JP2008128730A - Inspection device of inspection target - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は被検査物の表面状態を検査する被検査物検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection object inspection apparatus for inspecting the surface state of an inspection object.
従来、被検査物の凹部の内壁面を観察する内面観察装置が知られている(特許文献1)。このものは、被検査物の凹部に挿入される光伝送部と、光伝送部に検査光を投光させる投光用光源と、光伝送部を伝送し被検査物の凹部の内壁面で反射された反射光を撮像する撮像部とを備えている(特許文献1)。このものによれば、被検査物の凹部の内壁面を観察することができる。 Conventionally, an inner surface observation apparatus for observing an inner wall surface of a concave portion of an inspection object is known (Patent Document 1). This includes an optical transmission part that is inserted into the concave part of the inspection object, a light source for projecting the inspection light to the optical transmission part, and an optical transmission part that reflects the inner wall surface of the concave part of the inspection object. And an imaging unit that images the reflected light (Patent Document 1). According to this, it is possible to observe the inner wall surface of the concave portion of the inspection object.
また、円筒形状の被検査物の軸端面および内壁面を連続的に検査できる表面検査装置が知られている(特許文献2)。このものは、円筒形状の被検査物の中央孔に挿入されるセンサヘッドと、センサヘッドの先端部に設けられたミラー面で形成された第1の反射面と、被検査物の上端側に配置され円錐状の内壁面のミラー面で形成された第2の反射面をもつ円錐形状をなす円錐体と、センサヘッドを昇降させる昇降駆動部と、被検査物で反射した反射光を受光して撮像する撮像部とを備えている。このものによれば、センサヘッドから投光される検査光は、センサヘッドの先端部の第1の反射面で被検査物の半径方向外方に反射され、更に、第2の反射面で反射して被検査物の軸長方向に沿って進行し、被検査物の軸端面に向かう。
上記した装置によれば、被検査物の被検査面の表面状況(例えば異物の有無)を検査する検査時間は、かなりの時間を必要とする。このため検査時間を短縮させることが要請されている。 According to the above-described apparatus, the inspection time for inspecting the surface condition (for example, the presence or absence of foreign matter) of the inspection surface of the inspection object requires a considerable time. For this reason, it is required to shorten the inspection time.
本発明は上記した実情に鑑みてなされたものであり、被検査物の被検査面に向けて出射させる検査光を拡開させることにより、被検査物の被検査面の表面状態の検査に要する検査時間を短縮させることができる被検査物検査装置を提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and is required for inspecting the surface state of the inspection surface of the inspection object by expanding the inspection light emitted toward the inspection surface of the inspection object. It is an object of the present invention to provide an inspection object inspection apparatus capable of shortening the inspection time.
(1)様相1に係る被検査物検査装置は、被検査面をもつ被検査物を保持する被検査物保持部と、検査光を投光する投光部と、投光部から投光された検査光を透過させると共に被検査物の被検査面に向けて検査光を出射させる導光体と、被検査物の被検査面で反射した反射光を撮像する撮像部とを具備する被検査物検査装置において、導光体は、被検査物の被検査面に対向する側に形成され、検査光をこれの出射角を拡開させて被検査物の被検査面に照射させるように、断面で、被検査面に向けて突出する円弧凸状をなす出射面を備えていることを特徴とする。
(1) An inspection object inspection apparatus according to
導光体は検査光を透過させるものである。導光体は、被検査物の被検査面に対向する側に形成された出射面を備えている。出射面は、断面で被検査面に向けて突出する円弧凸状をなしており、導光体を透過した検査光を被検査物の被検査面に向けて拡開させて拡開光とする。このため検査光が拡開前の検査光のビーム径が小さいときであっても、検査光は拡開されて拡開光となるため、被検査物の被検査面における照射面積が増加する。このため被検査物の被検査面を走査する時間が短縮される。従って、被検査物の被検査面を検査に要する検査時間は、短縮される。 The light guide transmits inspection light. The light guide includes an emission surface formed on the side of the inspection object that faces the inspection surface. The exit surface has a circular arc shape protruding in a cross section toward the surface to be inspected, and the inspection light transmitted through the light guide is expanded toward the surface to be inspected of the inspection object to be expanded light. Therefore, even when the beam diameter of the inspection light before expansion is small, the inspection light is expanded to become expanded light, so that the irradiation area on the inspection surface of the inspection object increases. For this reason, the time for scanning the inspection surface of the inspection object is shortened. Accordingly, the inspection time required for inspecting the inspection surface of the inspection object is shortened.
ここで、導光体の出射面は、導光体を透過した検査光を被検査物の被検査面に向かうにつれて広がる扇形状(スリット扇形状)に拡開させることが好ましい。上記した被検査物としては特に限定されるものでない。被検査物は、円筒形状および角筒形状等の筒形状でも良いし、樋形状でも良い。被検査物の被検査面は、内壁面でも良いし、外壁面でも良い。被検査物の材質は特に限定されず、鉄、アルミ合金などの金属系、樹脂系、セラミックス系が例示される。被検査物としては、ブレーキ装置のシリンダ、内燃機関や外燃機関のシリンダが例示される。 Here, it is preferable that the exit surface of the light guide is expanded into a fan shape (slit fan shape) that spreads the inspection light transmitted through the light guide toward the inspection surface of the inspection object. The inspection object is not particularly limited. The object to be inspected may have a cylindrical shape such as a cylindrical shape or a rectangular tube shape, or may have a bowl shape. The surface to be inspected of the inspection object may be an inner wall surface or an outer wall surface. The material of the object to be inspected is not particularly limited, and examples thereof include metals such as iron and aluminum alloys, resins, and ceramics. Examples of the inspection object include a cylinder of a brake device, a cylinder of an internal combustion engine and an external combustion engine.
上記した被検査物保持部は被検査物を保持するものであれば良く、被検査物を載せるだけでも良いし、あるいは、被検査物をボルト等の取付部で保持するものでも良い。投光部は、レーザ光等の検査光を投光する光源とすることができる。光源としては半導体レーザが例示される。導光体は、投光部から投光された検査光を透過させると共に被検査物の被検査面に向けて検査光を出射させるものである。導光体は出射面をもつ。出射面は、被検査物の被検査面に対向する側に形成されており、断面で被検査面に向けて突出する円弧凸状をなしており、導光体を透過した検査光を被検査物の被検査面に進行するにつれてビーム径を拡開させて拡開光とする。出射面を構成する円弧凸状は、真円状の円弧で形成されていても良いし、楕円状の円弧で形成されていても良い。導光体は、検査光を出射面から出射させる前に、検査光のビーム径を絞る集光性を有する集光光学部品を備えていることが好ましい。集光光学部品としては、GRINレンズ、先球レンズ、TECファイバ等が例示される。撮像部は、被検査物の被検査面で反射した反射光を撮像するものであり、CCD等の撮像素子を備えるものが好ましい。 The above-described inspection object holding part may be any part as long as it holds the inspection object, and may simply place the inspection object, or may hold the inspection object with a mounting part such as a bolt. The light projecting unit can be a light source that projects inspection light such as laser light. A semiconductor laser is exemplified as the light source. The light guide transmits the inspection light projected from the light projecting unit and emits the inspection light toward the inspection surface of the inspection object. The light guide has an exit surface. The exit surface is formed on the side of the object to be inspected facing the surface to be inspected, has a circular arc shape protruding in the cross section toward the surface to be inspected, and inspects the inspection light transmitted through the light guide The beam diameter is expanded as it proceeds to the surface to be inspected of the object, and the light is expanded. The convex shape of the arc constituting the exit surface may be formed by a perfect circular arc or may be formed by an elliptical arc. It is preferable that the light guide includes a condensing optical component having a light condensing property for reducing the beam diameter of the inspection light before the inspection light is emitted from the emission surface. Examples of the condensing optical component include a GRIN lens, a tip ball lens, and a TEC fiber. The imaging unit captures reflected light reflected by the surface to be inspected of the inspection object, and preferably includes an imaging element such as a CCD.
(2)様相2に係る被検査物検査装置によれば、上記様相において、導光体は、被検査物の被検査面の延設方向に沿った導光方向に沿って検査光を透過させる導光路と、導光路を透過する検査光を導光路の導光方向に対して交差する方向に且つ被検査物の被検査面に向けて反射させる反射面とを備えていることを特徴とする。この場合、導光路を透過する検査光は反射面で反射され、導光路の導光方向に対して交差する方向に沿って且つ被検査物の被検査面に向けて向かう。
(2) According to the inspection object inspection apparatus according to
(3)様相3に係る被検査物検査装置によれば、上記様相において、導光路は、光ファイバと、光ファイバの先端部に接続されたレンズとを備えており、レンズは反射面および出射面を備えていることを特徴とする。この場合、レンズを透過する検査光は、レンズの反射面で反射され、導光路の導光方向に対して交差する方向に沿って且つ被検査物の被検査面に向けて向かう。更に、反射面で反射した反射光はレンズの出射面から出射される。そして出射面から出射された検査光は、被検査物の被検査面に向けて拡開する拡開光となる。このため検査光のビーム径が小さいときであっても、検査光は拡開光となるため、被検査物の被検査面における照射面積が増加する。このため被検査物の被検査面を走査する時間が短縮される。従って、被検査物の被検査面を検査に要する検査時間は、短縮される。
(3) According to the inspection object inspection apparatus according to
上記したレンズとしては、GRINレンズまたはシリンドルカルレンズが例示される。GRINレンズ(gradient index lens)は、勾配屈折レンズとも呼ばれ、レンズ媒質内で空間座標の関数として屈折率が連続的に変化するレンズであり、ビーム径を絞る集光性を有するため、光の拡散を抑える。シリンドルカルレンズは、少なくとも一の面が円柱の一部のように曲成されたレンズである。光ファイバとしては、コアが均一な屈折率とされているステップインデックスタイプでも良いし、屈折率分布をもたせたグレーテッドインデックスタイプでも良いし、TECファイバでも良い。 As the above-described lens, a GRIN lens or a cylindrical lens is exemplified. A GRIN lens (gradient index lens), also called a gradient refractive lens, is a lens in which the refractive index continuously changes as a function of spatial coordinates in the lens medium, and has a light condensing property that narrows the beam diameter. Reduce diffusion. A cylindrical lens is a lens in which at least one surface is curved like a part of a cylinder. The optical fiber may be a step index type in which the core has a uniform refractive index, a graded index type having a refractive index distribution, or a TEC fiber.
(4)様相4に係る被検査物検査装置によれば、上記様相において、導光路は、光ファイバと、光ファイバの先端部に接続されたレンズと、レンズの先方に設けられた光透過部とを備えており、光透過部は反射面および出射面を備えていることを特徴とする。この場合、光透過部を透過する検査光は、光透過部の反射面で反射され、導光路の導光方向に対して交差する方向に沿って且つ被検査物の被検査面に向けて向かう。更に、反射面で反射した反射光は光透過部の出射面から出射される。そして出射面から出射された検査光は、被検査物の被検査面に向けて拡開する拡開光となる。このため検査光のビーム径が小さいときであっても、検査光は拡開光となるため、被検査物の被検査面における照射面積が増加する。このため被検査物の被検査面を走査する時間が短縮される。従って、被検査物の被検査面を検査に要する検査時間は、短縮される。拡開光はスリット扇形状等の扇形状が好ましい。
(4) According to the inspection object inspection apparatus according to
(5)様相5に係る被検査物検査装置によれば、上記様相において、被検査物の被検査面は筒状内壁面または筒状外壁面とされており、導光路は、被検査物の筒状内壁面または筒状外壁面の円筒中心の回りにおいて間隔を隔てて複数本並設されていることを特徴とする。筒形状は円筒形状、角筒形状を含む。導光路としては、光ファイバが例示される。光ファイバはTECファイバを含む。TEC(thermally Expand Core)ファイバは、光ファイバの屈折率分布制御用のドーパント(GeO2,F,B等)を熱によって光ファイバの内部に拡散させて光のビーム径を変換させるファイバであり、ビーム径を絞る集光性をもつため、光の拡散防止に有利である。
(5) According to the inspection object inspection apparatus according to
この場合、複数本の導光路を保持する保持要素が設けられていることが好ましい。保持要素としては、中央孔をもつ円筒形状または角筒形状等の筒形状をなしていることが好ましい。導光路が導光機能を有していれば、保持要素は必ずしも導光機能を有していなくても良い。保持要素の中央孔は、被検査物の被検査面で反射し撮像部に向かう反射光を透過させる反射光経路のうちの一部を形成することが好ましい。この場合、保持要素の中央孔は、被検査物の被検査面で反射し撮像部に向かう反射光を透過させる反射光経路のうちの一部を形成するため、装置の小型化に貢献できる。 In this case, it is preferable that a holding element for holding a plurality of light guide paths is provided. The holding element preferably has a cylindrical shape such as a cylindrical shape having a central hole or a rectangular tube shape. As long as the light guide has a light guide function, the holding element does not necessarily have a light guide function. The central hole of the holding element preferably forms part of a reflected light path that reflects reflected light from the surface to be inspected and transmits reflected light toward the imaging unit. In this case, the central hole of the holding element forms a part of the reflected light path that reflects the reflected light toward the imaging surface of the object to be inspected and transmits the reflected light toward the imaging unit, thereby contributing to downsizing of the apparatus.
(6)様相6に係る被検査物検査装置によれば、上記様相において、被検査物の被検査面で反射し撮像部に向かう反射光を透過させる反射光経路において、被検査物の被検査面と撮像部との間に反射体が設けられており、反射体は、被検査物の被検査面で反射した反射光を受光し且つ撮像部に向けて反射させる第2反射面を備えている。反射体の第2反射面は、被検査物の被検査面で反射した反射光を受光し、且つ、撮像部に向けて反射させる。この場合、被検査物の被検査面で反射した反射光を反射体により撮像部に向けて良好に反射させることができる。反射体としては、円錐状または円錐台状をなすコーンミラーが例示される。
(6) According to the inspection object inspection apparatus according to
(7)様相7に係る被検査物検査装置によれば、上記様相において、少なくとも導光体および撮像部を保持するセンサが設けられており、センサを被検査物の被検査面に沿って案内する案内部と、センサを被検査物の被検査面に沿って移動させる駆動部とが設けられていることを特徴とする。この場合、被検査物の被検査面に沿ってセンサが移動するため、センサに搭載されている導光体および撮像部により被検査物の被検査面における検査を行うことができる。この結果、被検査物の被検査面の検査面積を増加させることができる。
(7) According to the inspection object inspection apparatus according to
本発明に係る被検査物検査装置によれば、被検査物の被検査面における表面状況(例えば異物の有無等)を検査することができる。更に、被検査物の被検査面に向けて出射させる検査光を拡開させることにより、被検査物の検査に要する検査時間を短縮させることができる。 According to the inspection object inspection apparatus according to the present invention, it is possible to inspect the surface condition (for example, the presence or absence of foreign matter) on the inspection surface of the inspection object. Furthermore, the inspection time required for the inspection of the inspection object can be shortened by expanding the inspection light emitted toward the inspection surface of the inspection object.
(実施形態1)
本発明を具体化した実施形態1について図1〜図6を参照して説明する。図1は本実施形態に係る被検査物検査装置の概念を示す。図1に示すように、被検査物検査装置は、内周面状の被検査面10をもつ被検査物1を載せて保持する載置面15aをもつ被検査物保持部15と、レーザ光(波長:660ナノメートル)である検査光8を投光する半導体レーザを有する投光部2と、投光部2から投光された検査光8を透過させると共に被検査物1の被検査面10に向けて検査光8を出射させる導光体3と、被検査物1の被検査面10で反射した反射光を受光して撮像する撮像部6とを備えている。
(Embodiment 1)
A first embodiment embodying the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows the concept of an inspection object inspection apparatus according to this embodiment. As shown in FIG. 1, the inspection object inspection apparatus includes an inspection
被検査物1は鉄合金やアルミ合金などの金属を基材として形成されており、これの中心線M1が縦方向(鉛直方向)に沿っている円筒孔状の空洞14をもつ円筒形状をなしている。被検査物1は、被検査面10となる円筒形状の内壁面および円筒形状の外壁面16と、軸端面17とをもつ。被検査物1の被検査面10(内壁面)にはクロムメッキ等のメッキ膜が被覆されている。被検査物1の外壁面16および軸端面17にもメッキ膜が被覆されていても良い。なお被検査物1としてはブレーキ装置のシリンダ、内燃機関や外燃機関のシリンダが例示される。
The object to be inspected 1 is formed using a metal such as an iron alloy or an aluminum alloy as a base material, and has a cylindrical shape having a cylindrical hole-
図1に示すように、導光体3は、複数本の導光路4と、複数本の導光路4を埋設して保持する保持要素として機能する一定肉厚の円筒形状の導光路保持部5とを備えている。導光路保持部5は、光透過性をもつ樹脂(アクリル樹脂等の透明樹脂)またはガラス等の透光材料で形成されており、内径および外径が軸長方向に沿って等しい円筒形状をなしている。導光路保持部5は、中心線M2をもち上下方向(鉛直方向)に貫通する中央孔5rを区画する内周面5iおよび外周面5pを有する。図1に示すように、導光路4は上下方向(鉛直方向)に沿っており、導光路保持部5の内部に埋設されている。導光路4は、筒形状をなす導光路保持部5の中心線M2(被検査物1の中心線M1)の回りに沿って複数本並設されている。導光路保持部5の中心線M2は、被検査物1の中心線M1と実質的に同軸とされている。なお中心線M1上または延長線上に撮像部6が配置されている。撮像部6は、後述する反射体9に対面する光学レンズ系60と、カメラ61とを備えている。
As shown in FIG. 1, the
導光路4は、導光路4として機能する複数本の光ファイバ40と、光ファイバ40の先端40f(下端)に接続された光拡開機能をもつレンズ45(マイクロレンズ)とを備えている。導光路4を構成する光ファイバ40では、検査光8は、光ファイバ40の長さ方向に沿って光ファイバ40の内部を透過する。図1に示すように、光ファイバ40は、被検査物1の筒形状をなす被検査面10の延設方向(矢印H方向、鉛直方向、被検査物1の軸長方向)に沿って被検査面10とほぼ平行に配置されている。このため、光ファイバ40における導光方向は、被検査物1の被検査面10の延設方向となる。複数の光ファイバ40(導光路4)は実質的に互いに平行とされている。なお、光ファイバ40は断面で円形状をなしており、外周面40pを有しており、ガラス製でも樹脂製でも良い。複数の光ファイバ40の始端は投光部2に繋がれている。従って投光部2が検査光を投光すると、検査光は複数の光ファイバ40に分岐して透過する。故に投光部2は複数の光ファイバ40(導光路4)の共通光源として機能する。
The
図3に示すように、光ファイバ40の先端に配置されているレンズ45は、集光性をもつGRINレンズであり、光ファイバ40の長さ方向の先端40fに接続された接合面41と、斜めに傾斜する反射面46と、円弧凸状をなす外周面47とをもつ。光ファイバ40の軸芯とレンズ45の軸芯とが整合するように、光ファイバ40およびレンズ45は同軸的に配置されている。図3に示すように、反射面46は、水平線(導光路保持部5の径方向に沿った仮想面)に対して角度θ1で傾斜していると共に、光ファイバ40の中心線M5の延長線に対して角度θ2で傾斜している。角度θ1、θ2の設定により、被検査物1の被検査面10に照射される検査光8の向きを調整できる。反射面46は、レンズ45の母材で形成されていても良いし、金属(アルミニウム等)の反射促進用の薄膜を積層させて形成しても良い。反射面46の先方には、透光性をもつ導光路保持部5の一部をなす透光部分5kが設けられている(図2参照)。レンズ45の外周面47の一部が、所定の曲率で曲成された円弧凸状をなす出射面48を形成する。出射面48は、光ファイバ40の中心線M5の延長線と直交する断面(被検査物1の被検査面10の中心線M1と直交する断面)で、真円形状の円弧で形成されている。
As shown in FIG. 3, the
図3に示すように、光ファイバ40をその長さ方向に沿って透過する検査光8は、接合面41を介してレンズ45に至り、レンズ45の反射面46で被検査物1の被検査面10に向けて反射され、更に、レンズ45の出射面48で外方に出射される。従って検査光8は、導光路4の導光方向(矢印H方向)に対して交差する方向(矢印D1方向)に沿って、且つ、被検査物1の被検査面10に向けて向かう。ここで、光ファイバ40の中心線M5の延長線に対して直交する断面(被検査物1の中心線M1に対して直交する断面)で、レンズ45の出射面48は、被検査物1の被検査面10に向けて突出するように、円弧凸状をなしている。このため、図3および図4に示すように、出射面48から出射された検査光8は、被検査物1の被検査面10に向けて、円筒形状をなす導光路保持部5の半径方向外方(放射方向)に向けて拡開し、拡開光となる。
As shown in FIG. 3, the
具体的には、出射面48から出射された検査光8は、被検査物1の外径方向に沿って斜め下方向に向けて進行し(図2参照)、出射面48から被検査物1の被検査面10に向かうにつれて水平な扇形状に拡開する。図1および図3に示すように、扇形状に拡開した検査光8は、拡開外縁8aをもつ。上記したように投光部2から投光された検査光8がビーム径が小さなビーム光でありながらも、出射面48から出射された検査光8は水平な扇形状(スリット扇形状)に拡開する。このため被検査物1の周方向において、被検査物1の被検査面10における照射面積が増加する。
Specifically, the
本実施形態によれば、レンズ45(GRINレンズ)は、検査光8の集光性を高める機能を備えている他に、検査光8を反射面46で被検査物1に向けて反射させる反射機能と、検査光8を出射面48により扇形状に拡開させる拡開機能とを備えている。なおレンズ45の焦点は被検査物1の被検査面10となるように設定されている。
According to the present embodiment, the lens 45 (GRIN lens) has a function of improving the light condensing property of the
検査光8が光ファイバ40の内部を透過するときには、検査光8の散乱は抑えられている。しかし光ファイバ40の先端40fから外方に導出された検査光8は散乱しようとするが、光ファイバ40の先端40fに接続されているレンズ45(GRINレンズ)が集光機能を備えているため、レンズ45内で散乱することが抑えられており、分解能が確保される。
When the inspection light 8 passes through the
図2に示すように、検査光8は、被検査物1の内周面状の被検査面10で反射されると、被検査物1の求心方向(D2方向)に向かう。ここで、図2に示すように、被検査物1の被検査面10で反射した反射光8hを透過させる反射光経路において、被検査物1の被検査面10と撮像部6との間には、反射体9が設けられている。反射体9は、被検査物1の下端部(被検査物1の軸長方向の端部側)に配置されている。反射体9はガラスまたは樹脂で形成されている。反射体9はコーンミラーとされており、先端(上端)が尖った頂部90と、円錐形状をなす第2反射面92とを備える。反射体9の頂部90が導光路保持部5の中心線M2に位置するように、反射体9は筒形状の導光路保持部5と同軸的に配置されている。この結果、第2反射面92で反射された反射光8hは、被検査物1の中央孔5r内をリング状に撮像部6に向けて進行するため、撮像部6における受光性が高まる。反射体9の第2反射面92は、被検査物1の被検査面10で反射した反射光8hを受光し、且つ、撮像部6に向けて(上方に向けて)反射させる。この結果、被検査物1の被検査面10で求心方向(矢印D2方向)に反射した反射光8hを、反射体9の第2反射面92により撮像部6に向けて良好に反射させることができる。反射光8hは被検査物1の中央孔5rの軸芯の回りを同軸的に進行する。
As shown in FIG. 2, when the
図1に示すように、上記した導光体3、撮像部6、反射体9、投光部2等は、可動式のセンサ100のハウジング100hに保持されている。センサ100はアーム102をもつ。駆動部200は、センサ100を被検査物1の被検査面10の延設方向(矢印H方向,高さ方向)に沿って移動させるものである。駆動部200はモータ装置または流体圧シリンダ装置を搭載している。センサ案内部として機能する案内部210は、駆動部200の筐体201において被検査物1の延設方向(矢印H方向)に沿って延設されている。制御部300の制御信号により駆動制御部204が制御されると、駆動部200が駆動し、センサ100を被検査物1の被検査物1の延設方向(矢印H方向、鉛直方向)に沿って移動させる。なお、被検査物保持部15、センサ100および駆動部200は、本装置の基部19に保持されている。
As illustrated in FIG. 1, the
本装置の使用方法について説明を加える。先ず図1に示すように、被検査物1の下面を被検査物保持部15の載置面15aに載せて被検査物1を保持する。投光部2は検査光8を投光する。すると、検査光8は複数に分岐され、各光ファイバ40の始端から先端40fに向けて下方向(矢印H2方向)に透過する。従って投光部2は、複数の光ファイバ40(導光路4)に対して共通光源として機能する。光ファイバ40を透過した検査光8は、接合面41を介してレンズ45に至り、レンズ45の反射面46で被検査物1の被検査面10に向けて導光路保持部5の径外方向に向けて反射され、更に、レンズ45の出射面48から矢印D1方向に沿って且つ被検査物1の被検査面10に向けて出射される。ここで、レンズ45の出射面48は、所定の曲率で曲成された円弧凸状をなしている。このため、図3および図4に示すように、出射面48から出射された検査光8は、被検査物1の被検査面10に向けて、円筒形状をなす導光路保持部5の半径方向外方に向けて拡開して拡開光となる。具体的には、出射面48から出射された検査光8は、出射面48から被検査物1の被検査面10に向かうにつれて水平な扇形状(スリット扇形状)に拡開する。このように検査光8が実質的に二次元的な扇形状に拡開するため、被検査物1の被検査面10における照射面積が増加する。
A description will be given of how to use this apparatus. First, as shown in FIG. 1, the lower surface of the
図1に示すように、導光路4は、被検査物1の周方向(矢印R方向)に沿って複数本並設されている。このため、扇形状に拡開した拡開光が被検査物1の周方向に1周するようにリング形状に連続し、リング光8rが得られる。扇形状をなす拡開光の周縁は互いに重複する。リング光8rは、検査光がリング状に放射される光を意味する。上記したようにリング光8rが得られるため、被検査物1の被検査面10における照射面積が良好に確保される。従って、検査光8を被検査物1の周方向に走査させる走査が軽減される。
As shown in FIG. 1, a plurality of
検査光8は、被検査物1の被検査面10で反射されると、被検査物1の空洞14の求心方向(D2方向)に向かう。ここで図2に示すように、反射光8hは反射体9の第2反射面92で反射し、導光路保持部5の中央孔5rを上方に向けて透過し、撮像部6に向かい、光学レンズ系60を経てカメラ61で受光される。撮像部6のカメラ61の撮像信号は画像メモリ7(画像データ格納要素)の所定のエリアに格納され、三角測量を用いた画像処理が制御部300により行われる。これにより被検査物1の被検査面10における表面状態(異物の有無等)が検査される。
When the
制御部300により制御された駆動制御部204により駆動部200が駆動し、センサ100が被検査物1の空洞14の軸長方向(矢印H方向)に沿って移動し、被検査物1の空洞14の奥方(下方)に次第に進行していく。この結果、リング状の検査光8(リング光8r)が被検査物1の空洞14の軸長方向(矢印H方向)に沿って下方に移動し、被検査物1の空洞14の奥方に次第に進行していく。この結果、被検査物1の被検査面10の全域またはほぼ全域が撮像される。図1はあくまでも概念図であり、実際の被検査物1の軸長は図1に示す形態よりも長く設定されている。図5は撮像部6で所定のタイミング時に撮像された画像を示す。もし、被検査物1の被検査面10に凸状の異物が存在するときには、図5に示すように、画像において凸状の異物が検査される。
The
図6は制御系が実行するフローチャートの一例を示す。フローチャートはこれに限定されるものではない。先ず、被検査物1を被検査物保持部15にセットする指令を搬送装置(図示せず)に出力する(ステップS102)。センサ100を被検査物1の測定開始位置まで移動させる(ステップS104)。投光部2から検査光8を投光し、リング光8rを被検査物1の被検査面10に照射する(ステップS106)。画像データを取り込む(ステップS108)。画像データを画像メモリ7の所定のエリアに格納する(ステップS110)。被検査物1の被検査面10の形状を算出する(ステップS112)。次に測定終了か判定する(ステップS114)。測定終了でなければ(ステップS114のNO)、センサ100を矢印H方向において被検査物1の被検査面10に沿って更に移動させる(ステップS116)。測定終了であれば、被検査物1の被検査面10の検査面形状を構築する(ステップS118)。被検査物1の被検査面10における異物形状を抽出する(ステップS120)。OK/NGの判定を行い(ステップS122)、OKであれば、OK信号を出力し(ステップS124)、NGであればNG信号を出力する(ステップS126)。
FIG. 6 shows an example of a flowchart executed by the control system. The flowchart is not limited to this. First, a command to set the
以上説明したように本実施形態によれば、検査光8が扇状に拡開するため、被検査物1の被検査面10における照射面積が増加する。従って、検査光8を被検査物1の周方向に走査する走査が軽減され、被検査物1の被検査面10を検査する検査時間を短縮させることができる。殊に被検査物1の被検査面10の回りを1周するリング光8rが形成されるため、検査光8を被検査物1の周方向に走査する走査が軽減され、被検査物1の被検査面10を検査する検査時間を短縮させることができる。更に、被検査物1の被検査面10に異物が存在しているとき、異物の凹凸量とメッキムラの凹凸量とはかなり異なるため、異物とメッキムラとの判別ができる。よって被検査面10における異物の有無の検査に適用できる。
As described above, according to the present embodiment, the
(実施形態2)
図7〜図9は実施形態2を示す。本実施形態は実施形態1と基本的には同様の構成であり、同様の作用効果を有する。実施形態1と共通機能を有する部位には共通の符号を付する。以下、実施形態1と異なる部位を中心として説明する。図7に示すように、筒形状をなす導光体3は、複数本の導光路4と、複数本の導光路4を保持する保持要素として機能する一定肉厚の円筒形状の導光路保持部5とを備えている。導光路保持部5は、光透過性をもつ樹脂(アクリル樹脂等の透明樹脂)またはガラス等の透光材料で形成されており、内径および外径が軸長方向に沿って等しい円筒形状をなしている。導光路保持部5は、中央孔5rを区画する内周面5iおよび外周面5pを有する直円筒形状をなしている。図7に示すように、導光路4は上下方向(鉛直方向、被検査物1の被検査面10の延設方向物)に沿っており、導光路保持部5の内部に埋設されて保持されている。各導光路4は、筒形状をなす導光路保持部5の中心線M2(つまり被検査物1の中心線M1)の回りに沿って複数本並設されている。
(Embodiment 2)
7 to 9 show the second embodiment. This embodiment has basically the same configuration as that of the first embodiment, and has the same functions and effects. The parts having the same functions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Hereinafter, a description will be given centering on parts different from the first embodiment. As shown in FIG. 7, a cylindrical
図8および図9に示すように、導光路4は、導光機能する複数本の光ファイバとして機能するTECファイバ42(集光光学部品)と、TECファイバ42の先端42f(下端)に接続された光拡開機能をもつレンズとして機能するシリンドリカルレンズ45Sとを備えている。導光路4を構成するTECファイバ42では、検査光8は、TECファイバ42の長さ方向に沿って透過する。TECファイバ42は被検査物1の被検査面10の延設方向(矢印H方向、鉛直方向)に沿って被検査物1の被検査面10とほぼ平行に配置されている。このためTECファイバ42における導光方向は、被検査物1の被検査面10の延設方向となる。なお、TECファイバ42は断面で円形状をなしており、外周面42pを有している。
As shown in FIGS. 8 and 9, the
シリンドリカルレンズ45Sは、TECファイバ42の長さ方向の先端42fに接続された接合面41と、斜めに傾斜する反射面46と、円弧凸状をなす外周面45Spをもつ。TECファイバ42の軸芯とシリンドリカルレンズ45Sの軸芯とが整合するように、TECファイバ42およびシリンドリカルレンズ45Sは同軸的に接続されている。
The
シリンドリカルレンズ45Sとの外周面45Spの一部が、所定の曲率で曲成された出射面48を形成する。出射面48は、TECファイバ42の中心線M6の延長線に対して直交する断面(または被検査物1の中心線M1に対して直交する断面)で、被検査物1の被検査面10に向けて突出する円弧凸状をなす。図9に示すように、反射面46は、水平線(導光路保持部5の径方向に沿った仮想面)に対して角度θ1で傾斜しており、かつ、TECファイバ42の中心線M6の延長線に対して角度θ4で傾斜している。反射面46の先方には、透光性をもつ導光路保持部5の一部をなす透光部分5kが設けられている(図8参照)。この場合、図9に示すように、TECファイバ42をその長さ方向に沿って透過する検査光8は、接合面41を介してシリンドリカルレンズ45Sに至り、シリンドリカルレンズ45Sの反射面46で被検査物1の被検査面10に向けて反射され、更に、シリンドリカルレンズ45Sの出射面48で外方に出射される。従って検査光8は、導光路4の導光方向(矢印H方向)に対して交差する方向(矢印D1方向)に沿って、且つ、被検査物1の被検査面10に向けて向かう。ここで、前述したようにシリンドリカルレンズ45Sの出射面48は円弧凸状をなしている。このため、図7および図9に示すように、出射面48から出射された検査光8は、出射面48から被検査物1の被検査面10に向かうにつれて水平な扇形状(スリット扇形状、拡開角θ3)に拡開する。扇形状に拡開した検査光8は拡開外縁8aをもつ。上記したように投光部2から投光された検査光8がビーム光でありながらも、出射面48から出射された検査光8は水平な扇形状(スリット扇形状)に拡開するため、被検査物1の周方向において、被検査物1の被検査面10における照射面積が増加する。
A part of the outer peripheral surface 45Sp with the
本実施形態によれば、TECファイバ42は検査光8の集光性を高める機能を果たす。シリンドリカルレンズ45Sは検査光8を反射面46により被検査物1に向けて反射させる反射機能と、検査光8を出射面48により拡開させる拡開機能とを備えている。図8及び図9に示すように、集光性を高めるTECファイバ42の先端42fはシリンドリカルレンズ45Sの反射面46の近くに配置されているため、検査光8の散乱は抑えられており、分解能が確保される。
According to the present embodiment, the
本実施形態においても、図8に示すように、検査光8は、被検査物1の被検査面10で反射されると、被検査物1の求心方向(D2方向)に向かう。ここで、被検査物1の被検査面10で求心方向(D2方向)に反射した反射光8hを反射体9の第2反射面92により撮像部6に向けて(上方に向けて)良好に反射させる。
Also in the present embodiment, as shown in FIG. 8, when the
以上説明したように本実施形態によれば、実施形態1の場合と同様に、シリンドリカルレンズ45Sの出射面48により検査光8が扇形状(スリット扇形状)に拡開するため、被検査物1の被検査面10を1周するリング光8rが得られ、被検査物1の被検査面10における照射面積が増加する。従って、被検査面10を検査する際に、検査光8を被検査物1の周方向に走査させる走査が軽減される。よって、被検査物1の被検査面10についての検査に要する検査時間を短縮させることができる。更に、被検査物1の被検査面10に異物が存在しているとき、異物とメッキムラとの判別ができるため、異物の有無の検査に適用できる。
As described above, according to the present embodiment, the
(実施形態3)
図10〜図12は実施形態3を示す。本実施形態は実施形態1と基本的には同様の構成であり、同様の作用効果を有する。実施形態1と共通機能を有する部位には共通の符号を付する。以下、実施形態1と異なる部位を中心として説明する。図10および図11に示すように、導光路4は、光ファイバ40と、光ファイバ40の先端部に接続され凸状のレンズ面43uをもつ先球レンズ43tと、先球レンズ43の先方に設けられた光透過部44とを備えている。光ファイバ40および先球レンズ43は、先端加工光ファイバを形成する。
(Embodiment 3)
10 to 12 show the third embodiment. This embodiment has basically the same configuration as that of the first embodiment, and has the same functions and effects. The parts having the same functions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Hereinafter, a description will be given centering on parts different from the first embodiment. As shown in FIGS. 10 and 11, the
図10および図11に示すように、光透過部44は、光透過性をもつ透明樹脂(例えばアクリル樹脂)または透明ガラス等の透光材料で形成された筒形状をなしており、互いに同軸的に配置された縦型の内筒441および縦型の外筒442で形成されており、上下方向に貫通する中央孔445を備えている。内筒441は、光ファイバ40および先球レンズ43tを保持しているため、光透過部44は導光路保持部としても機能する。内筒441は光透過性を必ずしも有していなくても良いが、有していても良い。先球レンズ43tのレンズ面43uは、ビーム径を絞る集光機能を備えている。この結果、通常の光ファイバ40のNA(開口数)に比較して1/10程度(0.01程度)まで小さくすることができ、分解能を高めることができる。光透過材料で形成された筒形状の光透過部44を導光路として利用するため、光ファイバ40の長さを短縮でき、複数本の光ファイバ40の組付性も向上させ得る。
As shown in FIGS. 10 and 11, the
図11に示すように、光透過部44を構成する外筒442の下端部には、反射面46が形成されている。反射面46は、筒形状の光透過部44の中心線M4の回りで円錐形状に傾斜する。反射面46には金属等の薄い反射膜を形成しても良いし、形成しなくても良い。反射面46の内径は、撮像部6に向かうにつれて小さくなるように設定されている。
As shown in FIG. 11, a
光透過部44を構成する外筒442の外周面の下端部は、出射面48とされている。出射面48は、所定の曲率で曲成された円弧凸状面とされており、光透過部44の中心線に対して直交する断面で、被検査物1の被検査面10に向けて突出している。
A lower end portion of the outer peripheral surface of the
投光部2が検査光8を投光すると、検査光8は複数に分岐され、各光ファイバ40の始端から先端40fに向けて矢印H2方向に透過する。光ファイバ40を透過した検査光8は、接合面41を介して先球レンズ43tに至り、先球レンズ43tから光透過部44の外筒442の内部を透過し、光透過部44の反射面46に至る。検査光8は、光透過部44の外筒442の反射面46で被検査物1の被検査面10に向けて、導光路保持部5の径外方向に反射され、更に、検査光8は、光透過部44の外筒442の出射面48から矢印D1方向に沿って、且つ、被検査物1の被検査面10に向けて出射される。
When the
ここで、前述したように光透過部44の出射面48は、断面で、所定の曲率で曲成された円弧凸状をなしている。このため、図10に示すように、出射面48から出射された検査光8は、被検査物1の被検査面10に向けて、円筒形状をなす導光路保持部5の半径方向外方に向けて拡開して拡開光となる。具体的には、出射面48から出射された検査光8は、出射面48から被検査物1の被検査面10に向かうにつれて水平な扇形状(スリット扇形状)に拡開する。このように検査光8が水平な扇形状に拡開するため、被検査物1の被検査面10における照射面積が増加する。
Here, as described above, the
図10に示すように、導光路4を構成する光ファイバ40は、被検査物1の空洞14の内壁面に沿って被検査物1の周方向(矢印R方向)に沿って複数本並設されている。このため、扇形状に拡開した拡開光が被検査物1の空洞14の内壁面において、扇形状に拡開した複数の拡開光が被検査物1の周方向に沿って1周するようにリング形状に連続する。各拡開光の縁部は互いに重複している。このようにして被検査物1の周方向に1周するリング光8rが得られる。このようなリング光8rが得られるため、被検査物1の被検査面10における照射面積が良好に確保される。従って、検査光8を被検査物1の周方向に走査する走査が軽減される。
As shown in FIG. 10, a plurality of
検査光8が光ファイバ40を透過しているときには、検査光8の散乱は抑えられている。検査光8が光ファイバ40の先端40fを出ると、検査光8の散乱性が高くなる。この点本実施形態によれば、光ファイバ40と光透過部44との間に、ビーム径を絞る集光レンズとして機能する先球レンズ43tが設けられているため、先球レンズ43tのレンズ面43uから導出された検査光8の集光性が高まる。故に光透過部44における検査光8の散乱が抑えられており、分解能が確保される。なお、先球レンズ43tのレンズ面43uの焦点は、被検査物1の被検査面10となるように設定されている。
When the
検査光8は被検査物1の被検査面10で反射されると、図11に示すように、被検査物1の空洞14の求心方向(D2方向)に向かう。ここで図11に示すように、反射光8hは反射体9の第2反射面92で反射し、導光路保持部5の中央孔を上方に向けて透過し、撮像部6に向かい(上方に向かい)、光学レンズ系60を経てカメラ61で受光される。撮像部6のカメラ61の撮像信号は画像メモリ7に格納され、制御部300により画像処理される。制御部300により制御された駆動部200により、センサ100が被検査物1の空洞14の軸長方向(矢印H方向)に沿って移動し、被検査物1の空洞14の奥方(下方)に次第に進行していく。この結果、リング状の検査光8(リング光8r)が被検査物1の空洞14の軸長方向(矢印H方向)に沿って移動し、被検査物1の空洞14の奥方に次第に進行していく。この結果、被検査物1の被検査面10の全域またはほぼ全域が撮像されて検査される。もし、被検査物1の被検査面10に凸状の異物が存在するときには、図6に示すように、画像において凸状の異物が検査される。
When the
(実施形態4)
図13は実施形態4を示す。本実施形態は実施形態3と基本的には同様の構成であり、同様の作用効果を有する。実施形態3と共通機能を有する部位には共通の符号を付する。以下、実施形態1と異なる部位を中心として説明する。更には、前記した光ファイバ40と先球レンズ43tとの組み合わせに代えて、図13に示すように、光ファイバ40とGRINレンズ45との組み合わせにしても良い。光ファイバ40の先端にGRINレンズ45が接続されている。光ファイバ40の先端から導出された検査光8は散乱(光部分8x)しようとするが、GRINレンズ45はビーム径を絞る集光性を有するため、散乱が抑えられる。なおGRINレンズ45は光透過部44の上部に接続されている。
(Embodiment 4)
FIG. 13 shows a fourth embodiment. The present embodiment has basically the same configuration as that of the third embodiment, and has the same functions and effects. Parts having the same functions as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals. Hereinafter, a description will be given centering on parts different from the first embodiment. Furthermore, instead of the combination of the
(実施形態5)
図14は実施形態5を示す。本実施形態は実施形態3と基本的には同様の構成であり、同様の作用効果を有する。実施形態3と共通機能を有する部位には共通の符号を付する。以下、実施形態1と異なる部位を中心として説明する。更に光ファイバ40と先球レンズ43tとの組み合わせに代えて、図14に示すように、TECファイバ42にしても良い。TECファイバ42は集光性を有するため、光の散乱が抑えられている。なおTECファイバ42の先端42fは光透過部44の上部に接続されている。
(Embodiment 5)
FIG. 14 shows a fifth embodiment. The present embodiment has basically the same configuration as that of the third embodiment, and has the same functions and effects. Parts having the same functions as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals. Hereinafter, a description will be given centering on parts different from the first embodiment. Furthermore, in place of the combination of the
(その他)
本発明は上記し且つ図面に示した実施形態のみに限定されるものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変更して実施できる。被検査物1は円筒形状に限らず、角筒形状としても良い。被検査物1としては、中心線M1の回りで1周する円筒形状でも良いが、中心線M1の回りでほぼ3/4周する筒形状でも良く、中心線M1の回りでほぼ1/2周する樋形状でも良い。検知光8としては、被検査物1の被検査面10を1周するリング光8rとされているが、被検査物1の被検査面10をほぼ3/4周する部分リング光としても良く、または、被検査物1の被検査面10をほぼ1/2周する半リング光としても良い。
(Other)
The present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings, and can be implemented with appropriate modifications within the scope not departing from the gist. The
被検査物1としては、中心線M1が縦方向に沿って縦向き円筒形状に限らず、中心線M1が横方向に沿って横向きの筒形状としても良い。この場合には導光体3を横方向に移動させる。または、被検査物1としては、中心線M1が斜め向きとしても良い。この場合には導光体3を斜め方向に移動させる。被検査物1の材質は金属に限らず、セラミックス、カーボン系、硬質樹脂等でも良い。
The inspected
上記した実施形態では被検査物1の被検査面10は内壁面とされているが、被検査物1の外壁面16を被検査面としても良い。この場合、導光体3の内径を被検査物1の外壁面16の外径よりも大きく設定し、導光体3で被検査物の外壁面16を覆うことが可能とする。
In the embodiment described above, the
本発明は被検査物の被検査面における表面状況(例えば異物の有無等)を検査する検査装置に利用できる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for an inspection apparatus that inspects the surface state (for example, the presence or absence of foreign matter) of an inspection object surface.
1は被検査物、10は被検査面、15は被検査物保持部、19は基部、2は投光部、3は導光体、4は導光路、5は導光路保持部(保持要素)、5rは中央孔、40は光ファイバ、41は接合面、45はレンズ、46は反射面、48は出射面、42はTECファイバ、43は先球レンズ、6は撮像部、61はカメラ、7は画像メモリ、8は検査光、8rはリング光、9は反射体、92は第2反射面、100はセンサ、200は駆動部、210は案内部、300は制御部をそれぞれ示す。
DESCRIPTION OF
Claims (10)
検査光を投光する投光部と、
前記投光部から投光された前記検査光を透過させると共に前記被検査物の前記被検査面に向けて前記検査光を出射させる導光体と、
前記被検査物の前記被検査面で反射した反射光を撮像する撮像部とを具備する被検査物検査装置において、
前記導光体は、
前記被検査物の前記被検査面に対向する側に形成され、前記検査光をこれの出射角を拡開させて前記被検査物の前記被検査面に照射させるように、断面で前記被検査面に向けて突出する円弧凸状をなす出射面を備えていることを特徴とする被検査物検査装置。 An inspection object holding unit for holding an inspection object having an inspection surface;
A light projecting unit for projecting inspection light;
A light guide that transmits the inspection light projected from the light projecting unit and emits the inspection light toward the inspection surface of the inspection object; and
In the inspection object inspection apparatus comprising an imaging unit that images reflected light reflected by the inspection surface of the inspection object,
The light guide is
Formed on the side of the object to be inspected that faces the surface to be inspected, and inspects the surface of the object to be inspected so as to irradiate the surface of the object to be inspected by expanding the exit angle of the inspection light. An inspection object inspection apparatus comprising an emission surface having a circular arc shape protruding toward a surface.
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