JP2001014218A - Memory module and memory system - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、メモリシステムに
おける高速動作技術に関し、特に、複数のメモリにより
構成されたメモリモジュールにおけるデータ転送の高速
化に適用して有効な技術に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a high-speed operation technique in a memory system, and more particularly to a technique effective when applied to a high-speed data transfer in a memory module including a plurality of memories.
【0002】[0002]
【従来の技術】本発明者が検討したところによれば、た
とえば、パーソナルコンピュータなどに設けられている
メモリシステムは、EDO DRAM(Extende
d Data Out Dynamic Random
Access Memory)やSDRAM(Syn
crhronous DRAM)など複数のメモリと、
それらメモリを制御するメモリコントローラとによって
構成されている。2. Description of the Related Art According to studies made by the present inventor, for example, a memory system provided in a personal computer or the like is an EDO DRAM (Extende).
d Data Out Dynamic Random
Access Memory) and SDRAM (Syn)
a plurality of memories, such as a chronous DRAM)
And a memory controller for controlling these memories.
【0003】このメモリシステムでは、複数のメモリが
1つのメモリコントローラに接続されており、アドレス
信号やカラムアドレス制御信号などチップイネーブル信
号以外のメモリ制御信号は全てのメモリの信号端子がメ
モリコントローラの信号端子に並列接続されている。In this memory system, a plurality of memories are connected to one memory controller, and memory control signals other than a chip enable signal such as an address signal and a column address control signal are all signal terminals of the memory controller. The terminals are connected in parallel.
【0004】また、データ信号はあるバス幅を構成でき
る数のメモリを1セットとして、複数のセットの各々対
応する位置にあるメモリのデータ信号端子がメモリコン
トローラにおけるデータ信号端子に並列接続されてい
る。[0004] Further, the data signal is a set of a number of memories capable of forming a certain bus width, and the data signal terminals of the memories at the corresponding positions of the plurality of sets are connected in parallel to the data signal terminals of the memory controller. .
【0005】たとえば、64ビットのデータバスを備え
たメモリシステムを8ビットのI/Oを有するメモリを
64個で構成した場合には、それらすべてのメモリの制
御信号端子がメモリコントローラの対応する制御信号端
子に並列接続されており、該メモリコントローラに設け
られた1つのデータ信号端子あたり8つのメモリにおけ
るデータ信号端子が並列接続されている。データの読み
書きは、1つのデータバス配線に接続している8つのメ
モリのうち、チップイネーブル信号で選択された1つの
メモリに対して行われる。For example, when a memory system having a 64-bit data bus is composed of 64 memories having 8-bit I / Os, the control signal terminals of all the memories have corresponding control terminals of the memory controller. The signal terminals are connected in parallel, and the data signal terminals of eight memories are connected in parallel for each data signal terminal provided in the memory controller. Data read / write is performed for one memory selected by the chip enable signal among the eight memories connected to one data bus line.
【0006】さらに、これらメモリの実装技術として
は、プリント配線基板の両面に8個のメモリをそれぞれ
搭載した、いわゆる、DIMM(Dual Inlin
e Memory Module)が広く用いられてお
り、このDIMMを4枚用いて、それらの端子とメモリ
コントローラとをマザーボード上の配線とDIMMソケ
ットとを介して並列接続している。Further, as a technique for mounting these memories, a so-called DIMM (Dual Inlin) in which eight memories are mounted on both sides of a printed wiring board, respectively.
e Memory Module) is widely used, and these four DIMMs are used to connect their terminals and the memory controller in parallel via wiring on the motherboard and DIMM sockets.
【0007】なお、この種のメモリシステムについて詳
しく述べてある例としては、1990年8月30日、日
刊工業新聞社発行、鈴木八十二(編著)「半導体MOS
メモリとその使い方」P114〜P126があり、この
文献には、メモリ拡張用DRAMボードの回路構成や動
作などが記載されている。As an example describing this type of memory system in detail, see "Semiconductor MOS", published by Nikkan Kogyo Shimbun on August 30, 1990, edited by Yasuji Suzuki (ed.).
Memory and How to Use It "P114 to P126, and this document describes the circuit configuration and operation of a memory expansion DRAM board.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
なメモリシステムでは、次のような問題点があることが
本発明者により見い出された。However, the present inventors have found that the above-mentioned memory system has the following problems.
【0009】すなわち、1つのメモリコントローラに対
して複数のメモリが並列接続されているので、該メモリ
コントローラとチップイネーブル信号によって選択され
たメモリとの間で制御信号やデータ信号を送受信する場
合であっても、動作していないその他のメモリの入力容
量やそこに接続するプリント配線基板やソケット、DI
MMにおけるプリント配線基板上の分岐配線の寄生容量
を充放電しなければならず、制御信号やデータ信号の転
送速度が上げにくく、データ転送に要する電力も大きく
なってしまうという問題がある。That is, since a plurality of memories are connected in parallel to one memory controller, control signals and data signals are transmitted and received between the memory controller and the memory selected by the chip enable signal. However, the input capacity of other memory that is not operating and the printed wiring board and socket connected to it, DI
The parasitic capacitance of the branch wiring on the printed wiring board in the MM must be charged / discharged, so that it is difficult to increase the transfer speed of control signals and data signals, and the power required for data transfer increases.
【0010】また、制御信号配線やデータ信号配線に
は、多くの分岐があり、そこで特性インピーダンスが不
連続になっているために信号の多重反射が起こり信号波
形が乱れてしまうことになるが、この信号波形の乱れの
影響を受けないように安定にデータを転送するためには
転送速度を低下させなければならず、スピードの遅いメ
モリシステムになってしまうという問題もある。[0010] In addition, the control signal wiring and the data signal wiring have many branches, and the characteristic impedance is discontinuous there, so that multiple reflection of the signal occurs and the signal waveform is disturbed. In order to transfer data stably so as not to be affected by the disturbance of the signal waveform, the transfer speed must be reduced, and there is a problem that the memory system becomes slow.
【0011】さらに、並列接続された複数のメモリのう
ち、もっともメモリコントローラに近い場所にあるメモ
リからのデータ信号が到着するタイミングと、最も遠い
メモリからのデータ信号が到着するタイミングとが異な
るため、メモリコントローラがデータ信号を受信するタ
イムウィンドウを広くとる必要があり、この場合もメモ
リシステムにおける高速化の妨げになるという問題があ
る。Further, among a plurality of memories connected in parallel, the timing at which a data signal from the memory closest to the memory controller arrives differs from the timing at which a data signal from the farthest memory arrives. It is necessary for the memory controller to have a wide time window for receiving the data signal, and in this case also, there is a problem that the speed up in the memory system is hindered.
【0012】本発明の目的は、信号の転送速度を高速化
し、消費電力を大幅に低減することのできるメモリモジ
ュールおよびメモリシステムを提供することにある。An object of the present invention is to provide a memory module and a memory system capable of increasing a signal transfer speed and greatly reducing power consumption.
【0013】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。SUMMARY OF THE INVENTION Among the inventions disclosed in the present application, the outline of a representative one will be briefly described.
It is as follows.
【0015】すなわち、本発明のメモリモジュールは、
少なくとも2つの半導体メモリと、チップイネーブル信
号に基づいて1つの半導体メモリを選択し、選択された
半導体メモリだけに制御信号ならびにデータ信号を入出
力するメモリコントロール手段とを設けたものである。That is, the memory module of the present invention comprises:
At least two semiconductor memories and memory control means for selecting one semiconductor memory based on a chip enable signal and inputting / outputting a control signal and a data signal only to the selected semiconductor memory are provided.
【0016】また、本発明のメモリモジュールは、前記
メモリコントロール手段が、対応するチップイネーブル
信号と書き込みようのデータ信号との論理積を演算する
第1の演算回路と、対応するチップイネーブル信号と読
み出し用のデータ信号との論理積を演算する第2の演算
回路と、対応するチップイネーブル信号とアドレス信号
との論理積を演算する第3の演算回路とよりなり、チッ
プイネーブル信号により選択された半導体メモリに対応
する第1〜第3の演算回路の演算結果を出力するもので
ある。Also, in the memory module of the present invention, the memory control means calculates a logical product of a corresponding chip enable signal and a data signal to be written, and a corresponding chip enable signal and a read operation. A second arithmetic circuit for calculating the logical product of the data signal for use with the third chip and a third arithmetic circuit for calculating the logical product of the corresponding chip enable signal and the address signal, and a semiconductor selected by the chip enable signal It outputs the calculation results of the first to third calculation circuits corresponding to the memories.
【0017】さらに、本発明のメモリモジュールは、前
記半導体メモリが、ある一辺の端部近傍における主面に
接続用端子が設けられたメモリ用半導体チップからな
り、前記メモリコントロール手段が、メモリ用半導体チ
ップの接続用端子に対応する接続用端子が主面に設けら
れたコントロール用半導体チップからなり、下側に位置
するメモリ用半導体チップの裏面が、上側に位置するメ
モリ用半導体チップの主面に重なり、かつ上側に位置す
るメモリ用半導体チップにおける接続用端子が、下側に
位置するメモリ用半導体チップにおける端部から突出す
るようにずらして積層し、それら積層された少なくとも
2つのメモリ用半導体チップの主面がコントロール用半
導体チップの主面に向かい合うように積層し、対向する
メモリ用半導体チップの接続用端子とコントロール用半
導体チップの接続用端子とを柱状の導電体で接続したも
のである。Further, in the memory module according to the present invention, the semiconductor memory comprises a memory semiconductor chip having a connection terminal provided on a main surface near an end of one side, and the memory control means includes a memory semiconductor chip. The connection terminals corresponding to the connection terminals of the chip consist of a control semiconductor chip provided on the main surface, and the back surface of the lower memory semiconductor chip is connected to the main surface of the upper memory semiconductor chip. At least two of the stacked memory semiconductor chips are stacked so that the connection terminals of the memory semiconductor chip located on the upper side overlap and protrude from the end of the memory semiconductor chip located on the lower side. The memory chip is stacked so that the main surface of the memory chip faces the main surface of the control semiconductor chip. Of the connection terminals of the semiconductor chip connection terminals and control being connected by the columnar conductor.
【0018】また、本発明のメモリモシステムは、少な
くとも1つの前記メモリモジュールと、電子装置全体の
制御を司るシステムコントローラとを有するものであ
る。A memory system according to the present invention includes at least one of the memory modules and a system controller that controls the entire electronic device.
【0019】さらに、本発明のメモリモシステムは、少
なくとも2つの半導体メモリと、チップイネーブル信号
に基づいて前記半導体メモリを選択し、選択された半導
体メモリだけに制御信号ならびにデータ信号を入出力す
るメモリコントロール手段と、電子装置全体の制御を司
るシステムコントローラとよりなり、半導体メモリが、
ある一辺の端部近傍における主面に接続用端子が設けら
れたメモリ用半導体チップからなり、メモリコントロー
ル手段、ならびにシステムコントローラが、メモリ用半
導体チップの接続用端子に対応する接続用端子が主面に
設けられた1つのシステム用半導体チップからなり、下
側に位置する前記メモリ用半導体チップの裏面が、上側
に位置するメモリ用半導体チップの主面に重なり、かつ
上側に位置するメモリ用半導体チップにおける接続用端
子を、下側に位置するメモリ用半導体チップにおける端
部から突出するようにずらして積層し、それら積層され
た少なくとも2つのメモリ用半導体チップの主面がシス
テム用半導体チップの主面に向かい合うように積層し、
対向するメモリ用半導体チップの接続用端子とシステム
用半導体チップの接続用端子とを柱状の導電体で接続し
たものである。Further, the memory system according to the present invention is a memory for selecting at least two semiconductor memories based on a chip enable signal and for inputting / outputting a control signal and a data signal only to the selected semiconductor memories. The semiconductor memory comprises control means and a system controller for controlling the entire electronic device.
A memory semiconductor chip provided with connection terminals on a main surface near an end of a certain side; the memory control means and the system controller are configured such that the connection terminals corresponding to the connection terminals of the memory semiconductor chip are formed on the main surface; , The lower surface of the lower memory semiconductor chip overlaps the main surface of the upper memory semiconductor chip, and the upper semiconductor memory chip Are stacked so as to protrude from the end of the lower memory semiconductor chip, and the main surfaces of at least two of the stacked memory semiconductor chips are the main surface of the system semiconductor chip. Laminated to face each other,
The connection terminals of the memory semiconductor chip and the connection terminals of the system semiconductor chip which are opposed to each other are connected by a columnar conductor.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0021】図1は、本発明の一実施の形態によるメモ
リシステムの構成図、図2は、本発明の一実施の形態に
よるメモリモジュールの断面図、図3は、本発明の一実
施の形態によるメモリモジュールに備えられたメモリコ
ントローラにおける接続用端子の説明図、図4は、本発
明の一実施の形態によるメモリモジュールの回路接続構
成の説明図、図5は、本発明の一実施の形態によるメモ
リモジュールにおける寄生容量の説明図、図6は、本発
明者が検討したメモリモジュールの回路接続構成の説明
図、図7は、本発明者が検討したメモリモジュールにお
ける寄生容量の説明図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a memory system according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of a memory module according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram of a connection terminal in a memory controller provided in a memory module according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram of a circuit connection configuration of a memory module according to an embodiment of the present invention. FIG. 6 is an explanatory diagram of the circuit connection configuration of the memory module studied by the present inventors, and FIG. 7 is an explanatory diagram of the parasitic capacitance in the memory module studied by the present inventors. .
【0022】本実施の形態において、メモリシステム1
は、たとえば、パーソナルコンピュータ(電子装置)な
どに備えられている。メモリシステム1は、図1に示す
ように、システムコントローラ2、ならびにメモリモジ
ュール3によって構成されている。In the present embodiment, the memory system 1
Is provided, for example, in a personal computer (electronic device). The memory system 1 includes a system controller 2 and a memory module 3, as shown in FIG.
【0023】システムコントローラ2は、パーソナルコ
ンピュータ全体におけるハードウェアの制御を司る。メ
モリモジュール3は、メモリコントローラ(メモリコン
トロール手段、コントロール用半導体チップ)3aと、
DRAM半導体装置からなる複数のメモリ3bとにより
構成されている。メモリコントローラ3aは、システム
コントローラの制御信号に基づいてメモリモジュール3
の制御を司る。The system controller 2 controls hardware of the entire personal computer. The memory module 3 includes a memory controller (memory control means, control semiconductor chip) 3a,
And a plurality of memories 3b composed of DRAM semiconductor devices. The memory controller 3a stores the memory module 3 based on a control signal of the system controller.
Oversee the control of
【0024】また、メモリシステム1の構成について図
2、図3を用いて説明する。ここでは、複数のメモリ3
bが4つのメモリ(半導体メモリ、メモリ用半導体チッ
プ)4〜7から構成されているものとする。The configuration of the memory system 1 will be described with reference to FIGS. Here, a plurality of memories 3
b is composed of four memories (semiconductor memory, semiconductor chip for memory) 4 to 7.
【0025】メモリコントローラ3a、およびメモリ4
〜7は、図2に示すように、いずれも半導体チップから
構成されており、メモリコントローラ3aの半導体チッ
プ上に、メモリ4〜7の半導体チップが積層された構成
となっている。メモリ4〜7における半導体チップの厚
さは約50μm程度である。Memory controller 3a and memory 4
As shown in FIG. 2, each of the memory chips 3 to 7 is configured by a semiconductor chip, and has a configuration in which the semiconductor chips of the memories 4 to 7 are stacked on the semiconductor chip of the memory controller 3a. The thickness of the semiconductor chip in each of the memories 4 to 7 is about 50 μm.
【0026】メモリコントローラ3aの主面には、図3
に示すように、所定の一辺における周辺部近傍にメモリ
4の信号端子が接続される複数の接続用端子ST1が1
列に等間隔で形成されている。同様に、接続用端子ST
1の左隣には、接続用端子ST1と一定の間隔を置い
て、メモリ5の信号端子が接続される接続用端子ST2
が形成されている。FIG. 3 shows the main surface of the memory controller 3a.
As shown in FIG. 2, a plurality of connection terminals ST1 to which signal terminals of the memory 4 are connected near a peripheral portion on one predetermined side are connected to one.
The rows are formed at equal intervals. Similarly, the connection terminal ST
1, a connection terminal ST2 to which a signal terminal of the memory 5 is connected at a predetermined interval from the connection terminal ST1.
Are formed.
【0027】また、接続用端子ST2の左隣には、該接
続用端子ST2と一定の間隔を置いて、メモリ6の信号
端子が接続される接続用端子ST3が形成されており、
接続用端子ST3の左隣には、メモリ7の信号端子が接
続される接続用端子ST4が、接続用端子ST3と一定
の間隔を置いて形成されている。On the left of the connection terminal ST2, a connection terminal ST3 to which the signal terminal of the memory 6 is connected is formed at a fixed interval from the connection terminal ST2.
On the left side of the connection terminal ST3, a connection terminal ST4 to which a signal terminal of the memory 7 is connected is formed at a fixed interval from the connection terminal ST3.
【0028】さらに、メモリコントローラ3a表面に
は、図2に示すように、テープ8〜11が接着されてい
る。テープ8は、接続用端子ST1が設けられたメモリ
コントローラ3aの接続用端子ST1から接続用端子S
T4を十分に覆う程度の大きさとなっており、接続用端
子ST1〜ST4に対応する位置には柱状の導電体12
〜15がそれぞれ形成されている。Further, tapes 8 to 11 are adhered to the surface of the memory controller 3a as shown in FIG. The tape 8 extends from the connection terminal ST1 to the connection terminal S of the memory controller 3a provided with the connection terminal ST1.
T4 is sufficiently large to cover T4, and columnar conductors 12 are provided at positions corresponding to connection terminals ST1 to ST4.
To 15 are respectively formed.
【0029】テープ8の上面には、テープ9が接着され
ており、このテープ9は、メモリコントローラ3aの接
続用端子ST2から接続用端子ST4にかけてを十分に
覆う程度の大きさとなっている。テープ9には、接続用
端子ST2〜ST4に対応する位置に柱状の導電体16
〜18が形成されている。A tape 9 is adhered to the upper surface of the tape 8, and the tape 9 is large enough to cover from the connection terminal ST2 to the connection terminal ST4 of the memory controller 3a. The tape 9 has columnar conductors 16 at positions corresponding to the connection terminals ST2 to ST4.
To 18 are formed.
【0030】また、テープ9の上面には、テープ10が
接着されている。テープ10は、メモリコントローラ3
aの接続用端子ST3,ST4を十分に覆う程度の大き
さとなっており、接続用端子ST3,ST4に対応する
位置に柱状の導電体19,20が形成されている。A tape 10 is adhered to the upper surface of the tape 9. The tape 10 is a memory controller 3
The columnar conductors 19 and 20 are formed at positions corresponding to the connection terminals ST3 and ST4 so as to sufficiently cover the connection terminals ST3 and ST4.
【0031】テープ10の上面には、テープ11が接着
され、メモリコントローラ3aの接続用端子ST4を十
分に覆う程度の大きさとなっており、接続用端子ST4
に対応する位置に柱状の導電体21が形成されている。The tape 11 is adhered to the upper surface of the tape 10 and has a size enough to sufficiently cover the connection terminals ST4 of the memory controller 3a.
A columnar conductor 21 is formed at a position corresponding to.
【0032】さらに、メモリ4〜7には、ある一辺の周
辺部近傍に信号端子が、その辺に平行に1列にそれぞれ
配置されており、これらメモリ4〜7は、メモリコント
ローラ3a上に積層して実装されている。Further, in the memories 4 to 7, signal terminals are arranged in the vicinity of a peripheral portion of one side in a row in parallel with the side, and these memories 4 to 7 are stacked on the memory controller 3a. Has been implemented.
【0033】メモリ4は、該メモリ4の信号端子が、メ
モリコントローラ2の接続用端子ST1に対向する位置
に積層される。メモリ5は、メモリ4上にオーバハング
して積層されており、同じくメモリ5の信号端子が、接
続用端子ST2に対向する位置に実装されている。The memory 4 is stacked at a position where the signal terminal of the memory 4 faces the connection terminal ST1 of the memory controller 2. The memory 5 is stacked on the memory 4 so as to overhang, and the signal terminal of the memory 5 is similarly mounted at a position facing the connection terminal ST2.
【0034】メモリ6は、メモリ5上にオーバハングし
て積層されており、メモリ6の信号端子が、接続用端子
ST3に対向する位置に実装されいる。同様に、メモリ
7は、メモリ6上にオーバハングして積層されており、
メモリ7の信号端子が、接続用端子ST4に対向する位
置に実装されている。The memory 6 is stacked on the memory 5 by overhanging, and the signal terminal of the memory 6 is mounted at a position facing the connection terminal ST3. Similarly, the memory 7 is overhanged and stacked on the memory 6,
The signal terminal of the memory 7 is mounted at a position facing the connection terminal ST4.
【0035】メモリ4〜7の信号端子には、各々の半導
体チップの配線層に形成された銅などの配線を介して入
出力回路や電源回路がそれぞれ接続されている。そし
て、メモリ4〜7に設けられた信号端子は、柱状の導電
体12〜21を介して、対応するメモリコントローラ3
aの接続用端子ST1〜ST4にそれぞれ接続されてい
る。The input / output circuit and the power supply circuit are connected to the signal terminals of the memories 4 to 7 via wiring such as copper formed on the wiring layer of each semiconductor chip. The signal terminals provided in the memories 4 to 7 are connected to the corresponding memory controller 3 via the columnar conductors 12 to 21.
a are connected to the connection terminals ST1 to ST4, respectively.
【0036】テープ8〜11は、厚さ約40μm程度の
ポリイミドテープの両面にそれぞれ厚さ約5μm程度の
耐熱接着剤が塗布されており、このポリイミドテープに
は、接続用端子ST1〜ST4に対応した位置に直径約
50μm程度の貫通孔が設けられ、その貫通孔に銅など
が充填されて導電体12〜21が形成されている。Each of the tapes 8 to 11 has a polyimide tape having a thickness of about 40 μm coated with a heat-resistant adhesive having a thickness of about 5 μm on both sides thereof. The polyimide tape corresponds to the connection terminals ST1 to ST4. A through hole having a diameter of about 50 μm is provided at the position thus formed, and the conductors 12 to 21 are formed by filling the through hole with copper or the like.
【0037】各々のテープ8〜11に形成された導電体
12〜21は、その両面にニッケルめっきを下地とし
て、テープの一方の面側には錫、他方の面側には金めっ
きが施されている。たとえば、導電体15,18におい
て、モジュールとして組み立てられた状態では、上部に
位置する導電体18の下面側における金と、導電体15
の上面における錫とが共晶合金を形成して接続されてい
る。The conductors 12 to 21 formed on each of the tapes 8 to 11 are provided with nickel plating as a base on both sides, tin on one side of the tape, and gold plating on the other side. ing. For example, in a state where the conductors 15 and 18 are assembled as a module, gold on the lower surface side of the conductor 18 located above and
Are connected to form a eutectic alloy.
【0038】また、メモリ4〜7における信号端子の表
面には金の層が形成されており、相対するテープ8〜1
1に形成された導電体12,16,19,21の上面の
錫と共晶合金を形成してそれぞれ接続されている。Further, a gold layer is formed on the surface of the signal terminals in the memories 4 to 7, and the tapes 8 to 1 facing each other are formed.
The conductors 12, 16, 19, and 21 formed in 1 are connected to each other by forming a eutectic alloy with tin on the upper surface.
【0039】最下層のテープ8に形成された導電体12
〜15は、それら導電体12〜15下面に形成された金
と、メモリコントローラ3aの接続用端子ST1〜ST
4表面に形成された錫の層とで共晶合金を作ってそれぞ
れが接続されている。メモリモジュールを構成するメモ
リ4〜7は、それぞれの半導体チップの破損を防ぐため
にケースまたはモールド樹脂で覆われている。The conductor 12 formed on the lowermost tape 8
To 15 are gold formed on the lower surfaces of the conductors 12 to 15, and connection terminals ST1 to ST of the memory controller 3a.
A eutectic alloy is formed with the tin layer formed on the four surfaces and each is connected. The memories 4 to 7 constituting the memory module are covered with a case or a mold resin in order to prevent damage to each semiconductor chip.
【0040】次に、メモリモジュール3の回路構成、な
らびに接続構成について図4を用いて説明する。Next, the circuit configuration and connection configuration of the memory module 3 will be described with reference to FIG.
【0041】ここでは、説明を簡単にするために、メモ
リコントローラ3aに1つのデータ端子と、2つのアド
レス端子とを備えた構成とし、メモリ4〜7も同様に、
1つのデータ端子と、2つのアドレス端子とを備えた構
成とする。また、図4においてメモリ4〜7の電源端子
は省略してある。Here, in order to simplify the explanation, the memory controller 3a has one data terminal and two address terminals, and the memories 4 to 7 have the same configuration.
The configuration includes one data terminal and two address terminals. In FIG. 4, power supply terminals of the memories 4 to 7 are omitted.
【0042】メモリコントローラ3aは、論理積回路A
D1〜AD16から構成されている。論理積回路(第2
の演算回路)AD1,AD3,AD5,AD7の出力部
には、データ信号Dが入出力されるデータ端子が接続さ
れている。論理積回路(第1の演算回路)AD2,AD
4,AD6,AD8の他方の入力部にも、同様に、デー
タ端子が接続されている。The memory controller 3a includes an AND circuit A
D1 to AD16. AND circuit (2nd
The operation terminals of AD1, AD3, AD5, and AD7 are connected to data terminals through which the data signal D is input and output. AND circuit (first operation circuit) AD2, AD
Similarly, a data terminal is connected to the other input section of AD4, AD6, and AD8.
【0043】論理積回路AD1の一方の入力部には、論
理積回路AD2,AD9,AD10の一方の入力部、お
よびチップイネーブル信号CE1が入力されるチップイ
ネーブル端子、チップイネーブル信号CEa1が出力さ
れるチップイネーブル端子がそれぞれ接続されている。
論理積回路AD1の他方の入力部には、論理積回路AD
2の出力部、データ信号Da1を入出力するデータ端子
が接続されている。To one input of the AND circuit AD1, one of the inputs of the AND circuits AD2, AD9, and AD10, the chip enable terminal to which the chip enable signal CE1 is input, and the chip enable signal CEa1 are output. Chip enable terminals are respectively connected.
The AND circuit AD1 is connected to the other input of the AND circuit AD1.
2 and a data terminal for inputting and outputting the data signal Da1 are connected.
【0044】論理積回路AD3の一方の入力部には、論
理積回路AD4,AD11,AD12の一方の入力部、
ならびにチップイネーブル信号CE2が入力されるチッ
プイネーブル端子、チップイネーブル信号CEa2が出
力されるチップイネーブル端子が接続されており、論理
積回路AD3の他方の接続部には、論理積回路AD4の
出力部、データ信号Da2を入出力するデータ端子が接
続されている。One input of the AND circuit AD3 is connected to one input of the AND circuits AD4, AD11, and AD12.
A chip enable terminal to which the chip enable signal CE2 is input and a chip enable terminal to which the chip enable signal CEa2 is output are connected. The other connection of the AND circuit AD3 is connected to the output of the AND circuit AD4, A data terminal for inputting and outputting the data signal Da2 is connected.
【0045】論理積回路AD5の一方の入力部には、論
理積回路AD6,AD13,AD14の一方の入力部、
およびチップイネーブルCE3が入力されるチップイネ
ーブル端子、チップイネーブル信号CEa3が出力され
るチップイネーブル端子が接続されている。論理積回路
AD5の他方の接続部には、論理積回路AD6の出力
部、データ信号Da3を入出力するデータ端子が接続さ
れている。One input of the AND circuit AD5 is connected to one input of the AND circuits AD6, AD13, and AD14.
A chip enable terminal to which a chip enable CE3 is input and a chip enable terminal to which a chip enable signal CEa3 is output are connected. The other connection of the AND circuit AD5 is connected to the output of the AND circuit AD6 and the data terminal for inputting and outputting the data signal Da3.
【0046】論理積回路AD7の一方の入力部には、論
理積回路AD8,AD15,AD16の一方の入力部、
およびチップイネーブル信号CE4が入力されるチップ
イネーブル端子、チップイネーブル信号CEa4が出力
されるチップイネーブル端子が接続されており、論理積
回路AD7の他方の接続部には、論理積回路AD8の出
力部、データ信号Da4を入出力するデータ端子が接続
されている。One input of the AND circuit AD7 is connected to one input of the AND circuits AD8, AD15, and AD16.
A chip enable terminal to which a chip enable signal CE4 is input and a chip enable terminal to which a chip enable signal CEa4 is output are connected. The other connection of the AND circuit AD7 is connected to an output section of an AND circuit AD8, A data terminal for inputting and outputting the data signal Da4 is connected.
【0047】論理積回路(第3の演算回路)AD9の他
方の入力部には、論理積回路(第3の演算回路)AD1
1,AD13,AD15の他方の接続部、およびアドレ
ス信号A1が入力されるアドレス端子が接続されてい
る。論理積回路(第3の演算回路)AD10の他方の入
力部には、論理積回路(第3の演算回路)AD12,A
D14,AD16の他方の接続部、およびアドレス信号
A2が入力されるアドレス端子が接続されている。The other input of the AND circuit (third operation circuit) AD9 is connected to the AND circuit (third operation circuit) AD1.
1, the other connection portion of AD13 and AD15, and the address terminal to which the address signal A1 is input are connected. The other input of the AND circuit (third operation circuit) AD10 is connected to the AND circuit (third operation circuit) AD12, A
The other connection of D14 and AD16 and the address terminal to which the address signal A2 is input are connected.
【0048】論理積回路AD9の出力部には、アドレス
信号A1aを出力するアドレス端子が接続されており、
論理積回路AD10の出力部には、アドレス信号A2a
が接続されている。論理積回路AD11の出力部には、
アドレス信号A1bを出力するアドレス端子が接続され
ており、論理積回路AD12の出力部には、アドレス信
号A2bが接続されている。An output terminal of the AND circuit AD9 is connected to an address terminal for outputting an address signal A1a.
The output of the AND circuit AD10 has an address signal A2a
Is connected. The output of the AND circuit AD11 is
An address terminal for outputting the address signal A1b is connected, and an output signal of the AND circuit AD12 is connected to the address signal A2b.
【0049】論理積回路AD13の出力部には、アドレ
ス信号A1cを出力するアドレス端子が接続されてお
り、論理積回路AD14の出力部には、アドレス信号A
2cが接続されている。論理積回路AD15の出力部に
は、アドレス信号A1dを出力するアドレス端子が接続
されており、論理積回路AD16の出力部には、アドレ
ス信号A2dを出力するアドレス端子が接続されてい
る。An output terminal of the AND circuit AD13 is connected to an address terminal for outputting the address signal A1c, and an output terminal of the AND circuit AD14 is connected to the address signal A.
2c is connected. An output terminal of the AND circuit AD15 is connected to an address terminal for outputting the address signal A1d, and an output terminal of the AND circuit AD16 is connected to an address terminal for outputting the address signal A2d.
【0050】システムコントローラ2から入出力される
データ信号Dは、データ信号Da1〜Da4としてメモ
リコントローラ3aを介してメモリ4〜7のいずれかに
入出力され、システムコントローラ2から出力されるア
ドレス信号A1,A2は、メモリコントローラ3aを介
してアドレス信号A1a〜A1d,A2a〜A2dとし
てメモリ4〜7のいずれかに出力される。A data signal D input / output from the system controller 2 is input / output to / from any of the memories 4 to 7 via the memory controller 3a as data signals Da1 to Da4, and an address signal A1 output from the system controller 2 is output. , A2 are output to any of the memories 4 to 7 as address signals A1a to A1d and A2a to A2d via the memory controller 3a.
【0051】チップイネーブル信号CE1〜CE4は、
システムコントローラ2の内部回路を介さずにメモリ4
〜7に出力される。このチップイネーブル信号は、メモ
リ4〜7からデータを読み書きするメモリを選択する信
号である。The chip enable signals CE1 to CE4 are
The memory 4 without passing through the internal circuit of the system controller 2
To 7 are output. This chip enable signal is a signal for selecting a memory for reading and writing data from the memories 4 to 7.
【0052】また、これらデータ端子、アドレス端子、
ならびにチップイネーブル端子が接続用端子ST1〜S
T4となり、前述した導電体12〜21を介してメモリ
4〜7の信号端子にそれぞれ接続されている。The data terminal, address terminal,
And the chip enable terminals are connection terminals ST1 to S
T4 is connected to the signal terminals of the memories 4 to 7 via the conductors 12 to 21 described above.
【0053】次に、本実施の形態の作用について説明す
る。Next, the operation of the present embodiment will be described.
【0054】まず、メモリシステム1ではチップイネー
ブル信号CE1がハイレベルの時、メモリ4におけるデ
ータが読み書きされ、以下同様にチップイネーブル信号
CE2〜CE4がハイレベルの場合に、メモリ5〜7に
おけるデータがそれぞれ読み書きされる。First, in the memory system 1, when the chip enable signal CE1 is at the high level, the data in the memory 4 is read and written. Similarly, when the chip enable signals CE2 to CE4 are at the high level, the data in the memories 5 to 7 are read. Each is read and written.
【0055】たとえば、メモリコントローラ3aにハイ
レベルのチップイネーブル信号CE1が入力されると、
このハイレベル信号がメモリ4に入力され、メモリ4が
活性化する。For example, when a high-level chip enable signal CE1 is input to the memory controller 3a,
This high-level signal is input to the memory 4, and the memory 4 is activated.
【0056】また、ハイレベル信号は、論理積回路AD
9,AD10の一方の入力部にも入力される。システム
コントローラ2から出力されたアドレス信号A1,A2
は、論理積回路AD9,AD10の他方の入力部にそれ
ぞれ入力され、論理積回路AD9,AD10による演算
結果をアドレス信号A1a,A2aとしてに出力する。The high level signal is output from the AND circuit AD.
9, and is also input to one input unit of AD10. Address signals A1, A2 output from the system controller 2
Are input to the other input units of the AND circuits AD9 and AD10, respectively, and output the operation results of the AND circuits AD9 and AD10 as address signals A1a and A2a.
【0057】データ書き込みの場合には、システムコン
トローラ2から出力されたデータ信号Dが論理積回路A
D2の他方の入力部に入力されるので、この論理積回路
AD2の演算結果をデータ信号Da1としてメモリ4に
出力する。In the case of data writing, the data signal D output from the system controller 2 is applied to the AND circuit A.
Since the data is input to the other input of D2, the operation result of the AND circuit AD2 is output to the memory 4 as a data signal Da1.
【0058】データ読み出しの場合には、メモリ4から
出力されたデータ信号Da1が論理積回路AD1の他方
の入力部に入力され、論理積回路AD1はチップイネー
ブル信号CE1とデータ信号Da1との演算結果をデー
タ信号Dとしてシステムコントローラ2に出力する。In the case of data reading, the data signal Da1 output from the memory 4 is input to the other input of the AND circuit AD1, and the AND circuit AD1 calculates the result of the operation of the chip enable signal CE1 and the data signal Da1. To the system controller 2 as a data signal D.
【0059】ここで、メモリモジュール3における寄生
容量について図5を用いて説明する。Here, the parasitic capacitance in the memory module 3 will be described with reference to FIG.
【0060】図5においては、メモリ4にデータを読み
書きする場合のアドレス信号A1に着目して説明する。In FIG. 5, description will be made focusing on the address signal A1 when reading and writing data in the memory 4.
【0061】チップイネーブル信号CE1で選択された
メモリ4において、ハイレベルのチップイネーブル信号
CE1が一方の入力部に入力される論理積回路AD9は
電気的に導通状態となり、そのほかのメモリ5〜7が接
続されている論理積回路AD11,AD13,AD15
は非導通状態となっている。In the memory 4 selected by the chip enable signal CE1, the AND circuit AD9 in which the high-level chip enable signal CE1 is input to one input section is electrically conductive, and the other memories 5 to 7 are electrically connected. Connected AND circuits AD11, AD13, AD15
Is in a non-conductive state.
【0062】システムコントローラ2からメモリ4にア
ドレス信号A1を伝送するには、メモリ4の入力回路の
寄生容量Cin1、メモリ4のESD(Electro
Staic Discharge)保護回路の寄生容
量Ces1、メモリ4の信号端子とそこに至る配線の寄
生容量Cpd1、メモリ4とメモリコントローラ3aと
を接続する柱状の導電体12の寄生容量Cclm1、メ
モリコントローラ3aの接続用端子ST1と論理積回路
AD9に至るまでの配線との寄生容量Cpdc1、メモ
リコントローラ3aにおけるESD保護回路の寄生容量
Cesc1、論理積回路AD9の寄生容量Cand1、
選択されていないメモリ5〜7へ回路を遮断している論
理積回路AD11,AD13,AD15におけるそれぞ
れの寄生容量Cand2〜Cand4、ならびにメモリ
コントローラ3aのアドレス信号A1入力におけるES
D保護回路の寄生容量Cia1とを充放電すればよいこ
とになる。To transmit the address signal A 1 from the system controller 2 to the memory 4, the parasitic capacitance Cin 1 of the input circuit of the memory 4 and the ESD (Electro-
(Static Discharge) The parasitic capacitance Ces1 of the protection circuit, the parasitic capacitance Cpd1 of the signal terminal of the memory 4 and the wiring leading to it, the parasitic capacitance Cclm1 of the columnar conductor 12 connecting the memory 4 and the memory controller 3a, and the connection of the memory controller 3a The parasitic capacitance Cpdc1 between the terminal ST1 and the wiring leading to the AND circuit AD9, the parasitic capacitance Cesc1 of the ESD protection circuit in the memory controller 3a, the parasitic capacitance Cand1 of the AND circuit AD9,
The respective parasitic capacitances Cand2 to Cand4 in the AND circuits AD11, AD13, and AD15 interrupting the circuits to the unselected memories 5 to 7, and ES at the address signal A1 input of the memory controller 3a.
It suffices to charge and discharge the parasitic capacitance Cia1 of the D protection circuit.
【0063】また、図6に本発明者が検討したメモリモ
ジュール30の構成を示し、図7にこのメモリモジュー
ル30おける寄生容量について示す。FIG. 6 shows the configuration of the memory module 30 studied by the present inventors, and FIG. 7 shows the parasitic capacitance of the memory module 30.
【0064】図6においては、説明を簡単にするために
構成を単純化しており、1つのメモリコントローラ31
に対して4つのメモリ32〜35、2本のアドレス信
号、1本のデータ信号配線とを示し、アドレス信号およ
びチップイネーブル信号以外の制御信号および電源の配
線は省略してある。In FIG. 6, the configuration is simplified for simplicity of description, and one memory controller 31
4 shows two memories 32 to 35, two address signals, and one data signal line, and lines for control signals and power supply other than the address signal and the chip enable signal are omitted.
【0065】メモリ32〜35に設けられたアドレス信
号端子AT1,AT2、データ信号端子DTは、メモリ
コントローラ31のアドレス信号端子ATC1,ATC
2、データ信号端子DCと、それぞれが並列接続されて
いる。The address signal terminals AT1 and AT2 and the data signal terminal DT provided in the memories 32 to 35 are connected to the address signal terminals ATC1 and ATC of the memory controller 31, respectively.
2. The data signal terminal DC and each are connected in parallel.
【0066】チップイネーブル信号は、メモリ32〜3
5のうち、データを読み書きするメモリを1つ選択する
制御信号なので、メモリ32〜35に設けられたチップ
イネーブル信号端子CET1〜CET4とメモリコント
ローラ31のチップイネーブル信号端子CEC1〜CE
C4とは独立に接続されている。The chip enable signal is transmitted to the memories 32 to 3
5, the chip enable signal terminals CET1 to CET4 provided in the memories 32 to 35 and the chip enable signal terminals CEC1 to CEC of the memory controller 31 are control signals for selecting one memory for reading and writing data.
It is connected independently of C4.
【0067】また、このメモリモジュール30における
寄生容量を図7に示す。この図7では、アドレス信号の
うち、1つのアドレス信号における信号経路ついて充放
電しなければならない容量を示しており、その他の信号
は表記を省略してあるが、アドレス信号、データ信号に
ついては同様である。FIG. 7 shows the parasitic capacitance in the memory module 30. In FIG. 7, the capacity of the signal path of one address signal in the address signal that must be charged and discharged is shown, and other signals are not shown, but the address signal and the data signal are the same. It is.
【0068】メモリコントローラ31からメモリ32に
アドレス信号を出力するには、メモリコントローラ31
における出力回路の寄生容量Cotc、メモリコントロ
ーラ31に設けられたボンディングパッドとそこに至る
半導体チップ上の配線との寄生容量Cpdc、パッケー
ジの配線の寄生容量Cpkc、メモリコントローラ31
などが実装されるマザーボード上の配線の寄生容量Cp
wb、メモリ32に至る分岐配線の寄生容量Cst1、
メモリ32のパッケージにおける配線の寄生容量Cpk
1、メモリ32のボンディングパッド、およびそこに繋
がる半導体チップ上の配線の寄生容量Cpd1、ESD
保護回路の寄生容量Ces1、入力回路の寄生容量Ci
n1、以下メモリ33〜35についても同様に寄生する
寄生容量Cst2,Cpk2,Cpd2,Ces2,C
in2,Cst3,Cpk3,Cpd3,Ces3,C
in3,Cst4,Cpk4,Cpd4,Ces4,C
in4をすべて充放電しなければならないことになる。To output an address signal from the memory controller 31 to the memory 32, the memory controller 31
, The parasitic capacitance Cpdc between the bonding pad provided on the memory controller 31 and the wiring on the semiconductor chip reaching there, the parasitic capacitance Cpkc of the wiring of the package, the memory controller 31
Parasitic capacitance Cp of the wiring on the motherboard on which
wb, the parasitic capacitance Cst1 of the branch wiring reaching the memory 32,
Parasitic capacitance Cpk of the wiring in the package of the memory 32
1. Parasitic capacitance Cpd1, ESD of the bonding pad of the memory 32 and the wiring on the semiconductor chip connected thereto
Parasitic capacitance Ces1 of protection circuit, parasitic capacitance Ci of input circuit
n1, and the parasitic capacitances Cst2, Cpk2, Cpd2, Ces2, C
in2, Cst3, Cpk3, Cpd3, Ces3, C
in3, Cst4, Cpk4, Cpd4, Ces4, C
In4 has to be fully charged and discharged.
【0069】よって、データの読み書き時には、これら
の寄生容量を充放電しなければならないために、制御信
号やデータ信号の転送速度が上げにくく、データ転送に
要する電力も大きくなり、スピードが遅く消費電力が大
きいシステムとなってしまう。Therefore, at the time of reading and writing data, these parasitic capacitances must be charged and discharged. Therefore, it is difficult to increase the transfer speed of control signals and data signals, increase the power required for data transfer, and reduce power consumption. Will result in a large system.
【0070】しかし、図4などに示すメモリモジュール
3においては、データを読み書きしないメモリをチップ
イネーブル信号との論理積により論理積回路によって切
断することで駆動すべき寄生容量を大幅に低減してい
る。However, in the memory module 3 shown in FIG. 4 or the like, the parasitic capacitance to be driven is greatly reduced by cutting off the memory from which data is not read or written by an AND circuit with the chip enable signal. .
【0071】それにより、本実施の形態によれば、メモ
リコントローラ3aに設けられた論理積回路AD1〜A
D16によって、メモリシステム1を高速化することが
でき、かつメモリシステムの消費電力を低減することが
できる。Thus, according to the present embodiment, AND circuits AD1 to AD provided in memory controller 3a are provided.
With D16, the speed of the memory system 1 can be increased, and the power consumption of the memory system can be reduced.
【0072】また、メモリシステム1全体から見たとき
に分岐配線となるメモリモジュール3に形成された配線
の容量が低減するので信号の多重反射を防止でき、メモ
リシステムを安定して高速化することができる。Further, since the capacity of the wiring formed in the memory module 3 which becomes a branch wiring when viewed from the entire memory system 1 is reduced, multiple reflection of signals can be prevented, and the memory system can be stably speeded up. Can be.
【0073】さらに、複数接続するメモリ4〜7を積層
して実装するので、メモリモジュール3あるいはメモリ
システム1を小型化でき、かつメモリ4〜7からデータ
を読み出す場合の消費電力を低減できるので、放熱すべ
き発熱量が下がりメモリシステム1を小型化することが
できる。Further, since a plurality of memories 4 to 7 to be connected are stacked and mounted, the size of the memory module 3 or the memory system 1 can be reduced, and the power consumption for reading data from the memories 4 to 7 can be reduced. The amount of heat to be dissipated is reduced, and the memory system 1 can be downsized.
【0074】また、本実施の形態では、メモリコントロ
ーラ3aとシステムコントローラ2とを異なる半導体チ
ップによって構成したが、これらメモリコントローラ3
a、およびシステムコントローラ2を1つの半導体チッ
プ(システム用半導体チップ)によって形成し、この半
導体チップに、メモリ用半導体チップであるメモリ4〜
7を積層してメモリシステム1を構成するようにしても
よい。Further, in this embodiment, the memory controller 3a and the system controller 2 are constituted by different semiconductor chips.
a and the system controller 2 are formed by one semiconductor chip (system semiconductor chip), and the memory 4 to the memory semiconductor chip
7 may be stacked to form the memory system 1.
【0075】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を
逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでも
ない。Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications may be made without departing from the gist of the invention. Needless to say, it can be changed.
【0076】たとえば、前記実施の形態においては、D
RAMからなる半導体メモリにより構成されたメモリモ
ジュールを記載したが、半導体メモリは、たとえば、S
RAM(Static RAM)によって構成されたメ
モリモジュールでもよく、パーソナルコンピュータ以外
にもワークステーション、サーバ、携帯型情報機器など
メモリシステムを有する様々な電子装置に設けることが
できる。For example, in the above embodiment, D
The memory module configured by the semiconductor memory including the RAM has been described.
The memory module may be a RAM (Static RAM), and may be provided in various electronic devices having a memory system such as a workstation, a server, and a portable information device in addition to a personal computer.
【0077】また、これらメモリモジュールは、電子装
置のメインメモリとしてではなく、DRAMあるいはS
RAMなどの半導体メモリによって構成されるキャッシ
ュメモリとして用いてもよい。Further, these memory modules are not used as a main memory of an electronic device, but are used as a DRAM or an SD memory.
It may be used as a cache memory constituted by a semiconductor memory such as a RAM.
【0078】[0078]
【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。Advantageous effects obtained by typical ones of the inventions disclosed by the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.
【0079】(1)本発明によれば、メモリコントロー
ル手段が、チップイネーブル信号に選択された半導体メ
モリだけを接続し、その他の半導体メモリの接続を電気
的に切断するので、メモリモジュールにおける寄生容量
を大幅に削減することができる。(1) According to the present invention, since the memory control means connects only the semiconductor memory selected for the chip enable signal and electrically disconnects the other semiconductor memories, the parasitic capacitance in the memory module is reduced. Can be greatly reduced.
【0080】(2)また、本発明では、メモリコントロ
ール手段により、分岐配線となるメモリモジュールの配
線容量が低減するので、信号の多重反射を防止すること
ができ、ノイズなどを低減することができる。(2) In the present invention, the memory control means reduces the wiring capacity of the memory module serving as the branch wiring, so that multiple reflection of signals can be prevented and noise and the like can be reduced. .
【0081】(3)さらに、本発明においては、メモリ
コントロール手段であるコントロール用半導体チップ
と、半導体メモリである半導体チップとを積層してメモ
リモジュールを構成するので、メモリモジュールを小型
化することができる。(3) Further, in the present invention, the memory module is constructed by stacking the control semiconductor chip as the memory control means and the semiconductor chip as the semiconductor memory, so that the memory module can be downsized. it can.
【0082】(4)また、本発明によれば、上記(1)
〜(3)により、メモリシステムを小型化しながらデー
タ処理速度を高速化し、かつ消費電力を低減することが
できるので、電子装置の性能を向上することができる。(4) According to the present invention, (1)
According to (3), the data processing speed can be increased while the memory system is downsized, and the power consumption can be reduced, so that the performance of the electronic device can be improved.
【図1】本発明の一実施の形態によるメモリシステムの
構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of a memory system according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施の形態によるメモリモジュール
の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of a memory module according to one embodiment of the present invention.
【図3】本発明の一実施の形態によるメモリモジュール
に備えられたメモリコントローラにおける接続用端子の
説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of connection terminals in a memory controller provided in the memory module according to one embodiment of the present invention;
【図4】本発明の一実施の形態によるメモリモジュール
の回路接続構成の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a circuit connection configuration of the memory module according to the embodiment of the present invention;
【図5】本発明の一実施の形態によるメモリモジュール
における寄生容量の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a parasitic capacitance in the memory module according to the embodiment of the present invention;
【図6】本発明者が検討したメモリモジュールの回路接
続構成の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a circuit connection configuration of a memory module studied by the present inventors.
【図7】本発明者が検討したメモリモジュールにおける
寄生容量の説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of a parasitic capacitance in a memory module studied by the present inventors.
1 メモリシステム 2 システムコントローラ 3 メモリモジュール 3a メモリコントローラ(メモリコントロール手段、
コントロール用半導体チップ) 3b メモリ 4〜7 メモリ(半導体メモリ、メモリ用半導体チッ
プ) 8〜10 テープ 導電体16〜21 ST1〜ST4 接続用端子 AD1,AD3,AD5,AD7 論理積回路(第2の
演算回路) AD2,AD4,AD6,AD8 論理積回路(第1の
演算回路) AD9〜AD16 論理積回路(第3の演算回路) 30 メモリモジュール 31 メモリコントローラ 32〜35 メモリDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Memory system 2 System controller 3 Memory module 3a Memory controller (memory control means,
Control semiconductor chip) 3b Memory 4-7 Memory (semiconductor memory, memory semiconductor chip) 8-10 Tape Conductor 16-21 ST1-ST4 Connection terminal AD1, AD3, AD5, AD7 AND circuit (second operation Circuit) AD2, AD4, AD6, AD8 AND circuit (first operation circuit) AD9 to AD16 AND circuit (third operation circuit) 30 memory module 31 memory controller 32 to 35 memory
Claims (5)
プイネーブル信号に基づいて前記半導体メモリを選択
し、選択された前記半導体メモリだけに制御信号ならび
にデータ信号を入出力するメモリコントロール手段とを
設けたことを特徴とするメモリモジュール。1. A semiconductor device comprising: at least two semiconductor memories; and memory control means for selecting the semiconductor memories based on a chip enable signal, and inputting / outputting a control signal and a data signal only to the selected semiconductor memories. A memory module characterized by the above-mentioned.
て、前記メモリコントロール手段が、対応するチップイ
ネーブル信号と書き込み用のデータ信号との論理積を演
算する第1の演算回路と、対応するチップイネーブル信
号と読み出し用のデータ信号との論理積を演算する第2
の演算回路と、対応するチップイネーブル信号とアドレ
ス信号との論理積を演算する第3の演算回路とよりな
り、チップイネーブル信号により選択された前記半導体
メモリに対応する前記第1〜第3の演算回路の演算結果
を出力することを特徴とするメモリモジュール。2. The memory module according to claim 1, wherein said memory control means calculates a logical product of a corresponding chip enable signal and a write data signal, and a corresponding chip enable signal. For calculating the logical product of the read data signal and
And a third arithmetic circuit for calculating the logical product of the corresponding chip enable signal and the address signal, and the first to third arithmetic operations corresponding to the semiconductor memories selected by the chip enable signal. A memory module for outputting an operation result of a circuit.
ルにおいて、前記半導体メモリが、ある一辺の端部近傍
における主面に接続用端子が設けられたメモリ用半導体
チップからなり、前記メモリコントロール手段が、前記
メモリ用半導体チップの接続用端子に対応する接続用端
子が主面に設けられたコントロール用半導体チップから
なり、下側に位置する前記メモリ用半導体チップの裏面
が、上側に位置する前記メモリ用半導体チップの主面に
重なり、かつ前記上側に位置するメモリ用半導体チップ
における接続用端子を、前記下側に位置するメモリ用半
導体チップにおける端部から突出するようにずらして積
層し、それら積層された前記少なくとも2つのメモリ用
半導体チップの主面が前記コントロール用半導体チップ
の主面にを向かい合うように積層し、対向する前記メモ
リ用半導体チップの接続用端子と前記コントロール用半
導体チップの接続用端子とを柱状の導電体で接続したこ
とを特徴とするメモリモジュール。3. The memory module according to claim 1, wherein said semiconductor memory comprises a memory semiconductor chip having a connection terminal provided on a main surface near an end of one side, and wherein said memory control means is provided. A connection terminal corresponding to a connection terminal of the memory semiconductor chip is formed of a control semiconductor chip provided on a main surface, and a back surface of the memory semiconductor chip located on a lower side is located on an upper side of the memory. The connection terminals of the memory semiconductor chip located on the upper side and overlapping with the main surface of the semiconductor chip for memory are shifted so as to protrude from the end of the semiconductor chip for memory located on the lower side, and the lamination is performed. The main surfaces of the at least two memory semiconductor chips thus formed face the main surface of the control semiconductor chip. A memory module wherein the connection terminals of the memory semiconductor chip and the connection terminals of the control semiconductor chip which are opposed to each other are connected by a columnar conductor.
なくとも1つのメモリモジュールと、電子装置全体の制
御を司るシステムコントローラとを有することを特徴と
するメモリシステム。4. A memory system, comprising: at least one memory module according to claim 1, and a system controller that controls an entire electronic device.
プイネーブル信号に基づいて前記半導体メモリを選択
し、選択された前記半導体メモリだけに制御信号ならび
にデータ信号を入出力するメモリコントロール手段と、
電子装置全体の制御を司るシステムコントローラとより
なり、前記半導体メモリが、ある一辺の端部近傍におけ
る主面に接続用端子が設けられたメモリ用半導体チップ
からなり、前記メモリコントロール手段、ならびに前記
システムコントローラが、前記メモリ用半導体チップの
接続用端子に対応する接続用端子が主面に設けられた1
つのシステム用半導体チップからなり、下側に位置する
前記メモリ用半導体チップの裏面が、上側に位置する前
記メモリ用半導体チップの主面に重なり、かつ前記上側
に位置するメモリ用半導体チップにおける接続用端子
を、前記下側に位置するメモリ用半導体チップにおける
端部から突出するようにずらして積層し、それら積層さ
れた前記少なくとも2つのメモリ用半導体チップの主面
が前記システム用半導体チップの主面に向かい合うよう
に積層し、対向する前記メモリ用半導体チップの接続用
端子と前記システム用半導体チップの接続用端子とを柱
状の導電体で接続したことを特徴とするメモリシステ
ム。5. At least two semiconductor memories, and memory control means for selecting the semiconductor memories based on a chip enable signal and inputting / outputting a control signal and a data signal only to the selected semiconductor memories,
The semiconductor memory comprises a memory semiconductor chip having a connection terminal provided on a main surface near an end of a certain side; and the memory control means, and the system controller. A connection terminal corresponding to a connection terminal of the semiconductor chip for memory provided on the main surface;
The back surface of the lower semiconductor chip overlaps with the main surface of the upper memory semiconductor chip, and is used for connection in the upper memory semiconductor chip. Terminals are stacked so as to protrude from an end of the lower semiconductor chip, and the main surfaces of the stacked at least two memory semiconductor chips are the main surfaces of the system semiconductor chip. And a connection terminal of the semiconductor chip for memory and a connection terminal of the semiconductor chip for system which are opposed to each other are connected by a columnar conductor.
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JP11185557A JP2001014218A (en) | 1999-06-30 | 1999-06-30 | Memory module and memory system |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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