JP3033058B2 - ウェーハ面取り装置 - Google Patents
ウェーハ面取り装置Info
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- JP3033058B2 JP3033058B2 JP20648798A JP20648798A JP3033058B2 JP 3033058 B2 JP3033058 B2 JP 3033058B2 JP 20648798 A JP20648798 A JP 20648798A JP 20648798 A JP20648798 A JP 20648798A JP 3033058 B2 JP3033058 B2 JP 3033058B2
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- Japan
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- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ面取り装置
に係り、特に半導体素子の素材となるシリコン等のウェ
ーハの周縁を面取り加工するウェーハ面取り装置に関す
る。
に係り、特に半導体素子の素材となるシリコン等のウェ
ーハの周縁を面取り加工するウェーハ面取り装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体素子の素材となるシリコン等のウ
ェーハは、インゴットの状態からスライシングマシン等
の切断機で薄くスライスされたのち、割れや欠けを防止
するために周縁をウェーハ面取り装置によって面取り加
工される。このウェーハ面取り装置は、チャックテーブ
ルに保持して回転させたウェーハの周縁に回転する砥石
を押し当てることにより、ウェーハの周縁を砥石で研削
して面取り加工する。
ェーハは、インゴットの状態からスライシングマシン等
の切断機で薄くスライスされたのち、割れや欠けを防止
するために周縁をウェーハ面取り装置によって面取り加
工される。このウェーハ面取り装置は、チャックテーブ
ルに保持して回転させたウェーハの周縁に回転する砥石
を押し当てることにより、ウェーハの周縁を砥石で研削
して面取り加工する。
【0003】ところで、このウェーハ面取り装置でウェ
ーハを精度よく面取り加工するためには、チャックテー
ブルの同軸上にウェーハを載置して保持する必要があ
る。このため、ウェーハ面取り装置には位置決め装置が
備えられており、この位置決め装置でウェーハを所定位
置に位置決めしたのちチャックテーブル上に載置して保
持するようにしている。
ーハを精度よく面取り加工するためには、チャックテー
ブルの同軸上にウェーハを載置して保持する必要があ
る。このため、ウェーハ面取り装置には位置決め装置が
備えられており、この位置決め装置でウェーハを所定位
置に位置決めしたのちチャックテーブル上に載置して保
持するようにしている。
【0004】このように、従来のウェーハ面取り装置で
は、まず、位置決め装置にウェーハを供給し、この位置
決め装置で所定位置に位置決めしたあと、チャックテー
ブルにウェーハを載置するようにしている。そして、従
来のウェーハ面取り装置では、この位置決め装置にウェ
ーハを搬送して供給する供給搬送装置と、加工が終了し
たウェーハをチャックテーブルから回収して次工程(洗
浄工程等)に搬送する回収搬送装置が、それぞれ別々に
設けられていた。
は、まず、位置決め装置にウェーハを供給し、この位置
決め装置で所定位置に位置決めしたあと、チャックテー
ブルにウェーハを載置するようにしている。そして、従
来のウェーハ面取り装置では、この位置決め装置にウェ
ーハを搬送して供給する供給搬送装置と、加工が終了し
たウェーハをチャックテーブルから回収して次工程(洗
浄工程等)に搬送する回収搬送装置が、それぞれ別々に
設けられていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに供給搬送装置と回収搬送装置とが別々に設けられた
構成のウェーハ面取り装置では、一方の装置の動作が他
方の装置の動作に従属するため、ウェーハの供給と回収
を効率的に行うことができないという欠点があった。す
なわち、供給搬送装置が位置決め装置にウェーハを供給
している間は、回収搬送装置は加工済みウェーハの回収
をすることができないため、その間、回収搬送装置に遊
びの時間が生じ、効率的にウェーハの供給と回収を行う
ことができないという欠点があった。
うに供給搬送装置と回収搬送装置とが別々に設けられた
構成のウェーハ面取り装置では、一方の装置の動作が他
方の装置の動作に従属するため、ウェーハの供給と回収
を効率的に行うことができないという欠点があった。す
なわち、供給搬送装置が位置決め装置にウェーハを供給
している間は、回収搬送装置は加工済みウェーハの回収
をすることができないため、その間、回収搬送装置に遊
びの時間が生じ、効率的にウェーハの供給と回収を行う
ことができないという欠点があった。
【0006】また、供給搬送装置と回収搬送装置とが別
々に設けられた構成のウェーハ面取り装置では必然的に
ウェーハの供給部と回収部とが別々の構成となり、装置
が大型化するとともに製造コストも高くなるという欠点
があった。また、ウェーハの供給部と回収部とが別々の
構成のウェーハ面取り装置では、物流で使用するカセッ
トキャリアの数も供給部用と回収部用の2台が必要にな
るという欠点があった。
々に設けられた構成のウェーハ面取り装置では必然的に
ウェーハの供給部と回収部とが別々の構成となり、装置
が大型化するとともに製造コストも高くなるという欠点
があった。また、ウェーハの供給部と回収部とが別々の
構成のウェーハ面取り装置では、物流で使用するカセッ
トキャリアの数も供給部用と回収部用の2台が必要にな
るという欠点があった。
【0007】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、効率的にウェーハの供給と回収を行いスループ
ットを向上させることができるウェーハ面取り装置を提
供することを目的とする。
もので、効率的にウェーハの供給と回収を行いスループ
ットを向上させることができるウェーハ面取り装置を提
供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は前
記目的を達成するために、面取り加工するウェーハをプ
リアライメントするプリアライメント部と、面取り加工
するウェーハをプリアライメント部に供給するウェーハ
供給手段と、チャックテーブルに保持されたウェーハの
周縁を砥石で研削して面取り加工する加工部と、前記加
工部の上方に配設され、面取り加工するウェーハを位置
決めして前記チャックテーブル上に載置する位置決め部
と、面取り加工されたウェーハを洗浄する洗浄部と、前
記各部間を移動してウェーハを搬送する搬送手段と、を
備え、前記搬送手段は、搬送路に沿って走行する走行体
と、前記走行体に設けられたアームと、前記アームの先
端上部に設けられた供給パッドと、前記アームの先端下
部に設けられた回収パッドと、前記供給パッドと前記回
収パッドを上下動させるパッド昇降手段と、からなり、
前記プリアライメント部でプリアライメントされたウェ
ーハを前記供給パッドで保持したのち、前記供給パッド
を前記位置決め部の下方に移動させ、前記供給パッドを
上昇させて前記位置決め部に面取り加工するウェーハを
供給する一方、前記回収パッドを下降させて前記チャッ
クテーブルから面取り加工が終了したウェーハを回収
し、前記回収パッドを前記洗浄部に向けて移動させて前
記ウェーハを前記洗浄部に搬送することを特徴とする。
記目的を達成するために、面取り加工するウェーハをプ
リアライメントするプリアライメント部と、面取り加工
するウェーハをプリアライメント部に供給するウェーハ
供給手段と、チャックテーブルに保持されたウェーハの
周縁を砥石で研削して面取り加工する加工部と、前記加
工部の上方に配設され、面取り加工するウェーハを位置
決めして前記チャックテーブル上に載置する位置決め部
と、面取り加工されたウェーハを洗浄する洗浄部と、前
記各部間を移動してウェーハを搬送する搬送手段と、を
備え、前記搬送手段は、搬送路に沿って走行する走行体
と、前記走行体に設けられたアームと、前記アームの先
端上部に設けられた供給パッドと、前記アームの先端下
部に設けられた回収パッドと、前記供給パッドと前記回
収パッドを上下動させるパッド昇降手段と、からなり、
前記プリアライメント部でプリアライメントされたウェ
ーハを前記供給パッドで保持したのち、前記供給パッド
を前記位置決め部の下方に移動させ、前記供給パッドを
上昇させて前記位置決め部に面取り加工するウェーハを
供給する一方、前記回収パッドを下降させて前記チャッ
クテーブルから面取り加工が終了したウェーハを回収
し、前記回収パッドを前記洗浄部に向けて移動させて前
記ウェーハを前記洗浄部に搬送することを特徴とする。
【0009】本発明によれば、まず、プリアライメント
部でプリアライメントされたウェーハを吸着パッドで保
持する。次に、走行体を加工部に向けて走行させて供給
パッドを位置決めユニットの下方に移動させる。次に、
供給パッドを上昇させて位置決めユニットに面取り加工
するウェーハを供給する。その一方で回収パッドを下降
させてチャックテーブルから面取り加工が終了したウェ
ーハを回収する。回収後、走行体を洗浄部に向けて走行
させ、面取り加工が終了したウェーハを洗浄部に搬送す
る。このように、面取り加工するウェーハの供給と回収
を一度に行うことできるので、効率的にウェーハの供給
と回収を行うことができ、スループットが向上する。
部でプリアライメントされたウェーハを吸着パッドで保
持する。次に、走行体を加工部に向けて走行させて供給
パッドを位置決めユニットの下方に移動させる。次に、
供給パッドを上昇させて位置決めユニットに面取り加工
するウェーハを供給する。その一方で回収パッドを下降
させてチャックテーブルから面取り加工が終了したウェ
ーハを回収する。回収後、走行体を洗浄部に向けて走行
させ、面取り加工が終了したウェーハを洗浄部に搬送す
る。このように、面取り加工するウェーハの供給と回収
を一度に行うことできるので、効率的にウェーハの供給
と回収を行うことができ、スループットが向上する。
【0010】請求項3に係る発明は前記目的を達成する
ために、面取り加工するウェーハをプリアライメントす
るプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプ
リアライメント部に供給するウェーハ供給手段と、チャ
ックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で研削
して面取り加工する加工部と、前記加工部の上方に配設
され、面取り加工するウェーハを位置決めして前記チャ
ックテーブル上に載置する位置決め部と、面取り加工さ
れたウェーハを洗浄する洗浄部と、前記各部間を移動し
てウェーハを搬送する搬送手段と、を備え、前記搬送手
段は、搬送路に沿って走行する走行体と、前記走行体に
設けられた供給アームと、前記供給アームの先端上部に
設けられた供給パッドと、前記供給パッドを上下動させ
る供給パッド昇降手段と、前記走行体に設けられた回収
アームと、前記回収アームの先端下部に設けられるとと
もに、前記供給パッドの下方位置に配置された回収パッ
ドと、前記回収パッドを上下動させる回収パッド昇降手
段と、からなり、前記プリアライメント部でプリアライ
メントされたウェーハを前記供給パッドで保持したの
ち、前記供給パッドを前記位置決め部の下方に移動さ
せ、前記供給パッドを上昇させて前記位置決め部に面取
り加工するウェーハを供給する一方、前記回収パッドを
下降させて前記チャックテーブルから面取り加工が終了
したウェーハを回収し、前記回収パッドを前記洗浄部に
向けて移動させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬送する
ことを特徴とする。
ために、面取り加工するウェーハをプリアライメントす
るプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプ
リアライメント部に供給するウェーハ供給手段と、チャ
ックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で研削
して面取り加工する加工部と、前記加工部の上方に配設
され、面取り加工するウェーハを位置決めして前記チャ
ックテーブル上に載置する位置決め部と、面取り加工さ
れたウェーハを洗浄する洗浄部と、前記各部間を移動し
てウェーハを搬送する搬送手段と、を備え、前記搬送手
段は、搬送路に沿って走行する走行体と、前記走行体に
設けられた供給アームと、前記供給アームの先端上部に
設けられた供給パッドと、前記供給パッドを上下動させ
る供給パッド昇降手段と、前記走行体に設けられた回収
アームと、前記回収アームの先端下部に設けられるとと
もに、前記供給パッドの下方位置に配置された回収パッ
ドと、前記回収パッドを上下動させる回収パッド昇降手
段と、からなり、前記プリアライメント部でプリアライ
メントされたウェーハを前記供給パッドで保持したの
ち、前記供給パッドを前記位置決め部の下方に移動さ
せ、前記供給パッドを上昇させて前記位置決め部に面取
り加工するウェーハを供給する一方、前記回収パッドを
下降させて前記チャックテーブルから面取り加工が終了
したウェーハを回収し、前記回収パッドを前記洗浄部に
向けて移動させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬送する
ことを特徴とする。
【0011】本発明によれば、まず、プリアライメント
部でプリアライメントされたウェーハを吸着パッドで保
持する。次に、走行体を加工部に向けて走行させて供給
パッドを位置決めユニットの下方に移動させる。次に、
供給パッドを上昇させて位置決めユニットに面取り加工
するウェーハを供給する。その一方で回収パッドを下降
させてチャックテーブルから面取り加工が終了したウェ
ーハを回収する。回収後、走行体を洗浄部に向けて走行
させ、面取り加工が終了したウェーハを洗浄部に搬送す
る。このように、面取り加工するウェーハの供給と回収
を一度に行うことできるので、効率的にウェーハの供給
と回収を行うことができ、スループットが向上する。
部でプリアライメントされたウェーハを吸着パッドで保
持する。次に、走行体を加工部に向けて走行させて供給
パッドを位置決めユニットの下方に移動させる。次に、
供給パッドを上昇させて位置決めユニットに面取り加工
するウェーハを供給する。その一方で回収パッドを下降
させてチャックテーブルから面取り加工が終了したウェ
ーハを回収する。回収後、走行体を洗浄部に向けて走行
させ、面取り加工が終了したウェーハを洗浄部に搬送す
る。このように、面取り加工するウェーハの供給と回収
を一度に行うことできるので、効率的にウェーハの供給
と回収を行うことができ、スループットが向上する。
【0012】請求項5に係る発明は前記目的を達成する
ために、面取り加工するウェーハをプリアライメントす
るプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプ
リアライメント部に供給するウェーハ供給手段と、チャ
ックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で研削
して面取り加工する加工部と、前記加工部の上方に配設
され、面取り加工するウェーハを位置決めして前記チャ
ックテーブル上に載置する位置決め部と、面取り加工さ
れたウェーハを洗浄する洗浄部と、前記各部間を移動し
てウェーハを搬送する搬送手段と、を備え、前記搬送手
段は、供給搬送路に沿って走行する供給走行体と、前記
供給走行体に設けられた供給アームと、前記供給アーム
の先端上部に設けられた供給パッドと、前記供給パッド
を上下動させる供給パッド昇降手段と、回収搬送路に沿
って走行する回収走行体と、前記回収走行体に設けられ
た回収アームと、前記回収アームの先端下部に設けられ
るとともに、前記供給パッドの下方位置に配置された回
収パッドと、前記回収パッドを上下動させる回収パッド
昇降手段と、からなり、前記プリアライメント部でプリ
アライメントされたウェーハを前記供給パッドで保持し
たのち、前記供給パッドを前記位置決め部の下方に移動
させ、前記供給パッドを上昇させて前記位置決め部に面
取り加工するウェーハを供給する一方、前記回収パッド
を前記チャックテーブルの上方に移動させ、前記回収パ
ッドを下降させて前記チャックテーブルから面取り加工
が終了したウェーハを回収し、前記回収パッドを前記洗
浄部に向けて移動させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬
送することを特徴とする。
ために、面取り加工するウェーハをプリアライメントす
るプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプ
リアライメント部に供給するウェーハ供給手段と、チャ
ックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で研削
して面取り加工する加工部と、前記加工部の上方に配設
され、面取り加工するウェーハを位置決めして前記チャ
ックテーブル上に載置する位置決め部と、面取り加工さ
れたウェーハを洗浄する洗浄部と、前記各部間を移動し
てウェーハを搬送する搬送手段と、を備え、前記搬送手
段は、供給搬送路に沿って走行する供給走行体と、前記
供給走行体に設けられた供給アームと、前記供給アーム
の先端上部に設けられた供給パッドと、前記供給パッド
を上下動させる供給パッド昇降手段と、回収搬送路に沿
って走行する回収走行体と、前記回収走行体に設けられ
た回収アームと、前記回収アームの先端下部に設けられ
るとともに、前記供給パッドの下方位置に配置された回
収パッドと、前記回収パッドを上下動させる回収パッド
昇降手段と、からなり、前記プリアライメント部でプリ
アライメントされたウェーハを前記供給パッドで保持し
たのち、前記供給パッドを前記位置決め部の下方に移動
させ、前記供給パッドを上昇させて前記位置決め部に面
取り加工するウェーハを供給する一方、前記回収パッド
を前記チャックテーブルの上方に移動させ、前記回収パ
ッドを下降させて前記チャックテーブルから面取り加工
が終了したウェーハを回収し、前記回収パッドを前記洗
浄部に向けて移動させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬
送することを特徴とする。
【0013】本発明によれば、まず、プリアライメント
部でプリアライメントされたウェーハを吸着パッドで保
持する。次に、供給走行体を加工部に向けて走行させて
供給パッドを位置決めユニットの下方に移動させるとと
もに、回収走行体を加工部に向けて走行させて回収パッ
ドをチャックテーブルの上方に移動させる。次に、供給
パッドを上昇させて位置決めユニットに面取り加工する
ウェーハを供給する。その一方で回収パッドを下降させ
てチャックテーブルから面取り加工が終了したウェーハ
を回収する。回収後、回収走行体のみを洗浄部に向けて
走行させて面取り加工が終了したウェーハを洗浄部に搬
送する。このように、面取り加工するウェーハの供給と
回収を一度に行うことできるので、効率的にウェーハの
供給と回収を行うことができ、スループットが向上す
る。
部でプリアライメントされたウェーハを吸着パッドで保
持する。次に、供給走行体を加工部に向けて走行させて
供給パッドを位置決めユニットの下方に移動させるとと
もに、回収走行体を加工部に向けて走行させて回収パッ
ドをチャックテーブルの上方に移動させる。次に、供給
パッドを上昇させて位置決めユニットに面取り加工する
ウェーハを供給する。その一方で回収パッドを下降させ
てチャックテーブルから面取り加工が終了したウェーハ
を回収する。回収後、回収走行体のみを洗浄部に向けて
走行させて面取り加工が終了したウェーハを洗浄部に搬
送する。このように、面取り加工するウェーハの供給と
回収を一度に行うことできるので、効率的にウェーハの
供給と回収を行うことができ、スループットが向上す
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
係るウェーハ面取り装置の好ましい実施の形態について
詳説する。図1は、本発明に係るウェーハ面取り装置の
全体構成を示す平面図である。同図に示すように、本発
明に係るウェーハ面取り装置10は、面取り加工するウ
ェーハWを供給する供給部14と、面取り加工するウェ
ーハWの前測定及びプリアライメントを行うプリアライ
メント部16と、ウェーハWの面取り加工を行う2つの
加工部18A、18Bと、その2つの加工部18A、1
8Bに供給するウェーハWの位置決めを行う位置決め部
20と、面取り加工されたウェーハWの洗浄を行う洗浄
部22と、プリアライメント部16でプリアライメント
されたウェーハWを位置決め部20に搬送するととも
に、加工部18A、18Bで面取り加工されたウェーハ
Wを洗浄部22に搬送するウェーハ搬送部24と、面取
り加工されたウェーハWの後測定を行う後測定部26
と、ウェーハWの回収を行う回収部28とから構成され
ている。
係るウェーハ面取り装置の好ましい実施の形態について
詳説する。図1は、本発明に係るウェーハ面取り装置の
全体構成を示す平面図である。同図に示すように、本発
明に係るウェーハ面取り装置10は、面取り加工するウ
ェーハWを供給する供給部14と、面取り加工するウェ
ーハWの前測定及びプリアライメントを行うプリアライ
メント部16と、ウェーハWの面取り加工を行う2つの
加工部18A、18Bと、その2つの加工部18A、1
8Bに供給するウェーハWの位置決めを行う位置決め部
20と、面取り加工されたウェーハWの洗浄を行う洗浄
部22と、プリアライメント部16でプリアライメント
されたウェーハWを位置決め部20に搬送するととも
に、加工部18A、18Bで面取り加工されたウェーハ
Wを洗浄部22に搬送するウェーハ搬送部24と、面取
り加工されたウェーハWの後測定を行う後測定部26
と、ウェーハWの回収を行う回収部28とから構成され
ている。
【0015】まず、供給部14の構成について説明す
る。図1に示すように、供給部14は、供給カセット3
0を所定位置に位置決めする供給カセット位置決め装置
32と、その供給カセット位置決め装置32によって所
定のウェーハ供給位置に位置決めされた供給カセット3
0からウェーハWを取り出してプリアライメント部16
に供給するウェーハ供給ロボット34とから構成されて
いる。
る。図1に示すように、供給部14は、供給カセット3
0を所定位置に位置決めする供給カセット位置決め装置
32と、その供給カセット位置決め装置32によって所
定のウェーハ供給位置に位置決めされた供給カセット3
0からウェーハWを取り出してプリアライメント部16
に供給するウェーハ供給ロボット34とから構成されて
いる。
【0016】供給カセット位置決め装置32は、6台の
供給カセットテーブル33、33、…を有している。こ
の6台の供給カセットテーブル33、33、…は、装置
本体12の左側部に直列して配置されている。供給カセ
ット30、30…は、この供給カセットテーブル33、
33、…上にセットされることにより、所定位置に位置
決めされる。
供給カセットテーブル33、33、…を有している。こ
の6台の供給カセットテーブル33、33、…は、装置
本体12の左側部に直列して配置されている。供給カセ
ット30、30…は、この供給カセットテーブル33、
33、…上にセットされることにより、所定位置に位置
決めされる。
【0017】一方、ウェーハ供給ロボット34は、先端
下部に一対の吸着パッドを備えたアーム36を有してい
る。このアーム36はターンテーブル38上に敷設され
たガイド40に沿って前後移動するとともに、ターンテ
ーブル38が回転することにより旋回する。また、ター
ンテーブル38がスライド移動することにより、6台の
供給カセットテーブル33、33、…に沿ってスライド
移動し、ターンテーブル38が上下動することにより上
下動する。
下部に一対の吸着パッドを備えたアーム36を有してい
る。このアーム36はターンテーブル38上に敷設され
たガイド40に沿って前後移動するとともに、ターンテ
ーブル38が回転することにより旋回する。また、ター
ンテーブル38がスライド移動することにより、6台の
供給カセットテーブル33、33、…に沿ってスライド
移動し、ターンテーブル38が上下動することにより上
下動する。
【0018】以上のように構成された供給部14では、
次のようにしてウェーハWをプリアライメント部16に
供給する。まず、ターンテーブル38がスライド移動し
て、アーム36が所定の供給カセット30の前で停止す
る。次に、ターンテーブル38が所定量上昇することに
より、アーム36が供給カセット30から取り出すウェ
ーハWの高さと同じ高さの位置に停止する。次に、アー
ム36が前進して供給カセット30内に進入し、供給カ
セット30内のウェーハWを吸着保持する。次に、アー
ム36が後退してウェーハWを供給カセット30から取
り出す。次に、ターンテーブル38が所定量下降するこ
とにより、アーム36が元の高さの位置に復帰する。次
に、ターンテーブル38が180°回転して、アーム3
6が向きを変える。次に、ターンテーブル38がスライ
ド移動して、アーム36が所定のウェーハ受渡位置に移
動する。そして、プリアライメント部16のウェーハ搬
送ロボット42にウェーハWを受け渡す。
次のようにしてウェーハWをプリアライメント部16に
供給する。まず、ターンテーブル38がスライド移動し
て、アーム36が所定の供給カセット30の前で停止す
る。次に、ターンテーブル38が所定量上昇することに
より、アーム36が供給カセット30から取り出すウェ
ーハWの高さと同じ高さの位置に停止する。次に、アー
ム36が前進して供給カセット30内に進入し、供給カ
セット30内のウェーハWを吸着保持する。次に、アー
ム36が後退してウェーハWを供給カセット30から取
り出す。次に、ターンテーブル38が所定量下降するこ
とにより、アーム36が元の高さの位置に復帰する。次
に、ターンテーブル38が180°回転して、アーム3
6が向きを変える。次に、ターンテーブル38がスライ
ド移動して、アーム36が所定のウェーハ受渡位置に移
動する。そして、プリアライメント部16のウェーハ搬
送ロボット42にウェーハWを受け渡す。
【0019】以上のようにして供給部14の供給カセッ
ト30からプリアライメント部16に面取り加工するウ
ェーハWが供給される。なお、ウェーハWの供給はカセ
ット単位で行われ、一つの供給カセット30内に収納さ
れている全てのウェーハWが供給されると、次の供給カ
セット30からウェーハWが供給される。
ト30からプリアライメント部16に面取り加工するウ
ェーハWが供給される。なお、ウェーハWの供給はカセ
ット単位で行われ、一つの供給カセット30内に収納さ
れている全てのウェーハWが供給されると、次の供給カ
セット30からウェーハWが供給される。
【0020】次に、プリアライメント部16の構成につ
いて説明する。図1に示すように、プリアライメント部
16は、ウェーハ搬送ロボット42とプリアライメント
装置44とから構成されている。ウェーハ搬送ロボット
42は、先端上部に一対の吸着パッドを備えたアーム4
6を有している。このアーム46はターンテーブル48
上に敷設されたガイド50に沿って前後移動するととも
に、ターンテーブル38が回転することにより旋回す
る。
いて説明する。図1に示すように、プリアライメント部
16は、ウェーハ搬送ロボット42とプリアライメント
装置44とから構成されている。ウェーハ搬送ロボット
42は、先端上部に一対の吸着パッドを備えたアーム4
6を有している。このアーム46はターンテーブル48
上に敷設されたガイド50に沿って前後移動するととも
に、ターンテーブル38が回転することにより旋回す
る。
【0021】一方、プリアライメント装置44は、厚さ
測定センサ52、測定テーブル54及びオリフラ・ノッ
チ検出センサ56から構成されている。厚さセンサ52
は、上下一対からなる静電容量センサで構成されてい
る。この一対の静電容量センサは所定の間隔をもって互
いに対向するように配置されており、その間に位置した
ウェーハWの表面、裏面までの距離を測定する。この静
電容量センサの測定結果は、図示しない演算装置に出力
され、この演算措置が演算処理によってウェーハWの厚
さを測定する。
測定センサ52、測定テーブル54及びオリフラ・ノッ
チ検出センサ56から構成されている。厚さセンサ52
は、上下一対からなる静電容量センサで構成されてい
る。この一対の静電容量センサは所定の間隔をもって互
いに対向するように配置されており、その間に位置した
ウェーハWの表面、裏面までの距離を測定する。この静
電容量センサの測定結果は、図示しない演算装置に出力
され、この演算措置が演算処理によってウェーハWの厚
さを測定する。
【0022】一方、オリフラ・ノッチ検出センサ56
は、赤外線センサで構成されており、前記測定テーブル
54に保持されて回転するウェーハWのノッチ又はオリ
フラの位置を検出する。なお、測定テーブル54は、ウ
ェーハWの中心部を吸着保持して回転及び上下動するこ
とができる。
は、赤外線センサで構成されており、前記測定テーブル
54に保持されて回転するウェーハWのノッチ又はオリ
フラの位置を検出する。なお、測定テーブル54は、ウ
ェーハWの中心部を吸着保持して回転及び上下動するこ
とができる。
【0023】以上のように構成されたプリアライメント
部16では、次のようにしてウェーハWの厚さ測定とプ
リアライメントを行う。初期状態において、ウェーハ搬
送ロボット42のアーム46は所定の待機位置(図1に
示す位置)に待機している。ウェーハ供給ロボット34
のアーム36がウェーハ受渡位置に移動すると、このア
ーム36に対向するようにウェーハ搬送ロボット42の
アーム46が旋回する。次に、ウェーハ搬送ロボット4
2のアーム46が前進してウェーハ供給ロボット34の
アーム36からウェーハWを受け取る。次に、ウェーハ
搬送ロボット42のアーム46が後退し、旋回する。こ
れにより、ウェーハ搬送ロボット42のアーム46がプ
リアライメント装置44の厚さ測定センサ52と対向す
る。
部16では、次のようにしてウェーハWの厚さ測定とプ
リアライメントを行う。初期状態において、ウェーハ搬
送ロボット42のアーム46は所定の待機位置(図1に
示す位置)に待機している。ウェーハ供給ロボット34
のアーム36がウェーハ受渡位置に移動すると、このア
ーム36に対向するようにウェーハ搬送ロボット42の
アーム46が旋回する。次に、ウェーハ搬送ロボット4
2のアーム46が前進してウェーハ供給ロボット34の
アーム36からウェーハWを受け取る。次に、ウェーハ
搬送ロボット42のアーム46が後退し、旋回する。こ
れにより、ウェーハ搬送ロボット42のアーム46がプ
リアライメント装置44の厚さ測定センサ52と対向す
る。
【0024】次に、アーム46が厚さ検出センサ52に
向かって所定距離前進する。これにより、アーム46に
保持されたウェーハWの中心が厚さ検出センサ52の測
定位置に位置するので、まず、ウェーハWの中心部の厚
さ測定が行われる。ウェーハWの中心部の厚さ測定が終
了すると、アーム46が所定距離後退する。これによ
り、ウェーハWの中心が測定テーブル54の中心と一致
する。次に、測定テーブル54が所定距離上昇し、アー
ム46からウェーハWを受け取る。ウェーハWを受け渡
したアーム46は所定距離後退して待機位置に復帰す
る。
向かって所定距離前進する。これにより、アーム46に
保持されたウェーハWの中心が厚さ検出センサ52の測
定位置に位置するので、まず、ウェーハWの中心部の厚
さ測定が行われる。ウェーハWの中心部の厚さ測定が終
了すると、アーム46が所定距離後退する。これによ
り、ウェーハWの中心が測定テーブル54の中心と一致
する。次に、測定テーブル54が所定距離上昇し、アー
ム46からウェーハWを受け取る。ウェーハWを受け渡
したアーム46は所定距離後退して待機位置に復帰す
る。
【0025】一方、ウェーハWを受け取った測定テーブ
ル54はウェーハWを所定の速度で回転させる。そし
て、このウェーハWの回転が安定したところで、オリフ
ラ・ノッチ検出センサ56がウェーハWに形成されてい
るノッチ又はオリフラの位置を検出する。また、これと
同時に厚さ測定センサ52がウェーハWの外周部の厚さ
を測定する。
ル54はウェーハWを所定の速度で回転させる。そし
て、このウェーハWの回転が安定したところで、オリフ
ラ・ノッチ検出センサ56がウェーハWに形成されてい
るノッチ又はオリフラの位置を検出する。また、これと
同時に厚さ測定センサ52がウェーハWの外周部の厚さ
を測定する。
【0026】測定が終了すると、測定テーブル54の回
転が停止する。この際、測定テーブル54は、ノッチ又
はオリフラ位置の検出結果に基づいて、そのノッチ又は
オリフラが所定の方向に向くように停止する。すなわ
ち、ノッチ付きウェーハの場合は、ノッチがY方向に向
くように停止し、オリフラ付きウェーハの場合は、オリ
フラがX方向と平行になるように停止する。
転が停止する。この際、測定テーブル54は、ノッチ又
はオリフラ位置の検出結果に基づいて、そのノッチ又は
オリフラが所定の方向に向くように停止する。すなわ
ち、ノッチ付きウェーハの場合は、ノッチがY方向に向
くように停止し、オリフラ付きウェーハの場合は、オリ
フラがX方向と平行になるように停止する。
【0027】以上のようにして、ウェーハWの中心部及
び外周部の厚さ測定とプリアライメントが行われる。そ
して、厚さ測定とプリアライメントが行われたウェーハ
Wは、後述するウェーハ搬送部24のトランスファーユ
ニット100によって加工部18A、18Bに搬送され
る。次に、加工部18A、18Bの構成について説明す
る。図1に示すように、2つの加工部18A、18B
は、それぞれ装置本体12の正面部に並列して配置され
ている。この加工部18A、18Bは、図2及び図3に
示すように(図2、図3では一方の加工部18Aの構成
のみ図示)、主としてウェーハ送り装置60A、60B
と、外周研削装置62A、62B及びノッチ研削装置6
4A、64Bとから構成されている。
び外周部の厚さ測定とプリアライメントが行われる。そ
して、厚さ測定とプリアライメントが行われたウェーハ
Wは、後述するウェーハ搬送部24のトランスファーユ
ニット100によって加工部18A、18Bに搬送され
る。次に、加工部18A、18Bの構成について説明す
る。図1に示すように、2つの加工部18A、18B
は、それぞれ装置本体12の正面部に並列して配置され
ている。この加工部18A、18Bは、図2及び図3に
示すように(図2、図3では一方の加工部18Aの構成
のみ図示)、主としてウェーハ送り装置60A、60B
と、外周研削装置62A、62B及びノッチ研削装置6
4A、64Bとから構成されている。
【0028】ウェーハ送り装置60A、60Bは、ウェ
ーハWを吸着保持するチャックテーブル66A、66B
を有しており、該チャックテーブル66A、66Bは、
図示しない駆動手段に駆動されて前後方向(Y軸方
向)、左右方向(X軸方向)及び上下方向(Z軸方向)
の各方向に移動するとともに、図示しないモータに駆動
されて中心軸(θ軸)回りに回転する。
ーハWを吸着保持するチャックテーブル66A、66B
を有しており、該チャックテーブル66A、66Bは、
図示しない駆動手段に駆動されて前後方向(Y軸方
向)、左右方向(X軸方向)及び上下方向(Z軸方向)
の各方向に移動するとともに、図示しないモータに駆動
されて中心軸(θ軸)回りに回転する。
【0029】外周研削装置62A、62Bは、図示しな
い外周モータに駆動されて回転する外周スピンドル70
A、70Bを有しており、この外周スピンドル70A、
70BにウェーハWの外周を面取り加工する外周研削砥
石72A、72Bが装着される。外周研削砥石72A、
72Bはその外周面にウェーハWに要求される面取り形
状に対応した溝が形成されており(総形砥石)、この溝
にウェーハWの外周又はオリフラを押し当てることによ
り、外周又はオリフラが面取り加工される。
い外周モータに駆動されて回転する外周スピンドル70
A、70Bを有しており、この外周スピンドル70A、
70BにウェーハWの外周を面取り加工する外周研削砥
石72A、72Bが装着される。外周研削砥石72A、
72Bはその外周面にウェーハWに要求される面取り形
状に対応した溝が形成されており(総形砥石)、この溝
にウェーハWの外周又はオリフラを押し当てることによ
り、外周又はオリフラが面取り加工される。
【0030】ノッチ研削装置64A、64Bは、ノッチ
モータ74A、74Bに駆動されて回転するノッチスピ
ンドル76A、76Bを有しており、このノッチスピン
ドル76A、76BにウェーハWのノッチを面取り加工
するノッチ研削砥石78A、78Bが装着される。ノッ
チ研削砥石78A、78Bは、その外周面にノッチに要
求される面取り形状に対応した溝が形成されており(総
形砥石)、この溝にウェーハWのノッチを押し当てるこ
とにより、ノッチが面取り加工される。
モータ74A、74Bに駆動されて回転するノッチスピ
ンドル76A、76Bを有しており、このノッチスピン
ドル76A、76BにウェーハWのノッチを面取り加工
するノッチ研削砥石78A、78Bが装着される。ノッ
チ研削砥石78A、78Bは、その外周面にノッチに要
求される面取り形状に対応した溝が形成されており(総
形砥石)、この溝にウェーハWのノッチを押し当てるこ
とにより、ノッチが面取り加工される。
【0031】前記のごとく構成された加工部18A、1
8Bでは、次のようにしてウェーハWを面取り加工す
る。なお、ウェーハWは、その外周(円形の部分)と、
オリフラ又はノッチを加工する場合では、それぞれ加工
方法が異なるので、まず、ウェーハWの外周を面取り加
工する場合について説明する。まず、ウェーハWをチャ
ックテーブル66A、66Bに保持する。次いで、外周
研削砥石72A、72Bを高速回転させる。次に、チャ
ックテーブル66A、66Bを外周研削砥石72A、7
2Bに向けて移動させ、ウェーハWの外周を外周研削砥
石72A、72Bの溝に押し当てる。次に、チャックテ
ーブル66A、66Bを回転させる。これにより、ウェ
ーハWの外周が外周研削砥石72A、72Bに研削され
て、面取り加工される。
8Bでは、次のようにしてウェーハWを面取り加工す
る。なお、ウェーハWは、その外周(円形の部分)と、
オリフラ又はノッチを加工する場合では、それぞれ加工
方法が異なるので、まず、ウェーハWの外周を面取り加
工する場合について説明する。まず、ウェーハWをチャ
ックテーブル66A、66Bに保持する。次いで、外周
研削砥石72A、72Bを高速回転させる。次に、チャ
ックテーブル66A、66Bを外周研削砥石72A、7
2Bに向けて移動させ、ウェーハWの外周を外周研削砥
石72A、72Bの溝に押し当てる。次に、チャックテ
ーブル66A、66Bを回転させる。これにより、ウェ
ーハWの外周が外周研削砥石72A、72Bに研削され
て、面取り加工される。
【0032】次に、ウェーハWのオリフラを面取り加工
する場合について説明する。まず、外周研削砥石72
A、72Bを高速回転させる。次に、チャックテーブル
66A、66Bを外周研削砥石72A、72Bに向けて
移動させ、オリフラの部分を外周研削砥石72A、72
Bの溝に押し当てる。次に、チャックテーブル66A、
66Bをオリフラに沿って移動させる。これにより、ウ
ェーハWのオリフラが外周研削砥石72A、72Bに研
削されて、面取り加工される。
する場合について説明する。まず、外周研削砥石72
A、72Bを高速回転させる。次に、チャックテーブル
66A、66Bを外周研削砥石72A、72Bに向けて
移動させ、オリフラの部分を外周研削砥石72A、72
Bの溝に押し当てる。次に、チャックテーブル66A、
66Bをオリフラに沿って移動させる。これにより、ウ
ェーハWのオリフラが外周研削砥石72A、72Bに研
削されて、面取り加工される。
【0033】次に、ウェーハWに形成されているノッチ
を面取り加工する場合について説明する。まず、ノッチ
研削砥石78A、78Bを高速回転させる。次に、チャ
ックテーブル66A、66Bをノッチ研削砥石78A、
78Bに向けて移動させ、ノッチの部分をノッチ研削砥
石78A、78Bの溝に押し当てる。これにより、ウェ
ーハWのノッチがノッチ研削砥石78A、78Bに研削
されて、面取り加工される。
を面取り加工する場合について説明する。まず、ノッチ
研削砥石78A、78Bを高速回転させる。次に、チャ
ックテーブル66A、66Bをノッチ研削砥石78A、
78Bに向けて移動させ、ノッチの部分をノッチ研削砥
石78A、78Bの溝に押し当てる。これにより、ウェ
ーハWのノッチがノッチ研削砥石78A、78Bに研削
されて、面取り加工される。
【0034】次に、位置決め部20の構成について説明
する。位置決め部20は、プリアライメント部16でプ
リアライメントされたウェーハWを所定位置に位置決め
(ファインアライメント)してチャックテーブル66
A、66Bに載置する装置である。この位置決め部20
は、図1及び図2に示すように、水平ガイド80と、そ
の水平ガイド80に沿ってスライド移動する水平スライ
ドブロック82と、水平スライドブロック82上に配設
された垂直ガイド83と、その垂直ガイド83に沿って
昇降移動する昇降ブロック84と、その昇降ブロック8
4に着脱自在に取り付けられ、前記加工部18A、18
Bの上方に配置されたセンタリングユニット86とから
構成されている。
する。位置決め部20は、プリアライメント部16でプ
リアライメントされたウェーハWを所定位置に位置決め
(ファインアライメント)してチャックテーブル66
A、66Bに載置する装置である。この位置決め部20
は、図1及び図2に示すように、水平ガイド80と、そ
の水平ガイド80に沿ってスライド移動する水平スライ
ドブロック82と、水平スライドブロック82上に配設
された垂直ガイド83と、その垂直ガイド83に沿って
昇降移動する昇降ブロック84と、その昇降ブロック8
4に着脱自在に取り付けられ、前記加工部18A、18
Bの上方に配置されたセンタリングユニット86とから
構成されている。
【0035】水平ガイド80は、図1に示すように、並
列して配置された2つの加工部18A、18Bに沿って
配設されており、この水平ガイド80に沿ってスライド
ブロック82が図示しない駆動手段に駆動されてスライ
ド移動する。一方、垂直ガイド83は、図2に示すよう
に、前記水平ガイド80と直交するように配設されてお
り、この垂直ガイド83に沿って昇降ブロック84が図
示しない駆動手段に駆動されて昇降移動する。したがっ
て、この昇降ブロック84に取り付けられたセンタリン
グユニット86は、昇降ブロック84が昇降移動するこ
とにより、加工部18A、18Bの上方を垂直に昇降移
動し、水平スライドブロック82がスライド移動するこ
とにより、加工部18A、18Bの上方を水平移動す
る。
列して配置された2つの加工部18A、18Bに沿って
配設されており、この水平ガイド80に沿ってスライド
ブロック82が図示しない駆動手段に駆動されてスライ
ド移動する。一方、垂直ガイド83は、図2に示すよう
に、前記水平ガイド80と直交するように配設されてお
り、この垂直ガイド83に沿って昇降ブロック84が図
示しない駆動手段に駆動されて昇降移動する。したがっ
て、この昇降ブロック84に取り付けられたセンタリン
グユニット86は、昇降ブロック84が昇降移動するこ
とにより、加工部18A、18Bの上方を垂直に昇降移
動し、水平スライドブロック82がスライド移動するこ
とにより、加工部18A、18Bの上方を水平移動す
る。
【0036】ところで、このセンタリングユニット86
には、オリフラ付きウェーハ用のものとノッチ付きウェ
ーハ用のものとがあり、面取り加工するウェーハに応じ
てオペレータが交換して取り付ける。オリフラ付きウェ
ーハ用のセンタリングユニット86は、図4に示すよう
に、一対の挟持ローラ88、88と一対の位置決め基準
駒90、90を有しており、それぞれ図示しない駆動手
段に駆動されて互いに中心Oに向かって拡縮する。オリ
フラ付きウェーハは、この一対の挟持ローラ88、88
と一対の位置決め基準駒90、90で挟持されることに
よりセンタリングされ、また、そのオリフラに一対の位
置決め基準駒90、90が当接することにより所定位置
に位置決めされる。
には、オリフラ付きウェーハ用のものとノッチ付きウェ
ーハ用のものとがあり、面取り加工するウェーハに応じ
てオペレータが交換して取り付ける。オリフラ付きウェ
ーハ用のセンタリングユニット86は、図4に示すよう
に、一対の挟持ローラ88、88と一対の位置決め基準
駒90、90を有しており、それぞれ図示しない駆動手
段に駆動されて互いに中心Oに向かって拡縮する。オリ
フラ付きウェーハは、この一対の挟持ローラ88、88
と一対の位置決め基準駒90、90で挟持されることに
よりセンタリングされ、また、そのオリフラに一対の位
置決め基準駒90、90が当接することにより所定位置
に位置決めされる。
【0037】一方、ノッチ付きウェーハ用のセンタリン
グユニット86は、図5に示すように、一対の挟持ロー
ラ92、92と1個の位置決め基準駒94を有してお
り、それぞれ図示しない駆動手段に駆動されて互いに中
心Oに向かって拡縮する。ノッチ付きウェーハは、この
一対の挟持ローラ92、92と1個の位置決め基準駒9
4で挟持されることによりセンタリングされ、また、そ
のノッチに位置決め基準駒94が入り込むことにより所
定位置に位置決めされる。
グユニット86は、図5に示すように、一対の挟持ロー
ラ92、92と1個の位置決め基準駒94を有してお
り、それぞれ図示しない駆動手段に駆動されて互いに中
心Oに向かって拡縮する。ノッチ付きウェーハは、この
一対の挟持ローラ92、92と1個の位置決め基準駒9
4で挟持されることによりセンタリングされ、また、そ
のノッチに位置決め基準駒94が入り込むことにより所
定位置に位置決めされる。
【0038】次に、洗浄部22の構成について説明す
る。図1に示すように、洗浄部22は2つの加工部18
A、18Bに並列して配置されている。この洗浄部22
にはスピン洗浄装置96が設置されており、該スピン洗
浄装置96は洗浄テーブル98で保持したウェーハWを
回転させ、その回転するウェーハWの表面に洗浄液を噴
射することにより、ウェーハWの表面に付着した汚れを
剥離除去する。
る。図1に示すように、洗浄部22は2つの加工部18
A、18Bに並列して配置されている。この洗浄部22
にはスピン洗浄装置96が設置されており、該スピン洗
浄装置96は洗浄テーブル98で保持したウェーハWを
回転させ、その回転するウェーハWの表面に洗浄液を噴
射することにより、ウェーハWの表面に付着した汚れを
剥離除去する。
【0039】次に、ウェーハ搬送部24の構成について
説明する。ウェーハ搬送部24にはトランスファーユニ
ット100が備えられており、該トランスファーユニッ
ト100は、プリアライメント部16でプリアライメン
トされたウェーハWを位置決め部20のセンタリングユ
ニット86に搬送するとともに、各加工部18A、18
Bで面取り加工されたウェーハWを洗浄部22の洗浄テ
ーブル98上に搬送する。このトランスファーユニット
100は、図1及び図6に示すように、水平ガイド10
2と、その水平ガイド102に沿ってスライド移動する
スライドブロック104と、そのスライドブロック10
4上に設けられた供給トランスファーアーム106と、
同じくスライドブロック104上に設けられた回収トラ
ンスファーアーム108とから構成されている。
説明する。ウェーハ搬送部24にはトランスファーユニ
ット100が備えられており、該トランスファーユニッ
ト100は、プリアライメント部16でプリアライメン
トされたウェーハWを位置決め部20のセンタリングユ
ニット86に搬送するとともに、各加工部18A、18
Bで面取り加工されたウェーハWを洗浄部22の洗浄テ
ーブル98上に搬送する。このトランスファーユニット
100は、図1及び図6に示すように、水平ガイド10
2と、その水平ガイド102に沿ってスライド移動する
スライドブロック104と、そのスライドブロック10
4上に設けられた供給トランスファーアーム106と、
同じくスライドブロック104上に設けられた回収トラ
ンスファーアーム108とから構成されている。
【0040】水平ガイド102は、図1に示すように、
並列して配置された2つの加工部18A、18Bと洗浄
部22に沿って配設されており、この水平ガイド102
に沿ってスライドブロック104が図示しない駆動手段
に駆動されてスライド移動する。供給トランスファーア
ーム106は、図6に示すように、先端部にU字状のウ
ェーハ受皿110を有している。このウェーハ受皿11
0の上面部には一対の吸着パッド112、112が配設
されており、供給トランスファーアーム106は、この
吸着パッド112、112でウェーハWを保持してウェ
ーハWを搬送する。また、この供給トランスファーアー
ム106は、その基端部が第1昇降ブロック114に設
けられたアーム旋回モータ116の出力軸に固定されて
おり、このアーム旋回モータ116を駆動することによ
り旋回する。さらに、このアーム旋回モータ116が設
けられた第1昇降ブロック114は、前記スライドブロ
ック104に垂直に立設された第1支柱118にスライ
ド自在に支持されており、図示しないシリンダに駆動さ
れることにより昇降移動する。したがって、供給トラン
スファーアーム106は、この第1昇降ブロック114
が昇降移動することにより上下動する。また、スライド
ブロック104がスライド移動することにより図1中X
軸方向にスライド移動する。
並列して配置された2つの加工部18A、18Bと洗浄
部22に沿って配設されており、この水平ガイド102
に沿ってスライドブロック104が図示しない駆動手段
に駆動されてスライド移動する。供給トランスファーア
ーム106は、図6に示すように、先端部にU字状のウ
ェーハ受皿110を有している。このウェーハ受皿11
0の上面部には一対の吸着パッド112、112が配設
されており、供給トランスファーアーム106は、この
吸着パッド112、112でウェーハWを保持してウェ
ーハWを搬送する。また、この供給トランスファーアー
ム106は、その基端部が第1昇降ブロック114に設
けられたアーム旋回モータ116の出力軸に固定されて
おり、このアーム旋回モータ116を駆動することによ
り旋回する。さらに、このアーム旋回モータ116が設
けられた第1昇降ブロック114は、前記スライドブロ
ック104に垂直に立設された第1支柱118にスライ
ド自在に支持されており、図示しないシリンダに駆動さ
れることにより昇降移動する。したがって、供給トラン
スファーアーム106は、この第1昇降ブロック114
が昇降移動することにより上下動する。また、スライド
ブロック104がスライド移動することにより図1中X
軸方向にスライド移動する。
【0041】一方、回収トランスファーアーム108
は、図7に示すように、先端下部に吸着パッド120を
有している。回収トランスファーアーム108は、この
吸着パッド120でウェーハWを保持して搬送する。ま
た、この回収トランスファーアーム108は、その基端
部が第2昇降ブロック122に支持されており、該第2
昇降ブロック122は前記スライドブロック104に垂
直に立設された第2支柱124にスライド自在に支持さ
れている。この第2昇降ブロック122は、図示しない
シリンダに駆動されることにより昇降移動し、この結
果、回収トランスファーアーム108が上下動する。ま
た、回収トランスファーアーム108は、スライドブロ
ック104がスライド移動することにより、前記供給ト
ランスファーアーム106と共に図1中X軸方向にスラ
イド移動する。
は、図7に示すように、先端下部に吸着パッド120を
有している。回収トランスファーアーム108は、この
吸着パッド120でウェーハWを保持して搬送する。ま
た、この回収トランスファーアーム108は、その基端
部が第2昇降ブロック122に支持されており、該第2
昇降ブロック122は前記スライドブロック104に垂
直に立設された第2支柱124にスライド自在に支持さ
れている。この第2昇降ブロック122は、図示しない
シリンダに駆動されることにより昇降移動し、この結
果、回収トランスファーアーム108が上下動する。ま
た、回収トランスファーアーム108は、スライドブロ
ック104がスライド移動することにより、前記供給ト
ランスファーアーム106と共に図1中X軸方向にスラ
イド移動する。
【0042】以上のように構成されたトランスファーユ
ニット100は、図8に示すように、供給トランスファ
ーアーム106と回収トランスファーアーム108とが
スライドブロック104に駆動されて水平移動すること
により、『ウェーハ受取位置』、『第1センタリング受
渡位置』、『第2センタリング受渡位置』、『待機位
置』及び『洗浄テーブル受渡位置』の間を移動してウェ
ーハWを搬送する。
ニット100は、図8に示すように、供給トランスファ
ーアーム106と回収トランスファーアーム108とが
スライドブロック104に駆動されて水平移動すること
により、『ウェーハ受取位置』、『第1センタリング受
渡位置』、『第2センタリング受渡位置』、『待機位
置』及び『洗浄テーブル受渡位置』の間を移動してウェ
ーハWを搬送する。
【0043】次に、後測定部26の構成について説明す
る。後測定部26では、面取り加工されたウェーハWの
直径を測定する。この後測定部26は、図1に示すよう
にウェーハWの直径を測定する直径測定器126と、ウ
ェーハWを保持して回転及び上下動させる測定テーブル
128とから構成されており、測定テーブル128に保
持されて回転するウェーハWの直径を直径測定器126
を用いて測定する。
る。後測定部26では、面取り加工されたウェーハWの
直径を測定する。この後測定部26は、図1に示すよう
にウェーハWの直径を測定する直径測定器126と、ウ
ェーハWを保持して回転及び上下動させる測定テーブル
128とから構成されており、測定テーブル128に保
持されて回転するウェーハWの直径を直径測定器126
を用いて測定する。
【0044】なお、洗浄部22の洗浄テーブル98から
後測定部26の測定テーブル128へのウェーハWの搬
送は、次述する回収部28のウェーハ回収ロボット13
4が行う。次に、回収部28の構成について説明する。
図1に示すように、回収部28は、回収カセット130
を所定位置に位置決めする回収カセット位置決め装置1
32と、その回収カセット位置決め装置132によって
所定のウェーハ回収位置に位置決めされた回収カセット
130にウェーハWを収納するウェーハ回収ロボット1
34から構成されている。
後測定部26の測定テーブル128へのウェーハWの搬
送は、次述する回収部28のウェーハ回収ロボット13
4が行う。次に、回収部28の構成について説明する。
図1に示すように、回収部28は、回収カセット130
を所定位置に位置決めする回収カセット位置決め装置1
32と、その回収カセット位置決め装置132によって
所定のウェーハ回収位置に位置決めされた回収カセット
130にウェーハWを収納するウェーハ回収ロボット1
34から構成されている。
【0045】回収カセット位置決め装置132は、6台
の回収カセットテーブル136、136…を有してい
る。この6台の回収カセットテーブル136、136、
…は、装置本体12の右側部に直列して配置されてい
る。回収カセット130、130…は、この6台の回収
カセットテーブル136、136、…上にセットされる
ことにより、所定位置に位置決めされる。一方、ウェー
ハ回収ロボット134は、先端下部に一対の吸着パッド
を備えたアーム138を有している。このアーム138
はターンテーブル140上に敷設されたガイド142に
沿って前後移動するとともに、ターンテーブル140が
回転することにより旋回する。また、ターンテーブル1
40がスライド移動することにより、6台の回収カセッ
トテーブル136、136、…に沿ってスライド移動
し、ターンテーブル140が上下動することにより上下
動する。
の回収カセットテーブル136、136…を有してい
る。この6台の回収カセットテーブル136、136、
…は、装置本体12の右側部に直列して配置されてい
る。回収カセット130、130…は、この6台の回収
カセットテーブル136、136、…上にセットされる
ことにより、所定位置に位置決めされる。一方、ウェー
ハ回収ロボット134は、先端下部に一対の吸着パッド
を備えたアーム138を有している。このアーム138
はターンテーブル140上に敷設されたガイド142に
沿って前後移動するとともに、ターンテーブル140が
回転することにより旋回する。また、ターンテーブル1
40がスライド移動することにより、6台の回収カセッ
トテーブル136、136、…に沿ってスライド移動
し、ターンテーブル140が上下動することにより上下
動する。
【0046】以上のように構成された回収部28では、
次のようにしてウェーハWの回収を行う。まず、ターン
テーブル140がスライド移動して、後測定部26の測
定テーブル162の前方で停止する。次に、アーム13
8が前進して測定テーブル162に保持されているウェ
ーハWの下側位置に位置する。次に、測定テーブル16
2が下降し、ウェーハWがアーム138に受け渡され
る。次に、アーム138が後退し、180°旋回する。
次に、ターンテーブル140がスライド移動して所定の
回収カセット130の前方で停止する。次に、ターンテ
ーブル140が所定距離上昇して、アーム138がウェ
ーハWの収納位置に移動する。次に、アーム138が前
進して回収カセット130内にウェーハWを収納し、ウ
ェーハWの吸着を解除する。次に、アーム138が後退
する。そして、ターンテーブル140が所定距離下降す
ることにより、アーム138が元の高さの位置に復帰す
る。これにより、ウェーハWの回収が終了する。
次のようにしてウェーハWの回収を行う。まず、ターン
テーブル140がスライド移動して、後測定部26の測
定テーブル162の前方で停止する。次に、アーム13
8が前進して測定テーブル162に保持されているウェ
ーハWの下側位置に位置する。次に、測定テーブル16
2が下降し、ウェーハWがアーム138に受け渡され
る。次に、アーム138が後退し、180°旋回する。
次に、ターンテーブル140がスライド移動して所定の
回収カセット130の前方で停止する。次に、ターンテ
ーブル140が所定距離上昇して、アーム138がウェ
ーハWの収納位置に移動する。次に、アーム138が前
進して回収カセット130内にウェーハWを収納し、ウ
ェーハWの吸着を解除する。次に、アーム138が後退
する。そして、ターンテーブル140が所定距離下降す
ることにより、アーム138が元の高さの位置に復帰す
る。これにより、ウェーハWの回収が終了する。
【0047】なお、ウェーハWの回収はカセット単位で
行われ、一つの回収カセット130が満杯になると、ウ
ェーハWは次の回収カセット130に回収される。前記
のごとく構成された本実施の形態のウェーハ面取り装置
10の作用は次の通りである。なお、以下の説明では、
必要に応じて図1中左側の加工部18Aを『第1加工部
18A』といい、右側の加工部18Bを『第2加工部1
8B』という。
行われ、一つの回収カセット130が満杯になると、ウ
ェーハWは次の回収カセット130に回収される。前記
のごとく構成された本実施の形態のウェーハ面取り装置
10の作用は次の通りである。なお、以下の説明では、
必要に応じて図1中左側の加工部18Aを『第1加工部
18A』といい、右側の加工部18Bを『第2加工部1
8B』という。
【0048】図1に示すように、まず、6つある供給カ
セット30、30、…のうち1つの供給カセットから1
枚のウェーハWがウェーハ供給ロボット34によって取
り出される。取り出されたウェーハWは、ウェーハ供給
ロボット34によってプリアライメント部16のウェー
ハ搬送ロボット42に受け渡される。ウェーハWを受け
取ったウェーハ搬送ロボット42は、そのウェーハWを
プリアライメント装置44に搬送する。一方、ウェーハ
Wを受け渡したウェーハ供給ロボット34は、次に処理
するウェーハWを供給カセット30から取り出し、所定
のウェーハ受渡位置(図1で実線で示す位置)で待機し
ている。
セット30、30、…のうち1つの供給カセットから1
枚のウェーハWがウェーハ供給ロボット34によって取
り出される。取り出されたウェーハWは、ウェーハ供給
ロボット34によってプリアライメント部16のウェー
ハ搬送ロボット42に受け渡される。ウェーハWを受け
取ったウェーハ搬送ロボット42は、そのウェーハWを
プリアライメント装置44に搬送する。一方、ウェーハ
Wを受け渡したウェーハ供給ロボット34は、次に処理
するウェーハWを供給カセット30から取り出し、所定
のウェーハ受渡位置(図1で実線で示す位置)で待機し
ている。
【0049】プリアライメント装置44は、ウェーハ搬
送ロボット42から受け渡されたウェーハWの厚さ測定
とプリアライメントを行う。このプリアライメント装置
44で厚さ測定とプリアライメントが終了すると、図8
に示すように、供給トランスファーアーム106と回収
トランスファーアーム108がウェーハ受取位置(図8
に実線で示す位置)に移動する。そして、供給トランス
ファーアーム106がプリアライメント装置44の測定
テーブル54からプリアライメントされたウェーハWを
受け取る。
送ロボット42から受け渡されたウェーハWの厚さ測定
とプリアライメントを行う。このプリアライメント装置
44で厚さ測定とプリアライメントが終了すると、図8
に示すように、供給トランスファーアーム106と回収
トランスファーアーム108がウェーハ受取位置(図8
に実線で示す位置)に移動する。そして、供給トランス
ファーアーム106がプリアライメント装置44の測定
テーブル54からプリアライメントされたウェーハWを
受け取る。
【0050】ここで、供給トランスファーアーム106
は、次のようにして測定テーブル54からウェーハWを
受け取る。図8に示すように、供給トランスファーアー
ム106と回収トランスファーアーム108がウェーハ
受取位置に移動すると、供給トランスファーアーム10
6が時計回りの方向に約90°旋回する。この結果、同
図に二点破線で示すように、供給トランスファーアーム
106のウェーハ受皿110が測定テーブル54に保持
されているウェーハWの下側位置に位置する。
は、次のようにして測定テーブル54からウェーハWを
受け取る。図8に示すように、供給トランスファーアー
ム106と回収トランスファーアーム108がウェーハ
受取位置に移動すると、供給トランスファーアーム10
6が時計回りの方向に約90°旋回する。この結果、同
図に二点破線で示すように、供給トランスファーアーム
106のウェーハ受皿110が測定テーブル54に保持
されているウェーハWの下側位置に位置する。
【0051】次に、供給トランスファーアーム106が
所定距離上昇する。これにより、ウェーハ受皿110に
設けられている吸着パッド112、112がウェーハW
の下面に当接するので、吸着パッド112、112は、
そのウェーハWを吸着保持する。次に、測定テーブル5
4がウェーハWの吸着を解除して、所定距離下降する。
これにより、測定テーブル54から供給トランスファー
アーム106にウェーハWが受け渡される。供給トラン
スファーアーム106は、ウェーハWを受け取ると、反
時計回りの方向に約90°旋回してウェーハ受取位置に
復帰し、その後、所定距離下降する。
所定距離上昇する。これにより、ウェーハ受皿110に
設けられている吸着パッド112、112がウェーハW
の下面に当接するので、吸着パッド112、112は、
そのウェーハWを吸着保持する。次に、測定テーブル5
4がウェーハWの吸着を解除して、所定距離下降する。
これにより、測定テーブル54から供給トランスファー
アーム106にウェーハWが受け渡される。供給トラン
スファーアーム106は、ウェーハWを受け取ると、反
時計回りの方向に約90°旋回してウェーハ受取位置に
復帰し、その後、所定距離下降する。
【0052】これにより、ウェーハWの受け渡しが完了
する。なお、供給トランスファーアーム106にウェー
ハWが受け取られると、次に処理するウェーハWがウェ
ーハ搬送ロボット42によってプリアライメント装置4
4に搬送され、プリアライメント装置44は、その搬送
されたウェーハWの厚さ測定とプリアライメントを予め
行っておく。
する。なお、供給トランスファーアーム106にウェー
ハWが受け取られると、次に処理するウェーハWがウェ
ーハ搬送ロボット42によってプリアライメント装置4
4に搬送され、プリアライメント装置44は、その搬送
されたウェーハWの厚さ測定とプリアライメントを予め
行っておく。
【0053】供給トランスファーアーム106がウェー
ハを受け取ると、供給トランスファーアーム106と回
収トランスファーアーム108が、図8に示す第1セン
タリング受渡位置に移動する。この第1センタリング受
渡位置の上方には予めセンタリングユニット86が待機
しており、下方には第1加工部18Aのチャックテーブ
ル66Aが待機している。供給トランスファーアーム1
06は、所定距離上昇してセンタリングユニット86に
ウェーハWを受け渡す。
ハを受け取ると、供給トランスファーアーム106と回
収トランスファーアーム108が、図8に示す第1セン
タリング受渡位置に移動する。この第1センタリング受
渡位置の上方には予めセンタリングユニット86が待機
しており、下方には第1加工部18Aのチャックテーブ
ル66Aが待機している。供給トランスファーアーム1
06は、所定距離上昇してセンタリングユニット86に
ウェーハWを受け渡す。
【0054】ここで、センタリングユニット86は、そ
のウェーハWを受け取る過程でウェーハWのセンタリン
グと位置決めを行う。すなわち、オリフラ付きウェーハ
Wの場合は、一対の挟持ローラ88、88と一対の位置
決め基準駒90、90でウェーハWを挟持して受け取る
ことにより、そのウェーハWをセンタリングする。そし
て、一対の位置決め基準駒90、90をオリフラに当接
させることにより、そのウェーハWを所定の位置に位置
決めする(オリフラを所定の方向に位置させる)。
のウェーハWを受け取る過程でウェーハWのセンタリン
グと位置決めを行う。すなわち、オリフラ付きウェーハ
Wの場合は、一対の挟持ローラ88、88と一対の位置
決め基準駒90、90でウェーハWを挟持して受け取る
ことにより、そのウェーハWをセンタリングする。そし
て、一対の位置決め基準駒90、90をオリフラに当接
させることにより、そのウェーハWを所定の位置に位置
決めする(オリフラを所定の方向に位置させる)。
【0055】一方、ノッチ付きウェーハWの場合は、一
対の挟持ローラ92、92と1個の位置決め基準駒94
でウェーハWを挟持して受け取ることにより、そのウェ
ーハWをセンタリングする。そして、位置決め基準駒9
4をノッチに嵌め込むことにより、そのウェーハWを所
定の位置に位置決めする(ノッチを所定の方向に位置さ
せる。)。
対の挟持ローラ92、92と1個の位置決め基準駒94
でウェーハWを挟持して受け取ることにより、そのウェ
ーハWをセンタリングする。そして、位置決め基準駒9
4をノッチに嵌め込むことにより、そのウェーハWを所
定の位置に位置決めする(ノッチを所定の方向に位置さ
せる。)。
【0056】なお、供給トランスファーアーム106か
らセンタリングユニット86に受け渡されるウェーハW
は、プリアライメント部16において予めプリアライメ
ントされているので、供給トランスファーアーム106
から受け渡されたウェーハWをそのまま挟持すれば、オ
リフラ付きウェーハWの場合は一対の位置決め基準駒1
50、150が自動的にオリフラ部に当接し、ノッチ付
きウェーハWの場合は位置決め基準駒154が自動的に
ノッチに嵌まり込む。
らセンタリングユニット86に受け渡されるウェーハW
は、プリアライメント部16において予めプリアライメ
ントされているので、供給トランスファーアーム106
から受け渡されたウェーハWをそのまま挟持すれば、オ
リフラ付きウェーハWの場合は一対の位置決め基準駒1
50、150が自動的にオリフラ部に当接し、ノッチ付
きウェーハWの場合は位置決め基準駒154が自動的に
ノッチに嵌まり込む。
【0057】センタリング装置146がウェーハWを受
け取ると、供給トランスファーアーム106は所定距離
下降して元の位置に復帰する。そして、回収トランスフ
ァーアーム108と共に待機位置に移動する。一方、セ
ンタリングユニット86は、供給トランスファーアーム
106と回収トランスファーアーム108が待機位置に
移動した後に所定距離下降して第1加工部18Aのチャ
ックテーブル66A上にウェーハWを載置する。
け取ると、供給トランスファーアーム106は所定距離
下降して元の位置に復帰する。そして、回収トランスフ
ァーアーム108と共に待機位置に移動する。一方、セ
ンタリングユニット86は、供給トランスファーアーム
106と回収トランスファーアーム108が待機位置に
移動した後に所定距離下降して第1加工部18Aのチャ
ックテーブル66A上にウェーハWを載置する。
【0058】ウェーハWをチャックテーブル66A上に
載置したセンタリングユニット86は、再び所定距離上
昇してウェーハWを受け取った位置に復帰する。そし
て、水平方向に所定距離移動して第2センタリング受渡
位置の上方に移動する。一方、第1加工部18Aはセン
タリングユニット86が上昇した後に、その受け渡され
たウェーハWの面取り加工を開始する。
載置したセンタリングユニット86は、再び所定距離上
昇してウェーハWを受け取った位置に復帰する。そし
て、水平方向に所定距離移動して第2センタリング受渡
位置の上方に移動する。一方、第1加工部18Aはセン
タリングユニット86が上昇した後に、その受け渡され
たウェーハWの面取り加工を開始する。
【0059】第1加工部18AによるウェーハWの面取
り加工が開始すると、供給トランスファーアーム106
と回収トランスファーアーム108は、再びウェーハ受
取位置に移動する。そして、プリアライメント装置44
から既にプリアライメント済みのウェーハWを供給トラ
ンスファーアーム106が受け取る。供給トランスファ
ーアーム106がウェーハWを受け取ると、供給トラン
スファーアーム106は回収トランスファーアーム10
8と共に第2センタリング受渡位置に移動する。この第
2センタリング受渡位置の上方には前述したように予め
センタリングユニット86が移動して待機しており、下
方には第2加工部18Bのチャックテーブル66Bが待
機している。
り加工が開始すると、供給トランスファーアーム106
と回収トランスファーアーム108は、再びウェーハ受
取位置に移動する。そして、プリアライメント装置44
から既にプリアライメント済みのウェーハWを供給トラ
ンスファーアーム106が受け取る。供給トランスファ
ーアーム106がウェーハWを受け取ると、供給トラン
スファーアーム106は回収トランスファーアーム10
8と共に第2センタリング受渡位置に移動する。この第
2センタリング受渡位置の上方には前述したように予め
センタリングユニット86が移動して待機しており、下
方には第2加工部18Bのチャックテーブル66Bが待
機している。
【0060】供給トランスファーアーム106は、前記
と同様に所定距離上昇してセンタリングユニット86に
ウェーハWを受け渡し、センタリングユニット86は、
そのウェーハWを受け取る過程でウェーハWのセンタリ
ングと位置決めを行う。供給トランスファーアーム10
6がセンタリングユニット86にウェーハWを受け渡す
と、供給トランスファーアーム106は所定距離下降す
る。そして、回収トランスファーアーム108と共に再
び待機位置に移動する。
と同様に所定距離上昇してセンタリングユニット86に
ウェーハWを受け渡し、センタリングユニット86は、
そのウェーハWを受け取る過程でウェーハWのセンタリ
ングと位置決めを行う。供給トランスファーアーム10
6がセンタリングユニット86にウェーハWを受け渡す
と、供給トランスファーアーム106は所定距離下降す
る。そして、回収トランスファーアーム108と共に再
び待機位置に移動する。
【0061】一方、供給トランスファーアーム106か
らウェーハWが受け渡されたセンタリングユニット86
は、供給トランスファーアーム106と回収トランスフ
ァーアーム108が待機位置に移動した後、所定距離下
降して第2加工部18Bのチャックテーブル66A上に
ウェーハWを載置する。そして、所定距離上昇してウェ
ーハWを受け取った位置に復帰する。センタリングユニ
ット86は、上昇後、再び水平方向に移動して第1セン
タリング受渡位置の上方に移動する。
らウェーハWが受け渡されたセンタリングユニット86
は、供給トランスファーアーム106と回収トランスフ
ァーアーム108が待機位置に移動した後、所定距離下
降して第2加工部18Bのチャックテーブル66A上に
ウェーハWを載置する。そして、所定距離上昇してウェ
ーハWを受け取った位置に復帰する。センタリングユニ
ット86は、上昇後、再び水平方向に移動して第1セン
タリング受渡位置の上方に移動する。
【0062】ウェーハWが受け渡された第2加工部18
Bは、センタリングユニット86が上昇した後、その受
け渡されたウェーハWの面取り加工を開始する。以上の
工程で、2台の加工部18A、18Bにそれぞれウェー
ハWが供給され、ウェーハWの面取り加工が2ヵ所で行
われるようになる。前記第1加工部18Aと第2加工部
18BでウェーハWの面取り加工が実施されている間に
供給トランスファーアーム106と回収トランスファー
アーム108がウェーハ受取位置に移動する。そして、
プリアライメント装置44から既にプリアライメントが
されているウェーハWを供給トランスファーアーム10
6が受け取る。
Bは、センタリングユニット86が上昇した後、その受
け渡されたウェーハWの面取り加工を開始する。以上の
工程で、2台の加工部18A、18Bにそれぞれウェー
ハWが供給され、ウェーハWの面取り加工が2ヵ所で行
われるようになる。前記第1加工部18Aと第2加工部
18BでウェーハWの面取り加工が実施されている間に
供給トランスファーアーム106と回収トランスファー
アーム108がウェーハ受取位置に移動する。そして、
プリアライメント装置44から既にプリアライメントが
されているウェーハWを供給トランスファーアーム10
6が受け取る。
【0063】供給トランスファーアーム106がウェー
ハWを受け取ると、供給トランスファーアーム106と
回収トランスファーアーム108は、第1センタリング
受渡位置に移動して待機している。また、この第1セン
タリング受渡位置の上方には予めセンタリングユニット
86が待機している。前記第1加工部18Aでウェーハ
Wの面取り加工が開始されてから所定時間が経過する
と、その第1加工部18AでウェーハWの面取り加工が
終了する。このウェーハWの面取り加工が終了すると、
第1加工部18Aのチャックテーブル66Aは第1セン
タリング受渡位置の下方位置に移動する。
ハWを受け取ると、供給トランスファーアーム106と
回収トランスファーアーム108は、第1センタリング
受渡位置に移動して待機している。また、この第1セン
タリング受渡位置の上方には予めセンタリングユニット
86が待機している。前記第1加工部18Aでウェーハ
Wの面取り加工が開始されてから所定時間が経過する
と、その第1加工部18AでウェーハWの面取り加工が
終了する。このウェーハWの面取り加工が終了すると、
第1加工部18Aのチャックテーブル66Aは第1セン
タリング受渡位置の下方位置に移動する。
【0064】前記チャックテーブル66Aが第1センタ
リング受渡位置の下方位置に移動すると、予め第1セン
タリング受渡位置に待機していた供給トランスファーア
ーム106が、所定距離上昇してセンタリングユニット
86にウェーハWを受け渡す。これと同時に、回収トラ
ンスファーアーム108が所定距離下降して、チャック
テーブル66Aに保持されている面取り加工済のウェー
ハWを受け取る。供給トランスファーアーム106は、
センタリングユニット86にウェーハWを受け渡したの
ち、所定距離下降して元の位置に復帰する。また、回収
トランスファーアーム108もチャックテーブル66A
に保持されているウェーハWを吸着パッド120で吸着
保持したのち、所定距離上昇して元の位置に復帰する。
リング受渡位置の下方位置に移動すると、予め第1セン
タリング受渡位置に待機していた供給トランスファーア
ーム106が、所定距離上昇してセンタリングユニット
86にウェーハWを受け渡す。これと同時に、回収トラ
ンスファーアーム108が所定距離下降して、チャック
テーブル66Aに保持されている面取り加工済のウェー
ハWを受け取る。供給トランスファーアーム106は、
センタリングユニット86にウェーハWを受け渡したの
ち、所定距離下降して元の位置に復帰する。また、回収
トランスファーアーム108もチャックテーブル66A
に保持されているウェーハWを吸着パッド120で吸着
保持したのち、所定距離上昇して元の位置に復帰する。
【0065】供給トランスファーアーム106と回収ト
ランスファーアーム108は、この後、水平方向にスラ
イド移動して図8に示す洗浄テーブル受渡位置に移動す
る。そして、供給トランスファーアーム106と回収ト
ランスファーアーム108が洗浄テーブル受渡位置に位
置すると、回収トランスファーアーム108が所定距離
下降して、スピン洗浄装置96の洗浄テーブル98にウ
ェーハWを受け渡す。ウェーハWを受け渡した回収トラ
ンスファーアーム108は、所定距離上昇し、供給トラ
ンスファーアーム106と共に待機位置に移動する。ス
ピン洗浄装置96は、この回収トランスファーアーム1
08の上昇後、受け取ったウェーハWをスピン洗浄によ
り洗浄する。
ランスファーアーム108は、この後、水平方向にスラ
イド移動して図8に示す洗浄テーブル受渡位置に移動す
る。そして、供給トランスファーアーム106と回収ト
ランスファーアーム108が洗浄テーブル受渡位置に位
置すると、回収トランスファーアーム108が所定距離
下降して、スピン洗浄装置96の洗浄テーブル98にウ
ェーハWを受け渡す。ウェーハWを受け渡した回収トラ
ンスファーアーム108は、所定距離上昇し、供給トラ
ンスファーアーム106と共に待機位置に移動する。ス
ピン洗浄装置96は、この回収トランスファーアーム1
08の上昇後、受け取ったウェーハWをスピン洗浄によ
り洗浄する。
【0066】一方、供給トランスファーアーム106か
らウェーハWを受け取ったセンタリングユニット86
は、供給トランスファーアーム106と回収トランスフ
ァーアーム108が洗浄テーブル受渡位置に向かって移
動した後、所定距離下降して第1加工部18Aのチャッ
クテーブル66A上にウェーハWを載置する。そして、
センタリングユニット86は、再び所定距離上昇してウ
ェーハWを受け取った位置に移動し、その後、水平方向
に移動して第2センタリング受渡位置の上方に移動す
る。
らウェーハWを受け取ったセンタリングユニット86
は、供給トランスファーアーム106と回収トランスフ
ァーアーム108が洗浄テーブル受渡位置に向かって移
動した後、所定距離下降して第1加工部18Aのチャッ
クテーブル66A上にウェーハWを載置する。そして、
センタリングユニット86は、再び所定距離上昇してウ
ェーハWを受け取った位置に移動し、その後、水平方向
に移動して第2センタリング受渡位置の上方に移動す
る。
【0067】一方、ウェーハWが受け渡された第1加工
部18Aは、センタリングユニット86の上昇後、その
受け渡されたウェーハWを面取り加工を開始する。この
ように、各加工部18A、18Bでは、二枚目のウェー
ハWからウェーハWの供給と回収が同時に行われる。ス
ピン洗浄装置96に供給されたウェーハWの洗浄が終了
すると、回収部28のウェーハ回収ロボット134がス
ピン洗浄装置96の洗浄テーブル98から後測定部26
の測定テーブル162上にウェーハWを移送する。後測
定部26は、その測定テーブル162上に移送されたウ
ェーハWの直径を直径測定器126によって測定する。
そして、その後測定部26で直径の測定が終了すると、
ウェーハ回収ロボット134が測定テーブル162から
ウェーハWを回収し、そのまま回収カセット130に収
納する。
部18Aは、センタリングユニット86の上昇後、その
受け渡されたウェーハWを面取り加工を開始する。この
ように、各加工部18A、18Bでは、二枚目のウェー
ハWからウェーハWの供給と回収が同時に行われる。ス
ピン洗浄装置96に供給されたウェーハWの洗浄が終了
すると、回収部28のウェーハ回収ロボット134がス
ピン洗浄装置96の洗浄テーブル98から後測定部26
の測定テーブル162上にウェーハWを移送する。後測
定部26は、その測定テーブル162上に移送されたウ
ェーハWの直径を直径測定器126によって測定する。
そして、その後測定部26で直径の測定が終了すると、
ウェーハ回収ロボット134が測定テーブル162から
ウェーハWを回収し、そのまま回収カセット130に収
納する。
【0068】以上の一連の工程で一枚のウェーハWの供
給から前測定、面取り加工、洗浄、後測定、回収までの
作業が終了する。同様の作業を供給カセット30、3
0、…に収納されている全てのウェーハWに対して行
う。そして、全てのウェーハWが回収カセット130に
回収されたところでウェーハ面取り装置10による面取
り作業が終了する。
給から前測定、面取り加工、洗浄、後測定、回収までの
作業が終了する。同様の作業を供給カセット30、3
0、…に収納されている全てのウェーハWに対して行
う。そして、全てのウェーハWが回収カセット130に
回収されたところでウェーハ面取り装置10による面取
り作業が終了する。
【0069】このように、本実施の形態のウェーハ面取
り装置10によれば、加工部18A、18Bへのウェー
ハWの供給と回収が同時にできるため、ウェーハWを効
率よく処理できるようになり、スループットが向上す
る。なお、本実施の形態のウェーハ面取り装置10で
は、ウェーハWの供給と回収をそれぞれ別々のトランス
ファーアームで行うようにしているが、1本のトランス
ファーアームを共用するようにしてもよい。すなわち、
図9に示すように、上述した供給トランスファーアーム
106の先端にU字状のウェーハ受皿110を設置し、
その上面と下面にそれぞれ一対のパッド180A、18
0Bを設け、上側のパッド180Aで供給用のウェーハ
Wを保持し、下側のパッド180Bで回収用のウェーハ
Wを保持するようにする。これによっても、上述した実
施の形態のようにウェーハWの供給と回収を同時に行う
ことができる。
り装置10によれば、加工部18A、18Bへのウェー
ハWの供給と回収が同時にできるため、ウェーハWを効
率よく処理できるようになり、スループットが向上す
る。なお、本実施の形態のウェーハ面取り装置10で
は、ウェーハWの供給と回収をそれぞれ別々のトランス
ファーアームで行うようにしているが、1本のトランス
ファーアームを共用するようにしてもよい。すなわち、
図9に示すように、上述した供給トランスファーアーム
106の先端にU字状のウェーハ受皿110を設置し、
その上面と下面にそれぞれ一対のパッド180A、18
0Bを設け、上側のパッド180Aで供給用のウェーハ
Wを保持し、下側のパッド180Bで回収用のウェーハ
Wを保持するようにする。これによっても、上述した実
施の形態のようにウェーハWの供給と回収を同時に行う
ことができる。
【0070】また、本実施の形態のウェーハ面取り装置
10では、供給トランスファーアーム106と回収トラ
ンスファーアーム108が、同一のスライドブロック1
04上に設置されているが、図10に示すように、供給
トランスファーアーム106と回収トランスファーアー
ム108とを各々別々のスライドブロック104A、1
04B上に設置し、独立して移動できるように構成して
もよい。ただし、このように独立して移動できるように
構成した場合であっても、上述した実施の形態のよう
に、回収パッド120は供給パッド112の下側に位置
するように構成する。
10では、供給トランスファーアーム106と回収トラ
ンスファーアーム108が、同一のスライドブロック1
04上に設置されているが、図10に示すように、供給
トランスファーアーム106と回収トランスファーアー
ム108とを各々別々のスライドブロック104A、1
04B上に設置し、独立して移動できるように構成して
もよい。ただし、このように独立して移動できるように
構成した場合であっても、上述した実施の形態のよう
に、回収パッド120は供給パッド112の下側に位置
するように構成する。
【0071】なお、図10に示すように、供給トランス
ファーアーム106と回収トランスファーアーム108
が独立して移動できる機構の場合、次のような効果があ
る。すなわち、上述した実施の形態の場合、たとえば、
加工部18A、18Bで回収したウェーハWを回収トラ
ンスファーアーム108で洗浄部22に搬送すると、同
時に供給トランスファーアーム106も洗浄部22に移
動しなければならないが、本案のように、供給トランス
ファーアーム106と回収トランスファーアーム108
が独立して移動できる機構の場合、回収トランスファー
アーム108のみを移動させることができる。したがっ
て、この回収トランスファーアーム108で加工後のウ
ェーハWを洗浄部22に搬送している間に、供給トラン
スファーアーム106で面取り加工するウェーハWをプ
リアライメント部16から搬送するようにすれば、処理
時間の短縮化を図ることができ、更なるスループットの
向上を図ることができる。
ファーアーム106と回収トランスファーアーム108
が独立して移動できる機構の場合、次のような効果があ
る。すなわち、上述した実施の形態の場合、たとえば、
加工部18A、18Bで回収したウェーハWを回収トラ
ンスファーアーム108で洗浄部22に搬送すると、同
時に供給トランスファーアーム106も洗浄部22に移
動しなければならないが、本案のように、供給トランス
ファーアーム106と回収トランスファーアーム108
が独立して移動できる機構の場合、回収トランスファー
アーム108のみを移動させることができる。したがっ
て、この回収トランスファーアーム108で加工後のウ
ェーハWを洗浄部22に搬送している間に、供給トラン
スファーアーム106で面取り加工するウェーハWをプ
リアライメント部16から搬送するようにすれば、処理
時間の短縮化を図ることができ、更なるスループットの
向上を図ることができる。
【0072】なお、本例の場合、各スライドブロック1
04A、104Bは、同一の水平ガイド上を移動するよ
うにしてもよいし、また、別々の水平ガイド上を移動す
るようにしてもよい。また、本実施の形態のウェーハ面
取り装置10では、供給トランスファーアーム106と
回収トランスファーアーム108を上下動させることに
より、各々の先端に設けられているパッド(供給パッド
112及び回収パッド120)を上下動させるように構
成しているが、トランスファーアームは固定し、パッド
をシリンダ等で個別に上下動させるようにしてもよい。
04A、104Bは、同一の水平ガイド上を移動するよ
うにしてもよいし、また、別々の水平ガイド上を移動す
るようにしてもよい。また、本実施の形態のウェーハ面
取り装置10では、供給トランスファーアーム106と
回収トランスファーアーム108を上下動させることに
より、各々の先端に設けられているパッド(供給パッド
112及び回収パッド120)を上下動させるように構
成しているが、トランスファーアームは固定し、パッド
をシリンダ等で個別に上下動させるようにしてもよい。
【0073】また、本実施の形態のウェーハ面取り装置
10では、供給部14及び回収部28を除く本体部を横
方向に複数個連結することが可能であり、これにより、
多数枚のウェーハWを一括して処理できる構成のウェー
ハ面取り装置を構築することができる。図11は、本発
明に係るウェーハ面取り装置の第2の実施の形態の構成
を示す平面図である。
10では、供給部14及び回収部28を除く本体部を横
方向に複数個連結することが可能であり、これにより、
多数枚のウェーハWを一括して処理できる構成のウェー
ハ面取り装置を構築することができる。図11は、本発
明に係るウェーハ面取り装置の第2の実施の形態の構成
を示す平面図である。
【0074】上述した第1の実施の形態のウェーハ面取
り装置10では、面取り加工するウェーハWは供給部1
4から供給され、加工後のウェーハWは回収部28で回
収するように構成されていた。第2の実施の形態のウェ
ーハ面取り装置200では、そのウェーハWの供給と回
収を同一箇所で行うように構成されている。具体的な構
成は以下の通りである。
り装置10では、面取り加工するウェーハWは供給部1
4から供給され、加工後のウェーハWは回収部28で回
収するように構成されていた。第2の実施の形態のウェ
ーハ面取り装置200では、そのウェーハWの供給と回
収を同一箇所で行うように構成されている。具体的な構
成は以下の通りである。
【0075】図11に示すように、第2の実施の形態の
ウェーハ面取り装置200は、主として、供給回収部2
02、プリアライメント部204、加工部206A、2
06B、位置決め部208、洗浄部210及びウェーハ
搬送部212から構成されている。各部の基本的な構成
は、上述した第1の実施の形態のウェーハ面取り装置1
0と同じである。ただし、洗浄部22の構成が多少異な
っている。
ウェーハ面取り装置200は、主として、供給回収部2
02、プリアライメント部204、加工部206A、2
06B、位置決め部208、洗浄部210及びウェーハ
搬送部212から構成されている。各部の基本的な構成
は、上述した第1の実施の形態のウェーハ面取り装置1
0と同じである。ただし、洗浄部22の構成が多少異な
っている。
【0076】上述した第1の実施の形態の洗浄部22に
はスピン洗浄装置96のみが設置されていたが、第2の
実施の形態の洗浄部210には、スピン洗浄装置96と
ウェーハ昇降装置214が設置されている。このウェー
ハ昇降装置214は、昇降自在なアーム216を有して
おり、このアーム216の先端下部に備えられたパッド
218でウェーハWを保持して、洗浄後のウェーハWを
所定高さの位置まで搬送する。
はスピン洗浄装置96のみが設置されていたが、第2の
実施の形態の洗浄部210には、スピン洗浄装置96と
ウェーハ昇降装置214が設置されている。このウェー
ハ昇降装置214は、昇降自在なアーム216を有して
おり、このアーム216の先端下部に備えられたパッド
218でウェーハWを保持して、洗浄後のウェーハWを
所定高さの位置まで搬送する。
【0077】なお、供給回収部202の構成は、上述し
た第1の実施の形態の供給部14と同じである。また、
上述した第1の実施の形態のウェーハ面取り装置10と
同一又は類似の部材には同一番号を付して、その説明は
省略する。前記のごとく構成された第2の実施の形態の
ウェーハ面取り装置200の作用は次の通りである。
た第1の実施の形態の供給部14と同じである。また、
上述した第1の実施の形態のウェーハ面取り装置10と
同一又は類似の部材には同一番号を付して、その説明は
省略する。前記のごとく構成された第2の実施の形態の
ウェーハ面取り装置200の作用は次の通りである。
【0078】なお、ウェーハWを面取り加工して洗浄す
るまでの工程は、上述した第1の実施の形態のウェーハ
面取り装置10と同じであるので、ここでは、洗浄され
たウェーハWが供給回収部202に回収されるまでの工
程について説明する。ウェーハ昇降装置214のアーム
218は、通常、スピン洗浄装置96の洗浄テーブル9
8から所定距離上方の位置(アーム待機位置)に位置し
ている。
るまでの工程は、上述した第1の実施の形態のウェーハ
面取り装置10と同じであるので、ここでは、洗浄され
たウェーハWが供給回収部202に回収されるまでの工
程について説明する。ウェーハ昇降装置214のアーム
218は、通常、スピン洗浄装置96の洗浄テーブル9
8から所定距離上方の位置(アーム待機位置)に位置し
ている。
【0079】洗浄部210のスピン洗浄装置96でウェ
ーハWの洗浄が終了すると、ウェーハ昇降装置214の
アーム216が所定量下降する。そして、先端に設けら
れたパッド218で洗浄後のウェーハWを吸着保持す
る。ウェーハWを保持したアーム216は、再び上昇し
元のアーム待機位置に復帰する。一方、スピン洗浄装置
96がウェーハWを洗浄している間に上述した第1の実
施の形態と同様に、供給トランスファーアーム106が
センタリングユニット86にウェーハWを受け渡し、回
収トランスファーアーム108がチャックテーブル66
A又は66BよりウェーハWを受け取る。
ーハWの洗浄が終了すると、ウェーハ昇降装置214の
アーム216が所定量下降する。そして、先端に設けら
れたパッド218で洗浄後のウェーハWを吸着保持す
る。ウェーハWを保持したアーム216は、再び上昇し
元のアーム待機位置に復帰する。一方、スピン洗浄装置
96がウェーハWを洗浄している間に上述した第1の実
施の形態と同様に、供給トランスファーアーム106が
センタリングユニット86にウェーハWを受け渡し、回
収トランスファーアーム108がチャックテーブル66
A又は66BよりウェーハWを受け取る。
【0080】ウェーハ昇降装置214のアーム216が
アーム待機位置に復帰すると、供給トランスファーアー
ム106と回収トランスファーアーム108が洗浄テー
ブル受渡位置に移動する。これにより、供給トランスフ
ァーアーム106のウェーハ受皿110が、ウェーハ昇
降装置214のアーム216に保持されたウェーハWの
下部に位置する。
アーム待機位置に復帰すると、供給トランスファーアー
ム106と回収トランスファーアーム108が洗浄テー
ブル受渡位置に移動する。これにより、供給トランスフ
ァーアーム106のウェーハ受皿110が、ウェーハ昇
降装置214のアーム216に保持されたウェーハWの
下部に位置する。
【0081】次に、回収トランスファーアーム108が
所定量下降してスピン洗浄装置96の洗浄テーブル98
にウェーハWを受け渡すと同時に供給トランスファーア
ーム106が所定量上昇し、ウェーハ昇降装置214の
アーム216からウェーハWを受け取る。ウェーハWを
受け取った供給トランスファーアーム106は所定量下
降し、回収トランスファーアーム108と共にウェーハ
受取位置に移動する。
所定量下降してスピン洗浄装置96の洗浄テーブル98
にウェーハWを受け渡すと同時に供給トランスファーア
ーム106が所定量上昇し、ウェーハ昇降装置214の
アーム216からウェーハWを受け取る。ウェーハWを
受け取った供給トランスファーアーム106は所定量下
降し、回収トランスファーアーム108と共にウェーハ
受取位置に移動する。
【0082】供給トランスファーアーム106がウェー
ハ受取位置に移動すると、ウェーハ搬送ロボット42の
アーム46が時計回りの方向に約90°旋回する。この
結果、ウェーハ搬送ロボット42のアーム46が供給ト
ランスファーアーム106のウェーハ受皿110と対向
するように位置する。次に、ウェーハ搬送ロボット42
のアーム46が所定量前進する。この結果、ウェーハ搬
送ロボット42のアーム46が、供給トランスファーア
ーム106のウェーハ受皿110の下方位置に位置す
る。ウェーハ搬送ロボット42のアーム46は、この
後、所定量上昇し、ウェーハ受皿110からウェーハW
を受け取る。このとき、ウェーハ搬送ロボット42のア
ーム46は、U字状に形成されたウェーハ受皿110の
一対の供給パッド112、112の間を通ってウェーハ
Wを受け取る。
ハ受取位置に移動すると、ウェーハ搬送ロボット42の
アーム46が時計回りの方向に約90°旋回する。この
結果、ウェーハ搬送ロボット42のアーム46が供給ト
ランスファーアーム106のウェーハ受皿110と対向
するように位置する。次に、ウェーハ搬送ロボット42
のアーム46が所定量前進する。この結果、ウェーハ搬
送ロボット42のアーム46が、供給トランスファーア
ーム106のウェーハ受皿110の下方位置に位置す
る。ウェーハ搬送ロボット42のアーム46は、この
後、所定量上昇し、ウェーハ受皿110からウェーハW
を受け取る。このとき、ウェーハ搬送ロボット42のア
ーム46は、U字状に形成されたウェーハ受皿110の
一対の供給パッド112、112の間を通ってウェーハ
Wを受け取る。
【0083】ウェーハWを受け取ったウェーハ搬送ロボ
ット42のアーム46は、所定量後退したのち下降し、
その後、時計回りの方向に180°旋回する。このウェ
ーハ搬送ロボット42のアーム46が旋回した先には、
既に供給回収部202のウェーハ供給ロボット40が待
機しており、ウェーハ搬送ロボット42は、このウェー
ハ供給ロボット40にウェーハWを受け渡す。そして、
ウェーハWを受け取ったウェーハ供給ロボット40は、
そのウェーハWを供給したときと同じ供給カセット30
にウェーハWを収納する。
ット42のアーム46は、所定量後退したのち下降し、
その後、時計回りの方向に180°旋回する。このウェ
ーハ搬送ロボット42のアーム46が旋回した先には、
既に供給回収部202のウェーハ供給ロボット40が待
機しており、ウェーハ搬送ロボット42は、このウェー
ハ供給ロボット40にウェーハWを受け渡す。そして、
ウェーハWを受け取ったウェーハ供給ロボット40は、
そのウェーハWを供給したときと同じ供給カセット30
にウェーハWを収納する。
【0084】一方、ウェーハ搬送ロボット42にウェー
ハWを受け渡した供給トランスファーアーム106は、
ウェーハ搬送ロボット42のアーム46が後退したの
ち、約90°旋回する。この結果、ウェーハ受皿110
がプリアライメント装置44の測定テーブル54の下方
の位置する。この測定テーブル54上には既にプリアラ
イメントされたウェーハWが保持されて待機しており、
供給トランスファーアーム106は、この測定テーブル
54上のウェーハWを受け取る。そして、再び反時計回
りの方向に旋回して、第1加工部18A又は第2加工部
18B上のセンタリングユニット86にウェーハWを受
け渡す。
ハWを受け渡した供給トランスファーアーム106は、
ウェーハ搬送ロボット42のアーム46が後退したの
ち、約90°旋回する。この結果、ウェーハ受皿110
がプリアライメント装置44の測定テーブル54の下方
の位置する。この測定テーブル54上には既にプリアラ
イメントされたウェーハWが保持されて待機しており、
供給トランスファーアーム106は、この測定テーブル
54上のウェーハWを受け取る。そして、再び反時計回
りの方向に旋回して、第1加工部18A又は第2加工部
18B上のセンタリングユニット86にウェーハWを受
け渡す。
【0085】このように、第2の実施の形態のウェーハ
面取り装置200によれば、本実施の形態のトランスフ
ァーユニット100を使用することにより、ウェーハW
の供給と回収を同一箇所で行うことができるようにな
る。この結果、装置のコンパクト化を図ることができる
とともに、装置の製造コストの低減も図ることができ
る。
面取り装置200によれば、本実施の形態のトランスフ
ァーユニット100を使用することにより、ウェーハW
の供給と回収を同一箇所で行うことができるようにな
る。この結果、装置のコンパクト化を図ることができる
とともに、装置の製造コストの低減も図ることができ
る。
【0086】また、本実施の形態のようにウェーハWの
供給と回収を同一箇所で行うことにより、物流で使用す
るカセットキャリアの数が半分で済ませることができ
る。なお、本実施の形態では、洗浄後のウェーハWを供
給トランスファーアーム106からウェーハ搬送ロボッ
ト42が直接受け取るように構成しているが、洗浄後の
ウェーハWを一度プリアライメント装置44の測定テー
ブル54上に移送し、この測定テーブル54を経由して
ウェーハ搬送ロボット42が洗浄後のウェーハWを受け
取るように構成してもよい。
供給と回収を同一箇所で行うことにより、物流で使用す
るカセットキャリアの数が半分で済ませることができ
る。なお、本実施の形態では、洗浄後のウェーハWを供
給トランスファーアーム106からウェーハ搬送ロボッ
ト42が直接受け取るように構成しているが、洗浄後の
ウェーハWを一度プリアライメント装置44の測定テー
ブル54上に移送し、この測定テーブル54を経由して
ウェーハ搬送ロボット42が洗浄後のウェーハWを受け
取るように構成してもよい。
【0087】なお、本実施の形態のように、洗浄後のウ
ェーハWを供給トランスファーアーム106から直接ウ
ェーハ搬送ロボット42が受け取るように構成すること
により、スループットを低下させずに装置のコンパクト
化を図ることができる。すなわち、測定テーブル54を
経由させずに直接供給トランスファーアーム106から
ウェーハ搬送ロボット42に洗浄後のウェーハWを受け
渡すように構成することにより、次に面取り加工するウ
ェーハWをプリアライメントした状態で測定テーブル5
4上に待機させておくことができ、効率的にウェーハW
を供給することができるようになる。
ェーハWを供給トランスファーアーム106から直接ウ
ェーハ搬送ロボット42が受け取るように構成すること
により、スループットを低下させずに装置のコンパクト
化を図ることができる。すなわち、測定テーブル54を
経由させずに直接供給トランスファーアーム106から
ウェーハ搬送ロボット42に洗浄後のウェーハWを受け
渡すように構成することにより、次に面取り加工するウ
ェーハWをプリアライメントした状態で測定テーブル5
4上に待機させておくことができ、効率的にウェーハW
を供給することができるようになる。
【0088】なお、本実施の形態では、ウェーハ搬送ロ
ボット42のアーム46は1本のみで構成されている
が、図12に示すように、所定間隔をもって配設された
上下2本のアーム46A、46Bで構成することによ
り、スループットを更に向上させることができる。すな
わち、まず、上のアーム46Aで洗浄後のウェーハWを
供給トランスファーアーム106から受け取る。次い
で、次に面取り加工するウェーハWをウェーハ供給ロボ
ット40から下のアーム46Bで受け取る。そして、そ
のウェーハ供給ロボット40に上のアーム46Aで保持
している洗浄後のウェーハWを受け渡す。これにより、
ウェーハWの供給と回収を同時に行うことができるよう
になり、スループットを向上させることができる。
ボット42のアーム46は1本のみで構成されている
が、図12に示すように、所定間隔をもって配設された
上下2本のアーム46A、46Bで構成することによ
り、スループットを更に向上させることができる。すな
わち、まず、上のアーム46Aで洗浄後のウェーハWを
供給トランスファーアーム106から受け取る。次い
で、次に面取り加工するウェーハWをウェーハ供給ロボ
ット40から下のアーム46Bで受け取る。そして、そ
のウェーハ供給ロボット40に上のアーム46Aで保持
している洗浄後のウェーハWを受け渡す。これにより、
ウェーハWの供給と回収を同時に行うことができるよう
になり、スループットを向上させることができる。
【0089】なお、図12に示すアーム46A、46B
の駆動機構は共通しており、上下、前後及び旋回を同時
に行う。また、同図において番号47、47は真空吸着
穴であり、この真空吸着穴47、47からエアを吸引し
てウェーハWを保持する。また、本実施の形態の場合、
後測定部が設置されていないが、後測定を行う場合は、
次のように行う。
の駆動機構は共通しており、上下、前後及び旋回を同時
に行う。また、同図において番号47、47は真空吸着
穴であり、この真空吸着穴47、47からエアを吸引し
てウェーハWを保持する。また、本実施の形態の場合、
後測定部が設置されていないが、後測定を行う場合は、
次のように行う。
【0090】すなわち、供給トランスファーアーム10
6が測定テーブル54上から面取り加工するウェーハW
を受け取ったのち、ウェーハ搬送ロボット42が供給ト
ランスファーアーム106から受け取った洗浄後のウェ
ーハWを測定テーブル54上に載置する。そして、プリ
アライメント装置44のオリフラ・ノッチ検出センサ5
6を利用してウェーハWの直径測定を行う。測定終了後
は、ウェーハ供給ロボット40でウェーハWを回収し、
供給カセット30に収納する。
6が測定テーブル54上から面取り加工するウェーハW
を受け取ったのち、ウェーハ搬送ロボット42が供給ト
ランスファーアーム106から受け取った洗浄後のウェ
ーハWを測定テーブル54上に載置する。そして、プリ
アライメント装置44のオリフラ・ノッチ検出センサ5
6を利用してウェーハWの直径測定を行う。測定終了後
は、ウェーハ供給ロボット40でウェーハWを回収し、
供給カセット30に収納する。
【0091】これにより、本実施の形態のウェーハ面取
り装置200においても後測定を行うことができる。な
お、本実施の形態においても、ウェーハWの搬送を行う
トランスファーアームは1本で共用してもよいし、ま
た、供給トランスファーアーム106と回収トランスフ
ァーアーム108とを各々個別に移動できるように構成
してもよい。
り装置200においても後測定を行うことができる。な
お、本実施の形態においても、ウェーハWの搬送を行う
トランスファーアームは1本で共用してもよいし、ま
た、供給トランスファーアーム106と回収トランスフ
ァーアーム108とを各々個別に移動できるように構成
してもよい。
【0092】また、本実施の形態のウェーハ面取り装置
200においても、供給回収部202を除く本体部を横
方向に複数個連結することが可能であり、これにより、
多数枚のウェーハWを一括して処理できる構成のウェー
ハ面取り装置を構築することができる。さらに、上述し
たウェーハ面取り装置10、200では、加工部を2ヵ
所に設置して構成されているが、1ヵ所のみで構成して
もよいし、また、3ヵ所若しくは4ヵ所等の複数カ所に
設置して構成してもよい。
200においても、供給回収部202を除く本体部を横
方向に複数個連結することが可能であり、これにより、
多数枚のウェーハWを一括して処理できる構成のウェー
ハ面取り装置を構築することができる。さらに、上述し
たウェーハ面取り装置10、200では、加工部を2ヵ
所に設置して構成されているが、1ヵ所のみで構成して
もよいし、また、3ヵ所若しくは4ヵ所等の複数カ所に
設置して構成してもよい。
【0093】また、上述したウェーハ面取り装置10、
200では、1台のセンタリングユニット86を2ヵ所
の加工部18A、18Bで共用するように構成されてい
るが、センタリングユニット86は各加工部ごとに個別
に設置してもよい。
200では、1台のセンタリングユニット86を2ヵ所
の加工部18A、18Bで共用するように構成されてい
るが、センタリングユニット86は各加工部ごとに個別
に設置してもよい。
【0094】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
面取り加工するウェーハの供給と回収を同時に行うこと
できる。これにより、効率的にウェーハの供給と回収を
行うことができるようになり、スループットが向上す
る。
面取り加工するウェーハの供給と回収を同時に行うこと
できる。これにより、効率的にウェーハの供給と回収を
行うことができるようになり、スループットが向上す
る。
【図1】本発明に係るウェーハ面取り装置の第1の実施
の形態の構成を示す平面図
の形態の構成を示す平面図
【図2】加工部の構成を示す側面図
【図3】加工部の要部の構成を示す斜視図
【図4】センタリングユニット(オリフラ付きウェーハ
用)の概略構成を示す斜視図
用)の概略構成を示す斜視図
【図5】センタリングユニット(ノッチ付きウェーハ
用)の概略構成を示す斜視図
用)の概略構成を示す斜視図
【図6】供給トランスファーアームの構成を示す側面図
【図7】回収トランスファーアームの構成を示す側面図
【図8】トランスファーユニットの構成を示す平面図
【図9】トランスファーユニットの他の実施の形態の構
成を示す側面図
成を示す側面図
【図10】トランスファーユニットの他の実施の形態の
構成を示す平面図
構成を示す平面図
【図11】本発明に係るウェーハ面取り装置の第2の実
施の形態の構成を示す平面図
施の形態の構成を示す平面図
【図12】ウェーハ搬送ロボットのアームの他の実施の
形態の構成を示す斜視図
形態の構成を示す斜視図
10…ウェーハ面取り装置 12…装置本体 14…供給部 16…プリアライメント部 18A…第1加工部 18B…第2加工部 20…位置決め部 22…洗浄部 24…ウェーハ搬送部 28…回収部 34…ウェーハ供給ロボット 42…ウェーハ搬送ロボット 44…プリアライメント装置 66A、66B…チャックテーブル 70A、70B…外周スピンドル 72A、72B…外周研削砥石 76A、76B…ノッチスピンドル 78A、78B…ノッチ研削砥石 86…センタリングユニット 96…スピン洗浄装置 100…トランスファーユニット 106…供給トランスファーアーム 108…回収トランスファーアーム 134…ウェーハ回収ロボット W…ウェーハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B24B 9/00 601 B24B 41/06 H01L 21/304 621
Claims (8)
- 【請求項1】 面取り加工するウェーハをプリアライメ
ントするプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプリアライメント部に供給す
るウェーハ供給手段と、 チャックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で
研削して面取り加工する加工部と、 前記加工部の上方に配設され、面取り加工するウェーハ
を位置決めして前記チャックテーブル上に載置する位置
決め部と、 面取り加工されたウェーハを洗浄する洗浄部と、 前記各部間を移動してウェーハを搬送する搬送手段と、 を備え、 前記搬送手段は、 搬送路に沿って走行する走行体と、 前記走行体に設けられたアームと、 前記アームの先端上部に設けられた供給パッドと、 前記アームの先端下部に設けられた回収パッドと、 前記供給パッドと前記回収パッドを上下動させるパッド
昇降手段と、 からなり、前記プリアライメント部でプリアライメント
されたウェーハを前記供給パッドで保持したのち、前記
供給パッドを前記位置決め部の下方に移動させ、前記供
給パッドを上昇させて前記位置決め部に面取り加工する
ウェーハを供給する一方、前記回収パッドを下降させて
前記チャックテーブルから面取り加工が終了したウェー
ハを回収し、前記回収パッドを前記洗浄部に向けて移動
させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬送することを特徴
とするウェーハ面取り装置。 - 【請求項2】 前記アームは前記走行体に旋回可能に設
けられ、所定のウェーハ受取位置で旋回して前記プリア
ライメント部からプリアライメントされたウェーハを受
け取ることを特徴とする請求項1記載のウェーハ面取り
装置。 - 【請求項3】 面取り加工するウェーハをプリアライメ
ントするプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプリアライメント部に供給す
るウェーハ供給手段と、 チャックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で
研削して面取り加工する加工部と、 前記加工部の上方に配設され、面取り加工するウェーハ
を位置決めして前記チャックテーブル上に載置する位置
決め部と、 面取り加工されたウェーハを洗浄する洗浄部と、 前記各部間を移動してウェーハを搬送する搬送手段と、 を備え、 前記搬送手段は、 搬送路に沿って走行する走行体と、 前記走行体に設けられた供給アームと、 前記供給アームの先端上部に設けられた供給パッドと、 前記供給パッドを上下動させる供給パッド昇降手段と、 前記走行体に設けられた回収アームと、 前記回収アームの先端下部に設けられるとともに、前記
供給パッドの下方位置に配置された回収パッドと、 前記回収パッドを上下動させる回収パッド昇降手段と、 からなり、前記プリアライメント部でプリアライメント
されたウェーハを前記供給パッドで保持したのち、前記
供給パッドを前記位置決め部の下方に移動させ、前記供
給パッドを上昇させて前記位置決め部に面取り加工する
ウェーハを供給する一方、前記回収パッドを下降させて
前記チャックテーブルから面取り加工が終了したウェー
ハを回収し、前記回収パッドを前記洗浄部に向けて移動
させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬送することを特徴
とするウェーハ面取り装置。 - 【請求項4】 前記供給アームは前記走行体に旋回可能
に設けられ、所定のウェーハ受取位置で旋回して前記プ
リアライメント部からプリアライメントされたウェーハ
を受け取ることを特徴とする請求項3記載のウェーハ面
取り装置。 - 【請求項5】 面取り加工するウェーハをプリアライメ
ントするプリアライメント部と、面取り加工するウェーハをプリアライメント部に供給す
るウェーハ供給手段と、 チャックテーブルに保持されたウェーハの周縁を砥石で
研削して面取り加工する加工部と、 前記加工部の上方に配設され、面取り加工するウェーハ
を位置決めして前記チャックテーブル上に載置する位置
決め部と、 面取り加工されたウェーハを洗浄する洗浄部と、 前記各部間を移動してウェーハを搬送する搬送手段と、 を備え、 前記搬送手段は、 供給搬送路に沿って走行する供給走行体と、 前記供給走行体に設けられた供給アームと、 前記供給アームの先端上部に設けられた供給パッドと、 前記供給パッドを上下動させる供給パッド昇降手段と、 回収搬送路に沿って走行する回収走行体と、 前記回収走行体に設けられた回収アームと、 前記回収アームの先端下部に設けられるとともに、前記
供給パッドの下方位置に配置された回収パッドと、 前記回収パッドを上下動させる回収パッド昇降手段と、 からなり、前記プリアライメント部でプリアライメント
されたウェーハを前記供給パッドで保持したのち、前記
供給パッドを前記位置決め部の下方に移動させ、前記供
給パッドを上昇させて前記位置決め部に面取り加工する
ウェーハを供給する一方、前記回収パッドを前記チャッ
クテーブルの上方に移動させ、前記回収パッドを下降さ
せて前記チャックテーブルから面取り加工が終了したウ
ェーハを回収し、前記回収パッドを前記洗浄部に向けて
移動させて前記ウェーハを前記洗浄部に搬送することを
特徴とするウェーハ面取り装置。 - 【請求項6】 前記供給アームは前記供給走行体に旋回
可能に設けられ、所定のウェーハ受取位置で旋回して前
記プリアライメント部からプリアライメントされたウェ
ーハを受け取ることを特徴とする請求項5記載のウェー
ハ面取り装置。 - 【請求項7】 前記ウェーハ面取り装置は、面取り加工
するウェーハをカセットから供給するとともに、面取り
加工されたウェーハを前記カセットに回収するウェーハ
供給回収部を備え、前記ウェーハ供給手段によって面取
り加工するウェーハを前記ウェーハ供給回収部から前記
プリアライメント部に搬送し、該プリアライメント部で
プリアライメントされたウェーハを前記供給パッドで保
持して前記位置決め部に搬送する一方、前記チャックテ
ーブルから面取り加工が終了したウェーハを前記回収パ
ッドで保持して前記洗浄部に搬送するとともに、該洗浄
部で洗浄されたウェーハを前記供給パッドで保持して前
記プリアライメント部に搬送し、該プリアライメント部
に搬送されたウェーハを前記ウェーハ供給手段によって
前記ウェーハ供給回収部に搬送して回収することを特徴
とする請求項1、2、3、4、5又は6記載のウェーハ
面取り装置。 - 【請求項8】 前記ウェーハ面取り装置は、面取り加工
するウェーハをカセットから供給するとともに、面取り
加工されたウェーハを前記カセットに回収するウェーハ
供給回収部を備え、前記ウェーハ供給手段によって面取
り加工するウェーハを前記ウェーハ供給回収部から前記
プリアライメント部に搬送し、該プリアライメント部で
プリアライメントされたウェーハを前記供給パッドで保
持して前記位置決め部に搬送する一方、前記チャックテ
ーブルから面取り加工が終了したウェーハを前記回収パ
ッドで保持して前記洗浄部に搬送するとともに、該洗浄
部で洗浄されたウェーハを前記供給パッドで保持して前
記ウェーハ供給手段に搬送し、該ウェーハ供給手段によ
って前記ウェーハ供給回収部に搬送して回収することを
特徴とする請求項2、4又は6記載のウェーハ面取り装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20648798A JP3033058B2 (ja) | 1998-07-22 | 1998-07-22 | ウェーハ面取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20648798A JP3033058B2 (ja) | 1998-07-22 | 1998-07-22 | ウェーハ面取り装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000042885A JP2000042885A (ja) | 2000-02-15 |
JP3033058B2 true JP3033058B2 (ja) | 2000-04-17 |
Family
ID=16524197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20648798A Expired - Fee Related JP3033058B2 (ja) | 1998-07-22 | 1998-07-22 | ウェーハ面取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3033058B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003209075A (ja) | 2002-01-15 | 2003-07-25 | Speedfam Co Ltd | ウェハエッジ研磨システム及びウェハエッジ研磨制御方法 |
JP5385519B2 (ja) * | 2007-08-24 | 2014-01-08 | 株式会社東京精密 | 面取り機能つき洗浄装置 |
JP5759779B2 (ja) * | 2011-05-06 | 2015-08-05 | 中村留精密工業株式会社 | 板材の加工装置 |
JP5976433B2 (ja) * | 2012-07-20 | 2016-08-23 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
CN111975531B (zh) * | 2020-07-08 | 2021-11-30 | 大同新成新材料股份有限公司 | 半导体石墨圆晶用倒角加工设备及其倒角方法 |
-
1998
- 1998-07-22 JP JP20648798A patent/JP3033058B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2000042885A (ja) | 2000-02-15 |
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