JP2003110053A - フィルム被覆半導体素子とその製造方法 - Google Patents
フィルム被覆半導体素子とその製造方法Info
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Abstract
バリアー性、耐熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波
特性などの特性を保持したままで、無機材料に対する接
着力を高めて耐湿性に優れた実用的に十分高い信頼性を
有する半導体素子を提供する。 【解決手段】 光学的に異方性の溶融相を形成し得る熱
可塑性ポリマーからなり、フッ素と酸素の混合ガスによ
って処理されたフィルムで、半導体素子を被覆する。
Description
溶融相を形成し得る熱可塑性ポリマー(以下、これを熱
可塑性液晶ポリマーと略称することがある)のフィルム
によって被覆されたICチップ等の半導体素子およびそ
の製造方法に関する。本発明による半導体素子は、熱可
塑性液晶ポリマーに由来する優れたガスバリアー性、耐
熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などの優れ
た特長を備え、しかも耐湿性に優れた実用的に十分高い
信頼性を有する。
高まりを見せており、半導体素子の耐湿性に関する信頼
性を確保するための技術開発も進んでいる。具体的に
は、ICチップ単体(フリップチップまたはベアチップ
と称される)の表面にポリイミド薄膜を形成する方法や
窒化ケイ素などの薄膜(パッシベーション膜と称され
る)を形成する方法、CSP(チップサイズパッケージ
またはスモールサイズパッケージと称される)のインタ
ーポーザ(封止樹脂)としてポリイミドフィルムを用い
る方法等が知られている。
性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などに優れた
特性を有する熱可塑性液晶ポリマーの成型体は、近年各
種技術分野において有用な材料として注目されている。
その具体例としては、各種ガス類の気密封止材料、フレ
キシブルプリント配線板などの電子回路基板材料、コネ
クターやソケットなどの電気・電子部品を挙げることが
できる。なかでも、電子回路基板用途では、高速化、小
型化、軽量化の要求が強いが、熱可塑性液晶ポリマーは
特に高周波領域において誘電率や誘電正接が低くて優れ
た電気特性を有すること、接着剤を用いずに銅箔などの
金属と熱積層できること、および他のポリマーと比較し
て吸水率が非常に低くて吸湿寸法安定性に優れているの
で、これらの特長を活かした種々の製品化が急速に進め
られている。また、熱可塑性液晶ポリマーの電気特性
は、ポリイミドなど既存の有機絶縁材と比較して明らか
に優れており、特にギガヘルツ帯では高周波用基板とし
て実績のあるテフロン(登録商標:ポリ四フッ化エチレ
ン)基材に匹敵する。
またはポリイミドフィルムを用いた半導体素子は、ポリ
イミド自体の吸湿性が無視できない程度に大きいため、
依然として耐湿性に関する信頼性に問題がある。
子骨格は、芳香族炭化水素基および/または脂肪族炭化
水素基が極性基を介して結合したものであるが、1分子
中に存在する極性基の数が少なく、また芳香族炭化水素
基が極性基の活性を空間的に阻害するために、シリコン
ウェハや窒化ケイ素膜に対する接着力(以下、これを剥
離強度と称することがある)を充分に高めることができ
ず、この接着力の低いことが耐湿性向上のネックとな
る。
のフィルムによって被覆された半導体素子であって、熱
可塑性液晶ポリマーに由来する優れたガスバリアー性、
耐熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などの特
性を保持したままで、耐湿性に優れた実用的に十分高い
信頼性を有する半導体素子を提供することを目的とす
る。
液晶ポリマーフィルムとシリコンウェハや窒化ケイ素膜
などの無機材料との接着力を高める技術について鋭意研
究を行った結果、熱可塑性液晶ポリマーからなり、フッ
素と酸素の混合ガスで処理したフィルムを使用すれば良
好な結果が得られることを見出し、本発明を完成するに
至った。
マーからなり、フッ素と酸素の混合ガスによって処理さ
れたフィルムにより被覆されてなるものである。
ポリマー(光学的に異方性の溶融相を形成し得るポリマ
ー)は特に限定されるものではないが、その具体例とし
て、以下に例示する化合物およびその誘導体から導かれ
る公知のサーモトロピック液晶ポリエステルおよびサー
モトロピック液晶ポリエステルアミドを挙げることがで
きる。但し、光学的に異方性の溶融相を形成し得るポリ
マーを得るためには、繰り返し単位の好適な組み合わせ
が必要とされることは言うまでもない。また、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムには、滑剤、酸化防止剤などの添
加剤が適量配合されていてもよい。
合物(代表例は表1参照)
(代表例は表2参照)
例は表3参照)
アミンまたは芳香族アミノカルボン酸(代表例は表4参
照)
液晶ポリマーの代表例として表5に示す構造単位を有す
る共重合体(a)〜(e)を挙げることができる。
に限定されるものではないが、厚さ0.5mm以下、よ
り好ましくは厚さ0.01mm〜0.1mmのフィルム
が好適に使用される。
は、例えば、熱可塑性液晶ポリマーを押出成形して得ら
れる。任意の押出成形法がこの目的のために使用される
が、周知のTダイ法、インフレーション法等が工業的に
有利である。特にインフレーション法は、フィルムのM
D方向だけでなくTD方向にも応力が加えられ、MD方
向とTD方向との間における機械的性質および熱的性質
のバランスのとれたフィルムが得られるので、より好適
である。
マーは溶融押出成型時における配向性が高いために、熱
可塑性液晶ポリマーから製造されたフィルムの機械的性
質および熱的性質の異方性が高くなり易い傾向を有して
いる。すなわち、熱可塑性液晶ポリマーをTダイから溶
融押出成形すれば、機械軸方向(以下、MD方向とい
う)にのみ剪断応力または応力が加えられるため、一軸
配向フィルムが得られる。この一軸配向フィルムは、M
D方向における引張弾性率および機械的強度が高いもの
の、MD方向に直交する方向(以下、TD方向という)
におけるこれらの値が低く、MD方向に切れ目が発生し
易いという欠点があるだけではなく、加熱時の寸法変化
率がMD方向とTD方向で異なるため、フィルムが反り
返るという欠点を有する。この機械的性質および熱的性
質の異方性を改良するためには、熱可塑性液晶ポリマー
の溶融押出成形にインフレーション法を好適に採用でき
る。これを採用すれば、フィルムのMD方向だけでなく
TD方向にも応力が加えられるため、MD方向の切れ目
が発生しにくい二軸配向フィルムが得られる。また、イ
ンフレーション法によれば、MD方向とTD方向との間
における機械的性質および熱的性質のバランスのとれた
フィルムを得ることもできる。
も、分子配向度(SOR)が1.3以下のフィルムは、
MD方向とTD方向との間における機械的性質および熱
的性質のバランスが良好であるので、より実用性が高
い。本発明に用いる熱可塑性液晶ポリマーフィルムは、
その適用分野によって必要とされる分子配向度SORは
当然異なるが、SOR≧1.5の場合は熱可塑性液晶ポ
リマー分子の配向の偏りが著しいためにフィルムが硬く
なり、かつMD方向に裂け易い。加熱時の反りがないな
どの形態安定性が必要とされる適用分野の場合には、S
OR≦1.3であることが望ましく、特に加熱時の反り
をほとんど無くす必要がある場合には、SOR≦1.0
3であることが望ましい。
ntation Ratio )とは、分子で構成されるセグメントに
ついての分子配向の度合いを与える指標をいい、一般的
なMOR(Molecular Orientation Ratio )とは異な
り、物体の厚さを考慮した値である。この分子配向度S
ORは、以下のように算出される。
において、熱可塑性液晶ポリマーフィルムを、マイクロ
波の進行方向にフィルム面が垂直になるように、マイク
ロ波共振導波管中に挿入し、該フィルムを透過したマイ
クロ波の電場強度(マイクロ波透過強度)が測定され
る。そして、この測定値に基づいて、次式により、m値
(屈折率と称する)が算出される。m=(Zo/△z)
×[1−νmax /νo]ただし、Zoは装置定数、△z
は物体の平均厚、νmax はマイクロ波の振動数を変化さ
せたとき、最大のマイクロ波透過強度を与える振動数、
νoは平均厚ゼロのとき(すなわち物体がないとき)の
最大マイクロ波透過強度を与える振動数である。
の回転角が0°のとき、つまり、マイクロ波の振動方向
と、物体の分子が最もよく配向されている方向であっ
て、最小マイクロ波透過強度を与える方向とが合致して
いるときのm値をm0 、回転角が90°のときのm値
をm90として、分子配向度SORはm0 /m90により算
出される。
Cチップなどの半導体素子の表面に被覆する場合、両者
の接着界面における応力集中を避け、クラックの発生を
抑制するために、両者の熱膨張係数を互いにほぼ等しく
することが望ましい。具体的には、熱可塑性液晶ポリマ
ーの熱膨張係数は、−5〜10ppm/℃であることが
好ましく、0〜5ppm/℃であることがより好まし
い。
リマーの融点は、所望の耐熱性および加工性を有するフ
ィルムを得るために、約200〜約400℃の範囲内、
とりわけ約250〜約350℃の範囲内であることが好
ましい。なかでも、半田リフロー工程を通過する場合に
は、約280℃以上の融点を有する熱可塑性液晶ポリマ
ーが好適に用いられる。
リマーからなるフィルムを、フッ素と酸素の混合ガスで
処理してなるフィルムを使用する。混合ガスにおけるフ
ッ素の濃度は0.01〜1.00体積%、酸素の濃度は99.00〜9
9.99体積%の範囲から選ばれるが、フッ素の濃度を精度
良く制御する目的においては、0.10〜1.00体積%、酸素
の濃度は99.00〜99.90体積%の範囲が好ましい。混合ガ
スによる処理は、通常0〜50℃、好ましくは10〜30℃の
範囲の温度、また、通常数秒〜数分、好ましくは10秒〜
1分の範囲の時間で実施される。
マーフィルムの片面または両面を混合ガスと接触させる
ことによって実施される。本発明においては、混合ガス
による処理前に比べ、処理されたフィルム面の単位面積
当たりの重量増加が0.1〜5.0μg/cm2である
フィルムを使用することが好ましい。重量増加が上記の
範囲内であるフィルムは、シリコンウェハおよび窒化ケ
イ素膜との接着力が充分に高められている。
器中に熱可塑性液晶ポリマーフィルムを導入し、容器内
を排気した後、フッ素と酸素の混合ガスを導入するバッ
チ式処理方法、または予めフッ素と酸素の混合ガスで反
応容器内を置換した後、熱可塑性液晶ポリマーフィルム
を通過させて接触させる連続式処理方法などが採用され
る。
液晶ポリマーフィルムをICチップなどの半導体素子の
表面に被覆する方法は、ICチップの表面に熱可塑性液
晶ポリマーフィルムを配置し、例えば真空熱プレス機等
を用いて両者を熱圧着する方法が例示できる。この被覆
方法には,プレス成形法その他の方法が用いられる。
貼り付ける前または後の熱可塑性液晶ポリマーフィルム
に、炭酸ガスレーザー等を用いて穿孔を形成した後に、
この穿孔部に導電材料を充填することにより、半導体素
子上の電極パッドと液晶ポリマーフィルム上面の電極パ
ッドを導通させることができる。
かる半導体素子を示す図である。同図はICチップ1の
断面構造を示しており、2はシリコンウエハ、3はその
表面に施された窒化ケイ素膜(パッシベーション膜)、4
は電極パッドである。また、5は窒化ケイ素膜3の表面
に施された絶縁層、6は電極パッド4と通電可能に絶縁
層5上に設けられた再配置配線である。そして、7は絶
縁層5と再配置配線6の上に全体を覆うように設けられ
た層である。同図の実施形態では、層7の再配置配線6
との対向部位に穿孔71を形成し、これに導電材料8を
充填させている。また、図中、9は半田ボールである。
ここで、絶縁層5は、フッ素と酸素の混合ガスによって
処理された熱可塑性液晶ポリマーフィルムによって形成
されている。また、層7は、フッ素と酸素の混合ガスに
よって処理された後の熱可塑性液晶ポリマーフィルムに
よって形成することが好ましいが、該混合ガスによって
処理する前の熱可塑性液晶ポリマーフィルムによって形
成してもよいし、例えば、ポリイミド、ポリ(ビスマレ
イミド)等のその他の樹脂によって形成してもよい。
が、本発明はこれら実施例により何ら限定されるもので
はない。なお、熱可塑性液晶ポリマーフィルムとシリコ
ンウェハや窒化ケイ素との接着力、半導体素子の耐湿
性、および熱可塑性液晶ポリマーの融点は以下の方法に
より測定した。
マーフィルムを熱圧着して得られた試験片を1cm幅に
切り出し、平板とシリコンウェハまたは窒化ケイ素膜を
両面接着材で固定して、180°方向に熱可塑性液晶ポ
リマーフィルムを50mm/分の速度で剥離したときの
剥離強度を測定した。
ップ表面に貼り付けた半導体素子を作製した後、炭酸ガ
スレーザーを用いてシリコンウェハ上のアルミ電極パッ
ドに貫通する孔径80μmの穿孔を形成した。次に、こ
の穿孔部分に導電性樹脂を充填し、さらに熱可塑性液晶
ポリマーフィルムの上面側に厚さ18μmの電解銅箔を
熱圧着した後、所定の配線を形成した。そして、この半
導体素子を、温度121℃、相対湿度100%、気圧2
atmの環境下に100時間暴露した後に、その動作機
能を評価した。
速度で昇温して完全に溶融させた後、溶融物を50℃/
分の速度で50℃まで急冷し、再び20℃/分の速度で
昇温した時に現れる吸熱ピーク温度を測定した。
エ酸の共重合物で、融点が283℃である熱可塑性液晶
ポリマーを溶融押出し、インフレーション成形法により
膜厚が50μm、分子配向度SORが1.02、熱膨張
係数6ppm/℃のフィルムを得た。この熱可塑性液晶
ポリマーフィルムをフィルムAとする。
エ酸の共重合物で、融点が330℃である熱可塑性液晶
ポリマーを溶融押出し、インフレーション成形法により
膜厚が25μm、分子配向度SORが1.01、熱膨張
係数8ppm/℃のフィルムを得た。この熱可塑性液晶
ポリマーフィルムをフィルムBとする。
れるようにニッケルメッシュ上に乗せてステンレス製反
応容器内に入れ、真空排気後、フッ素と酸素の混合ガス
〔フッ素/酸素=0.3/99.7(体積比)〕を導入して101.
3kPa(760Torr)とした。室温で40秒反応後、混合ガス
を真空排気し、反応容器を窒素で置換した後、フィルム
を取り出した。このフィルムを温度25℃、相対湿度60%
の雰囲気で3日間養生したところ、処理されたフィルム
面の単位面積当たりの重量増加は0.5μg/cm2で
あった。
ムを(イ)シリコンウェハ(三菱マテリアルシリコン株
式会社製、ポリッシュト・ウェーハ(商品名))および
(ロ)プラズマCVD法によって該シリコンウェハ上に
形成した窒化ケイ素膜の上に配置し、真空熱プレス機を
用いて、温度290℃、圧力30kg/cm2、時間1
0分の条件で熱圧着して、それぞれの積層体を得た。得
られた積層体の接着力を表6に示す。
0℃、圧力10kg/cm2、時間3分の条件で熱可塑
性液晶ポリマーフィルムを貼り付けた半導体素子の耐湿
性を評価した結果、良好な信頼性を示した。
れるようにニッケルメッシュ上に乗せてステンレス製反
応容器内に入れ、真空排気後、フッ素と酸素の混合ガス
〔フッ素/酸素=0.8/99.2(体積比)〕を導入して101.
3kPa(760Torr)とした。室温で20秒反応後、混合ガス
を真空排気し、反応容器を窒素で置換した後、フィルム
を取り出した。このフィルムを温度25℃、相対湿度60%
の雰囲気で3日間養生したところ、処理されたフィルム
面の単位面積当たりの重量増加は0.8μg/cm2で
あった。
ムを(イ)シリコンウェハ(三菱マテリアルシリコン株
式会社製、ポリッシュト・ウェーハ(商品名))および
(ロ)プラズマCVD法によって該シリコンウェハ上に
形成した窒化ケイ素膜の上に配置し、真空熱プレス機を
用いて、温度340℃、圧力30kg/cm2、時間1
0分の条件で熱圧着して、それぞれの積層体を得た。得
られた積層体における接着力を表6に示す。
0℃、圧力10kg/cm2、時間3分の条件で熱可塑
性液晶ポリマーフィルムを貼り付けた半導体素子の耐湿
性を評価した結果、良好な信頼性を示した。
理を行わなかったこと以外は実施例1と同様にして、積
層体を得た。得られた積層体の剥離強度を表6に示す。
また、混合ガスによる処理を行わなかったこと以外は実
施例1と同様にして熱可塑性液晶ポリマーフィルムを貼
り付けた半導体素子の耐湿性を評価した結果、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムと半導体素子の界面が部分的に剥
離しており、所望の機能を発現できなかった。
理を行わなかったこと以外は実施例2と同様にして、積
層体を得た。得られた積層体の剥離強度を表6に示す。
また、混合ガスによる処理を行わなかったこと以外は実
施例2と同様にして熱可塑性液晶ポリマーフィルムを貼
り付けた半導体素子の耐湿性を評価した結果、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムと半導体素子の界面が部分的に剥
離しており、所望の機能を発現できなかった。
よる処理を行わない熱可塑性液晶ポリマーフィルムを用
いた比較例1および2に比べ、混合ガスによる処理を行
った熱可塑性液晶ポリマーフィルムを用いた実施例1お
よび2では、熱可塑性液晶ポリマーフィルムとシリコン
ウェハや窒化ケイ素膜との接着力がより強固なものとな
っていることがわかる。また、前記のとおり、耐湿性に
関しても高い信頼性が得られる。
のフィルムによって被覆された半導体素子であって、熱
可塑性液晶ポリマーに由来する優れたガスバリアー性、
耐熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などの特
性を保持したままで、耐湿性に優れた実用的に十分高い
信頼性を有する半導体素子が提供される。
図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 光学的に異方性の溶融相を形成し得る熱
可塑性ポリマーからなり、フッ素ガスと酸素の混合ガス
によって処理されたフィルムにより被覆されてなる半導
体素子。 - 【請求項2】 シリコンウエハまたは窒化ケイ素の表面
の少なくとも一部がフィルムによって被覆されてなる請
求項1記載の半導体素子。 - 【請求項3】 フィルムの厚さが0.5mm以下である
請求項1または2に記載の半導体素子。 - 【請求項4】 混合ガスによる処理前に比べ、処理され
たフィルム面の単位面積当たりの質量増加が0.1〜
5.0μg/cm2であるフィルムによって被覆されて
なる請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体素
子。 - 【請求項5】 混合ガスの組成が、フッ素/酸素=0.
01/99.99〜1.00/99.00(体積比)で
ある請求項1から4のいずれか1項に記載の半導体素
子。 - 【請求項6】 熱可塑性ポリマーの融点が280℃以上
である請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体素
子。 - 【請求項7】 フィルムの分子配向度(SOR)が1.
3以下である請求項1から4のいずれか1項に記載の半
導体素子。 - 【請求項8】 光学的に異方性の溶融相を形成し得る熱
可塑性ポリマーからなるフィルムを、フッ素と酸素の混
合ガスによって処理した後、半導体素子の表面に被覆さ
せることからなる半導体素子の製造方法。
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