JP2003110053A - フィルム被覆半導体素子とその製造方法 - Google Patents

フィルム被覆半導体素子とその製造方法

Info

Publication number
JP2003110053A
JP2003110053A JP2001303367A JP2001303367A JP2003110053A JP 2003110053 A JP2003110053 A JP 2003110053A JP 2001303367 A JP2001303367 A JP 2001303367A JP 2001303367 A JP2001303367 A JP 2001303367A JP 2003110053 A JP2003110053 A JP 2003110053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
semiconductor device
liquid crystal
crystal polymer
thermoplastic liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001303367A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4860855B2 (ja
Inventor
Atsuo Yoshikawa
淳夫 吉川
Hitoshi Takebayashi
仁 竹林
Jiro Hiraiwa
次郎 平岩
Tetsuro Tojo
哲朗 東城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Tanso Co Ltd
Kuraray Co Ltd
Original Assignee
Toyo Tanso Co Ltd
Kuraray Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Tanso Co Ltd, Kuraray Co Ltd filed Critical Toyo Tanso Co Ltd
Priority to JP2001303367A priority Critical patent/JP4860855B2/ja
Publication of JP2003110053A publication Critical patent/JP2003110053A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4860855B2 publication Critical patent/JP4860855B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods

Landscapes

  • Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 熱可塑性液晶ポリマーに由来する優れたガス
バリアー性、耐熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波
特性などの特性を保持したままで、無機材料に対する接
着力を高めて耐湿性に優れた実用的に十分高い信頼性を
有する半導体素子を提供する。 【解決手段】 光学的に異方性の溶融相を形成し得る熱
可塑性ポリマーからなり、フッ素と酸素の混合ガスによ
って処理されたフィルムで、半導体素子を被覆する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に異方性の
溶融相を形成し得る熱可塑性ポリマー(以下、これを熱
可塑性液晶ポリマーと略称することがある)のフィルム
によって被覆されたICチップ等の半導体素子およびそ
の製造方法に関する。本発明による半導体素子は、熱可
塑性液晶ポリマーに由来する優れたガスバリアー性、耐
熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などの優れ
た特長を備え、しかも耐湿性に優れた実用的に十分高い
信頼性を有する。
【0002】
【従来の技術】近年、ICチップの実装密度はますます
高まりを見せており、半導体素子の耐湿性に関する信頼
性を確保するための技術開発も進んでいる。具体的に
は、ICチップ単体(フリップチップまたはベアチップ
と称される)の表面にポリイミド薄膜を形成する方法や
窒化ケイ素などの薄膜(パッシベーション膜と称され
る)を形成する方法、CSP(チップサイズパッケージ
またはスモールサイズパッケージと称される)のインタ
ーポーザ(封止樹脂)としてポリイミドフィルムを用い
る方法等が知られている。
【0003】一方、低吸湿性、ガスバリアー性、耐熱
性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などに優れた
特性を有する熱可塑性液晶ポリマーの成型体は、近年各
種技術分野において有用な材料として注目されている。
その具体例としては、各種ガス類の気密封止材料、フレ
キシブルプリント配線板などの電子回路基板材料、コネ
クターやソケットなどの電気・電子部品を挙げることが
できる。なかでも、電子回路基板用途では、高速化、小
型化、軽量化の要求が強いが、熱可塑性液晶ポリマーは
特に高周波領域において誘電率や誘電正接が低くて優れ
た電気特性を有すること、接着剤を用いずに銅箔などの
金属と熱積層できること、および他のポリマーと比較し
て吸水率が非常に低くて吸湿寸法安定性に優れているの
で、これらの特長を活かした種々の製品化が急速に進め
られている。また、熱可塑性液晶ポリマーの電気特性
は、ポリイミドなど既存の有機絶縁材と比較して明らか
に優れており、特にギガヘルツ帯では高周波用基板とし
て実績のあるテフロン(登録商標:ポリ四フッ化エチレ
ン)基材に匹敵する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前述のポリイミド薄膜
またはポリイミドフィルムを用いた半導体素子は、ポリ
イミド自体の吸湿性が無視できない程度に大きいため、
依然として耐湿性に関する信頼性に問題がある。
【0005】一方、熱可塑性液晶ポリマーの基本的な分
子骨格は、芳香族炭化水素基および/または脂肪族炭化
水素基が極性基を介して結合したものであるが、1分子
中に存在する極性基の数が少なく、また芳香族炭化水素
基が極性基の活性を空間的に阻害するために、シリコン
ウェハや窒化ケイ素膜に対する接着力(以下、これを剥
離強度と称することがある)を充分に高めることができ
ず、この接着力の低いことが耐湿性向上のネックとな
る。
【0006】そこで、本発明は、熱可塑性液晶ポリマー
のフィルムによって被覆された半導体素子であって、熱
可塑性液晶ポリマーに由来する優れたガスバリアー性、
耐熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などの特
性を保持したままで、耐湿性に優れた実用的に十分高い
信頼性を有する半導体素子を提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムとシリコンウェハや窒化ケイ素膜
などの無機材料との接着力を高める技術について鋭意研
究を行った結果、熱可塑性液晶ポリマーからなり、フッ
素と酸素の混合ガスで処理したフィルムを使用すれば良
好な結果が得られることを見出し、本発明を完成するに
至った。
【0008】本発明の半導体素子は、熱可塑性液晶ポリ
マーからなり、フッ素と酸素の混合ガスによって処理さ
れたフィルムにより被覆されてなるものである。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明に使用される熱可塑性液晶
ポリマー(光学的に異方性の溶融相を形成し得るポリマ
ー)は特に限定されるものではないが、その具体例とし
て、以下に例示する化合物およびその誘導体から導かれ
る公知のサーモトロピック液晶ポリエステルおよびサー
モトロピック液晶ポリエステルアミドを挙げることがで
きる。但し、光学的に異方性の溶融相を形成し得るポリ
マーを得るためには、繰り返し単位の好適な組み合わせ
が必要とされることは言うまでもない。また、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムには、滑剤、酸化防止剤などの添
加剤が適量配合されていてもよい。
【0010】(1)芳香族または脂肪族ジヒドロキシ化
合物(代表例は表1参照)
【0011】
【表1】
【0012】(2)芳香族または脂肪族ジカルボン酸
(代表例は表2参照)
【0013】
【表2】
【0014】(3)芳香族ヒドロキシカルボン酸(代表
例は表3参照)
【0015】
【表3】
【0016】(4)芳香族ジアミン、芳香族ヒドロキシ
アミンまたは芳香族アミノカルボン酸(代表例は表4参
照)
【0017】
【表4】
【0018】これらの原料化合物から得られる熱可塑性
液晶ポリマーの代表例として表5に示す構造単位を有す
る共重合体(a)〜(e)を挙げることができる。
【0019】
【表5】
【0020】熱可塑性液晶ポリマーフィルムの厚みは特
に限定されるものではないが、厚さ0.5mm以下、よ
り好ましくは厚さ0.01mm〜0.1mmのフィルム
が好適に使用される。
【0021】これらの熱可塑性液晶ポリマーフィルム
は、例えば、熱可塑性液晶ポリマーを押出成形して得ら
れる。任意の押出成形法がこの目的のために使用される
が、周知のTダイ法、インフレーション法等が工業的に
有利である。特にインフレーション法は、フィルムのM
D方向だけでなくTD方向にも応力が加えられ、MD方
向とTD方向との間における機械的性質および熱的性質
のバランスのとれたフィルムが得られるので、より好適
である。
【0022】さらに詳しく述べると、熱可塑性液晶ポリ
マーは溶融押出成型時における配向性が高いために、熱
可塑性液晶ポリマーから製造されたフィルムの機械的性
質および熱的性質の異方性が高くなり易い傾向を有して
いる。すなわち、熱可塑性液晶ポリマーをTダイから溶
融押出成形すれば、機械軸方向(以下、MD方向とい
う)にのみ剪断応力または応力が加えられるため、一軸
配向フィルムが得られる。この一軸配向フィルムは、M
D方向における引張弾性率および機械的強度が高いもの
の、MD方向に直交する方向(以下、TD方向という)
におけるこれらの値が低く、MD方向に切れ目が発生し
易いという欠点があるだけではなく、加熱時の寸法変化
率がMD方向とTD方向で異なるため、フィルムが反り
返るという欠点を有する。この機械的性質および熱的性
質の異方性を改良するためには、熱可塑性液晶ポリマー
の溶融押出成形にインフレーション法を好適に採用でき
る。これを採用すれば、フィルムのMD方向だけでなく
TD方向にも応力が加えられるため、MD方向の切れ目
が発生しにくい二軸配向フィルムが得られる。また、イ
ンフレーション法によれば、MD方向とTD方向との間
における機械的性質および熱的性質のバランスのとれた
フィルムを得ることもできる。
【0023】熱可塑性液晶ポリマーフィルムのなかで
も、分子配向度(SOR)が1.3以下のフィルムは、
MD方向とTD方向との間における機械的性質および熱
的性質のバランスが良好であるので、より実用性が高
い。本発明に用いる熱可塑性液晶ポリマーフィルムは、
その適用分野によって必要とされる分子配向度SORは
当然異なるが、SOR≧1.5の場合は熱可塑性液晶ポ
リマー分子の配向の偏りが著しいためにフィルムが硬く
なり、かつMD方向に裂け易い。加熱時の反りがないな
どの形態安定性が必要とされる適用分野の場合には、S
OR≦1.3であることが望ましく、特に加熱時の反り
をほとんど無くす必要がある場合には、SOR≦1.0
3であることが望ましい。
【0024】ここで、分子配向度SOR(Segment Orie
ntation Ratio )とは、分子で構成されるセグメントに
ついての分子配向の度合いを与える指標をいい、一般的
なMOR(Molecular Orientation Ratio )とは異な
り、物体の厚さを考慮した値である。この分子配向度S
ORは、以下のように算出される。
【0025】まず、周知のマイクロ波分子配向度測定機
において、熱可塑性液晶ポリマーフィルムを、マイクロ
波の進行方向にフィルム面が垂直になるように、マイク
ロ波共振導波管中に挿入し、該フィルムを透過したマイ
クロ波の電場強度(マイクロ波透過強度)が測定され
る。そして、この測定値に基づいて、次式により、m値
(屈折率と称する)が算出される。m=(Zo/△z)
×[1−νmax /νo]ただし、Zoは装置定数、△z
は物体の平均厚、νmax はマイクロ波の振動数を変化さ
せたとき、最大のマイクロ波透過強度を与える振動数、
νoは平均厚ゼロのとき(すなわち物体がないとき)の
最大マイクロ波透過強度を与える振動数である。
【0026】次に、マイクロ波の振動方向に対する物体
の回転角が0°のとき、つまり、マイクロ波の振動方向
と、物体の分子が最もよく配向されている方向であっ
て、最小マイクロ波透過強度を与える方向とが合致して
いるときのm値をm0 、回転角が90°のときのm値
をm90として、分子配向度SORはm0 /m90により算
出される。
【0027】また、熱可塑性液晶ポリマーフィルムをI
Cチップなどの半導体素子の表面に被覆する場合、両者
の接着界面における応力集中を避け、クラックの発生を
抑制するために、両者の熱膨張係数を互いにほぼ等しく
することが望ましい。具体的には、熱可塑性液晶ポリマ
ーの熱膨張係数は、−5〜10ppm/℃であることが
好ましく、0〜5ppm/℃であることがより好まし
い。
【0028】本発明において使用される熱可塑性液晶ポ
リマーの融点は、所望の耐熱性および加工性を有するフ
ィルムを得るために、約200〜約400℃の範囲内、
とりわけ約250〜約350℃の範囲内であることが好
ましい。なかでも、半田リフロー工程を通過する場合に
は、約280℃以上の融点を有する熱可塑性液晶ポリマ
ーが好適に用いられる。
【0029】そして本発明では、以上の熱可塑性液晶ポ
リマーからなるフィルムを、フッ素と酸素の混合ガスで
処理してなるフィルムを使用する。混合ガスにおけるフ
ッ素の濃度は0.01〜1.00体積%、酸素の濃度は99.00〜9
9.99体積%の範囲から選ばれるが、フッ素の濃度を精度
良く制御する目的においては、0.10〜1.00体積%、酸素
の濃度は99.00〜99.90体積%の範囲が好ましい。混合ガ
スによる処理は、通常0〜50℃、好ましくは10〜30℃の
範囲の温度、また、通常数秒〜数分、好ましくは10秒〜
1分の範囲の時間で実施される。
【0030】混合ガスによる処理は、熱可塑性液晶ポリ
マーフィルムの片面または両面を混合ガスと接触させる
ことによって実施される。本発明においては、混合ガス
による処理前に比べ、処理されたフィルム面の単位面積
当たりの重量増加が0.1〜5.0μg/cmである
フィルムを使用することが好ましい。重量増加が上記の
範囲内であるフィルムは、シリコンウェハおよび窒化ケ
イ素膜との接着力が充分に高められている。
【0031】混合ガスによる処理は、密閉された反応容
器中に熱可塑性液晶ポリマーフィルムを導入し、容器内
を排気した後、フッ素と酸素の混合ガスを導入するバッ
チ式処理方法、または予めフッ素と酸素の混合ガスで反
応容器内を置換した後、熱可塑性液晶ポリマーフィルム
を通過させて接触させる連続式処理方法などが採用され
る。
【0032】混合ガスによって処理された後の熱可塑性
液晶ポリマーフィルムをICチップなどの半導体素子の
表面に被覆する方法は、ICチップの表面に熱可塑性液
晶ポリマーフィルムを配置し、例えば真空熱プレス機等
を用いて両者を熱圧着する方法が例示できる。この被覆
方法には,プレス成形法その他の方法が用いられる。
【0033】また、必要に応じて、ICチップの表面に
貼り付ける前または後の熱可塑性液晶ポリマーフィルム
に、炭酸ガスレーザー等を用いて穿孔を形成した後に、
この穿孔部に導電材料を充填することにより、半導体素
子上の電極パッドと液晶ポリマーフィルム上面の電極パ
ッドを導通させることができる。
【0034】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施形態にか
かる半導体素子を示す図である。同図はICチップ1の
断面構造を示しており、2はシリコンウエハ、3はその
表面に施された窒化ケイ素膜(パッシベーション膜)、4
は電極パッドである。また、5は窒化ケイ素膜3の表面
に施された絶縁層、6は電極パッド4と通電可能に絶縁
層5上に設けられた再配置配線である。そして、7は絶
縁層5と再配置配線6の上に全体を覆うように設けられ
た層である。同図の実施形態では、層7の再配置配線6
との対向部位に穿孔71を形成し、これに導電材料8を
充填させている。また、図中、9は半田ボールである。
ここで、絶縁層5は、フッ素と酸素の混合ガスによって
処理された熱可塑性液晶ポリマーフィルムによって形成
されている。また、層7は、フッ素と酸素の混合ガスに
よって処理された後の熱可塑性液晶ポリマーフィルムに
よって形成することが好ましいが、該混合ガスによって
処理する前の熱可塑性液晶ポリマーフィルムによって形
成してもよいし、例えば、ポリイミド、ポリ(ビスマレ
イミド)等のその他の樹脂によって形成してもよい。
【0035】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明する
が、本発明はこれら実施例により何ら限定されるもので
はない。なお、熱可塑性液晶ポリマーフィルムとシリコ
ンウェハや窒化ケイ素との接着力、半導体素子の耐湿
性、および熱可塑性液晶ポリマーの融点は以下の方法に
より測定した。
【0036】接着力 シリコンウェハまたは窒化ケイ素膜に熱可塑性液晶ポリ
マーフィルムを熱圧着して得られた試験片を1cm幅に
切り出し、平板とシリコンウェハまたは窒化ケイ素膜を
両面接着材で固定して、180°方向に熱可塑性液晶ポ
リマーフィルムを50mm/分の速度で剥離したときの
剥離強度を測定した。
【0037】耐湿性 熱可塑性液晶ポリマーフィルムを、圧力センサ用ICチ
ップ表面に貼り付けた半導体素子を作製した後、炭酸ガ
スレーザーを用いてシリコンウェハ上のアルミ電極パッ
ドに貫通する孔径80μmの穿孔を形成した。次に、こ
の穿孔部分に導電性樹脂を充填し、さらに熱可塑性液晶
ポリマーフィルムの上面側に厚さ18μmの電解銅箔を
熱圧着した後、所定の配線を形成した。そして、この半
導体素子を、温度121℃、相対湿度100%、気圧2
atmの環境下に100時間暴露した後に、その動作機
能を評価した。
【0038】融点 示差走査熱量計を用いて、供試フィルムを20℃/分の
速度で昇温して完全に溶融させた後、溶融物を50℃/
分の速度で50℃まで急冷し、再び20℃/分の速度で
昇温した時に現れる吸熱ピーク温度を測定した。
【0039】参考例1 p−ヒドロキシ安息香酸と6−ヒドロキシ−2−ナフト
エ酸の共重合物で、融点が283℃である熱可塑性液晶
ポリマーを溶融押出し、インフレーション成形法により
膜厚が50μm、分子配向度SORが1.02、熱膨張
係数6ppm/℃のフィルムを得た。この熱可塑性液晶
ポリマーフィルムをフィルムAとする。
【0040】参考例2 p−ヒドロキシ安息香酸と6−ヒドロキシ−2−ナフト
エ酸の共重合物で、融点が330℃である熱可塑性液晶
ポリマーを溶融押出し、インフレーション成形法により
膜厚が25μm、分子配向度SORが1.01、熱膨張
係数8ppm/℃のフィルムを得た。この熱可塑性液晶
ポリマーフィルムをフィルムBとする。
【0041】実施例1 参考例1で得たフィルムAを、フィルムの両面が処理さ
れるようにニッケルメッシュ上に乗せてステンレス製反
応容器内に入れ、真空排気後、フッ素と酸素の混合ガス
〔フッ素/酸素=0.3/99.7(体積比)〕を導入して101.
3kPa(760Torr)とした。室温で40秒反応後、混合ガス
を真空排気し、反応容器を窒素で置換した後、フィルム
を取り出した。このフィルムを温度25℃、相対湿度60%
の雰囲気で3日間養生したところ、処理されたフィルム
面の単位面積当たりの重量増加は0.5μg/cm
あった。
【0042】次に、上記の熱可塑性液晶ポリマーフィル
ムを(イ)シリコンウェハ(三菱マテリアルシリコン株
式会社製、ポリッシュト・ウェーハ(商品名))および
(ロ)プラズマCVD法によって該シリコンウェハ上に
形成した窒化ケイ素膜の上に配置し、真空熱プレス機を
用いて、温度290℃、圧力30kg/cm、時間1
0分の条件で熱圧着して、それぞれの積層体を得た。得
られた積層体の接着力を表6に示す。
【0043】また、真空熱プレス機を用いて、温度29
0℃、圧力10kg/cm、時間3分の条件で熱可塑
性液晶ポリマーフィルムを貼り付けた半導体素子の耐湿
性を評価した結果、良好な信頼性を示した。
【0044】実施例2 参考例2で得たフィルムBを、フィルムの両面が処理さ
れるようにニッケルメッシュ上に乗せてステンレス製反
応容器内に入れ、真空排気後、フッ素と酸素の混合ガス
〔フッ素/酸素=0.8/99.2(体積比)〕を導入して101.
3kPa(760Torr)とした。室温で20秒反応後、混合ガス
を真空排気し、反応容器を窒素で置換した後、フィルム
を取り出した。このフィルムを温度25℃、相対湿度60%
の雰囲気で3日間養生したところ、処理されたフィルム
面の単位面積当たりの重量増加は0.8μg/cm
あった。
【0045】次に、上記の熱可塑性液晶ポリマーフィル
ムを(イ)シリコンウェハ(三菱マテリアルシリコン株
式会社製、ポリッシュト・ウェーハ(商品名))および
(ロ)プラズマCVD法によって該シリコンウェハ上に
形成した窒化ケイ素膜の上に配置し、真空熱プレス機を
用いて、温度340℃、圧力30kg/cm、時間1
0分の条件で熱圧着して、それぞれの積層体を得た。得
られた積層体における接着力を表6に示す。
【0046】また、真空熱プレス機を用いて、温度34
0℃、圧力10kg/cm、時間3分の条件で熱可塑
性液晶ポリマーフィルムを貼り付けた半導体素子の耐湿
性を評価した結果、良好な信頼性を示した。
【0047】比較例1 参考例1で得たフィルムAを用いて、混合ガスによる処
理を行わなかったこと以外は実施例1と同様にして、積
層体を得た。得られた積層体の剥離強度を表6に示す。
また、混合ガスによる処理を行わなかったこと以外は実
施例1と同様にして熱可塑性液晶ポリマーフィルムを貼
り付けた半導体素子の耐湿性を評価した結果、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムと半導体素子の界面が部分的に剥
離しており、所望の機能を発現できなかった。
【0048】比較例2 参考例2で得たフィルムBを用いて、混合ガスによる処
理を行わなかったこと以外は実施例2と同様にして、積
層体を得た。得られた積層体の剥離強度を表6に示す。
また、混合ガスによる処理を行わなかったこと以外は実
施例2と同様にして熱可塑性液晶ポリマーフィルムを貼
り付けた半導体素子の耐湿性を評価した結果、熱可塑性
液晶ポリマーフィルムと半導体素子の界面が部分的に剥
離しており、所望の機能を発現できなかった。
【0049】
【表6】
【0050】以上の表から明らかなように、混合ガスに
よる処理を行わない熱可塑性液晶ポリマーフィルムを用
いた比較例1および2に比べ、混合ガスによる処理を行
った熱可塑性液晶ポリマーフィルムを用いた実施例1お
よび2では、熱可塑性液晶ポリマーフィルムとシリコン
ウェハや窒化ケイ素膜との接着力がより強固なものとな
っていることがわかる。また、前記のとおり、耐湿性に
関しても高い信頼性が得られる。
【0051】
【発明の効果】本発明によれば、熱可塑性液晶ポリマー
のフィルムによって被覆された半導体素子であって、熱
可塑性液晶ポリマーに由来する優れたガスバリアー性、
耐熱性、耐薬品性、高寸法安定性、高周波特性などの特
性を保持したままで、耐湿性に優れた実用的に十分高い
信頼性を有する半導体素子が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態にかかる半導体素子の断面
図である。
【符号の説明】
1…ICチップ(半導体素子)、5…絶縁層。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹林 仁 香川県三豊郡大野原町中姫2181−2 東洋 炭素株式会社内 (72)発明者 平岩 次郎 香川県三豊郡大野原町中姫2181−2 東洋 炭素株式会社内 (72)発明者 東城 哲朗 香川県三豊郡大野原町中姫2181−2 東洋 炭素株式会社内 Fターム(参考) 4F073 AA01 BA23 BA25 BA34 BB01 DA01 DA04

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学的に異方性の溶融相を形成し得る熱
    可塑性ポリマーからなり、フッ素ガスと酸素の混合ガス
    によって処理されたフィルムにより被覆されてなる半導
    体素子。
  2. 【請求項2】 シリコンウエハまたは窒化ケイ素の表面
    の少なくとも一部がフィルムによって被覆されてなる請
    求項1記載の半導体素子。
  3. 【請求項3】 フィルムの厚さが0.5mm以下である
    請求項1または2に記載の半導体素子。
  4. 【請求項4】 混合ガスによる処理前に比べ、処理され
    たフィルム面の単位面積当たりの質量増加が0.1〜
    5.0μg/cmであるフィルムによって被覆されて
    なる請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体素
    子。
  5. 【請求項5】 混合ガスの組成が、フッ素/酸素=0.
    01/99.99〜1.00/99.00(体積比)で
    ある請求項1から4のいずれか1項に記載の半導体素
    子。
  6. 【請求項6】 熱可塑性ポリマーの融点が280℃以上
    である請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体素
    子。
  7. 【請求項7】 フィルムの分子配向度(SOR)が1.
    3以下である請求項1から4のいずれか1項に記載の半
    導体素子。
  8. 【請求項8】 光学的に異方性の溶融相を形成し得る熱
    可塑性ポリマーからなるフィルムを、フッ素と酸素の混
    合ガスによって処理した後、半導体素子の表面に被覆さ
    せることからなる半導体素子の製造方法。
JP2001303367A 2001-09-28 2001-09-28 フィルム被覆半導体素子とその製造方法 Expired - Fee Related JP4860855B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001303367A JP4860855B2 (ja) 2001-09-28 2001-09-28 フィルム被覆半導体素子とその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001303367A JP4860855B2 (ja) 2001-09-28 2001-09-28 フィルム被覆半導体素子とその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003110053A true JP2003110053A (ja) 2003-04-11
JP4860855B2 JP4860855B2 (ja) 2012-01-25

Family

ID=19123464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001303367A Expired - Fee Related JP4860855B2 (ja) 2001-09-28 2001-09-28 フィルム被覆半導体素子とその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4860855B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007013330A1 (ja) * 2005-07-27 2009-02-05 株式会社クラレ 熱可塑性液晶ポリマーフィルムで被覆した配線板の製造方法
JP2010150460A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 Takamatsu Teisan Kk 高分子化合物の表面改質方法
JP2014502690A (ja) * 2010-12-22 2014-02-03 ティコナ・エルエルシー 複雑な3次元構成を有する高温導管
JP2021512207A (ja) * 2018-01-22 2021-05-13 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung 誘電材料

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06192451A (ja) * 1992-12-22 1994-07-12 Diafoil Co Ltd フッ素含有ポリエステル成形体およびその製造方法
JPH10303327A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Yamaichi Electron Co Ltd 半導体チップの接点変換構造と該接点変換構造を有する半導体チップの製造法
JPH10335528A (ja) * 1997-06-02 1998-12-18 Yamaichi Electron Co Ltd 半導体パッケージおよび半導体パッケージの製造方法
JPH11307686A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Kuraray Co Ltd 半導体回路装置を搭載したプリント回路装置
JP2000273225A (ja) * 1999-03-25 2000-10-03 Kuraray Co Ltd 熱可塑性液晶ポリマーフィルムとその改質方法
JP2001181422A (ja) * 1999-11-03 2001-07-03 Air Prod And Chem Inc 物品表面の化学的性質改変方法及び装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06192451A (ja) * 1992-12-22 1994-07-12 Diafoil Co Ltd フッ素含有ポリエステル成形体およびその製造方法
JPH10303327A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Yamaichi Electron Co Ltd 半導体チップの接点変換構造と該接点変換構造を有する半導体チップの製造法
JPH10335528A (ja) * 1997-06-02 1998-12-18 Yamaichi Electron Co Ltd 半導体パッケージおよび半導体パッケージの製造方法
JPH11307686A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Kuraray Co Ltd 半導体回路装置を搭載したプリント回路装置
JP2000273225A (ja) * 1999-03-25 2000-10-03 Kuraray Co Ltd 熱可塑性液晶ポリマーフィルムとその改質方法
JP2001181422A (ja) * 1999-11-03 2001-07-03 Air Prod And Chem Inc 物品表面の化学的性質改変方法及び装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007013330A1 (ja) * 2005-07-27 2009-02-05 株式会社クラレ 熱可塑性液晶ポリマーフィルムで被覆した配線板の製造方法
JP4866853B2 (ja) * 2005-07-27 2012-02-01 株式会社クラレ 熱可塑性液晶ポリマーフィルムで被覆した配線基板の製造方法
US8771458B2 (en) 2005-07-27 2014-07-08 Kuraray Co., Ltd. Method of making wiring boards covered by thermotropic liquid crystal polymer film
JP2010150460A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 Takamatsu Teisan Kk 高分子化合物の表面改質方法
JP2014502690A (ja) * 2010-12-22 2014-02-03 ティコナ・エルエルシー 複雑な3次元構成を有する高温導管
JP2021512207A (ja) * 2018-01-22 2021-05-13 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung 誘電材料
JP7404272B2 (ja) 2018-01-22 2023-12-25 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 誘電材料

Also Published As

Publication number Publication date
JP4860855B2 (ja) 2012-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1093366C (zh) 聚酰亚胺苯并噁唑绝缘膜及用它制成的印刷电路板
JP4866853B2 (ja) 熱可塑性液晶ポリマーフィルムで被覆した配線基板の製造方法
JP4216433B2 (ja) 回路基板用金属張積層板の製造方法
JP2019178326A (ja) 熱可塑性液晶ポリマーフィルムの製造方法、並びに回路基板及びその製造方法
KR101402635B1 (ko) 메탈라이징용 폴리이미드 필름 및 금속적층 폴리이미드 필름
JP4138995B2 (ja) 回路基板およびその製造方法
KR101867107B1 (ko) 폴리이미드 필름, 및 폴리이미드 필름의 제조 방법
TW594891B (en) The adhesive-attached tape for semiconductor substrate and using them for the copper-affixed laminates
CN113248708B (zh) 一种综合性能优异的聚酰亚胺胶膜及其制备方法与应用
US20140220330A1 (en) Polymer resin composition, polyimide resin film, preparation method of polyimide resin film, flexible metal laminate, and circuit board
EP0786928A1 (en) Novel flexible copper-coated laminate and flexible printed circuit board
WO2020095988A1 (ja) 熱可塑性液晶ポリマーフィルムおよびそれを用いた回路基板
Brownlee et al. Liquid crystal polymers (LCP) for high performance SOP applications
CN112703107B (zh) 层叠体、印刷基板及其制造方法
JP4860855B2 (ja) フィルム被覆半導体素子とその製造方法
JP2001049002A (ja) 熱可塑性液晶ポリマーフィルムおよびその製造方法
JPH11214250A (ja) デバイスとこれを実装した実装回路基板
JP5085823B2 (ja) フィルムと金属との積層体およびその製造方法
KR100601308B1 (ko) 상압플라즈마를 이용한 폴리이미드 필름의 표면처리방법
Brownlee et al. Evaluation of liquid crystal polymers for high performance SOP application
JP2003292638A (ja) 高耐熱性フィルム
JP2002047360A (ja) ポリフェニレンスルフィドフィルム、その製造方法および回路基板
JP2001270032A (ja) 易放熱性回路基板
JP2004082564A (ja) 電子デバイスの支持体
JP2002265804A (ja) 熱可塑性液晶ポリマーフィルム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080605

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100713

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100720

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100916

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110726

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110915

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111018

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111104

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141111

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees