である。
まず、例えばシリコンウェーハなどの薄板状のワークWをリング状ホルダー2によって径方向に沿って外周側から支持する。このリング状ホルダー2を支持するための静圧軸受3を、上記したように、軸受部3aがリング状ホルダー2の両方の側面側に対向し、軸受部3bがリング状ホルダー2の外周面に対向するように配置する。
本発明のワークの両頭研削方法によれば、上記した本発明の両頭研削装置で説明したのと同様に、リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の剛性を独立に制御できるので、研削加工中に局所的な圧力差を抑制するために、リング状ホルダー2の自転軸に垂直な方向の剛性を十分に高く維持しつつ、リング状ホルダー2の自転軸方向の支持の自由度を向上させることができる。その結果、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができる。
このようにすれば、より高精度なナノトポグラフィーを確実に安定して得ることができる。
図1に示す本発明の両頭研削装置1を用い、直径300mmのシリコンウェーハの両頭研削を行った。砥石として、ビトリファイドボンドからなるSD#3000砥石(株式会社アライドマテリアル製 ビトリファイド砥石)を用いた。研削量は40μmとした。リング状ホルダーの支持のために用いた流体として水を使用した。
リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向に供給する流体の供給圧力を以下のようにして調整した。
リング状ホルダーの自転軸方向と自転軸に垂直な方向の両方向から供給する流体をそれぞれ独立に制御できない従来の両頭研削装置を用い、両方向から供給する流体の供給圧力を同じにした以外、実施例1と同様の条件でシリコンウェーハの両頭研削を行った。そして、供給圧力を変化させたときのナノトポグラフィを実施例1と同様に評価した。
実施例1―4の結果をそれぞれ図5―8に、比較例の結果を図9に示す。
図5−8に示すように、実施例1−4のいずれにおいても、剛性Aを剛性Bより小さくすることにより、ナノトポグラフィが改善されていることが分かる。特に、図5、図6に示すように、剛性Bが800gf/μm以上である場合において、剛性Aが200gf/μm以下になると、比較例の結果と比べナノトポグラフィーが大幅に改善されていることが分かる。この傾向について実施例1と実施例2には明確な差は見られず、同等の改善効果を示した。
また、実施例1−4においては、ワークのロットの変更や砥石交換を行ったとしても、ナノトポグラフィーが悪化することはなかった。
以上のように、本発明の両頭研削装置及びワークの両頭研削方法は、ワークのロットや砥石に依存して発生するナノトポグラフィーのばらつきを改善し、研削毎に安定して高精度なナノトポグラフィーを得ることができることが確認できた。特に、剛性Aが200gf/μm以下に、剛性Bが800gf/μm以上になるような流体の供給圧力が本発明のおける好適な条件であることが分かった。
3a、3b…軸受部、 4…砥石、 5…キャリア、 6…ホルダー部、
7…リング部、 8…取付穴、 9…ホルダー用モータ、 10…駆動歯車、
11…内歯車部、 12…砥石用モータ、 13a、13b…流体、
14…突起、 20…流体供給手段、 21、22…センサー。
Claims (2)
- 薄板状のワークを径方向に沿って外周側から支持する自転可能なリング状ホルダーと、該リング状ホルダーにより支持された前記ワークの両面を同時に研削する一対の砥石とを有する両頭研削装置であって、
更に、前記リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から供給される流体の静圧により前記リング状ホルダーを前記両方向から非接触支持する静圧軸受を具備し、前記自転軸方向から供給される流体と前記自転軸に垂直な方向から供給される流体の供給圧力をそれぞれ独立して制御可能なものであり、
前記自転軸の一方向から前記流体を供給した状態で他方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Aとし、前記自転軸に垂直な方向から前記流体を供給した状態で反対方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Bとしたとき、前記剛性Aが200gf/μm以下に、前記剛性Bが800gf/μm以上になるように前記流体の供給圧力を制御可能なものであることを特徴とする両頭研削装置。 - リング状ホルダーによって、薄板状のワークを径方向に沿って外周側から支持して自転させるとともに、一対の砥石によって、前記リング状ホルダーにより支持した前記ワークの両面を同時に研削するワークの両頭研削方法であって、
前記リング状ホルダーの自転軸方向及び自転軸に垂直な方向の両方向から、供給圧力をそれぞれ独立して制御しながら流体を供給し、静圧軸受によって前記供給された流体の静圧により前記リング状ホルダーを前記両方向から非接触支持しながら前記ワークの両面を同時に研削し、
前記自転軸の一方向から前記流体を供給した状態で他方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Aとし、前記自転軸に垂直な方向から前記流体を供給した状態で反対方向から前記リング状ホルダーに加重をかけた際の加重/変位量を剛性Bとしたとき、前記剛性Aが200gf/μm以下に、前記剛性Bが800gf/μm以上になるように前記流体の供給圧力を制御することを特徴とするワークの両頭研削方法。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012149203A JP5724958B2 (ja) | 2012-07-03 | 2012-07-03 | 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 |
KR1020147036423A KR101908359B1 (ko) | 2012-07-03 | 2013-06-03 | 양두 연삭 장치 및 워크의 양두 연삭 방법 |
US14/405,326 US9669513B2 (en) | 2012-07-03 | 2013-06-03 | Double-disc grinding apparatus and workpiece double-disc grinding method |
SG11201408057UA SG11201408057UA (en) | 2012-07-03 | 2013-06-03 | Double-disc grinding apparatus and workpiece double-disc grinding method |
CN201380035245.1A CN104411455B (zh) | 2012-07-03 | 2013-06-03 | 双面磨削装置及工件的双面磨削方法 |
DE112013003038.1T DE112013003038B4 (de) | 2012-07-03 | 2013-06-03 | Doppelseitenschleifmaschine und Doppelseitenschleifverfahren für Werkstücke |
PCT/JP2013/003476 WO2014006818A1 (ja) | 2012-07-03 | 2013-06-03 | 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 |
TW102121163A TW201417947A (zh) | 2012-07-03 | 2013-06-14 | 雙面磨削裝置及工件的雙面磨削方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012149203A JP5724958B2 (ja) | 2012-07-03 | 2012-07-03 | 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014008594A JP2014008594A (ja) | 2014-01-20 |
JP5724958B2 true JP5724958B2 (ja) | 2015-05-27 |
Family
ID=49881594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012149203A Active JP5724958B2 (ja) | 2012-07-03 | 2012-07-03 | 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9669513B2 (ja) |
JP (1) | JP5724958B2 (ja) |
KR (1) | KR101908359B1 (ja) |
CN (1) | CN104411455B (ja) |
DE (1) | DE112013003038B4 (ja) |
SG (1) | SG11201408057UA (ja) |
TW (1) | TW201417947A (ja) |
WO (1) | WO2014006818A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6040947B2 (ja) * | 2014-02-20 | 2016-12-07 | 信越半導体株式会社 | ワークの両頭研削方法 |
JP6383700B2 (ja) * | 2015-04-07 | 2018-08-29 | 光洋機械工業株式会社 | 薄板状ワークの製造方法及び両頭平面研削装置 |
JP7159861B2 (ja) * | 2018-12-27 | 2022-10-25 | 株式会社Sumco | 両頭研削方法 |
CN110216539B (zh) * | 2019-05-30 | 2021-10-01 | 南京东升冶金机械有限公司 | 一种薄壁结构件的精密双面磨削用机床 |
CN114274041B (zh) * | 2021-12-24 | 2023-03-14 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | 双面研磨装置和双面研磨方法 |
CN114770366B (zh) * | 2022-05-17 | 2023-11-17 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | 一种硅片双面研磨装置的静压板及硅片双面研磨装置 |
CN115070604B (zh) * | 2022-06-09 | 2023-09-29 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | 双面研磨装置和双面研磨方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL6807674A (ja) * | 1968-05-31 | 1969-12-02 | ||
US3560064A (en) * | 1969-01-03 | 1971-02-02 | Garrett Corp | Servo controlled fluid bearing |
US4643592A (en) * | 1984-11-09 | 1987-02-17 | Lewis David W | Vibration limiting of rotating machinery through active control means |
JP3332470B2 (ja) * | 1993-04-20 | 2002-10-07 | 光洋機械工業株式会社 | 両頭平面研削方法および装置 |
EP0833718B1 (en) * | 1995-06-23 | 2001-12-05 | Unova U.K. Limited | Improvements in and relating to grinding |
JP3217731B2 (ja) * | 1997-04-18 | 2001-10-15 | 株式会社日平トヤマ | ウエハの加工方法及び両頭平面研削盤 |
US6296553B1 (en) | 1997-04-02 | 2001-10-02 | Nippei Toyama Corporation | Grinding method, surface grinder, workpiece support, mechanism and work rest |
US6062959A (en) * | 1997-11-05 | 2000-05-16 | Aplex Group | Polishing system including a hydrostatic fluid bearing support |
GB2335875B (en) * | 1998-04-02 | 2000-08-30 | Nsk Ltd | Sphere grinding apparatus |
DE102004005702A1 (de) * | 2004-02-05 | 2005-09-01 | Siltronic Ag | Halbleiterscheibe, Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung der Halbleiterscheibe |
JP4143563B2 (ja) | 2004-03-16 | 2008-09-03 | 住友重機械工業株式会社 | ワーク保持装置及び両面加工装置 |
DE102007049810B4 (de) | 2007-10-17 | 2012-03-22 | Siltronic Ag | Simultanes Doppelseitenschleifen von Halbleiterscheiben |
JP4985451B2 (ja) * | 2008-02-14 | 2012-07-25 | 信越半導体株式会社 | ワークの両頭研削装置およびワークの両頭研削方法 |
JP5411739B2 (ja) * | 2010-02-15 | 2014-02-12 | 信越半導体株式会社 | キャリア取り付け方法 |
JP5627114B2 (ja) * | 2011-07-08 | 2014-11-19 | 光洋機械工業株式会社 | 薄板状ワークの研削方法及び両頭平面研削盤 |
-
2012
- 2012-07-03 JP JP2012149203A patent/JP5724958B2/ja active Active
-
2013
- 2013-06-03 US US14/405,326 patent/US9669513B2/en active Active
- 2013-06-03 CN CN201380035245.1A patent/CN104411455B/zh active Active
- 2013-06-03 KR KR1020147036423A patent/KR101908359B1/ko active IP Right Grant
- 2013-06-03 DE DE112013003038.1T patent/DE112013003038B4/de active Active
- 2013-06-03 WO PCT/JP2013/003476 patent/WO2014006818A1/ja active Application Filing
- 2013-06-03 SG SG11201408057UA patent/SG11201408057UA/en unknown
- 2013-06-14 TW TW102121163A patent/TW201417947A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150032844A (ko) | 2015-03-30 |
TW201417947A (zh) | 2014-05-16 |
CN104411455A (zh) | 2015-03-11 |
JP2014008594A (ja) | 2014-01-20 |
DE112013003038T5 (de) | 2015-03-19 |
TWI560025B (ja) | 2016-12-01 |
CN104411455B (zh) | 2016-08-17 |
DE112013003038B4 (de) | 2021-12-23 |
US9669513B2 (en) | 2017-06-06 |
WO2014006818A1 (ja) | 2014-01-09 |
US20150147944A1 (en) | 2015-05-28 |
KR101908359B1 (ko) | 2018-10-16 |
SG11201408057UA (en) | 2015-01-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5724958B2 (ja) | 両頭研削装置及びワークの両頭研削方法 | |
JP4985451B2 (ja) | ワークの両頭研削装置およびワークの両頭研削方法 | |
KR100642879B1 (ko) | 양면동시 연삭방법, 양면동시 연삭기, 양면동시 래핑방법및 양면동시 래핑기 | |
JP5826306B2 (ja) | 半導体ウエハの同時両面研磨用の研磨パッドを調節する方法 | |
JP5930871B2 (ja) | 研削加工装置およびその制御方法 | |
JP7136953B2 (ja) | 加工装置 | |
CN108349058B (zh) | 承载环、磨削装置及磨削方法 | |
JP5411739B2 (ja) | キャリア取り付け方法 | |
JP2005238444A (ja) | 両面同時研削方法および両面同時研削盤並びに両面同時ラップ方法および両面同時ラップ盤 | |
JP2013039632A (ja) | 取代の評価方法及びウェーハの製造方法 | |
WO2018123420A1 (ja) | ガラス板の端面加工方法、製造方法及びガラス板 | |
JP5439217B2 (ja) | 両頭研削装置用リング状ホルダーおよび両頭研削装置 | |
JP2007098487A (ja) | ウェーハ面取り装置 | |
JP7324889B2 (ja) | 面取り加工システム | |
JP7159861B2 (ja) | 両頭研削方法 | |
JP2007061975A (ja) | 研磨装置及び研磨方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140623 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150303 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150316 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5724958 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |