FI113495B - Laite mittaustietojen keräämiseksi - Google Patents
Laite mittaustietojen keräämiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI113495B FI113495B FI951743A FI951743A FI113495B FI 113495 B FI113495 B FI 113495B FI 951743 A FI951743 A FI 951743A FI 951743 A FI951743 A FI 951743A FI 113495 B FI113495 B FI 113495B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- measuring
- sensors
- emitters
- measured
- speed
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
11349:·
Laite mittaustietojen keräämiseksi. - Anordning för upp-samling av mätvärden.
Esillä oleva keksintö kohdistuu patenttivaatimuksen 1 joh-5 danto-osan mukaiseen laitteeseen mittaustietojen keräämiseksi .
Tasomaisten mitattavien tavaroiden, kuten esimerkiksi paperi, muovifolio, tekstiilinauhat tai levynauhat, laadun 10 kontrolloimiseksi ja valmistuksen on-line-ohjäämiseksi kerätään näiden mitattavien tavaroiden määrättyjä ominaisuuksia, jolloin tässä yhteydessä on tunnettua mitata mitattava tavara poikittaisessa mittaussuunnassa. Niinpä voidaan esimerkiksi paperinauhojen tiedon keräämiseksi mitattavaa 15 tavaraa säteilyttää aallonpituudeltaan erilaisella infra- punasäteilyllä tai läpisäteilyttää, jolloin heijastuneen tai läpipäässeen säteilyintensiteetin mittauksen avulla ja vastaavan laskelman avulla voidaan saada etsityt mitta-arvot.
. . Erilaiset aallonpituudeltaan eroavat infrapunasäteet voidaan * ; 20 tuottaa säteilylähteestä suodatinpyörän avulla ja napata ···’· detektorin avulla. Säteilylähteen säteet voidaan kuitenkin myös johtaa hakkurilaitteen samoin kuin säteilyn jako- ja ' suodatinlaitteen avulla erilaisten kanavien kautta eri ; detektoreille. Esimerkkejä tästä tekniikan tasosta on saata- : 25 vissa julkaisuista US 4 300 049 ja US 3 405 268.
> : Mitattavan tavaran poikittain ylittävän mittauslaitteen ja liikkuvan mitattavan tavaran yhteydessä muodostuu se seikka, että aallonpituudeltaan erilainen säteily läpäisee mitatta-''·* 30 van tavaran tai törmää siihen eri kohdissa, jolloin on '···' itsestään selvää, että tämän avulla aiheutettu tämän tunne- ; ·/: tun mittausmenetelmän systemaattinen virhe ei salli mitään optimaalista prosessinohjausta. Nopean mittaustietojen keruun osalta mitattavan tavaran laatuominaisuuksien nopeak-35 si säätämiseksi lisätään jatkuvasti mittausvaunun poikit- taisnopeutta siten, että sensorien yksittäisten mittauskoh-
11349F
2 tien väliset etäisyydet tulevat alati suuremmiksi ja tämän ohella samoin mittavirheet tulevat aina suuremmiksi.
Tämän vuoksi esillä olevan keksinnön tehtävänä on antaa 5 laite mittaustietojen keräämiseksi, jossa mittaussuureet voidaan saada mitattavan tavaran samasta mittauskohdasta (täplästä).
Tämän tehtävän ratkaisu tapahtuu patenttivaatimuksen 1 10 tunnusmerkkiosan mukaisten tunnuspiirteiden avulla. Keksinnön mukaisen laitteen muut edulliset kehitysmuodot ovat nähtävissä epäitsenäisissä vaatimuksissa.
Oheisen piirustuksen kuvioiden yhteydessä kuvataan seuraava-15 na keksinnön mukaisen laitteen eräs suoritusmuotoesimerkki lähemmin. Piirustuksissa:
Kuvio 1 esittää periaatteellisen mittausjärjestelyn teknii- .·, , kan tason mukaisesti varustettuna yhdellä mitta- » } 20 vaunulla poikittaiskannattimissa mitattavan tavaran yläpuolella.
| I M k
Kuvio 2 esittää tekniikan tason mukaisen lisämittausjärjes- • * ί.: · telyn, joka on varustettu kaksiosaisella mitta- V ’ 25 vaunulla O-muotoisessa kannattimessa mitattavan tavaran päällä.
* 1 * , 1 , ·
Kuvio 3 esittää tekniikan tason mukaisella mittaus jär jeste-lyllä aikaansaadun mitattavan tavaran pyyhkäisyn.
*;·* Kuvio 4a esittää keksinnön mukaisella mittauslaitteella ; aikaansaadun mitattavan tavaran pyyhkäisyn ensim- . » * mäisessä poikittaissuunnassa.
t I « 35 Kuvio 4b esittää keksinnön mukaisella mittauslaitteella aikaansaadun mitattavan tavaran pyyhkäisyn toisessa poikittaissuunnassa.
11349F
3
Kuvio 5 esittää kaavion mittausvaunun ollessa kahdessa erilaisessa asemassa keksinnön selittämiseksi.
Kuvion 1 mukaisesti on mittausvaunu 2 ohjattu poikittaiskan-5 nattimessa 1 nopeudella vb liikkuvan mitattavan tavaran 3 päällä. Mittausvaunu 2 kannattaa useampaa tasaisin välein järjestettyä sensoria tai vastaavasti detektoria 4.
Kuvion 2 mukaisesti käsittää mittavaunu lisäksi alapuolisen 10 osan 6, jolloin ylempi osa 2 ja alempi osa 6 käsittävät välissään mitattavan tavaran. Sensorit 4 on järjestetty suoralle mittaviivalle 7. Mittavaunun kumpikin osa 2, 6 on ohjattu O-muotoisessa poikittaiskannattimessa 5.
15 Kuten alan ammattilaiselle on itsestään selvää, voidaan tällaiset mittaukset suorittaa sekä heijastus- että lä-päisymittauksina. Ensin mainitussa tapauksessa säteilyttää esimerkiksi mittavaunussa 2 oleva säteilylähde mitattavaa tavaraa 3 ja sensorit tai detektorit 4 (säteilyn vastaanot-20 timet) vangitsevat vastaavien eteenkytkettyjen suodattimien avulla heijastuneen säteilyn. Toisessa tapauksessa on säteilylähde esimerkiksi mittausvaunun alemmassa puoliskossa 6 ja , . säteily vangitaan läpitulleena valona mittalinjalle järjes- i ♦ * ';· * tettyjen sensorien avulla.
V : 25
Itsestään selvästi voi yhden säteilylähteen asemasta olla : · myös järjestetty useampia säteilylähteitä, joilla on erilai- : set aallonpituudet.
30 Sellaisessa tunnetussa laitteessa mittaustietojen keräämi-seksi ei ole mahdollista saada yksittäisiä mittaussuureita ' mitattavan tavaran samasta mittauskohdasta (täplästä), s.o.
’ : suorittaa ns. "Same-Spot"-mittaus, kuten kuviosta 3 ilmenee, jossa sensori 4a mittaa mittausjälkeä 11a, sensori 3b mit-35 tausjälkeä 11b jne., kulloinkin poikittaisprofiilielementis-sä 13.
4 11549:·
Esillä olevan keksinnön avulla saavutetaan tässä suhteessa parannus, kuten tämä nyt selvitetään kuvioiden 4a, 4b ja 5 yhteydessä. Selityksen yksinkertaistamiseksi oletetaan, että esimerkiksi 4 tasaisin välein L järjestettyjä sensoreja 4a -5 4d on järjestetty yhdelle mittaviivalle 7, esimerkiksi kukin sensori koostuu yhdestä infrapunasäteilydetektorista, johon on esimerkiksi kytketty eteen interferenssisuodatin ja joka valaistaan päällevalaisuna tai läpivalaisuna infrapunasätei-lylähteen avulla.
10
Keksinnön mukaisesti käännetään mittauksen yhteydessä mitta-vaunua 2 ja 6 pystysuoraan kannattimiin 1 tai 5 nähden sekä mitattavaan tavaraan 3 nähden olevan akselin 8 ympäri kulman β verran. Kulma β määritetään seuraavasti: 15 tan (β) = vt/vb jolloin vt on mittausvaunun poikittaisnopeus ja vb on nauhan nopeus. Kumpikin suure vt ja vb saadaan määritettyä vastaavi-20 en mittauslaitteiden 9 ja 10 avulla.
Mittavaunun poikittaisliikkeen suunnanvaihdon yhteydessä . » * muuttuu kulloinkin kulman β etumerkki. Vastaavasti ei-esi-'·· * tetty käyttölaitteisto aikaansaa kulloinkin mittavaunun k s » ···«·· V ‘ 25 kulmasaadon suunnanvaihtokohdassa vastaten todellista nauhan ja poikittaisliikkeen nopeutta.
i ( i - : Kuviossa 5 on kulman β verran käännetty mittavaunu esitetty . kahdessa erilaisessa aikakohdassa. Kohdassa 2a mittaa senso- * * ,30 ri 4a mittaustäplää 14. Kohdassa 2b mitta sensori 4d mit-;· taustäplää 14.
' * i ; ”j Kahden vierekkäisen sensorin välinen pyyhkäisy tapahtuu hidastetusti ajan 35 At = L’/Vb mukaisesti, jolloin L' vastaa sensorien etäisyyttä mitattavan tavaran liikesuunnassa mittalinjalla 7'. Etäisyys L1 1 13 4 9 f 5 lasketaan yksittäisten vierekkäisten sensorien välisestä etäisyydestä L mittalinjan 7 suunnassa yhtälöllä L' = L· cos β.
5 Tällöin mittaa sensori 4d ajankohtana t2=4· At mitta-vaunuasemassa 2b samaa mittaustäplää 14 kuin sensori 4a mittavaunuasemassa 2a, mikä vastaa "Same—Spot "-mittausta.
Niinpä voidaan esimerkiksi täyskuivapintapaino laskea vain 10 kostean ilmakuivapintapainon laskemisella tunnetun kosteuspitoisuuden avulla. Pintapainon mittaus tapahtuu enimmäkseen radiometrisen sensorin avulla, kosteuden mittaus sitä vastoin infrapunasäteilysensorilla. Mitattavan tavaran kuiva-pintapaino voidaan saada ainoastaan matemaattisella mitta-15 mallin laskemisella, sen mukaisesti voidaan todellinen kuivapintapaino saada ainoastaan "Same-Spot"-mittauksen avulla.
»im
Mill • * * • f * ·
t · I
k · • » · ·
It* • I · » · · • · \
Claims (6)
1. Laite mittaustulosten keräämiseksi liikkuvien tasomaisten mitattavien tavaroiden yhteydessä mitattavaan tavaraan 5 nähden poikittain liikkuvan mittausvaunun avulla, joka kannattaa useaa välin päässä toisistaan olevaa sensoria ja/tai säteilyemitteriä, tunnettu siitä, että sensoreja (4) tai säteilyemitterejä kannattava mittausvaunu (2, 6) on käännettävissä mitattavan tavaran tasoon nähden 10 kohtisuoran akselin (8) ympäri, jolloin kääntökulma (β) on annettu mittausvaunun poikittaisnopeuden (vt) ja mitattavan tavaran (3) nauhanopeuden (vb) avulla.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu 15 siitä, että kääntökulmalla (P) on poikittaisliikkeen suunnan mukaisesti kulloinkin erilainen etumerkki.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että sensorit (4) ja/tai säteilyemitterit on järjes- 20 tetty mittalinjalle (7) tasaisin välein (L).
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen laite, tunnettu siitä, että sensorien (4) mittaustiedon vastaanotto ja/tai : ,·, säteilyemitterien herätys tapahtuu aikaviiveellä, jolloin '··,·, 25 aikaviive At kahden vierekkäisen sensorin pyyhkäisyn välillä • » · tai kahden vierekkäisen säteilyemitterin herätyksen välillä , , on annettu yhtälöllä ! r » At = L'/vb, ; 30 jolloin L1 määritetään yhtälöllä t t · L' = L * COS β. t a
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että kääntökulma (β) määritetään seuraavalla yhtälöllä 7 11349?·' tan β = vt/vb.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laite, tunnettu sensoreista (9, 10) mittavaunun (2, 6) nopeuden (vt) ja 5 mitattavan tavarän (3) nopeuden (vb) selvittämiseksi. ! : 1 13 4 9 F
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP94105756 | 1994-04-14 | ||
| EP94105756A EP0677739B1 (de) | 1994-04-14 | 1994-04-14 | Vorrichtung zur Messwerterfassung |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI951743A0 FI951743A0 (fi) | 1995-04-12 |
| FI951743A FI951743A (fi) | 1995-10-15 |
| FI113495B true FI113495B (fi) | 2004-04-30 |
Family
ID=8215857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI951743A FI113495B (fi) | 1994-04-14 | 1995-04-12 | Laite mittaustietojen keräämiseksi |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5621220A (fi) |
| EP (1) | EP0677739B1 (fi) |
| DE (1) | DE59406732D1 (fi) |
| FI (1) | FI113495B (fi) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5654799A (en) * | 1995-05-05 | 1997-08-05 | Measurex Corporation | Method and apparatus for measuring and controlling the surface characteristics of sheet materials such as paper |
| US5854683A (en) * | 1997-10-24 | 1998-12-29 | Keane; Barry P. | Optical web defect detection system |
| US6226088B1 (en) | 1999-01-29 | 2001-05-01 | Barry P. Keane | Optical web defect detection system |
| DE10019486A1 (de) | 2000-04-19 | 2001-10-31 | Siemens Ag | Anordnung zur Inspektion von Objektoberflächen |
| US8742385B2 (en) * | 2011-01-26 | 2014-06-03 | Honeywell Asca Inc. | Beam distortion control system using fluid channels |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3859538A (en) * | 1972-11-22 | 1975-01-07 | Stroemberg Oy Ab | Fault detector for paper webs |
| US3898469A (en) * | 1974-05-31 | 1975-08-05 | Intec Corp | Data router for a flaw detection system |
| US4277177A (en) * | 1979-12-05 | 1981-07-07 | Measurex Corporation | Apparatus to measure select properties of a moving sheet |
| US4300049A (en) * | 1980-02-27 | 1981-11-10 | Accuray Corporation | Dynamically standardized radiant energy method and apparatus for plural channel gain independent material property measurement |
| CA1253620A (en) * | 1985-04-30 | 1989-05-02 | Jon Claesson | Method relating to three dimensional measurement of objects |
| US4879471A (en) * | 1987-03-25 | 1989-11-07 | Measurex Corporation | Rapid-scanning infrared sensor |
| DE4136461C2 (de) * | 1991-11-06 | 1999-04-08 | Roland Man Druckmasch | Vorrichtung und Verfahren zur großflächigen Bildinspektion |
-
1994
- 1994-04-14 DE DE59406732T patent/DE59406732D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-04-14 EP EP94105756A patent/EP0677739B1/de not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-04-12 US US08/420,953 patent/US5621220A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-04-12 FI FI951743A patent/FI113495B/fi active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE59406732D1 (de) | 1998-09-24 |
| US5621220A (en) | 1997-04-15 |
| EP0677739B1 (de) | 1998-08-19 |
| FI951743A0 (fi) | 1995-04-12 |
| FI951743A (fi) | 1995-10-15 |
| EP0677739A1 (de) | 1995-10-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7374713B2 (en) | Method for manufacturing and inspecting blow-molded plastic containers | |
| EP1481224B1 (en) | Apparatus and method of providing spatially-selective on-line mass or volume measurements of manufactured articles | |
| MXPA02008466A (es) | Metodo y aparato para medir el grosor de pared de un recipiente de plastico. | |
| SE468334B (sv) | Saett och anordning foer infraroedanalys, speciellt avseende livsmedel | |
| US5073712A (en) | Light scanner web profile measurement apparatus and method | |
| JPH02247506A (ja) | 物品を光学的プロセスによって検査する方法 | |
| FI113495B (fi) | Laite mittaustietojen keräämiseksi | |
| JP2000131030A (ja) | 材料路の特性の横断方向プロフィルを測定する測定装置 | |
| JPS63145946A (ja) | 走行するウエブの計測システム並びに方法 | |
| CN101784883A (zh) | 用于纤维网的制造的电磁检测方法和装置 | |
| CA1168437A (en) | Process and device for the contact free measurement of a dimension | |
| US6355931B1 (en) | System and method for 100% moisture and basis weight measurement of moving paper | |
| US6100537A (en) | Measuring system for recognition of surface features | |
| US6495831B1 (en) | Method and apparatus for measuring properties of paper | |
| US3994589A (en) | Apparatus for determining the position of a surface | |
| US3803414A (en) | Standardization of infrared measuring system | |
| US5506407A (en) | High resolution high speed film measuring apparatus and method | |
| CN1139755A (zh) | 用于确定烟草工业中棒形物品之重量的方法和装置 | |
| ITSV960040A1 (it) | Metodo e dispositivo per il controllo senza contatto diretto delle teste delle sigarette, o simili. | |
| FI110638B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi | |
| JP2972511B2 (ja) | レーザーによる発泡ポリエチレンシートの厚さ測定方法 | |
| US3790796A (en) | Method and apparatus for measurement of sheet opacity | |
| KR100205532B1 (ko) | 분체의 수분 측정장치 | |
| US11946862B2 (en) | Method for in-line analysis of a composite product in a machine for the production of absorbent sanitary articles | |
| JP3220213B2 (ja) | 光断層イメージング装置 |