JP2008258309A - Punching method for printed circuit board, and printed circuit board - Google Patents

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裕 川上
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a punching method for a printed circuit board by which high-density interconnection can be achieved by forming non-through via holes using thin copper and there is little probability that copper interconnections which should be left are formed with missing holes or damage. <P>SOLUTION: The punching method for a printed circuit board includes a process wherein laser light is cast on an insulation resin layer attached with a copper interconnection layer to remove only the insulation resin while leaving copper. In this punching method, the copper interconnection layer is applied with protection metal in advance, and after laser processing, the protection metal is removed. The printed circuit board formed with via holes using the punching method is also provided. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、プリント配線板の穴あけ方法及びプリント配線板に関する。   The present invention relates to a printed wiring board drilling method and a printed wiring board.

近年、電子機器は小型化、軽量化、多機能化が一段と進み、これにより、配線の微細化が進んでいる。多層配線板において、各層間の電気的接続を行う場合、レーザー光を用い、光のエネルギーにより絶縁樹脂の分子結合を断ったり、熱により絶縁樹脂を蒸発させたりすることにより穴あけを行なった後、穴の壁面に対し銅等の金属めっきを行ったり、導電性ペーストを充填したりすることで実現することが多い。   In recent years, electronic devices have been further reduced in size, weight, and functionality, and as a result, wiring has been miniaturized. In the multilayer wiring board, when making electrical connection between each layer, using laser light, after breaking the molecular bond of the insulating resin by the energy of the light or by evaporating the insulating resin by heat, This is often realized by performing metal plating such as copper on the wall surface of the hole or filling with a conductive paste.

レーザーは、照射するエネルギー量を調整することで、任意の絶縁層で穴を止めることが出来る。
さらに、レーザーでは直径0.01mmの穴をあけることが可能であるため、より高密度な配線を形成することが出来る。レーザー光は、媒質や励起源の違いにより炭酸ガスレーザー(波長10,000nm)、エキシマレーザ(波長248nm)、YAGレーザー(波長1,320nm,1,064nm等)等がある。
The laser can stop the hole with an arbitrary insulating layer by adjusting the amount of energy to be irradiated.
Furthermore, since it is possible to make a hole having a diameter of 0.01 mm with a laser, it is possible to form a higher density wiring. Laser light includes carbon dioxide laser (wavelength 10,000 nm), excimer laser (wavelength 248 nm), YAG laser (wavelength 1,320 nm, 1,064 nm, etc.), etc., depending on the medium and excitation source.

多くの場合、絶縁層の両側には銅等の導体金属が形成されており、絶縁層の穴あけを行うには表面の導体金属も除去する必要がある。そのため、特許文献1に開示されているように予め除去する樹脂上の導体金属をエッチングしておき、次に同じ位置にレーザー光を照射して穴をあける方法がある。この方法ではレーザー光の直径を穴径よりも大きくすることで、エッチングによる穴の形状と同一形状の穴を明けることができ、位置精度、穴形状の精度を高めることができる。   In many cases, a conductive metal such as copper is formed on both sides of the insulating layer, and it is necessary to remove the conductive metal on the surface in order to drill the insulating layer. Therefore, as disclosed in Patent Document 1, there is a method in which a conductor metal on a resin to be removed is etched in advance, and then a laser beam is irradiated to the same position to make a hole. In this method, by making the diameter of the laser beam larger than the hole diameter, a hole having the same shape as the hole shape by etching can be formed, and the positional accuracy and the accuracy of the hole shape can be improved.

レーザー光により経由孔を形成する場合、図4に示すように、下地金属箔(導体)3及び内部導体金属(導体)5により挟まれた絶縁樹脂の一方からレーザー光7を当て、片側の導体と絶縁樹脂のみを除去する方法が一例として挙げられる。高密度な配線を形成する場合、下地金属箔3の厚さは薄い方が望ましく、近年では5μm以下の厚みの導体を用いることが多くなっている。   When the via hole is formed by the laser beam, as shown in FIG. 4, the laser beam 7 is applied from one of the insulating resins sandwiched between the base metal foil (conductor) 3 and the inner conductor metal (conductor) 5, and the conductor on one side A method for removing only the insulating resin is an example. In the case of forming a high-density wiring, it is desirable that the thickness of the base metal foil 3 is thin. In recent years, a conductor having a thickness of 5 μm or less is often used.

しかしながら、導体が薄くなると、レーザーによる発熱を逃がすことが出来ず、下地金属箔3が損傷を受けて穴が開いたり、凹み、突起が発生したりしてしまう。
また、銅箔が薄いと、外部からのダメージを受けた場合、容易に銅箔に傷や破れが生じ、銅配線が欠損したり、凹みが発生したりしてしまう。
However, if the conductor becomes thin, the heat generated by the laser cannot be escaped, and the base metal foil 3 is damaged, resulting in a hole, a dent, or a protrusion.
In addition, if the copper foil is thin, when it is damaged from the outside, the copper foil is easily scratched or torn, and the copper wiring is lost or a dent is generated.

特開平4−3676号公報JP-A-4-3676

本発明は、薄い銅を用い、非貫通経由穴を形成することで高密度な配線を形成することができ、残すべき銅配線に穴が欠損したり、損傷したりすることが少ないプリント配線板の穴あけ方法及びプリント配線板を提供することを目的とするものである。   The present invention uses thin copper and can form a high-density wiring by forming a non-through hole, and the printed wiring board is less likely to have a hole missing or damaged in the copper wiring to be left. It is an object of the present invention to provide a drilling method and a printed wiring board.

本発明は、銅配線層の付いた絶縁樹脂層に対し、レーザー光を照射し絶縁樹脂のみを除去して銅を残す工程を有するプリント配線板の穴あけ方法において、予め銅配線層に保護金属を付与しておき、レーザー加工後に保護金属を除去することを特徴とするプリント配線板の穴あけ方法に関する。   The present invention relates to a method for drilling a printed wiring board having a step of leaving a copper by irradiating a laser beam to an insulating resin layer having a copper wiring layer to remove only the insulating resin and leaving a copper. The present invention relates to a method for drilling a printed wiring board, wherein the protective metal is removed after laser processing.

また、本発明は、保護金属と銅配線層箔を接着剤で積層しておき、レーザー加工後に保護金属を引き剥がして除去することを特徴とする上記のプリント配線板の穴あけ方法に関する。
さらに、本発明は、上記の穴あけ方法を用いて経由孔を形成してなるプリント配線板に関する。
The present invention also relates to the above-described method for drilling a printed wiring board, wherein a protective metal and a copper wiring layer foil are laminated with an adhesive, and the protective metal is peeled off after laser processing.
Furthermore, the present invention relates to a printed wiring board in which via holes are formed using the above-described drilling method.

本発明になる穴あけ方法によれば、薄い銅箔を用いて小径でアスペクト比の高いレーザー穴を形成することが出来、なお、かつ銅箔の欠損、剥がれのないプリント配線板を提供することができる。   According to the drilling method of the present invention, it is possible to form a laser hole having a small diameter and a high aspect ratio using a thin copper foil, and to provide a printed wiring board that is free from chipping and peeling of the copper foil. it can.

本発明に用いられるプリント配線板は、基本的な構造として、図1に示すように保護金属6と、下地金属箔3と絶縁樹脂層4及び内部導体金属5から構成される。内層導体金属5は、2層以上の構造を持つ内層両面基板2を内層として用いてもよく、金属単体でもよい。   As shown in FIG. 1, the printed wiring board used in the present invention includes a protective metal 6, a base metal foil 3, an insulating resin layer 4, and an internal conductor metal 5 as shown in FIG. 1. The inner-layer conductor metal 5 may use the inner-layer double-sided substrate 2 having a structure of two or more layers as an inner layer, or may be a single metal.

下地金属箔3は、導電性を有する金属であればよく、代表例として銅、アルミニウム、ニッケル、クロム、銀等が挙げられる。金属は一種類の金属単体であってもくよく、合金であってもよい。
また、保護金属6は、銅、アルミニウム、ニッケル、クロム、銀等を用いることができ、保護金属を付与する方法は電気めっき、無電解めっき、積層プレス等の方法が挙げられる。
The base metal foil 3 may be a metal having conductivity, and representative examples include copper, aluminum, nickel, chromium, silver, and the like. The metal may be a single type of metal or an alloy.
Moreover, copper, aluminum, nickel, chromium, silver, etc. can be used for the protective metal 6, and methods, such as electroplating, electroless-plating, and a lamination press, are given as the method of providing a protective metal.

保護金属の厚さは、レーザー光線による発熱を拡散させるに十分な厚さであればよく、例えば炭酸ガスレーザー加工を行い保護金属に銅を用いる場合、保護金属の厚さは12μm以上であることが望ましい。   The thickness of the protective metal may be sufficient to diffuse the heat generated by the laser beam. For example, when carbon dioxide laser processing is performed and copper is used as the protective metal, the thickness of the protective metal may be 12 μm or more. desirable.

保護金属の厚さは、12〜35μmの範囲であることが好ましく、12μm未満では、レーザー加工による発熱を充分に拡散させることができず、35μmを超えて厚いと、これを除去するのに時間がかかったり、除去費用の増大を招いたり、エッチング除去する際に銅配線層をオーバーエッチし易いので好ましくない。めっきは、電解めっき法、無電解めっき法で行うことができる。   The thickness of the protective metal is preferably in the range of 12 to 35 μm. If the thickness is less than 12 μm, the heat generated by laser processing cannot be sufficiently diffused. If the thickness exceeds 35 μm, it takes time to remove it. This is not preferable because it increases the cost of removal, causes an increase in removal cost, and easily overetches the copper wiring layer during etching removal. The plating can be performed by an electrolytic plating method or an electroless plating method.

保護金属を除去する方法は、エッチング、引き剥がす等の方法が挙げられる。例えば、下地金属箔と保護金属を、有機樹脂やクロム合金などの剥離強度の低い接着層で接着したキャリア銅付きピーラブル銅箔を用いると、保護金属と下地銅金属箔を手で容易に引き剥がすことができ、材料コスト、作業時間が低くなり生産性が向上するため望ましい。   Examples of the method for removing the protective metal include methods such as etching and peeling. For example, when using a peelable copper foil with carrier copper in which a base metal foil and a protective metal are bonded with an adhesive layer having a low peel strength such as an organic resin or a chromium alloy, the protective metal and the base copper metal foil are easily peeled off by hand. This is desirable because the material cost and working time are reduced and the productivity is improved.

キャリアの引き剥がし強度は、0.01kg/cm〜0.1kg/cmであることが好ましく、0.01kg/cm未満の場合、途中工程でキャリアが剥がれてしまう可能性が高まるので好ましくない。0.1kg/cmを超える場合、引き剥がした力により基板が反ったり、変形したりする可能性が高まる傾向があるので好ましくない。   The peel strength of the carrier is preferably 0.01 kg / cm to 0.1 kg / cm, and if it is less than 0.01 kg / cm, it is not preferable because the possibility of the carrier peeling off in the middle process is increased. If it exceeds 0.1 kg / cm, the possibility that the substrate is warped or deformed by the peeled force tends to increase, such being undesirable.

下地金属箔の樹脂接着面に行う防錆処理は、ニッケル、錫、亜鉛、クロム、モリブデン、コバルトのいずれか又はこれらの合金を用いて行うことができる。これらはスパッタや電気めっき、無電解めっきにより金属箔上に薄膜形成を行うものであるが、コストの面から電気めっきが好ましい。   The antirust treatment performed on the resin bonding surface of the base metal foil can be performed using any of nickel, tin, zinc, chromium, molybdenum, cobalt, or an alloy thereof. In these methods, a thin film is formed on a metal foil by sputtering, electroplating or electroless plating, but electroplating is preferable from the viewpoint of cost.

具体的にはめっき層にニッケル、錫、亜鉛、クロム、モルブデン、コバルトのうち一種類以上の金属塩を含むめっき層を用いてめっきを行う。金属イオンの析出を容易にするためにクエン酸塩、酒石酸塩、スルファミン酸等の錯化剤を必要量添加することが出来る。   Specifically, the plating is performed using a plating layer containing one or more metal salts among nickel, tin, zinc, chromium, morbden, and cobalt. In order to facilitate the precipitation of metal ions, a complexing agent such as citrate, tartrate or sulfamic acid can be added in the required amount.

めっき液は通常酸性領域で行い、室温〜80℃の温度で行う。めっきは通常電流密度0.1〜10A/dm、通常時間1〜60秒、好ましくは1〜30秒の範囲から適宜選定する。防錆処理金属の量は、金属の種類によって異なるが、合計で10〜2000μg/dmが好適である。防錆処理が厚すぎるとエッチング阻害と電気特性の低下を引き起こす傾向があり、薄すぎると樹脂とのピール強度低下の要因となりうる傾向がある。 The plating solution is usually performed in an acidic region and at a temperature of room temperature to 80 ° C. The plating is appropriately selected from a range of usually a current density of 0.1 to 10 A / dm 2 , a normal time of 1 to 60 seconds, and preferably 1 to 30 seconds. The amount of the rust-proofing metal varies depending on the type of metal, but is preferably 10 to 2000 μg / dm 2 in total. If the rust prevention treatment is too thick, it tends to cause etching inhibition and a decrease in electrical characteristics, and if it is too thin, it tends to cause a reduction in peel strength with the resin.

さらに、防錆処理上にクロメート処理層が形成されていると樹脂とのピール強度低下を抑制できるため有用である。具体的には六価クロムイオンを含む水溶液を用いて行われる。クロメ−ト処理は単純な浸漬処理でも可能であるが、好ましくは陰極処理で行う。重クロム酸ナトリウム0.1〜50g/L、pH1〜13、浴温0〜60℃、電流密度0.1〜5A/dm及び電流時間0.1〜100秒の条件で行うのがよい。重クロム酸ナトリウムの代わりにクロム酸又は重クロム酸カリウムを用いて行うことも出来る。 Furthermore, if a chromate treatment layer is formed on the rust prevention treatment, it is useful because a reduction in peel strength with the resin can be suppressed. Specifically, it is performed using an aqueous solution containing hexavalent chromium ions. The chromate treatment can be performed by a simple immersion treatment, but is preferably carried out by a cathode treatment. Sodium bichromate 0.1~50g / L, pH1~13, bath temperature 0 to 60 ° C., may be carried out at a current density of 0.1~5A / dm 2 and a current time from 0.1 to 100 seconds. It can also carry out using chromic acid or potassium dichromate instead of sodium dichromate.

絶縁樹脂層4は、プリント配線板の絶縁材料として用いられる公知慣例の樹脂組成物を用いることが出来る。通常、耐熱性、耐薬品性の良好な熱硬化性樹脂がベースとして、用いられ、熱硬化性樹脂としては、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、シアネート樹脂、マレイミド樹脂、イソシアネート樹脂、ベンゾシクロブテン樹脂、ビニル樹脂等が例示されるが、これらに制限するわけではない。熱硬化性樹脂は、1種類のものを単独で用いてもよく、2種類以上を混合して用いてもよい。   For the insulating resin layer 4, a known and customary resin composition used as an insulating material for a printed wiring board can be used. Usually, thermosetting resin with good heat resistance and chemical resistance is used as the base, and as thermosetting resin, phenol resin, epoxy resin, cyanate resin, maleimide resin, isocyanate resin, benzocyclobutene resin, vinyl Although resin etc. are illustrated, it does not necessarily restrict | limit to these. One type of thermosetting resin may be used alone, or two or more types may be mixed and used.

熱可塑性樹脂としては、例えば、フッ素樹脂、ポリフェニレンエーテル、変性ポリフェニレンエーテル、ポリフェニレンスルフィド、ポリカーボネート、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリアリレート、ポリアミド、ポリアミドイミド、ポリブタジエン、ポリイミド等が挙げられるが、これらに制限するものではない。熱可塑性樹脂は、1種類のものを単独で用いてもよく、2種類以上を混合して用いてもよい。また無機充填剤を含んでいてもよい。   Examples of the thermoplastic resin include fluororesin, polyphenylene ether, modified polyphenylene ether, polyphenylene sulfide, polycarbonate, polyether imide, polyether ether ketone, polyarylate, polyamide, polyamide imide, polybutadiene, and polyimide. It is not limited to. One type of thermoplastic resin may be used alone, or two or more types may be mixed and used. Moreover, the inorganic filler may be included.

熱硬化性樹脂の中でも、エポキシ樹脂は耐熱性、耐薬品性、電気特性に優れ、比較的安価であることから、絶縁樹脂として広く用いられており特に重要である。エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族鎖状エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノールのジグリシジルエテール化物、ナフタレンジオールのジグリシジルエテール化物、フェノール類のジグリシジルエテール化物、アルコール類のジグリシジルエテール化物及びこれらのアルキル置換体、ハロゲン化物、水素添加物等が挙げられる。   Among thermosetting resins, epoxy resins are particularly important because they are widely used as insulating resins because they are excellent in heat resistance, chemical resistance and electrical properties and are relatively inexpensive. Epoxy resins include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, aliphatic chain epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, bisphenol A. Novolac type epoxy resin, diglycidyl etherified product of biphenol, diglycidyl etherified product of naphthalenediol, diglycidyl etherified product of phenol, diglycidyl etherified product of alcohol and their alkyl-substituted products, halide, hydrogen An additive etc. are mentioned.

エポキシ樹脂は、1種類のものを単独で用いてもよく、2種類以上を混合して用いてもよい。
また、このエポキシ樹脂と共に用いる硬化剤は、エポキシ樹脂を硬化させるものであれば、限定することなく使用でき、例えば、多官能フェノール類、多官能アルコール類、アミン類、イミダゾール化合物、酸無水物、有機リン化合物及びこれらのハロゲン化物などがある。これらのエポキシ樹脂硬化剤は、1種類のものを単独で用いてもよく、2種類以上を混合して用いてもよい。
As the epoxy resin, one kind may be used alone, or two or more kinds may be mixed and used.
The curing agent used together with the epoxy resin can be used without limitation as long as it cures the epoxy resin, for example, polyfunctional phenols, polyfunctional alcohols, amines, imidazole compounds, acid anhydrides, There are organophosphorus compounds and their halides. These epoxy resin curing agents may be used alone or in combination of two or more.

熱可塑性樹脂の中でも、ポリアミドイミド樹脂は、耐熱性、耐湿性に優れることに加え、金属に対する接着剤が良好であるので有用である。ポリアミドイミドの原料のうち、酸性分としては、無水トリメリット酸、無水トリメリット酸モノクロライド、アミン成分としては、メタフェニレンジアミン、パラフェニレンジアミン、4、4’−ジアミノジフェニルエーテル、4、4’−ジアミノジフェニルメタン、ビス[4−(アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2、2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパンなどが例示されるが、これに制限するのではするものではない。乾燥性を向上させるためにシロキサン変性としてもよく、この場合、アミノ成分にシロキサンジアミンが用いることができる。フィルム加工性を考慮すると、分子量は5万以上のものを用いるのが好ましい。   Among thermoplastic resins, polyamideimide resin is useful because it has excellent heat resistance and moisture resistance and has a good adhesive to metal. Among the raw materials of polyamideimide, trimellitic anhydride, trimellitic anhydride monochloride, as the acidic component, and metaphenylenediamine, paraphenylenediamine, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 4,4′- as the amine component. Examples include, but are not limited to, diaminodiphenylmethane, bis [4- (aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2′-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, and the like. . In order to improve the drying property, it may be modified with siloxane. In this case, siloxane diamine can be used as the amino component. In consideration of film processability, it is preferable to use a molecular weight of 50,000 or more.

絶縁材料として用いられる樹脂組成物には、無機フィラーが混合されてあってもよい。無機フィラーとしては、アルミナ、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、クレー、タルク、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、酸化亜鉛、溶融シリカ、ガラス粉、石英粉、シラスバルーン等が挙げられる。これら無機フィラーは単独で使用してもよく、2種類以上を混合して使用してもよい。   The resin composition used as the insulating material may be mixed with an inorganic filler. Examples of the inorganic filler include alumina, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, clay, talc, antimony trioxide, antimony pentoxide, zinc oxide, fused silica, glass powder, quartz powder, and shirasu balloon. These inorganic fillers may be used alone or in combination of two or more.

絶縁材料として用いられる樹脂組成物に対して、さらに必要に応じて、硬化剤、硬化促進剤、熱可塑性粒子、着色剤、紫外線不透過剤、酸化防止剤、還元剤等の各種添加剤や充填剤を加えて調合する。   Various additives such as curing agents, curing accelerators, thermoplastic particles, colorants, UV-opaque agents, antioxidants, reducing agents, etc., and fillers are added to the resin composition used as an insulating material as necessary. Add agent and mix.

本発明における回路パターンの形成方法は、フォトレジスト法により必要な導体を保護し、不要な導体をエッチング液で除去するサブトラクティブ法でもよく、フォトレジストをめっきレジストとし、必要な箇所にめっきを析出させるアディティブ法でもよい。   The circuit pattern forming method in the present invention may be a subtractive method in which a necessary conductor is protected by a photoresist method and unnecessary conductors are removed with an etching solution. The photoresist is used as a plating resist, and plating is deposited at a necessary portion. An additive method may be used.

レジスト層は、例えばドライフィルム又は液体フォトレジストのフォトレジスト層であってもよい。導体をエッチング除去する方法として、例えば、銅を除去する場合、塩化第二鉄や塩化銅溶液等、腐食作用を有する液を用いることができる。めっきを析出させる方法として、硫酸銅溶液を用いた電気銅めっき等を用いることが出来る。   The resist layer may be, for example, a dry film or a liquid photoresist photoresist layer. As a method for removing the conductor by etching, for example, when removing copper, a liquid having a corrosive action such as ferric chloride or a copper chloride solution can be used. As a method for depositing plating, electrolytic copper plating using a copper sulfate solution or the like can be used.

以下、図2及び図3を引用して、本発明の実施例1及び実施例2を説明する。
実施例1
公称厚み0.15mmのプリプレグGEA−679F(日立化成工業株式会社製、商品名)の両側に、極薄銅箔厚3μmにキャリア銅箔厚35μmが貼り合わされたピーラブル銅箔MT35−S3(三井金属鉱業株式会社製、商品名)を、3μmの銅箔面が上記プリプレグと接着するように構成し、温度175±2℃、圧力2.5±0.2MPa及び保持時間60分の条件で真空プレスを実施し、銅張積層板を作製した(図2(a))。
Hereinafter, the first and second embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS.
Example 1
Peelable copper foil MT35-S3 (Mitsui Metals Co., Ltd.) with a thin copper foil thickness of 3 μm and a carrier copper foil thickness of 35 μm bonded to both sides of a nominal prepreg GEA-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) Mining Co., Ltd., trade name) is configured so that the 3 μm copper foil surface adheres to the prepreg, and is vacuum-pressed under the conditions of a temperature of 175 ± 2 ° C., a pressure of 2.5 ± 0.2 MPa and a holding time of 60 minutes The copper clad laminated board was produced (FIG. 2 (a)).

この銅張積層板に日立ビアメカニクス株式会社製ルータ加工機でガイド穴を形成した後、温度110±10℃及び圧力0.50±0.02MPaの条件でドライフィルムレジストNIT225(ニチゴー・モートン株式会社製、商品名)をラミネートした。その後、経由孔8部分とレーザー加工時の位置認識パターンを遮光するためのネガ型マスクを張り合わせた後、オーク製作所製水銀ショートアークランプにて露光し、1重量%炭酸ナトリウム水溶液にてドライフィルムレジストを現像してエッチングレジストを形成した。   After forming guide holes in this copper-clad laminate with a router machine manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd., dry film resist NIT225 (Nichigo Morton Co., Ltd.) under conditions of temperature 110 ± 10 ° C. and pressure 0.50 ± 0.02 MPa Product name). Then, after pasting the via hole 8 part and a negative mask for shielding the position recognition pattern at the time of laser processing, it was exposed with a mercury short arc lamp manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd. and a dry film resist with a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution. Was developed to form an etching resist.

その後、エッチングレジストのない部分の銅を塩化第二鉄水溶液で除去した後、水酸化ナトリウム水溶液でドライフィルムレジストを除去した。これらの処理により、受け側銅配線層との接続をとるための経由孔設置場所となる部分に直径0.05mm(φ)のコンフォーマルマスク及びレーザー加工時の位置認識パターンを形成した(図2(b))。   Then, after removing copper of the part without an etching resist with ferric chloride aqueous solution, the dry film resist was removed with sodium hydroxide aqueous solution. By these processes, a conformal mask having a diameter of 0.05 mm (φ) and a position recognition pattern at the time of laser processing were formed in a portion serving as a via hole installation place for connection to the receiving side copper wiring layer (FIG. 2). (B)).

この基板に、炭酸ガスレーザー加工機LC−1C/21(日立ビアメカニクス株式会社製、商品名)によりビーム照射径0.15mm(φ)、周波数1000Hz、パルス幅15μs及び照射回数7ショットの条件で1穴ずつ加工し、経由孔8を形成した(図2(c))。   On this substrate, carbon dioxide laser processing machine LC-1C / 21 (trade name, manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd.) under the conditions of a beam irradiation diameter of 0.15 mm (φ), a frequency of 1000 Hz, a pulse width of 15 μs and an irradiation frequency of 7 shots. Each via hole was processed to form via holes 8 (FIG. 2 (c)).

この基板を、温度80±5℃及び濃度55±10g/Lの過マンガン酸ナトリウム水溶液を用いてレーザー加工で発生した樹脂片を除去した後、保護金属6を手で引き剥がした。(図2(d))   The resin piece generated by laser processing was removed from the substrate using an aqueous sodium permanganate solution having a temperature of 80 ± 5 ° C. and a concentration of 55 ± 10 g / L, and then the protective metal 6 was peeled off by hand. (Fig. 2 (d))

この基板に対し無電解銅めっきで0.4〜0.8μmの厚みの銅を析出させた後、電解銅めっきで15〜20μmの厚みのめっきを実施した。これにより、下地金属箔3と内部導体金属5とが、経由孔8によって電気的に接続されたことになる(図2(e))。   After depositing copper with a thickness of 0.4 to 0.8 μm on the substrate by electroless copper plating, plating with a thickness of 15 to 20 μm was performed by electrolytic copper plating. Thereby, the base metal foil 3 and the internal conductor metal 5 are electrically connected by the via hole 8 (FIG. 2 (e)).

次に、基板表面の整面を実施し、温度110±10℃及び圧力0.50±0.02MPaの条件でドライフィルムレジストNIT225(ニチゴー・モートン株式会社製、商品名)をラミネートした。   Next, the surface of the substrate was trimmed, and a dry film resist NIT225 (trade name, manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd.) was laminated under conditions of a temperature of 110 ± 10 ° C. and a pressure of 0.50 ± 0.02 MPa.

その後、ネガ型マスクを張り合わせた後、回路パターンをオーク製作所製水銀ショートアークランプで露光し、1重量%炭酸ナトリウム水溶液にてドライフィルムレジストを現像してエッチングレジストを形成し、エッチングレジストのない部分の銅を塩化第二鉄水溶液で除去した後、水酸化ナトリウム水溶液でドライフィルムレジストを除去し、回路パターンを形成し、配線板を形成した(図2(f))。   Then, after pasting a negative mask, the circuit pattern is exposed with a mercury short arc lamp manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd., and a dry film resist is developed with a 1% by weight sodium carbonate aqueous solution to form an etching resist. After removing the copper with ferric chloride aqueous solution, the dry film resist was removed with sodium hydroxide aqueous solution, a circuit pattern was formed, and a wiring board was formed (FIG. 2 (f)).

ワークパネル300mm×300mm中約12万穴の経由孔を形成したが、穴近傍の銅箔の剥がれ、欠損は発生しなかった。   Although about 120,000 via holes were formed in the work panel 300 mm × 300 mm, the copper foil in the vicinity of the holes was not peeled off and no defects were generated.

実施例2
内層両面基板2に対し、CZ−8100(メック株式会社製、商品名)を温度30±2℃及び圧力0.20±0.02MPaの条件で処理し、銅表面を粗化した。この基板の両面に、公称厚み0.1mmのプリプレグGEA−679F(日立化成工業株式会社製、商品名)と、極薄銅箔厚3μmにキャリア銅箔厚35μmが貼り合わされたピーラブル銅箔F2−WS3(古河電工株式会社製、商品名)を3μmの銅箔面が上記プリプレグと接着するように構成し、温度175±2℃、圧力2.5±0.2MPa及び保持時間60分の条件で真空プレスを実施した(図3(a))。
Example 2
The inner surface double-sided substrate 2 was treated with CZ-8100 (trade name, manufactured by MEC Co., Ltd.) under conditions of a temperature of 30 ± 2 ° C. and a pressure of 0.20 ± 0.02 MPa to roughen the copper surface. A prepreg GEA-679F (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a nominal thickness of 0.1 mm and a peelable copper foil F2 in which a carrier copper foil thickness of 35 μm is bonded to an ultrathin copper foil thickness of 3 μm on both surfaces of the substrate. WS3 (trade name, manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd.) was constructed such that a 3 μm copper foil surface was bonded to the prepreg, and the temperature was 175 ± 2 ° C., the pressure was 2.5 ± 0.2 MPa, and the holding time was 60 minutes. A vacuum press was performed (FIG. 3A).

この基板に日立ビアメカニクス株式会社製ルータ加工機でガイド穴を形成した後、温度110±10℃及び圧力0.50±0.02MPaの条件でドライフィルムレジストNIT225(ニチゴー・モートン株式会社製、商品名)をラミネートした。次いで、銅配線層側の経由孔8の部分とレーザー加工時の位置認識パターンを遮光するためのネガ型マスクを張り合わせた後、オーク製作所製水銀ショートアークランプで露光し、1重量%炭酸ナトリウム水溶液でドライフィルムレジストを現像してエッチングレジストを形成した。   After forming guide holes on this substrate with a router processing machine manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd., dry film resist NIT225 (manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., product under conditions of temperature 110 ± 10 ° C. and pressure 0.50 ± 0.02 MPa) Name) was laminated. Next, the via hole 8 portion on the copper wiring layer side and a negative mask for shielding the position recognition pattern at the time of laser processing are pasted together, and then exposed with a mercury short arc lamp manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd., and a 1 wt% sodium carbonate aqueous solution. Then, the dry film resist was developed to form an etching resist.

その後、エッチングレジストのない部分の銅を塩化第二鉄水溶液で除去した後、水酸化ナトリウム水溶液にてドライフィルムレジストを除去した。これらの処理により、受け側銅配線層との接続をとるための経由孔設置場所となる部分に直径0.05mm(φ)のコンフォーマルマスク及びレーザー加工時の位置認識パターンを形成した(図3(b))。   Then, after removing copper of the part without an etching resist with ferric chloride aqueous solution, the dry film resist was removed with sodium hydroxide aqueous solution. By these processes, a conformal mask having a diameter of 0.05 mm (φ) and a position recognition pattern at the time of laser processing were formed in a portion serving as a via hole installation place for connection with the receiving side copper wiring layer (FIG. 3). (B)).

この基板の下地導体箔側に炭酸ガスレーザー加工機LC−1C/21(日立ビアメカニクス株式会社製、商品名)によりビーム照射径0.15mm(φ)、周波数1000Hz、パルス幅10μs及び照射回数7ショットの条件で1穴ずつ加工し、経由孔8を形成した(図3(c))。   The substrate conductor foil side of this substrate was irradiated with a carbon dioxide laser processing machine LC-1C / 21 (trade name, manufactured by Hitachi Via Mechanics Co., Ltd.) with a beam irradiation diameter of 0.15 mm (φ), a frequency of 1000 Hz, a pulse width of 10 μs, and an irradiation frequency of 7 The via holes 8 were formed by processing one hole at a time under the shot conditions (FIG. 3C).

この基板を、温度80±5℃及び濃度55±10g/Lの過マンガン酸ナトリウム水溶液を用いてレーザー加工で発生した樹脂片を除去した後、保護金属6を手で引き剥がした(図3(d))。   The resin piece generated by laser processing was removed from the substrate using a sodium permanganate aqueous solution having a temperature of 80 ± 5 ° C. and a concentration of 55 ± 10 g / L, and then the protective metal 6 was peeled off by hand (FIG. 3 ( d)).

次に、無電解銅めっきにて経由孔壁面、経由孔底部、基板表面に銅めっきを0.4〜0.8μm析出させた後、温度110±10℃及び圧力0.50±0.02MPaの条件でドライフィルムレジストNIT225(ニチゴー・モートン株式会社製、商品名)をラミネートした。   Next, after depositing 0.4 to 0.8 μm of copper plating on the via hole wall surface, via hole bottom, and substrate surface by electroless copper plating, the temperature is 110 ± 10 ° C. and the pressure is 0.50 ± 0.02 MPa. Under the conditions, a dry film resist NIT225 (manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., trade name) was laminated.

その後、ネガ型マスクを張り合わせた後、回路パターンをオーク製作所製水銀ショートアークランプで露光し、1重量%炭酸ナトリウム水溶液でドライフィルムレジストを現像してエッチングレジストを形成し、エッチングレジストのない部分に硫酸銅電気めっきを用いて銅を析出させた(図3(e))。   Then, after pasting a negative mask, the circuit pattern was exposed with a mercury short arc lamp manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd., and a dry film resist was developed with a 1% by weight sodium carbonate aqueous solution to form an etching resist. Copper was deposited using copper sulfate electroplating (FIG. 3 (e)).

その後、水酸化ナトリウム水溶液でドライフィルムレジストを除去し、硫酸過酸化水素溶液を用いて銅箔及びめっき銅をハーフエッチングすることで回路パターンを形成し、配線板を形成した(図3(f))。   Thereafter, the dry film resist was removed with an aqueous sodium hydroxide solution, and a circuit pattern was formed by half-etching the copper foil and the plated copper using a sulfuric acid hydrogen peroxide solution to form a wiring board (FIG. 3F). ).

ワークパネル300mm×300mm中約12万穴の経由孔を形成したが、穴近傍の銅箔の剥がれ、欠損は発生しなかった。   Although about 120,000 via holes were formed in the work panel 300 mm × 300 mm, the copper foil in the vicinity of the holes was not peeled off and no defects were generated.

本発明の配線板構造を示す概略図である。It is the schematic which shows the wiring board structure of this invention. 実施例1のプリント配線板を作製する工程を示す概略図である。FIG. 3 is a schematic view showing a process for producing a printed wiring board of Example 1. 実施例2のプリント配線板を作製する工程を示す概略図である。6 is a schematic view showing a process for producing a printed wiring board of Example 2. FIG. 従来の配線板構造を示す概略図である。It is the schematic which shows the conventional wiring board structure.

符号の説明Explanation of symbols

1 プリント配線板
2 内層両面基板
3 下地金属箔
4 絶縁樹脂層
5 内部導体金属
6 保護金属
7 レーザー光
8 経由孔
9 めっき導体
10 フォトレジスト
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Printed wiring board 2 Inner layer double-sided board 3 Underlying metal foil 4 Insulating resin layer 5 Inner conductor metal 6 Protective metal 7 Laser beam 8 Via 9 Plating conductor 10 Photoresist

Claims (3)

銅配線層の付いた絶縁樹脂層に対し、レーザー光を照射し絶縁樹脂のみを除去して銅を残す工程を有するプリント配線板の穴あけ方法において、予め銅配線層に保護金属を付与しておき、レーザー加工後に保護金属を除去することを特徴とするプリント配線板の穴あけ方法。   In a method for drilling a printed wiring board having a step of irradiating a laser beam to an insulating resin layer with a copper wiring layer to remove only the insulating resin and leave copper, a protective metal is previously applied to the copper wiring layer. A method for drilling a printed wiring board, wherein the protective metal is removed after laser processing. 保護金属と銅配線層箔を接着剤で積層しておき、レーザー加工後に保護金属を引き剥がして除去することを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の穴あけ方法。   2. The printed wiring board drilling method according to claim 1, wherein the protective metal and the copper wiring layer foil are laminated with an adhesive, and the protective metal is peeled off and removed after laser processing. 請求項1又は2記載の穴あけ方法を用いて経由孔を形成してなるプリント配線板。   A printed wiring board obtained by forming a via hole using the drilling method according to claim 1.
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