JP2016100352A - Printed wiring board and manufacturing method of the same - Google Patents

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航 中村
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剛士 古澤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve connection reliability between a pad and a solder bump and release strain based on a difference between thermal expansion coefficients of a semiconductor element and a printed wiring board.SOLUTION: A printed wiring board comprises: a resin insulation layer 11 having a first surface 11a and a second surface 11b; a first conductor layer 12 which is formed on the first surface 11a side of the resin insulation layer 11 and includes pads 12c for mounting an electronic component and a wiring pattern 12b; and a second conductor layer 14 formed on the second surface 11b of the resin insulation layer 11. The pad 12c is composed of a base part 12c1 embedded in the resin insulation layer 11 and a post part 12c2 projecting from the resin insulation layer 11, and a width d of the post part 12c2 is smaller than a width w of the base part 12c1 and a surface of the base part 12c1 on the post 12c2 side is flush with the first surface 11a of the resin insulation layer 11. The pad 12c is an electric plated film where the base part 12c1 and the post part 12c2 are integrally formed.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、プリント配線板およびその製造方法に関する。さらに詳しくは、表面に半導体素子などが搭載される際に、半導体素子の電極端子と接続されるパッドの構造が改善されたプリント配線板およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a printed wiring board and a manufacturing method thereof. More particularly, the present invention relates to a printed wiring board having an improved structure of a pad connected to an electrode terminal of a semiconductor element when a semiconductor element or the like is mounted on the surface, and a method for manufacturing the same.

特許文献1には、その一面側に半導体素子がハンダバンプを介して搭載される多層基板が示されている。しかし、この特許文献1に記載される多層基板では、半導体素子が接続されるパッドの表面が平坦で、パッド周囲の最外層の表面と同一の高さか、または、最外層の表面に対して凹んでいる。   Patent Document 1 discloses a multilayer substrate on which a semiconductor element is mounted via a solder bump on one surface side. However, in the multilayer substrate described in Patent Document 1, the surface of the pad to which the semiconductor element is connected is flat and has the same height as the surface of the outermost layer around the pad, or is recessed with respect to the surface of the outermost layer. It is out.

特開2000−323613号公報JP 2000-323613 A

特許文献1に示されるような、表面が平坦なパッドで、その表面が、パッド周囲の表面と同一または凹んでいると、ハンダバンプの高さを高くすることが難しいと考えられる。このため、半導体素子と多層基板との熱膨張係数の差に起因する応力を高さの高いハンダバンプにより吸収し難くなったり、多層基板と半導体素子間にアンダーフィル樹脂を充填し難くなったりすると考えられる。また、パッドとハンダバンプとの接触面積が平坦部だけで小さいので、ハンダ付けの信頼性も低下すると考えられる。   If the surface of the pad is flat as shown in Patent Document 1 and the surface is the same as or recessed from the surface around the pad, it is considered difficult to increase the height of the solder bump. For this reason, it is difficult to absorb the stress caused by the difference in thermal expansion coefficient between the semiconductor element and the multilayer substrate with a high solder bump, and it is difficult to fill the underfill resin between the multilayer substrate and the semiconductor element. It is done. Further, since the contact area between the pad and the solder bump is small only at the flat portion, it is considered that the reliability of soldering also decreases.

本発明の目的は、パッドとハンダバンプとの接続の信頼性を向上させると共に、半導体素子とプリント配線板との熱膨張係数の差に基づく応力を緩和しやすい、すなわち高さの高いバンプを形成することができるプリント配線板およびその製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to improve the reliability of connection between a pad and a solder bump and to form a bump that is easy to relieve stress based on a difference in thermal expansion coefficient between a semiconductor element and a printed wiring board, that is, has a high height. It is providing the printed wiring board which can be manufactured, and its manufacturing method.

本発明のプリント配線板は、第1面、および該第1面と反対側の第2面を有する樹脂絶縁層と、前記樹脂絶縁層の前記第1面側に形成されている、電子部品を搭載するためのパッドおよび配線パターンを含む第1導体層と、前記樹脂絶縁層の前記第2面に形成される第2導体層と、前記樹脂絶縁層を貫通して形成され、前記第1導体層と前記第2導体層とを接続するビア導体と、を有している。そして、前記パッドは、前記樹脂絶縁層内に埋め込まれるベース部と前記樹脂絶縁層から突出しているポスト部とからなると共に、前記ポスト部の幅は前記ベース部の幅より小さく、かつ、前記ベース部の前記ポスト側の面が前記樹脂絶縁層の前記第1面と面一であり、前記パッドは、前記ベース部と前記ポスト部とが一体に形成された電気めっき膜である。   The printed wiring board of the present invention includes a resin insulating layer having a first surface and a second surface opposite to the first surface, and an electronic component formed on the first surface side of the resin insulating layer. A first conductor layer including a pad and a wiring pattern for mounting; a second conductor layer formed on the second surface of the resin insulating layer; and the first conductor formed through the resin insulating layer. And a via conductor connecting the layer and the second conductor layer. The pad includes a base portion embedded in the resin insulating layer and a post portion protruding from the resin insulating layer, and the width of the post portion is smaller than the width of the base portion, and the base The post-side surface of the portion is flush with the first surface of the resin insulating layer, and the pad is an electroplated film in which the base portion and the post portion are integrally formed.

本発明のプリント配線板の製造方法は、金属膜上に第1のめっきレジスト膜のパターンを形成することと、前記第1のめっきレジスト膜のパターンから露出する前記金属膜の表面に電気めっき膜を形成することと、前記第1のめっきレジスト膜を除去することと、前記第1のめっきレジスト膜の除去により露出する前記金属膜および前記電気めっき膜の表面にバリア層を形成することと、前記バリア層上に第2のめっきレジスト膜のパターンを形成することと、前記第2のめっきレジスト膜のパターンから露出する前記バリア層上に電気めっき膜を形成することにより、パッドのパターンを含む第1導体層を形成することと、前記第2のめっきレジスト膜を除去することと、前記第1導体層のパターンの間隙部および表面に形成され、前記第1導体層側を第1面、該第1面と反対面を第2面とする樹脂絶縁層を形成することと、前記樹脂絶縁層の前記第2面側から開口を形成し、該開口内にビア導体を形成すると共に、前記樹脂絶縁層の前記第2面に、前記ビア導体を介して前記第1導体層と接続される第2導体層を形成することと、前記金属膜および該金属膜上に形成された前記電気めっき膜を除去することと、前記バリア層を全面に亘って除去することと、を含む。   The method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention includes forming a pattern of a first plating resist film on a metal film, and forming an electroplating film on the surface of the metal film exposed from the pattern of the first plating resist film. Forming a barrier layer on the surface of the metal film and the electroplating film exposed by removing the first plating resist film, and removing the first plating resist film; A pattern of a pad is included by forming a pattern of a second plating resist film on the barrier layer and forming an electroplating film on the barrier layer exposed from the pattern of the second plating resist film. Forming the first conductor layer; removing the second plating resist film; and forming the first conductor layer in a gap portion and a surface of the pattern; Forming a resin insulating layer having a conductor layer side as a first surface and a surface opposite to the first surface as a second surface; and forming an opening from the second surface side of the resin insulating layer; Forming a via conductor and forming a second conductor layer connected to the first conductor layer via the via conductor on the second surface of the resin insulation layer; and the metal film and the metal film Removing the electroplated film formed thereon, and removing the barrier layer over the entire surface.

本発明の一実施形態のプリント配線板の断面説明図。Cross-sectional explanatory drawing of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG. 図1のプリント配線板の製造工程を示す図。The figure which shows the manufacturing process of the printed wiring board of FIG.

本発明の一実施形態のプリント配線板およびその製造方法が、図面を参照して説明される。図1は、本実施形態のプリント配線板1の断面説明図である。本実施形態のプリント配線板1は、第1面11a、およびその第1面11aと反対側の第2面11bを有する樹脂絶縁層11の第1面11a側に電子部品を搭載するためのパッド12c、第1パターン12a、および配線パターン12bを含む第1導体層12が形成されている。そして、樹脂絶縁層11の第2面11bに第2導体層14が形成され、さらに、樹脂絶縁層11を貫通して、第1導体層12と第2導体層14とを接続するビア導体15が形成されている。そして、パッド12cは、樹脂絶縁層11内に埋め込まれるベース部12c1と樹脂絶縁層11から突出しているポスト部12c2とからなると共に、ポスト部12c2の幅dはベース部12c1の幅wより小さく、かつ、ベース部12c1のポスト12c2側の面が樹脂絶縁層11の第1面11aと面一であり、パッド12cは、ベース部12c1とポスト部12c2とが一体に形成された電気めっき膜である。   A printed wiring board and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional explanatory view of a printed wiring board 1 of the present embodiment. The printed wiring board 1 of the present embodiment is a pad for mounting electronic components on the first surface 11a side of the resin insulating layer 11 having a first surface 11a and a second surface 11b opposite to the first surface 11a. A first conductor layer 12 including 12c, a first pattern 12a, and a wiring pattern 12b is formed. The second conductor layer 14 is formed on the second surface 11 b of the resin insulating layer 11, and further, the via conductor 15 that penetrates the resin insulating layer 11 and connects the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14. Is formed. The pad 12c includes a base portion 12c1 embedded in the resin insulating layer 11 and a post portion 12c2 protruding from the resin insulating layer 11, and the width d of the post portion 12c2 is smaller than the width w of the base portion 12c1. In addition, the surface of the base portion 12c1 on the post 12c2 side is flush with the first surface 11a of the resin insulating layer 11, and the pad 12c is an electroplated film in which the base portion 12c1 and the post portion 12c2 are integrally formed. .

ここにポスト部12c2およびベース部12c1の「幅」とは、ポスト部12c2およびベース部12c1の樹脂絶縁層11の第1面11aと略平行な面での断面形状で端から端までの一番長い部分の距離を意味し、断面が円形であれば直径を、矩形であれば対角線の長さ、楕円形状であれば長径の長さを意味する。   Here, the “width” of the post portion 12c2 and the base portion 12c1 is the cross-sectional shape of the post portion 12c2 and the base portion 12c1 in the plane substantially parallel to the first surface 11a of the resin insulating layer 11, and is the most from end to end. It means the distance of a long part. If the cross section is circular, it means the diameter, if it is rectangular, it means the length of the diagonal, and if it is elliptical, it means the length of the long diameter.

すなわち、本実施形態のプリント配線板1は、樹脂絶縁層11の第1面側の図示しない半導体素子が搭載される第1導体層12のパッド12cが、ベース部12c1とポスト部12c2とを有する構造に形成され、しかも電気めっきにより一体に形成されている。さらに、このベース部12c1は、第1パターン12aおよび配線パターン12bと同様に、樹脂絶縁層11内に埋め込まれ、その一面のみが樹脂絶縁層11の第1面11aと面一で露出し、ポスト部12c2は、樹脂絶縁層11の第1面11aから突出していることに特徴がある。   That is, in the printed wiring board 1 of the present embodiment, the pad 12c of the first conductor layer 12 on which the semiconductor element (not shown) on the first surface side of the resin insulating layer 11 is mounted has the base portion 12c1 and the post portion 12c2. It is formed in a structure and is integrally formed by electroplating. Further, the base portion 12c1 is embedded in the resin insulating layer 11 like the first pattern 12a and the wiring pattern 12b, and only one surface thereof is exposed flush with the first surface 11a of the resin insulating layer 11, and the post The part 12c2 is characterized in that it protrudes from the first surface 11a of the resin insulating layer 11.

このような構造に形成されることにより、このパッドに図示しない半導体素子の電極端子がハンダバンプにより接続される場合に、ポスト部12c2の上面との間でハンダ付けされるため、樹脂絶縁層11の第1面11aと半導体素子の電極端子が設けられる面との間の距離を大きくすることができる。その結果、プリント配線板1と半導体素子との間での熱膨張係数の違いにより生じる応力が吸収されやすくなる。また、その間の隙間にアンダーフィルとする樹脂層が流れ込みやすくなる。しかも、本実施形態によれば、パッド12cのベース部12c1とポスト部12c2とが一体に形成されているため、例えば銅めっきなどにより形成されれば、非常に電気抵抗を小さくすることができ、表面にニッケルメッキなどが施された場合と比べて、電気特性の優れたプリント配線板が得られる。   By forming in this structure, when the electrode terminal of the semiconductor element (not shown) is connected to the pad by a solder bump, it is soldered between the upper surface of the post portion 12c2, and therefore the resin insulating layer 11 The distance between the 1st surface 11a and the surface in which the electrode terminal of a semiconductor element is provided can be enlarged. As a result, the stress generated by the difference in thermal expansion coefficient between the printed wiring board 1 and the semiconductor element is easily absorbed. Moreover, it becomes easy to flow the resin layer which makes an underfill into the clearance gap between them. In addition, according to the present embodiment, since the base portion 12c1 and the post portion 12c2 of the pad 12c are integrally formed, for example, if formed by copper plating or the like, the electrical resistance can be extremely reduced, Compared with the case where the surface is nickel-plated or the like, a printed wiring board having excellent electrical characteristics can be obtained.

さらに、パッドがベース部12c1とポスト部12c2とで形成されており、ポスト部12c2が樹脂絶縁層11の第1面11aよりも突出しているので、ハンダ付けがされた場合に、ポスト部12c2の側面およびベース部12c1の露出面にもハンダが濡れやすく、広い面積で接着されるため、ハンダ付けの信頼性が向上する。しかも、パッド12cの表面には、パッド12cが、たとえば銅で形成された場合に、銅よりも電気抵抗が高いニッケルメッキやスズめっきのような膜が設けられないので、ハンダバンプなどと、電気抵抗の低い銅からなるパッド12cとが直接接合されることが可能となり、図示しない半導体素子などとの接続部の電気抵抗が小さくなることがある。   Further, since the pad is formed by the base portion 12c1 and the post portion 12c2, and the post portion 12c2 protrudes from the first surface 11a of the resin insulating layer 11, when the soldering is performed, the post portion 12c2 Since the solder is easily wetted on the side surface and the exposed surface of the base portion 12c1 and is bonded in a wide area, the reliability of soldering is improved. Moreover, when the pad 12c is formed of copper, for example, a film such as nickel plating or tin plating having a higher electric resistance than copper is not provided on the surface of the pad 12c. The pad 12c made of copper having a low thickness can be directly bonded, and the electrical resistance of the connection portion with a semiconductor element (not shown) may be reduced.

さらに、本実施形態のプリント配線板1は、後述する製造方法の実施形態で示されるように、バリア層23(図2D参照)としてニッケルめっき膜も使用されるが、そのニッケルめっき膜は、エッチングの際のバリア層として用いられるもので、パッドの部分だけに形成されるのではなく、全面に形成され、後に全てエッチングにより除去されるものである。そのため、パッド12cにバリア層として形成されたものが後にエッチング除去された場合と異なり、ベース部12c1の表面が樹脂絶縁層11の第1面11aよりも凹むことがなく、樹脂絶縁層11の第1面11aと面一に形成され得る。すなわち、パッド12cの部分だけに、たとえばニッケルめっき膜が施されて製造され、最終的にそのニッケルめっき膜がエッチングにより除去されると、樹脂絶縁層11の第1面11aからそのニッケルめっき膜の厚さ分だけ凹むことになる。その凹み分だけバンプが下がることになるため、樹脂絶縁層11と半導体素子との間隙が小さくなる。しかし、本実施形態のプリント配線板では、ニッケルめっき膜は全面に形成され、樹脂絶縁層11の第1面11aとパッド12cのベース部12c1の表面とは同じニッケルめっき膜に面しているため、ニッケルめっき膜がエッチング除去されても、樹脂絶縁層11の第1面11aとパッド12cのベース部12c1の表面とは面一になる。その結果、ハンダバンプはたとえベース部12c1の露出面までハンダが濡れ広がっても、樹脂絶縁層11の第1面11aよりも下がることはない。そのため、ハンダバンプの高さを高くすることができる。   Furthermore, the printed wiring board 1 of the present embodiment uses a nickel plating film as the barrier layer 23 (see FIG. 2D) as shown in an embodiment of the manufacturing method described later, but the nickel plating film is etched. In this case, it is used as a barrier layer and is not formed only on the pad portion, but is formed on the entire surface, and is later removed by etching. Therefore, unlike the case where what is formed as a barrier layer on the pad 12c is etched away later, the surface of the base portion 12c1 is not recessed from the first surface 11a of the resin insulating layer 11, and the first of the resin insulating layer 11 It can be formed flush with one surface 11a. That is, for example, a nickel plating film is applied only to the portion of the pad 12c, and when the nickel plating film is finally removed by etching, the nickel plating film is removed from the first surface 11a of the resin insulating layer 11. It will be recessed by the thickness. Since the bump is lowered by the amount of the depression, the gap between the resin insulating layer 11 and the semiconductor element is reduced. However, in the printed wiring board of the present embodiment, the nickel plating film is formed on the entire surface, and the first surface 11a of the resin insulating layer 11 and the surface of the base portion 12c1 of the pad 12c face the same nickel plating film. Even if the nickel plating film is removed by etching, the first surface 11a of the resin insulating layer 11 and the surface of the base portion 12c1 of the pad 12c are flush with each other. As a result, the solder bump does not fall below the first surface 11a of the resin insulating layer 11 even if the solder spreads to the exposed surface of the base portion 12c1. Therefore, the height of the solder bump can be increased.

樹脂絶縁層11は、第1面11aと、第1面11aの反対側の第2面11bとを有する絶縁層である。樹脂絶縁層11は、たとえばガラス繊維のような芯材にフィラーを含む樹脂組成物を含浸させたものでもよく、芯材を含まないで、フィラーを含む樹脂組成物だけで形成されたものでもよい。また、1層であってもよく、複数の絶縁層から形成されていてもよい。樹脂絶縁層11は、複数の絶縁層から形成されるならば、たとえば熱膨張率、柔軟性、厚さが容易に調整され得る。樹脂としては、エポキシ等が例示される。樹脂絶縁層11の厚さとしては、25〜100μmが例示される。第1面11a側には、第1導体層12が一面だけ露出するように、樹脂絶縁層11内に埋め込まれて形成され、樹脂絶縁層11の第2面11bには、第2導体層14が形成されている。   The resin insulating layer 11 is an insulating layer having a first surface 11a and a second surface 11b opposite to the first surface 11a. The resin insulating layer 11 may be a core material such as glass fiber impregnated with a resin composition containing a filler, or may be formed only of a resin composition containing a filler without containing a core material. . Further, it may be a single layer or may be formed from a plurality of insulating layers. If the resin insulating layer 11 is formed of a plurality of insulating layers, for example, the coefficient of thermal expansion, flexibility, and thickness can be easily adjusted. Examples of the resin include epoxy. Examples of the thickness of the resin insulating layer 11 include 25 to 100 μm. On the first surface 11 a side, the first conductor layer 12 is embedded and formed in the resin insulating layer 11 so that only one surface is exposed. The second conductor layer 14 is formed on the second surface 11 b of the resin insulating layer 11. Is formed.

第1導体層12は、樹脂絶縁層11の第1面11a側の樹脂絶縁層11内に埋め込まれて形成されるパターンである。パターンとしては、第2導体層14と接続するためのビア導体15と接続される第1パターン12a、配線パターン12b、前述の半導体素子と接続するためのパッド12cなどが形成されている。第1導体層12を形成する方法は、特に限定されない。好ましくは、第1導体層12は、電気めっきにより形成される。しかし、他の金属箔などを含んでもよい。第1導体層12が主として電気めっき膜であるならば、純粋な金属膜として形成されるという利点がある。第1導体層12を構成する材料は、銅が例示される。銅は、電気めっきが容易でありながら、電気抵抗が小さく腐食の問題も生じにくい。この第1導体層12の厚さは、10〜20μmが例示される。   The first conductor layer 12 is a pattern formed by being embedded in the resin insulating layer 11 on the first surface 11 a side of the resin insulating layer 11. As the pattern, a first pattern 12a connected to the via conductor 15 for connecting to the second conductor layer 14, a wiring pattern 12b, a pad 12c for connecting to the above-described semiconductor element, and the like are formed. The method for forming the first conductor layer 12 is not particularly limited. Preferably, the first conductor layer 12 is formed by electroplating. However, other metal foils may be included. If the first conductor layer 12 is mainly an electroplated film, there is an advantage that it is formed as a pure metal film. The material constituting the first conductor layer 12 is exemplified by copper. Copper is easy to electroplat, but has low electrical resistance and is less likely to cause corrosion. As for the thickness of this 1st conductor layer 12, 10-20 micrometers is illustrated.

この第1導体層12は、後述する製造方法の例で明らかになるように、樹脂絶縁層11の第1面11a側に埋め込んで形成されながら、パッド12cのポスト部12c2だけが樹脂絶縁層11の第1面11aから突出している。後述されるように、ベース部12c1とポスト部12c2の凹凸部と逆パターンの金属膜19と電気めっき膜22(図2C参照)により形成された凹凸の表面にニッケルなどのめっき膜が形成され、その凹部内に銅などの電気めっき膜が埋め込まれることにより形成される。従って、ベース部12c1とその中心部に立ち上がっているポスト部12c2とからなる逆T字型のパッド12cが電気めっきにより一体に形成されている。   The first conductor layer 12 is formed so as to be embedded on the first surface 11a side of the resin insulating layer 11 as will be apparent from an example of a manufacturing method described later. It protrudes from the first surface 11a. As will be described later, a plating film such as nickel is formed on the uneven surface formed by the uneven portion of the base portion 12c1 and the post portion 12c2, the metal film 19 having an opposite pattern, and the electroplating film 22 (see FIG. 2C), It is formed by embedding an electroplating film such as copper in the recess. Accordingly, an inverted T-shaped pad 12c composed of the base portion 12c1 and the post portion 12c2 rising at the center thereof is integrally formed by electroplating.

第2導体層14は、樹脂絶縁層11の第2面11b上に形成されている。すなわち、この第2導体層14は樹脂絶縁層11内には埋め込まれないで、第2面11b上に形成されている。第2導体層14を形成する方法は、特に限定されない。第2導体層14を構成する材料は、銅が例示される。しかし、これには限定されない。第2導体層14の構成は、たとえば金属箔14aと、無電解めっきなどからなる金属被膜14b(図2J参照)と、電気めっき膜14c(図2K参照)などとにより形成されてもよいし、金属箔がなくて、金属被膜14aと電気めっき膜14cとで構成されてもよい。本実施形態では、銅箔14aと無電解銅めっきからなる金属被膜14bと電気めっき膜14cとで構成されている。第2導体層14の厚さは、10〜20μmが例示される。第2導体層14は、図1では、これらの合成層として1層で示されている。この電気めっき膜により形成される場合、予め不要な部分にレジスト膜が形成されて電気めっきが行われるアディティブ法でもよいし、全面に電気めっき膜が形成された後に、不要部分がエッチングにより除去されるサブトラクト法で形成されてもよい。しかし、ファインピッチの配線層を形成するには、パターニングの点で、アディティブ法の方が好ましい。いずれにしても所望の回路パターンが形成されることにより、第2導体層14が形成される。   The second conductor layer 14 is formed on the second surface 11 b of the resin insulating layer 11. That is, the second conductor layer 14 is not embedded in the resin insulating layer 11 but is formed on the second surface 11b. The method for forming the second conductor layer 14 is not particularly limited. The material constituting the second conductor layer 14 is exemplified by copper. However, it is not limited to this. The configuration of the second conductor layer 14 may be formed of, for example, a metal foil 14a, a metal coating 14b (see FIG. 2J) made of electroless plating, an electroplating film 14c (see FIG. 2K), and the like. There may be no metal foil, and it may be composed of a metal coating 14a and an electroplating film 14c. In this embodiment, it is composed of a copper foil 14a, a metal coating 14b made of electroless copper plating, and an electroplating film 14c. As for the thickness of the 2nd conductor layer 14, 10-20 micrometers is illustrated. In FIG. 1, the second conductor layer 14 is shown as a single layer as these synthetic layers. When the electroplating film is formed, an additive method in which a resist film is previously formed on an unnecessary portion and electroplating is performed may be used, or after the electroplating film is formed on the entire surface, the unnecessary portion is removed by etching. The subtracting method may be used. However, in order to form a fine pitch wiring layer, the additive method is preferable in terms of patterning. In any case, the second conductor layer 14 is formed by forming a desired circuit pattern.

ビア導体15は、樹脂絶縁層11を貫通し、第1導体層12と第2導体層14とを電気的に接続している。ビア導体15は、後述する製造方法で説明されるように、樹脂絶縁層11の第2面11bに設けられる金属箔14aの上からレーザ光照射による加工により第1導体層12が底面となるような開口11dが形成され、その開口11d内に導体を埋めることにより形成されている。ビア導体15としては、たとえば銅が例示され、本実施形態では、第2導体層14の形成と同時に銅の電気めっきにより埋め込まれているので、銅めっき膜により形成される。   The via conductor 15 penetrates the resin insulating layer 11 and electrically connects the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14. As will be described later in the manufacturing method, the via conductor 15 is formed such that the first conductor layer 12 becomes the bottom surface by processing with laser light irradiation from above the metal foil 14 a provided on the second surface 11 b of the resin insulating layer 11. 11d is formed, and the opening 11d is formed by burying a conductor. As the via conductor 15, for example, copper is exemplified, and in the present embodiment, the via conductor 15 is embedded by copper electroplating simultaneously with the formation of the second conductor layer 14.

第1導体層12の図示しない電子部品が搭載されるパッド12cには、OSPなどの保護膜が形成される。後述するハンダバンプなどとの接続性を向上させる。保護膜は、Ni/Au、Ni/Pd/Au、Sn等の表面処理でもよいが、たとえばパッド12cが銅で形成される場合に、前述のように、電気抵抗の良好なパッド12cの銅とハンダバンプなどとが直接接合されることにより接合部の電気抵抗が低くなるという観点から、前述のOSPが好ましい。   A protective film such as OSP is formed on the pad 12c on which the electronic component (not shown) of the first conductor layer 12 is mounted. Connectivity with solder bumps to be described later is improved. The protective film may be a surface treatment such as Ni / Au, Ni / Pd / Au, Sn, etc. For example, when the pad 12c is formed of copper, as described above, the copper of the pad 12c with good electrical resistance The aforementioned OSP is preferable from the viewpoint that the electrical resistance of the joint portion is lowered by directly joining the solder bump or the like.

次に、図1に示されるプリント配線板の製造方法が図2A〜2Oを参照しながら説明される。   Next, a method for manufacturing the printed wiring board shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS.

まず、図2Aに示されるように、金属膜19上に第1のめっきレジスト膜21のパターンが形成される。具体的には、まず、ダミー基板18aの両面に、キャリア銅箔のようなキャリア金属箔18bが貼り付けられた金属膜19のキャリア金属箔18b側がダミー基板18aに貼り付けられて、ダミー基板18aとキャリア金属箔18bとで支持基板18が形成され、その支持基板18の表面に金属膜19が貼り付けられたものが準備される。この例では、キャリア金属箔18bと金蔵膜19とが先に接着され、その後にダミー基板18a側にキャリア金属箔18bを向けて、熱圧着により接合される。この金属膜19の表面にめっきレジスト膜が設けられ、パターニングされることにより第1のめっきレジスト膜21が形成される。この第1のめっきレジスト膜21は、前述のパッド12cのポスト部12c2に相当する部分であるので、そのパターンに合せてパターニングされる。しかし、後述するニッケルめっき膜23(図2D参照)の厚さ分だけ大きく形成される。   First, as shown in FIG. 2A, a pattern of the first plating resist film 21 is formed on the metal film 19. Specifically, first, the carrier metal foil 18b side of the metal film 19 in which the carrier metal foil 18b such as the carrier copper foil is attached to both surfaces of the dummy substrate 18a is attached to the dummy substrate 18a, and the dummy substrate 18a. Then, a support substrate 18 is formed by the carrier metal foil 18b, and a metal substrate 19 attached to the surface of the support substrate 18 is prepared. In this example, the carrier metal foil 18b and the metal film 19 are bonded first, and then the carrier metal foil 18b is directed to the dummy substrate 18a side and bonded by thermocompression bonding. A plating resist film is provided on the surface of the metal film 19, and a first plating resist film 21 is formed by patterning. Since the first plating resist film 21 is a portion corresponding to the post portion 12c2 of the pad 12c, the first plating resist film 21 is patterned in accordance with the pattern. However, it is formed larger by the thickness of a nickel plating film 23 (see FIG. 2D) described later.

図2Aに示される例では、支持基板18の両面に金属膜19が、接着剤等により貼り付けられる。ダミー基板18aおよびキャリア金属箔18bは、後で除去して廃棄されるものなので、支持基板18の両面に金属膜19が形成されることにより、材料の有効利用が図られている。しかし、片面だけで製造されてもよいし、両面で異なるプリント配線板が形成されてもよい。この実施例では、支持基板18の両面に金属膜19が設けられても、図の支持基板18の上側と下側は全く同じ構造のプリント配線板が形成されており、以下の説明では、主として上側だけについての説明がなされ、図面の符号も下側の部分については適当に省略されている。また、支持基板18は、廃棄されるものであるため、材料も特に限定されないが、キャリア金属箔18bとしては、たとえば銅、ニッケルなどが用いられる。このキャリア金属箔18bと金属膜19とは、後で分離されるため、分離しやすい接着剤、たとえば熱可塑性樹脂により全面が接着されてもよい。このような接着剤で接着されることにより、後の工程で温度を上昇させて引き剥されることにより、金属膜19と支持基板18とは容易に分離される。   In the example shown in FIG. 2A, metal films 19 are attached to both surfaces of the support substrate 18 with an adhesive or the like. Since the dummy substrate 18a and the carrier metal foil 18b are removed and discarded later, the metal film 19 is formed on both surfaces of the support substrate 18, thereby effectively using the material. However, it may be manufactured only on one side, or different printed wiring boards may be formed on both sides. In this embodiment, even if the metal film 19 is provided on both surfaces of the support substrate 18, printed circuit boards having the same structure are formed on the upper side and the lower side of the support substrate 18 in the figure. Only the upper side will be described, and the reference numerals in the drawings are appropriately omitted for the lower part. Further, since the support substrate 18 is discarded, the material is not particularly limited, but as the carrier metal foil 18b, for example, copper, nickel or the like is used. Since the carrier metal foil 18b and the metal film 19 are separated later, the entire surface may be adhered by an adhesive that can be easily separated, for example, a thermoplastic resin. By bonding with such an adhesive, the metal film 19 and the support substrate 18 are easily separated by being peeled off by raising the temperature in a later step.

または、たとえば支持基板18の周囲だけで通常の接着剤により貼り付けられてもよい。周囲が切断除去されることにより、容易に分離されるからである。以下に説明される実施形態では、前者の方法を採用している。この支持基板18と金属膜19の両者間には、熱膨張率などの差が無いことが望ましいため、金属膜19にニッケルが用いられるのであれば、支持基板18の表面に設けられる金属箔もニッケルが望ましい。しかし、これには制約されない。また、この支持基板18の金属膜19が設けられる面には、適宜、剥離層が設けられても良い。   Or, for example, it may be attached with a normal adhesive only around the support substrate 18. This is because the surroundings are easily separated by cutting and removing. In the embodiment described below, the former method is adopted. Since it is desirable that there is no difference in coefficient of thermal expansion between the support substrate 18 and the metal film 19, if nickel is used for the metal film 19, a metal foil provided on the surface of the support substrate 18 is also used. Nickel is desirable. However, this is not a limitation. In addition, a release layer may be appropriately provided on the surface of the support substrate 18 on which the metal film 19 is provided.

次に、図2Bに示されるように、第1のめっきレジスト膜21のパターンから露出する金属膜19の表面に電気めっき膜22が形成される。具体的には、金属膜19を給電層として、たとえば銅の電気めっきを行うことにより、第1のめっきレジスト膜21が形成されないで金属膜19が露出する部分だけ電気めっき膜22が形成される。この電気めっきは、通常の方法で行われる。   Next, as shown in FIG. 2B, an electroplating film 22 is formed on the surface of the metal film 19 exposed from the pattern of the first plating resist film 21. Specifically, by performing, for example, copper electroplating using the metal film 19 as a power feeding layer, the electroplating film 22 is formed only in a portion where the metal film 19 is exposed without forming the first plating resist film 21. . This electroplating is performed by a normal method.

次に、図2Cに示されるように、第1のめっきレジスト膜21が除去される。具体的には、たとえばレジスト剥離液に浸漬することにより、第1のめっきレジスト膜21のみが除去されて、電気めっき膜22のパターンのみが残る。このパターンは、前述の第1のめっきレジスト膜21のパターンと逆のパターン、すなわち第1のめっきレジスト膜21のパターンのなかったところに電気めっき膜22のパターンが形成され、第1のめっきレジスト膜21のパターンの部分がなくなったものである。   Next, as shown in FIG. 2C, the first plating resist film 21 is removed. Specifically, for example, by immersing in a resist stripping solution, only the first plating resist film 21 is removed, and only the pattern of the electroplating film 22 remains. This pattern is a pattern opposite to the pattern of the first plating resist film 21 described above, that is, the pattern of the electroplating film 22 is formed where there is no pattern of the first plating resist film 21, and the first plating resist is formed. The pattern portion of the film 21 is eliminated.

その後、図2Dに示されるように、第1のめっきレジスト膜21の除去により露出する金属膜19および電気めっき膜22の表面にバリア層23が形成される。具体的には、たとえば電気めっき膜22と金属膜19を給電層としてニッケルなどの電気めっきを行うことにより、露出面の全面にニッケル膜からなるバリア層23が形成される。このバリア層23は、後述する電気めっき膜22がエッチングにより除去される際(図2N参照)に、下層のパッド部12c2などの第1導体層12がエッチングされないようにするものであるため、ニッケルめっきでなくても、電気めっき膜22と異なる材料であればよい。また、このバリア層23の厚さは、数μm程度あれば充分である。   Thereafter, as shown in FIG. 2D, a barrier layer 23 is formed on the surfaces of the metal film 19 and the electroplating film 22 exposed by the removal of the first plating resist film 21. Specifically, for example, by performing electroplating of nickel or the like using the electroplating film 22 and the metal film 19 as a power feeding layer, the barrier layer 23 made of a nickel film is formed on the entire exposed surface. The barrier layer 23 prevents the first conductor layer 12 such as the lower pad portion 12c2 from being etched when the electroplating film 22 described later is removed by etching (see FIG. 2N). Even if it is not plating, a material different from that of the electroplating film 22 may be used. Further, it is sufficient that the barrier layer 23 has a thickness of about several μm.

その後、図2Eに示されるように、バリア層23上に第2のめっきレジスト膜24のパターンが形成される。この第2のめっきレジスト膜24のパターンは、第1導体層12のパターンを形成するもので、前述の第1パターン12a、配線パターン12b、パッド12cが形成される部分が露出するようにパターニングされる。すなわち、第1導体層12のパターンの部分のみが除去されて、第1導体層12のパターンのない部分のみに第2のめっきレジスト膜24のパターンが形成される。具体的には、めっきレジスト用フィルムの積層または塗付により全面にめっきレジスト膜が形成され、写真食刻により所望のパターンが形成される。   Thereafter, as shown in FIG. 2E, a pattern of the second plating resist film 24 is formed on the barrier layer 23. The pattern of the second plating resist film 24 forms the pattern of the first conductor layer 12, and is patterned so that the portions where the first pattern 12a, the wiring pattern 12b, and the pad 12c are formed are exposed. The That is, only the pattern portion of the first conductor layer 12 is removed, and the pattern of the second plating resist film 24 is formed only on the portion without the pattern of the first conductor layer 12. Specifically, a plating resist film is formed on the entire surface by laminating or coating a plating resist film, and a desired pattern is formed by photolithography.

その後、図2Fに示されるように、第2のめっきレジスト膜24のパターンから露出するバリア層23上に電気めっき膜が形成されることにより、パッド12cなどのパターンを含む第1導体層12が形成される。具体的には、バリア層23を給電層として電気めっきが施されることにより、バリア層23の露出面、すなわち、前述の電気めっき膜22のパターンの凹部内およびそのパターンの表面上に、バリア層23を介して電気めっき膜が形成され、第1導体層12が形成される。この第1導体層12は、前述のように、ビア導体15が接続される第1パターン12aと、配線パターン12bと、パッド12cとが形成されている。すなわち、このパターンが形成されるように、前述の第2のめっきレジスト膜24のパターンが形成されている。このパッド12cのパターンは、前述のように、電気めっき膜22の凹部内に形成されたポスト部12c2と、第1パターン12aなどと同一層に形成されるベース部12c1とで一体に形成されている。この電気めっき膜は、電気抵抗が小さいことから銅が好ましいが、銅に限定されるものではない。   Thereafter, as shown in FIG. 2F, an electroplating film is formed on the barrier layer 23 exposed from the pattern of the second plating resist film 24, whereby the first conductor layer 12 including the pattern such as the pad 12c is formed. It is formed. Specifically, by performing electroplating using the barrier layer 23 as a power feeding layer, the barrier layer 23 is exposed on the exposed surface, that is, in the concave portion of the pattern of the electroplating film 22 and on the surface of the pattern. An electroplating film is formed through the layer 23, and the first conductor layer 12 is formed. As described above, the first conductor layer 12 is formed with the first pattern 12a to which the via conductor 15 is connected, the wiring pattern 12b, and the pad 12c. That is, the pattern of the second plating resist film 24 is formed so that this pattern is formed. As described above, the pattern of the pad 12c is integrally formed by the post portion 12c2 formed in the concave portion of the electroplating film 22 and the base portion 12c1 formed in the same layer as the first pattern 12a and the like. Yes. The electroplated film is preferably copper because of its low electrical resistance, but is not limited to copper.

次に、図2Gに示されるように、第2のめっきレジスト膜24が除去される。この第2のめっきレジスト膜24の除去も、前述の第1のめっきレジスト膜21の除去と同様に、することにより、第2のめっきレジスト膜22のみが簡単に除去される。その結果、図2Gに示されるように、第1導体層12のパターンが顕在化する。   Next, as shown in FIG. 2G, the second plating resist film 24 is removed. The removal of the second plating resist film 24 is performed in the same manner as the removal of the first plating resist film 21 described above, whereby only the second plating resist film 22 is easily removed. As a result, as shown in FIG. 2G, the pattern of the first conductor layer 12 becomes obvious.

次に、図2Hに示されるように、第1導体層12のパターンの間隙部および第1導体層12の表面に樹脂絶縁層11が形成され、第1導体層12側を第1面11a、その第1面11aと反対面を第2面11bとする樹脂絶縁層11とされる。具体的には、樹脂フィルム状のプリプレグと第2導体層14の一部となる金属箔14aが積層されて接着される。このプリプレグおよび金属箔14aの接着は、加圧および加熱して貼り合わせる方法が用いられる。この金属箔14aは、無くても構わない。設けられる場合でも、薄くてよく、2〜5μm程度の厚さがあれば充分である。なお、樹脂絶縁層11と面する側の第1導体層12などの面は粗面に形成されていることが望ましいが、図では省略されている。粗面にする方法としては、ソフトエッチング処理や、黒化(酸化)−還元処理などが例示される。また、粗化処理の前に、粗化を安定させるために電気めっき銅の結晶を成長させるアニール処理が行われてもよい。   Next, as shown in FIG. 2H, a resin insulating layer 11 is formed on the gap portion of the pattern of the first conductor layer 12 and on the surface of the first conductor layer 12, and the first conductor layer 12 side faces the first surface 11a, The resin insulating layer 11 has a second surface 11b opposite to the first surface 11a. Specifically, a resin film-like prepreg and a metal foil 14a that becomes a part of the second conductor layer 14 are laminated and bonded. For bonding the prepreg and the metal foil 14a, a method of applying pressure and heating to bond them together is used. This metal foil 14a may be omitted. Even if it is provided, it may be thin, and a thickness of about 2 to 5 μm is sufficient. In addition, although it is desirable that surfaces such as the first conductor layer 12 on the side facing the resin insulating layer 11 are rough surfaces, they are omitted in the drawing. Examples of the roughening method include a soft etching process and a blackening (oxidation) -reduction process. In addition, before the roughening treatment, an annealing treatment for growing an electroplated copper crystal may be performed in order to stabilize the roughening.

次に、図2Iに示されるように、樹脂絶縁層11の第2面11b側から開口11dが形成される。この開口11dを形成する方法は、レーザ光照射の方法が用いられる。すなわち、第1樹脂絶縁層11の両面に設けられる第1導体層12と第2導体層14とが接続される部分に形成され、第2導体層14の一部となる第2金属箔14aの表面から第1導体層12の第1パターン12aの底面に向けて、CO2レーザ光等が照射されることにより加工される。その結果、樹脂絶縁層11に、ビア導体15用の開口11dが形成される。 Next, as illustrated in FIG. 2I, an opening 11 d is formed from the second surface 11 b side of the resin insulating layer 11. As a method of forming the opening 11d, a laser beam irradiation method is used. That is, the second metal foil 14 a formed on the portion where the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14 provided on both surfaces of the first resin insulating layer 11 are connected and which is a part of the second conductor layer 14. Processing is performed by irradiating CO 2 laser light or the like from the surface toward the bottom surface of the first pattern 12 a of the first conductor layer 12. As a result, an opening 11 d for the via conductor 15 is formed in the resin insulating layer 11.

その後、図2Jに示されるように、開口11dの内面および第2金属箔14a上に無電解めっき膜等の金属被膜14bが形成される。この金属被膜14bは、開口11d内の樹脂絶縁層11上に電気めっき膜を形成するための給電層とするためである。この金属被膜14bは、無電解メッキ法でなくても、スパッタリングや真空蒸着などで形成されてもよい。そして、その表面にレジスト膜25が形成される。このレジスト膜25は、第2導体層14のパターン以外のところに電気めっき膜が付着しないように、カバーするもので、このようなアディティブ法を用いないで、後からパターニングをするサブトラクト法を用いるなら、このレジスト膜25の形成は不要である。   Thereafter, as shown in FIG. 2J, a metal coating 14b such as an electroless plating film is formed on the inner surface of the opening 11d and the second metal foil 14a. This metal coating 14b is used as a power feeding layer for forming an electroplating film on the resin insulation layer 11 in the opening 11d. The metal coating 14b may be formed by sputtering or vacuum vapor deposition instead of the electroless plating method. Then, a resist film 25 is formed on the surface. This resist film 25 is used to cover the electroplating film so that the electroplating film does not adhere to a portion other than the pattern of the second conductor layer 14, and a subtracting method for patterning later is used without using such an additive method. Then, the formation of the resist film 25 is unnecessary.

その後、図2Kに示されるように、金属被膜14bを給電層としてその表面に、たとえば電気めっきにより、開口11d内にビア導体15が形成されると共に、金属箔14a上の金属被膜14bの表面に電気めっき膜14cの層が形成される。この電気めっき膜14cは、たとえば全面に形成されて、第2導体層14の形成と共に同時にパターニングされてもよいが、この例では、前述の図2Jに示されるように、レジスト膜25が形成され、第2導体層14のパターンの部分だけを開口して、その開口部のみに電気めっきが施されることにより、パターンめっきが施されている。本実施形態では、この金属箔14a、金属被膜14bおよび電気めっき膜14cにより第2導体層14が構成され、図1では、これらをまとめて1層で第2導体層14として示されている。なお、図2Kにおいては、金属箔14aと金属被膜14bがまだ全面に設けられたままで、完全にはパターニングされていないが、便宜上第2導体層14とされている。   After that, as shown in FIG. 2K, the metal coating 14b is used as a power feeding layer on the surface thereof, and via conductors 15 are formed in the openings 11d by, for example, electroplating, and on the surface of the metal coating 14b on the metal foil 14a. A layer of the electroplating film 14c is formed. The electroplating film 14c may be formed, for example, on the entire surface and patterned simultaneously with the formation of the second conductor layer 14, but in this example, as shown in FIG. 2J, a resist film 25 is formed. Only the pattern portion of the second conductor layer 14 is opened, and electroplating is performed only on the opening portion, so that pattern plating is performed. In the present embodiment, the second conductor layer 14 is constituted by the metal foil 14a, the metal coating 14b, and the electroplating film 14c, and these are collectively shown as the second conductor layer 14 in FIG. In FIG. 2K, the metal foil 14a and the metal film 14b are still provided on the entire surface and are not completely patterned, but are the second conductor layer 14 for convenience.

その後、たとえば図2Lに示されるように、支持基板18が除去される。なお、支持基板18が除去されることにより2個の積層体が得られるが、図2Lにおいて、支持基板18の下側の積層体のみが示されている。前述のように、支持基板18(ダミー基板18aの表面に貼り付けられるキャリア銅箔18b)と金属膜19とは、たとえば温度を上昇させてずらせることにより剥離することができるような熱可塑性樹脂により接着されているだけであるため、温度を上昇させて力が加えられるだけで、支持基板18は簡単に分離される。その結果、図2Lに示されるように、金属膜19の支持基板18との接合面が露出する。なお、このダミー基板18と金属膜13とがその周囲で接着されている場合には、その接着されている部分の内側(製品群側)で切断されることにより、簡単に分離され得る。   Thereafter, for example, as shown in FIG. 2L, the support substrate 18 is removed. In addition, although two laminated bodies are obtained by removing the support substrate 18, only the lower laminated body of the support substrate 18 is shown in FIG. 2L. As described above, the support substrate 18 (the carrier copper foil 18b attached to the surface of the dummy substrate 18a) and the metal film 19 can be separated from each other by, for example, increasing the temperature and shifting the thermoplastic resin. Therefore, the supporting substrate 18 can be easily separated simply by increasing the temperature and applying a force. As a result, as shown in FIG. 2L, the bonding surface of the metal film 19 with the support substrate 18 is exposed. When the dummy substrate 18 and the metal film 13 are bonded around the dummy substrate 18, the dummy substrate 18 and the metal film 13 can be easily separated by cutting inside the bonded portion (product group side).

次に、図2Mに示されるように、第2導体層14側の全面に、たとえばPETフィルムなどからなる保護フィルム26が貼り付けられる。次の工程での金属膜19および電気めっき膜22のエッチング除去の際に第2導体層14もエッチングされないように、保護するためである。従って、エッチング液から第2導体層14が保護されれば、PETフィルムに限定されず、他の材料からなる保護フィルムであってもよい。   Next, as shown in FIG. 2M, a protective film 26 made of, for example, a PET film is attached to the entire surface on the second conductor layer 14 side. This is to protect the second conductor layer 14 from being etched when the metal film 19 and the electroplating film 22 are removed by etching in the next step. Therefore, if the 2nd conductor layer 14 is protected from etching liquid, it will not be limited to PET film, The protective film which consists of another material may be sufficient.

その後、金属膜19および金属膜19上に形成された電気めっき膜22を除去する。具体的には、金属膜19および電気めっき膜22は、通常銅により形成されているので、たとえば銅をエッチングするエッチング液に浸漬することにより、金属膜19および電気めっき膜22をエッチング除去する。エッチング液により、金属膜19および電気めっき膜22の銅が溶解して除去される。しかし、その下のバリア層23は、たとえばニッケルなどの異なる金属により形成されているので、エッチングされず、バリア層23が露出すると、エッチングは止まる。このバリア層23はニッケルでなくても、金属膜19や電気めっき膜22に用いられる材料と異なる材料であれば、他の材料でもよい。要は、金属膜19および電気めっき膜22のエッチングの際に、その境界部でエッチングが止まる材料であればよい。   Thereafter, the metal film 19 and the electroplating film 22 formed on the metal film 19 are removed. Specifically, since the metal film 19 and the electroplating film 22 are usually formed of copper, the metal film 19 and the electroplating film 22 are removed by etching, for example, by immersing in an etching solution for etching copper. The copper in the metal film 19 and the electroplating film 22 is dissolved and removed by the etching solution. However, since the underlying barrier layer 23 is formed of a different metal such as nickel, for example, it is not etched and etching stops when the barrier layer 23 is exposed. The barrier layer 23 may not be nickel, but may be other materials as long as the material is different from the material used for the metal film 19 and the electroplating film 22. In short, any material can be used as long as the etching stops at the boundary when the metal film 19 and the electroplating film 22 are etched.

その後、図2Oに示されるように、バリア層23が全面に亘って除去される。具体的には、バリア層23がニッケルで形成されている場合、ニッケルをエッチングし、銅をエッチングしない、たとえば硫酸と過酸化水素を含むエッチング液に浸漬することにより、バリア層23のみが溶解して除去され、第1導体層12が露出する。第1導体層12は、全くエッチングされないため、バリア層23の面に並んでいた樹脂絶縁層11の第1面11aと第1導体層12の各パターンの露出面とは面一になって露出する。   Thereafter, as shown in FIG. 2O, the barrier layer 23 is removed over the entire surface. Specifically, when the barrier layer 23 is formed of nickel, only the barrier layer 23 is dissolved by etching nickel and not etching copper, for example, by immersing in an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide. The first conductor layer 12 is exposed. Since the first conductor layer 12 is not etched at all, the first surface 11a of the resin insulating layer 11 aligned with the surface of the barrier layer 23 and the exposed surface of each pattern of the first conductor layer 12 are flush with each other and exposed. To do.

その後、保護フィルム26が剥離され、さらに、軽く銅をエッチングするエッチング液に全体を浸漬する。第2導体層の金属箔14aと金属被膜14bが全面に形成されて第2導体層の各パターンを連結している状態になっているので、第2導体層14の各パターン間をエッチングして除去し、各パターンを分離するためである。なお、このエッチングは、金属箔14aおよび金属被膜14bが共に非常に薄く、数μm程度であるため、他の部分をマスクすることなく、全体をエッチング液に浸漬することにより、各パターンを分離独立させることができる。その状態が図1に示されている。なお、この図1では、第2導体層14の金属箔14aおよび金属被膜14bの区別は図示されていない。   Thereafter, the protective film 26 is peeled off, and the whole is immersed in an etching solution for lightly etching copper. Since the metal foil 14a and the metal coating 14b of the second conductor layer are formed on the entire surface and are connected to the patterns of the second conductor layer, the pattern between the patterns of the second conductor layer 14 is etched. This is for removing and separating each pattern. In this etching, both the metal foil 14a and the metal coating 14b are very thin and are about several μm. Therefore, each pattern is separated and independent by immersing the whole in an etching solution without masking other portions. Can be made. This state is shown in FIG. In FIG. 1, the distinction between the metal foil 14a and the metal coating 14b of the second conductor layer 14 is not shown.

なお、この第2導電層14側に、さらに樹脂絶縁層や導体層が積層され、多層プリント配線板とされることもできる。さらに、最外層にはソルダーレジスト層が設けられ、接続部だけに開口部が形成されるが、上記実施例では省略されている。なお、図示しないソルダーレジスト層の開口部から露出するパッド12cや配線パターン12bの露出部の表面には、OSP、Ni/Au、Ni/Pd/Au、Snなどの表面処理が行われる。パッド12cには、前述のようにOSPが塗布されることが好ましい。   A resin insulating layer and a conductor layer may be further laminated on the second conductive layer 14 side to form a multilayer printed wiring board. Further, a solder resist layer is provided in the outermost layer, and an opening is formed only in the connection portion, but this is omitted in the above embodiment. A surface treatment such as OSP, Ni / Au, Ni / Pd / Au, or Sn is performed on the exposed surface of the pad 12c or the wiring pattern 12b exposed from the opening of the solder resist layer (not shown). As described above, OSP is preferably applied to the pad 12c.

1 プリント配線板
11 樹脂絶縁層
11a 第1面
11b 第2面
11d 開口
12 第1導体層
12a 第1パターン
12b 配線パターン
12c パッド
12c1 ベース部
12c2 ポスト部
14 第2導体層
14a 金属箔
14b 金属被膜
14c 電気めっき膜
15 ビア導体
18 支持基板
19 金属膜
21 第1のめっきレジスト膜
22 電気めっき膜
23 バリア層
24 第2のめっきレジスト膜
25 レジスト膜
26 保護フィルム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Printed wiring board 11 Resin insulating layer 11a 1st surface 11b 2nd surface 11d Opening 12 1st conductor layer 12a 1st pattern 12b Wiring pattern 12c Pad 12c1 Base part 12c2 Post part 14 2nd conductor layer 14a Metal foil 14b Metal film 14c Electroplating film 15 Via conductor 18 Support substrate 19 Metal film 21 First plating resist film 22 Electroplating film 23 Barrier layer 24 Second plating resist film 25 Resist film 26 Protective film

Claims (11)

第1面、および該第1面と反対側の第2面を有する樹脂絶縁層と、
前記樹脂絶縁層の前記第1面側に形成されている、電子部品を搭載するためのパッドおよび配線パターンを含む第1導体層と、
前記樹脂絶縁層の前記第2面に形成される第2導体層と、
前記樹脂絶縁層を貫通して形成され、前記パッドと前記第2導体層とを接続するビア導体と、
を有するプリント配線板であって、
前記パッドは、前記樹脂絶縁層内に埋め込まれるベース部と前記樹脂絶縁層から突出しているポスト部とからなると共に、前記ポスト部の幅は前記ベース部の幅より小さく、かつ、前記ベース部の前記ポスト側の面が前記樹脂絶縁層の前記第1面と面一であり、
前記パッドは、前記ベース部と前記ポスト部とが一体に形成された電気めっき膜である。
A resin insulation layer having a first surface and a second surface opposite to the first surface;
A first conductor layer formed on the first surface side of the resin insulation layer, including a pad and a wiring pattern for mounting an electronic component;
A second conductor layer formed on the second surface of the resin insulation layer;
A via conductor formed through the resin insulating layer and connecting the pad and the second conductor layer;
A printed wiring board having
The pad includes a base portion embedded in the resin insulating layer and a post portion protruding from the resin insulating layer, and the width of the post portion is smaller than the width of the base portion, and The post-side surface is flush with the first surface of the resin insulation layer;
The pad is an electroplated film in which the base portion and the post portion are integrally formed.
請求項1記載のプリント配線板であって、前記樹脂絶縁層は芯材を含んでいる。 The printed wiring board according to claim 1, wherein the resin insulating layer includes a core material. 請求項1または2記載のプリント配線板であって、前記パッドのベース部およびポスト部の露出面に表面保護層が被覆されている。 3. The printed wiring board according to claim 1, wherein a surface protective layer is coated on exposed surfaces of the base portion and the post portion of the pad. 請求項3記載のプリント配線板であって、前記表面保護層が、スズ被膜、ハンダ被膜、ニッケル被膜およびOSPより選ばれる少なくとも1種からなる。 4. The printed wiring board according to claim 3, wherein the surface protective layer is made of at least one selected from a tin coating, a solder coating, a nickel coating, and OSP. 請求項1〜4のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、前記パッドの表面にハンダバンプが形成されている。 It is a printed wiring board of any one of Claims 1-4, Comprising: The solder bump is formed in the surface of the said pad. 請求項1〜5のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、前記ベース部の側面および底面に粗面化処理が施されている。 It is a printed wiring board of any one of Claims 1-5, Comprising: The roughening process is performed to the side surface and bottom face of the said base part. プリント配線板の製造方法であって、
金属膜上に第1のめっきレジスト膜のパターンを形成することと、
前記第1のめっきレジスト膜のパターンから露出する前記金属膜の表面に電気めっき膜を形成することと、
前記第1のめっきレジスト膜を除去することと、
前記第1のめっきレジスト膜の除去により露出する前記金属膜および前記電気めっき膜の表面にバリア層を形成することと、
前記バリア層上に第2のめっきレジスト膜のパターンを形成することと、
前記第2のめっきレジスト膜のパターンから露出する前記バリア層上に電気めっき膜を形成することにより、パッドのパターンを含む第1導体層を形成することと、
前記第2のめっきレジスト膜を除去することと、
前記第1導体層のパターンの間隙部および表面に形成され、前記第1導体層側を第1面、該第1面と反対面を第2面とする樹脂絶縁層を形成することと、
前記樹脂絶縁層の前記第2面側から開口を形成し、該開口内にビア導体を形成すると共に、前記樹脂絶縁層の前記第2面に、前記ビア導体を介して前記第1導体層と接続される第2導体層を形成することと、
前記金属膜および該金属膜上に形成された前記電気めっき膜を除去することと、
前記バリア層を全面に亘って除去することと、
を含む。
A method of manufacturing a printed wiring board,
Forming a pattern of a first plating resist film on the metal film;
Forming an electroplating film on the surface of the metal film exposed from the pattern of the first plating resist film;
Removing the first plating resist film;
Forming a barrier layer on the surface of the metal film and the electroplating film exposed by removing the first plating resist film;
Forming a pattern of a second plating resist film on the barrier layer;
Forming a first conductor layer including a pad pattern by forming an electroplating film on the barrier layer exposed from the pattern of the second plating resist film;
Removing the second plating resist film;
Forming a resin insulation layer formed on a gap and a surface of the pattern of the first conductor layer, the first conductor layer side being a first surface, and a surface opposite to the first surface being a second surface;
An opening is formed from the second surface side of the resin insulating layer, a via conductor is formed in the opening, and the first conductor layer is formed on the second surface of the resin insulating layer via the via conductor. Forming a second conductor layer to be connected;
Removing the metal film and the electroplated film formed on the metal film;
Removing the barrier layer over the entire surface;
including.
請求項7記載のプリント配線板の製造方法であって、前記樹脂絶縁層の形成を、芯材を含むプリプレグを熱プレスにより圧接することにより行う。 8. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 7, wherein the resin insulating layer is formed by press-contacting a prepreg including a core material by hot pressing. 請求項7または8記載のプリント配線板の製造方法であって、前記樹脂絶縁層を形成する際に、前記樹脂絶縁層の第2面側に金属箔を積層して行う。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 7 or 8, wherein when forming the resin insulation layer, a metal foil is laminated on the second surface side of the resin insulation layer. 請求項7〜9のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記金属膜が支持板の両面に接着されたキャリア金属箔のそれぞれと接着されており、前記金属膜を除去する前の工程で前記支持板および前記キャリア金属箔を除去することをさらに有する。 It is a manufacturing method of the printed wiring board of any one of Claims 7-9, Comprising: The said metal film is adhere | attached with each of the carrier metal foil adhere | attached on both surfaces of the support plate, The said metal film is The method further includes removing the support plate and the carrier metal foil in a step before removal. 請求項7〜10のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記パッドの露出面に表面保護層を形成することをさらに有する。 It is a manufacturing method of the printed wiring board of any one of Claims 7-10, Comprising: It further has forming a surface protective layer in the exposed surface of the said pad.
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