JP2000180748A - Division scanner and beam state adjusting method therefor - Google Patents
Division scanner and beam state adjusting method thereforInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ビームを走査し
て画像の書き込みを行う光走査装置、特に、主走査方向
の走査を分割して行う分割走査装置及び分割走査装置の
ビーム状態調整方法に関し、例えばデジタル複写機やレ
ーザプリンタ等に好適なものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning device for writing an image by scanning a light beam, and more particularly to a divided scanning device for dividing a scanning in a main scanning direction and a beam state adjusting method of the divided scanning device. This is suitable for, for example, digital copiers and laser printers.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、この種の光走査装置としては、例
えば図17に示すようなものがある。この光走査装置
は、一つの光源80から出射されたレーザビームを集光
レンズ群82を介して回転多面鏡84へ照射すると共
に、該回転多面鏡84に照射されたレーザビームを該回
転多面鏡84の回転に伴って移動する反射面84Aによ
って反射することにより、結像レンズ86を介して感光
体ドラム88の軸方向に沿って走査露光するように構成
したものである。2. Description of the Related Art Conventionally, as this type of optical scanning device, there is one as shown in FIG. 17, for example. This optical scanning device irradiates a laser beam emitted from one light source 80 to a rotating polygon mirror 84 through a condenser lens group 82, and irradiates the laser beam emitted to the rotating polygon mirror 84 with the rotating polygon mirror. The light is reflected by a reflecting surface 84A that moves with the rotation of 84, so that scanning exposure is performed along the axial direction of the photosensitive drum 88 via an imaging lens 86.
【0003】ところで、近年、レーザプリンタやディジ
タル複写機などの画像記録装置には、高解像度の画像を
高速で出力することが望まれている。そして、この要求
に応えるには、単位時間当たり走査ライン数を上げる必
要があり、回転多面鏡を用いた装置では、回転多面鏡を
駆動するスキャナモータの回転数を増加させることが考
えられる。In recent years, it has been desired that image recording apparatuses such as laser printers and digital copying machines output high-resolution images at high speed. To meet this demand, it is necessary to increase the number of scanning lines per unit time, and in an apparatus using a rotating polygon mirror, it is conceivable to increase the number of rotations of a scanner motor for driving the rotating polygon mirror.
【0004】しかし、回転多面鏡を回転駆動させるスキ
ャナモータの回転速度はボールベアリングを使用した場
合で、現在、15,000rpmが限度である。また、
大幅なコストアップを招く空気軸受を使用したとしても
40,000rpmが限度である。従って、回転多面鏡
の回転数を増加させることによって高速化及び高解像度
化を図るには限界がある。However, the rotation speed of the scanner motor for driving the rotary polygon mirror is limited to 15,000 rpm when ball bearings are used. Also,
The limit is 40,000 rpm even if an air bearing that causes a significant cost increase is used. Therefore, there is a limit to achieving higher speed and higher resolution by increasing the number of rotations of the rotating polygon mirror.
【0005】次に、回転多面鏡の反射面の数を多くする
ことが考えられるが、反射面の数が増えると回転多面鏡
が大径化して通常のスキャナモータでは、消費電力の増
大およびスキャナモータヘの負荷増大による信頼性の低
下という問題が発生する。また、反射面の数が増える
と、必然的に1つの反射面がレーザビームを走査する走
査角が小さくなるため、回転多面鏡から一定の距離の位
置における走査幅は走査角の減少に伴って短くなる。つ
まり、従来と同じ走査幅を確保するためには回転多面鏡
から感光体ドラムまでの距離を大きくする必要がある。
これにより光走査装置の大型化を招くという問題があっ
た。[0005] Next, it is conceivable to increase the number of reflecting surfaces of the rotating polygon mirror. However, as the number of reflecting surfaces increases, the diameter of the rotating polygon mirror increases. There is a problem that reliability is reduced due to an increase in load on the motor. Also, as the number of reflecting surfaces increases, the scanning angle at which one reflecting surface scans the laser beam inevitably decreases, so that the scanning width at a position at a fixed distance from the rotary polygon mirror decreases with the decreasing scanning angle. Be shorter. In other words, in order to secure the same scanning width as in the related art, it is necessary to increase the distance from the rotary polygon mirror to the photosensitive drum.
As a result, there is a problem that the size of the optical scanning device is increased.
【0006】そこで、この問題を解決するものとして、
特開平10−177147号公報に示すように被走査媒
体の表面を主走査方向に沿って分割走査する分割走査装
置が知られており、図18、図19はこの公報に開示さ
れた実施例を示す図である。[0006] In order to solve this problem,
As disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-177147, there is known a divided scanning device that performs divided scanning on the surface of a medium to be scanned along a main scanning direction. FIGS. 18 and 19 show an embodiment disclosed in this publication. FIG.
【0007】この分割走査方式の分割走査装置は、2個
の半導体レーザ光源90a、90bからレーザビーム
A、Bを回転多面鏡92の同一反射面に入射させ、回転
多面鏡92で偏向した反射レーザビームにより被走査媒
体94を分割走査するもので、2つの光ビームを走査中
央位置に至る中心線96に対して主走査方向に各々±α
の角度で回転多面鏡92に入射させ、回転多面鏡92が
角度α回転する間に偏向された2つの光ビームによる全
走査角を±2αとする構成をとっている。これにより、
高速化及び高解像度化を達成した同時2分割の光学装置
において、装置の小型化及び高画質化とをより高いレベ
ルで両立させることができる。In the split scanning system of the split scanning system, laser beams A and B from two semiconductor laser light sources 90a and 90b are made incident on the same reflecting surface of a rotary polygon mirror 92 and reflected by a rotary polygon mirror 92. The medium to be scanned 94 is divided and scanned by two beams, and two light beams are respectively ± α in a main scanning direction with respect to a center line 96 reaching a scanning center position.
Is incident on the rotating polygon mirror 92 at an angle of .alpha., And the total scanning angle of the two light beams deflected while the rotating polygon mirror 92 rotates by the angle .alpha. Is set to. +-. 2.alpha .. This allows
In a simultaneous two-segment optical device that achieves high speed and high resolution, it is possible to achieve both higher miniaturization and higher image quality at a higher level.
【0008】ところが、このような分割走査方式の分割
走査装置は、被走査媒体上の有効走査幅を2つの走査線
で分割走査するので、画像のつなぎ目部において各走査
線の相対位置やビーム径、光量の差によって画像の重な
りや欠落、濃度の段差が生じてしまうことがある。[0008] However, in such a divisional scanning type divisional scanning device, the effective scanning width on the medium to be scanned is dividedly scanned by two scanning lines, so that the relative position of each scanning line and the beam diameter at the joint portion of the image. Depending on the difference in light quantity, overlapping or missing images may occur, and a difference in density may occur.
【0009】このため、つなぎ目部の各走査線の相対位
置やビーム径、光量といったものを高精度に調整するこ
とが重要となる。従来の特開平10−177147号公
報に示す分割走査方式の分割走査装置においては、つな
ぎ目部の各走査線の相対位置やビーム径、光量を合わせ
るための、具体的な施策や手段については一切述べられ
ていない。For this reason, it is important to adjust the relative position, beam diameter, and light amount of each scanning line at the joint with high precision. In the conventional divided scanning apparatus of the divided scanning system disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-177147, specific measures and means for adjusting the relative position, beam diameter, and light amount of each scanning line at the joint are completely described. Not been.
【0010】そこで、つなぎ目部の各走査線の相対位置
を調整するための具体的な手段が、特開平10−206
761号公報に開示されている。図20はこの公報に開
示された実施例を示す図である。Therefore, a specific means for adjusting the relative position of each scanning line at the joint is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 10-206.
No. 761. FIG. 20 is a diagram showing an embodiment disclosed in this publication.
【0011】特開平10−206761号公報はオーバ
ーフィルド光学系技術を採用した分割走査方式の分割走
査装置に係る技術である。このオーバーフィルド光学系
技術とは、回転多面鏡の反射面に反射面幅よりも幅広な
光ビームを照射する技術であり、回転多面鏡の反射面の
利用状態を、反射面幅よりも幅広な光ビームを照射して
反射面全面を利用し、回転多面鏡の小径化を図ってい
る。Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-206761 relates to a technique relating to a division scanning system of a division scanning system employing an overfilled optical system technique. This overfilled optical system technology is a technology for irradiating the reflecting surface of the rotating polygon mirror with a light beam wider than the width of the reflecting surface. The diameter of the rotating polygon mirror is reduced by irradiating a light beam and using the entire reflecting surface.
【0012】しかし、分割走査方式でオーバーフィルド
光学系技術を採用すると、回転多面鏡の反射面の隣面に
より反射された光ビームが分割走査しているもう一方の
走査領域を同時に走査する二重露光が発生してしまう。
この問題点を解消するために、2本の光ビームをそれぞ
れ単独で反射される反射鏡98A、98Bを配置し、隣
面光を被走査媒体上へ導かない構成としている。However, when the overfilled optical system technology is adopted in the divisional scanning method, the light beam reflected by the adjacent surface of the reflecting surface of the rotary polygon mirror simultaneously scans the other scanning region where the divisional scanning is being performed. Exposure occurs.
In order to solve this problem, the reflecting mirrors 98A and 98B that independently reflect the two light beams are arranged so that the adjacent surface light is not guided onto the medium to be scanned.
【0013】そして、この実施例によれば、図21にこ
の反射鏡98A、98BにはXYθ方向に三軸の回転機
構が設けられ、被走査媒体上の走査線の主走査位置、副
走査位置、及び傾きを調整可能としている。また、反射
鏡を各々2枚とした構成を図20(b)に示しており、
この構成では三軸の調整機構を一軸毎に機構分解して調
整のやり易さや精度を向上させている。According to this embodiment, the reflecting mirrors 98A and 98B are provided with a three-axis rotating mechanism in the X and Y directions in FIG. , And the inclination can be adjusted. FIG. 20B shows a configuration in which two reflecting mirrors are provided, respectively.
In this configuration, the three-axis adjustment mechanism is disassembled for each axis to improve the ease of adjustment and the accuracy.
【0014】[0014]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
10−206761号公報の図20(a)に示す実施例
では、簡単な構成ではあるが1枚の反射鏡に三軸もの調
整機構を設けるとなると構造が複雑になり、装置の小型
化や、調整の容易さが妨げられてしまう。また、図20
(b)に示す実施例では、以下の様な問題が発生してし
まい、上記構成だけで、被走査媒体上の走査線位置を精
度良く合わせることは困難である。However, in the embodiment shown in FIG. 20A of Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-206761, although the configuration is simple, if one reflecting mirror is provided with a three-axis adjusting mechanism. If this is the case, the structure becomes complicated, and miniaturization of the device and easiness of adjustment are hindered. FIG.
In the embodiment shown in (b), the following problem occurs, and it is difficult to accurately adjust the scanning line position on the medium to be scanned only by the above configuration.
【0015】例えば、図20(b)に示す実施例では反
射鏡98aは副走査方向の移動(X方向) 、反射鏡98
Aは主走査方向の移動(Y方向)、反射鏡98Bは回転
(θ方向) にすることで、精度良く調整可能と述べてい
る。この場合、調整機構を持たない反射鏡98bは通
常、ある程度の誤差をもって固定されている。そのた
め、反射鏡98bを反射した光ビームは必ずしも反射鏡
98Bの母線に入射するわけではない。特に反射鏡98
Bにシリンドリカルミラーを用いた場合には、回転多面
鏡の反射面と被走査媒体との共役関係が崩れ、本来のシ
リンドリカルミラーの役割である回転多面鏡の反射面の
ばらつきによって生じる走査線のずれを補正することが
できなくなり、濃度ムラが発生することになる。For example, in the embodiment shown in FIG. 20B, the reflecting mirror 98a moves in the sub-scanning direction (X direction).
It is described that A can be adjusted with high accuracy by moving in the main scanning direction (Y direction) and rotating the reflecting mirror 98B (θ direction). In this case, the reflecting mirror 98b having no adjusting mechanism is usually fixed with a certain error. Therefore, the light beam reflected by the reflecting mirror 98b does not always enter the generatrix of the reflecting mirror 98B. Especially reflecting mirror 98
When a cylindrical mirror is used for B, the conjugate relationship between the reflecting surface of the rotating polygon mirror and the medium to be scanned is broken, and the deviation of the scanning line caused by the variation of the reflecting surface of the rotating polygon mirror, which is the original role of the cylindrical mirror. Cannot be corrected, and density unevenness occurs.
【0016】また、上記では、つなぎ目部の走査位置以
外の特性による画質の確保については、具体的な施策が
提案されておらず、これらの点で改善の余地がある。In the above description, no specific measures have been proposed for ensuring image quality by characteristics other than the scanning position of the joint portion, and there is room for improvement in these points.
【0017】本発明は、以上の問題点を解決するために
なされたものであり、分割走査装置を容易に調整でき、
かつ被走査媒体上のつなぎ目部の走査線位置やビーム
径、光量を良好にすることができる分割走査装置及び分
割走査装置のビーム状態調整方法を提供することを目的
とする。The present invention has been made to solve the above problems, and can easily adjust a divided scanning device.
It is another object of the present invention to provide a divided scanning device and a beam state adjusting method of the divided scanning device that can improve the scanning line position, the beam diameter, and the light amount at the joint portion on the medium to be scanned.
【0018】[0018]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、光ビームを射出する2つの光源と、前記光
源毎に設けられ、前記光源から射出された光ビームを所
定のビーム形状に結像させる第1の結像光学系と、主走
査方向及び副走査方向にそれぞれ異なる角度で前記第1
の結像光学系から入射された2つの光ビームを同一平面
で、且つ、前記光ビームの幅より狭い反射面で偏向する
回転多面体と、前記回転多面体によって偏向された2つ
の光ビームを線状に結像する第2の結像光学系と、前記
第2の結像光学系を通じて前記回転多面体で偏向した2
つの光ビームを個々に被走査媒体上へ案内し、分割走査
させる案内手段と、前記2つの光ビームの前記被走査媒
体上における走査位置を調整する走査位置調整手段と、
前記2つの光ビームの前記被走査媒体上における光ビー
ム径を調整するビーム径調整手段と、前記2つの光ビー
ムの前記被走査媒体上における光ビームの光量を調整す
る光量調整手段と、を備えることを特徴としている。In order to achieve the above object, the present invention provides two light sources for emitting a light beam, and a light source provided for each of the light sources, wherein the light beam emitted from the light source has a predetermined beam shape. A first imaging optical system for forming an image at the first scanning optical system and
And a rotating polyhedron for deflecting two light beams incident from the imaging optical system on the same plane and a reflecting surface narrower than the width of the light beam, and linearly deflecting the two light beams deflected by the rotating polyhedron. A second imaging optical system that forms an image on the rotating polyhedron through the second imaging optical system.
Guiding means for individually guiding the two light beams onto the medium to be scanned and performing divided scanning; scanning position adjusting means for adjusting a scanning position of the two light beams on the medium to be scanned;
Beam diameter adjusting means for adjusting the light beam diameter of the two light beams on the medium to be scanned, and light amount adjusting means for adjusting the light amount of the two light beams on the medium to be scanned; It is characterized by:
【0019】本発明の構成によれば、2つの光源よりそ
れぞれ光ビームを射出し、それぞれの光源毎に設けられ
た第1の結像光学系によって、光源から射出された光ビ
ームを所定のビーム形状に結像する。また、回転多面体
の同一平面へ2つの光ビームが主走査方向及び副走査方
向にそれぞれ異なる角度で入射される。なお、回転多面
体の光ビームを偏向する反射面は、入射される光ビーム
の幅より狭い反射面である。すなわち、回転多面体に入
射される光ビーム幅は、回転多面体の反射面幅より広い
光束が入射される。According to the structure of the present invention, light beams are respectively emitted from the two light sources, and the light beams emitted from the light sources are converted into the predetermined light beams by the first imaging optical system provided for each of the light sources. Image into a shape. Further, two light beams are incident on the same plane of the rotating polyhedron at different angles in the main scanning direction and the sub-scanning direction. The reflecting surface of the rotating polyhedron that deflects the light beam is a reflecting surface that is narrower than the width of the incident light beam. That is, a light beam having a wider width than the reflecting surface of the rotating polyhedron enters the rotating polyhedron.
【0020】また、回転多面体によって主走査方向に2
つの光ビームがそれぞれ所定の角度で偏向され、案内手
段によって第2の結像光学系を通じて回転多面体で偏向
されたそれぞれの光ビームを被走査媒体上に案内し、被
走査媒体上の1ラインの走査を分割走査する。In the main scanning direction, a rotating polyhedron is used.
The two light beams are respectively deflected by a predetermined angle, and the respective light beams deflected by the rotating polyhedron through the second imaging optical system by the guiding means are guided onto the medium to be scanned, and one line of the light beam on the medium to be scanned is guided. The scan is divided into scans.
【0021】走査位置調整手段によって、2つの光源か
ら射出され被走査媒体上を走査される光ビームのつなぎ
目部の走査位置を調整することができ、ビーム径調整手
段によって、つなぎ目部における2つの光ビームのビー
ム径を調整することができる。また、光量調整手段によ
って、つなぎ目部における2つの光量を調整することが
できる。従って、各々の調整手段を調整することによ
り、容易に分割走査装置の調整を行うことができ、被走
査媒体上において2つの光ビームのつなぎ目部における
走査位置、ビーム径及び光量を良好にすることができ
る。The scanning position adjusting means can adjust the scanning position of the joint of the light beams emitted from the two light sources and scanned on the medium to be scanned, and the two light beams at the joint can be adjusted by the beam diameter adjusting means. The beam diameter of the beam can be adjusted. Further, the two light amounts at the joint can be adjusted by the light amount adjusting means. Therefore, by adjusting each adjusting means, it is possible to easily adjust the divided scanning device, and to improve the scanning position, the beam diameter, and the light amount at the joint of the two light beams on the medium to be scanned. Can be.
【0022】なお、案内手段は、光ビームを副走査方向
に収束する光学部材、例えば、シリンドリカルミラーや
シリンドリカルレンズなどを用いるようにしてもよい。Incidentally, the guide means may use an optical member for converging the light beam in the sub-scanning direction, for example, a cylindrical mirror or a cylindrical lens.
【0023】また、走査位置調整手段は、主走査位置を
調整する主走査位置調整手段と副走査位置を調整する副
走査位置調整手段とにより構成してもよい。Further, the scanning position adjusting means may be constituted by a main scanning position adjusting means for adjusting a main scanning position and a sub-scanning position adjusting means for adjusting a sub-scanning position.
【0024】この場合、主走査位置調整手段は、主走査
位置の書き出しタイミングを制御することによって調整
を行うようにしてもよい。In this case, the main scanning position adjusting means may perform the adjustment by controlling the writing timing of the main scanning position.
【0025】また、副走査位置調整手段は、案内手段を
回転移動させ、副走査方向の書き出しタイミングを制御
することによって調整を行うようにしてもよい。Further, the sub-scanning position adjusting means may perform the adjustment by rotating the guide means and controlling the writing timing in the sub-scanning direction.
【0026】さらに、副走査位置調整手段は、案内手段
を副走査方向に移動するものであってもよい。Further, the sub-scanning position adjusting means may move the guide means in the sub-scanning direction.
【0027】ビーム径調整手段は、主走査方向のビーム
径を調整する主走査ビーム径調整手段と、副走査方向の
ビーム径を調整する副走査ビーム径調整手段とにより構
成してもよい。The beam diameter adjusting means may comprise a main scanning beam diameter adjusting means for adjusting the beam diameter in the main scanning direction and a sub-scanning beam diameter adjusting means for adjusting the beam diameter in the sub-scanning direction.
【0028】この場合、主走査ビーム径調整手段は、光
源から射出される光ビームの焦点位置を調整することに
よって主走査ビーム径を調整するようにしてもよい。In this case, the main scanning beam diameter adjusting means may adjust the main scanning beam diameter by adjusting the focal position of the light beam emitted from the light source.
【0029】副走査ビーム径調整手段は、第1の光学系
を構成するシリンドリカルレンズを傾けることにより調
整するものであってもよい。The sub-scanning beam diameter adjusting means may adjust the tilt by inclining a cylindrical lens constituting the first optical system.
【0030】光量調整手段は、少なくとも光源の移動又
は光源の光量を変更することによって光量の調整を行う
ようにしてもよい。The light amount adjusting means may adjust the light amount by moving at least the light source or changing the light amount of the light source.
【0031】請求項11に記載の発明は、光ビームを射
出する2つの光源と、前記光源毎に設けられ、前記光源
から射出された光ビームを所定のビーム形状に結像させ
る第1の結像光学系と、主走査方向及び副走査方向にそ
れぞれ異なる角度で前記結像光学系から入射された2つ
の光ビームを同一平面で且つ前記光ビームの幅より狭い
反射面で偏向する回転多面体と、前記回転多面体によっ
て偏向された2つの光ビームを線状に結像する第2の結
像光学系と、前記第2の結像光学系を通じて前記回転多
面体で偏向した2つの光ビームを個々に被走査媒体上へ
案内し、分割走査させる案内手段と、を備えた分割走査
装置のビーム状態調整方法であって、前記2つの光源か
ら射出されるそれぞれの前記光ビームのつなぎ目部にお
ける光量の粗調整を行い、次いで前記被走査媒体上を分
割走査される2つの前記光ビームのつなぎ目部における
副走査位置の粗調整を行った後に、前記被走査媒体上を
分割走査される2つの前記光ビームのつなぎ目部におけ
る主走査方向及び副走査方向の焦点位置を調整し、前記
案内手段によって分割走査される前記光ビームのつなぎ
目部における主走査及び副走査位置の調整を行った後
に、前記つなぎ目部の光量の調整を行うことを特徴とし
ている。According to an eleventh aspect of the present invention, there are provided two light sources for emitting light beams, and a first light source provided for each of the light sources and configured to image the light beams emitted from the light sources into a predetermined beam shape. An image optical system, and a rotating polyhedron that deflects two light beams incident from the image forming optical system at different angles in the main scanning direction and the sub-scanning direction on the same plane and a reflecting surface smaller than the width of the light beam. A second imaging optical system that linearly images the two light beams deflected by the rotating polyhedron, and the two light beams deflected by the rotating polyhedron through the second imaging optical system, respectively. And a guide means for guiding the laser beam onto the medium to be scanned and performing a split scan, wherein the beam state adjusting method of the split scanning device includes: a light amount coarser at a joint portion of each of the light beams emitted from the two light sources. Adjustment And then performing a coarse adjustment of the sub-scanning position at the joint of the two light beams divided and scanned on the medium to be scanned, and then joining the two light beams divided and scanned on the medium to be scanned. After adjusting the focal position in the main scanning direction and the sub-scanning direction in the section, and adjusting the main scanning and sub-scanning positions in the joint portion of the light beam divided and scanned by the guide means, the light amount of the joint portion is adjusted. It is characterized in that adjustment is performed.
【0032】本発明の構成によれば、2つの光源よりそ
れぞれ光ビームを射出し、それぞれの光源毎に設けられ
た第1の結像光学系によって、光源から射出された光ビ
ームを所定のビーム形状に結像する。また、回転多面体
の同一平面へ2つの光ビームが主走査方向及び副走査方
向にそれぞれ異なる角度で入射される。なお、回転多面
体の光ビームを偏向する反射面は、入射される光ビーム
の幅より狭い反射面である。すなわち、回転多面体に入
射される光ビーム幅は、回転多面体の反射面幅より広い
光束が入射される。According to the structure of the present invention, light beams are respectively emitted from the two light sources, and the light beams emitted from the light sources are converted into the predetermined beam by the first imaging optical system provided for each light source. Image into a shape. Further, two light beams are incident on the same plane of the rotating polyhedron at different angles in the main scanning direction and the sub-scanning direction. The reflecting surface of the rotating polyhedron that deflects the light beam is a reflecting surface that is narrower than the width of the incident light beam. That is, a light beam having a wider width than the reflecting surface of the rotating polyhedron enters the rotating polyhedron.
【0033】また、回転多面体によって主走査方向に2
つの光ビームがそれぞれ所定の角度で偏向され、案内手
段によって第2の結像光学系を通じて回転多面体で偏向
されたそれぞれの光ビームを被走査媒体上に案内し、被
走査媒体上の1ラインの走査を分光走査する分割走査装
置のビーム状態調整方法であって、2つの光源から射出
されるそれぞれの光ビームのつなぎ目部における光量の
粗調整を行い、次いで、被走査媒体上を分割走査される
2つの光ビームのつなぎ目部における副走査位置の粗調
整を行った後に、被走査媒体上を分割走査される2つの
光ビームのつなぎ目部における主走査方向及び副走査方
向の焦点位置を調整し、案内手段によって分割走査され
る光ビームのつなぎ目部における主走査及び副走査位置
の調整を行った後に、最後につなぎ目部の光量調整を行
う。Further, the rotating polyhedron is used in the main scanning direction.
The two light beams are respectively deflected by a predetermined angle, and the respective light beams deflected by the rotating polyhedron through the second imaging optical system by the guiding means are guided onto the medium to be scanned, and one line of the light beam on the medium to be scanned is guided. A beam state adjusting method of a divisional scanning device for performing spectral scanning, in which coarse adjustment of the amount of light at a joint portion of respective light beams emitted from two light sources is performed, and then the medium to be scanned is dividedly scanned. After the coarse adjustment of the sub-scanning position at the joint of the two light beams is performed, the focal position in the main scanning direction and the sub-scanning direction at the joint of the two light beams divided and scanned on the medium to be scanned is adjusted; After adjusting the main scanning and sub-scanning positions at the joints of the light beams divided and scanned by the guide means, finally, the light amount of the joints is adjusted.
【0034】このような手順によって分割走査装置のビ
ーム状態調整を行うことによって各調整を繰り返すこと
なく容易に調整を行うことができ、画質上のつなぎ目を
許容レベルにすることができる。すなわち、分割走査装
置のビーム状態調整を行うにあたり最適な調整方法であ
る。By adjusting the beam state of the divided scanning device according to such a procedure, the adjustment can be easily performed without repeating each adjustment, and the joint in image quality can be set to an acceptable level. That is, this is an optimal adjustment method for adjusting the beam state of the divided scanning device.
【0035】例えば、被走査媒体上を分割走査される2
つの光ビームのつなぎ目部における光量を調整した後
に、つなぎ目部における主走査方向及び副走査方向の焦
点位置の調整を行った場合、先に調整したつなぎ目部に
おける光量が主走査方向及び副走査方向の焦点位置を調
整することによってずれてしまうことがある。この場合
には、再度つなぎ目部における光量の調整を行う必要が
ある。しかし、上述の手順に従ってビーム状態の調整を
行うことによって、被走査媒体上のつなぎ目部における
走査線位置やビーム径、光量を良好にすることができる
と共に、各調整を繰り返すことなく効率的に分割走査装
置のビーム状態調整を行うことができる。For example, a divided scan 2 is performed on the medium to be scanned.
When the focus positions in the main scanning direction and the sub-scanning direction at the joint portion are adjusted after adjusting the light amount at the joint portion of the two light beams, the light amount at the joint portion adjusted earlier in the main scanning direction and the sub-scanning direction. Adjustment of the focus position may cause a shift. In this case, it is necessary to adjust the light amount at the joint again. However, by adjusting the beam state according to the above-described procedure, it is possible to improve the scanning line position, the beam diameter, and the light amount at the joint portion on the medium to be scanned, and to efficiently divide without repeating each adjustment. Beam condition adjustment of the scanning device can be performed.
【0036】[0036]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0037】図1に本発明の第1の実施の形態に係る分
割走査装置10の構成の(a)平面図、(b)側面図を
示す。図1において走査用の光ビームを出射する二つの
光源部が走査範囲の中心を示す中心線CLに対して対称
となる位置に各々配置されている。この二つの光源部
は、各々略ガウシアン分布の光ビームを発光する半導体
レーザ光源12a、12bを備えている。尚、本実施の
形態では半導体レーザ光源12aにより射出される光ビ
ームを第1の光ビームLBAとし、半導体レーザ光源1
2bより射出される光ビームを第2の光ビームLBBと
する。光源部における半導体レーザ光源12a、12b
の光ビーム射出側には縦横に異なる広がり角を有する光
ビームがその焦点位置から発光された場合に該光ビーム
を略平行光とする作用を有するコリメータレンズ14
a、14b、中央部の光ビームのみを通過させるビーム
整形用のスリット16a、16b及び入射した光ビーム
を後述する回転多面鏡の偏向面近傍に副走査方向に収束
させるシリンドリカルレンズ18a、18bが各々配置
されている。FIG. 1 shows (a) a plan view and (b) a side view of the configuration of a divided scanning device 10 according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, two light source units that emit light beams for scanning are arranged at positions symmetrical with respect to a center line CL indicating the center of the scanning range. The two light source units include semiconductor laser light sources 12a and 12b that emit light beams having a substantially Gaussian distribution, respectively. In this embodiment, the light beam emitted from the semiconductor laser light source 12a is referred to as a first light beam LBA,
The light beam emitted from 2b is referred to as a second light beam LBB. Semiconductor laser light sources 12a and 12b in the light source section
The collimator lens 14 has a function of turning the light beam into substantially parallel light when a light beam having a different spread angle in the vertical and horizontal directions is emitted from the focal position.
a, 14b, beam shaping slits 16a, 16b for passing only the central light beam, and cylindrical lenses 18a, 18b for converging the incident light beam in the sub-scanning direction near the deflection surface of a rotary polygon mirror described later, respectively. Are located.
【0038】なお、半導体レーザ光源12a、12b
は、図示しない制御部と接続されており、この制御部
は、画像情報に基づいた半導体レーザ光源12a、12
bの光ビーム出力を変調させる制御を行う。The semiconductor laser light sources 12a, 12b
Is connected to a control unit (not shown), which controls the semiconductor laser light sources 12a and 12a based on the image information.
Control for modulating the light beam output of b is performed.
【0039】また、コリメータレンズ14a、14b
は、半導体レーザ光源12a、12bとの間隔がコリメ
ータレンズ14a、14bの焦点距離よりも約1mm短
くなる位置に配置されており、この配置により、コリメ
ータレンズ14a、14bを通過した光ビームは、略平
行光とならずに緩い発散光となる。The collimator lenses 14a, 14b
Is disposed at a position where the distance from the semiconductor laser light sources 12a and 12b is shorter than the focal length of the collimator lenses 14a and 14b by about 1 mm. With this arrangement, the light beam passing through the collimator lenses 14a and 14b is substantially It becomes a loose divergent light instead of a parallel light.
【0040】さらに、シリンドリカルレンズ18a、1
8bの光ビーム射出側の延長先には、射出された光ビー
ムを反射する平面ミラー20a、20bが中心線CLに
対して対称の位置に各々配置されている。平面ミラー2
0a、20bの反射側には、複数の同一面幅の偏向面
(鏡面)を側面部に有する正多角柱の形状をなすと共に
中心軸の回りに図示しない駆動手段により矢印方向に等
角速度で回転する回転多面鏡22(所謂ポリゴンミラ
ー)が設けられている。なお、ポリゴンミラー22は、
その中心軸に中心線CLが通過する位置に配置されてい
る。Further, the cylindrical lenses 18a, 1
At the extension of the light beam emission side 8b, plane mirrors 20a and 20b that reflect the emitted light beam are arranged at symmetrical positions with respect to the center line CL. Flat mirror 2
On the reflection side of 0a and 20b, a polygonal prism having a plurality of deflecting surfaces (mirror surfaces) having the same surface width on the side surface is formed, and is rotated around the central axis at a constant angular velocity in a direction indicated by an arrow by driving means (not shown). A rotating polygon mirror 22 (so-called polygon mirror) is provided. The polygon mirror 22 is
It is arranged at a position where the center line CL passes through the center axis.
【0041】また、平面ミラー20a、20bとポリゴ
ンミラー22の間には、二枚組のレンズからなるfθレ
ンズ24がその光軸が中心線CLと一致するように配置
されている。オーバーフィルドタイプ光学系の場合、f
θレンズ24は、平面ミラー20a、20bにより反射
された緩い発散光の第1の光ビームLBA及び第2の光
ビームLBBをポリゴンミラー22の画幅より幅の広い
細長い線像として主走査方向に収束される。この時、第
1の光ビームLBA及び第2の光ビームLBBは、その
中心がポリゴンミラー22の同じ偏向面に到達するよう
に入射される。これより、第1、第2の光ビームLB
A、LBBは、複数の偏向面をまたがるように収束す
る。An fθ lens 24 composed of a pair of lenses is disposed between the plane mirrors 20a and 20b and the polygon mirror 22 so that the optical axis thereof coincides with the center line CL. For an overfilled optical system, f
lens converges in the main scanning direction the first light beam LBA and the second light beam LBB of the gently divergent light reflected by the plane mirrors 20a and 20b as an elongated line image wider than the image width of the polygon mirror 22. Is done. At this time, the first light beam LBA and the second light beam LBB are incident such that their centers reach the same deflection surface of the polygon mirror 22. Thus, the first and second light beams LB
A and LBB converge so as to straddle a plurality of deflection surfaces.
【0042】さらに、fθレンズ24は、ポリゴンミラ
ー22により偏向された光ビームが再びfθレンズ24
を通過するように配置されており、再度通過した光ビー
ムを後述する感光体34上に光スポットとして収束させ
ると共に、該光スポットを感光体34上で主走査方向に
略等速度で移動させる機能を有する。Further, the fθ lens 24 outputs the light beam deflected by the polygon mirror 22 to the fθ lens 24 again.
And a function of converging the light beam that has passed again as a light spot on a photoreceptor 34 to be described later and moving the light spot on the photoreceptor 34 at a substantially constant speed in the main scanning direction. Having.
【0043】また、ポリゴンミラー22に対してfθレ
ンズ24が配置されている側には、ポリゴンミラー22
により偏向された画像記録用の光ビームを反射するシリ
ンドリカルミラー26a、26bが配置され、このシリ
ンドリカルミラー26a、26bによって反射されてか
ら下部に配置された感光体34上に光ビームが照射され
る。尚、図1ではシリンドリカルミラー26a、26b
を用いているが、平面ミラーやシリンドリカルレンズで
もよい。シリンドリカルミラー26a、26b及びシリ
ンドリカルレンズは、副走査方向に集光能力を持ち、ポ
リゴンミラー22の偏向面のばらつきにより生じる感光
体34上での副走査方向の位置ずれを補正する機能を持
つ。On the side of the polygon mirror 22 where the fθ lens 24 is disposed, the polygon mirror 22
Cylindrical mirrors 26a and 26b that reflect the light beam for image recording deflected by the mirror are arranged, and are reflected by the cylindrical mirrors 26a and 26b before being irradiated with the light beam on a photosensitive member 34 arranged below. In FIG. 1, the cylindrical mirrors 26a, 26b
However, a flat mirror or a cylindrical lens may be used. The cylindrical mirrors 26a and 26b and the cylindrical lens have a light condensing ability in the sub-scanning direction, and have a function of correcting a displacement in the sub-scanning direction on the photoconductor 34 caused by a variation in the deflection surface of the polygon mirror 22.
【0044】感光体34は、光ビームに感応する感光材
料がその表面に塗布された細長い円柱状の形状を有して
おり、主走査方向が、この感光体34の長手方向に一致
するように配置されている。すなわち、ポリゴンミラー
22の回転方向と共に感光体34上に収束された光スポ
ットは、主走査方向に沿って移動し、走査線での画像記
録が可能となる。The photosensitive member 34 has an elongated cylindrical shape with a photosensitive material responsive to a light beam applied to the surface thereof, and the main scanning direction coincides with the longitudinal direction of the photosensitive member 34. Are located. That is, the light spot converged on the photoreceptor 34 together with the rotation direction of the polygon mirror 22 moves along the main scanning direction, and the image can be recorded on the scanning line.
【0045】また、感光体34は、その回転軸を中心と
して図示しない駆動手段により一定の回転速度で回転
し、感光体34上での走査線を副走査方向に順次移動さ
せることによって副走査がなされる。なお、ポリゴンミ
ラー22による一本の走査線の画像記録に対応する偏向
は、一つの偏向面により行われる。The photosensitive member 34 is rotated at a constant rotational speed about a rotation axis thereof by a driving means (not shown), and the scanning lines on the photosensitive member 34 are sequentially moved in the sub-scanning direction. Done. The deflection corresponding to the image recording of one scanning line by the polygon mirror 22 is performed by one deflection surface.
【0046】さらに、これらのラインにおける画像記録
が行われる書き出し位置を設定するために、fθレンズ
24を通過した第1の光ビームLBAの経路上には、第
1の光ビームLBAを折り返す平面ミラー28、副走査
方向にビームを結像させるシリンドリカルレンズ30、
SOSセンサ32が配置されている。このSOSセンサ
32は、図示しない制御部に接続されており、制御部は
SOSセンサ32の出力信号を検出した時点から所定時
間経過した後、画像信号の変調を開始するようになって
いる。また、第2の光ビームLBBは、第1の光ビーム
LBAのSOSセンサ32の出力信号に同期して、所定
時間経過した時点で、画像信号の変調が開始され、分割
走査が行われる。Further, in order to set a write start position at which image recording is performed on these lines, a plane mirror that folds the first light beam LBA is provided on the path of the first light beam LBA that has passed through the fθ lens 24. 28, a cylindrical lens 30 for imaging a beam in the sub-scanning direction,
An SOS sensor 32 is provided. The SOS sensor 32 is connected to a control unit (not shown), and the control unit starts modulating the image signal after a predetermined time has elapsed from the time when the output signal of the SOS sensor 32 is detected. Further, the second light beam LBB is synchronized with the output signal of the SOS sensor 32 of the first light beam LBA, and when a predetermined time has elapsed, the modulation of the image signal is started and the division scanning is performed.
【0047】次に、本実施の形態の分割走査装置におけ
る光学系の各部の調整機構について説明する。Next, the adjustment mechanism of each part of the optical system in the divided scanning device according to the present embodiment will be described.
【0048】光源である半導体レーザ光源12a、12
bは、図2に示すように、レーザ駆動回路基板42上に
配置されると共に、光軸に垂直な平面内の移動が可能な
構成とされ、主走査方向及び副走査方向に半導体レーザ
光源を移動調整することができる。なお、図2は、半導
体レーザ光源14aを示し、半導体レーザ光源14aか
ら射出される第1の光ビームLBAの光路の構成を示
し、半導体レーザ光源14bから射出される第2の光ビ
ームLBBの光路の構成については、第1の光ビームL
BAと同一のため省略する。Semiconductor laser light sources 12a and 12 as light sources
b, as shown in FIG. 2, is arranged on the laser drive circuit board 42 and is configured to be movable in a plane perpendicular to the optical axis, and the semiconductor laser light source is moved in the main scanning direction and the sub-scanning direction. The movement can be adjusted. FIG. 2 shows the semiconductor laser light source 14a, shows the configuration of the optical path of the first light beam LBA emitted from the semiconductor laser light source 14a, and shows the optical path of the second light beam LBB emitted from the semiconductor laser light source 14b. Of the first light beam L
It is omitted because it is the same as BA.
【0049】このように半導体レーザ光源12a、12
bを移動調整可能とすることにより、光量分布の調整を
行うことができる。As described above, the semiconductor laser light sources 12a and 12a
By enabling the movement adjustment of b, the light amount distribution can be adjusted.
【0050】コリメータレンズ14a、14bは、鏡筒
44内に組み込まれて配置されており、鏡筒44は分割
走査装置の外枠をなす筺体40に設けられた規制部材4
8により光軸方向にのみ移動可能に配置され、弾性部材
50の付勢力によって鏡筒44の移動が制限される。The collimator lenses 14a and 14b are disposed in the lens barrel 44, and the lens barrel 44 is provided with a regulating member 4 provided on a housing 40 forming an outer frame of the split scanning device.
8, the lens barrel 44 is arranged so as to be movable only in the optical axis direction, and the movement of the lens barrel 44 is restricted by the urging force of the elastic member 50.
【0051】鏡筒44を移動させ、半導体レーザ光源1
2a、12bとの間隔を調整することにより、感光体3
4上に結像する主走査方向の光ビーム焦点位置を調整す
ることができる。なお、コリメータレンズ14a、14
bを固定して、半導体レーザ光源を光軸方向に移動させ
ても同様に感光体上34に結像する主走査方向の光ビー
ム焦点位置を調整することができる。この場合のコリメ
ータレンズ14a、14bの固定は、筺体40と鏡筒4
4とを接着剤等によって固定するようにしてもよい。The lens barrel 44 is moved, and the semiconductor laser light source 1 is moved.
By adjusting the distance between the photoconductor 3 and the photoconductor 3
The focus position of the light beam in the main scanning direction, which forms an image on the light source 4, can be adjusted. The collimator lenses 14a, 14
Even if b is fixed and the semiconductor laser light source is moved in the optical axis direction, the focus position of the light beam in the main scanning direction that forms an image on the photosensitive member 34 can be similarly adjusted. In this case, the collimator lenses 14a and 14b are fixed by the housing 40 and the lens barrel 4.
4 may be fixed with an adhesive or the like.
【0052】シリンドリカルレンズ18a、18bは、
図2に示すように、コリメータレンズ14a、14bと
同様に鏡筒46に組み込まれて配置されており、鏡筒4
6は、筺体40に設けられたV字の溝に光軸方向への移
動及びシリンドリカルレンズの中心(母線)を基準に回
転が可能なように配置され、鏡筒46上部より弾性部材
50の付勢力によって固定されている。このように、シ
リンドリカルレンズ18a、18bは光軸方向への移動
と光軸中心に回転すなわちTILT可能な構成である。The cylindrical lenses 18a and 18b are
As shown in FIG. 2, similarly to the collimator lenses 14a and 14b, the
Numeral 6 is disposed in a V-shaped groove provided in the housing 40 so as to be movable in the optical axis direction and rotatable with respect to the center (general line) of the cylindrical lens. Fixed by power. As described above, the cylindrical lenses 18a and 18b are configured to be able to move in the optical axis direction and rotate around the optical axis, that is, TILT.
【0053】シリンドリカルミラー26a、26bは、
図3に示すような回転機構を有する。なお、図3は、シ
リンドリカルミラー26aの回転機構を示す図であり、
シリンドリカルミラー26bについては、同一のため省
略する。The cylindrical mirrors 26a and 26b are
It has a rotation mechanism as shown in FIG. FIG. 3 is a diagram showing a rotation mechanism of the cylindrical mirror 26a.
The description of the cylindrical mirror 26b is omitted because it is the same.
【0054】シリンドリカルミラー26a、26bは、
シリンドリカルミラー26a、26bの両端部にシリン
ドリカルミラー26a、26bを保持する保持部材55
が設けられており、保持部材55に固着された回転軸5
2を筺体40に設けられた支持部材54によって軸回転
可能に軸支されている。なお、シリンドリカルミラー2
6a、26bの反射面と回転軸52の回転中心は、一致
するように構成されている。The cylindrical mirrors 26a and 26b are
Holding members 55 for holding the cylindrical mirrors 26a, 26b at both ends of the cylindrical mirrors 26a, 26b
Are provided, and the rotating shaft 5 fixed to the holding member 55 is provided.
2 is rotatably supported by a support member 54 provided in the housing 40. In addition, the cylindrical mirror 2
The reflecting surfaces of 6a and 26b and the rotation center of the rotating shaft 52 are configured to coincide.
【0055】また、シリンドリカルミラー26a、26
bの光ビーム入射側には、L字型部材56が筺体40に
ネジで螺合されており、L字型部材56には、シリンド
リカルミラー26a、26bの回転を調整するためのネ
ジ58が貫通して配置されており、ネジ58を回転させ
ることによってシリンドリカルミラー26a、26bが
回転するよう構成されている。さらに、このネジ58に
対向してシリンドリカルミラー26a、26bの光ビー
ム入射側と反対側の面には、弾性部材60が筺体40に
ネジで螺合されており、弾性部材60の付勢力によって
シリンドリカルミラー26a、26bの回転が抑制され
る。Further, the cylindrical mirrors 26a, 26
On the light beam incident side b, an L-shaped member 56 is screwed to the housing 40 with a screw, and a screw 58 for adjusting the rotation of the cylindrical mirrors 26a and 26b passes through the L-shaped member 56. The cylindrical mirrors 26a and 26b are configured to rotate when the screw 58 is rotated. Further, an elastic member 60 is screwed to the housing 40 with a screw on the surface of the cylindrical mirrors 26a and 26b opposite to the light beam incident side facing the screw 58, and the cylindrical member is biased by the elastic member 60. The rotation of the mirrors 26a and 26b is suppressed.
【0056】このような構成にすることで、まず感光体
34上のつなぎ目部の副走査位置は、シリンドリカルミ
ラー26a、26bを回転させることで絶対的な位置を
合わせることができる。また、回転機構は片側のシリン
ドリカルミラー26b(または26a)だけでもよく、
この場合、固定側の第1の光ビームLBA(または第2
の光ビームLBB)の副走査位置に、可動側の光ビーム
第2の光ビームLBB(または第1の光ビームLBA)
を合わせ込む相対的な位置合わせとなる。With this configuration, the sub-scanning position of the joint on the photosensitive member 34 can be adjusted to the absolute position by rotating the cylindrical mirrors 26a and 26b. Further, the rotation mechanism may be only the cylindrical mirror 26b (or 26a) on one side,
In this case, the fixed-side first light beam LBA (or the second
The movable side light beam second light beam LBB (or first light beam LBA) is located at the sub-scanning position of the light beam LBB).
Is a relative position adjustment.
【0057】また、シリンドリカルミラー26a、26
bの回転機構は、これに限るものではなく、図3(b)
に示すものでもよい。Further, the cylindrical mirrors 26a, 26
The rotation mechanism of FIG. 3B is not limited to this, and FIG.
May be used.
【0058】図3(b)に示す回転機構は、シリンドリ
カルミラー26aを保持する保持部材62と保持部材6
2を支持する支持部材64とで構成されている。前記保
持部材62は円柱形の一部を切り取った形状でミラー回
転中心が円柱の中心と一致するように構成されている。
前記保持部材62は、前記支持部材64の半円穴と嵌合
し支持される。シリンドリカルミラー26aの回転規制
は、支持部材64を貫通するネジ66を回すことによっ
て行われる。このように、前記保持部材62は半円穴内
でミラーの回転中心がずれることなく回転し、シリンド
リカルミラー26aの傾き角を変化させ反射光の角度を
変えることができる。The rotation mechanism shown in FIG. 3B includes a holding member 62 for holding the cylindrical mirror 26a and a holding member 6 for holding the cylindrical mirror 26a.
2 and a support member 64 for supporting the second member 2. The holding member 62 has a shape obtained by cutting off a part of a cylinder, and is configured such that the mirror rotation center coincides with the center of the cylinder.
The holding member 62 is fitted and supported in a semicircular hole of the support member 64. The rotation of the cylindrical mirror 26a is restricted by turning a screw 66 passing through the support member 64. As described above, the holding member 62 rotates without shifting the rotation center of the mirror in the semicircular hole, and can change the inclination angle of the cylindrical mirror 26a to change the angle of the reflected light.
【0059】上述したシリンドリカルミラー26b(ま
た26a)の回転機構でも2つの光ビームの副走査位置
を1ライン以下の精度にすることは可能であるが、作業
性等を考慮すると電気的に副走査方向の光ビーム書き出
しタイミングを制御することで、より高精度な副走査位
置を合わせることができる。Although the above-described rotating mechanism of the cylindrical mirror 26b (or 26a) can make the sub-scanning position of the two light beams be accurate to one line or less, the sub-scanning is electrically performed in consideration of workability and the like. By controlling the light beam writing timing in the direction, the sub-scanning position can be adjusted with higher accuracy.
【0060】本実施の形態では、副走査方向のビームつ
なぎ目を微調整するために、光ビーム書き出しタイミン
グの制御が行われる。この光ビーム書き出しタイミング
の制御は、副走査位置を1ライン毎に複数ライン遅延可
能な構成であり、遅延可能な範囲内にシリンドリカルミ
ラー26a、26bの回転で副走査位置を調整すればよ
いことになる。例えば、特開平10−232357号公
報に開示された方法で実現可能である。この遅延可能な
範囲は、メモリの数や容量により任意に設定が可能であ
る。また、光ビーム書き出しタイミングの制御は片側の
光ビームだけでもよく、この場合、固定側の光ビームの
副走査位置に、可動側の光ビームを合わせ込む相対的な
位置合わせを行えばよい。In this embodiment, the light beam writing timing is controlled in order to finely adjust the beam joint in the sub-scanning direction. The control of the light beam writing timing is such that the sub-scanning position can be delayed by a plurality of lines for each line, and the sub-scanning position can be adjusted by rotating the cylindrical mirrors 26a and 26b within the delayable range. Become. For example, it can be realized by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-232357. The range in which the delay is possible can be arbitrarily set according to the number and capacity of the memories. In addition, the control of the light beam writing timing may be performed by only one side of the light beam. In this case, the relative position of the movable side light beam to the fixed side light beam sub-scanning position may be adjusted.
【0061】また、つなぎ目部の主走査位置の調整は、
副走査方向同様に光ビーム書き出しタイミングを制御す
ることによって行われる。この書き出しタイミングの制
御は、SOSセンサ32からの同期信号に基づいて1ド
ット単位で書き出し位置の調整を行うことができる。例
えば、特開平10−232357号公報に開示された方
法で実現可能である。通常、部品精度や組立て精度には
ある程度の公差(誤差)が生じてしまう。例えば、第2
の光ビームLBBのポリゴンミラー22に入射する角度
がずれた場合、または、ずれて調整された場合、感光体
34上のつなぎ目部で画像の重なり或いは欠落といった
現象がおきてしまう。上述した書き出しタイミングの制
御を行うことで主走査方向のつなぎ目部で画像を精度よ
く接続することができる。The adjustment of the main scanning position at the joint is as follows.
This is performed by controlling the light beam writing timing similarly to the sub-scanning direction. In the control of the write start timing, the write start position can be adjusted in units of one dot based on the synchronization signal from the SOS sensor 32. For example, it can be realized by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-232357. Usually, a certain degree of tolerance (error) occurs in component accuracy and assembly accuracy. For example, the second
If the angle of incidence of the light beam LBB on the polygon mirror 22 shifts or is adjusted, a phenomenon such as overlapping or missing images occurs at the joints on the photoconductor. By controlling the write start timing described above, it is possible to accurately connect images at the joint in the main scanning direction.
【0062】次に、上述してきた調整機構によって行う
つなぎ目の主走査及び副走査位置合わせ、つなぎ目のビ
ーム径、並びにつなぎ目の光量調整について説明する。Next, the main scanning and sub-scanning position adjustment at the joint, the beam diameter at the joint, and the light quantity adjustment at the joint performed by the above-described adjustment mechanism will be described.
【0063】例えば、図4に示すように、第1の光ビー
ムLBAが1つの主走査ラインを最後に入射するdot
(後端dot)と第2の光ビームLBBが1つの走査ラ
インを最初に入射するdot(先端dot)とが、主走
査方向に2dot、副走査方向に3ラインずれている
(図4(a)の状態) 。For example, as shown in FIG. 4, a dot where the first light beam LBA finally enters one main scanning line
The dot (the rear end dot) and the dot (the front end dot) where the second light beam LBB first enters one scanning line are shifted by 2 dots in the main scanning direction and 3 lines in the sub-scanning direction (FIG. 4A ) Condition).
【0064】まず、主走査方向の位置ずれを上述した書
き出しタイミングを制御することによって主走査方向の
位置ずれを調整する。この場合、第1の光ビームLBA
を2dot遅らせて書き始める、或いは、第2の光ビー
ムLBBを2dot早めに書き始めることで上記主走査
方向のずれ2dotを調整できる(図4(b)の状
態)。同様に、副走査方向の位置ずれは、上述した書き
出しタイミングを制御することによって副走査方向の位
置ずれを調整する。この場合、第1の光ビームLBAを
3ライン分遅らせて書き始める、或いは、第2の光ビー
ムLBBを3ライン分早めに書き始めることで上記副走
査方向のずれ3ラインを調整できる(図4(c)の状
態)。First, the position shift in the main scanning direction is adjusted by controlling the writing start timing described above for the position shift in the main scanning direction. In this case, the first light beam LBA
Is started by writing the second light beam LBB two dots earlier by delaying the second light beam by 2 dots, so that the shift 2dot in the main scanning direction can be adjusted (the state of FIG. 4B). Similarly, the positional deviation in the sub-scanning direction is adjusted by controlling the above-described writing start timing. In this case, the shift of the three lines in the sub-scanning direction can be adjusted by starting writing with the first light beam LBA delayed by three lines or starting writing the second light beam LBB three lines earlier (FIG. 4). (State of (c)).
【0065】つなぎ目部のビーム径は、焦点位置とスポ
ットサイズを調整する。まず焦点位置は主走査方向のビ
ーム径(Tangential)と副走査方向のビーム
径(Saggital)とで別個の機構を設けられてお
り、主走査方向は、半導体レーザ光源12a、12bと
コリメータレンズ14a、14bの間隔を変化させて行
う。また、副走査方向のビーム焦点位置は、シリンドリ
カルレンズ18a、18bを光軸方向に移動しておこな
う。スポットサイズは、シリンドリカルレンズ18a、
18bの回転(TILT機構)により主走査方向、副走
査方向共に調整が可能である。The beam diameter at the joint adjusts the focal position and the spot size. First, the focal position is provided with separate mechanisms for the beam diameter (Tangential) in the main scanning direction and the beam diameter (Sagital) in the sub-scanning direction. The main scanning direction is determined by the semiconductor laser light sources 12a and 12b and the collimator lens 14a. This is performed by changing the interval of 14b. The beam focal position in the sub-scanning direction is performed by moving the cylindrical lenses 18a and 18b in the optical axis direction. The spot size is the cylindrical lens 18a,
The rotation in the main scanning direction and the sub-scanning direction can be adjusted by the rotation of the 18b (TILT mechanism).
【0066】図5(a)に主走査方向のビーム、図5
(b)に副走査方向のビームの変化を示す。同図は、横
軸に走査位置、縦軸にビーム径をとり、シリンドリカル
レンズ18a、18bの回転角度により走査領域内のビ
ーム径の変化を示している。尚、横軸の走査位置が0m
mの場所が2つの光ビームLBA、LBBが接続するつ
なぎ目に相当する。FIG. 5A shows a beam in the main scanning direction.
(B) shows the change of the beam in the sub-scanning direction. In the figure, the horizontal axis indicates the scanning position, and the vertical axis indicates the beam diameter, and shows the change in the beam diameter in the scanning area according to the rotation angle of the cylindrical lenses 18a and 18b. The scanning position on the horizontal axis is 0 m
The position of m corresponds to a joint where the two light beams LBA and LBB are connected.
【0067】この図5のように、シリンドリカルレンズ
18a、18bの回転角度により、ビーム径の走査領域
内の均一性とつなぎ目部を合わせる。As shown in FIG. 5, the joint angle and the uniformity of the beam diameter in the scanning area are adjusted by the rotation angles of the cylindrical lenses 18a and 18b.
【0068】つなぎ目の光量は、粗調整と微調整の二段
階にわけて行う。まず粗調整は、半導体レーザ光源12
a、12bを光軸と垂直な平面内で主走査方向に移動す
ることで行う。本発明は、オーバーフィルド光学系を採
用しており、ポリゴンミラー22による偏向後の走査端
部の光量バランスを検出し、主走査方向の位置を決定し
ている。分割走査方式での走査端部は、図6に示すよう
に、第1の光ビームLBAではと、第2の光ビーム
LBBではととなる。このとまたはとのバ
ランスが取れ、且つとの光量が等しくなるのが理想
である(図6(a))。しかし、バランスと光量差を共
に両立させることは可能だが調整にかかる工数が増加し
てしまう。バランスを重視して調整を行うと図6(b)
のようになるが、分割走査方式ではつなぎ目部の光量差
が重要で画質に対する感度が高いため、との光量差
が許容範囲となるべく調整を行う(図6(c))。その
後、感光体34上の光量または、画質上の濃度により半
導体レーザ光源12a、12bの出力を変更することに
よって光量の微調整を行う。The amount of light at the joint is determined in two stages: coarse adjustment and fine adjustment. First, the rough adjustment is performed by the semiconductor laser light source 12.
This is performed by moving a and 12b in the main scanning direction in a plane perpendicular to the optical axis. The present invention employs an overfilled optical system, detects the light amount balance of the scanning end after deflection by the polygon mirror 22, and determines the position in the main scanning direction. As shown in FIG. 6, the scanning end in the divided scanning method is as follows for the first light beam LBA and for the second light beam LBB. Ideally, the balance between this and the other is balanced and the light amounts of the first and the second are equal (FIG. 6A). However, it is possible to achieve both the balance and the light amount difference, but the man-hour required for the adjustment increases. FIG. 6 (b) shows that the adjustment is performed with emphasis on balance.
However, since the difference in the light amount at the joint is important in the divided scanning method and the sensitivity to the image quality is high, adjustment is made so that the difference in the light amount is within an allowable range (FIG. 6C). Thereafter, fine adjustment of the light amount is performed by changing the output of the semiconductor laser light sources 12a and 12b according to the light amount on the photoreceptor 34 or the density in image quality.
【0069】続いて、本発明の第1の実施の形態におけ
る、光学系の調整方法及び作用について図7〜図11を
参照して説明する。Next, an adjusting method and an operation of the optical system according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
【0070】図7には、上述の光学系の調整の流れを示
すフローチャートを示す。初めにステップ100で、半
導体レーザ光源12a、12bを主走査方向に移動する
ことにより、光量の粗調整を行い、続くステップ102
で、半導体レーザ光源14a、14b及びシリンドリカ
ルミラー26a、26bの調整を行うことによって2つ
の半導体レーザ光源12a、12bより射出され感光体
34上に照射されるそれぞれの光ビームLBA、LBB
の副走査位置の粗調整を行い、半導体レーザ光源12
a、12bから感光体34に到るまでの光路を確立す
る。その後のステップでつなぎ目部のビーム径、光量、
主走査及び副走査方向の走査位置の微調整を行う。FIG. 7 is a flowchart showing the flow of the adjustment of the above-mentioned optical system. First, in step 100, the semiconductor laser light sources 12a and 12b are moved in the main scanning direction to roughly adjust the light amount.
By adjusting the semiconductor laser light sources 14a and 14b and the cylindrical mirrors 26a and 26b, the respective light beams LBA and LBB emitted from the two semiconductor laser light sources 12a and 12b and irradiated onto the photoconductor 34 are adjusted.
Coarse adjustment of the sub-scanning position of the semiconductor laser light source 12
The optical path from a, 12b to the photoreceptor 34 is established. In the subsequent steps, the beam diameter, light intensity,
Fine adjustment of the scanning position in the main scanning and sub-scanning directions is performed.
【0071】微調整に関しては、ステップ104で、ビ
ームの焦点位置を調整した後、ステップ106でつなぎ
目部のビーム径を調整し、ステップ108で、つなぎ目
部の主走査及び副走査方向の走査位置を調整を行い、ス
テップ110でつなぎ目部の光量の調整を行う。Regarding the fine adjustment, after the focal position of the beam is adjusted in step 104, the beam diameter of the joint is adjusted in step 106, and the scanning position of the joint in the main scanning and sub-scanning directions is adjusted in step 108. The adjustment is performed, and in step 110, the light amount at the joint portion is adjusted.
【0072】続いて、上述のステップ100〜ステップ
110の各ステップについて図8〜11に示すフローチ
ャートを参照して説明する。Next, each of the above-described steps 100 to 110 will be described with reference to flowcharts shown in FIGS.
【0073】図8に上述のステップ100における光量
の粗調整の流れを示すフローチャートを示す。光量の粗
調整では、第1の光ビームLBAと第2の光ビームLB
Bで別個に調整を行う。初めに、ステップ120で第1
の光ビームLBAの走査を行う。続くステップ122で
ポリゴンミラー22によって光ビームが反射され後の任
意の位置に配置された光センサにより光量検出を行い、
検出されたピーク値をピークホールド回路によってホー
ルドする。なお、光量を検出する光センサ及びピークホ
ールド回路は、分割走査装置10調整のための冶具に設
けられており、光センサは、ポリゴンミラー22で偏向
後の光路上の走査開始側(以下SOS)と走査終端側
(以下EOS)と走査中央(以下COS)の3箇所に配
置され、第1の光ビームではSOSセンサとCOSセン
サ、第2の光ビームではCOSセンサとEOSセンサで
検出された出力を用いる。FIG. 8 is a flowchart showing the flow of the coarse adjustment of the light amount in step 100 described above. In the coarse adjustment of the light amount, the first light beam LBA and the second light beam LB
Adjust separately at B. First, in step 120, the first
Of the light beam LBA. In the following step 122, the light amount is detected by an optical sensor arranged at an arbitrary position after the light beam is reflected by the polygon mirror 22,
The detected peak value is held by a peak hold circuit. An optical sensor for detecting the amount of light and a peak hold circuit are provided in a jig for adjusting the divided scanning device 10. The optical sensor is located on a scanning start side (hereinafter, SOS) on an optical path after being deflected by the polygon mirror 22. And the scanning end side (hereinafter referred to as EOS) and the scanning center (hereinafter referred to as COS). The first light beam detects the output detected by the SOS sensor and the COS sensor, and the second light beam detects the output detected by the COS sensor and the EOS sensor. Is used.
【0074】続くステップ124で、SOSとCOSの
ホールドされたピーク値を比較し、第1の光ビームLB
Aの両端のピーク値のバランスがとれているか否かを判
定する。ステップ124で両端部のピーク値のバランス
がとれていると判定した場合、第1の光ビームLBAの
光量バランスは正確にとれているとみなし次のステップ
128ヘ進む。In the following step 124, the held peak values of SOS and COS are compared, and the first light beam LB
It is determined whether the peak values at both ends of A are balanced. If it is determined in step 124 that the peak values at both ends are balanced, it is considered that the light amount balance of the first light beam LBA is accurately balanced, and the process proceeds to the next step 128.
【0075】ステップ124で両端部のピーク値のバラ
ンスがとれていないと判定した場合、光源位置がずれて
いるものとみなし、ステップ126へ移行し、半導体レ
ーザ光源12aを移動調整し、再び、ステップ122へ
移行し、両端部のピーク値のバランスがとれるまで同様
の処理を繰り返す。If it is determined in step 124 that the peak values at both ends are not balanced, it is assumed that the light source position is deviated, and the process proceeds to step 126 to move and adjust the semiconductor laser light source 12a. The process proceeds to step 122, and the same processing is repeated until the peak values at both ends are balanced.
【0076】一方、ステップ124で両端部のピーク値
のバランスがとれていると判定した場合、ステップ12
8によって第2の光ビームLBBの走査を行い、ステッ
プ130へ移行する。ステップ130では、COSとE
OSがピークホールドされ、ステップ132で両端部の
バランスがとれているか否か判定する。ステップ132
で両端部のピーク値のバランスがとれていると判定した
場合には、ステップ136へ移行し、ステップ132で
両端部のバランスがとれていないと判定した場合には、
ステップ134へ移行する。On the other hand, if it is determined in step 124 that the peak values at both ends are balanced, step 12
The scanning of the second light beam LBB is performed by 8, and the process proceeds to step 130. In step 130, COS and E
The OS is peak-held, and it is determined in step 132 whether both ends are balanced. Step 132
When it is determined that the peak values at both ends are balanced, the process proceeds to step 136. When it is determined at step 132 that both ends are not balanced,
Move to step 134.
【0077】ステップ134では、光源位置がずれてい
るものとみなし、半導体レーザ光源12bを移動調整
し、ステップ130へ移行して両端部のピーク値のバラ
ンスが取れるまで同様の処理を繰り返す。In step 134, it is assumed that the light source position is deviated, and the semiconductor laser light source 12b is moved and adjusted. The process proceeds to step 130 and the same processing is repeated until the peak values at both ends are balanced.
【0078】次にステップ136では、上述のステップ
122で検出した第1の光ビームLBAのCOSのピー
ク値とステップ128で検出した第2の光ビームLBB
のCOSのピーク値を比較し、ピーク値が等しいと判定
した場合、COSでの光量があっているとみなし処理を
終了する。ピーク値が等しくないと判定した場合には、
ステップ138で半導体レーザ光源12bを移動調整し
て、ステップ136に戻り、COSのピーク値が等しく
なるまで同様の処理を繰り返す。この場合、第2の光ビ
ームLBB両端のピーク値のバランスがとれなくなって
しまうことが考えられるが、この程度の調整では走査領
域における光量分布は画質許容レベル内にあり、実用上
問題ない。Next, at step 136, the peak value of the COS of the first light beam LBA detected at step 122 described above and the second light beam LBB detected at step 128
Are compared, and when it is determined that the peak values are equal, it is assumed that the light amount at the COS is sufficient, and the processing is terminated. If it is determined that the peak values are not equal,
In step 138, the semiconductor laser light source 12b is moved and adjusted, and the process returns to step 136, and the same processing is repeated until the peak values of COS become equal. In this case, it is conceivable that the peak values at both ends of the second light beam LBB may not be balanced. However, with such adjustment, the light quantity distribution in the scanning region is within the image quality allowable level, and there is no practical problem.
【0079】次に図9に上述のステップ102における
副走査位置の粗調整の流れを示すフローチャートを示
す。副走査の粗調整では、まず、ステップ140で第1
の光ビームLBAの走査を行い、ステップ142で、分
割走査装置10調整冶具上の感光体と等価な位置に設け
られた第1の光ビームLBAの副走査位置を検出する副
走査位置検出センサ36aによって副走査される第1の
光ビームLBAを検出し、ステップ144へ移行する。
ステップ144では、副走査位置検出センサ36aの信
号に基づいて第1の光ビームLBAの副走査位置を分割
走査装置10調整冶具の演算回路よって算出する。続い
て、ステップ146へ移行し、第2の光ビームLBBの
走査を行い、ステップ148へ移行する。ステップ14
8では、分割走査装置10調整冶具上の感光体と等価な
位置に設けられた第2の光ビームLBBの副走査位置を
検出する副走査位置検出センサ36bによって副走査さ
れる第2の光ビームLBBを検出し、ステップ150へ
移行する。ステップ150では、副走査位置検出センサ
36bの信号に基づいて第2の光ビームLBBの副走査
位置を分割走査装置10調整冶具の演算回路によって算
出する。FIG. 9 is a flowchart showing a flow of the coarse adjustment of the sub-scanning position in the above-described step 102. In the sub-scan coarse adjustment, first, in step 140, the first
The sub-scanning position detection sensor 36a which detects the sub-scanning position of the first light beam LBA provided at a position equivalent to the photosensitive member on the adjustment jig of the divided scanning device 10 in step 142. Then, the first light beam LBA to be sub-scanned is detected, and the process proceeds to step 144.
In step 144, the sub-scanning position of the first light beam LBA is calculated by the arithmetic circuit of the adjustment jig for the divided scanning device 10 based on the signal of the sub-scanning position detection sensor 36a. Subsequently, the flow shifts to step 146 to scan the second light beam LBB, and then shifts to step 148. Step 14
At 8, the second light beam that is sub-scanned by the sub-scanning position detection sensor 36b that detects the sub-scanning position of the second light beam LBB provided at a position equivalent to the photoconductor on the adjustment jig of the divided scanning device 10 The LBB is detected, and the process proceeds to step 150. In step 150, the sub-scanning position of the second light beam LBB is calculated by the arithmetic circuit of the adjustment jig for the divided scanning device 10 based on the signal of the sub-scanning position detection sensor 36b.
【0080】続いて、ステップ152では、光ビームL
BAと光ビームLBBの副走査方向の相対位置が許容範
囲以内に入っているか否かを判定する。ステップ152
で許容範囲以内に入っていると判定した場合、副走査位
置の粗調整は終了となる。また、ステップ152で許容
範囲以内に入っていないと判定した場合は、ステップ1
54へ移行し、第2の光ビームLBB側のシリンドリカ
ルミラー26bを回転調整してステップ148に戻り、
ステップ152で第1の光ビームLBAと第2の光ビー
ムLBBの副走査方向の相対位置が許容範囲以内に入る
まで同様の処理を繰り返す。Subsequently, at step 152, the light beam L
It is determined whether the relative position of BA and the light beam LBB in the sub-scanning direction is within an allowable range. Step 152
If it is determined that the value falls within the allowable range, the coarse adjustment of the sub-scanning position ends. If it is determined in step 152 that the value is not within the allowable range, step 1
Then, the flow proceeds to 54, where the rotation of the cylindrical mirror 26b on the second light beam LBB side is adjusted, and the flow returns to step 148.
In step 152, the same processing is repeated until the relative position of the first light beam LBA and the second light beam LBB in the sub-scanning direction falls within the allowable range.
【0081】次に図10に、上述のステップ104にお
けるビーム焦点位置調整及び上述のステップ106にお
けるつなぎ目部ビーム径調整の流れを示すフローチャー
トを示す。Next, FIG. 10 is a flowchart showing the flow of the beam focus position adjustment in the above-mentioned step 104 and the joint beam diameter adjustment in the above-mentioned step 106.
【0082】ビーム焦点位置調整は、第1の光ビームL
BA、第2の光ビームLBB共に同様の処理を行うた
め、第1の光ビームLBAを例に説明する。まず、ステ
ップ160で第1の光ビームLBAを点灯させ、ステッ
プ162で主走査方向の光ビーム焦点位置を検出する。
続いて、ステップ164で検出された信号から主走査方
向の光ビーム焦点位置を算出し、ステップ166へ移行
する。ステップ166では、検出された焦点位置が許容
範囲以内に入っているか否か判定する。ステップ166
で、焦点位置が許容範囲以内に入ていると判定した場合
には、次のステップ170へ進む。許容範囲以内に入っ
ていないと判定した場合には、ステップ168へ移行
し、ステップ168で、コリメータレンズ14aを光軸
方向に移動調整を行った後ステップ162へ戻り、ステ
ップ166で許容範囲以内に入るまで同様の処理を繰り
返す。The beam focal position is adjusted by adjusting the first light beam L
Since the same processing is performed for both the BA and the second light beam LBB, the first light beam LBA will be described as an example. First, in step 160, the first light beam LBA is turned on, and in step 162, the light beam focal position in the main scanning direction is detected.
Subsequently, the light beam focal position in the main scanning direction is calculated from the signal detected in step 164, and the process proceeds to step 166. In step 166, it is determined whether or not the detected focal position is within the allowable range. Step 166
If it is determined that the focal position is within the allowable range, the process proceeds to the next step 170. If it is determined that the collimator lens 14a is not within the allowable range, the process proceeds to step 168. In step 168, the collimator lens 14a is moved and adjusted in the optical axis direction, and then returns to step 162. The same processing is repeated until it enters.
【0083】一方、166で許容範囲以内に入っている
と判定し、ステップ170へ移行すると、ステップ17
0では、副走査方向のビーム焦点位置を検出し、ステッ
プ172で検出された信号から副走査位置の光ビーム焦
点位置を算出して、ステップ174へ移行する。ステッ
プ174では、検出された焦点位置が許容範囲以内に入
っているか否か判定する。ステップ174で、焦点位置
が許容範囲以内に入ていると判定した場合には、次のス
テップ178へ進む。許容範囲以内に入っていないと判
定した場合には、ステップ176で、シリンドリカルレ
ンズ18aを光軸方向に移動調整を行った後ステップ1
70へ戻り、ステップ174で許容範囲以内に入るまで
同様の処理を繰り返す。On the other hand, at 166, it is determined that the value falls within the allowable range, and the routine goes to step 170.
In the case of 0, the beam focal position in the sub-scanning direction is detected, the light beam focal position of the sub-scanning position is calculated from the signal detected in step 172, and the process proceeds to step 174. In step 174, it is determined whether or not the detected focal position is within the allowable range. If it is determined in step 174 that the focal position is within the allowable range, the process proceeds to the next step 178. If it is determined that the position is not within the allowable range, the movement of the cylindrical lens 18a in the optical axis direction is adjusted in step 176, and then the flow proceeds to step 1
Returning to step 70, the same processing is repeated until it is within the allowable range in step 174.
【0084】また、ステップ174で許容範囲以内に入
っていると判定し、ステップ178へ移行すると、ステ
ップ178では、第1の光ビームLBA及び第2の光ビ
ームLBBのつなぎ目部の主走査及び副走査方向のビー
ム径を検出する。続いてステップ180へ移行し、ステ
ップ180では、ビーム径が許容範囲以内に入っている
か否か判定する。ステップ180でビーム径が許容範囲
以内に入っていると判定した場合、ビーム径の調整は終
了となる。ステップ180で許容範囲以内に入っていな
いと判定した場合には、ステップ182へ移行し、シリ
ンドリカルレンズ18aを回転調整(TILT機構によ
る調整)した後、ステップ178へ戻り、ビーム径が許
容範囲以内に入るまで同様の処理を繰り返す。Further, in step 174, it is determined that it is within the allowable range, and in step 178, in step 178, the main scanning and the sub-scanning of the joint portion of the first light beam LBA and the second light beam LBB are performed. The beam diameter in the scanning direction is detected. Subsequently, the process proceeds to step 180, where it is determined whether the beam diameter is within the allowable range. If it is determined in step 180 that the beam diameter is within the allowable range, the adjustment of the beam diameter ends. If it is determined in step 180 that the beam diameter does not fall within the allowable range, the process proceeds to step 182, in which the rotation of the cylindrical lens 18a is adjusted (adjustment by the TILT mechanism). The same processing is repeated until it enters.
【0085】次に図11に上述のステップ108におけ
るつなぎ目部の主走査及び副走査の位置、並びに、上述
のステップ110におけるつなぎ目部の光量の調整の流
れを示すフローチャートを示す。まず、ステップ190
でプリントサンプルを採取し、ステップ192でプリン
トサンプルより現状の主走査方向の位置ずれを検出し、
ステップ194でプリントサンプルより現状の副走査方
向の位置ずれを検出する。続いてステップ196でプリ
ントサンプルより現状のつなぎ目部の濃度差を検出し、
ステップ198へ移行する。ステップ198では、主走
査方向の位置ずれ量が許容範囲以内に入っているか否か
判定し、ステップ198で許容範囲以内に入っていると
判定した場合、次のステップ202へ進む。ステップ1
98で許容範囲以内に入っていないと判定した場合に
は、ステップ200へ移行し、ステップ200では、主
走査方向の書き出しタイミングを制御して、主走査方向
の位置ずれ調整を行った後、ステップ190へ戻り、ス
テップ198で主走査方向の位置ずれが許容範囲以内に
入るまで同様の処理を繰り返す。Next, FIG. 11 is a flow chart showing the main scanning and sub-scanning positions of the joint portion at the above-mentioned step 108 and the flow of adjustment of the light quantity at the joint portion at the above-mentioned step 110. First, step 190
A print sample is collected in step 192. In step 192, the current positional deviation in the main scanning direction is detected from the print sample.
In step 194, the current position shift in the sub-scanning direction is detected from the print sample. Subsequently, in step 196, the current density difference at the joint portion is detected from the print sample,
Move to step 198. In step 198, it is determined whether or not the positional deviation amount in the main scanning direction is within the allowable range. If it is determined in step 198 that the positional deviation is within the allowable range, the process proceeds to the next step 202. Step 1
If it is determined in step 98 that the position does not fall within the allowable range, the process proceeds to step 200. In step 200, the writing timing in the main scanning direction is controlled to adjust the positional deviation in the main scanning direction. Returning to 190, the same processing is repeated in step 198 until the displacement in the main scanning direction falls within the allowable range.
【0086】ステップ198で、許容範囲以内に入って
いると判定し、ステップ202へ移行するとステップ2
02では、副走査方向のずれ量が主走査方向のずれ量と
同様に許容範囲以内に入っているか否か判定する。ステ
ップ202で、許容範囲以内に入っていると判定した場
合には、次のステップ206へ移行する。ステップ20
2で許容範囲以内に入っていないと判定した場合には、
ステップ204へ移行し、副走査方向の書き出しタイミ
ングを制御して、副走査方向の位置ずれ調整を行った
後、ステップ190へ戻り、ステップ202で副走査方
向の位置ずれが許容範囲以内に入るまで同様の処理を繰
り返す。At step 198, it is determined that the value falls within the allowable range.
In 02, it is determined whether or not the shift amount in the sub-scanning direction falls within the allowable range, similarly to the shift amount in the main scanning direction. If it is determined in Step 202 that the value falls within the allowable range, the process proceeds to the next Step 206. Step 20
If it is determined that the value is not within the allowable range in 2,
The process proceeds to step 204, where the writing start timing in the sub-scanning direction is controlled to adjust the position shift in the sub-scanning direction. Then, the process returns to step 190 until the position shift in the sub-scanning direction falls within the allowable range in step 202. The same processing is repeated.
【0087】ステップ202で、許容範囲以内に入って
いると判定し、ステップ206へ移行するとステップ2
06では、つなぎ目部の濃度差が許容範囲以内に入って
いるか否か判定する。At step 202, it is determined that the value falls within the allowable range.
At 06, it is determined whether or not the density difference at the joint is within the allowable range.
【0088】ステップ206で、許容範囲以内に入って
いないと判定した場合には、ステップ208へ移行し、
第1及び第2の光ビームの光量を変更して濃度差調整を
行った後ステップ190へ戻り、ステップ206で許容
範囲以内に入るまで同様の処理が繰り返される。ステッ
プ206で許容範囲以内に入っていると判定した場合に
は、一連の調整は全て終了となる。If it is determined in step 206 that the value is not within the allowable range, the process proceeds to step 208,
After the density difference is adjusted by changing the light amounts of the first and second light beams, the process returns to step 190, and the same processing is repeated until the difference falls within the allowable range in step 206. If it is determined in step 206 that the value falls within the allowable range, the series of adjustments are all completed.
【0089】上述した手順によって、個々の調整を繰り
返すことなく効率的に調整を行うことができる。According to the above-described procedure, adjustment can be performed efficiently without repeating individual adjustments.
【0090】以上、本発明の第1の実施の形態によれ
ば、つなぎ目部の主走査方向の位置、副走査方向の位
置、ビーム径、光量合わせを精度良く容易に行うことが
できる。As described above, according to the first embodiment of the present invention, the position of the joint in the main scanning direction, the position in the sub-scanning direction, the beam diameter, and the amount of light can be easily adjusted with high accuracy.
【0091】次に、図12に本発明の第2の実施の形態
に係る分割走査装置の構成の(a)平面図、(b)側面
図を示す。本実施の形態に係る分割走査装置が第1の実
施の形態に係る分割走査装置と構成上大きく異なるの
は、図12において第1の光ビームLBA及び第2の光
ビームLBBがポリゴンミラー22で偏向され、fθレ
ンズ24を透過した後に、折り返し反射ミラー70を1
枚配置した点である。Next, FIG. 12 shows (a) a plan view and (b) a side view of the configuration of a divided scanning device according to a second embodiment of the present invention. The difference between the split scanning device according to the present embodiment and the split scanning device according to the first embodiment in configuration is that the first light beam LBA and the second light beam LBB in FIG. After being deflected and passing through the fθ lens 24, the return reflecting mirror 70
This is the point of the arrangement.
【0092】折り返し反射ミラー70はポリゴンミラー
22によって反射された2つの光ビームを1枚で反射し
シリンドリカルミラー26a、26bを介して感光体3
4上を走査している。オーバーフィルド光学系は、従来
のアンダーフィルド光学系と比べ回転多面鏡の走査角が
狭いため、走査領域を確保するため光路長が長くなって
しまう。折り返し反射ミラー70を用いることで、光路
を折り返し、装置の小型化が図れる。ただし、折り返し
反射ミラー70に入射する光ビームが副走査方向に理想
と異なる角度で入射した場合や、理想と異なる位置に入
射した場合に、折り返し反射ミラー70を反射した第1
の光ビームLBA及び第2の光ビームLBBはシリンド
リカルミラー26a、26bの回転軸と異なる位置に入
射してしまう。シリンドリカルミラー26a、26bの
光学的な有効範囲に入射されていれば、シリンドリカル
ミラー26a、26bの回転で感光体34上の副走査位
置を合わせることが可能である。しかし、入射する第1
の光ビームLBA及び第2の光ビームLBBの位置とシ
リンドリカルミラー26a、26bの回転軸が異なって
いるためミラーの回転により、反射点が光軸方向にずれ
て光路長が変化してしまい、シリンドリカルミラー26
a、26bの本来の機能であるポリゴンミラー22の偏
向面のばらつきによって生じる走査線むらの補正が十分
に働かないことになる。また、第1の実施の形態のよう
に、シリンドリカルミラー26a、26bは平面ミラー
やシリンドリカルレンズであっても構わない。The return reflecting mirror 70 reflects the two light beams reflected by the polygon mirror 22 on a single sheet, and passes the photosensitive member 3 through the cylindrical mirrors 26a and 26b.
4 is being scanned. In the overfilled optical system, the scanning angle of the rotary polygon mirror is smaller than that of the conventional underfilled optical system, so that the optical path length is increased to secure a scanning area. By using the return reflection mirror 70, the optical path is turned back and the size of the device can be reduced. However, when the light beam incident on the return reflecting mirror 70 enters the sub-scanning direction at an angle different from the ideal or at a position different from the ideal, the first light reflected on the return reflecting mirror 70 is returned.
Light beam LBA and the second light beam LBB are incident on positions different from the rotation axes of the cylindrical mirrors 26a and 26b. As long as the light enters the optically effective range of the cylindrical mirrors 26a and 26b, the sub-scanning position on the photoconductor 34 can be adjusted by the rotation of the cylindrical mirrors 26a and 26b. However, the first
Since the positions of the light beam LBA and the second light beam LBB are different from the rotation axes of the cylindrical mirrors 26a and 26b, the rotation of the mirrors shifts the reflection point in the optical axis direction and changes the optical path length. Mirror 26
Correction of scanning line unevenness caused by variation of the deflection surface of the polygon mirror 22, which is an original function of the a and 26b, does not work sufficiently. Further, as in the first embodiment, the cylindrical mirrors 26a and 26b may be flat mirrors or cylindrical lenses.
【0093】上述のような問題点を解決するため、シリ
ンドリカルミラー26a、26B面の母線位置である回
転中心に第1の光ビームLBA及び第2の光ビームLB
Bを入射させるために、シリンドリカルミラー26a、
26bを移動する移動機構を設けた。図13にシリンド
リカルミラー26a、26bの移動機構を示す。In order to solve the above-mentioned problems, the first light beam LBA and the second light beam LB are placed at the rotation center, which is the generatrix position of the surfaces of the cylindrical mirrors 26a and 26B.
In order to make B incident, a cylindrical mirror 26a,
A moving mechanism for moving 26b is provided. FIG. 13 shows a mechanism for moving the cylindrical mirrors 26a and 26b.
【0094】図13は、図3(b)に示すシリンドリカ
ルミラー26a、26bの回転機構を含む移動機構の構
成を示している。構成上図3(b)と異なるのは、支持
部材64を支持する移動支持部材を設けた点である。移
動支持部材72は、筺体40に固定されおり、光軸とシ
リンドリカルミラー26bの回転中心を含む面に対して
直行する方向に支持部材64を移動可能に支持する構成
となっている。FIG. 13 shows a configuration of a moving mechanism including a rotating mechanism of the cylindrical mirrors 26a and 26b shown in FIG. 3B. The configuration differs from FIG. 3B in that a moving support member for supporting the support member 64 is provided. The movable support member 72 is fixed to the housing 40, and is configured to movably support the support member 64 in a direction perpendicular to a plane including the optical axis and the rotation center of the cylindrical mirror 26b.
【0095】なお、上述のシリンドリカルミラー26
a、26bの移動機構は2つの光ビームLBA、LBB
両方(シリンドリカルミラー26a、26b)に備えて
もよいが、一方のみでも十分に機能することができるた
め、本発明の第2の実施の形態は、第2の光ビームLB
Bの方(シリンドリカルミラー26b)に備える構成と
なっている。まず、折り返し反射ミラー70を回転させ
固定側シリンドリカルミラー26a(または26b)の
回転中心に第1の光ビームLBA(または第2の光ビー
ムLBB)を入射させる。可動側は、第2の光ビームL
BB(または第1の光ビームLBA)の理想位置からの
副走査方向のずれ量を検出し、そのずれ量からシリンド
リカルミラー26b(またはシリンドリカルミラー26
a)の移動量を算出し第2の光ビームLBB(または第
1の光ビームLBA)にシリンドリカルミラー26b
(またはシリンドリカルミラー26a)の回転中心をあ
わせこむ。なお、移動方向はシリンドリカルミラー面の
法線方向もしくは理想入射光軸の垂線方向どちらでもよ
い。The above-described cylindrical mirror 26
a and 26b are moved by two light beams LBA and LBB.
Although they may be provided for both (cylindrical mirrors 26a and 26b), only one of them can function sufficiently. Therefore, the second embodiment of the present invention employs the second light beam LB
A configuration is provided for the B side (cylindrical mirror 26b). First, the turning reflection mirror 70 is rotated so that the first light beam LBA (or the second light beam LBB) is incident on the rotation center of the fixed-side cylindrical mirror 26a (or 26b). The movable side is the second light beam L
The shift amount of the BB (or the first light beam LBA) from the ideal position in the sub-scanning direction is detected, and based on the shift amount, the cylindrical mirror 26b (or the cylindrical mirror 26).
a) is calculated, and the second light beam LBB (or the first light beam LBA) is added to the cylindrical mirror 26b.
(Or the center of rotation of the cylindrical mirror 26a). The moving direction may be either the normal direction of the cylindrical mirror surface or the direction perpendicular to the ideal incident optical axis.
【0096】なお、分割走査装置10調整冶具には、上
述のシリンドリカルミラー26bの移動量を算出するた
めに、シリンドリカルミラー26a、26bの光ビーム
入射側に光ビームの副走査方向のずれを検出するPSD
センサ(ポジションセンサ)74a、74bがそれぞれ
設けられている。In order to calculate the amount of movement of the above-mentioned cylindrical mirror 26b, the displacement jig in the sub-scanning direction is detected on the light beam incident side of the cylindrical mirrors 26a and 26b. PSD
Sensors (position sensors) 74a and 74b are provided, respectively.
【0097】続いて本発明の第2の実施の形態における
分割走査装置10の調整方法について説明する。調整項
目は、第1の実施の形態と同様である(図7参照)。最
初に光量の粗調整(ステップ100)、副走査位置の粗
調整(ステップ102)の順で行い、半導体レーザ光源
から感光体までの光路を確立する。光路確立後、ビーム
焦点位置(ステップ104)、つなぎ目部のビーム径
(ステップ106)、主副走査位置(ステップ10
8)、光量(ステップ110)の徴調整を行う。ここで
は、本発明の第1の実施の形態と異なる副走査位置の粗
調整に関してのみ詳細に説明する。副走査位置の粗調整
の調整ルーチンは図14のフローチャートを参照して説
明する。なお、本フローチャートはシリンドリカルミラ
ーの移動機構及び回転機構は第2の光ビームLBB側の
みに設けられている構成に対しての説明である。Next, a description will be given of a method of adjusting the divided scanning device 10 according to the second embodiment of the present invention. The adjustment items are the same as in the first embodiment (see FIG. 7). First, coarse adjustment of the light quantity (step 100) and coarse adjustment of the sub-scanning position (step 102) are performed in this order, and an optical path from the semiconductor laser light source to the photoconductor is established. After establishing the optical path, the beam focal position (step 104), the beam diameter at the joint (step 106), the main / sub scanning position (step 10)
8) Adjust the amount of light (step 110). Here, only the coarse adjustment of the sub-scanning position different from that of the first embodiment of the present invention will be described in detail. The adjustment routine for the coarse adjustment of the sub-scanning position will be described with reference to the flowchart of FIG. This flowchart is for a configuration in which the moving mechanism and the rotating mechanism of the cylindrical mirror are provided only on the second light beam LBB side.
【0098】副走査位置の粗調整は、まず、ステップ3
00で第1の光ビームLBAを走査し、続くステップ3
02でシリンドリカルミラー26aの光ビーム入射側に
設けられたPSDセンサ74aの出力から光路を検出
し、ステップ304へ移行する。ステップ304では、
PSD74aによって検出された光路が許容範囲以内に
入っているか否か判定する。ステップ304で許容範囲
以内に入っていると判定した場合は、ステップ308へ
移行し、ステップ304で許容範囲以内に入っていない
と判定場合には、ステップ306へ移行し、ステップ3
06で折り返し反射ミラー70を回転調整し、ステップ
302へ戻り許容範囲以内に入るまで同様の処理を繰り
返す。In the coarse adjustment of the sub-scanning position, first, in step 3
In step 00, the first light beam LBA is scanned.
In step 02, the optical path is detected from the output of the PSD sensor 74a provided on the light beam incident side of the cylindrical mirror 26a. In step 304,
It is determined whether or not the optical path detected by the PSD 74a is within the allowable range. If it is determined in step 304 that it is within the allowable range, the process proceeds to step 308. If it is determined in step 304 that it is not within the allowable range, the process proceeds to step 306 and step 3
In step 06, the turning reflection mirror 70 is rotated and adjusted, and the flow returns to step 302 to repeat the same processing until the reflection mirror 70 is within the allowable range.
【0099】ステップ304で許容範囲以内に入ってい
ると判定し、ステップ308へ移行すると、ステップ3
08では、第2の光ビームLBBを走査させ、続くステ
ップ310でシリンドリカルミラー26bの光ビーム入
射側に設けられたPSDセンサ74bの出力から光路を
検出し、ステップ312へ移行する。ステップ312で
は、図示しない演算回路によって理想光路からのずれ量
を算出し、ステップ314へ移行する。ステップ314
では、算出されたずれ量が許容範囲以内に入っているか
否か判定する。ステップ314で許容範囲以内に入って
いると判定した場合はステップ320へ移行する。ステ
ップ314で許容範囲以内に入っていないと判定した場
合には、ステップ316へ移行して、ステップ312で
算出されたずれ量からシリンドリカルミラー26bの中
央に光ビームが入射されるようシリンドリカルミラー2
6bの移動量が算出される。続いてステップ318で算
出されたシリンドリカルミラー26bの移動量に基づい
てシリンドリカルミラー26bの移動機構を調整し、ス
テップ320へ移行する。At step 304, it is determined that the value falls within the allowable range.
In step 08, the second light beam LBB is scanned, and in step 310, the optical path is detected from the output of the PSD sensor 74 b provided on the light beam incident side of the cylindrical mirror 26 b, and the process proceeds to step 312. In step 312, the amount of deviation from the ideal optical path is calculated by an arithmetic circuit (not shown), and the process proceeds to step 314. Step 314
Then, it is determined whether or not the calculated shift amount falls within an allowable range. If it is determined in step 314 that the value falls within the allowable range, the process proceeds to step 320. If it is determined in step 314 that the light beam does not fall within the allowable range, the process proceeds to step 316, and the cylindrical mirror 2 is moved from the displacement amount calculated in step 312 so that the light beam enters the center of the cylindrical mirror 26b.
6b is calculated. Subsequently, the moving mechanism of the cylindrical mirror 26b is adjusted based on the moving amount of the cylindrical mirror 26b calculated in step 318, and the process proceeds to step 320.
【0100】次に、シリンドリカルミラーを回転させ感
光体上での副走査位置を合わせ込む。まず、ステップ3
20で、第1の光ビームLBAを走査し、続くステップ
322で分光走査装置10調整冶具上の感光体と等価な
位置に設けられた副走査位置検出センサ36aによって
副走査位置を検出し、ステップ324で、検出された信
号を基に副走査位置を分割走査装置10調整冶具の演算
回路によって算出し、ステップ326へ移行する。ステ
ップ326では、第2の光ビームLBBを走査し、続く
ステップ328で分光走査装置10調整冶具上の感光体
と等価な位置に設けられた副走査位置検出センサ36b
によって副走査位置を検出し、ステップ330で検出さ
れた信号を基に副走査位置を分光走査装置10調整冶具
の演算回路によって算出してステップ332へ移行す
る。ステップ332では、第1の光ビームLBAと第2
の光ビームLBBの相対位置が許容範囲以内に入ってい
るか否か判定する。ステップ322で許容範囲以内に入
っていると判定した場合、副走査位置の調整は終了とな
る。ステップ322で許容範囲以内に入っていないと判
定した場合には、ステップ334へ移行し、ステップ3
34でシリンドリカルミラー26bを回転調整し、ステ
ップ328へ戻り、ステップ332で許容範囲以内に入
っていると判定するまで同様の処理を繰り返す。Next, the cylindrical mirror is rotated to adjust the sub-scanning position on the photosensitive member. First, step 3
In step 20, the first light beam LBA is scanned, and in step 322, a sub-scanning position is detected by a sub-scanning position detection sensor 36a provided at a position equivalent to the photoconductor on the adjusting jig of the spectral scanning device 10, and At 324, the sub-scanning position is calculated by the arithmetic circuit of the adjustment tool for the divided scanning device 10 based on the detected signal, and the process proceeds to step 326. In step 326, the second light beam LBB is scanned, and in step 328, the sub-scanning position detection sensor 36b provided at a position equivalent to the photosensitive member on the adjusting jig of the spectral scanning device 10
Then, the sub-scanning position is calculated by the arithmetic circuit of the adjusting jig of the spectral scanning device 10 based on the signal detected in step 330 based on the signal detected in step 330, and the process proceeds to step 332. In step 332, the first light beam LBA and the second
It is determined whether or not the relative position of the light beam LBB is within the allowable range. If it is determined in step 322 that the value falls within the allowable range, the adjustment of the sub-scanning position ends. If it is determined in step 322 that the value is not within the allowable range, the process proceeds to step 334, and
At 34, the rotation of the cylindrical mirror 26b is adjusted, and the process returns to step 328, and the same processing is repeated until it is determined at step 332 that it is within the allowable range.
【0101】上述した手順で調整を行うことによって個
々の調整を繰り返すことなく効率的に調整を行うことが
できる。By performing the adjustment according to the above-described procedure, the adjustment can be performed efficiently without repeating each adjustment.
【0102】以上、本発明の第2の実施の形態によれ
ば、つなぎ目部の主走査方向の位置、副走査方向の位
置、ビーム径、光量合わせを精度良く行うことができ、
且つ装置の小型化が可能である。As described above, according to the second embodiment of the present invention, the position of the joint in the main scanning direction, the position in the sub-scanning direction, the beam diameter, and the light amount can be accurately adjusted.
In addition, the size of the device can be reduced.
【0103】次に、図15に本発明の第3の実施の形態
に係る分割走査装置の構成の(a)平面図、(b)側面
図を示す。本実施の形態に係る分割走査装置が第1及び
第2の実施の形態に係る分割走査装置と構成上異なるの
は、図15において光ビームLBA、LBBがポリゴン
ミラー22で偏向し、fθレンズ24を透過後に折り返
し反射ミラー70a、70bを個々の光ビームに対応し
て1枚ずつ配置した点である。Next, FIG. 15 shows (a) a plan view and (b) a side view of the configuration of a divided scanning device according to a third embodiment of the present invention. The configuration of the split scanning device according to the present embodiment differs from the split scanning devices according to the first and second embodiments in that the light beams LBA and LBB are deflected by the polygon mirror 22 in FIG. The reflection mirrors 70a and 70b are arranged one by one corresponding to each light beam after passing through the mirror.
【0104】折り返し反射ミラー70a、70bは各光
ビームLBA、LBBを個々に反射しシリンドリカルミ
ラー26a、26bを介して感光体34を走査してい
る。この構成にすることで、分割走査装置の小型化が可
能となる。ただし、折り返し反射ミラー70a、70b
の枚数が増えてしまう。しかし、本発明の第2の実施の
形態の様に折り返し反射ミラー70に入射する光ビーム
の副走査方向の角度及び位置によって不具合が生じるこ
とはない。折り返し反射ミラー70a、70bを2つの
光ビームLBA、LBB個々に配置することで、各々を
シリンドリカルミラー26a、26bの回転中心に対し
て調整が可能になり、シリンドリカルミラー26a、2
6bを移動する機構が不要となる。The return reflecting mirrors 70a and 70b individually reflect the light beams LBA and LBB and scan the photosensitive member 34 via the cylindrical mirrors 26a and 26b. With this configuration, the size of the divided scanning device can be reduced. However, the return reflecting mirrors 70a and 70b
Will increase. However, unlike the second embodiment of the present invention, no problem occurs due to the angle and position of the light beam incident on the return reflecting mirror 70 in the sub-scanning direction. By arranging the return reflecting mirrors 70a and 70b individually for the two light beams LBA and LBB, each can be adjusted with respect to the rotation center of the cylindrical mirrors 26a and 26b.
A mechanism for moving 6b is not required.
【0105】続いて本発明の第3の実施の形態における
分割走査装置10の調整方法について説明する。調整項
目は、第1の実施の形態と同様である(図7参照)。最
初に光量の粗調整(ステップ100)、副走査位置の粗
調整(ステップ102)の順で行い、半導体レーザ光源
から感光体までの光路を確立する。光路確立後、ビーム
焦点位置(ステップ104)、つなぎ目部のビーム径
(ステップ106)、主副走査位置(ステップ10
8)、光量(ステップ110)の徴調整を行う。ここで
は、本発明の第1の実施の形態と異なる副走査位置の粗
調整に関してのみ詳細に説明する。副走査位置の粗調整
の調整ルーチンは図16のフローチャートを参照して説
明する。なお、本フローチャートはシリンドリカルミラ
ーの回転機構は第2の光ビームLBB側のみに設けられ
ている構成に対しての説明である。Next, a description will be given of an adjustment method of the divided scanning device 10 according to the third embodiment of the present invention. The adjustment items are the same as in the first embodiment (see FIG. 7). First, coarse adjustment of the light quantity (step 100) and coarse adjustment of the sub-scanning position (step 102) are performed in this order, and an optical path from the semiconductor laser light source to the photoconductor is established. After establishing the optical path, the beam focal position (step 104), the beam diameter at the joint (step 106), the main / sub scanning position (step 10)
8) Adjust the amount of light (step 110). Here, only the coarse adjustment of the sub-scanning position different from that of the first embodiment of the present invention will be described in detail. The adjustment routine for the coarse adjustment of the sub-scanning position will be described with reference to the flowchart in FIG. This flowchart describes a configuration in which the rotation mechanism of the cylindrical mirror is provided only on the second light beam LBB side.
【0106】副走査位置の粗調整は、まず、ステップ3
40で第1の光ビームを走査し、続くステップ342で
シリンドリカルミラー26aの前に設けられた分割走査
装置10調整冶具のPSDセンサ74aの出力から光路
を検出し、ステップ344で検出された値が許容範囲以
内に入っているか否か判定する。ステップ344で許容
範囲以内に入っていると判定した場合ステップ348へ
移行し、ステップ344で許容範囲以内に入っていない
と判定した場合には、ステップ346へ移行する。ステ
ップ346では、折り返し反射ミラー70aを回転調整
し、ステップ342へ戻り、ステップ344で許容範囲
以内に入っていると判定するまで同様の処理を繰り返
す。In the coarse adjustment of the sub-scanning position, first, in step 3
At 40, the first light beam is scanned. At the next step 342, the optical path is detected from the output of the PSD sensor 74a of the adjustment jig for the divisional scanning device 10 provided in front of the cylindrical mirror 26a. It is determined whether it is within the allowable range. If it is determined in step 344 that the value is within the allowable range, the process proceeds to step 348. If it is determined in step 344 that the value is not within the allowable range, the process proceeds to step 346. In step 346, the turning reflection mirror 70a is rotated and adjusted, and the process returns to step 342, and the same processing is repeated until it is determined in step 344 that the mirror is within the allowable range.
【0107】一方、ステップ348では、第2の光ビー
ムLBBを走査させ、続くステップ350でシリンドリ
カルミラー26bの前に設けられた分割走査装置10調
整治具のPSDセンサ74bの出力から光路を検出し、
ステップ352で検出された値が許容範囲以内に入って
いるか否か判定する。ステップ352で許容範囲以内に
入っていると判定した場合ステップ356へ移行し、ス
テップ352で許容範囲以内に入っていないと判定した
場合には、ステップ354へ移行する。ステップ354
では、折り返し反射ミラー70bを回転調整し、ステッ
プ350へ戻り、ステップ352で許容範囲以内に入っ
ていると判定するまで同様の処理を繰り返す。On the other hand, in step 348, the second light beam LBB is scanned, and in the following step 350, the optical path is detected from the output of the PSD sensor 74b of the adjustment jig for the divided scanning device 10 provided in front of the cylindrical mirror 26b. ,
It is determined whether the value detected in step 352 is within the allowable range. If it is determined in step 352 that the value is within the allowable range, the process proceeds to step 356. If it is determined in step 352 that the value is not within the allowable range, the process proceeds to step 354. Step 354
Then, the turning reflection mirror 70b is rotationally adjusted, the process returns to step 350, and the same processing is repeated until it is determined in step 352 that the mirror is within the allowable range.
【0108】次に、シリンドリカルミラーを回転させ感
光体上での副走査位置を合わせ込む。まず、ステップ3
56で第1の光ビームLBAを走査し、続くステップ3
58で分割走査装置10調整冶具上の感光体と等価な位
置に設けられた副走査位置検出センサ36aの出力を検
出し、ステップ360で出力された値から分割走査装置
10調整冶具の演算回路によって副走査位置を算出し、
ステップ362へ移行する。ステップ362では、第2
の光ビームLBBを走査し、続くステップ364で分割
走査装置10調整冶具上の感光体と等価な位置に設けら
れた副走査位置検出センサ36bの出力を検出し、ステ
ップ366で出力された値から分割走査装置10調整冶
具の演算回路によって副走査位置を算出してステップ3
68へ移行する。ステップ368では、第1及び第2の
光ビームの副走査位置を比較し相対位置が許容範囲以内
に入っているか否か判定する。ステップ368で許容範
囲以内に入っていると判定した場合副走査位置の調整は
終了となる。ステップ368で許容範囲以内に入ってい
ないと判定した場合には、ステップ370へ移行し、第
2の光ビームLBB側のシリンドリカルミラー26bを
回転調整し、ステップ364へ戻り、ステップ368で
許容範囲以内に入っていると判定するまで同様の処理を
繰り返す。Next, the cylindrical mirror is rotated to adjust the sub-scanning position on the photosensitive member. First, step 3
In step 56, the first light beam LBA is scanned, and
At 58, the output of the sub-scanning position detection sensor 36a provided at a position equivalent to the photoconductor on the adjustment tool of the divided scanning device 10 is detected, and the arithmetic circuit of the adjustment device of the divided scanning device 10 adjusts the value output at step 360. Calculate the sub-scanning position,
Move to step 362. In step 362, the second
In step 364, the output of the sub-scanning position detection sensor 36b provided at a position equivalent to the photosensitive member on the adjusting jig of the divided scanning device 10 is detected, and from the value output in step 366, Step 3: Calculate the sub-scanning position by the arithmetic circuit of the divisional scanning device 10 adjustment jig
Go to 68. In step 368, the sub-scanning positions of the first and second light beams are compared to determine whether the relative position is within an allowable range. If it is determined in step 368 that the value falls within the allowable range, the adjustment of the sub-scanning position ends. If it is determined in step 368 that the value is not within the allowable range, the process proceeds to step 370, in which the rotation of the cylindrical mirror 26b on the second light beam LBB side is adjusted, and the process returns to step 364. The same processing is repeated until it is determined that the data is included.
【0109】上述した手順で調整を行うことによって個
々の調整を繰り返すことなく効率的に調整を行うことが
できる。By performing the adjustment in the above-described procedure, the adjustment can be performed efficiently without repeating the individual adjustment.
【0110】以上、本発明の第3の実施の形態によれ
ば、より簡単な構成で精度のよい分割走査装置となる。As described above, according to the third embodiment of the present invention, a highly accurate divided scanning device having a simpler configuration can be obtained.
【0111】[0111]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
走査を分割して行う分割走査装置に、被走査媒体上にお
ける走査位置を調整する走査位置調整手段と、光ビーム
径を調整するビーム径調整手段と、光量を調整する光量
調整手段と、を備えることにより分割走査装置の調整を
容易に行うことができ、且つ、被走査媒体上のつなぎ目
部の走査線位置やビーム径、光量を良好にすることがで
きるという優れた効果を有する。As described above, according to the present invention,
A divided scanning device that divides a scan includes a scanning position adjusting unit that adjusts a scanning position on a medium to be scanned, a beam diameter adjusting unit that adjusts a light beam diameter, and a light amount adjusting unit that adjusts a light amount. This has an excellent effect that the division scanning device can be easily adjusted, and the scanning line position, the beam diameter, and the light amount at the joint on the medium to be scanned can be improved.
【0112】また、本発明は、分割走査装置の2つの光
源から射出される光ビームのつなぎ目部において、光量
の粗調整、副走査位置の粗調整、主走査方向及び副走査
方向の焦点位置調整、主走査及び副走査位置調整、光量
調整の順に分割走査装置の調整を行うことにより、個々
の調整を繰り返すことなく効率的に調整を行うことがで
きる。Further, according to the present invention, at the joint portion of the light beams emitted from the two light sources of the divided scanning device, the coarse adjustment of the light amount, the coarse adjustment of the sub-scanning position, and the focal position adjustment in the main scanning direction and the sub-scanning direction. By adjusting the divided scanning device in the order of main scanning and sub-scanning position adjustment and light amount adjustment, the adjustment can be performed efficiently without repeating the individual adjustments.
【図1】 本発明の第1の実施の形態に係る分割走査装
置の構成を示す(a)平面図、(b)側面図である。FIG. 1A is a plan view and FIG. 1B is a side view showing a configuration of a divided scanning device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】 本発明の実施の形態に係る光源部の構成を示
す(a)側面図、(b)A−A断面図、(c)B−B断
面図である。2A is a side view, FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line AA, and FIG. 2C is a cross-sectional view taken along line BB, showing a configuration of the light source unit according to the embodiment of the present invention.
【図3】 本発明の実施の形態に係るミラーの回転機構
の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of a mirror rotation mechanism according to the embodiment of the present invention.
【図4】 主走査方向、副走査方向の位置ずれ補正を説
明する図である。FIG. 4 is a diagram for explaining misregistration correction in a main scanning direction and a sub-scanning direction.
【図5】 シリンドリカルレンズの回転(TILT機
構)によるスポットサイズの変化を示す。FIG. 5 shows a change in spot size due to rotation of a cylindrical lens (TILT mechanism).
【図6】 本発明の実施の形態に係る光量調整の説明図
である。FIG. 6 is an explanatory diagram of light amount adjustment according to the embodiment of the present invention.
【図7】 本発明の第1の実施の形態に係る分割走査装
置の調整の流れを示すフローチャートである。FIG. 7 is a flowchart illustrating a flow of adjustment of the divided scanning device according to the first embodiment of the present invention.
【図8】 光量の粗調整の流れを示すフローチャートで
ある。FIG. 8 is a flowchart illustrating a flow of coarse adjustment of the light amount.
【図9】 副走査位置の粗調整の流れを示すフローチャ
ートである。FIG. 9 is a flowchart illustrating a flow of coarse adjustment of a sub-scanning position.
【図10】 ビームの焦点位置調整及びつなぎ目部のビ
ーム径調整の流れを示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a flow of beam focus position adjustment and beam diameter adjustment at a joint portion.
【図11】 つなぎ目部の主副走査位置及び光量調整の
流れを示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a main / sub scanning position of a joint portion and a flow of light amount adjustment.
【図12】 本発明の第2の実施の形態に係る分割走査
装置の構成を示す(a)平面図、(b)側面図である。FIGS. 12A and 12B are a plan view and a side view showing a configuration of a divided scanning device according to a second embodiment of the present invention; FIGS.
【図13】 本発明の実施の形態に係るミラーの移動機
構の構成図である。FIG. 13 is a configuration diagram of a mirror moving mechanism according to the embodiment of the present invention.
【図14】 本発明の第2の実施の形態に係る分割走査
装置の副走査位置の粗調整の流れを示すフローチャート
である。FIG. 14 is a flowchart illustrating a flow of coarse adjustment of a sub-scanning position of the divided scanning device according to the second embodiment of the present invention.
【図15】 本発明の第3の実施の形態に係る分割走査
装置の構成を示す(a)平面図、(b)側面図である。FIGS. 15A and 15B are a plan view and a side view showing a configuration of a divided scanning device according to a third embodiment of the present invention. FIGS.
【図16】 本発明の第3の実施の形態に係る分割走査
装置の副走査位置の粗調整の流れを示すフローチャート
である。FIG. 16 is a flowchart illustrating a flow of coarse adjustment of a sub-scanning position of the divided scanning device according to the third embodiment of the present invention.
【図17】 従来の光走査装置の構成を示す模式図であ
る。FIG. 17 is a schematic diagram illustrating a configuration of a conventional optical scanning device.
【図18】 特開平10−177147号公報に開示
された分割走査装置の構成図である。FIG. 18 is a configuration diagram of a divided scanning device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-177147.
【図19】 特開平10−177147号公報に開示さ
れた分割走査装置の概要を示す図である。FIG. 19 is a diagram showing an outline of a divided scanning device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-177147.
【図20】 特開平10−206761号公報に開示さ
れた(a)第1の実施形態に係る分割走査装置の概要を
示す側面図、(b)第2の実施形態に係る分割走査装置
の概要を示す側面図である。FIG. 20A is a side view showing an outline of a divided scanning device according to a first embodiment disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-206761, and FIG. 20B is an outline of a divided scanning device according to a second embodiment. FIG.
【図21】 特開平10−206761号公報に開示さ
れた反射鏡の回転方向を示す図である。FIG. 21 is a diagram showing a rotation direction of a reflecting mirror disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-206761.
10 分割走査装置 12a 半導体レーザ光源 12b 半導体レーザ光源 14a コリメータレンズ 14b コリメータレンズ 16a スリット 16b スリット 18a シリンドリカルレンズ 18b シリンドリカルレンズ 20a 反射ミラー 20b 反射ミラー 22 ポリゴンミラー 24 fθレンズ 26a シリンドリカルミラー 26b シリンドリカルミラー 34 感光体 44 鏡筒 46 鏡筒 48 規制部材 50 弾性部材 52 回転軸 54 支持部材 55 保持部材 56 L字型部材 58 ネジ 60 弾性部材 62 保持部材 64 支持部材 66 ネジ 70 折り返し反射ミラー Reference Signs List 10 division scanning device 12a semiconductor laser light source 12b semiconductor laser light source 14a collimator lens 14b collimator lens 16a slit 16b slit 18a cylindrical lens 18b cylindrical lens 20a reflection mirror 20b reflection mirror 22 polygon mirror 24fθ lens 26a cylindrical mirror 44b cylindrical mirror 44b cylindrical mirror Lens barrel 46 Lens barrel 48 Restriction member 50 Elastic member 52 Rotating shaft 54 Support member 55 Holding member 56 L-shaped member 58 Screw 60 Elastic member 62 Holding member 64 Support member 66 Screw 70 Folded reflecting mirror
Claims (11)
ムを所定のビーム形状に結像させる第1の結像光学系
と、 主走査方向及び副走査方向にそれぞれ異なる角度で前記
第1の結像光学系から入射された2つの光ビームを同一
平面で、且つ、前記光ビームの幅より狭い反射面で偏向
する回転多面体と、 前記回転多面体によって偏向された2つの光ビームを線
状に結像する第2の結像光学系と、 前記第2の結像光学系を通じて前記回転多面体で偏向し
た2つの光ビームを個々に被走査媒体上へ案内し、分割
走査させる案内手段と、 前記2つの光ビームの前記被走査媒体上における走査位
置を調整する走査位置調整手段と、 前記2つの光ビームの前記被走査媒体上における光ビー
ム径を調整するビーム径調整手段と、 前記2つの光ビームの前記被走査媒体上における光ビー
ムの光量を調整する光量調整手段と、を備えることを特
徴とする分割走査装置。1. A light source for emitting a light beam, a first imaging optical system provided for each of the light sources, and configured to form an image of a light beam emitted from the light source into a predetermined beam shape; A rotating polyhedron for deflecting two light beams incident from the first imaging optical system at different angles in a direction and a sub-scanning direction, respectively, on a same plane, and a reflecting surface smaller than the width of the light beam; A second imaging optical system for linearly imaging the two light beams deflected by the rotating polyhedron; and the two light beams deflected by the rotating polyhedron through the second imaging optical system to be individually scanned. Guiding means for guiding on a medium and performing divided scanning; scanning position adjusting means for adjusting a scanning position of the two light beams on the medium to be scanned; and light beams on the medium to be scanned of the two light beams Adjust the diameter A split beam scanning device, comprising: a beam diameter adjusting unit that adjusts a light beam amount of the two light beams on the medium to be scanned.
方向に収束する光学部材からなることを特徴とする請求
項1に記載の分割走査装置。2. The divided scanning device according to claim 1, wherein said guide means comprises an optical member for converging the light beam in a sub-scanning direction.
調整する主走査位置調整手段と副走査位置を調整する副
走査位置調整手段からなることを特徴とする請求項1又
は請求項2に記載の分割走査装置。3. The apparatus according to claim 1, wherein said scanning position adjusting means comprises a main scanning position adjusting means for adjusting a main scanning position and a sub-scanning position adjusting means for adjusting a sub-scanning position. The split scanning device according to claim 1.
の書き出しタイミングを制御することによって調整を行
うことを特徴とする請求項3に記載の分割走査装置。4. The divided scanning device according to claim 3, wherein the main scanning position adjustment unit performs the adjustment by controlling a writing start timing in a main scanning direction.
前記案内手段の回転移動及び副走査方向の書き出しタイ
ミングの制御によって調整を行うことを特徴とする請求
項3又は請求項4に記載の分割走査装置。5. The divided scanning according to claim 3, wherein the sub-scanning position adjusting unit performs the adjustment by at least controlling the rotational movement of the guide unit and the writing timing in the sub-scanning direction. apparatus.
段を副走査方向に移動することによって調整を行うこと
を特徴とする請求項3乃至請求項5の何れか1項に記載
の分割走査装置。6. The divided scanning according to claim 3, wherein the sub-scanning position adjusting unit performs the adjustment by moving the guiding unit in the sub-scanning direction. apparatus.
ビーム径を調整する主走査ビーム径調整手段と、副走査
方向のビーム径を調整する副走査ビーム径調整手段から
なることを特徴とする請求項1乃至請求項6の何れか1
項に記載の分割走査装置。7. The beam diameter adjusting means comprises a main scanning beam diameter adjusting means for adjusting a beam diameter in a main scanning direction, and a sub-scanning beam diameter adjusting means for adjusting a beam diameter in a sub-scanning direction. Any one of claims 1 to 6
A split scanning device according to the item.
源から射出される前記光ビームの焦点位置の移動によっ
て調整を行うことを特徴とする請求項7に記載の分割走
査装置。8. The split scanning apparatus according to claim 7, wherein the main scanning beam diameter adjusting means performs adjustment by moving a focal position of the light beam emitted from the light source.
1の光学系を構成するシリンドリカルレンズを傾けるこ
とによって調整を行うことを特徴とする請求項7又は請
求項8に記載の分割走査装置。9. The split scanning device according to claim 7, wherein the sub-scanning beam diameter adjusting unit performs the adjustment by tilting a cylindrical lens that forms the first optical system. .
光源の移動又は前記光源の光量を変更することによって
調整を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項9の何
れか1項に記載の分割走査装置。10. The division according to claim 1, wherein the light amount adjusting means performs the adjustment by moving at least the light source or changing the light amount of the light source. Scanning device.
記光源毎に設けられ、前記光源から射出された光ビーム
を所定のビーム形状に結像させる第1の結像光学系と、
主走査方向及び副走査方向にそれぞれ異なる角度で前記
結像光学系から入射された2つの光ビームを同一平面で
且つ前記光ビームの幅より狭い反射面で偏向する回転多
面体と、前記回転多面体によって偏向された2つの光ビ
ームを線状に結像する第2の結像光学系と、前記第2の
結像光学系を通じて前記回転多面体で偏向した2つの光
ビームを個々に被走査媒体上へ案内し、分割走査させる
案内手段と、を備えた分割走査装置のビーム状態調整方
法であって、 前記2つの光源から射出されるそれぞれの前記光ビーム
のつなぎ目部における光量の粗調整を行い、次いで前記
被走査媒体上を分割走査される2つの前記光ビームのつ
なぎ目部における副走査位置の粗調整を行った後に、前
記被走査媒体上を分割走査される2つの前記光ビームの
つなぎ目部における主走査方向及び副走査方向の焦点位
置を調整し、前記案内手段によって分割走査される前記
光ビームのつなぎ目部における主走査及び副走査位置の
調整を行った後に、前記つなぎ目部の光量の調整を行う
ことを特徴とする分割走査装置のビーム状態調整方法。11. A light source for emitting a light beam, a first imaging optical system provided for each of the light sources, and configured to image the light beam emitted from the light source into a predetermined beam shape;
A rotating polyhedron for deflecting two light beams incident from the imaging optical system at different angles in the main scanning direction and the sub-scanning direction on the same plane and a reflecting surface narrower than the width of the light beam; and A second imaging optical system for linearly imaging the two deflected light beams, and the two light beams deflected by the rotating polyhedron through the second imaging optical system individually onto a medium to be scanned And a guiding means for performing divided scanning.A beam state adjusting method of a divided scanning device, comprising: a coarse adjustment of a light amount at a joint portion of each of the light beams emitted from the two light sources; After the coarse adjustment of the sub-scanning position at the joint of the two light beams divided and scanned on the medium to be scanned is performed, the connection of the two light beams divided and scanned on the medium to be scanned is performed. After adjusting the focal positions in the main scanning direction and the sub-scanning direction at the joints, and adjusting the main scanning and the sub-scanning positions at the joints of the light beams that are divided and scanned by the guide means, A method for adjusting a beam state of a divided scanning device, comprising: adjusting a light amount.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10360673A JP2000180748A (en) | 1998-12-18 | 1998-12-18 | Division scanner and beam state adjusting method therefor |
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---|---|
JP (1) | JP2000180748A (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002046826A1 (en) * | 2000-12-05 | 2002-06-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical scanning arrangement and image forming device with the arrangement |
JP2005031335A (en) * | 2003-07-11 | 2005-02-03 | Toshiba Corp | Laser scanner and light source unit |
JP2006069195A (en) * | 2004-07-28 | 2006-03-16 | Hewlett-Packard Development Co Lp | Method of seamlessly stitching multiple image fields in large-size laser printer |
JP2007216428A (en) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Canon Inc | Exposure device |
US7379222B2 (en) | 2004-12-13 | 2008-05-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning unit and image forming apparatus |
JP2017003938A (en) * | 2015-06-16 | 2017-01-05 | 株式会社リコー | Light source device, optical scanning device using the same, and object detection device |
US9800844B2 (en) | 2013-08-28 | 2017-10-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Image projection apparatus |
JP2020190650A (en) * | 2019-05-22 | 2020-11-26 | 新シコー科技株式会社 | Optical element drive device, camera device, and electronic device |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01142706A (en) * | 1987-11-30 | 1989-06-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Scanning optical system |
JPH0618801A (en) * | 1992-07-03 | 1994-01-28 | Hitachi Koki Co Ltd | Adjusting method for beam diameter of optical scanning device |
JPH10177147A (en) * | 1996-12-18 | 1998-06-30 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical device, and method for scanning optical device |
JPH10206761A (en) * | 1997-01-28 | 1998-08-07 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanning device |
JPH10213763A (en) * | 1997-01-30 | 1998-08-11 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanner |
JPH10232357A (en) * | 1996-12-16 | 1998-09-02 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanning device |
-
1998
- 1998-12-18 JP JP10360673A patent/JP2000180748A/en active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01142706A (en) * | 1987-11-30 | 1989-06-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Scanning optical system |
JPH0618801A (en) * | 1992-07-03 | 1994-01-28 | Hitachi Koki Co Ltd | Adjusting method for beam diameter of optical scanning device |
JPH10232357A (en) * | 1996-12-16 | 1998-09-02 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanning device |
JPH10177147A (en) * | 1996-12-18 | 1998-06-30 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical device, and method for scanning optical device |
JPH10206761A (en) * | 1997-01-28 | 1998-08-07 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanning device |
JPH10213763A (en) * | 1997-01-30 | 1998-08-11 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanner |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002046826A1 (en) * | 2000-12-05 | 2002-06-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical scanning arrangement and image forming device with the arrangement |
US7212324B2 (en) | 2000-12-05 | 2007-05-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical scanning arrangement and image forming device with the arrangement |
JP2005031335A (en) * | 2003-07-11 | 2005-02-03 | Toshiba Corp | Laser scanner and light source unit |
JP2006069195A (en) * | 2004-07-28 | 2006-03-16 | Hewlett-Packard Development Co Lp | Method of seamlessly stitching multiple image fields in large-size laser printer |
US7379222B2 (en) | 2004-12-13 | 2008-05-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning unit and image forming apparatus |
JP2007216428A (en) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Canon Inc | Exposure device |
US8164606B2 (en) | 2006-02-14 | 2012-04-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
US8773482B2 (en) | 2006-02-14 | 2014-07-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
US9800844B2 (en) | 2013-08-28 | 2017-10-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Image projection apparatus |
JP2017003938A (en) * | 2015-06-16 | 2017-01-05 | 株式会社リコー | Light source device, optical scanning device using the same, and object detection device |
JP2020190650A (en) * | 2019-05-22 | 2020-11-26 | 新シコー科技株式会社 | Optical element drive device, camera device, and electronic device |
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