JP2001035148A - Data processor - Google Patents

Data processor

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JP2001035148A
JP2001035148A JP11209420A JP20942099A JP2001035148A JP 2001035148 A JP2001035148 A JP 2001035148A JP 11209420 A JP11209420 A JP 11209420A JP 20942099 A JP20942099 A JP 20942099A JP 2001035148 A JP2001035148 A JP 2001035148A
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JP
Japan
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signal
refresh
circuit
dram
time
Prior art date
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Pending
Application number
JP11209420A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Miyamoto
英明 宮本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a data processor, for which a timer circuit is not required for refresh control outside a DRAM, concerning the data processor provided with the DRAM. SOLUTION: A refresh timer circuit 4 for self-refresh mode inside a DRAM 1 periodically generates a time-up signal 6 for performing refresh operation for holding cell data. This time-up signal 6 is generated at all the time in spite of the refresh mode and outputted to an outside of the DRAM 1. This time-up signal 6 is transferred to a DRAM control circuit 5 inside a logic LSI 3. In the DRAM control circuit 5, all access requests from plural control parts inside the logic LSI 3 are waited according to this time-up signal 6 and a control signal 7 is outputted to the DRAM 1 at timing required for the refresh operation.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体記憶装置
又は半導体記憶装置を含むデータ処理装置に関し、詳し
くはダイナミック・ランダムアクセスメモリのリフレッ
シュ技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device or a data processing device including the semiconductor memory device, and more particularly to a refresh technique for a dynamic random access memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ダイナミック・ランダムアクセス
メモリ(以下、単にDRAMと記す)のリフレッシュ制
御は、一般に、DRAMのユーザー(システム作成者
等)がデータ処理装置内(システム・ボード上)に別途
リフレッシュ制御回路を作成し、同リフレッシュ制御回
路からDRAMにリフレッシュ制御信号(アドレス信
号、コマンド信号等)を入力して行われている。その具
体的なリフレッシュ制御方法としては、例えばセルフリ
フレッシュ方式が知られている。尚、以下の記載におい
ては、信号の論理否定を、その対象となる信号の名称の
前に「/」を付して表すこととする。
2. Description of the Related Art Conventionally, refresh control of a dynamic random access memory (hereinafter simply referred to as DRAM) is generally performed by a user of a DRAM (system creator or the like) separately in a data processing device (on a system board). This is performed by creating a control circuit and inputting a refresh control signal (address signal, command signal, etc.) from the refresh control circuit to the DRAM. As a specific refresh control method, for example, a self-refresh method is known. In the following description, the logical negation of a signal is represented by adding "/" in front of the name of the target signal.

【0003】セルフ・リフレッシュ方式とは、リフレッ
シュ・タイマを内蔵し、タイムアップ時に自動的にリフ
レッシュを行うことを可能にしたものである。/CAS
ビフォア/RASリフレッシュのタイミングでDRAM
に信号を与え、その後は/CAS及び/RASの電位を
固定しておくことで自動的にDRAMがリフレッシュを
行う。この方式でリフレッシュを行う場合、/CAS及
び/RASの電位を固定しておく必要があるため、リフ
レッシュ動作の合間に通常動作を行うことはできない。
[0003] The self-refresh system incorporates a refresh timer and enables a refresh to be performed automatically when the time is up. / CAS
DRAM at before / RAS refresh timing
, And after that, the DRAM is automatically refreshed by fixing the potentials of / CAS and / RAS. When refreshing is performed by this method, since the potentials of / CAS and / RAS need to be fixed, normal operation cannot be performed between refresh operations.

【0004】図4に従来のデータ処理装置のブロック図
を示す。DRAM51は、セルフ・リフレッシュモード
用のリフレッシュ・タイマ回路54を有している。この
リフレッシュ・タイマ回路54は、DRAMセルのデー
タ保持のためのリフレッシュ動作を行うためにタイムア
ップ信号を周期的に生成しており、セルフ・リフレッシ
ュモードのときのみ動作する。
FIG. 4 shows a block diagram of a conventional data processing apparatus. The DRAM 51 has a refresh timer circuit 54 for a self-refresh mode. The refresh timer circuit 54 periodically generates a time-up signal for performing a refresh operation for holding data of the DRAM cell, and operates only in the self-refresh mode.

【0005】ロジックLSI53は、DRAM51への
アクセスを制御するDRAM制御回路55を有してい
る。このDRAM制御回路55は、DRAM51への通
常動作を行いながらリフレッシュ動作を行うために、タ
イマ回路58を有している。すなわち、セルフ・リフレ
ッシュ方式ではDRAM51内部のリフレッシュ・タイ
マ回路54は、セルフ・リフレッシュモードの時のみ動
作し、通常動作中は利用できないので、この通常動作中
のリフレッシュ制御を行うために、タイマ回路58が必
要となる。このタイマ回路58は、外部クロックもしく
は内部クロック数をカウントすることでタイムアップ信
号を生成し、このタイムアップ信号に従って、DRAM
制御回路55が制御信号7を介してDRAM51のリフ
レッシュ動作を行う。
[0005] The logic LSI 53 has a DRAM control circuit 55 for controlling access to the DRAM 51. The DRAM control circuit 55 has a timer circuit 58 for performing a refresh operation while performing a normal operation for the DRAM 51. That is, in the self-refresh method, the refresh timer circuit 54 in the DRAM 51 operates only in the self-refresh mode and cannot be used during the normal operation. Therefore, the timer circuit 58 is used to perform the refresh control during the normal operation. Is required. The timer circuit 58 generates a time-up signal by counting the number of external clocks or internal clocks.
The control circuit 55 performs a refresh operation of the DRAM 51 via the control signal 7.

【0006】MPU2はバスを介してロジックLSI5
3を制御している。タイマ回路58の生成するタイムア
ップ信号の周期設定も、MPUにより制御されている。
The MPU 2 is connected to a logic LSI 5 via a bus.
3 is controlled. The cycle setting of the time-up signal generated by the timer circuit 58 is also controlled by the MPU.

【0007】このDRAM制御回路の技術としては、例
えば特開平7−320481号公報に記載された「記憶
装置のリフレッシュ制御回路」が知られている。
As a technique of the DRAM control circuit, for example, a "refresh control circuit of a storage device" described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-320481 is known.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところが従来の構成で
は、ロジックLSIのクロック周波数が変更となった場
合にタイマ回路58を再設計する必要があり、開発期間
の長大化を招く問題がある。
However, in the conventional configuration, it is necessary to redesign the timer circuit 58 when the clock frequency of the logic LSI is changed, and there is a problem that the development period is lengthened.

【0009】また、DRAMのリフレッシュ周期である
ホールドタイム時間は、DRAMの機種により異なるた
め、これに対応するためタイマ回路58にカウント値を
変更するための手段(例えばレジスタ)が必要となり、
チップ面積が肥大する問題がある。更には、カウント値
を変更するための手段をレジスタで構成した場合、この
レジスタへのソフト的な書込み動作が必要となり、開発
コストが増大する問題がある。
The hold time, which is the refresh cycle of the DRAM, differs depending on the type of the DRAM. Therefore, a means (for example, a register) for changing the count value is required in the timer circuit 58 to cope with the change.
There is a problem that the chip area is enlarged. Further, when the means for changing the count value is constituted by a register, a software write operation to the register is required, and there is a problem that the development cost increases.

【0010】この発明は、このような実状に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、DRAMを
含むデータ処理装置において、開発期間短縮、コスト低
減、面積縮小を実現するデータ処理装置を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a data processing apparatus including a DRAM which realizes a reduction in development period, cost, and area. Is to provide.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1に記載のデータ処置装置の発明では、ダ
イナミック型メモリセルから成る半導体記憶装置と、こ
の半導体記憶装置のリフレッシュ動作を行うためのタイ
ムアップ信号を常時周期的に生成するタイマ回路と、前
記タイマ回路の出力信号に応じて前記半導体記憶装置の
リフレッシュ制御を行う信号を生成する制御回路と、を
備えたことを特徴とすることをその要旨とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a data processing apparatus comprising: a semiconductor memory device comprising a dynamic memory cell; and a refresh operation of the semiconductor memory device. A timer circuit that constantly and periodically generates a time-up signal for performing the control, and a control circuit that generates a signal for performing a refresh control of the semiconductor memory device according to an output signal of the timer circuit. The main point is to do.

【0012】このような構成によれば、半導体記憶装置
のタイマ回路が、セルフ・リフレッシュモードであるか
否かに関わらずタイムアップ信号を生成することができ
る。そして、このタイムアップ信号をリフレッシュ動作
の制御を行う制御回路が取り込むことにより、タイムア
ップ信号が出力される度に制御回路がリフレッシュのタ
イミングで制御信号を出力することができる。その結
果、制御回路には、半導体記憶装置のリフレッシュのた
めのタイマ回路が必要なくなる。
According to such a configuration, the timer circuit of the semiconductor memory device can generate a time-up signal regardless of whether the self-refresh mode is set. The time-up signal is taken in by the control circuit that controls the refresh operation, so that the control circuit can output the control signal at the refresh timing every time the time-up signal is output. As a result, the control circuit does not need a timer circuit for refreshing the semiconductor memory device.

【0013】また、請求項2に記載のデータ処置装置の
発明では、前記タイムアップ信号を生成する周期を設定
する回路を備えたことを特徴とすることをその要旨とす
る。
The data processing apparatus according to the second aspect of the present invention is characterized in that a circuit for setting a cycle for generating the time-up signal is provided.

【0014】このような構成によれば、予め周波数を設
定した回路に従って半導体記憶装置が必要とするリフレ
ッシュ時間を満足するようタイムアップ信号が生成され
るので、リフレッシュ周期の設定が必要なくなる。
According to such a configuration, a time-up signal is generated according to a circuit in which a frequency is set in advance so as to satisfy a refresh time required by the semiconductor memory device, so that setting of a refresh cycle is not required.

【0015】また、請求項3に記載のデータ処置装置の
発明では、ダイナミック型メモリセルから成る半導体記
憶装置と、この半導体記憶装置のリフレッシュ動作を行
うためにタイムアップ信号を周期的に生成するタイマ回
路と、前記半導体記憶装置のリフレッシュ動作の制御を
行う制御回路と、で構成されるデータ処理装置におい
て、前記タイマ回路は、常時基本クロックを発振する回
路と、前記基本クロックを分周する回路と、リフレッシ
ュ周期を設定する回路と、前記分周回路が生成する複数
のクロックのうち1つを前記設定回路の出力信号により
選択し外部に出力する回路とを備え、前記制御回路は、
前記タイマ回路の出力信号に応じて前記半導体記憶装置
のリフレッシュ制御を行う信号を生成することを特徴と
することをその要旨とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a data processing apparatus, comprising: a semiconductor memory device comprising a dynamic memory cell; and a timer for periodically generating a time-up signal for performing a refresh operation of the semiconductor memory device. In a data processing device including a circuit and a control circuit that controls a refresh operation of the semiconductor memory device, the timer circuit includes a circuit that constantly oscillates a basic clock and a circuit that divides the basic clock. A circuit that sets a refresh cycle, and a circuit that selects one of a plurality of clocks generated by the frequency dividing circuit based on an output signal of the setting circuit and outputs the selected signal to the outside, and the control circuit includes:
The gist of the invention is that a signal for performing refresh control of the semiconductor memory device is generated according to an output signal of the timer circuit.

【0016】このような構成によれば、常時基本クロッ
クを発生させるので、半導体記憶装置のタイマ回路が発
生するタイムアップ信号を、セルフ・リフレッシュモー
ドであるか否かに関わらず生成することができる。そし
て、このタイムアップ信号をリフレッシュ動作の制御を
行う制御回路が取り込むことにより、タイムアップ信号
が出力される度に制御回路がリフレッシュのタイミング
で制御信号を出力することができる。その結果、制御回
路には、半導体記憶装置のリフレッシュのためのタイマ
回路が必要なくなる。
According to this configuration, since the basic clock is always generated, the time-up signal generated by the timer circuit of the semiconductor memory device can be generated regardless of whether the self-refresh mode is set. . The time-up signal is taken in by the control circuit that controls the refresh operation, so that the control circuit can output the control signal at the refresh timing every time the time-up signal is output. As a result, the control circuit does not need a timer circuit for refreshing the semiconductor memory device.

【0017】また、予め周波数を設定した回路に従って
半導体記憶装置が必要とするリフレッシュ時間を満足す
るようタイムアップ信号が生成されるので、リフレッシ
ュ周期の設定が必要なくなる。
Further, since a time-up signal is generated according to a circuit whose frequency is set in advance so as to satisfy a refresh time required by the semiconductor memory device, it is not necessary to set a refresh cycle.

【0018】尚、上記タイムアップ信号は、半導体記憶
装置のリフレッシュ動作を起動するためのタイミング信
号のことである。
The time-up signal is a timing signal for starting a refresh operation of the semiconductor memory device.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明のデータ処理装置の実施形
態を図面に基づいて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a data processing apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.

【0020】図1は本発明の実施の形態にかかるデータ
処理装置の構成を概略的に示すブロック図である。DR
AM1は、セルフ・リフレッシュモード用のリフレッシ
ュ・タイマ回路4を有する。このリフレッシュ・タイマ
回路4は、DRAMセルのデータ保持のためのリフレッ
シュ動作を行うために、タイムアップ信号6を周期的に
生成している。このタイムアップ信号6は、セルフ・リ
フレッシュモードにエントリされているか否かに関わら
ず生成され、DRAM1の外部に出力される。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing a configuration of a data processing device according to an embodiment of the present invention. DR
AM1 has a refresh timer circuit 4 for the self-refresh mode. The refresh timer circuit 4 periodically generates a time-up signal 6 in order to perform a refresh operation for holding data of the DRAM cell. This time-up signal 6 is generated irrespective of whether or not the self-refresh mode has been entered, and is output to the outside of the DRAM 1.

【0021】そして、このタイムアップ信号6をロジッ
クLSI3に入力し、ロジックLSI3の内部に設けら
れたDRAM制御回路5に伝達する。DRAM制御回路
5では、ロジックLSI3の内部の複数の制御部からの
DRAMアクセス要求の調停を行っているが、このDR
AM1からのタイムアップ信号6に従って、ロジックL
SI3内部の複数の制御部からのアクセス要求を全て待
たせ、リフレッシュ動作に必要なタイミングで制御信号
7をDRAM1に対して出力する。尚、DRAM1が本
発明の半導体記憶装置に相当する。
Then, the time-up signal 6 is input to the logic LSI 3 and transmitted to the DRAM control circuit 5 provided inside the logic LSI 3. The DRAM control circuit 5 arbitrates DRAM access requests from a plurality of control units inside the logic LSI 3.
According to the time-up signal 6 from AM1, the logic L
All the access requests from the plurality of control units inside the SI 3 are made to wait, and the control signal 7 is output to the DRAM 1 at a timing necessary for the refresh operation. Note that the DRAM 1 corresponds to the semiconductor memory device of the present invention.

【0022】図2に本発明の実施形態にかかるDRAM
内部のリフレッシュ・タイマ回路4の一例を示す。従来
のセルフ・リフレッシュ用のリフレッシュ・タイマ回路
は、消費電流を低減するために、/CASビフォア/R
ASというDRAM制御信号の入力方法でセルフ・リフ
レッシュモードとなった場合のみ回路動作を開始する
が、本発明ではこの入力方法に関わらず常時リフレッシ
ュ・タイマ回路を動作させておく。
FIG. 2 shows a DRAM according to an embodiment of the present invention.
One example of the internal refresh timer circuit 4 is shown. The conventional refresh timer circuit for self-refresh uses / CAS before / R to reduce current consumption.
The circuit operation is started only when the self-refresh mode is set by the DRAM control signal input method AS, but in the present invention, the refresh timer circuit is always operated regardless of this input method.

【0023】即ち、従来はリングオシレータ内部にNA
NDゲートを配置して、セルフ・リフレッシュモード時
以外はこのNANDゲートの片側に“L”を入力する方
法を採用することにより、リングオシレータの発振を停
止していたが、本実施形態のリングオシレータ8は、モ
ードによって発振を停止させるゲートを使用しないこと
により、常時基本クロック9を発振させている。
That is, in the prior art, the NA inside the ring oscillator is
The oscillation of the ring oscillator is stopped by arranging the ND gate and adopting the method of inputting "L" to one side of the NAND gate except in the self-refresh mode. Reference numeral 8 always oscillates the basic clock 9 by not using a gate for stopping oscillation depending on the mode.

【0024】リングオシレータ8で生成した内部基本ク
ロック9は、TFF(ToggleFlip Flo
p)10で周波数を2倍、4倍と分周する。セレクター
12はTFF10の出力する複数の基本クロックの分周
クロックのうち1つを選択して出力する。即ち、TFF
10により基本クロック9の整数(2のべき乗)倍した
周波数の複数信号を生成し、これらのうち1つをセレク
ター12により選択し、これをタイムアップ信号6とし
ている。
The internal basic clock 9 generated by the ring oscillator 8 is a TFF (Toggle Flip Flood).
In p) 10, the frequency is divided into two and four times. The selector 12 selects and outputs one of the divided clocks of the plurality of basic clocks output from the TFF 10. That is, TFF
A plurality of signals having a frequency multiplied by an integer (power of 2) of the basic clock 9 are generated by 10, and one of them is selected by the selector 12, and this is used as the time-up signal 6.

【0025】セレクター12でどの周波数の信号を選択
するかは、周波数設定ROM11からの信号に従って行
う。周波数設定ROM11には、予めDRAM1が必要
とするリフレッシュ時間が、レジスタやヒューズなどに
より与えられている。
The frequency signal to be selected by the selector 12 is determined according to the signal from the frequency setting ROM 11. A refresh time required by the DRAM 1 is given in advance to the frequency setting ROM 11 by a register, a fuse, or the like.

【0026】このようにして、タイムアップ信号6が生
成され、これを外部に出力する。また、このタイムアッ
プ信号6は、DRAM内部のリフレッシュ動作の大元の
信号にもなっている。本実施形態では、セルフ・リフレ
ッシュモード以外のときにこの信号で内部が動作しない
ように、DRAM内部のリフレッシュ動作の信号には、
セルフ・リフレッシュモード判定回路13の出力をタイ
ムアップ信号にゲートした信号である内部/RAS14
を使用する。尚、リングオシレータ8が本発明の常時基
本クロックを発振する回路に相当する。また、TFF1
0が本発明の基本クロックを分周する回路に相当する。
また、周波数設定ROM11が本発明のタイムアップ信
号を生成する周期を設定する回路、またはリフレッシュ
周期を設定する回路に相当する。また、セレクター12
が本発明の分周回路が生成する複数のクロックのうち1
つを設定回路の出力信号により選択しタイムアップ信号
として外部に出力する回路に相当する。
In this way, the time-up signal 6 is generated and output to the outside. Further, the time-up signal 6 is also an original signal of the refresh operation inside the DRAM. In the present embodiment, the refresh operation signal inside the DRAM includes a signal for a refresh operation inside the DRAM so that the signal does not operate internally in a mode other than the self refresh mode.
Internal / RAS 14 which is a signal obtained by gating the output of self-refresh mode determination circuit 13 to a time-up signal
Use Note that the ring oscillator 8 corresponds to a circuit for constantly oscillating the basic clock of the present invention. Also, TFF1
0 corresponds to the circuit for dividing the basic clock of the present invention.
Further, the frequency setting ROM 11 corresponds to a circuit for setting a cycle for generating a time-up signal of the present invention or a circuit for setting a refresh cycle. Also, the selector 12
Is one of a plurality of clocks generated by the frequency dividing circuit of the present invention.
One is selected by the output signal of the setting circuit, and corresponds to a circuit that outputs the time-out signal to the outside.

【0027】図3に本発明の実施形態にかかるデータ処
置装置の、DRAM1とロジックLSI3間の信号のタ
イミングチャートの一例を示す。ロジックLSI3は演
算処理のための命令やデータの一時記憶として、DRA
M1に対して書込み動作や読み出し動作を行う。この書
込み動作や読み出し動作を通常動作と呼ぶ。そして、タ
イムアップ信号6が発生する(この例の場合は正パル
ス)までは、ロジックLSI3からDRAM1に対し
て、制御信号7を介して通常動作を行う。
FIG. 3 shows an example of a timing chart of signals between the DRAM 1 and the logic LSI 3 in the data processing apparatus according to the embodiment of the present invention. The logic LSI 3 has a DRA as a temporary storage of instructions and data for arithmetic processing.
A write operation and a read operation are performed on M1. This write operation or read operation is called a normal operation. Until the time-up signal 6 is generated (a positive pulse in this example), the logic LSI 3 performs a normal operation on the DRAM 1 via the control signal 7.

【0028】図3の例では、/RASと/CASに対し
てページモード動作に必要なタイミングで出力してい
る。前回のリフレッシュ動作から、DRAM1のリフレ
ッシュ動作が必要な時間が経過すると、DRAM1はタ
イムアップ信号6を出力し、これがロジックLSI3に
入力される。
In the example of FIG. 3, the signals are output to / RAS and / CAS at timings necessary for the page mode operation. When the time required for the refresh operation of the DRAM 1 elapses from the previous refresh operation, the DRAM 1 outputs a time-up signal 6, which is input to the logic LSI 3.

【0029】このDRAM1からロジックLSI3への
タイムアップ信号6は、ロジックLSI3の外部(内
部)クロックとは非同期であるため、これをロジックL
SI3の外部(内部)クロックと同期化する。この同期
化信号の発生により、ロジックLSI3内部のDRAM
制御回路5はDRAM1への通常動作のための制御信号
の出力を中断し、リフレッシュ動作のための制御信号の
出力に移行する(図では/CASビフォア/RASリフ
レッシュ信号を出力)。
Since the time-up signal 6 from the DRAM 1 to the logic LSI 3 is asynchronous with an external (internal) clock of the logic LSI 3,
Synchronize with the external (internal) clock of SI3. Due to the generation of this synchronization signal, the DRAM inside the logic LSI 3
The control circuit 5 interrupts the output of the control signal for the normal operation to the DRAM 1 and shifts to the output of the control signal for the refresh operation (outputs the / CAS before / RAS refresh signal in the figure).

【0030】即ち、DRAM制御回路5は、同期化した
タイムアップ信号を受けて、通常動作を中断するために
/RASと/CASを“H”に戻す。続けて/CASビ
フォア/RASリフレッシュのタイミングで/RASと
/CASに信号を与える。DRAM1は/CASビフォ
ア/RASリフレッシュのタイミングで/RASと/C
ASを入力することによりリフレッシュ動作を行う。そ
してリフレッシュ動作が終了した後、再度リフレッシュ
動作前の通常動作に戻る。タイムアップ信号がDRAM
1からロジックLSI3に出力される度に、以上の動作
が繰り返されることになる。
That is, upon receiving the synchronized time-up signal, the DRAM control circuit 5 returns / RAS and / CAS to "H" to interrupt the normal operation. Subsequently, signals are applied to / RAS and / CAS at the timing of / CAS before / RAS refresh. At the timing of / CAS before / RAS refresh, DRAM 1 outputs / RAS and / C
The refresh operation is performed by inputting AS. After the refresh operation ends, the operation returns to the normal operation before the refresh operation again. Time-up signal is DRAM
The above operation is repeated every time the signal is output from 1 to the logic LSI 3.

【0031】以上説明したように、上記の実施形態のデ
ータ処理装置によれば、以下のような効果を得ることが
できる。
As described above, according to the data processing apparatus of the above embodiment, the following effects can be obtained.

【0032】(1)本実施形態によれば、リングオシレ
ータ8を常時動作させるので、DRAM1内部のリフレ
ッシュ・タイマ4が発生するタイムアップ信号6を、セ
ルフ・リフレッシュモードであるか否かに関わらず生成
することができる。そして、このタイムアップ信号6を
ロジックLSI3が取り込むことにより、タイムアップ
信号が出力される度にロジックLSI3内部のDRAM
制御回路5がリフレッシュのタイミングで制御信号7を
出力することができる。その結果、ロジックLSI3内
部のDRAM制御回路5は、DRAM1のリフレッシュ
のためのタイマ回路が必要なくなるので、開発期間短縮
やチップ面積縮小を実現することが可能となる。
(1) According to the present embodiment, since the ring oscillator 8 is always operated, the time-up signal 6 generated by the refresh timer 4 in the DRAM 1 is output regardless of whether or not the self-refresh mode is set. Can be generated. The time-up signal 6 is taken in by the logic LSI 3, so that the DRAM inside the logic LSI 3 is output every time the time-up signal is output.
The control circuit 5 can output the control signal 7 at a refresh timing. As a result, the DRAM control circuit 5 in the logic LSI 3 does not need a timer circuit for refreshing the DRAM 1, so that the development period and the chip area can be reduced.

【0033】(2)本実施形態によれば、予めレジスタ
やヒューズなどで構成される周波数設定ROM11に従
ってDRAM1が必要とするリフレッシュ時間を満足す
るようタイムアップ信号6が生成され、この信号が出力
される度にロジックLSI3内部のDRAM制御回路5
が自動的にリフレッシュ動作のための制御信号7を出力
する。これにより、MPU2によるロジックLSI3へ
のリフレッシュ周期の設定が必要なくなるので、MPU
ソフトが簡略化でき、MPU開発コスト低減を実現する
ことが可能となる。
(2) According to the present embodiment, the time-up signal 6 is generated in advance according to the frequency setting ROM 11 composed of registers, fuses and the like so as to satisfy the refresh time required by the DRAM 1, and this signal is output. Every time the DRAM control circuit 5 in the logic LSI 3
Automatically outputs the control signal 7 for the refresh operation. This eliminates the need for the MPU 2 to set the refresh cycle for the logic LSI 3.
Software can be simplified and MPU development cost can be reduced.

【0034】尚、上記各実施の形態は以下のように構成
を変更して実施することも可能である。
It is to be noted that each of the above-described embodiments can be implemented by changing the configuration as follows.

【0035】(1)上記実施形態においては、DRAM
制御回路5がロジックLSI3の内部にある構成である
が、DRAM制御回路5が独立のLSIであってもよ
い。
(1) In the above embodiment, the DRAM
Although the control circuit 5 is configured inside the logic LSI 3, the DRAM control circuit 5 may be an independent LSI.

【0036】(2)上記実施形態においては、ロジック
LSI3はMPU2であってもよい。
(2) In the above embodiment, the logic LSI 3 may be the MPU 2.

【0037】(3)上記実施形態においては、ロジック
LSI3はMPU2を含む構成であってもよい。
(3) In the above embodiment, the logic LSI 3 may include the MPU 2.

【0038】(4)上記実施形態においては、MPU2
やロジックLSI3、及びDRAM1は同一LSIを構
成するブロックであってもよい。
(4) In the above embodiment, the MPU 2
And the logic LSI 3 and the DRAM 1 may be blocks constituting the same LSI.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明のデータ処理装置によれば、従
来、制御回路に内蔵されていた通常動作時にリフレッシ
ュ動作を行うためのタイマ回路が不要になり、そのぶん
開発期間短縮、コスト低減、面積縮小を実現することが
できる。
According to the data processing apparatus of the present invention, the timer circuit for performing the refresh operation at the time of the normal operation, which is conventionally built in the control circuit, becomes unnecessary, and the development period is shortened, the cost is reduced, and the area is reduced. Reduction can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明にかかる実施の形態を示すデータ処
理装置のブロック構成図。
FIG. 1 is a block diagram of a data processing device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 この発明にかかる実施の形態を示す半導体記
憶装置内部のリフレッシュ・タイマーの回路図。
FIG. 2 is a circuit diagram of a refresh timer inside the semiconductor memory device according to the embodiment of the present invention;

【図3】 この発明にかかる実施の形態を示すデータ処
理装置の、DRAMとロジックLSI間の信号のタイミ
ングチャート図。
FIG. 3 is a timing chart of signals between a DRAM and a logic LSI in the data processing device according to the embodiment of the present invention;

【図4】 従来のデータ処理装置のブロック構成図。FIG. 4 is a block diagram of a conventional data processing device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…DRAM 2…MPU 3…ロジックLSI 4…リフレッシュ・タイマ 5…DRAM制御回路 6…タイムアップ信号 7…DRAM制御信号 8…リングオシレータ 9…リフレッシュ基本クロック 10…TFF 11…リフレッシュ周期設定ROM 12…セレクター 13…セルフ・リフレッシュモード判定回路 14…内部/RAS DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... DRAM 2 ... MPU 3 ... Logic LSI 4 ... Refresh timer 5 ... DRAM control circuit 6 ... Time-up signal 7 ... DRAM control signal 8 ... Ring oscillator 9 ... Refresh basic clock 10 ... TFF 11 ... Refresh cycle setting ROM 12 ... Selector 13: Self-refresh mode determination circuit 14: Internal / RAS

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ダイナミック型メモリセルから成る半導
体記憶装置と、 この半導体記憶装置のリフレッシュ動作を行うためのタ
イムアップ信号を常時周期的に生成するタイマ回路と、 前記タイマ回路の出力信号に応じて前記半導体記憶装置
のリフレッシュ制御を行う信号を生成する制御回路と、
を備えたことを特徴とするデータ処理装置。
A semiconductor memory device comprising a dynamic memory cell; a timer circuit for constantly generating a time-up signal for performing a refresh operation of the semiconductor memory device; and a timer circuit according to an output signal of the timer circuit. A control circuit for generating a signal for performing refresh control of the semiconductor memory device;
A data processing device comprising:
【請求項2】 前記タイムアップ信号を生成する周期を
設定する回路を備えたことを特徴とする請求項1に記載
のデータ処理装置
2. The data processing apparatus according to claim 1, further comprising a circuit for setting a cycle for generating the time-up signal.
【請求項3】 ダイナミック型メモリセルから成る半導
体記憶装置と、この半導体記憶装置のリフレッシュ動作
を行うためのタイムアップ信号を周期的に生成するタイ
マ回路と、前記半導体記憶装置のリフレッシュ動作の制
御を行う制御回路と、で構成されるデータ処理装置にお
いて、 前記タイマ回路は、常時基本クロックを発振する回路
と、前記基本クロックを分周する回路と、リフレッシュ
周期を設定する回路と、前記分周回路が生成する複数の
クロックのうち1つを前記設定回路の出力信号により選
択しタイムアップ信号として外部に出力する回路と、を
備え、 前記制御回路は、前記タイマ回路の出力信号に応じて前
記半導体記憶装置のリフレッシュ制御を行う信号を生成
することを特徴とするデータ処理装置。
3. A semiconductor memory device comprising a dynamic memory cell, a timer circuit for periodically generating a time-up signal for performing a refresh operation of the semiconductor memory device, and controlling a refresh operation of the semiconductor memory device. A timer circuit, a circuit that constantly oscillates a basic clock, a circuit that divides the basic clock, a circuit that sets a refresh cycle, and a frequency divider circuit. A circuit which selects one of a plurality of clocks generated by the output circuit from the output signal of the setting circuit and outputs the selected signal to the outside as a time-up signal, wherein the control circuit controls the semiconductor in response to an output signal of the timer circuit. A data processing device for generating a signal for performing refresh control of a storage device.
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