JP3400534B2 - Scanning optical microscope - Google Patents
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、光学顕微鏡にスキャン
ユニットを後付けする走査型光学顕微鏡に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning optical microscope in which a scanning unit is retrofitted to an optical microscope.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、光学顕微鏡にスキャンユニットを
後付けする走査型光学顕微鏡の一例として、米国特許５
１２７７３０号明細書に開示されており、図８はその外
観を表す図であり、図９はその光学図である。これは光
学顕微鏡６０と、これに後付けされる走査型光学顕微鏡
のスキャンユニット７０、スキャンユニット７０の外装
部材に取付けられたレーザ光源６１、コンピュータ８
４、表示器８２を備えている。光学顕微鏡６０とスキャ
ンユニット７０は、光学顕微鏡６０の直筒部６０ａで光
学的および機械的に結合されている。2. Description of the Related Art Conventionally, as an example of a scanning optical microscope in which a scanning unit is attached to an optical microscope, US Pat.
FIG. 8 is a diagram showing its appearance, and FIG. 9 is an optical diagram thereof. This is an optical microscope 60, a scan unit 70 of a scanning optical microscope which is attached to the optical microscope 60, a laser light source 61 attached to an exterior member of the scan unit 70, and a computer 8.
4 and a display 82. The optical microscope 60 and the scan unit 70 are optically and mechanically coupled to each other at a straight tube portion 60a of the optical microscope 60.
【０００３】図９に示すように、レーザ光源６１より発
振された４８８ｎｍと５１４ｎｍのレーザビームは、エ
クスターナルフィルタ６３により、どちらか１つの波長
のみが透過される。そして、ダイクロイックミラー６５
により、図示下方に反射されＸＹスキャンユニット６７
を通り、光学顕微鏡内６０の対物レンズ８０を通り標本
８１に集光される。ここで集光された光は標本８１面は
スキャンユニット６７で、標本８１面を２次元に走査さ
れる。標本８１より発光した蛍光は、対物レンズ８０、
スキャンユニット６７を通る。そして、ダイクロイック
ミラー６５を透過し、２波長測光の場合は測光用ダイク
ロイックミラー６８により分光され、検出器（１）［フ
ォトマルチプライヤ（１）］７５と、検出器（２）［フ
ォトマルチプライヤ（２）］７３により検出される。１
波長測光の場合は、どちらか１つの検出器７５，７３で
検出される。As shown in FIG. 9, a laser beam of 488 nm and a laser beam of 514 nm emitted from a laser light source 61 is transmitted by an external filter 63 at only one of the wavelengths. And the dichroic mirror 65
Is reflected downward in the drawing by the XY scan unit 67.
Through the objective lens 80 in the optical microscope 60 to be focused on the sample 81. The light collected here is on the surface of the specimen 81
The surface of the sample 81 is two-dimensionally scanned by the scan unit 67. The fluorescence emitted from the specimen 81 is the objective lens 80,
It passes through the scan unit 67. Then, the light passes through the dichroic mirror 65, and in the case of two-wavelength photometry, the light is separated by the photometric dichroic mirror 68, and the detector (1) [photomultiplier (1)] 75 and the detector (2) [photomultiplier ( 2)] 73. 1
In the case of wavelength photometry, it is detected by one of the detectors 75 and 73.
【０００４】一方、前述の米国特許５１２７７３０号明
細書には、２重染色標本等、２つの励起光を必要とする
蛍光標本が増加しており、この２重染色標本を観察する
走査型光学顕微鏡も開示されており、図１０がその走査
型光学顕微鏡用スキャンユニットの光学図である。ここ
ではレーザ光源５０として、４８８ｎｍ，５６８ｎｍ，
６４７ｎｍのレーザ光を同時発振するＫｒ−Ａｒレーザ
光源５０を用いている。レーザ光源５０より発振された
３つの波長のレーザ光５１は、デュアルバンドパスフィ
ルタ５２ａで４８８ｎｍと５６８ｎｍの２つとなり、デ
ュアルダイクロイックミラー５４により図の下方の対物
レンズ（図示せず）を介して蛍光標本５５に導かれる。
標本５５から蛍光として発光された２種類の波長は、前
記対物レンズ、デュアルダイクロイックミラー５４を透
過し反射鏡５６で反射され、フィルタブロック５７に導
かれる。そして、フィルタブロック５７に有する測光用
ダイクロイックミラー５７ａにより、１つ１つの波長に
分光されフィルタ５７ｂおよび５７ｃをそれぞれ介して
フォトマルチプライヤ（ＰＭＴ）５８及び５９により検
出される。On the other hand, in the above-mentioned US Pat. No. 5,127,730, the number of fluorescent specimens that require two excitation lights, such as double-stained specimens, has increased, and a scanning optical microscope for observing the double-stained specimens. 10 is an optical diagram of the scanning unit for the scanning optical microscope. Here, as the laser light source 50, 488 nm, 568 nm,
A Kr-Ar laser light source 50 that simultaneously oscillates laser light of 647 nm is used. The laser light 51 of three wavelengths oscillated by the laser light source 50 becomes two light of 488 nm and 568 nm by the dual bandpass filter 52a, and fluorescence is emitted by the dual dichroic mirror 54 through the objective lens (not shown) below the drawing. It is guided to the specimen 55.
The two kinds of wavelengths emitted as fluorescence from the sample 55 are transmitted through the objective lens and the dual dichroic mirror 54, reflected by the reflecting mirror 56, and guided to the filter block 57. Then, by the photometric dichroic mirror 57a included in the filter block 57, the light is separated into individual wavelengths and detected by the photomultipliers (PMT) 58 and 59 via the filters 57b and 57c, respectively.
【０００５】このように、図１０に示す走査型光学顕微
鏡用スキャンユニットによれば、複数の波長を発振する
マルチラインレーザ光源を組み合わせて、２重励起観察
を行うことができる。As described above, according to the scanning optical microscope scanning unit shown in FIG. 10, double excitation observation can be performed by combining a multi-line laser light source that oscillates a plurality of wavelengths.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかし、図１０の例で
は次のような問題点がある。すなわち、２重染色標本５
５の種類によっては、一つのマルチラインレーザ光源５
０で発振できない波長を必要とする場合があり、その場
合には使用できない。また、Ｋｒ−Ａｒレーザ光源５０
は、比較的、広範囲の波長をカバーしているものの、高
価であるため実用化されにくい。そこで本発明の目的
は、さまざまなレーザ波長が選択でき、さまざまな２重
励起観察に対応できる走査型光学顕微鏡を提供すること
にある。However, the example of FIG. 10 has the following problems. That is, double-stained specimen 5
5 multi-line laser light source 5
It may require a wavelength that cannot oscillate at 0 and cannot be used in that case. In addition, the Kr-Ar laser light source 50
Covers a wide range of wavelengths, but is difficult to put into practical use because it is expensive. Therefore, an object of the present invention is to provide a scanning optical microscope which can select various laser wavelengths and can cope with various double excitation observations.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項１に対応する走査型光学顕微鏡は、第１のレ
ーザ光源からのレーザ光を所望の径の平行光に広げる第
１の光学手段が接続されたスキャンユニットを光学顕微
鏡に取り付けた走査型光学顕微鏡において、前記スキャ
ンユニットに設けられ、前記第１のレーザ光源とは異な
る波長のレーザ光を発する第２のレーザ光源を前記スキ
ャンユニットに接続するための接続ポートと、前記スキ
ャンユニット内にあって、前記第１のレーザ光源からの
レーザ光と前記第２のレーザ光源からのレーザ光を同軸
に前記光学顕微鏡に導くための光路合成手段と、前記第
１のレーザ光源と前記光路合成手段が配置される位置と
の間に配置され、前記第１のレーザ光源からのレーザ光
を調光する調光手段と、を具備することを特徴とする。 In order to achieve the above object, a scanning optical microscope according to claim 1 is provided with a first laser.
The laser light from the laser light source is expanded into a parallel light with a desired diameter.
The scanning unit to which the optical means 1 is connected
In a scanning optical microscope mounted on a mirror, the scan
Is provided in the main unit and is different from the first laser light source.
A second laser light source that emits laser light of a certain wavelength
Connection port for connecting to
The first laser light source,
Coaxial laser light and laser light from the second laser light source
An optical path synthesizing means for guiding to the optical microscope,
1 laser light source and the position where the optical path synthesizing means is arranged,
Laser light from the first laser light source disposed between
And a dimming unit for dimming the light.
【０００８】前記目的を達成するため、請求項２に対応
する走査型光学顕微鏡は、前記第２のレーザ光源が前記
スキャンユニットに接続されていることを特徴とする請
求項１記載の走査型光学顕微鏡である。 In order to achieve the above object, in a scanning optical microscope according to a second aspect, the second laser light source is the
A contract characterized by being connected to a scanning unit
The scanning optical microscope according to claim 1.
【０００９】また、請求項３に対応する走査型光学顕微
鏡の光路合成手段は、前記スキャンユニットから前記第
２のレーザ光源を取り外した時、前記第１のレーザ光源
からのレーザ光の光路上から退避することを特徴とする
請求項２記載の走査型光学顕微鏡である。 A scanning optical microscope according to claim 3
The optical path combining means of the mirror is configured such that
When the second laser light source is removed, the first laser light source
Characterized by retracting from the optical path of laser light from
The scanning optical microscope according to claim 2.
【００１０】また、請求項４に対応する走査型光学顕微
鏡は、前記第２のレーザ光源からのレーザ光を所望の径
の平行光に広げる第２の光学手段を含んでいることを特
徴とする請求項１又は２記載の走査型光学顕微鏡であ
る。 Further , a scanning optical microscope according to claim 4
The mirror emits the laser light from the second laser light source to a desired diameter.
It includes a second optical means for spreading the parallel light of
The scanning optical microscope according to claim 1 or 2, wherein
It
【００１１】また、請求項５に対応する走査型光学顕微
鏡の光路合成手段は、ダイクロイックミラーであること
を特徴とする請求項１から４のいずれか一つに記載の走
査型光学顕微鏡である。 Further , a scanning optical microscope according to claim 5
The optical path combining means of the mirror should be a dichroic mirror
The run according to any one of claims 1 to 4, characterized in that
It is a scanning optical microscope.
【００１２】[0012]
【作用】本発明によれば、さまざまなレーザ波長が選択
でき、さまざまな２重励起観察に対応できる走査型光学
顕微鏡を提供することができる。また、第１のレーザ光
路上に第２のレーザ光源からのレーザ光が同軸に導かれ
る以前に透過率を選択できる調光手段を設けているの
で、第２のレーザ光源を発振する、しないにかかわら
ず、第２のレーザ光の調光と独立して第１のレーザ光の
調光ができる操作性のよいスキャンユニットとなる。 According to the present invention, various laser wavelengths can be selected.
Scanning optics capable of various dual excitation observations
A microscope can be provided. Also, the first laser light
The laser light from the second laser light source is coaxially guided to the road.
Before that, we have a dimming device that can select the transmittance.
So, whether to oscillate the second laser light source or not
The first laser light independently of the dimming of the second laser light.
It becomes a scan unit that is dimmable and has good operability.
【００１３】[0013]
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。図１は本発明の第１実施例の走査型光学
顕微鏡スキャンユニットの光学図と前記スキャンユニッ
トと光学的につながっている光学顕微鏡の光学図を示し
ている。これは、スキャンユニットに取付けられている
第１のレーザ光源１、レーザビームを所望の径の平行光
に広げるビームエクスパンダ２、第２のレーザ光源４、
第２のレーザ光源用のビームエクスパンダ５、第２のレ
ーザ光源４より発振するレーザ光を第１のレーザ光源１
からのレーザ光路３上に同軸に導くためのダイクロイッ
クミラー６からなっている。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an optical diagram of a scanning optical microscope scanning unit according to a first embodiment of the present invention and an optical diagram of an optical microscope optically connected to the scanning unit. This includes a first laser light source 1 attached to a scan unit, a beam expander 2 for expanding a laser beam into parallel light of a desired diameter, a second laser light source 4,
The beam expander 5 for the second laser light source and the laser light oscillated from the second laser light source 4 are supplied to the first laser light source 1
It is composed of a dichroic mirror 6 for coaxially guiding it to the laser optical path 3 from.
【００１４】ダイクロイックミラー６は、第１のレーザ
光源１と第２のレーザ光源４を同時に発振させ、２重励
起を行うような場合、レーザ光源４からのレーザ光を反
射し、レーザ光源１からのレーザ光を透過させる分光特
性が得られるように作用する。The dichroic mirror 6 reflects the laser light from the laser light source 4 to oscillate the first laser light source 1 and the second laser light source 4 at the same time to perform double excitation, and reflects the laser light from the laser light source 1. It acts so as to obtain the spectral characteristics of transmitting the laser light.
【００１５】そして、ダイクロイックミラー６からのレ
ーザ光はダイクロイックミラー７により、標本１３上に
導かれ、また標本１３上に２次元に走査するために対物
レンズ１２の瞳と共役な位置におかれたＸＹガルバノメ
ータスキャナ８，９、瞳投影レンズ１０を備えている。
さらに、集光レンズ１４、測光用ダイクロイックミラー
１５、ミラー１６、フォトマルチプライヤ（検出器）１
７、フォトマルチプライヤ（検出器）１８を示す。以上
述べた構成は、スキャンユニット内の光学系であり、こ
れは光学顕微鏡に後付けされる。The laser light from the dichroic mirror 6 is guided by the dichroic mirror 7 onto the sample 13 and is placed at a position conjugate with the pupil of the objective lens 12 for two-dimensional scanning on the sample 13. It is equipped with XY galvanometer scanners 8 and 9 and a pupil projection lens 10.
Further, a condenser lens 14, a photometric dichroic mirror 15, a mirror 16, and a photomultiplier (detector) 1
7 shows a photomultiplier (detector) 18. The configuration described above is the optical system in the scan unit, which is installed after the optical microscope.
【００１６】光学顕微鏡は、接眼観察光路への分岐を行
うプリズム１１、対物レンズ１２を備え、これにより標
本１３の観察が可能になっている。図２は前記スキャン
ユニットの外観を示す図（斜視図）で、図１と同じ部位
には同番号を符す。スキャンユニットの外装ケース１９
の底面には、光学顕微鏡と接続され、光路を形成するた
めの接続管２０の一端が接続され、また外装ケース１９
の側面には第２のレーザ光源取付用ポート２１例えば円
形穴が形成されている。レーザ光源取付用ポート２１に
は、第２のレーザ光源部組２２が着脱可能になってお
り、レーザ光源部組２２には図１のレーザ光源４、ビー
ムエクスパンダ５、ダイクロイックミラー６を内蔵され
ている。The optical microscope is equipped with a prism 11 and an objective lens 12 for branching into an eyepiece observation optical path, whereby a sample 13 can be observed. FIG. 2 is a diagram (perspective view) showing the external appearance of the scan unit. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. Scan unit exterior case 19
Is connected to an optical microscope and one end of a connecting tube 20 for forming an optical path is connected to the bottom surface of the outer case 19
A second laser light source mounting port 21, for example, a circular hole is formed on the side surface of the. A second laser light source unit set 22 is attachable to and detachable from the laser light source mounting port 21, and the laser light source unit set 22 includes the laser light source 4, the beam expander 5, and the dichroic mirror 6 shown in FIG. ing.
【００１７】次に、以上のように構成された第１実施例
の動作について説明する。第１のレーザ光源１より発振
されたレーザ光は、ビームエクスパンダ２により所定の
径を持つ、平行光に広げられる。そして、ダイクロイッ
クミラー７により下方に反射され、ＸＹガルバノメータ
スキャナ８，９を通り、瞳投影レンズ１０、プリズム１
１を通り、対物レンズ１２により標本１３面上に集光さ
れる。Next, the operation of the first embodiment constructed as above will be described. The laser light emitted from the first laser light source 1 is spread by the beam expander 2 into parallel light having a predetermined diameter. Then, the light is reflected downward by the dichroic mirror 7, passes through the XY galvanometer scanners 8 and 9, and passes through the pupil projection lens 10 and the prism 1.
After passing through 1, the light is focused on the surface of the sample 13 by the objective lens 12.
【００１８】標本１３より発光した蛍光は、対物レンズ
１２、プリズム１１、瞳投影レンズ１０、ＸＹガルバノ
メータスキャナ９，８と、前述と同一経路を逆方向に進
む。そしてダイクロイックミラー７を透過し、集光レン
ズ１４を通り、１波長の蛍光のみの検出の場合は、測光
用ダイクロイックミラー１５で反射し、フォトマルチプ
ライヤ１７で検出される。また、２波長の蛍光の測光の
場合は別の波長の蛍光が測光用ダイクロイックミラー１
５を透過し、ミラー１６を反射後フォトマルチプライヤ
１８で検出される。以上の動作の説明はスキャンユニッ
トにあらかじめ取付けられている第１のレーザ光源１か
らのレーザ光の動作を示すものである。Fluorescence emitted from the sample 13 travels in the opposite direction along the same path as the above-mentioned objective lens 12, prism 11, pupil projection lens 10, XY galvanometer scanners 9 and 8. Then, when only the fluorescence of one wavelength is transmitted through the dichroic mirror 7 through the condenser lens 14, it is reflected by the photometric dichroic mirror 15 and detected by the photomultiplier 17. Further, in the case of photometry of fluorescence of two wavelengths, fluorescence of another wavelength is measured by the dichroic mirror 1.
5, and is reflected by the mirror 16 and detected by the photomultiplier 18. The above description of the operation shows the operation of the laser light from the first laser light source 1 which is attached to the scan unit in advance.
【００１９】また、図２に示した第２のレーザ光源部組
２２を外装ケース１９のレーザ光源取付用ポート２１に
取付け、第２のレーザ光源４を発振させると、このレー
ザ光はビームエクスパンダ５により所定の径を持つ平行
光に広げられ、ダイクロイックミラー６により反射さ
れ、第１レーザ光源１のレーザ光路３上に同軸に導かれ
る。その後は、第１のレーザ光と同一の経路をたどりフ
ォトマルチプライヤ１７，１８により検出される。When the second laser light source assembly 22 shown in FIG. 2 is attached to the laser light source attaching port 21 of the outer case 19 and the second laser light source 4 is oscillated, the laser light is expanded by the beam expander. The beam is spread into parallel light having a predetermined diameter by 5, is reflected by the dichroic mirror 6 , and is guided coaxially onto the laser optical path 3 of the first laser light source 1. After that, the photomultipliers 17 and 18 follow the same path as the first laser beam and are detected.
【００２０】ここで、第１のレーザと第２のレーザを同
時発振させ、２重励起観察を行う場合はダイクロイック
ミラー６には、第１のレーザ光を透過させ、第２のレー
ザ光を反射させる分光特性をもたせ、ダイクロイックミ
ラー７は、第１のレーザ光、第２のレーザ光をともに反
射させ標本１３より反射されてきた複数の蛍光は透過さ
せる分光特性を持たせればよい。Here, when the first laser and the second laser are simultaneously oscillated to perform double excitation observation, the dichroic mirror 6 transmits the first laser light and reflects the second laser light. The dichroic mirror 7 is required to have a spectral characteristic that both the first laser beam and the second laser beam are reflected and a plurality of fluorescence reflected from the sample 13 is transmitted.
【００２１】以上述べた第１実施例では、スキャンユニ
ットに、あらかじめ取付けられている第１のレーザ光源
１に加えて第２のレーザ光源４を取付け、同時発振させ
ることにより、複数波長を発振する高価なマルチライン
レーザを用いることなく、２重励起観察できる走査型光
学顕微鏡となる。In the first embodiment described above, the second laser light source 4 is attached to the scan unit in addition to the first laser light source 1 which is attached in advance, and simultaneously oscillates to oscillate a plurality of wavelengths. The scanning optical microscope can perform double excitation observation without using an expensive multi-line laser.
【００２２】また、第２のレーザ光源４を使用しなけれ
ば、第１のレーザ光源のみの走査型光学顕微鏡として使
用でき、第２のレーザ光源４は、さまざまな波長をもつ
ものを自由に選択して使えるので、検鏡者が自由にシス
テムアップできる走査型光学顕微鏡となる。If the second laser light source 4 is not used, it can be used as a scanning optical microscope having only the first laser light source, and the second laser light source 4 having various wavelengths can be freely selected. since then use it, a scanning optical microscope observer can system up freely.
【００２３】なお、第１実施例では、ダイクロイックミ
ラー６を第２のレーザ光源部組２２内に設けているの
で、第２のレーザ光源部組をスキャンユニットの第２の
レーザ光源取付用ポート２１に取付けると、第１のレー
ザ光路３上にダイクロイックミラー６は配置され、取り
外すと前記光路３上より、第２のレーザ光源部組と一緒
に退避するようになっている。しかし、このダイクロイ
ックミラー６をスキャンユニット内に設け、第２のレー
ザ光源部組を取付ける時は光路３上にダイクロイックミ
ラー６を位置させ、取り外した時は光路３上より退避さ
せるようにしてもよい。In the first embodiment, since the dichroic mirror 6 is provided in the second laser light source unit set 22, the second laser light source unit set is used as the second laser light source mounting port 21 of the scan unit. When it is attached, the dichroic mirror 6 is arranged on the first laser optical path 3, and when it is removed, it is retracted from the optical path 3 together with the second laser light source assembly. However, the dichroic mirror 6 may be provided in the scan unit so that the dichroic mirror 6 is positioned on the optical path 3 when the second laser light source assembly is attached , and retracted from the optical path 3 when it is removed. .
【００２４】次に本発明の第２実施例について、図３及
び図４を用いて説明する。図３は、その光学図を示し、
図４はスキャンユニットの外観斜視図を示す。なお、第
１実施例の図１、図２と同一機能のものには同番号を符
す。本実施例は、第１実施例に透過率を段階的に選択で
きる調光用フィルタターレット２３を付加したものであ
る。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 3 shows its optical diagram,
FIG. 4 is an external perspective view of the scan unit. The same numbers are given to those having the same functions as those in FIGS. 1 and 2 of the first embodiment. In this embodiment, a dimming filter turret 23 whose transmittance can be selected stepwise is added to the first embodiment.
【００２５】具体的には、第２のレーザ光源４から発振
されたレーザ光が第１のレーザ光源１から発振されたレ
ーザ光のレーザ光路３上にダイクロイックミラー６によ
り、同軸に導かれる前に、調光用フィルタターレット２
３に配置されている調光用フィルタ２３ａ，２３ｂ，２
３ｃ，２３ｄのうちの１つ、２３ａを第１のレーザ光路
３上に配置したものである。調光用フィルタ２３ｂ，２
３ｃ，２３ｄはターレット２３を図示しない回転機構に
より回転させることにより、第１のレーザ光路３上にそ
れぞれ持ってくることが可能で、所望の透過率の調光用
フィルタを選択できる。さらに、第２のレーザ光源４か
らのレーザ光がダイクロイックミラー６により第１のレ
ーザ光路３上に同軸に導かれるまえに調光用フィルタが
配設されているので、この調光用フィルタは第１のレー
ザ光源からのレーザ光の調光のみ行い、第２のレーザ光
源からのレーザ光には影響を与えない。従って、第２の
レーザ光源４を使用する、しないに関係なく独立して第
１のレーザ光源１からのレーザ光の調光ができる。ま
た、第２のレーザ光源４より発振されたレーザ光が、第
１のレーザ光源１のレーザ光路３上へ同軸に導かれる以
前、つまり、第２のレーザ光がダイクロイックミラー６
に到達する前に調光用フィルタ等で第２のレーザ光の調
光を行えば、第１のレーザ光、第２のレーザ光、言い換
えれば第１の励起光と、第２の励起光を２重染色標本の
特性に合わせてそれぞれ独立して調光が行えるスキャン
ユニットとなる。Specifically, before the laser light emitted from the second laser light source 4 is coaxially guided by the dichroic mirror 6 onto the laser optical path 3 of the laser light emitted from the first laser light source 1. , Dimming filter turret 2
Dimming filters 23a, 23b, 2 arranged in 3
One of 3c and 23d, 23a is a first laser optical path
It is arranged on top of 3 . Light control filters 23b, 2
By rotating the turret 23 by a rotation mechanism (not shown), the reference numerals 3c and 23d can be brought respectively onto the first laser optical path 3, and a dimming filter having a desired transmittance can be selected. Furthermore, since the dimming filter is disposed before the laser light from the second laser light source 4 is coaxially guided to the first laser light path 3 by the dichroic mirror 6, this dimming filter is Only the dimming of the laser light from the first laser light source is performed, and the laser light from the second laser light source is not affected. Therefore, the second
Regardless of whether or not the laser light source 4 is used, the laser light from the first laser light source 1 can be adjusted independently. The laser beam oscillated from the second laser light source 4, the
Before being coaxially guided to the laser optical path 3 of the first laser light source 1 , that is, the second laser light is transmitted to the dichroic mirror 6
If the dimming of the second laser light is performed with a dimming filter or the like before reaching the first laser light, the first laser light, the second laser light, in other words, the first excitation light and the second excitation light, It becomes a scanning unit that can perform light control independently according to the characteristics of the double-stained specimen.
【００２６】なお、第２実施例では、透過率を段階的に
選択する調光用フィルタにターレット２３を用いたが、
図５に示したようなそれぞれ透過率の異なる複数の調光
フィルタ２４ａ，２４ｂ，２４ｃをスライダ２４に備付
けて、図中の矢印方向に可動させることにより、透過率
を選択してもよい。In the second embodiment, the turret 23 is used as the dimming filter which selects the transmittance stepwise.
The transmittance may be selected by equipping the slider 24 with a plurality of light control filters 24a, 24b, 24c having different transmittances as shown in FIG. 5 and moving the sliders in the arrow direction in the figure.
【００２７】また、図３及び図５では、透過率の異なる
調光用フィルタを複数個備え、それぞれを光路上にもっ
てくることにより透過率を段階的に変えているので、観
察に適性な明るさを備付けの調光用フィルタから得られ
ないことが考えられる。そこで透過率が連続的に低い方
から高い方へ、または高い方から低い方へアナログ的に
変化するフィルタを用いて、例えばターレットを用いた
場合には回転により、またスライダを用いた場合には抜
き差しにより、調光を行えば、常に観察に適性な明るさ
を得ることが可能となる。Further, in FIGS. 3 and 5, a plurality of dimming filters having different transmittances are provided, and the transmittances are changed stepwise by bringing them into the optical path, so that the brightness suitable for observation is obtained. It is conceivable that it cannot be obtained from a dimming filter equipped with a light source. Therefore, using a filter whose transmittance continuously changes from low to high, or from high to low in an analog manner, for example, when a turret is used, it is rotated, and when a slider is used, If light adjustment is performed by inserting and removing, it is possible to always obtain a brightness suitable for observation.
【００２８】次に本発明の第３実施例について、図６の
光学図および図７のスキャンユニット部の外観斜視図を
参照して説明する。なお、第２実施例と同一機能のもの
には同番号を符す。第３実施例は、第２実施例の調光用
フィルタターレット２３の操作つまみを検鏡者前面１９
ａにもってきたものである。光学顕微鏡にユニットとし
て後付けされる走査型光学顕微鏡のスキャンユニットで
は第１のレーザ光源１をスキャンユニット外装１９の後
方に設け、そこから発振するレーザ光を、スキャンユニ
ットの前側１９ａ、つまり検鏡者側へ向け発振させる構
成になることが多い。そこで前記調光用フィルタターレ
ットの回転軸２５を、第１のレーザ光源１より発振され
るレーザ光路３と平行にのばし、スキャンユニット１９
の前面、つまり検鏡者側の操作面１９ａに突出させ、そ
こでつまみ２６により、回転操作する構成とする。Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the optical diagram of FIG. 6 and the external perspective view of the scan unit portion of FIG. The same numbers are given to those having the same functions as those in the second embodiment. The third embodiment is for dimming of the second embodiment.
Operate the control knob of the filter turret 23 on the front 19
It came to a. In a scan unit of a scanning optical microscope which is attached as a unit to an optical microscope, a first laser light source 1 is provided behind a scan unit exterior 19, and laser light oscillated from the first laser light source 1 is supplied to a front side 19a of the scan unit, that is, a microscopist. It is often configured to oscillate toward the side. Therefore, the rotary shaft 25 of the light control filter turret is extended in parallel with the laser optical path 3 oscillated from the first laser light source 1, and the scan unit 19 is provided.
The projection surface is projected to the operation surface 19a on the spectroscope side, and the knob 26 is used to rotate the operation surface.
【００２９】以上のように本第３実施例のスキャンユニ
ットでは第１のレーザ光源１からのレーザ光路３と平行
に調光用フィルタターレット回転軸２５をのばし、検鏡
者側の操作面１９ａにその切り換え操作つまみ２６を配
置したので、操作性の良いフィルタ変換回転操作をギア
等による複雑な機構を用いずに簡単な構成で実現でき
る。As described above, in the scanning unit of the third embodiment, the dimming filter turret rotary shaft 25 is extended in parallel with the laser optical path 3 from the first laser light source 1, and is projected on the operation surface 19a on the side of the speculum. Since the switching operation knob 26 is arranged, the filter conversion rotation operation with good operability can be realized with a simple configuration without using a complicated mechanism such as a gear.
【００３０】[0030]
【発明の効果】本発明によれば、さまざまなレーザ波長
が選択でき、さまざまな２重励起観察に対応できる走査
型光学顕微鏡を提供することができる。 According to the present invention, various laser wavelengths can be obtained.
Can be selected, and scanning that can support various double excitation observations
Type optical microscope can be provided.
【図１】本発明の走査型光学顕微鏡の第１実施例を示す
光学図。FIG. 1 is an optical diagram showing a first embodiment of a scanning optical microscope of the present invention.
【図２】本発明の走査型光学顕微鏡の第１実施例のスキ
ャンユニット部を示す外観斜視図。FIG. 2 is an external perspective view showing the scan unit section of the first embodiment of the scanning optical microscope of the present invention.
【図３】本発明の走査型光学顕微鏡の第２実施例を示す
光学図。FIG. 3 is an optical diagram showing a second embodiment of the scanning optical microscope of the present invention.
【図４】本発明の走査型光学顕微鏡の第２実施例のスキ
ャンユニット部を示す外観斜視図。FIG. 4 is an external perspective view showing a scan unit section of a second embodiment of the scanning optical microscope of the present invention.
【図５】本発明の走査型光学顕微鏡の第２実施例の変形
を示す光学図。FIG. 5 is an optical diagram showing a modification of the second embodiment of the scanning optical microscope of the present invention.
【図６】本発明の走査型光学顕微鏡の第３実施例を示す
光学図。FIG. 6 is an optical diagram showing a third embodiment of the scanning optical microscope of the present invention.
【図７】本発明の走査型光学顕微鏡の第３実施例のスキ
ャンユニット部を示す外観斜視図。FIG. 7 is an external perspective view showing a scan unit section of a third embodiment of the scanning optical microscope of the present invention.
【図８】従来の走査型光学顕微鏡の一例を説明するため
の図。FIG. 8 is a diagram for explaining an example of a conventional scanning optical microscope.
【図９】従来の走査型光学顕微鏡の一例を説明するため
の図。FIG. 9 is a diagram for explaining an example of a conventional scanning optical microscope.
【図１０】従来の走査型光学顕微鏡の一例を説明するた
めの図。FIG. 10 is a diagram for explaining an example of a conventional scanning optical microscope.
１…第１のレーザ光源、２…ビームエクスパンダ、３…
レーザ光路、４…第２のレーザ光源、５…ビームエクス
パンダ、６，７…ダイクロイックミラー、８，８…ＸＹ
ガルバノメータスキャナ、１０…瞳投影レンズ、１９…
スキャンユニット外装、２０…光学顕微鏡接続管、２１
…第２レーザ光源取付用ポート、２２…第２レーザ光源
部組、２３…調光用フィルタターレット、２３ａ〜２３
ｄ…調光用フィルタ、２６…フィルタターレット操作つ
まみ。1 ... 1st laser light source, 2 ... beam expander, 3 ...
Laser optical path, 4 ... Second laser light source, 5 ... Beam expander, 6, 7 ... Dichroic mirror, 8, 8 ... XY
Galvanometer scanner, 10 ... Pupil projection lens, 19 ...
Scan unit exterior, 20 ... Optical microscope connection tube, 21
... second laser light source mounting port, 22 ... second laser light source assembly, 23 ... light control filter turret, 23a-23
d ... dimming filter, 26 ... filter turret operation knob.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02B 21/00 G01N 21/27 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02B 21/00 G01N 21/27
Claims (5)
径の平行光に広げる第１の光学手段が接続されたスキャ
ンユニットを光学顕微鏡に取り付けた走査型光学顕微鏡
において、 前記スキャンユニットに設けられ、前記第１のレーザ光
源とは異なる波長のレーザ光を発する第２のレーザ光源
を前記スキャンユニットに接続するための接続ポート
と、 前記スキャンユニット内にあって、前記第１のレーザ光
源からのレーザ光と前記第２のレーザ光源からのレーザ
光を同軸に前記光学顕微鏡に導くための光路合成手段
と、 前記第１のレーザ光源と前記光路合成手段が配置される
位置との間に配置され、前記第１のレーザ光源からのレ
ーザ光を調光する調光手段と、 を具備することを特徴とする走査型光学顕微鏡。 1. A laser beam emitted from a first laser light source is desired.
A scan to which a first optical means for expanding parallel light of a diameter is connected.
Scanning optical microscope with the optical unit attached to the optical microscope
In the scan unit, the first laser beam
A second laser light source that emits laser light of a wavelength different from that of the light source
Connection port for connecting to the scan unit
And the first laser beam in the scan unit.
Source laser light and laser from the second laser light source
Optical path synthesizing means for coaxially guiding light to the optical microscope
And the first laser light source and the optical path combining means are arranged.
Position from the first laser light source.
And a dimming unit for dimming laser light .
れていることを特徴とする請求項１記載の走査型光学顕
微鏡。 2. The scanning optical microscope according to claim 2 , wherein the second laser light source is connected to the scanning unit.
The scanning optical microscope according to claim 1, wherein
Microscope.
外した時、前記第１のレーザ光源からのレーザ光の光路
上から退避することを特徴とする請求項２記載の走査型
光学顕微鏡。 3. The optical path synthesizing means removes the second laser light source from the scan unit.
When removed, the optical path of the laser light from the first laser light source
The scanning type according to claim 2, wherein the scanning type is retracted from above.
Optical microscope.
光に広げる第２の光学手段を含んでいることを特徴とすCharacterized by including a second optical means for spreading light
る請求項１又は２記載の走査型光学顕微鏡。The scanning optical microscope according to claim 1 or 2.
から４のいずれか一つAny one of 4 to に記載の走査型光学顕微鏡。The scanning optical microscope according to.
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Cited By (1)
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- 1994-05-24 JP JP10967794A patent/JP3400534B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
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