JP2010212616A - Electrode pad and method of manufacturing the same, circuit wiring and method of manufacturing the same, and soldered joint structure and soldering method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、導電性ペーストを硬化させてなる電極パッド及びその製造方法、電極パッドを備えた回路配線体及びその製造方法、並びに、この電極パッドによるはんだ継手構造及びその方法に関する。 The present invention relates to an electrode pad formed by curing a conductive paste and a manufacturing method thereof, a circuit wiring body including the electrode pad and a manufacturing method thereof, a solder joint structure using the electrode pad, and a method thereof.
従来、半導体パッケージなどに用いられる配線は、フォトリソグラフィー法を用いて形成されるのが一般的であった。この配線構造および配線形成方法について、図8を用いて詳述する。 Conventionally, wiring used for a semiconductor package or the like is generally formed using a photolithography method. This wiring structure and wiring forming method will be described in detail with reference to FIG.
図14(a)に示すように、LSIチップ100の主面上には、内部回路と接続されたチップ電極101が設けられ、その上にチップ電極101の一部を露出して第一の絶縁樹脂102が形成されている。そして、第1の絶縁樹脂102上に配線層のベースとなる銅膜103をスパッタ等により形成する。続いて、図14(b)に示すように、エッチングレジスト形成用の感光性樹脂104を、スピンコータ等を用いて塗布する。その後、図14(c)に示すように、フォトマスク105を用いて、パターン形成部を露光・現像する。これにより、図14(d)に示すように、感光性樹脂104が未露光部104aと露光部104bとに分けられる。
As shown in FIG. 14A, a
続いて、図14(e)に示すように、現像部以外となる未露光部104aの樹脂を除去してエッチングレジストを形成する。そして、図14(f)に示すように、エッチングにより配線部以外の銅を除去することで、配線パターンとなる銅配線106が形成される。その後、図14(g)に示すように、露光部104bからなるエッチングレジストを除去すれば銅配線106が完成する。
フォトリソグラフィー法を用いた配線形成方法としては、上述した方法以外に様々な方法が開示されている(例えば、特許文献1参照)。
Subsequently, as shown in FIG. 14E, the resin of the
As a wiring forming method using a photolithography method, various methods other than the method described above are disclosed (for example, refer to Patent Document 1).
しかし、これらのフォトリソグラフィー法を用いた配線形成方法は、製造工程上配線以外の銅を全て除去する必要があることや、使用済みのエッチング液が廃液となること等により環境保護の観点から、異なる方法が望まれていた。また、前述のように複雑な工程を必要とするため初期設備投資が多大となることや、多数の製造工程を必要とするためにコストアップが避けられないことなどの問題もあった。 However, in the wiring formation method using these photolithography methods, it is necessary to remove all copper other than the wiring in the manufacturing process, and from the viewpoint of environmental protection due to the fact that the used etching liquid becomes a waste liquid, A different method was desired. In addition, as described above, there are problems such as a large amount of initial equipment investment due to the need for complicated processes and an inevitable increase in cost due to the need for many manufacturing processes.
一方、近年、樹脂に導電性フィラーが含まれた導電性ペーストを配線基板の導通箇所に利用する技術が提案されており(例えば、特許文献2参照)、フォトリソグラフィー法による配線技術に代わるものとして注目されている。 On the other hand, in recent years, a technique of using a conductive paste containing a conductive filler in a resin for a conductive portion of a wiring board has been proposed (see, for example, Patent Document 2), which replaces a wiring technique based on a photolithography method. Attention has been paid.
しかしながら、特許文献2のような導電性ペーストを用いた配線を用いた場合、はんだ付けができない問題があった。図15及び図16は、基板110上に、樹脂112と金属フィラー113からなる導電性ペーストを硬化して電極パッド111を形成し、この電極パッド111にはんだ114をはんだ付けをした状態を示している。
すなわち、図15に示すように、電極パッド111を形成する硬化した導電性ペーストを構成する金属フィラー113は、表面に形成された樹脂112による被膜112aで覆われた状態となっている。このため、はんだ付けを行ったとしても被膜112aによってはんだ不濡れ115が生じてしまいはんだ付けができない。また、図16に示すように、この被膜112aを除去して導電性ペースト中の金属フィラー113の一部を露出させた場合には、配線に使用可能な導電性ペーストでは金属フィラーの粒径が小さく、はんだ付け時に溶融はんだ中に金属フィラー113が溶解、拡散し、空隙116が発生してやはりはんだ付けできない。
However, when the wiring using the conductive paste as in
That is, as shown in FIG. 15, the
この発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、導電性ペーストを硬化して形成されるとともに、はんだ接続可能な電極パッド及びその製造方法、回路配線体及びその製造方法、並びに、はんだ継手構造及びその方法を提供するものである。 The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and is formed by curing a conductive paste, and can be connected to a solderable electrode pad, a manufacturing method thereof, a circuit wiring body, a manufacturing method thereof, and A solder joint structure and a method thereof are provided.
上記課題を解決するために、この発明は以下の手段を提案している。
本発明は、樹脂及び該樹脂中に含まれる金属フィラーを有する電極パッドであって、 前記金属フィラーは、複数の第一のフィラーによって層状に構成された第一のフィラー群と、該第一のフィラー群上に積層され、粒径平均値が前記第一のフィラーよりも大きい複数の第二のフィラーによって層状に構成された第二のフィラー群とを備え、前記第二のフィラーの少なくとも一部が前記樹脂の表面から露出していることを特徴としている。
In order to solve the above problems, the present invention proposes the following means.
The present invention is an electrode pad having a resin and a metal filler contained in the resin, wherein the metal filler includes a first filler group configured in layers by a plurality of first fillers, and the first filler A second filler group that is laminated on the filler group and configured in layers by a plurality of second fillers having a particle size average value larger than that of the first filler, and at least a part of the second filler Is exposed from the surface of the resin.
また、本発明は、樹脂及び該樹脂中に含まれる金属フィラーを有する電極パッドの製造方法であって、導電性ペーストとして、前記金属フィラーである複数の第一のフィラーが第一の樹脂に含まれてなる第一のペースト、及び、前記金属フィラーであり、平均粒径が前記第一のフィラーよりも大きい複数の第二のフィラーが第二の樹脂に含まれてなる第二のペーストを用意する準備工程と、基板上に前記第一のペーストによって前記第一の導電層11を形成する第一の導電層11形成工程と、前記第一層上に前記第二のペーストによって、表面に前記第二のフィラーが露出するように第二の導電層を形成する第二の導電層形成工程とを備えることを特徴としている。
The present invention is also a method for producing an electrode pad having a resin and a metal filler contained in the resin, wherein the first resin includes a plurality of first fillers as the metal filler as a conductive paste. And a second paste comprising a plurality of second fillers that are the metal filler and have an average particle diameter larger than that of the first filler. A first
本発明によれば、樹脂の表面から第二のフィラーが露出していることで、樹脂による被膜形成によってはんだ不濡れが生じてしまうことがない。また、上側に位置してはんだ付けされる第二のフィラーが、第一のフィラーよりも大きな粒径平均値を有していることで、はんだ付け時に第二のフィラーが溶融、拡散して空隙が生じてしまうことがない。このため、第一のフィラーによって電極パッドとしての導通を良好に保ちつつ、第二のフィラーにより確実にはんだ接続することができる。 According to the present invention, since the second filler is exposed from the surface of the resin, solder non-wetting does not occur due to film formation by the resin. In addition, since the second filler to be soldered located on the upper side has a larger average particle size than the first filler, the second filler is melted and diffused during soldering to form voids. Will not occur. For this reason, it is possible to reliably perform solder connection with the second filler while maintaining good conduction as the electrode pad with the first filler.
本発明に係る実施形態について、図1から図7を参照して説明する。図1及び図2に示すように、本実施形態の回路配線体1は、基板2と、基板2上に配設された配線部3と、基板2上に設けられ配線部3と接続された電極パッド10とを備える。基板2は、表面に基材側配線2aが形成された基材2bと、基材2b上に積層された絶縁材2cとから構成されている。なお、基材側配線2a等が設けられておらず、基材2bの最表面が絶縁性を有するものであれば、絶縁材2cを設けない構成としても良い。
また、基材2b上において基材側配線2aには、基材側電極パッド2dが接続されており、基材側電極パッド2dは、絶縁材2cに対応した設けられた開口部2eから絶縁材2c上に設けられた配線部3と接続されている。また、配線部3及び電極パッド10は、それぞれ、樹脂及び樹脂中に含まれる金属フィラーを有する導電性ペーストを硬化して形成されたものである。
Embodiments according to the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the circuit wiring body 1 of the present embodiment is connected to the
Further, on the
ここで、電極パッド10は、基材2b上に積層され、金属フィラーとして複数の第一のフィラー21によって層状に構成された第一のフィラー群21Aを有する第一の導電層11と、第一の導電層11上に積層され、金属フィラーとして複数の第二のフィラー22によって層状に構成された第二のフィラー群22Aを有するとともに、該第二のフィラー22が最表面となる表面12aから露出した第二の導電層12とを備える。本実施形態では、電極パッド10は、略円形に形成されているがこれに限るものではなく、矩形、あるいは、狭いピッチで形成する必要がある場合などでは配線部3と同じ幅で配線部3の先端部分を電極パッド10としても良い。そして、図2に示すように、電極パッド10の表面12aにはんだ4が、はんだ付けされる。
Here, the
第一の導電層11は、導電性ペーストとして、第一の樹脂23及び第一の樹脂23に含まれる第一のフィラー21を有する第一のペースト24を硬化して形成されている。また、本実施形態では、配線部3も同様に、導電性ペーストとして第一のペースト24を硬化して形成されている。ここで、第一の導電層11としては、第一のフィラー21が、第一の導電層11の表面、すなわち第二の導電層12との境界において、第一の樹脂23から、後述する第二の樹脂25側に露出するようにして第一のフィラー21が含まれていることが望ましい。
The first
また、第二の導電層12は、導電性ペーストとして、第二の樹脂25及び第二の樹脂25に含まれる第二のフィラー22を有する第二のペースト26を硬化して形成されおり、上記のとおり表面12aに近い第二のフィラー22の一部が露出している。ここで、第二のフィラー22の表面12aからの露出とは、必ずしも完全に露出された状態である必要はなく、少なくとも後述する実施形態を含む本発明に係る製造方法等により、はんだ付けに支障が無い程度の極めて薄い薄膜が覆っている状態のものも含む。また、第二の導電層12の第二のフィラー22は、上記のように第一の導電層11との境界において第一の樹脂23から露出する第一のフィラー21と接触した接触部27が形成されていることが望ましい。また、第一の導電層11の第一の樹脂23及び第二の導電層12の第二の樹脂25のそれぞれの材質としては、特に限定されず、同じ材質としても良い。
The second
第一のフィラー21は、印刷性及び導電性ペースト中の金属フィラーの含有率を高めて抵抗値を下げる観点から、粒径が配線幅に対して十分に小さく設定されている一方、第二のフィラー22は、はんだへの溶解抑制の観点から、粒径が十分に大きく設定されており、第二のフィラー22の粒径平均値は、第一のフィラー21の粒径平均値よりも大きくなるように設定されている。より具体的には、第一のフィラー21としては、粒度ピークが粒径で5nm以上5μm以下とすることが望ましく、粒径で0.1μm以上1μm以下とすることがより望ましい。また、第一のフィラー21は、2つ以上の粒度ピークを有するようにしても良く、この場合、粒径で0.1μm以上1μm以下の範囲と、粒径で30nm以下の範囲とのそれぞれで粒度ピークを有することがさらに望ましい。これにより、特に、導電性ペースト中の金属フィラーの含有率を高めることができる。さらに、粒径が30nm程度以下の金属微粒子は、低温で融着する性質があり、このような金属微粒子を含有させることにより、第一のフィラー21間で互いに融着して、第一のフィラー21間での導電性向上が実現できる。一方、第二のフィラー22としては、粒度ピークが、粒径で0.5μm以上20μm以下とすることが望ましく、粒径で1μm以上20μm以下とすることがより望ましい。また、第二のフィラー22は、この粒径の範囲内で2つ以上の粒度ピークを有するようにしても良い。
From the viewpoint of increasing the printability and the content of the metal filler in the conductive paste to lower the resistance value, the
また、第一のフィラー21の形状としては、特に限定はされないが、燐片状若しくは球状、または、これらの組合せであることが望ましい。第一のフィラー21を燐片状とすることで、導電性フィラーの充填性が増して導電性ペースト中の金属フィラーの含有率を高めることができるとともに、金属フィラー同士の接触面積を増加させて接触抵抗が低減できる。また、第一フィラーを球状粉とすることで、導電性ペーストとしての流動性を良好なものとして、印刷性を向上することができる。一方、第二のフィラー22の形状としては、特に限定はされないが、球状粉を含有することが好ましく、燐片状など他の形状を用いる場合にも球状粉を含むことが望ましい。球状粉は、金属フィラー表面から中心までの最小距離を他の形状と比較して大きくすることができるため、はんだへの溶解を抑制する効果があるとともに、凹凸を形成しやすく、第二の導電層12の表面からの露出が容易となる。
Further, the shape of the
また、第一のフィラー21の材質については、印刷性および配線として要求される導電性が確保できれば限定はされないが、銀、金、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、パラジウム、または、銅、銅合金、ニッケル若しくはニッケル合金を銀で被覆したもののいずれか1つまたは複数の組合せからなることが望ましい。一方、第二のフィラー22の材質については、はんだと接合可能で、電気的導通が取れれば特に限定はされないが、第一のフィラー21同様に、銀、金、銅、銅合金、ニッケル、ニッケル合金、パラジウム、または、銅、銅合金、ニッケル若しくはニッケル合金を銀で被覆したもののいずれか1つまたは複数の組合せからなることが望ましい。
The material of the
次に、この実施形態の電極パッド10、回路配線体1の製造方法、及び、電極パッド10へのはんだ付け方法の詳細について説明する。
まず、準備工程として、基板2を用意するとともに、第一の導電層11及び第二の導電層12をそれぞれ形成する導電性ペーストである第一のペースト24及び第二のペースト26を用意する。まず、基板2は、基材側配線2aが形成された基材2bの表面に絶縁材2cを積層して形成する。ここで、後の配線部形成工程で、配線部3と基材側電極パッド2dとを接続するために、基材側電極パッド2dの部分を除くようにして絶縁材2cを積層する。なお、上記のとおり、基材2bの最表面が絶縁性を有する場合には、絶縁材2cを積層する必要はない。また、第一のペースト24及び第二のペースト26は、それぞれペースト状の第一の樹脂23または第二の樹脂25に、所定量の第一のフィラー21または第二のフィラー22を添加して混合することで製造される。
Next, details of the
First, as a preparation step, the
次に、配線部3を形成する配線部形成工程、並びに、電極パッド10の第一の導電層11及び第二の導電層12のそれぞれを形成する第一の導電層形成工程及び第二の導電層形成工程を実施する。ここで、本実施形態では、電極パッド10の下層で基板2上に形成される第一の導電層11と、配線部3とは、ともに第一のペースト24で形成されていることで、同時に実施することができる。なお、必ずしも同時実施する必要はなく、それぞれ独立して配線部形成工程と、第一の導電層形成工程とを実施するものとしても良い。
Next, a wiring portion forming step for forming the
すなわち、図3に示すように、配線部形成工程及び第一の導電層形成工程において、まず、第一の印刷工程として、基板2上の配線部3及び電極パッド10の第一の導電層11となる範囲に、準備工程で用意した第一のペースト24を印刷する。具体的な印刷方法としては、特に限定されないが、スクリーン印刷法、ディスペンス法、インクジェット法、凸版印刷法、凹版印刷法、もしくはこれらのオフセット印刷法などを用いることができる。そして、第一の硬化工程として、このようにして印刷した第一のペースト24を硬化させる。次に、第一の樹脂除去工程として、電極パッド10の第一の導電層11の表面11aから、硬化した第一のペースト24を構成する第一の樹脂23を除去することで、図4に示すように、表面11a近傍に存在する第一のフィラー21を露出させることが可能となる。具体的な除去方法としては、第一の導電層11の基板2への密着性や、第一の導電層11としての電気的特性を低下させるものでなければ特に限定はされないが、プラズマ処理、機械的研削法、化学機械研磨法(CMP)などが好適に用いることができる。
That is, as shown in FIG. 3, in the wiring portion forming step and the first conductive layer forming step, first, as the first printing step, the first
次に、第二の導電層形成工程として、第一の導電層11の表面11aに第二の導電層12を形成する。すなわち、まず、図5に示すように、第二の印刷工程として、第二の導電層12となる範囲で、硬化した第一のペースト24上に第二のペースト26を印刷する。具体的な印刷方法としては、特に限定されないが、第一の印刷工程同様の方法により印刷が可能である。ここで、下層となる第一の導電層11を形成する第一のペースト24は、予め硬化されているため、第二のペースト26を重ねて印刷しても、第一の導電層11を形成する第一のペースト24の形状が崩れることはなく、両者が混ざることもない。
Next, as the second conductive layer forming step, the second
次に、図6に示すように、硬化工程として、このようにして印刷した第二のペースト26を硬化させる。この際、次第に第二の樹脂25の粘度が低下して、第二のフィラー群22Aは、第一の導電層11上で第二の樹脂25に対して相対的に沈降することとなり、これにより第一の樹脂23から露出する第一のフィラー21と第二のフィラー22とが接触した接触部27を形成することができる。
Next, as shown in FIG. 6, the
次に、図7に示すように、第二の樹脂除去工程として、電極パッド10の第二の導電層12の表面から、硬化した第二のペースト26を構成する第二の樹脂25を除去することで、表面12a近傍に存在する第二のフィラー22が露出することとなる。具体的には、第一の樹脂除去工程と同様であり、プラズマ処理、機械的研削法、化学機械研磨法(CMP)などが好適に用いることができる。第二の導電層12の第一の導電層11への密着性や、第二の導電層12としての電気的特性を低下させるものでなければ特に限定はされないが、プラズマ処理、機械的研削法、化学機械研磨法(CMP)などが好適に用いることができる。
そして、以上のより電極パッド10が製造されるとともに、電極パッド10を備えた回路配線体1が製造されることとなる。
Next, as shown in FIG. 7, as the second resin removing step, the
As described above, the
次に、はんだ付け工程として、図2に示すように、電極パッド10にはんだ4をはんだ付けする。なお、はんだ付けの方法としては、特に限定されず、一般的なはんだ付け方法を適用可能である。この際、電極パッド10の表面となる第二の導電層12の表面12aには、第二のフィラー22が露出していることで、樹脂による被膜形成によってはんだ不濡れが生じてしまうことがない。また、上側に位置してはんだ付けされる第二のフィラー22が、第一のフィラー21よりも大きな粒径平均値を有していることで、はんだ付け時に第二のフィラー22が溶融、拡散して空隙が生じてしまうことがない。このため、第一のフィラー21によって電極パッド10としての導通を良好に保ちつつ、第二のフィラー22により確実にはんだ接続することができる。
Next, as a soldering step,
以上のように、本実施形態では、第二のフィラー22の樹脂表面からの露出、及び、その粒径により、従来の導電性ペーストを用いた配線印刷形成では実現不可能であった、導電性ペーストへの直接はんだ付けが可能となる。その一方で、第二のフィラー群22Aの下方に位置する第一のフィラー21を第二のフィラー22よりも小さい粒径平均値とすることで、金属フィラーの充填率を高くして含有率を高めて、電極パッド10としての抵抗値を低減させて導通を良好なものとすることができる。このため、従来難しかった導電性ペースト配線でのはんだ付け性と微細配線形成の両立が容易に可能となる。さらに、第一のフィラー21を第一の樹脂23から第二の樹脂25側に露出させて第二のフィラー22との間に接触部27を形成することにより、さらに抵抗値を低減させて導通を良好なものとすることができる。また、本実施形態では、配線部3を電極パッド10の第一の導電層11と同様に第一のペースト24を硬化して形成することで、配線部3と電極パッド10の第一の導電層11とを同時に形成することができて、工程の短縮化を図ることができる。
As described above, in the present embodiment, the
また、本実施形態では、第一の導電層形成工程で、第一の導電層11を形成する第一のペースト24を硬化させた後に、第二の導電層形成工程で第二の導電層12を形成する第二のペースト26を印刷、硬化させることで、第一のペースト24の第一の樹脂23と、第二のペースト26の第二の樹脂25とが混合してしまうことなく、第一の導電層11と第二の導電層12との境界を形成することとなる。このため、第一の樹脂23と第二の樹脂25とを異なる材質となるように選択した場合において、例えばエポキシ樹脂とシリコーン樹脂のように互いの親和性が低く両者の混合により、基材2bとの密着力が低下する場合や、信頼性が低下してしまう場合などには、このような問題を防止しつつ、第一の導電層11に含まれる第一の樹脂23として好適な特性を有する材質を選択し、また、第二の導電層12に含まれる第二の樹脂25として好適な特性を有する材質を選択し、両者の特性を両立させることが可能となる。第一の樹脂23として好適な特性としては、基板2に対する密着性や印刷容易性であり、密着性を良好なものとすることで強固で信頼性の高い回路配線体を実現でき、また、印刷容易性を良好なものとすることで微細配線形成が可能となり微細な配線を有する回路配線体を実現することができる。また、第二の樹脂25として好適な特性としては、はんだ濡れの阻害し難くさや、金属フィラーの保持特性であり、これらによりはんだ接合強度を向上させることができる。
Moreover, in this embodiment, after hardening the
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。ここで、第2の実施形態では、第1の実施形態と製造方法が異なるのみで、電極パッド10及び電極パッド10を備えた回路配線体1の基本構造は同様であるので、図1から図5及び図7を同様に参照して説明する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. Here, in the second embodiment, only the manufacturing method is different from that of the first embodiment, and the basic structure of the circuit wiring body 1 including the
本実施形態では、まず、準備工程において、第二のペースト26を用意する際に、第二の樹脂25に対して第二のフィラー22の体積比率の方が高くなるようにして第二の樹脂25に第二のフィラー22を添加して混合することで製造する。なお、基板2及び第一のペースト24については第1の実施形態同様である。
In the present embodiment, first, when preparing the
そして、図3及び図4に示すように、本実施形態でも第1の実施形態同様に、配線部形成工程及び第一の導電層形成工程を実施する。次に、第二の導電層形成工程において、図5に示すように、第二の印刷工程を実施し、第二の硬化工程を実施する。ここで、上記のとおり、第二のペースト26が、第二の樹脂25に対して第二のフィラー22の体積比率が高く設定されていることで、第二のフィラー22は、第二の樹脂25に対して沈降するものの、表面側に位置するものは、表面12aにおいて第二の樹脂25から露出することとなり図7に示す状態となる。このため、第二の導電層形成工程において、第1の実施形態のように第二の樹脂除去工程を行わずとも、表面から第二のフィラー22を露出させることができ、これにより工程の短縮化を図りつつ、導電性ペーストが硬化して形成された本実施形態の電極パッド10の表面にはんだ接続が可能となる。
As shown in FIGS. 3 and 4, in this embodiment as well, the wiring portion forming step and the first conductive layer forming step are performed as in the first embodiment. Next, in a 2nd conductive layer formation process, as shown in FIG. 5, a 2nd printing process is implemented and a 2nd hardening process is implemented. Here, as described above, the
(第3の実施形態)
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。図8から図13は、本発明の第3の実施形態を示したものである。この実施形態において、前述した実施形態で用いた部材と共通の部材には同一の符号を付して、その説明を省略する。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described. 8 to 13 show a third embodiment of the present invention. In this embodiment, members that are the same as those used in the above-described embodiment are assigned the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.
図8及び図9に示すように、本実施形態の回路配線体30の電極パッド31は、第一のペースト24が硬化して形成された第一の導電層11と、第二のペースト26が硬化して形成された第二の導電層12とを備える点で、第1、2の実施形態と共通するものの、第一の導電層11と第二の導電層12との境界に、第一のペースト24の第一の樹脂23と第二のペースト26の第二の樹脂25とが混合された混合層32が形成されている点で異なっている。
As shown in FIGS. 8 and 9, the
次に、この実施形態の電極パッド31及び回路配線体30の製造方法について説明する。
この実施形態では、第1の実施形態同様に準備工程を実施する。次に、配線部形成工程及び第一の導電層形成工程を実施する。ここで、本実施形態においても、配線部3を、第一の導電層11を形成する第一のペースト24によって形成することで、配線部形成工程と第一の導電層形成工程とを同時に実施することができる。
Next, the manufacturing method of the
In this embodiment, the preparatory step is performed as in the first embodiment. Next, a wiring part forming step and a first conductive layer forming step are performed. Here, also in the present embodiment, the
ここで、図10に示すように、配線部形成工程及び第一の導電層形成工程において、まず、第一の印刷工程として、第一のペースト24を配線部3及び電極パッド31となる範囲に印刷する。具体的な印刷方法としては第1の実施形態同様である。次に、第一の硬化工程を実施するが、ここでは、印刷された第一のペースト24を乾燥させて乾燥状態とするか、または、予備硬化させて半硬化状態とするのみで、印刷された形状を保持可能としつつ、一定の軟性を有する状態としておく。
Here, as shown in FIG. 10, in the wiring portion forming step and the first conductive layer forming step, first, as a first printing step, the
次に、第二の導電層形成工程として、第一の導電層11の表面に第二の導電層12を形成する。
すなわち、まず、図11に示すように、第二の印刷工程として、第二の導電層12となる範囲で、乾燥状態または半硬化状態の第一のペースト24上に第二のペースト26を印刷する。具体的な印刷方法としては第1の実施形態同様である。ここで、下層となる第一の導電層11を形成する第一のペースト24は、予め乾燥状態または半硬化状態とされているため、第二のペースト26を重ねて印刷しても、第一の導電層11を形成する第一のペースト24の形状が崩れることがなく、両者が混ざることも無い。
Next, as a second conductive layer forming step, the second
That is, first, as shown in FIG. 11, as the second printing step, the
次に、第二の硬化工程として、このようにして印刷した第二のペースト26とともに、乾燥状態または半硬化状態の第一のペースト24を一括硬化させる。この際、図12に示すように、次第に第一の樹脂23及び第二の樹脂25の粘度が低下するとともに、第二の樹脂25中に含まれる、例えばBCA(ブチルカルビトールアセテート)やターピネオールなどの粘度コントロール用溶剤が乾燥状態または半硬化状態の第一の樹脂23に染み込み、第一の樹脂23と第二の樹脂25とはその一部または全てが混ざり合い、第一の導電層11と第二の導電層12との境界には、互いが混合された混合層32が形成されて硬化することとなる。また、第一の樹脂23と第二の樹脂25とが混合される際に、第二のフィラー群22Aも沈降しようとするが、第二のフィラー22に対して第一のフィラー21の方が粒径平均値が小さく含有密度が高いことから、第二のフィラー群22Aは、第一のフィラー群21A上に沈降する。このため、上部の第一のフィラー21とA下部の第二のフィラー22とは、混合層32内部で接触し、あるいは、混合層32内部で互いの間に存在する樹脂を最小限に留めることができ、これにより第一のフィラー群21Aと第二のフィラー群22Aとの間の導通を良好なものとすることができる。
Next, as a second curing step, the dried or semi-cured
次に、図13に示すように、第二の樹脂除去工程として、電極パッド31の第二の導電層12の表面から、硬化した第二のペースト26を構成する第二の樹脂25を除去することで、表面近傍に存在する第二のフィラー22が露出することとなる。
そして、以上のより電極パッド31が製造されるとともに、電極パッド31を備えた回路配線体30が製造されることとなる。
Next, as shown in FIG. 13, as the second resin removal step, the
As a result, the
次に、はんだ付け工程として、図9に示すように、電極パッド31にはんだ4をはんだ付けする。なお、本実施形態においてもはんだ付けの方法としては、特に限定されず、一般的なはんだ付け方法を適用可能である。この際、第1の実施形態同様に、電極パッド31の表面となる第二の導電層12の表面には、第二のフィラー22が露出していることで、樹脂による被膜形成によってはんだ不濡れが生じてしまうことがない。また、上側に位置してはんだ付けされる第二のフィラー22が、第一のフィラー21よりも大きな粒径平均値を有していることで、はんだ付け時に第二のフィラー22が溶融、拡散して空隙が生じてしまうことがない。このため、第一のフィラー21によって電極パッド31としての導通を良好に保ちつつ、第二のフィラー22により確実にはんだ接続することができる。
Next, as a soldering step,
以上のように、本実施形態でも、第一のフィラー21と第二のフィラー22とにより、従来難しかった導電性ペースト配線でのはんだ付け性と微細配線形成の両立が容易に可能となる。また、混合層32内で、第一のフィラー21と第二のフィラー22とが接触し、あるいは、互いの間の樹脂を最小限に留めることができることで、さらに抵抗値を低減させて導通を良好なものとすることができる。
As described above, also in this embodiment, the
(第4の実施形態)
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。ここで、第4の実施形態では、第3の実施形態と製造方法が異なるのみで、電極パッド31及び電極パッド31を備えた回路配線体30の基本構造は同様であるので、図8から図11及び図13を同様に参照して説明する。
(Fourth embodiment)
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. Here, the fourth embodiment is different from the third embodiment only in the manufacturing method, and the basic structure of the
本実施形態では、まず、準備工程において、第一のペースト24及び第二のペースト26を用意する際に、第一の樹脂23及び第二の樹脂25による樹脂の総量に対して第一のフィラー21及び第二のフィラー22による金属フィラーの総量の体積比率の方が高くなるようにして第一の樹脂23及び第二の樹脂25、並びに、第一のフィラー21及び第二のフィラー22の各使用量を決定する。そして、決定した使用量に基づいて、第一の樹脂23に第一のフィラー21を添加して混合することで第一のペースト24を製造し、また、第二の樹脂25に第二のフィラー22を添加して混合することで第二のペースト26を製造する。なお、基板2については第3の実施形態同様である。
In the present embodiment, first, when preparing the
図10に示すように、本実施形態でも第1の実施形態同様に、配線部形成工程及び第一の導電層形成工程を実施する。次に、第二の導電層形成工程において、図11に示すように第二の印刷工程を実施し、第二の硬化工程を実施する。ここで、上記のとおり、樹脂の総量に対して金属フィラーの総量の体積比率が高く設定されていることで、第一のフィラー21及び第二のフィラー22からなる金属フィラーは、第一の樹脂23及び第二の樹脂25からなる樹脂に対して沈降するものの、第二のフィラー22の内の表面側に位置するものは、表面において第二の樹脂25から露出することとなる。このため、図13に示すように、第二の導電層形成工程において、第3の実施形態のように第二の樹脂除去工程を行わずとも、表面から第二のフィラー22を露出させることができ、これにより工程の短縮化を図りつつ、導電性ペーストが硬化して形成された本実施形態の電極パッド31の表面にはんだ接続が可能となる。
As shown in FIG. 10, in this embodiment as well, the wiring portion forming step and the first conductive layer forming step are performed as in the first embodiment. Next, in the second conductive layer forming step, a second printing step is performed as shown in FIG. 11, and a second curing step is performed. Here, as described above, the volume ratio of the total amount of the metal filler to the total amount of the resin is set so that the metal filler composed of the
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。 As mentioned above, although embodiment of this invention was explained in full detail with reference to drawings, the concrete structure is not restricted to this embodiment, The design change etc. of the range which does not deviate from the summary of this invention are included.
1、30 回路配線体
2 基板
3 配線部
4 はんだ
10、31 電極パッド
11 第一の導電層
11a 表面
12 第二の導電層
12a 表面
21 第一のフィラー
22 第二のフィラー
23 第一の樹脂
24 第一のペースト
25 第二の樹脂
26 第二のペースト
32 混合層
DESCRIPTION OF
Claims (19)
前記金属フィラーは、複数の第一のフィラーによって層状に構成された第一のフィラー群と、
該第一のフィラー群上に積層され、粒径平均値が前記第一のフィラーよりも大きい複数の第二のフィラーによって層状に構成された第二のフィラー群とを備え、
前記第二のフィラーの少なくとも一部が前記樹脂の表面から露出していることを特徴とする電極パッド。 An electrode pad having a resin and a metal filler contained in the resin,
The metal filler is a first filler group configured in layers with a plurality of first fillers;
A second filler group that is laminated on the first filler group and configured in layers by a plurality of second fillers having a particle size average value larger than that of the first filler;
An electrode pad, wherein at least a part of the second filler is exposed from the surface of the resin.
第一の樹脂及び該第一の樹脂中に含まれる前記第一のフィラーを有する第一の導電層と、
該第一の導電層上に積層され、第二の樹脂及び該第二の樹脂中に含まれる前記第二のフィラーを有する第二の導電層とを備えることを特徴とする電極パッド。 The electrode pad according to claim 1,
A first conductive layer having a first resin and the first filler contained in the first resin;
An electrode pad comprising: a second conductive layer laminated on the first conductive layer and having a second resin and the second filler contained in the second resin.
前記第一の導電層と前記第二の導電層との境界には、前記第一の樹脂と前記第二の樹脂とが混合された混合層が形成されていることを特徴とする電極パッド。 The electrode pad according to claim 2,
An electrode pad, wherein a mixed layer in which the first resin and the second resin are mixed is formed at a boundary between the first conductive layer and the second conductive layer.
前記第一の導電層と前記第二の導電層との境界には、前記第一のフィラーが前記第一の樹脂から前記第二の樹脂側に露出して前記第二のフィラーと接触する接触部が形成されていることを特徴とする電極パッド。 The electrode pad according to claim 2,
At the boundary between the first conductive layer and the second conductive layer, the first filler is exposed from the first resin to the second resin side and contacts the second filler. An electrode pad in which a portion is formed.
前記金属フィラーの体積比率が、前記樹脂の体積比率よりも高いことを特徴とする電極パッド。 In the electrode pad according to any one of claims 1 to 4,
The electrode pad, wherein a volume ratio of the metal filler is higher than a volume ratio of the resin.
前記第一のフィラーの粒度ピークが、5nm以上5μm以下の範囲内に設定されているとともに、前記第二のフィラーの粒度ピークが、0.5μm以上20μm以下の範囲内に設定されていることを特徴とする電極パッド。 The electrode pad according to claim 1,
The particle size peak of the first filler is set within a range of 5 nm to 5 μm, and the particle size peak of the second filler is set within a range of 0.5 μm to 20 μm. A featured electrode pad.
該電極パッドと接続され、樹脂及び樹脂に含まれた金属フィラーとを有する配線部とを備えることを特徴とする回路配線体。 The electrode pad according to any one of claims 1 to 6,
A circuit wiring body comprising a wiring portion connected to the electrode pad and having a resin and a metal filler contained in the resin.
前記配線部は、前記金属フィラーが前記第一のフィラーで構成されていることを特徴とする回路配線体。 In the circuit wiring body according to claim 7,
In the wiring portion, the metal filler is constituted by the first filler.
導電性ペーストとして、前記金属フィラーである複数の第一のフィラーが第一の樹脂に含まれてなる第一のペースト、及び、前記金属フィラーであり、平均粒径が前記第一のフィラーよりも大きい複数の第二のフィラーが第二の樹脂に含まれてなる第二のペーストを用意する準備工程と、
基板上に前記第一のペーストによって前記第一の導電層を形成する第一の導電層形成工程と、
前記第一層上に前記第二のペーストによって、表面に前記第二のフィラーが露出するように第二の導電層を形成する第二の導電層形成工程とを備えることを特徴とする電極パッドの製造方法。 A method for producing an electrode pad having a resin and a metal filler contained in the resin,
As the conductive paste, a first paste in which a plurality of first fillers that are the metal fillers are contained in a first resin, and the metal filler, the average particle diameter is larger than that of the first filler. A preparation step of preparing a second paste in which a plurality of large second fillers are contained in the second resin;
A first conductive layer forming step of forming the first conductive layer on the substrate by the first paste;
An electrode pad comprising: a second conductive layer forming step of forming a second conductive layer on the first layer by the second paste so that the second filler is exposed on the surface. Manufacturing method.
前記第一の導電層形成工程は、前記基板上に前記第一のペーストを印刷する第一の印刷工程と、印刷された前記第一のペーストを乾燥または予備硬化させる第一の硬化工程とを有し、
前記第二の導電層形成工程は、前記第一のペースト上に前記第二のペーストを印刷する第二の印刷工程と、印刷された前記第二のペースト及び第一のペーストを一括硬化させる第二の硬化工程とを有することを特徴とする電極パッドの製造方法。 In the manufacturing method of the electrode pad according to claim 10,
The first conductive layer forming step includes a first printing step for printing the first paste on the substrate, and a first curing step for drying or precuring the printed first paste. Have
The second conductive layer forming step includes a second printing step of printing the second paste on the first paste, and a second curing step of collectively curing the printed second paste and first paste. And a second curing step. A method for manufacturing an electrode pad, comprising:
前記第一の導電層形成工程は、前記基板上に前記第一のペーストを印刷する第一の印刷工程と、印刷された前記第一のペーストを硬化させる第一の硬化工程と、硬化した前記第一のペーストの前記第二のペーストが印刷される表面の前記第一の樹脂を除去して前記第一のフィラーを露出させる第一の樹脂除去工程とを有し、
前記第二の導電層形成工程は、前記第一の導電層上に前記第二のペーストを印刷する第二の印刷工程と、印刷された前記第二のペーストを硬化させる第二の硬化工程とを有することを特徴とする電極パッドの製造方法。 In the manufacturing method of the electrode pad according to claim 10,
The first conductive layer forming step includes a first printing step of printing the first paste on the substrate, a first curing step of curing the printed first paste, and the cured A first resin removing step of removing the first resin on the surface on which the second paste of the first paste is printed to expose the first filler;
The second conductive layer forming step includes a second printing step of printing the second paste on the first conductive layer, and a second curing step of curing the printed second paste. A method of manufacturing an electrode pad comprising:
前記準備工程では、前記第一の樹脂及び前記第二の樹脂の体積に対して、前記第一のフィラー及び前記第二のフィラーの体積比率が高くなるように、前記第一のフィラー及び前記第二のフィラーを用意することを特徴とする電極パッドの製造方法。 In the manufacturing method of the electrode pad according to claim 11,
In the preparatory step, the first filler and the second filler so that the volume ratio of the first filler and the second filler is higher than the volume of the first resin and the second resin. A method for producing an electrode pad, comprising preparing a second filler.
前記準備工程では、前記第二の樹脂の体積に対して前記第二のフィラーの体積比率が高くなるように、前記第二のフィラーを用意することを特徴とする電極パッドの製造方法。 In the manufacturing method of the electrode pad according to claim 12,
In the preparation step, the second filler is prepared such that the volume ratio of the second filler is higher than the volume of the second resin.
前記第二の導電層形成工程は、硬化した前記第二のペーストの表面の前記第二の樹脂を除去して前記第二のフィラーを露出させる第二の樹脂除去工程を有することを特徴とする電極パッドの製造方法。 In the manufacturing method of the electrode pad according to claim 11 or claim 12,
The second conductive layer forming step includes a second resin removal step of removing the second resin on the surface of the cured second paste to expose the second filler. Manufacturing method of electrode pad.
前記樹脂の除去は、プラズマ処理、機械的研削処理、または、化学的研磨処理のいずれかで行われることを特徴とする電極パッドの製造方法。 In the manufacturing method of the electrode pad according to claim 12 or claim 15,
The method for producing an electrode pad is characterized in that the resin is removed by any one of plasma treatment, mechanical grinding treatment, and chemical polishing treatment.
前記配線部形成工程では、導電性ペーストとして前記第一のペーストを用いて前記第一の導電層形成工程と同時に行うことを特徴とする回路配線体の製造方法。 In the manufacturing method of the circuit wiring body according to claim 17,
In the wiring portion forming step, the first paste is used as a conductive paste and is performed simultaneously with the first conductive layer forming step.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009059811A JP5177027B2 (en) | 2009-03-12 | 2009-03-12 | Electrode pad manufacturing method, circuit wiring body including electrode pad and manufacturing method thereof, solder joint structure using the electrode pad, and method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009059811A JP5177027B2 (en) | 2009-03-12 | 2009-03-12 | Electrode pad manufacturing method, circuit wiring body including electrode pad and manufacturing method thereof, solder joint structure using the electrode pad, and method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010212616A true JP2010212616A (en) | 2010-09-24 |
JP5177027B2 JP5177027B2 (en) | 2013-04-03 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009059811A Expired - Fee Related JP5177027B2 (en) | 2009-03-12 | 2009-03-12 | Electrode pad manufacturing method, circuit wiring body including electrode pad and manufacturing method thereof, solder joint structure using the electrode pad, and method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5177027B2 (en) |
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---|---|
JP5177027B2 (en) | 2013-04-03 |
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