JP2007298605A - Structural body, transmission type liquid crystal display device, method of manufacturing semiconductor circuit and method of manufacturing transmission type liquid crystal display device - Google Patents

Structural body, transmission type liquid crystal display device, method of manufacturing semiconductor circuit and method of manufacturing transmission type liquid crystal display device Download PDF

Info

Publication number
JP2007298605A
JP2007298605A JP2006124902A JP2006124902A JP2007298605A JP 2007298605 A JP2007298605 A JP 2007298605A JP 2006124902 A JP2006124902 A JP 2006124902A JP 2006124902 A JP2006124902 A JP 2006124902A JP 2007298605 A JP2007298605 A JP 2007298605A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substantially transparent
semiconductor circuit
filter
thin film
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006124902A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5278637B2 (en
Inventor
Manabu Ito
学 伊藤
Norimasa Sekine
徳政 関根
Mamoru Ishizaki
守 石▲崎▼
Osamu Kino
修 喜納
Ryohei Matsubara
亮平 松原
Masato Kon
真人 今
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP2006124902A priority Critical patent/JP5278637B2/en
Publication of JP2007298605A publication Critical patent/JP2007298605A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5278637B2 publication Critical patent/JP5278637B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate the alignment of a semiconductor circuit and a color filter. <P>SOLUTION: An alkali free glass 1737 (0.5 mm thickness) manufactured by Corning Inc. is used as a substantially transparent base material 3, a color filter layers 4 of R (red), G (green) and B (blue) are formed on one surface thereof, an over coat comprising a transparent resin is added thereon and then a protective film is stuck onto the color filter layers. A semiconductor circuit having substantially transparent thin film transistors and wiring lines having electric contact points conducted to the thin film transistors and constituted of a substantially transparent conductive material is provided so as to be aligned with a filter arranged pattern on the surface opposite to the color filters of the base material 3. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a structure, a transmissive liquid crystal display device, a method for manufacturing a semiconductor circuit, and a method for manufacturing a transmissive liquid crystal display device.

一般にディスプレイなどの電子デバイスの駆動用トランジスタとして、アモルファスシリコンや多結晶シリコン等を用いた薄膜トランジスタが用いられてきた。
しかしながら、アモルファスシリコンや多結晶シリコンは不透明であり、また可視光領域において光感度を持つため、遮光膜が必要となる。
そのため、薄膜トランジスタやその配線等の半導体回路(以下、半導体回路とよぶ)は視認性の問題となるためディスプレイ観察側から見るとディスプレイ表示要素の裏側に設置されてきた。
また、透過型液晶表示装置のカラー化においては一般的にはカラーフィルターが用いられるが、上記の理由により、カラーフィルターと薄膜トランジスタ基板の間に液晶封入層が形成される(特許文献1参照)。
しかしながら、この位置にカラーフィルターおよび半導体回路基板が形成されると、例えば液晶の場合は、液晶を封入した後、半導体回路とカラーフィルターとの間に液晶を介在させた状態で位置合わせする必要があり、高い精度を得るためには困難が伴い、コスト上昇や歩留まり低下の原因となっている。
特開平9−73082号公報
In general, a thin film transistor using amorphous silicon, polycrystalline silicon, or the like has been used as a transistor for driving an electronic device such as a display.
However, since amorphous silicon and polycrystalline silicon are opaque and have photosensitivity in the visible light region, a light shielding film is necessary.
For this reason, a semiconductor circuit (hereinafter referred to as a semiconductor circuit) such as a thin film transistor and its wiring becomes a problem of visibility and has been installed on the back side of the display element when viewed from the display viewing side.
A color filter is generally used for colorization of a transmissive liquid crystal display device. For the above reason, a liquid crystal encapsulating layer is formed between the color filter and the thin film transistor substrate (see Patent Document 1).
However, when the color filter and the semiconductor circuit substrate are formed at this position, for example, in the case of liquid crystal, after the liquid crystal is sealed, it is necessary to align the liquid crystal between the semiconductor circuit and the color filter. In addition, it is difficult to obtain high accuracy, which causes an increase in cost and a decrease in yield.
Japanese Patent Laid-Open No. 9-73082

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、半導体回路とカラーフィルターの位置合わせが容易な構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and a structure that allows easy alignment of a semiconductor circuit and a color filter, a transmissive liquid crystal display device, a method for manufacturing a semiconductor circuit, and a transmissive liquid crystal display device It aims to provide a method.

請求項1の発明は、実質的に透明な板状の基材と、前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に設けられた半導体回路とを備え、前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有することを特徴とする構造体である。
請求項1の発明によれば、カラーフィルターと半導体回路を互いに実質的に透明な同一の基板の異なる面に形成することで、視認性に影響を与えず、かつカラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易にできるようになる。
請求項2の発明は、実質的に透明な板状の基材と、前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に設けられた半導体回路と、前記半導体回路が前記基材の反対側に臨む面に設けられ前記半導体回路によって駆動される透過型液晶表示要素とを備え、前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有することを特徴とする透過型液晶表示装置である。
請求項2の発明によれば、半導体回路に実質的に透明な材料を用いることで、該半導体回路を視認性を損なわずに透過型液晶表示要素の前面に配置することができ、カラーフィルターと半導体回路を互いに実質的に透明な同一の基板の異なる面に形成することで、視認性に影響を与えず、かつカラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易にできるようになる。また、従来の透過型液晶表示装置ではカラーフィルター用の基材と半導体回路用の基材の2枚の基材が必要であったが、本発明の透過型液晶表示装置では基材が一枚で済むため基材のコストが削減できる上、透過型液晶表示装置の重量も軽くなる。ここで透過型液晶表示要素とは配向膜/ 液晶 / 配向膜 / 共通電極 / 実質的に透明な基材から構成される構造体である。
請求項3の発明は、前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が金属酸化物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置である。
請求項3の発明によれば、金属酸化物半導体を使用することで透明でかつ優れた特性を持つ薄膜トランジスタを実現できる。
請求項4の発明は、前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が有機物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置である。
請求項4の発明によれば、有機物を主成分とする材料を用いることで透明でかつ優れた特性を持つ薄膜トランジスタを実現できる。
請求項5の発明は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンに位置合わせして設ける工程とを含むことを特徴とする半導体回路の製造方法である。
請求項6の発明は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を設ける工程と、前記基材が前記半導体回路の反対側に臨む面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを、前記フィルター配列パターンを前記半導体回路に位置合わせして設ける工程とを含むことを特徴とする半導体回路の製造方法である。
請求項7の発明は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンに位置合わせして設ける工程と、前記半導体回路が前記基材の反対側に臨む面に透過型液晶表示要素を設ける工程とを含むことを特徴とする透過型液晶表示装置の製造方法である。
請求項8の発明は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を設ける工程と、前記基材が前記半導体回路の反対側に臨む面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを、前記フィルター配列パターンを前記半導体回路に位置合わせして設ける工程とを含むことを特徴とする透過型液晶表示装置の製造方法である。
請求項5乃至8の発明によれば、視認性に影響を与えることなく、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易になり、製造コストを下げることができる。
The invention of claim 1 is a substantially transparent plate-like substrate, a color filter provided on one surface in the thickness direction of the substrate, and the substrate faces the opposite side of the color filter. A semiconductor circuit provided on a surface, the semiconductor circuit having a substantially transparent thin film transistor and a wiring made of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the transistor. It is a structure characterized by the above.
According to the first aspect of the present invention, the color filter and the semiconductor circuit are formed on different surfaces of the same substrate that are substantially transparent to each other, so that the visibility is not affected and the color filter and the semiconductor circuit are aligned. Can be easily done.
The invention according to claim 2 is a substantially transparent plate-like substrate, a color filter provided on one surface in the thickness direction of the substrate, and the substrate faces the opposite side of the color filter. A semiconductor circuit provided on a surface, and a transmissive liquid crystal display element provided on a surface facing the opposite side of the substrate and driven by the semiconductor circuit, wherein the semiconductor circuit is substantially transparent A transmissive liquid crystal display device comprising: a thin film transistor; and a wiring made of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the transistor.
According to the invention of claim 2, by using a substantially transparent material for the semiconductor circuit, the semiconductor circuit can be disposed on the front surface of the transmissive liquid crystal display element without impairing the visibility. By forming the semiconductor circuits on different surfaces of the same substrate that are substantially transparent to each other, it is possible to easily align the color filter and the semiconductor circuit without affecting the visibility. In addition, the conventional transmissive liquid crystal display device requires two substrates, a color filter substrate and a semiconductor circuit substrate, but the transmissive liquid crystal display device of the present invention has one substrate. Therefore, the cost of the base material can be reduced and the weight of the transmissive liquid crystal display device can be reduced. Here, the transmissive liquid crystal display element is a structure composed of alignment film / liquid crystal / alignment film / common electrode / substantially transparent substrate.
According to a third aspect of the present invention, the thin film transistor includes a source electrode, a drain electrode, and a gate electrode, a semiconductor active layer, and a gate insulating film, and the semiconductor active layer is made of a material containing a metal oxide as a main component. The structure according to claim 1 or the transmissive liquid crystal display device according to claim 2.
According to the invention of claim 3, by using a metal oxide semiconductor, a transparent and excellent thin film transistor can be realized.
According to a fourth aspect of the present invention, the thin film transistor includes source, drain, and gate electrodes, a semiconductor active layer, and a gate insulating film, and the semiconductor active layer is made of a material mainly composed of an organic substance. The structure according to claim 1 or the transmissive liquid crystal display device according to claim 2.
According to the fourth aspect of the present invention, a transparent thin film transistor having excellent characteristics can be realized by using a material mainly composed of an organic substance.
The invention of claim 5 is a step of providing a color filter having a filter arrangement pattern in which red filters, green filters, and blue filters are regularly arranged on one surface in the thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate. And a wiring made of a substantially transparent conductive material having a substantially transparent thin film transistor and an electrical contact conducted to the thin film transistor on a surface of the base material facing the opposite side of the color filter. And providing a semiconductor circuit in alignment with the filter array pattern.
The invention according to claim 6 is a substantially transparent plate having a substantially transparent thin film transistor and an electrical contact connected to the thin film transistor on one surface in the thickness direction of the substantially transparent plate-like substrate. A step of providing a semiconductor circuit having a wiring made of a conductive material, and a filter arrangement pattern in which red filters, green filters, and blue filters are regularly arranged on the surface of the base material facing the opposite side of the semiconductor circuit. And providing a color filter by aligning the filter array pattern with the semiconductor circuit.
The invention of claim 7 is a step of providing a color filter having a filter arrangement pattern in which red filters, green filters, and blue filters are regularly arranged on one surface in the thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate. And a wiring made of a substantially transparent conductive material having a substantially transparent thin film transistor and an electrical contact conducted to the thin film transistor on a surface of the base material facing the opposite side of the color filter. A transmissive liquid crystal comprising: a step of providing a semiconductor circuit in alignment with the filter arrangement pattern; and a step of providing a transmissive liquid crystal display element on a surface of the semiconductor circuit facing the opposite side of the substrate. It is a manufacturing method of a display device.
The invention according to claim 8 is a substantially transparent plate having a substantially transparent thin film transistor and an electrical contact conducted to the thin film transistor on one surface in the thickness direction of the substantially transparent plate-like substrate. A step of providing a semiconductor circuit having a wiring made of a conductive material, and a filter arrangement pattern in which red filters, green filters, and blue filters are regularly arranged on the surface of the base material facing the opposite side of the semiconductor circuit. And a step of providing a color filter by aligning the filter array pattern with the semiconductor circuit.
According to the fifth to eighth aspects of the present invention, the color filter and the semiconductor circuit can be easily aligned without affecting the visibility, and the manufacturing cost can be reduced.

本発明によれば、実質的に透明な基材の厚さ方向の一方の面にカラーフィルターを形成し、他方の面に透明な半導体回路を形成したので、視認性に影響を与えることなく、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易になり製造コストを低減する上で有利となる。   According to the present invention, since the color filter is formed on one surface in the thickness direction of the substantially transparent base material and the transparent semiconductor circuit is formed on the other surface, without affecting the visibility, This facilitates the alignment of the color filter and the semiconductor circuit, which is advantageous in reducing the manufacturing cost.

本発明の実施形態を図示して説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
図1および図2に本発明の一実施形態を示す。図1は本発明の透過型液晶表示装置のほぼ1画素分の部分断面図、図には本発明の透過型液晶表示装置の概略断面図である。
カラーフィルターと半導体回路を形成する基材および透過型液晶表示要素の基材は共に実質的に透明でなければいけない。
ここで実質的に透明とは可視光である波長領域400nm〜700nmの範囲内で透過率が70%以上であることである。具体的にはポリメチルメタクリレート、ポリアクリレート、ポリカーボネート、ポリスチレン、ポリエチレンサルファイド、ポリエーテルスルホン、ポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、シクロオレフィンポリマー、ポリエーテルサルフェン、トリアセチルセルロース、ポリビニルフルオライドフィルム、エチレン-テトラフルオロエチレン共重合樹脂、耐候性ポリエチレンテレフタレート、耐候性ポリプロピレン、ガラス繊維強化アクリル樹脂フィルム、ガラス繊維強化ポリカーボネート、透明性ポリイミド、フッ素系樹脂、環状ポリオレフィン系樹脂、ガラス、石英等を使用することができる。
これらは単独の基材として使用してもよいが、二種以上を積層した複合基材を使用することもできる。また基材が有機物フィルムである場合は、素子の耐久性を上げるために透明のガスバリア層を形成することも好ましい。ガスバリア層としてはAl2O3、SiO2、SiN、SiON、SiC、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)などが上げられるがこれらに限定されるものではない。またこれらのガスバリア層は二層以上積層して使用することもできる。またガスバリア層は有機物フィルム基板の片面だけに付与してもよいし、両面に付与しても構わない。ガスバリア層は蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法、レーザーアブレーション法、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法、ホットワイヤーCVD法、ゾルゲル法などで形成されるが、これらに限定されるものではない。
Although embodiments of the present invention are illustrated and described, the present invention is not limited to these.
1 and 2 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a partial sectional view of almost one pixel of a transmissive liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 1 is a schematic sectional view of the transmissive liquid crystal display device of the present invention.
Both the base material forming the color filter and the semiconductor circuit and the base material of the transmissive liquid crystal display element must be substantially transparent.
Here, “substantially transparent” means that the transmittance is 70% or more within a wavelength range of 400 nm to 700 nm which is visible light. Specifically, polymethyl methacrylate, polyacrylate, polycarbonate, polystyrene, polyethylene sulfide, polyethersulfone, polyolefin, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, cycloolefin polymer, polyethersulfene, triacetylcellulose, polyvinyl fluoride film, ethylene -Use tetrafluoroethylene copolymer resin, weather resistant polyethylene terephthalate, weather resistant polypropylene, glass fiber reinforced acrylic resin film, glass fiber reinforced polycarbonate, transparent polyimide, fluorine resin, cyclic polyolefin resin, glass, quartz, etc. Can do.
These may be used as a single substrate, but a composite substrate in which two or more kinds are laminated can also be used. When the substrate is an organic film, it is also preferable to form a transparent gas barrier layer in order to increase the durability of the device. Examples of the gas barrier layer include Al2O3, SiO2, SiN, SiON, SiC, diamond-like carbon (DLC), and the like, but are not limited thereto. These gas barrier layers can also be used by laminating two or more layers. Moreover, a gas barrier layer may be provided only on one side of the organic film substrate, or may be provided on both sides. The gas barrier layer is formed by vapor deposition, ion plating, sputtering, laser ablation, plasma CVD (Chemical Vapor Deposition), hot wire CVD, sol-gel, or the like, but is not limited thereto.

本発明の実質的に透明な半導体回路に用いる、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、補助コンデンサー電極、画素電極、走査線電極、信号線電極および透過型液晶表示要素の共通電極には、酸化インジウム(In2O3)、酸化スズ(SnO2)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化カドミウム(CdO)、酸化インジウムカドミウム(CdIn2O4)、酸化カドミウムスズ(Cd2SnO4)、酸化亜鉛スズ(Zn2SnO4)、酸化インジウム亜鉛(In-Zn-O)等の酸化物材料でもよい。またこの酸化物材料に不純物をドープしたものも好適に用いられる。
例えば、酸化インジウムにスズ(Sn)やモリブデン(Mo)、チタン(Ti)をドープしたもの、酸化スズにアンチモン(Sb)やフッ素(F)をドープしたもの、酸化亜鉛にインジウム、アルミニウム、ガリウム(Ga)をドープしたものなどである。この中では特に酸化インジウムにスズ(Sn)をドープした酸化インジウムスズ(通称ITO)が高い透明性と低い抵抗率のために特に好適に用いられる。
また上記導電性酸化物材料とAu、Ag、Cu、Cr、Al、Mg、Liなどの金属の薄膜を複数積層したものも使用できる。この場合、金属材料の酸化や経時劣化を防ぐために導電性酸化物薄膜 / 金属薄膜 / 導電性酸化物薄膜の順に積層した3層構造が特に好適に用いられる。また金属薄膜層での光反射や光吸収が表示装置の視認性を妨げないために金属薄膜層はできる限り薄くすることが好ましい。具体的には1nm以上20nm以下であることが望ましい。
またPEDOT(ポリエチレンジオキシチオフェン)等の有機導電性材料も好適に用いることができる。ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、補助コンデンサー電極、画素電極、走査線電極、信号線電極、共通電極は同じ材料であっても構わないし、また全て違う材料であっても構わない。しかし、工程数を減らすためにゲート電極と補助コンデンサー電極、ソース電極とドレイン電極は同一の材料であることがより望ましい。これらの透明電極は、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法、レーザーアブレーション法、プラズマCVD法、光CVD法、ホットワイヤーCVD法またはスクリーン印刷、凸版印刷、インクジェット法等で形成することができるが、これらに限定されるものではない。
The gate electrode, the source electrode, the drain electrode, the auxiliary capacitor electrode, the pixel electrode, the scanning line electrode, the signal line electrode, and the common electrode of the transmissive liquid crystal display element used in the substantially transparent semiconductor circuit of the present invention include indium oxide. (In2O3), tin oxide (SnO2), zinc oxide (ZnO), cadmium oxide (CdO), indium cadmium oxide (CdIn2O4), cadmium tin oxide (Cd2SnO4), zinc oxide tin (Zn2SnO4), indium zinc oxide (In-Zn) An oxide material such as -O) may be used. Moreover, what doped this oxide material with the impurity is used suitably.
For example, indium oxide doped with tin (Sn), molybdenum (Mo), titanium (Ti), tin oxide doped with antimony (Sb) or fluorine (F), zinc oxide with indium, aluminum, gallium ( For example, doped with Ga). Among these, indium tin oxide (commonly called ITO) in which indium oxide is doped with tin (Sn) is particularly preferably used because of high transparency and low resistivity.
In addition, a laminate in which a plurality of thin films of the conductive oxide material and a metal such as Au, Ag, Cu, Cr, Al, Mg, and Li are stacked can be used. In this case, a three-layer structure in which a conductive oxide thin film / metal thin film / conductive oxide thin film is laminated in order in order to prevent oxidation or deterioration with time of the metal material is particularly preferably used. In addition, it is preferable to make the metal thin film layer as thin as possible so that light reflection and light absorption at the metal thin film layer do not disturb the visibility of the display device. Specifically, it is desirable to be 1 nm or more and 20 nm or less.
An organic conductive material such as PEDOT (polyethylenedioxythiophene) can also be suitably used. The gate electrode, the source electrode, the drain electrode, the auxiliary capacitor electrode, the pixel electrode, the scanning line electrode, the signal line electrode, and the common electrode may be made of the same material, or may be made of different materials. However, in order to reduce the number of steps, it is more desirable that the gate electrode and the auxiliary capacitor electrode, the source electrode and the drain electrode are made of the same material. These transparent electrodes can be formed by vacuum deposition, ion plating, sputtering, laser ablation, plasma CVD, photo CVD, hot wire CVD or screen printing, letterpress printing, inkjet printing, etc. However, it is not limited to these.

本発明の表示装置に用いる実質的に透明な半導体活性層としては酸化物半導体材料、もしくは有機物半導体材料が好適に使用できる。
酸化物半導体材料は亜鉛、インジウム、スズ、タングステン、マグネシウム、ガリウムのうち一種類以上の元素を含む酸化物である、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化インジウム亜鉛、酸化スズ、酸化タングステン(WO)、酸化亜鉛ガリウムインジウム(In-Ga-Zn-O)等公知の材料が挙げられるがこれらに限定されるものではない。これらの材料は実質的に透明であり、バンドギャップが2.8eV以上、好ましくはバンドギャップが3.2eV以上であることが望ましい。これらの材料の構造は単結晶、多結晶、微結晶、結晶/アモルファスの混晶、ナノ結晶散在アモルファス、アモルファスのいずれであってもかまわない。
半導体層の膜厚は少なくとも20nm以上が望ましい。
酸化物半導体層はスパッタ法、パルスレーザー堆積法、真空蒸着法、CVD法、MBE (Molecular Beam Epitaxy)法、ゾルゲル法などの方法を用いて形成されるが、好ましくはスパッタ法、パルスレーザー堆積法、真空蒸着法、CVD法である。スパッタ法ではRFマグネトロンスパッタ法、DCスパッタ法、真空蒸着では加熱蒸着、電子ビーム蒸着、イオンプレーティング法、CVD法ではホットワイヤーCVD法、プラズマCVD法などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。
As the substantially transparent semiconductor active layer used in the display device of the present invention, an oxide semiconductor material or an organic semiconductor material can be preferably used.
The oxide semiconductor material is an oxide containing one or more elements of zinc, indium, tin, tungsten, magnesium, gallium, zinc oxide, indium oxide, indium zinc oxide, tin oxide, tungsten oxide (WO), oxide Known materials such as zinc gallium indium (In-Ga-Zn-O) can be used, but the material is not limited to these. These materials are substantially transparent and have a band gap of 2.8 eV or more, and preferably a band gap of 3.2 eV or more. The structure of these materials may be single crystal, polycrystal, microcrystal, crystal / amorphous mixed crystal, nanocrystal scattered amorphous, or amorphous.
The thickness of the semiconductor layer is desirably at least 20 nm.
The oxide semiconductor layer is formed by a sputtering method, a pulse laser deposition method, a vacuum evaporation method, a CVD method, an MBE (Molecular Beam Epitaxy) method, a sol-gel method, or the like, but preferably a sputtering method or a pulse laser deposition method. These are vacuum evaporation and CVD. Examples of sputtering include RF magnetron sputtering, DC sputtering, vacuum deposition includes heating deposition, electron beam deposition, ion plating, and CVD includes hot wire CVD and plasma CVD. Absent.

有機物半導体材料としては、ペンタセンやテトラセンなどのアセン類、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物(NTCDA)やナフタレンテトラカルボン酸ジイミド(NTCDI)、あるいはポリチオフェンやポリアニリン、ポリ-p-フェニレンビニレン、ポリアセチレン、ポリジアセチレン、ポリチエニレンビニレンといった共役高分子を挙げることができるが、これらに限定されるものではない。これらの材料は実質的に透明であり、バンドギャップが2.8eV以上、好ましくはバンドギャップが3.2eV以上であることが望ましい。これらの有機半導体材料は、スクリーン印刷、反転印刷、インクジェット法、スピンコート、ディプコート、蒸着法等で形成されるが、これらに限定されるものではない。   Organic semiconductor materials include acenes such as pentacene and tetracene, naphthalenetetracarboxylic dianhydride (NTCDA) and naphthalenetetracarboxylic diimide (NTCDI), or polythiophene, polyaniline, poly-p-phenylene vinylene, polyacetylene, polydiacetylene. Examples thereof include, but are not limited to, conjugated polymers such as polythienylene vinylene. These materials are substantially transparent and have a band gap of 2.8 eV or more, and preferably a band gap of 3.2 eV or more. These organic semiconductor materials are formed by screen printing, reversal printing, ink-jet method, spin coating, dip coating, vapor deposition, or the like, but are not limited thereto.

本発明で用いられる薄膜トランジスタのゲート絶縁膜8に用いる材料は、特に限定しないが、酸化シリコン、窒化シリコン、シリコンオキシナイトライド(SiNxOy)、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化イットリウム、酸化ハフニウム、ハフニウムアルミネート、酸化ジルコニア、酸化チタン等の無機材料、または、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のポリアクリレート、PVA(ポリビニルアルコール)、PS(ポリスチレン)、透明性ポリイミド、ポリエステル、エポキシ、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。ゲートリーク電流を抑えるためには、絶縁材料の抵抗率は1011Ωcm以上、望ましくは1014Ωcm以上であることが好ましい。
絶縁層は真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法、レーザーアブレーション法、プラズマCVD法、光CVD法、ホットワイヤーCVD法、スピンコート、ディップコート、スクリーン印刷などの方法を用いて形成される。絶縁層の厚さは50nm〜2μmであることが望ましい。これらのゲート絶縁膜は単層として用いても構わないし、複数の層を積層したものを用いても構わないし、また成長方向に向けて組成を傾斜したものでも構わない。
The material used for the gate insulating film 8 of the thin film transistor used in the present invention is not particularly limited, but silicon oxide, silicon nitride, silicon oxynitride (SiNxOy), aluminum oxide, tantalum oxide, yttrium oxide, hafnium oxide, hafnium aluminate , Inorganic materials such as zirconia and titanium oxide, or polyacrylates such as PMMA (polymethyl methacrylate), PVA (polyvinyl alcohol), PS (polystyrene), transparent polyimide, polyester, epoxy, polyvinylphenol, polyvinyl alcohol, etc. Although it is mentioned, it is not limited to these. In order to suppress the gate leakage current, the resistivity of the insulating material is preferably 10 11 Ωcm or more, and preferably 10 14 Ωcm or more.
The insulating layer is formed using a method such as vacuum deposition, ion plating, sputtering, laser ablation, plasma CVD, photo CVD, hot wire CVD, spin coating, dip coating, or screen printing. The thickness of the insulating layer is desirably 50 nm to 2 μm. These gate insulating films may be used as a single layer, may be a laminate of a plurality of layers, or may have a composition inclined in the growth direction.

本発明で用いられる薄膜トランジスタの構成は特に限定されない。ボトムコンタクト型、トップコンタクト型のどちらであっても構わない。ただし有機半導体を用いる場合は、ゲート電極、ゲート絶縁膜、ソース電極およびドレイン電極、有機半導体の順に素子を作成するボトムコンタクト型が望ましい。なぜなら、有機半導体を形成してから次工程のプラズマプロセスなどに有機半導体を曝すと半導体層がダメージを受けるからである。また本発明で用いられる薄膜トランジスタ上に層間絶縁膜12を設けさらにその上にドレイン電極と電気的に接続されている画素電極13を設けることで、開口率を高くすることは好適に行われる。
層間絶縁膜12としては絶縁性で実質的に透明であれば特に限定されない。例えば、酸化シリコン、窒化シリコン、シリコンオキシナイトライド(SiNxOy)、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化イットリウム、酸化ハフニウム、ハフニウムアルミネート、酸化ジルコニア、酸化チタン等の無機材料、または、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のポリアクリレート、PVA(ポリビニルアルコール)、PS(ポリスチレン)、透明性ポリイミド、ポリエステル、エポキシ、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。層間絶縁膜はゲート絶縁膜と同じ材料であっても構わないし、異なる材料であっても構わない。これらの層間絶縁膜は単層として用いても構わないし、複数の層を積層したものを用いても構わない。
またボトムゲート構造の素子の場合は半導体層の上を覆うような保護膜を設けることも好ましい。保護膜を用いることで、半導体層が湿度などで経時変化を受けたり、層間絶縁膜から影響を受けたりすることを防ぐことができる。保護膜として酸化シリコン、窒化シリコン、シリコンオキシナイトライド(SiNxOy)、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化イットリウム、酸化ハフニウム、ハフニウムアルミネート、酸化ジルコニア、酸化チタン等の無機材料、または、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のポリアクリレート、PVA(ポリビニルアルコール)、PS(ポリスチレン)、透明性ポリイミド、ポリエステル、エポキシ、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、フッ素系樹脂等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。これらの保護膜は単層として用いても構わないし、複数の層を積層したものを用いても構わない。
The structure of the thin film transistor used in the present invention is not particularly limited. Either a bottom contact type or a top contact type may be used. However, when an organic semiconductor is used, a bottom contact type in which elements are formed in the order of a gate electrode, a gate insulating film, a source electrode and a drain electrode, and an organic semiconductor is desirable. This is because if the organic semiconductor is exposed to a plasma process or the like in the next step after the organic semiconductor is formed, the semiconductor layer is damaged. Further, it is preferable to increase the aperture ratio by providing the interlayer insulating film 12 on the thin film transistor used in the present invention and further providing the pixel electrode 13 electrically connected to the drain electrode thereon.
The interlayer insulating film 12 is not particularly limited as long as it is insulative and substantially transparent. For example, silicon oxide, silicon nitride, silicon oxynitride (SiNxOy), aluminum oxide, tantalum oxide, yttrium oxide, hafnium oxide, hafnium aluminate, zirconia oxide, titanium oxide and other inorganic materials, or PMMA (polymethyl methacrylate) Examples thereof include, but are not limited to, polyacrylates such as PVA (polyvinyl alcohol), PS (polystyrene), transparent polyimide, polyester, epoxy, polyvinylphenol, and polyvinyl alcohol. The interlayer insulating film may be the same material as the gate insulating film or may be a different material. These interlayer insulating films may be used as a single layer, or a laminate of a plurality of layers may be used.
In the case of an element having a bottom gate structure, it is also preferable to provide a protective film that covers the semiconductor layer. By using the protective film, it is possible to prevent the semiconductor layer from being changed with time due to humidity or the like or affected by the interlayer insulating film. As protective film, inorganic materials such as silicon oxide, silicon nitride, silicon oxynitride (SiNxOy), aluminum oxide, tantalum oxide, yttrium oxide, hafnium oxide, hafnium aluminate, zirconia oxide, titanium oxide, or PMMA (polymethyl methacrylate) ), And the like, but not limited to these. PVA (polyvinyl alcohol), PS (polystyrene), transparent polyimide, polyester, epoxy, polyvinylphenol, polyvinyl alcohol, fluororesin and the like. These protective films may be used as a single layer or may be a laminate of a plurality of layers.

本発明の画素電極は薄膜トランジスタのドレイン電極と電気的に接続していなければならい。具体的には、層間絶縁膜をスクリーン印刷などの方法でパターン印刷してドレイン電極の部分に層間絶縁膜を設けない方法などや、層間絶縁膜を全面に塗布し、そのあとレーザービーム等相関絶縁膜に穴を空ける方法などが挙げられる。   The pixel electrode of the present invention must be electrically connected to the drain electrode of the thin film transistor. Specifically, the interlayer insulation film is patterned by screen printing or the like, and the interlayer insulation film is not provided on the drain electrode, or the interlayer insulation film is applied over the entire surface and then correlated with laser beams, etc. For example, a method of making a hole in the film may be mentioned.

本発明で用いられる透過型カラーフィルター4は赤色フィルター(R)、緑色フィルター(G)、青色カラーフィルター(B)の3種類、もしくは赤色フィルター(R)、緑色フィルター(G)、青色カラーフィルター(B)、およびブラックマトリックス(BM)から形成されていることが好ましいがこれらに限定されるものではない。
言い換えると、透過型カラーフィルター4は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に設けられ、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有している。
前記カラーフィルター着色層はその各色フィルターをそれぞれ所定幅の線条(ストライプ)マトリクス状、または所定サイズの矩形マトリクス状等、適宜パターン状にパターニングされている。また着色パターン形成後に、着色パターンを保護し、カラーフィルター層の凸凹を小さくするために、カラーフィルター層上に透明なオーバーコートが好適に設けられる。
本発明のカラーフィルターおよび実質的に透明な半導体回路は実質的に透明な基材の互いに異なる面にお互いに位置合わせを行いながら形成される。カラーフィルターと半導体回路はどちらが先に形成されても構わない。また一方が形成されてから他方を形成する際にプロセス中にダメージを受けないために、一時的に保護フィルムを設けることもまた好適に行われる。
すなわち、基材3の厚さ方向の一方の面にカラーフィルターを設けた後、基材3がカラーフィルターの反対側に臨む面に、半導体回路を、カラーフィルターのフィルター配列パターンに位置合わせして設けてもよいし、基材3の厚さ方向の一方の面に半導体回路を設けた後、基材3が半導体回路の反対側に臨む面に、カラーフィルターを、そのフィルター配列パターンを半導体回路に位置合わせして設けてもよい。
The transmissive color filter 4 used in the present invention has three types of red filter (R), green filter (G), and blue color filter (B), or red filter (R), green filter (G), and blue color filter ( Although it is preferable that it is formed from B) and a black matrix (BM), it is not limited to these.
In other words, the transmissive color filter 4 is provided on one surface in the thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate, and has a filter arrangement pattern in which red filters, green filters, and blue filters are regularly arranged. is doing.
In the color filter coloring layer, the respective color filters are appropriately patterned in a linear (stripe) matrix shape having a predetermined width or a rectangular matrix shape having a predetermined size. In addition, a transparent overcoat is suitably provided on the color filter layer in order to protect the color pattern and reduce the unevenness of the color filter layer after forming the colored pattern.
The color filter and the substantially transparent semiconductor circuit of the present invention are formed while aligning each other on different surfaces of a substantially transparent substrate. Either the color filter or the semiconductor circuit may be formed first. Moreover, in order not to receive a damage during a process when forming the other after forming one side, providing a protective film temporarily is also performed suitably.
That is, after providing a color filter on one surface in the thickness direction of the substrate 3, the semiconductor circuit is aligned with the filter arrangement pattern of the color filter on the surface where the substrate 3 faces the opposite side of the color filter. After the semiconductor circuit is provided on one surface in the thickness direction of the base material 3, a color filter is provided on the surface of the base material 3 facing the opposite side of the semiconductor circuit, and the filter arrangement pattern is provided on the semiconductor circuit. May be provided in alignment with each other.

(実施例1)
図1および図2に本実施例の断面図を示す。
図1は本実施例の透過型表示装置のほぼ1画素分の部分断面図、図2は本実施例の透過型表示装置の概略断面図である。
実質的に透明な板状の基材3としてコーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)を用い、その一方の面にR(赤)、G(緑)、B(青)のカラーフィルター層4を形成し、その上に透明樹脂からなるオーバーコートを付与してから、カラーフィルター層の上に保護フィルムを貼った。
続いて、基材3のカラーフィルターを形成した面とは逆の面に、言い換えると基材3がカラーフィルターの反対側に臨む面に、ITO薄膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成した。
そして、該ITO薄膜をカラーフィルター層の各画素と位置合わせをしながら、所望の形状にパターニングし、ゲート電極5および補助コンデンサー電極6とした。
さらにその上に窒化シリコン(Si3N4)のターゲットを用いてRFスパッタ法でSiON薄膜を150nm形成し、ゲート絶縁膜7とした。
さらに、半導体活性層10として、InGaZnO4ターゲットを用いアモルファスIn-Ga-Zn-O薄膜をRFスパッタ法で40nm形成し、所望の形状にパターニングした。その上に、レジストを塗布し、乾燥、現像を行った後、ITO膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成し、リフトオフを行いソース電極8およびドレイン電極9とした。
さらに、印刷法を用いてエポキシ系樹脂を5μmパターン印刷し、層間絶縁膜11を形成した。
そして最後にITO膜をマグネトロンスパッタ法で100nm成膜しパターニングを行い、画素電極12とし、その後、カラーフィルター上に形成した保護フィルムを剥がした。
言い換えると、基材3が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンに位置合わせして設けた。
各膜の作成条件を表1に示す。こうして作成された実質的に透明な半導体回路の上に配向膜14を塗布した。
そして、共通電極17としてITO薄膜を70nm成膜した液晶表示要素用基材18 [コーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)]上に配向膜16を塗布して半導体回路を形成した基材をスペーサーを介して配置し、その後そのスペーサー間に液晶15を封入した。
最後に、実質的に透明な基材3のカラーフィルターが形成されていない面に偏光板1(13)を、液晶表示要素用基材18の共通電極が形成されていない面に偏光板2(19)を配置して実施例1の表示装置を作製した。
これにより、表示装置は、その視認側から見て、カラーフィルター、実質的に透明なる基材、実質的に透明な薄膜トランジスタおよび該トランジスタと電気的接点を有する実質的に透明な導電性材料によって構成した配線からなる半導体回路、透過型液晶表示要素の順に配置されて構成されることになる。
Example 1
1 and 2 are sectional views of this embodiment.
FIG. 1 is a partial cross-sectional view of approximately one pixel of the transmissive display device of this embodiment, and FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the transmissive display device of this embodiment.
A non-alkali glass 1737 (thickness 0.5 mm) manufactured by Corning Inc. is used as the substantially transparent plate-like substrate 3, and R (red), G (green), and B (blue) colors are provided on one surface thereof. After forming the filter layer 4 and providing an overcoat made of a transparent resin thereon, a protective film was pasted on the color filter layer.
Subsequently, an ITO thin film having a thickness of 50 nm was formed by a DC magnetron sputtering method on the surface opposite to the surface on which the color filter was formed on the base material 3, in other words, on the surface on which the base material 3 faced the other side of the color filter.
Then, the ITO thin film was patterned into a desired shape while being aligned with each pixel of the color filter layer, and a gate electrode 5 and an auxiliary capacitor electrode 6 were obtained.
Further, a SiON thin film having a thickness of 150 nm was formed thereon by RF sputtering using a silicon nitride (Si 3 N 4) target to form a gate insulating film 7.
Further, as the semiconductor active layer 10, an InGaZnO4 target was used to form an amorphous In-Ga-Zn-O thin film with a thickness of 40 nm by RF sputtering and patterned into a desired shape. On top of that, a resist was applied, dried and developed, and then an ITO film was formed to a thickness of 50 nm by DC magnetron sputtering, and lift-off was performed to form a source electrode 8 and a drain electrode 9.
Further, the interlayer resin film 11 was formed by printing a 5 μm pattern of epoxy resin using a printing method.
Finally, an ITO film having a thickness of 100 nm was formed by magnetron sputtering and patterned to form the pixel electrode 12, and then the protective film formed on the color filter was peeled off.
In other words, on the surface of the substrate 3 facing the opposite side of the color filter, a substantially transparent thin film transistor and a wiring made of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the thin film transistor are provided. A semiconductor circuit is provided in alignment with the filter array pattern.
Table 1 shows the conditions for forming each film. An alignment film 14 was applied on the substantially transparent semiconductor circuit thus prepared.
Then, an alignment film 16 was applied on a liquid crystal display element base material 18 [Corning-free alkali glass 1737 (thickness: 0.5 mm)] on which an ITO thin film was formed to a thickness of 70 nm as the common electrode 17 to form a semiconductor circuit. The substrate was placed through a spacer, and then the liquid crystal 15 was sealed between the spacers.
Finally, the polarizing plate 1 (13) is provided on the surface of the substantially transparent base material 3 on which the color filter is not formed, and the polarizing plate 2 (on the surface on which the common electrode of the liquid crystal display element base material 18 is not formed). 19) was arranged to produce a display device of Example 1.
As a result, the display device includes a color filter, a substantially transparent base material, a substantially transparent thin film transistor, and a substantially transparent conductive material having electrical contacts with the transistor, as viewed from the viewing side. The semiconductor circuit composed of the wirings arranged in this order and the transmissive liquid crystal display element are arranged in this order.

Figure 2007298605
Figure 2007298605

(実施例2)
図1および図2に本実施例の断面図を示す。
図1は本実施例の透過型表示装置のほぼ1画素分の部分断面図、図2は本実施例の透過型表示装置の概略断面図である。
実質的に透明な板状の基材3としてコーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)を用い、その一方の面にITO薄膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成した。
そして、該ITO薄膜を所望の形状にパターニングし、ゲート電極5および補助コンデンサー電極6とした。
さらにその上に窒化シリコン(Si3N4)のターゲットを用いてRFスパッタ法でSiON薄膜を150nm形成し、ゲート絶縁膜7とした。
さらに、半導体活性層10として、意図的にドーパントを混入していないZnOターゲットを用いZnO薄膜をRFスパッタ法で40nm形成し、所望の形状にパターニングした。
その上に、レジストを塗布し、乾燥、現像を行った後、ITO膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成し、リフトオフを行いソース電極8およびドレイン電極9とした。
さらに、印刷法を用いてエポキシ系樹脂を5μmパターン印刷し、層間絶縁膜11を形成した。
そして最後にITO膜をマグネトロンスパッタ法で100nm成膜しパターニングを行い、画素電極12とし、半導体回路上に保護フィルムを貼った。
各膜の作成条件を表2に示す。
続いて、基材3の半導体回路が形成されていない面に、R(赤)、G(緑)、B(青)のカラーフィルター層4を形成し、言い換えると基材3が半導体回路の反対側に臨む面に、カラーフィルターを、そのフィルター配列パターンを半導体回路に位置合わせして形成し、その上に透明樹脂からなるオーバーコートを付与してから、半導体回路上の保護フィルムを剥がした。こうして作成された実質的に透明な半導体回路の上に配向膜14を塗布した。
そして、共通電極17としてITO薄膜を70nm成膜した液晶表示要素用基材18 [コーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)]上に配向膜16を塗布して半導体回路を形成した基材をスペーサーを介して配置し、その後そのスペーサー間に液晶15を封入した。
最後に、実質的に透明な基材3のカラーフィルターが形成されていない面に偏光板1(13)を、液晶表示要素用基材18の共通電極が形成されていない面に偏光板2(19)を配置して実施例2の表示装置を作製した。
これにより、表示装置は、その視認側から見て、カラーフィルター、実質的に透明なる基材、実質的に透明な薄膜トランジスタおよび該トランジスタと電気的接点を有する実質的に透明な導電性材料によって構成した配線からなる半導体回路、透過型液晶表示要素の順に配置されて構成されることになる。
(Example 2)
1 and 2 are sectional views of this embodiment.
FIG. 1 is a partial cross-sectional view of approximately one pixel of the transmissive display device of this embodiment, and FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the transmissive display device of this embodiment.
An alkali-free glass 1737 (thickness 0.5 mm) manufactured by Corning was used as the substantially transparent plate-like substrate 3, and an ITO thin film was formed on one surface thereof by 50 nm by a DC magnetron sputtering method.
The ITO thin film was patterned into a desired shape to form a gate electrode 5 and an auxiliary capacitor electrode 6.
Further, a SiON thin film having a thickness of 150 nm was formed thereon by RF sputtering using a silicon nitride (Si 3 N 4) target to form a gate insulating film 7.
Further, as the semiconductor active layer 10, a ZnO thin film having a thickness of 40 nm was formed by RF sputtering using a ZnO target intentionally not mixed with a dopant, and was patterned into a desired shape.
On top of that, a resist was applied, dried and developed, and then an ITO film was formed to a thickness of 50 nm by DC magnetron sputtering, and lift-off was performed to form a source electrode 8 and a drain electrode 9.
Further, the interlayer resin film 11 was formed by printing a 5 μm pattern of epoxy resin using a printing method.
Finally, an ITO film having a thickness of 100 nm was formed by magnetron sputtering and patterned to form the pixel electrode 12, and a protective film was pasted on the semiconductor circuit.
Table 2 shows the conditions for forming each film.
Subsequently, the color filter layer 4 of R (red), G (green), and B (blue) is formed on the surface of the substrate 3 where the semiconductor circuit is not formed. In other words, the substrate 3 is opposite to the semiconductor circuit. A color filter was formed on the surface facing the side by aligning the filter arrangement pattern with the semiconductor circuit, and an overcoat made of a transparent resin was applied thereon, and then the protective film on the semiconductor circuit was peeled off. An alignment film 14 was applied on the substantially transparent semiconductor circuit thus prepared.
Then, an alignment film 16 was applied on a liquid crystal display element base material 18 [non-alkali glass 1737 (thickness: 0.5 mm) manufactured by Corning, Inc.] on which a ITO thin film of 70 nm was formed as the common electrode 17 to form a semiconductor circuit. The substrate was placed through a spacer, and then the liquid crystal 15 was sealed between the spacers.
Finally, the polarizing plate 1 (13) is formed on the surface of the substantially transparent base material 3 on which the color filter is not formed, and the polarizing plate 2 (on the surface on which the common electrode of the liquid crystal display element base material 18 is not formed). 19) was arranged to produce a display device of Example 2.
As a result, the display device includes a color filter, a substantially transparent base material, a substantially transparent thin film transistor, and a substantially transparent conductive material having an electrical contact with the transistor as viewed from the viewing side. The semiconductor circuit composed of the wirings arranged in this order and the transmissive liquid crystal display element are arranged in this order.

Figure 2007298605
Figure 2007298605

実施例1、実施例2で示したように、実質的に透明な基材の片面に透明な半導体回路を、もう一方の面にカラーフィルターを形成し、透過型液晶表示要素の前面に配置することで、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易で製造コストの安い透過型液晶表示装置を実現できる。
上記は一例であり、当業者であれば上記説明に基づいて種々の改良や変更が可能であることは明らかであろう。
As shown in Example 1 and Example 2, a transparent semiconductor circuit is formed on one side of a substantially transparent base material, and a color filter is formed on the other side, and is arranged on the front side of the transmissive liquid crystal display element. Thus, it is possible to realize a transmissive liquid crystal display device in which the alignment of the color filter and the semiconductor circuit is easy and the manufacturing cost is low.
The above is an example, and it will be apparent to those skilled in the art that various improvements and modifications can be made based on the above description.

本発明の表示装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the display apparatus of this invention. 本発明の実施例による透過型液晶表示装置の一部断面図である。1 is a partial cross-sectional view of a transmissive liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…透過型液晶表示要素、2…実質的に透明な半導体回路、3…実質的に透明な基材、4…カラーフィルター、5…ゲート電極、6…補助コンデンサー電極、7…ゲート絶縁膜、8…ソース電極、9…ドレイン電極、10…半導体活性層、11…層間絶縁膜、12…画素電極、13…偏光板1、14…配向膜1、15…液晶、16…配向膜2、17…共通電極、18…実質的に透明な液晶表示要素用基材、19…偏光板2。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Transmission type liquid crystal display element, 2 ... Substantially transparent semiconductor circuit, 3 ... Substantially transparent base material, 4 ... Color filter, 5 ... Gate electrode, 6 ... Auxiliary capacitor electrode, 7 ... Gate insulating film, DESCRIPTION OF SYMBOLS 8 ... Source electrode, 9 ... Drain electrode, 10 ... Semiconductor active layer, 11 ... Interlayer insulating film, 12 ... Pixel electrode, 13 ... Polarizing plate 1, 14 ... Alignment film 1, 15 ... Liquid crystal, 16 ... Alignment film 2, 17 ... Common electrode, 18 ... Substantially transparent substrate for liquid crystal display element, 19 ... Polarizing plate 2.

Claims (8)

実質的に透明な板状の基材と、
前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、
前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に設けられた半導体回路とを備え、
前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有する、
ことを特徴とする構造体。
A substantially transparent plate-like substrate;
A color filter provided on one surface in the thickness direction of the substrate;
A semiconductor circuit provided on the surface of the base material facing the opposite side of the color filter;
The semiconductor circuit includes a substantially transparent thin film transistor and a wiring formed of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the transistor.
A structure characterized by that.
実質的に透明な板状の基材と、
前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、
前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に設けられた半導体回路と、
前記半導体回路が前記基材の反対側に臨む面に設けられ前記半導体回路によって駆動される透過型液晶表示要素とを備え、
前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有する、
ことを特徴とする透過型液晶表示装置。
A substantially transparent plate-like substrate;
A color filter provided on one surface in the thickness direction of the substrate;
A semiconductor circuit provided on the surface of the base material facing the opposite side of the color filter;
A transmissive liquid crystal display element provided on a surface facing the opposite side of the substrate and driven by the semiconductor circuit;
The semiconductor circuit includes a substantially transparent thin film transistor and a wiring formed of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the transistor.
A transmissive liquid crystal display device.
前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が金属酸化物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置。   The thin film transistor includes source, drain, and gate electrodes, a semiconductor active layer, and a gate insulating film, and the semiconductor active layer is made of a material mainly composed of a metal oxide. The structure according to claim 1 or the transmissive liquid crystal display device according to claim 2. 前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が有機物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置。   2. The thin film transistor according to claim 1, wherein the thin film transistor includes a source electrode, a drain electrode, a gate electrode, a semiconductor active layer, and a gate insulating film, and the semiconductor active layer is made of a material mainly composed of an organic substance. A transmissive liquid crystal display device according to claim 2. 実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、
前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンに位置合わせして設ける工程と、
を含むことを特徴とする半導体回路の製造方法。
Providing a color filter having a filter arrangement pattern in which a red filter, a green filter, and a blue filter are regularly arranged on one surface in a thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate;
A semiconductor circuit having a substantially transparent thin film transistor and a wiring made of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the thin film transistor on a surface of the base material facing the opposite side of the color filter. Providing a position aligned with the filter array pattern,
A method for manufacturing a semiconductor circuit, comprising:
実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を設ける工程と、
前記基材が前記半導体回路の反対側に臨む面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを、前記フィルター配列パターンを前記半導体回路に位置合わせして設ける工程と、
を含むことを特徴とする半導体回路の製造方法。
Wiring constituted by a substantially transparent conductive material having a substantially transparent thin film transistor and an electrical contact conducted to the thin film transistor on one surface in the thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate Providing a semiconductor circuit having:
A color filter having a filter arrangement pattern in which a red filter, a green filter, and a blue filter are regularly arranged on a surface of the base material facing the opposite side of the semiconductor circuit, and aligning the filter arrangement pattern with the semiconductor circuit Providing, and
A method for manufacturing a semiconductor circuit, comprising:
実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、
前記基材が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンに位置合わせして設ける工程と、
前記半導体回路が前記基材の反対側に臨む面に透過型液晶表示要素を設ける工程と、
を含むことを特徴とする透過型液晶表示装置の製造方法。
Providing a color filter having a filter arrangement pattern in which a red filter, a green filter, and a blue filter are regularly arranged on one surface in a thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate;
A semiconductor circuit having a substantially transparent thin film transistor and a wiring made of a substantially transparent conductive material having an electrical contact conducted to the thin film transistor on a surface of the base material facing the opposite side of the color filter. Providing a position aligned with the filter array pattern,
Providing a transmissive liquid crystal display element on the surface of the semiconductor circuit facing the opposite side of the substrate;
A method for manufacturing a transmissive liquid crystal display device, comprising:
実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を設ける工程と、
前記基材が前記半導体回路の反対側に臨む面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを、前記フィルター配列パターンを前記半導体回路に位置合わせして設ける工程と、
前記半導体回路が前記基材の反対側に臨む面に透過型液晶表示要素を設ける工程と、
を含むことを特徴とする透過型液晶表示装置の製造方法。
Wiring constituted by a substantially transparent conductive material having a substantially transparent thin film transistor and an electrical contact conducted to the thin film transistor on one surface in the thickness direction of a substantially transparent plate-like substrate Providing a semiconductor circuit having:
A color filter having a filter arrangement pattern in which a red filter, a green filter, and a blue filter are regularly arranged on a surface of the base material facing the opposite side of the semiconductor circuit, and aligning the filter arrangement pattern with the semiconductor circuit Providing, and
Providing a transmissive liquid crystal display element on the surface of the semiconductor circuit facing the opposite side of the substrate;
A method for manufacturing a transmissive liquid crystal display device, comprising:
JP2006124902A 2006-04-28 2006-04-28 Structure, transmissive liquid crystal display device, semiconductor circuit manufacturing method, and transmissive liquid crystal display device manufacturing method Expired - Fee Related JP5278637B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006124902A JP5278637B2 (en) 2006-04-28 2006-04-28 Structure, transmissive liquid crystal display device, semiconductor circuit manufacturing method, and transmissive liquid crystal display device manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006124902A JP5278637B2 (en) 2006-04-28 2006-04-28 Structure, transmissive liquid crystal display device, semiconductor circuit manufacturing method, and transmissive liquid crystal display device manufacturing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007298605A true JP2007298605A (en) 2007-11-15
JP5278637B2 JP5278637B2 (en) 2013-09-04

Family

ID=38768164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006124902A Expired - Fee Related JP5278637B2 (en) 2006-04-28 2006-04-28 Structure, transmissive liquid crystal display device, semiconductor circuit manufacturing method, and transmissive liquid crystal display device manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5278637B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010016072A (en) * 2008-07-02 2010-01-21 Canon Inc Thin-film transistor
JP2010032643A (en) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd Active matrix substrate, display panel, display device, and manufacturing method for active matrix substrate
JP2010032642A (en) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd Active matrix substrate, display panel, display device, and manufacturing method for active matrix substrate
JP2010237485A (en) * 2009-03-31 2010-10-21 Dainippon Printing Co Ltd Method of manufacturing thin film transistor array, and display device
JP2012133374A (en) * 2012-01-25 2012-07-12 Sumitomo Chemical Co Ltd Active matrix substrate, display panel, display device, and transistor element
JP2014241423A (en) * 2008-07-31 2014-12-25 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device
JP2015130514A (en) * 2009-10-09 2015-07-16 株式会社半導体エネルギー研究所 semiconductor device
JP2021064799A (en) * 2009-08-07 2021-04-22 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61231586A (en) * 1985-04-05 1986-10-15 株式会社リコー Color liquid crystal display unit
JPH05264989A (en) * 1992-03-19 1993-10-15 Idemitsu Kosan Co Ltd Color liquid crystal display element
JP2001166301A (en) * 1999-12-06 2001-06-22 Seiko Epson Corp Liquid crystal display device with built-in back light and method of manufacture
JP2001174838A (en) * 1999-12-17 2001-06-29 Sharp Corp Method for manufacturing substrate for color liquid crystal display element and method for manufacturing color liquid crystal display element
JP2002319682A (en) * 2002-01-04 2002-10-31 Japan Science & Technology Corp Transistor and semiconductor device
JP2003050405A (en) * 2000-11-15 2003-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Thin film transistor array, its manufacturing method and display panel using the same array
JP2005134693A (en) * 2003-10-31 2005-05-26 Optrex Corp Liquid crystal display device
JP2006093656A (en) * 2004-09-22 2006-04-06 Lg Phillips Lcd Co Ltd Liquid crystal displaying apparatus using low molecular organic semiconductor material, and manufacturing method thereof

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61231586A (en) * 1985-04-05 1986-10-15 株式会社リコー Color liquid crystal display unit
JPH05264989A (en) * 1992-03-19 1993-10-15 Idemitsu Kosan Co Ltd Color liquid crystal display element
JP2001166301A (en) * 1999-12-06 2001-06-22 Seiko Epson Corp Liquid crystal display device with built-in back light and method of manufacture
JP2001174838A (en) * 1999-12-17 2001-06-29 Sharp Corp Method for manufacturing substrate for color liquid crystal display element and method for manufacturing color liquid crystal display element
JP2003050405A (en) * 2000-11-15 2003-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Thin film transistor array, its manufacturing method and display panel using the same array
JP2002319682A (en) * 2002-01-04 2002-10-31 Japan Science & Technology Corp Transistor and semiconductor device
JP2005134693A (en) * 2003-10-31 2005-05-26 Optrex Corp Liquid crystal display device
JP2006093656A (en) * 2004-09-22 2006-04-06 Lg Phillips Lcd Co Ltd Liquid crystal displaying apparatus using low molecular organic semiconductor material, and manufacturing method thereof

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010016072A (en) * 2008-07-02 2010-01-21 Canon Inc Thin-film transistor
JP2010032643A (en) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd Active matrix substrate, display panel, display device, and manufacturing method for active matrix substrate
JP2010032642A (en) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd Active matrix substrate, display panel, display device, and manufacturing method for active matrix substrate
US12068329B2 (en) 2008-07-31 2024-08-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
JP2014241423A (en) * 2008-07-31 2014-12-25 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device
US9496406B2 (en) 2008-07-31 2016-11-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
US11296121B2 (en) 2008-07-31 2022-04-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
JP2010237485A (en) * 2009-03-31 2010-10-21 Dainippon Printing Co Ltd Method of manufacturing thin film transistor array, and display device
JP2021064799A (en) * 2009-08-07 2021-04-22 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device
JP2015130514A (en) * 2009-10-09 2015-07-16 株式会社半導体エネルギー研究所 semiconductor device
US9911856B2 (en) 2009-10-09 2018-03-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2016213489A (en) * 2009-10-09 2016-12-15 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device
JP2012133374A (en) * 2012-01-25 2012-07-12 Sumitomo Chemical Co Ltd Active matrix substrate, display panel, display device, and transistor element

Also Published As

Publication number Publication date
JP5278637B2 (en) 2013-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5250944B2 (en) Structure, transmissive liquid crystal display device, semiconductor circuit manufacturing method, and transmissive liquid crystal display device manufacturing method
JP5312728B2 (en) Display device and manufacturing method thereof
KR101891841B1 (en) Thin film transistor, method for manufacturing same, and image display device provided with thin film transistor
JP5261979B2 (en) Image display device
JP5298407B2 (en) Reflective display device and method of manufacturing reflective display device
US7872261B2 (en) Transparent thin film transistor and image display unit
JP5278637B2 (en) Structure, transmissive liquid crystal display device, semiconductor circuit manufacturing method, and transmissive liquid crystal display device manufacturing method
US8487308B2 (en) Thin film transistor and image display unit
US11056509B2 (en) Display device having a plurality of thin-film transistors with different semiconductors
US20070252928A1 (en) Structure, transmission type liquid crystal display, reflection type display and manufacturing method thereof
US8735883B2 (en) Oxide thin film transistor and method of fabricating the same
KR101949538B1 (en) Thin film transistor, manufacturing method therefor and image display device
TWI519879B (en) Display panel and display apparatus including the same
KR20150060205A (en) Oxide thin film transitor and method of fabricating the same
US9589997B2 (en) Thin film transistor and image displaying apparatus
KR101622733B1 (en) Method of fabricating oxide thin film transistor
JP2008076823A (en) Display device
KR101697586B1 (en) Oxide thin film transistor and method of fabricating the same
US20090213039A1 (en) Display device
JP5124976B2 (en) Display device and manufacturing method thereof
JP2007298602A (en) Structure, transmission type liquid crystal display device, manufacturing method of semiconductor circuit and manufacturing method of transmission type liquid crystal display device
KR101605723B1 (en) Method of fabricating oxide thin film transistor
JP5169896B2 (en) Thin film transistor and image display device
JP2014154701A (en) Thin film transistor and image display device
JP2013201201A (en) Thin film transistor array, thin film transistor array manufacturing method and image display device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090323

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110819

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110824

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120424

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120620

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121218

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130318

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20130326

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130424

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130507

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5278637

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees