JP4006208B2 - Multi-beam scanning device and image forming apparatus using the same - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はマルチビーム走査装置及びそれを用いた画像形成装置に関し、特に光源手段から射出した光束を偏向手段としてのポリゴンミラーにより反射偏向させ、走査光学手段を介して被走査面上を光走査して画像情報を記録するようにした、例えば電子写真プロセスを有するレーザービームプリンターやデジタル複写機やマルチファンクションプリンター(多機能プリンタ)等の画像形成装置に好適な光走査光学系に係り、特に複数の光束を同時に光走査して高速化・高精細化を図ったマルチビーム走査装置においてジッターを低減した良好なる画像が常に得られるものに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来よりマルチビーム走査装置では感光体性の像担持体上の書き出し位置を正確に決定する為に同期検知手段を有している。
【0003】
図23はこの種の従来のマルチビーム走査装置の要部斜視図である。図24(A)は図23の光源手段から同期検知手段に至る光路を示した主走査方向の要部断面図(主走査断面図)、図24(B)は図23の光源手段から同期検知手段に至る光路を示した副走査方向の要部断面図(副走査断面図)である。
【0004】
図中、同期検知手段90は同期検出用の光束(BD光束)が入射したことを検知する光検出素子(BDセンサー)92と、該BDセンサー92へ入射する同期位置を決定するスリット(BDスリット)91とを有している。
【0005】
図23においては偏向手段(光偏向器)85の偏向面85aにより偏向された複数の光束の一部(BD光束)がそれぞれBDスリット91上を光走査して、該BDスリット91の開口部に差し掛かったところでBDセンサー92へ到達する構成となっている。つまり、BDスリット91が同期検知のタイミングを決める同期位置決定手段となっている。またBDスリット91の代わりにBDセンサー92のエッジを同期位置決定手段とした構成もある。
【0006】
従来のマルチビーム走査装置は、副走査断面内において光偏向器85の偏向面85aとBDセンサー92とを光学的に共役関係として面倒れの影響を低減するものであり、BDスリット91上では複数のBD光束が副走査方向の異なる位置に到達するものであった。
【0007】
特開平7−281113号公報には、同期位置決定手段がスリットである同期検知手段を用いて走査光学手段とは別体の同期検知用光学手段を有した走査光学装置の構成が開示されている。これにより走査光学手段及びそれを用いた走査光学装置のコンパクト化を図っている。
【0008】
特開2001−21819号公報には、入射光学手段を構成する光学素子のうち最も偏向手段側にある光学素子と偏向手段との間に開口絞りを配置したマルチビーム走査装置の構成が開示されている。同公報においては光学素子の配置の自由度を向上させている。
【0009】
これらの走査光学装置は共に同期検知手段によって被走査面上の書き出し位置を揃えることにより高精度な画像情報の記録を行っている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
マルチビーム走査装置において高精度な画像情報の記録を行うには、複数の光束が共に被走査面全域に渡ってピントを結び、ジッター(主走査方向の印字位置ずれ)が良好に補正されていることが重要である。
【0011】
しかしながら、同期位置決定手段であるBDスリット91のエッジもしくはBDセンサー92のエッジが製造誤差により凸凹となったり、また組立誤差や光源手段の回転調整によって傾斜した場合、複数のBD光束が副走査断面内において同期位置決定手段上へ到達する位置がそれぞれ異なることにより、相対的に同期検知のタイミングがずれる。これは被走査面上でジッターを発生させる要因となり問題である。
【0012】
尚、ここで言うジッターとは、複数のBD光束に対応する走査線の書き出し位置が揃わないことに起因する主走査方向の印字位置ずれのことを指す。
【0013】
本発明は同期位置決定手段であるBDスリットのエッジもしくはBDセンサーのエッジが製造誤差により凸凹となったり、組立誤差や光源手段の回転調整により傾斜した場合においても被走査面上でジッターが発生しない常に良好なる画像が得られるマルチビーム走査装置及びそれを用いた画像形成装置の提供を目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明のマルチビーム走査装置は、主走査方向及び副走査方向に離間して配置された複数の発光部を有する光源手段と、副走査断面内において前記複数の発光部から射出された複数の光束を交差させる開口絞りと、前記複数の発光部から射出された複数の光束を偏向走査する光偏向器と、前記複数の発光部から射出された複数の光束を前記光偏向器の偏向面に主走査方向に長手の線像として副走査断面内において結像させる入射光学手段と、前記光偏向器の偏向面にて偏向走査された複数の光束を被走査面上に結像させる走査光学手段と、前記光偏向器の偏向面にて偏向走査された複数の光束を検知し、前記被走査面上の書き出し位置のタイミングを決定する同期信号を発生する同期検知手段と、を有するマルチビーム走査装置であって、
前記同期検知手段は、同期検知用センサーと、前記光偏向器の偏向面にて偏向走査された複数の光束を前記同期検知用センサーに導く同期検知用光学素子と、前記同期検知用光学素子と前記同期検知用センサーの間の光路中に配置され且つ同期検知のタイミングを決定する同期位置決定手段と、前記同期位置決定手段と前記同期検知用センサーの間の光路中に配置された補正光学素子と、を備え、
前記開口絞りは、前記光源手段から前記光偏向器までに配置された光学素子のうち前記光偏向器の最も近くにある光学素子と前記光偏向器との間の光路中に配置されており、
副走査断面内において、前記同期検知用光学素子により前記開口絞りと前記同期位置決定手段とを光学的に共役関係としており、
副走査断面内において、前記同期検知用光学素子及び前記補正光学素子により前記光偏向器の偏向面と前記同期検知用センサーとを光学的に共役関係としていることを特徴としている。
【0015】
請求項2の発明は請求項1の発明において、前記光偏向器の偏向面にて偏向走査された複数の光束は、前記走査光学手段を通過することなく前記同期検知用センサーに導かれていることを特徴としている。
【0016】
請求項3の発明の画像形成装置は、請求項1又は2に記載のマルチビーム走査装置と、前記被走査面に配置された感光体と、前記マルチビーム走査装置で走査された光束によって前記感光体上に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、前記現像されたトナー像を被転写材に転写する転写手段と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器とを有することを特徴としている。
【0017】
請求項4の発明の画像形成装置は、請求項1又は2に記載のマルチビーム走査装置と、外部機器から入力したコードデータを画像信号に変換して前記走査光学装置に入力せしめるプリンタコントローラを有していることを特徴としている。
【0018】
請求項5の発明のカラー画増形成装置は、各々が請求項1又は2に記載のマルチビーム走査装置から成る複数のマルチビーム走査装置と、各々のマルチビーム走査装置の被走査面に配置され、互いに異なった色の画像を形成する複数の像担持体とを有することを特徴としている。
【0019】
請求項6の発明は請求項5の発明において、外部機器から入力した色信号を異なった色の画像データに変換して各々のマルチビーム走査装置に入力せしめるプリンタコントローラを有していることを特徴としている。
【0020】
【0021】
【0022】
【0023】
【0024】
【0025】
【0026】
【0027】
【0028】
【0029】
【0030】
【0031】
【発明の実施の形態】
(参考例1)
図1は本発明のマルチビーム走査装置の参考例1の要部斜視図である。図2は本発明のマルチビーム走査装置の参考例1の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。
【0032】
尚、本明細書において偏向手段によって光束が反射偏向(偏向走査)される方向を主走査方向、走査光学手段の光軸及び主走査方向と直交する方向を副走査方向と定義する。
【0033】
図中、1は光源手段であり、例えば2つの発光点(発光部)を有する半導体レーザーアレイより成っている。尚、発光点は3つ以上でも良い。
【0034】
2は集光レンズ系であり、1枚のコリメーターレンズを有し、光源手段1から射出された2つの光束を各々平行光束に変換している。尚、集光レンズ系を複数のレンズで構成しても良い。また集光レンズ系は光源手段1から射出された2つの光束を必要に応じて発散光束もしくは収束光束に変換しても良い。
【0035】
3は開口絞りであり、光源手段1から射出した2つの光束の幅をそれぞれ制限している。
【0036】
4はシリンドリカルレンズであり、副走査方向のみに所定の屈折力を有しており、コリメーターレンズ2を通過した2つの光束を後述する偏向手段5の偏向面5a近傍に主走査方向に長手の線像として結像させている。
ここでコリメーターレンズ2とシリンドレリカルレンズ4を総称して入射光学手段という。
【0037】
5は偏向手段としての光偏向器であり、例えば6面構成のポリゴンミラー(回転多面鏡)から成り、モータの駆動手段6により図中矢印A方向に一定速度で回転している。
【0038】
7は結像性能とfθ特性を有する走査光学手段(走査レンズ系)であり、アナモフィックな屈折力を有する1枚のfθレンズを有し、光偏向器5により反射偏向された2つの光束を被走査面としての感光ドラム面8上に結像させ、且つ該光偏向器5の偏向面5aの面倒れを補正している。
【0039】
このとき、光偏向器5の偏向面5aで反射偏向された2つの光束(走査用光束)は走査光学手段7を介して感光ドラム面8上に導光され、光偏向器5を矢印A方向に回転させることによって、該感光ドラム面8上を矢印B方向(主走査方向)に同時に光走査している。
【0040】
また光偏向器5によって反射偏向された2つの光束の一部(BD光束:同期検出用の光束)は、それぞれ走査光学手段7を介し同期検知用ミラー(BDミラー)9で折り返されて感光ドラム面8と光学的に等価な位置にある同期位置決定手段であるスリット(BDスリット)11と光検出素子であるBDセンサー12とから成る同期検知手段10へ入射している。そして同期検知手段10から得られる同期信号を用いて感光ドラム面8上の書き出し位置(走査開始位置)のタイミングを調整している。これにより感光ドラム面8上に2本の走査線を形成し、画像記録を行っている。
【0041】
尚、上記BDスリット11は主走査方向に遮光壁(BDスリット部)を有し、同期検知(BD検知)のタイミングを決定している。
【0042】
図3(A)、(B)は各々参考例1における光源手段から同期検知手段に至る光路を示した図であり、(A)は主走査断面図、(B)は副走査断面図である。
【0043】
図3(A)に示した主走査断面内において、半導体レーザーアレイ1から射出した2つの発散光束はコリメーターレンズ2で平行光束に変換され、開口絞り3にて光束幅を決定される。このとき開口絞り3の位置で2つの光束は交差する。開口絞り3を通過した2つの光束はシリンドリカルレンズ4を介して光偏向器5の偏向面5aへ入射する。光偏向器5の偏向面5aで反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)はそれぞれ走査レンズ系7により同期位置決定手段であるBDスリット11上で集光され、該BDスリット11の開口部11aを通過した光束がBDセンサー12へ入射する。
【0044】
このとき2つのBD光束は主走査方向の異なる位置を走査されるので、先のBD光束が光検知されてから次のBD光束が光検知されるまでには所定の時間差がある。この所定時間だけ発光タイミングをずらすことにより全ての走査線の書き出し位置を揃えている。
【0045】
図3(B)に示した副走査断面内においては、主走査断面内と同様に半導体レーザーアレイ1から射出した2つの発散光束はコリメーターレンズ2で平行光束に変換され、開口絞り3にて光束幅を決定される。このとき開口絞り3の位置で2つの光束は交差する。開口絞り3を通過した2つの光束はシリンドリカルレンズ4で光偏向器5の偏向面5a近傍に結像される。光偏向器5の偏向面5aで反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)はそれぞれ走査レンズ系7を介してBDスリット11及びBDセンサー12へ導光される。
【0046】
このとき2つの光束が交差する開口絞り3とBDスリット11とを走査レンズ系7により光学的に共役関係とすることにより、2つのBD光束がBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置を走査するようにしている。即ち、2つのBD光束はBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達する。
【0047】
走査レンズ系7は副走査方向のパワー配置をこれに適した構成とする為、感光ドラム面8上の有効走査域を光走査するレンズ部分と同期検知手段10へ導光するレンズ部分とでは、互いに副走査方向の焦点距離を異ならせており、有効走査域では感光ドラム面8上に結像し、同期検知用の光路では開口絞り3とBDスリット11とを光学的に共役関係とすることを可能としている。
【0048】
ここで複数のBD光束がBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達することによって得られる効果について説明する。
【0049】
図4(A),(B),(C)は各々従来のマルチビーム走査装置におけるBDスリット11を走査する様子を模式的に示した要部概要図であって、(A)はBDスリット11が正常に配置されたときの要部概要図、(B)はBDスリット11が回転したときの要部概要図、(C)はBDスリットのエッジが凸凹であったときの要部概要図である。
【0050】
図4(A)に示したようにBDスリット11が正常に配置されたときには、不図示のBDセンサーによって光検知する際にBDスリット11上の2つのBD光束の間隔Lを走査する為の時間差dTが生じる。この時間差dTは光学配置によって決まる固定値であり、その時間差dTを考慮してAレーザー(第1のBD光束)が発光してからBレーザー(第2のBD光束)が発光するまでの時間を空けることにより感光ドラム面8上の書き出し位置を揃えている。
【0051】
しかしながら図4(B)に示したようにBDスリット11が組立誤差により回転して配置された場合、所定の時間差dTに加えて、BDスリット11が傾斜したことによってBDスリット開口部までの距離差ΔLをBD光束が走査する為の時間差ΔdTが生じる。これにより図5(B)に示すようにAレーザーに対してBレーザーの書き出し位置が時間差ΔdTに比例してΔJずれてしまい、ジッターが発生することが問題となる。
【0052】
また図4(C)に示したようにBDスリット11のエッジが製造誤差により凸凹であった場合もBDスリット11が回転した場合と同様に所定の時間差dTに加えてBDスリット開口部までの距離差ΔLをBD光束が走査する為の時間差ΔdTが生じる。これにより図5(B)に示したようにAレーザーに対してBレーザーの書き出し位置がΔJずれてしまい、ジッターが発生することが問題となる。
【0053】
このBDスリット11の傾斜や非直線性(凸凹・湾曲)によるジッター発生の問題は複数の光束を同時に光走査するマルチビーム走査装置特有の問題であり、1本の光束を光走査する光走査装置では発生しない現象である。
【0054】
図6(A),(B),(C)は各々参考例1のマルチビーム走査装置におけるスリットを走査する様子を模式的に示した要部概要図であって、(A)はBDスリットが正常に配置されたときの要部概要図、(B)はBDスリットが回転したときの要部概要図、(C)はBDスリットのエッジが凸凹であったときの要部概要図である。
【0055】
参考例1では2つのBD光束がBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達するように構成したので、図6(A)に示したBDスリット11が正常に配置された場合も、図6(B)に示したBDスリット11が組立誤差により回転した場合も、図6(C)に示したBDスリット11が製造誤差により凸凹になった場合についても2つのBD光束のスリット開口部までの距離の差はLのままであり、Aレーザーに対してBレーザーの光検知のタイミングはずれない。よって図5(A)に示したようにBDスリット11の形状や配置によらず常にAレーザーに対するBレーザーの感光ドラム面8上の書き出し位置を合わせることができ、ジッターの発生を回避することができる。
【0056】
尚、開口絞り3とBDスリット11とを光学的に共役関係とする光学素子の中には、例えばレンズやミラーや回折光学素子や絞り等が含まれる。
【0057】
このように参考例1では上述の如く副走査断面内において開口絞り3とBDスリット11を光学的に共役関係とすることにより、複数のBD光束がBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達することができ、これにより先に走査されたBD光束がBDセンサー12により光検知されてから次に走査されたBD光束が光検知されるまでの時間がBDスリット11の製造誤差や組立誤差があっても常に一定となり書き出し位置を揃えてジッターが無いマルチビーム走査装置を提供することができる。
【0058】
尚、複数のBD光束がBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達する手段としては、上述した以外に例えば図7に示すようにプリズム等を用いても構成することができる。
【0059】
即ち、同図における副走査断面内においては第1の光源1aから射出した光束の一部(BD光束)を光偏向器5の後方に配したプリズム15により偏向させて、BDスリット11上で第2の光源1bから射出した光束の一部(BD光束)と同一の位置、もしくは略同一の位置に到達させている。このようにプリズム等を用いても上記の参考例1と同様な効果を得ることができる。
【0060】
尚、参考例1においてはコリメーターレンズ2とシリンドリカルレンズ4等を用いずに、光源手段1からの光束を直接開口絞り3を介して光偏向器5に導光しても良い。
【0061】
また参考例1においては走査光学手段7を1枚のレンズより構成したが、これに限らず、例えば2枚以上のレンズより構成しても良い。
【0062】
(参考例2)
図8は本発明のマルチビーム走査装置の参考例2の要部斜視図である。図9は本発明のマルチビーム走査装置の参考例2の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図8、図9において図1、図2に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0063】
参考例2において前述の参考例1と異なる点は同期検知手段10へ向かう2つのBD光束を走査光学手段7とは別体の同期検知用光学手段13(同期検出用光学素子)を介して同期検知手段10へ導光した点と、開口絞り3をシリンドリカルレンズ4と光偏向器5との間に配置した点である。その他の構成及び光学的作用は参考例1と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【0064】
即ち、図中、13は同期検知用光学手段であり、主走査方向のパワー(屈折力)よりも副走査方向のパワーの方が強い1枚のアナモフィックなパワーを有する同期検出用レンズ(BDレンズ)で構成されており、光偏向器5によって偏向された2つの光束の一部(BD光束)をそれぞれ同期検知手段10へ導光している。尚、同期検知用光学手段13は複数枚のレンズより構成しても良い。
【0065】
表−1は、参考例2におけるマルチビーム走査装置の光源手段1から同期検知手段10までの光学配置である。
【0066】
【表1】
【0067】
図10(A)、(B)、(C)は各々参考例2における光源手段から同期検知手段に至る光路を示した図であり、(A)は主走査断面図、(B)は副走査断面図、(C)は図10(B)の光束を主光線のみで表示した副走査断面図である。
【0068】
図10(A)において、半導体レーザーアレイ1から射出した2つの発散光束はコリメーターレンズ2により平行光束に変換され、シリンドリカルレンズ4を通過した後、開口絞り3で光束幅を制限されて光偏向器5の偏向面5aへ入射する。光偏向器5の偏向面5aで反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)はそれぞれBDレンズ13により同期位置決定手段であるBDスリット11上で集光され、BDスリット11の開口部11aを通過したBD光束が光検出素子であるBDセンサー12へ入射する。
【0069】
また図10(B)において、半導体レーザーアレイ1から射出した2つの発散光束はコリメーターレンズ2で平行光束に変換され、シリンドリカルレンズ4で光偏向器5の偏向面5a近傍に結像される。またシリンドリカルレンズ4と光偏向器5の偏向面5aとの間に配置された開口絞り3によって光束幅が制限される。このとき2つの光束は開口絞り3の位置で交差する。開口絞り3を通過した2つの光束は光偏向器5の偏向面5aで反射偏向される。そして偏向面5aで反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)が、それぞれBDレンズ13を介してBDスリット11及びBDセンサー12へ導光される。ここでBDレンズ13により副走査断面内において開口絞り3とBDスリット11とを光学的に共役関係とすることより、2つのBD光束がBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達する構成としている。この構成によりBDスリット11の製造誤差や組立誤差等に影響を受けず、ジッターの発生を回避したマルチビーム走査装置を提供することができる。
【0070】
参考例2では上述の如く同期検知手段10へ向かう光路中に走査レンズ系7とは別体のBDレンズ13を用いたことにより、主走査方向の焦点距離を短くして光偏向器5から同期検知手段10までの光路を短縮し、装置全体のコンパクト化を図っている。またBDミラーを排除して光路を短縮したことにより、装置全体の簡素化及び低コスト化も図っている。
【0071】
またBDレンズ13は走査レンズ系7とは独立に副走査方向の焦点距離を自由に決められるので開口絞り3やBDスリット11の配置によらず、該開口絞り3とBDスリット11とを光学的に共役関係とすることができる。また開口絞り3やBDスリット11の配置の自由度も向上させることができる。
【0072】
更に開口絞り3をシリンドリカルレンズ4と光偏向器5との間に配置したので、開口絞り3と偏向面5a近傍に結像された線像とを近接することができ、これによりBDスリット11上でのBD光束の副走査方向の光束幅を比較的小さくできる。
【0073】
BDスリット11上のBD光束の副走査方向の光束幅は複数のBD光束がBDスリット11上の副走査方向の到達位置のずれ許容量と関係がある。即ち、BDスリット11上で複数のBD光束毎に副走査方向の到達位置がずれる量をdZ、BDスリット11上におけるBD光束の副走査方向の光束幅をDsとしたとき、
dZ≦Ds/5 ………(1)
なる条件を満足するのが良い。
【0074】
さらに好ましくは、
dZ≦Ds/10 ………(2)
とするのが良い。
【0075】
ここでdZは副走査方向における第1のBD光束と第2のBD光束とのずれ量のことであるが、BD光束が3つ以上あった場合においては、第2のBD光束と第3のBD光束とのずれ量の様に隣り合うBD光束とのずれ量のことである。
【0076】
またBDスリット11上のBD光束の副走査方向の光束幅は小さ過ぎると複数のBD光束毎に副走査方向の到達位置が微小量ずれた場合にBDスリット11の凸凹等による影響を受けやすくなって副走査方向の到達位置のずれ許容量を大きくできない。また大き過ぎるとBDセンサー12でのケラレが発生して書き出し位置がずれたり、各BD光束でケラレ量が異なりジッターが発生して問題となる。
【0077】
そこで参考例2ではBDセンサー12の副走査方向の幅をDc(mm)としたとき、BDスリット11上でのBD光束の副走査方向の光束幅Ds(mm)を
0.05≦Ds≦Dc………(3)
とするのが好ましい。
【0078】
参考例2では開口絞り3の開口径は主走査方向が2.08mm、副走査方向が1.42mmなる楕円形状を成している。またBDセンサー12は直径1.25mmの円形(Dc=1.25mm)を成している。このときBDスリット11上でのBD光束の副走査方向の光束幅はDs=0.99mmであり、条件式(1)を満足する構成である。更にBDスリット11上で2つのBD光束の副走査方向の到達位置がずれる量はdZ=0.00mmであり、これは条件式(1)及び条件式(2)を満足している。
【0079】
ここで開口絞り3とBDスリット11との光学的な共役関係について表−1を用いて説明する。
【0080】
表−1に示したように開口絞り3とBDスリット11との間に配置させた同期検知用光学手段は上記の如く単一のレンズ(BDレンズ)13のみで構成されており、副走査断面内においてBDレンズ13により開口絞り3の像はBDレンズ13の射出面から45.000(mm)の位置に結像される。BDレンズ13の射出面からBDスリット11までの距離は45.000(mm)であり、開口絞り3の像の位置にBDスリット11を配置している。この構成は、開口絞り3とBDスリット11とがBDレンズ13により光学的に共役な関係に結ばれていることを示している。これにより前記図10(C)に示したように半導体レーザーアレイ1から射出した2つの光束の一部(BD光束)をそれぞれBDスリット11上で同一の位置、もしくは略同一の位置に到達させることができる。
【0081】
このときBDレンズ13の出射面からBDスリット11までの距離をL2、BDレンズ13の出射面から開口絞り3との共役点までの距離をLとしたとき、
ΔL=L−L2 ………(4)
であり、
|ΔL/L|≦0.01 ………(5)
なる条件を満足することが望ましい。
【0082】
さらに好ましくは、
|ΔL/L|≦0.005 ………(6)
なる条件を満足させると良い。
【0083】
上記条件式(5)を外れるとBDスリット11上で複数のBD光束が副走査方向に大きくばらけてしまい、BDスリット11の形状誤差や配置誤差の影響を受けやすくなり、ジッターの発生量が許容できなくなって問題となるので良くない。
【0084】
参考例2では開口絞り3とBDスリット11とが完全に共役な関係を成しているため、
ΔL=0.000 ………(7)
であって、すなわち
|ΔL/L|=0.000 ………(8)
である。
【0085】
もちろん、上記の条件式(5)さらに条件式(6)を満足している。
【0086】
図11は半導体レーザーアレイ及び同期検知手段近傍を拡大した拡大図である。同図において図9に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0087】
同図において同期検知手段10は上記の如く同期位置決定手段であるBDスリット11と光検出素子であるBDセンサー12とから構成されている。また半導体レーザーアレイ1とBDセンサー12は同一の基盤16に取り付けられ、BDスリット11は半導体レーザーアレイ1を保持する保持部材であるレーザーホルダー17と一体に形成されており、一組のレーザーユニット18を構成している。これによって部品点数を削減してコストダウンを図っている。また同図においてBDレンズ13はシリンドリカルレンズ4と一体に構成された複合プラスチックレンズとしている。
【0088】
図12(A)はレーザーユニット18をコリメーターレンズの光軸方向に沿ってシリンドリカルレンズ側から見たときの要部概略図、図12(B)はレーザーユニット18をコリメーターレンズの光軸を中心軸として角度αだけ回転させたときの要部概略図である。同図(A),(B)において図11に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0089】
被走査面上で走査線ピッチを解像度によって決まる所定の間隔とする必要があり、一般的に半導体レーザーアレイ1を回転させて調整している。参考例2の場合、半導体レーザーアレイ1及び同期検知手段10とを一体化したレーザーユニット18をコリメーターレンズの光軸を中心軸として回転させて調整している。このとき同期位置決定手段であるBDスリット11も一緒に回転する。
【0090】
従来のマルチビーム走査装置のように複数のBD光束が副走査断面内において同期位置決定手段であるBDスリット上の異なる位置を通過する構成においては、該BDスリットがBD光束に対して傾斜することによりジッターが発生することが問題となる。
【0091】
そこで参考例2では複数のBD光束が副走査断面内においてBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達するように構成することによって、ジッターが発生しないマルチビーム走査装置を提供することができる。
【0092】
つまり参考例2は光源手段1とBDスリット11とが一体に形成されたマルチビーム走査装置の走査線ピッチ間隔調整によるジッターの発生を回避する効果も有する。
【0093】
尚、参考例2では光偏向器5から同期検知手段10へ向かう光路は走査レンズ系7を通さずに該走査レンズ系7とは別体のBDレンズ13を介して同期検知手段10へ導光しているが、これに限ることはなく、例えば走査レンズ系7を通過した後でBDレンズ13を介して同期検知手段10へ導光しても本発明と同等の効果を得ることができる。
【0094】
このように参考例2では上述の如く光偏向器5から同期検知手段10までの光路中に走査レンズ系7とは別体のBDレンズ13を配置することにより、走査レンズ系7の形状に影響されず、開口絞り3とBDスリット11とを光学的に共役関係としたまま開口絞り3とBDスリット11の配置の自由度が増すことができる。また光偏向器5から同期検知手段10までの距離を短くできるのでマルチビーム走査装置をコンパクトに構成できる。
【0095】
また開口絞り3を光偏向器5近傍に配置することで、BDスリット11と光学的に共役関係となる開口絞り3と線像位置と近接させることができるので、BDスリット11上でのBD光束の光束幅を比較的小さく抑えることができる。これにより小型で簡易な構成のBDセンサー12を使用することができる。
【0096】
またBDスリット11を半導体レーザーアレイ1の保持部材と一体に形成することで、部品点数が削減でき、コストダウンが図れる。また被走査面上の走査線間隔を調整する際に光源手段の保持部材を回転させた場合のBDスリットの回転(傾斜)に対しても上記の効果を用いてジッターの発生を回避することができる。
【0097】
(実施形態1)
図13は本発明のマルチビーム走査装置の実施形態1の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図14は本発明の実施形態1における光源手段から同期検知手段に至る光路を示した副走査断面図である。図13、図14において図9に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0098】
表−2は、本実施形態におけるマルチビーム走査装置の光源手段1から同期検知手段10までの光学配置である。
【0099】
【表2】
【0100】
本実施形態において前述の参考例2と異なる点は同期位置決定手段であるBDスリット11と光検出素子であるBDセンサー12との間に光学素子14を配置した点である。その他の構成及び光学的作用は参考例2と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【0101】
即ち、図中14は光学素子としての同期検出用の補正レンズ(補正光学素子)(BD補正レンズ)であり、副走査方向に正のパワーを有している。前述の実施形態2と同様に、同期検知用光学手段であるBDレンズ13によって開口絞り3とBDスリット11とを共役関係とすることにより、光偏向器5で反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)は、それぞれBDスリット11上で同一の位置、もしくは略同一の位置に到達する。
【0102】
また本実施形態ではBDレンズ13とBD補正レンズ14とから成る光学系によって、光偏向器5の偏向面5aとBDセンサー12とを副走査断面内において光学的に共役関係を結びつけることにより、2つのBD光束がBDセンサー12上で結像(集光)するように構成している。この構成を取ることによりBD光束の副走査方向の光束幅が大きいままBDスリット11を通過させることで、2つのBD光束が副走査方向に少しずれた位置を通過する際のジッターの発生への影響を小さくすることができると共に、BDセンサー12上ではBD光束の光束幅を小さくして該BDセンサー12の配置精度を緩めることができる。またBDセンサー12は小さいものが使用できるので、コストダウンが図れる効果もある。
【0103】
またこのときBD補正レンズ14を用いることでBDスリット11に到達するBD光束の副走査方向の光束幅はBDセンサー12の副走査方向の幅に影響されず大きくすることもできる。
【0104】
BDスリット11上でのBD光束の副走査方向の光束幅を大きくすると、2つのBD光束が該BDスリット11上に到達する副走査方向の位置ズレの許容できる量を大きくできるメリットがある。
【0105】
このように本実施形態においては上述の如くBDスリット11とBDセンサー12との間に副走査方向の集光作用を及ぼすBD補正レンズ14を配置することで、該BDスリット11上では所望の光束幅を有したまま、BDセンサー12上でのBD光束の副走査方向の光束幅を更に小さくできる。これにより、小型で簡易な構成のBDセンサー12を使用することができる。
【0106】
また光偏向器5の偏向面5aとBDセンサー12とを副走査断面内において光学的に共役関係とすることで、同期検知用の光路においても面倒れ補正効果を有し、偏向面の倒れが生じてもBDセンサー12を外さないようにすることができる。
【0107】
(参考例3)
図15は本発明のマルチビーム走査装置の参考例3の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図16(A)、(B)は各々参考例3における光源手段から同期検知手段に至る光路を示した図であり、(A)は主走査断面図、(B)は副走査断面図である。図16(C)は図15に示したBDセンサーを正面から見たときの正面図である。図15、図16において図9、図10に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0108】
表−3は、参考例3におけるマルチビーム走査装置の光源手段1から同期検知手段10までの光学配置である。
【0109】
【表3】
【0110】
参考例3において前述の参考例2と異なる点は、同期位置決定手段をBDセンサー12のエッジとした点である。その他の構成及び光学的作用は参考例2と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【0111】
即ち、図16(A)に示した主走査断面内では、同期検知用光学手段であるBDレンズ13によって光走査され、BDセンサー12のエッジに掛かったところで同期検知を行っている。また副走査断面内では開口絞り3とBDセンサー12のエッジとが光学的に共役関係とし、2つのBD光束がBDセンサー12のエッジの同一の位置、もしくは略同一の位置に到達する構成としている。これによりBDセンサー12のエッジが組立誤差により傾斜したり、製造誤差により非直線(凸凹・湾曲)であった場合においても、Aレーザー(第1のBD光束)に対してBレーザー(第2のBD光束)の同期検知のタイミングがずれることがなくジッターが発生しないマルチビーム走査装置を提供することができる。
【0112】
尚、図16(C)において12aはBDセンサー12のエッジ、12bはBDセンサー12の受光面である。
【0113】
このように参考例3では上述の如く同期位置決定手段をBDセンサー12のエッジとすることにより、部品点数を削減してコストダウンを図っている。
【0114】
(参考例4)
図17は本発明のマルチビーム走査装置の参考例4の要部斜視図である。図18は本発明のマルチビーム走査装置の参考例4の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。図17、図18において図13、図14に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0115】
表−4は、参考例4におけるマルチビーム走査装置の光源手段1から同期検知手段10までの光学配置である。
【0116】
【表4】
【0117】
参考例4において前述の実施形態1と異なる点は光偏向器5から同期検知手段10へ向かう光路中に同期検知用絞り(BD絞り)15を設けた点である。その他の構成及び光学的作用は実施形態1と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【0118】
即ち、図中、15は同期検知用絞り(BD絞り)であり、光偏向器5で反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)の光束幅をそれぞれ制限している。
【0119】
参考例4において光偏向器5で反射偏向された2つの光束の一部(BD光束)はBD絞り15によって光束幅がそれぞれ制限され、BDレンズ13で集光されて同期検知手段10へ導光される。主走査断面内において2つのBD光束はBDレンズ13によってBDスリット11上で結像される。このときBD絞り15を設けたことによって2つのBD光束はBDレンズ13の光軸を通ってBDスリット11へ結像されるため、該BDレンズ13やBDスリット11の配置誤差及びBDレンズの製造誤差によるピント変動による影響によって発生するジッターの問題を回避することが可能となる。
【0120】
図19は本発明の参考例4における光源手段から同期検知手段に至る光路を示した副走査断面図である。同図において図18に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0121】
同図において2つのBD光束は主走査断面内と同様にBD絞り15により光束幅がそれぞれ制限され、BDレンズ13を介して同期検知手段10へ導光される。同期検知手段10はBDスリット11、BD補正レンズ14、そしてBDセンサー12から構成されており、光偏向器5からBDセンサー12に至る光路において、BDレンズ13によってBD絞り15とBDスリット11とを光学的に共役関係として、2つのBD光束が該BDスリット11上に位置(走査)する位置を同一、もしくは略同一としている。これにより組立誤差によるBDスリット11の傾斜や製造誤差によるBDスリット11の非直線性(凸凹・湾曲)によるジッターの発生を回避している。
【0122】
またBDレンズ13とBD補正レンズ14とで構成された光学系によって、光偏向器5の偏向面5aとBDセンサー12とを光学的に共役関係としたことにより、BDセンサー12上で2つのBD光束を集光させると共に光偏向器5の偏向面5aの面倒れの影響を回避している。
【0123】
参考例4において、BDスリット11上のBD光束の副走査方向の光束幅はDs=0.437mmであり、BDスリット11上の2つのBD光束の副走査方向の到達位置のずれ量はdZ=0.0004mmであり、前記条件式(1)及び条件式(2)を満足する構成である。
【0124】
またBDセンサー12の副走査方向の幅はDc=1.25mmであるので、条件式(3)も満足する構成であるが、BDスリット11とBDセンサー12との間にBD補正レンズ14を設けてBD光束を集光させているので、BDセンサー12上におけるBD光束の副走査方向の光束幅は小さくでき、必ずしも条件式(3)の上限を満足させなくともBDセンサー12によってケラレを生じることなく同期検知を行うことができる。
【0125】
(参考例5)
図20は本発明のマルチビーム走査装置の参考例5における光源手段から同期検知手段に至る光路を示した副走査断面図である。同図において図10に示した要素と同一要素には同符番を付している。
【0126】
参考例5において前述の参考例2と異なる点は、光源手段81を1つの発光点を有する半導体レーザー81a,81bを2つ並べて構成した点と、副走査断面内において半導体レーザー81a,81bからの2つの光束(主光線)が交差する点をクロスポイントPとしたとき、光偏向器5とBDスリット11との間に配置されたBDレンズ13により、該クロスポイントPと該BDスリット11とを光学的に共役関係とした点である。その他の構成及び光学的作用は参考例2と略同様であり、これにより同様な効果を得ている。
【0127】
即ち、81は光源手段であり、1つの発光点を有する第1、第2の半導体レーザー81a,81bを2つ並べて構成している。2a,2bは各々集光レンズ系であり、1枚のコリメーターレンズを有し、対応する光源手段81a,81bから射出された発散光束をそれぞれ平行光束に変換している。3a,3bは各々開口絞りであり、対応する光源手段81a,81bから射出した光束の幅をそれぞれ制限している。
【0128】
参考例5において光源手段81から発せられた2つの発散光束は夫々のコリメーターレンズ2a・2bによって平行光束に変換されて夫々の開口絞り3a・3bによって光束幅が制限され、1つのシリンドリカルレンズ4へ入射している。2つの光束はシリンドリカルレンズ4により光偏向器5の偏向面5a近傍に主走査方向に長手の線像として結像される。そして偏向面5aで偏向された2つの光束の一部(BD光束)は、それぞれBDレンズ13を介して同期位置決定手段としてのBDスリット11及び光検出素子としてのBDセンサー12とから成る同期検知手段10へ導光される。
【0129】
このとき、光源手段81から発せられた2つの光束はシリンドリカルレンズ4と光偏向器5の偏向面5aとの間で交差しており、この交差した点をクロスポイントとしたとき、副走査断面内においてBDレンズ13はクロスポイントPとBDスリット11とを光学的に共役関係としている。これにより2つのBD光束はBDスリット11上の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達し、BDスリット11の傾斜や非直線性(凸凹・湾曲)によるジッターの発生を回避したマルチビーム走査装置を提供することができる。
【0130】
[画像形成装置]
図21は、前述した実施形態1のマルチビーム走査装置を用いた画像形成装置(電子写真プリンタ)の実施形態を示す副走査断面内における要部断面図である。図21において、符号104は画像形成装置を示す。この画像形成装置104には、パーソナルコンピュータ等の外部機器117からコードデータDcが入力する。このコードデータDcは、装置内のプリンタコントローラ111によって、画像データ(ドットデータ)Diに変換される。この画像データDiは、各実施形態1で示した構成を有する光走査ユニット100に入力される。そして、この光走査ユニット(マルチビーム走査装置)100からは、画像データDiに応じて変調された光ビーム(光束)103が射出され、この光ビーム103によって感光ドラム101の感光面が主走査方向に走査される。
【0131】
静電潜像担持体(感光体)たる感光ドラム101は、モータ115によって時計廻りに回転させられる。そして、この回転に伴って、感光ドラム101の感光面が光ビーム103に対して、主走査方向と直交する副走査方向に移動する。感光ドラム101の上方には、感光ドラム101の表面を一様に帯電せしめる帯電ローラ102が表面に当接するように設けられている。そして、帯電ローラ102によって帯電された感光ドラム101の表面に、前記光走査ユニット100によって走査される光ビーム103が照射されるようになっている。
【0132】
先に説明したように、光ビーム103は、画像データDiに基づいて変調されており、この光ビーム103を照射することによって感光ドラム101の表面に静電潜像を形成せしめる。この静電潜像は、上記光ビーム103の照射位置よりもさらに感光ドラム101の回転断面内における下流側で感光ドラム101に当接するように配設された現像器107によってトナー像として現像される。
【0133】
現像器107によって現像されたトナー像は、感光ドラム101の下方で、感光ドラム101に対向するように配設された転写ローラ(転写器)108によって被転写材たる用紙112上に転写される。用紙112は感光ドラム101の前方(図21において右側)の用紙カセット109内に収納されているが、手差しでも給紙が可能である。用紙カセット109端部には、給紙ローラ110が配設されており、用紙カセット109内の用紙112を搬送路へ送り込む。
【0134】
以上のようにして、未定着トナー像を転写された用紙112はさらに感光ドラム101後方(図21において左側)の定着器へと搬送される。定着器は内部に定着ヒータ(図示せず)を有する定着ローラ113とこの定着ローラ113に圧接するように配設された加圧ローラ114とで構成されており、転写部から撒送されてきた用紙112を定着ローラ113と加圧ローラ114の圧接部にて加圧しながら加熱することにより用紙112上の未定着トナー像を定着せしめる。更に定着ローラ113の後方には排紙ローラ116が配設されており、定着された用紙112を画像形成装置の外に排出せしめる。
【0135】
図21においては図示していないが、プリントコントローラ111は、先に説明したデータの変換だけでなく、モータ115を始め画像形成装置内の各部や、光走査ユニット100内のポリゴンモータなどの制御を行う。
【0136】
[カラー画像形成装置]
図22は本発明の実施態様のカラー画像形成装置の要部概略図である。本実施形態は、マルチビーム走査装置を4個並べ各々並行して像担持体である感光ドラム面上に画像情報を記録するタンデムタイプのカラー画像形成装置である。図22において、60はカラー画像形成装置、71,72,73,74は各々実施形態1〜6に示したいずれかの構成を有するマルチビーム走査装置、21,22,23,24は各々像担持体としての感光ドラム、31,32,33,34は各々現像器、51は搬送ベルトである。
【0137】
図22において、カラー画像形成装置60には、パーソナルコンピュータ等の外部機器52からR(レッド)、G(グリーン)、B(ブルー)の各色信号が入力する。これらの色信号は、装置内のプリンタコントローラ53によって、C(シアン),M(マゼンタ),Y(イエロー)、B(ブラック)の各画像データ(ドットデータ)に変換される。これらの画像データは、それぞれマルチビーム走査装置71,72,73,74に入力される。そして、これらのマルチビーム走査装置からは、各画像データに応じて変調された光ビーム41,42,43,44が射出され、これらの光ビームによって感光ドラム21,22,23,24の感光面が主走査方向に走査される。
【0138】
本実施態様におけるカラー画像形成装置はマルチビーム走査装置(71,72,73,74)を4個並べ、各々がC(シアン),M(マゼンタ),Y(イエロー)、B(ブラック)の各色に対応し、各々平行して感光ドラム21,22,23,24面上に画像信号(画像情報)を記録し、カラー画像を高速に印字するものである。
【0139】
本実施態様におけるカラー画像形成装置は上述の如く4つのマルチビーム走査装置71,72,73,74により各々の画像データに基づいた光ビームを用いて各色の潜像を各々対応する感光ドラム21,22,23,24面上に形成している。その後、記録材に多重転写して1枚のフルカラー画像を形成している。
【0140】
前記外部機器52としては、例えばCCDセンサを備えたカラー画像読取装置が用いられても良い。この場合には、このカラー画像読取装置と、カラー画像形成装置60とで、カラーデジタル複写機が構成される。
【0141】
【発明の効果】
本発明は偏向手段により偏向された複数の光束の一部(BD光束)を、それぞれ副走査断面内において同期位置決定手段の同一の位置、もしくは略同一の位置に到達するように構成することにより、同期位置決定手段が傾斜したり、凸凹であったり、さらに湾曲したことによって発生するジッターを回避することができ、これにより常に良好なる画像を得ることができるマルチビーム走査装置及びそれを用いた画像形成装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の参考例1の要部斜視図
【図2】本発明の参考例1の主走査断面図
【図3】本発明の参考例1の光源手段から同期検知手段に至る光路の要部
概略図
【図4】従来の同期位置決定手段での構成を説明する要部概略図
【図5】各走査線の書き出し位置ずれによるジッターを説明する図
【図6】本発明の参考例1の同期位置決定手段での構成を説明する要部概
略図
【図7】光源手段から同期検知手段に至る光路の要部概略図
【図8】本発明の参考例2の斜視図
【図9】本発明の参考例2の主走査断面図
【図10】本発明の参考例2の光源手段から同期検知手段に至る光路の要
部概略図
【図11】本発明の参考例2の光源手段及び同期検知手段近傍の拡大図
【図12】本発明の参考例2のレーザーユニットにおける要部概略図
【図13】本発明の実施形態1の主走査断面図
【図14】本発明の実施形態1の光源手段から同期検知手段に至る光路の要
部概略図
【図15】本発明の参考例3の主走査断面図
【図16】本発明の参考例3の光源手段から同期検知手段に至る光路の要
部概略図
【図17】本発明の参考例4の斜視図
【図18】本発明の参考例4の主走査断面図
【図19】本発明の参考例4の光源手段から同期検知手段に至る光路の要
部概略図
【図20】本発明の参考例5の光源手段から同期検知手段に至る光路の要
部概略図
【図21】本発明の画像形成装置の断面図
【図22】本発明のカラー画像形成装置の断面図
【図23】従来のマルチビーム走査装置の斜視図
【図24】従来のマルチビーム走査装置の光源手段から同期検知手段に至る
光路の要部概略図
【符号の説明】
1 光源手段(半導体レーザーアレイ)
2 集光レンズ系(コリメーターレンズ)
3 開口絞り
4 シリンドリカルレンズ
5 偏向手段(ポリゴンミラー)
6 駆動手段
7 走査光学手段(fθレンズ系)
8 被走査面(感光ドラム面)
9 BDミラー
10 同期検知手段
11 同期位置決定手段(BDスリット)
12 BDセンサー
13 BDレンズ
14 BD補正レンズ
71、72、73、74 マルチビーム走査装置
21、22、23、24 像担持体(感光ドラム)
31、32、33、34 現像器
41、42、43、44 光ビーム
51 搬送ベルト
52 外部機器
53 プリンタコントローラ
60 カラー画像形成装置
100 マルチビーム走査装置
101 感光ドラム
102 帯電ローラ
103 光ビーム
104 画像形成装置
107 現像装置
108 転写ローラ
109 用紙カセット
110 給紙ローラ
111 プリンタコントローラ
112 転写材(用紙)
113 定着ローラ
114 加圧ローラ
115 モータ
116 排紙ローラ
117 外部機器[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a multi-beam scanning device and an image forming apparatus using the same, and in particular, a light beam emitted from a light source means is reflected and deflected by a polygon mirror as a deflecting means, and the surface to be scanned is optically scanned via a scanning optical means. In particular, the present invention relates to an optical scanning optical system suitable for an image forming apparatus such as a laser beam printer having an electrophotographic process, a digital copying machine, or a multi-function printer (multi-function printer). The present invention relates to a multi-beam scanning device that simultaneously scans a light beam to achieve high speed and high definition, and always obtains a good image with reduced jitter.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, the multi-beam scanning apparatus has a synchronization detecting means for accurately determining the writing position on the photosensitive image carrier.
[0003]
FIG. 23 is a perspective view of a main part of this type of conventional multi-beam scanning apparatus. 24A is a cross-sectional view of the main part in the main scanning direction (main scanning cross-sectional view) showing an optical path from the light source means of FIG. 23 to the synchronization detection means, and FIG. 24B is a synchronous detection from the light source means of FIG. It is principal part sectional drawing (sub-scanning sectional view) of the subscanning direction which showed the optical path to a means.
[0004]
In the figure, the synchronization detection means 90 is a light detection element (BD sensor) 92 that detects that a synchronization detection light beam (BD light beam) has entered, and a slit (BD slit) that determines the synchronization position incident on the BD sensor 92. 91).
[0005]
In FIG. 23, a part (BD light beam) of a plurality of light beams deflected by the deflecting surface 85 a of the deflecting means (optical deflector) 85 optically scans on the BD slit 91 and enters the opening of the BD slit 91. It is configured to reach the BD sensor 92 when it is approaching. That is, the BD slit 91 serves as a synchronization position determination unit that determines the timing of synchronization detection. There is also a configuration in which the edge of the BD sensor 92 is used as a synchronization position determining means instead of the BD slit 91.
[0006]
The conventional multi-beam scanning device reduces the influence of surface tilt by optically conjugating the deflecting surface 85a of the optical deflector 85 and the BD sensor 92 within the sub-scanning section. The BD light beam reaches different positions in the sub-scanning direction.
[0007]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-281113 discloses a configuration of a scanning optical device having synchronization detecting optical means separate from the scanning optical means using synchronization detecting means in which the synchronization position determining means is a slit. . As a result, the scanning optical means and the scanning optical apparatus using the same are made compact.
[0008]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-21819 discloses a configuration of a multi-beam scanning device in which an aperture stop is disposed between an optical element that is closest to the deflection unit among the optical elements that constitute the incident optical unit and the deflection unit. Yes. In this publication, the degree of freedom of arrangement of optical elements is improved.
[0009]
Both of these scanning optical devices perform highly accurate image information recording by aligning the writing start position on the surface to be scanned by the synchronization detecting means.
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
In order to record image information with high accuracy in a multi-beam scanning device, a plurality of light beams are focused on the entire surface to be scanned, and jitter (print position deviation in the main scanning direction) is corrected well. This is very important.
[0011]
However, when the edge of the BD slit 91 or the edge of the BD sensor 92, which is the synchronization position determining means, becomes uneven due to a manufacturing error or is tilted due to an assembly error or rotation adjustment of the light source means, a plurality of BD light beams are sub-scanning cross sections. Since the positions reaching the synchronization position determining means are different from each other, the synchronization detection timing is relatively shifted. This is a problem because it causes jitter on the surface to be scanned.
[0012]
Note that the jitter here refers to a print position shift in the main scanning direction due to the inconsistency of the writing positions of the scanning lines corresponding to a plurality of BD light beams.
[0013]
The present invention does not generate jitter on the surface to be scanned even when the edge of the BD slit or the edge of the BD sensor, which is the synchronization position determining means, becomes uneven due to manufacturing errors or tilts due to assembly errors or rotation adjustment of the light source means. It is an object of the present invention to provide a multi-beam scanning device capable of always obtaining a good image and an image forming apparatus using the same.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
The multi-beam scanning device according to the first aspect of the present invention is a light source unit having a plurality of light emitting units arranged separately from each other in the main scanning direction and the sub scanning direction, and is emitted from the plurality of light emitting units in the sub scanning section. An aperture stop that crosses a plurality of light beams, an optical deflector that deflects and scans a plurality of light beams emitted from the light emitting units, andIncident optical means for forming a plurality of light beams emitted from the plurality of light emitting sections on the deflection surface of the optical deflector as a line image elongated in the main scanning direction within a sub-scanning section;Scanning optical means for imaging a plurality of light beams deflected and scanned on the deflecting surface of the optical deflector on the scanned surface;Detecting a plurality of light beams deflected and scanned by the deflection surface of the optical deflector;Synchronization detecting means for generating a synchronization signal for determining the timing of the writing position on the surface to be scanned, and a multi-beam scanning device comprising:
The synchronization detection means includes a synchronization detection sensor, a synchronization detection optical element that guides a plurality of light beams deflected and scanned by a deflection surface of the optical deflector to the synchronization detection sensor,Disposed in the optical path between the synchronization detection optical element and the synchronization detection sensor;Synchronization position determination means for determining the timing of synchronization detection;A correction optical element disposed in an optical path between the synchronization position determination means and the synchronization detection sensor;With
The aperture stop is disposed in the optical path between the optical deflector and the optical element closest to the optical deflector among the optical elements disposed from the light source means to the optical deflector,
Within the sub-scan section, the aperture stop and the synchronization position determining means are optically conjugate with each other by the optical element for synchronization detection.And
Within the sub-scan section, the optical detection element and the correction optical element form an optically conjugate relationship between the deflection surface of the optical deflector and the synchronous detection sensor.It is characterized by that.
[0015]
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the plurality of light beams deflected and scanned by the deflecting surface of the optical deflector are guided to the synchronization detection sensor without passing through the scanning optical means. It is characterized by that.
[0016]
The image forming apparatus of the invention of claim 3Claim 1 or 2And developing the electrostatic latent image formed on the photosensitive member by a light beam scanned by the multi-beam scanning device as a toner image. Development device and transfer for transferring the developed toner image onto a transfer materialmeansAnd a fixing device for fixing the transferred toner image to the transfer material.
[0017]
The image forming apparatus of the invention of claim 4Claim 1 or 2And a printer controller that converts code data input from an external device into an image signal and inputs the image signal to the scanning optical device.
[0018]
Each of the color image enlargement forming apparatuses of claim 5 isClaim 1 or 2A plurality of multi-beam scanning devices, and a plurality of image carriers which are arranged on the scanning surface of each multi-beam scanning device and form images of different colors. It is a feature.
[0019]
According to a sixth aspect of the invention, there is provided a printer controller according to the fifth aspect of the invention, further comprising a printer controller that converts color signals input from an external device into image data of different colors and inputs the image data to each multi-beam scanning device. It is said.
[0020]
[0021]
[0022]
[0023]
[0024]
[0025]
[0026]
[0027]
[0028]
[0029]
[0030]
[0031]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
(Reference Example 1)
FIG. 1 is a perspective view of an essential part of Reference Example 1 of the multi-beam scanning apparatus of the present invention. FIG. 2 is a sectional view (main scanning sectional view) of the main part in the main scanning direction of Reference Example 1 of the multi-beam scanning apparatus of the present invention.
[0032]
In this specification, the direction in which the light beam is reflected and deflected (deflected and scanned) by the deflecting means is defined as the main scanning direction, and the direction perpendicular to the optical axis and the main scanning direction of the scanning optical means is defined as the sub-scanning direction.
[0033]
In the figure, reference numeral 1 denotes a light source means, which comprises, for example, a semiconductor laser array having two light emitting points (light emitting portions). The number of light emitting points may be three or more.
[0034]
A condensing lens system 2 has a single collimator lens, and converts each of two light beams emitted from the light source means 1 into parallel light beams. The condenser lens system may be composed of a plurality of lenses. The condensing lens system may convert two light beams emitted from the light source means 1 into a divergent light beam or a convergent light beam as necessary.
[0035]
Reference numeral 3 denotes an aperture stop, which limits the widths of two light beams emitted from the light source means 1.
[0036]
A cylindrical lens 4 has a predetermined refractive power only in the sub-scanning direction, and the two light beams that have passed through the collimator lens 2 are long in the main scanning direction in the vicinity of the deflection surface 5a of the deflecting means 5 to be described later. It is formed as a line image.
Here, the collimator lens 2 and the cylindrical lens 4 are collectively referred to as incident optical means.
[0037]
An optical deflector 5 serving as a deflecting unit is composed of, for example, a six-sided polygon mirror (rotating polygonal mirror), and is rotated at a constant speed in the direction of arrow A in FIG.
[0038]
Reference numeral 7 denotes a scanning optical means (scanning lens system) having imaging performance and fθ characteristics, which has one fθ lens having an anamorphic refractive power, and receives two light beams reflected and deflected by the optical deflector 5. An image is formed on the photosensitive drum surface 8 as a scanning surface, and the surface tilt of the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 is corrected.
[0039]
At this time, the two light beams (scanning light beams) reflected and deflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 are guided to the photosensitive drum surface 8 via the scanning optical means 7, and the optical deflector 5 is guided in the direction of arrow A. , The optical drum surface 8 is simultaneously optically scanned in the arrow B direction (main scanning direction).
[0040]
Further, a part of the two light beams reflected and deflected by the optical deflector 5 (BD light beam: light beam for synchronization detection) is folded back by the synchronization detection mirror (BD mirror) 9 via the scanning optical means 7, respectively, and the photosensitive drum. The light is incident on the synchronous detection means 10 including a slit (BD slit) 11 as a synchronous position determining means at a position optically equivalent to the surface 8 and a BD sensor 12 as a light detection element. The timing of the writing position (scanning start position) on the photosensitive drum surface 8 is adjusted using the synchronization signal obtained from the synchronization detection means 10. As a result, two scanning lines are formed on the photosensitive drum surface 8 to perform image recording.
[0041]
The BD slit 11 has a light shielding wall (BD slit portion) in the main scanning direction, and determines the timing of synchronization detection (BD detection).
[0042]
3 (A) and 3 (B) are respectivelyReference example 12A and 2B are diagrams showing an optical path from the light source means to the synchronization detection means, in which FIG. 3A is a main scanning sectional view, and FIG.
[0043]
In the main scanning section shown in FIG. 3A, the two divergent light beams emitted from the semiconductor laser array 1 are converted into parallel light beams by the collimator lens 2, and the light beam width is determined by the aperture stop 3. At this time, the two light beams intersect at the position of the aperture stop 3. The two light beams that have passed through the aperture stop 3 enter the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 through the cylindrical lens 4. A part of the two light beams (BD light beam) reflected and deflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 is condensed by the scanning lens system 7 on the BD slit 11 which is a synchronization position determining means. The light beam that has passed through the opening 11 a enters the BD sensor 12.
[0044]
At this time, since the two BD light beams are scanned at different positions in the main scanning direction, there is a predetermined time difference from the time when the previous BD light beam is detected to the time when the next BD light beam is detected. By shifting the light emission timing by this predetermined time, the writing positions of all the scanning lines are made uniform.
[0045]
In the sub-scan section shown in FIG. 3B, the two divergent light beams emitted from the semiconductor laser array 1 are converted into parallel light beams by the collimator lens 2 in the same manner as in the main scan section, The beam width is determined. At this time, the two light beams intersect at the position of the aperture stop 3. The two light beams that have passed through the aperture stop 3 are imaged by the cylindrical lens 4 in the vicinity of the deflection surface 5a of the optical deflector 5. Part of the two light beams (BD light beams) reflected and deflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 are guided to the BD slit 11 and the BD sensor 12 through the scanning lens system 7, respectively.
[0046]
At this time, the aperture stop 3 where the two light beams intersect and the BD slit 11 are optically conjugated by the scanning lens system 7 so that the two BD light beams are at the same position on the BD slit 11 or substantially the same. The position is scanned. That is, the two BD light beams reach the same position on the BD slit 11 or substantially the same position.
[0047]
Since the scanning lens system 7 has a power arrangement in the sub-scanning direction suitable for this, the lens portion that optically scans the effective scanning area on the photosensitive drum surface 8 and the lens portion that guides to the synchronization detecting means 10 include: The focal lengths in the sub-scanning direction are different from each other, an image is formed on the photosensitive drum surface 8 in the effective scanning area, and the aperture stop 3 and the BD slit 11 are optically conjugate in the optical path for synchronization detection. Is possible.
[0048]
Here, an effect obtained when a plurality of BD light beams reach the same position or substantially the same position on the BD slit 11 will be described.
[0049]
FIGS. 4A, 4B, and 4C are schematic views of main parts schematically showing how the BD slit 11 is scanned in the conventional multi-beam scanning device, and FIG. FIG. 4B is a main part schematic diagram when the BD slit 11 is rotated, and FIG. 5C is a main part schematic diagram when the edge of the BD slit is uneven. is there.
[0050]
When the BD slit 11 is normally arranged as shown in FIG. 4A, a time difference for scanning the interval L between two BD light beams on the BD slit 11 when light is detected by a BD sensor (not shown). dT is generated. This time difference dT is a fixed value determined by the optical arrangement. Considering the time difference dT, the time from when the A laser (first BD light beam) is emitted until the B laser (second BD light beam) is emitted is calculated. The writing start position on the photosensitive drum surface 8 is aligned by making it open.
[0051]
However, when the BD slit 11 is rotated and arranged due to an assembly error as shown in FIG. 4B, in addition to the predetermined time difference dT, the distance difference to the BD slit opening due to the inclination of the BD slit 11. A time difference ΔdT for causing the BD light beam to scan ΔL is generated. As a result, as shown in FIG. 5B, the writing position of the B laser is shifted by ΔJ in proportion to the time difference ΔdT with respect to the A laser, which causes a problem that jitter occurs.
[0052]
Also, as shown in FIG. 4C, when the edge of the BD slit 11 is uneven due to a manufacturing error, the distance to the BD slit opening in addition to the predetermined time difference dT as in the case where the BD slit 11 rotates A time difference ΔdT for causing the BD light beam to scan the difference ΔL is generated. As a result, as shown in FIG. 5B, the writing position of the B laser is shifted by ΔJ with respect to the A laser, which causes a problem that jitter occurs.
[0053]
The problem of jitter generation due to the inclination or non-linearity (irregularity / curvature) of the BD slit 11 is a problem peculiar to a multi-beam scanning device that simultaneously scans a plurality of light beams, and an optical scanning device that optically scans one light beam. This is a phenomenon that does not occur.
[0054]
6A, 6B and 6C are respectively shown.Reference example 1FIG. 2 is a schematic diagram of a main part schematically showing a state of scanning a slit in the multi-beam scanning apparatus of FIG. 1, (A) is a schematic diagram of the main part when the BD slit is normally arranged, and (B) is a BD slit. FIG. 4C is a schematic diagram of a main part when the edge of the BD slit is uneven.
[0055]
Reference example 1Then, since the two BD light beams are configured to reach the same position on the BD slit 11 or substantially the same position, even when the BD slit 11 shown in FIG. Even when the BD slit 11 shown in FIG. 6 (B) rotates due to an assembly error or when the BD slit 11 shown in FIG. 6 (C) becomes uneven due to a manufacturing error, the slit openings of two BD light fluxes are reached. The difference in the distance of L remains L, and the timing of light detection of the B laser does not deviate from that of the A laser. Therefore, as shown in FIG. 5A, the writing position of the B laser on the photosensitive drum surface 8 with respect to the A laser can always be matched regardless of the shape and arrangement of the BD slit 11, and the occurrence of jitter can be avoided. it can.
[0056]
Note that optical elements having an optically conjugate relationship between the aperture stop 3 and the BD slit 11 include, for example, a lens, a mirror, a diffractive optical element, a stop, and the like.
[0057]
in this wayReference example 1Then, as described above, the aperture stop 3 and the BD slit 11 are optically conjugated in the sub-scan section so that a plurality of BD light beams reach the same position or almost the same position on the BD slit 11. As a result, there is a manufacturing error or assembly error of the BD slit 11 from when the BD light beam scanned first is detected by the BD sensor 12 to when the next scanned BD light beam is detected. However, it is possible to provide a multi-beam scanning apparatus in which the writing position is always constant and there is no jitter.
[0058]
In addition to the above, the means for the plurality of BD light beams to reach the same position or substantially the same position on the BD slit 11 can be configured by using, for example, a prism as shown in FIG. .
[0059]
That is, in the sub-scan section in the same figure, a part of the light beam emitted from the first light source 1a (BD light beam) is deflected by the prism 15 arranged behind the optical deflector 5, and the first light beam on the BD slit 11 is obtained. The second light source 1b is made to reach the same position or a substantially same position as a part of the light beam emitted from the light source 1b (BD light beam). Even if a prism or the like is used in this way,Reference example 1The same effect can be obtained.
[0060]
still,Reference example 1In FIG. 3, the light beam from the light source means 1 may be guided directly to the optical deflector 5 through the aperture stop 3 without using the collimator lens 2 and the cylindrical lens 4.
[0061]
AlsoReference example 1In FIG. 1, the scanning optical means 7 is composed of one lens. However, the present invention is not limited to this. For example, the scanning optical means 7 may be composed of two or more lenses.
[0062]
(Reference example 2)
FIG. 8 shows a multi-beam scanning apparatus according to the present invention.Reference example 2FIG. FIG. 9 shows a multi-beam scanning device according to the present invention.Reference example 2FIG. 3 is a cross-sectional view (main scanning cross-sectional view) of the main part in the main scanning direction. 8 and 9, the same elements as those shown in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.
[0063]
Reference example 2However, the difference from the reference example 1 described above is that the two BD light beams traveling toward the synchronization detection means 10 are synchronized with the synchronization detection means 10 via the synchronization detection optical means 13 (synchronization detection optical element) separate from the scanning optical means 7. And the aperture stop 3 is disposed between the cylindrical lens 4 and the optical deflector 5. Other configurations and optical effects areReference example 1It is substantially the same as this, and the same effect is acquired by this.
[0064]
That is, in the figure, reference numeral 13 denotes a synchronization detection optical means, which is a synchronization detection lens (BD lens) having a single anamorphic power in which the power in the sub-scanning direction is stronger than the power (refractive power) in the main scanning direction. ), And part of the two light beams (BD light beams) deflected by the optical deflector 5 are respectively guided to the synchronization detecting means 10. The synchronization detection optical means 13 may be composed of a plurality of lenses.
[0065]
Table 1 showsReference example 2The optical arrangement from the light source means 1 to the synchronization detection means 10 of the multi-beam scanning device in FIG.
[0066]
[Table 1]
[0067]
10A, 10B, and 10C are respectively shown.Reference example 25A is a diagram showing an optical path from the light source means to the synchronization detection means, in which FIG. 10A is a main scanning sectional view, FIG. 10B is a sub-scanning sectional view, and FIG. FIG.
[0068]
In FIG. 10A, two divergent light beams emitted from the semiconductor laser array 1 are converted into parallel light beams by the collimator lens 2, pass through the cylindrical lens 4, and then the light beam width is limited by the aperture stop 3 to deflect light. Incident on the deflecting surface 5 a of the vessel 5. Part of the two light beams (BD light beams) reflected and deflected by the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 are condensed by the BD lens 13 on the BD slit 11 which is a synchronization position determining means, and the opening of the BD slit 11 The BD light beam that has passed through 11a enters the BD sensor 12 that is a light detection element.
[0069]
In FIG. 10B, two divergent light beams emitted from the semiconductor laser array 1 are converted into parallel light beams by the collimator lens 2 and imaged in the vicinity of the deflection surface 5 a of the optical deflector 5 by the cylindrical lens 4. Further, the beam width is limited by the aperture stop 3 disposed between the cylindrical lens 4 and the deflecting surface 5a of the optical deflector 5. At this time, the two light beams intersect at the position of the aperture stop 3. The two light beams that have passed through the aperture stop 3 are reflected and deflected by the deflecting surface 5 a of the optical deflector 5. A part of the two light beams (BD light beam) reflected and deflected by the deflecting surface 5a is guided to the BD slit 11 and the BD sensor 12 through the BD lens 13, respectively. Here, the BD lens 13 optically conjugates the aperture stop 3 and the BD slit 11 in the sub-scan section, so that the two BD light beams are at the same position or substantially the same position on the BD slit 11. It is configured to reach. With this configuration, it is possible to provide a multi-beam scanning apparatus that is not affected by manufacturing errors, assembly errors, and the like of the BD slit 11 and that avoids the occurrence of jitter.
[0070]
Reference example 2Then, as described above, by using the BD lens 13 separate from the scanning lens system 7 in the optical path toward the synchronization detection means 10, the focal length in the main scanning direction is shortened and the synchronization detection means 10 from the optical deflector 5 is shortened. The entire optical path is shortened to make the entire device compact. Further, by eliminating the BD mirror and shortening the optical path, the entire apparatus is simplified and the cost is reduced.
[0071]
Further, the BD lens 13 can freely determine the focal length in the sub-scanning direction independently of the scanning lens system 7, so that the aperture stop 3 and the BD slit 11 are optically connected regardless of the arrangement of the aperture stop 3 and the BD slit 11. Can be conjugated. Moreover, the freedom degree of arrangement | positioning of the aperture stop 3 and the BD slit 11 can also be improved.
[0072]
Further, since the aperture stop 3 is disposed between the cylindrical lens 4 and the optical deflector 5, the aperture stop 3 and the line image formed in the vicinity of the deflecting surface 5a can be brought close to each other. The light beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam can be made relatively small.
[0073]
The light beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam on the BD slit 11 is related to the allowable shift amount of the arrival position of the plurality of BD light beams in the sub-scanning direction on the BD slit 11. That is, when the amount by which the arrival position in the sub-scanning direction shifts for each of a plurality of BD light beams on the BD slit 11 is dZ, and the light beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam on the BD slit 11 is Ds.
dZ ≦ Ds / 5 ………(1)
It is good to satisfy the condition.
[0074]
More preferably,
dZ ≦ Ds / 10 ………(2)
It is good to do.
[0075]
Here, dZ is the amount of deviation between the first BD light beam and the second BD light beam in the sub-scanning direction. When there are three or more BD light beams, the second BD light beam and the third BD light beam It is the amount of deviation from the adjacent BD light beam, like the amount of deviation from the BD light beam.
[0076]
Also, if the beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam on the BD slit 11 is too small, the BD light beam is easily affected by unevenness of the BD slit 11 when the arrival position in the sub-scanning direction is shifted by a small amount for each of the plurality of BD light beams. Therefore, the allowable deviation of the arrival position in the sub-scanning direction cannot be increased. If it is too large, vignetting will occur at the BD sensor 12 and the writing start position will be shifted, or the amount of vignetting will differ for each BD light beam, causing jitter.
[0077]
ThereforeReference example 2Then, when the width of the BD sensor 12 in the sub-scanning direction is Dc (mm), the light beam width Ds (mm) of the BD light beam on the BD slit 11 in the sub-scanning direction is
0.05 ≦ Ds ≦ Dc ………(3)
Is preferable.
[0078]
Reference example 2Then, the aperture diameter of the aperture stop 3 has an elliptical shape in which the main scanning direction is 2.08 mm and the sub-scanning direction is 1.42 mm. The BD sensor 12 has a circular shape (Dc = 1.25 mm) with a diameter of 1.25 mm. At this time, the beam width in the sub-scanning direction of the BD beam on the BD slit 11 is Ds = 0.99 mm.(1)It is the structure which satisfies. Furthermore, the amount by which the arrival position in the sub-scanning direction of the two BD light beams on the BD slit 11 is dZ = 0.00 mm, which is a conditional expression(1)And conditional expressions(2)Is satisfied.
[0079]
Here, the optical conjugate relationship between the aperture stop 3 and the BD slit 11 will be described with reference to Table-1.
[0080]
As shown in Table 1, the optical means for synchronization detection arranged between the aperture stop 3 and the BD slit 11 is composed of only a single lens (BD lens) 13 as described above, and has a sub-scanning cross section. The image of the aperture stop 3 is formed by the BD lens 13 at a position of 45.000 (mm) from the exit surface of the BD lens 13. The distance from the exit surface of the BD lens 13 to the BD slit 11 is 45.000 (mm), and the BD slit 11 is disposed at the image position of the aperture stop 3. This configuration indicates that the aperture stop 3 and the BD slit 11 are optically conjugated by the BD lens 13. As a result, as shown in FIG. 10C, part of the two light beams (BD light beams) emitted from the semiconductor laser array 1 reach the same position or substantially the same position on the BD slit 11, respectively. Can do.
[0081]
At this time, when the distance from the emission surface of the BD lens 13 to the BD slit 11 is L2, and the distance from the emission surface of the BD lens 13 to the conjugate point with the aperture stop 3 is L,
ΔL = L−L2 ………(4)
And
| ΔL / L | ≦ 0.01 ………(5)
It is desirable to satisfy the following conditions.
[0082]
More preferably,
| ΔL / L | ≦ 0.005 ………(6)
Meets the conditionsFeetIt is good to make it.
[0083]
Conditional expression above(5)If the distance is outside the range, a plurality of BD light fluxes are greatly scattered in the sub-scanning direction on the BD slit 11, and the BD slit 11 is easily affected by the shape error and the arrangement error, and the amount of jitter generated becomes unacceptable. It ’s not good.
[0084]
Reference example 2Then, since the aperture stop 3 and the BD slit 11 are completely conjugated,
ΔL = 0.000 ………(7)
That is,
| ΔL / L | = 0.000(8)
It is.
[0085]
Of course, the above conditional expression(5)Further conditional expressions(6)Is satisfied.
[0086]
FIG. 11 is an enlarged view of the vicinity of the semiconductor laser array and the synchronous detection means. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
[0087]
In the figure, the synchronization detection means 10 comprises the BD slit 11 as a synchronization position determination means and the BD sensor 12 as a light detection element as described above. The semiconductor laser array 1 and the BD sensor 12 are attached to the same base 16, and the BD slit 11 is integrally formed with a laser holder 17 that is a holding member for holding the semiconductor laser array 1, and a set of laser units 18. Is configured. This reduces the number of parts and reduces costs. In the figure, the BD lens 13 is a composite plastic lens integrally formed with the cylindrical lens 4.
[0088]
FIG. 12A is a schematic diagram of a main part when the laser unit 18 is viewed from the cylindrical lens side along the optical axis direction of the collimator lens, and FIG. 12B is a diagram illustrating the laser unit 18 along the optical axis of the collimator lens. It is the principal part schematic when it rotates only the angle (alpha) as a center axis | shaft. In FIGS. 9A and 9B, the same elements as those shown in FIG.
[0089]
The scanning line pitch on the surface to be scanned needs to be a predetermined interval determined by the resolution, and the semiconductor laser array 1 is generally adjusted by rotating.Reference example 2In this case, the laser unit 18 in which the semiconductor laser array 1 and the synchronization detection means 10 are integrated is adjusted by rotating it around the optical axis of the collimator lens. At this time, the BD slit 11 serving as the synchronization position determining means also rotates together.
[0090]
In a configuration in which a plurality of BD light beams pass through different positions on the BD slit, which is a synchronous position determining means, in the sub-scan section as in the conventional multi-beam scanning device, the BD slit is inclined with respect to the BD light beam. As a result, jitter is a problem.
[0091]
ThereforeReference example 2Then, it is possible to provide a multi-beam scanning device in which jitter does not occur by configuring so that a plurality of BD light beams reach the same position or substantially the same position on the BD slit 11 in the sub-scan section.
[0092]
That isReference example 2Has the effect of avoiding the occurrence of jitter due to the adjustment of the scanning line pitch interval of the multi-beam scanning device in which the light source means 1 and the BD slit 11 are integrally formed.
[0093]
still,Reference example 2Then, the optical path from the optical deflector 5 to the synchronization detection means 10 is guided to the synchronization detection means 10 via the BD lens 13 separate from the scanning lens system 7 without passing through the scanning lens system 7. The present invention is not limited to this. For example, even if light is guided to the synchronization detection means 10 via the BD lens 13 after passing through the scanning lens system 7, the same effect as the present invention can be obtained.
[0094]
in this wayReference example 2Then, by arranging the BD lens 13 separate from the scanning lens system 7 in the optical path from the optical deflector 5 to the synchronization detecting means 10 as described above, the aperture stop 3 is not affected by the shape of the scanning lens system 7. The degree of freedom of arrangement of the aperture stop 3 and the BD slit 11 can be increased while keeping the optically conjugate relationship between the BD slit 11 and the BD slit 11. Further, since the distance from the optical deflector 5 to the synchronization detecting means 10 can be shortened, the multi-beam scanning device can be configured compactly.
[0095]
Further, by arranging the aperture stop 3 in the vicinity of the optical deflector 5, the aperture stop 3 that is optically conjugate with the BD slit 11 can be brought close to the line image position, so that the BD light beam on the BD slit 11 can be obtained. Can be kept relatively small. Thereby, the BD sensor 12 having a small and simple configuration can be used.
[0096]
Further, by forming the BD slit 11 integrally with the holding member of the semiconductor laser array 1, the number of parts can be reduced and the cost can be reduced. Further, it is possible to avoid the occurrence of jitter by using the above-mentioned effect with respect to the rotation (inclination) of the BD slit when the holding member of the light source means is rotated when adjusting the scanning line interval on the surface to be scanned. it can.
[0097]
(Embodiment1)
FIG. 13 shows an embodiment of the multi-beam scanning device of the present invention.1FIG. 3 is a cross-sectional view (main scanning cross-sectional view) of the main part in the main scanning direction. FIG. 14 shows an embodiment of the present invention.1FIG. 6 is a sub-scan sectional view showing an optical path from a light source unit to a synchronization detection unit in FIG. 13 and 14, the same elements as those shown in FIG. 9 are denoted by the same reference numerals.
[0098]
Table-2 shows the optical arrangement from the light source means 1 to the synchronization detection means 10 of the multi-beam scanning device in this embodiment.
[0099]
[Table 2]
[0100]
In the present embodiment, the above-mentionedReference example 2The difference is that an optical element 14 is arranged between a BD slit 11 as a synchronization position determination means and a BD sensor 12 as a light detection element. Other configurations and optical effects areReference example 2It is substantially the same as this, and the same effect is acquired by this.
[0101]
That is, reference numeral 14 in the drawing denotes a correction lens (correction optical element) (BD correction lens) for synchronization detection as an optical element, which has a positive power in the sub-scanning direction. Similar to the second embodiment described above, the aperture stop 3 and the BD slit 11 are conjugated by the BD lens 13 which is an optical means for synchronization detection, so that one of the two light beams reflected and deflected by the optical deflector 5 is obtained. The parts (BD light fluxes) reach the same position or substantially the same position on the BD slit 11.
[0102]
Further, in the present embodiment, the optical system including the BD lens 13 and the BD correction lens 14 optically conjugates the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 and the BD sensor 12 in the sub-scan section, thereby obtaining 2 Two BD light beams are configured to form an image (condensate) on the BD sensor 12. By adopting this configuration, by passing the BD light beam through the BD slit 11 with the light beam width in the sub-scanning direction being large, it is possible to reduce the occurrence of jitter when the two BD light beams pass through a position slightly shifted in the sub-scanning direction. The influence can be reduced, and the arrangement accuracy of the BD sensor 12 can be relaxed by reducing the beam width of the BD light beam on the BD sensor 12. Further, since a small BD sensor 12 can be used, there is an effect that the cost can be reduced.
[0103]
At this time, by using the BD correction lens 14, the light beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam reaching the BD slit 11 can be increased without being affected by the width of the BD sensor 12 in the sub-scanning direction.
[0104]
Increasing the beam width in the sub-scanning direction of the BD beam on the BD slit 11 has an advantage that the allowable amount of positional deviation in the sub-scanning direction in which the two BD beams reach the BD slit 11 can be increased.
[0105]
As described above, in the present embodiment, by arranging the BD correction lens 14 that exerts the condensing function in the sub-scanning direction between the BD slit 11 and the BD sensor 12 as described above, a desired light flux is formed on the BD slit 11. The light beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam on the BD sensor 12 can be further reduced while maintaining the width. Thereby, the BD sensor 12 having a small and simple configuration can be used.
[0106]
Further, by making the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 and the BD sensor 12 optically conjugate in the sub-scan section, the tilting effect of the tilting surface can be obtained even in the optical path for synchronization detection. Even if it occurs, the BD sensor 12 can be prevented from being removed.
[0107]
(Reference example 3)
FIG. 15 shows a multi-beam scanning apparatus according to the present invention.Reference example 3FIG. 3 is a cross-sectional view (main scanning cross-sectional view) of the main part in the main scanning direction. 16A and 16B are respectivelyReference example 32A and 2B are diagrams showing an optical path from the light source means to the synchronization detection means, in which FIG. 3A is a main scanning sectional view, and FIG. FIG. 16C is a front view when the BD sensor shown in FIG. 15 is viewed from the front. 15 and 16, the same elements as those shown in FIGS. 9 and 10 are denoted by the same reference numerals.
[0108]
Table 3 showsReference example 3The optical arrangement from the light source means 1 to the synchronization detection means 10 of the multi-beam scanning device in FIG.
[0109]
[Table 3]
[0110]
Reference example 3In the aboveReference example 2The difference is that the synchronization position determination means is the edge of the BD sensor 12. Other configurations and optical effects areReference example 2It is substantially the same as this, and the same effect is acquired by this.
[0111]
That is, in the main scanning section shown in FIG. 16A, the optical scanning is performed by the BD lens 13 which is an optical means for synchronization detection, and the synchronization detection is performed at the edge of the BD sensor 12. In the sub-scan section, the aperture stop 3 and the edge of the BD sensor 12 are optically conjugate, and the two BD light beams reach the same position or substantially the same position of the edge of the BD sensor 12. . Accordingly, even when the edge of the BD sensor 12 is inclined due to an assembly error or is non-linear (irregularity / curvature) due to a manufacturing error, the B laser (second BD light beam) is compared with the A laser (first BD light beam). It is possible to provide a multi-beam scanning device in which the timing of synchronous detection of (BD light flux) does not shift and jitter does not occur.
[0112]
In FIG. 16C, 12a is an edge of the BD sensor 12, and 12b is a light receiving surface of the BD sensor 12.
[0113]
in this wayReference example 3Then, as described above, the synchronization position determining means is used as the edge of the BD sensor 12, thereby reducing the number of parts and reducing the cost.
[0114]
(Reference example 4)
FIG. 17 shows a multi-beam scanning apparatus according to the present invention.Reference example 4FIG. FIG. 18 shows a multi-beam scanning apparatus according to the present invention.Reference example 4FIG. 3 is a cross-sectional view (main scanning cross-sectional view) of the main part in the main scanning direction. 17 and 18, the same elements as those shown in FIGS. 13 and 14 are denoted by the same reference numerals.
[0115]
Table-4Reference example 4The optical arrangement from the light source means 1 to the synchronization detection means 10 of the multi-beam scanning device in FIG.
[0116]
[Table 4]
[0117]
Reference example 4In the above-described embodiment1The difference is that a synchronization detection diaphragm (BD diaphragm) 15 is provided in the optical path from the optical deflector 5 to the synchronization detection means 10. Other configurations and optical actions are embodiments1It is substantially the same as this, and the same effect is acquired by this.
[0118]
That is, in the figure, reference numeral 15 denotes a synchronous detection stop (BD stop), which restricts the width of a part of the two light beams reflected by the optical deflector 5 (BD light beam).
[0119]
Reference example 4In FIG. 5, a part of the two light beams (BD light beam) reflected and deflected by the optical deflector 5 is limited in the light beam width by the BD diaphragm 15, condensed by the BD lens 13, and guided to the synchronization detecting means 10. Two BD light beams are imaged on the BD slit 11 by the BD lens 13 in the main scanning section. At this time, since the BD diaphragm 15 is provided, two BD light beams pass through the optical axis of the BD lens 13 and form an image on the BD slit 11. Therefore, the arrangement error of the BD lens 13 and the BD slit 11 and the manufacture of the BD lens. It is possible to avoid the problem of jitter that occurs due to the influence of focus variation due to errors.
[0120]
FIG. 19 illustrates the present invention.Reference example 4FIG. 6 is a sub-scan sectional view showing an optical path from a light source unit to a synchronization detection unit in FIG. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
[0121]
In the same figure, the two BD light beams have their light beam widths restricted by the BD stop 15 as in the main scanning section, and are guided to the synchronization detecting means 10 via the BD lens 13. The synchronization detection means 10 includes a BD slit 11, a BD correction lens 14, and a BD sensor 12. In the optical path from the optical deflector 5 to the BD sensor 12, the BD lens 13 causes the BD diaphragm 15 and the BD slit 11 to be connected. As an optically conjugate relationship, the positions at which the two BD light beams are positioned (scanned) on the BD slit 11 are the same or substantially the same. This avoids the occurrence of jitter due to the inclination of the BD slit 11 due to an assembly error and the non-linearity (irregularity / curvature) of the BD slit 11 due to a manufacturing error.
[0122]
Further, the optical system constituted by the BD lens 13 and the BD correction lens 14 makes the BD sensor 12 an optically conjugate relationship between the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 and two BDs on the BD sensor 12. The light beam is condensed and the influence of the surface tilt of the deflecting surface 5a of the optical deflector 5 is avoided.
[0123]
Reference example 4, The beam width in the sub-scanning direction of the BD light beam on the BD slit 11 is Ds = 0.437 mm, and the deviation amount of the arrival position of the two BD light beams on the BD slit 11 in the sub-scanning direction is dZ = 0.004 mm. And the conditional expression(1)And conditional expressions(2)It is the structure which satisfies.
[0124]
Further, since the width of the BD sensor 12 in the sub-scanning direction is Dc = 1.25 mm, the configuration satisfies the conditional expression (3), but a BD correction lens 14 is provided between the BD slit 11 and the BD sensor 12. Since the BD light beam is condensed, the width of the light beam in the sub-scanning direction of the BD light beam on the BD sensor 12 can be reduced, and the BD sensor 12 may cause vignetting without necessarily satisfying the upper limit of the conditional expression (3). Synchronization detection can be performed.
[0125]
(Reference Example 5)
FIG. 20 shows a multi-beam scanning apparatus according to the present invention.Reference Example 5FIG. 6 is a sub-scan sectional view showing an optical path from a light source unit to a synchronization detection unit in FIG. In the figure, the same elements as those shown in FIG.
[0126]
Reference Example 5In the aboveReference example 2The difference is that the light source means 81 is configured by arranging two semiconductor lasers 81a and 81b having one light emitting point, and two light beams (chief rays) from the semiconductor lasers 81a and 81b intersect in the sub-scan section. When the point to be crossed is a cross point P, the BD lens 13 disposed between the optical deflector 5 and the BD slit 11 makes the cross point P and the BD slit 11 optically conjugate. is there. Other configurations and optical effects areReference example 2It is substantially the same as this, and the same effect is acquired by this.
[0127]
That is, 81 is a light source means, which comprises two first and second semiconductor lasers 81a and 81b each having one light emitting point. Reference numerals 2a and 2b denote condensing lens systems, each having a single collimator lens, which convert divergent light beams emitted from the corresponding light source means 81a and 81b into parallel light beams. Reference numerals 3a and 3b denote aperture stops, which limit the widths of the light beams emitted from the corresponding light source means 81a and 81b, respectively.
[0128]
Reference Example 5The two divergent light beams emitted from the light source means 81 are converted into parallel light beams by the respective collimator lenses 2a and 2b, the light beam widths are limited by the respective aperture stops 3a and 3b, and are incident on one cylindrical lens 4. ing. The two light beams are formed by the cylindrical lens 4 in the vicinity of the deflection surface 5a of the optical deflector 5 as a line image that is long in the main scanning direction. Then, a part of the two light beams (BD light beam) deflected by the deflecting surface 5a is synchronously detected through a BD lens 13 and a BD slit 11 as a synchronous position determining means and a BD sensor 12 as a light detection element. Guided to means 10.
[0129]
At this time, the two light beams emitted from the light source means 81 intersect between the cylindrical lens 4 and the deflecting surface 5a of the optical deflector 5, and when this intersecting point is taken as a cross point, it is within the sub-scanning cross section. The BD lens 13 optically conjugates the cross point P and the BD slit 11. As a result, the two BD light beams reach the same position or substantially the same position on the BD slit 11, and a multi-beam scanning device that avoids the occurrence of jitter due to the inclination or non-linearity (irregularity / curvature) of the BD slit 11. Can be provided.
[0130]
[Image forming apparatus]
FIG. 21 shows the embodiment described above.1FIG. 2 is a cross-sectional view of a main part in a sub-scan section showing an embodiment of an image forming apparatus (electrophotographic printer) using the multi-beam scanning apparatus of FIG. In FIG. 21, reference numeral 104 denotes an image forming apparatus. Code data Dc is input to the image forming apparatus 104 from an external device 117 such as a personal computer. The code data Dc is converted into image data (dot data) Di by a printer controller 111 in the apparatus. This image data Di is used in each embodiment.1Are input to the optical scanning unit 100 having the configuration shown in FIG. The light scanning unit (multi-beam scanning device) 100 emits a light beam (light beam) 103 modulated in accordance with the image data Di, and the light beam 103 causes the photosensitive surface of the photosensitive drum 101 to move in the main scanning direction. Scanned.
[0131]
The photosensitive drum 101 serving as an electrostatic latent image carrier (photoconductor) is rotated clockwise by a motor 115. With this rotation, the photosensitive surface of the photosensitive drum 101 moves in the sub-scanning direction perpendicular to the main scanning direction with respect to the light beam 103. Above the photosensitive drum 101, a charging roller 102 for uniformly charging the surface of the photosensitive drum 101 is provided so as to contact the surface. The surface of the photosensitive drum 101 charged by the charging roller 102 is irradiated with the light beam 103 scanned by the optical scanning unit 100.
[0132]
As described above, the light beam 103 is modulated based on the image data Di, and by irradiating the light beam 103, an electrostatic latent image is formed on the surface of the photosensitive drum 101. This electrostatic latent image is developed as a toner image by a developing device 107 disposed so as to abut on the photosensitive drum 101 further downstream in the rotational section of the photosensitive drum 101 than the irradiation position of the light beam 103. .
[0133]
The toner image developed by the developing unit 107 is transferred onto a sheet 112 as a transfer material by a transfer roller (transfer unit) 108 disposed below the photosensitive drum 101 so as to face the photosensitive drum 101. The paper 112 is stored in the paper cassette 109 in front of the photosensitive drum 101 (on the right side in FIG. 21), but can be fed manually. A paper feed roller 110 is provided at the end of the paper cassette 109, and feeds the paper 112 in the paper cassette 109 into the transport path.
[0134]
As described above, the sheet 112 on which the unfixed toner image has been transferred is further conveyed to a fixing device behind the photosensitive drum 101 (left side in FIG. 21). The fixing device includes a fixing roller 113 having a fixing heater (not shown) therein and a pressure roller 114 disposed so as to be in pressure contact with the fixing roller 113, and has been fed from the transfer unit. The unfixed toner image on the sheet 112 is fixed by heating the sheet 112 while being pressed by the pressure contact portion between the fixing roller 113 and the pressure roller 114. Further, a paper discharge roller 116 is disposed behind the fixing roller 113, and the fixed paper 112 is discharged out of the image forming apparatus.
[0135]
Although not shown in FIG. 21, the print controller 111 controls not only the data conversion described above but also each part in the image forming apparatus including the motor 115 and the polygon motor in the optical scanning unit 100. Do.
[0136]
[Color image forming apparatus]
FIG. 22 is a schematic view of a main part of a color image forming apparatus according to an embodiment of the present invention. This embodiment is a tandem type color image forming apparatus in which four multi-beam scanning devices are arranged in parallel and image information is recorded on a photosensitive drum surface as an image carrier. In FIG. 22, 60 is a color image forming apparatus, 71, 72, 73, and 74 are multi-beam scanning apparatuses each having one of the configurations shown in the first to sixth embodiments, and 21, 22, 23, and 24 are image carriers. The photosensitive drums 31, 32, 33, and 34 are developing units, and 51 is a conveyor belt.
[0137]
In FIG. 22, R (red), G (green), and B (blue) color signals are input to the color image forming apparatus 60 from an external device 52 such as a personal computer. These color signals are converted into C (cyan), M (magenta), Y (yellow), and B (black) image data (dot data) by a printer controller 53 in the apparatus. These image data are input to the multi-beam scanning devices 71, 72, 73, 74, respectively. From these multi-beam scanning devices, light beams 41, 42, 43, and 44 modulated according to each image data are emitted, and the photosensitive surfaces of the photosensitive drums 21, 22, 23, and 24 are emitted by these light beams. Are scanned in the main scanning direction.
[0138]
The color image forming apparatus according to the present embodiment includes four multi-beam scanning devices (71, 72, 73, 74), each of C (cyan), M (magenta), Y (yellow), and B (black). The image signals (image information) are recorded on the surfaces of the photosensitive drums 21, 22, 23, and 24 in parallel with each other, and a color image is printed at high speed.
[0139]
As described above, the color image forming apparatus according to the present embodiment uses the light beams based on the respective image data by the four multi-beam scanning devices 71, 72, 73, 74, and the corresponding photosensitive drums 21, It is formed on the 22, 23, and 24 surfaces. Thereafter, a single full color image is formed by multiple transfer onto a recording material.
[0140]
As the external device 52, for example, a color image reading device including a CCD sensor may be used. In this case, the color image reading apparatus and the color image forming apparatus 60 constitute a color digital copying machine.
[0141]
【The invention's effect】
According to the present invention, a part (BD light beam) of a plurality of light beams deflected by the deflecting unit is configured to reach the same position or substantially the same position of the synchronous position determining unit in the sub-scan section. And a multi-beam scanning device capable of avoiding jitter generated when the synchronization position determining means is inclined, uneven, or further curved, and thereby can always obtain a good image. An image forming apparatus can be achieved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 of the present inventionReference example 1Main part perspective view
FIG. 2 of the present inventionReference example 1Main scanning cross section of
FIG. 3 of the present inventionReference example 1Of the optical path from the light source means to the synchronization detection means
Schematic
FIG. 4 is a main part schematic diagram for explaining the configuration of a conventional synchronization position determining means;
FIG. 5 is a diagram for explaining jitter due to a write position deviation of each scanning line;
FIG. 6 shows the present invention.Reference example 1Outline of the main part explaining the configuration of the synchronous position determination means
Sketch
FIG. 7 is a schematic view of the main part of the optical path from the light source means to the synchronization detection means.
FIG. 8 shows the present invention.Reference example 2Perspective view
FIG. 9 shows the present invention.Reference example 2Main scanning cross section of
FIG. 10 shows the present invention.Reference example 2Of the optical path from the light source means to the synchronization detection means
Schematic diagram
FIG. 11 shows the present invention.Reference example 2Enlarged view of the vicinity of the light source means and synchronization detection means
FIG. 12 shows the present invention.Reference example 2Schematic diagram of the main part of the laser unit
FIG. 13 shows an embodiment of the present invention.1Main scanning cross section of
FIG. 14 shows an embodiment of the present invention.1Of the optical path from the light source means to the synchronization detection means
Schematic diagram
FIG. 15 shows the present invention.Reference example 3Main scanning cross section of
FIG. 16 shows the present invention.Reference example 3Of the optical path from the light source means to the synchronization detection means
Schematic diagram
FIG. 17 shows the present invention.Reference example 4Perspective view
FIG. 18 shows the present invention.Reference example 4Main scanning cross section of
FIG. 19 shows the present invention.Reference example 4Of the optical path from the light source means to the synchronization detection means
Schematic diagram
FIG. 20 shows the present invention.Reference Example 5Of the optical path from the light source means to the synchronization detection means
Schematic diagram
FIG. 21 is a cross-sectional view of an image forming apparatus of the present invention.
FIG. 22 is a cross-sectional view of a color image forming apparatus of the present invention.
FIG. 23 is a perspective view of a conventional multi-beam scanning device.
FIG. 24 is from the light source means of the conventional multi-beam scanning device to the synchronization detection means.
Schematic diagram of the main part of the optical path
[Explanation of symbols]
1 Light source means (semiconductor laser array)
2 Condensing lens system (collimator lens)
3 Aperture stop
4 Cylindrical lens
5 Deflection means (polygon mirror)
6 Driving means
7 Scanning optical means (fθ lens system)
8 Scanned surface (photosensitive drum surface)
9 BD mirror
10 Synchronization detection means
11 Synchronization position determination means (BD slit)
12 BD sensor
13 BD lens
14 BD correction lens
71, 72, 73, 74 Multi-beam scanning device
21, 22, 23, 24 Image carrier (photosensitive drum)
31, 32, 33, 34 Developer
41, 42, 43, 44 Light beam
51 Conveyor belt
52 External equipment
53 Printer Controller
60 color image forming apparatus
100 Multi-beam scanning device
101 Photosensitive drum
102 Charging roller
103 Light beam
104 Image forming apparatus
107 Developing device
108 Transfer roller
109 Paper cassette
110 Paper feed roller
111 Printer controller
112 Transfer material (paper)
113 Fixing roller
114 Pressure roller
115 motor
116 Paper discharge roller
117 External equipment
Claims (6)
前記同期検知手段は、同期検知用センサーと、前記光偏向器の偏向面にて偏向走査された複数の光束を前記同期検知用センサーに導く同期検知用光学素子と、前記同期検知用光学素子と前記同期検知用センサーの間の光路中に配置され且つ同期検知のタイミングを決定する同期位置決定手段と、前記同期位置決定手段と前記同期検知用センサーの間の光路中に配置された補正光学素子と、を備え、
前記開口絞りは、前記光源手段から前記光偏向器までに配置された光学素子のうち前記光偏向器の最も近くにある光学素子と前記光偏向器との間の光路中に配置されており、
副走査断面内において、前記同期検知用光学素子により前記開口絞りと前記同期位置決定手段とを光学的に共役関係としており、
副走査断面内において、前記同期検知用光学素子及び前記補正光学素子により前記光偏向器の偏向面と前記同期検知用センサーとを光学的に共役関係としていることを特徴とするマルチビーム走査装置。Light source means having a plurality of light emitting portions arranged apart from each other in the main scanning direction and the sub scanning direction, an aperture stop for crossing a plurality of light beams emitted from the plurality of light emitting portions in the sub scanning section, and the plurality An optical deflector that deflects and scans a plurality of light beams emitted from the light emitting unit, and a plurality of light beams emitted from the plurality of light emitting units as a line image elongated in the main scanning direction on the deflection surface of the optical deflector. Incident optical means for forming an image in a scanning section, scanning optical means for forming an image on a scanned surface by a plurality of light beams deflected and scanned by the deflecting surface of the optical deflector, and a deflecting surface of the optical deflector Synchronization detecting means for detecting a plurality of light beams deflected and scanned and generating a synchronization signal for determining the timing of the writing position on the surface to be scanned,
The synchronization detection means includes a synchronization detection sensor, a synchronization detection optical element for guiding a plurality of light beams deflected and scanned by a deflection surface of the optical deflector to the synchronization detection sensor, and the synchronization detection optical element. Synchronous position determining means disposed in the optical path between the synchronization detection sensors and determining the timing of synchronization detection, and a correction optical element disposed in the optical path between the synchronization position determination means and the synchronization detection sensor And comprising
The aperture stop is disposed in the optical path between the optical deflector and the optical element closest to the optical deflector among the optical elements disposed from the light source means to the optical deflector,
In the sub-scan section, the aperture stop and the synchronization position determining means are optically conjugate with each other by the synchronization detection optical element ,
A multi-beam scanning device characterized in that, in the sub-scan section, the deflection surface of the optical deflector and the synchronization detection sensor are optically conjugate with each other by the synchronization detection optical element and the correction optical element .
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