DE3706277A1 - Drehungsmessgeber - Google Patents
DrehungsmessgeberInfo
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 32
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 21
- 238000013461 design Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical compound Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000282326 Felis catus Species 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Drehungsmeßgeber und
insbesondere auf einen Meßgeber, bei dem an einem drehenden
Objekt ein radiales Beugungsgitter angebracht wird, auf das
Beugungsgitter ein Strahl beispielsweise aus einem Laser
gerichtet wird und aus dem durch das Beugungsgitter gebeugten
Licht auf fotoelektrische Weise ein Drehungszustand des Beugungsgitters
oder des drehenden Objekts wie die Drehzahl,
eine Änderung der Drehzahl oder ein Drehwinkel ermittelt
wird.
Herkömmliche fotoelektrische Drehungsmeßgeber wurden als
Meßvorrichtungen zum Ermitteln von Drehzahlen, Drehwinkeln
und Drehzahländerungsgeschwindigkeiten von drehenden Objekten
oder Mechanismen in Computergeräten (z. B. Diskettenlaufwerken),
Bürogeräten (z. B. Druckern), numerisch gesteuerten
Werkzeugmaschinen sowie von Bandantriebsmotoren und Umlauftrommeln
in Videobandgeräten eingesetzt.
Bei einem herkömmlichen fotoelektrischen Drehungsmeßgeber
gemäß einem typischen Beispiel wird ein sog. Indexskalensystem
gemäß der Darstellung in Fig. 1 verwendet. Bei diesem
Drehungsmelder werden eine sog. Hauptskala 31 und eine sog.
stationäre Indexskala 32 zwischen einer Leuchtvorrichtung 33
und einer Lichtempfangsvorrichtung 34 angeordnet. Die Hauptskala
31 besteht aus lichtdurchlässigen und Lichtabschirmflächen,
die in gleichen Winkelabständen an dem Umfangsbereich
einer Scheibe 35 gebildet sind. Die Scheibe 35 ist mit einer
Drehachse 30 verbunden. Die Indexskala 32 hat lichtdurchlässige
und Lichtabschirmflächen mit den gleichen Winkelabständen
wie die Hauptskala 31. Bei diesem System werden aus den
Lichtempfangsvorrichtungen 34 bei der Drehung der Hauptskala
31 Signale erhalten, die mit den Intervallen zwischen den
lichtdurchlässigen und Lichtabschirmflächen der Skalen 31 und
32 synchron sind. Zum Ermitteln einer Änderung der Drehzahl
der Drehachse wird die Frequenz der sich ergebenden Signale
bestimmt. Aus diesem Grund kann die Meßgenauigkeit dadurch
verbessert werden, daß die Intervalle zwischen den lichtdurchlässigen
und Lichtabschirmflächen der Skalen 31 und 32
verringert werden. Bei der Verringerung der Intervalle zwischen
den lichtdurchlässigen und Lichtabschirmflächen der
Skalen 31 und 32 entsteht jedoch eine Beugung in den Skalen
31 und 32. Durch das gebeugte Licht wird das Nutzsignal/Störsignal-
Verhältnis bzw. der Störabstand S/N eines Ausgangssignals
der Lichtempfangsvorrichtung verringert, so daß daher
die Meßgenauigkeit auf ungewollte Weise herabgesetzt wird.
Falls die Anzahl der lichtdurchlässigen und Lichtabschirmflächen
der Hauptskala 31 festgelegt ist und die Intervalle
zwischen den lichtdurchlässigen und Lichtabschirmflächen so
vergrößert werden, daß keine Beeinflussung durch das gebeugte
Licht entsteht, muß zum Erreichen einer Stabilität der Skala
der Durchmesser der Scheibe für die Hauptskala 31 vergrößert
werden, so daß der Meßgeber dick und sperrig wird. Infolgedessen
wird das drehende Objekt auf unerwünschte Weise übermäßig
belastet.
In den US-PS 37 26 595 und 37 38 758 sind herkömmliche lineare
bzw. Wegmeßgeber beschrieben. Bei diesen Meßgebern
wird ein kohärenter Strahl auf ein an einem bewegten Objekt
angebrachtes Beugungsgitter gerichtet, von dem in vorbestimmten
Ordnungen gebeugte Strahlen abgegeben werden, die überlagert
werden und Interferenzstreifen bilden, die mittels einer
Lichtempfangsvorrichtung erfaßt werden; bei einer Bewegung
des Objekts wird die Intensität der Streifen auf der Lichtempfangsfläche
auf fotoelektrische Weise umgesetzt, wodurch
ein elektrisches Signal (in Form von Impulsen) erzielt wird
und damit eine Versetzung des bewegten Objekts ermittelt
wird.
Es wäre anzunehmen, daß alle Mängel der herkömmlichen Drehungsmeßgeber
behoben sind, wenn das bei diesen linearen
Codierern bzw. Meßgebern angewandte Interferenzstreifen-
Meßverfahren bei einem Drehungsmeßgeber angewandt wird. Bei
der tatsächlichen Anwendung dieses Meßverfahrens bei dem
Drehungsmeßgeber wird auf einem drehbaren Objekt wie einer
Scheibe ein radiales Gitter als Beugungsgitter geformt, um
eine Skala zu bilden, und ein kohärenter Strahl auf das
radiale Gitter der Skala gerichtet. Dabei entsteht jedoch
häufig ein Meßfehler durch eine Exzentrizität, wenn der Mittelpunkt
des radialen Beugungsgitters nicht ganz genau mit
der Mitte des drehbaren Objekts übereinstimmt.
Zum Verringern der Einwirkung der Exentrizität werden zweckdienlich
zur gegenseitigen Interferenz Lichtkomponenten überlagert,
die von mehreren Stellen des radialen Gitters gebeugt
und abgegeben werden. Falls jedoch die Ebenheit bzw. Parallelität
der Skala schlecht ist, die ein drehbares Objekt wie
eine Scheibe aufweist, entstehen Unterschiede zwischen den
optischen Wegen bzw. Weglängen der zur Interferenz zu überlagernden
gebeugten Komponenten. Infolgedessen können wiederum
Meßfehler auftreten.
In Anbetracht dieser Probleme liegt der Erfindung die Aufgabe
zugrunde, einen Drehungsmeßgeber zu schaffen, der unter Vorgabe
einer Bedingung für die Parallelität eines drehbaren
Objekts in dem Meßgeber einer Parallelität hat, die einer
vorbestimmten Toleranz für die Messung genügt.
Zur Lösung der Aufgabe wird mit der Erfindung ein Drehungsmeßgeber
geschaffen, in welchem kohärente Strahlen auf verschiedene
Stellen eines an einem drehbaren Objekt angebrachten
Beugungsgitters gerichtet werden, von dem Beugungsgitter
gebeugte verschiedene Strahlen zum Bilden von Interferenzstreifen
überlagert werden und zum Ermitteln eines Drehungszustands
des Objekts die Streifen mittels einer Lichtempfangsvorrichtung
erfaßt werden, wobei die Einheit bzw. Parallelität
a des Objekts der Ungleichung
a ≦ tan-1[{π(m-n)λ/360n 0 P}R-k]
genügt, in der m und n die Ordnungen der gebeugten Strahlen
sind, n 0 der Brechungsindex des Objekts ist, P die Teilung
des Beugungsgitters ist, λ die Wellenlänge der kohärenten
Strahlen ist und R k ein zulässiger Winkelfehlerwert bzw.
Toleranzwert ist.
Erfindungsgemäß wird ein kompakter Drehungsmeßgeber geschaffen,
in welchem ein Winkelabstand Δ von in benachbarten
Ordnungen gebeugten Strahlen aus einer Vielzahl von durch das
Beugungsgitter gebeugten und von diesem abgegebenen Strahlen
der Bedingung Δ ≦λτ 3° genügt.
Wenn die Teilung P kleiner als 15 µm ist, kann der Drehungsmeßgeber
kompakter gestaltet werden.
Zur Steigerung der Intensität der mittels der Lichtempfangsvorrichtung
erfaßten Interferenzstreifen und zum Verbessern
der Empfindlichkeit der Lichtempfangsvorrichtung wird das
Beugungsgitter vorzugsweise derart gestaltet, daß von allen
von dem Beugungsgitter gebeugten und abgegebenen Strahlen die
Intensität der in einer vorbestimmten Ordnung gebeugten und
überlagerten Strahlen maximal ist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen
unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
Fig. 1 ist eine schematische perspektivische Ansicht eines
herkömmlichen Drehungsmeßgebers.
Fig. 2 ist eine schematische perspektivische Ansicht eines
Drehungsgemeßgebers gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung.
Fig. 3 ist eine Schnittansicht einer als Skala nach Fig. 2
verwendeten Scheibe 6 und dient zur Erläuterung
eines Merkmals des erfindungsgemäßen Drehungsmeßgebers.
Fig. 4 ist eine schematische perspektivische Teilansicht
und veranschaulicht eine Abwandlung des in Fig. 2
gezeigten Drehungsmeßgebers.
Fig. 5 ist eine Schnittansicht einer als Skala des in Fig. 4
gezeigten Drehungsmeßgebers dienenden Scheibe 6.
Fig. 6 ist eine schematische perspektivische Ansicht eines
Drehungsmeßgebers gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel
der Erfindung.
Fig. 7 ist eine schematische Ansicht, die die Gestaltung
einer Spiegelvorrichtung in den in den Fig. 2 bis 6
gezeigten Drehungsmeßgebern zeigt.
Fig. 8 ist eine Ansicht eines Radialgitters einer in den
erfindungsgemäßen Drehungsmeßgebern verwendeten
Skala.
Fig. 9 ist eine grafische Darstellung eines Beugungswirkungsgrads
η als Funktion eines Durchlaß/Sperrverhältnisses
ϕ w/ϕ p eines Amplituden-Beugungsgitters.
Fig. 10 ist eine Ansicht zur Erläuterung von in dem Beugungsgitter
erzeugten reflektiertem Geisterbild-
Licht.
Fig. 11A und 11B sind Schnittansichten anderer Beugungsgitter,
die Phasen-Beugungsgitter in Relief-Ausführung
sind.
Die Fig. 2 ist eine schematische perspektivische Ansicht
eines Drehungsmeßgebers gemäß einem Ausführungbeispiel.
Ein von einem Laser 1 abgegebener Strahl wird mittels einer
Kollimatorlinse 2 kollimiert. Der kollimierte Strahl fällt
auf einen Polarisierungs-Strahlenteiler 3. Der Strahlenteiler
3 teilt das einfallende Licht in zwei linear polarisierte
reflektierte bzw. durchgelassene Strahlen gleicher Intensität
auf. Der reflektierte Strahl wird durch eine λ/4-Platte 4 und
über einen Umlenkspiegel 5 geleitet und auf diese Weise in
einen zirkular polarisierten Strahl umgewandelt. Der sich
ergebende Strahl fällt an einer Stelle M 1 auf ein Radialgitter
7, das an einer Scheibe 6 angebracht ist, die als optische
Skala dient und die mit einem zu messenden drehenden
Objekt verbunden ist. Aus der Vielzahl der auf das Radialgitter
7 fallenden und von diesem gebeugten Strahlen wird ein in
einer bestimmten Ordnung wie beispielsweise der +m-ten Ordnung
gebeugter Strahl von einer Spiegelvorrichtung 8 reflektiert.
Der reflektierte Strahl kehrt auf einem optischen Weg
zurück, der mit dem optischen Einfallweg identisch ist. Der
reflektierte Strahl fällt daher wieder an der Stelle M 1 auf
das Radialgitter 7. Ein von dem Radialgitter 7 in einer
vorbestimmten Ordnung gebeugter Strahl wird wieder über den
Umlenkspiegel 5 und durch die λ/4-Platte 4 geführt und auf
diese Weise in einen linear polarisierten Strahl umgewandelt,
dessen Polarisationsrichtung gegenüber derjenigen des ersten
einfallenden Strahls um 90° versetzt ist. Der linear polarisierte
Strahl fällt dann auf den Strahlenteiler 3.
Bei diesem Ausführungsbeispiel sind der Einfallweg und der
Rückkehrweg des in der vorbestimmten Ordnung gebeugten Lichts
zwischen dem Strahlenteiler 3 und der Spiegelvorrichtung 8
gleich.
Die Spiegelvorrichtung 8 kann ein optisches Element wie einen
gewöhnlichen Reflexionsspiegel enthalten, jedoch ist ein
optisches Element wie ein Winkelreflektor vorteilhaft, welches
den einfallenden Strahl kollimiert bzw. parallel richtet.
Beispielsweise wird gemäß der Darstellung in Fig. 7 ein
Reflexionsspiegel 40 als das vorstehend genannte optische
Element im wesentlichen auf der Brennebene einer Fokussierlinse
41 angeordnet; durch eine Öffnung 43 einer Maske bzw.
Blende 42 tritt nur der als Parallelstrahl auf die Fokussierlinse
41 fallende, in der vorbestimmten Ordnung gebeugte
Strahl hindurch. Der durch die Öffnung 43 hindurchtretende
Strahl wird von dem Reflexionsspiegel 40 reflektiert und
kehrt auf dem gleichen optischen Weg zurück. In diesem Fall
werden die in anderen Ordnungen gebeugten Strahlen von der
Blende 42 abgefangen. Die Spiegelvorrichtung 8 kann irgendein
optisches System wie ein Katzenaugensystem sein, falls dieses
die gleiche Funktion wie der Reflexionsspiegel 40 hat. Wenn
ein derartiges optisches System eingesetzt wird, kann selbst
bei einer Änderung der Schwingungswellenlänge des Lasers 1
oder einer geringfügigen Änderung des Beugungswinkels der
reflektierte Strahl auf dem gleichen optischen Weg wie der
einfallende Strahl zurückgeführt werden.
In dem optischen Katzenaugensystem kann eine Indexgradientenlinse
wie eine SELFOC-Mikrolinse (Handelsbezeichnung) von
Nippon Sheet Glass Co., Ltd. verwendet werden, wobei auf eine
Stirnfläche ein Reflexionsfilm aufgebracht werden kann, da
beide Stirnflächen zueinander parallel sind; dadurch wird die
Linse auf zweckdienliche Weise als das angestrebte optische
Element eingesetzt, welches einfach aufgebaut ist und in
Massenproduktion hergestellt werden kann.
Nach Fig. 2 wird der durchgelassene Strahl der von dem Strahlenteiler
3 geteilten Strahlen durch eine λ/4-Platte 9 in
einen zirkular polarisierten Strahl umgewandelt. Dieser
Strahl wird über einen Umlenkspiegel 10 geleitet und fällt an
einer zur Stelle M 1 um eine Drehachse O symmetrischen Stelle
M 2 auf das Radialgitter 7 an der als optische Skala dienenden
Scheibe 6. Von den einfallenden und durch das Radialgitter 7
gebeugten und durchgelassenen Strahlen wird ein in einer
bestimmten Ordnung wie beispielsweise der -m-ten Ordnung
gebeugter Strahl durch eine Spiegelvorrichtung 11 reflektiert,
die die gleiche Gestaltung wie die Spiegelvorrichtung
8 hat. Der reflektierte Strahl wird auf dem gleichen optischen
Weg wie der einfallende Strahl zurückgeführt und fällt
wieder an der Stelle M 2 auf das Radialgitter 7. Der durch das
Radialgitter wieder in einer bestimmten Ordnung gebeugte
Strahl wird durch den Umlenkspiegel 10 und die λ/4-Platte 9
in einen linear polarisierten Strahl umgewandelt, dessen
Polarisationsrichtung gegenüber derjenigen des zuerst einfallenden
Strahls um 90° gedreht ist. Der sich ergebende linear
polarisierte Strahl fällt auf den Strahlenteiler 3 und wird
von diesem reflektiert.
In diesem Fall sind wie bei dem an der Stelle M 1 gebeugten
Strahl der Einfallichtweg und der Rückkehrlichtweg des in der
bestimmten Ordnung gebeugten Strahls zwischen dem Strahlenteiler
3 und der Spiegelvorrichtung 11 gleich. Der Strahl
wird dem über die Spiegelvorrichtung auf den Strahlenteiler 3
fallenden Beugungslicht überlagert, wonach der sich ergebende
Strahl durch eine λ/4-Platte 12 in einen zirkular polarisierten
Strahl umgewandelt wird. Dieser Strahl wird durch einen
Strahlenteiler 13 in zwei Strahlen aufgeteilt. Diese Teilstrahlen
werden jeweils durch Polarisationsplatten 14 und 16
in linear polarisierte Strahlen mit 90° Phasenverschiebung
umgewandelt. Die Polarisierplatten 14 und 16 werden derart
geneigt angeordnet, daß die Polarisationsrichtungen einen
Winkel von 45° bilden. Die linear polarisierten Strahlen
fallen jeweils auf Lichtempfangsvorrichtungen 15 und 17. Es
werden die Intensitäten von auf den Lichtempfangsflächen der
Lichtempfangsvorrichtungen 15 und 17 gebildeten Interferenzstreifen
gemessen bzw. erfaßt.
Wenn sich bei diesem Ausführungsbeispiel das der Messung
unterzogene drehende Objekt um eine Teilung bzw. einen Teilungsabstand
des Radialgitters 7 dreht, ändert sich die Phase
des Strahls der m-ten Ordnung um 2m π. Die Phase der von dem
Radialgitter wieder in n-ter Ordnung gebeugten Strahlen ändert
sich um 2n π. Daher erzeugen die Lichtempfangsvorrichtungen
15 und 17 jeweils (2m - n) Sinuswellen. Bei diesem
Ausführungsbeispiel wird durch das Erfassen dieser Sinuswellen
ein Drehwinkel gemessen.
Die Fig. 3 ist eine Schnittansicht der Scheibe 6 des in Fig. 2
gezeigten Drehungsmeßgebers. Das optische System oberhalb
der Scheibe 6 ist weggelassen. In der Fig. 3 sind mit gleichen
Bezugszeichen wie in Fig. 2 die gleichen Teile oder
Stellen bezeichnet. Mit l ist der Abstand zwischen den Stellen
M 1 und M 2 an dem Radialgitter bezeichnet, während mit t 1
und t 2 die Dicken der Scheibe an den Stellen M 1 und M 2
bezeichnet sind.
Es sei angenommen, daß bei dem Drehungsmeßgeber, bei dem
gemäß Fig. 2 die durchgelassenen Beugungsstrahlen ausgewertet
werden, die als Skala mit dem Radialgitter 7 dienende Scheibe
6 gemäß der Darstellung in der Schnittansicht in Fig. 3
keilförmig ist. In diesem Fall unterscheidet sich die optische
Weglänge des durch eine ausgezogene Linie dargestellten
an der Stelle M 1 einfallenden und wieder gebeugten Beugungsstrahls
der +m-ten Ordnung von der optischen Weglänge des
durch die gestrichelte Linie dargestellten, an der Stelle M 2
einfallenden und wieder gebeugten Beugungsstrahls der -m-ten
Ordnung. Infolgedessen tritt ein Meßfehler auf.
Die an den Stellen M 1 und M 2 einfallenden und von diesen
Stellen weg abgegebenen Strahlen durchlaufen die entsprechenden
Wege in bezug auf das Radialgitter 7 hin und zurück.
Falls zwischen den Dicken an den Stellen M 1 und M 2 eine
Differenz Δ = t 1 - t 2 besteht, ergibt sich eine optische
Weglänge aus n 0 Δ = λ/2, wobei n 0 der Brechungsindex der
Scheibe 6 mit dem daran angebrachten Radialgitter 7 ist und λ
die Schwingungswellenlänge des Lasers 1 ist. Bei jeder einzelnen
Umdrehung der Scheibe 6 tritt ein Fehler von ±1 Impuls
(einer Sinuswelle) auf. Daher ergibt sich eine Differenz Δ k,
die einen Fehler von ±k Impulsen je Umdrehung hervorruft, aus
der folgenden Gleichung:
Δ k = k g/2n 0 (1)
Hierbei ist eine Parallelität a der Scheibe 6 mit dem daran
angebrachten Radialgitter 7 folgendermaßen definiert:
a = tan-1(Δ k/l) = tan-1(k λ/2 n 0 l) (2)
Wenn die Beugungsstrahlen der ±m-ten Ordnung ausgewertet
werden, ergibt sich folgende Winkelauflösung R je Impuls des
in Fig. 2 gezeigten Drehungsmeßgebers:
R = 360° × 602/4mN (s) = 324 000/mN (s) (3)
wobei N die Gesamtanzahl der lichtdurchlässigen und lichtabschirmenden
Flächen des Radialgitters 7 an der Scheibe 6 ist.
Die Einfallstellen M 1 und M 2 sind um die Drehachse bzw.
Mittelachse O des Radialgitters symmetrisch. Die Gitterteilung
P an jeder Einfallstelle ist durch P = π l/N gegeben, so
daß sich folgende Winkelauflösung R gemäß Gleichung (3) ergibt:
R = 324 000P/π ml (4)
Der Fehler je ±k Impulse ist durch einen Fehler von R k
Sekunden folgendermaßen ausgedrückt:
R k = 324 000kP/π ml (5)
Die Gleichungen (2) und (5) ergeben folgenden Zusammenhang
zwischen dem Winkelfehler R k (s) und der Parallelität a der
Scheibe 6 mit dem daran angebrachten Radialgitter 7 in dem in
Fig. 2 gezeigten Drehungsmeßgeber:
tan a = (π m λ/648 000n 0 P).R k (6)
Zum Erreichen einer Meßgenauigkeit von R k (s) muß die
Parallelität a der Scheibe 6 der folgenden Bedingung genügen:
a ≦ tan-1[(π m λ/648 000n 0 P) R k] (7)
In dem in Fig. 2 gezeigten Drehungsmeßgeber wird die Scheibe
6 mit der angestrebten Winkelgenauigkeit so hergestellt, daß
die Bedingung (7) erfüllt ist. Die Scheibe 6 wird von der
Bedingung (7) ausgehend hergestellt. Bei dem praktischen
Entwurf eines Drehungsmeßgebers müssen dessen endgültige
Sollwerte unter Berücksichtigung anderer Meßfehler bestimmt
werden, welche andere Ursachen als eine Abweichung der Parallelität
der Scheibe 6 haben.
Nachstehend wird ein Fall beschrieben, bei dem die Bedingung
(7) erfüllt ist. Falls bei dem in Fig. 2 gezeigten Drehungsmeßgeber
die Ordnungen der Beugungsstrahlen durch m = ±1
gegeben sind, die Schwingungswellenlänge des Lasers 1 durch λ
= 0,78 µm gegeben ist, die Teilung des Radialgitters 7 durch
P = 2,85 µm gegeben ist und der Brechungsindex der Scheibe 6
durch n 0 = 1,5 gegeben ist, ergibt sich für die geforderte
Winkelgenauigkeit R k folgende Parallelität a der Scheibe 6:
a ≦ tan-1(8,84 × 10-7.R k)
Zum Gewährleisten einer Meßgenauigkeit von R k = 10 (s) ergibt
sich durch das Einsetzen von R = 10 in die vorstehende
Ungleichung die geforderte Prallelität der Scheibe 6 zu:
a ≦ 5,07 × 10-4 (rad) = 1,8 (s)
Die Fig. 4 und 5 sind Ansichten, die eine Betriebsweise
veranschaulichen, bei der reflektierte Beugungsstrahlen in
dem Drehungsmeßgeber nach Fig. 2 ausgewertet werden. Gleiche
Bezugszeichen wie in den Fig. 2 und 3 bezeichnen in den Fig. 4
und 5 gleiche Teile. Bei einem solchen sog. Reflexions-
Drehungsmeßgeber kann die Toleranz der Parallelität a der
Scheibe 6 für die Meßgenauigkeit R k aus der Ungleichung (7)
berechnet werden.
In dem in Fig. 2 gezeigten Drehungsmeßgeber werden durch die
Spiegelvorrichtungen 8 und 11 die gebeugten Strahlen wieder
auf die Stellen M 1 und M 2 gerichtet und dann wieder gebeugte
Strahlen erzeugt. Die an den Stellen M 1 und M 2 entstehenden
Beugungsstrahlen können jedoch auch ohne Verwendung der Spiegelvorrichtungen
8 und 11 mit einer bestimmten Vorrichtung
direkt überlagert werden, um die Interferenzstreifen zu bilden.
Wenn sich in diesem Fall das drehende Meßobjekt um eine
Teilung des Radialgitters 7 dreht, ändert sich die Phase der
Beugungsstrahlen der m-ten Ordnung um m π. Gleichermaßen ändert
sich die Phase des an einer von dieser Stelle verschiedenen
Stelle an dem Radialgitter 7 in n-ter Ordnung gebeugten
Strahls um n π. Infolgedessen werden von den
Lichtempfangsvorrichtungen (m - n) Sinuswellen abgegeben.
Gemäß der Beschreibung anhand der Fig. 2 zum Ableiten der
Ungleichung (7) werden die Strahlen der ±m-ten Ordnungen
überlagert. Hinsichtlich der sich überlagernden Beugungsstrahlen
besteht jedoch keine Einschränkung auf solche mit
gleichen Ordnungen. Daher hat die Ungleichung (7) nicht allgemeine
Gültigkeit, so daß nachstehend eine allgemein gültige
Bedingung abgeleitet wird.
Falls die Anzahl der Beugungen, nämlich die Anzahl der Zyklen
der auf das Radialgitter fallenden Strahlen der Beugungsstrahlen
bestimmter Ordnungen, die für das Bilden der Interferenzstreifen
herangezogen werden, durch x gegeben ist,
ergibt sich eine optische Weglängendifferenz zu n 0 Δ = Δ/x.
Bei jeder einzelnen Umdrehung der Scheibe 6 tritt ein Fehler
von ±1 Impuls auf. Daher kann die Gleichung (1) folgendermaßen
umgeschrieben werden:
Δ k = k λ/xn 0 (1)′
Aus der Gleichung (2) für die Parallelität der Scheibe 6
ergibt sich:
a = tan-1(k λ/xn 0 l) (2)′
Die Parallelität a in dem Drehungsmeßgeber entspricht dem
Verhältnis der Skalendicke an den Ausgangsstellen bezogen auf
den Abstand zwischen den Ausgangsstellen der beiden zu überlagernden
Beugungsstrahlen.
Wenn die Winkelauflösung R je Impuls in dem erfindungsgemäßen
Drehungsmeßgeber in Graden ausgedrückt wird, ergibt sich:
R = 360/x(m - n)N (3)′
Die Gleichung (3)′ wird mit der Gitterteilung P und dem
Abstand zwischen den Stellen M 1 und M 2 folgendermaßen
umgeschrieben:
R = 360P/π lx(m - n) (4)′
Ein Fehler je ±k Impulse entspricht folgendem Winkelfehler R
in Graden:
R k = 360PK/π lx(m - n) (5)′
Die Gleichungen (2)′ und (5)′ ergeben folgenden Zusammenhang
zwischen dem Winkelfehler R k (in Graden) und der Parallelität
a der Scheibe 6 mit dem Radialgitter 7 (in Graden) in dem
beschriebenen Drehungsmeßgeber:
tan a = {π(m - n)g/360n 0 P}R k- (6)′
Zum Erhalten eines Drehungsmeßgebers mit einer Toleranz, die
innerhalb des Winkelfehlers R k (°) liegt, muß die Parallelität
a der Scheibe 6 (in Graden) folgender Bedingung genügen:
a ≦ tan-1[{f(m - n)λ/360n 0 P}-ϑ k] (7)′
Bei dem Drehungsmeßgeber fällt ein kohärenter Strahl auf eine
mit einem Beugungsgitter versehene Skala, die der Bedingung
(7)′ genügt, so daß der Drehungszustand des drehenden Objekts
innerhalb eines vorbestimmten Winkelfehlerbereichs gemessen
wird. D. h., unter Anwendung der Ungleichung (7)′ wird der
Wert des zulässigen Winkelfehlers entsprechend den Sollwerten
des Drehungsmeßgebers eingestellt. Das drehende Objekt wird
derart ausgelegt und hergestellt, daß an der in dem Drehungsmeßgeber
enthaltenen umlaufenden Skala eine Parallelität
erzielt wird, mit der der zulässige Winkelfehler eingehalten
wird. Der untere Grenzwert der Ungleichung (7)′ ist "0", so
daß es vorteilhaft ist, an einem drehenden Objekt ein Beugungsgitter
mit vollkommener Parallelität zu bilden.
Bei dem in Fig. 2 gezeigten Drehungsmeßgeber werden Beugungsstrahlen
ausgewertet, die von den um den Mittelpunkt des
Rastergitters symmetrischen Stellen M 1 und M 2 erhalten werden.
Die Ungleichung (7)′ kann jedoch auch dann herangezogen
werden, wenn die Beugungsstrahlen von zwei um 120° beabstandeten
asymmetrischen Stellen her erhalten werden.
Wenn bei dem Drehungsmeßgeber nach Fig. 2 die Beugungsgitterteilung
2,85 µm beträgt und die Strahlen in der ±1-ten Ordnung
gebeugt sind, werden aus einem Lichtempfangselement vier
Sinuswellen erhalten, wenn das drehende Objekt um 2,85 µm,
nämlich den Drehskalen-Teilungsabstand dreht. D. h., die Auflösung
je Sinuswelle entspricht einem Viertel der Teilung des
Beugungsgitters, nämlich 2,85/4 = 0,71 µm.
Bei diesem Ausführungsbeispiel wird der Strahl in dem Strahlenteiler
13 in zwei um 90° phasenverschobene Strahlen aufgeteilt,
wodurch auch die Drehrichtung des drehenden Objekts
ermittelt werden kann.
Wenn nur Drehwinkel gemessen werden sollen, können der Strahlenteiler
13, die Polarisierplatten 14 und 16 und eine der
Lichtempfangsvorrichtungen weggelassen werden.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung wird durch die Auswertung
der Beugungsstrahlen von den beiden zur Drehmitte symmetrischen
Stellen eine Abweichung zwischen der Drehmitte des
drehenden Objekts und dem Mittelpunkt des Radialgitters verringert,
so daß der Meßfehler auf ein Mindestmaß herabgesetzt
wird.
Die Komponenten des einen Strahls nahe der Drehachsenmitte
werden mit den Komponenten des anderen Strahls überlagert,
der symmetrisch zu dem einen Strahl nahe der Drehachsenmitte
einfällt. Auf gleichartige Weise werden einander entsprechende
Komponenten der von dem Drehzentrum abliegenden Strahlen
einander überlagert. Daher kann eine durch einen Unterschied
zwischen inneren und äußeren Teilungsabständen des Radialgitters
hervorgerufene Wellenfrontabweichungs-Einwirkung ausgeschaltet
werden.
Die hin und zurück durchlaufenen optischen Wege der Beugungsstrahlen
der bestimmten Ordnungen zwischen dem Strahlenteiler
3 und den Spiegelvorrichtungen 8 und 11 sind unverändert.
Daher kann die Überlagerung der beiden Beugungsstrahlen in
dem Polarisierungs-Strahlenteiler 3 vereinfacht werden und
die Genauigkeit bei dem Zusammenbau des Drehungsmeßgebers
verbessert werden.
Die λ/4-Platten 4 und 9 können an beliebigen Stellen zwischen
dem Strahlenteiler 3 und den Spiegelvorrichtungen 8 und 11
angeordnet werden.
Bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel kann
statt des durchgelassenen Beugungslichts das reflektierte
Beugungslicht benutzt werden.
Zu Beugungsgittern für die Verwendung in dem Drehungsmeßgeber
zählen ein sog. Amplituden-Beugungsgitter aus durchlässigen
und abschirmenden Flächen und ein Phasen-Beugungsgitter aus
Flächen mit unterschiedlichen Brechungsindizes. Im einzelnen
kann das Phasen-Beugungsgitter durch Ausbilden eines dreidimensionalen
Reliefmusters an einem Umfangsbereich einer
durchsichtigen Scheibe hergestellt werden. Die Phasen-Beugungsgitter
können bei der Massenproduktion in einem Präge-
oder Preßprozeß hergestellt werden.
Bei dem Drehungsmeßgeber gemäß dem beschriebenen Ausführungsbeispiel
wird ein Beugungsgitter an einer drehenden Skala
angebracht, deren Parallelität der erwünschten Meßtoleranz
entspricht. Daher kann mit dem Drehungsmeßgeber immer die
geforderte Meßgenauigkeit erreicht werden.
Bei dem Interferenzstreifen-Meßsystem werden Beugungsstrahlen
sowohl bei einem linearen bzw. Wegmeßgeber als auch bei dem
vorstehend als Ausführungsbeispiel beschriebenen Drehungsmeßgeber
ausgewertet. Wenn ungenutzte Beugungsstrahlen und insbesondere
Strahlen benachbarter Ordnungen auf ein vorbestimmtes
optisches Element für das Zuführen der Beugungsstrahlen
zu den Lichtempfangsvorrichtungen fallen, wenn die Strahlen
für das Bilden der Interferenzstreifen benutzten vorbestimmten
Ordnungen auf das optische Element gerichtet werden,
werden die unbenutzten Beugungsstrahlen bei der Messung zu
Störsignalen, so daß die Meßgenauigkeit herabgesetzt ist.
Nachstehend wird bei einem weiteren Ausführungsbeispiel ein
Verfahren beschrieben, mit dem diese Problem auf einfache
Weise gelöst wird.
Die Fig. 6 ist eine schematische Ansicht eines Drehungsmeßgebers
gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel.
Die gleichen Bezugszeichen wie in Fig. 2 bezeichnen gleiche
Teile in Fig. 6, wobei deren ausführliche Beschreibung weggelassen
ist.
Der Drehungsmeßgeber nach Fig. 6 unterscheidet sich von demjenigen
nach Fig. 2 darin, daß nicht die Umlenkspiegel 5 und
10 nach Fig. 2 benutzt werden, sondern bei dem Drehungsmeßgeber
nach Fig. 6 die Strahlen über den Polarisierungs-Strahlteiler
3 und die λ4-Platten 4 und 9 direkt auf die Scheibe 6
fallen.
Bei der Gestaltung nach Fig. 2 ist ein den Laser 1 mit den
jeweiligen Elementen verbindender optischer Weg im wesentlichen
zu der Fläche der Scheibe 6 parallel. Bei der Gestaltung
nach Fig. 6 ist dieser optische Weg jedoch in bezug auf die
Fläche der Scheibe 6 geneigt. Zum Erzielen eines flachen
Meßgebers ist die Gestaltung nach Fig. 2 vorzuziehen.
Die anderen Anordnungen des in Fig. 6 gezeigten Drehungsmeßgebers
sind im wesentlichen die gleichen wie diejenigen des
Drehungsmeßgebers nach Fig. 2. Das Meßverfahren mit der
Scheibe 6 des Meßgebers nach Fig. 6 ist das gleiche wie
dasjenige nach Fig. 2, so daß dessen ausführliche Beschreibung
weggelassen wird.
Die Parallelität a der Scheibe 6 erfüllt bei diesem
Ausführungsbeispiel die Bedingung (7)′, so daß der Drehzustand der
Scheibe 6 mit der erwünschten Genauigkeit erfaßt werden kann.
Ein durch den Aufbau entstehendes Problem bei dem in Fig. 6
gezeigten Drehungsmeßgeber ist insbesondere die Anordnung der
Spiegelvorrichtungen 8 und 11. Die von dem Polarisierungs-
Strahlenteiler 3 getrennten reflektierten und durchgelassenen
Strahlen fallen jeweils an den Stellen M 1 und M 2 auf das
Radialgitter 7. In diesem Fall werden an den Stellen M 1 und
M 2 mehrere Beugungsstrahlen der 0-ten, ±1-ten und ±2-ten
Ordnung durchgelassen. Wenn zum Bilden der Interferenzstreifen
die Strahlen der ±1-ten Ordnung von den Stellen M 1 und
M 2 herangezogen werden, ist es unerwünscht, daß die in der 0-
ten und ±2-ten Ordnung gebeugten Strahlen auf die Spiegelvorrichtungen
8 und 11 fallen. Daher wird der in Fig. 6 gezeigte
Drehungsmeßgeber so ausgelegt, daß eine nachstehend aufgestellte
Bedingung (10) eingehalten wird.
Anders als bei der Fresnel-Beugung, die bei einem herkömmlichen
fotoelektrischen Drehungsmeßgeber mit der Hauptskala und
der Indexskala ein Problem darstellt, werden bei dem erfindungsgemäßen
Meßgeber mit dem Interferenzstreifen-Meßverfahren
die Teilungsabstände des Beugungsgitters auf ein Mindestmaß
herabgesetzt, um eine Änderung an die Fraunhofersche
Beugung zu erreichen. Es sei angenommen, daß der Winkel des
auf das Beugungsgitter fallenden Strahls durch R i gegeben ist
und der Beugungswinkel des in n-ter Ordnung unter Frauenhoferscher
Beugung gebeugten Strahls durch R n gegeben ist. Der
Zusammenhang zwischen diesen Komponenten und einer Wellenlänge
λ des zu beugenden Strahls ist folgender:
P(sinR n - sinR i) = n λ (8)
Der Winkelabstand zwischen den Strahlen benachbarter Ordnungen
ist folgender:
Δ = sin-1{(n+1)λ/P + sinR i} - sin--1{n g/P
+ sinR i} (n = 0, 1, 2, 3,...) (9)
+ sinR i} (n = 0, 1, 2, 3,...) (9)
Bei dem Meßgeber mit dem Interferenzstreifen-Erfassungssystem
wird unter Berücksichtigung der genutzten kohärenten Strahlen,
der Anordnung des optischen Systems und der Strahlenpunktedurchmesser
vorzugsweise folgende Bedingung für den
durch die Gleichung (9) gegebenen Winkelabstand Δ eingehalten:
Δ ≦λτ 3° (10)
Wenn der Trennwinkel bzw. Winkelabstand Δ kleiner als 3° ist,
ist der Unterschied zwischen den benachbarten Beugungswinkeln
außerordentlich klein. Um allein einen Beugungsstrahl einer
erwünschten Ordnung den Strahl der gewünschten Ordnung von
den Strahlen anderer Ordnungen zu trennen, müssen die optischen
Elemente wie die Spiegelvorrichtungen 8 und 11 nach
Fig. 6 weit weg von den Stellen M 1 und M 2 angeordnet werden.
In diesem Fall wird die optische Weglänge unvermeidbar
größer, so daß kein kompakter Meßgeber aufgebaut werden kann
und die Dauerhaftigkeit bzw. Widerstandfähigkeit des Systems
herabgesetzt ist.
Bei diesem Ausführungsbeispiel beträgt die Teilung P des
Beugungsgitters 2,85 µm, so daß selbst bei der Verwendung
einer gegenwärtigen erhältlichen Laservorrichtung als Laser 1
ein Winkelabstand von mehr als 15° erreicht wird, wodurch auf
ausreichende Weise die Bedingung (10) erfüllt ist. Die ungenutzten
Beugungsstrahlen fallen nicht auf die Spiegelvorrichtungen
8 und 11, so daß diese in der Nähe der Stellen M 1 und
M 2 angeordnet werden können. Damit wird ein außerordentlich
genauer kompakter Drehmeßgeber geschaffen.
Da die Strahlen vertikal auf das Beugungsgitter fallen können,
nämlich R i = 0 eingestellt werden kann, ergeben die
Gleichungen (8) und (9) die folgende Gleichung:
Δ = sin-1{(n+1)λ/P} -sin-1{n λ-/P}≦λτ 3°
(n = 0, 1, 2,...) (11)
(n = 0, 1, 2,...) (11)
Für diesen Fall sind für die Teilung P (µm) des Beugungsgitters
die oberen Grenzwerte, die bei den entsprechenden Wellenlängen
der typischen kohärenten Strahlen der Gleichung
(4) genügen, nachstehend zusammengefaßt aufgeführt:
Falls als Laser ein preiswerter Halbleiterlaser eingesetzt
wird, fällt die Wellenlänge λ der Lichtquelle dieser Art in
den Bereich von 0,78 bis 0,80 µm. Daher wird für das Beugungsgitter
vorzugsweise eine Teilung P von weniger als 15 µm
gewählt.
Bei dem Interferenzstreifen-Meßsystem dieser Art besteht ein
direkter Zusammenhang zwischen der Meßgenauigkeit und dem
Teilungsabstand des an einem bestimmten bewegten Objekts
gebildeten Beugungsgitters. Je kleiner die Teilung des Beugungsgitters
wird, umso höher wird die Meßgenauigkeit des
Meßgebers. Daher muß die Teilung des Beugungsgitters entsprechend
den Sollwerten des Meßgebers, wie beispielsweise entsprechend
der geforderten Meßgenauigkeit, der Gestaltung des
Meßgebers und der Größe desselben bestimmt werden.
Bei dem Meßgeber gemäß diesem Ausführungsbeispiel werden die
nachteiligen Einwirkungen ausgeschaltet, die durch mehrere
Beugungsstrahlen, und zwar insbesondere durch Beugungsstrahlen
benachbarter Ordnungen aus dem Beugungsgitter der Skala
mit der vorbestimmten Parallelität verursacht werden. Zugleich
kann der Codierer kompakt und flach gestaltet werden
und Messungen in hoher Genauigkeit ergeben.
Die Fig. 8 zeigt ein Radialgitter einer Skala, die bei den
Meßgebern gemäß den Ausführungsbeispielen verwendet wird.
Gleichermaßen wie gemäß Fig. 2 und 6 enthält der Meßgeber die
Scheibe 6 mit dem Radialgitter 7. Das Radialgitter 7 besteht
aus durch strichlierte Flächen dargestellten absorbierenden
Bereichen und durch leere Flächen dargestellten lichtdurchlässigen
Bereichen. Das Radialgitter 7 hat einen Teilungswinkel
ϕ p, während jeder lichtdurchlässige Bereich einen einschließenden
bzw. Mittenwinkel ϕ w hat.
Das Verhältnis ϕ w/ϕ p des Winkels ϕ w der lichtdurchlässigen
(oder reflektierenden) Fläche zu dem Teilungswinkel ϕ p des
Radialgitters 7 wird bei jedem vorstehend beschriebenen
Ausführungsbeispiel zu 0,5 gewählt. Bei dem in Fig. 8 gezeigten
Amplituden-Beugungsgitter ist das Ein/Aus-Verhältnis der
±1-ten Ordnung gebeugten Strahlen die höchste Intensität
haben. Dadurch kann der Wirkungsgrad der Interferenz an den
durch den Strahlenteiler 3 gebildeten und mittels der
Lichtempfangsvorrichtungen 15 und 17 erfaßten Interferenzstreifen
verbessert werden. Das in Fig. 8 dargestellte Radialgitter
kann dazu benutzt werden, das Erzeugen von Beugungsstrahlen
der ±2-ten Ordnung zu verhindern, wodurch das Erzeugen von
Geisterbild-Licht oder dergleichen verhindert wird, was nachfolgend
ausführlicher beschrieben wird.
Der Wirkungsgrad der Beugung für die Beugungsstrahlen der m-
ten Ordnung an dem in Fig. 8 gezeigten Amplituden-Beugungsgitter
ist durch die nachstehende Gleichung gegeben:
η m = sin2(π m ϕ w/ϕ P)/ π 2 m 2 (12)
wobei ϕ p der Teilungswinkel ist und ϕ w der Winkel der lichtdurchlässigen
Fläche ist.
Der Zusammenhang zwischen dem Verhältnis ϕ w/ϕ p und dem Wirkungsgrad
η m der Beugung gemäß der Gleichung (12) ist in Fig. 9
dargestellt. Das Ein/Aus-Verhältnis ϕ w/ϕ p ist auf der
Abszisse aufgetragen, während der Wirkungsgrad η m der Beugung
auf der Ordinate aufgetragen ist.
Aus der Fig. 9 ist ersichtlich, daß bei der Auswertung der
Beugungsstrahlen erster Ordnung der Beugungswirkungsgrad η1
bei dem Verhältnis 0,5 bis 10% wird, was anzeigt, daß die
Intensität der Beugungsstrahlen am höchsten ist. Der Beugungswirkungsgrad
η2 für die in zweiter Ordnung gebeugten
Strahlen ist dabei "0", so daß das Beugungsgitter mit dem
Verhältnis ϕ w/ϕ p = 0,5 keine Beugungsstrahlen der ±2-ten
Ordnung erzeugt. Beispielsweise fällt bei dem in Fig. 6
gezeigten Meßgeber der Beugungsstrahl einer bestimmten Ordnung
im wesentlichen senkrecht auf das Radialgitter 7, so daß
ein kohärenter Strahl häufig auf das Radialgitter 7 unter
einem Beugungswinkel α des Beugungsstrahls der bestimmten
Ordnung einfällt. In diesem Fall wird ein reflektierter und
unter einem Winkel β gebeugter Reflexions-Geisterbild-Strahl
hervorgerufen, wie es in Fig. 10 dargestellt ist. Die Reflexions-
und Beugungsbedingung ist folgendermaßen definiert:
P(sinα + sinβ) = m λ (13)
Die Durchlaß- und Beugungsbedingung bei dem Einfallen des
Strahls unter dem Beugungswinkel der ersten Ordnung ergibt
sich folgendermaßen:
Psinα = λ (14)
Die Reflexions- und Beugungsbedingung kann folgendermaßen
umgeschrieben werden:
Psinβ = (m - 1)λ (15)
Falls m = 2 gilt, ergibt sich a = β. In diesem Fall wird der
Beugungsstrahl zweiter Ordnung abgegeben und auf dem optischen
Einfallweg zurückgeleitet. Dieser Beugungsstrahl stört
die Erfassung der Interferenzstreifen, da es als sog. Geisterlicht
wirkt. Da jedoch gemäß der vorangehenden Beschreibung
das Ein/Aus-Verhältnis auf 50%, nämlich ϕ w/ϕ p = 0,5
eingestellt wird, kann damit das Erzeugen des Beugungsstrahls
der zweiten Ordnung verhindert werden. Daher wird die Genauigkeit
der Erfassung der Interferenzstreifen nicht durch
ein derartiges Geisterlicht herabgesetzt.
Wenn die Beugungsstrahlen der zweiten und dritten Ordnung
herangezogen werden, um die Meßauflösung zu steigern, wird
das Beugungsgitter, nämlich das Radialgitter derart ausgelegt,
daß das Verhältnis ϕ w/ϕ p für den Beugungsstrahl zweiter
Ordnung 0,25 und für den Beugungsstrahl dritter Ordnung 0,5
beträgt. Bei dem Amplituden-Beugungsgitter dieser Art ist
kein Ein/Aus-Verhältnis vorhanden, bei dem ein Wirkungsgrad
η m der Beugung mit m-ter Ordnung gleich einem Wirkungsgrad η n
der Beugung in n-ter Ordnung ist. Daher werden in dem Meßgeber
vorzugsweise positiv und negativ gebeugte Strahlen der
gleichen Ordnung benutzt (m = n). In diesem Fall sind die
Interferenzstreifen am besten sichtbar, so daß eine gute
Meßgenauigkeit erreicht wird.
Vorstehend wurde das Amplituden-Beugungsgitter beschrieben.
In dem erfindungsgemäßen Meßgeber kann jedoch auch ein Phasen-
Beugungsgitter verwendet werden. Insbesondere hat das
Phasen-Beugungsgitter einen höheren Beugungswirkungsgrad als
das Amplituden-Beugungsgitter. Hierdurch wird sehr zweckdienlich
der Wirkungsgrad bei der Strahlauswertung verbessert.
Die Fig. 11A und 11B sind Schnittansichten von Phasen-Beugungsgittern,
in denen dreidimensionale Reliefmuster Phasendifferenzen
von Strahlen hervorrufen. Außerdem kann statt
dessen zum Bilden eines Gitters ein Hologramm benutzt werden,
in einem lichtdurchlässigen Material abwechselnd der Brechungsindex
geändert werden oder auf dem Reliefmuster ein
reflektierender Film ausgebildet werden, um damit Durchlaß-
oder Reflexions-Phasen-Beugungsgitter zu bilden.
Die Fig. 11A zeigt ein Rechteck-Phasen-Gitter, während die
Fig. 11B ein Dreieck-Phasen-Gitter zeigt. Außerdem können ein
Sinus-Phasen-Gitter und ein als sog. "Brazed diffraction
grating" bekanntes asymmetrisches Phasen-Gitter benutzt werden.
Das Verhalten des Beugungsstrahls in einem derartigen
Phasen-Beugungsgitter ist durch vielerlei Parameter wie die
Gitterform, den Brechungsindex des das Gitter bildenden Materials,
die Gitterhöhe und die Gitterteilung bestimmt. Ein
allgemein gültiger mathematischer Ausdruck dieser Parameter
wird hier jedoch nicht abgeleitet.
Ein charakteristisches Merkmal des Phasen-Beugungsgitters ist
es, daß die Ordnung des abgegebenen Beugungsstrahls durch
eine Verminderung der Gitterteilung bestimmt werden kann.
Beispielsweise ist es möglich, Beugungsstrahlen der 0-ten und
der ±1-ten Ordnung abzugeben. Der Winkelabstand benachbarter
Ordnungen kann vergrößert werden. Durch die Einstellung einer
Gitterhöhe T und eines Brechungsindex n des das Gitter bildenden
Materials als Funktion einer Wellenlänge g0 des verwendeten
kohärenten Strahls kann die ganze einfallende Energie
allein auf die Beugungsstrahlen der ±1-ten und ±2-ten
Ordnung konzentriert werden, ohne daß ein Beugungsstrahl der
0-ten Ordnung abgegeben wird. In diesem Fall ist der Beugungswirkungsgrad
sehr hoch.
Falls bei dem in Fig. 11A gezeigten Rechteck-Beugungsgitter
der Umgebungs-Brechungsindex durch n 0 gegeben ist und das
Beugungsgitter gemäß der Gleichung
n -n 0 ·T = (1/2 + m)λ0
(m = 0, 1, 2, 3,...) (16)
(m = 0, 1, 2, 3,...) (16)
ausgelegt ist, wird kein Beugungsstrahl 0-ter Ordnung erzeugt.
Zieht man in diesem Fall den Winkelabstand der Beugungsstrahlen
und deren Beugungswirkungsgrad in Betracht, so
ist es hinsichtlich der Meßgenauigkeit und des Aufbaus des
Meßgebers vorteilhaft, die Interferenzstreifen unter Auswertung
der Beugungsstrahlen der ±1-ten Ordnung zu erfassen.
Mit dem asymmetrischen Phasen-Beugungsgitter wird die Intensität
eines Beugungsstrahls einer bestimmten Ordnung gesteigert.
Beispielsweise wird die einfallende Energie auf die
Beugungsstrahlen der +1-ten oder +3-ten Ordnung konzentriert,
während die Intensität der anderen Beugungsstrahlen abgeschwächt
wird. Der Beugungsstrahl der +3-ten Ordnung kann
dazu verwendet werden, die Meßauflösung beträchtlich zu verbessern
und eine ausreichend hohe Intensität bei guter Meßgenauigkeit
zu erhalten.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung kann auch bei der Verwendung
des Phasen-Beugungsgitters die Intensität des gebeugten
Strahls der bestimmten Ordnung auf ein Maximum eingestellt
werden. Daher können der Wirkungsgrad bei der Auswertung des
Strahls, der Wirkungsgrad der Interferenz und die Meßgenauigkeit
verbessert werden.
Zu den bei dem Drehungsmeßgeber verwendbaren Beugungsgittern
zählen das sog. Amplituden-Beugungsgitter mit den lichtdurchlässigen
und lichtabschirmenden Flächen und das Phasen-Beugungsgitter
mit Bereichen unterschiedlicher Brechungsindizes.
Im einzelnen kann das Phasen-Beugungsgitter dadurch hergestellt
werden, daß ein dreidimensionales Reliefmuster im
Umfangsbereich einer lichtdurchlässigen Scheibe ausgebildet
wird. Daher kann ein derartiges Gitter auf einfache Weise zur
Massenproduktion in einem Präge- oder Standprozeß hergestellt
werden.
Die Erfindung wurde vorstehend im Hinblick auf Drehungsmeßgeber
beschrieben. Die erfindungsgemäße Gestaltung ist jedoch
gleichermaßen bei linearen Meßgebern bzw. Wegmeßgebern (linearen
Codierern) anwendbar. Die Gestaltung ist bei allen
Meßgebern oder Codierern anwendbar, bei denen ein Bewegungs-
oder Drehzustand eines Beugungsgitters durch das Erfassen von
Interferenzstreifen aus Beugungsstrahlen bestimmter Ordnungen
aus allen von dem Beugungsgitter abgegebenen Beugungsstrahlen
gemessen oder ermittelt wird.
Es wird ein Drehungsmeßgeber beschrieben, mit dem ein Drehzustand
eines Objekts durch das Erfassen von Interferenzstreifen
ermittelt wird, welche bei der Überlagerung von Beugungsstrahlen
aus einem zusammen mit dem Objekt drehenden Beugungsgitter
entstehen. Die Meßgenauigkeit des Meßgebers wird
durch eine geeignete Dimensionierung des Beugungsgitters
gewährleistet.
Claims (10)
1. Drehungsmeßgeber, gekennzeichnet durch eine Vorrichtung (1
bis 5, 9, 10), die kohärente Strahlen auf verschiedene Stellen
(M 1, M 2) einer drehenden Skala (6) richtet, die längs der
Drehrichtung mit einem Beugungsgitter (7) versehen ist, und
eine Lichtempfangsvorrichtung (12 bis 17), die von den verschiedenen
Stellen ausgehende gebeugte Strahlen unter Überlagerung
empfängt und aus deren Ausgangssignal der Drehungszustand
der Skala ermittelbar ist, wobei die Parallelität a der
Skala der Gleichung
a = tan-1(Δ k/l) ≦ tan-1[{π(m-n)g/360-n 0 P}R k]genügt, in welcher n 0 der Brechungsindex der Skala einschließlich
"1" ist, P die Teilung des Beugungsgitters ist, λ
die Wellenlänge der kohärenten Strahlen ist, m und n die
Ordnungen der in bestimmten Ordnungen gebeugten Strahlen
sind, l der Abstand zwischen den verschiedenen Stellen ist,
Δ k der Unterschied der optischen Weglängen bei dem einmaligen
Verlauf der kohärenten Strahlen über die verschiedenen Stellen
ist und R k ein als Winkelfehler des Meßgebers zulässiger
Wert ist.
2. Drehungsmeßgeber nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Teilung P des Beugungsgitters (7) kleiner als 15 µm
ist.
3. Drehungsmeßgeber nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß das Beugungsgitter (7) ein Amplituden-Beugungsgitter
mit Lichtabsorptionsflächen und durchlässigen oder
reflektierenden Flächen ist, die abwechselnd angeorndet sind.
4. Drehungsmeßgeber nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß an dem Amplituden-Beugungsgitter (7) ein Verhältnis ϕ w/
ϕ p = 0,5 eingehalten ist, wobei δ p der Teilungswinkel des
Beugungsgitters ist und ϕ w der Winkelabstand der durchlässigen
oder reflektierenden Flächen ist.
5. Meßgeber, gekennzeichnet durch eine Strahlvorrichtung (1)
für das Zuführen kohärenter Strahlen, eine optische Vorrichtung
(2 bis 5, 9, 10), die die kohärenten Strahlen auf eine
mit einem Beugungsgitter (7) versehene Skala (6) richtet,
eine Vorrichtung für das Überlagern der von dem Beugungsgitter
in m-ter und n-ter Ordnung gebeugten Strahlen aus der
Vielzahl der in verschiedenen Ordnungen gebeugten Strahlen
und eine Lichtempfangsvorrichtung (12 bis 17), die Interferenzstreifen
empfängt, welche durch die Interferenz der in
der m-ten und n-ten Ordnung gebeugten Strahlen gebildet sind,
und aus deren Signal ein Bewegungszustand der Skala erfaßbar
ist, wobei ein Winkelabstand Δ zwischen den in der m-ten und
n-ten Ordnung gebeugten Strahlen und den in der (m±1)-ten und
(n±1)-ten Ordnung gebeugten Strahlen der Bedingung Δ ≦λτ 3°
genügt.
6. Meßgeber nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
Teilung P des Beugungsgitters (7) kleiner als 15 µm ist.
7. Meßgeber nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die
Strahlvorrichtung (1) für das Zuführen der kohärenten Strahlen
einen Halbleiterlaser aufweist.
8. Drehungsmeßgeber, gekennzeichnet durch eine Vorrichtung
(1) für das Zuführen kohärenter Strahlen, eine optische Vorrichtung
(2 bis 5, 9, 10), die die kohärenten Strahlen auf
eine drehende Skala (6) richtet, an der in Drehrichtung ein
Beugungsgitter (7) ausgebildet ist, eine Überlagerungsvorrichtung
(3) für das Überlagern von durch das Beugungsgitter
in bestimmten Ordnungen gebeugten Strahlen und eine Lichtempfangsvorrichtung
(12 bis 17), die Interferenzstreifen empfängt,
welche durch Interferenz der in den bestimmten Ordnungen
gebeugten Strahlen gebildet sind, und aus deren Signal
ein Drehungszustand der drehenden Skala ermittelbar ist,
wobei das Beugungsgitter ein Radialgitter ist, dessen Mitte
mit der Mitte der Skala übereinstimmt, so daß sich der Gitterteilungsabstand
zu der Mitte des Gitters hin ändert, während
der Teilungswinkel unverändert ist.
9. Drehungsmeßgeber nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das Beugungsgitter (7) ein Phasen-Beugungsgitter mit
einem Reliefmuster ist.
10. Drehungsmeßgeber nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das Beugungsgitter (7) erste und zweite Flächen aufweist,
die voneinander verschiedene Brechungsindizes oder Durchlässigkeiten
haben und die abwechselnd angeordnet sind, und ein
Verhältnis ϕ w/ϕ p = 0,5 eingehalten ist, wobei ϕ p der Teilungswinkel
des Beugungsgitters ist und d w der Winkelabstand
der ersten Flächen ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4455686A JPS62201313A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | ロ−タリ−エンコ−ダ− |
JP4455786A JPS62201314A (ja) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | エンコ−ダ− |
JP4801986A JPS62204127A (ja) | 1986-03-05 | 1986-03-05 | エンコ−ダ− |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3706277A1 true DE3706277A1 (de) | 1987-09-03 |
DE3706277C2 DE3706277C2 (de) | 1995-04-27 |
Family
ID=27291945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3706277A Expired - Lifetime DE3706277C2 (de) | 1986-02-28 | 1987-02-26 | Drehungsmeßgeber |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5101102A (de) |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: TIEDTKE, H., DIPL.-ING. BUEHLING, G., DIPL.-CHEM. |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |