JP2011164268A - Exposure device - Google Patents

Exposure device Download PDF

Info

Publication number
JP2011164268A
JP2011164268A JP2010025431A JP2010025431A JP2011164268A JP 2011164268 A JP2011164268 A JP 2011164268A JP 2010025431 A JP2010025431 A JP 2010025431A JP 2010025431 A JP2010025431 A JP 2010025431A JP 2011164268 A JP2011164268 A JP 2011164268A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
data
raster data
enlarged
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010025431A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5503992B2 (en
Inventor
Takashi Okuyama
隆志 奥山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Orc Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Orc Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Orc Manufacturing Co Ltd filed Critical Orc Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2010025431A priority Critical patent/JP5503992B2/en
Publication of JP2011164268A publication Critical patent/JP2011164268A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5503992B2 publication Critical patent/JP5503992B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve throughput while forming a high-resolution pattern without lowering scanning speed and extending the length of an exposure pitch. <P>SOLUTION: A raster data conversion part generates four enlarged raster data ELA-ELD of a larger data size than an actual exposure area as a block, and stored in first and second buffer memories alternately according to an time interval TM. On the other hand, an address control circuit reads the exposure raster data ELA1-ELD1 in time to the exposure depending on the exposure pitch from the first and second buffer memories alternately. At this time, by the relative movement of the exposure area EA, the exposure raster data by each block are repeatedly extracted three times, thereby extracting the exposure raster data ELA1-ELD1, ELA2-ELD2, ELA3-ELD3 in order from the four enlarged raster data ELA-ELD. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、DMD(Digital Micro-mirror Device)など空間光変調デバイスによってパターンを直接描画するマスクレス露光装置に関し、特に、露光データ(ラスタデータ)の生成および描画処理に関する。   The present invention relates to a maskless exposure apparatus that directly draws a pattern using a spatial light modulation device such as a DMD (Digital Micro-mirror Device), and more particularly to generation of exposure data (raster data) and drawing processing.

DMDなどを備えたマスクレス露光装置では、マイクロミラーなどの光変調素子(セル)をマトリクス状に2次元配列させた空間光変調デバイスを制御して露光動作が行われ、基板の描画面へパターンが直接形成される。具体的には、設計用パターンデータ(ベクタデータなど)が2次元配列のラスタデータに変換され、バッファメモリへ一時的に格納された後にDMDへ転送される。DMDでは、ラスタデータに基づいて各マイクロミラーがON/OFF制御される。これにより、パターン像に応じた光が基板に照射される。   In a maskless exposure apparatus equipped with a DMD or the like, an exposure operation is performed by controlling a spatial light modulation device in which light modulation elements (cells) such as micromirrors are two-dimensionally arranged in a matrix, and a pattern is formed on the drawing surface of the substrate. Is formed directly. Specifically, design pattern data (such as vector data) is converted into two-dimensional array raster data, temporarily stored in the buffer memory, and then transferred to the DMD. In DMD, each micromirror is ON / OFF controlled based on raster data. Thereby, the light according to a pattern image is irradiated to a board | substrate.

高精度の2次元パターンを形成するため、走査方向を基板方向(セル配列方向)に対し傾斜させるとともに、マトリクス状に並ぶマイクロミラー群の照明スポットを徐々にシフトさせ、同一の照射エリアに対し2次元的にオーバラップさせる露光動作(多重露光動作)が行われる(例えば、特許文献1参照)。   In order to form a high-precision two-dimensional pattern, the scanning direction is inclined with respect to the substrate direction (cell arrangement direction), and the illumination spots of the micromirror groups arranged in a matrix are gradually shifted to 2 for the same irradiation area. An exposure operation (multiple exposure operation) that overlaps dimensionally is performed (see, for example, Patent Document 1).

多重露光動作を行う場合、露光データ生成処理に膨大な時間がかかり、スループットに影響する。このようなデータ処理の負担を軽減するため、例えば、設計用パターンデータを複数のデータに分割し、分割されたデータごとにラスタデータを順次生成する多重露光方法が知られている(特許文献2参照)。また、露光対象エリアの相対的移動に合わせて、分割露光データを循環シフトさせる方法も知られている(特許文献3参照)。   When performing a multiple exposure operation, the exposure data generation process takes an enormous amount of time and affects the throughput. In order to reduce the burden of such data processing, for example, a multiple exposure method is known in which design pattern data is divided into a plurality of data, and raster data is sequentially generated for each divided data (Patent Document 2). reference). Also known is a method of cyclically shifting the divided exposure data in accordance with the relative movement of the exposure target area (see Patent Document 3).

特開2003−50469号公報JP 2003-50469 A 特開2004−62155号公報JP 2004-62155 A 特開2009−157168号公報JP 2009-157168 A

ベクタデータなどのパターンデータからラスタデータへの変換処理、そしてラスタデータの転送処理という一連のデータ処理の流れを基本にした描画処理では、最終的処理となるラスタデータ(露光データ)の転送処理に比べ、その前段階のラスタデータへの変換処理に時間がかかる。特に、高精細なファインパターンの場合その傾向が顕著であり、走査速度、露光ピッチに制限が生じる。ラスタデータ生成途中で露光動作タイミングが来るのを防ぐためには、走査速度を低下させるか、あるいは露光ピッチ(露光動作間隔)を広げる必要性が生じる。   In the rendering process based on a series of data processing flows, such as conversion from pattern data such as vector data to raster data, and raster data transfer processing, raster data (exposure data) transfer processing is the final process. In comparison, it takes time to convert the raster data to the previous stage. In particular, the tendency is remarkable in the case of a high-definition fine pattern, and the scanning speed and the exposure pitch are limited. In order to prevent the timing of the exposure operation during raster data generation, it is necessary to reduce the scanning speed or increase the exposure pitch (exposure operation interval).

しかしながら、走査速度を遅くしてデータ変換処理の時間を確保すると、スループットが低下する。また、露光ピッチを長くしてデータ変換処理の時間を確保すると、多重露光間隔が長くなり、十分な照射量が確保されず、効率よく走査できない。   However, if the scanning speed is slowed down to secure the time for data conversion processing, the throughput decreases. Further, if the exposure pitch is increased to secure the time for data conversion processing, the multiple exposure interval becomes longer, a sufficient irradiation amount cannot be ensured, and efficient scanning cannot be performed.

本発明の露光装置は、パターンを直接形成する露光装置であり、マイクロミラーなど光源からの光を変調する複数の空間光変調素子を2次元配列させた光変調素子アレイと、光変調素子アレイによって規定される投影対象となるエリア(以下、露光エリアという)を被描画体に対して相対的に移動させる走査手段とを備える。   The exposure apparatus of the present invention is an exposure apparatus that directly forms a pattern, and includes a light modulation element array in which a plurality of spatial light modulation elements that modulate light from a light source such as a micromirror are two-dimensionally arranged, and a light modulation element array. Scanning means for moving a defined projection target area (hereinafter referred to as an exposure area) relative to the object to be drawn.

DMD、LCDなどの光変調素子アレイは、光源からの照明光をパターンに応じて被描画体へ導き、マイクロミラー、液晶素子など照明光を被描画体もしくは被描画体外へ選択的に導く複数の空間光変調素子(セル)によって構成される。走査手段は、例えば、間欠的に露光エリアを相対移動させるステップ&リピート方式、あるいは連続移動させる連続移動方式などが適用可能である。微細なパターンを形成するため、走査手段は、露光エリアを、基板方向(セルの照射エリア配列方向)に対し斜め方向に沿って相対移動させてもよい。   A light modulation element array such as a DMD or LCD guides illumination light from a light source to a drawing object according to a pattern, and selectively guides illumination light such as a micromirror or a liquid crystal element to the drawing object or the drawing object. It is constituted by a spatial light modulation element (cell). As the scanning means, for example, a step-and-repeat method in which the exposure area is relatively moved intermittently or a continuous movement method in which the exposure area is continuously moved can be applied. In order to form a fine pattern, the scanning unit may move the exposure area relative to the substrate direction (cell irradiation area arrangement direction) along an oblique direction.

本発明の露光装置は、さらに、データ変換手段およびデータ抽出手段、そして描画処理手段を備える。データ変換手段は、描画パターンに応じたパターンデータに基づき、少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、バッファメモリなどのメモリへ格納する。ただし、拡大ラスタデータは、露光エリアよりデータサイズが大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーするラスタデータを表す。メモリが2つ用意されている場合、データ変換手段は、拡大ラスタデータを第1、第2メモリへ交互に格納することが可能である。   The exposure apparatus of the present invention further includes data conversion means, data extraction means, and drawing processing means. The data conversion means sequentially generates at least one enlarged raster data based on the pattern data corresponding to the drawing pattern and stores it in a memory such as a buffer memory. However, the enlarged raster data represents raster data having a data size larger than the exposure area and covering an area for a plurality of exposure operations. When two memories are prepared, the data conversion means can store the enlarged raster data alternately in the first and second memories.

データ変換処理、メモリ特性、データ転送特性などの事情により、拡大ラスタデータの生成する間に露光エリアが移動する距離よりも、露光動作間隔である露光ピッチの方が短い。別の言い方をすれば、拡大ラスタデータの生成時間間隔よりも、露光動作時間間隔のほうが短い露光条件が発生することがある。   Due to circumstances such as data conversion processing, memory characteristics, and data transfer characteristics, the exposure pitch that is the exposure operation interval is shorter than the distance that the exposure area moves during the generation of enlarged raster data. In other words, an exposure condition in which the exposure operation time interval is shorter than the generation time interval of the enlarged raster data may occur.

このような条件の下、本発明のデータ抽出手段は、メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出する。すなわち、すでにメモリに格納されている拡大ラスタデータを用いて、露光エリアの相対的移動に合わせて全体的に徐々にデータシフトさせながら露光用ラスタデータを何度もメモリから読み出す。そして、描画処理手段は、抽出された露光用ラスタデータに基づき、複数の空間光変調素子を制御する。   Under such conditions, the data extracting means of the present invention sequentially extracts the exposure raster data corresponding to the relative position of the exposure area from the enlarged raster data stored in the memory while overlapping. That is, by using the enlarged raster data already stored in the memory, the exposure raster data is read out from the memory many times while gradually shifting the data as a whole in accordance with the relative movement of the exposure area. Then, the drawing processing unit controls the plurality of spatial light modulation elements based on the extracted exposure raster data.

本発明では、拡大ラスタデータ生成と露光用ラスタデータ抽出、転送が別々に、独立して実行される。新たな拡大ラスタデータが生成されている途中で露光エリアが露光位置に到達しても、すでに用意された拡大ラスタデータに基づいて露光用ラスタデータを作成することが可能であり、また、オーバラップさせるように全体的データシフトによって露光用ラスタデータを抽出するため、短い露光ピッチによる露光を実現できる。   In the present invention, enlarged raster data generation, exposure raster data extraction, and transfer are performed separately and independently. Even if the exposure area reaches the exposure position while new enlarged raster data is being generated, it is possible to create exposure raster data based on the already prepared enlarged raster data, and also overlap. As described above, since the exposure raster data is extracted by the overall data shift, exposure with a short exposure pitch can be realized.

その結果、露光ピッチ間隔を狭めながら走査速度を早めても、露エリアの相対位置に適合するラスタデータを順次漏れなくメモリから読み出すことが可能となる。複数回露光動作を実行した時には次の拡大ラスタデータが生成されており、次の露光動作へ移行することができる。   As a result, even if the scanning speed is increased while narrowing the exposure pitch interval, raster data matching the relative position of the dew area can be read out from the memory sequentially without omission. When the multiple exposure operations are executed, the next enlarged raster data is generated, and the next exposure operation can be performed.

走査速度を維持しながらオーバラップ回数をできる限り多く設定することを考慮すると、一度生成した拡大ラスタデータを出来る限り有効利用することが望ましい。そのため、データ変換手段は、単位露光エリア幅より短い露光ピッチに従って順にデータを全体的にシフトさせた一連の拡大ラスタデータ(1ブロックの拡大ラスタデータ)を順次生成するように構成してもよい。   In consideration of setting as many overlaps as possible while maintaining the scanning speed, it is desirable to make effective use of the enlarged raster data once generated as much as possible. Therefore, the data conversion means may be configured to sequentially generate a series of enlarged raster data (one block of enlarged raster data) obtained by sequentially shifting the data in order according to an exposure pitch shorter than the unit exposure area width.

この場合、データ抽出手段は、次の一連の拡大ラスタデータが生成されている間、露光エリアの相対位置に合わせて、メモリに格納されている一連の拡大ラスタデータから露光用ラスタデータを順に抽出すればよい。   In this case, the data extraction means sequentially extracts the exposure raster data from the series of enlarged raster data stored in the memory according to the relative position of the exposure area while the next series of enlarged raster data is generated. do it.

また、拡大ラスタデータ生成に時間がかかる場合、データ抽出手段が、一連の拡大ラスタデータに対する露光用ラスタデータ抽出を繰り返し行う、すなわち、ブロック内で順次露光用ラスタデータ抽出することを周期化(グループ化)するのが望ましい。この場合、できるだけ広いデータサイズ幅をもつ拡大ラスタデータが用意される。   In addition, when it takes time to generate enlarged raster data, the data extraction unit periodically repeats extraction of exposure raster data for a series of enlarged raster data, that is, sequentially extracts exposure raster data within a block (group). Is desirable. In this case, enlarged raster data having a data size width as wide as possible is prepared.

また、オーバラップ露光をより分散させるため、メモリに格納された拡大ラスタデータに基づく露光用ラスタデータ抽出がすべて終了し、次に生成された一連の拡大ラスタデータに基づく露光用ラスタデータ抽出を開始するとき、露光開始位置をシフト補正する補正手段を設けてもよい。   In addition, in order to further distribute the overlap exposure, the extraction of the exposure raster data based on the enlarged raster data stored in the memory is completed, and the extraction of the exposure raster data based on the next series of enlarged raster data is started. In this case, a correction means for shifting and correcting the exposure start position may be provided.

本発明の露光データ処理装置は、描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納するデータ変換手段と、拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出するデータ抽出手段とを備えたことを特徴とする。   The exposure data processing apparatus of the present invention sequentially generates at least one enlarged raster data that is larger than the data size of the exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations based on the pattern data corresponding to the drawing pattern, and stores it in the memory The exposure raster data corresponding to the relative position of the exposure area is overwritten from the enlarged raster data stored in the memory in accordance with the data conversion means for performing and the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data. And a data extraction means for sequentially extracting while wrapping.

本発明のプログラムは、描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納するデータ変換手段と、拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出するデータ抽出手段とを機能させることを特徴とする。   The program of the present invention sequentially generates at least one enlarged raster data that is larger than the data size of an exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations based on pattern data corresponding to a drawing pattern, and stores the data in a memory The exposure raster data according to the relative position of the exposure area is overlapped from the enlarged raster data stored in the memory according to the means and the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data. It is characterized by functioning data extracting means for sequentially extracting.

本発明の露光データ処理方法は、描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納し、拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出することを特徴とする。   The exposure data processing method of the present invention sequentially generates at least one enlarged raster data that is larger than the data size of an exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations based on pattern data corresponding to a drawing pattern, and stores it in a memory. Then, in accordance with the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data, the exposure raster data corresponding to the relative position of the exposure area is sequentially overlapped from the enlarged raster data stored in the memory. It is characterized by extracting.

本発明によれば、走査速度の低下、露光ピッチの長さ拡張等することなく、高解像度パターンを形成しながらスループットを向上させることができる。   According to the present invention, it is possible to improve the throughput while forming a high-resolution pattern without reducing the scanning speed or extending the length of the exposure pitch.

本実施形態である描画装置を模式的に示した斜視図である。It is the perspective view which showed typically the drawing apparatus which is this embodiment. 露光ヘッドの内部構成を示した図である。FIG. 3 is a diagram showing an internal configuration of an exposure head. 描画装置に設けられた描画制御部のブロック図である。It is a block diagram of the drawing control part provided in the drawing apparatus. ラスタ変換部において生成されるラスタデータを示した図である。It is the figure which showed the raster data produced | generated in a raster conversion part. 露光データ処理のタイミングチャートを示した図である。It is the figure which showed the timing chart of exposure data processing. 抽出される露光用ラスタデータを順に示した図である。It is the figure which showed the raster data for exposure extracted in order. 1つのセル領域内におけるオーバラップ露光の分布を示した図である。It is the figure which showed distribution of the overlap exposure in one cell area | region. 1つのセル領域内におけるオーバラップ露光の分布を示した図である。It is the figure which showed distribution of the overlap exposure in one cell area | region. 1つのセル領域内におけるオーバラップ露光の分布を示した図である。It is the figure which showed distribution of the overlap exposure in one cell area | region. 1つのセル領域内におけるオーバラップ露光の分布を示した図である。It is the figure which showed distribution of the overlap exposure in one cell area | region. ラスタデータ変換に関する処理を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the process regarding raster data conversion. 露光用ラスタデータ抽出に関する処理を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the process regarding the raster data for exposure.

以下では、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本実施形態である描画装置を模式的に示した斜視図である。図2は、光源ランプ、露光ヘッドの内部構成を示した図である。   FIG. 1 is a perspective view schematically showing a drawing apparatus according to the present embodiment. FIG. 2 is a diagram showing the internal configuration of the light source lamp and the exposure head.

描画装置(露光装置)10は、フォトレジストなどの感光材料を塗布あるいは貼り付けた基板SWに直接パターンを形成するマスクレス露光装置であって、ゲート状構造体12、基台14を備える。描画装置10では、描画制御部(ここでは図示せず)によって露光動作が実行、制御される。描画制御部には、モニタ、キーボードなどの入力装置(ここでは図示せず)が接続されており、オペレータの操作に従って描画処理が行われる。   The drawing apparatus (exposure apparatus) 10 is a maskless exposure apparatus that directly forms a pattern on a substrate SW coated or pasted with a photosensitive material such as a photoresist, and includes a gate-like structure 12 and a base 14. In the drawing apparatus 10, an exposure operation is executed and controlled by a drawing control unit (not shown here). An input device (not shown here) such as a monitor and a keyboard is connected to the drawing control unit, and drawing processing is performed according to the operation of the operator.

ゲート状構造体12には、光源ランプ20a、20bと、露光ヘッド20、20が配設されている。所定間隔を空けて配置される露光ヘッド20、20は、光源ランプ20a、20bからの光に基づいて基板SWを照射し、基板SWの表面にパターンを形成する。露光ヘッド20は、DMD24を備え(図2参照)、露光ヘッド20も同様の構成になっている。ゲート状構造体12のガイド31に設置されている観察手段AC(CCDカメラなど)は、基板変形検出のため、基板SWに形成されたアライメントマークを撮影する。 The gate-like structure 12 is provided with light source lamps 20a and 20b and exposure heads 20 1 and 20 2 . The exposure heads 20 1 and 20 2 arranged at predetermined intervals irradiate the substrate SW based on the light from the light source lamps 20a and 20b, and form a pattern on the surface of the substrate SW. Exposure head 20 1 (see FIG. 2) comprises a DMD 24 1, also has the same structure exposure head 20 2. The observation means AC (CCD camera or the like) installed on the guide 31 of the gate-like structure 12 photographs the alignment mark formed on the substrate SW for substrate deformation detection.

基台14には、描画テーブル18を支持するX−Yステージ機構56が搭載され、描画テーブル18上に基板SWが設置される。矩形状の基板SWは、例えばシリコンウェハ、プリント基板、ドライフィルム、ガラス基板、銅貼積層板などの電子回路用基板であり、プリベイク処理、フォトレジストの塗布等の処理が施されたブランクスの状態で描画テーブル18に搭載される。   An XY stage mechanism 56 that supports the drawing table 18 is mounted on the base 14, and the substrate SW is placed on the drawing table 18. The rectangular substrate SW is a substrate for an electronic circuit such as a silicon wafer, a printed substrate, a dry film, a glass substrate, or a copper-clad laminate, and is in a blank state that has been subjected to processing such as pre-baking and photoresist coating. Is mounted on the drawing table 18.

基板SW、すなわち描画テーブル18には、互いに直交なX−Y−Z座標系が規定されており、描画テーブル18はX、Y方向に沿って移動可能である。また、描画テーブル18はZ軸周りに回転可能であって、基板送り方向が調整される。ここでは、X方向を主走査方向(走査方向)、Y方向を副走査方向と規定する。   The substrate SW, that is, the drawing table 18, defines an XYZ coordinate system orthogonal to each other, and the drawing table 18 is movable along the X and Y directions. The drawing table 18 is rotatable around the Z axis, and the substrate feed direction is adjusted. Here, the X direction is defined as the main scanning direction (scanning direction), and the Y direction is defined as the sub-scanning direction.

図2に示すように、光源ランプ20aは、紫外光などの照明光を放射する放電ランプ21を備え、リフレクタ22によって放射される光が照明光学系23へ導かれる。照明光学系23によって平行光に成形された照明光は、平面ミラー25、ハーフミラー27を経てDMD24に導かれる。DMD24は、数μm〜数十μmの微小矩形状マイクロミラーをマトリクス状に2次元配列させた光変調素子アレイであり、ここでは1024×768のマイクロミラーによって構成される。 As shown in FIG. 2, the light source lamp 20 a includes a discharge lamp 21 that emits illumination light such as ultraviolet light, and the light emitted by the reflector 22 is guided to the illumination optical system 23. Illumination light formed into parallel light by the illumination optical system 23, the plane mirror 25, it is guided to the DMD 24 1 through the half mirror 27. The DMD 24 1 is a light modulation element array in which micro rectangular micromirrors of several μm to several tens of μm are two-dimensionally arranged in a matrix, and here is constituted by 1024 × 768 micromirrors.

DMD24では、露光データに基づいて、各マイクロミラーがそれぞれ選択的にON/OFF制御される。ON状態のマイクロミラーにおいて反射した光は、ミラー27を介して投影光学系28へ導かれる。そして、ON状態ミラーからの反射光によって形成される光束、すなわちパターン像の光が基板SWに照射される。 In DMD 24 1, based on the exposure data, the micromirrors are selectively ON / OFF control, respectively. The light reflected by the micromirror in the ON state is guided to the projection optical system 28 via the mirror 27. The light beam formed by the reflected light from the ON state mirror, that is, the light of the pattern image is irradiated onto the substrate SW.

基板SWが走査方向(X方向)に沿って移動するのに伴い、DMD24によって規定される投影領域(以下、露光エリアという)が基板SWに対して相対的に移動する。ここでは、露光方式として多重露光方式が適用されており、描画テーブル18が移動する間、オーバラップ露光するような露光ピッチでマイクロミラーがON/OFF制御される。 Along with the substrate SW is moved along the scanning direction (X direction), the projection region defined by DMD 24 1 (hereinafter, referred to as the exposure area) moves relative to the substrate SW. Here, a multiple exposure method is applied as an exposure method, and the micromirror is controlled to be ON / OFF at an exposure pitch at which overlap exposure is performed while the drawing table 18 moves.

また、基板SWは、走査方向Yに対し微小角度だけ斜め方向を向いた状態で描画テーブル18に配置されている。そのため、描画テーブル18が走査方向に沿って移動するとき、露光エリアは基板SWの長手方向に対し斜め方向に相対移動する。   The substrate SW is disposed on the drawing table 18 in a state in which the substrate SW is directed obliquely by a minute angle with respect to the scanning direction Y. Therefore, when the drawing table 18 moves along the scanning direction, the exposure area moves relative to the longitudinal direction of the substrate SW in an oblique direction.

基板SWを副走査方向(Y方向)にシフトさせながら露光ヘッド20、20による露光動作が走査方向(X方向)に沿って続けられることにより、基板全体にパターンが形成されていく。描画処理が終了すると、現像処理、エッチング又はメッキ、レジスト剥離処理などの後処理が施され、パターンを形成した基板が製造される。 By exposure operation of the substrate SW by the sub-scanning direction exposure while shifting in the direction (Y direction) the head 20 1, 20 2 is continued along the scanning direction (X direction), will the pattern is formed on the entire substrate. When the drawing process is completed, a post-process such as a development process, etching or plating, or a resist stripping process is performed to manufacture a substrate on which a pattern is formed.

図3は、描画装置に設けられた描画制御部のブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram of a drawing control unit provided in the drawing apparatus.

描画制御部50は、外部のワークステーション(図示せず)と接続され、露光制御部52を備える。露光制御部52は、キーボード50Cからの操作信号に基づいて描画処理全体を制御し、DMD駆動回路59、アドレス制御回路57、描画テーブル制御回路53、光源20a、20bの発光を制御する光源制御回路61などの回路へ制御信号を出力する。描画処理を制御するプログラムは、あらかじめ露光制御部52内のROM(図示せず)に格納されている。   The drawing control unit 50 is connected to an external workstation (not shown) and includes an exposure control unit 52. The exposure control unit 52 controls the entire drawing process based on the operation signal from the keyboard 50C, and controls the light emission of the DMD driving circuit 59, the address control circuit 57, the drawing table control circuit 53, and the light sources 20a and 20b. A control signal is output to a circuit such as 61. A program for controlling the drawing process is stored in advance in a ROM (not shown) in the exposure control unit 52.

ワークステーション(図示せず)から露光制御部52に入力されるパターンデータは、描画パターンの位置情報をもつベクタデータ(CAD/CAMデータ)であり、基板SWに規定されるX−Y座標系に基づく位置座標データとして表される。ラスタ変換部51に入力されたベクタデータは、2次元ドットデータ(ON/OFFデータ)であるラスタデータに変換される。   The pattern data input from the workstation (not shown) to the exposure control unit 52 is vector data (CAD / CAM data) having drawing pattern position information, and is in the XY coordinate system defined for the substrate SW. It is expressed as position coordinate data based on it. The vector data input to the raster converter 51 is converted into raster data that is two-dimensional dot data (ON / OFF data).

生成されたラスタデータは、第1バッファメモリ58A、第2バッファメモリ58Bへ交互に格納される。一時的に格納されたラスタデータは、アドレス制御回路57からの制御信号に従って読み出され、DMD駆動回路59へ送られる。   The generated raster data is alternately stored in the first buffer memory 58A and the second buffer memory 58B. The temporarily stored raster data is read according to a control signal from the address control circuit 57 and sent to the DMD drive circuit 59.

DMD駆動回路59は、露光データとして送られてくるラスタデータに基づき、露光制御部52からのタイミング信号に合わせてDMD24、24の各マイクロミラーをON/OFF制御する。描画テーブル18が移動する間、露光エリアの相対位置に応じたラスタデータに従ってDMD24、24が制御される。 The DMD driving circuit 59 performs ON / OFF control of each micromirror of the DMDs 24 1 and 24 2 in accordance with a timing signal from the exposure control unit 52 based on raster data sent as exposure data. While the drawing table 18 moves, the DMDs 24 1 and 24 2 are controlled according to the raster data corresponding to the relative position of the exposure area.

描画テーブル制御回路53は、駆動回路54を介してモータ(図示せず)を備えたX−Yステージ機構56を制御し、これによって描画テーブル18の移動速度、基板送り方向等が制御される。位置検出センサ55は、描画テーブル18の位置、すなわち基板SWにおける露光エリアの相対位置を検出する。   The drawing table control circuit 53 controls an XY stage mechanism 56 equipped with a motor (not shown) via the drive circuit 54, and thereby the moving speed of the drawing table 18, the substrate feed direction, and the like are controlled. The position detection sensor 55 detects the position of the drawing table 18, that is, the relative position of the exposure area on the substrate SW.

CCDセンサACによって得られた画像信号は、画像処理部62において画像処理された後、露光制御部52へ送られる。露光制御部52は、画像信号に基づいてアライメントマークの位置を検出する。観察手段制御部60は、CCDセンサACを駆動する。   The image signal obtained by the CCD sensor AC is subjected to image processing in the image processing unit 62 and then sent to the exposure control unit 52. The exposure control unit 52 detects the position of the alignment mark based on the image signal. The observation means controller 60 drives the CCD sensor AC.

図4は、ラスタ変換部において生成されるラスタデータを示した図である。図4を用いて、1つの露光ヘッドに関するラスタデータの構造について説明する。   FIG. 4 is a diagram showing raster data generated in the raster conversion unit. The structure of raster data relating to one exposure head will be described with reference to FIG.

本実施形態では、ラスタ変換処理によって4つのラスタデータELA〜ELDをシリーズで生成し、これらのラスタデータELA〜ELDを、第1バッファメモリ58A(第2バッファメモリ58B)の4つのメモリ領域に格納する。各ラスタデータは、基板SW上を相対移動する露光エリアEAの幅ELに応じたデータサイズELSよりも大きいデータサイズをもつように構成されている(以下、拡大ラスタデータという)。   In this embodiment, four raster data ELA to ELD are generated in series by raster conversion processing, and these raster data ELA to ELD are stored in four memory areas of the first buffer memory 58A (second buffer memory 58B). To do. Each raster data is configured to have a data size larger than the data size ELS corresponding to the width EL of the exposure area EA that relatively moves on the substrate SW (hereinafter referred to as enlarged raster data).

具体的には、単位露光エリアEaの走査方向幅mに応じたデータ幅Mを基準としたとき、拡大ラスタデータELAのデータサイズSMは、露光エリアEAのデータサイズELFよりも6Mだけデータ幅が大きい。ただし、単位露光エリアEaは、1個のミラー(セル)の投影領域を示す。他の拡大ラスタデータELB〜ELDも同様のデータサイズSMをもっている。   Specifically, when the data width M corresponding to the scanning direction width m of the unit exposure area Ea is used as a reference, the data size SM of the enlarged raster data ELA is 6 M larger than the data size ELF of the exposure area EA. large. However, the unit exposure area Ea indicates a projection area of one mirror (cell). Other enlarged raster data ELB to ELD have the same data size SM.

本実施形態では、単位露光エリア幅mより短い0.75mを露光ピッチとして露光動作を行う。一連の拡大ラスタデータELA〜ELDは、露光ピッチ0.75mに応じたデータ幅0.75Mだけ順番にデータシフトさせたデータとして構成されており、拡大ラスタデータELA〜ELDが露光ピッチに合わせて順に利用される。   In the present embodiment, the exposure operation is performed with an exposure pitch of 0.75 m shorter than the unit exposure area width m. The series of enlarged raster data ELA to ELD are configured as data shifted in order by a data width of 0.75 M corresponding to the exposure pitch of 0.75 m, and the enlarged raster data ELA to ELD are sequentially arranged in accordance with the exposure pitch. Used.

露光動作中、拡大ラスタデータELA〜ELDは部分的に露光データとして使用される。すなわち、第1バッファメモリ58A(第2バッファメモリ58B)に拡大された拡大ラスタデータELA〜ELDのうち、露光エリアEAの相対位置に該当するラスタデータ(以下、露光用ラスタデータという)を順番に抽出する。   During the exposure operation, the enlarged raster data ELA to ELD are partially used as exposure data. That is, raster data corresponding to the relative position of the exposure area EA (hereinafter referred to as exposure raster data) among the expanded raster data ELA to ELD expanded in the first buffer memory 58A (second buffer memory 58B) in order. Extract.

そして、4つの露光用ラスタデータの読み出しが終了し、露光エリアEAが3mだけ走査方向に進むと、今度は、それぞれデータ幅3Mだけ全体的にデータシフトさせた露光用ラスタデータが、拡大ラスタデータELA〜ELDから抽出される。露光用ラスタデータが抽出されると、さらに、データ幅3Mだけ全体的にデータシフトさせた露光用ラスタデータが抽出される。図4には、拡大ラスタデータELAから順に抽出される露光用ラスタデータELA1、ELA2、ELA3が図示されている。   When the reading of the four exposure raster data is completed and the exposure area EA advances in the scanning direction by 3 m, this time, the exposure raster data that has been entirely shifted by the data width 3M is expanded raster data. Extracted from ELA to ELD. When the raster data for exposure is extracted, the raster data for exposure that is data-shifted as a whole by the data width 3M is further extracted. FIG. 4 shows exposure raster data ELA1, ELA2, and ELA3 extracted sequentially from the enlarged raster data ELA.

このようなブロック単位の露光用ラスタデータ読み出しが三回繰り返されると、新たに生成された一連の拡大ラスタデータをブロック単位として次の露光動作が行われる。   When such reading of raster data for exposure in units of blocks is repeated three times, the next exposure operation is performed with a series of newly generated enlarged raster data as units of blocks.

図5は、露光データ処理のタイミングチャートを示した図である。図6は、抽出される露光用ラスタデータを順に示した図である。   FIG. 5 is a timing chart of exposure data processing. FIG. 6 is a diagram showing the extracted exposure raster data in order.

図5に示すように、1ブロック分の拡大ラスタデータは、所定の時間間隔TMに従って生成される。この時間間隔TMは、ラスタ変換部51のデータ変換処理機能、第1、第2バッファメモリ58A、58Bへのデータ書き込み時間などに起因して定められる。期間Aでは、1ブロック分の拡大ラスタデータELA〜ELDが順に生成され、第1バッファメモリ58Aに格納されていく。   As shown in FIG. 5, enlarged raster data for one block is generated according to a predetermined time interval TM. This time interval TM is determined due to the data conversion processing function of the raster conversion unit 51, the time for writing data to the first and second buffer memories 58A and 58B, and the like. In the period A, enlarged raster data ELA to ELD for one block are sequentially generated and stored in the first buffer memory 58A.

期間Bでは、拡大ラスタデータELA〜ELDに基づき、露光用ラスタデータELA1、ELB1、ELC1、ELD1が第1バッファメモリ58Aから読み出される。露光用ラスタデータ読み出しが一巡すると、露光用ラスタデータELA1、ELB1、ELC1、ELD1に対して3Mだけ全体シフトさせたラスタデータELA2〜ELD2が続けて抽出される。露光用ラスタデータの読み出しが一巡すると、さらに3Mだけ全体的にデータシフトさせた露光用ラスタデータELA3〜ELD3の読み出しが行われる。   In the period B, the exposure raster data ELA1, ELB1, ELC1, and ELD1 are read from the first buffer memory 58A based on the enlarged raster data ELA to ELD. When the exposure raster data reading is completed, raster data ELA2 to ELD2 that are shifted by 3M from the exposure raster data ELA1, ELB1, ELC1, and ELD1 are continuously extracted. When the reading of the exposure raster data is completed, reading of the exposure raster data ELA3 to ELD3, which is further shifted by 3M as a whole, is performed.

その結果、露光ピッチ0.75mに従い、同一ブロック(時間間隔TMの間に生成された一連の拡大ラスタデータ)を対象とするオーバラップ露光が合計12回実行される。PPgは、露光ピッチ応じた時間間隔tmのタイミングを表す。PPsは、基板SWに規定される単位露光エリアEaの配列に合わせたグリッド(以下、基準グリッドという)に一致するタイミングを示し、4回オーバラップ露光が行われる度に、露光エリアの位置が基準グリッドに合わせられる。   As a result, according to the exposure pitch of 0.75 m, overlap exposure for the same block (a series of enlarged raster data generated during the time interval TM) is executed a total of 12 times. PPg represents the timing of the time interval tm according to the exposure pitch. PPs indicates a timing that coincides with a grid (hereinafter referred to as a reference grid) that matches the arrangement of unit exposure areas Ea defined on the substrate SW, and the position of the exposure area is the reference each time four overlap exposures are performed. Fit to the grid.

このようなブロック毎の露光用ラスタデータ抽出が3回繰り返される間、新たな拡大ラスタデータELA’、ELB’、ELC’、ELD’が順に生成される。期間Bのオーバラップ露光中、露光エリアEAは9mだけ相対移動している。この露光エリア移動距離MMに基づき、拡大ラスタデータELA’〜ELD’は、前回生成された拡大ラスタデータELA〜ELDと比べ、データ幅9Mだけそれぞれ全体的にシフトさせた拡大ラスタデータであり、第2バッファメモリ58Bに格納される。   While such exposure raster data extraction for each block is repeated three times, new enlarged raster data ELA ', ELB', ELC ', and ELD' are generated in order. During the overlap exposure in the period B, the exposure area EA moves by 9 m. Based on the exposure area moving distance MM, the enlarged raster data ELA ′ to ELD ′ are enlarged raster data that are respectively shifted by the data width 9M as compared with the previously generated enlarged raster data ELA to ELD. It is stored in the 2-buffer memory 58B.

期間Cでは、第2バッファメモリ32Bに格納された拡大ラスタデータELA’〜ELD’に基づき、露光用ラスタデータが読み出される。ブロック毎の露光用ラスタデータ抽出が3回繰り返されると同時に、次の拡大ラスタデータELA”〜ELD”が生成され、第1バッファメモ58Aに格納される。   In period C, the exposure raster data is read based on the enlarged raster data ELA 'to ELD' stored in the second buffer memory 32B. Extraction raster data extraction for each block is repeated three times, and the next enlarged raster data ELA ″ to ELD ″ are generated and stored in the first buffer memo 58A.

このように、ラスタデータ生成に用意される時間間隔TMに従い、ブロックを単位とする4つの拡大ラスタデータが、第1バッファメモリ58A、第2バッファメモリ58Bへ交互に格納される。それと同時に、すでに生成されている4つの拡大ラスタデータに対する露光用ラスタデータ抽出がこの期間において3回繰り返される。   Thus, according to the time interval TM prepared for raster data generation, four enlarged raster data in units of blocks are alternately stored in the first buffer memory 58A and the second buffer memory 58B. At the same time, the exposure raster data extraction for the four enlarged raster data already generated is repeated three times during this period.

なお、同一ブロックから抽出される一連の露光用ラスタデータを1グループと定めた場合、グループが切り替わる度に(一連の拡大ラスタデータが新たに生成、格納される度に)露光位置が補正される。露光位置の補正(以下、グループ補正という)については、以下説明する。   When a series of exposure raster data extracted from the same block is defined as one group, the exposure position is corrected every time the group is switched (every series of new enlarged raster data is generated and stored). . The exposure position correction (hereinafter referred to as group correction) will be described below.

図7〜図10は、1つのセル領域内におけるオーバラップ露光の分布を示した図である。図7〜図10を用いて、セル領域内における露光点分布とグループ補正について説明する。   7 to 10 are diagrams showing the distribution of overlap exposure in one cell region. The exposure point distribution and group correction in the cell area will be described with reference to FIGS.

基板SWには、X−Y座標系に従って基準グリッドPが規定されている。基準グリッドPは、単位露光エリアEaの幅に合わせたグリッドサイズをもち、露光タイミングの基準位置に該当する。以下、基板SW上の1つのセル領域SPに対して行われる露光動作について説明する。   A reference grid P is defined on the substrate SW in accordance with an XY coordinate system. The reference grid P has a grid size that matches the width of the unit exposure area Ea and corresponds to the reference position of the exposure timing. Hereinafter, an exposure operation performed on one cell region SP on the substrate SW will be described.

図7には、基準グリッドPのセル領域SPと単位露光エリアEaの位置が合致している状態を示している。このとき、セル領域SPの基準点CSと単位露光エリアEaの基準点CP1は一致する。   FIG. 7 shows a state in which the cell area SP of the reference grid P and the unit exposure area Ea are aligned. At this time, the reference point CS of the cell region SP matches the reference point CP1 of the unit exposure area Ea.

露光ピッチKTは、上述したように0.75mに定められており、露光エリアEAが0.75mだけ移動すると、単位露光エリアEaの一部がセル領域SPに収まる。ただし、上述したように、基板SWはミラー配列方向、すなわち単位露光エリアEaの配列方向に対して斜め方向に移動するため、基準点CP1はY方向にずれていく。   The exposure pitch KT is set to 0.75 m as described above, and when the exposure area EA moves by 0.75 m, a part of the unit exposure area Ea fits in the cell area SP. However, as described above, since the substrate SW moves in an oblique direction with respect to the mirror arrangement direction, that is, the arrangement direction of the unit exposure areas Ea, the reference point CP1 is shifted in the Y direction.

さらに0.75m(合計1.5m)だけ露光エリアEAが移動すると、その左隣にあった単位露光エリアEa’がセル領域SPと部分的に重なり、基準点CP2に基づいたミラーのON/OFF制御が行われる。さらに0.75m(合計2.25m)だけ露光エリアEAが移動すると、その左隣の単位露光エリアEa”がセル領域SPと部分的に重なり、基準点CP3に基づくミラー制御が行われる。   When the exposure area EA is further moved by 0.75 m (total 1.5 m), the unit exposure area Ea ′ adjacent to the left partly overlaps the cell region SP, and the mirror is turned on / off based on the reference point CP2. Control is performed. When the exposure area EA further moves by 0.75 m (total 2.25 m), the unit exposure area Ea ″ adjacent to the left partly overlaps the cell region SP, and mirror control based on the reference point CP3 is performed.

このように、ブロック内での露光用ラスタデータによる露光動作が最初に一巡すると(4回露光動作が行われると)、走査方向に沿って0.25mずつシフトしながら単位露光エリアがセル領域SP内でオーバラップする。2巡目の露光動作開始のとき、セル領域SPとさらに左の単位露光エリアEa”’の基準点CP5とが一致する(図8参照)。3巡目の露光動作が終了、すなわち1グループ分の露光動作(12回の露光動作)が終了すると、次のグループの露光動作が行われる。   As described above, when the exposure operation using the exposure raster data in the block first completes (when the exposure operation is performed four times), the unit exposure area shifts by 0.25 m along the scanning direction, and the unit exposure area becomes the cell region SP. Overlap. At the start of the second round exposure operation, the cell region SP and the reference point CP5 of the left unit exposure area Ea ″ ′ coincide (see FIG. 8). The third round exposure operation is completed, that is, for one group. When the exposure operation (12 exposure operations) is completed, the next group exposure operation is performed.

次のグループ、すなわち、新たに生成された一連の拡大ラスタデータに基づく露光動作を開始するとき、単位露光エリアEaの基準位置CP13をΔkだけシフト(補正)する。これにより、単位露光エリアのセル領域SPに対するオーバラップ領域が前回のグループから0.125mずつX,Y方向に沿って移動し、オーバラップの分布範囲が分散する。ここでは、Δk=0.125mに定められている。   When an exposure operation based on the next group, that is, a series of newly generated enlarged raster data is started, the reference position CP13 of the unit exposure area Ea is shifted (corrected) by Δk. As a result, the overlap area of the unit exposure area with respect to the cell area SP moves by 0.125 m from the previous group along the X and Y directions, and the overlap distribution range is dispersed. Here, Δk = 0.125 m.

1グループ分の露光動作が終了すると、次のグループの露光動作時には、露光位置がさらにΔkだけシフトされる。このようにグループ切替の度に露光位置をシフト補正することにより、セル領域SP内でオーバラップ領域がX,Y方向に沿って徐々に移動し、均等に分散したオーバラップ露光が1つの露光対象エリアSPに対して実現される(図10参照)。   When the exposure operation for one group is completed, the exposure position is further shifted by Δk during the exposure operation of the next group. As described above, the exposure position is shifted and corrected every time the group is switched, so that the overlap area gradually moves in the X and Y directions in the cell area SP, and the uniformly distributed overlap exposure is one exposure object. This is realized for the area SP (see FIG. 10).

図11は、ラスタデータ変換に関する処理を示したフローチャートである。図12は、露光用ラスタデータ抽出に関する処理を示したフローチャートである。図11、12を用いて、ラスタデータ変換処理、露光用ラスタデータ抽出処理を別々に独立して行う露光制御処理について説明する。   FIG. 11 is a flowchart showing processing related to raster data conversion. FIG. 12 is a flowchart showing processing relating to extraction of raster data for exposure. An exposure control process in which the raster data conversion process and the exposure raster data extraction process are performed separately and independently will be described with reference to FIGS.

ステップS101では、同一グループ期間による露光動作を行う時間間隔TM(図5参照)内であるか否かが判断される。同一グループ期間内では、1ブロック分、すなわち4つの拡大ラスタデータを生成する処理が実行される(S102)。4つの拡大ラスタデータがすべて生成されるまで、ステップS102が繰り返し実行される(S103)。   In step S101, it is determined whether or not it is within the time interval TM (see FIG. 5) for performing the exposure operation in the same group period. Within the same group period, processing for generating one block, that is, four enlarged raster data is executed (S102). Step S102 is repeatedly executed until all four enlarged raster data are generated (S103).

すべての拡大ラスタデータが生成されると(S103)、バッファメモリの切替が行われる(S105)。その結果、新たな1ブロック分の拡大ラスタデータを生成するとき、第1バッファメモリ58A、第2バッファメモリ58Bのうち使用されていなかった他方のメモリに対し、一連の拡大ラスタデータが順次格納される。描画処理が終了すると、ラスタデータ変換処理が終了する(S104)。   When all the enlarged raster data are generated (S103), the buffer memory is switched (S105). As a result, when generating enlarged raster data for one new block, a series of enlarged raster data is sequentially stored in the other unused memory of the first buffer memory 58A and the second buffer memory 58B. The When the drawing process ends, the raster data conversion process ends (S104).

一方、図12のステップS201では、第1バッファメモリ58A、もしくは第2バッファメモリ58Bに格納された一連の拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータが抽出される。そして、露光ピッチKT(=0.75m)のタイミング信号に合わせて露光用ラスタデータがDMDへ転送される(S202)。   On the other hand, in step S201 of FIG. 12, exposure raster data corresponding to the relative position of the exposure area is extracted from a series of enlarged raster data stored in the first buffer memory 58A or the second buffer memory 58B. Then, the exposure raster data is transferred to the DMD in accordance with the timing signal of the exposure pitch KT (= 0.75 m) (S202).

ステップS203では、露光ピッチKTだけ露光エリアが移動しているか判断される。露光ピッチ分の移動があると判断されると、次の拡大ラスタデータから露光用ラスタデータが抽出され、DMDへ転送される(S204)。1ブロックの4つの拡大ラスタデータに基づく露光用ラスタデータ抽出、読み出しが終了まで、ステップS201〜S204が繰り返し実行される(S205)。1ブロック分の露光用ラスタデータ抽出が終了すると、4つの拡大ラスタデータに対し、それぞれ3Mだけデータシフトさせた領域から露光用ラスタデータを抽出することが決定される(S206)。   In step S203, it is determined whether the exposure area is moved by the exposure pitch KT. If it is determined that there is a movement corresponding to the exposure pitch, the raster data for exposure is extracted from the next enlarged raster data and transferred to the DMD (S204). Steps S201 to S204 are repeatedly executed until the exposure raster data extraction and reading based on the four enlarged raster data of one block are completed (S205). When the extraction of the exposure raster data for one block is completed, it is determined to extract the exposure raster data from the area where the data is shifted by 3M for each of the four enlarged raster data (S206).

ステップS207では、1グループに対する露光用ラスタデータ抽出が終了したか否かが判断される。1グループの露光用ラスタデータ抽出が終了すると、新たに生成された一連の拡大ラスタデータから露光用ラスタデータを抽出するため、バッファメモリが切り替えられる(S208)。さらに、グループ補正が行われる(S209)。すなわち、露光開始タイミングがΔk(=0.125m)だけシフトされる。描画が終了するまでステップS201〜S209が繰り返し実行される。   In step S207, it is determined whether or not the exposure raster data extraction for one group is completed. When extraction of one group of exposure raster data is completed, the buffer memory is switched in order to extract exposure raster data from a series of newly generated raster data (S208). Further, group correction is performed (S209). That is, the exposure start timing is shifted by Δk (= 0.125 m). Steps S201 to S209 are repeatedly executed until drawing is completed.

このように本実施形態によれば、ラスタデータ変換部51は、実際の露光エリアよりもデータサイズの大きい4つの拡大ラスタデータをブロックとして生成し、時間間隔TMに従って第1、第2バッファメモリ58A、58Bへ交互に格納する。拡大ラスタデータ各々は、単位露光エリアEaのデータ幅mを基準としたときの露光ピッチKT=0.75mに従って順にシフトさせたデータ構造になっている。   As described above, according to the present embodiment, the raster data converting unit 51 generates four enlarged raster data having a data size larger than the actual exposure area as a block, and the first and second buffer memories 58A according to the time interval TM. , 58B are alternately stored. Each of the enlarged raster data has a data structure that is sequentially shifted in accordance with the exposure pitch KT = 0.75 m with respect to the data width m of the unit exposure area Ea.

一方、アドレス制御回路57は、露光ピッチKTに応じた露光タイミングに合わせて、第1、第2バッファメモリ58A、58Bから露光用ラスタデータを交互に読み出す。このとき、露光エリアEAの相対移動に合わせながら、露光用ラスタデータを4つの拡大ラスタデータから順に抽出する。1ブロック内の露光用ラスタデータ抽出が一巡すると、さらに露光用ラスタデータ抽出を2度繰り返し行う。このとき、露光エリアEAの相対移動に従い、3M、6Mだけデータシフトさせた露光用ラスタデータが抽出される。   On the other hand, the address control circuit 57 alternately reads the exposure raster data from the first and second buffer memories 58A and 58B in accordance with the exposure timing corresponding to the exposure pitch KT. At this time, the exposure raster data is extracted in order from the four enlarged raster data while matching the relative movement of the exposure area EA. When the exposure raster data extraction in one block is completed, the exposure raster data extraction is repeated twice. At this time, the exposure raster data shifted by 3M and 6M is extracted in accordance with the relative movement of the exposure area EA.

ブロック内での露光用ラスタデータ抽出を3回繰り返している間(1グループ間の露光用ラスタデータ抽出中)、ラスタデータ変換部51は、次のブロックを構成する一連の拡大ラスタデータを生成し、いずれかのバッファメモリへ格納する。1グループの露光用ラスタデータ抽出がすべて終了すると、次のグループに基づく露光用ラスタデータ抽出、描画処理が開始される。このとき、露光タイミングがΔk(=0.125m)だけシフト補正される。   While the extraction of the exposure raster data in the block is repeated three times (during the extraction of the exposure raster data for one group), the raster data conversion unit 51 generates a series of enlarged raster data constituting the next block. , Store it in one of the buffer memories. When all the exposure raster data extraction for one group is completed, the exposure raster data extraction and drawing processing based on the next group is started. At this time, the exposure timing is shift-corrected by Δk (= 0.125 m).

本実施形態では、従来のように露光エリアの相対移動に合わせて順次ラスタデータを生成、メモリへ格納、そしてメモリから読み出しを行うのではなく、あらかじめデータサイズの大きな複数のラスタデータが用意され、ラスタデータの生成処理と露光動作制御処理が切り分けて実行される。そして、バッファメモリからのデータ読み出し領域を順次オーバラップシフトしながら、ブロック周期で繰り替えし露光動作を実行する。   In the present embodiment, a plurality of raster data having a large data size is prepared in advance, instead of sequentially generating raster data in accordance with the relative movement of the exposure area, storing in the memory, and reading from the memory as in the past. Raster data generation processing and exposure operation control processing are performed separately. Then, the data reading area from the buffer memory is sequentially overlap-shifted, and repeated in the block cycle to execute the exposure operation.

拡大ラスタデータ生成する時間間隔TMは、露光用ラスタデータの抽出、転送時間tmよりも長く設定されているが、本実施形態の構成により、ラスタデータ生成に十分時間を確保することができるとともに、走査速度の低下、露光ピッチの拡張なくきめ細かいオーバラップ露光が可能となり、スループットを向上させながら、高解像度で微細パターンを形成することができる。   The time interval TM for generating the enlarged raster data is set to be longer than the extraction and transfer time tm of the exposure raster data. However, the configuration of the present embodiment can secure a sufficient time for generating the raster data. Fine overlap exposure is possible without lowering the scanning speed and expanding the exposure pitch, and a fine pattern can be formed with high resolution while improving the throughput.

例えば、拡大ラスタデータ生成に約0.1〜1.0(ms)必要とする一方、露光用ラスタデータ抽出、転送にかかる時間はせいぜい0.05〜0.1(ms)であり、ラスタデータ生成の方が平均的に2〜3倍以上時間がかかる。通常、ラスタデータ生成時間は、ラスタデータ転送時間を越える。   For example, while it takes about 0.1 to 1.0 (ms) for generating enlarged raster data, the time required for extracting and transferring the raster data for exposure is 0.05 to 0.1 (ms) at most. Generation takes an average of 2-3 times longer. Usually, the raster data generation time exceeds the raster data transfer time.

本実施形態では、ラスタデータ生成処理と露光用データ転送処理が別々に制御されるため、このタイムラグを解消するための走査速度低下、露光ピッチ拡大の措置をとる必要がない。なお、データサイズの大きい拡大ラスタデータを生成するための時間ロスは、ほとんど生じない。   In the present embodiment, since the raster data generation process and the exposure data transfer process are controlled separately, it is not necessary to take measures to reduce the scanning speed and increase the exposure pitch in order to eliminate this time lag. Note that there is almost no time loss for generating enlarged raster data having a large data size.

また、グループが切り替わる、すなわち使用されるバッファメモリの切替が行われる度にグループ補正処理を行うため、1つの露光対象セル領域に対し、分散したオーバラップ露光が実現可能となる。   Further, since group correction processing is performed each time the group is switched, that is, the buffer memory to be used is switched, distributed overlap exposure can be realized for one exposure target cell region.

露光ピッチ(拡大ラスタデータのシフト量)、ブロックを構成する拡大ラスタデータの数は、それぞれ任意に設定可能であり、走査速度、必要とされるパターン解像度、ラスタデータ生成、転送処理時間などに基づいて定められる。露光ピッチKTが単位露光エリアEaのセルサイズmより小さく設定される場合、1つのブロックの露光動作回数(上記実施形態では4回)の間に露光エリアEAが移動する移動量が整数倍になる条件を満たす必要がある。露光ピッチKTは、以下の式で求められる。

KT=N×(m/DV) ・・・・(1)

ただし、Nは整数、DVは拡大ラスタデータのブロックを構成する数を表す。なお、セルサイズmより大きい値であってもよい。
The exposure pitch (enlarged raster data shift amount) and the number of enlarged raster data constituting the block can be set arbitrarily, and are based on the scanning speed, required pattern resolution, raster data generation, transfer processing time, etc. Determined. When the exposure pitch KT is set to be smaller than the cell size m of the unit exposure area Ea, the amount of movement of the exposure area EA during the number of exposure operations of one block (four times in the above embodiment) is an integral multiple. It is necessary to satisfy the conditions. The exposure pitch KT is obtained by the following equation.

KT = N × (m / DV) (1)

Here, N represents an integer, and DV represents a number constituting a block of enlarged raster data. The value may be larger than the cell size m.

本実施形態では、複数の拡大ラスタデータから成るブロックを基調として露光用ラスタデータの抽出を行っているが、1つの拡大ラスタデータから、露光用ラスタデータを順にオーバラップシフトさせて抽出するように構成してもよい。例えば、ラスタデータ生成中の露光エリア移動距離(上記実施形態では9m)に比べて短い露光ピッチに対し、所定のデータ幅でシフトさせながら露光用ラスタデータを抽出すればよい。また、ブロック化する構成であっても、ブロック単位の露光用ラスタデータを繰り返し行わない構成(一巡するだけ)にしてもよい。   In the present embodiment, the exposure raster data is extracted based on a block composed of a plurality of enlarged raster data, but the exposure raster data is extracted from one enlarged raster data by sequentially overlapping and shifting. It may be configured. For example, the exposure raster data may be extracted while shifting at a predetermined data width with respect to an exposure pitch shorter than the exposure area moving distance (9 m in the above embodiment) during raster data generation. Moreover, even if it is the structure made into a block, you may make it the structure which does not repeat the raster data for exposure of a block unit (it is only a round).

パターン解像度、パターン形成方向などを考慮し、走査方向を斜めに設定しなくてもよい。また、ベクタデータ以外のパターンデータを作成するように構成してもよい。   In consideration of pattern resolution, pattern formation direction, and the like, the scanning direction may not be set obliquely. Further, pattern data other than vector data may be created.

10 描画装置
51 ラスタ変換部
52 露光制御部
57 アドレス制御回路
58A 第1バッファメモリ
58B 第2バッファメモリ
ELA 拡大ラスタデータ
ELA1 露光用ラスタデータ
KT 露光ピッチ
Ea 単位露光エリア
EA 露光エリア
m 単位露光エリア幅
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Drawing apparatus 51 Raster conversion part 52 Exposure control part 57 Address control circuit 58A 1st buffer memory 58B 2nd buffer memory ELA Enlarged raster data ELA1 Exposure raster data KT Exposure pitch Ea Unit exposure area EA Exposure area m Unit exposure area width

Claims (9)

光源からの光を変調する複数の空間光変調素子を2次元配列させた光変調素子アレイと、
前記光変調素子アレイによる露光エリアを被描画体に対して相対的に移動させる走査手段と、
描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納するデータ変換手段と、
前記拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、前記メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出するデータ抽出手段と、
抽出された露光用ラスタデータに基づき、前記複数の空間光変調素子を制御する描画処理手段と
を備えたことを特徴とする露光装置。
A light modulation element array in which a plurality of spatial light modulation elements that modulate light from a light source are two-dimensionally arranged;
Scanning means for moving the exposure area by the light modulation element array relative to the object to be drawn;
Data conversion means for sequentially generating at least one enlarged raster data that is larger than the data size of the exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations, based on the pattern data corresponding to the drawing pattern, and storing the data in a memory;
The raster data for exposure corresponding to the relative position of the exposure area is sequentially overlapped from the enlarged raster data stored in the memory according to the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data. Data extraction means for extracting;
An exposure apparatus comprising: drawing processing means for controlling the plurality of spatial light modulation elements based on the extracted exposure raster data.
前記データ変換手段が、単位露光エリア幅より短い露光ピッチに従って順にデータシフトさせた一連の拡大ラスタデータを順次生成し、
前記データ抽出手段が、次の一連の拡大ラスタデータが生成される間、露光エリアの相対位置に合わせて、前記メモリに格納されている一連の拡大ラスタデータから露光用ラスタデータを順に抽出することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
The data conversion means sequentially generates a series of enlarged raster data that is sequentially data shifted according to an exposure pitch shorter than the unit exposure area width,
The data extraction means sequentially extracts the exposure raster data from the series of enlarged raster data stored in the memory in accordance with the relative position of the exposure area while the next series of enlarged raster data is generated. The exposure apparatus according to claim 1.
前記データ抽出手段が、前記一連の拡大ラスタデータに対する露光用ラスタデータ抽出を繰り返し行うことを特徴とする請求項3に記載の露光装置。   4. The exposure apparatus according to claim 3, wherein the data extraction means repeatedly performs exposure raster data extraction for the series of enlarged raster data. 前記メモリに格納された拡大ラスタデータに基づく露光用ラスタデータ抽出がすべて終了し、次に生成された一連の拡大ラスタデータに基づく露光用ラスタデータ抽出を開始するとき、露光開始位置をシフト補正する補正手段をさらに有することを特徴とする請求項2に記載の露光装置。   When all of the exposure raster data extraction based on the enlarged raster data stored in the memory is completed, and then the exposure raster data extraction based on the series of enlarged raster data generated next is started, the exposure start position is shift-corrected. The exposure apparatus according to claim 2, further comprising a correction unit. 前記メモリが、別々にラスタデータの書き込み、読み出しが可能な第1、第2メモリを有し、
前記データ変換手段が、前記拡大ラスタデータを前記第1、第2メモリへ交互に格納させることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の露光装置。
The memory has first and second memories capable of separately writing and reading raster data,
5. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the data conversion means stores the enlarged raster data in the first and second memories alternately.
前記走査手段が、前記露光エリアを、基板に対し斜め方向に沿って相対移動させることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の露光装置。   6. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the scanning unit relatively moves the exposure area along an oblique direction with respect to the substrate. 描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納するデータ変換手段と、
前記拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、前記メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出するデータ抽出手段と
を備えたことを特徴とする露光装置のデータ処理装置。
Data conversion means for sequentially generating at least one enlarged raster data that is larger than the data size of the exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations, based on the pattern data corresponding to the drawing pattern, and storing the data in a memory;
The raster data for exposure corresponding to the relative position of the exposure area is sequentially overlapped from the enlarged raster data stored in the memory according to the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data. A data processing apparatus for an exposure apparatus, comprising: a data extracting means for extracting.
描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納するデータ変換手段と、
前記拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、前記メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出するデータ抽出手段と
を機能させることを特徴とする露光装置のプログラム。
Data conversion means for sequentially generating at least one enlarged raster data that is larger than the data size of the exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations, based on the pattern data corresponding to the drawing pattern, and storing the data in a memory;
The raster data for exposure corresponding to the relative position of the exposure area is sequentially overlapped from the enlarged raster data stored in the memory according to the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data. A program for an exposure apparatus, which causes data extraction means for extraction to function.
描画パターンに応じたパターンデータに基づき、露光エリアのデータサイズより大きく、露光動作複数回分のエリアをカバーする少なくとも1つの拡大ラスタデータを順次生成し、メモリへ格納し、
前記拡大ラスタデータの生成する間の露光エリア移動距離よりも短い露光ピッチに従い、前記メモリに格納された拡大ラスタデータから、露光エリアの相対位置に応じた露光用ラスタデータを、オーバラップさせながら順次抽出することを特徴とする露光装置のデータ処理方法。
Based on the pattern data corresponding to the drawing pattern, at least one enlarged raster data that is larger than the data size of the exposure area and covers an area for a plurality of exposure operations is sequentially generated and stored in the memory,
The raster data for exposure corresponding to the relative position of the exposure area is sequentially overlapped from the enlarged raster data stored in the memory according to the exposure pitch shorter than the exposure area moving distance during the generation of the enlarged raster data. A data processing method for an exposure apparatus, wherein the data is extracted.
JP2010025431A 2010-02-08 2010-02-08 Exposure equipment Expired - Fee Related JP5503992B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010025431A JP5503992B2 (en) 2010-02-08 2010-02-08 Exposure equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010025431A JP5503992B2 (en) 2010-02-08 2010-02-08 Exposure equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011164268A true JP2011164268A (en) 2011-08-25
JP5503992B2 JP5503992B2 (en) 2014-05-28

Family

ID=44595036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010025431A Expired - Fee Related JP5503992B2 (en) 2010-02-08 2010-02-08 Exposure equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5503992B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180031776A (en) * 2015-09-25 2018-03-28 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Data correction apparatus, drawing apparatus, wiring pattern forming system, inspection apparatus, data correction method, and manufacturing method of wiring board
JP7422263B1 (en) 2023-08-24 2024-01-25 株式会社オーク製作所 Exposure equipment and exposure method
JP7455265B1 (en) 2023-08-24 2024-03-25 株式会社オーク製作所 Exposure equipment and exposure method

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1032188A (en) * 1996-07-17 1998-02-03 Toshiba Corp Charged beam lithography device
JP2003057837A (en) * 2001-08-21 2003-02-28 Pentax Corp Multiple exposure lithography system and multiple exposure lithography method
JP2003195512A (en) * 2001-12-28 2003-07-09 Pentax Corp Apparatus and method for multiple exposure drawing
JP2009044060A (en) * 2007-08-10 2009-02-26 Orc Mfg Co Ltd Drawing device and drawing method
JP2009157168A (en) * 2007-12-27 2009-07-16 Orc Mfg Co Ltd Drawing apparatus and drawing method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1032188A (en) * 1996-07-17 1998-02-03 Toshiba Corp Charged beam lithography device
JP2003057837A (en) * 2001-08-21 2003-02-28 Pentax Corp Multiple exposure lithography system and multiple exposure lithography method
JP2003195512A (en) * 2001-12-28 2003-07-09 Pentax Corp Apparatus and method for multiple exposure drawing
JP2009044060A (en) * 2007-08-10 2009-02-26 Orc Mfg Co Ltd Drawing device and drawing method
JP2009157168A (en) * 2007-12-27 2009-07-16 Orc Mfg Co Ltd Drawing apparatus and drawing method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180031776A (en) * 2015-09-25 2018-03-28 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Data correction apparatus, drawing apparatus, wiring pattern forming system, inspection apparatus, data correction method, and manufacturing method of wiring board
KR102082583B1 (en) 2015-09-25 2020-02-27 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 Data correction apparatus, drawing apparatus, wiring pattern forming system, inspection apparatus, data correction method and manufacturing method of wiring board
JP7422263B1 (en) 2023-08-24 2024-01-25 株式会社オーク製作所 Exposure equipment and exposure method
JP7455265B1 (en) 2023-08-24 2024-03-25 株式会社オーク製作所 Exposure equipment and exposure method

Also Published As

Publication number Publication date
JP5503992B2 (en) 2014-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5258226B2 (en) Drawing apparatus and drawing method
JP5241226B2 (en) Drawing apparatus and drawing method
JP2012049433A (en) Exposure device
US7248333B2 (en) Apparatus with light-modulating unit for forming pattern
JP2008003504A (en) Drawing system
KR101720595B1 (en) Method and apparatus for producing raster image useable in exposure apparatus based on dmd and recording medium for recording program for executing the method
JP2008003441A (en) Drawing system
JP5503992B2 (en) Exposure equipment
US20090074401A1 (en) Image recording processing circuit, image recording apparatus and image recording method using image recording processing circuit
TWI688830B (en) Exposure device and exposure method
JP2006319098A (en) Drawing equipment
JP5357483B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP4671661B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP5357617B2 (en) Exposure equipment
JP4466195B2 (en) Drawing system
JP2005353927A (en) Pattern drawing apparatus
US20100256817A1 (en) Method of adjusting laser beam pitch by controlling movement angles of grid image and stage
JP2008065094A (en) Processing circuit for drawing and drawing method
JP7455265B1 (en) Exposure equipment and exposure method
JP7432418B2 (en) Exposure equipment and exposure method
JP7422263B1 (en) Exposure equipment and exposure method
JP7437212B2 (en) Exposure equipment and exposure method
JP2005300809A (en) Drawing apparatus
JP2007079383A (en) Method and device for acquiring drawing data and method and device for drawing
JP2005300807A (en) Drawing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131224

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140221

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140311

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140317

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5503992

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees