JP2001330540A - Method of collecting sample gas for exhaust gas analyzer - Google Patents
Method of collecting sample gas for exhaust gas analyzerInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、転炉等において、
排ガス成分をオンラインで分析し、排ガス回収設備や溶
鋼成分推定、あるいは、煙道爆発監視等に用いるのに好
適な、煙道より安定的にサンプルガスを採取する方法に
関する。[0001] The present invention relates to a converter and the like,
The present invention relates to a method for analyzing a flue gas component on-line and stably collecting a sample gas from a flue, which is suitable for use in flue gas recovery equipment, estimation of molten steel component, or flue explosion monitoring.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、転炉排ガスのオンライン分析にお
けるサンプルガス採取は、排ガス分析計での分析値の精
度向上、及び、分析装置自体の安定連続稼働を目的とし
て、その採取経路に各種フィルタを設けて、粒径数μm
以上のダストを除去している。2. Description of the Related Art Conventionally, sample gas sampling for on-line analysis of converter exhaust gas has various filters in its sampling path for the purpose of improving the accuracy of analysis values in an exhaust gas analyzer and stably operating the analyzer itself. Provided, particle size several μm
Above dust is removed.
【0003】しかしながら、転炉排ガス中のダストは、
極めて発生量が多く、採取経路に設けられたフィルタ
も、直ぐに目詰まりを起こし、サンプルガスが採取不能
の状態に陥ってしまう。However, the dust in the converter exhaust gas is
The amount of the generated gas is extremely large, and the filter provided in the collection path is also immediately clogged, so that the sample gas cannot be collected.
【0004】一般的には、これを防止するために、サン
プリング系統を二重にし、一定時間毎にサンプリング系
統を切換え、一方でサンプリング中に、他方では、逆洗
パージを行うことによって、連続的、且つ、長期のサン
プルガス採取を行っている。[0004] In general, in order to prevent this, the sampling system is duplicated, and the sampling system is switched at regular time intervals. In addition, long-term sample gas sampling is performed.
【0005】図3に、典型的なガス分析サンプリング系
統の例を示す。FIG. 3 shows an example of a typical gas analysis sampling system.
【0006】図において、サンプルガスは、サンプリン
グプローブ10よりサンプル配管12に導入され、ミス
トフィルタ14を経て吸引ポンプ18で吸引される。前
記サンプリングプローブ10は、フィルタになってお
り、ここで、サンプルガス中のダストが、まず除去され
る。又、サンプリングプローブ10は、ヒータによって
100℃以上に加熱されており、途中のサンプル配管1
2経路でのサンプルガスの冷却、及び、ミストフィルタ
14により、ミスト分を除去されると同時に、微細ダス
トを除去され、ガスクーラ20で最終的に除湿される。
前記ミストフィルタ14で除去されたミストは、ドレン
ポット16に集められる。In FIG. 1, a sample gas is introduced into a sample pipe 12 from a sampling probe 10, and is sucked by a suction pump 18 through a mist filter 14. The sampling probe 10 is a filter, in which dust in the sample gas is first removed. The sampling probe 10 is heated to 100 ° C. or higher by a heater, and the sample pipe 1
The sample gas is cooled in two paths, and the mist is removed by the mist filter 14, and at the same time, the fine dust is removed.
The mist removed by the mist filter 14 is collected in a drain pot 16.
【0007】前記ガスクーラ20で除湿されたサンプル
ガスは、その後、最終的にメンブレンフィルタ22で超
微細ダストが除去され、例えばニードル弁付流量計2
4、25を経て、例えば酸素(O2)を分析するガス分
析計26及び一酸化炭素(CO)を分析するガス分析計
27にそれぞれ導かれる。[0007] The sample gas dehumidified by the gas cooler 20 is then finally removed by a membrane filter 22 to remove ultra-fine dust.
After passing through 4 and 25, they are led to a gas analyzer 26 for analyzing oxygen (O2) and a gas analyzer 27 for analyzing carbon monoxide (CO), respectively.
【0008】このとき、サンプリングプローブ10、サ
ンプル配管12、ミストフィルタ14及びドレンポット
16はもう1系統(サンプリングプローブ11、サンプ
ル配管13、ミストフィルタ15、ドレンポット17)
設けられている。そして、一定時間毎に、例えば電動弁
で構成されるサンプル系統切換弁28、29、30、3
1、32、33により切換えられ、一方でサンプリング
中に、他方では、フィルタレギュレータ34を介してパ
ージ弁36、37、38、39により導入されるパージ
ガスにより逆洗パージを行い、フィルタに付着したダス
トを除去している。At this time, the sampling probe 10, the sample pipe 12, the mist filter 14, and the drain pot 16 are another system (the sampling probe 11, the sample pipe 13, the mist filter 15, and the drain pot 17).
Is provided. Then, at regular intervals, the sample system switching valves 28, 29, 30, 3
1, 32, and 33, the backwashing purge is performed by the purge gas introduced by the purge valves 36, 37, 38, and 39 through the filter regulator 34 on the one hand and the dust adhering to the filter on the other hand. Has been removed.
【0009】図において、40は、パージガス用の吸引
ポンプ、42は、フィルタの閉塞を検知するためのフィ
ン負圧計である。In FIG. 1, reference numeral 40 denotes a suction pump for purging gas, and reference numeral 42 denotes a fin negative pressure gauge for detecting blockage of a filter.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3に
示した従来法では、サンプリングプローブ10、11に
おいて、10μm以下の粒径の微粒子については、完全
には除去することができず、結局、後段のフィルタの目
詰まりを起こしてしまい、結果的に、分析不能に陥る場
合が多い。サンプリングプローブ自体のフィルタ孔を、
より微細なものにすれば、後段のフィルタ詰まりは回避
できるが、サンプリングプローブ自体が直ぐに詰まって
しまい、結果的に、連続且つ安定的なオンライン分析が
できなくなってしまう。However, according to the conventional method shown in FIG. 3, fine particles having a particle size of 10 μm or less cannot be completely removed from the sampling probes 10 and 11, and eventually, Often causes clogging of the filter, and as a result, analysis becomes impossible. Filter holes in the sampling probe itself,
If the filter is made finer, clogging of the filter at the subsequent stage can be avoided, but the sampling probe itself is clogged immediately, and as a result, continuous and stable online analysis cannot be performed.
【0011】又、例えば水を入れたポットを用意し、こ
こにサンプルガスを通すことで、微細なダストまで除去
することは、ある程度可能であるが、この場合、サンプ
リング時間が長くなり、排ガス回収制御等においては、
これが操業損失につながるという問題点を有していた。For example, it is possible to remove fine dust to some extent by preparing a pot filled with water and passing a sample gas through the pot, but in this case, the sampling time becomes longer and the exhaust gas is recovered. In control, etc.
This has the problem that it leads to operational losses.
【0012】なお、本発明と類似するものとして、特開
平10−260119には、濡れ壁に設け、該濡れ壁に
おいて流下水とサンプルガスとを接触させることによ
り、サンプルガス中の固体粒子を流下水に移動させて除
去することが記載されているが、背が高い濡れ壁を新た
に設ける必要がある。As similar to the present invention, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 10-260119 discloses a method in which solid particles in a sample gas are caused to flow down by being provided on a wet wall and contacting the flowing water with the sample gas on the wet wall. It is described that the material is removed by moving to water, but a new tall wet wall needs to be provided.
【0013】又、実開平7−5045には、ガス導入管
に接続された水エジェクタと、該水エジェクタに接続さ
れた水循環配管と、該水循環配管に回送された気水セパ
レータとを設けて、水洗浄器に水をスプレーしつつ、ポ
ンプで気水セパレータの水部から水循環配管を介して水
エジェクタに水を圧送することが記載されているが、や
はり、水エジェクタや気水セパレータ等の設備を設ける
必要があり、構成も複雑である。[0013] In addition, in Japanese Utility Model Laid-Open No. 7-5045, a water ejector connected to a gas introduction pipe, a water circulation pipe connected to the water ejector, and a steam separator sent to the water circulation pipe are provided. It is described that while spraying water into a water washer, water is pumped from a water part of a steam separator to a water ejector via a water circulation pipe by a pump, but equipment such as a water ejector and steam separator is also described. And the configuration is complicated.
【0014】又、特開平9−187615には、微粒ダ
ストを含むガス流体に、該ガス流体より高温高圧の水蒸
気を噴霧し、微粒ダストを核として水蒸気を凝集させ、
肥大化した液滴を除去することが記載されているが、サ
ンプルガスの採取に適用したものではなかった。Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-187615 discloses that a gas fluid containing fine dust is sprayed with steam having a higher temperature and a higher pressure than the gas fluid, and the steam is agglomerated with the fine dust as a core.
It is described that the enlarged droplets are removed, but it is not applied to sample gas collection.
【0015】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くなされたもので、簡単な構成により、サンプリングプ
ローブでは除去できない、微細なダストを除去し、且
つ、サンプリング時間を延長することなく、排ガスのオ
ンライン分析の長期安定稼働を達成することを課題とす
る。The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and has a simple structure to remove fine dust that cannot be removed by a sampling probe and to reduce exhaust gas without extending sampling time. The goal is to achieve a long-term stable operation of online analysis.
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】本発明は、排ガス分析計
のサンプルガスを採取するに際して、サンプルガスから
除去されたミスト分を集めるドレンポットの水を加熱し
て水蒸気を発生させ、サンプルガス吸引用のサンプル配
管に戻すことにより、サンプルガス中の微細ダストに水
蒸気を凝結させて除去するようにして、前記課題を解決
したものである。SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, when a sample gas of an exhaust gas analyzer is collected, water in a drain pot for collecting mist removed from the sample gas is heated to generate steam, and the sample gas is sucked. The above problem has been solved by returning to a sample pipe for use, whereby water vapor is condensed and removed from fine dust in the sample gas.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】以下図面を参照して、本発明の実
施形態を詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0018】本実施形態は、図1に示す如く、図3に示
した従来例と同様のガス分析サンプリング系統におい
て、ミストフィルタ14、15によりサンプルガスから
除去されたミスト分を集めるドレンポット16、17か
ら水を導く導水配管50、51を設け、該導水配管5
0、51に、例えばバンドヒータ52、53を巻いて水
を加熱し、水蒸気を発生させ、発生した水蒸気を、保温
処置を施した保温配管54、55によりサンプル配管1
2、13の接続点12A、13Aに接続したものであ
る。In this embodiment, as shown in FIG. 1, in a gas analysis sampling system similar to the conventional example shown in FIG. 3, a drain pot 16, which collects the mist removed from the sample gas by the mist filters 14, 15, is provided. And water supply pipes 50 and 51 for guiding water from the water supply pipe 17.
For example, band heaters 52 and 53 are wound around 0 and 51 to heat water to generate water vapor, and the generated water vapor is supplied to sample piping 1 by heat retaining pipes 54 and 55 that have been subjected to heat retaining treatment.
2, 13 are connected to connection points 12A, 13A.
【0019】前記導水配管50、51の中には、サンプ
リングの吸引ポンプ18、19の影響で、若干の差圧は
あるが、ほぼ、ドレンポット16、17と同じレベルま
で水位がある。The water guide pipes 50 and 51 have a slight pressure difference due to the influence of the sampling suction pumps 18 and 19, but have a water level almost equal to the level of the drain pots 16 and 17.
【0020】前記保温配管54、55のサンプリング配
管12、13への接続点12A、12Bは、なるべくサ
ンプリングプローブ10、11に近い位置にする。The connection points 12A and 12B of the heat retaining pipes 54 and 55 to the sampling pipes 12 and 13 are located as close to the sampling probes 10 and 11 as possible.
【0021】これにより、接続点12A、12Bで、サ
ンプルガスに水蒸気が添加されることになるが、接続点
12A、12Bからミストフィルタ14、15に至るサ
ンプル配管11、12の経路は、大気温度であるため、
添加された水蒸気は、サンプルガス中の微細ダストを核
として凝結することになる。凝結して水滴となった水分
は、ドレンポット16、17に集められ、結果的に、サ
ンプルガス中の微細ダストを除去することができる。As a result, water vapor is added to the sample gas at the connection points 12A and 12B. However, the paths of the sample pipes 11 and 12 from the connection points 12A and 12B to the mist filters 14 and 15 Because
The added water vapor condenses with the fine dust in the sample gas as a core. The water that has condensed into water droplets is collected in the drain pots 16 and 17, and as a result, fine dust in the sample gas can be removed.
【0022】なお、導水配管に導入されたドレンポット
の水を加熱する手段は、バンドヒータに限定されない。The means for heating the water in the drain pot introduced into the water pipe is not limited to the band heater.
【0023】[0023]
【実施例】160トン上底吹転炉2基を有する製鋼工場
で本発明を実施した例を図2に示す。転炉設備として
は、吹練時間が90〜120分であり、転炉排ガス回収
設備(Oxygen Converter Gas Recoverization Syst
em:以下OGと略する)放散煙突60にガスサンプリン
グプローブ10、11を取り付け、分析装置70により
煙道61中の排ガス成分を監視し、排ガス組成が爆発限
界に入る直前に、パージ窒素(N2)供給ライン62か
ら導入される窒素パージにより、爆発を回避するように
している。FIG. 2 shows an embodiment in which the present invention is carried out in a steel mill having two 160-ton top-bottom blowing converters. As the converter equipment, the blowing time is 90 to 120 minutes, and the converter exhaust gas recovery equipment (Oxygen Converter Gas Recovery System)
em: hereinafter abbreviated as OG) The gas sampling probes 10 and 11 are attached to the emission chimney 60, and the exhaust gas component in the flue 61 is monitored by the analyzer 70. ) An explosion is avoided by the nitrogen purge introduced from the supply line 62.
【0024】前記分析装置70は、吸引ポンプ18、1
9がクーラ20、フィルタ22の下流側に配設されると
共に、例えば赤外分光式のCO分析計27と、例えば磁
気式のO2分析計26が、この順に直列接続されている
点が、図1と異なる。The analyzer 70 includes suction pumps 18 and 1
9 is disposed downstream of the cooler 20 and the filter 22, and a CO spectrometer 27 of, for example, an infrared spectroscopic type and an O2 spectrometer 26 of, for example, a magnetic type are connected in series in this order. Different from 1.
【0025】図において、64はパージガス用の流量調
節弁、66は流量発信器(FT)、68は開閉弁、72
は、サンプリング系統の切替及び逆洗によるパージを行
うための切替/逆洗シーケンス、80は、パージガス用
の流量調節弁(FICA)82、放散弁/バイパス弁リ
ーク検知シーケンス84、エアリーク検知シーケンス8
6、OG非常停止装置(既設)88、分析計監視画面9
0、アナンシエータメッセージ92を含むOG用デジタ
ル制御装置(OG DCS)である。In the figure, 64 is a flow rate control valve for purge gas, 66 is a flow rate transmitter (FT), 68 is an on-off valve, 72
Is a switching / backwash sequence for switching the sampling system and performing purging by backwashing, 80 is a flow rate control valve (FICA) 82 for purge gas, a leakage valve / bypass valve leak detection sequence 84, and an air leak detection sequence 8
6. OG emergency stop device (existing) 88, analyzer monitor screen 9
0, an OG digital control device (OG DCS) containing an annunciator message 92.
【0026】又、B0〜B2パージは、いずれもOG煙
道へのパージで煙道上流よりA、B、Cの記号を付して
おり、Bパージは放散煙突60へのパージを示す。The B0 to B2 purges are all purges to the OG flue and are labeled A, B and C from the upstream of the flue, and the B purge indicates a purge to the emission chimney 60.
【0027】この設備に本発明を適用した結果、従来に
比べ、排ガス分析不能の期間がなくなり、設備安全性が
向上すると共に、分析装置の修繕費用が10%減少し
た。As a result of applying the present invention to this equipment, there is no period during which exhaust gas analysis cannot be performed, equipment safety is improved, and the repair cost of the analyzer is reduced by 10%.
【0028】なお、前記説明においては、本発明が、上
底吹転炉2基を有する製鋼工場の爆発回避システムに適
用されていたが、本発明の適用対象はこれに限定され
ず、上底吹転炉以外の転炉や他の設備/システムの排ガ
ス分析にも同様に適用できることは明らかである。In the above description, the present invention has been applied to an explosion avoidance system of a steel mill having two upper-bottom blow converters, but the present invention is not limited to this. Obviously, the present invention can be similarly applied to exhaust gas analysis of converters other than blown converters and other equipment / systems.
【0029】[0029]
【発明の効果】本発明によれば、ダスト除去のために、
サンプリング経路に新たな機器を設けたり、又は、サン
プリング経路を長くしたりすることなく、サンプルガス
中の微細ダストを除去することができる。従って、従来
に比べ、サンプリング時間は同レベルのまま、サンプリ
ング経路中に設置された各種フィルタのダストによる詰
まりを防止することができる。According to the present invention, for dust removal,
The fine dust in the sample gas can be removed without providing a new device in the sampling path or making the sampling path long. Therefore, it is possible to prevent various filters installed in the sampling path from being clogged with dust while keeping the sampling time at the same level as before.
【0030】これにより、排ガス分析計の長期安定稼働
を達成することができ、設備の安全性を向上することが
できる。又、排ガス分析計のメンテナンス頻度も削減す
ることができ、修繕費用を削減することができる。As a result, the long-term stable operation of the exhaust gas analyzer can be achieved, and the safety of the equipment can be improved. Further, the frequency of maintenance of the exhaust gas analyzer can be reduced, and the repair cost can be reduced.
【図1】本発明に係るガス分析サンプリング系統の実施
形態を示す管路図FIG. 1 is a pipeline diagram showing an embodiment of a gas analysis sampling system according to the present invention.
【図2】160トン上底吹転炉2基を有する製鋼工場に
適用した本発明の実施例の構成を示す管路図FIG. 2 is a pipeline diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention applied to a steelmaking plant having two 160-ton top-bottom blow converters.
【図3】従来のガス分析サンプリング系統の例を示す管
路図FIG. 3 is a pipeline diagram showing an example of a conventional gas analysis sampling system.
10、11…サンプリングプローブ 12、13…サンプル配管 14、15…ミストフィルタ 16、17…ドレンポット 18、16、40…吸引ポンプ 26、27…ガス分析計 50、51…導水配管 52、53…バンドヒータ 54、55…保温配管 10, 11 ... sampling probe 12, 13 ... sample pipe 14, 15 ... mist filter 16, 17 ... drain pot 18, 16, 40 ... suction pump 26, 27 ... gas analyzer 50, 51 ... water pipe 52, 53 ... band Heaters 54, 55 ... heat insulation pipe
Claims (1)
際して、 サンプルガスから除去されたミスト分を集めるドレンポ
ットの水を加熱して水蒸気を発生させ、 サンプルガス吸引用のサンプル配管に戻すことにより、 サンプルガス中の微細ダストに水蒸気を凝結させて除去
することを特徴とする排ガス分析計のサンプルガス採取
方法。When collecting a sample gas of an exhaust gas analyzer, water in a drain pot for collecting mist removed from the sample gas is heated to generate steam and returned to a sample pipe for sample gas suction. A method for collecting a sample gas of an exhaust gas analyzer, wherein water vapor is condensed and removed from fine dust in the sample gas.
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