JP2007134321A - Light emitting apparatus, method for manufacturing same, exposure apparatus, and image forming apparatus - Google Patents

Light emitting apparatus, method for manufacturing same, exposure apparatus, and image forming apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting apparatus that allows sealing to be carried out through a simple step using a thermosetting resin as a material for a sealing part, and that ensures a sufficient gas barrier property in spite of the use of the simple sealing step without causing any damage to an organic electroluminescent element resulting from heat, and to provide a method of manufacturing this light emitting apparatus, an exposure apparatus using this light emitting apparatus, and an image forming apparatus equipped with this light emitting apparatus. <P>SOLUTION: The apparatus is configured to include a substrate 2, a plurality of light emitting parts LS formed using a polymer organic electroluminescent material on the substrate 2, an electrode (cathode 7) covering the light emitting parts LS, and a sealing part 10 that is composed of a thermosetting resin and covers a region wider than at least this electrode (cathode 7). <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は有機エレクトロルミネッセンス素子を設けた発光装置、この発光装置を組み込んだ露光装置およびこの露光装置を搭載した画像形成装置に関するものである。   The present invention relates to a light emitting device provided with an organic electroluminescence element, an exposure device incorporating the light emitting device, and an image forming apparatus equipped with the exposure device.

エレクトロルミネッセンス素子とは固体蛍光性物質の電界発光を利用した発光デバイスであり、現在無機系材料を発光体として用いた無機エレクトロルミネッセンス素子が実用化され、液晶ディスプレイのバックライトやフラットディスプレイなどへの応用展開が一部で図られている。しかし無機エレクトロルミネッセンス素子は発光させるために必要な電圧が100V以上と高くしかも青色発光が難しいため、RGBの三原色によるフルカラー化が困難である。また無機エレクトロルミネッセンス素子は発光体として用いる材料の屈折率が非常に大きいため、界面での全反射などの影響を強く受け、実際の発光に対する空気中への光の取り出し効率が10〜20%程度と低く高効率化が困難である。   An electroluminescent element is a light-emitting device that uses electroluminescence of a solid fluorescent substance. Currently, an inorganic electroluminescent element using an inorganic material as a luminescent material has been put into practical use, and is used for backlights and flat displays of liquid crystal displays. Some applications are being developed. However, since the voltage required for light emission of the inorganic electroluminescent element is as high as 100 V or more and it is difficult to emit blue light, it is difficult to achieve full color using the three primary colors of RGB. In addition, since the inorganic electroluminescent element has a very large refractive index of the material used as a light emitter, it is strongly affected by total reflection at the interface, and the light extraction efficiency into the air for actual light emission is about 10 to 20%. It is difficult to achieve high efficiency.

一方、有機材料を用いたエレクトロルミネッセンス素子に関する研究も古くから注目され様々な検討が行われてきたが、発光効率が非常に悪いことから本格的な実用化研究へは進展しなかった。しかし1987年にコダック社のC.W.Tang氏らにより、発光層を構成する有機材料を正孔輸送層と発光層の2層に分けた機能分離型の積層構造を有する有機エレクトロルミネッセンス素子が提案され、10V以下の低電圧にもかかわらず1000cd/m2以上の高い発光輝度が得られることが明らかとなった(非特許文献1参照)。 On the other hand, research on electroluminescent devices using organic materials has attracted attention for a long time, and various studies have been made. However, since the luminous efficiency is very low, full-scale practical research has not progressed. However, in 1987, Kodak's C.I. W. Tang et al. Proposed an organic electroluminescence device having a function-separated stacked structure in which an organic material constituting a light-emitting layer is divided into a hole transport layer and a light-emitting layer, despite a low voltage of 10 V or less. not 1000 cd / m 2 or more high luminance can be obtained revealed (see non-Patent Document 1).

これ以降、有機エレクトロルミネッセンス素子が俄然注目され始め、現在も同様な機能分離型の積層構造を有する有機エレクトロルミネッセンス素子についての研究が盛んに行われており、特に有機エレクトロルミネッセンス素子の実用化のためには不可欠である高効率化・長寿命化についても十分検討がなされており、近年有機エレクトロルミネッセンス素子を用いたディスプレイなどが実現されるようになった。   Since then, organic electroluminescence elements have attracted a great deal of attention, and research on organic electroluminescence elements having a similar function-separated layered structure has been actively conducted, especially for the practical application of organic electroluminescence elements. High efficiency and longevity, which are indispensable for this, have been fully studied. In recent years, displays using organic electroluminescence elements have been realized.

図12は従来の有機エレクトロルミネッセンス素子の構造を示す断面図である。   FIG. 12 is a cross-sectional view showing the structure of a conventional organic electroluminescence element.

以降、従来の一般的な有機エレクトロルミネッセンス素子の構造について図12を用いて説明する。   Hereinafter, the structure of a conventional general organic electroluminescence element will be described with reference to FIG.

図12に示すように有機エレクトロルミネッセンス素子11は、例えばガラス基板12上にスパッタ法や抵抗加熱蒸着法などにより形成されたITOなどの透明な導電性膜からなる陽極13と、陽極13上に同じく抵抗加熱蒸着法などにより形成されたN,N'−ジフェニル−N,N'−ビス(3−メチルフェニル)−1、1'−ジフェニル−4,4'−ジアミン(以下、TPDと略称する。)などからなる正孔輸送層14と、正孔輸送層14上に抵抗加熱蒸着法などにより形成された8−Hydroxyquinoline Aluminum(以下Alq3と略称する)などからなる有機材料層15と、有機材料層15上に抵抗加熱蒸着法などにより形成された100〜300ナノメートル程度の厚みの金属膜からなる陰極17とを備えている。 As shown in FIG. 12, the organic electroluminescence element 11 includes an anode 13 made of a transparent conductive film such as ITO formed on a glass substrate 12 by a sputtering method, a resistance heating vapor deposition method, or the like. N, N′-diphenyl-N, N′-bis (3-methylphenyl) -1,1′-diphenyl-4,4′-diamine (hereinafter abbreviated as TPD) formed by resistance heating vapor deposition or the like. ), An organic material layer 15 made of 8-hydroxyquinoline aluminum (hereinafter abbreviated as Alq 3 ) formed on the hole transport layer 14 by resistance heating vapor deposition, and the like, and an organic material And a cathode 17 made of a metal film having a thickness of about 100 to 300 nanometers formed on the layer 15 by a resistance heating vapor deposition method or the like.

なお正孔輸送層14と有機材料層15は便宜上一括して単に発光層16と呼称される。この場合発光層16には正孔輸送層14、有機材料層15の他に図示しない正孔注入層、電子注入層、電子輸送層、電子ブロック層(ともに図示せず)などが含まれていてもよい。以下の説明についてもこの例に倣う。   The hole transport layer 14 and the organic material layer 15 are collectively referred to simply as a light emitting layer 16 for convenience. In this case, the light emitting layer 16 includes, in addition to the hole transport layer 14 and the organic material layer 15, a hole injection layer, an electron injection layer, an electron transport layer, and an electron block layer (both not shown). Also good. The following explanation is also based on this example.

18は例えばバスタブ形状を有するガラスによって構成される封止部である。封止部18は少なくとも有機エレクトロルミネッセンス素子11の全面を覆うように設けられ、その外周部はガラス基板12などに接着剤を用いて接着されている。後述するように発光層16を低分子の有機材料層15で構成した有機エレクトロルミネッセンス素子11は高温を嫌うため、一般的には接着剤として例えば紫外線を照射することで硬化する光硬化樹脂が多用されている。   Reference numeral 18 denotes a sealing portion made of glass having a bathtub shape, for example. The sealing portion 18 is provided so as to cover at least the entire surface of the organic electroluminescence element 11, and the outer peripheral portion thereof is bonded to the glass substrate 12 or the like using an adhesive. As will be described later, since the organic electroluminescence element 11 in which the light emitting layer 16 is composed of the low-molecular organic material layer 15 dislikes high temperature, generally, a photo-curing resin that is cured by irradiating, for example, ultraviolet rays is often used as an adhesive. Has been.

上記構成を有する有機エレクトロルミネッセンス素子11の陽極13をプラス極として、また陰極17をマイナス極として図示しない電気回路を介して直流電圧又は直流電流を印加すると、陽極13から正孔輸送層14を介して有機材料層15に正孔が注入され、陰極17から有機材料層15に電子が注入される。この結果陽極13と陰極17とに挟まれた発光層16を構成する有機材料層15では正孔と電子の再結合が生じ、これに伴って生成される励起子が励起状態から基底状態へ移行する際に発光現象が起こる(このように少なくとも陽極13と陰極17に挟まれ、実質的に発光に寄与する部分を以降「発光部」と呼称する。)。   When a DC voltage or a DC current is applied through an electric circuit (not shown) with the anode 13 of the organic electroluminescence element 11 having the above-described configuration as a positive electrode and the cathode 17 as a negative electrode, the anode 13 passes through the hole transport layer 14. Thus, holes are injected into the organic material layer 15 and electrons are injected from the cathode 17 into the organic material layer 15. As a result, in the organic material layer 15 constituting the light-emitting layer 16 sandwiched between the anode 13 and the cathode 17, recombination of holes and electrons occurs, and the excitons generated thereby shift from the excited state to the ground state. In this case, a light emission phenomenon occurs (a portion sandwiched between at least the anode 13 and the cathode 17 and substantially contributing to light emission is hereinafter referred to as a “light emitting portion”).

そしてこのような有機エレクトロルミネッセンス素子11において、発光部を構成する有機材料層15中の蛍光体から出射される光は蛍光体を中心とした全方位に出射され、正孔輸送層14、陽極13、ガラス基板12を経由して光取り出し方向(ガラス基板12方向)から空気中へ出射される。あるいは一旦光取り出し方向とは逆方向へ向かい、陰極17で反射され発光層16、陽極13、ガラス基板12を経由して空気中へ出射される。以上述べたように有機エレクトロルミネッセンス素子11は非常に簡易な構造を有しており、大量生産が可能であり低コスト化やディスプレイなどの表示装置の大面積化が期待できる技術として注目されている。   In such an organic electroluminescence element 11, light emitted from the phosphor in the organic material layer 15 constituting the light emitting part is emitted in all directions centering on the phosphor, and the hole transport layer 14 and the anode 13 are emitted. The light is emitted from the light extraction direction (direction of the glass substrate 12) into the air via the glass substrate 12. Alternatively, the light is once reflected in the direction opposite to the light extraction direction, reflected by the cathode 17 and emitted to the air via the light emitting layer 16, the anode 13, and the glass substrate 12. As described above, the organic electroluminescence element 11 has a very simple structure, and is attracting attention as a technology that can be mass-produced and can be expected to reduce cost and increase the area of a display device such as a display. .

しかしその一方で有機エレクトロルミネッセンス素子11の有する課題の一つとして、水分の影響を受けると発光領域が経時的に収縮(シュリンキング)したり、発光領域内に非発光部位(ダークスポット)が生じることが知られている。シュリンキングやダークスポットの発生や拡大を防止するためには、有機エレクトロルミネッセンス素子11を低湿度状態に保つことが必要であり、前述のごとく有機エレクトロルミネッセンス素子11をガラスなどの封止部18により封止し、封止領域の内部空間を真空状態にしたり、低湿度の不活性ガスを充填するなどの方法が用いられている。また封止の効果をより一層高めるために、バスタブ状の空間に乾燥剤を設けるような場合もある。   However, on the other hand, as one of the problems of the organic electroluminescence element 11, when affected by moisture, the light emitting region shrinks (shrinks) with time, or a non-light emitting portion (dark spot) is generated in the light emitting region. It is known. In order to prevent the occurrence and expansion of shrinking and dark spots, it is necessary to keep the organic electroluminescent element 11 in a low humidity state. As described above, the organic electroluminescent element 11 is sealed by the sealing portion 18 such as glass. Methods such as sealing and vacuuming the internal space of the sealing region or filling with an inert gas of low humidity are used. In order to further enhance the sealing effect, a desiccant may be provided in the bathtub-like space.

さて最近では例えば樹脂からなる有機物層と金属酸化物などからなる無機物層を積層構造とした、いわゆるガスバリア性積層材を有機エレクトロルミネッセンス素子11の封止部18として用いる研究開発も行なわれている。このようなガスバリア性積層材の例としては、(特許文献1)に開示される製造方法が知られている。(特許文献1)では「(前略)無機膜、有機膜の単体層または有機膜/無機膜ガスバリア層の積層化などに多くの検討がなされてきたが、それだけでは決して満足のいくガスバリア性を発現させることはできなかった。」としてフィルムなどの基材上に金属酸化膜または金属窒化膜または金属膜を設け、その上に熱硬化性樹脂からなる有機層を積層し、更にこの有機層の上に第2の金属酸化膜または金属窒化膜または金属膜を設けたガスバリア性積層材において、中間層である有機層を積層した直後に120℃〜180℃の範囲で第1の硬化を行い、第2の金属酸化膜または金属窒化膜または金属膜を設けた後に180℃〜240℃の範囲で第2の熱硬化を行なうものであり、これによって無機膜、有機膜の単体層または有機膜/無機膜ガスバリア層の積層化などでは発現が困難であったガスバリア性を獲得することができるとしている。   Recently, for example, a so-called gas barrier laminate having a laminated structure of an organic material layer made of resin and an inorganic material layer made of metal oxide or the like is used as the sealing portion 18 of the organic electroluminescence element 11. As an example of such a gas barrier laminate, a manufacturing method disclosed in (Patent Document 1) is known. In (Patent Document 1), “(Omitted) Many studies have been made on inorganic films, single layers of organic films, or stacking of organic / inorganic film gas barrier layers. As a result, a metal oxide film, a metal nitride film or a metal film is provided on a substrate such as a film, and an organic layer made of a thermosetting resin is laminated thereon. In the gas barrier laminate having the second metal oxide film, the metal nitride film, or the metal film, the first curing is performed in the range of 120 ° C. to 180 ° C. immediately after the organic layer as the intermediate layer is laminated, After the second metal oxide film, the metal nitride film, or the metal film is provided, the second thermosetting is performed in the range of 180 ° C. to 240 ° C., whereby an inorganic film, a single layer of the organic film, or an organic film / inorganic Membrane gas In such stacking the rear layer expression is to be able to acquire a gas barrier property is difficult.

また封止技術に関する他のアプローチとして例えば(特許文献2)に開示される発光装置の製造方法が知られている。(特許文献2)ではガラス基板12と封止部18を貼り合わせるための封止接着剤として、熱硬化性(あるいは熱可塑性)を有する樹脂に光熱変換物質(即ち赤外線または近赤外線を吸収する物質)を含有させ、これにレーザ光を照射して封止部を接着すべき部位を局所的に加熱することで、一般に100℃〜120℃の耐熱しかない有機エレクトロルミネッセンス素子にダメージを与えないで封止を行なうことができるとしている。
特開2004−181793号公報 特開2001−237066号公報 タン(C.W.Tang)、ヴァンスリク(S.A.Vanslyke),「アプライドフィジックスレター(Appl.Phys.Lett.)」(米国),第51巻,1987年,p.913
As another approach related to the sealing technology, for example, a manufacturing method of a light emitting device disclosed in (Patent Document 2) is known. In (Patent Document 2), as a sealing adhesive for laminating the glass substrate 12 and the sealing portion 18, a photothermal conversion substance (that is, a substance that absorbs infrared rays or near infrared rays) into a thermosetting (or thermoplastic) resin. ) And irradiating a laser beam to this to locally heat the portion where the sealing portion is to be bonded, so that the organic electroluminescence device generally having only heat resistance of 100 ° C. to 120 ° C. is not damaged. It is said that sealing can be performed.
JP 2004-181793 A JP 2001-237066 A Tan (C.W. Tang), S.A. Vanslyke, "Appl. Phys. Lett." (USA), Vol. 51, 1987, p. 913

有機エレクトロルミネッセンス素子はその製造工程がシンプルなため、有機エレクトロルミネッセンス素子を搭載した発光装置や、有機エレクトロルミネッセンス素子を光源として応用した露光装置などのアプリケーションは低コスト化に有利だと言われている。しかしその製造工程において、封止工程に(特許文献1)にあるような複数の温度管理を有する工程が存在することは生産性を低下させ、ひいてはコストアップに直結する。製造コストに関してはレーザ光を用いて局所的な封止を行なう(特許文献2)の製造方法も、やはり製造設備などが大掛かりとなりコスト的には課題を有している。   Since the manufacturing process of organic electroluminescent elements is simple, it is said that applications such as light-emitting devices equipped with organic electroluminescent elements and exposure apparatuses using organic electroluminescent elements as light sources are advantageous for cost reduction. . However, in the manufacturing process, the presence of a process having a plurality of temperature controls as in (Patent Document 1) in the sealing process reduces the productivity, which leads directly to an increase in cost. Regarding the manufacturing cost, the manufacturing method of performing local sealing using laser light (Patent Document 2) also has a problem in terms of cost due to the large manufacturing equipment.

また発光装置の実際の構成において例えば発光装置を構成する基板上には有機エレクトロルミネッセンス素子、例えばTFTによって構成される駆動回路、引き回し配線などが形成、配置され、封止部はこれらの構造物を被覆することとなる。上記の(特許文献1)および(特許文献2)には、このことの重要性は示唆すらされていないが、いわゆるガスバリア性などの封止性能は接着の対象となる構造物の表面状態に大きく左右されるため、いずれの構造物に封止部の外周が接し接着されるかは確実に封止を行なうための重要な要素である。   In an actual configuration of the light emitting device, for example, an organic electroluminescence element, for example, a driving circuit constituted by a TFT, a lead wiring, and the like are formed and arranged on a substrate constituting the light emitting device. It will be coated. The above (Patent Document 1) and (Patent Document 2) do not even suggest the importance of this, but the sealing performance such as the so-called gas barrier property greatly depends on the surface state of the structure to be bonded. Therefore, it depends on which structure the outer periphery of the sealing portion comes into contact with and adheres to, and is an important element for surely sealing.

本発明は、封止部の材料として熱硬化性樹脂を用い簡易な工程で封止を行うことが可能で、熱によって有機エレクトロルミネッセンス素子にダメージを与えることもなく、更に簡易な封止工程を用いるにもかかわらず水分やガスに対して十分なバリア性を確保した発光装置、この発光装置の製造方法、およびこの発光装置を組み込んだ信頼性の高い露光装置を提供するとともに、この露光装置を搭載した高画質な画像形成装置を提供することを目的とする。   The present invention is capable of sealing in a simple process using a thermosetting resin as a material for the sealing part, and does not damage the organic electroluminescence element due to heat, and further simplifies the sealing process. In addition to providing a light-emitting device that has a sufficient barrier property against moisture and gas despite the use, a method for manufacturing the light-emitting device, and a highly reliable exposure apparatus incorporating the light-emitting device. An object of the present invention is to provide an on-board high-quality image forming apparatus.

本発明の発光装置は上記課題に鑑みてなされたもので、基板と、この基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いて形成された複数の発光部と、この発光部に電力を供給する電極と、少なくともこの電極より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂で構成された封止部とを有するように構成したものである。   The light-emitting device of the present invention has been made in view of the above problems, and includes a substrate, a plurality of light-emitting portions formed on the substrate using a polymer organic electroluminescent material, and an electrode for supplying power to the light-emitting portion. And a sealing portion made of a thermosetting resin covering at least a wider area than this electrode.

高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は長い分子鎖が複雑に絡み合っており、高温環境に晒されても結晶化が進まないため特性劣化が非常に少ない。従って高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いて形成された複数の発光部に対して熱硬化性樹脂からなる封止部を設けても、封止部を硬化する際に加えられる熱によって有機エレクトロルミネッセンス素子がダメージを受けることはない。   The polymer organic electroluminescent material has long molecular chains intricately entangled with each other, and crystallization does not proceed even when exposed to a high temperature environment. Therefore, even if a sealing portion made of a thermosetting resin is provided for a plurality of light emitting portions formed using a polymer organic electroluminescence material, the organic electroluminescence element is generated by heat applied when the sealing portion is cured. Will not take damage.

また一般に熱硬化性樹脂の水分やガスに対するバリア性は紫外線硬化性樹脂と比較して優れているために、簡易な工程で封止を行なうことが可能であり、簡易な構成であっても雰囲気中の水分やガスに対して十分なバリア性を確保することが可能となる。   Also, since the barrier property against moisture and gas of thermosetting resin is generally superior to that of ultraviolet curable resin, it is possible to perform sealing in a simple process, and atmosphere even with a simple configuration. It is possible to ensure a sufficient barrier property against moisture and gas therein.

更にこの封止部で有機エレクトロルミネッセンス素子を覆う電極より広い範囲を覆うことで、封止部が電極と電極の下部に形成された他の構造物との間に跨ることがなく、水分やガスに対するバリア性をより一層高めることが可能となる。また有機エレクトロルミネッセンス素子を覆う電極は、後述のように例えばアルミニウムや銀などの金属材料(即ちバリア性の高い材料)で構成されるから、熱硬化性樹脂の良好なバリア性と相まって、非常に高い封止性能を発揮することができる。   Further, by covering a wider area than the electrode covering the organic electroluminescent element with this sealing portion, the sealing portion does not straddle between the electrode and another structure formed under the electrode, and moisture or gas It becomes possible to further improve the barrier property against the above. Moreover, since the electrode covering the organic electroluminescence element is composed of a metal material such as aluminum or silver (that is, a material having a high barrier property) as described later, it is very coupled with the good barrier property of the thermosetting resin. High sealing performance can be exhibited.

本発明の発光装置は、基板と、この基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いて形成された複数の発光部と、この発光部に電力を供給する電極と、少なくともこの電極より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂で構成された封止部とを有するように構成したものである。高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は長い分子鎖が複雑に絡み合っており、高温環境に晒されても結晶化が進まないため特性劣化が非常に少ない。従って高分子有機エレクトロルミネッセンス材料からなる複数の発光部に対して熱硬化性樹脂からなる封止部を設けても、封止部を硬化する際に加えられる熱によって有機エレクトロルミネッセンス素子がダメージを受けることはない。また一般に熱硬化性樹脂の水分やガスに対するバリア性は、紫外線硬化性樹脂と比較して優れているために、簡易な工程で封止を行なうことが可能で、簡易な構成であっても雰囲気中の水分やガスに対して十分なバリア性を確保することが可能となる。更にこの封止部で有機エレクトロルミネッセンス素子を覆う電極より広い範囲を覆うことで、封止部が電極とそれ以外の部分に跨ることがなく、水分やガスに対するバリア性をより一層高めることが可能となる。   The light-emitting device of the present invention includes a substrate, a plurality of light-emitting portions formed on the substrate using a polymer organic electroluminescent material, an electrode for supplying power to the light-emitting portion, and at least a wider range than the electrodes. And a sealing portion made of a thermosetting resin to be covered. The polymer organic electroluminescent material has long molecular chains intricately entangled with each other, and crystallization does not proceed even when exposed to a high temperature environment. Therefore, even if a sealing portion made of a thermosetting resin is provided for a plurality of light emitting portions made of a polymer organic electroluminescent material, the organic electroluminescence element is damaged by the heat applied when the sealing portion is cured. There is nothing. In general, the barrier property against moisture and gas of thermosetting resin is superior to that of ultraviolet curable resin, so it is possible to perform sealing in a simple process. It is possible to ensure a sufficient barrier property against moisture and gas therein. Furthermore, by covering a wider area than the electrode covering the organic electroluminescence element with this sealing part, the sealing part does not straddle the electrode and other parts, and it is possible to further improve the barrier property against moisture and gas It becomes.

また本発明は、発光部を覆う電極と封止部の間に少なくとも電極の全面を覆う保護部を形成し、封止部の外周部分をこの保護部に接着するように構成したものである。この保護部は発光部の全面を覆う電極の更に全面を覆い、水分やガスに対するバリア性を向上させるとともに、封止部に対しては凹凸のない均一な下地を成し封止部の外周部分における接着強度を向上させるから、封止性能のみならず外力に対する信頼性を向上させることが可能となる。   In the present invention, a protective part that covers at least the entire surface of the electrode is formed between the electrode that covers the light emitting part and the sealing part, and the outer peripheral part of the sealing part is bonded to the protective part. This protective part covers the entire surface of the electrode covering the entire surface of the light emitting part, improves the barrier property against moisture and gas, and forms a uniform base with no irregularities on the sealing part, and the outer peripheral part of the sealing part Therefore, not only the sealing performance but also the reliability against external force can be improved.

また本発明は、基板上に少なくとも発光部の駆動に係る制御信号を入力する配線部を有し、保護部をこの配線部を覆うように構成するとともに、封止部を保護部に接着するように構成したものである。これによって基板上に配置された配線部の段差を保護部によって凹凸のない均一な状態とすることができ、封止部の外周部分における接着強度を向上することができる。   Further, the present invention has a wiring part for inputting at least a control signal related to driving of the light emitting part on the substrate, the protection part is configured to cover the wiring part, and the sealing part is bonded to the protection part. It is configured. As a result, the step of the wiring portion arranged on the substrate can be made uniform with no unevenness by the protective portion, and the adhesive strength at the outer peripheral portion of the sealing portion can be improved.

また本発明は、基板上に発光部の発光領域を規制する画素規制部を有し、この画素規制部と保護部を同一の材料によって構成したものである。これによって発光部および電極は同一の材料からなる画素規制部と保護部に上下に挟まれるため、画素規制部と保護部の接合部分の構造が安定し、封止性能をより一層向上することが可能となる。   In the present invention, a pixel restricting portion for restricting the light emitting region of the light emitting portion is provided on the substrate, and the pixel restricting portion and the protecting portion are made of the same material. As a result, the light emitting portion and the electrode are sandwiched between the pixel restricting portion and the protecting portion made of the same material, so that the structure of the joint portion between the pixel restricting portion and the protecting portion is stabilized, and the sealing performance can be further improved. It becomes possible.

また本発明は、保護部と画素規制部を金属酸化物または金属窒化物によって構成したものである。これによって非常に安定した膜を例えばスパッタ法のような簡易な方法で得ることができる。また金属酸化物や金属窒化物は極めて緻密な構造を有しているため、保護部はその下層の構造物の凹凸を隙間なく埋めることができ、隙間からの水分やガスの浸入を確実に防止することができる。   In the present invention, the protection part and the pixel regulation part are made of metal oxide or metal nitride. As a result, a very stable film can be obtained by a simple method such as sputtering. In addition, since metal oxides and metal nitrides have an extremely dense structure, the protective part can fill the unevenness of the underlying structure without any gaps, and reliably prevent moisture and gas from entering through the gaps. can do.

また本発明は、電極と封止部の間に少なくとも電極より広い範囲を覆う保護部を形成し、かつ封止部をこの保護部より広い範囲を覆うように構成したものである。これによって保護部と封止部によって二重の封止が行われるために、封止性能を向上することができる。   In the present invention, a protective part that covers at least a wider area than the electrode is formed between the electrode and the sealing part, and the sealing part is configured to cover a wider area than the protective part. As a result, double sealing is performed by the protective part and the sealing part, so that the sealing performance can be improved.

また本発明は、保護部を吸湿性材料によって構成したものである。これによって封止部を通り抜けてきた微量の水分は、発光部に到達する前に吸湿性材料によって捕獲されるため、封止性能を更に向上することができる。   In the present invention, the protective part is made of a hygroscopic material. As a result, a trace amount of moisture that has passed through the sealing portion is captured by the hygroscopic material before reaching the light emitting portion, so that the sealing performance can be further improved.

また本発明は、基板上に発光部の発光領域を規制する画素規制部を有し、封止部の外周部分を画素規制部に接着するように構成したものである。画素規制部は絶縁性確保のために十分厚く形成され、この厚みによって画素規制部の表面は凹凸のない均一な面を呈するため、封止部の外周部分における接着強度が強固なものとなり、封止性能のみならず外力に対する信頼性などを向上することが可能となる。   According to the present invention, a pixel restricting portion for restricting the light emitting region of the light emitting portion is provided on the substrate, and the outer peripheral portion of the sealing portion is bonded to the pixel restricting portion. The pixel restricting portion is formed to be sufficiently thick to ensure insulation, and the surface of the pixel restricting portion exhibits a uniform surface with no unevenness due to this thickness, so that the adhesive strength at the outer peripheral portion of the sealing portion becomes strong, and sealing is performed. It is possible to improve not only the stopping performance but also the reliability against external force.

また本発明は、封止部をガラス転移温度が140℃〜180℃のエポキシ系樹脂で構成したものである。一般的に熱硬化性樹脂のガラス転移温度は高くなればなるほど硬化後の樹脂の硬度は上がるが、接着強度は低下し外部もしくは内部からの応力により基板からの剥離の原因となる。逆にガラス転移温度が低い樹脂は樹脂内部の密着強度が低くなり機密性が低下する。これらを勘案し封止部のガラス転移温度を上記の範囲とすることで、接着性と機密性の両立が可能となる。   Moreover, this invention comprises the sealing part with the epoxy resin whose glass transition temperature is 140 to 180 degreeC. In general, the higher the glass transition temperature of the thermosetting resin, the higher the hardness of the cured resin, but the adhesive strength decreases, causing peeling from the substrate due to external or internal stress. On the other hand, a resin having a low glass transition temperature has a low adhesion strength inside the resin, resulting in a decrease in confidentiality. Taking these into consideration, by setting the glass transition temperature of the sealing portion within the above range, both adhesiveness and confidentiality can be achieved.

また本発明は、封止部を劈開性を有する無機充填剤を含有するように構成したものである。劈開とは結晶がある決まった方向に容易に割れるかあるいははがれて平滑な面(劈開面)が現れることをいい、これによって封止部を構成する樹脂内部を透過する水分やガス等の浸入経路が非常に長くなり、封止性能を大幅に向上することが可能となる。   Moreover, this invention is comprised so that the sealing part may contain the inorganic filler which has cleavage property. Cleavage means that a crystal is easily cracked or peeled off in a certain direction and a smooth surface (cleavage surface) appears, whereby the intrusion path of moisture, gas, etc. that permeate the inside of the resin constituting the sealing portion. Becomes very long, and the sealing performance can be greatly improved.

また本発明は、基板上に、発光部を駆動するTFTで構成された駆動回路を設け、この駆動回路を封止部で覆うように構成したものである。駆動回路に外部からの応力等によってクラック等が発生すると、発光装置は駆動不能という致命的なダメージを受けるが、駆動回路部分を封止部で覆うことで、駆動回路は外部応力等から保護され、発光装置の信頼性を向上することが可能となる。   In the present invention, a driving circuit composed of TFTs for driving the light emitting portion is provided on a substrate, and the driving circuit is covered with a sealing portion. If a crack or the like occurs in the drive circuit due to external stress, etc., the light emitting device is fatally damaged such that it cannot be driven, but the drive circuit is protected from external stress by covering the drive circuit part with a sealing part. The reliability of the light emitting device can be improved.

また本発明は、封止部を吸水性を有する無機多孔質材料(ゼオライト)を含有するように構成したものである。これによって封止部を構成する樹脂内部を透過する水分やガス等が発光部に到達する前に無機多孔質材料の表面に吸着されるため、封止性能を大幅に向上することが可能となる。   In the present invention, the sealing portion is configured to contain an inorganic porous material (zeolite) having water absorption. As a result, moisture, gas, and the like that permeate through the resin constituting the sealing portion are adsorbed on the surface of the inorganic porous material before reaching the light emitting portion, so that the sealing performance can be greatly improved. .

また本発明は、封止部を劈開性を有する無機充填剤の充填量より吸水性を有する無機多孔質材料の充填量が同等もしくは多く含有するように構成したものである。これによって封止部を構成する樹脂内部を透過する水分やガス等の浸入経路が非常に長くなり、発光部に到達する前に無機多孔質材料の表面に吸着されるため、封止性能を大幅に向上することが可能となる。   In the present invention, the sealing portion is configured so that the filling amount of the inorganic porous material having water absorption is equal to or greater than the filling amount of the inorganic filler having cleavage property. As a result, the infiltration path of moisture, gas, etc. that permeates the resin inside the sealing part becomes very long and is adsorbed on the surface of the inorganic porous material before reaching the light emitting part, greatly improving the sealing performance. Can be improved.

また本発明は、封止部を50マイクロメートル以上の厚みに構成したものである。保護部は金属酸化物である酸化シリコンあるいは金属窒化物である窒化シリコンといった緻密な構造を有する材料で構成されるから、保護部を薄く構成することが可能であり、保護部の製造工程におけるタクトタイムを短くすることが可能となる。これによって発光装置を個人用途の画像形成装置に搭載される露光装置に応用したような場合には、十分な封止性能を確保することが可能となる。   Moreover, this invention comprises the sealing part in thickness of 50 micrometers or more. Since the protective part is made of a material having a dense structure such as silicon oxide, which is a metal oxide, or silicon nitride, which is a metal nitride, the protective part can be made thin. The time can be shortened. As a result, when the light emitting device is applied to an exposure apparatus mounted on an image forming apparatus for personal use, sufficient sealing performance can be ensured.

本発明の露光装置は、上述の発光装置を搭載し複数の発光部を独立して点灯/消灯可能に構成したものである。本発明の発光装置は非常に簡易な構造で十分な封止性能を発揮するものであるから、これを搭載した露光装置は長期にわたって信頼性が高いものとなり、更に露光装置を小型化、低コスト化することが可能となる。   An exposure apparatus according to the present invention includes the above-described light-emitting device and is configured so that a plurality of light-emitting units can be turned on / off independently. Since the light-emitting device of the present invention exhibits a sufficient sealing performance with a very simple structure, the exposure apparatus equipped with the light-emitting apparatus has high reliability over a long period of time, and further reduces the size and cost of the exposure apparatus. Can be realized.

また本発明は、発光部を基板上に設けたアクティブマトリクス回路で駆動するようにしたものである。アクティブマトリクス回路における電極(後に説明する陰極)はパッシブマトリクス回路と異なりストライプ状に構成する必要がなく、電極と封止部の間に多数の空間が生じないため、封止性能を向上させることが可能となる。   In the present invention, the light emitting unit is driven by an active matrix circuit provided on a substrate. Unlike the passive matrix circuit, the electrode (cathode described later) in the active matrix circuit does not need to be formed in a stripe shape, and a large number of spaces are not formed between the electrode and the sealing portion, so that the sealing performance can be improved. It becomes possible.

本発明の発光装置の製造方法は、基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いて複数の発光部を形成する工程と、発光部を覆う電極を形成する工程と、少なくとも電極より広い範囲を熱硬化性樹脂から構成された封止部で封止する封止工程を有するものである。高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は長い分子鎖が複雑に絡み合っており、高温環境に晒されても結晶化が進まないため特性劣化が非常に少ない。従って高分子有機エレクトロルミネッセンス材料からなる複数の発光部に対して熱硬化性樹脂からなる封止部を設けても、封止部を硬化する際に加えられる熱によって有機エレクトロルミネッセンス素子がダメージを受けることはない。また一般に熱硬化性樹脂の水分やガスに対するバリア性は、紫外線硬化性樹脂と比較して優れているために、簡易な工程で封止を行なうことが可能で、簡易な構成であっても雰囲気中の水分やガスに対して十分なバリア性を確保することが可能となる。更にこの封止部で有機エレクトロルミネッセンス素子を覆う電極より広い範囲を覆うことで、封止部が電極とそれ以外の部分に跨ることがなく、水分やガスに対するバリア性をより一層高めることが可能となる。   The method for manufacturing a light emitting device of the present invention includes a step of forming a plurality of light emitting portions on a substrate using a polymer organic electroluminescent material, a step of forming an electrode covering the light emitting portion, and at least a wider area than the electrodes. It has the sealing process sealed with the sealing part comprised from curable resin. The polymer organic electroluminescent material has long molecular chains intricately entangled with each other, and crystallization does not proceed even when exposed to a high temperature environment. Therefore, even if a sealing portion made of a thermosetting resin is provided for a plurality of light emitting portions made of a polymer organic electroluminescent material, the organic electroluminescence element is damaged by the heat applied when the sealing portion is cured. There is nothing. In general, the barrier property against moisture and gas of thermosetting resin is superior to that of ultraviolet curable resin, so it is possible to perform sealing in a simple process. It is possible to ensure a sufficient barrier property against moisture and gas therein. Furthermore, by covering a wider area than the electrode covering the organic electroluminescence element with this sealing part, the sealing part does not straddle the electrode and other parts, and it is possible to further improve the barrier property against moisture and gas It becomes.

また本発明は、基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を塗布した後、少なくとも封止部の外周部に相当する位置の有機エレクトロルミネッセンス材料を除去する工程を含むようにしたものである。これによって、有機エレクトロルミネッセンス材料で構成された層を介して外部から水分やガス等が侵入することを防止することが可能となる。   Further, the present invention includes a step of removing the organic electroluminescent material at a position corresponding to at least the outer peripheral portion of the sealing portion after applying the polymer organic electroluminescent material on the substrate. This makes it possible to prevent moisture, gas, and the like from entering from the outside through the layer made of the organic electroluminescent material.

また本発明は、基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を塗布した後、熱処理を行なう工程を有し、熱処理の温度(ベイク温度)を、後に熱硬化性樹脂を硬化させる温度より高温としたものである。これによって高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を溶解したトルエンやキシレンといった有機溶媒を十分に揮発させ、発光部である有機エレクトロルミネッセンス素子の性能を安定させることが可能となる。   The present invention also includes a step of performing a heat treatment after applying a polymer organic electroluminescent material on a substrate, and the temperature of the heat treatment (baking temperature) is set higher than the temperature at which the thermosetting resin is subsequently cured. It is. As a result, an organic solvent such as toluene or xylene in which the polymer organic electroluminescent material is dissolved is sufficiently volatilized, and the performance of the organic electroluminescent element as the light emitting portion can be stabilized.

また本発明は、封止工程において、硬化温度を少なくとも二段階設け、この硬化温度を、後の硬化温度ほど高温に設定するようにしたものである。これによって封止部の硬化を確実に行なうことが可能となる。また封止部を硬化させる温度は、いずれも上述のベイク温度よりも低く設定されており、製造工程が後段となるほど加工に必要な温度条件を緩和することで、構造物の熱膨張によって発光部にクラックが生じるなど、歩留まりを悪化させる要因を最小限に抑えることが可能となる。   In the sealing process, at least two stages of curing temperatures are provided, and the curing temperature is set higher as the later curing temperature. This makes it possible to reliably cure the sealing portion. In addition, the temperature for curing the sealing portion is set to be lower than the above-described baking temperature, and the light-emitting portion is reduced by the thermal expansion of the structure by relaxing the temperature condition necessary for processing as the manufacturing process becomes later. It is possible to minimize factors that deteriorate the yield, such as cracks.

本発明の画像形成装置は、上述の露光装置と、この露光装置によって潜像が形成される感光体と、この感光体上に形成された潜像を現像して顕画化する現像ステーションと、この現像ステーションによって顕画化された画像を記録紙に転写する転写手段と、この転写手段によって転写された画像を定着する定着器を有するものである。本発明の露光装置は、高信頼性、小型、低コストといった特徴を有しているから、これを搭載した画像形成装置は長期にわたって高画質を維持することが可能であるとともに、画像形成装置を小型化、低コスト化することができる。   An image forming apparatus of the present invention includes the above-described exposure apparatus, a photoreceptor on which a latent image is formed by the exposure apparatus, a developing station that develops and visualizes the latent image formed on the photoreceptor, The image forming apparatus includes a transfer unit that transfers an image developed by the developing station to a recording sheet, and a fixing unit that fixes the image transferred by the transfer unit. Since the exposure apparatus of the present invention has features such as high reliability, small size, and low cost, an image forming apparatus equipped with the exposure apparatus can maintain high image quality over a long period of time, and the image forming apparatus Miniaturization and cost reduction can be achieved.

以降、本発明に係る発光装置について詳細に説明するが、以下の全ての実施例において、様々な構造物が形成された発光素子基板70が、本発明に係る発光装置に該当する。   Hereinafter, the light emitting device according to the present invention will be described in detail. In all the following examples, the light emitting element substrate 70 on which various structures are formed corresponds to the light emitting device according to the present invention.

(実施例1)
以下、本発明の実施例1について図面を用いて説明する。
Example 1
Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は本発明の実施例1の発光素子基板における有機エレクトロルミネッセンス素子1の構造を示す断面図である。以降図1を用いて実施例1における有機エレクトロルミネッセンス素子1の構造を詳細に説明する。   FIG. 1 is a cross-sectional view showing a structure of an organic electroluminescence element 1 in a light emitting element substrate of Example 1 of the present invention. Hereinafter, the structure of the organic electroluminescence element 1 in Example 1 will be described in detail with reference to FIG.

図1において1は有機エレクトロルミネッセンス素子である。   In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an organic electroluminescence element.

<基板>
2は無色透明な基板である。基板2としては、例えば透明または半透明のソーダ石灰ガラス、バリウム・ストロンチウム含有ガラス、鉛ガラス、アルミノケイ酸ガラス、ホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス、石英ガラスなどの、無機酸化物ガラス、無機フッ化物ガラスなどの無機ガラスを用いることができる。
<Board>
2 is a colorless and transparent substrate. Examples of the substrate 2 include inorganic oxide glass and inorganic fluoride such as transparent or translucent soda lime glass, barium / strontium-containing glass, lead glass, aluminosilicate glass, borosilicate glass, barium borosilicate glass, and quartz glass. Inorganic glass such as glass can be used.

その他の材料を基板2として採用することも可能であり、例えば透明または半透明のポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエーテルスルフォン、ポリフッ化ビニル、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアクリレート、非晶質ポリオレフィン、フッ素系樹脂ポリシロキサン、ポリシランなどのポリマー材料を用いた高分子フィルムなど、或いは透明または半透明のAs23、As4010、S40Ge10などのカルコゲノイドガラス、ZnO、Nb2O、Ta25、SiO、Si34、HfO2、TiO2などの金属酸化物および窒化物などの材料、或いは発光領域から出射される光を基板を介さずに取り出す場合には、不透明のシリコン、ゲルマニウム、炭化シリコン、ガリウム砒素、窒化ガリウムなどの半導体材料、或いは顔料などを含んだ前述の透明基板材料、表面に絶縁処理を施した金属材料などから適宜選択して用いることができ、複数の基板材料を積層した積層基板を用いることもできる。 Other materials can be used as the substrate 2, for example, transparent or translucent polyethylene terephthalate, polycarbonate, polymethyl methacrylate, polyether sulfone, polyvinyl fluoride, polypropylene, polyethylene, polyacrylate, amorphous polyolefin, Polymer films using polymer materials such as fluororesin polysiloxane and polysilane, or transparent or translucent chalcogenoid glasses such as As 2 S 3 , As 40 S 10 , S 40 Ge 10 , ZnO, Nb 2 When taking out light emitted from a material such as metal oxides and nitrides such as O, Ta 2 O 5 , SiO, Si 3 N 4 , HfO 2 , TiO 2 , or light emitting region without passing through the substrate, Opaque silicon, germanium, silicon carbide, gallium arsenide, nitrogen A semiconductor substrate such as gallium, or the above-mentioned transparent substrate material containing a pigment, a metal material whose surface is insulated, and the like can be appropriately selected and used, and a laminated substrate in which a plurality of substrate materials are laminated is used. You can also.

なお以降の説明において、基板2の上に形成されるTFT102や有機エレクトロルミネッセンス素子1などの構造物を説明していくが、基板2およびこの上に構成される全ての構造物を統括して発光素子基板70と呼称する(上述したように、これが即ち「発光装置」である)。   In the following description, structures such as the TFT 102 and the organic electroluminescence element 1 formed on the substrate 2 will be described. However, the substrate 2 and all the structures formed thereon are integrated to emit light. It is called the element substrate 70 (as described above, this is the “light emitting device”).

<TFT>
101は基板2上の面Aに形成されたベースコート層であり、例えば窒化シリコンと酸化シリコンとを積層することで構成される。ベースコート層101の上には多結晶シリコン(ポリシリコン)から成るTFT102が形成されている。実施例1においてはTFT102として多結晶シリコンを用いているが、非結晶シリコン(アモルファスシリコン)を用いてもよい。非結晶シリコンはトランジスタを構成した際の移動度が低く(0.5cm2/Vs程度)デザインルールや駆動周波数の点で移動度の高い多結晶シリコン(100〜200cm2/Vs)と比べて不利ではあるが、製造プロセスが安価でありコストメリットがある。
<TFT>
Reference numeral 101 denotes a base coat layer formed on the surface A on the substrate 2, and is configured by stacking, for example, silicon nitride and silicon oxide. A TFT 102 made of polycrystalline silicon (polysilicon) is formed on the base coat layer 101. In the first embodiment, polycrystalline silicon is used as the TFT 102, but amorphous silicon (amorphous silicon) may be used. Amorphous silicon is disadvantageous compared to the low mobility of when constituting a transistor (0.5 cm 2 / about Vs) design rules and high mobility in terms of the driving frequency polycrystalline silicon (100~200cm 2 / Vs) However, the manufacturing process is inexpensive and has a cost advantage.

103は例えば100ナノメートル程度の厚みをもつ酸化シリコンからなるゲート絶縁層であり、TFT102とモリブデンなどの金属で構成されたゲート電極104を所定の間隔で離間、絶縁する。105は例えば酸化シリコンおよび窒化シリコンを積層することで構成され、総計350ナノメートル程度の厚みを有する中間層である。中間層105はゲート電極104を被うとともに、この表面に沿ってAlなどの金属で構成されるソース電極106およびドレイン電極107を支持している。ソース電極106およびドレイン電極107は中間層105およびゲート絶縁層103に設けられたコンタクトホールを介してTFT102に接続されており、ソース電極106とドレイン電極107の間に所定の電位差を付与した状態でゲート電極104に所定の電位を付与することで、TFT102はスイッチングトランジスタとして動作する。   Reference numeral 103 denotes a gate insulating layer made of silicon oxide having a thickness of, for example, about 100 nanometers, and insulates the TFT 102 and the gate electrode 104 made of a metal such as molybdenum at a predetermined interval. An intermediate layer 105 is formed by laminating silicon oxide and silicon nitride, for example, and has a total thickness of about 350 nanometers. The intermediate layer 105 covers the gate electrode 104 and supports a source electrode 106 and a drain electrode 107 made of a metal such as Al along the surface. The source electrode 106 and the drain electrode 107 are connected to the TFT 102 through contact holes provided in the intermediate layer 105 and the gate insulating layer 103, and a predetermined potential difference is applied between the source electrode 106 and the drain electrode 107. By applying a predetermined potential to the gate electrode 104, the TFT 102 operates as a switching transistor.

108は窒化シリコンなどで構成されたTFT保護層であり、ソース電極106を完全に被うとともにドレイン電極107の一部に開口部、即ちコンタクトホール109を形成する。通常TFT保護層108の厚みは300ナノメートル程度に形成されるが、その上面にレジンなどによるオーバーコート層(図示せず)を形成しない場合は若干厚く形成してもよい。   Reference numeral 108 denotes a TFT protective layer made of silicon nitride or the like, which completely covers the source electrode 106 and forms an opening, that is, a contact hole 109 in a part of the drain electrode 107. Usually, the TFT protective layer 108 is formed to a thickness of about 300 nanometers. However, if an overcoat layer (not shown) made of resin or the like is not formed on the upper surface, the TFT protective layer 108 may be formed a little thicker.

3はTFT保護層108の上に形成された陽極であり、実施例1ではITO(インジウム錫酸化物)を用いている。陽極3としてはITOの他にIZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ATO(SbをドープしたSnO2)、AZO(AlをドープしたZnO)、ZnO、SnO2、In23などを用いることができる。陽極3は真空蒸着法などによっても形成できるがスパッタ法あるいはCVD法(Chemical Vapor Deposition:化学気相成長法)により形成することが望ましい。この陽極3はコンタクトホール109にてドレイン電極107と接続されている。 Reference numeral 3 denotes an anode formed on the TFT protective layer 108. In Example 1, ITO (indium tin oxide) is used. As the anode 3, in addition to ITO, IZO (zinc-doped indium oxide), ATO (Sb-doped SnO 2 ), AZO (Al-doped ZnO), ZnO, SnO 2 , In 2 O 3 and the like can be used. . The anode 3 can be formed by a vacuum deposition method or the like, but is preferably formed by a sputtering method or a CVD method (Chemical Vapor Deposition). The anode 3 is connected to the drain electrode 107 through a contact hole 109.

なお図1に図示するように、有機エレクトロルミネッセンス素子1を駆動する駆動回路であるTFT102は、保護部9および封止部10によって完全に被覆されている。駆動回路に外部からの応力等によってクラック等が発生すると、発光装置は駆動不能という致命的なダメージを受けるが、駆動回路部分を保護部9および封止部10で覆うことで、駆動回路であるTFT102には外部の応力が直接的に作用しなくなり、発光装置の信頼性を向上することが可能となる。   As shown in FIG. 1, the TFT 102, which is a drive circuit for driving the organic electroluminescence element 1, is completely covered with a protective part 9 and a sealing part 10. When a crack or the like is generated in the drive circuit due to external stress or the like, the light emitting device is fatally damaged such that it cannot be driven. However, the drive circuit portion is covered with the protective portion 9 and the sealing portion 10 so that the drive circuit is formed. External stress does not directly act on the TFT 102, and the reliability of the light emitting device can be improved.

<画素規制部>
背景技術における説明でも定義したように、以降の説明においても少なくとも陽極と陰極とに挟まれ、実質的に発光に寄与する部分を「発光部」と呼称する。また図示を要する場合は「発光部LS」として説明する。
<Pixel restriction section>
As defined in the description in the background art, in the following description, a portion that is sandwiched between at least the anode and the cathode and substantially contributes to light emission is referred to as a “light emitting portion”. In the case where illustration is required, it will be described as “light emitting unit LS”.

8は陽極3の一部を覆うことで発光に寄与する発光部LSの位置、形状、サイズなどを規制する画素規制部である。実施例1では画素規制部8として窒化シリコンを用いているが酸化シリコンを用いてもよい。画素規制部8は例えばこれらの金属酸化物あるいは金属窒化物を蒸着法やスパッタ法により一様形成し、その後にフォトマスクを用いてパターンニング、現像、エッチングによって形成される。また画素規制部8はマスクを介してスパッタ法にて形成してもよい。これらの金属酸化物あるいは金属窒化物によって構成される画素規制部8の厚みは50ナノメートル以上2マイクロメートル以下とするとよい。画素規制部8の厚みが50ナノメートルを下回ると膜に欠陥が生じて本来発光すべきところでない部分が発光する確率が高くなる。   Reference numeral 8 denotes a pixel restricting portion that restricts the position, shape, size, and the like of the light emitting portion LS that contributes to light emission by covering a part of the anode 3. In the first embodiment, silicon nitride is used as the pixel restricting portion 8, but silicon oxide may be used. The pixel restricting portion 8 is formed by, for example, uniformly forming these metal oxides or metal nitrides by vapor deposition or sputtering, and then patterning, developing, and etching using a photomask. The pixel restricting portion 8 may be formed by a sputtering method through a mask. The thickness of the pixel restricting portion 8 composed of these metal oxides or metal nitrides is preferably 50 nanometers or more and 2 micrometers or less. When the thickness of the pixel restricting portion 8 is less than 50 nanometers, a defect is generated in the film, and the probability that a portion that should not originally emit light emits light increases.

また後に他の実施例で詳細に説明するように、封止の際に画素規制部8に封止部10の外周部分を接着する構成においては、画素規制部8に欠陥があると水分やガスに対するバリア性が低下する恐れがあるため、この観点からも画素規制部8の厚みは50ナノメートル以上を確保することが望ましい。   As will be described in detail later in other embodiments, in the configuration in which the outer peripheral portion of the sealing portion 10 is bonded to the pixel restricting portion 8 at the time of sealing, if the pixel restricting portion 8 is defective, moisture or gas In view of this, the thickness of the pixel restricting portion 8 is desirably 50 nm or more.

一方、画素規制部8の厚みが2マイクロメートルを上回ると、陽極3側に突出した画素規制部8の端部において陽極3と画素規制部8の間に段差が大きくなり、後述する湿式プロセスで形成された発光部LSにおける発光輝度の均一性が損なわれることとなる。   On the other hand, when the thickness of the pixel restricting portion 8 exceeds 2 micrometers, a step is increased between the anode 3 and the pixel restricting portion 8 at the end of the pixel restricting portion 8 protruding to the anode 3 side. The uniformity of the light emission luminance in the formed light emitting part LS is impaired.

さて陽極3を画素規制部8で規制して発光部LSを構成する理由はさまざまであるが、例えば露光装置を想定した場合は発光面の位置と形状を正確に決めるために行われる。もちろん有機エレクトロルミネッセンス素子1は前述した原理によって対向する陽極3と陰極7の重なった部位が発光するため、陽極3と陰極7の位置および形状によって発光部LSの形状などを規制することも可能であるが、例えば露光装置ではアプリケーション側の要求として発光部LSのサイズおよびその配置ピッチが極めて小さなもの{例えば600dpi(dot per inch)、即ち発光部LSは図1の紙面と垂直な方向(主走査方向)に35マイクロメートル程度のサイズを有し、これが42.3マイクロメートルのピッチで配置される}となるため、これを陽極3と陰極7といった電極のみで規制するには製造プロセス上の位置合わせに高い精度が必要となる。また個々の電極線が細くなりすぎ、結果的に抵抗値が増大するという問題も生じる。よって抵抗値が大きくならないようある程度の幅の電極を作製した上で、その一部を画素規制部8によって規制して発光面を規制するという方法が一般的に用いられている。   There are various reasons why the light emitting part LS is configured by restricting the anode 3 by the pixel restricting part 8. For example, when an exposure apparatus is assumed, it is performed in order to accurately determine the position and shape of the light emitting surface. Of course, since the organic electroluminescence element 1 emits light at the overlapping portion of the anode 3 and the cathode 7 facing each other according to the principle described above, the shape and the like of the light emitting portion LS can be regulated by the position and shape of the anode 3 and the cathode 7. In an exposure apparatus, for example, the application side demands that the size and arrangement pitch of the light emitting portions LS be extremely small {for example, 600 dpi (dot per inch), that is, the light emitting portion LS is in a direction perpendicular to the paper surface of FIG. In the direction), which is arranged at a pitch of 42.3 micrometers}, so that it is restricted by the electrodes such as the anode 3 and the cathode 7 in the position of the manufacturing process. High accuracy is required for the combination. Further, the individual electrode lines become too thin, resulting in a problem that the resistance value increases. Therefore, a method is generally used in which an electrode having a certain width is produced so that the resistance value does not increase, and a part thereof is regulated by the pixel regulating unit 8 to regulate the light emitting surface.

<発光層>
6は発光層である。実施例1では発光層6として後述の高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用い、工程がシンプルで低コスト化が可能な湿式プロセスの1つであるスピンコート法を採用して発光層6を塗布によって形成している。
<Light emitting layer>
Reference numeral 6 denotes a light emitting layer. In Example 1, a polymer organic electroluminescent material described later is used as the light-emitting layer 6, and the light-emitting layer 6 is formed by applying a spin coating method, which is one of the wet processes capable of reducing the cost with a simple process. is doing.

一般に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料とはスピンコート法などの湿式プロセスにて製膜される有機エレクトロルミネッセンス材料を指し、低分子有機エレクトロルミネッセンス材料とは真空蒸着法などの乾式プロセスにて製膜される有機エレクトロルミネッセンス材料を指すものとされるが、厳密には真空蒸着法などの乾式プロセスを適用できないものを高分子有機エレクトロルミネッセンス材料という。なお高分子有機エレクトロルミネッセンス材料に真空蒸着法が適用できないのは、高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は気化する前に自己分子運動が生じ主鎖が切断されてしまうからである。即ちこれによって低分子化が起こり材料本来の能力が低下するのである。   In general, a polymer organic electroluminescent material refers to an organic electroluminescent material formed by a wet process such as a spin coat method, and a low molecular organic electroluminescent material is formed by a dry process such as a vacuum evaporation method. Strictly speaking, it refers to an organic electroluminescent material, but strictly speaking, a material that cannot be applied with a dry process such as a vacuum deposition method is called a polymer organic electroluminescent material. The reason why the vacuum deposition method cannot be applied to the polymer organic electroluminescent material is that the polymer organic electroluminescent material undergoes self-molecular motion before being vaporized and the main chain is cut. That is, this leads to lower molecular weight and lowers the original ability of the material.

スピンコート法により高分子材料からなる発光層6を塗布形成するにあたり、実施例1では高分子有機エレクトロルミネッセンス材料としてトルエンに溶解したMEH−PPVを用い、膜厚は120ナノメートルとしている。MEH−PPVは高分子有機エレクトロルミネッセンス材料として一般的であり、たとえば日本シーベルヘグナー社にて購入可能である。高分子有機エレクトロルミネッセンス材料としてはこの他にスチレン系共役デンドリマーなどを用いることが可能である。   In coating and forming the light emitting layer 6 made of a polymer material by spin coating, in Example 1, MEH-PPV dissolved in toluene is used as the polymer organic electroluminescence material, and the film thickness is 120 nanometers. MEH-PPV is generally used as a polymer organic electroluminescence material, and can be purchased, for example, from Nippon Sebel Hegner. In addition to this, a styrene-based conjugated dendrimer or the like can be used as the polymer organic electroluminescent material.

発光層6を上述のスピンコート法によって塗布した場合、高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は発光層6を形成する以前に発光素子基板70に形成された全ての構造物の上に塗布されることとなる。このような場合は後述する陰極7を蒸着法によって形成する前に、例えばトルエンやキシレンといった溶剤を再塗布し、溶融した高分子有機エレクトロルミネッセンス材料とともに回収する製造設備によって所定の領域のみ拭き取られる。この拭き取り工程は例えばレーザアブレーション法によって行なうことも可能である。またインクジェット技術を用いたフラッドプリント法のごとき所定の領域にのみ高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を塗布することが可能な工法を採用した場合は、上述の拭き取り工程は不要となる。   When the light emitting layer 6 is applied by the above-described spin coating method, the polymer organic electroluminescent material is applied on all the structures formed on the light emitting element substrate 70 before the light emitting layer 6 is formed. . In such a case, before forming the cathode 7 to be described later by vapor deposition, only a predetermined region is wiped off by a manufacturing facility that reapplies a solvent such as toluene or xylene and collects it together with the molten polymer organic electroluminescent material. . This wiping step can also be performed by, for example, a laser ablation method. Moreover, when the construction method which can apply | coat a polymeric organic electroluminescent material only to a predetermined area | region like the flood printing method using an inkjet technique is used, the above-mentioned wiping process becomes unnecessary.

いずれにしても発光素子基板70の全面に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を塗布した状態で、後に説明する封止部10を形成すると、塗布された発光層6を通じて徐々に有機エレクトロルミネッセンス素子1(図1参照)の内部に水分が侵入するため、発光部LS(図1参照)のシュリンキングやダークスポットの拡大が進行しやすいことが確認されている。少なくとも封止部10の外周部において高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は取り除かれている必要がある。   In any case, when a sealing portion 10 to be described later is formed in a state where a polymer organic electroluminescent material is applied to the entire surface of the light emitting element substrate 70, the organic electroluminescent element 1 (see FIG. 1)), it is confirmed that the shrinking of the light emitting portion LS (see FIG. 1) and the expansion of the dark spot easily proceed. The polymer organic electroluminescent material needs to be removed at least in the outer peripheral portion of the sealing portion 10.

この拭き取り工程の後に、発光素子基板70は約180℃の環境下に約1時間おかれ、高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を溶解した溶媒であるトルエンやキシレンといった有機溶媒を十分に揮発させる(ベイク工程)。以降ベイク工程における温度をベイク温度と呼称する。   After this wiping process, the light emitting element substrate 70 is left in an environment of about 180 ° C. for about 1 hour to sufficiently volatilize an organic solvent such as toluene or xylene, which is a solvent in which the polymer organic electroluminescent material is dissolved (baking process). ). Hereinafter, the temperature in the baking process is referred to as the baking temperature.

さて本発明に係る発光素子基板70は、基板2と、この基板2上に形成された高分子有機エレクトロルミネッセンス材料からなる複数の発光部LSと、この発光部LSに電力を供給する電極(後に説明する陰極7であり、陰極7は発光部LSを覆うように構成される)と、少なくともこの電極より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂からなる封止部(後に説明する封止部10)とを有することを特徴としており、発光部LSを構成する発光層6の材料として高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いることが大きなポイントとなっている。以下に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料の特性について、従来の低分子有機エレクトロルミネッセンス材料との比較を通じ詳細に説明する。   The light-emitting element substrate 70 according to the present invention includes a substrate 2, a plurality of light-emitting portions LS made of a polymer organic electroluminescent material formed on the substrate 2, and electrodes for supplying power to the light-emitting portions LS (later A cathode 7 to be described, and the cathode 7 is configured to cover the light emitting portion LS), and a sealing portion (sealing portion 10 to be described later) made of a thermosetting resin covering a range wider than at least the electrode. The use of a polymer organic electroluminescence material as a material of the light emitting layer 6 constituting the light emitting portion LS is a major point. Hereinafter, characteristics of the polymer organic electroluminescent material will be described in detail through comparison with the conventional low molecular organic electroluminescent material.

有機エレクトロルミネッセンス素子を構成する発光材料のうち、従来多用されてきた低分子有機エレクトロルミネッセンス材料は一般にその有機化合物群が真空蒸着によって製膜されアモルファス薄膜になっているために高温環境に弱いことが知られ、その耐熱温度は高々百数十℃とされている。これは高温環境に晒されたときに低分子有機化合物の結晶化が進行してしまい発光材料としての特性が劣化するからである。これに対し高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は長い分子鎖を複雑に絡み合わせることで薄膜を構成しており、明確な結晶化温度は存在せず、ガラス転移点という軟化開始温度とも言うべき指標が存在するのみである。更に多くの高分子有機エレクトロルミネッセンス材料では明確なガラス転移点すら観察されないことがある。つまり高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は分子が絡み合った構成上、自由に動いて結晶化することができないのである。このような高分子有機エレクトロルミネッセンス材料の特徴は、高分子有機エレクトロルミネッセンス材料が有機エレクトロルミネッセンス素子に応用されるときに、高耐熱性という大きな優位性となって現れる。この耐熱温度は既に説明したHEM−PPVも含め200℃を十分超えるものである。この高い耐熱性という大きな特徴を有する高分子有機エレクトロルミネッセンス材料によって構成された発光部LSは、後に説明する熱硬化性樹脂を用いた封止によっても発光特性が劣化することはなく、熱硬化性樹脂の水分やガスに対する高いバリア性を有効に活かすことができる。   Among the light-emitting materials that constitute organic electroluminescent elements, low-molecular organic electroluminescent materials that have been widely used in the past are generally vulnerable to high-temperature environments because their organic compound groups are formed by vacuum deposition into an amorphous thin film. It is known that its heat-resistant temperature is at most a few tens of degrees Celsius. This is because when exposed to a high temperature environment, the crystallization of the low molecular weight organic compound proceeds and the characteristics as a light emitting material deteriorate. In contrast, polymer organic electroluminescent materials form thin films by intertwining long molecular chains in a complicated manner, and there is no clear crystallization temperature, and there is an index that can be called the softening start temperature called the glass transition point. Just do it. Furthermore, even a clear glass transition point may not be observed in many polymer organic electroluminescent materials. In other words, the polymer organic electroluminescent material cannot move and crystallize freely due to the structure in which the molecules are intertwined. Such a characteristic of the polymer organic electroluminescent material appears as a great advantage of high heat resistance when the polymer organic electroluminescent material is applied to an organic electroluminescent element. This heat-resistant temperature sufficiently exceeds 200 ° C. including the already explained HEM-PPV. The light-emitting portion LS composed of the polymer organic electroluminescent material having the great feature of high heat resistance is not deteriorated in light-emitting characteristics even by sealing with a thermosetting resin described later, and is thermosetting. The high barrier property against moisture and gas of the resin can be effectively utilized.

ただし真空蒸着法などの乾式プロセスを用いて製膜される低分子有機エレクトロルミネッセンス材料であっても、分子量が大きくガラス点移転が比較的高いオリゴマー、より具体的にはPPVオリゴマーなどは例外的に高い耐熱性を有するとともに湿式プロセスを容易に適用でき、これらを高分子有機エレクトロルミネッセンス材料の代替として本発明の発光素子基板70に応用することが可能である。   However, even low-molecular organic electroluminescent materials formed using a dry process such as vacuum deposition, oligomers with high molecular weight and relatively high glass point transfer, more specifically PPV oligomers, are exceptional. It has high heat resistance and can easily apply wet processes, and these can be applied to the light emitting element substrate 70 of the present invention as an alternative to the polymer organic electroluminescent material.

さて実施例1では発光層6をMEH−PPVからなる単層膜としたが、これはいくつかの材料からなる積層膜であってもよい。たとえばMEH−PPV層内に注入された電荷を閉じ込め再結合効率を向上させるために、電子ブロック機能やホールブロック機能をもった材料からなる層を追加するのは素子の特性向上につながり望ましい。具体的には発光層6を陽極3の側から順に正孔輸送層/電子ブロック層/上述した有機発光材料(ともに図示せず)の3層構造としてもよいし、発光層6を陰極3の側から順に電子輸送層/有機発光材料(ともに図示せず)の2層構造、あるいは陽極3の側から順に正孔輸送層/有機発光材料の2層構造(ともに図示せず)、あるいは陽極3の側から順に正孔注入層/正孔輸送層/電子ブロック層/有機発光層/正孔ブロック層/電子輸送層/電子注入層のごとく7層構造(ともに図示せず)としてもよい。このように実施例1において発光層6と呼称する場合は、発光層6が正孔輸送層、電子ブロック層、電子輸送層などの機能層を有する多層構造である場合も含んでいる。後に説明する他の実施例についても同様である。   In Example 1, the light emitting layer 6 is a single layer film made of MEH-PPV. However, it may be a laminated film made of several materials. For example, in order to confine the charge injected into the MEH-PPV layer and improve the recombination efficiency, it is desirable to add a layer made of a material having an electron blocking function or a hole blocking function, which leads to improvement in device characteristics. Specifically, the light-emitting layer 6 may have a three-layer structure of hole transport layer / electron blocking layer / the above-described organic light-emitting material (both not shown) in order from the anode 3 side. Two-layer structure of electron transport layer / organic light emitting material (both not shown) in order from the side, or two layer structure of hole transport layer / organic light emitting material (both not shown), or the anode 3 in order from the side of the anode 3 It is good also as a 7-layer structure (all not shown) like a hole injection layer / hole transport layer / electron block layer / organic light emitting layer / hole block layer / electron transport layer / electron injection layer in this order. As described above, the light emitting layer 6 in Example 1 includes a case where the light emitting layer 6 has a multilayer structure having functional layers such as a hole transport layer, an electron block layer, and an electron transport layer. The same applies to other embodiments described later.

発光層6に含まれる正孔輸送層としては、正孔移動度が高く透明で製膜性の良いものが好ましく背景技術において説明したTPDの他に、ポルフィン、テトラフェニルポルフィン銅、フタロシアニン、銅フタロシアニン、チタニウムフタロシアニンオキサイドなどのポリフィリン化合物や、1,1−ビス{4−(ジ−P−トリルアミノ)フェニル}シクロヘキサン、4,4',4''−トリメチルトリフェニルアミン、N,N,N',N'−テトラキス(P−トリル)−P−フェニレンジアミン、1−(N,N−ジ−P−トリルアミノ)ナフタレン、4,4'−ビス(ジメチルアミノ)−2−2'−ジメチルトリフェニルメタン、N,N,N',N'−テトラフェニル−4,4'−ジアミノビフェニル、N、N'−ジフェニル−N、N'−ジ−m−トリル−4、4'−ジアミノビフェニル、N−フェニルカルバゾ−ルなどの芳香族第三級アミンや、4−ジ−P−トリルアミノスチルベン、4−(ジ−P−トリルアミノ)−4'−〔4−(ジ−P−トリルアミノ)スチリル〕スチルベンなどのスチルベン化合物や、トリアゾール誘導体や、オキサジザゾール誘導体や、イミダゾール誘導体や、ポリアリールアルカン誘導体や、ピラゾリン誘導体や、ピラゾロン誘導体や、フェニレンジアミン誘導体や、アニールアミン誘導体や、アミノ置換カルコン誘導体や、オキサゾール誘導体や、スチリルアントラセン誘導体や、フルオレノン誘導体や、ヒドラゾン誘導体や、シラザン誘導体や、ポリシラン系アニリン系共重合体や、高分子オリゴマーや、スチリルアミン化合物や、芳香族ジメチリディン系化合物や、ポリ−3,4エチレンジオキシチオフェン(PEDOT)、テトラジヘクシルフルオレニルビフェニル(TFB)あるいはポリ3−メチルチオフェン(PMeT)といったポリチオフェン誘導体などの有機材料が用いられる。また、ポリカーボネートなどの高分子中に低分子の正孔輸送層用の有機材料を分散させた、高分子分散系の正孔輸送層も用いられる。またMoO3、V25、WO3、TiO2、SiO、MgOなどの無機酸化物を用いることもある。またこれらの正孔輸送材料は電子ブロック材料として用いることもできる。 The hole transport layer contained in the light emitting layer 6 is preferably a transparent material with high hole mobility and good film-forming properties. In addition to TPD described in the background art, porphin, tetraphenylporphine copper, phthalocyanine, copper phthalocyanine , Porphyrin compounds such as titanium phthalocyanine oxide, 1,1-bis {4- (di-P-tolylamino) phenyl} cyclohexane, 4,4 ′, 4 ″ -trimethyltriphenylamine, N, N, N ′, N′-tetrakis (P-tolyl) -P-phenylenediamine, 1- (N, N-di-P-tolylamino) naphthalene, 4,4′-bis (dimethylamino) -2-2′-dimethyltriphenylmethane N, N, N ′, N′-tetraphenyl-4,4′-diaminobiphenyl, N, N′-diphenyl-N, N′-di-m-tolyl-4 Aromatic tertiary amines such as 4′-diaminobiphenyl and N-phenylcarbazole, 4-di-P-tolylaminostilbene, 4- (di-P-tolylamino) -4 ′-[4- ( Di-P-tolylamino) styryl] stilbene compounds, triazole derivatives, oxazizazole derivatives, imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives, pyrazoline derivatives, pyrazolone derivatives, phenylenediamine derivatives, annealed amine derivatives, Amino substituted chalcone derivatives, oxazole derivatives, styryl anthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives, silazane derivatives, polysilane aniline copolymers, polymer oligomers, styrylamine compounds, aromatic dimethylidins Compounds, Organic materials such as polythiophene derivatives such as poly-3,4 ethylene dioxythiophene (PEDOT), tetradihexylfluorenylbiphenyl (TFB), and poly-3-methylthiophene (PMeT) are used. Further, a polymer-dispersed hole transport layer in which an organic material for a low-molecular hole transport layer is dispersed in a polymer such as polycarbonate is also used. In addition, inorganic oxides such as MoO 3 , V 2 O 5 , WO 3 , TiO 2 , SiO, and MgO may be used. These hole transport materials can also be used as an electron block material.

上述した発光層6における電子輸送層としては、1,3−ビス(4−tert−ブチルフェニル−1,3,4−オキサジアゾリル)フェニレン(OXD−7)などのオキサジアゾール誘導体、アントラキノジメタン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、シロール誘導体からなるポリマー材料など、あるいは、ビス(2−メチル−8−キノリノレート)−(パラ−フェニルフェノレート)Al(BAlq)、バソフプロイン(BCP)などが用いられる。またこれらの電子輸送層を構成可能な材料は正孔ブロック材料として用いることもできる。   As the electron transport layer in the light emitting layer 6 described above, oxadiazole derivatives such as 1,3-bis (4-tert-butylphenyl-1,3,4-oxadiazolyl) phenylene (OXD-7), anthraquinodimethane Derivatives, diphenylquinone derivatives, polymer materials composed of silole derivatives, etc., or bis (2-methyl-8-quinolinolate)-(para-phenylphenolate) Al (BAlq), bathofproin (BCP), etc. are used. Moreover, the material which can comprise these electron carrying layers can also be used as a hole block material.

以上、実施例1における発光層6について詳細に説明したが、発光層6を構成する高分子有機エレクトロルミネッセンス材料としては上述したMEH−PPVに限定されるものではなく、可視領域で蛍光または燐光特性を有しかつ製膜性の良いものが選択可能であり、例えばポリパラフェニレンビニレン(PPV)、ポリフルオレンなどのポリマー発光材料などを用いることができる。更に現在様々な特性と発光色を持った高分子系有機エレクトロルミネッセンス材料が提案されており、これらの中から適宜選択して発光層6を構成することができる。   As mentioned above, although the light emitting layer 6 in Example 1 was demonstrated in detail, as a polymeric organic electroluminescent material which comprises the light emitting layer 6, it is not limited to the above-mentioned MEH-PPV, A fluorescence or phosphorescence characteristic in a visible region Can be selected, and polymer light-emitting materials such as polyparaphenylene vinylene (PPV) and polyfluorene can be used. Furthermore, polymer organic electroluminescent materials having various characteristics and emission colors have been proposed at present, and the light emitting layer 6 can be configured by appropriately selecting from these.

<陰極>
7は例えばAlなどの金属材料を例えば真空蒸着法によって形成した陰極である。有機エレクトロルミネッセンス素子1の陰極7としては仕事関数の低い金属もしくは合金、例えばAl、In、Mg、Ti、Agなどの金属や、Mg−Ag合金、Mg−In合金などのMg合金や、Al−Li合金、Al−Sr合金、Al−Ba合金などのAl合金が用いられる。あるいはBa、Ca、Mg、Li、Csなどの金属、あるいはLiF、CaOといったこれら金属のフッ化物や酸化物からなる有機物層に接触する第1の電極層と、その上に形成されるAl、Ag、Inなどの金属材料からなる第2の電極とからなる金属の積層構造を用いることもできる。
<Cathode>
Reference numeral 7 denotes a cathode in which a metal material such as Al is formed by, for example, a vacuum deposition method. As the cathode 7 of the organic electroluminescent element 1, a metal or alloy having a low work function, for example, a metal such as Al, In, Mg, Ti, or Ag, a Mg alloy such as a Mg—Ag alloy or a Mg—In alloy, Al— Al alloys such as a Li alloy, an Al—Sr alloy, and an Al—Ba alloy are used. Alternatively, a first electrode layer in contact with an organic material layer made of a metal such as Ba, Ca, Mg, Li, or Cs, or a fluoride or oxide of these metals such as LiF or CaO, and Al or Ag formed thereon. It is also possible to use a metal laminated structure including a second electrode made of a metal material such as In.

陰極7は発光部LSに電荷を供給する必要性から少なくとも発光部LSの全面を覆っている必要があるが、発光部LSの全面を金属から構成される陰極7で被覆することで、外部からの水分の浸入を防ぐ封止の機能も併せ持たせることができる。   The cathode 7 needs to cover at least the entire surface of the light emitting unit LS because of the need to supply charges to the light emitting unit LS. However, by covering the entire surface of the light emitting unit LS with the cathode 7 made of metal, the cathode 7 can be externally applied. It is also possible to have a sealing function for preventing the intrusion of moisture.

実施例1では、ガスや水分に対して高いバリア性を有する金属から構成される陰極7によって有機エレクトロルミネッセンス素子を覆い、更に後述のように陰極7の全体を覆うようにして、バリア性の高い熱硬化性樹脂によって発光装置を構成している。   In Example 1, the organic electroluminescence element is covered with the cathode 7 made of a metal having a high barrier property against gas and moisture, and further the entire cathode 7 is covered as will be described later, so that the barrier property is high. The light emitting device is constituted by a thermosetting resin.

以上説明した構造、工程によって基板2に有機エレクトロルミネッセンス素子1が形成される。TFT102は個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1に対して1:1の関係で形成されており電気的には所謂アクティブマトリクス回路を構成する。ソース電極106を正極とし、ソース電極106と陰極7間に所定の電位差を設け、更にゲート電極104を所定の電位に制御することで、正孔がソース電極106、TFT102、ドレイン電極107、陽極3を経て発光層6に注入され、一方陰極7から発光層6に電子が注入される。発光層6では正孔と電子の再結合が生じ、これに伴って生成される励起子が励起状態から基底状態へ移行する際に発光現象が起こる。   The organic electroluminescence element 1 is formed on the substrate 2 by the structure and process described above. The TFTs 102 are formed in a 1: 1 relationship with respect to the individual organic electroluminescence elements 1 and electrically constitute a so-called active matrix circuit. The source electrode 106 is used as a positive electrode, a predetermined potential difference is provided between the source electrode 106 and the cathode 7, and the gate electrode 104 is controlled to a predetermined potential, so that holes are generated in the source electrode 106, the TFT 102, the drain electrode 107, and the anode 3. Then, electrons are injected into the light emitting layer 6, while electrons are injected from the cathode 7 into the light emitting layer 6. In the light emitting layer 6, recombination of holes and electrons occurs, and a light emission phenomenon occurs when excitons generated thereby shift from the excited state to the ground state.

このように実施例1の発光装置はアクティブマトリクス構成を有しており、上述の陰極7は複数の有機エレクトロルミネッセンス素子1の全面に跨って形成されることになる。パッシブマトリクス構成とした場合、陰極はストライプ状に形成する必要があり、多数の陰極に起因する段差が生じることになるが、アクティブマトリクス構成とした場合には陰極間の段差が封止性能に悪影響を与えることもない。このことも封止性能を改善する要因の一つである。   Thus, the light-emitting device of Example 1 has an active matrix configuration, and the above-described cathode 7 is formed across the entire surface of the plurality of organic electroluminescence elements 1. When the passive matrix configuration is used, the cathodes need to be formed in stripes, resulting in steps caused by a large number of cathodes. However, when the active matrix configuration is used, the steps between the cathodes adversely affect the sealing performance. Never give. This is also one of the factors that improve the sealing performance.

発光層6から放出された光は陽極3、中間層105、ゲート絶縁層103、ベースコート層101および基板2を透過し、基板2の面Aとは反対の面から射出され図示しない感光体を露光する。   Light emitted from the light emitting layer 6 is transmitted through the anode 3, the intermediate layer 105, the gate insulating layer 103, the base coat layer 101, and the substrate 2, and is emitted from the surface opposite to the surface A of the substrate 2 to expose a not-shown photoreceptor. To do.

<保護部>
9は例えば金属酸化物である酸化シリコンあるいは金属窒化物である窒化シリコンといった緻密な構造を有する材料によって構成された保護部である。保護部9は後に詳細に説明するように、少なくとも陰極7の全面を覆うように構成されている。実施例1において保護部9は少なくとも50ナノメートルの厚みを有する膜状構造物であり、例えばスパッタ法によって形成されている。実施例1の発光素子基板70を露光装置に応用する場合には発光素子基板70に可撓性は要求されないから、基本的には保護部9は製造工程における時間的制約が許す場合は、例えば10マイクロメートル程度に厚く形成するとよい。このように保護部9の厚みを増大させることで、当然の帰結として水分やガスに対するバリア性が格段に向上する。更に保護部9によって被覆される下部の構造物による段差などは確実に吸収され、結果的に保護部9の表面は凹凸のない均一な状態となる。この結果後述する封止部10との接着性が極めて安定したものとなり、保護部9と封止部10の接着面を密着させることができるため、これらの隙間から水分が浸入することを有効に防止できるようになる。また保護部9の表面は凹凸のない均一な状態であるため、封止部10の外周部分における接着強度は非常に強固なものとなり、外力による破損などに対しても信頼性を向上することが可能となる。上述の酸化シリコンや窒化シリコンの代替物としては、例えば酸窒化シリコンを用いてもよい。
<Protection part>
Reference numeral 9 denotes a protective portion made of a material having a dense structure such as silicon oxide which is a metal oxide or silicon nitride which is a metal nitride. As will be described later in detail, the protection unit 9 is configured to cover at least the entire surface of the cathode 7. In Example 1, the protective part 9 is a film-like structure having a thickness of at least 50 nanometers, and is formed by, for example, sputtering. When the light-emitting element substrate 70 of Example 1 is applied to an exposure apparatus, the light-emitting element substrate 70 is not required to be flexible. Therefore, the protection unit 9 basically has a time restriction in the manufacturing process, for example, It is good to form it as thick as about 10 micrometers. By increasing the thickness of the protective part 9 in this way, the barrier property against moisture and gas is remarkably improved as a natural consequence. Furthermore, the level | step difference by the lower structure covered with the protection part 9 is absorbed reliably, and the surface of the protection part 9 will be in a uniform state without an unevenness | corrugation as a result. As a result, the adhesiveness with the sealing portion 10 described later becomes extremely stable, and the adhesive surface of the protective portion 9 and the sealing portion 10 can be brought into close contact, so that it is effective for moisture to enter through these gaps. Can be prevented. Further, since the surface of the protective part 9 is in a uniform state without unevenness, the adhesive strength at the outer peripheral part of the sealing part 10 becomes very strong, and the reliability can be improved against damage due to external force. It becomes possible. As an alternative to the above-described silicon oxide or silicon nitride, for example, silicon oxynitride may be used.

<封止部>
10は熱硬化性樹脂で構成された封止部であり、封止部10は図示するごとく少なくとも画素規制部8でサイズ、形状を規制された発光部LSを完全に被覆している。後に図2を用いて詳細に説明するように封止部10は更に陰極7を完全に覆い、実施例1においてはその外周部は上述した保護部9に接着されている。
<Sealing part>
Reference numeral 10 denotes a sealing part made of a thermosetting resin, and the sealing part 10 completely covers the light emitting part LS whose size and shape are restricted by at least the pixel restricting part 8 as shown in the figure. As will be described in detail later with reference to FIG. 2, the sealing portion 10 further completely covers the cathode 7, and in the first embodiment, the outer peripheral portion thereof is bonded to the protective portion 9 described above.

さて熱硬化性樹脂としてはエポキシ系樹脂とアクリル系樹脂が一般的であるが、実施例1においては熱収縮性が小さい点と脱ガスが少ない点を考慮してエポキシ系樹脂を採用している。発光素子基板70上に封止部10を形成するにあたっては、ディスペンサーを用いて発光素子基板70上に形成された保護部9の上面に熱硬化性樹脂が塗布されるが、ディスペンサーの塗布速度と熱硬化性樹脂の供給量を調整して封止部10を所定の厚みとすることができる。   As the thermosetting resin, epoxy resin and acrylic resin are generally used. However, in Example 1, an epoxy resin is adopted in consideration of a small heat shrinkage and a small degassing. . In forming the sealing part 10 on the light emitting element substrate 70, a thermosetting resin is applied to the upper surface of the protective part 9 formed on the light emitting element substrate 70 using a dispenser. The sealing portion 10 can have a predetermined thickness by adjusting the supply amount of the thermosetting resin.

封止部10に必要とされる厚みについて以下に説明する。実施例1における発光素子基板70は個人用途の画像形成装置に搭載される露光装置への応用を想定したものであり、封止部10の厚みは100マイクロメートル程度で十分な封止性能を発揮する。一方で例えば表示装置のディスプレイ用途など高湿度環境に長時間置かれる可能性が比較的少ないアプリケーション用途であれば、封止部10の厚みは50マイクロメートル以上あればよい。またいわゆる高速タイプの画像形成装置に応用される露光装置など比較的高湿度環境におかれる可能性が高いアプリケーション用途であれば、封止部10の厚みは200マイクロメートル程度を目安とすればよい。   The thickness required for the sealing part 10 is demonstrated below. The light-emitting element substrate 70 in Example 1 is assumed to be applied to an exposure apparatus mounted on a personal-use image forming apparatus, and the sealing portion 10 has a thickness of about 100 micrometers and exhibits sufficient sealing performance. To do. On the other hand, the thickness of the sealing part 10 should just be 50 micrometers or more if it is an application use with a comparatively few possibility of being left in a high humidity environment for a long time, such as a display use of a display apparatus. In addition, for an application application that is likely to be placed in a relatively high humidity environment such as an exposure apparatus applied to a so-called high-speed type image forming apparatus, the thickness of the sealing portion 10 may be about 200 micrometers. .

熱硬化樹脂の塗布方法としては、上述のディスペンサーに限定されるものではない。   The method for applying the thermosetting resin is not limited to the above-mentioned dispenser.

また硬化条件は使用する熱硬化性樹脂によって異なるが、第一の硬化温度として100℃にて1時間ほど加熱処理を行い、その後150℃にて更に1時間ほど加熱処理を行うことが望ましい。急激な加熱による応力を緩和するために段階的に昇温硬化を行うことが望ましい。   Although the curing conditions vary depending on the thermosetting resin used, it is desirable that the first curing temperature is a heat treatment at 100 ° C. for about 1 hour, and then a heat treatment is performed at 150 ° C. for another hour. In order to relieve stress due to rapid heating, it is desirable to perform temperature-cure curing step by step.

通常、有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光層6を低分子材料で構成した場合、100℃、150℃といった高温環境下で封止部10を硬化させると、発光層6を構成する低分子材料が結晶化し発光機能が喪失されてしまう。更に一旦結晶化すると温度を下げても分子状態が復元することはない。これに対し既に説明した高分子材料を用いた場合は、このような高温環境下においても分子状態は変化せず発光機能は維持される。   Normally, when the light emitting layer 6 of the organic electroluminescence element 1 is made of a low molecular material, when the sealing portion 10 is cured in a high temperature environment such as 100 ° C. or 150 ° C., the low molecular material constituting the light emitting layer 6 is crystallized. The light emitting function is lost. Furthermore, once crystallized, the molecular state is not restored even if the temperature is lowered. On the other hand, when the polymer material already described is used, the molecular state does not change even in such a high temperature environment, and the light emitting function is maintained.

実施例1では熱硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を採用したが、他にポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリアクリレート、メチルフタレート単独重合体、または共重合体、ポリエチレンテレフタレート、ポリスチレン、ジエチレングリコールビスアリルカーボネート、アクリロニトリル/スチレン共重合体、ポリ(−4−メチルペンテン−1)、フェノール樹脂、シアナート樹脂、マレイミド樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂等が挙げられ、またこれらをポリビニルブチラール、アクリロニトリル−ブタジエンゴム、多官能性アクリレート化合物等で変性したものや、架橋ポリエチレン樹脂、架橋ポリエチレン/エポキシ樹脂、ポリフェニレンエーテル/シアナート樹脂等の熱可塑性樹脂で変性した熱硬化性樹脂などを用いることも可能である。また上記に挙げたような複数種の樹脂を併用して用いてもよい。なお光硬化性樹脂であっても加熱により硬化が促進するものであれば使用することが可能である。   In Example 1, an epoxy resin was used as the thermosetting resin, but polycarbonate, polymethyl methacrylate, polyacrylate, methyl phthalate homopolymer or copolymer, polyethylene terephthalate, polystyrene, diethylene glycol bisallyl carbonate, acrylonitrile / Examples include styrene copolymers, poly (-4-methylpentene-1), phenol resins, cyanate resins, maleimide resins, polyimide resins, acrylic resins, and the like, and these include polyvinyl butyral, acrylonitrile-butadiene rubber, and polyfunctional acrylates. Uses modified with compounds, etc., and thermosetting resins modified with thermoplastic resins such as crosslinked polyethylene resin, crosslinked polyethylene / epoxy resin, polyphenylene ether / cyanate resin, etc. It is also possible. A plurality of types of resins as listed above may be used in combination. In addition, even if it is a photocurable resin, if a hardening accelerates | stimulates by heating, it can be used.

封止部10として用いたエポキシ系樹脂に関しては、光硬化性樹脂と熱硬化性樹脂の二つのタイプが存在する。前者には光反応性の架橋開始剤が加えられており硬化反応は光によって開始され、その後最終処理として比較的低温例えば80℃で硬化させる。これに対して後者の熱硬化性樹脂は硬化反応も熱によって開始され、すべての硬化を熱によって行うため、接着性を支配する架橋密度は光硬化性樹脂に比べて熱硬化性樹脂の方が高くなる。この架橋密度は水分やガスに対するバリア性とも密接な関係があり、架橋密度が大きくなるほどバリア性も向上する。   Regarding the epoxy resin used as the sealing portion 10, there are two types, a photocurable resin and a thermosetting resin. In the former, a photoreactive crosslinking initiator is added, and the curing reaction is initiated by light, and then cured at a relatively low temperature, for example, 80 ° C. as a final treatment. In contrast, in the latter thermosetting resin, the curing reaction is also initiated by heat, and all curing is performed by heat. Therefore, the crosslinking density that governs the adhesiveness is higher for thermosetting resins than for photocurable resins. Get higher. This crosslink density is also closely related to the barrier property against moisture and gas, and the barrier property is improved as the crosslink density is increased.

また熱硬化性樹脂のガラス転移温度は高くなればなるほど硬化後の樹脂の硬度は上がるため、接着強度は低下し外部もしくは内部からの応力により基板からの剥離の原因となる。そのため樹脂のガラス転移温度は高ければ封止性能が上がるというものではない。逆にガラス転移温度が低い樹脂は樹脂内部の密着強度が低くなり機密性が低下してしまう。これらを勘案するとガラス転移温度が140℃から180℃の範囲である樹脂を選択することが望ましい。   Further, the higher the glass transition temperature of the thermosetting resin, the higher the hardness of the resin after curing, so that the adhesive strength is reduced, which causes peeling from the substrate due to external or internal stress. Therefore, if the glass transition temperature of the resin is high, the sealing performance is not improved. On the other hand, a resin having a low glass transition temperature has a low adhesion strength inside the resin, resulting in a decrease in confidentiality. Considering these, it is desirable to select a resin having a glass transition temperature in the range of 140 ° C to 180 ° C.

更に樹脂の透湿性を改善するために樹脂自体に無機物の充填剤(フィラー)を加えてもよい。無機物の充填剤を加えることによって樹脂内部を透過する水分やガス等の浸入経路を長くすることができる。また樹脂からの脱ガスにより高分子有機エレクトロルミネッセンスへのダメージを極力抑えるため、溶媒や反応開始剤といったものは少ないほうが望ましい。   Further, an inorganic filler (filler) may be added to the resin itself in order to improve the moisture permeability of the resin. By adding an inorganic filler, it is possible to lengthen the infiltration path of moisture, gas, etc. that permeate the inside of the resin. Also, in order to suppress damage to the polymer organic electroluminescence as much as possible by degassing from the resin, it is desirable that there are few solvents and reaction initiators.

この無機物の充填剤は、例えば板状無機充填剤、鱗片状無機充填剤とすることが望ましい。板状無機充填剤、鱗片状無機充填剤とはそのほとんどの場合において劈開性を有する無機充填剤である。劈開とは結晶がある決まった方向に容易に割れるかあるいははがれて平滑な面(劈開面)が現れることをいう。つまり結果的に劈開性を有していれば充填剤の個々の粒子は板状か鱗片状となる。このような無機充填剤の例としてはタルク、マイカ、雲母などがあるが、形状の要件さえ満たせばガラスフレークでもよく、特に限定されるものではない。   The inorganic filler is preferably, for example, a plate-like inorganic filler or a scale-like inorganic filler. The plate-like inorganic filler and the scale-like inorganic filler are inorganic fillers having cleavage properties in most cases. Cleavage means that a crystal is easily cracked or peeled off in a certain direction and a smooth surface (cleavage surface) appears. That is, as a result, if it has cleavage property, each particle | grain of a filler will become plate shape or scale shape. Examples of such inorganic fillers include talc, mica, mica, and the like, but glass flakes are not particularly limited as long as the shape requirements are satisfied.

またこれらの無機充填剤の添加量も重要なファクターである。本発明に用いられる熱硬化性樹脂において、板状無機充填剤または鱗片状無機充填剤からなる無機充填剤の含有量を20重量パーセント以上とすることで、封止部10の透湿性を顕著に低下させることが可能である。   The amount of these inorganic fillers added is also an important factor. In the thermosetting resin used in the present invention, the moisture permeability of the sealing portion 10 is remarkably increased by setting the content of the inorganic filler composed of the plate-like inorganic filler or the scaly inorganic filler to 20 weight percent or more. It can be reduced.

更に樹脂の透湿性を改善するために無機物の充填剤と同様に樹脂自体に表面に微細孔をもつ無機多孔質材料いわゆるゼオライトを加えてもよい。無機多孔質材料を加えることによって、樹脂内部を透過する水分やガス等が無機多孔質材料の表面に形成された微細孔に吸着され、発光部に到達する前に捕獲される。更には樹脂からの脱ガス成分も吸着することから高分子有機エレクトロルミネッセンスへのダメージを抑えることが可能となる。   Further, in order to improve the moisture permeability of the resin, an inorganic porous material so-called zeolite having fine pores on the surface thereof may be added to the resin itself as well as the inorganic filler. By adding the inorganic porous material, moisture, gas, and the like that permeate the inside of the resin are adsorbed by the micropores formed on the surface of the inorganic porous material and captured before reaching the light emitting portion. Furthermore, since the degassed component from the resin is also adsorbed, it is possible to suppress damage to the polymer organic electroluminescence.

この無機多孔質材料は、たとえば天然ゼオライト、合成ゼオライト、シリカゲルとすることが望ましく、また多孔質表面を持つ活性炭も使用可能である。また、無機多孔質材料の直径はおよそ5マイクロメートル以下が望ましく、10マイクロメートル以上になってしまうと、高分子有機エレクトロルミネッセンスの短絡の要因となってしまう。   The inorganic porous material is preferably natural zeolite, synthetic zeolite, or silica gel, and activated carbon having a porous surface can also be used. Further, the diameter of the inorganic porous material is preferably about 5 micrometers or less, and if it becomes 10 micrometers or more, it will cause a short circuit of the polymer organic electroluminescence.

また、これらの無機多孔質材料の添加量も、板状無機充填剤または鱗片状無機充填剤からなる無機充填剤と同様に重要なファクターである。本発明に用いられる熱硬化性樹脂において、無機多孔質材料は板状無機充填剤または鱗片状無機充填剤からなる無機充填剤の含有量を同等もしくは、それ以上とすることで、封止部10の透湿性を顕著に低下させることが可能である。   Moreover, the addition amount of these inorganic porous materials is also an important factor similarly to the inorganic filler comprising a plate-like inorganic filler or a scale-like inorganic filler. In the thermosetting resin used in the present invention, the inorganic porous material has the same or more content of the inorganic filler composed of the plate-like inorganic filler or the flaky inorganic filler, so that the sealing portion 10 It is possible to significantly reduce the moisture permeability.

さて<発光層>で説明したように高分子有機エレクトロルミネッセンス材料は、低分子有機エレクトロルミネッセンス材料と比較して遥かに耐熱温度が高い。従って発光層6を高分子有機エレクトロルミネッセンス材料で構成した場合は、封止部10として光硬化性樹脂に対して水分やガスのバリア性が格段優れる熱硬化性樹脂を採用しても有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光特性が劣化するようなことはない。このように耐熱性が高い高分子有機エレクトロルミネッセンス材料で構成された有機エレクトロルミネッセンス素子1を熱硬化性樹脂を用いて封止することで、本発明の発光素子基板70は簡易な構造、簡易な工程で製造可能なのにも関わらず、高い封止性能を得ることができるのである。   As described in <Light-Emitting Layer>, the high-molecular organic electroluminescent material has a much higher heat-resistant temperature than the low-molecular organic electroluminescent material. Therefore, when the light emitting layer 6 is composed of a polymer organic electroluminescence material, the organic electroluminescence can be used even if a thermosetting resin having a water or gas barrier property that is remarkably superior to the photocurable resin is used as the sealing portion 10. The light emission characteristics of the element 1 are not deteriorated. The light emitting device substrate 70 of the present invention has a simple structure and a simple structure by sealing the organic electroluminescent device 1 composed of the polymer organic electroluminescent material having high heat resistance with a thermosetting resin. Despite being manufacturable in the process, high sealing performance can be obtained.

封止部10を構成する熱硬化性樹脂は、最終的な硬化温度を150℃に設定しているが、<発光層>で説明したように高分子有機エレクトロルミネッセンス材料によって構成された発光層6に対するベイク温度は180℃である。即ち実施例1では発光部LSの形成にあたって所定の熱処理(ベイク工程)を行なうとともに、熱硬化性樹脂を硬化させる温度を、この所定の熱処理の温度より低い温度に管理している。   The thermosetting resin constituting the sealing portion 10 has a final curing temperature set to 150 ° C., but as described in <Light emitting layer>, the light emitting layer 6 made of a polymer organic electroluminescent material. Is baked at 180 ° C. That is, in Example 1, a predetermined heat treatment (baking process) is performed in forming the light emitting portion LS, and the temperature at which the thermosetting resin is cured is controlled to be lower than the temperature of the predetermined heat treatment.

このように製造工程が後段になるほど加工に必要な温度条件を緩和することで、例えば構造物の熱膨張によって発光層6にクラックが生じるなど、歩留りを悪化させる要因を最小限に抑えることが可能となる。   In this way, by relaxing the temperature conditions necessary for processing as the manufacturing process becomes later, it is possible to minimize the factors that deteriorate the yield, for example, cracks occur in the light emitting layer 6 due to the thermal expansion of the structure. It becomes.

<封止部外周部分>
図2は本発明の実施例1の発光素子基板70における封止部10の外周部分の構成を示す断面図である。
<Outer part of sealing part>
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the outer peripheral portion of the sealing portion 10 in the light emitting element substrate 70 of Example 1 of the present invention.

以降図2を用いて封止部10の外周部分の構成を詳細に説明する。   Hereinafter, the configuration of the outer peripheral portion of the sealing portion 10 will be described in detail with reference to FIG.

図2において矢印Pは発光素子基板70を構成する構造物(即ち基板2、ベースコート層101、ゲート絶縁層103、中間層105、TFT保護層108、画素規制部8、発光層6、陰極7、保護部9、封止部10)が図1の矢印Pから引き続き形成されていることを示し、矢印Qについても同様である。ただし矢印Pや矢印Qの位置で図1と図2が直ちに連結するものではなく、図示しない若干の空間を介して連結されている。また矢印Qの場合は、図2を紙面の左右方向に反転させた構造が図1の矢印Qの位置から引き続き形成されていることを示している。   In FIG. 2, an arrow P indicates a structure constituting the light emitting element substrate 70 (that is, the substrate 2, the base coat layer 101, the gate insulating layer 103, the intermediate layer 105, the TFT protective layer 108, the pixel restricting portion 8, the light emitting layer 6, the cathode 7). The protection part 9 and the sealing part 10) are continuously formed from the arrow P in FIG. 1, and the same applies to the arrow Q. However, FIG. 1 and FIG. 2 are not immediately connected at the position of the arrow P or the arrow Q, but are connected through a small space (not shown). Further, in the case of the arrow Q, it is shown that a structure obtained by inverting FIG. 2 in the left-right direction of the drawing is continuously formed from the position of the arrow Q in FIG.

図2に図示するように、実施例1では電極(陰極7)と封止部10の間に少なくとも電極(陰極7)の全面を覆う保護部9を形成し、封止部10の外周部分を保護部9に接着するように構成している。   As shown in FIG. 2, in Example 1, a protective portion 9 that covers at least the entire surface of the electrode (cathode 7) is formed between the electrode (cathode 7) and the sealing portion 10, and an outer peripheral portion of the sealing portion 10 is formed. It is configured to adhere to the protection unit 9.

<発光層>で説明したベイク工程の後に、真空蒸着法によって少なくとも発光部LS(図1参照)の全面を覆うように陰極7が形成される。陰極7を形成する範囲は真空蒸着におけるマスクによって比較的高い自由度をもって調整することができる。実施例1では陰極7を形成した後、保護部9を少なくとも陰極7および画素規制部8の全面を覆うように形成している。既に述べたように実施例1では画素規制部8は酸化シリコンあるいは窒化シリコンによって形成されているが、この際に保護部9は画素規制部8を構成する材料と同一の材料で形成することが望ましい。即ち画素規制部8が金属酸化物である酸化シリコンであれば、保護部9も同様に酸化シリコンとすることが望ましい。これによって画素規制部8と保護部9の接触部での結合がより強固なものとなり、これらによって挟まれる発光層6と陰極7を外界から遮蔽する効果を高めることが可能となる。   After the baking step described in <Light emitting layer>, the cathode 7 is formed so as to cover at least the entire surface of the light emitting portion LS (see FIG. 1) by vacuum deposition. The range in which the cathode 7 is formed can be adjusted with a relatively high degree of freedom by a mask in vacuum deposition. In Example 1, after the cathode 7 is formed, the protective portion 9 is formed so as to cover at least the entire surface of the cathode 7 and the pixel restricting portion 8. As already described, in the first embodiment, the pixel restricting portion 8 is formed of silicon oxide or silicon nitride. At this time, the protective portion 9 may be formed of the same material as that constituting the pixel restricting portion 8. desirable. That is, if the pixel restricting portion 8 is silicon oxide that is a metal oxide, it is desirable that the protective portion 9 is also made of silicon oxide. As a result, the coupling at the contact portion between the pixel restricting portion 8 and the protection portion 9 becomes stronger, and the effect of shielding the light emitting layer 6 and the cathode 7 sandwiched between them from the outside can be enhanced.

保護部9を形成した後に<封止部>で説明した工程によって封止部10が形成される。このとき封止部10の外周部POは保護部9と接着されている。<封止部>で既に述べたように保護部9は酸化シリコンなどの極めて緻密な材料で構成されるとともに、かつ十分厚く形成することができるため、保護部9の表面はその下部の構造物の凹凸の影響を受けず極めて平滑度が高くなる。これによって保護部9の上に形成された封止部10は保護部9に安定に接着される。   After forming the protective part 9, the sealing part 10 is formed by the process described in <Sealing part>. At this time, the outer peripheral portion PO of the sealing portion 10 is bonded to the protective portion 9. As already described in <Sealing part>, the protective part 9 is made of a very dense material such as silicon oxide and can be formed sufficiently thick, so that the surface of the protective part 9 is a structure below it. Smoothness is extremely high without being affected by the unevenness of the film. As a result, the sealing part 10 formed on the protection part 9 is stably bonded to the protection part 9.

さてこのように保護部9と封止部10が強固に接着し、内部の有機エレクトロルミネッセンス素子1を密封状態にしたとしても、極めて微量の水分が有機エレクトロルミネッセンス素子1まで侵入することがある。これを極力抑え発光素子基板70の長期にわたる信頼性を確保するためには、拭き取られた(拭き取り工程については<発光層>の記述を参照)発光層6の端部と封止部10の最外周の距離Lf(封止しろ)をなるべく長く確保することが必要となる。封止しろLfとしては少なくとも0.5ミリメートル以上は必要であり2ミリメートルあれば十分な封止性能を確保することができる。   Even if the protective part 9 and the sealing part 10 are firmly bonded in this way and the internal organic electroluminescent element 1 is sealed, an extremely small amount of water may enter the organic electroluminescent element 1. In order to suppress this as much as possible and ensure long-term reliability of the light emitting element substrate 70, the end of the light emitting layer 6 and the sealing portion 10 are wiped off (see the description of <light emitting layer> for the wiping process). It is necessary to secure the outermost peripheral distance Lf (sealing margin) as long as possible. The sealing margin Lf is required to be at least 0.5 mm or more, and if it is 2 mm, sufficient sealing performance can be ensured.

通常、発光素子基板70を構成するTFT102(図1参照)に係る構造においては、TFT保護層108の周辺部にTFT102を駆動するため制御信号を入力するインタフェースを構成する。具体的にはTFT保護層108の周辺部に外部回路とコンタクトするためのコンタクトホール(図示せず)を形成するが、コンタクトホールおよびコンタクトホールに接続された外部配線(図示せず)には凹凸が存在するため、単に封止しろLfを確保するために封止部10の範囲を拡大しても封止部10がコンタクト部を覆うような場合には、下部の凹凸によって逆に水分やガスに対するバリア性が損なわれる恐れがある。   In general, in the structure related to the TFT 102 (see FIG. 1) constituting the light emitting element substrate 70, an interface for inputting a control signal to drive the TFT 102 is configured in the peripheral portion of the TFT protective layer 108. Specifically, a contact hole (not shown) for making contact with an external circuit is formed in the periphery of the TFT protective layer 108, but the contact hole and the external wiring (not shown) connected to the contact hole are uneven. Therefore, if the sealing part 10 covers the contact part even if the range of the sealing part 10 is simply expanded in order to secure the sealing margin Lf, moisture or gas is conversely formed by the unevenness of the lower part. There is a possibility that the barrier property against the above may be impaired.

図3は本発明の実施例1の発光素子基板70において封止部10を外部回路とのコンタクトホールおよび外部配線の領域まで拡大した場合の断面図である。   FIG. 3 is a cross-sectional view of the light emitting element substrate 70 according to the first embodiment of the present invention when the sealing portion 10 is enlarged to a contact hole with an external circuit and an external wiring region.

以降図3を用いて封止部10を外部回路とのコンタクトホールおよび外部配線の領域まで拡大した場合の構成について説明する。なお図3においては図2に記載した発光層6や陰極7は図示していないが、これは発光層6の端部と封止部10の最外周の距離を示す封止しろLfが十分大きく、図3に図示する領域には発光層6や陰極7が存在しないためである。   Hereinafter, a configuration in the case where the sealing portion 10 is expanded to a contact hole with an external circuit and an external wiring region will be described with reference to FIG. In FIG. 3, the light emitting layer 6 and the cathode 7 shown in FIG. 2 are not shown, but this is because the sealing margin Lf indicating the distance between the end of the light emitting layer 6 and the outermost periphery of the sealing portion 10 is sufficiently large. This is because the light emitting layer 6 and the cathode 7 do not exist in the region shown in FIG.

図3において119はゲート絶縁層103上に設けられた配線パターンである。110はTFT保護層108に開口として設けられ外部回路(図示せず)との接続を図るコンタクトホールであり、120はコンタクトホール110に接続され配線パターン119と外部回路(図示せず)とを結ぶ外部配線である。図3においてコンタクトホール110および外部配線120はそれぞれ一つのみを示しているが、実際の発光素子基板70ではこれらは紙面と垂直な方向に複数設けられている。従ってTFT保護層108の表面には、外部配線120の有無による凹凸が存在している。   In FIG. 3, reference numeral 119 denotes a wiring pattern provided on the gate insulating layer 103. 110 is a contact hole provided as an opening in the TFT protective layer 108 for connection to an external circuit (not shown), and 120 is connected to the contact hole 110 to connect the wiring pattern 119 and the external circuit (not shown). External wiring. In FIG. 3, only one contact hole 110 and one external wiring 120 are shown. However, in the actual light emitting element substrate 70, a plurality of these are provided in a direction perpendicular to the paper surface. Therefore, the surface of the TFT protective layer 108 has unevenness due to the presence or absence of the external wiring 120.

実施例1では発光素子基板70に少なくとも発光部LS(図1参照)の駆動に係る制御信号を入力する配線部(外部配線120)を有し、保護部9をこの外部配線120を覆うように構成するとともに、封止部10を保護部9に接着するように構成している。   In Example 1, the light emitting element substrate 70 has at least a wiring part (external wiring 120) for inputting a control signal related to driving of the light emitting part LS (see FIG. 1), and the protection part 9 covers the external wiring 120. In addition, the sealing unit 10 is configured to adhere to the protection unit 9.

TFT保護層108の上に形成された外部配線120はITOをベースとし、その上に配線抵抗を低減するために例えばモリブデンなどの金属層を設けた多層構造を有しており、例えばスパッタ法などによって形成することができる。このようにして形成される外部配線の厚みは150〜200ナノメートル程度である。<封止部>において既に説明したように保護部9は例えば数10マイクロメートルといった十分な厚みに形成できるから、高々200ナノメートル程度の厚みしかない外部配線120が形成する凹凸は保護部9によってほぼ完全に埋められ、結果的にコンタクトホール110および外部配線120が存在する範囲は保護部9によって凹凸のない均一な面となる。また保護部9の形成にあたってはスパッタ法などの乾式プロセスを採用しているため、保護部9を構成する金属酸化物や金属窒化物は外部配線120による凹凸に極めて密に埋まり、これらの間に水分やガスに対するバリア性を阻害する隙間が生じることはない。   The external wiring 120 formed on the TFT protective layer 108 is based on ITO, and has a multilayer structure in which a metal layer such as molybdenum is provided thereon to reduce wiring resistance. Can be formed. The thickness of the external wiring thus formed is about 150 to 200 nanometers. As already described in <Sealing part>, the protective part 9 can be formed to a sufficient thickness, for example, several tens of micrometers. Therefore, the unevenness formed by the external wiring 120 having a thickness of about 200 nanometers at most is formed by the protective part 9. The area in which the contact hole 110 and the external wiring 120 exist is almost completely filled, and as a result, the protective portion 9 forms a uniform surface without unevenness. Further, since a dry process such as a sputtering method is employed for forming the protective part 9, the metal oxide and metal nitride constituting the protective part 9 are buried very densely in the irregularities formed by the external wiring 120, and between them. There is no gap that impedes barrier properties against moisture and gas.

実施例1ではこのようにして形成された保護部9の上に、少なくとも封止部10の外周部を接着するようにしたから、封止部10は保護部9に極めて安定に接着される。   In Example 1, since at least the outer peripheral portion of the sealing portion 10 is adhered on the protective portion 9 formed in this manner, the sealing portion 10 is adhered to the protective portion 9 very stably.

なお図2に示すように保護部9を外部配線120が形成される領域まで到達しないように構成した場合は、保護部9として上述した金属酸化物や金属窒化物に替えて金属を用いてもよい。このようにすることでTFT102(図1参照)およびその配線に係る領域の全てが金属で被覆されるため(かつ電位は陰極7と同じでありGNDとすることができる)外来ノイズなどを遮断し、TFT102(図1参照)の誤動作を低減することが可能となる。しかしこの場合は配線パターン119と保護部9がごく近傍にあることから、静電容量によってTFT102(図1参照)の動作速度が制約を受ける恐れがある。この問題に対しては中間層105、TFT保護層108の厚みを増大させれば耐ノイズ性と静電容量による遅延を両立させることが可能である。   As shown in FIG. 2, when the protection unit 9 is configured not to reach the region where the external wiring 120 is formed, a metal may be used as the protection unit 9 instead of the metal oxide or metal nitride described above. Good. In this way, since the TFT 102 (see FIG. 1) and the entire wiring region are covered with metal (and the potential is the same as that of the cathode 7 and can be GND), external noise and the like are blocked. Thus, malfunction of the TFT 102 (see FIG. 1) can be reduced. However, in this case, since the wiring pattern 119 and the protection unit 9 are very close to each other, the operation speed of the TFT 102 (see FIG. 1) may be restricted by the capacitance. With respect to this problem, if the thickness of the intermediate layer 105 and the TFT protective layer 108 is increased, it is possible to achieve both noise resistance and delay due to capacitance.

一方図3に示すように保護部9を外部配線120が形成される領域まで広げて構成した場合は保護部9には絶縁性が要求されるため、保護部9を構成する材料として金属を用いることはできず、既に説明した金属酸化物や金属窒化物を用いることとなる。   On the other hand, as shown in FIG. 3, when the protective portion 9 is configured to extend to the region where the external wiring 120 is formed, the protective portion 9 is required to have insulation, and therefore metal is used as the material constituting the protective portion 9. However, the metal oxides and metal nitrides already described are used.

<発光素子基板の全体構成>
図4(a)は本発明の実施例1の発光素子基板70の上面図であり、図4(b)は同要部拡大図である。以降図4を用いて実施例1における発光素子基板70の構成について詳細に説明する。
<Overall structure of light-emitting element substrate>
4A is a top view of the light-emitting element substrate 70 according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4B is an enlarged view of the main part thereof. Hereinafter, the configuration of the light-emitting element substrate 70 in Example 1 will be described in detail with reference to FIG.

図4において発光素子基板70は厚みが約0.7ミリメートルの、少なくとも長辺と短辺を有する長方形形状の基板であり、その長辺方向(主走査方向)には発光素子である複数の有機エレクトロルミネッセンス素子1が列状に形成されている。有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光部(図示せず)は高分子有機エレクトロルミネッセンス材料から構成されていることは既に述べたとおりである。実施例1では発光素子基板70の長辺方向には少なくともA4サイズ(210ミリメートル)の露光に必要な発光素子が配置され、発光素子基板70の長辺方向は後述する駆動制御部78の配置スペースを含め250ミリメートルとしている。また実施例1では簡単のために発光素子基板70を長方形として説明するが、発光素子基板70を後に説明する露光装置の筐体A74aに取り付ける際の位置決め用などのために、発光素子基板70の一部に切り欠きを設けるような変形を伴っていてもよい。   In FIG. 4, a light emitting element substrate 70 is a rectangular substrate having a thickness of about 0.7 millimeters and having at least a long side and a short side. A plurality of organic light emitting elements are arranged in the long side direction (main scanning direction). The electroluminescence elements 1 are formed in a row. As described above, the light emitting portion (not shown) of the organic electroluminescence element 1 is made of a polymer organic electroluminescence material. In the first embodiment, light emitting elements necessary for at least A4 size (210 millimeter) exposure are arranged in the long side direction of the light emitting element substrate 70, and the long side direction of the light emitting element substrate 70 is an arrangement space of a drive control unit 78 described later. Including 250 mm. In the first embodiment, the light emitting element substrate 70 is described as a rectangle for the sake of simplicity. However, the positioning of the light emitting element substrate 70 is not limited for the purpose of positioning when the light emitting element substrate 70 is attached to a housing A74a of an exposure apparatus described later. It may be accompanied by such a deformation that a part is notched.

78は発光素子基板70の外部から供給される制御信号(有機エレクトロルミネッセンス素子1を駆動するための信号)を受け取り、この制御信号に基づいて有機エレクトロルミネッセンス素子1の駆動を制御する駆動制御部であり、後述するように制御信号を発光素子基板70の外部から受け取るインタフェース手段(FPC80)とインタフェース手段を介して受け取った制御信号に基づき発光素子の駆動を制御するICチップ(ソースドライバ81)を含んでいる。   A drive control unit 78 receives a control signal (a signal for driving the organic electroluminescence element 1) supplied from the outside of the light emitting element substrate 70, and controls the driving of the organic electroluminescence element 1 based on the control signal. And includes an interface means (FPC 80) for receiving a control signal from the outside of the light emitting element substrate 70 and an IC chip (source driver 81) for controlling the driving of the light emitting element based on the control signal received through the interface means, as will be described later. It is out.

80は中継基板72のコネクタA73a(図5参照)と発光素子基板70とを接続するインタフェース手段としてのFPC(フレキシブルプリント回路)であり、コネクタなどを介さず発光素子基板70に設けられた図示しない回路パターンに直接接続されている。既に説明したように露光装置33(図5参照)に外部から供給された、画像データ、光量補正データ、クロック信号やライン同期信号などの制御信号、制御回路の駆動電源、発光素子である有機エレクトロルミネッセンス素子1の駆動電源は、中継基板72(図5参照)を一旦経由した後にFPC80を介して発光素子基板70に供給される。   Reference numeral 80 denotes an FPC (flexible printed circuit) as an interface means for connecting the connector A 73a (see FIG. 5) of the relay substrate 72 and the light emitting element substrate 70, and is not shown provided on the light emitting element substrate 70 without using a connector or the like. Connected directly to the circuit pattern. As described above, the image data, the light amount correction data, the control signal such as the clock signal and the line synchronization signal, the driving power source of the control circuit, and the organic electroluminescence which is the light emitting element are supplied to the exposure apparatus 33 (see FIG. 5) from the outside. The drive power for the luminescence element 1 is supplied to the light emitting element substrate 70 via the FPC 80 after passing through the relay substrate 72 (see FIG. 5) once.

実施例1では後述する露光装置の光源としての有機エレクトロルミネッセンス素子1は、発光素子基板70の長手方向(主走査方向)に600dpiの解像度で5120個が列状に形成されており、個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1はそれぞれ独立に後述のTFT回路によって点灯/消灯を制御される。   In Example 1, 5120 organic electroluminescence elements 1 as light sources of an exposure apparatus to be described later are formed in a row at a resolution of 600 dpi in the longitudinal direction of the light emitting element substrate 70 (main scanning direction). The electroluminescence elements 1 are independently controlled to be turned on / off by a TFT circuit described later.

81は有機エレクトロルミネッセンス素子1の駆動を制御するICチップとして供給されるソースドライバであり、発光素子基板70上にフリップチップ実装されている。ガラス面へ表面実装を行うことを考慮しソースドライバ81はベアチップ品を採用している。ソースドライバ81には露光装置33の外部からFPC80を介して、電源、クロック信号、ライン同期信号などの制御関連信号および光量補正データ(例えば8ビットの多値データ)が供給される。ソースドライバ81は後に詳細に説明するように、有機エレクトロルミネッセンス素子1に対する駆動パラメータ設定手段であり、より具体的にはFPC80を介して受け渡された光量補正データに基づき個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1の駆動電流値を設定するためのものである。   A source driver 81 is supplied as an IC chip for controlling the driving of the organic electroluminescence element 1 and is flip-chip mounted on the light emitting element substrate 70. Considering that surface mounting is performed on the glass surface, the source driver 81 employs a bare chip product. The source driver 81 is supplied with control-related signals such as a power supply, a clock signal, and a line synchronization signal, and light amount correction data (for example, 8-bit multi-value data) from the outside of the exposure apparatus 33 via the FPC 80. As will be described in detail later, the source driver 81 is a drive parameter setting unit for the organic electroluminescence element 1. More specifically, the source driver 81 is based on the light amount correction data passed through the FPC 80. This is for setting the drive current value.

発光素子基板70においてFPC80の接合部とソースドライバ81は、例えば表面にメタルを形成したITOの回路パターン(図示せず)を介して接続されており、駆動パラメータ設定手段たるソースドライバ81にはFPC80を介して光量補正データ、クロック信号、ライン同期信号などの制御信号が入力される。このようにインタフェース手段としてのFPC80および駆動パラメータ設定手段としてのソースドライバ81は駆動制御部78を構成している。   In the light emitting element substrate 70, the joint portion of the FPC 80 and the source driver 81 are connected through, for example, an ITO circuit pattern (not shown) having a metal formed on the surface, and the FPC 80 is connected to the source driver 81 as drive parameter setting means. Control signals such as light quantity correction data, a clock signal, and a line synchronization signal are input via the. Thus, the FPC 80 as the interface means and the source driver 81 as the drive parameter setting means constitute the drive control unit 78.

108は既に説明したTFT保護層であり、TFT保護層108の表面下には図示しないTFT(Thin Film Transistor)回路が形成されている。TFT回路はシフトレジスタ、データラッチ部など、発光素子の点灯/消灯のタイミングを制御するゲートコントローラ、および個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1に駆動電流を供給する駆動回路(以降ピクセル回路と呼称する)とを含んでいる。ピクセル回路は各有機エレクトロルミネッセンス素子1に対して1つずつ設けられ、有機エレクトロルミネッセンス素子1が形成する発光素子列と並列に配置されている。後に詳述するように駆動パラメータ設定手段であるソースドライバ81によって、個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1を駆動するための駆動電流値がピクセル回路に設定される。   Reference numeral 108 denotes the TFT protective layer already described, and a TFT (Thin Film Transistor) circuit (not shown) is formed under the surface of the TFT protective layer 108. The TFT circuit includes a shift controller, a data latch unit, and the like, a gate controller that controls the timing of turning on / off the light emitting elements, and a driving circuit that supplies a driving current to each organic electroluminescence element 1 (hereinafter referred to as a pixel circuit). Is included. One pixel circuit is provided for each organic electroluminescence element 1 and is arranged in parallel with the light emitting element row formed by the organic electroluminescence element 1. As will be described later in detail, a drive current value for driving each organic electroluminescence element 1 is set in the pixel circuit by a source driver 81 as drive parameter setting means.

TFT回路(図示せず)には露光装置(図示せず)の外部からFPC80を介して、電源、クロック信号、ライン同期信号などの制御信号および画像データ(1ビットの2値データ)が供給され、TFT回路(図示せず)はこれらの電源および信号に基づいて個々の発光素子の点灯/消灯タイミングを制御する。   A TFT circuit (not shown) is supplied with a control signal such as a power supply, a clock signal, and a line synchronization signal and image data (1-bit binary data) from the outside of the exposure apparatus (not shown) via the FPC 80. The TFT circuit (not shown) controls the lighting / extinguishing timing of each light emitting element based on these power supplies and signals.

既に説明したように9はTFT保護層108上に形成された保護部であり、保護部9の上には封止部10が設けられている。TFT保護層108にはコンタクトホール110が形成され、コンタクトホール110には外部配線120が接続されている。図4では説明を容易にするために、有機エレクトロルミネッセンス素子1、コンタクトホール110、外部配線120を目視可能に描いているが、これらは保護部9および封止部10によって被覆されているため実際は目視することはできない。なお図4に示しているのは、保護部9がコンタクトホール110の全てと外部配線120の一部を被覆する構成とした場合であり、図3を用いて説明した構成に相当している。   As already described, reference numeral 9 denotes a protective part formed on the TFT protective layer 108, and the sealing part 10 is provided on the protective part 9. A contact hole 110 is formed in the TFT protective layer 108, and an external wiring 120 is connected to the contact hole 110. In FIG. 4, for easy explanation, the organic electroluminescence element 1, the contact hole 110, and the external wiring 120 are drawn so as to be visible, but these are actually covered with the protective part 9 and the sealing part 10, so It cannot be visually observed. FIG. 4 shows a case where the protective portion 9 is configured to cover all of the contact holes 110 and a part of the external wiring 120, and corresponds to the configuration described with reference to FIG.

実施例1では図4に示すようにTFT保護層108に開口としてコンタクトホール110を設け、ITO+メタルによる外部配線120を介してソースドライバ81と接続するように構成したが、TFT保護層108をソースドライバ81の配置領域まで拡張し、ICチップ(ベアチップ)であるソースドライバ81の信号端子(バンプ部位)に相当する位置にコンタクトホール110の開口を設け、ここに直接ソースドライバ81を接合するように構成してもよい。こうすることで外部配線120をTFT回路を作成する過程で同時に形成することが可能となり、発光素子基板70の製造工程をシンプルにすることができる。また同様にFPC80の接合部とソースドライバ81の間の配線もTFT保護層108の下に設けることもできる。   In the first embodiment, as shown in FIG. 4, a contact hole 110 is provided as an opening in the TFT protective layer 108 and is connected to the source driver 81 via the external wiring 120 made of ITO + metal. The contact hole 110 is opened at a position corresponding to a signal terminal (bump part) of the source driver 81 which is an IC chip (bare chip), and extended to the arrangement area of the driver 81, and the source driver 81 is directly joined thereto. It may be configured. In this way, the external wiring 120 can be simultaneously formed in the process of creating the TFT circuit, and the manufacturing process of the light emitting element substrate 70 can be simplified. Similarly, a wiring between the junction portion of the FPC 80 and the source driver 81 can also be provided under the TFT protective layer 108.

77はアモルファスシリコンなどで構成される複数の光量センサを発光素子基板70に沿って主走査方向に配置した光量センサユニットである。光量センサユニット77によって個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光光量が計測される。光量センサユニット77の出力は図示しない配線によって一旦TFT回路(図示せず)に取り込まれ増幅、アナログ−ディジタル変換などの信号処理を経た後、FPC80を介して発光素子基板70の外部に出力される。   Reference numeral 77 denotes a light quantity sensor unit in which a plurality of light quantity sensors made of amorphous silicon or the like are arranged along the light emitting element substrate 70 in the main scanning direction. The amount of light emitted from each organic electroluminescence element 1 is measured by the light amount sensor unit 77. The output of the light amount sensor unit 77 is once taken into a TFT circuit (not shown) by a wiring (not shown), subjected to signal processing such as amplification and analog-digital conversion, and then output to the outside of the light emitting element substrate 70 via the FPC 80. .

この信号は後述のコントローラ61(図5参照)にて受信・処理されて光量補正データ(例えば8ビット)が生成され、全ての有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光光量が略等しくなるように制御される。   This signal is received and processed by a controller 61 (see FIG. 5), which will be described later, to generate light amount correction data (for example, 8 bits), and the light emission amounts of all the organic electroluminescence elements 1 are controlled to be substantially equal. .

さて実施例1では発光素子基板70において駆動制御部78を構成するインタフェース手段たるFPC80、および駆動パラメータ設定手段たるソースドライバ81を、有機エレクトロルミネッセンス素子1が形成する発光素子列の延長線上(EL_dir)の位置に設けるようにした。   In the first embodiment, the FPC 80 serving as the interface means constituting the drive control unit 78 and the source driver 81 serving as the drive parameter setting means in the light emitting element substrate 70 are on the extension line of the light emitting element row formed by the organic electroluminescence element 1 (EL_dir). It was made to provide in the position.

このような配置とすると、発光素子基板70の長辺方向(主走査方向)の任意位置において、駆動制御部78は発光素子列とオーバーラップしない位置に配置されることとなる。同時にこの構成では、発光素子基板70の長辺方向(主走査方向)の任意位置において、駆動制御部78は発光素子列と並列に形成されたTFT回路(図示せず)ともオーバーラップしない位置に配置されることとなる。更に封止部10は従来の技術のようにバスタブ状のガラス板などを使用せず、発光素子基板70の必要な領域のみが封止に供されるため、上述した駆動制御部78の配置との相乗効果によって発光素子基板70のサイズ、特に副走査方向のサイズを小さくすることが可能となる。一般にガラス基板などにTFT回路を構成した場合は、その製造プロセスの簡素化もさることながら、所定サイズのマザーガラスからの基板取れ数がコストにもっとも影響を与える。従って発光素子基板70のサイズを小さくすることで、発光素子基板70の製造コストを劇的に下げることが可能となる。   With such an arrangement, the drive control unit 78 is arranged at a position that does not overlap the light emitting element array at an arbitrary position in the long side direction (main scanning direction) of the light emitting element substrate 70. At the same time, in this configuration, at an arbitrary position in the long side direction (main scanning direction) of the light emitting element substrate 70, the drive control unit 78 is positioned so as not to overlap with a TFT circuit (not shown) formed in parallel with the light emitting element array. Will be placed. Further, the sealing unit 10 does not use a bathtub-shaped glass plate or the like as in the prior art, and only a necessary region of the light emitting element substrate 70 is used for sealing. Due to this synergistic effect, the size of the light emitting element substrate 70, particularly the size in the sub-scanning direction, can be reduced. In general, when a TFT circuit is configured on a glass substrate or the like, the number of substrates obtained from a mother glass of a predetermined size has the most influence on the cost as well as simplification of the manufacturing process. Therefore, by reducing the size of the light emitting element substrate 70, the manufacturing cost of the light emitting element substrate 70 can be dramatically reduced.

<有機エレクトロルミネッセンス素子の点灯制御と発光素子基板のサイズ>
図5は本発明の実施例1の発光素子基板70に係る回路図である。以降図5を用いてTFT回路およびソースドライバ81による点灯制御についてより詳細に説明する。
<Lighting control of organic electroluminescence element and size of light emitting element substrate>
FIG. 5 is a circuit diagram relating to the light emitting element substrate 70 of Example 1 of the present invention. Hereinafter, the lighting control by the TFT circuit and the source driver 81 will be described in more detail with reference to FIG.

図5において82は発光素子基板70上に構成されたTFT回路である。61は画像形成装置に組み込まれたコントローラであり、図示しないコンピュータなどからの画像データを受信しプリント可能な画像データを生成するとともに、上述したように発光素子基板70に配置された光量センサユニット77(図4参照)の出力に基づいて光量補正データを生成する。   In FIG. 5, reference numeral 82 denotes a TFT circuit configured on the light emitting element substrate 70. Reference numeral 61 denotes a controller incorporated in the image forming apparatus, which receives image data from a computer (not shown) or the like and generates printable image data, and as described above, the light amount sensor unit 77 disposed on the light emitting element substrate 70. Light amount correction data is generated based on the output (see FIG. 4).

85はイメージメモリであり、図示しないコンピュータなどから転送されたコマンドに基づきコントローラ61によって生成された2値の画像データが格納されている。86は光量補正データを格納した光量補正データメモリである。光量補正データメモリ86は例えばEEPROMなどの書き換え可能な不揮発性メモリである。露光装置33の製造工程には、個々の露光装置33に対して全ての有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光光量および発光輝度分布を計測し、これらの計測結果に基づいて各有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光光量を略等しくするための光量補正データを生成する工程が含まれており、光量補正データメモリ86には、この光量補正データの値が格納されている。   An image memory 85 stores binary image data generated by the controller 61 based on a command transferred from a computer (not shown). A light amount correction data memory 86 stores light amount correction data. The light quantity correction data memory 86 is a rewritable nonvolatile memory such as an EEPROM. In the manufacturing process of the exposure apparatus 33, the light emission amount and the light emission luminance distribution of all the organic electroluminescence elements 1 are measured for each exposure apparatus 33, and the light emission of each organic electroluminescence element 1 is based on these measurement results. A step of generating light amount correction data for making the light amounts substantially equal is included, and the light amount correction data memory 86 stores the value of the light amount correction data.

コントローラ61はこの光量補正データを、上述した光量センサユニット77(図4参照)の出力に基づいて新たに生成した光量補正データに更新することができる。   The controller 61 can update the light amount correction data to light amount correction data newly generated based on the output of the light amount sensor unit 77 (see FIG. 4).

87はタイミング生成部であり、発光素子基板70に形成された有機エレクトロルミネッセンス素子1を駆動するためのタイミングに係る制御信号を生成する。イメージメモリ85に格納されている画像データ、および光量補正データメモリ86に格納(あるいは図示しない他の高速メモリに事前に複製)された光量補正データは、タイミング生成部87が生成するクロック信号、ライン同期信号などに基づいて、後に図6に基づき説明するケーブル76、コネクタB73b、中継基板72、コネクタA73a、FPC80を介して発光素子基板70に供給される。   A timing generation unit 87 generates a control signal related to timing for driving the organic electroluminescence element 1 formed on the light emitting element substrate 70. The image data stored in the image memory 85 and the light amount correction data stored in the light amount correction data memory 86 (or copied in advance to another high-speed memory not shown) are the clock signal and line generated by the timing generation unit 87. Based on the synchronization signal and the like, the light is supplied to the light emitting element substrate 70 through the cable 76, the connector B 73b, the relay substrate 72, the connector A 73a, and the FPC 80 which will be described later with reference to FIG.

更に発光素子基板70に供給された画像データとタイミング信号は、発光素子基板70上に形成された例えばITO上にメタル層を形成した配線によってTFT回路82に供給されると共に、光量補正データとタイミング信号も同様にソースドライバ81に供給される。   Further, the image data and the timing signal supplied to the light emitting element substrate 70 are supplied to the TFT circuit 82 by a wiring formed on the light emitting element substrate 70, for example, a metal layer on ITO, and the light amount correction data and timing are supplied. Similarly, the signal is supplied to the source driver 81.

さてTFT回路82はピクセル回路89とゲートコントローラ88とに大別されている。ピクセル回路89は個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1に対して一つずつ設けられており、有機エレクトロルミネッセンス素子1のM画素分を一つのグループとして、発光素子基板70上にNグループ設けられている。実施例1においては一つのグループを8画素(即ちM=8)とし、このグループを640個としている。従って全画素数は、8×640=5120画素となる。各ピクセル回路89は有機エレクトロルミネッセンス素子1に電流を供給して駆動するドライバ部90と、有機エレクトロルミネッセンス素子1を点灯制御するにあたってドライバが供給する電流値(即ち有機エレクトロルミネッセンス素子1の駆動電流値)を内部に含むコンデンサに記憶させる、いわゆる電流プログラム部91を有しており、予め所定のタイミングでプログラムされた駆動電流値に従って有機エレクトロルミネッセンス素子1を定電流駆動することができる。   The TFT circuit 82 is roughly divided into a pixel circuit 89 and a gate controller 88. One pixel circuit 89 is provided for each organic electroluminescent element 1, and N groups are provided on the light emitting element substrate 70 with the M pixels of the organic electroluminescent element 1 as one group. In the first embodiment, one group is 8 pixels (that is, M = 8), and this group is 640. Therefore, the total number of pixels is 8 × 640 = 5120 pixels. Each pixel circuit 89 supplies a current to the organic electroluminescent element 1 to drive the driver unit 90, and a current value supplied by the driver to control the lighting of the organic electroluminescent element 1 (that is, a driving current value of the organic electroluminescent element 1) ) Is stored in a capacitor included therein, and the organic electroluminescence element 1 can be driven at a constant current according to a drive current value programmed in advance at a predetermined timing.

ゲートコントローラ88は入力された2値の画像データを順次シフトするシフトレジスタと、シフトレジスタと並列に設けられシフトレジスタに所定の画素数の入力が完了した後にこれらを一括して保持するラッチ部と、これらの動作タイミングを制御する制御部からなる(共に図示せず)。更にゲートコントローラ88はSCAN_AおよびSCAN_B信号を出力し、これによってピクセル回路89に接続された有機エレクトロルミネッセンス素子1の点灯/消灯を行う期間および、駆動電流を設定する電流プログラム期間のタイミングを制御する。   The gate controller 88 includes a shift register that sequentially shifts input binary image data, and a latch unit that is provided in parallel with the shift register and collectively holds the input after a predetermined number of pixels are input to the shift register. The control unit controls these operation timings (both not shown). Further, the gate controller 88 outputs SCAN_A and SCAN_B signals, thereby controlling the timing of turning on / off the organic electroluminescent element 1 connected to the pixel circuit 89 and the timing of the current program period for setting the drive current.

一方ソースドライバ81は内部に有機エレクトロルミネッセンス素子1のグループ数Nに相当する数(実施例1では640個)のD/Aコンバータ92を有しており、ソースドライバ81はFPC80を介して供給された光量補正データ(例えば8ビット)に基づいて、個々の有機エレクトロルミネッセンス素子1に対する駆動電流を設定することで各有機エレクトロルミネッセンス素子1の発光輝度が略等しくなるように制御する。   On the other hand, the source driver 81 has a number of D / A converters 92 (640 in the first embodiment) corresponding to the number N of groups of the organic electroluminescence elements 1 inside, and the source driver 81 is supplied via the FPC 80. Based on the light amount correction data (for example, 8 bits), the drive current for each organic electroluminescence element 1 is set to control the light emission luminance of each organic electroluminescence element 1 to be substantially equal.

次に発光素子基板70のサイズについて、図5に図4、図2を併用して説明する。   Next, the size of the light emitting element substrate 70 will be described with reference to FIGS. 4 and 2 in FIG.

さて発光素子基板70を搭載した露光装置において、主走査方向に600dpiの解像度にてA4サイズ(約210ミリメートル)の露光範囲を得ようとすると、既に述べたように5120個の有機エレクトロルミネッセンス素子1が必要となるが、これらの画素を駆動するためのTFT回路82の規模は、本発明者等の検討によれば約50万ゲートである。これを4.5マイクロメートルのプロセスルールで形成すると、ゲートコントローラ88に含まれるシフトレジスタ、ラッチ部、その他の制御系の回路は約1000マイクロメートル、ピクセル回路89は200マイクロメートルの幅となり、これだけの長さを副走査方向に必要とする。ソースドライバ81からピクセル回路89への配線は、例えばTFT回路82が形成された中間層105(図1参照)における引き回しを多層化することで1500マイクロメートルに抑えることが可能であり、これらを合計すると副走査方向のTFT回路の幅は2700マイクロメートル程度にすることができる。即ちTFT回路82は図4において有機エレクトロルミネッセンス素子1からコンタクトホール110の方向に2700マイクロメートルの幅をもって形成される。   Now, in the exposure apparatus equipped with the light emitting element substrate 70, when an exposure range of A4 size (about 210 millimeters) is obtained with a resolution of 600 dpi in the main scanning direction, as described above, 5120 organic electroluminescence elements 1 are used. However, the scale of the TFT circuit 82 for driving these pixels is about 500,000 gates according to the study by the present inventors. When this is formed with a process rule of 4.5 micrometers, the shift register, latch part, and other control system circuits included in the gate controller 88 are about 1000 micrometers wide and the pixel circuit 89 is 200 micrometers wide. Is required in the sub-scanning direction. The wiring from the source driver 81 to the pixel circuit 89 can be suppressed to 1500 micrometers by multilayering the routing in the intermediate layer 105 (see FIG. 1) where the TFT circuit 82 is formed, for example. Then, the width of the TFT circuit in the sub-scanning direction can be set to about 2700 micrometers. That is, the TFT circuit 82 is formed with a width of 2700 micrometers in the direction from the organic electroluminescence element 1 to the contact hole 110 in FIG.

さて図2を用いて説明したように実施例1の発光素子基板70においては、封止しろLfは2000マイクロメートルで十分な封止性能を発揮する。従って図4に示すように有機エレクトロルミネッセンス素子1から光量センサユニット77の方向における封止しろLfも2000マイクロメートルとすると、TFT回路82と封止しろLfのいずれかが存在する副走査方向の幅は4700マイクロメートル程度となる。これに図4に示す外部配線120の領域などを加味すると、発光素子基板70の副走査方向のサイズは約5ミリメートル程度で実現できる。   As described with reference to FIG. 2, in the light emitting element substrate 70 of Example 1, the sealing margin Lf is 2000 micrometers and exhibits a sufficient sealing performance. Therefore, as shown in FIG. 4, if the sealing margin Lf in the direction from the organic electroluminescence element 1 to the light quantity sensor unit 77 is also 2000 micrometers, the width in the sub-scanning direction where either the TFT circuit 82 or the sealing margin Lf exists is present. Is about 4700 micrometers. If the area of the external wiring 120 shown in FIG. 4 is added to this, the size of the light emitting element substrate 70 in the sub-scanning direction can be realized with about 5 millimeters.

一方ソースドライバ81の副走査方向の幅は、640個のD/Aコンバータ92を搭載した場合には3000マイクロメートル程度に抑えることができる(主走査方向の幅は16000マイクロメートル程度となる)。既に述べたようにソースドライバ81は発光素子基板70において発光素子列の延長線上の位置に実装されるため、ソースドライバ81の幅が発光素子基板70の副走査方向のサイズに制約を与えることはない。   On the other hand, the width of the source driver 81 in the sub-scanning direction can be suppressed to about 3000 micrometers when the 640 D / A converters 92 are mounted (the width in the main scanning direction is about 16000 micrometers). As already described, since the source driver 81 is mounted on the light emitting element substrate 70 at a position on the extended line of the light emitting element row, the width of the source driver 81 restricts the size of the light emitting element substrate 70 in the sub-scanning direction. Absent.

以上より実施例1の発光素子基板70は副走査方向のサイズが非常に小さなものとなり、後に述べるように露光装置のサイズが小さくなり、更に画像形成装置のサイズを小さくすることが可能となる。   As described above, the light emitting element substrate 70 of Example 1 has a very small size in the sub-scanning direction, the size of the exposure apparatus is reduced as described later, and the size of the image forming apparatus can be further reduced.

<露光装置>
図6は本発明の実施例1における発光素子基板70を搭載した露光装置の構成図である。以降露光装置の構造について図6を用いて詳細に説明する。
<Exposure device>
FIG. 6 is a block diagram of an exposure apparatus on which the light emitting element substrate 70 according to the first embodiment of the present invention is mounted. Hereinafter, the structure of the exposure apparatus will be described in detail with reference to FIG.

図6において33は画像形成装置に搭載された露光装置であり、既に説明した発光素子基板70が搭載されている。発光素子基板70には発光素子即ち露光光源として有機エレクトロルミネッセンス素子1(図1参照)が図面と垂直な方向(主走査方向)に600dpi(dot per inch)の解像度で形成されている。   In FIG. 6, reference numeral 33 denotes an exposure apparatus mounted on the image forming apparatus, on which the light emitting element substrate 70 already described is mounted. On the light emitting element substrate 70, a light emitting element, that is, an organic electroluminescence element 1 (see FIG. 1) as an exposure light source is formed at a resolution of 600 dpi (dot per inch) in a direction (main scanning direction) perpendicular to the drawing.

71はプラスティックまたはガラスで構成される棒レンズ(図示せず)を列状に配置したレンズアレイであり、発光素子基板70上に形成された有機エレクトロルミネッセンス素子1の出射光を正立等倍の像として、潜像が形成される感光体28の表面に導く。レンズアレイ71の一方の焦点は発光素子基板70を構成する基板2の面Aであり、もう一方の焦点は感光体28の表面となるように発光素子基板70、レンズアレイ71、感光体28の位置関係が調整されている。即ち基板2の面Aからレンズアレイ71の近い方の面までの距離L1と、レンズアレイ71の他方の面と感光体28の表面までの距離L2とするとき、L1=L2となるように設定される。   Reference numeral 71 denotes a lens array in which rod lenses (not shown) made of plastic or glass are arranged in a row, and the light emitted from the organic electroluminescence element 1 formed on the light emitting element substrate 70 is erecting at an equal magnification. As an image, it is guided to the surface of the photoreceptor 28 where a latent image is formed. One focal point of the lens array 71 is the surface A of the substrate 2 constituting the light emitting element substrate 70, and the other focal point of the light emitting element substrate 70, the lens array 71, and the photosensitive member 28 is the surface of the photosensitive member 28. The positional relationship has been adjusted. That is, when the distance L1 from the surface A of the substrate 2 to the surface closer to the lens array 71 and the distance L2 from the other surface of the lens array 71 to the surface of the photoreceptor 28 are set, L1 = L2. Is done.

72は例えばガラスエポキシ基板を用いた中継基板である。73aはコネクタA、73bはコネクタBであり、中継基板72には少なくともコネクタA73aおよびコネクタB73bが実装されている。中継基板72は例えばフレキシブルフラットケーブルなどのケーブル76によって露光装置33に外部から供給される画像データや光量補正データ、及びその他の制御信号をコネクタB73bを介して一旦中継し、これらの信号を発光素子基板70に渡す。   Reference numeral 72 denotes a relay substrate using a glass epoxy substrate, for example. 73a is a connector A, 73b is a connector B, and at least a connector A73a and a connector B73b are mounted on the relay board 72. The relay substrate 72 temporarily relays image data, light amount correction data, and other control signals supplied from the outside to the exposure apparatus 33 via a cable 76 such as a flexible flat cable, etc., via a connector B 73b, and these signals are light emitting elements. Passed to the substrate 70.

発光素子基板70を構成する基板2の表面にコネクタを直接実装することは接合強度や、露光装置33が置かれる多様な環境における信頼性を考慮すると困難であるため、実施例1では中継基板72のコネクタA73aと発光素子基板70との接続手段としてFPC(フレキシブルプリント回路)を採用し(図示せず)、発光素子基板70とFPCの接合は例えばACF(異方性導電フィルム)を用いて、予め発光素子基板70上に形成された例えばITO(インジウム錫酸化物)電極に直接接続する構成としている。   Since it is difficult to directly mount a connector on the surface of the substrate 2 constituting the light emitting element substrate 70 in consideration of bonding strength and reliability in various environments where the exposure apparatus 33 is placed, the relay substrate 72 is used in the first embodiment. FPC (flexible printed circuit) is employed as a connection means between the connector A73a and the light emitting element substrate 70 (not shown), and the light emitting element substrate 70 and FPC are joined using, for example, an ACF (anisotropic conductive film). For example, an ITO (indium tin oxide) electrode formed on the light emitting element substrate 70 in advance is directly connected.

一方コネクタB73bは、露光装置33を外部と接続するためのコネクタである。一般的にACFなどによる接続は接合強度が問題となる場合が多いが、このように中継基板72上にユーザが露光装置33を接続するためのコネクタB73bを設けることで、ユーザが直接アクセスするインタフェースに十分な強度を確保することができる。   On the other hand, the connector B73b is a connector for connecting the exposure apparatus 33 to the outside. In general, connection by ACF or the like often has a problem of bonding strength, but by providing the connector B73b for connecting the exposure apparatus 33 on the relay substrate 72 in this way, the interface directly accessed by the user is provided. Sufficient strength can be ensured.

74aは筐体Aであり金属板を例えば折り曲げ加工により成型したものである。筐体A74aの感光体28に対向する側にはL字状部位75が形成されており、L字状部位75に沿って発光素子基板70およびレンズアレイ71が配設されている。筐体A74aの感光体28側の端面とレンズアレイ71の端面を同一面に合わせ、更に筐体A74aによって発光素子基板70の一端部を支持する構造とすることで、L字状部位75の成型精度を確保すれば、発光素子基板70とレンズアレイ71の成す位置関係を精度よく合わせ込むことが可能となる。このように筐体A74aは寸法精度を要求されるため、金属にて構成することが望ましい。また筐体A74aを金属製とすることで、発光素子基板70に形成されたTFTなどを用いた制御回路および発光素子基板70上に表面実装されるICチップなどの電子部品へのノイズの影響を抑制することが可能である。   Reference numeral 74a denotes a casing A which is formed by bending a metal plate, for example. An L-shaped portion 75 is formed on the side of the housing A 74 a facing the photoreceptor 28, and the light emitting element substrate 70 and the lens array 71 are disposed along the L-shaped portion 75. The L-shaped portion 75 is molded by aligning the end surface of the housing A74a on the photosensitive member 28 side with the end surface of the lens array 71 and further supporting one end of the light emitting element substrate 70 by the housing A74a. If the accuracy is ensured, the positional relationship between the light emitting element substrate 70 and the lens array 71 can be accurately adjusted. As described above, since the casing A 74a is required to have dimensional accuracy, the casing A 74a is preferably made of metal. Further, by making the casing A74a made of metal, the influence of noise on electronic components such as a control circuit using a TFT formed on the light emitting element substrate 70 and an IC chip surface-mounted on the light emitting element substrate 70 is reduced. It is possible to suppress.

74bは樹脂を成型して得られる筐体Bである。筐体B74bのコネクタB73bの近傍には切欠き部(図示せず)が設けられており、ユーザはこの切欠き部からコネクタB73bにアクセスが可能となっている。コネクタB73bに接続されたケーブル76を介して露光装置33の外部から露光装置33に画像データ、光量補正データ、クロック信号やライン同期信号などの制御信号、制御回路の駆動電源、発光素子である有機エレクトロルミネッセンス素子の駆動電源などが供給される。   74b is a casing B obtained by molding a resin. A notch (not shown) is provided in the vicinity of the connector B73b of the housing B74b, and the user can access the connector B73b from this notch. Via the cable 76 connected to the connector B73b, the image data, the light amount correction data, the control signal such as the clock signal and the line synchronization signal, the driving power source of the control circuit, and the organic light emitting element are supplied from the outside of the exposure device 33 to the exposure device 33. Drive power for the electroluminescence element is supplied.

さて、既に<有機エレクトロルミネッセンス素子の点灯制御と発光素子基板のサイズ>で説明したように実施例1の発光素子基板70(図4参照)の副走査方向の幅は5ミリメートル程度とすることができるから、この発光素子基板70を搭載した露光装置33の厚みZは筐体A74a、筐体B74bの肉厚を1ミリメートル弱とすることで7ミリメートル以下とすることができる。   Now, as already explained in <Lighting control of organic electroluminescence element and size of light emitting element substrate>, the width of the light emitting element substrate 70 (see FIG. 4) of Example 1 in the sub-scanning direction may be about 5 mm. Therefore, the thickness Z of the exposure apparatus 33 on which the light emitting element substrate 70 is mounted can be reduced to 7 mm or less by making the thickness of the casing A 74a and the casing B 74b less than 1 mm.

<画像形成装置の構成>
図7は本発明の実施例1の発光素子基板70を応用した露光装置33を搭載した画像形成装置の構成図である。
<Configuration of image forming apparatus>
FIG. 7 is a configuration diagram of an image forming apparatus equipped with an exposure device 33 to which the light emitting element substrate 70 of Example 1 of the present invention is applied.

図7において画像形成装置21は装置内にイエロー現像ステーション22Y、マゼンタ現像ステーション22M、シアン現像ステーション22C、ブラック現像ステーション22Kの4色分の現像ステーションを縦方向に階段状に配列し、その上方には記録紙23が収容される給紙トレイ24を配置すると共に、各現像ステーション22Y〜22Kに対応した箇所には給紙トレイ24から供給された記録紙23の搬送路となる記録紙搬送路25を上方から下方の縦方向に配置したものである。   In FIG. 7, the image forming apparatus 21 arranges development stations for four colors, a yellow developing station 22Y, a magenta developing station 22M, a cyan developing station 22C, and a black developing station 22K, in a vertical direction in a stepwise manner. A paper feed tray 24 that accommodates the recording paper 23 is disposed, and a recording paper transport path 25 that serves as a transport path for the recording paper 23 supplied from the paper feed tray 24 is provided at locations corresponding to the developing stations 22Y to 22K. Are arranged in the vertical direction from above to below.

現像ステーション22Y〜22Kは、記録紙搬送路25の上流側から順に、イエロー、マゼンタ、シアン、ブラックのトナー像を形成するものであり、イエロー現像ステーション22Yは感光体28Y、マゼンタ現像ステーション22Mには感光体28M、シアン現像ステーション22Cには感光体28C、ブラック現像ステーション22Kには感光体28Kが含まれ、更に各現像ステーション22Y〜22Kには図示しない現像スリーブ、帯電器など、一連の電子写真方式における現像プロセスを実現する部材が含まれている。   The developing stations 22Y to 22K form yellow, magenta, cyan, and black toner images in order from the upstream side of the recording paper conveyance path 25. The yellow developing station 22Y includes a photoconductor 28Y and a magenta developing station 22M. The photosensitive member 28M and the cyan developing station 22C include the photosensitive member 28C, the black developing station 22K includes the photosensitive member 28K, and each developing station 22Y to 22K includes a series of electrophotographic systems such as a developing sleeve and a charger (not shown). The member which implement | achieves the image development process in is included.

更に各現像ステーション22Y〜22Kの下部には感光体28Y〜28Kの表面を露光して静電潜像を形成するための露光装置33Y、33M、33C、33Kが配置されている。   Further, exposure devices 33Y, 33M, 33C, and 33K for exposing the surfaces of the photoreceptors 28Y to 28K to form electrostatic latent images are disposed below the developing stations 22Y to 22K.

さて現像ステーション22Y〜22Kは充填された現像剤の色が異なっているが、構成は現像色に関わらず同一であるため、以降の説明を簡単にするため特に必要がある場合を除いて現像ステーション22、感光体28、露光装置33のごとく特定の色を明示せずに説明する。   The developing stations 22Y to 22K are different in the color of the filled developer, but the configuration is the same regardless of the developing color. Therefore, the developing stations are excluded unless particularly necessary to simplify the following description. 22, the photosensitive member 28, and the exposure device 33 will be described without specifying specific colors.

図8は本発明の実施例1の画像形成装置21における現像ステーション22の周辺を示す構成図である。図8において現像ステーション22の内部にはキャリアとトナーの混合物である現像剤26が充填されている。27a、27bは現像剤26を攪拌する攪拌パドルであり、攪拌パドル27aと27bの回転によって現像剤26中のトナーはキャリアとの摩擦によって所定の電位に帯電されると共に、現像ステーション22の内部を巡回することでトナーとキャリアが十分に攪拌混合される。感光体28は図示しない駆動源によって方向D3に回転する。29は帯電器であり感光体28の表面を所定の電位に帯電する。30は現像スリーブ、31は薄層化ブレードである。現像スリーブ30は内部に複数の磁極が形成されたマグネットロール32を有している。薄層化ブレード31によって現像スリーブ30の表面に供給される現像剤26の層厚が規制されると共に、現像スリーブ30は図示しない駆動源によって方向D4に回転し、この回転およびマグネットロール32の磁極の作用によって現像剤26は現像スリーブ30の表面に供給され、後述する露光装置によって感光体28に形成された静電潜像を現像するとともに、感光体28に転写されなかった現像剤26は現像ステーション22の内部に回収される。   FIG. 8 is a configuration diagram illustrating the periphery of the developing station 22 in the image forming apparatus 21 according to the first exemplary embodiment of the present invention. In FIG. 8, the developing station 22 is filled with a developer 26 which is a mixture of carrier and toner. Reference numerals 27a and 27b denote stirring paddles for stirring the developer 26. The toner in the developer 26 is charged to a predetermined potential by friction with the carrier by the rotation of the stirring paddles 27a and 27b, and the interior of the developing station 22 is also charged. By circulating, the toner and the carrier are sufficiently stirred and mixed. The photoreceptor 28 is rotated in the direction D3 by a driving source (not shown). A charger 29 charges the surface of the photoreceptor 28 to a predetermined potential. 30 is a developing sleeve, and 31 is a thinning blade. The developing sleeve 30 has a magnet roll 32 having a plurality of magnetic poles formed therein. The layer thickness of the developer 26 supplied to the surface of the developing sleeve 30 is regulated by the thinning blade 31 and the developing sleeve 30 is rotated in the direction D4 by a driving source (not shown). As a result, the developer 26 is supplied to the surface of the developing sleeve 30, and an electrostatic latent image formed on the photoconductor 28 is developed by an exposure device described later, and the developer 26 not transferred to the photoconductor 28 is developed. It is collected inside the station 22.

33は既に説明した露光装置である。既に述べたように露光装置33に搭載された発光素子基板70(図4参照)は優れた封止性能を有し、長期に渡って安定に潜像を形成できるため露光装置としての製品寿命が長く、さらに所望の形状の静電潜像を長期にわたって得られるために常に高画質の画像を形成することができる。   Reference numeral 33 denotes the exposure apparatus already described. As already described, the light emitting element substrate 70 (see FIG. 4) mounted on the exposure apparatus 33 has an excellent sealing performance and can form a latent image stably over a long period of time, so that the product life as an exposure apparatus is increased. Since a long electrostatic latent image having a desired shape can be obtained over a long period of time, a high-quality image can always be formed.

さて実施例1における露光装置33は既に述べたように有機エレクトロルミネッセンス素子1を600dpi(dot per inch)の解像度で直線状に配置したものであり、帯電器29によって所定の電位に帯電した感光体28に対し、画像データに応じて選択的に有機エレクトロルミネッセンス素子をON/OFFすることで、最大A4サイズの静電潜像を形成する。この静電潜像部分に現像スリーブ30の表面に供給された現像剤26のうちトナーのみが付着し、静電潜像が顕画化される。   As described above, the exposure apparatus 33 according to the first embodiment includes the organic electroluminescence elements 1 arranged linearly at a resolution of 600 dpi (dot per inch), and is a photosensitive member charged to a predetermined potential by the charger 29. On the other hand, by selectively turning on / off the organic electroluminescence element according to the image data, an electrostatic latent image having a maximum A4 size is formed. Only the toner of the developer 26 supplied to the surface of the developing sleeve 30 adheres to the electrostatic latent image portion, and the electrostatic latent image is visualized.

感光体28に対し記録紙搬送路25と対向する位置には転写ローラ36が設けられており、図示しない駆動源により方向D5に回転する。転写ローラ36には所定の転写バイアスが印加されており、感光体28上に形成されたトナー像を、記録紙搬送路25を搬送されてきた記録紙23に転写する。   A transfer roller 36 is provided at a position facing the recording paper conveyance path 25 with respect to the photoreceptor 28, and is rotated in the direction D5 by a driving source (not shown). A predetermined transfer bias is applied to the transfer roller 36, and the toner image formed on the photoconductor 28 is transferred to the recording paper 23 conveyed through the recording paper conveyance path 25.

以降図7に戻って説明を続ける。   Hereinafter, the description will be continued returning to FIG.

これまで説明してきたように、実施例1における画像形成装置21は複数の現像ステーション22Y〜22Kを縦方向に階段状に配列したタンデム型のカラー画像形成装置であり、カラーインクジェットプリンタと同等クラスのサイズを目指すものである。現像ステーション22Y〜22Kは複数のユニットが配置されるため、画像形成装置21の小型化を図るためには現像ステーション22Y〜22Kそのものの小型化と共に、現像ステーション22Y〜22Kの周辺に配置される作像プロセスに関与する部材を小さくし、現像ステーション22Y〜22Kの配置ピッチを極力小さくする必要がある。   As described above, the image forming apparatus 21 according to the first exemplary embodiment is a tandem type color image forming apparatus in which a plurality of developing stations 22Y to 22K are arranged in a stepwise manner in the vertical direction, and is equivalent to a color inkjet printer. It aims at size. Since a plurality of units are arranged in the developing stations 22Y to 22K, in order to reduce the size of the image forming apparatus 21, the developing stations 22Y to 22K themselves are reduced in size and are arranged around the developing stations 22Y to 22K. It is necessary to reduce the members involved in the image process and to reduce the arrangement pitch of the developing stations 22Y to 22K as much as possible.

オフィスなどにおいてデスクトップに画像形成装置21を設置した際のユーザの使い勝手、特に給紙時や排紙時の記録紙23へのアクセス性を考慮すると、画像形成装置21の底面から給紙口65までの高さは250ミリメートル以下にすることが望ましい。これを実現するためには画像形成装置21の全体の構成の中で現像ステーション22Y〜22K全体の高さを100ミリメートル程度に抑える必要がある。しかしながら既存の例えばLEDヘッドは厚みが15ミリメートル程度あり、これを現像ステーション22Y〜22K間に配置すると目標を達成することが困難である。本発明者等の検討結果によれば露光装置33の厚みを7ミリメートル以下とすると、現像ステーション22Y〜22K間の隙間に露光装置33Y〜33Kを配置しても現像ステーション全体の高さを100ミリメートル以下に抑えることが可能である。<露光装置>にて説明したように実施例1の露光装置33の厚みZは7ミリメートルを下回るから、現像ステーション全体の高さを100ミリメートル以下とし、非常に小型の画像形成装置21を構成することが可能となる。   In consideration of user convenience when installing the image forming apparatus 21 on the desktop in an office or the like, in particular, accessibility to the recording paper 23 at the time of paper feed or paper discharge, from the bottom surface of the image forming apparatus 21 to the paper feed port 65. The height is preferably 250 mm or less. In order to realize this, it is necessary to suppress the height of the entire developing stations 22Y to 22K to about 100 millimeters in the entire configuration of the image forming apparatus 21. However, the existing LED head, for example, has a thickness of about 15 millimeters, and if it is disposed between the developing stations 22Y to 22K, it is difficult to achieve the target. According to the examination results of the present inventors, when the thickness of the exposure device 33 is 7 millimeters or less, the height of the entire development station is 100 millimeters even if the exposure devices 33Y to 33K are arranged in the gaps between the development stations 22Y to 22K. The following can be suppressed. As described in <Exposure apparatus>, since the thickness Z of the exposure apparatus 33 of Embodiment 1 is less than 7 millimeters, the height of the entire developing station is set to 100 millimeters or less, and a very small image forming apparatus 21 is configured. It becomes possible.

37はトナーボトルであり、イエロー、マゼンタ、シアン、ブラックのトナーが格納されている。トナーボトル37から各現像ステーション22Y〜22Kには、図示しないトナー搬送用のパイプが配設され、各現像ステーション22Y〜22Kにトナーを供給している。   A toner bottle 37 stores yellow, magenta, cyan, and black toners. A toner transport pipe (not shown) is provided from the toner bottle 37 to each of the developing stations 22Y to 22K, and supplies toner to each of the developing stations 22Y to 22K.

38は給紙ローラであり、図示しない電磁クラッチを制御することで方向D1に回転し、給紙トレイ24に装填された記録紙23を記録紙搬送路25に送り出す。   A paper feed roller 38 is rotated in the direction D1 by controlling an electromagnetic clutch (not shown), and feeds the recording paper 23 loaded in the paper feeding tray 24 to the recording paper transport path 25.

給紙ローラ38と最上流のイエロー現像ステーション22Yの転写部位との間に位置する記録紙搬送路25には、入口側のニップ搬送手段としてレジストローラ39、ピンチローラ40対が設けられている。レジストローラ39、ピンチローラ40対は、給紙ローラ38により搬送された記録紙23を一時的に停止させ、所定のタイミングでイエロー現像ステーション22Yの方向に搬送する。この一時停止によって記録紙23の先端がレジストローラ39、ピンチローラ40対の軸方向と平行に規制され、記録紙23の斜行を防止する。   A registration paper 39 and a pair of pinch rollers 40 are provided as a nip conveyance means on the inlet side in the recording paper conveyance path 25 positioned between the paper supply roller 38 and the transfer portion of the most upstream yellow developing station 22Y. The registration roller 39 and the pinch roller 40 pair temporarily stop the recording paper 23 conveyed by the paper supply roller 38 and convey it in the direction of the yellow developing station 22Y at a predetermined timing. This temporary stop restricts the leading edge of the recording paper 23 in parallel with the axial direction of the registration roller 39 and pinch roller 40 pair, thereby preventing the recording paper 23 from skewing.

41は記録紙通過検出センサである。記録紙通過検出センサ41は反射型センサ(フォトリフレクタ)によって構成され、反射光の有無で記録紙23の先端および後端を検出する。   Reference numeral 41 denotes a recording paper passage detection sensor. The recording paper passage detection sensor 41 is constituted by a reflective sensor (photo reflector), and detects the leading edge and the trailing edge of the recording paper 23 based on the presence or absence of reflected light.

さてレジストローラ39の回転を開始すると(図示しない電磁クラッチによって動力伝達を制御し、回転ON/OFFを行う)記録紙23は記録紙搬送路25に沿ってイエロー現像ステーション22Yの方向に搬送されるが、レジストローラ39の回転開始のタイミングを起点として、各現像ステーション22Y〜22Kの近傍に配置された露光装置33Y〜33Kによる静電潜像の書き込みタイミングが独立して制御される。   When the rotation of the registration roller 39 is started (the power transmission is controlled by an electromagnetic clutch (not shown) and the rotation is turned ON / OFF), the recording paper 23 is conveyed along the recording paper conveyance path 25 in the direction of the yellow developing station 22Y. However, starting from the rotation start timing of the registration roller 39, the writing timing of the electrostatic latent images by the exposure devices 33Y to 33K disposed in the vicinity of the developing stations 22Y to 22K is independently controlled.

最下流のブラック現像ステーション22Kの更に下流側に位置する記録紙搬送路25には出口側のニップ搬送手段として定着器43が設けられている。定着器43は加熱ローラ44と加圧ローラ45から構成されている。加熱ローラ44は表面から近い順に、発熱ベルト、ゴムローラ、芯材(共に図示せず)から構成されている多層構造のローラである。このうち発熱ベルトは更に3層構造を有するベルトであり、表面に近い方から離型層、シリコンゴム層、基材層(共に図示せず)から構成される。離型層は厚み約20〜30マイクロメートルのフッ素樹脂からなり、加熱ローラ44に離型性を付与する。シリコンゴム層は約170マイクロメートルのシリコンゴムで構成され、加圧ローラ45に適度な弾性を与える。基材層は鉄・ニッケル・クロムなどの合金である磁性材料によって構成されている。   A fixing device 43 is provided as a nip conveying means on the outlet side in the recording paper conveyance path 25 located further downstream of the most downstream black developing station 22K. The fixing device 43 includes a heating roller 44 and a pressure roller 45. The heating roller 44 is a multi-layered roller composed of a heating belt, a rubber roller, and a core material (both not shown) in order from the surface. Among them, the heat generating belt is a belt having a three-layer structure, and is composed of a release layer, a silicon rubber layer, and a base material layer (both not shown) from the side closer to the surface. The release layer is made of a fluororesin having a thickness of about 20 to 30 micrometers and imparts release properties to the heating roller 44. The silicon rubber layer is made of silicon rubber having a thickness of about 170 micrometers and gives the pressure roller 45 appropriate elasticity. The base material layer is made of a magnetic material that is an alloy of iron, nickel, chromium, or the like.

46は励磁コイルが内包された背面コアである。背面コア46の内部には表面が絶縁された銅製の線材(図示せず)を所定本数束ねた励磁コイルを加熱ローラ44の回転軸方向に延伸し、かつ加熱ローラ44の両端部において、加熱ローラ44の周方向に沿って周回して形成されている。励磁コイルに半共振型インバータである励磁回路(図示せず)から約30kHzの交流電流を印加すると、背面コア46と加熱ローラ44の基材層によって構成される磁路に磁束が生じる。この磁束によって加熱ローラ44の発熱ベルトの基材層に渦電流が形成され基材層が発熱する。基材層で生じた熱はシリコンゴム層を経て離型層まで伝達され、加熱ローラ44の表面が発熱する。   A back core 46 includes an exciting coil. Inside the back core 46, an excitation coil in which a predetermined number of copper wires (not shown) whose surfaces are insulated is bundled in the direction of the rotation axis of the heating roller 44, and at both ends of the heating roller 44, the heating roller It circulates along the circumferential direction of 44. When an alternating current of about 30 kHz is applied to the exciting coil from an exciting circuit (not shown) that is a semi-resonant inverter, a magnetic flux is generated in a magnetic path constituted by the back core 46 and the base layer of the heating roller 44. Due to this magnetic flux, an eddy current is formed in the base material layer of the heat generating belt of the heating roller 44 and the base material layer generates heat. The heat generated in the base material layer is transmitted to the release layer through the silicon rubber layer, and the surface of the heating roller 44 generates heat.

47は加熱ローラ44の温度を検出するための温度センサである。温度センサ47は金属酸化物を主原料とし、高温で焼結して得られるセラミック半導体であり、温度に応じて負荷抵抗が変化することを応用して接触した対象物の温度を計測することができる。温度センサ47の出力は図示しない制御装置に入力され、制御装置は温度センサ47の出力に基づいて背面コア46内部の励磁コイルに出力する電力を制御し、加熱ローラ44の表面温度が約170℃となるように制御する。   Reference numeral 47 denotes a temperature sensor for detecting the temperature of the heating roller 44. The temperature sensor 47 is a ceramic semiconductor obtained by sintering at a high temperature using a metal oxide as a main raw material, and it is possible to measure the temperature of a contacted object by applying a change in load resistance according to the temperature. it can. The output of the temperature sensor 47 is input to a control device (not shown). The control device controls the power output to the exciting coil inside the back core 46 based on the output of the temperature sensor 47, and the surface temperature of the heating roller 44 is about 170 ° C. Control to be

この温度制御がなされた加熱ローラ44と加圧ローラ45によって形成されるニップ部に、トナー像が形成された記録紙23が通紙されると、記録紙23上のトナー像は加熱ローラ44と加圧ローラ45によって加熱および加圧され、トナー像が記録紙23上に定着される。   When the recording paper 23 on which the toner image is formed is passed through the nip formed by the heating roller 44 and the pressure roller 45 that are controlled in temperature, the toner image on the recording paper 23 is connected to the heating roller 44. The toner image is fixed on the recording paper 23 by being heated and pressurized by the pressure roller 45.

48は記録紙後端検出センサであり、記録紙23の排出状況を監視するものである。52はトナー像検出センサである。トナー像検出センサ52は発光スペクトルの異なる複数の発光素子(共に可視光)と単一の受光素子を用いた反射型センサユニットであり、記録紙23の地肌と画像形成部分とで、画像色に応じて吸収スペクトルが異なることを利用して画像濃度を検出するものである。またトナー像検出センサ52は画像濃度のみならず、画像形成位置も検出できるため、実施例1における画像形成装置21ではトナー像検出センサ52を画像形成装置21の幅方向に2ヶ所設け、記録紙23上に形成した画像位置ずれ量検出パターンの検出位置に基づき、画像形成タイミングを制御している。   A recording paper trailing edge detection sensor 48 monitors the discharge state of the recording paper 23. Reference numeral 52 denotes a toner image detection sensor. The toner image detection sensor 52 is a reflective sensor unit that uses a plurality of light emitting elements (both visible light) having different emission spectra and a single light receiving element, and changes the image color between the background of the recording paper 23 and the image forming portion. Accordingly, the image density is detected by utilizing the fact that the absorption spectrum is different. Further, since the toner image detection sensor 52 can detect not only the image density but also the image forming position, the image forming apparatus 21 according to the first exemplary embodiment is provided with two toner image detection sensors 52 in the width direction of the image forming apparatus 21, and recording paper. The image formation timing is controlled based on the detection position of the image position deviation amount detection pattern formed on the image 23.

53は記録紙搬送ドラムである。記録紙搬送ドラム53は表面を200マイクロメートル程度の厚さのゴムで被覆した金属製ローラであり、定着後の記録紙23は記録紙搬送ドラム53に沿って方向D2に搬送される。このとき記録紙23は記録紙搬送ドラム53によって冷却されると共に、画像形成面と逆方向に曲げられて搬送される。これによって記録紙全面に高濃度の画像を形成した場合などに発生するカールを大幅に軽減することができる。その後、記録紙23は蹴り出しローラ55によって方向D6に搬送され、排紙トレイ59に排出される。   53 is a recording paper transport drum. The recording paper transport drum 53 is a metal roller whose surface is covered with rubber having a thickness of about 200 micrometers, and the recording paper 23 after fixing is transported along the recording paper transport drum 53 in the direction D2. At this time, the recording sheet 23 is cooled by the recording sheet conveying drum 53 and is bent and conveyed in the direction opposite to the image forming surface. As a result, curling that occurs when a high density image is formed on the entire surface of the recording paper can be greatly reduced. Thereafter, the recording paper 23 is conveyed in the direction D6 by the kicking roller 55 and discharged to the paper discharge tray 59.

54はフェイスダウン排紙部である。フェイスダウン排紙部54は支持部材56を中心に回動可能に構成され、フェイスダウン排紙部54を開放状態にすると、記録紙23は方向D7に排紙される。このフェイスダウン排紙部54は閉状態では記録紙搬送ドラム53と共に記録紙23の搬送をガイドするように、背面に搬送経路に沿ったリブ57が形成されている。   Reference numeral 54 denotes a face-down paper discharge unit. The face-down paper discharge unit 54 is configured to be rotatable about the support member 56. When the face-down paper discharge unit 54 is opened, the recording paper 23 is discharged in the direction D7. In the closed state, the face-down paper discharge unit 54 is formed with ribs 57 along the transport path on the back surface so as to guide the transport of the recording paper 23 together with the recording paper transport drum 53.

58は駆動源であり、実施例1ではステッピングモータを採用している。駆動源58によって、給紙ローラ38、レジストローラ39、ピンチローラ40、感光体(28Y〜28K)、および転写ローラ(36Y〜36K)を含む各現像ステーション22Y〜22Kの周辺部、定着器43、記録紙搬送ドラム53、蹴り出しローラ55の駆動を行っている。   Reference numeral 58 denotes a drive source. In the first embodiment, a stepping motor is employed. By the drive source 58, peripheral portions of the developing stations 22Y to 22K including the paper feed roller 38, the registration roller 39, the pinch roller 40, the photoconductors (28Y to 28K), and the transfer rollers (36Y to 36K), the fixing device 43, The recording paper transport drum 53 and the kicking roller 55 are driven.

61はコントローラであり、外部のネットワークを介して図示しないコンピュータなどからの画像データを受信し、プリント可能な画像データを展開、生成する。   Reference numeral 61 denotes a controller that receives image data from a computer (not shown) via an external network, and develops and generates printable image data.

62はエンジン制御部である。エンジン制御部62は画像形成装置21のハードウェアやメカニズムを制御し、コントローラ61から転送された画像データに基づいて記録紙23にカラー画像を形成すると共に、画像形成装置21の制御全般を行っている。   Reference numeral 62 denotes an engine control unit. The engine control unit 62 controls the hardware and mechanism of the image forming apparatus 21, forms a color image on the recording paper 23 based on the image data transferred from the controller 61, and performs overall control of the image forming apparatus 21. Yes.

63は電源部である。電源部63は、露光装置33Y〜33K、駆動源58、コントローラ61、エンジン制御部62へ所定電圧の電力供給を行うと共に、定着器43の加熱ローラ44への電力供給を行っている。また感光体28の表面の帯電、現像スリーブ(図8における符号30を参照)に印加する現像バイアス、転写ローラ36に印加する転写バイアスなどのいわゆる高圧電源系もこの電源部に含まれている。   63 is a power supply unit. The power supply unit 63 supplies power of a predetermined voltage to the exposure apparatuses 33Y to 33K, the drive source 58, the controller 61, and the engine control unit 62, and supplies power to the heating roller 44 of the fixing device 43. The power supply unit also includes a so-called high-voltage power supply system such as charging of the surface of the photoconductor 28, a developing bias applied to the developing sleeve (see reference numeral 30 in FIG. 8), and a transfer bias applied to the transfer roller 36.

また電源部63には電源監視部64が含まれ、少なくともエンジン制御部62に供給される電源電圧をモニタできるようになっている。このモニタ信号はエンジン制御部62において検出され、電源スイッチのオフや停電などの際に発生する電源電圧の低下を検出している。   The power supply unit 63 includes a power supply monitoring unit 64 so that at least the power supply voltage supplied to the engine control unit 62 can be monitored. This monitor signal is detected by the engine control unit 62 to detect a decrease in power supply voltage that occurs when the power switch is turned off or a power failure occurs.

以上の説明においては本発明をカラー画像形成装置に適用した場合について説明したが、たとえばブラックなど単色の画像形成装置に適用することもできる。また、カラー画像形成装置に適用した場合、現像色はイエロー、マゼンタ、シアンおよびブラックの4色に限定されるものではない。   In the above description, the case where the present invention is applied to a color image forming apparatus has been described. However, the present invention can also be applied to a single color image forming apparatus such as black. When applied to a color image forming apparatus, the development colors are not limited to four colors of yellow, magenta, cyan and black.

(実施例2)
図9は本発明の実施例2における発光素子基板70の構成を示す断面図である。
(Example 2)
FIG. 9 is a cross-sectional view showing the configuration of the light-emitting element substrate 70 in Example 2 of the present invention.

以降図9を用いて実施例2の発光素子基板70の構成を説明する。なお実施例2において説明する発光素子基板70、この発光素子基板70を応用した露光装置およびこの露光装置を搭載した画像形成装置について、実施例1と共通部分については説明を省略する。   Hereinafter, the configuration of the light-emitting element substrate 70 of Example 2 will be described with reference to FIG. In addition, about the light emitting element substrate 70 demonstrated in Example 2, the exposure apparatus which applied this light emitting element substrate 70, and the image forming apparatus carrying this exposure apparatus, description is abbreviate | omitted about Example 1 and a common part.

図9は実施例1の説明における図2に対応する図面である。実施例1(図2)においては画素規制部8の一部を陰極7が覆う構成としたが、実施例2(図9)においては画素規制部8よりも広い範囲を陰極7が覆い、陰極7がTFT保護層108と接するように構成したものである。   FIG. 9 is a drawing corresponding to FIG. 2 in the description of the first embodiment. In the first embodiment (FIG. 2), the cathode 7 is configured to cover a part of the pixel restricting portion 8. However, in the second embodiment (FIG. 9), the cathode 7 covers a wider area than the pixel restricting portion 8. 7 is in contact with the TFT protective layer 108.

実施例2における発光素子基板70の構成も、基板2と、この基板2上に形成された高分子有機エレクトロルミネッセンス材料からなる複数の発光部(既に説明した発光部LS、図1参照)と、この発光部LSを覆う電極7と、少なくともこの電極より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂からなる封止部10とを有しており、その作用効果については実施例1で説明したものとほぼ同じであるが、実施例2では画素規制部8をポリイミドなどの樹脂にて構成した点に実施例1との相違がある。   The configuration of the light-emitting element substrate 70 in Example 2 also includes the substrate 2 and a plurality of light-emitting portions made of a polymer organic electroluminescent material formed on the substrate 2 (the light-emitting portion LS already described, see FIG. 1), It has an electrode 7 covering this light emitting part LS and a sealing part 10 made of a thermosetting resin covering at least a wider area than this electrode, and its operational effects are almost the same as those described in the first embodiment. However, the second embodiment is different from the first embodiment in that the pixel restricting portion 8 is made of a resin such as polyimide.

画素規制部8としてポリイミドなどの樹脂を用いる場合は、基板2上にTFT保護層108を形成した後に、例えば感光性ポリイミドからなる1マイクロメートル程度の絶縁材料をスピンコート法で発光素子基板70の全面に塗布し、フォトリソグラフィー法で所定の形状にパターニングして画素規制部8を形成する。画素規制部8としてポリイミドなどの撥水性材料を採用した場合は、画素規制部8の形成後にその表面を紫外線照射処理あるいはプラズマ処理して表面粗さRaを5ナノメートル程度に荒らし、高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を溶解するトルエンやキシレンなどの溶媒、あるいは高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を溶解した溶液に対して高い濡れ性を持つように加工することが望ましい。このようにすることでスピンコート法などによって塗布される高分子有機エレクトロルミネッセンス材料の塗布むらが少なくなり、結果的に有機エレクトロルミネッセンス素子1(図1参照)の発光部LSにおける発光輝度の分布が均一化される。   When a resin such as polyimide is used as the pixel restricting portion 8, after forming the TFT protective layer 108 on the substrate 2, an insulating material of, for example, about 1 μm made of photosensitive polyimide is spin coated to form the light emitting element substrate 70. It is applied to the entire surface and patterned into a predetermined shape by a photolithography method to form the pixel restricting portion 8. When a water repellent material such as polyimide is used as the pixel restricting portion 8, the surface roughness Ra is roughened to about 5 nanometers after the formation of the pixel restricting portion 8 by ultraviolet irradiation treatment or plasma treatment, and the polymer organic It is desirable to process so that it may have high wettability with respect to the solvent which melt | dissolves electroluminescent material, such as toluene and xylene, or the solution which melt | dissolved high molecular organic electroluminescent material. By doing so, the coating unevenness of the polymer organic electroluminescent material applied by a spin coating method or the like is reduced, and as a result, the light emission luminance distribution in the light emitting portion LS of the organic electroluminescent element 1 (see FIG. 1) is reduced. It is made uniform.

画素規制部8としては上述したポリイミドの他に、主鎖としてビニル基、吸水性シリコン、イソシアネート、ポリエステルポリマー、ポリアミド、フッ素含有ポリマー、エポキシ基、あるいは末端にビニル基、グリシジル基、アリール基などを持ったポリマー材料を用いることもできる。   In addition to the polyimide described above, the pixel restricting portion 8 includes a vinyl group, water-absorbing silicon, isocyanate, polyester polymer, polyamide, fluorine-containing polymer, epoxy group as the main chain, or a vinyl group, glycidyl group, aryl group, etc. at the end. A held polymer material can also be used.

さて画素規制部8を形成した後に、<発光層>で説明したように、発光素子基板70には高分子有機エレクトロルミネッセンス材料が塗布され、不要な領域は拭き取られ、その後に<陰極>で説明した材料、工法に従って陰極7が形成される。ポリイミドなどの樹脂材料は一般にわずかではあるが水分を透過するため、画素規制部8として樹脂を用いる場合は、Alなどの金属材料よりなる陰極7によって画素規制部8を完全に被覆することで、水分やガスに対するバリア性を向上することができる。   Now, after the pixel restricting portion 8 is formed, as described in <Light-Emitting Layer>, the polymer organic electroluminescent material is applied to the light-emitting element substrate 70, and unnecessary areas are wiped off. The cathode 7 is formed according to the materials and methods described. Since resin materials such as polyimide generally transmit a slight amount of moisture, when using a resin as the pixel regulating portion 8, the pixel regulating portion 8 is completely covered with the cathode 7 made of a metal material such as Al. The barrier property against moisture and gas can be improved.

(実施例3)
図10は本発明の実施例3における発光素子基板70の構成を示す断面図である。
(Example 3)
FIG. 10 is a cross-sectional view showing the configuration of the light-emitting element substrate 70 in Example 3 of the present invention.

以降図10を用いて実施例3の発光素子基板70の構成を説明する。なお実施例3において説明する発光素子基板70、この発光素子基板70を応用した露光装置およびこの露光装置を搭載した画像形成装置について、実施例1と共通部分については説明を省略する。   Hereinafter, the configuration of the light-emitting element substrate 70 of Example 3 will be described with reference to FIG. In addition, about the light emitting element substrate 70 demonstrated in Example 3, the exposure apparatus which applied this light emitting element substrate 70, and the image forming apparatus carrying this exposure apparatus, description is abbreviate | omitted about Example 1 and a common part.

図10は実施例1の説明における図2に対応する図面である。図示するごとく実施例3における発光素子基板70は基板2と、この基板2上に形成された高分子有機エレクトロルミネッセンス材料からなる複数の発光部(既に説明した発光部LS、図1参照)と、この発光部LSを覆う電極(陰極7)と、少なくともこの電極(陰極7)より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂からなる封止部10とを有し、更に電極7(陰極7)と封止部10の間に少なくとも電極(陰極7)より広い範囲を覆う保護部9を形成し、かつ熱硬化性樹脂よりなる封止部10をこの保護部9より広い範囲を覆うように構成したものである。   FIG. 10 is a drawing corresponding to FIG. 2 in the description of the first embodiment. As shown in the drawing, the light emitting element substrate 70 in Example 3 includes a substrate 2 and a plurality of light emitting portions made of a polymer organic electroluminescence material formed on the substrate 2 (the light emitting portion LS already described, see FIG. 1), It has an electrode (cathode 7) covering this light emitting part LS and a sealing part 10 made of a thermosetting resin covering at least a wider area than this electrode (cathode 7), and further sealed with the electrode 7 (cathode 7). A protective portion 9 that covers at least a wider area than the electrode (cathode 7) is formed between the portions 10, and a sealing portion 10 made of a thermosetting resin is configured to cover a wider area than the protective portion 9. is there.

このとき封止部10の周辺部はTFT保護層108と接着することとなる。<TFT>で説明したようにTFT保護層108は窒化シリコンなどの緻密な膜をなしており、しかも少なくとも300ナノメートル程度の厚みに形成されているからその表面は凹凸のない均一な状態となっている。これによって封止部10の周辺部はTFT保護層108と隙間なく接着することができる。   At this time, the peripheral portion of the sealing portion 10 is bonded to the TFT protective layer 108. As described in <TFT>, the TFT protective layer 108 is a dense film such as silicon nitride, and is formed to a thickness of at least about 300 nanometers. ing. As a result, the peripheral portion of the sealing portion 10 can be bonded to the TFT protective layer 108 without a gap.

さて実施例3において9は例えば酸化アルミニウムあるいは酸化カルシウムなどの吸湿性材料によって構成された保護部である。保護部9は少なくとも50ナノメートルの厚みを有する膜状構造物であり、例えばスパッタ法によって形成することができる。   In the third embodiment, reference numeral 9 denotes a protective part made of a hygroscopic material such as aluminum oxide or calcium oxide. The protective part 9 is a film-like structure having a thickness of at least 50 nanometers and can be formed by, for example, a sputtering method.

保護部9は有機エレクトロルミネッセンス素子1(図1参照)の発光部LSのみならず陰極7の全面を覆うように構成することが望ましい。   The protective part 9 is preferably configured to cover not only the light emitting part LS of the organic electroluminescence element 1 (see FIG. 1) but also the entire surface of the cathode 7.

吸湿性材料で構成された保護部9は熱硬化性樹脂からなる封止部10に完全に覆われているため、保護部9は直接大気に晒されていない。封止部10を浸透する水分の量は極めて微量であるため、保護部9は50ナノメートル程度の厚みであっても吸湿作用を発揮することができる。   Since the protective part 9 made of a hygroscopic material is completely covered with the sealing part 10 made of a thermosetting resin, the protective part 9 is not directly exposed to the atmosphere. Since the amount of moisture penetrating the sealing portion 10 is extremely small, the protective portion 9 can exhibit a hygroscopic action even when the thickness is about 50 nanometers.

さて本発明の発光素子基板70を露光装置に応用する場合には発光素子基板70に可撓性は要求されないから、基本的には保護部9は製造工程における時間的制約が許す限り、例えば数10マイクロメートル程度に厚く形成してもよい。このように保護部9の厚みを増大させることで、保護部9によって被覆される下部の構造物による段差が確実に吸収され、結果的に保護部9の表面は凹凸のない均一な状態となるとともに、吸湿材料を増加できるという極めて有利な状態とすることができる。   When the light-emitting element substrate 70 of the present invention is applied to an exposure apparatus, the light-emitting element substrate 70 is not required to be flexible. Therefore, the protection unit 9 basically has, for example, several numbers as long as time constraints in the manufacturing process allow. You may form thickly about 10 micrometers. By increasing the thickness of the protective part 9 in this way, the step due to the lower structure covered by the protective part 9 is reliably absorbed, and as a result, the surface of the protective part 9 is in a uniform state without unevenness. At the same time, it is possible to achieve a very advantageous state in which the hygroscopic material can be increased.

また保護部9を上述の吸湿性材料と実施例1で説明した金属酸化物や金属窒化物との多層に構成することももちろん可能である。この場合は金属酸化物あるいは金属窒化物の層によって吸湿性材料の層を完全に被覆するような構造とすることで、水分やガスに対するバリア性を更に向上することが可能となる。   It is of course possible to form the protective part 9 in a multilayer of the above-described hygroscopic material and the metal oxide or metal nitride described in the first embodiment. In this case, the barrier property against moisture and gas can be further improved by providing a structure in which the layer of the hygroscopic material is completely covered with the metal oxide or metal nitride layer.

(実施例4)
図11は本発明の実施例4における発光素子基板70の構成を示す断面図である。
Example 4
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a configuration of a light emitting element substrate 70 in Example 4 of the present invention.

以降図11を用いて実施例4の発光素子基板70の構成を説明する。なお実施例4において説明する発光素子基板70、この発光素子基板70を応用した露光装置およびこの露光装置を搭載した画像形成装置について、実施例1と共通部分については説明を省略する。   Hereinafter, the configuration of the light-emitting element substrate 70 of Example 4 will be described with reference to FIG. In addition, about the light emitting element substrate 70 demonstrated in Example 4, the exposure apparatus which applied this light emitting element substrate 70, and the image forming apparatus carrying this exposure apparatus, description is abbreviate | omitted about Example 1 and a common part.

図11は実施例1の説明における図2に対応する図面である。図示するごとく実施例4における発光素子基板70は基板2と、この基板2上に形成された高分子有機エレクトロルミネッセンス材料からなる複数の発光部(既に説明した発光部LS、図1参照)と、この発光部LSを覆う電極(陰極7)と、少なくともこの電極(陰極7)より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂からなる封止部10とを有し、更に基板2上に発光部LSの発光領域を規制する画素規制部8を有し、熱硬化性樹脂からなる封止部10の外周部分を画素規制部8に接着するように構成したものである。   FIG. 11 is a drawing corresponding to FIG. 2 in the description of the first embodiment. As shown in the drawing, the light emitting element substrate 70 in Example 4 includes a substrate 2 and a plurality of light emitting portions made of a polymer organic electroluminescence material formed on the substrate 2 (the light emitting portion LS already described, see FIG. 1), It has an electrode (cathode 7) covering this light emitting part LS and a sealing part 10 made of a thermosetting resin covering at least a wider area than this electrode (cathode 7), and further the light emission of the light emitting part LS on the substrate 2 The pixel restricting portion 8 for restricting the region is provided, and the outer peripheral portion of the sealing portion 10 made of a thermosetting resin is bonded to the pixel restricting portion 8.

実施例4において8は陽極3の一部を覆うことで発光に寄与する発光部LSの位置、形状、サイズなどを規制する画素規制部であり、画素規制部8は既に<画素規制部>で詳細に説明したように50ナノメートル〜2マイクロメートルの厚みの窒化シリコンあるいは酸化シリコンで形成された膜状構造物である。図示するように画素規制部8はTFT保護層108の上に形成されているが、TFT保護層108も<TFT>で説明したように窒化シリコンや酸化シリコンなどの緻密な材料で構成されており、300ナノメートル程度の厚みを有している。このようにTFT保護層108の上に更に同様に緻密な構造を有する画素規制部8を設けることで、画素規制部8の表面は凹凸のない均一な状態とすることができる。従ってこの画素規制部8の上に形成された熱硬化性樹脂からなる封止部10は画素規制部8と隙間なく密着し、水分やガスに対するバリア性を極めて高く維持することが可能となる。   In the fourth embodiment, reference numeral 8 denotes a pixel restricting portion that restricts the position, shape, size, and the like of the light emitting portion LS that contributes to light emission by covering a part of the anode 3, and the pixel restricting portion 8 is already a <pixel restricting portion>. As described in detail, it is a film-like structure formed of silicon nitride or silicon oxide having a thickness of 50 nanometers to 2 micrometers. As shown in the figure, the pixel restricting portion 8 is formed on the TFT protective layer 108, but the TFT protective layer 108 is also made of a dense material such as silicon nitride or silicon oxide as described in <TFT>. , Having a thickness of about 300 nanometers. In this manner, by providing the pixel restricting portion 8 having a dense structure on the TFT protective layer 108 in the same manner, the surface of the pixel restricting portion 8 can be made uniform with no unevenness. Therefore, the sealing portion 10 made of a thermosetting resin formed on the pixel restricting portion 8 is in close contact with the pixel restricting portion 8 without any gap, and the barrier property against moisture and gas can be maintained extremely high.

実施例4では画素規制部8として窒化シリコンや酸化シリコンを用いているが、画素規制部8として例えば実施例2で示したようなポリイミドなどの樹脂材料を用いることも可能である。ただしこの場合は封止性能を確保するために画素規制部8を封止部10で完全に覆うように構成することが望ましい。   In the fourth embodiment, silicon nitride or silicon oxide is used as the pixel restricting portion 8, but a resin material such as polyimide as shown in the second embodiment may be used as the pixel restricting portion 8. However, in this case, in order to ensure sealing performance, it is desirable that the pixel restricting portion 8 is completely covered with the sealing portion 10.

本発明の発光装置およびそれを用いた露光装置ならびに画像形成装置は、簡易な構成にもかかわらず有機エレクトロルミネッセンス素子を外部雰囲気中の水分やガスから確実に保護し、シュリンキングやダークスポットの発生および拡大を有効に防止することが可能であるから、長期にわたって安定な発光を得ることが必要な種々の装置において利用でき、例えば複写機、マルチファンクションプリンタ、プリンタ、ファクシミリなどに適用が可能である。また有機エレクトロルミネッセンス素子は有機発光材料の選定によってRed、Green、Blueの三原色を得ることができるから、例えばRGBそれぞれの色にて露光する露光装置を用いれば、印画紙を直接露光するタイプの画像形成装置に適用することもできる。また本発明の発光装置は単に露光装置や画像形成装置のみに応用が可能なものでなく、有機エレクトロルミネッセンス素子などの発光素子が形成され、封止を必要とするあらゆる発光装置、例えばディスプレイなどの表示装置にも適用することが可能である。   The light-emitting device of the present invention and the exposure apparatus and image forming apparatus using the same reliably protect the organic electroluminescence element from moisture and gas in the external atmosphere despite the simple structure, and generate shrinking and dark spots. In addition, it is possible to effectively prevent enlargement, so that it can be used in various apparatuses that need to obtain stable light emission over a long period of time, and can be applied to, for example, a copying machine, a multifunction printer, a printer, and a facsimile machine. . In addition, since organic electroluminescent elements can obtain the three primary colors of red, green, and blue by selecting an organic light emitting material, for example, if an exposure device that exposes each color of RGB is used, an image of a type that directly exposes photographic paper. It can also be applied to a forming apparatus. In addition, the light emitting device of the present invention is not only applicable to an exposure apparatus and an image forming apparatus, but is formed of a light emitting element such as an organic electroluminescence element and needs to be sealed, such as a display. The present invention can also be applied to a display device.

本発明の実施例1の発光素子基板における有機エレクトロルミネッセンス素子の構造を示す断面図Sectional drawing which shows the structure of the organic electroluminescent element in the light emitting element substrate of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の発光素子基板における封止部の外周部分の構成を示す断面図Sectional drawing which shows the structure of the outer peripheral part of the sealing part in the light emitting element substrate of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の発光素子基板において封止部を外部回路とのコンタクトホールおよび外部配線の領域まで拡大した場合の断面図Sectional drawing at the time of enlarging to the area | region of the contact hole with an external circuit, and the external wiring in the light emitting element substrate of Example 1 of this invention (a)本発明の実施例1の発光素子基板の上面図、(b)同要部拡大図(A) Top view of the light emitting element substrate of Example 1 of the present invention, (b) Enlarged view of the main part. 本発明の実施例1の発光素子基板に係る回路図1 is a circuit diagram relating to a light-emitting element substrate of Example 1 of the present invention. 本発明の実施例1における発光素子基板を搭載した露光装置の構成図1 is a configuration diagram of an exposure apparatus equipped with a light-emitting element substrate in Example 1 of the present invention. 本発明の実施例1の発光素子基板を応用した露光装置を搭載した画像形成装置の構成図1 is a configuration diagram of an image forming apparatus equipped with an exposure apparatus to which a light emitting element substrate according to Embodiment 1 of the present invention is applied. 本発明の実施例1の画像形成装置における現像ステーションの周辺を示す構成図1 is a configuration diagram showing the periphery of a developing station in an image forming apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. 本発明の実施例2における発光素子基板の構成を示す断面図Sectional drawing which shows the structure of the light emitting element substrate in Example 2 of this invention. 本発明の実施例3における発光素子基板の構成を示す断面図Sectional drawing which shows the structure of the light emitting element substrate in Example 3 of this invention. 本発明の実施例4における発光素子基板の構成を示す断面図Sectional drawing which shows the structure of the light emitting element substrate in Example 4 of this invention. 従来の有機エレクトロルミネッセンス素子の構造を示す断面図Sectional drawing which shows the structure of the conventional organic electroluminescent element

符号の説明Explanation of symbols

1 有機エレクトロルミネッセンス素子
2 基板
3 陽極
6 発光層
7 陰極
8 画素規制部
9 保護部
10 封止部
11 有機エレクトロルミネッセンス素子
12 ガラス基板
13 陽極
14 正孔輸送層
15 有機材料層
16 発光層
17 陰極
18 封止部
21 画像形成装置
22,22Y,22M,22C,22K 現像ステーション
23 記録紙
25 記録紙搬送路
28,28Y,28M,28C,28K 感光体
33,33Y,33M,33C,33K 露光装置
61 コントローラ
62 エンジン制御部
70 発光素子基板
71 レンズアレイ
78 駆動制御部
80 FPC
81 ソースドライバ
82 TFT回路
85 イメージメモリ
86 光量補正データメモリ
87 タイミング生成部
88 ゲートコントローラ
89 ピクセル回路
101 ベースコート層
102 TFT
103 ゲート絶縁層
105 中間層
108 TFT保護層
110 コンタクトホール
119 配線パターン
120 外部配線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Organic electroluminescent element 2 Board | substrate 3 Anode 6 Light emitting layer 7 Cathode 8 Pixel control part 9 Protection part 10 Sealing part 11 Organic electroluminescent element 12 Glass substrate 13 Anode 14 Hole transport layer 15 Organic material layer 16 Light emitting layer 17 Cathode 18 Sealing unit 21 Image forming device 22, 22Y, 22M, 22C, 22K Development station 23 Recording paper 25 Recording paper transport path 28, 28Y, 28M, 28C, 28K Photosensitive member 33, 33Y, 33M, 33C, 33K Exposure device 61 Controller 62 Engine control unit 70 Light emitting element substrate 71 Lens array 78 Drive control unit 80 FPC
81 source driver 82 TFT circuit 85 image memory 86 light quantity correction data memory 87 timing generation unit 88 gate controller 89 pixel circuit 101 base coat layer 102 TFT
103 Gate insulating layer 105 Intermediate layer 108 TFT protective layer 110 Contact hole 119 Wiring pattern 120 External wiring

Claims (21)

基板と、この基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いて形成された複数の発光部と、この発光部に電力を供給する電極と、少なくともこの電極より広い範囲を覆う熱硬化性樹脂で構成された封止部とを有することを特徴とする発光装置。 Consists of a substrate, a plurality of light emitting portions formed on the substrate using a polymer organic electroluminescent material, an electrode for supplying power to the light emitting portion, and a thermosetting resin covering at least a wider area than the electrodes And a sealed portion. 前記電極と前記封止部の間に少なくとも前記電極の全面を覆う保護部を形成し、前記封止部の外周部分を前記保護部に接着するように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 The protective part which covers at least the whole surface of the said electrode is formed between the said electrode and the said sealing part, and it comprised so that the outer peripheral part of the said sealing part might adhere | attach the said protective part. Light-emitting device. 前記基板上に少なくとも前記発光部の駆動に係る制御信号を入力する配線部を有し、前記保護部をこの配線部を覆うように構成するとともに、前記封止部を前記保護部に接着するように構成したことを特徴とする請求項2記載の発光装置。 A wiring unit for inputting at least a control signal for driving the light emitting unit is provided on the substrate, the protection unit is configured to cover the wiring unit, and the sealing unit is bonded to the protection unit. The light emitting device according to claim 2, wherein the light emitting device is configured as follows. 前記基板上に前記発光部の発光領域を規制する画素規制部を有し、この画素規制部と前記保護部を同一の材料によって構成したことを特徴とする請求項2記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 2, further comprising: a pixel restricting portion that restricts a light emitting region of the light emitting portion on the substrate, wherein the pixel restricting portion and the protection portion are made of the same material. 前記保護部と前記画素規制部を金属酸化物または金属窒化物によって構成したことを特徴とする請求項4記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 4, wherein the protection unit and the pixel regulation unit are made of metal oxide or metal nitride. 前記電極と前記封止部の間に少なくとも前記電極より広い範囲を覆う保護部を形成し、かつ前記封止部をこの保護部より広い範囲を覆うように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 2. A protection part that covers at least a range wider than the electrode is formed between the electrode and the sealing part, and the sealing part is configured to cover a range wider than the protection part. The light-emitting device of description. 前記保護部を吸湿性材料によって構成したことを特徴とする請求項6記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 6, wherein the protection part is made of a hygroscopic material. 前記基板上に前記発光部の発光領域を規制する画素規制部を有し、前記封止部の外周部分を前記画素規制部に接着するように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 2. The light emitting device according to claim 1, further comprising: a pixel restricting portion that restricts a light emitting region of the light emitting portion on the substrate, wherein an outer peripheral portion of the sealing portion is bonded to the pixel restricting portion. apparatus. 前記封止部をガラス転移温度が140℃〜180℃のエポキシ系樹脂で構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 1, wherein the sealing portion is made of an epoxy resin having a glass transition temperature of 140 ° C. to 180 ° C. 前記封止部を劈開性を有する無機充填剤を含有するように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 1, wherein the sealing portion is configured to contain an inorganic filler having a cleavage property. 前記基板上に、発光部を駆動するTFTで構成された駆動回路を設け、前記駆動回路を前記封止部で覆うように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 The light-emitting device according to claim 1, wherein a driving circuit including a TFT for driving the light-emitting portion is provided on the substrate, and the driving circuit is covered with the sealing portion. 前記封止部を吸水性を有する無機多孔質材料(ゼオライト)を含有するように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 1, wherein the sealing portion is configured to contain an inorganic porous material (zeolite) having water absorption. 前記封止部を劈開性を有する無機充填剤の充填量より吸水性を有する無機多孔質材料の充填量が同等もしくは多く含有するように構成したことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 1, wherein the sealing portion is configured so that the filling amount of the inorganic porous material having water absorption is equal to or greater than the filling amount of the inorganic filler having cleavage property. 前記封止部を50マイクロメートル以上の厚みに構成したことを特徴とする請求項1、請求項2、請求項6、請求項12、請求項13記載の発光装置。 The light emitting device according to claim 1, 2, 6, 12, or 13, wherein the sealing portion is configured to have a thickness of 50 micrometers or more. 請求項1〜請求項14の何れか記載の発光装置を搭載し、前記複数の発光部を独立して点灯/消灯可能に構成したことを特徴とする露光装置。 15. An exposure apparatus comprising the light-emitting device according to claim 1, wherein the plurality of light-emitting units can be turned on / off independently. 前記発光部を前記基板上に設けられたアクティブマトリクス回路で駆動するようにしたことを特徴とする請求項15記載の露光装置。 16. The exposure apparatus according to claim 15, wherein the light emitting unit is driven by an active matrix circuit provided on the substrate. 基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を用いて複数の発光部を形成する工程と、前記発光部を覆う電極を形成する工程と、少なくとも前記電極より広い範囲を熱硬化性樹脂から構成された封止部で封止する封止工程を有することを特徴とする発光装置の製造方法。 A step of forming a plurality of light emitting portions on the substrate using a polymer organic electroluminescent material, a step of forming an electrode covering the light emitting portion, and at least a range wider than the electrodes made of a thermosetting resin. The manufacturing method of the light-emitting device characterized by having the sealing process sealed with a stop part. 前記基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を塗布した後、少なくとも前記封止部の外周部に相当する位置の前記有機エレクトロルミネッセンス材料を除去する工程を含むことを特徴とする請求項17記載の発光装置の製造方法。 18. The light emitting device according to claim 17, further comprising a step of removing the organic electroluminescent material at a position corresponding to at least an outer peripheral portion of the sealing portion after applying a polymer organic electroluminescent material on the substrate. Device manufacturing method. 前記基板上に高分子有機エレクトロルミネッセンス材料を塗布した後、熱処理を行なう工程を有し、前記熱処理の温度を、後に熱硬化性樹脂を硬化させる温度より高温としたことを特徴とする請求項17記載の発光装置の製造方法。 18. A step of performing a heat treatment after applying a polymer organic electroluminescent material on the substrate, wherein the temperature of the heat treatment is set higher than a temperature for later curing the thermosetting resin. The manufacturing method of the light-emitting device of description. 前記封止工程において、硬化温度を少なくとも二段階設け、この硬化温度を、後の硬化温度ほど高温に設定することを特徴とする請求項17記載の発光装置の製造方法。 18. The method of manufacturing a light emitting device according to claim 17, wherein, in the sealing step, at least two stages of curing temperatures are provided, and the curing temperature is set higher as the later curing temperature. 請求項15、請求項16の何れか記載の露光装置と、この露光装置によって潜像が形成される感光体と、この感光体上に形成された潜像を現像して顕画化する現像ステーションと、この現像ステーションによって顕画化された画像を記録紙に転写する転写手段と、この転写手段によって転写された画像を定着する定着器を有することを特徴とする画像形成装置。 17. The exposure apparatus according to claim 15, a photosensitive member on which a latent image is formed by the exposure apparatus, and a developing station that develops and visualizes the latent image formed on the photosensitive member. And an image forming apparatus comprising: a transfer unit that transfers the image developed by the developing station to a recording sheet; and a fixing unit that fixes the image transferred by the transfer unit.
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009123618A (en) * 2007-11-16 2009-06-04 Toppan Printing Co Ltd Organic el display device and its manufacturing method
JP2010009800A (en) * 2008-06-25 2010-01-14 Casio Comput Co Ltd Light emission device, and method for manufacturing of light emission device
JP2010009747A (en) * 2008-06-24 2010-01-14 Casio Comput Co Ltd Light emitting device, and method for manufacturing of light emitting device
JP2010009746A (en) * 2008-06-24 2010-01-14 Casio Comput Co Ltd Light emitting device and method for manufacturing of light emitting device
KR101161926B1 (en) 2008-06-24 2012-07-03 가시오게산키 가부시키가이샤 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device
JP2015015250A (en) * 2009-01-23 2015-01-22 味の素株式会社 Resin composition
JP2016149225A (en) * 2015-02-10 2016-08-18 パイオニア株式会社 Light-emitting device
JP2016207661A (en) * 2009-08-05 2016-12-08 味の素株式会社 Film
KR101900363B1 (en) * 2012-01-16 2018-09-20 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display apparatus and method of manufacturing organic light emitting display apparatus
JPWO2018159564A1 (en) * 2017-02-28 2019-12-19 味の素株式会社 Resin composition
JP2021007113A (en) * 2020-10-26 2021-01-21 パイオニア株式会社 Light-emitting device
KR20220013449A (en) * 2014-12-19 2022-02-04 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009123618A (en) * 2007-11-16 2009-06-04 Toppan Printing Co Ltd Organic el display device and its manufacturing method
JP2010009747A (en) * 2008-06-24 2010-01-14 Casio Comput Co Ltd Light emitting device, and method for manufacturing of light emitting device
JP2010009746A (en) * 2008-06-24 2010-01-14 Casio Comput Co Ltd Light emitting device and method for manufacturing of light emitting device
JP4697265B2 (en) * 2008-06-24 2011-06-08 カシオ計算機株式会社 Method for manufacturing light emitting device
JP4697266B2 (en) * 2008-06-24 2011-06-08 カシオ計算機株式会社 Method for manufacturing light emitting device
KR101161926B1 (en) 2008-06-24 2012-07-03 가시오게산키 가부시키가이샤 Light emitting device and manufacturing method of light emitting device
JP2010009800A (en) * 2008-06-25 2010-01-14 Casio Comput Co Ltd Light emission device, and method for manufacturing of light emission device
JP2015015250A (en) * 2009-01-23 2015-01-22 味の素株式会社 Resin composition
JP2016207661A (en) * 2009-08-05 2016-12-08 味の素株式会社 Film
KR101900363B1 (en) * 2012-01-16 2018-09-20 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display apparatus and method of manufacturing organic light emitting display apparatus
KR20220013449A (en) * 2014-12-19 2022-02-04 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
KR102536497B1 (en) 2014-12-19 2023-05-26 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
JP2016149225A (en) * 2015-02-10 2016-08-18 パイオニア株式会社 Light-emitting device
JPWO2018159564A1 (en) * 2017-02-28 2019-12-19 味の素株式会社 Resin composition
JP2021007113A (en) * 2020-10-26 2021-01-21 パイオニア株式会社 Light-emitting device
JP2022060478A (en) * 2020-10-26 2022-04-14 パイオニア株式会社 Light-emitting device

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