JP5341790B2 - タッチパネル用フィルムとこれを用いたタッチパネル - Google Patents
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Description
代表的なタッチパネルの方式としては抵抗膜式が挙げられる。これは透明面状部材の片面にインジウム酸化スズ(ITO)等の透明電極膜(透明導電膜)が形成された透明導電膜付フィルム(タッチパネル用フィルム)を、一定間隔をおいて対向配置させた構成を持つ。タッチパネルは良好な透明性を有するので、使用時に液晶ディスプレイ(LCD)や有機ELディスプレイ(OELD)等のディスプレイ表面に直接配設される。
上記静電容量式タッチパネルでは、指で表面を接触した際に生成する、指と透明電極間のキャパシタンスを介して電流が流れることを利用して位置検出がおこなわれる。いずれかの透明電極をX座標検出用にもう一方をY座標検出用として、これらを対向配置しておくことで位置検出が可能となる。電極間はプラスチックフィルムや粘着剤の全面貼合によって絶縁されていることが抵抗膜式と異なる点である。
すなわち、一般にタッチパネルはディスプレイとともに大気中で使用されるが、使用環境によって様々な温湿度変化や外部光線の照射を受ける。屋外用途やナビゲーションシステム等の用途の場合、タッチパネルは屋内用途に比べて太陽光線・紫外線照射、高温・多湿環境等の影響を被りやすい。工場や公共施設で使用する場合には、水銀灯などの各種照明光源によって、継続的に光照射を受ける場合がある。
本発明は以上の課題に鑑みてなされたものであって、たとえ過酷な環境下においても、HC層とMS膜間等の密着性低下を防止して、長期にわたり安定した耐光耐久性を発揮することが可能なタッチパネル用フィルムと、これを用いたタッチパネルを提供することを目的とする。
前記比率B/Aは、紫外線硬化樹脂層に含まれる無機酸化物を構成する各元素の和と、有機成分の炭素との元素数比(Si+Zr+Sn+Sb)/Cとして定義できる。この場合、前記比率B/Aは紫外線硬化樹脂層において、その前記表面から深さ方向に向かって、一定または漸減するように設定することもできる。
また、透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層側から、第一の屈折率を有する第一層と、透明導電膜とを同順に積層してなる構成とすることもできる。
或いは前記透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層側から、第一の屈折率と異なる第二の屈折率を有する第二層と、第一の屈折率を有する第一層と、透明導電膜を同順に積層してなる構成とすることもできる。
或いは前記透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層の上に、第一の屈折率と異なる第二の屈折率を有する第二層と、第一の屈折率を有する第一層とを同順に積層し、前記第二層及び第一層の積層単位を2以上繰り返して積層してなり、透明基板の他方の面に透明導電膜が形成されている構成とすることもできる。この場合、前記第一層または前記第二層の内の一方の層は、TiO2、Ta2O5、Nb2O5の内の1種以上を含む無機酸化物層で構成することが可能である。また、前記第一層または前記第二層の内の一方の層は、SiO2及びSnO2の少なくともいずれかを含む無機酸化物層で構成することも可能である。
或いは、前記透明無機酸化物層は、紫外線硬化樹脂層の上に、低密度シロキサン層を積層してなり、透明基板の他方の面には、紫外線硬化樹脂層及び透明導電膜が順次積層されている構成とすることもできる。
また本発明は、一対の透明導電膜付基板が、互いの透明導電膜を対向させた状態で一定間隔をおいて配置されてなるタッチパネルであって、前記透明導電膜付基板の少なくとも一方が、前記した本発明のいずれかのタッチパネル用フィルムであり、前記透明無機酸化物層がタッチ側表面に配向するようにタッチパネル用フィルムが配設されている構成とした。
これにより本発明では、紫外線硬化樹脂層(HC層)が透明無機酸化物層(MS膜)と接触する表面近傍の領域において、紫外線硬化樹脂層(HC層)中に無機酸化物が多く存在する構成となり、互いの構成成分が類似するように図られ、両者の親和性が格段に改善されている。したがって、従来に比べて紫外線硬化樹脂層(HC層)が透明無機酸化物層(MS膜)の密着性が飛躍的に向上され、容易に剥離を生ずることがない。
HC層表面から深さ10nmの領域における有機成分に対する無機酸化物の前記比率B/Aを0.05以上0.35以下に調整する方法としては、例えば、(1)特許文献1に記載のSiなどの半導体や金属の極薄層を形成する方法、(2)シランカップリング剤を用いてこれを表面に気相接触させる方法(シランカップリング剤による表面修飾)、(3)シリコーン成分(紫外線や熱に対する反応性・非反応問わず)を混合しておく方法などでも、可能である。しかし、(1)〜(3)に例示した方法では、本発明の効果は全く得られず、むしろ耐光耐久性を低下させてしまうことがある。
本発明では、MS膜と接触する表面近傍のHC層表面の無機酸化物が元々リッチとなっていて、元々有機高分子の光酸化劣化の影響などを受けにくいのであるが、もし有機高分子の劣化が生じてもアンカー作用があるためMS膜の剥離が極めて生じにくいと考えられる。
<実施の形態1>
(透明導電膜付フィルムの構成)
図1は、本実施の形態1におけるタッチパネル用フィルム1の積層構造を示す断面図である。
当該フィルム1は、抵抗膜式タッチパネルにおいては実施の形態7で説明するように、一対(2枚)を用意し、互いの透明導電膜13が対向させるように配置させて利用される(後述する図8のフィルム1a、1bおよび透明導電膜13a、13bを参照)。なお図1では矢印で示すように紙面上部を対向面側とし、紙面下部を入力面側(タッチ側表面)として図示している。
ベースフィルム40は、透明性及び可撓性、打鍵耐久性等のタッチパネル特性に優れる樹脂フィルムで構成された透明基板である。その素材は限定しないが、前記特性を満たすものとしてポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリカーボネート(PC)、ノルボルネンなどの環状ポリオレフィン系樹脂、ポリエーテルスルフォン(PES)等などが例示できる。市販製品としては、東洋紡績株式会社製「コスモシャイン A4300」、JSR社製「アートン」シリーズ、日本ゼオン社製「ゼオノア」シリーズ等が挙げられる。
すなわち、従来のタッチパネル用フィルムは、波長300nm以上550nm以下程度の紫外から可視光の低波長領域の光を高照度で長期間連続的に受けた場合、HC層と透明無機酸化物層(本発明では透明面状部材4とMS膜3)との間で剥離が生じやすい問題が確認されている。さらに本願発明者らが鋭意検討したところ、この剥離のしやすさは、MS膜のトータル膜厚に依存することが見出された。すなわち、タッチパネル用フィルムはその使用経過に伴い、フィルム中に拡散侵入した酸素や水分の存在下で外部より前記波長の光照射を受けると、MS膜と対向するHC層の有機高分子が低分子化(劣化)する。そして、MS膜とHC層界面に元々内在していた応力により、HCの劣化した箇所で剥離が生じる。その理由としては、MS膜はその厚みが増すと応力も強くなるため、剥離しやすさが増すと考えられる。本願発明者らは、このような剥離は、透明無機酸化物層とHC層の厳密な界面で剥離しているわけでなく、HCの表層から数nm程度HCの内部に入った箇所で剥離していることを見出した。
なお、このような無機酸化物成分リッチなHC層の構成は、実施の形態1の他、以下に示す各実施の形態に共通して、少なくともMS膜3を積層するHC層41のみに適用すればよいが、これに加えて図1のようにHC層44に適用してもよい。HC層44の表面(図1では紙面下方表面)に無機酸化物成分リッチな領域440が形成されている。
また、HC層41、44の少なくともいずれかには、エンボス賦型を行うことなどの公知の表面処理を施しても良い。
MS膜3は、透明面状部材4側から順に、中屈折層42、低屈折層43、透明導電膜13を積層した透明無機酸化物層として構成される。これらはいずれも各種薄膜形成法(例えばスパッタリング法、電子ビーム法、イオンビーム法、真空蒸着法、プラズマCVD法、Cat−CVD法、MBE法等)のいずれかを用いて形成できるが、タッチパネルのような厚みや表面抵抗の均一性が要求される用途に対しては、スパッタリング法が好適に用いられる。これらの成膜を実施することで、MS膜3の合計厚みは30nm以上300nm以下、ここでは120nmに設定されている。MS膜3の構成要素となる各層は、それぞれ所定の透明性及び屈折率を有し、外光反射の防止性等、フィルム1に光学特性を付与するために配設される。
中屈折層42の屈折率は、後述の低屈折層43の屈折率よりも高い1.6〜1.9程度(波長630nm)に設定される。
このように中屈折層42、低屈折層43は、互いに異なる屈折率を有する層として構成されており、これらを利用することでフィルム1に良好な光学特性(透明性)が付与される。
透明導電膜13は、既知の抵抗値(表面抵抗)を持つITO、アンチモン添加酸化錫、フッ素添加酸化錫、アルミニウム添加酸化亜鉛、カリウム添加酸化亜鉛、シリコン添加酸化亜鉛、カリウム添加酸化亜鉛、酸化亜鉛−酸化錫系、酸化インジウム−酸化錫系、酸化インジウム−酸化タングステン系、酸化インジウム−酸化チタン系、或いはこれ以外の各種金属材料等のいずれか1種以上の材料を用い、CVD、真空蒸着、スパッタリング、イオンビーム等の方法で成膜することで形成される。ここではITOのみを用いた抵抗膜(透明電極膜)として構成されている。なお、成膜にあたっての設定例としては、表面抵抗を200〜1kΩ/sq.、厚みを20nm以上40nm以下、屈折率は1.9〜2程度である。
したがって本発明のフィルム1によれば、MS膜3とHC層41との密着性を向上させることによって、大気中において水銀灯やキセノンランプなどに起因する波長の短い紫外線等、比較的高照度の光照射を受けるような使用環境下でも、長期にわたって安定した密着性が発揮され、優れた耐光耐久性を有するタッチパネルを実現できるので非常に有用性が高い。
<実施の形態2>
図2は、実施の形態2のタッチパネル用フィルム1Aの構成を示す部分的な断面図である。
このような実施の形態2のフィルム1Aにおいても、無機酸化物成分リッチな領域410を配設することによって、フィルム1と同様にHC層41とMS膜3(特に低屈折層43)との親和性が向上され、両者の密着性が向上されている。
図3は、実施の形態3のタッチパネル用フィルム1Bの構成を示す部分的な断面図である。
当図に示すフィルム1Bの特徴は、中屈折層および低屈折層を用いず、HC層41の上に直接、透明導電膜13を形成した点にある。
また、本実施の形態3は、透明導電膜13の膜厚が比較的厚い場合において、特に良好な剥離防止効果を奏する。一般に、抵抗膜式タッチパネルの透明導電膜13の厚みは15nmから40nm程度であるが、40nm以上の厚みになると当該膜13自体が有する応力が強まるので、透明面状部材4との追従性が低下する。このため、HC層と透明導電膜との間で密着性低下が生じやすくなる。
図4は、実施の形態4のタッチパネル用フィルム1Cの構成を示す部分的な断面図である。
当図に示すフィルム1Cは、MS膜3及び透明面状部材4の積層構造は実施の形態1のフィルム1と同様であるが、透明面状部材4において、HC層41A、42Aの内部に所定のナノ微粒子50を分散させた構成を特徴とする。
ナノ粒子50の添加濃度としては、HC層41A、44Aにおいて、乾燥後(有機溶媒を含まない)の塗膜中での重量%濃度で、20重量%以上90重量%の範囲となるように調整されている。このように設定されたHC層でも、HC表面とその近傍領域における有機成分の有機元素数Aに対する、無機酸化物成分中の無機元素数B(ここではSi、Zr、Sn、Sbの元素数の和)の比率B/A(すなわち、(Si+Zr+Sn+Sb)/C)を0.05以上0.35以下とすることができる。
本実施の形態4では、HC層41A、44Aのいずれにおいても、各々の層全体にわたりナノ粒子50を分散させた構成を例示したが、たとえば実施の形態1のHC層41のように、MS膜3と直接接触する表面付近にナノ粒子50を偏在させるようにしてもよい。この場合の製造方法としては、HC層の材料となる塗料(通常は有機溶媒を含む)を複数用意してベースフィルム40の表面に段階的に塗布し、最上位の表面部分として、ナノ粒子50を分散させた塗料を塗布・乾燥させることが例示できる。このような構成によっても、HC層41AとMS膜3との密着性を向上させることができると考えられる。
図5は、実施の形態5のタッチパネル用フィルム1Dの構成を示す部分的な断面図である。当図では、紙面上方を入力面側(タッチ側)表面とし、下方を対向面側(ディスプレイ側)表面としている。
当図に示すフィルム1Dは、ベースフィルム40の両面にHC層41、44を形成し、対向面側のHC層41の表面に透明導電膜13を積層してなる実施の形態3のフィルム1Bを基本構造とする。そして、入力面側のHC層44の上に、中屈折層42a、低屈折層43a、中屈折層42b、低屈折層43bを順次積層するとともに、その最上層として滑剤層45を配設した構成を有する。中屈折層の42aと42b、低屈折層の43aと43bは、それぞれ同一の組成である。MS膜3の膜厚は220nm程度に設定される。このように中屈折層と低屈折層を交互に積層することによって、フィルム1Dに良好な光反射防止(AR)特性が付与される。
なお、本実施の形態5では、2種類以上の異なる材料で構成された層を積層してなる多層構造でMS膜3を構成しているが、この各層の積層順序はいずれであってもよい。図5の例では、低屈折層43a(または43b)を先にHC層44上に積層し、当該低屈折層43a(または43b)の上に中屈折層42a(または42b)を積層してもよい。
また、低屈折層は、SiO2及びSnO2の少なくともいずれかを含む無機酸化物層で構成することが可能である。SiO2を単独で用いた層の屈折率は1.46、SiO2及びSnO2で構成した層の屈折率は1.9にそれぞれ調整することができる。
<実施の形態6>
図6は、実施の形態6のタッチパネル用フィルム1Eの構成を示す部分的な断面図である。当図では、紙面上方を入力面側(タッチ側)表面とし、下方を対向面側(ディスプレイ側)表面としている。
ここで言う低密度シロキサン層46とは、ここではゾルゲル法に基づき所定の材料を塗布・乾燥して構成された層であり、内部に多数の微細な空間(数〜数十nmの気泡)やメチル基、エチル基やフッ素基が存在する層である。これによりバルクSiO2(密度2.22g/cm3)の屈折率1.46よりも低屈折率となり、フィルム1Eに対して良好なAR特性を付与することができる。
<実施の形態7>
図7は、実施の形態7にかかる抵抗膜式タッチパネル2(以下、単に「タッチパネル2」と称する。)の構成と、これに組み合わされるLCDとの構成例を示す組図である。また図8は、当該タッチパネル2の断面図である。
当該タッチパネル2は、いわゆる「4線式」と呼ばれる入力検出方法が採用されている。
ARフィルム11は、トリアセチルセルロース(TAC)やPETをベースフィルムとして、その入力面(タッチ面)側にベースフィルムからハードコート層と反射防止層を順次形成したものである。通常、ARフィルム11とフィルム1aは、不図示の接着層を介して前面貼合されて用いられる。
さらに、透明導電膜13bの表面には、xy方向に沿ってマトリクス状に半球状の突起スペーサー15が一定間隔毎に配設され、透明導電膜13a、13b同士の不要な接触が回避されている。突起スペーサー15は透明な光硬化型アクリル樹脂で作製され、フィルム1a、1bの対向距離に合わせ、例えば高さ10μm、直径10μm〜50μmのサイズに設定されている。図7では図示の都合上、実際より突起スペーサー15のサイズを大きく模式的に表している。当該突起スペーサー15は、半球状以外の形状、例えば円錐状や円柱状等としてもよい。
次に、x軸に沿った引き出し線141、142間に電圧印加を行い、y軸に沿った引き出し線131、132を電圧検出電極としてx軸方向の位置データを獲得する。以上でxy両方の座標情報が得られる。タッチパネル2ではこの検出ステップを交互に繰り返すことにより、逐次的にユーザからの入力情報を獲得し、GUI(Graphical User Interface)が実現される。
なお、本発明のタッチパネルの構成は図7及び図8の構成に限定されるものではなく、例えばフィルム1bにおけるベースフィルムをガラス基板で構成する、いわゆるF−Gタイプとしてもよい。
さらに本発明を適用するタッチパネルの入力方式はいずれの方式であってもよく、例えば静電容量式であってもよい。
ここでは、実施の形態1のタッチパネル用フィルム1の製造方法を主として例示する。
以下、1、2の各ステップではベースフィルムの両主面に同一構成のHC層を形成する場合を例示する。
なお、各層の形成方法を例示するが、実施の形態によっては、各構成要素の積層順序が変わるため、それぞれに応じて成膜順序を設定すべき点に留意する。
2.HC層の作製
(実施の形態1〜3、5、6のHC層(特許文献5の記載に基づく無機酸化物成分リッチ領域を有するHC層)の作製)
まず、特許文献5の実施例に従って、膜中にポリシロキサン結合を多量に含む紫外線硬化型塗料を得る。
(実施の形態4のHC層(無機酸化物ナノ粒子分散型HC層)の作製)
紫外線(UV)硬化樹脂材料と、Si,Zr、Sn、Sbの少なくともいずれかの元素(無機成分)を含むナノ酸化物粒子材料を添加し、MEK、MIBK、イソブチルアルコール(IBA)、エチルアルコール、メチルアルコール、ノルマルブチルアルコール(NBA)、シクロヘキサノン(CAN)、ジアセチルアセトン(DAA)、酢酸ブチル、イソプロピルアルコール(IPA)等の溶媒を加えて塗料(揮発性溶液)を調整する。これらの材料としては、パウダーまたは有機溶媒に均一分散された各種市販品を利用することができる。
ナノ粒子50としては、無機顔料(SiO2、ZrO2、アンチモンスズ酸化物(ATO)のうちの1種以上)からなり、一次粒径が5nm以上40nm以下程度の無機酸化物微粒子を用いる。
なお、重合率は、赤外線吸収スペクトル測定などにより、硬化膜後のC=C結合の消失により推定することができる。
3.中屈折層の作製
スパッタリング成膜装置の内部に成膜対象のフィルムを載置する。そして装置内部を十分に減圧するとともに、酸素、窒素等のガスを導入し、ターゲットにシリコンを用いたスパッタリングを実施する。これによりHC層41の上に、オキソ窒化ケイ素(SiON)からなる屈折率1.74の無機層を形成し、中屈折層42とする。なお、SiONの屈折率は、スパッタリング中の酸素と窒素ガスの流量比により制御することができる。
また、中屈折層42は、上記した組成の他、例えばSiO2−SnO2系の組成で構成することもできる。さらに成膜法もスパッタリング法等の真空成膜法に限定せず、所定の材料を用い、大気雰囲気下でゾルゲル法に基づいてウェットコートにより成膜しても良い。例えば、HC層41の最表面上において、Si、Ti、Al、Zrの少なくとも何れかの元素を含む化合物を1種又は2種以上含有する無機成分(例えば酸化チタンゾル)を含む有機・無機複合材料を含有し、且つ、所定の粒径を持つ粒子状無機フィラーを分散させて形成することもできる。前記粒子状無機フィラーには、TiO2、SiO2、Al2O3、ZrO2の少なくとも何れかを利用できる。その平均粒径は特に限定されず、例えば10nm〜70nm程度が例示できる。層厚みは40nm以上90nm以下に設定できる。
4.低屈折層の作製
成膜装置内部に、成膜対象のフィルムを載置する。装置内部を十分に減圧した後に酸素ガスを導入し、ターゲットにSi材料を用いてスパッタリングを実施する。これにより中屈折層42の上に、厚さ30nm(15nm以上35nm以下の範囲)のSiO2膜を形成し、第二の屈折層(低屈折層)43を得る。
5.透明導電膜の作製
スパッタリング成膜装置内部に、成膜対象のフィルムを載置する。装置内部を減圧するとともにArと酸素ガスを導入し、ターゲットに酸化インジウムと酸化錫を混合して焼結させたセラミックターゲット等を用いてスパッタリングを実施する。Arガスと酸素ガスの流量比は、所定のタッチパネル特性(表面抵抗や透明性)が得られるように事前に確認された値に適宜設定する。また、スパッタに必要な放電電力やスパッタリング時間も適宜調整する。これにより、最終生成物として表面抵抗が200Ω/sq.以上1kΩ/sq.以下、且つ、厚みが20nm以上40nm以下の透明導電膜13(ITO膜)を得る。なお、透明導電膜13の結晶性は、前記スパッタリング法による成膜の際に、例えばIn2O3−SnO2セラミックターゲットのSnO2組成を低くしたもの(SnO2組成が3〜10wt%含有)を用い、基板温度を調整することで制御できる。
これによりMS膜3が形成される。
6.滑剤層の作製
例えばダイキン工業株式会社製「オプツールTMDSX」をパーフルオロヘキサンを用い、濃度を0.1重量%に希釈する。次に、この塗料をグラビア法によりMS膜表面に塗布して乾燥することで、最終厚み約1nmのフッソ系滑剤層を得る。
所定容量のフルオロシラン化合物あるいはメチル基、エチル基等を有する有機シラン材料を用意する。
これらの材料をゾルゲル法に基づき塗料化し、塗布・乾燥させることにより、低密度のシロキサンからなる層を形成する。
<性能確認実験>
次に、本発明の性能を確認するために実施例を作製し、各種実験を行った結果について説明する。
(実施の形態1〜3、5〜6のHC層(特許文献5による無機酸化物成分リッチ領域を有するHC層の性能確認実験)
実施の形態1〜3、5、6に示したHC層を用いた場合における、HC層とMS膜との密着性について確認試験を行った。
比較例のサンプルとして、シロキサン成分を全く含まないHC膜を用意した。
具体的な作成手順は以下の通りである。
(塗料の用意)
エポキシアクリレート8重量部、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート22重量部、光重合開始剤(チバ・スペシャリティー・ケミカルズ株式会社製イルガキュア184)1.5重量部、MEKとシクロヘキサノン50:50混合溶媒を70重量部で調整した塗料を用意した。
(HC膜の形成)
前記塗料をマイヤーバー(#10)でベースフィルム(PETフィルム、東洋紡績コスモシャインA4300−188μm厚み)に塗布形成後、80℃にて有機溶媒を揮発させた。次に、窒素パージ雰囲気下において高圧水銀ランプを用いて紫外線を照射することで約5μmのHC膜を得た。
試験方法として、まずサンプルのタッチパネル用フィルムに形成したMS膜に対し、その1mm四方の表面に合計100個のマス目をカッターでハーフカット処理して設けた。次に、スガ試験機株式会社製の紫外線フェードメーター(カーボンアーク)を用い、前記ハーフカット処理したMS膜を形成した表面と反対側の表面から、各々のサンプルに対して連続的に所定波長の紫外線を照射した。この紫外線照射中、48時間ごとにサンプルを試験機から取り出し、MS膜表面にニチバン株式会社製セロファンテープを貼着して、MS膜の剥離テストを行った。このときの剥離の発生の有無は目視にて確認した。
試験結果を表1に示す。
(実施の形態4のHC層(無機酸化物ナノ粒子分散型HC層)の性能確認実験)
実施の形態4に示したナノ粒子を用いた場合における、HC層とMS膜との密着性について確認試験を行った。実施例と比較例の各サンプルは以下のものを用意した。
PET製のベースフィルム(透明基板)として、東洋紡績株式会社製「A4300−188μm厚み」を用意した。
SiO2からなるナノ粒子が溶媒乾燥後のHC層に35〜40重量%含まれる塗料として、JSR株式会社製Z7524を用いた。これを前記ベースフィルム上に塗布し、溶媒を除去して紫外線を照射することにより厚み5μmのHC層を構成した。
実施例2;
特許文献6に記載と同様な方法で、ATO、SnO2、ZrO2ナノ粒子を含む塗料を作成した。これを前記ベースフィルム上に塗布し、溶媒を除去して紫外線を照射することにより厚み2μmのHC層を構成した。
比較例1;
実施例2のサンプルにおいて、ナノ粒子を未添加とした点のみ異なる構成を別途作製した。
次に、上記作製した各々のHC層の上に、上層から下層の順にITO(30nm)/SiO2(60nm)/SiO2−SnO2(屈折率1.70、30nm)/Si(1nm)を積層した構成を持つMS膜を積層した。ITO成膜温度は150℃、それ以外の層の成膜温度は60℃に設定した。
続いて、上記作製した各サンプルに対し、室温状態において、スガ試験機株式会社製の紫外線フェードメーターを用い、波長300nm以上550nmの高照度での光照射を行った。このときに剥離が発生した時間を測定した。剥離の有無は目視にて確認した。
なお、本効果の検証は最大1680hrまで実施したがそれ以上は実施しなかった。
これに対し、実施例1、2は、いずれも1200時間またはそれ以上の剥離寿命を発揮することが確認された。特に実施例2については、1680時間経過後も剥離を発生することがなく、安定したタッチパネル用フィルム特性を発揮できることが分かる。
(低屈折層及び中屈折層の多層構造の反射防止特性に関する性能確認実験)
本発明のフィルムをタッチパネルで使用する場合、長期間の使用にわたり、ディスプレイ面の外光反射を低減し、視認性の向上を図ることは重要である。そこでMS膜を、所定の組成及び膜厚からなる低屈折層及び中屈折層を多層構造として構成した場合における反射防止特性を調べた。
第二層(低屈折層)は、膜厚25nm、屈折率1.46の酸化珪素(SiO2)層とした。
第三層(中屈折層)は、膜厚112nm、屈折率2.3の酸化ニオブ(Nb2O5)層とした。
実施例4として、HC層側から、以下に示す無機酸化物層である第一層〜第四層を順次積層したフィルムを作製した。成膜条件は、材料以外は実施例3とほぼ同様に設定した。ここで、第一層と第二層、第三層と第四層がそれぞれ実施の形態5で言及した積層単位に相当する。
第二層(低屈折層)は、膜厚28nm、屈折率1.46の酸化珪素(SiO2)層とした。
第三層(中屈折層)は、膜厚85nm、屈折率1.9の酸化珪素−酸化スズ(SiO2−SnO2)層とした。
これらの実施例3、4は、上記成膜面を測定面とし、裏面を反射を遮るためにサンドペーパーで荒らした後、5°正反射スペクトルの測定に供した。その測定結果を図9、10に示す。
また、実施例3、4では2単位の積層構造としたが、これ以上の積層単位を持つ積層構造としても、同等以上の反射率防止特性が期待できる。但しこの場合、可視光透過率の低下には留意すべきである。
上記実施の形態では、各構成の特徴を説明するため、透明面状部材の一方の主面にのみMS層を形成する場合を示したが、当然ながら本発明はこれに限定されず、両方の主面にそれぞれMS膜を形成することができる。この場合、透明基板の両周面に設けるHC層について、それぞれ本発明の構成(組成分離による無機酸化物成分リッチな領域を有するHC層、または無機酸化物ナノ粒子分散型HC層)を適用させるべき点に留意する。
もちろん本発明のタッチパネル用フィルムは、他のいかなるディスプレイに搭載されるタッチパネルの構成要素としても利用することでより一層の信頼性を高めることができる。
2 タッチパネル
3 多層無機酸化物層(MS膜)
4 透明面状部材
13、13a、13b 透明導電膜(透明電極膜)
40 ベースフィルム
41、41A、44、44A ハードコート(HC)層
42、42a、42b 中屈折層(第一屈折層)
43、43a、43b 低屈折層(第二屈折層)
45 滑剤層
46 低密度シロキサン層
50 ナノ粒子(無機酸化物微粒子)
131、132、141、142 引き出し線
133 接続線
131a、132a、141a、142a 電極端子
302、303、304、305 引き出し線
302a〜305a 電極端子
301 フレキシブル基板
410、440 無機酸化物成分リッチな領域
Claims (12)
- 透明基板の一方の面に、紫外線硬化樹脂層および透明無機酸化物層が順次積層されてなるタッチパネル用フィルムであって、
透明無機酸化物層の厚みが30nm以上300nm以下であり、
紫外線硬化樹脂層は、有機成分および無機酸化物をともに含んでなり、少なくとも前記透明無機酸化物層と接する表面から深さ10nm以内の領域における、当該層の有機成分中の有機元素数Aに対する無機酸化物中の無機元素数Bの比率B/Aが、元素数比で0.05以上0.35以下である
ことを特徴とするタッチパネル用フィルム。 - 前記無機酸化物成分にはSi、Zr、Sn、Sbの少なくともいずれかの元素が含まれ、
前記比率B/Aは、紫外線硬化樹脂層に含まれる無機酸化物成分を構成する各元素の和と、有機成分の炭素との元素数比(Si+Zr+Sn+Sb)/Cであって、
前記比率B/Aは紫外線硬化樹脂層において、その前記表面から深さ方向に向かって、一定または漸減するように設定されている
ことを特徴とする請求項1に記載のタッチパネル用フィルム。 - 紫外線硬化樹脂層には、平均一次粒径が5〜40nmであって、SiO2、ZrO2、SnO2、ATOの中の少なくともいずれかからなる無機酸化物微粒子が、20重量%以上90重量%以下の範囲で分散されている
ことを特徴とする請求項1に記載のタッチパネル用フィルム。 - 透明無機酸化物層は、少なくとも2種類以上の異なる層を積層した多層構造を有する
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のタッチパネル用フィルム。 - 透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層側から、第一の屈折率を有する第一層と、透明導電膜とを同順に積層してなる
ことを特徴とする請求項4に記載のタッチパネル用フィルム。 - 前記透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層側から、第一の屈折率と異なる第二の屈折率を有する第二層と、第一の屈折率を有する第一層と、透明導電膜を同順に積層してなる
ことを特徴とする請求項4に記載のタッチパネル用フィルム。 - 前記透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層の上に、直接配された透明導電膜であり、
当該透明導電膜の厚みが30nm以上である
ことを特徴とする請求項4に記載のタッチパネル用フィルム。 - 前記透明無機酸化物層は、前記紫外線硬化樹脂層の上に、第一の屈折率と異なる第二の屈折率を有する第二層と、第一の屈折率を有する第一層とを同順に積層し、前記第二層及び第一層の積層単位を2以上繰り返して積層してなり、
透明基板の他方の面には、紫外線硬化樹脂層及び透明導電膜が順次積層されている
ことを特徴とする請求項4に記載のタッチパネル用フィルム。 - 前記透明無機酸化物層の最上面に、フッ素系滑剤を含む層を積層してなり、
透明基板の他方の面に透明導電膜が形成されている
ことを特徴とする請求項8に記載のタッチパネル用フィルム。 - 前記透明無機酸化物層は低密度シロキサン層であり、透明基板の他方の面に透明導電膜が形成されている
ことを特徴とする請求項4に記載のタッチパネル用フィルム。 - 一対の透明導電膜付基板が、互いの透明導電膜を対向させた状態で一定間隔をおいて配置されてなるタッチパネルであって、
前記透明導電膜付基板の少なくとも一方が、請求項5〜7のいずれかに記載のタッチパネル用フィルムである
ことを特徴とするタッチパネル。 - 一対の透明導電膜付基板が、互いの透明導電膜を対向させた状態で一定間隔をおいて配置されてなるタッチパネルであって、
前記透明導電膜付基板の少なくとも一方が、請求項8〜10のいずれかに記載のタッチパネル用フィルムであり、
前記透明無機酸化物層がタッチ側表面に配向するようにタッチパネル用フィルムが配設されている
ことを特徴とするタッチパネル。
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