JP2016197111A - Fine particle measuring device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a fine particle measuring device which can form a beam spot with a desired size.SOLUTION: A fine particle measuring device comprises: a light source; an image forming lens system that is composed of a first image forming lens and a second image forming lens and that forms an image of a beam spot of laser emitted from the light source on a fine particle; a relay lens system that is composed of a first relay lens and a second relay lens and that is disposed between the first image forming lens and the second image forming lens; an optical filter that is disposed between the second relay lens and the second image forming lens; a detector that detects fluorescence or scattering light generated from the fine particle by irradiation with the laser; and an optical fiber that is disposed between the optical filter and the detector. The detector detects the fluorescence or scattering light via the optical filter and the optical fiber.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本技術は、微小粒子測定装置に関する。より詳しくは、微小粒子に均一な強度でレーザを照射するために十分な大きさのビームスポットを形成可能な微小粒子測定装置に関する。   The present technology relates to a microparticle measurement apparatus. More specifically, the present invention relates to a fine particle measuring apparatus capable of forming a beam spot having a sufficient size for irradiating a fine particle with a laser with uniform intensity.

細胞などの微小粒子の特性を光学的に測定する微小粒子測定装置(例えばフローサイトメータ)が知られている。   2. Description of the Related Art A microparticle measuring apparatus (for example, a flow cytometer) that optically measures characteristics of microparticles such as cells is known.

フローサイトメータでは、フローセル又はマイクロチップに形成された流路に細胞を含むサンプル液を送液し、流路内を通流する細胞にレーザを照射して細胞から発生する蛍光又は散乱光を検出器で検出することにより、細胞の光学特性を測定している。また、フローサイトメータでは、光学特性の測定の結果、所定の条件を満たすと判定されたポピュレーション(群)を、細胞中から分別回収することも行われている。   In a flow cytometer, a sample solution containing cells is sent to a flow path formed in a flow cell or microchip, and the cells flowing through the flow path are irradiated with a laser to detect fluorescence or scattered light generated from the cells. The optical properties of the cells are measured by detecting with a vessel. In the flow cytometer, the population (group) determined to satisfy a predetermined condition as a result of the measurement of optical characteristics is also collected separately from the cells.

例えば、特許文献1には、マイクロチップ型のフローサイトメータとして、「微小粒子を含む液体が通流される流路と、この流路を通流する液体をチップ外の空間に排出するオリフィスと、が配設されたマイクロチップと、オリフィスにおいて液体を液滴化して吐出するための振動素子と、吐出される液滴に電荷を付与するための荷電手段と、流路を通流する微小粒子の光学特性を検出する光学検出手段と、チップ外の空間に吐出された液滴の移動方向に沿って、移動する液滴を挟んで対向して配設された対電極と、対電極間を通過した液滴を回収する二以上の容器と、を備える微小粒子分取装置」が開示されている。   For example, in Patent Document 1, as a microchip type flow cytometer, “a flow path through which a liquid containing microparticles flows, an orifice for discharging the liquid flowing through the flow path to a space outside the chip, , A vibrating element for ejecting liquid droplets at an orifice, a charging means for imparting electric charges to the ejected liquid droplets, and a microparticle flowing through the flow path Optical detection means for detecting optical characteristics, a counter electrode disposed opposite to the moving liquid droplet in the direction of movement of the liquid droplet discharged to the space outside the chip, and passing between the counter electrodes And a microparticle sorting device including two or more containers for collecting the droplets.

フローサイトメータでは、流路を通流する細胞に均一な強度でレーザを照射するため、流路に集光されるレーザのビームスポットを、スポット径が流路幅に対して十分な大きさとなるように形成している。ビームスポットを流路幅に対して十分に大きく形成することで、各細胞が流路中の通流位置に依らずにビームスポットを通過するようになるため、全ての細胞に均一な強度のレーザを照射できる。   The flow cytometer irradiates cells flowing through the flow path with a uniform intensity, so the spot diameter of the laser beam spot focused on the flow path is sufficiently large relative to the flow path width. It is formed as follows. By forming the beam spot sufficiently large with respect to the channel width, each cell passes through the beam spot regardless of the flow position in the channel. Can be irradiated.

特許文献2には、光源からの光を、複数領域に分割された位相段差素子を透過させて、微小粒子が通流するサンプル流に集光する光照射系を備えた微小粒子測定装置が開示されている。この微小粒子装置では、位相段差素子の各領域を透過する光の波面間に位相差を生じさせることにより、広範囲に均一な強度分布を有するビームスポットを形成し、サンプル流中の微小粒子に照射されるレーザの実効強度を均一化させている。   Patent Document 2 discloses a microparticle measuring apparatus including a light irradiation system that condenses light from a light source through a phase step element divided into a plurality of regions and collects the light into a sample flow through which microparticles flow. Has been. In this microparticle device, a phase difference is generated between wavefronts of light transmitted through each region of the phase step element, thereby forming a beam spot having a uniform intensity distribution over a wide range and irradiating the microparticles in the sample stream. The effective intensity of the laser is uniformized.

特開2010−190680号公報JP 2010-190680 A 特開2012−26754号公報JP 2012-26754 A

微小粒子測定装置において、スポット径が大きいビームスポットを形成するためには、ビームスポットの結像レンズの開口数(NA)を小さくする必要がある。特に、レーザの波長に対してスポット径を大きくしたい場合には、NAは極めて小さくなる。   In order to form a beam spot having a large spot diameter in the fine particle measuring apparatus, it is necessary to reduce the numerical aperture (NA) of the imaging lens of the beam spot. In particular, when it is desired to increase the spot diameter with respect to the laser wavelength, the NA is extremely small.

光源から出射されたレーザのビームスポットを一対の結像レンズで形成する場合、上記の事情のため、2つの結像レンズ間の距離がそれぞれの結像レンズの焦点距離の和とされることが、良好な結像のための条件となる。しかし、それぞれの結像レンズの焦点距離が小さい場合には、2つの結像レンズを接触して配置させたとしても結像レンズ間の距離が焦点距離の和よりも大きくなってしまい、上記の条件を満たすことができない。このため、従来の微小粒子測定装置では、NAが小さい結像レンズを用いて所望のスポット径を有するビームスポットを形成することは困難であった。   When the laser beam spot emitted from the light source is formed by a pair of imaging lenses, the distance between the two imaging lenses may be the sum of the focal lengths of the imaging lenses due to the above circumstances. This is a condition for good image formation. However, when the focal length of each imaging lens is small, even if two imaging lenses are arranged in contact with each other, the distance between the imaging lenses becomes larger than the sum of the focal lengths. The condition cannot be met. For this reason, it has been difficult to form a beam spot having a desired spot diameter using an imaging lens having a small NA in the conventional fine particle measuring apparatus.

そこで、本技術は、所望の大きさを有するビームスポットを形成可能な微小粒子測定装置を提供することを主な目的とする。   Therefore, a main object of the present technology is to provide a fine particle measuring apparatus capable of forming a beam spot having a desired size.

上記課題解決のため、本技術は、光源と、前記光源から出射されたレーザのビームスポットを微小粒子に結像させる第一の結像レンズと第二の結像レンズとからなる結像レンズ系と、前記第一の結像レンズと前記第二の結像レンズとの間に配置された第一のリレーレンズと第二のリレーレンズとからなるリレーレンズ系と、前記第二のリレーレンズと前記第二の結像レンズとの間に配置された光学フィルタと、前記レーザの照射により前記微小粒子から発生する蛍光又は散乱光を検出する検出器と、前記光学フィルタと前記検出器との間に配置された光ファイバと、を備え、前記検出器は、前記光学フィルタ及び光ファイバを介して前記蛍光又は散乱光を検出する微小粒子測定装置を提供する。
前記光学フィルタは、前記蛍光又は前記散乱光を反射するミラーであってもよい。
前記微小粒子測定装置は、前記光源から出射された前記レーザを伝送する光ファイバと、該光ファイバから出射される前記レーザの前記ビームスポットを形成するレンズ系と、を備えてもよい。
前記ビームスポットを形成するレンズ系は、コリメータレンズと一対のシリンダーレンズを含んでもよい。
前記微小粒子は、流路内を流れるサンプル流に含まれる細胞であってもよい。
前記微小粒子は、マイクロチップ中の流路を流れるサンプル流に含まれる細胞であってもよい。
前記細胞に結像されるビームスポットは、前記サンプル流の送液方向と直交する幅方向に幅広な楕円形状を有していてもよい。
前記細胞に結像されるビームスポットは、前記サンプル流の送液方向と直交する幅方向の前記サンプル流の長さと同等もしくは長く形成されてもよい。
In order to solve the above-described problem, the present technology provides an imaging lens system including a light source, a first imaging lens that forms an image of a laser beam spot emitted from the light source on a minute particle, and a second imaging lens. A relay lens system comprising a first relay lens and a second relay lens disposed between the first imaging lens and the second imaging lens, and the second relay lens, An optical filter disposed between the second imaging lens, a detector for detecting fluorescence or scattered light generated from the microparticles by irradiation of the laser, and between the optical filter and the detector. And the detector provides a microparticle measuring device for detecting the fluorescence or scattered light via the optical filter and the optical fiber.
The optical filter may be a mirror that reflects the fluorescence or the scattered light.
The fine particle measurement apparatus may include an optical fiber that transmits the laser emitted from the light source, and a lens system that forms the beam spot of the laser emitted from the optical fiber.
The lens system that forms the beam spot may include a collimator lens and a pair of cylinder lenses.
The microparticles may be cells contained in a sample stream flowing in the flow path.
The microparticles may be cells contained in a sample stream flowing through a flow path in the microchip.
The beam spot imaged on the cell may have an elliptical shape that is wide in the width direction orthogonal to the liquid feeding direction of the sample flow.
The beam spot imaged on the cell may be formed to be equal to or longer than the length of the sample flow in the width direction orthogonal to the liquid feeding direction of the sample flow.

本技術において、「微小粒子」には、細胞や微生物、リポソームなどの生体関連微小粒子、あるいはラテックス粒子やゲル粒子、工業用粒子などの合成粒子などが広く含まれるものとする。
生体関連微小粒子には、各種細胞を構成する染色体、リポソーム、ミトコンドリア、オルガネラ(細胞小器官)などが含まれる。細胞には、動物細胞(血球系細胞など)および植物細胞が含まれる。微生物には、大腸菌などの細菌類、タバコモザイクウイルスなどのウイルス類、イースト菌などの菌類などが含まれる。さらに、生体関連微小粒子には、核酸やタンパク質、これらの複合体などの生体関連高分子も包含され得るものとする。また、工業用粒子は、例えば有機もしくは無機高分子材料、金属などであってもよい。有機高分子材料には、ポリスチレン、スチレン・ジビニルベンゼン、ポリメチルメタクリレートなどが含まれる。無機高分子材料には、ガラス、シリカ、磁性体材料などが含まれる。金属には、金コロイド、アルミなどが含まれる。これら微小粒子の形状は、一般には球形であるのが普通であるが、非球形であってもよく、また大きさや質量なども特に限定されない。
In the present technology, “microparticles” widely include living body-related microparticles such as cells, microorganisms, and liposomes, or synthetic particles such as latex particles, gel particles, and industrial particles.
Biologically relevant microparticles include chromosomes, liposomes, mitochondria, organelles (organelles) that constitute various cells. Cells include animal cells (such as blood cells) and plant cells. Microorganisms include bacteria such as Escherichia coli, viruses such as tobacco mosaic virus, and fungi such as yeast. Furthermore, biologically relevant microparticles may include biologically relevant polymers such as nucleic acids, proteins, and complexes thereof. The industrial particles may be, for example, an organic or inorganic polymer material, a metal, or the like. Organic polymer materials include polystyrene, styrene / divinylbenzene, polymethyl methacrylate, and the like. Inorganic polymer materials include glass, silica, magnetic materials, and the like. Metals include gold colloid, aluminum and the like. The shape of these fine particles is generally spherical, but may be non-spherical, and the size and mass are not particularly limited.

本技術により、所望の大きさを有するビームスポットを形成可能な微小粒子測定装置が提供される。   According to the present technology, a fine particle measuring apparatus capable of forming a beam spot having a desired size is provided.

本技術に係る微小粒子測定装置の照射系及び検出系の構成を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the structure of the irradiation system of the microparticle measuring apparatus which concerns on this technique, and a detection system. 微小粒子を含むサンプル流に結像されるビームスポットの好適な大きさ及び形状の一例を説明する図である。It is a figure explaining an example of the suitable magnitude | size and shape of the beam spot imaged by the sample flow containing a microparticle.

以下、本技術を実施するための好適な形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態の一例を示したものであり、これにより本技術の範囲が狭く解釈されることはない。説明は以下の順序で行う。

1.照射系
2.検出系
Hereinafter, preferred embodiments for carrying out the present technology will be described with reference to the drawings. In addition, embodiment described below shows an example of typical embodiment of this technique, and, thereby, the scope of this technique is not interpreted narrowly. The description will be made in the following order.

1. Irradiation system 2. Detection system

1.照射系
図1は、本技術に係る微小粒子測定装置の照射系及び検出系の構成を説明する模式図である。
1. Irradiation System FIG. 1 is a schematic diagram illustrating the configuration of an irradiation system and a detection system of a microparticle measurement apparatus according to the present technology.

不図示の光源から出射された光(図1中実線参照)は、光ファイバ1によって伝送され、コリメータレンズ21、シリンダーレンズ22及びシリンダーレンズ23とからなるレンズ系2に入射する。図中矢印Fは、光源から光ファイバ1への光の入射方向を示す。光源には、従来公知のものを使用すればよいが、例えばレーザ又はLEDを好適に用いることができる。また、光源には、互いに異なる波長の光を放射する複数の光源を組み合わせて用いてもよい。 Light emitted from a light source (not shown) (see a solid line in FIG. 1) is transmitted through the optical fiber 1 and enters a lens system 2 including a collimator lens 21, a cylinder lens 22, and a cylinder lens 23. An arrow F 1 in the figure indicates the incident direction of light from the light source to the optical fiber 1. A conventionally known light source may be used as the light source. For example, a laser or an LED can be suitably used. A combination of a plurality of light sources that emit light having different wavelengths may be used as the light source.

レンズ系2は、光学経路上の符号Qで示す位置に、光ファイバ1の出射端11から出射した光(以下「レーザ」とも称する)のビームスポットを形成する。コリメータレンズ21は、点光源となる出射端11から出射したレーザを平行光とする。シリンダーレンズ22及びシリンダーレンズ23は、互いに直交する方向にレンズパワーを有しており、ビームスポットを所定の大きさ及び形状で形成するために機能する(詳しくは後述する)。   The lens system 2 forms a beam spot of light (hereinafter also referred to as “laser”) emitted from the emission end 11 of the optical fiber 1 at a position indicated by a symbol Q on the optical path. The collimator lens 21 converts the laser beam emitted from the emission end 11 serving as a point light source into parallel light. The cylinder lens 22 and the cylinder lens 23 have lens power in directions orthogonal to each other, and function to form a beam spot with a predetermined size and shape (details will be described later).

符号Qで示す位置に形成されたビームスポットは、第一の結像レンズ31及び第二の結像レンズ32からなる結像レンズ系3により、微小粒子Pを含むサンプル流Sに対して結像される。サンプル流Sは、フローセル又はマイクロチップに形成された流路を送液されるサンプル液の流れである。光ファイバ1の出射端11からサンプル流Sまでのレーザの進行方向を図中Z軸正方向で、サンプル流Sの送流方向を図中Y軸正方向で示す。   The beam spot formed at the position indicated by the symbol Q is imaged on the sample flow S including the fine particles P by the imaging lens system 3 including the first imaging lens 31 and the second imaging lens 32. Is done. The sample flow S is a flow of sample liquid sent through a flow path formed in a flow cell or a microchip. The traveling direction of the laser from the output end 11 of the optical fiber 1 to the sample flow S is shown in the positive Z-axis direction in the figure, and the flow direction of the sample flow S is shown in the positive Y-axis direction in the figure.

本技術に係る微小粒子測定装置において、光ファイバ1、レンズ系2及び結像レンズ系3は、光源から出射されたレーザを微小粒子Pに照射するための照射系を構成する。ただし、光ファイバ1は、照射系の必須の構成となるものではない。   In the fine particle measuring apparatus according to the present technology, the optical fiber 1, the lens system 2, and the imaging lens system 3 constitute an irradiation system for irradiating the fine particles P with the laser emitted from the light source. However, the optical fiber 1 is not an essential component of the irradiation system.

第一の結像レンズ31及び第二の結像レンズ32との間には、第一のリレーレンズ41及び第二のリレーレンズ42とからなるリレーレンズ系4が配置されている。結像レンズ系3とリレーレンズ系4は、いわゆる「4f光学系」を構成しており、第一の結像レンズ31、第一のリレーレンズ41、第二のリレーレンズ42及び第二の結像レンズ32は以下のような位置関係を有して配置されている。すなわち、第一のリレーレンズ41は、第一の結像レンズ31との間の距離が第一のリレーレンズ41の焦点距離f41に等しい位置に配されている。第二のリレーレンズ42は、第一のリレーレンズ41との間の距離が第一のリレーレンズ41の焦点距離f41と第二のリレーレンズ42の焦点距離f42との和(f41+f42)に等しい位置に配されている。また、第二のリレーレンズ42は、第二の結像レンズ32との間の距離が第二のリレーレンズ42の焦点距離f42に等しい位置に配されている。 A relay lens system 4 including a first relay lens 41 and a second relay lens 42 is disposed between the first imaging lens 31 and the second imaging lens 32. The imaging lens system 3 and the relay lens system 4 constitute a so-called “4f optical system”, and the first imaging lens 31, the first relay lens 41, the second relay lens 42, and the second coupling lens. The image lens 32 is arranged with the following positional relationship. That is, the first relay lens 41 is disposed at a position where the distance from the first imaging lens 31 is equal to the focal length f 41 of the first relay lens 41. The second relay lens 42, a first focal length f 41 and a second sum of the focal length f 42 of the relay lens 42 (f 41 + f distance of the first relay lens 41 between the relay lenses 41 42 ). The second relay lens 42 is disposed at a position where the distance from the second imaging lens 32 is equal to the focal length f 42 of the second relay lens 42.

4f光学系によるビームスポットのスポット径の変換倍率Mは、第一のリレーレンズ41の焦点距離f41と第二のリレーレンズ42の焦点距離f42とを用いて「M=f42/f41」の式で表される。従って、符号Qで示す位置に形成されたビームスポットは、結像レンズ系3及びリレーレンズ系4とからなる4f光学系によってスポット径がM倍に変換されたビームスポットとしてサンプル流Sに結像される。 4f converts the spot diameter of the beam spot by the optical system magnification M, the first focal length f 41 of the relay lens 41 and with the focal length f 42 of the second relay lens 42 "M = f 42 / f 41 "Is represented by the formula. Therefore, the beam spot formed at the position indicated by the symbol Q is imaged on the sample stream S as a beam spot whose spot diameter is converted to M times by the 4f optical system including the imaging lens system 3 and the relay lens system 4. Is done.

第一のリレーレンズ41の焦点距離f41と第二のリレーレンズ42の焦点距離f42が等しく、かつ第一の結像レンズ31及び第二の結像レンズ32の焦点距離も等しい場合、符号Qで示す位置に形成されたビームスポットと等倍のビームスポットがサンプル流Sに結像される。 When the focal length f 41 of the first relay lens 41 and the focal length f 42 of the second relay lens 42 are equal, and the focal lengths of the first imaging lens 31 and the second imaging lens 32 are also equal, A beam spot of the same magnification as the beam spot formed at the position indicated by Q is imaged on the sample flow S.

従って、互いに直交する方向にレンズパワーを有するシリンダーレンズ22及びシリンダーレンズ23によって、所望の大きさ及び形状のビームスポットを符号Qで示す位置に形成しておけば、同じ大きさ及び形状のビームスポットをサンプル流Sに照射できる。また、この際、4f光学系では収差を小さく抑えることもできる。   Therefore, if a beam spot having a desired size and shape is formed at a position indicated by the reference sign Q by the cylinder lens 22 and the cylinder lens 23 having lens power in directions orthogonal to each other, the beam spot having the same size and shape. Can be applied to the sample stream S. In this case, the aberration can be suppressed small in the 4f optical system.

図2に、微小粒子Pを含むサンプル流Sに結像されるビームスポットの好適な大きさ及び形状の一例を示す。   FIG. 2 shows an example of a preferable size and shape of the beam spot imaged on the sample flow S containing the fine particles P.

サンプル流Sに結像されるビームスポットBは、サンプル流Sの幅方向に幅広な形状を有していることが好ましい。また、ビームスポットBは、同方向のスポット径がサンプル流Sの幅と同等かそれよりも大きくされていることが好ましい。具体的には、サンプル流Sの送液方向をY軸正方向、これに直交するサンプル流Sの幅方向をX軸方向とすると、ビームスポットBは、X軸方向のスポット径WがY軸方向のスポット径Hよりも大きくされた楕円形状を有していることが好ましい。また、ビームスポットBのスポット径Wは、サンプル流Sの幅w以上の長さとされていることが好ましい。なお、幅wは、サンプル液Sが送液されるフローセル又はマイクロチップの流路の幅に相応する。   The beam spot B imaged on the sample flow S preferably has a wide shape in the width direction of the sample flow S. The beam spot B preferably has a spot diameter in the same direction equal to or larger than the width of the sample flow S. Specifically, if the liquid flow direction of the sample flow S is the Y axis positive direction and the width direction of the sample flow S orthogonal to the X direction is the X axis direction, the beam spot B has a spot diameter W in the X axis direction of the Y axis. It is preferable to have an elliptical shape that is larger than the spot diameter H in the direction. Further, the spot diameter W of the beam spot B is preferably set to a length equal to or larger than the width w of the sample flow S. The width w corresponds to the width of the flow cell or microchip channel through which the sample solution S is fed.

このような大きさ及び形状としたビームスポットBをサンプル流Sに結像させることで、サンプル流S中の微小粒子Pが通流位置に依らずにビームスポットBを通過することとなるため、全ての微小粒子Pに対して均一な強度のレーザを照射できる。   Since the beam spot B having such a size and shape is imaged on the sample flow S, the fine particles P in the sample flow S pass through the beam spot B regardless of the flow position. All fine particles P can be irradiated with a laser having a uniform intensity.

ビームスポットBの成形は、シリンダーレンズ22にX軸方向のレンズパワーを、シリンダーレンズ23にY軸方向のレンズパワーを付与し、符号Qで示す位置に形成されるビームスポットのX軸方向及びY軸方向のスポット径を調整することによって行い得る。   In forming the beam spot B, the lens power in the X axis direction is applied to the cylinder lens 22 and the lens power in the Y axis direction is applied to the cylinder lens 23. This can be done by adjusting the spot diameter in the axial direction.

符号Qで示す位置に形成されたビームスポットを等倍でサンプル流Sに結像させる場合には、Qで示す位置に形成されるビームスポットのX軸方向及びY軸方向のスポット径が、上述した好適な大きさ及び形状を満たすようにレーザパワーを設定すればよい。   When the beam spot formed at the position indicated by the symbol Q is imaged on the sample flow S at the same magnification, the spot diameters in the X-axis direction and the Y-axis direction of the beam spot formed at the position indicated by Q are as described above. The laser power may be set so as to satisfy the suitable size and shape.

また、符号Qで示す位置に形成されたビームスポットを非等倍(倍率M、Mは1ではない)でサンプル流Sに結像させる場合には、Qで示す位置に形成されるビームスポットのX軸方向及びY軸方向のスポット径が、M倍後に上述した好適な大きさ及び形状を満たすようにレーザパワーを設定すればよい。   In addition, when the beam spot formed at the position indicated by the symbol Q is imaged on the sample flow S at non-equal magnification (magnification M, M is not 1), the beam spot formed at the position indicated by Q The laser power may be set so that the spot diameters in the X-axis direction and the Y-axis direction satisfy the above-described preferable size and shape after M times.

シリンダーレンズ22及びシリンダーレンズ23の収束光のNAは、例えばそれぞれ0.001/π、0.01/πとされる。この場合、レーザの波長が0.5μmとすると、Qで示す位置にはX軸方向及びY軸方向のスポット径がそれぞれ100,10μmのビームスポットが形成される。   The NAs of the convergent lights of the cylinder lens 22 and the cylinder lens 23 are, for example, 0.001 / π and 0.01 / π, respectively. In this case, assuming that the laser wavelength is 0.5 μm, a beam spot having spot diameters of 100 and 10 μm in the X-axis direction and the Y-axis direction is formed at the position indicated by Q, respectively.

2.検出系
レーザの照射により微小粒子Pから発生する蛍光及び後方散乱光(図1中点線参照)は、ミラー5により反射され、光ファイバ6によって不図示の検出器に伝送される。ミラー5及び光ファイバ6は、微小粒子Pから発生する検出対象光を検出するための検出系を構成する。ただし、光ファイバ6は、検出系の必須の構成となるものではない。
2. Detection System Fluorescence and backscattered light (see dotted lines in FIG. 1) generated from the fine particles P by laser irradiation are reflected by the mirror 5 and transmitted to a detector (not shown) by the optical fiber 6. The mirror 5 and the optical fiber 6 constitute a detection system for detecting the detection target light generated from the fine particles P. However, the optical fiber 6 is not an essential component of the detection system.

結像レンズ系3の間にリレーレンズ系4を配置した4f光学系では、結像レンズ系3のみを配した場合に比べて、第一の結像レンズ31及び第二の結像レンズ32との間の距離を長くとることができる。このため、図に示すように、第一のリレーレンズ41と第二のリレーレンズ42との間にミラー5等の光学フィルタを挿入することが容易である。   In the 4f optical system in which the relay lens system 4 is disposed between the imaging lens system 3, the first imaging lens 31 and the second imaging lens 32 are compared with the case where only the imaging lens system 3 is disposed. The distance between can be taken longer. For this reason, as shown in the figure, it is easy to insert an optical filter such as the mirror 5 between the first relay lens 41 and the second relay lens 42.

ミラー5により反射された蛍光等を検出する検出器には、PMT(photo multiplier tube)や、フォトダイオードや、CCDやCMOS素子等のエリア撮像素子などが採用される。検出される蛍光は、レーザの照射によって、微小粒子P又は微小粒子Pに標識された蛍光色素から発生するものであってよい。検出された蛍光等は電気信号に変換され、微小粒子Pの光学特性判定のために利用される。   As a detector for detecting the fluorescence reflected by the mirror 5, a photomultiplier tube (PMT), a photodiode, an area imaging device such as a CCD or CMOS device, or the like is employed. The fluorescence to be detected may be generated from the fine particles P or the fluorescent dye labeled on the fine particles P by laser irradiation. The detected fluorescence or the like is converted into an electric signal and used for determining the optical characteristics of the microparticle P.

本技術に微小粒子測定装置では、上述のように、サンプル流S中の微小粒子Pにその通流位置に依らずに均一な強度のレーザを照射できるため、微小粒子Pの光学特性を正確に測定することが可能である。   As described above, the microparticle measuring apparatus according to the present technology can irradiate the microparticles P in the sample flow S with a laser having a uniform intensity regardless of the flow position, and thus the optical characteristics of the microparticles P can be accurately determined. It is possible to measure.

ミラー5は、結像レンズ系3及びリレーレンズ系4からなる4f光学系内の任意の位置に挿入できる。例えば、ミラー5は、第一の結像レンズ31と第一のリレーレンズ41との間、又は、第二のリレーレンズ42と第二の結像レンズ32との間に配置してもよい。また、ミラー5に替えて、レーザを分波するスプリッタ等の光学フィルタを挿入してもよい。スプリッタを配置し、分波されるレーザを検出する検出器を設けることで、光源から出射されるレーザの光量をモニターすることができる。   The mirror 5 can be inserted at an arbitrary position in the 4f optical system including the imaging lens system 3 and the relay lens system 4. For example, the mirror 5 may be disposed between the first imaging lens 31 and the first relay lens 41 or between the second relay lens 42 and the second imaging lens 32. Further, instead of the mirror 5, an optical filter such as a splitter for demultiplexing the laser may be inserted. The amount of laser light emitted from the light source can be monitored by disposing a splitter and providing a detector for detecting the demultiplexed laser.

なお、図に示していないが、本技術に係る微小粒子測定装置は、レーザの照射により微小粒子Pから発生する前方散乱光を検出するための構成を設けることもできる。   Although not shown in the figure, the microparticle measurement apparatus according to the present technology may be provided with a configuration for detecting forward scattered light generated from the microparticles P by laser irradiation.

本技術に係る微小粒子測定装置は以下のような構成もとることができる。
(1)光源から出射されたレーザのビームスポットを微小粒子に対して結像させる光学経路上に、4f光学系を備える微小粒子測定装置。
(2)前記4f光学系は、前記ビームスポットの結像レンズ系を構成する第一の結像レンズと第二の結像レンズとの間に配置されたリレーレンズ系であり、該リレーレンズを構成する第一のリレーレンズは、前記第一の結像レンズとの間の距離が前記第一のリレーレンズの焦点距離に等しい位置に配され、前記リレーレンズを構成する第二のリレーレンズは、前記第一のリレーレンズとの間の距離が前記第一のリレーレンズの焦点距離と前記第二のリレーレンズの焦点距離との和に等しい位置であり、かつ、前記第二の結像レンズとの間の距離が前記第二のリレーレンズの焦点距離に等しい位置に配された上記(1)記載の微小粒子測定装置。
(3)前記第一の結像レンズと前記第一のリレーレンズとの間、前記第一のリレーレンズと前記第二のリレーレンズとの間及び前記第二のリレーレンズと前記第二の結像レンズとの間から選択される一以上の位置に、光学フィルタが配置された上記(2)記載の微小粒子測定装置。
(4)前記光学フィルタは、前記レーザの照射により前記微小粒子から発生する蛍光又は散乱光を反射するミラー、又は、前記レーザを分波するスプリッタである上記(3)記載の微小粒子測定装置。
(5)前記ミラーにより反射された前記蛍光又は前記散乱光を検出する検出系を備える上記(4)記載の微小粒子測定装置。
(6)前記光源から出射された前記レーザを伝送する光ファイバと、該光ファイバから出射される前記レーザの前記ビームスポットを形成するレンズ系と、を備える上記(1)〜(5)のいずれかに記載の微小粒子測定装置。
(7)前記ビームスポットを形成するレンズ系は、コリメータレンズと一対のシリンダーレンズを含む上記(6)記載の微小粒子測定装置。
The fine particle measuring apparatus according to the present technology can have the following configuration.
(1) A microparticle measurement apparatus including a 4f optical system on an optical path for forming an image of a laser beam spot emitted from a light source on a microparticle.
(2) The 4f optical system is a relay lens system disposed between a first imaging lens and a second imaging lens constituting the imaging lens system of the beam spot, and the relay lens The first relay lens constituting the relay lens is disposed at a position where the distance from the first imaging lens is equal to the focal length of the first relay lens, and the second relay lens constituting the relay lens is The distance from the first relay lens is equal to the sum of the focal length of the first relay lens and the focal length of the second relay lens, and the second imaging lens. The fine particle measuring apparatus according to (1), wherein a distance between the first relay lens and the second relay lens is equal to a focal length of the second relay lens.
(3) Between the first imaging lens and the first relay lens, between the first relay lens and the second relay lens, and between the second relay lens and the second relay lens. The microparticle measurement apparatus according to (2) above, wherein an optical filter is disposed at one or more positions selected from between the image lens and the image lens.
(4) The microparticle measurement apparatus according to (3), wherein the optical filter is a mirror that reflects fluorescence or scattered light generated from the microparticles when irradiated with the laser, or a splitter that demultiplexes the laser.
(5) The microparticle measurement apparatus according to (4), further including a detection system that detects the fluorescence or the scattered light reflected by the mirror.
(6) Any of the above (1) to (5), comprising: an optical fiber that transmits the laser emitted from the light source; and a lens system that forms the beam spot of the laser emitted from the optical fiber. The fine particle measuring device according to claim 1.
(7) The microparticle measuring apparatus according to (6), wherein the lens system that forms the beam spot includes a collimator lens and a pair of cylinder lenses.

1:光ファイバ、21:コリメータレンズ、22:シリンダーレンズ、23:シリンダーレンズ、31:第一の結像レンズ、32:第二の結像レンズ、41:第一のリレーレンズ、
42:第二のリレーレンズ、5:ミラー、6:光ファイバ、P:微小粒子、S:サンプル流
1: optical fiber, 21: collimator lens, 22: cylinder lens, 23: cylinder lens, 31: first imaging lens, 32: second imaging lens, 41: first relay lens,
42: Second relay lens, 5: Mirror, 6: Optical fiber, P: Fine particles, S: Sample flow

Claims (8)

光源と、
前記光源から出射されたレーザのビームスポットを微小粒子に結像させる第一の結像レンズと第二の結像レンズとからなる結像レンズ系と、
前記第一の結像レンズと前記第二の結像レンズとの間に配置された第一のリレーレンズと第二のリレーレンズとからなるリレーレンズ系と、
前記第二のリレーレンズと前記第二の結像レンズとの間に配置された光学フィルタと、
前記レーザの照射により前記微小粒子から発生する蛍光又は散乱光を検出する検出器と、
前記光学フィルタと前記検出器との間に配置された光ファイバと、を備え、
前記検出器は、前記光学フィルタ及び光ファイバを介して前記蛍光又は散乱光を検出する微小粒子測定装置。
A light source;
An imaging lens system comprising a first imaging lens and a second imaging lens for imaging a laser beam spot emitted from the light source onto a fine particle;
A relay lens system comprising a first relay lens and a second relay lens disposed between the first imaging lens and the second imaging lens;
An optical filter disposed between the second relay lens and the second imaging lens;
A detector for detecting fluorescence or scattered light generated from the fine particles by the laser irradiation;
An optical fiber disposed between the optical filter and the detector;
The detector is a microparticle measurement device that detects the fluorescence or scattered light via the optical filter and an optical fiber.
前記光学フィルタは、前記蛍光又は前記散乱光を反射するミラーである請求項1記載の微小粒子測定装置。   The microparticle measurement apparatus according to claim 1, wherein the optical filter is a mirror that reflects the fluorescence or the scattered light. 前記光源から出射された前記レーザを伝送する光ファイバと、
該光ファイバから出射される前記レーザの前記ビームスポットを形成するレンズ系と、を備える請求項1又は2記載の微小粒子測定装置。
An optical fiber for transmitting the laser emitted from the light source;
The fine particle measuring apparatus according to claim 1, further comprising: a lens system that forms the beam spot of the laser emitted from the optical fiber.
前記ビームスポットを形成するレンズ系は、コリメータレンズと一対のシリンダーレンズを含む請求項3記載の微小粒子測定装置。   The microparticle measuring apparatus according to claim 3, wherein the lens system that forms the beam spot includes a collimator lens and a pair of cylinder lenses. 前記微小粒子は、流路内を流れるサンプル流に含まれる細胞である請求項1から4のいずれか一項に記載の微小粒子測定装置。   The microparticle measurement apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the microparticle is a cell included in a sample flow flowing in a flow path. 前記微小粒子は、マイクロチップ中の流路を流れるサンプル流に含まれる細胞である請求項1から5のいずれか一項に記載の微小粒子測定装置。   The microparticle measurement apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the microparticle is a cell included in a sample flow flowing through a flow path in a microchip. 前記細胞に結像されるビームスポットは、前記サンプル流の送液方向と直交する幅方向に幅広な楕円形状を有している請求項5又は6に記載の微小粒子測定装置。   The fine particle measuring apparatus according to claim 5 or 6, wherein the beam spot formed on the cell has an elliptical shape that is wide in a width direction orthogonal to a liquid feeding direction of the sample flow. 前記細胞に結像されるビームスポットは、前記サンプル流の送液方向と直交する幅方向の前記サンプル流の長さと同等もしくは長く形成される請求項5又は6に記載の微小粒子測定装置。
The fine particle measuring apparatus according to claim 5 or 6, wherein the beam spot formed on the cell is formed to be equal to or longer than a length of the sample flow in a width direction orthogonal to a liquid feeding direction of the sample flow.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106226224A (en) * 2016-08-18 2016-12-14 重庆玖润隆科技有限公司 A kind of particle analyzer optical system

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04335135A (en) * 1991-05-11 1992-11-24 Horiba Ltd Particulate counter
JP2000258334A (en) * 1999-03-11 2000-09-22 Nippon Koden Corp Laser light-irradiating apparatus
US20050280817A1 (en) * 2004-04-02 2005-12-22 Uwe Horchner Polychromic laser scanning system and method of use
US20070159619A1 (en) * 2006-01-09 2007-07-12 Shenzhen Mindray Bio-Medical Electronics Co., Ltd. Cytometer
JP2009103687A (en) * 2007-10-03 2009-05-14 Sysmex Corp Cell analyzer and method of cell analysis
JP2009113293A (en) * 2007-11-05 2009-05-28 Sony Corp Optical modeling apparatus and optical modeling method
WO2011108371A1 (en) * 2010-03-01 2011-09-09 オリンパス株式会社 Optical analysis device, optical analysis method, and computer program for optical analysis
JP2011185879A (en) * 2010-03-10 2011-09-22 Sony Corp Optical measuring instrument and method of the same
JP2012013690A (en) * 2010-07-01 2012-01-19 Sony Corp Fine particle analyzer and fine particle analysis method
JP2012026837A (en) * 2010-07-22 2012-02-09 Sony Corp Fine particle measurement instrument
JP2012026754A (en) * 2010-07-20 2012-02-09 Sony Corp Fine particle measurement device and light irradiation device

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04335135A (en) * 1991-05-11 1992-11-24 Horiba Ltd Particulate counter
JP2000258334A (en) * 1999-03-11 2000-09-22 Nippon Koden Corp Laser light-irradiating apparatus
US20050280817A1 (en) * 2004-04-02 2005-12-22 Uwe Horchner Polychromic laser scanning system and method of use
US20070159619A1 (en) * 2006-01-09 2007-07-12 Shenzhen Mindray Bio-Medical Electronics Co., Ltd. Cytometer
JP2009103687A (en) * 2007-10-03 2009-05-14 Sysmex Corp Cell analyzer and method of cell analysis
JP2009113293A (en) * 2007-11-05 2009-05-28 Sony Corp Optical modeling apparatus and optical modeling method
WO2011108371A1 (en) * 2010-03-01 2011-09-09 オリンパス株式会社 Optical analysis device, optical analysis method, and computer program for optical analysis
JP2011185879A (en) * 2010-03-10 2011-09-22 Sony Corp Optical measuring instrument and method of the same
JP2012013690A (en) * 2010-07-01 2012-01-19 Sony Corp Fine particle analyzer and fine particle analysis method
JP2012026754A (en) * 2010-07-20 2012-02-09 Sony Corp Fine particle measurement device and light irradiation device
JP2012026837A (en) * 2010-07-22 2012-02-09 Sony Corp Fine particle measurement instrument

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106226224A (en) * 2016-08-18 2016-12-14 重庆玖润隆科技有限公司 A kind of particle analyzer optical system

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