JP2004119722A - Radiation image detector - Google Patents
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Landscapes
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、医療における放射線画像診断の産業分野に関する。特に診断目的に用いる放射線画像を得るための高画質で耐久性の良い放射線画像検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】
ディジタル技術の進展に伴い、放射線画像検出器の分野においてもアナログ技術からディジタル技術への移行が急速に行われている。この放射線画像検出器では、例えばコンピュテッドラジオグラフィ(CR)がディジタルの放射線画像検出器として一般に用いられている。
【0003】
このコンピュテッドラジオグラフィは、蛍光体が塗布されたイメージングプレートという媒体に、一旦放射線画像情報を記録し、その後イメージングプレートにレーザ光を当てて記録されている情報を読み取って放射線画像の画像信号を得るものである。このようなイメージングプレートでは、湿気が進入して蛍光体層に悪影響を与えることがないように耐湿用保護膜を形成することが行われている(例えば、特許文献1参照。)。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−148343号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、コンピュテッドラジオグラフィは、蛍光増感紙と放射線写真フィルムとを組み合わせた所謂スクリーンフィルムシステム(SFシステム)ほどの画質は得られていない。また、レーザ光を当てて記録されている情報を読み取る必要があるので速やかに放射線画像を見ることはできない。
【0006】
また、コンピュテッドラジオグラフィのようにレーザ光を当てて記録されている情報を読み取らなくとも、高画質の放射線画像を得ることができるフラットパネルディテクタ(FPD)が実用化されている。このフラットパネルディテクタでは、近年無機物であるアモルファスシリコンに替えて有機物を用いることで、TFT(Thin Film Transistor)等を低温で形成できる技術が開発されつつあることから、樹脂基板を用いることにより軽量で強度の強いフラットパネルディテクタを実現することができる。またTFTの微細加工に、印刷技術やインクジェット技術を適用でいることから、安価にTFTを実現できる。しかしながら、この有機物は、水分や空気中の酸素によって劣化しやすいため耐久性が悪いという欠点を有している。
【0007】
そこで、この発明では、耐久性が良好であるとともに、高画質で安価な放射線画像検出器を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る放射線画像検出器は、入射した放射線の強度に応じた発光を行う第1層と、前記第1層から出力された光を電気エネルギーに変換する有機化合物で形成した第2層と、前記第2層で得られた電気エネルギーの蓄積及び該蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を画素単位で行う第3層と、前記第1層から第3層を保持する第4層を備える放射線画像検出器において、前記第3層で前記電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた前記第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している空隙に、不活性ガスを充満させて酸素ガスのモル分圧を10%以下として封止するものである。
【0009】
また、この発明に係る放射線画像検出器は、前記放射線画像検出器において、前記第3層で前記電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた前記第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している端面側に、障壁を形成するものである。
【0010】
さらに、この発明に係る放射線画像検出器は、前記放射線画像検出器において、前記第3層で前記電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた前記第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している空隙に、非水溶液若しくは前記放射線画像検出器の使用可能な温度範囲で固化する非水溶液を充填するものである。
【0011】
この発明においては、入射した放射線の強度に応じた発光を行う第1層が、例えばCsI:Tl、Gd2O2S:Tb、(Gd,M1,Eu)2O3、(Gd,M2,Tb)2O3のいずれかを用いて形成される(なお、「M1」「M2」は、Y、Nb、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、La、Lu、Sm、Ce、Prの少なくとも一つ以上の希土類元素)。また、第1層から出力された光を電気エネルギーに変換する有機化合物で形成した第2層が設けられる。さらに、前記第2層で得られた電気エネルギーの蓄積及び該蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を画素単位で行う第3層が、有機半導体あるいは分割されたシリコン積層構造素子を用いて形成される。この第1層から第3層は第4層によって保持される。また、第2層は第3層の画素単位で形成される。ここで、画素が円形状とされているとき、この画素は、画素列単位で交互に1/2画素間隔だけ位置をずらして配置される。
【0012】
放射線の入射面は第1層側あるいは前記第4層側とされるとともに、放射線の入射面が第4層側とされたとき、第4層の層厚は、放射線の入射面を第1層側としたときよりも薄くして、第1層の第2層側とは逆側の面に支持体層が設けられる。
【0013】
このように構成された放射線画像検出器は、携行可能な筐体に収納されているとともに、放射線画像検出器を駆動させるために必要な電力を供給する電力供給手段が設けられる。さらに画像信号を記憶する手段が例えば脱着可能に設けられる。
【0014】
【発明の実施の形態】
次に、この発明の実施の一形態について図を用いて詳細に説明する。図1は、放射線画像検出器を用いたシステムの一例を示している。図1において、放射線発生器10から放射された放射線は、被写体(医療施設では例えば患者)15を通して放射線画像検出器20に照射される。放射線画像検出器20では、照射された放射線の強度に基づいて画像信号DFEを生成する。この生成された画像信号DFEは、放射線画像検出器20に接続されている画像処理部51によって読み出される。あるいは放射線画像検出器20に装着された例えば半導体メモリカード等の携帯可能な記録媒体に蓄積されたのち、この記録媒体が放射線画像検出器20から取り外されて画像処理部51に装着されることにより、画像処理部51に供給される。
【0015】
画像処理部51では、放射線画像検出器20で生成された画像信号DFEに対してシェーディング補正やゲイン補正、階調補正、エッジ強調処理、ダイナミックレンジ圧縮処理などを施して、診断等に適した画像信号となるように処理を行う。また画像処理部51には、陰極管や液晶表示素子あるいはプロジェクタ等を用いて構成された画像表示部52が接続されており、この画像処理部51では、画像処理中の画像信号や画像処理完了後の画像信号に基づく画像が表示される。
【0016】
また、画像処理部51では、画像の拡大や縮小を行うとともに画像信号の蓄積や転送を容易とするために画像信号の圧縮や伸長処理も行う。このため、画像表示部52に表示されている画像を拡大したり縮小することで、撮影部位の確認や処理状態を容易に行うことができる。また、表示された画像や表示された画像の領域を指定させて、指定された画像や指定された領域に対して適切な画像処理を自動的に行うことも可能となる。
【0017】
また、画像処理部51には、キーボード、マウス、ポインターなどを用いて構成された情報入力部53が接続されており、この情報入力部53によって患者情報などを入力し、付加情報を画像信号に付け加えることができる。また画像処理の指定や画像信号の保存や読み出し、ネットワークを介した画像信号の送受信を行う際の指示等も情報入力部53から行われる。
【0018】
画像処理部51には、さらに画像出力部54や画像保存部55及びコンピュータ支援画像自動診断部(CAD)56が接続されている。
【0019】
画像出力部54では、記録紙やフイルム等に放射線画像を表示させて出力する。例えば、銀塩写真フィルムを用いるものとして、画像信号に基づき露光を行う。この露光された銀塩写真フィルムの現像処理を行うことで放射線画像を銀画像として描き出して出力する。また、記録紙に放射線画像を印刷して出力する場合には、画像信号に基づいてインクに圧力をかけて細いノズルの先端からインクを記録紙にふきつけて印刷するインクジェットプリンタ、画像信号に基づいてインクを溶融あるいは昇華させて記録紙に画像を転写するサーマルプリンタ、画像信号に基づきレーザ光で感光体上を走査して、感光体上に付着したトナーを紙に転写してから熱と圧力で定着させることにより記録紙に画像を形成するレーザプリンタ等を用いて画像出力部54を構成する。
【0020】
画像保存部55では、放射線画像の画像信号を必要に応じて適宜読み出すことができるように保存する。この画像保存部55は、例えば磁気的、ホログラム素子、穿孔、色素分布変化等を利用して画像信号を保存する。
【0021】
CAD56は、撮影された放射線画像のコンピュータ処理やコンピュータ解析を行い、診断に必要な情報を医師に提供することで病変の見落としがないように診断支援を行う。またコンピュータ処理やコンピュータ解析結果に基づいて、診断を自動的に行う。
【0022】
放射線画像の画像信号は、上述の画像出力部54や画像保存部55及びCAD56だけでなく、いわゆるLANやインターネット及びPACS(医療画像ネットワーク)等のネットワーク60を介して、病院施設内のほかの部署あるいは遠隔地にも送付することができる。また、このネットワークを介して、CT61やMRI62から得られた画像信号あるいはCRや他のFPD63から得られた画像信号、及びその他の検査情報等も送付可能とされており、放射線画像検出器20で得られた放射線画像と比較検討するため、ネットワーク60を介して送付されてきた画像信号や検査情報等を画像表示部52で表示したり画像出力部54から出力させることも行われる。また、送付されてきた画像信号や検査情報等を画像保存部55に保存させることもできる。また、放射線画像検出器20で得られた放射線画像の画像信号等を外部画像保存装置64に保存させるものとしたり、外部画像表示装置65の画面上に、放射線画像検出器20で得られた放射線画像を表示することも行われる。
【0023】
次に、放射線画像検出器20の構造の一例を図2に示す。放射線画像検出器20には、撮像パネル21、放射線画像検出器20の動作を制御する制御回路30、書き換え可能な読み出し専用メモリ(例えばフラッシュメモリ)等を用いて撮像パネル21から出力された画像信号を記憶するメモリ部31、放射線画像検出器20の動作を切り換えるための操作部32、放射線画像の撮影準備の完了やメモリ部31に所定量の画像信号が書き込まれたことを示す表示部33、撮像パネル21を駆動して画像信号を得るために必要とされる電力を供給する電源部34、放射線画像検出器20と画像処理部51間で通信を行うための通信用のコネクタ35が設けられており、これらは携行可能な筐体40内に収納されている。また、撮像パネル21は、照射された放射線の強度に応じて蓄積された電気エネルギーを読み出す走査駆動回路25や、蓄積された電気エネルギーを画像信号として出力する信号選択回路27を有している。なお、筐体40の内部や走査駆動回路25、信号選択回路27、制御回路30、メモリ部31等は、図示しない放射線遮蔽部材で覆われており、筐体40の内部で放射線の散乱を生じたり、各回路に放射線が照射されることが防止される。
【0024】
また筐体40としては、外部からの衝撃に耐えることができるとともに、容易に持ち運びができるよう重量ができるだけ軽い素材、すなわちアルミニウムあるいはその合金を素材で外形を構成することは好ましい態様である。筐体40の放射線入射面側は、放射線を透過し易い非金属例えばカーボン繊維などを用いて構成する。また、放射線入射面とは逆である背面側においては、放射線が放射線画像検出器20を透過してしまうことを防ぐ目的、あるいは放射線画像検出器20を構成する素材が放射線を吸収することで生ずる2次放射線からの影響を防ぐために、放射線を効果的に吸収する材料、例えば鉛板などを用いることは好ましい実施態様である。
【0025】
図3は撮像パネル21の構成を示しており、撮像パネル21には照射された放射線の強度に応じて蓄積された電気エネルギーを読み出すための収集電極220が2次元配置されており、この収集電極220がコンデンサ221の一方の電極とされて、電気エネルギーがコンデンサ221に蓄えられる。ここで、1つの収集電極220は放射線画像の1画素に対応するものである。
【0026】
画素間には走査線223−1〜223−mと信号線224−1〜224−nが例えば直交するように配設される。コンデンサ221−(1,1)には、シリコン積層構造あるいは有機半導体で構成されたトランジスタ222−(1,1)が接続されている。このトランジスタ222−(1,1)は、例えば電界効果トランジスタであり、ドレイン電極あるいはソース電極が収集電極220−(1,1)に接続されるとともに、ゲート電極は走査線223−1と接続される。ドレイン電極が収集電極220−(1,1)に接続されるときにはソース電極が信号線224−1と接続され、ソース電極が収集電極220−(1,1)に接続されるときにはドレイン電極が信号線224−1と接続される。また、他の画素の収集電極220やコンデンサ221及びトランジスタ222も同様に走査線223や信号線224が接続される。
【0027】
図4は、撮像パネル21の一部断面図を示しており、放射線の照射面側には、入射された放射線の強度に応じて発光を行う第1層211が設けられている。ここで、第1層211には、例えば波長が1Å(1×10−10m)程度であって、人体や船舶そして航空機の部材等を透過する電磁波である所謂X線が照射される。このX線は、放射線発生器10から出力されるものであり、放射線発生器10は、一般に固定陽極あるいは回転陽極X線管が用いられる。また、X線管は、陽極の負荷電圧が10kVから300kVとされるとともに、医療用に用いられる場合は20kVから150kVとされる。
【0028】
第1層211は、蛍光体を主たる成分とするものであり、入射した放射線に基づいて、波長が300nmから800nmの電磁波、すなわち、可視光線を中心に紫外光から赤外光にわたる電磁波(光)を出力する。なお、第1層211は、一般的にシンチレータ層と呼ばれている。
【0029】
この第1層211で用いられる蛍光体は、CaWO4、CaWO4:Pb、MgWOなどのタングステン酸塩系蛍光体、Y2O2S:Tb、Gd2O2S:Tb、La2O2S:Tb、(Y,Gd)2O2S:Tb、(Y,Gd)2O2S:Tb,Tmなどのテルビウム賦活希土類酸硫化物系蛍光体、YPO4:Tb、GdPO4:Tb、LaPO4:Tbなどのテルビウム賦活希土類燐酸塩系蛍光体、LaOBr:Tb、LaOBr:Tb,Tm、LaOCl:Tb、LaOCl:Tb,Tm、GdOBr:Tb、GdOBr:Tb,Tm、GdOCl:Tb、GdOCl:Tb,Tmなどのテルビウム賦活希土類オキシハロゲン化物系蛍光体、LaOBr:Tm、LaOCl:Tmなどのツリウム賦活希土類オキシハロゲン化物系蛍光体、LaOBr:Gd、LuOCl:Gdなどのガドリニウム賦活希土類オキシハロゲン化物系蛍光体、GdOBr:Ce、GdOCl:Ce、(Gd,Y)OBr:Ce、(Gd,Y)OCl:Ceなどのセリウム賦活希土類オキシハロゲン化物系蛍光体、BaSO4:Pb、BaSO4:Eu2+、(Ba,Sr)SO4:Eu2+などの硫酸バリウム系蛍光体、Ba3(PO4)2:Eu2+、(Ba2PO4)2:Eu2+、Sr3(PO4)2:Eu2+、(Sr2PO4)2:Eu2+などの2価のユーロピウム賦活アルカリ土類金属燐酸塩系蛍光体、BaFCl:Eu2+、BaFBr:Eu2+、BaFCl:Eu2+,Tb、BaFCl:Eu2+,Tb、BaF2・BaCl2・KCl:Eu2+、(Ba,Mg)F2・BaCl2・KCl:Eu2+などの2価のユーロピウム賦活アルカリ土類金属弗化ハロゲン化物系蛍光体、CsI:Na、CsI:Tl、NaI、KI:Tlなどの沃化物系蛍光体、ZnS:Ag、(Zn,Cd)S:Ag、(Zn,Cd)S:Cu、(Zn,Cd)S:Cu,Agなどの硫化物系蛍光体、HfP2O7、HfP2O7:Cu、Hf3(PO4)4などの燐酸ハフニウム系蛍光体、YTaO4、YTaO4:Tm、YTaO4:Nb、(Y,Sr)TaO4:Nb、LuTaO4、LuTaO4:Tm、LuTaO4:Nb、(Lu,Sr)TaO4:Nb、GdTaO4:Tm、Mg4Ta2O9:Nb、Gd2O3・Ta2O5・B2O3:Tbなどのタンタル酸塩系蛍光体、他に、Gd2O2S:Eu3+、(La,Gd,Lu)2Si2O7:Eu、ZnSiO4:Mn、Sr2P2O7:Eu、などを用いることができる。
【0030】
さらに、(Gd,M1,Eu)2O3、(Gd,M2,Tb)2O3を用いることができる。ここで「M1」「M2」は、イットリウムY、ニオブNb、テルビウムTb、ジスプロシウムDy、ホルミウムHo、エルビウムEr、ツリウムTm、イッテルビウムYb、ランタンLa、ルテチウムLu、サマリウムSm、セリウムCe、プラセオジムPrの少なくとも一つ以上の希土類元素である。この場合、Gdの含有量は70〜98%、蛍光体粒子の結晶子サイズは10〜100nm、蛍光体粒子の粒子サイズは0.1〜5μmが好ましい。
【0031】
上述の蛍光体では、特に放射線吸収及び発光効率が高い(発光量が多い)セシウムアイオダイドCsI:Tl、ガドリニウムオキシサルファイドGd2O2S:Tb、あるいは(Gd,Y,Eu)2O3、(Gd,Y,Tb)2O3が好ましく、これらを用いることで、ノイズの低い高画質の画像を得ることができる。
【0032】
また、セシウムアイオダイドCsI:Tlについては、柱状結晶構造のシンチレータ層を形成することが可能である。この場合、柱状結晶では光ガイド効果、すなわち結晶内での発光が柱状結晶の側面より外に放射されてしまうことを少なくできる効果を得られるので、鮮鋭性の低下を抑制することが可能であり、蛍光体層膜厚を厚くすることにより放射線吸収が増加し粒状性を向上できる。
【0033】
なお、本発明に用いられる蛍光体はこれらに限定されるものではなく、放射線の照射によって可視又は紫外または赤外領域などの、受光素子が感度を持つ領域の電磁波を出力する蛍光体であれば良い。また、本発明で用いられる蛍光体粒子の直径は7μm以下、好ましくは4μm以下である。蛍光体粒子の直径が小さいほどシンチレータ層内での光の散乱を防ぐことが可能となり、高い鮮鋭度を得られるからである。そして、この蛍光体粒子は以下のようなバインダーに分散される。例えば、ポリウレタン、塩化ビニル共重合体、塩化ビニル−アクリロニトリル共重合体、ブタジエン−アクリロニトリル共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体、スチレン−ブタジエン共重合体、各種合成ゴム系樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メラニン樹脂、フェノキシ樹脂、シリコン樹脂、アクリル系樹脂、尿素ホルムアミド樹脂等があげられる。中でもポリウレタン、ポリエステル、塩化ビニル系共重合体、ポリビニルブチラール、ニトロセルロースを使用することが好ましい。このような好ましいバインダーを用いることで、蛍光体の分散性を高め、蛍光体の充填率を高くすることが可能となり、粒状性の向上に寄与するからである。
【0034】
上記バインダー中に分散される蛍光体の重量含有量は90〜99%である。また本発明で用いられる第1層の厚さは、放射線画像の粒状性と鮮鋭性とのバランスから決定されるものであり、第1層が厚いと粒状性は良くなるが鮮鋭性は悪くなり、第1層が薄いと鮮鋭性は良くなるが粒状性は悪くなることから、例えば20μmから1mmとする。また、良好な粒状性と鮮鋭性を得るために好ましくは50μmから300μmとする。
【0035】
次に、第1層211の放射線照射面側とは逆の面側に、第1層から出力された電磁波(光)を電気エネルギーに変換する第2層212が形成される。この第2層212は、第1層211側から、透明電極膜212a、電荷発生層212b、導電層212cが設けられている。ここで、電荷発生層212bは、光電変換可能な即ち電磁波(光)によって電子や正孔を発生し得る有機化合物を含有するものであり、光電変換を円滑に行うために、いくつかの機能分離された層を有することが好ましく、例えば図4に示すように第2層が構成される。
【0036】
透明電極膜212aは、例えばインジウムチンオキシド(ITO)、SnO2、ZnOなどの導電性透明材料を用いて形成される。この透明電極膜212aの形成では、蒸着やスパッタリング等の方法を用いて薄膜を形成できる。また、フォトリソグラフィー法で所望の形状のパターンを形成してもよく、あるいは高いパターン精度を必要としない場合(100μm以上程度)は、上記電極物質の蒸着やスパッタリング時に所望の形状のマスクを介してパターンを形成してもよい。この透明電極は透過率を10%より大きくすることが望ましく、またシート抵抗は数百Ω/□以下が好ましい。さらに膜厚は材料にもよるが、通常10nm〜1μm、好ましくは10nm〜200nmの範囲で選ばれる。膜厚が薄い場合には透明電極がアイランド状になってしまうからであり、膜厚が厚い場合には透明電極の形成に時間を要してしまうからである
電荷発生層212bでは、第1層211から出力された電磁波(光)によって電子と正孔を発生される。ここで発生した正孔は透明電極膜212a側に集められ、電子は導電層212c側に集められる。なお、電荷発生層212bでの変換効率や電極へのキャリア受け渡し効率を向上させるため、電荷発生層212bの透明電極膜212a側に正孔伝導層を形成するとともに、電荷発生層212bの導電層212c側に電子伝導層を形成するものとしてもよい。
【0037】
導電層212cは、例えばクロムなどで生成されている。また、一般の金属電極若しくは前記透明電極の中から選択可能であるが、良好な特性を得るためには仕事関数の小さい(4.5eV以下)金属、合金、電気伝導性化合物及びこれらの混合物を電極物質とするものが好ましい。このような電極物質の具体例としては、ナトリウム、ナトリウム−カリウム合金、マグネシウム、リチウム、アルミニウム、マグネシウム/銅混合物、マグネシウム/銀混合物、マグネシウム/アルミニウム混合物、マグネシウム/インジウム混合物、アルミニウム/酸化アルミニウム(Al2O3)混合物、インジウム、リチウム/アルミニウム混合物、希土類全属などが挙げられる。この導電層212cは、これらの電極物質を原料として蒸着やスパッタリング等の方法を用いて生成できる。また、導電層212cのシート抵抗は数百Ω/□以下が好ましく、膜厚は通常10nm〜1μm、好ましくは50nm〜500nmの範囲で選ばれる。膜厚が薄い場合には導電層がアイランド状になってしまうからであり、膜厚が厚い場合には導電層の形成に時間を要してしまうからである。
【0038】
次に、上述の電荷発生層212bについて詳述する。電荷発生層212bは、いわゆる有機EL素子の構成を適用することができ、前記有機EL素子はその構成材料が低分子系のものでも高分子系のもの(ライトエミッティングポリマーとも言う)でもよい。本発明の電荷発生層212bで用いる光電変換可能な材料としては、導電性高分子材料(π共役系高分子材料やシリコン系高分子材料など)や低分子系有機EL素子に使用される発光材料等が挙げられる。例えば導電性高分子材料としては、ポリ(2−メトキシ、5−(2’エチルヘキシロキシ)−p−フェニレンビニレン)そしてポリ(3−アルキルチオフェン)、などがある。また「有機EL材料とディスプレイ(2001年2月28日株式会社シー・エム・シー発行)」の第190頁〜第203頁に記載されている化合物や、「有機EL素子とその工業化最前線(1998年11月30日エヌ・ティー・エス社発行)」の第81頁〜第99頁に記載されている化合物などが挙げられる。前記低分子系有機EL素子に使用される発光材料としては、例えば、「有機EL素子とその工業化最前線(1998年11月30日エヌ・ティー・エス社発行)」の第36頁〜第56頁に記載されている化合物や、「有機EL材料とディスプレイ(2001年2月28日株式会社シー・エム・シー発行)」の第148頁〜第172頁に記載されている化合物等が挙げられる。本発明において、光電変換可能な有機化合物として特に好ましいものは導電性高分子化合物であり、最も好ましいものはπ共役系高分子化合物である。ここで、図5は導電性高分子化合物の基本骨格、図6〜図8はπ共役系高分子化合物の具体例、図9はπ共役系以外の導電性高分子化合物の具体例を示している。なお、導電性高分子材料や低分子系有機EL素子は上述のものに限定されるものではない。
【0039】
さらに、正孔伝導層と電子伝導層を形成する場合には、電荷発生層212bに添加剤を加えて、あるいは添加剤を別の層として設けることで正孔伝導層と電子伝導層を形成する。添加剤としては、有機EL素子で使用される正孔注入材料や正孔輸送材料,電子輸送材料,電子注入材料等を適用することができる。その具体例としては、例えばトリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミノ置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、シラザン誘導体、アニリン系共重合体、また、導電性高分子オリゴマー、特にチオフェンオリゴマー、ポルフィリン化合物、芳香族第三級アミン化合物及びスチリルアミン化合物、ニトロ置換フルオレン誘導体、ジフェニルキノン誘導体、チオピランジオキシド誘導体、ナフタレンペリレンなどの複素環テトラカルボン酸無水物、カルボジイミド、フレオレニリデンメタン誘導体、アントラキノジメタン及びアントロン誘導体、オキサジアゾール誘導体、チアジアゾール誘導体、キノキサリン誘導体、8−キノリノール誘導体の金属錯体(例えばトリス(8−キノリノラート)アルミニウム(Alq3)、トリス(5,7−ジクロロ−8−キノリトラート)アルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−8−キノリラート)アルミニウム、トリス(2−メチル−8−キノリラート)アルミニウム、トリス(5−メチル−8−キノリラート)アルミニウム、ビス(8−キノリラート)亜鉛(Znq2)など)である。
【0040】
また、第2層212において、π共役系高分子化合物を用いる電荷発生層212bや正孔伝導層,電子伝導層には、複数のπ共役高分子化合物間でのキャリア授受やキャリアトラップを行う目的で、フラーレンやカーボンナノチューブのような立体的なπ電子雲を有する化合物を添加することが好ましい。
【0041】
これらの化合物は、例えばフラーレンC−60,フラーレンC−70,フラーレンC−76,フラーレンC−78,フラーレンC−84,フラーレンC−240,フラーレンC−540,ミックスドフラーレン、フラーレンナノチューブ、多層ナノチューブ(Multi Walled Nanotube)、単層ナノチューブ(Single Walled Nanotube)である。さらに、フラーレンやカーボンナノチューブは溶剤への相溶性を付与する目的で置換基を導入してもよい。
【0042】
第2層212の放射線照射面側とは逆の面側には、第2層212で得られた電気エネルギーの蓄積および蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を行う第3層213が形成されている。第3層213は、第2層212で生成された電気エネルギーを画素毎に蓄えるコンデンサ221と、蓄えられた電気エネルギーを信号として出力するためのスイッチング素子であるトランジスタ222を用いて構成されている。なお第3層は、スイッチング素子を用いるものに限られるものではなく、例えば蓄えられた電気エネルギーのエネルギーレベルに応じた信号を生成して出力する構成とすることもできる。
【0043】
トランジスタ222は、例えばTFT(薄膜トランジスタ)を用いるものとする。このTFTは、液晶ディスプレイ等に使用されている無機半導体系のものでも、有機半導体を用いたものでも良い。また、分割されたシリコン積層構造素子を用いるものとしても良い。この分割されたシリコン積層構造素子は、プラスチックフィルム上に形成されたTFTである。プラスチックフィルム上に形成されたTFTとしては、アモルファスシリコン系のものが知られているが、その他、米国Alien Technology社が開発しているFSA(Fluidic Self Assembly)技術、即ち、単結晶シリコンで作製した微小CMOS(Nanoblocks)をエンボス加工したプラスチックフィルム上に配列させることで、フレキシブルなプラスチックフィルム上にTFTを形成したものでも良い。さらに、Science283,822(1999)やAppl.Phys.Lett,771488(1998)、Nature,403,521(2000)等の文献に記載されているような有機半導体を用いたTFTであってもよい。
【0044】
このように、本発明に用いられるスイッチング素子としては、上記FSA技術で作製したTFT及び有機半導体を用いたTFTが好ましく、特に好ましいものは有機半導体を用いたTFTである。この有機半導体を用いてTFTを構成すれば、シリコンを用いてTFTを構成する場合のように真空蒸着装置等の設備が不要となり、印刷技術やインクジェット技術を活用してTFTを形成できるので、製造コストが安価となる。さらに、加工温度を低くできることから熱に弱いプラスチック基板状にも形成できる。
【0045】
また、有機半導体を用いたTFTの内、電界効果型トランジスタ(FET)が特に好ましく、具体的には図10A〜図10Cに示す構造の有機TFTが好ましい。図10Aに示す有機TFTは、基板上にゲート電極,ゲート絶縁層,ソース・ドレイン電極,有機半導体層を順に形成したものである。図10Bに示す有機TFTは、基板上にゲート電極,ゲート絶縁層,有機半導体層,ソース・ドレイン電極を順に形成したものであり、図10Cに示す有機TFTは、有機半導体単結晶上にソース・ドレイン電極,ゲート絶縁層,ゲート電極を順に形成したものである。
【0046】
有機半導体層を形成する化合物は、単結晶材科でもアモルファス材料でもよく、低分子でも高分子でもよいが、特に好ましいものとしては、ペンタセンやトリフェニレン、アントラセン等に代表される縮環系芳香族炭化水素化合物の単結晶や、前記π共役系高分子が挙げられる。
【0047】
ソース電極、ドレイン電極及びゲート電極は、金属でも導電性無機化合物でも導電性有機化合物でも何れでもよいが、作製の容易さの観点から導電性有機化合物であることが好ましく、その代表例としては、前記π共役系高分子化合物にルイス酸(塩化鉄、塩化アルミニウム、臭化アンチモン等)やハロゲン(ヨウ素や臭素など)、スルホン酸塩(ポリスチレンスルホン酸のナトリウム塩(PSS)、p−トルエンスルホン酸カリウム等)などをドープしたものが挙げられ、具体的にはPEDOTにPSSを添加した導電性高分子が代表例として挙げられる。有機TFTの具体例としては、図11で示したものが挙げられる。
【0048】
スイッチング素子であるトランジスタ222には、図3及び図4に示すように、第2層212で生成された電気エネルギーを蓄積するとともに、コンデンサ221の一方の電極となる収集電極220が接続されている。このコンデンサ221には第2層212で生成された電気エネルギーが蓄積されるとともに、この蓄積された電気エネルギーはトランジスタ222を駆動することで読み出される。すなわちスイッチング素子を駆動することで放射線画像を画素毎の信号を生成することができる。なお、図4において、トランジスタ222は、ゲート電極222a、ソース電極222b、ドレイン電極222c、有機半導体層222d、絶縁層222eで構成されている。またコンデンサ221は、収集電極220と電極221aの間に絶縁層222eを介在させることで構成される。さらに、トランジスタ222を保護するための絶縁層222fが設けられている
第4層214は、撮像パネル21の基板である。この第4層214として好ましく用いられる基板は、プラスチックフィルムであり、プラスチックフィルムとしては、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンスルフィド、ポリアリレート、ポリイミド、ボリカーボネート(PC)、セルローストリアセテート(TAC)、セルロースアセテートプロピオネート(CAP)等からなるフィルム等が挙げられる。このように、プラスチックフィルムを用いることで、ガラス基板を用いる場合に比べて軽量化を図ることができるとともに、衝撃に対する耐性を向上できる。
【0049】
更にこれらのプラスチックフィルムには、トリオクチルホスフェートやジブチルフタレート等の可塑剤を添加してもよく、ベンゾトリアゾール系やベンゾフェノン系等の公知の紫外線吸収剤を添加してもよい。また、テトラエトキシシラン等の無機高分子の原料を添加し、化学触媒や熱、光等のエネルギーを付与することにより高分子量化する、いわゆる有機−無機ポリマーハイブリッド法を適用して作製した樹脂を原料として用いることもできる。
【0050】
このようにして、撮像パネル21を構成する。また、第2層212と第3層213を上述したように画素毎に積層構造として形成すると、第1層211と第4層214との間には各画素を分離する空隙215を生じることとなる。また、この空隙215では、第2層212や第3層213を構成する層の端面が露出した状態となる。このため、第1層211と第4層214との間に生じた空隙215に不活性ガスを充填することにより、空隙215の酸素ガスのモル分圧を10%以下として、この空隙215を封止する。このように酸素ガスのモル分圧を低くすることで、第2層212や第3層213を構成する層の端面が空気中の水分や酸素等と接して特性劣化や電極の腐食等を招いてしてしまうことを防止できる。また、酸素ガスのモル分圧1%以下とすれば、さらに酸素の影響による特性劣化等を効果的に防止できる。ここで、不活性ガスとしては、窒素ガスあるいはヘリウムなどを用いることができる。
【0051】
また、不活性ガスに変えて、特性劣化を招くことのない液体である非水溶液、例えば着色したオイルを空隙215に充填するものとしても良い。このオイルは、シリコンオイルや有機化合物オイルそしてそれらの混合物であってもよい。着色のために用いる色素は染料や顔料でもよい。また、カーボンブラックを分散することも好ましい態様である。着色する色は第1層211で発光された光を吸収する色、例えば第1層211で緑色の発光を行う場合には赤色とする。このように発光された光を吸収できるオイルを空隙215に充填すれば、特性劣化等を防止できるだけでなく、第1層211からの発光光が空隙215内で散乱して、空隙215と隣接する画素の信号レベルに影響を与えてしまうことを防止できる。すなわち、空隙215内での散乱による画像のボケを防止できる。
【0052】
さらに非水溶液は、放射線画像検出器の使用可能な温度範囲で固化する非水溶液、すなわち融点が放射線画像検出器の使用可能な温度範囲よりも高温である物質を融解させた液体、例えば液体状のパラフィン等を用いることもできる。
【0053】
また、障壁216を例えば格子状に設けて、図2に示すように障壁216の内部に第2層212や第3層213を形成することで格子毎に得られた信号をそれぞれ1つの画素の信号とするものとしてもよい。このように、格子内すなわち障壁216で囲まれた領域内に第2層212や第3層213を形成することで、第2層212や第3層213を構成する層の端部が空気中の水分や酸素等と接して特性劣化等を招いてしてしまうことを防止できる。なお、障壁216の材質は、珪酸などの無機物でも良くまた樹脂などであっても良い。
【0054】
さらに、障壁216の内面には、撮像パネル21の厚さ方向で液体に対して親和性の異なる層を形成すれば、障壁216で囲まれた領域内に第2層212を形成する際の層面の平坦化を図ることができる。例えば、図13に示すように障壁216で囲まれた領域内に油性の液体Lqを注入して層を形成する場合、障壁216の壁面を全て疎水性とすると、図13Aに示すように表面張力によって液体表面が平坦とならない。しかし、障壁216の下側部分を疎水性、上側部分を親水性とすると、疎水性の部分では液体との親和性が良く親水性の部分では液体との親和性が悪いことから、注入した液体が障壁216の下側部分に引き込まれるとともに親水性の部分で液体が弾かれて図13Bに示すように液体表面を平面化できる。
【0055】
ところで、上述の撮像パネル21では、第2層212と第3層213を画素毎に分離して構成するものとしたが、図14に示すように、第1層211も画素毎に分離した構成とすることもできる。この場合にも、空隙には窒素ガス等の不活性ガスや着色オイル等を充填したり、隔壁を設けるものとする。なお、第1層211の上面(第2層側とは逆側の面)に保護膜217を形成することで、第1層211を画素毎に分離した構成としても、不活性ガスや着色オイル等を空隙に充填した状態で封止できる。この保護膜217は樹脂であることは好ましい態様であり、また薄膜のアルミニウムがコートされた樹脂膜であることは、さらに好ましい態様である。
【0056】
第3層213の各画素配列は、格子状に限られるものではなく蜂の巣状に密に分布することは好ましい態様である。例えば、図15に示すように各画素を円形状とするとともに、画素列毎に各画素の中心位置を画素間隔Dの(1/2)だけシフトさせて、互いに隣接する3つの画素の中心が正三角形の頂点となるように画素を形成する。このように画素を形成すれば、画素の密度を高めることが可能となり、より高画質の放射線画像を得ることができる。
【0057】
さらに、撮像パネル21の全体を封止すれば、第1層211の放射線入射面側や撮像パネル21の端面が露出しても使用される環境の湿気等に影響されることなく、耐久性を向上できる。この撮像パネル21の全体を封止する方法は、例えば特開平11−223890、特開平11−249243、特開平11−344598、特開2000−171597に開示されている方法を用いることができる。
【0058】
このように構成した撮像パネル21を用いる際に、第4層214の第3層側面とは反対面側に、電源部34例えばマンガン電池、ニッケル・カドミウム電池、水銀電池、鉛電池などの一次電池、充電可能な二次電池を設けるものとしても良い。この電池の形態としては、放射線画像検出器を薄型化できるように平板状の形態が好ましい。
【0059】
撮像パネル21では、信号線224−1〜224−nに、例えばドレイン電極が接続された初期化用のトランジスタ232−1〜232−nが設けられている。このトランジスタ232−1〜232−nのソース電極は接地されている。また、ゲート電極はリセット線231と接続される。
【0060】
撮像パネル21の走査線223−1〜223−mとリセット線231は、図3に示すように走査駆動回路25と接続されている。走査駆動回路25から走査線223−1〜223−mのうちの1つ走査線223−p(pは1〜mのいずれかの値)に読出信号RSが供給されると、この走査線223−pに接続されたトランジスタ222−(p,1)〜222−(p,n)がオン状態とされて、コンデンサ221−(p,1)〜221−(p,n)に蓄積された電気エネルギーが信号線224−1〜224−nにそれぞれ読み出される。信号線224−1〜224−nは、信号選択回路27の信号変換器271−1〜271−nに接続されており、信号変換器271−1〜271−nでは信号線224−1〜224−n上に読み出された電気エネルギー量に比例する電圧信号SV−1〜SV−nを生成する。この信号変換器271−1〜271−nから出力された電圧信号SV−1〜SV−nはレジスタ272に供給される。
【0061】
レジスタ272では、供給された電圧信号が順次選択されて、A/D変換器273で(例えば、12ビットないし14ビットの)1つの走査線に対するディジタルの画像信号とされ、制御回路30は、走査線223−1〜223−m各々に、走査駆動回路25を介して読出信号RSを供給して画像走査を行い、走査線毎のディジタル画像信号を取り込んで、放射線画像の画像信号の生成を行う。この画像信号は制御回路30に供給される。なお、走査駆動回路25からリセット信号RTをリセット線231に供給してトランジスタ232−1〜232−nをオン状態とするとともに、走査線223−1〜223−mに読出信号RSを供給してトランジスタ222−(1,1)〜222−(m,n)をオン状態とすると、コンデンサ221−(1,1)〜221−(m,n)に蓄えられた電気エネルギーがトランジスタ232−1〜232−nを介して放出して、撮像パネル21の初期化を行うことができる。
【0062】
制御回路30にはメモリ部31や操作部32が接続されており、操作部32からの操作信号PSに基づいて放射線画像検出器20の動作が制御される。操作部32は複数のスイッチが設けられており、操作部32からのスイッチ操作に応じた操作信号PSに基づき、撮像パネル21の初期化や放射線画像の画像信号の生成が行われる。また放射線画像の画像信号の生成は、放射線発生器10から放射線照射終了信号がコネクタ35を介して供給されたときに行うものとすることもできる。さらに、生成した画像信号をメモリ部31に記憶させる処理等も行う。
【0063】
画像信号が書き込まれるメモリ部31は、放射線画像検出器20に対して着脱可能な構成とすれば、放射線画像の撮影後に放射線画像検出器20を持ち運ばなくとも、容易に放射線画像を得ることができる。すなわち、放射線画像の撮影後にメモリ部31を放射線画像検出器20から取り外して画像処理部51に装着すれば、簡単に放射線画像の画像信号を画像処理部51に供給することができるので、放射線画像検出器20を持ち運ばなくとも画像表示部52で放射線画像を表示させたり、画像出力部54から放射線画像を出力させることができる。
【0064】
また、上述の撮像パネル21では、第1層211側から放射線を照射するものとしたが、図16に示すように、第4層214側から放射線を照射することもできる。この場合には、放射線の透過を良くするため第4層214の厚さを薄くするとともに、機械的強度を確保するため第1層211側に支持体219を新たに設けることが好ましい態様である。
【0065】
このように、上述の実施の形態では、第3層212で電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた空隙215に、不活性ガスを充満させて酸素ガスのモル分圧を10%以下としたり、着色オイルを充填したり、端部が露出しないように障壁216を設けることで、各層の特性が空気中の水分や酸素等によって劣化が防止されるので放射線画像検出器の耐久性を良好なものにできる。また、有機化合物を用いて放射線画像検出器が形成されているので安価である。さらに、第3層212では、電気エネルギーの蓄積及び信号の出力が画素単位で行われることから、高画質の放射線画像を速やかに得ることができる。
【0066】
【発明の効果】
この発明においては、入射した放射線の強度に応じた発光を行う第1層と、第1層から出力された光を電気エネルギーに変換する有機化合物で形成した第2層と、第2層で得られた電気エネルギーの蓄積及び該蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を画素単位で行う第3層と、第1層から第3層を保持する第4層を備える放射線画像検出器において、第3層で電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している空隙に、不活性ガスを充満させて酸素ガスのモル分圧を10%以下としたり、着色オイルを充填したり、端部が露出しないように障壁が設けられる。このため、各層の特性が空気中の水分や酸素等によって劣化が生じてしまうことを防止することが可能となり、耐久性が良好であるとともに高画質で安価な放射線画像検出器を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】放射線画像検出器を用いたシステムの一例を示す図である。
【図2】放射線画像検出器の構造の一例を示す図である。
【図3】放射線画像検出器の回路構成を示す図である。
【図4】撮像パネルの一部断面図である。
【図5】導電性高分子化合物の基本骨格を示す図である。
【図6】π共役系高分子化合物の具体例(その1)を示す図である。
【図7】π共役系高分子化合物の具体例(その2)を示す図である。
【図8】π共役系高分子化合物の具体例(その3)を示す図である。
【図9】π共役系以外の導電性高分子化合物の具体例を示す図である。
【図10】有機TFTの構造を示す図である。
【図11】有機TFTの具体例を示す図である。
【図12】撮像パネルの他の構造を示す図である。
【図13】障壁の壁面処理を説明するための図である。
【図14】撮像パネルの他の構造を示す図である。
【図15】画素の他の配列形態を示す図である。
【図16】撮像パネルの他の構造を示す図である。
【符号の説明】
10 放射線発生器
20 放射線画像検出器
21 撮像パネル
25 走査駆動回路
27 信号選択回路
30 制御回路
31 メモリ部
32 操作部
33 表示部
34 電源部
35 コネクタ
40 筐体
51 画像処理部
52 画像表示部
53 情報入力部
54 画像出力部
55 画像保存部
211 第1層
212 第2層
212a 透明電極膜
212b 電荷発生層
212c 導電層
213 第3層
214 第4層
215 空隙
216 障壁
217 保護膜
219 支持体
220 収集電極
221 コンデンサ
222,232 トランジスタ
223 走査線
224 信号線
231 リセット線
271 信号変換器
272 レジスタ
273 A/D変換器[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to the industrial field of radiation imaging in medicine. In particular, the present invention relates to a high-quality and durable radiation image detector for obtaining a radiation image used for diagnostic purposes.
[0002]
[Prior art]
With the advancement of digital technology, the transition from analog technology to digital technology is also rapidly occurring in the field of radiation image detectors. In this radiation image detector, for example, computed radiography (CR) is generally used as a digital radiation image detector.
[0003]
In this computed radiography, radiation image information is temporarily recorded on a medium called an imaging plate coated with a phosphor, and then the information is read by irradiating a laser beam to the imaging plate and the image signal of the radiation image is read. Gain. In such an imaging plate, a moisture-resistant protective film is formed so that moisture does not enter and adversely affect the phosphor layer (for example, see Patent Document 1).
[0004]
[Patent Document 1]
JP-A-2002-148343
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, the computed radiography does not have the image quality of a so-called screen film system (SF system) combining a fluorescent intensifying screen and a radiographic film. In addition, since it is necessary to read recorded information by irradiating a laser beam, it is not possible to quickly see a radiation image.
[0006]
Further, a flat panel detector (FPD) that can obtain a high-quality radiation image without reading information recorded by irradiating a laser beam like a computerized radiography has been put to practical use. In this flat panel detector, a technique capable of forming a TFT (Thin Film Transistor) or the like at a low temperature has been developed in recent years by using an organic substance instead of the amorphous silicon which is an inorganic substance. A strong flat panel detector can be realized. In addition, since a printing technique and an ink jet technique are applied to fine processing of the TFT, the TFT can be realized at a low cost. However, this organic substance has a drawback that its durability is poor because it is easily deteriorated by moisture or oxygen in the air.
[0007]
In view of the above, the present invention provides a radiation image detector which is excellent in durability, high in quality and inexpensive.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
A radiation image detector according to the present invention includes a first layer that emits light in accordance with the intensity of incident radiation, and a second layer that is formed of an organic compound that converts light output from the first layer into electric energy. A third layer for storing the electric energy obtained in the second layer and outputting a signal based on the stored electric energy in pixel units, and a fourth layer for holding the first to third layers. In the radiation image detector provided, at least one layer of the first layer to the third layer is exposed in a gap generated by performing the accumulation of the electric energy and the output of the signal in the third layer on a pixel basis. The sealing is performed by filling an inert gas and setting the molar partial pressure of the oxygen gas to 10% or less.
[0009]
Further, in the radiation image detector according to the present invention, in the radiation image detector, the first layer to the third layer generated by performing the storage of the electric energy and the output of the signal in the third layer in pixel units. A barrier is formed on the end face side where at least one layer is exposed.
[0010]
Further, in the radiation image detector according to the present invention, in the radiation image detector, the first to third layers generated by accumulating the electric energy and outputting a signal in the third layer in a pixel unit. Is filled with a non-aqueous solution or a non-aqueous solution that solidifies in a usable temperature range of the radiation image detector.
[0011]
In the present invention, the first layer that emits light according to the intensity of the incident radiation is, for example, CsI: Tl, Gd 2 O 2 S: Tb, (Gd, M1, Eu) 2 O 3 , (Gd, M2, Tb) 2 O 3 (Where “M1” and “M2” are at least one of Y, Nb, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, La, Lu, Sm, Ce, and Pr) Rare earth element). In addition, a second layer formed of an organic compound that converts light output from the first layer into electric energy is provided. Further, a third layer for storing the electric energy obtained in the second layer and outputting a signal based on the stored electric energy in pixel units is formed by using an organic semiconductor or a divided silicon multilayer structure element. Is done. The first to third layers are held by the fourth layer. The second layer is formed in pixel units of the third layer. Here, when the pixel is formed in a circular shape, the pixel is alternately arranged with a position shifted by a half pixel interval in a unit of a pixel column.
[0012]
The radiation incident surface is on the first layer side or the fourth layer side, and when the radiation incident surface is on the fourth layer side, the thickness of the fourth layer is such that the radiation incident surface is the first layer. The support layer is provided on the surface of the first layer on the side opposite to the second layer side.
[0013]
The radiation image detector configured as described above is housed in a portable housing, and is provided with a power supply unit that supplies power required to drive the radiation image detector. Further, means for storing an image signal is provided, for example, detachably.
[0014]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Next, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows an example of a system using a radiation image detector. In FIG. 1, radiation emitted from a
[0015]
The
[0016]
Further, the
[0017]
Further, an
[0018]
The
[0019]
The
[0020]
The
[0021]
The
[0022]
The image signal of the radiation image is transmitted not only to the
[0023]
Next, an example of the structure of the radiation image detector 20 is shown in FIG. The radiation image detector 20 includes an imaging panel 21, a
[0024]
In addition, it is preferable that the outer shape of the housing 40 be made of a material that can withstand an external impact and that is as light as possible so as to be easily carried, that is, aluminum or an alloy thereof. The radiation incident surface side of the housing 40 is formed using a nonmetal, such as carbon fiber, which easily transmits radiation. In addition, on the back side opposite to the radiation incident surface, it is generated for the purpose of preventing radiation from transmitting through the radiation image detector 20 or by absorbing the radiation by the material constituting the radiation image detector 20. It is a preferred embodiment to use a material that effectively absorbs radiation, such as a lead plate, in order to prevent the influence from secondary radiation.
[0025]
FIG. 3 shows the configuration of the image pickup panel 21. The image pickup panel 21 has two-dimensionally arranged collecting
[0026]
The scanning lines 223-1 to 223-m and the signal lines 224-1 to 224-n are arranged between the pixels so as to be orthogonal to each other. A transistor 222- (1,1) formed of a silicon laminated structure or an organic semiconductor is connected to the capacitor 221- (1,1). The transistor 222- (1,1) is, for example, a field-effect transistor. The drain electrode or the source electrode is connected to the collection electrode 220- (1,1), and the gate electrode is connected to the scanning line 223-1. You. When the drain electrode is connected to the collection electrode 220- (1,1), the source electrode is connected to the signal line 224-1. When the source electrode is connected to the collection electrode 220- (1,1), the drain electrode is connected to the signal line. Connected to line 224-1. In addition, the scanning line 223 and the signal line 224 are connected to the collecting
[0027]
FIG. 4 is a partial cross-sectional view of the imaging panel 21. A
[0028]
The
[0029]
The phosphor used in the first layer 211 is CaWO 4 , CaWO 4 : Tungstate phosphor such as Pb, MgWO, Y 2 O 2 S: Tb, Gd 2 O 2 S: Tb, La 2 O 2 S: Tb, (Y, Gd) 2 O 2 S: Tb, (Y, Gd) 2 O 2 S: Terbium-activated rare earth oxysulfide phosphor such as Tb, Tm, YPO 4 : Tb, GdPO 4 : Tb, LaPO 4 : Terbium-activated rare earth phosphate-based phosphor such as Tb, LaOBr: Tb, LaOBr: Tb, Tm, LaOCl: Tb, LaOCl: Tb, Tm, GdOBr: Tb, GdOBr: Tb, Tm, GdOCl: Tb, GdOCl: Tb , Tm and other terbium-activated rare earth oxyhalide-based phosphors, LaOBr: Tm, LaOCl: Tm and other thulium-activated rare earth oxyhalide-based phosphors, LaOBr: Gd, LuOCl: Gd and other gadolinium-activated rare earth oxyhalide-based phosphors , Cerium-activated rare earth oxyhalide-based phosphors such as GdOBr: Ce, GdOCl: Ce, (Gd, Y) OBr: Ce, (Gd, Y) OCl: Ce, BaSO 4 : Pb, BaSO 4 : Eu 2+ , (Ba, Sr) SO 4 : Eu 2+ Barium sulfate based phosphor such as Ba 3 (PO 4 ) 2 : Eu 2+ , (Ba 2 PO 4 ) 2 : Eu 2+ , Sr 3 (PO 4 ) 2 : Eu 2+ , (Sr 2 PO 4 ) 2 : Eu 2+ Such as divalent europium-activated alkaline earth metal phosphate phosphor, BaFCl: Eu 2+ , BaFBr: Eu 2+ , BaFCl: Eu 2+ , Tb, BaFCl: Eu 2+ , Tb, BaF 2 ・ BaCl 2 ・ KCl: Eu 2+ , (Ba, Mg) F 2 ・ BaCl 2 ・ KCl: Eu 2+ And divalent europium-activated alkaline earth metal fluorohalide-based phosphors, iodide-based phosphors such as CsI: Na, CsI: Tl, NaI, KI: Tl, ZnS: Ag, (Zn, Cd) S : Sulfur-based phosphor such as Ag, (Zn, Cd) S: Cu, (Zn, Cd) S: Cu, Ag, HfP 2 O 7 , HfP 2 O 7 : Cu, Hf 3 (PO 4 ) 4 Phosphor such as hafnium phosphate, YTaO 4 , YTaO 4 : Tm, YTaO 4 : Nb, (Y, Sr) TaO 4 : Nb, LuTaO 4 , LuTaO 4 : Tm, LuTaO 4 : Nb, (Lu, Sr) TaO 4 : Nb, GdTaO 4 : Tm, Mg 4 Ta 2 O 9 : Nb, Gd 2 O 3 ・ Ta 2 O 5 ・ B 2 O 3 : Tantalum salt phosphor such as Tb, Gd 2 O 2 S: Eu 3+ , (La, Gd, Lu) 2 Si 2 O 7 : Eu, ZnSiO 4 : Mn, Sr 2 P 2 O 7 : Eu, etc. can be used.
[0030]
Further, (Gd, M1, Eu) 2 O 3 , (Gd, M2, Tb) 2 O 3 Can be used. Here, “M1” and “M2” are at least yttrium Y, niobium Nb, terbium Tb, dysprosium Dy, holmium Ho, erbium Er, thulium Tm, ytterbium Yb, lanthanum La, lutetium Lu, samarium Sm, cerium Ce, praseodymium Pr. One or more rare earth elements. In this case, the content of Gd is preferably 70 to 98%, the crystallite size of the phosphor particles is preferably 10 to 100 nm, and the particle size of the phosphor particles is preferably 0.1 to 5 μm.
[0031]
In the above-described phosphor, cesium iodide CsI: Tl, gadolinium oxysulfide Gd, which has particularly high radiation absorption and luminous efficiency (large luminous amount) 2 O 2 S: Tb or (Gd, Y, Eu) 2 O 3 , (Gd, Y, Tb) 2 O 3 It is preferable to use these to obtain a high quality image with low noise.
[0032]
Further, for cesium iodide CsI: Tl, a scintillator layer having a columnar crystal structure can be formed. In this case, in the columnar crystal, a light guiding effect, that is, an effect of reducing emission of light emitted in the crystal from the side surface of the columnar crystal can be obtained, so that a decrease in sharpness can be suppressed. By increasing the thickness of the phosphor layer, the radiation absorption is increased and the graininess can be improved.
[0033]
Note that the phosphor used in the present invention is not limited to these, and any phosphor that emits electromagnetic waves in a region where the light receiving element has sensitivity, such as a visible, ultraviolet, or infrared region, upon irradiation with radiation. good. The diameter of the phosphor particles used in the present invention is 7 μm or less, preferably 4 μm or less. This is because the smaller the diameter of the phosphor particles, the more the light can be scattered in the scintillator layer, and a higher sharpness can be obtained. The phosphor particles are dispersed in the following binder. For example, polyurethane, vinyl chloride copolymer, vinyl chloride-acrylonitrile copolymer, butadiene-acrylonitrile copolymer, polyamide resin, polyvinyl butyral, cellulose derivative, styrene-butadiene copolymer, various synthetic rubber resins, phenolic resin, Epoxy resins, urea resins, melanin resins, phenoxy resins, silicone resins, acrylic resins, urea-formamide resins, and the like. Among them, it is preferable to use polyurethane, polyester, vinyl chloride copolymer, polyvinyl butyral, and nitrocellulose. By using such a preferable binder, the dispersibility of the phosphor can be increased, and the filling rate of the phosphor can be increased, which contributes to the improvement of the granularity.
[0034]
The weight content of the phosphor dispersed in the binder is 90 to 99%. The thickness of the first layer used in the present invention is determined by the balance between the granularity and sharpness of the radiographic image. The thicker the first layer, the better the granularity but the worse the sharpness. When the first layer is thin, the sharpness is improved but the granularity is deteriorated. In order to obtain good granularity and sharpness, the thickness is preferably 50 μm to 300 μm.
[0035]
Next, a second layer 212 that converts electromagnetic waves (light) output from the first layer into electric energy is formed on the surface of the
[0036]
The
In the
[0037]
The
[0038]
Next, the
[0039]
Further, in the case of forming the hole conductive layer and the electron conductive layer, the hole conductive layer and the electron conductive layer are formed by adding an additive to the
[0040]
In addition, in the second layer 212, the
[0041]
These compounds include, for example, fullerene C-60, fullerene C-70, fullerene C-76, fullerene C-78, fullerene C-84, fullerene C-240, fullerene C-540, mixed fullerene, fullerene nanotube, multi-walled nanotube (Multi Walled Nanotube) and single-walled nanotube (Single Walled Nanotube). Further, a fullerene or a carbon nanotube may have a substituent introduced for the purpose of imparting compatibility with a solvent.
[0042]
On the surface of the second layer 212 opposite to the radiation-irradiated surface, a third layer 213 for accumulating the electric energy obtained in the second layer 212 and outputting a signal based on the accumulated electric energy is formed. ing. The third layer 213 includes a
[0043]
The
[0044]
As described above, as the switching element used in the present invention, a TFT manufactured by the FSA technique and a TFT using an organic semiconductor are preferable, and a TFT using an organic semiconductor is particularly preferable. When a TFT is formed using this organic semiconductor, equipment such as a vacuum deposition apparatus is not required unlike the case where a TFT is formed using silicon, and the TFT can be formed using printing technology or inkjet technology. Cost is reduced. Further, since the processing temperature can be lowered, it can be formed into a plastic substrate which is weak against heat.
[0045]
Further, among TFTs using an organic semiconductor, a field effect transistor (FET) is particularly preferable, and specifically, an organic TFT having a structure shown in FIGS. 10A to 10C is preferable. The organic TFT shown in FIG. 10A is obtained by sequentially forming a gate electrode, a gate insulating layer, source / drain electrodes, and an organic semiconductor layer on a substrate. The organic TFT shown in FIG. 10B has a gate electrode, a gate insulating layer, an organic semiconductor layer, and a source / drain electrode formed in this order on a substrate. The organic TFT shown in FIG. 10C has a source / drain electrode on an organic semiconductor single crystal. A drain electrode, a gate insulating layer, and a gate electrode are sequentially formed.
[0046]
The compound forming the organic semiconductor layer may be a single crystal material or an amorphous material, and may be a low-molecular or high-molecular compound. Particularly preferred is a condensed aromatic carbon represented by pentacene, triphenylene, anthracene, and the like. Examples thereof include a single crystal of a hydrogen compound and the π-conjugated polymer.
[0047]
The source electrode, the drain electrode, and the gate electrode may be any of a metal or a conductive inorganic compound or a conductive organic compound, but are preferably a conductive organic compound from the viewpoint of ease of production, and as typical examples thereof, Examples of the π-conjugated polymer compound include Lewis acids (such as iron chloride, aluminum chloride, and antimony bromide), halogens (such as iodine and bromine), sulfonates (sodium salt of polystyrenesulfonic acid (PSS), and p-toluenesulfonic acid. For example, a conductive polymer obtained by adding PSS to PEDOT is given as a typical example. Specific examples of the organic TFT include those shown in FIG.
[0048]
As shown in FIG. 3 and FIG. 4, a collecting
The
[0049]
Further, a plasticizer such as trioctyl phosphate or dibutyl phthalate may be added to these plastic films, or a known ultraviolet absorber such as benzotriazole or benzophenone may be added. In addition, a resin prepared by applying a so-called organic-inorganic polymer hybrid method, in which a raw material of an inorganic polymer such as tetraethoxysilane is added, and a high molecular weight is obtained by applying energy such as a chemical catalyst, heat, and light. It can also be used as a raw material.
[0050]
Thus, the imaging panel 21 is configured. Further, when the second layer 212 and the third layer 213 are formed in a stacked structure for each pixel as described above, a
[0051]
Instead of the inert gas, the void 215 may be filled with a non-aqueous solution that is a liquid that does not cause deterioration in characteristics, for example, a colored oil. The oil may be a silicone oil, an organic compound oil, and mixtures thereof. The pigment used for coloring may be a dye or a pigment. It is also a preferred embodiment to disperse carbon black. The color to be colored is a color that absorbs light emitted from the
[0052]
Further, the non-aqueous solution is a non-aqueous solution that solidifies in a usable temperature range of the radiographic image detector, i.e., a liquid in which a melting point is higher than the usable temperature range of the radiographic image detector, and is a molten liquid, such as a liquid. Paraffin or the like can also be used.
[0053]
Further, by providing the
[0054]
Furthermore, if a layer having a different affinity for the liquid in the thickness direction of the imaging panel 21 is formed on the inner surface of the
[0055]
By the way, in the above-described imaging panel 21, the second layer 212 and the third layer 213 are configured to be separated for each pixel. However, as shown in FIG. 14, the
[0056]
It is preferable that the pixel arrangement of the third layer 213 is not limited to a lattice shape but is densely distributed in a honeycomb shape. For example, as shown in FIG. 15, each pixel is formed in a circular shape, and the center position of each pixel is shifted by (だ け) of the pixel interval D for each pixel column so that the centers of three adjacent pixels are shifted from each other. Pixels are formed so as to be vertices of an equilateral triangle. By forming the pixels in this manner, the density of the pixels can be increased, and a higher quality radiation image can be obtained.
[0057]
Furthermore, if the entire imaging panel 21 is sealed, even if the radiation incident surface side of the
[0058]
When the imaging panel 21 configured as described above is used, a
[0059]
In the imaging panel 21, for example, transistors 232-1 to 232-n for initialization to which drain electrodes are connected are provided on the signal lines 224-1 to 224-n. The source electrodes of the transistors 232-1 to 232-n are grounded. The gate electrode is connected to the
[0060]
The scanning lines 223-1 to 223-m and the
[0061]
In the
[0062]
The
[0063]
If the
[0064]
Further, in the above-described imaging panel 21, radiation is applied from the
[0065]
As described above, in the above-described embodiment, the
[0066]
【The invention's effect】
In the present invention, a first layer that emits light in accordance with the intensity of incident radiation, a second layer formed of an organic compound that converts light output from the first layer into electric energy, and a second layer are provided. In a radiation image detector including a third layer for storing the stored electric energy and outputting a signal based on the stored electric energy in pixel units, and a fourth layer for holding the first to third layers, The gap where at least one of the first to third layers is exposed by accumulating electric energy and outputting a signal in pixel units in the three layers is filled with an inert gas to fill the voids with oxygen gas. A barrier is provided so that the molar partial pressure is 10% or less, a colored oil is filled, and an end is not exposed. For this reason, it is possible to prevent the characteristics of each layer from being deteriorated by moisture, oxygen, or the like in the air, and to provide a radiation image detector that is excellent in durability, high in quality, and inexpensive.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing an example of a system using a radiation image detector.
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the structure of a radiation image detector.
FIG. 3 is a diagram showing a circuit configuration of a radiation image detector.
FIG. 4 is a partial cross-sectional view of the imaging panel.
FIG. 5 is a diagram showing a basic skeleton of a conductive polymer compound.
FIG. 6 is a view showing a specific example (No. 1) of a π-conjugated polymer compound.
FIG. 7 is a view showing a specific example (No. 2) of the π-conjugated polymer compound.
FIG. 8 is a view showing a specific example (part 3) of the π-conjugated polymer compound.
FIG. 9 is a diagram showing a specific example of a conductive polymer compound other than a π-conjugated system.
FIG. 10 is a diagram showing a structure of an organic TFT.
FIG. 11 is a diagram showing a specific example of an organic TFT.
FIG. 12 is a diagram showing another structure of the imaging panel.
FIG. 13 is a diagram for explaining wall surface treatment of a barrier.
FIG. 14 is a diagram showing another structure of the imaging panel.
FIG. 15 is a diagram showing another arrangement of pixels.
FIG. 16 is a diagram showing another structure of the imaging panel.
[Explanation of symbols]
10 Radiation generator
20 Radiation image detector
21 Imaging panel
25 Scanning drive circuit
27 Signal selection circuit
30 control circuit
31 Memory section
32 Operation unit
33 Display
34 Power supply section
35 Connector
40 case
51 Image processing unit
52 Image display unit
53 Information input section
54 Image output unit
55 Image storage
211 First layer
212 Second layer
212a transparent electrode film
212b charge generation layer
212c conductive layer
213 Layer 3
214 4th layer
215 void
216 Barrier
217 Protective film
219 Support
220 collection electrode
221 Capacitor
222,232 transistors
223 scanning lines
224 signal line
231 Reset line
271 signal converter
272 registers
273 A / D converter
Claims (15)
前記第1層から出力された光を電気エネルギーに変換する有機化合物で形成した第2層と、
前記第2層で得られた電気エネルギーの蓄積及び該蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を画素単位で行う第3層と、
前記第1層から第3層を保持する第4層を備える放射線画像検出器において、
前記第3層で前記電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた前記第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している空隙に、不活性ガスを充満させて酸素ガスのモル分圧を10%以下として封止する
ことを特徴とする放射線画像検出器。A first layer that emits light in accordance with the intensity of the incident radiation;
A second layer formed of an organic compound that converts light output from the first layer into electric energy;
A third layer for storing the electric energy obtained in the second layer and outputting a signal based on the stored electric energy for each pixel;
A radiation image detector including a fourth layer holding the first to third layers,
An inert gas is filled in a gap where at least one of the first to third layers is exposed by accumulating the electric energy and outputting a signal in pixel units in the third layer. A radiation image detector characterized in that sealing is performed by setting the molar partial pressure of oxygen gas to 10% or less.
前記第1層から出力された光を電気エネルギーに変換する有機化合物で形成した第2層と、
前記第2層で得られた電気エネルギーの蓄積及び該蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を画素単位で行う第3層と、
前記第1層から第3層を保持する第4層を備える放射線画像検出器において、
前記第3層で前記電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた前記第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している端面側に、障壁を形成する
ことを特徴とする放射線画像検出器。A first layer that emits light in accordance with the intensity of the incident radiation;
A second layer formed of an organic compound that converts light output from the first layer into electric energy;
A third layer for storing the electric energy obtained in the second layer and outputting a signal based on the stored electric energy for each pixel;
A radiation image detector including a fourth layer holding the first to third layers,
Forming a barrier on an end face side where at least one of the first to third layers is exposed, which is generated by performing the storage of the electric energy and the output of the signal in the third layer on a pixel basis; A radiation image detector characterized by the above-mentioned.
前記第1層から出力された光を電気エネルギーに変換する第2層と、
前記第2層で得られた電気エネルギーの蓄積及び該蓄積された電気エネルギーに基づく信号の出力を画素単位で行う第3層と、
前記第1層から第3層を保持する第4層を備える放射線画像検出器において、
前記第3層で前記電気エネルギーの蓄積及び信号の出力を画素単位で行うことにより生じた前記第1層から第3層の少なくとも1つの層が露出している空隙に、非水溶液若しくは前記放射線画像検出器の使用可能な温度範囲で固化する非水溶液を充填する
ことを特徴とする放射線画像検出器。A first layer that emits light in accordance with the intensity of the incident radiation;
A second layer that converts light output from the first layer into electrical energy;
A third layer for storing the electric energy obtained in the second layer and outputting a signal based on the stored electric energy for each pixel;
A radiation image detector including a fourth layer holding the first to third layers,
The non-aqueous solution or the radiographic image is formed in a gap where at least one of the first to third layers is exposed by accumulating the electric energy and outputting a signal in pixel units in the third layer. A radiation image detector filled with a non-aqueous solution that solidifies in a temperature range where the detector can be used.
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to any one of claims 1 to 3, wherein the second layer is formed in pixel units of the third layer.
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to claim 1, wherein the pixel has a circular shape.
ことを特徴とする請求項5記載の放射線画像検出装置。6. The radiation image detecting apparatus according to claim 5, wherein the pixels are alternately arranged with a position shifted by a half pixel interval for each pixel column.
ことを特徴とする請求項1から請求項6いずれかに記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to any one of claims 1 to 6, wherein the radiation incident surface is on the first layer side or the fourth layer side.
前記第4層の層厚は、前記放射線の入射面を第1層側としたときよりも薄くするとともに、前記第1層の前記第2層側とは逆側の面に支持体層を設けた
ことを特徴とする請求項7に記載の放射線画像検出器。When the radiation incident surface is the fourth layer side,
The thickness of the fourth layer is made thinner than when the radiation incident surface is on the first layer side, and a support layer is provided on a surface of the first layer opposite to the second layer side. The radiation image detector according to claim 7, wherein
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線画像検出器。The first layer, CsI: Tl, Gd 2 O 2 S: Tb, (Gd, M1, Eu) 2 O 3, formed using any of (Gd, M2, Tb) 2 O 3 ( Note, “M1” and “M2” are at least one or more rare earth elements of Y, Nb, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, La, Lu, Sm, Ce, and Pr)
The radiation image detector according to any one of claims 1 to 3, wherein:
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to claim 1, wherein the third layer is formed of an organic semiconductor.
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to any one of claims 1 to 3, wherein the third layer is formed using a divided silicon multilayer structure element.
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to any one of claims 1 to 3, wherein the radiation image detector is housed in a portable housing.
ことを特徴とする請求項12に記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to claim 12, further comprising a power supply unit configured to supply power required to drive the radiation image detector.
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の放射線画像検出器。4. The radiation image detector according to claim 1, further comprising means for storing the image signal.
ことを特徴とする請求項14に記載の放射線画像検出器。The radiation image detector according to claim 14, wherein the storage unit is detachable.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006073856A (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Photoelectric conversion element and radiation image detector |
JP2007103488A (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | Imaging device |
JP2009152600A (en) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Palo Alto Research Center Inc | Layered structure with thin film lamination, and its manufacturing method |
JP2009212106A (en) * | 2008-02-29 | 2009-09-17 | Konica Minolta Holdings Inc | Photoelectric conversion device and fabrication process, and radiological image detector thereof |
JP2009260134A (en) * | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Konica Minolta Holdings Inc | Photoelectric conversion device, manufacturing method therefor, and radiation image detecting device |
JP2009259978A (en) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Konica Minolta Holdings Inc | Photoelectric conversion device and radiation image detecting device |
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006073856A (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | Photoelectric conversion element and radiation image detector |
JP2007103488A (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | Imaging device |
JP4714540B2 (en) * | 2005-09-30 | 2011-06-29 | 富士フイルム株式会社 | Image sensor |
JP2009152600A (en) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Palo Alto Research Center Inc | Layered structure with thin film lamination, and its manufacturing method |
JP2009212106A (en) * | 2008-02-29 | 2009-09-17 | Konica Minolta Holdings Inc | Photoelectric conversion device and fabrication process, and radiological image detector thereof |
JP2009259978A (en) * | 2008-04-15 | 2009-11-05 | Konica Minolta Holdings Inc | Photoelectric conversion device and radiation image detecting device |
JP2009260134A (en) * | 2008-04-18 | 2009-11-05 | Konica Minolta Holdings Inc | Photoelectric conversion device, manufacturing method therefor, and radiation image detecting device |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090623 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091020 |