DE10061576A1 - Storage layer and conversion layer and device for reading out X-ray information and X-ray cassette - Google Patents
Storage layer and conversion layer and device for reading out X-ray information and X-ray cassetteInfo
- Publication number
- DE10061576A1 DE10061576A1 DE10061576A DE10061576A DE10061576A1 DE 10061576 A1 DE10061576 A1 DE 10061576A1 DE 10061576 A DE10061576 A DE 10061576A DE 10061576 A DE10061576 A DE 10061576A DE 10061576 A1 DE10061576 A1 DE 10061576A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- absorption
- radiation
- storage
- layer
- storage layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 160
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims description 26
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 132
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 121
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000011232 storage material Substances 0.000 claims abstract description 16
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 70
- 239000000049 pigment Substances 0.000 claims description 17
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 4
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 4
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 4
- 239000012876 carrier material Substances 0.000 description 4
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M caesium bromide Chemical compound [Br-].[Cs+] LYQFWZFBNBDLEO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 3
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 230000000638 stimulation Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000505673 Scintilla Species 0.000 description 1
- 239000012190 activator Substances 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 238000012432 intermediate storage Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2002—Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2012—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using stimulable phosphors, e.g. stimulable phosphor sheets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Speicherschicht zum Speichern und eine Wandlungsschicht zum Wandeln von Röntgeninformationen gemäß der Oberbe griffe der Ansprüche 1 bzw. 12 sowie eine Vorrichtung zum Auslesen von Rönt geninformationen aus einer Speicherschicht und eine Röntgenkassette.The present invention relates to a storage layer for storing and a Conversion layer for converting X-ray information according to the Oberbe handles of claims 1 and 12 and a device for reading out X-ray gene information from a storage layer and an x-ray cassette.
Insbesondere für medizinische Zwecke wird von einem Objekt, beispielsweise einem Patienten, mittels Röntgenbestrahlung ein Bild erzeugt, das in einer Spei cherschicht als latentes Bild abgespeichert wird. Ein solches Röntgenstrahlungs bild enthält somit Röntgeninformationen über das Objekt. Zum Auslesen der in der Speicherschicht abgespeicherten Röntgeninformationen wird die Speicher schicht mittels einer Strahlungsquelle angeregt. Sie emittiert aufgrund dieser Anregung Licht, das eine Intensität entsprechend der in der Speicherschicht ab gespeicherten Röntgeninformationen aufweist. Das von der Speicherschicht ausgesandte Licht wird von einem Empfangsmittel empfangen, so dass die in der Speicherschicht abgespeicherten Röntgeninformationen anschließend sichtbar gemacht werden können. Die Röntgeninformationen können beispiels weise direkt auf einem Monitor dargestellt werden. Solche Speicherschichten sind üblicherweise auf einem Trägermaterial aufgebracht, das entweder transpa rent oder reflektierend sein kann. Bei einem reflektierenden Trägermaterial sind sowohl die Strahlungsquelle als auch das Empfangsmittel auf ein und derselben Seite des Trägermaterials angeordnet, nämlich auf derjenigen Seite des Trä germaterials, auf der die Speicherschicht angebracht ist. Ist die Speicherschicht auf einem transparenten Trägermaterial angeordnet, so befindet sich die Strah lungsquelle auf der einen Seite des Trägermaterials und das Empfangsmittel auf der gegenüberliegenden, anderen Seite des Trägermaterials. Diese Anordnung hat insbesondere den Vorteil, dass eine größere Menge von der angeregten Speicherschicht ausgesandter Emissionsstrahlung von dem Empfangsmittel auf gefangen werden kann. Es ist somit eine bessere Qualität bei der Wiedergabe der in der Speicherschicht abgespeicherten Röntgeninformationen möglich.In particular for medical purposes, an object, for example a patient, by means of X-ray radiation, generates an image that is stored in a memory Layer is saved as a latent image. Such an x-ray image thus contains x-ray information about the object. To read the in X-ray information stored in the memory layer becomes the memory layer excited by a radiation source. It emits due to this Excitation light that has an intensity corresponding to that in the storage layer has stored X-ray information. That from the storage layer emitted light is received by a receiving means, so that the in X-ray information stored in the storage layer can be made visible. The x-ray information can, for example be displayed directly on a monitor. Such storage layers are usually applied to a carrier material that is either transparent can be rent or reflective. With a reflective support material both the radiation source and the receiving means on one and the same Side of the carrier material arranged, namely on that side of the Trä germaterials on which the storage layer is attached. Is the storage layer The beam is located on a transparent substrate on one side of the carrier material and the receiving means the opposite, other side of the carrier material. This arrangement has the particular advantage that a larger amount of the excited Storage layer emitted emission radiation from the receiving means can be caught. It is therefore a better quality in playback the x-ray information stored in the storage layer is possible.
Es ist beispielsweise aus der Patentschrift DE 198 59 747 C1 bekannt, zum Speichern von Röntgeninformationen eine spezielle Speicherschicht zu verwen den, die eine spezielle kristallite, nadelförmige Struktur aufweist. Die spezielle Speicherschicht weist eine Vielzahl von "Nadeln" auf, die zum Führen sowohl der Anregungs- als auch der Emissionsstrahlung dienen können. Für eine solche Speicherschicht werden kristalline "Nadeln" gezüchtet. Eine solche Nadel-Spei cherschicht ist aus binären Alkalihalogeniden, wie z. B. Cäsiumbromid, CsBr, aufgebaut. Diese strukturierten Alkalihalogenide können mit geeigneten Aktivato ren, wie z. B. Gallium, Thallium, Europium, etc., dotiert sein. Die einzelnen Na delkriatalle haben je nach Verwendungszweck eine unterschiedliche Höhe zwi schen 100 und 600 µm, und eine Dicke von ca. 10 µm. Üblicherweise sind die einzelnen Nadeln gegeneinander durch einen kleinen Luftspalt getrennt. Sowohl das Anregungs- als auch das Emissionslicht wird in den einzelnen Nadeln, die als Lichtleiter dienen, durch das Prinzip der Totalreflektion geführt. Anregungs strahlung, die unter einem bestimmten Winkel in eine solche Nadel einfällt, wird weitgehend ohne Streuung weitergeleitet, bis sie im Kristallgitter der Nadel ein Informationszentrum trifft, in dem Röntgeninformationen abgespeichert ist. Die durch die Anregung des Informationszentrums entstehende Emissionsstrahlung wird in der entsprechenden Nadel weitergeleitet und aus dieser Nadel heraus geführt, so dass sie von dem Empfangsmittel detektiert werden kann. Eine sol che nadelförmige Speicherschicht ist insbesondere aus der europäischen Pa tentanmeldung EP 0 751 200 A1 bekannt. Durch die Verwendung dieser spe ziellen Speicherschicht wird eine Streuung der Anregungsstrahlung innerhalb der Speicherschicht reduziert. Insbesondere bei einem zeilenweisen Auslesen der in der Speicherschicht abgespeicherten Röntgeninformationen ist die Streuung der Anregungsstrahlung quer zur Zeilenrichtung nachteilig, da dann Informations zentren angeregt werden können, die zu einer anderen als der gerade auszule senden Zeile der Speicherschicht gehören. Dadurch kann Emissionsstrahlung "verloren" gehen, d. h. sie kann nicht von dem Empfangsmittel detektiert werden. Es wird des weiteren eine Streuung der Emissionsstrahlung innerhalb der Spei cherschicht reduziert, wodurch vor allem eine gute Ortsauflösung bei der Detek tion der Emissionsstrahlung in dem Empfangsmittel erreicht wird. Es wurde aller dings festgestellt, dass beispielsweise Anregungsstrahlung, die unter einem Einfallswinkel in die Speicherschicht eintritt, der größer ist als ein bestimmter Winkel, nicht in den jeweiligen Nadeln verbleibt, sondern quer durch diese Na deln hindurchgeht. Insbesondere, da die Nadeln eine unregelmäßige Außen struktur aufweisen, kann somit eine Streuung der Anregungsstrahlung entste hen, die für die Qualität der Wiedergabe der Röntgeninformationen nachteilig ist. Da vor allem die unregelmäßige Außenstruktur der Nadeln dazu führt, dass ein Teil der Anregungsstrahlung innerhalb der Nadel nicht total reflektiert wird, wird eine Unschärfe bei der Wiedergabe der Röntgeninformationen erzeugt. Ähnli ches gilt für die Emissionsstrahlung, die von einem von der Anregungsstrahlung getroffenen Informationszentrum im wesentlichen isotrop abgestrahlt wird. Auf grund des Aperturwinkels, der durch das Verhältnis der Brechungszahlen von Luft zu dem Alkalihalogenid, aus dem die einzelnen Nadeln gezüchtet wurden, bestimmt ist, wird auch ein Teil des Emissionslichtes nicht innerhalb der Nadeln total reflektiert, sondern tritt aus der jeweiligen Nadel aus. Dies führt zu einer entsprechenden Verschlechterung der Ortsauflösung beim Detektieren der Emissionsstrahlung.It is known for example from patent specification DE 198 59 747 C1 for Storage of x-ray information to use a special storage layer the one that has a special crystalline, needle-shaped structure. The special one Storage layer has a variety of "needles" that are used to guide both the Can serve excitation as well as emission radiation. For one Storage layer, crystalline "needles" are grown. Such a needle spit Layer is made of binary alkali halides, such as. B. cesium bromide, CsBr, built up. These structured alkali halides can be used with suitable activators ren, such as B. gallium, thallium, europium, etc., may be doped. The individual na delkriatalle have a different height depending on the purpose between 100 and 600 µm, and a thickness of approx. 10 µm. Usually they are individual needles separated from each other by a small air gap. Either the excitation as well as the emission light is in the individual needles that serve as a light guide, guided by the principle of total reflection. excitation radiation that falls into such a needle at a certain angle largely passed on without scattering until it enters the crystal lattice of the needle Information center where X-ray information is stored. The emission radiation generated by the excitation of the information center is passed on in the corresponding needle and out of this needle guided so that it can be detected by the receiving means. A sol The needle-shaped storage layer is particularly from the European Pa Tent application EP 0 751 200 A1 known. By using this spe zonal storage layer is a scattering of the excitation radiation within the Storage layer reduced. In particular when reading the lines in X-ray information stored in the storage layer is the scatter of the Excitation radiation transverse to the line direction disadvantageous, since then information centers can be stimulated, which lead to a different one than the one currently being read send row belonging to the storage layer. This can cause emission radiation get "lost" d. H. it cannot be detected by the receiving means. There will also be a scattering of the emission radiation within the memory layer reduced, which above all ensures good spatial resolution in the detection tion of the emission radiation is achieved in the receiving means. It all became However, it was found that, for example, excitation radiation under a Angle of incidence into the storage layer that is larger than a certain one Angle, not in the respective needles, but across these Na deln goes through. Especially since the needles have an irregular exterior have structure, thus a scattering of the excitation radiation can arise hen, which is disadvantageous for the quality of the reproduction of the X-ray information. Because, above all, the irregular outer structure of the needles leads to a Part of the excitation radiation is not totally reflected within the needle produces a blur in the reproduction of the X-ray information. Ähnli ches applies to the emission radiation from one of the excitation radiation the information center hit is emitted essentially isotropically. on due to the aperture angle, which is determined by the ratio of the refractive indices of Air to the alkali halide from which the individual needles were grown is determined, part of the emission light is not within the needles totally reflected, but emerges from the respective needle. This leads to a corresponding deterioration of the spatial resolution when detecting the Emission radiation.
Alternativ zu dem oben beschriebenen Zwischenspeichern von Röntgeninforma tionen in der Speicherschicht können Röntgeninformationen, die in der Röntgen strahlung enthalten sind, mittels einer Wandlungsschicht direkt in Lichtstrahlung gewandelt werden. Diese Lichtstrahlung, die ein Abbild der Röntgeninformatio nen enthält, kann anschließend von einem lichtempfindlichen Sensor detektiert und in elektrische Signale gewandelt werden. Eine solche Wandlungsschicht und Vorrichtungen, in denen sie eingesetzt ist, sind z. B. aus der DE 195 05 729 C1, der DE 195 06 809 A1 oder der DE 195 09 021 C2 bekannt. Die Wandlungs schicht zum Wandeln von Röntgenstrahlung in eine Lichtstrahlung wird als so genannte Szintillatorschicht bezeichnet, die im wesentlichen aus Cäsiumjodid, Csl, bestehen kann. Röntgenstrahlen-Detektoren, die solche Wandlungsschich ten enthalten, sind bereits heute öffentlich verfügbar. Beispielsweise verwendet die Firma Trixell, 460, Rue de Pommarin, 38430 Moirans, Frankreich, in ihrem Produkt Pixium 4600 eine solche Wandlungsschicht. Diese Wandlungsschichten zum Wandeln von Röntgenstrahlung in Lichtstrahlung enthalten eine Vielzahl von Wandelbereichen mit Material, das die Röntgenstrahlung direkt in Lichtstrahlung wandelt. Ähnlich der beschriebenen Speicherschicht sind diese Wandelbereiche in der Wandlungsschicht nadelförmig nebeneinander angeordnet. Das bedeutet, dass die Wandlung von Röntgenstrahlung in Lichtstrahlung in den einzelnen Na deln erfolgt. Die im Vergleich zur Röntgenstrahlung niederenergetische Licht strahlung kann aufgrund der Aperturwinkel an den Grenzschichten der Nadeln der Wandlungsschicht aus einer Nadel, in der sie erzeugt wurde, austreten und in ein oder mehrere andere Nadeln gelangen. Dies führt dazu, dass die in einer bestimmten Nadel erzeugte Lichtstrahlung an einer vollkommen anderen Stelle aus der Wandlungsschicht austritt und dementsprechend von dem lichtempfindli chen Sensor an einem Ort detektiert wird, der nicht dem Ort der Nadel ent spricht, in der die Lichtstrahlung erzeugt wurde. Wie zuvor bei den Speicher schichten wird somit die Ortsauflösung bei der Detektion der von der Wandlungsschicht emittierten Lichtstrahlung aufgrund der beschriebenen Streuung verfälscht.As an alternative to the intermediate storage of x-ray information in the storage layer described above, x-ray information contained in the x-ray radiation can be converted directly into light radiation by means of a conversion layer. This light radiation, which contains an image of the X-ray information, can then be detected by a light-sensitive sensor and converted into electrical signals. Such a conversion layer and devices in which it is used are, for. B. from DE 195 05 729 C1, DE 195 06 809 A1 or DE 195 09 021 C2 known. The conversion layer for converting X-rays into light radiation is referred to as a so-called scintillator layer, which can essentially consist of cesium iodide, Csl. X-ray detectors that contain such conversion layers are already publicly available today. For example, Trixell, 460, Rue de Pommarin, 38430 Moirans, France, uses such a conversion layer in its Pixium 4600 product. These conversion layers for converting X-ray radiation into light radiation contain a large number of change regions with material that convert the X-ray radiation directly into light radiation. Similar to the storage layer described, these change regions are arranged in a needle-like manner next to one another in the conversion layer. This means that X-rays are converted into light radiation in the individual needles. The low-energy light radiation compared to the X-ray radiation can emerge from a needle in which it was generated and reach one or more other needles due to the aperture angle at the boundary layers of the needles of the conversion layer. This leads to the fact that the light radiation generated in a certain needle emerges from the conversion layer at a completely different location and is accordingly detected by the photosensitive sensor at a location that does not correspond to the location of the needle in which the light radiation was generated. As before with the storage layers, the spatial resolution in the detection of the light radiation emitted by the conversion layer is falsified due to the described scattering.
Der vorliegenden Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, eine Speicher schicht und eine Wandlungsschicht sowie eine Vorrichtung zum Auslesen von Röntgeninformationen und eine Röntgenkassette anzugeben, so dass bei der Wiedergabe von Röntgeninformationen eine gute Qualität ermöglicht wird.The present invention is therefore based on the object of a memory layer and a conversion layer and a device for reading out To provide x-ray information and an x-ray cassette so that at the Reproduction of X-ray information a good quality is made possible.
Diese Aufgabe wird gemäß der technischen Lehre des Anspruchs 1, 8, 11 oder 12 gelöst.This object is according to the technical teaching of claim 1, 8, 11 or 12 solved.
Bei der erfindungsgemäßen Speicherschicht ist zwischen den einzelnen nadel förmigen Speichermaterialbereichen ein Absorptionsmaterial zum Absorbieren von Lichtstrahlung vorhanden. Entsprechendes gilt für die erfindungsgemäße Wandlungsschicht, bei der zwischen den nadelförmigen Wandelmaterialberei chen Absorptionsmaterial zum Absorbieren von Lichtstrahlung vorhanden ist.In the storage layer according to the invention there is a needle between the individual shaped storage material areas an absorbent material for absorbing of light radiation present. The same applies to the invention Change layer, in which between the needle-shaped change material range Chen absorption material for absorbing light radiation is present.
Aufgrund der vorliegenden Erfindung werden Lichtstrahlen, d. h. Anre gungs- und/oder Emissionsstrahlung, die aufgrund des durch die verwendeten Materialien vorgegebenen Aperturwinkels seitlich aus einer Nadel austreten, ab sorbiert. Dies führt dazu, dass insgesamt die Menge von Lichtstrahlung, die von einer Nadel in eine oder mehrere benachbarte Nadeln eindringt, reduziert wird. Dadurch kann die Streuung von Lichtstrahlung gering gehalten werden, so dass die Schärfe des aus den zwischengespeicherten oder gewandelten Röntgen informationen wiedergegebenen Röntgenstrahlenbildes verbessert wird. Aper turwinkel bezeichnet hier denjenigen Winkel, bis zu dem eine Totalreflektion von Anregungs- oder Emissionsstrahlung in der Speicherschicht erfolgt. Nach dem Erzeugen der nadelförmigen Speicher- oder Wandlungsschicht kann zwischen die gezüchteten Nadeln Absorptionsmaterial eingefüllt werden. Absorptionsmate rial, das nach dem Einfüllen in die Nadelzwischenräume unerwünschterweise auf der Oberfläche der Speicher- bzw. der Wandlungsschicht vorhanden ist, kann durch nachträgliches Polieren oder Schleifen der Oberfläche entfernt werden. Eine solche Entfernung der Absorptionsmaterialien kann auch mittels eines chemischen Verfahrens durchgeführt werden. Dazu wird vorteilhafterweise die Oberfläche der Speicher- bzw. Wandlungsschicht so vorbehandelt, dass die Haftung der Absorptionsmaterialien sehr schwach ist. Bei der Speicherschicht kann aufgrund des Entfernens der Absorptionsmaterialien von der Oberfläche die Stimulationsstrahlung, mit dem die Informationszentren der Speicherschicht angeregt werden, ungehindert in die Speicherschicht eindringen. Des weiteren kann die Emissionsstrahlung ungedämpft aus der Speicherschicht austreten. Dies ist vor allem bei der Speicherschicht vorteilhaft, da die Stimulationsstrah lung niederenergetischer ist, als die direkt auf die Wandlungsschicht treffende und in Lichtstrahlung umzuwandelnde Röntgenstrahlung.Due to the present invention, light rays, i.e.. H. Anre radiation and / or emission radiation due to the used by the Exit the materials of the specified aperture angle from the side of a needle sorbed. This leads to the total amount of light radiation emitted by a needle penetrates into one or more adjacent needles is reduced. As a result, the scatter of light radiation can be kept low, so that the sharpness of the from the cached or converted x-ray Information reproduced X-ray image is improved. Aper Here, angle refers to the angle up to which a total reflection of Excitation or emission radiation takes place in the storage layer. After this Generation of the acicular storage or conversion layer can between the grown needles are filled with absorbent material. absorption Mate rial that after filling in the needle gaps undesirably the surface of the storage or conversion layer is present can be removed by polishing or sanding the surface afterwards. Such removal of the absorption materials can also be done by means of a chemical process. For this purpose, the Surface of the storage or conversion layer pretreated so that the Adhesion materials are very weak. At the storage layer may be due to the removal of the absorbent materials from the surface the stimulating radiation with which the information centers of the storage layer be stimulated, penetrate the storage layer unhindered. Furthermore the emission radiation can emerge from the storage layer undamped. This is particularly advantageous with the storage layer because the stimulation beam low-energy than the one that strikes the transformation layer directly and X-rays to be converted into light radiation.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sind zwischen zwei benach barten nadelförmigen Speichermaterialbereichen zwei Absorptionsbereiche vor handen, zwischen denen sich eine Luftschicht befindet. Die Luftschicht trennt somit die beiden Absorptionsbereiche voneinander. Grenzt an einen Speicher materialbereich ein Absorptionsbereich mit Absorptionsmaterial an, so wird da durch im Vergleich zu dem Fall, in dem Luft an die Speichermaterialbereiche angrenzt, der Aperturwinkel verkleinert. Dies bedeutet, dass eine kleinere Menge von Anregungs- oder Emissionsstrahlung innerhalb der nadelförmigen Spei chermaterialbereiche total reflektiert wird. Eine größere Menge an Anre gungs- oder Emissionsstrahlung tritt aus den Speichermaterialbereichen aus. Diese aus den Speichermaterialbereichen ausgetretene Strahlung wird in dem Absorptionsbereich zumindest teilweise absorbiert. Es läßt sich allerdings nicht vollständig verhindern, dass Strahlung auch durch die Absorptionsbereiche hin durchtritt und in diesen Bereichen eben nicht absorbiert wird. Dadurch, dass zwi schen zwei Absorptionsbereiche vorteilhafterweise eine Luftschicht eingebracht ist, wird - wegen des großen Aperturwinkels an diesem Übergang - ein weiterer Teil des aus dem nadelförmigen Speichermaterialbereich ausgetretenen Lichts erneut an der Grenzschicht reflektiert. Dieses reflektierte Licht wird anschließend erneut in dem Absorptionsbereich, in den es zurückreflektiert wurde, zumindest teilweise absorbiert. Auf diese Weise kann die Menge von Streustrahlung, die aus einem Speichermaterialbereich austritt und in einen oder mehrere benach barte Speichermaterialbereiche eintritt, weiter verringert werden. Für die Wand lungsschicht ist diese vorteilhafte Ausgestaltung der Absorptionsbereiche ent sprechend anwendbar.In an advantageous embodiment of the invention, two adj provided needle-shaped storage material areas two absorption areas between which there is an air layer. The air layer separates thus the two absorption areas from each other. Bordering a memory an absorption area with absorption material, so there will be through compared to the case where air is at the storage material areas adjacent, the aperture angle is reduced. This means a smaller amount of excitation or emission radiation within the needle-shaped memory material areas is totally reflected. A larger amount of inc Radiation or emission radiation emerges from the storage material areas. This radiation emerging from the storage material areas is in the Absorption area at least partially absorbed. However, it cannot be completely prevent radiation even through the absorption areas penetrates and is not absorbed in these areas. Because between An absorption layer is advantageously introduced into two absorption areas is - because of the large aperture angle at this transition - another Part of the light emerging from the needle-shaped storage material area reflected again at the boundary layer. This reflected light is then again in the absorption area into which it was reflected back, at least partially absorbed. In this way, the amount of stray radiation that emerges from a storage material area and into one or more adj beard areas of memory material occurs, are further reduced. For the wall This advantageous configuration of the absorption areas is ent speaking applicable.
In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung enthält das Absorptionsmaterial Farbpigmente. Solche Farbpigmente eignen sich auf einfache Weise sehr gut dazu, die Anregungsstrahlung und die Emissionsstrahlung, die üblicherweise Wellenlängen haben, die im sichtbaren Bereich des Spektrums liegen, zu absor bieren. Zum Absorbieren von Anregungsstrahlung, die üblicherweise im roten Wellenlängenbereich des Spektrums liegt, eignen sich besonders blaue Farb pigmente. Zum Absorbieren von Emissionsstrahlung, die üblicherweise im blauen Wellenlängenbereich des Spektrums liegt, eignen sich besonders rote Farbpigmente. Auch diese vorteilhafte Ausgestaltung der Absorptionsbereiche ist für die Wandlungsschicht entsprechend anwendbar.In a further advantageous embodiment, the absorption material contains Color pigments. Such color pigments are very well suited in a simple manner to this, the excitation radiation and the emission radiation, which are usually Have wavelengths that are in the visible range of the spectrum to absor beers. For absorbing excitation radiation, usually in the red Wavelength range of the spectrum, blue colors are particularly suitable pigments. To absorb emission radiation, which is usually in the blue wavelength range of the spectrum, red ones are particularly suitable Color pigments. This advantageous embodiment of the absorption areas is also applicable accordingly for the conversion layer.
In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sind die Farbpig mente in einem Lösungsmittel gelöst. Da die Speichermaterialbereiche Alkali halogenide enthalten, die in der Regel wasserlösliche, anorganische Kristalle darstellen, sollte bevorzugt ein organisches Lösungsmittel Verwendung finden. Es empfiehlt sich außerdem, wegen der hohen Wasserlöslichkeit der Kristalle der Speichermaterialbereiche, die Farbpigmente zuvor zu trocknen und somit einen eventuellen Wasseranteil zu eliminieren. Auch diese vorteilhafte Ausge staltung der Absorptionsbereiche ist für die Wandlungsschicht entsprechend anwendbar.In a further advantageous embodiment of the invention, the color pigments are elements dissolved in a solvent. Because the storage material areas are alkali contain halides, which are usually water-soluble, inorganic crystals an organic solvent should preferably be used. It is also recommended because of the high water solubility of the crystals the storage material areas to dry the color pigments beforehand and thus to eliminate any water content. This advantageous Ausge The design of the absorption areas is corresponding for the conversion layer applicable.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den abhängigen An sprüchen zu entnehmen. Further advantageous embodiments of the invention are the dependent An to take sayings.
Im folgenden werden die Erfindung und ihre Vorteile anhand von Ausführungs beispielen und den Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:In the following the invention and its advantages with reference to execution examples and the drawings. Show it:
Fig. 1 ein Anwendungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Auslesen von Röntgeninformationen aus einer erfindungsgemäßen Speicherschicht, Fig. 1 shows an application example of an inventive apparatus for reading out X-ray information of an inventive storage layer,
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Anwendungsbeispiels einer An ordnung mit einer erfindungsgemäßen Wandlungsschicht, Fig. 2 is a schematic representation of an embodiment of an arrangement, according to the invention with a conversion layer,
Fig. 3 ein erstes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Speicher schicht mit einem beispielhaften Verlauf von Anregungsstrahlen, Fig. 3 shows a first embodiment of a memory layer according to the invention with an exemplary profile of the excitation beam,
Fig. 4 ein zweites Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Speicher schicht mit einer beispielhaften Darstellung des Verlaufs von Emis sionsstrahlen und Fig. 4 shows a second embodiment of the memory layer according to the invention with an exemplary representation of the course of emission beams and
Fig. 5 ein drittes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Speicher schicht, bei der die Absorptionsbereiche zwischen den Nadeln eine Luftschicht aufweisen. Fig. 5 shows a third embodiment of a storage layer according to the invention, in which the absorption areas between the needles have an air layer.
Im folgenden werden für gleiche oder gleich wirkende Elemente durchweg die gleichen Bezugszeichen verwendet.In the following, the same for elements that have the same or the same effect same reference numerals used.
Fig. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Vorrichtung 1 zum Auslesen von Röntgeninformationen aus einer Speicherschicht. Diese Vorrich tung ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel eine Röntgenkassette 1. Die Rönt genkassette 1 enthält eine Speicherschicht 4 sowie einen Lesekopf 2, der zum Auslesen von in der Speicherschicht 4 abgespeicherten Röntgeninformationen dient. Der Lesekopf 2 enthält dazu eine nicht weiter dargestellte Strahlungsquelle zum Anregen der Speicherschicht und ein nicht dargestelltes Empfangsmittel zum Empfangen der aufgrund der Anregung von der Speicherschicht 4 emittier ten Emissionssstrahlung. Die Strahlungsquelle ist hier als Linienlichtquelle aus gestaltet und enthält eine Vielzahl von nebeneinander angeordneten Laser dioden. Mit diesen Laserdioden kann eine Zeile der Speicherschicht 4 angeregt werden. Eine solche Zeile erstreckt sich entlang einer Richtung B im wesentli chen über die gesamte Breite der Speicherschicht 4. Anstelle der mit den Laser dioden ausgestalteten Linienlichtquelle kann ebenso eine andere Strahlungs quelle verwendet werden, die zum Anregen der Speicherschicht 10 geeignet ist. Beispielsweise kann auch eine sogenannte "flying spot"-Strahlungsquelle ver wendet werden, bei der ein von einem Laser ausgegebener Laserstrahl auf einen drehbar gelagerten Polygonspiegel gerichtet ist. Der Polygonspiegel rotiert, so dass der Laserstrahl über eine Zeile der Speicherschicht 4 geführt wird, wobei jeweils immer ein einziger Punkt der Zeile angeregt wird. Das in dem Lesekopf 2 enthaltene Empfangsmittel kann eine sogenannte "charge-coupled-device"(CCD)-Zeile enthalten, die zum Empfangen der von der Speicherschicht 4 ausgesandten Emissionsstrahlung dient. Die CCD-Zeile weist eine Vielzahl von parallel in einer Linie nebeneinander angeordneten Fotodetek toren auf. Mit diesen Fotodetektoren kann eine fotoelektrische Wandlung der empfangenen Emissionsstrahlung durchgeführt werden. Zwischen der Linien lichtquelle und der CCD-Zeile besteht eine feste Verbindung, so dass die Abbil dung der in der Speicherschicht 4 gespeicherten Röntgeninformationen, d. h die Anregung der Speicherschicht und der Empfang der aufgrund der Anregung emittierten Strahlung, genau aufeinander abgestimmt sind und auch während des eigentlichen Auslesevorgangs immer eine exakte Zuordnung gewährleistet ist. Über ein nicht dargestelltes Antriebsmittel, das beispielsweise ein Linearmo tor sein kann, ist der gesamte Lesekopf 2 zum Auslesen der in der Speicher schicht 10 abgespeicherten Informationen in eine Verschiebungsrichtung A be wegbar. Dadurch kann ein Vorschub erzeugt werden, um die gesamte Speicher schicht 10 mittels des zeilenweisen Anregens und Detektierens auslesen zu können. Zum Führen des Lesekopfes 2 zum Auslesen der Speicherschicht 4 enthält die Röntgenkassette 1 entlang der beiden Längsseiten der Speicherschicht 4 zwei Führungsstäbe 3. Die Speicherschicht 4 ist eine Spei cherschicht, die eine kristallite, nadelförmige Struktur aufweist. Zwischen den einzelnen Nadeln der Speicherschicht 4 sind Absorptionsbereiche vorhanden, die ein Absorptionsmaterial zum Absorbieren von Lichtstrahlung enthalten. Fig. 1 shows an embodiment of a device 1 according to the invention for reading out X-ray information from a storage layer. In the present exemplary embodiment, this device is an X-ray cassette 1 . The X-ray gene cassette 1 contains a storage layer 4 and a reading head 2 , which is used to read out X-ray information stored in the storage layer 4 . For this purpose, the reading head 2 contains a radiation source (not shown further) for exciting the storage layer and a receiving means (not shown) for receiving the emission radiation emitted by the storage layer 4 due to the excitation. The radiation source is designed here as a line light source and contains a large number of laser diodes arranged side by side. A row of the storage layer 4 can be excited with these laser diodes. Such a line extends along a direction B substantially across the entire width of the storage layer 4 . Instead of the line light source configured with the laser diodes, another radiation source can also be used, which is suitable for exciting the storage layer 10 . For example, a so-called "flying spot" radiation source can also be used, in which a laser beam emitted by a laser is directed onto a rotatably mounted polygon mirror. The polygon mirror rotates so that the laser beam is guided over a line of the storage layer 4 , a single point of the line being always excited. The receiving means contained in the reading head 2 can contain a so-called "charge-coupled-device" (CCD) line, which is used to receive the emission radiation emitted by the storage layer 4 . The CCD line has a multiplicity of photodetectors arranged parallel to one another in a line. A photoelectric conversion of the received emission radiation can be carried out with these photodetectors. There is a fixed connection between the line light source and the CCD line, so that the image of the X-ray information stored in the storage layer 4 , i. h the excitation of the storage layer and the reception of the radiation emitted due to the excitation are precisely matched to one another and an exact assignment is always guaranteed even during the actual reading process. Via a drive means, not shown, which can be, for example, a linear motor, the entire read head 2 for reading out the information stored in the storage layer 10 can be moved in a direction of displacement A be. A feed can thereby be generated in order to be able to read out the entire storage layer 10 by means of line-by-line excitation and detection. To guide the reading head 2 for reading out the storage layer 4 , the x-ray cassette 1 contains two guide rods 3 along the two long sides of the storage layer 4 . The storage layer 4 is a storage layer which has a crystalline, needle-shaped structure. Absorption regions are present between the individual needles of the storage layer 4 and contain an absorption material for absorbing light radiation.
Fig. 2 zeigt beispielhaft eine Anordnung, in der eine Wandlungsschicht 6 zum Wandeln von Röntgenstrahlung in eine Lichtstrahlung enthalten ist. Die Wand lungsschicht 6 ist eine sogenannte Szintillatorschicht. Diese Szintillatorschicht ist Bestandteil eines Wandlungsmittels 5, das des weiteren ein optisches Abbil dungsmittel 7 und einen Optoelektro-Bildwandler enthält. Die Szintillator schicht 6, das optische Abbildungsmittel 7 und der Bildwandler 8 sind flächig ausgestaltet und innerhalb des Wandlungsmittels 5 direkt hintereinander ange ordnet. Die Szintillatorschicht 6 enthält eine Vielzahl von kristallinen, nadelförmi gen Wandelmaterialbereichen, in denen in diese Bereiche eindringende Rönt genstrahlung in eine Lichtstrahlung umgewandelt wird. Die Wandelmaterialberei che der Szintillatorschicht 6 können beispielsweise aus Cäsiumjodid, Csl, beste hen, das wiederum dotiert ist. In seiner nadelförmigen Struktur entspricht die Szintillatorschicht weitgehend dem Aufbau der Speicherschicht 4 (Fig. 1). Zwi schen den einzelnen nadelförmigen Wandelmaterialbereichen der Szintillator schicht 6 sind Absorptionsbereiche mit Absorptionsmaterial zum Absorbieren von Lichtstrahlung vorhanden, die aufgrund der Röntgenstrahlung erzeugt wird. Das optische Abbildungsmittel 7 kann beispielsweise ein Array mit einer Vielzahl von Mikrolinsen enthalten. Dieses Mikrolinsenarray bildet die von der Szintillator schicht 6 ausgegebene Lichtstrahlung auf den Bildwandler 8 ab. Der Bildwand ler 8 enthält eine Vielzahl von lichtsensitiven Sensoren, die die abgebildete Licht strahlung in entsprechende elektrische Signale umwandeln. Der Bildwandler 8 kann aus wasserstoffhaltigem, amorphem Silizium (aSi:H) bestehen. Eine von einer Röntgenkanone ausgegebene Röntgenstrahlung 11 trifft auf die Szintilla torschicht 6. In dieser Szintillatorschicht 6 wird die Röntgenstrahlung mit der Röntgeninformation in eine Lichtstrahlung entsprechend der Röntgeninformation gewandelt. Von dem Bildwandler 8 werden elektrische Signale entsprechend der in der Lichtstrahlung enthaltenen Informationen erzeugt. Der Bildwandler 8 ist mit einem Steuermittel 9 verbunden, dem die elektrischen Signale von dem Bild wandler zugeleitet werden. Das Steuermittel 9 führt eine Bildverarbeitung durch, so dass die Röntgeninformationen anschließend auf einem Monitor 10 darge stellt werden können, der mit dem Steuermittel 9 verbunden ist. Ein Auslesen von zwischengespeicherten Röntgeninformationen, wie dies mittels der Rönt genkassette 1 gemäß der Fig. 1 notwendig ist, ist mittels des Wandlungsmit tels 5 gemäß der Fig. 2 nicht notwendig. Vielmehr kann die Röntgenstrahlung 11 direkt umgesetzt werden, um die in ihr enthaltenen Röntgeninformationen auf dem Monitor 10 darzustellen. FIG. 2 shows an example of an arrangement in which a conversion layer 6 for converting X-radiation into light radiation is contained. The conversion layer 6 is a so-called scintillator layer. This scintillator layer is part of a conversion means 5 , which further contains an optical imaging means 7 and an optoelectronic image converter. The scintillator layer 6 , the optical imaging means 7 and the image converter 8 are flat and arranged within the conversion means 5 one behind the other. The scintillator layer 6 contains a multiplicity of crystalline, needle-shaped, convertible material regions in which X-rays penetrating into these regions are converted into light radiation. The convertible material areas of the scintillator layer 6 can consist, for example, of cesium iodide, Csl, which in turn is doped. In its needle-shaped structure, the scintillator layer largely corresponds to the structure of the storage layer 4 ( FIG. 1). Between the individual needle-shaped change material areas of the scintillator layer 6 there are absorption areas with absorption material for absorbing light radiation which is generated due to the X-ray radiation. The optical imaging means 7 can, for example, contain an array with a multiplicity of microlenses. This microlens array images the light radiation output by the scintillator layer 6 onto the image converter 8 . The screen ler 8 contains a variety of light-sensitive sensors that convert the light radiation shown into corresponding electrical signals. The image converter 8 can consist of hydrogen-containing, amorphous silicon (aSi: H). An x-ray radiation 11 emitted by an x-ray gun strikes the scintilla gate layer 6 . In this scintillator layer 6 , the X-ray radiation with the X-ray information is converted into light radiation corresponding to the X-ray information. Electrical signals are generated by the image converter 8 in accordance with the information contained in the light radiation. The image converter 8 is connected to a control means 9 , to which the electrical signals from the image converter are fed. The control means 9 carries out image processing so that the x-ray information can subsequently be displayed on a monitor 10 which is connected to the control means 9 . A reading out of temporarily stored x-ray information, as is necessary by means of the x-ray cassette 1 according to FIG. 1, is not necessary by means of the conversion means 5 according to FIG. 2. Rather, the x-ray radiation 11 can be implemented directly in order to display the x-ray information contained in it on the monitor 10 .
Fig. 3 zeigt eine Darstellung eines Lesekopfes mit einer Strahlungsquelle 12 und einem Empfangsmittel 13 entlang der Vorschubrichtung A des Lesekopfes. Zwi schen der Strahlungsquelle 12 und dem Empfangsmittel 13 befindet sich die Speicherschicht 4. Fig. 3 zeigt schematisch einen Schnitt durch die Speicher schicht 4 entlang der Vorschubrichtung A des Lesekopfes mit der Strahlungs quelle 12 und dem Empfangsmittel 13. Die Speicherschicht 4 enthält eine Viel zahl von nebeneinander angeordneten nadelförmigen Speicherbereichen. Die Fig. 3 zeigt einen ersten nadelförmigen Speicherbereich 15A, neben dem ein zweiter nadelförmiger Speicherbereich 15B und neben diesem wiederum ein dritter nadelförmiger Speicherbereich 15C angeordnet ist. Zwischen den jeweili gen nadelförmigen Speicherbereichen 15A bis 15C sind jeweils Absorptionsbe reiche vorhanden, die ein Absorptionsmaterial zum Absorbieren von Lichtstrah lung enthalten. An der linken Seite des ersten Speicherbereichs 15A befindet sich ein erster Absorptionsbereich 14A. In diesem ersten Absorptionsbereich 14A ist stellvertretend für die restlichen Absorptionsbereiche - auch der nachfolgen den Ausführungsbeispiele - das Absorptionsmaterial angedeutet. Das Absorp tionsmaterial enthält ein Lösungsmittel 38, in dem sich eine Vielzahl von Farb pigmenten 37 befindet. Diese Farbpigmente 37 haben vorteilhafterweise eine solche Farbe, dass entweder die von der Strahlungsquelle 12 ausgegebene An regungsstrahlung oder aber die aufgrund der Anregung mit der Anregungsstrahlung von den jeweiligen nadelförmigen Speicherbereichen aus gegebene Emissionsstrahlung absorbiert werden kann. Dazu haben die Farb pigmente 37 vorteilhafterweise eine blaue oder eine rote Farbe. Mit blauen Farb pigmenten kann insbesondere die von der Strahlungsquelle 12 ausgegebene Anregungsstrahlung absorbiert werden. Mit roten Farbpartikeln 37 kann insbe sondere Emissionsstrahlung absorbiert werden. Anstelle der Farbpartikel 37 und des Lösungsmittels 38 sind auch andere Absorptionsmaterialien möglich. Insbe sondere können die Farbpartikel 37 auch eine andere Farbe als blau oder rot aufweisen, sofern diese Farbe geeignet ist, Anregungsstrahlung und/oder Emis sionsstrahlung zu absorbieren. Eine hundertprozentige Absorption von Anre gungs- und Emissionsstrahlung, wie sie beispielsweise durch schwarze Farb pigmente im Absorptionsmaterial erreicht werden könnte, ist hier vorteilhafter weise nicht erwünscht, da dadurch eine zu große Menge an Anregungs- und Emissionsstrahlung absorbiert würde, was dazu führt, dass ein zu geringer Anteil von Emissionsstrahlung aus der Speicherschicht 4 heraustreten kann. Eine ge ringe Unschärfe bei der Detektion der aus der Speicherschicht 4 heraustreten den Emissionsstrahlung wird somit in Kauf genommen, um dadurch die Intensität der aus der Speicherschicht 4 heraustretenden Emissionsstrahlung entspre chend groß zu halten. Das Absorptionsmaterial kann vorteilhafterweise so aus geführt sein, dass nur ein bestimmter Betrag der Intensität der Anregungs- oder der Emissionsstrahlung in den jeweiligen Absorptionsbereichen absorbiert wird. Wenigstens ein Teil der jeweiligen Anregungs- oder Emissionsstrahlen wird so mit erst nach Durchgang durch mehrere Absorptionsbereiche vollständig absor biert. Es ist dadurch möglich, optimale Absorptionseigenschaften des Absorp tionsmaterials im Hinblick auf die Intensität der aus der Speicherschicht 4 aus tretenden Emissionsstrahlung unter Inkaufnahme von Unschärfe einzustellen. Fig. 3 shows an illustration of a read head comprising a radiation source 12 and receiving means 13 along the feeding direction A of the reading head. The storage layer 4 is located between the radiation source 12 and the receiving means 13 . Fig. 3 shows schematically a section through the storage layer 4 along the feed direction A of the reading head with the radiation source 12 and the receiving means 13th The storage layer 4 contains a large number of needle-shaped storage areas arranged side by side. FIG. 3 shows a first needle-shaped storage area 15 A, next to which a second needle-shaped storage area 15 B and next to this in turn a third needle-shaped storage area 15 C is arranged. Absorption areas are present between the respective acicular storage areas 15 A to 15 C, which contain an absorption material for absorbing light radiation. On the left side of the first storage area 15 A there is a first absorption area 14 A. In this first absorption area 14 A, the absorption material is indicated as a representative of the remaining absorption areas - also of the following exemplary embodiments. The absorption material contains a solvent 38 in which there is a multitude of color pigments 37 . These color pigments 37 advantageously have such a color that either the radiation emitted by the radiation source 12 or the radiation emitted by the respective needle-shaped storage areas due to the excitation with the excitation radiation can be absorbed. For this purpose, the color pigments 37 advantageously have a blue or a red color. The excitation radiation emitted by the radiation source 12 can in particular be absorbed with blue color pigments. With red color particles 37 in particular special emission radiation can be absorbed. Instead of the color particles 37 and the solvent 38 , other absorption materials are also possible. In particular, the color particles 37 can also have a color other than blue or red, provided that this color is suitable for absorbing excitation radiation and / or emission radiation. A hundred percent absorption of excitation and emission radiation, such as could be achieved, for example, by black color pigments in the absorption material, is advantageously not desirable here, since this would absorb too much excitation and emission radiation, which leads to a too little of the emission radiation can emerge from the storage layer 4 . A ge rings blur in the detection of out of the memory layer 4 emerge the emission radiation is thus taken into account in order to keep characterized entspre the intensity of the emerging from the storage layer 4 emission radiation accordingly large. The absorption material can advantageously be made such that only a certain amount of the intensity of the excitation or emission radiation is absorbed in the respective absorption areas. At least some of the respective excitation or emission beams are only completely absorbed after they have passed through several absorption areas. It is thereby possible to set optimal absorption properties of the absorption material with regard to the intensity of the emission radiation emerging from the storage layer 4 while accepting blur.
Zwischen dem ersten nadelförmigen Speicherbereich 15A und dem zweiten Speicherbereich 15B ist ein zweiter Absorptionsbereich 14B vorhanden. Zwi schen dem zweiten Speicherbereich 15B und dem dritten Speicherbereich 15C ist ein dritter Absorptionsbereich 14C in der Speicherschicht 4 vorhanden. A second absorption area 14 B is present between the first needle-shaped storage area 15 A and the second storage area 15 B. Zvi rule the second memory area 15 B and the third memory region 15 C is a third absorption region 14 C in the memory layer 4 exists.
In den Speicherbereichen 15A bis 15C sind aufgrund der Bestrahlung mittels der Röntgenstrahlung eine Vielzahl von Informationszentren vorhanden. Die Ge samtheit der Informationszentren und insbesondere ihre örtliche Lage in der Speicherschicht 4 entspricht den zwischengespeicherten Röntgeninformationen. Einige Informationszentren sind beispielhaft in der Fig. 3 durch dunkle Kreise angedeutet. In dem zweiten Speicherbereich 15B ist stellvertretend ein Informa tionszentrum mit dem Bezugszeichen 16A und in dem dritten Speicherbe reich 15C stellvertretend ein weiteres Informationszentrum mit dem Bezugs zeichen 16B bezeichnet.A large number of information centers are present in the memory areas 15 A to 15 C due to the irradiation by means of the X-radiation. The totality of the information centers and in particular their location in the storage layer 4 corresponds to the temporarily stored X-ray information. Some information centers are indicated by dark circles by way of example in FIG. 3. In the second memory area 15 B, an information center is designated by the reference character 16 A and in the third memory area 15 C, another information center is designated by the reference character 16 B.
Stellvertretend für eine Vielzahl von Anregungsstrahlungen, die von der Strah lungsquelle 12 ausgegeben werden, sind in der Fig. 3 ein erster Anregungs strahl 17, ein zweiter Anregungsstrahl 18 und ein dritter Anregungsstrahl 19 dargestellt. Der erste Anregungsstrahl 17 dringt in den zweiten Speicherbe reich 15B ein und trifft dort auf das Informationszentrum 16A. Aufgrund der An regung des Informationszentrums 16A durch den ersten Anregungsstrahl 17 emittiert der Speicherbereich 15B einen Emissionsstrahl 20. Dieser Emissions strahl 20 ist hier stellvertretend für eine große Vielzahl von Emissionsstrahlen dargestellt, die weitestgehend isotrop vom Informationszentrum 16A ausgestrahlt werden. Der Emissionsstrahl 20 tritt, wie in der Fig. 3 dargestellt, aus dem zwei ten Speicherbereich 15B aus und trifft auf das Empfangsmittel 13. Der zweite Anregungsstrahl 18 dringt ebenfalls in den zweiten Speicherbereich 15B ein und trifft dort auf die Grenzschicht zum zweiten Absorptionsbereich 14B. Dieses Auf treffen auf die Grenzschicht erfolgt unter einem bestimmten Winkel, der kleiner ist als der Aperturwinkel, der durch die Brechungsindizes des Speicherbe reichmaterials und des Absorptionsmaterials bestimmt wird. An der Grenzschicht findet einen Totalreflektion statt, so dass der zweite Stimulationsstrahl wieder zurück in den zweiten Speicherbereich 15B hineinreflektiert wird. Da der so re flektierte zweite Anregungsstrahl 18 im zweiten Speicherbereich 15B kein Infor mationszentrum trifft, trifft er auf die Grenzschicht hin zum dritten Absorptionsbereich 14C. Da der Winkel, unter dem der zweite Anregungsstrahl auf diese Grenzschicht zum dritten Absorptionsbereich 14C trifft, größer ist als der Aperturwinkel, findet keine Totalreflexion statt. Der zweite Anregungs strahl 18 dringt somit in den dritten Absorptionsbereich 14C ein und wird dort durch die darin enthaltenen Farbpartikel absorbiert, so dass er aus dem dritten Absorptionsbereich 14C nicht mehr heraustreten kann in den dritten Speicher bereich 15C. Der dritte Anregungsstrahl 19 dringt ebenfalls in den zweiten Spei cherbereich 15B ein und trifft dort unter einem bestimmten Winkel auf die Grenzschicht hin zum zweiten Absorptionsbereich 14B. Dieser Winkel, unter dem der dritte Anregungsstrahl 19 auf diese Grenzschicht trifft, ist kleiner als der Aperturwinkel, so dass der dritte Anregungsstrahl 19 in den zweiten Speicher bereich 15B hineinreflektiert wird. Da der dritte Anregungsstrahl auf seinem Weg durch den zweiten Speicherbereich 15B ebenfalls auf kein Informationszentrum trifft, gelangt er auf die Grenzfläche hin zum dritten Absorptionsbereich 14C. An dieser Grenzfläche trifft der dritte Anregungsstrahl 19 unter einem Winkel auf, der größer ist als der Aperturwinkel. Es findet an der Grenzfläche somit keine Totalreflexion statt und der dritte Anregungsstrahl dringt in den dritten Absorp tionsbereich 14C ein. Im dritten Absorptionsbereich 14C wird der dritte Anre gungsstrahl 19 nicht absorbiert. Vielmehr geht der dritte Anregungsstrahl 19 durch den dritten Absorptionsbereich 14C hindurch und dringt in den dritten Speicherbereich 15C ein. Im dritten Speicherbereich 15C trifft der dritte Anre gungsstrahl 19 schließlich auf das Informationszentrum 16B. Die Anregung des Informationszentrums 16B durch den dritten Anregungsstrahl 19 führt dazu, dass von diesem Informationszentrum 16B weitere Emissionsstrahlen, im wesentli chen isotrop, ausgegeben werden. Beispielhaft ist in der Fig. 3 ein Emissions strahl 39 dargestellt, der von dem Informationszentrum 16B ausgeht. Die Aus breitungsrichtung des Emissionsstrahls 39 deutet an, dass dieser aus dem drit ten Speicherbereich 15C austreten wird, ohne von dem Empfangsmittel 13 de tektiert werden zu können. Zumindest ein Teil der in dem Informationszen trum 16B enthaltenen Information kann daher durch das Empfangsmittel 13 nicht detektiert werden. Aufgrund der Streuung des dritten Anregungsstrahls 19 in den dritten Speicherbereich 15C erfolgt somit ein Informationsverlust. Die Fig. 3 zeigt somit insbesondere anhand des Verlaufs des zweiten und dritten Anregungs strahls 18 bzw. 19, wie sich die vorteilhafte Absorptionswirkung der Absorptions bereiche zwischen den einzelnen nadelförmigen Speicherbereichen positiv auf das Auslesen der Röntgeninformationen auswirkt. Die Absorptionsbereiche ver hindern, dass zumindest ein Teil der Anregungsstrahlung in benachbarte Spei cherbereiche übertritt, in denen sie dann auf dort vorhandene Informationszen tren treffen, die aufgrund der Anregungsstrahlung dann Emissionsstrahlung aus geben, die von dem Empfangsmittel 13 nicht ortsgenau detektiert werden kann.A first excitation beam 17 , a second excitation beam 18 and a third excitation beam 19 are shown in FIG. 3 as representative of a large number of excitation radiations which are emitted by the radiation source 12 . The first excitation beam 17 penetrates into the second storage area 15 B and hits the information center 16 A there. Due to the excitation of the information center 16 A by the first excitation beam 17, the storage area 15 B emits an emission beam 20 . This emission beam 20 is shown here as representative of a large number of emission beams, which are emitted largely isotropically by the information center 16 A. As shown in FIG. 3, the emission beam 20 emerges from the second memory area 15 B and strikes the receiving means 13 . The second excitation beam 18 also penetrates into the second storage area 15 B, where it strikes the boundary layer to the second absorption area 14 B. This striking the boundary layer occurs at a certain angle, which is smaller than the aperture angle, which is determined by the refractive indices of the storage area Rich material and the absorption material is determined. At the interface layer has a total reflection takes place, so that the second stimulation beam back into the second memory area 15 B is reflected into it. Since the thus reflected second excitation beam 18 does not hit an information center in the second storage area 15 B, it strikes the boundary layer towards the third absorption area 14 C. Since the angle at which the second excitation beam strikes this boundary layer to the third absorption area 14 C is greater than the aperture angle, there is no total reflection. The second excitation beam 18 thus penetrates into the third absorption area 14 C and is absorbed there by the color particles contained therein, so that it can no longer emerge from the third absorption area 14 C into the third storage area 15 C. The third excitation beam 19 penetrates also in the second storage area 15 B and there meets the boundary layer at a certain angle towards the second absorption area 14 B. This angle at which the third excitation beam 19 strikes this boundary layer is smaller than the aperture angle, so that the third Excitation beam 19 is reflected into the second storage area 15 B. Since the third excitation beam does not meet any information center on its way through the second storage area 15 B, it reaches the interface to the third absorption area 14 C. At this interface, the third excitation beam 19 strikes at an angle that is greater than the aperture angle , There is therefore no total reflection at the interface and the third excitation beam penetrates into the third absorption region 14 C. In the third absorption region 14 C, the third excitation beam 19 is not absorbed. Rather, the third excitation beam 19 passes through the third absorption region 14 C and penetrates into the third storage region 15 C. In the third memory area 15 C the third Anre finally 16 B. meets supply beam 19 to the information center, the excitation of the information center 16 B by the third excitation beam 19 causes from this information center 16 B more emission beams are in wesentli chen isotropic outputted. 3 is a ray emission is exemplified in FIGS. 39, 16 B emanating from the information center. The direction of propagation of the emission beam 39 indicates that it will emerge from the third storage area 15 C without being able to be detected by the receiving means 13 . At least part of the information contained in the information center 16 B can therefore not be detected by the receiving means 13 . Due to the scattering of the third excitation beam 19 in the third memory area 15 C, there is thus a loss of information. FIGS. 3 thus shows, in particular based on the progression of the second and third excitation beam 18 and 19, as the beneficial effect of absorption of the absorption, areas between the individual needle-shaped storage regions positively to the reading of the X-ray information impact. The absorption areas prevent at least some of the excitation radiation from passing into adjacent storage areas, in which they then meet information centers present there, which then emit emission radiation due to the excitation radiation, which cannot be detected by the receiving means 13 in a precise location.
Fig. 4 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel des Lesekopfes und der Speicher schicht gemäß der Fig. 3. Der Lesekopf mit der Strahlungsquelle 12 und dem Empfangsmittel 13 sowie die Speicherschicht 4 sind hier in Ausbreitungsrich tung B einer Zeile der Speicherschicht 4, die von der Strahlungsquelle 12 ange regt wird, dargestellt. Fig. 4 zeigt schematisch einen Schnitt durch die Speicher schicht 4 entlang der Richtung B. Die in der Fig. 4 dargestellte Speicherschicht 4 weist einen vierten nadelförmigen Speicherbereich 15D und einen neben diesem angeordneten fünften nadelförmigen Speicherbereich 15E auf. Zwischen dem vierten Speicherbereich 15D und dem fünften Speicherbereich 15E ist ein vierter Absorptionsbereich 14D vorhanden. Fig. 4 shows a second embodiment of the reading head and the storage layer according to FIG. 3. The reading head with the radiation source 12 and the receiving means 13 and the storage layer 4 are here in the direction B of propagation B a line of the storage layer 4 by the radiation source 12th is suggested. Fig. 4 shows schematically a section through the storage layer 4 along the direction B. The storage layer 4 shown in Fig. 4 has a fourth needle-shaped storage area 15 D and a fifth needle-shaped storage area 15 E arranged next to it. A fourth absorption area 14 D is present between the fourth storage area 15 D and the fifth storage area 15 E.
Rechts neben dem fünften nadelförmigen Speicherbereich 15E befindet sich ein sechster nadelförmiger Speicherbereich 15F. Zwischen dem fünften und dem sechsten Speicherbereich 15E bzw. 15F ist ein fünfter Absorptionsbereich 14E vorhanden. Rechts neben dem Speicherbereich 15F befindet sich ein siebter nadelförmiger Speicherbereich 15G der Speicherschicht 4. Zwischen dem sech sten Speicherbereich 15F und dem siebten Speicherbereich 15G ist ein sechster Absorptionsbereich 14F vorhanden. In dem fünften Speicherbereich 15E und dem sechsten Speicherbereich 15F sind wiederum Informationszentren, in denen Röntgeninformation vorhanden ist, durch geschwärzte Kreise angedeutet. To the right of the fifth needle-shaped storage area 15 E there is a sixth needle-shaped storage area 15 F. Between the fifth and sixth storage areas 15 E and 15 F there is a fifth absorption area 14 E. To the right of the storage area 15 F is a seventh needle-shaped storage area 15 G of the storage layer 4 . A sixth absorption area 14 F is present between the sixth storage area 15 F and the seventh storage area 15 G. In the fifth storage area 15 E and the sixth storage area 15 F, information centers in which X-ray information is present are indicated by blackened circles.
Beispielhaft ist eines dieser Informationszentren im fünften Speicherbereich 15E mit dem Bezugszeichen 16C bezeichnet.By way of example, one of these information centers in the fifth memory area 15 E is designated by the reference symbol 16 C.
Die Strahlungsquelle 12 sendet im Betrieb eine Vielzahl von Anregungsstrahlen in Richtung der Speicherschicht 4 aus. Im Ausführungsbeispiel gemäß der Fig. 4 sind beispielhaft für diese Vielzahl von Anregungsstrahlen zwei Anre gungsstrahlen 21 dargestellt. Diese beiden Anregungsstrahlen 21 dringen hier in den fünften Speicherbereich 15E ein und treffen beide auf das Informationszen trum 16C. Aufgrund der Anregung des Informationszentrums 16C mit den beiden Anregungsstrahlen 21 werden eine Vielzahl von Emissionsstrahlen im wesentli chen isotrop vom Informationszentrum 16C ausgesandt. Stellvertretend für die Vielzahl von Emissionsstrahlen sind ein zweiter Emissionsstrahl 22, ein dritter Emissionsstrahl 23, ein vierter Emissionsstrahl 24, ein fünfter Emissions strahl 25, ein sechster Emissionsstrahl 26, ein siebter Emissionsstrahl 27 und ein achter Emissionsstrahl 28 dargestellt. Die Verläufe der Emissionsstrahlen 22 bis 28 sollen im folgenden die Wirkungsweise der Absorptionsbereiche 14D bis 14F verdeutlichen.The radiation source 12 emits a large number of excitation beams in the direction of the storage layer 4 during operation. In the exemplary embodiment according to FIG. 4, two excitation beams 21 are shown by way of example for this multiplicity of excitation beams. These two excitation beams 21 penetrate into the fifth memory area 15 E and both hit the information center 16 C. Due to the excitation of the information center 16 C with the two excitation beams 21 , a large number of emission beams are emitted essentially isotropically from the information center 16 C. Representing the large number of emission beams, a second emission beam 22 , a third emission beam 23 , a fourth emission beam 24 , a fifth emission beam 25 , a sixth emission beam 26 , a seventh emission beam 27 and an eighth emission beam 28 are shown. The curves of the emission beams 22 to 28 are intended to illustrate the mode of operation of the absorption regions 14 D to 14 F in the following.
Der zweite Emissionsstrahl 22 verläuft direkt von dem Informationszentrum 16C durch den fünften Speicherbereich 15E in Richtung des Empfangsmittels 13. Von diesem Empfangsmittel 13 wird der Emissionsstrahl 22 detektiert. Der dritte Emissionsstrahl 23 verläuft - ausgehend vom Informationszentrum 16C - eben falls durch den fünften Speicherbereich 15E in Richtung des Empfangsmit tels 13. Der dritte Emissionsstrahl 23 trifft allerdings vor seinem Austritt aus der Speicherschicht 4 auf die Grenzschicht des fünften Speicherbereichs 15E und des fünften Absorptionsbereichs 14E. Der Winkel, unter dem der dritte Emis sionsstrahl 23 auf diese Grenzschicht trifft, ist kleiner als der Aperturwinkel, der aufgrund der Brechungsindizes der Materialien des fünften Speicherbe reichs 15E und des fünften Absorptionsbereichs 14E vorgegeben ist. An der Grenzschicht erfolgt somit eine Reflektion des dritten Emissionsstrahles 23. Der reflektierte dritte Emissionsstrahl 23 verbleibt zunächst im fünften Speicherbereich 15E und tritt dann aus diesem und damit aus der Speicher schicht 4 aus, um anschließend von dem Empfangsmittel 13 aufgefangen zu werden. Der vierte Emissionsstrahl 24 verläuft - ausgehend von dem Informa tionszentrum 16C - ebenfalls zunächst durch den fünften Speicherbereich 15E, trifft dann auf die Grenzfläche des fünften Speicherbereichs 15E hin zum vierten Absorptionsbereich 14D. Da der Winkel, unter dem der vierte Emissionsstrahl 24 auf diese Grenzschicht hin zum vierten Absorptionsbereich 14D trifft, größer ist als der Aperturwinkel, erfolgt keine Reflektion des vierten Emissionsstrahls 24 an der Grenzfläche. Vielmehr dringt der vierte Emissionsstrahl 24 in den vierten Absorptionsbereich 14D ein. Eine Absorption des vierten Emissionsstrahles 24 im vierten Absorptionsbereich 14D erfolgt hier allerdings nicht. Der Emissions strahl 24 verläuft durch den Absorptionsbereich 14D und tritt aus diesem aus und in den vierten Speicherbereich 15D ein. Ein ortsgenaues Detektieren der durch den vierten Emissionsstrahl 24 transportierten Röntgeninformation ist somit durch das Empfangsmittel 13 nicht möglich. Anderes geschieht mit dem fünften Emissionsstrahl 25. Dieser verläuft - ausgehend vom Informationszen trum 16C - ebenfalls zunächst durch den fünften Speicherbereich 15E, um dann auf die Grenzschicht zwischen dem fünften Speicherbereich 15E und dem fünf ten Absorptionsbereich 14E zu treffen. Da der Winkel, unter dem der Emissions strahl 25 auf diese Grenzschicht trifft, ebenfalls größer ist als der Aperturwinkel, erfolgt keine Reflektion des Emissionsstrahls 25 an der Grenzschicht. Vielmehr dringt er in den fünften Absorptionsbereich 14E ein. Im Gegensatz zum vierten Emissionsstrahl 24 wird der fünfte Emissionsstrahl 25 allerdings im fünften Ab sorptionsbereich 14E absorbiert. Er dringt nicht aus dem fünften Absorptionsbe reich 14E in den benachbarten sechsten Speicherbereich 16F ein. Ein ortsunge naues Detektieren des Emissionsstrahls 25 durch das Empfangsmittel 13 ist somit nicht möglich. Gleiches geschieht mit dem achten Emissionsstrahl 28. Auch dieser dringt - ausgehend von dem Informationszentrum 16C - in den fünften Absorptionsbereich 14E ein und wird durch diesen absorbiert. Ein Eindringen des achten Emissionsstrahls 28 in den sechsten Speicherbereich 15F erfolgt nicht. Der absorbierte achte Emissionsstrahl 28 trägt somit ebenfalls nicht zu einer Ortsunschärfe bei.The second emission beam 22 runs directly from the information center 16 C through the fifth storage area 15 E in the direction of the receiving means 13 . The emission beam 22 is detected by this receiving means 13 . Starting from the information center 16 C, the third emission beam 23 also runs through the fifth storage area 15 E in the direction of the receiving means 13 . However, the third radiation beam 23 encounters before it leaves the memory layer 4 on the boundary layer of the fifth storage area 15 E, and the fifth absorbent portion 14 E. The angle at which the third emis sion beam 23 impinges on this boundary layer is smaller than the aperture, the is based on the refractive indices of the materials of the fifth storage area 15 E and the fifth absorption area 14 E. The third emission beam 23 is thus reflected at the boundary layer. The reflected third emission beam 23 initially remains in the fifth storage area 15 E and then emerges from this and thus from the storage layer 4 in order to then be collected by the receiving means 13 . Starting from the information center 16 C, the fourth emission beam 24 likewise initially runs through the fifth storage area 15 E, then strikes the interface between the fifth storage area 15 E and the fourth absorption area 14 D. Since the angle at which the fourth emission beam 24 strikes this boundary layer towards the fourth absorption region 14 D, is greater than the aperture angle, there is no reflection of the fourth emission beam 24 at the interface. Rather, the fourth emission beam 24 penetrates into the fourth absorption area 14D . However, the fourth emission beam 24 is not absorbed in the fourth absorption region 14 D here. The emission beam 24 runs through the absorption area 14 D and emerges from it and into the fourth storage area 15 D. A precise detection of the X-ray information transported by the fourth emission beam 24 is therefore not possible by the receiving means 13 . Other things happen with the fifth emission beam 25 . Starting from the information center 16 C, this also initially runs through the fifth storage area 15 E in order to then meet the boundary layer between the fifth storage area 15 E and the fifth absorption area 14 E. Since the angle at which the emission beam 25 strikes this boundary layer is also greater than the aperture angle, there is no reflection of the emission beam 25 at the boundary layer. Rather, it penetrates into the fifth absorption region 14 E. In contrast to the fourth emission beam 24 , however, the fifth emission beam 25 is absorbed in the fifth absorption region 14 E. It does not penetrate from the fifth absorption area 14 E into the adjacent sixth storage area 16 F. A locally accurate detection of the emission beam 25 by the receiving means 13 is therefore not possible. The same happens with the eighth emission beam 28 . Starting from the information center 16 C, this also penetrates into the fifth absorption area 14 E and is absorbed by it. The eighth emission beam 28 does not penetrate into the sixth storage area 15 F. The absorbed eighth emission beam 28 therefore also does not contribute to a location blur.
Auch der sechste Emissionsstrahl 26 trifft - ausgehend vom Informationszen trum 16C - auf die Grenzschicht zwischen dem fünften Speicherbereich 15E und dem fünften Absorptionsbereich 14E. Hier ist der Winkel, unter dem der sechste Emissionsstrahl 26 auf die Grenzschicht trifft, größer als der Aperturwinkel. Es erfolgt somit keine Reflektion des sechsten Emissionsstrahls an der Grenz schicht hin zum fünften Absorptionsbereich 14E. Vielmehr dringt der sechste Emissionsstrahl 26 in den fünften Absorptionsbereich 14E ein, geht durch ihn hindurch und gelangt anschließend in den sechsten Speicherbereich 15F. Der Emissionsstrahl 26 wurde somit in dem fünften Absorptionsbereich 14E nicht absorbiert. Der Emissionsstrahl 26 verläuft durch den sechsten Speicherbe reich 15F hindurch und gelangt an die Grenzschicht zwischen dem sechsten Speicherbereich 15F und dem sechsten Absorptionsbereich 14F. Auch hier ist der Winkel, unter dem der Emissionsstrahl 26 auf diese Grenzschicht trifft, grö ßer als der Aperturwinkel, so dass wiederum keine Reflektion erfolgt. Der Emis sionsstrahl 26 dringt vielmehr in den sechsten Absorptionsbereich 14F ein, geht durch ihn hindurch und gelangt weiter in den siebten Speicherbereich 15G. Eine Absorption des sechsten Emissionsstrahls 26 in dem sechsten Absorptionsbe reich 14F erfolgte somit nicht. Anders sieht es wiederum mit dem siebten Emis sionsstrahl 27 aus. Auch dieser verläuft ähnlich wie der sechste Emissions strahl 26 - ausgehend von dem Informationszentrum 16C - durch den fünften Absorptionsbereich 14E und den sechsten Speicherbereich 15F. Anschließend trifft er ebenfalls auf die Grenzschicht zwischen dem sechsten Speicherbe reich 15F und dem sechsten Absorptionsbereich 14F. Da wiederum der Winkel, unter dem der Emissionsstrahl 27 auf diese Grenzschicht trifft, größer ist als der Aperturwinkel, erfolgt keine Reflektion an der Grenzschicht. Der Emissions strahl 27 dringt in den sechsten Absorptionsbereich 14F ein, wird dort allerdings, im Gegensatz zum Emissionsstrahl 26, absorbiert. Ein weiterer Verlauf des siebten Emissionsstrahl 27 durch den Absorptionsbereich 14F in den siebten Speicherbereich 15G erfolgt nicht. Man erkennt, dass der sechste Absorptions bereich 14F dazu beiträgt, eine weitere Ortsunschärfe aufgrund der Weiterver breitung des siebten Emissionsstrahls 27 zu verhindern.Starting from the information center 16 C, the sixth emission beam 26 also strikes the boundary layer between the fifth storage area 15 E and the fifth absorption area 14 E. Here, the angle at which the sixth emission beam 26 strikes the boundary layer is greater than the aperture angle , There is thus no reflection of the sixth emission beam at the boundary layer towards the fifth absorption region 14 E. Rather, the sixth emission beam 26 penetrates into the fifth absorption region 14 E, passes through it and then arrives in the sixth storage region 15 F. The emission beam 26 was therefore not absorbed in the fifth absorption region 14 E. The emission beam 26 passes through the sixth Speicherbe rich 15 F therethrough and arrives at the boundary layer between the sixth storage area 15 F and sixth absorption region 14 F. Again, the angle at which the radiation beam 26 impinges on this boundary layer, SSER RESIZE than the Aperture angle so that again there is no reflection. Rather, the emission beam 26 penetrates into the sixth absorption area 14 F, passes through it and continues into the seventh storage area 15 G. An absorption of the sixth emission beam 26 in the sixth absorption area 14 F was therefore not carried out. The situation is different with the seventh emission beam 27 . This also runs similarly to the sixth emission beam 26 - starting from the information center 16 C - through the fifth absorption area 14 E and the sixth storage area 15 F. Then it also meets the boundary layer between the sixth storage area 15 F and the sixth absorption area 14 F. Since again the angle at which the emission beam 27 strikes this boundary layer is greater than the aperture angle, there is no reflection at the boundary layer. The emission beam 27 penetrates into the sixth absorption region 14 F, but is absorbed there, in contrast to the emission beam 26 . A further course of the seventh emission beam 27 through the absorption region 14 F into the seventh storage region 15 G does not take place. It can be seen that the sixth absorption region 14 F helps to prevent further blurring due to the further spread of the seventh emission beam 27 .
Die Fig. 5 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel der Speicherschicht 4, die Rönt geninformationen enthält. Diese Röntgeninformationen werden auch in diesem Ausführungsbeispiel mittels eines Lesekopfes ausgelesen, der die Strahlungs quelle 12 und das Empfangsmittel 13 aufweist. Die Fig. 5 zeigt die Darstellung der Strahlungsquelle 12, des Empfangsmittels 13 und der zwischen diesen bei den angeordneten Speicherschicht 4 in Ausbreitungsrichtung B einer Zeile der Speicherschicht 4, die mittels der Strahlungsquelle 12 angeregt wird. Die Fig. 5 zeigt schematisch einen Schnitt durch die Speicherschicht 4 entlang der Rich tung B. Fig. 5 shows a third embodiment of the storage layer 4 , which contains X-ray gene information. This X-ray information is also read out in this exemplary embodiment by means of a reading head which has the radiation source 12 and the receiving means 13 . FIG. 5 shows the diagram of the radiation source 12, the receiving means 13 and between these at the arranged memory layer 4 in the propagation direction B of a row of the memory layer 4, which is excited by the radiation source 12. The Fig. 5 schematically shows a section through the memory layer 4 along the processing Rich B.
Der in Fig. 5 dargestellte Schnitt der Speicherschicht 4 enthält einen achten na delförmigen Speicherbereich 15H, einen neunten nadelförmigen Speicherbe reich 15K, einen zehnten nadelförmigen Speicherbereich 15L und einen elften nadelförmigen Speicherbereich 15M. Zwischen diesen vier Speicherberei chen 15H bis 15M sind jeweils Absorptionsbereiche vorhanden, die ein Absorp tionsmaterial zum Absorbieren von Lichtstrahlung enthalten. Im Gegensatz zu den Ausführungsbeispielen gemäß der Fig. 3 und 4 sind hier allerdings in diese Absorptionsbereiche jeweils Luftspalte eingebracht. Zwischen dem achten Spei cherbereich 15H und dem neunten Speicherbereich 15K sind somit ein siebter Absorptionsbereich 14G und ein achter Absorptionsbereich 14H vorhanden. Diese beiden Absorptionsbereiche 14G und 14H wiederum sind durch einen Luftspalt 29A voneinander getrennt. Der Luftspalt 29A enthält eine Luftschicht. Entsprechendes befindet sich zwischen dem neunten Speicherbereich 15K und dem zehnten Speicherbereich 15L. Zwischen diesen beiden Speicherberei chen 15K und 15L ist ein neunter Absorptionsbereich 14K und ein zehnter Ab sorptionsbereich 14L vorhanden. Diese beiden Absorptionsbereiche 14K und 14L wiederum sind durch einen Luftspalt 29B mit einer Luftschicht voneinander getrennt. Zwischen dem zehnten Speicherbereich 15L und dem elften Speicher bereich 15M befinden sich ein elfter Absorptionsbereich 14M und ein zwölfter Absorptionsbereich 14N. Diese beiden Absorptionsbereiche 14M und 14N sind durch einen Luftspalt 29C mit einer Luftschicht voneinander getrennt.The section of the storage layer 4 shown in FIG. 5 contains an eighth needle-shaped memory area 15 H, a ninth needle-shaped memory area 15 K, a tenth needle-shaped memory area 15 L and an eleventh needle-shaped memory area 15 M. Between these four memory areas 15 H to 15 M absorption areas are present which contain an absorption material for absorbing light radiation. In contrast to the exemplary embodiments according to FIGS. 3 and 4, however, air gaps are respectively introduced into these absorption areas. A seventh absorption area 14 G and an eighth absorption area 14 H are thus present between the eighth storage area 15 H and the ninth storage area 15 K. These two absorption regions 14 G and 14 H are in turn separated from one another by an air gap 29 A. The air gap 29 A contains an air layer. The corresponding is between the ninth storage area 15 K and the tenth storage area 15 L. Between these two storage areas 15 K and 15 L, a ninth absorption area 14 K and a tenth absorption area 14 L are available. These two absorption regions 14 K and 14 L are in turn separated from one another by an air gap 29 B with an air layer. Between the tenth storage area 15 L and the eleventh storage area 15 M there is an eleventh absorption area 14 M and a twelfth absorption area 14 N. These two absorption areas 14 M and 14 N are separated from one another by an air gap 29 C with an air layer.
Zur Verdeutlichung der Funktionsweise der zwischen den einzelnen Absorp tionsbereichen vorhandenen Luftschichten 29A bis 29C wird im folgenden erneut anhand der Fig. 5 ein Strahlenverlauf von Anregungs- und Emissionsstrahlen beschrieben. Die Strahlungsquelle 12 sendet im Betrieb eine Vielzahl von Anre gungestrahlen in Richtung der Speicherschicht 4 aus. Stellvertretend für diese Vielzahl von Anregungsstrahlen ist in der Fig. 5 der Anregungsstrahl 30 darge stellt. Dieser Anregungsstrahl 30 dringt in den neunten Speicherbereich 15K ein und trifft dort auf ein Informationszentrum 16D. Aufgrund der Anregung des In formationszentrums 16D durch den Anregungsstrahl 30 werden eine Vielzahl von Emissionsstrahlen im wesentlichen isotrop ausgesandt. Stellvertretend für diese Vielzahl von Emissionsstrahlen sind in der Fig. 5 ein neunter Emissionsstrahl 31, ein zehnter Emissionsstrahl 32, ein elfter Emissionsstrahl 33, ein zwölfter Emis sionsstrahl 34 und ein dreizehnter Emissionsstrahl 35. Der neunte Emissions strahl 31 wird von dem Informationszentrum 16D in Richtung des Empfangsmit tels 13 ausgesandt. Der Emissionsstrahl 31 trifft allerdings auf die Grenzschicht zwischen dem neunten Speicherbereich 15K und dem neunten Absorptionsbe reich 14K. Der Winkel, unter dem der Emissionsstrahl 31 auf diese Grenzschicht trifft, ist kleiner als der Aperturwinkel, so dass eine Reflektion an der Grenz schicht erfolgt. Der reflektierte neunte Emissionsstrahl 31 verläuft anschließend weiter durch den neunten Speicherbereich 15K und tritt aus diesem aus, um von dem Empfangsmittel 13 aufgefangen zu werden. Der Aperturwinkel an der Grenzschicht zwischen dem neunten Speicherbereich 15K und dem neunten Absorptionsbereich 14K wird wiederum durch die Brechungsindizes der Spei cherbereichmaterialien und der Absorptionsbereichmaterialien bestimmt. To illustrate the mode of operation of the air layers 29 A to 29 C present between the individual absorption regions, a beam path of excitation and emission beams is described again below with reference to FIG. 5. The radiation source 12 emits a plurality of excitation rays in the direction of the storage layer 4 during operation. Representing this multitude of excitation beams, the excitation beam 30 is shown in FIG. 5. This excitation beam 30 penetrates into the ninth memory area 15 K and meets an information center 16 D there. Due to the excitation of the information center 16 D by the excitation beam 30 , a large number of emission beams are emitted essentially isotropically. A ninth emission beam 31 , a tenth emission beam 32 , an eleventh emission beam 33 , a twelfth emission beam 34 and a thirteenth emission beam 35 are representative of this multitude of emission beams in FIG. 5. The ninth emission beam 31 is emitted from the information center 16 D in the direction of the receiving means 13 . However, the emission beam 31 strikes the boundary layer between the ninth storage region 15 K and the ninth absorption region 14 K. The angle at which the emission beam 31 strikes this boundary layer is smaller than the aperture angle, so that reflection occurs at the boundary layer , The reflected ninth emission beam 31 then continues through the ninth storage area 15 K and emerges from it in order to be received by the receiving means 13 . The aperture angle at the boundary layer between the ninth storage area 15 K and the ninth absorption area 14 K is in turn determined by the refractive indices of the storage area materials and the absorption area materials.
Der zehnte Emissionsstrahl 32 verläuft ebenfalls - ausgehend vom Informations zentrum 16D - in Richtung der Grenzschicht hin zum neunten Absorptionsbe reich 14K. Da allerdings der Winkel, unter dem der Emissionsstrahl 32 auf diese Grenzschicht trifft, größer ist als der Aperturwinkel, erfolgt keine Reflektion, viel mehr dringt der zehnte Emissionsstrahl 32 in den neunten Absorptionsbe reich 14K ein und trifft anschließend, da er im Absorptionsbereich 14K nicht ab sorbiert wird, auf die Grenzschicht zwischen dem neunten Absorptionsbe reich 14K und der Luftschicht 29B. An dieser Grenzschicht erfolgt eine Reflektion des zehnten Emissionsstrahls 32, da der Winkel, unter dem der Emissions strahl 32 auf diese Grenzschicht zur Luftschicht 29B hin trifft, kleiner ist als der Aperturwinkel. Dieser Aperturwinkel wird durch die Brechungsindizes des Ab sorptionsmaterials und Luft bestimmt. Der Aperturwinkel zwischen dem Absorp tionsmaterial und Luft, im folgenden Luftaperturwinkel genannt, ist größer als der Aperturwinkel zwischen dem Absorptionsmaterial und dem Speicherbereichma terial, im folgenden Materialaperturwinkel genannt. Es ist somit möglich, dass Lichtstrahlen unter einem solchen Winkel auf eine Grenzfläche treffen, der grö ßer ist als der Materialaperturwinkel, so dass keine Reflektion erfolgt, der aller dings kleiner ist als der Luftaperturwinkel, so dass an einer Grenzschicht hin zur Luft eine Reflektion erfolgt. Durch das Anbringen der Luftschichten 29A bis 29C zwischen den einzelnen Absorptionsbereichen 14G bis 14N erfolgt somit eine Absorption von Lichtstrahlen innerhalb der Absorptionsbereiche 14G bis 14N. Gleichzeitig wird durch die Luftschichten 29A bis 29C allerdings der Aperturwin kel an den Grenzschichten der Luftschichten 29A bis 29C gegenüber den Grenzschichten zwischen dem Speicherbereichmaterial und dem Absorptions material vergrößert. Dies wird insbesondere durch den Verlauf des zehnten Emissionsstrahls 32 verdeutlicht. Dieser zehnte Emissionsstrahl 32 dringt zwar in den Absorptionsbereich 14K ein, wird allerdings an der Grenzschicht hin zur Luftschicht 29B reflektiert. Dies erfolgt insbesondere deshalb, weil der Apertur winkel an der Grenzschicht zwischen Absorptionsbereich 14K und Luft schicht 29B größer ist, als der Aperturwinkel an der Grenzschicht zwischen dem Speicherbereich 15K und dem Absorptionsbereich 14K. The tenth emission beam 32 also extends - starting from the information center 16 D - in the direction of the boundary layer towards the ninth absorption region 14 K. However, since the angle at which the emission beam 32 strikes this boundary layer is greater than the aperture angle, there is no reflection , the tenth emission beam 32 penetrates into the ninth absorption region 14 K and then, since it is not absorbed in the absorption region 14 K, strikes the boundary layer between the ninth absorption region 14 K and the air layer 29 B. At this boundary layer there is a reflection of the tenth emission beam 32 , since the angle at which the emission beam 32 strikes this boundary layer towards the air layer 29 B is smaller than the aperture angle. This aperture angle is determined by the refractive indices of the absorption material and air. The aperture angle between the absorption material and air, hereinafter referred to as the air aperture angle, is greater than the aperture angle between the absorption material and the storage area material, hereinafter referred to as the material aperture angle. It is thus possible for light rays to strike an interface at such an angle that is greater than the material aperture angle, so that there is no reflection, which is, however, smaller than the air aperture angle, so that reflection occurs at a boundary layer towards the air , By attaching the air layers 29 A to 29 C between the individual absorption areas 14 G to 14 N, light rays are thus absorbed within the absorption areas 14 G to 14 N. At the same time, however, the aperture angle at the angle is through the air layers 29 A to 29 C. Boundary layers of the air layers 29 A to 29 C compared to the boundary layers between the storage area material and the absorption material enlarged. This is illustrated in particular by the course of the tenth emission beam 32 . This tenth emission beam 32 penetrates the absorption region 14 K, but is reflected at the boundary layer towards the air layer 29 B. This occurs in particular because the aperture angle at the boundary layer between absorption region 14 K and air layer 29 B is larger than the aperture angle at the boundary layer between storage region 15 K and absorption region 14 K.
Die Fig. 5 zeigt des weiteren den elften Emissionsstrahl 33, der von dem Infor mationszentrum 16D ausgeht und in den Absorptionsbereich 14H eindringt. In diesem Absorptionsbereich 14H wird der elfte Emissionsstrahl 33 absorbiert, d. h. ein weiteres Eindringen des Emissionsstrahls 33 in einen anderen Spei chermaterialbereich wird verhindert. Im Gegensatz dazu dringt der zwölfte Emis sionsstrahl 34 - ausgehend vom Informationszentrum 16 - in den neunten Absorptionsbereich 14K ein. Der Emissionsstrahl 34 geht durch diesen Absorp tionsbereich 14K sowie die Luftschicht 29B und den zehnten Absorptionsbe reich 14L hindurch, da die Winkel, unter denen der Strahl 34 jeweils auf Grenz schichten trifft, größer ist als die jeweiligen Aperturwinkel. Der Emissions strahl 12 dringt somit in den zehnten Speicherbereich 15L ein und verläuft durch diesen hindurch, bis er an die Grenzschicht zu dem elften Absorptionsbe reich 14M trifft. An dieser Grenzschicht wird der Strahl reflektiert und verläuft durch den zehnten Speicherbereich 15L in Richtung des Empfangsmittels 13. Der Strahl 34 tritt schließlich aus der Speicherschicht 4 aus und wird durch das Empfangsmittel 13 aufgefangen. Der dreizehnte Emissionsstrahl 35 verläuft - ausgehend vom Informationszentrum 16D - durch den neunten Speicherbe reich 15K, den neunten Absorptionsbereich 14K und die Luftschicht 29B in den zehnten Absorptionsbereich 14L. In diesem zehnten Absorptionsbereich 14L wird der dreizehnte Emissionsstrahl 35 absorbiert. Ein Weiterverbreiten des drei zehnten Emissionsstrahls 35 und schließlich ein Austreten dieses Emissions strahles aus der Speicherschicht 4 und ein entsprechendes Detektieren durch das Empfangsmittel 13 an einem Ort, der nicht in unmittelbarer Nähe des ur sprünglichen Informationszentrums 16D liegt, wird somit verhindert. Fig. 5 further shows the eleventh emission beam 33 , which emanates from the information center 16 D and penetrates into the absorption region 14 H. The eleventh emission beam 33 is absorbed in this absorption region 14 H, ie further penetration of the emission beam 33 into another storage material region is prevented. In contrast, the twelfth emission beam 34 - starting from the information center 16 - penetrates into the ninth absorption region 14 K. The emission beam 34 passes through this absorption region 14 K as well as the air layer 29 B and the tenth absorption region 14 L because the angle at which the beam 34 strikes boundary layers is greater than the respective aperture angle. The emission beam 12 thus penetrates into the tenth storage area 15 L and passes through it until it reaches the boundary layer to the eleventh absorption area 14 M rich. The beam is reflected at this boundary layer and runs through the tenth storage area 15 L in the direction of the receiving means 13 . The beam 34 finally emerges from the storage layer 4 and is collected by the receiving means 13 . The thirteenth emission beam 35 runs - starting from the information center 16 D - through the ninth storage region 15 K, the ninth absorption region 14 K and the air layer 29 B into the tenth absorption region 14 L. In this tenth absorption region 14 L the thirteenth emission beam 35 is absorbed. A spreading of the three tenth emission beam 35 and finally an escape of this emission beam from the storage layer 4 and a corresponding detection by the receiving means 13 at a location that is not in the immediate vicinity of the original information center 16 D is thus prevented.
Claims (12)
einer Speicherschicht (4) nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
einer Strahlungsquelle (12) zum Anregen der Speicherschicht (4) mittels einer Anregungsstrahlung (17-19, 21, 30) und
einem Empfangsmittel (13) zum Empfangen einer Emissionsstrah lung (20, 22-28, 31-36, 39), die von der Speicherschicht (4) aufgrund des Anregens mittels der Anregungsstrahlung (17-19, 21, 30) ausgebbar ist.8. Device for reading out X-ray information from a storage layer ( 4 )
a storage layer ( 4 ) according to one of the preceding claims,
a radiation source ( 12 ) for exciting the storage layer ( 4 ) by means of an excitation radiation ( 17-19 , 21 , 30 ) and
a receiving means ( 13 ) for receiving an emission radiation ( 20 , 22-28 , 31-36 , 39 ) which can be output by the storage layer ( 4 ) due to the excitation by means of the excitation radiation ( 17-19 , 21 , 30 ).
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10061576A DE10061576A1 (en) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | Storage layer and conversion layer and device for reading out X-ray information and X-ray cassette |
PCT/EP2001/013798 WO2002048739A2 (en) | 2000-12-11 | 2001-11-27 | Storage layer, conversion layer and device for reading x-ray information, in addition to an x-ray cassette |
EP01986844A EP1344088A2 (en) | 2000-12-11 | 2001-11-27 | Storage layer, conversion layer and device for reading x-ray information, in addition to an x-ray cassette |
JP2002549991A JP2004515790A (en) | 2000-12-11 | 2001-11-27 | Memory layer, conversion layer, X-ray information reading device and X-ray cassette |
US10/416,664 US7109496B2 (en) | 2000-12-11 | 2001-11-27 | Storage layer, conversion layer and a device for reading x-ray information, in addition to an x-ray cassette |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10061576A DE10061576A1 (en) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | Storage layer and conversion layer and device for reading out X-ray information and X-ray cassette |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10061576A1 true DE10061576A1 (en) | 2002-06-27 |
Family
ID=7666631
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10061576A Withdrawn DE10061576A1 (en) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | Storage layer and conversion layer and device for reading out X-ray information and X-ray cassette |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7109496B2 (en) |
EP (1) | EP1344088A2 (en) |
JP (1) | JP2004515790A (en) |
DE (1) | DE10061576A1 (en) |
WO (1) | WO2002048739A2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10235051A1 (en) * | 2002-07-31 | 2004-02-12 | Siemens Ag | Vapor deposition of acicular x-ray phosphor layer, used e.g. as phosphor or storage phosphor in medicine or non-destructive testing of materials involves simultaneous vaporization of trivalent europium oxyhalide and alkali halide |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7091501B2 (en) * | 2002-03-08 | 2006-08-15 | Agfa-Gevaert | Binderless storage phosphor screen on a dedicated support |
EP1494067B1 (en) * | 2003-07-02 | 2008-01-23 | Agfa-Gevaert HealthCare GmbH | System comprising a scanner and a storage layer, as well as a storage layer for storing x-ray information |
DE50303589D1 (en) * | 2003-08-12 | 2006-07-06 | Agfa Gevaert Healthcare Gmbh | A method of reading information stored in a stimulable phosphor layer |
US7122807B2 (en) * | 2003-10-02 | 2006-10-17 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc. | Cassette reading processing device, cassette reading processing method and cassette |
EP1691215B1 (en) * | 2005-02-15 | 2012-11-28 | Agfa-Gevaert HealthCare GmbH | Method and device for reading X-Ray exposures stored in storage phosphor layers |
EP1691216B1 (en) * | 2005-02-15 | 2013-07-10 | Agfa-Gevaert HealthCare GmbH | Radiography system and method for recording X-Ray exposures on photostimulable sheets |
ATE535824T1 (en) * | 2005-02-15 | 2011-12-15 | Agfa Gevaert Healthcare Gmbh | READING DEVICE AND METHOD FOR READING X-RAY IMAGE STORED IN STORAGE LUMINOUS LAYERS |
FR2888045B1 (en) * | 2005-07-01 | 2007-10-19 | Thales Sa | IMAGE SENSOR WITH IMPROVED SPATIAL RESOLUTION AND SENSOR PRODUCTION METHOD |
JP2007292597A (en) * | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Hitachi Chem Co Ltd | Radiation detector |
EP1895327B1 (en) * | 2006-08-31 | 2009-11-11 | Agfa HealthCare NV | Erasing of a phosphor imaging plate |
EP1895326B1 (en) * | 2006-08-31 | 2010-07-14 | Agfa HealthCare NV | Apparatus for erasure of a luminescent material storage plate |
ATE462986T1 (en) * | 2006-08-31 | 2010-04-15 | Agfa Healthcare Nv | DELETING A MEMORY PHLOSOR LAYER |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2347923A1 (en) * | 1973-01-17 | 1974-07-18 | Winnek Douglas Fredwill | HIGH RESOLUTION REINFORCEMENT FILM FOR RADIATION |
US4752557A (en) * | 1983-04-30 | 1988-06-21 | Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. | Method of radiphotography using light-stimulable radiation image storage panel |
US4944026A (en) * | 1986-01-21 | 1990-07-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Radiation image storage panel |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3891852A (en) * | 1972-11-03 | 1975-06-24 | Agfa Gevaert Nv | Neutron detection and radiography |
JPS59121737A (en) | 1982-12-28 | 1984-07-13 | Yoshihiro Hamakawa | Input surface of x-ray image tube |
JPS6180097A (en) * | 1984-09-28 | 1986-04-23 | 株式会社東芝 | One-dimensional x-ray fluorescent screen element |
DE3578359D1 (en) * | 1984-12-17 | 1990-07-26 | Konishiroku Photo Ind | SCREEN FOR SAVING A RADIATION IMAGE. |
JPS6243046A (en) * | 1985-08-19 | 1987-02-25 | Toshiba Corp | Input screen of x-ray image tube |
US4947046A (en) * | 1988-05-27 | 1990-08-07 | Konica Corporation | Method for preparation of radiographic image conversion panel and radiographic image conversion panel thereby |
JP3297078B2 (en) * | 1991-05-24 | 2002-07-02 | 株式会社東芝 | X-ray image tube and method of manufacturing the same |
US5171996A (en) | 1991-07-31 | 1992-12-15 | Regents Of The University Of California | Particle detector spatial resolution |
EP0597943A4 (en) * | 1991-07-31 | 1994-07-27 | Univ California | Improvements in particle detector spatial resolution. |
JP3130611B2 (en) * | 1991-11-29 | 2001-01-31 | コニカ株式会社 | Radiation image conversion panel |
JP3398406B2 (en) * | 1993-01-29 | 2003-04-21 | コニカ株式会社 | Radiation image conversion panel |
US5391879A (en) * | 1993-11-19 | 1995-02-21 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Radiation detector |
US5519227A (en) * | 1994-08-08 | 1996-05-21 | The University Of Massachusetts Medical Center | Structured scintillation screens |
DE19505729C1 (en) | 1995-02-20 | 1996-10-31 | Siemens Ag | X-ray diagnostic appts. with aSi image converter |
DE19506809C2 (en) | 1995-02-27 | 1999-09-30 | Siemens Ag | Device for digitizing x-ray images |
DE19509021C2 (en) | 1995-03-13 | 1997-04-24 | Siemens Ag | X-ray examination device |
EP0751200B1 (en) | 1995-06-30 | 1999-03-03 | Agfa-Gevaert N.V. | A radiation image storage screen comprising an alkali metal halide phosphor |
US5952666A (en) * | 1997-02-12 | 1999-09-14 | Konica Corporation | Radiation image conversion panel |
US5874744A (en) | 1997-05-12 | 1999-02-23 | Air Techniques, Inc. | Process and apparatus for retrieving information from a storage phosphor screen |
JP4220017B2 (en) * | 1998-06-23 | 2009-02-04 | 浜松ホトニクス株式会社 | Scintillator panel, radiation image sensor and manufacturing method thereof |
JP4156709B2 (en) * | 1998-06-23 | 2008-09-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | Scintillator panel, radiation image sensor and manufacturing method thereof |
DE19859747C1 (en) | 1998-12-23 | 2000-02-24 | Agfa Gevaert Ag | Information reading device for data stored in phosphor coating |
JP2000266898A (en) * | 1999-03-15 | 2000-09-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | Stimulable phosphor sheet |
US6188501B1 (en) * | 1999-11-24 | 2001-02-13 | Stephen Neushul | Apparatus and method of capturing images from alternative media types |
US6396066B1 (en) * | 2000-09-21 | 2002-05-28 | Eastman Kodak Company | Image storage phosphor panels having flexible supports |
JP2002350597A (en) * | 2001-05-30 | 2002-12-04 | Konica Corp | Radiation image conversion panel and method for manufacturing it |
-
2000
- 2000-12-11 DE DE10061576A patent/DE10061576A1/en not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-11-27 EP EP01986844A patent/EP1344088A2/en not_active Withdrawn
- 2001-11-27 WO PCT/EP2001/013798 patent/WO2002048739A2/en active Application Filing
- 2001-11-27 JP JP2002549991A patent/JP2004515790A/en active Pending
- 2001-11-27 US US10/416,664 patent/US7109496B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2347923A1 (en) * | 1973-01-17 | 1974-07-18 | Winnek Douglas Fredwill | HIGH RESOLUTION REINFORCEMENT FILM FOR RADIATION |
US4752557A (en) * | 1983-04-30 | 1988-06-21 | Konishiroku Photo Industry Co., Ltd. | Method of radiphotography using light-stimulable radiation image storage panel |
US4944026A (en) * | 1986-01-21 | 1990-07-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Radiation image storage panel |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10235051A1 (en) * | 2002-07-31 | 2004-02-12 | Siemens Ag | Vapor deposition of acicular x-ray phosphor layer, used e.g. as phosphor or storage phosphor in medicine or non-destructive testing of materials involves simultaneous vaporization of trivalent europium oxyhalide and alkali halide |
DE10235051B4 (en) * | 2002-07-31 | 2004-06-09 | Siemens Ag | Process for vapor deposition of a carrier with an X-ray phosphor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2002048739A3 (en) | 2002-09-19 |
WO2002048739A2 (en) | 2002-06-20 |
US20040041099A1 (en) | 2004-03-04 |
JP2004515790A (en) | 2004-05-27 |
US7109496B2 (en) | 2006-09-19 |
EP1344088A2 (en) | 2003-09-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19859747C1 (en) | Information reading device for data stored in phosphor coating | |
EP1186909B1 (en) | Method for determining the type of materials | |
DE19752925C2 (en) | Device for reading information stored in a phosphor carrier and X-ray cassette | |
DE19962775C1 (en) | Stored information read-out device e.g. for X-ray cassette, uses stimulation of information line by X-ray source and detection of secondary radiation via light-sensor array | |
DE2950767A1 (en) | X-RAY GENERATOR | |
DE10061576A1 (en) | Storage layer and conversion layer and device for reading out X-ray information and X-ray cassette | |
DE2451301A1 (en) | RADIOGRAPHY DEVICE | |
DE3686849T2 (en) | IMAGE RECORDING AND READING DEVICE FOR LIGHT-INCREASABLE LUMINAIRES. | |
DE4101645A1 (en) | Two=dimensional mosaic type scintillation detector - esp. for X=rays or gamma rays, with high efficiency and few insensitive spots and crossover effects | |
DE69213948T2 (en) | Process for reproducing a radiation image | |
DE102009009051B4 (en) | Scintillator for detecting an X-ray and X-ray detector with such a scintillator | |
DE2025473A1 (en) | ||
DE1598121A1 (en) | Method and device for standardizing counting in scintillation spectrometry | |
EP1494067B1 (en) | System comprising a scanner and a storage layer, as well as a storage layer for storing x-ray information | |
DE102008007595B4 (en) | Apparatus and method for capturing an image | |
DE19962773A1 (en) | Device for reading information stored in a storage layer, as well as an X-ray cassette and an X-ray table | |
DE69832602T2 (en) | ILLUSTRATING SOLID-BODY DETECTOR IS EXPOSED TO IONIZING RADIATION AND HAS A MEASURING DEVICE | |
DE102008064633A1 (en) | Apparatus and method for capturing an image | |
EP1653481A1 (en) | Fluorescent radiographic x-ray storage plate and device for reading x-ray information | |
EP1804082A1 (en) | Device for reading out X-ray information stored in a storage phosphor layer and radiography module | |
DE10224227A1 (en) | X-ray detector comprises scintillator for converting X-rays into light, sensor for detecting light, and photo diodes | |
DE102013212983A1 (en) | Device for measuring and controlling dose deposition of particle radiation to tumor treatment in tissue, has data processing system connected to photodetectors and associated with event for determination of dose deposition | |
DE4239957C2 (en) | X-ray imaging device | |
DE10126388B4 (en) | Solid-state radiation detector | |
DE102013112573A1 (en) | Scintillation detector with intrinsic suppression of escaping secondary particles |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: AGFA-GEVAERT HEALTHCARE GMBH, 51373 LEVERKUSEN, DE |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: AGFA-GEVAERT HEALTHCARE GMBH, 50670 KOELN, DE |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |