CN110332948B - 基于双通道的信号测试方法、测试设备、存储介质及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及相关接收技术领域，公开了基于双通道的信号测试方法、测试设备、存储介质及装置。本发明中根据待生成信号的信号分段段数生成待生成信号对应的各分段；遍历各分段，并生成伪随机符号；对伪随机符号进行采样，并根据采样信号确定第一分段信号；通过频差对采样信号进行调制以获得调制信号；对调制信号进行变更以获得第二分段信号；在各分段遍历完成时，分别对各分段的第一分段信号与第二分段信号进行拼接，以获得通道信号。明显地，本发明对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可获得数据量更长的通道信号，并运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，解决了无法生成长数据量的双通道信号进行测试的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及相关接收技术领域，尤其涉及基于双通道的信号测试方法、测试设备、存储介质及装置。
背景技术
相关接收算法多用于对微弱信号的检测操作，而为了更好地验证该相关接收算法的算法性能，多通过向相关接收算法中输入双通道信号的方式来进行算法测试。
可见，双通道信号作为测试信号而言对于算法测试的实现尤为重要，通过生成并运用长数据量的双通道信号可以更好地进行算法测试，以克服日益复杂的传播信道及电磁环境。
但是，目前，并不具备生成长数据量的双通道信号以进行算法测试的能力，可见，存在着无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供基于双通道的信号测试方法、测试设备、存储介质及装置，旨在解决无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种基于双通道的信号测试方法，所述基于双通道的信号测试方法包括以下步骤：
获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段；
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号；
根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号；
通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号；
对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；
将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作。
优选地，所述对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
优选地，所述将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号之前，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
确定所述当前分段中的原始样点数；
获取所述待生成信号的时差，并根据所述时差确定移位样点数量；
对所述原始样点数与所述移位样点数量进行减法运算，以获得第一预设数量，并将所述调制信号中从左至右前N个采样点作为第一预设位置处的采样点，所述N为所述第一预设数量。
优选地，所述将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
优选地，所述在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第四预设位置处的采样点存入第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
相应地，所述通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号之后，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
在所述当前分段为第二预设分段时，将所述第一预设转存变量内存入的采样点存入第二预设暂存变量中，将所述调制信号中处于所述第四预设位置处的采样点存入所述第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第二预设暂存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
优选地，所述频差包括主路径与第一副路径之间的第一频差以及所述主路径与第二副路径之间的第二频差；
相应地，所述通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号，具体包括：
通过所述第一频差对所述采样信号进行调制，以获得第一调制信号；
相应地，所述对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号；
相应地，所述对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号之后，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
通过所述第二频差对所述采样信号进行调制，以获得第二调制信号；
对所述第二调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第二副路径对应的第二分段信号；
将所述第一副路径对应的第二分段信号与所述第二副路径对应的第二分段信号进行相加，以获得与所述当前分段对应的第二分段信号。
优选地，所述遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号，具体包括：
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号；
通过所述伪随机符号构成相互独立的伪随机符号序列，并对所述伪随机符号序列进行采样，以获得采样信号。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种测试设备，所述测试设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的基于双通道的信号测试程序，所述基于双通道的信号测试程序配置为实现如上文所述的基于双通道的信号测试方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有基于双通道的信号测试程序，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时实现如上文所述的基于双通道的信号测试方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种基于双通道的信号测试装置，所述基于双通道的信号测试装置包括：
信息获取模块，用于获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段；
符号生成模块，用于遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号；
第一信号生成模块，用于根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号；
信号调制模块，用于通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号；
第二信号生成模块，用于对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
循环拼接模块，用于在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；
信号检测模块，用于将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作。
本发明中获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据信号分段段数生成与待生成信号对应的各分段；遍历各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对伪随机符号进行采样，以获得采样信号；根据采样信号确定当前分段下的第一分段信号；通过频差对采样信号进行调制，以获得调制信号；对调制信号内的采样点进行变更，以获得当前分段下的第二分段信号；在各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；采用第一通道信号与第二通道信号进行测试操作。明显地，本发明中由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号，并运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，解决了无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
附图说明
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的测试设备结构示意图；
图2为本发明基于双通道的信号测试方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明基于双通道的信号测试方法第二实施例的流程示意图；
图4为本发明基于双通道的信号测试方法第三实施例的流程示意图；
图5为本发明基于双通道的信号测试方法第四实施例的流程示意图；
图6为本发明基于双通道的信号测试装置第一实施例的结构框图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的测试设备结构示意图。
如图1所示，该测试设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口以及无线接口，而用户接口1003的有线接口在本发明中可为通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口以及无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)；也可以是稳定的存储器，比如，非易失存储器(Non-volatile Memory)，具体可为，磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对测试设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及基于双通道的信号测试程序。
在图1所示的测试设备中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与所述后台服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接外设；所述测试设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，并执行以下操作：
获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段；
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号；
根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号；
通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号；
对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；
将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，还执行以下操作：
将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，还执行以下操作：
确定所述当前分段中的原始样点数；
获取所述待生成信号的时差，并根据所述时差确定移位样点数量；
对所述原始样点数与所述移位样点数量进行减法运算，以获得第一预设数量，并将所述调制信号中从左至右前N个采样点作为第一预设位置处的采样点，所述N为所述第一预设数量。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，还执行以下操作：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，还执行以下操作：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第四预设位置处的采样点存入第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
相应地，还执行以下操作：
在所述当前分段为第二预设分段时，将所述第一预设转存变量内存入的采样点存入第二预设暂存变量中，将所述调制信号中处于所述第四预设位置处的采样点存入所述第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第二预设暂存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，还执行以下操作：
通过所述第一频差对所述采样信号进行调制，以获得第一调制信号；
相应地，还执行以下操作：
对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号；
相应地，还执行以下操作：
通过所述第二频差对所述采样信号进行调制，以获得第二调制信号；
对所述第二调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第二副路径对应的第二分段信号；
将所述第一副路径对应的第二分段信号与所述第二副路径对应的第二分段信号进行相加，以获得与所述当前分段对应的第二分段信号。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的基于双通道的信号测试程序，还执行以下操作：
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号；
通过所述伪随机符号构成相互独立的伪随机符号序列，并对所述伪随机符号序列进行采样，以获得采样信号。
本实施例中获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据信号分段段数生成与待生成信号对应的各分段；遍历各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对伪随机符号进行采样，以获得采样信号；根据采样信号确定当前分段下的第一分段信号；通过频差对采样信号进行调制，以获得调制信号；对调制信号内的采样点进行变更，以获得当前分段下的第二分段信号；在各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；采用第一通道信号与第二通道信号进行测试操作。明显地，本实施例中由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号，并运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，解决了无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
基于上述硬件结构，提出本发明基于双通道的信号测试方法的实施例。
参照图2，图2为本发明基于双通道的信号测试方法第一实施例的流程示意图。
在第一实施例中，所述基于双通道的信号测试方法包括以下步骤：
步骤S10：获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段。
应当理解的是，可通过生成并运用双通道信号来进行相关接收算法的算法测试操作，而本实施例生成的第一通道信号与第二通道信号具有较长的数据量，如此，可以大大提高算法测试的准确性，更加贴合差异化的测试需求。
可以理解的是，待生成信号为期望获得到的双通道信号，为了生成该双通道信号，可先确定双通道信号之间的频差以及双通道信号的信号分段段数。信号分段段数可记为Nseg，Nseg用于将待生成信号均分为多个分段，每个分段内具有相同数量的采样点数。
步骤S20：遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号。
需要说明的是，考虑到在Nseg的数值大于1时，将存在多个分段，可循环处理每个分段。
在具体实现中，比如，可将此刻遍历到的当前分段记为分段A，可在分段A的循环内，生成多个伪随机符号。可对伪随机符号进行基于多普勒频移的调制操作；在调制后，可对伪随机符号构成的伪随机符号序列进行采样，并采样至100MHz，进而获得采样信号。
应当理解的是，在对伪随机符号构成的伪随机符号序列进行采样时，可采用预防混叠的上采样方式，具体而言，该上采样方式可为一种脉冲成型的滤波操作。比如，若存在着100个伪随机符号，最终脉冲成型滤波后得到的采样信号可能有10000个点。
步骤S30：根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号。
可以理解的是，可对100MHz采样处理的采样信号进行抽取操作以及幅度控制操作，并加上复白噪声；然后，对处理后的信号进行量化，并将量化后的实部与虚部作为分段A对应的第一分段信号。
步骤S40：通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号。
应当理解的是，为了获得另一通道信号，还可通过频差对该采样信号进行载频调制。
步骤S50：对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
可以理解的是，可适应性调节该调制信号内的采样点，同时，可保证各个分段间的相位连续性，以获得分段A对应的第二分段信号。
步骤S60：在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号。
应当理解的是，在获得单个分段A下的第一分段信号后，可将全部分段下的第一分段信号进行拼接，以获得第一分段信号的集合，即第一通道信号。同理，可将全部分段下的第二分段信号进行拼接，以获得第二分段信号的集合，即第二通道信号。第一通道信号与第二通道信号即为双通道信号。
在具体实现中，为了拼接第一分段信号与第二分段信号，实质上，在每次生成分段信号后依次存储入固定文件中，即可实现第一分段信号与第二分段信号的拼接。
步骤S70：将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作。
可以理解的是，通过该种方式生成的第一通道信号与第二通道信号，由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号。通过运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，不仅可以提高测试的精度，也可以满足更加差异化的测试需求。
本实施例中获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据信号分段段数生成与待生成信号对应的各分段；遍历各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对伪随机符号进行采样，以获得采样信号；根据采样信号确定当前分段下的第一分段信号；通过频差对采样信号进行调制，以获得调制信号；对调制信号内的采样点进行变更，以获得当前分段下的第二分段信号；在各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；采用第一通道信号与第二通道信号进行测试操作。明显地，本实施例中由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号，并运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，解决了无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
参照图3，图3为本发明基于双通道的信号测试方法第二实施例的流程示意图，基于上述图2所示的第一实施例，提出本发明基于双通道的信号测试方法的第二实施例。
第二实施例中，所述步骤S50，具体包括：
步骤S501：将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
在具体实现中，为了获得另一通道信号，可适应性调节该调制信号内的采样点。适应性调节操作具体为，可将处于第一预设位置处的所有采样点改变存储位置并写入到第二预设位置处，然后，通过预设采样点覆盖第三预设位置处的采样点。
进一步地，所述步骤S501之前，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
确定所述当前分段中的原始样点数；
获取所述待生成信号的时差，并根据所述时差确定移位样点数量；
对所述原始样点数与所述移位样点数量进行减法运算，以获得第一预设数量，并将所述调制信号中从左至右前N个采样点作为第一预设位置处的采样点，所述N为所述第一预设数量。
可以理解的是，至于第一预设位置、第二预设位置与第三预设位置的确定方式如下。
就第一预设位置而言，可先确定当前分段内的原始采样点的总数即原始样点数，可记为M；再根据双通道信号之间的时差来确定移位样点数量，移位样点数量可记为p。接着，可计算出第一预设数量N为M-p，其中，N为正整数，若M＝5，p＝2，则第一预设数量N＝M-p＝3。可将当前分段的5个采样点中的前3个采样点作为第一预设位置处的采样点。
就第二预设位置而言，第二预设位置为将所述第一预设位置处的采样点右移所述移位样点数量个的采样点后的采样点位置。若M＝5，p＝2，则第一预设数量M-p＝3，第二预设位置为将当前分段的5个采样点中的前3个采样点右移2个的采样点后的采样点位置，即为当前分段的5个采样点中的后3个采样点。
就第三预设位置而言，可将所述调制信号中从左至右的前所述移位样点数量个的采样点作为第三预设位置处的采样点。若p＝2，可将当前分段的5个采样点中的前2个采样点作为第三预设位置处的采样点。
在具体实现中，若当前分段的采样点为{1,2,3,4,5}，M＝5，p＝2，预设采样点为数值为零的采样点，则适应性调节操作具体为，可将{1,2,3,4,5}中的前3个采样点右移2个采样点的位置，将变化为{无,无,1,2,3}。再将{无,无,1,2,3}中的前2个采样点进行补零操作，将变化为{0,0,1,2,3}。
本实施例中通过对调制信号进行适应性调节，可以在保证时差精度较高与频差精度较高的前提下生成另一通道信号。
参照图4，图4为本发明基于双通道的信号测试方法第三实施例的流程示意图，基于上述图3所示的第二实施例，提出本发明基于双通道的信号测试方法的第三实施例。
第三实施例中，所述将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
可以理解的是，不同分段可对应不同的适应性调节策略，比如，若当前分段为第1个分段即第一预设分段，在填充{无,无,1,2,3}中的前2个采样点时，可采用补零的方式。
进一步地，所述步骤S501，具体包括：
步骤S502：在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第四预设位置处的采样点存入第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
应当理解的是，鉴于不同分段可对应不同的适应性调节策略，而且，考虑到保持不同分段间的相位连续性，可额外设置第一预设转存变量，第一预设转存变量可记为变量s_tail。比如，在当前分段为第1个分段时，可将第四预设位置处的采样点存入变量s_tail中。
在具体实现中，就第四预设位置而言，可将所述调制信号中从左至右的后所述移位样点数量个的采样点作为第四预设位置处的采样点。若当前分段的采样点为{1,2,3,4,5}，M＝5，p＝2，预设采样点为数值为零的采样点，则适应性调节操作具体为，可先将{1,2,3,4,5}中的后2个采样点存入变量s_tail中，即存入{4,5}。接着，再将{1,2,3,4,5}中的前3个采样点右移2个采样点的位置，将变化为{无,无,1,2,3}。再将{无,无,1,2,3}中的前2个采样点进行补零操作，将变化为{0,0,1,2,3}。最终获得的当前分段为{0,0,1,2,3}，变量s_tail中存入了{4,5}。
相应地，所述步骤S40之后，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
步骤S503：在所述当前分段为第二预设分段时，将所述第一预设转存变量内存入的采样点存入第二预设暂存变量中，将所述调制信号中处于所述第四预设位置处的采样点存入所述第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第二预设暂存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
应当理解的是，若当前分段为第二个分段即第二预设分段，第二预设分段为除第1个分段与最后一个分段以外的其他分段。鉴于处理第1个分段时，变量s_tail中存入了{4,5}。
在具体实现中，若第二个分段为{2,2,2,2,2}，M＝5，p＝2，则适应性调节操作具体为，可先将变量s_tail中的{4,5}存入第二预设暂存变量中，第二预设暂存变量可记为变量s_tail_tmp中。接着，可将{2,2,2,2,2}中的后2个采样点存入变量s_tail中，即存入{2,2}。如此，变量s_tail中为{2,2}，变量s_tail_tmp中为{4,5}。然后，再将{2,2,2,2,2}中的前3个采样点右移2个采样点的位置，将变化为{无,无,2,2,2}。再将{无,无,2,2,2}中的前2个采样点修改为s_tail_tmp中存入的{4,5}，将变化为{4,5,2,2,2}。最终获得的第二个分段为{4,5,2,2,2}，变量s_tail中为{2,2}，变量s_tail_tmp中为{4,5}。
在执行完步骤S503之后，转入步骤S60。
进一步地，若当前分段为第三预设分段即最后一个分段，也为第Nseg个分段，假定Nseg＝3，最后一个分段即为第三个分段，而此时变量s_tail中为{2,2}，变量s_tail_tmp中为{4,5}，可将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第一预设转存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
在具体实现中，若第三个分段为{3,3,3,3,3}，M＝5，p＝2，s_tail中为{2,2}，变量s_tail_tmp中为{4,5}，则适应性调节操作具体为，可将{3,3,3,3,3}中的前3个采样点右移2个采样点的位置，将变化为{无,无,3,3,3}。再将{无,无,3,3,3}中的前2个采样点修改为s_tail中存入的{2,2}，将变化为{2,2,3,3,3}。
可见，通过上述适应性调节操作，将{1,2,3,4,5}、{2,2,2,2,2}以及{3,3,3,3,3}，最终，变更为了{0,0,1,2,3}、{4,5,2,2,2}以及{2,2,3,3,3}，保证了分段之间的相位连续性。
此外，在保证分段之间的相位连续性之后，还可对当前分段下的第二分段信号进行抽取操作以及幅度控制操作，并加上复白噪声；然后，对处理后的信号进行量化，并将量化后的实部与虚部重新作为当前分段对应的第二分段信号。
本实施例中为不同分段设置了不同的适应性调节策略；而且，通过引入变量s_tail与变量s_tail_tmp，存入了当前分段的部分采样点以供下一分段使用，保证了分段之间的相位连续性。
参照图5，图5为本发明基于双通道的信号测试方法第四实施例的流程示意图，基于上述图2所示的第一实施例，提出本发明基于双通道的信号测试方法的第四实施例。
第四实施例中，所述步骤S10之前，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
获取最终样点数与采样率；
根据所述最终样点数确定原始样点数；
根据所述采样率确定抽取倍数；
根据所述原始样点数、所述抽取倍数与所述最终样点数确定待生成信号的信号分段段数。
应当理解的是，至于信号分段段数Nseg的获取方式，具体为，可先设置采样率与用户需求的最终样点数，采样率可设置为1.25倍带宽或2倍带宽，再根据采样率确定抽取降采样的抽取倍数，可记为Deci。还可根据最终样点数反向确定原始样点数，比如，若最终需求的样点数为1000个采样点，考虑到处理误差以及处理能力，可能确定出的原始样点总数为10000个采样点。在原始样点总数为10000个采样点时，可确定每个分段内的原始样点数M为10，这是考虑到硬件处理资源处理能力的有限性。
可以理解的是，在确定原始样点数10、抽取倍数以及最终样点数1000之后，可确定信号分段段数为100段，如此，可满足最终样点数为1000个，即1000＝10*100。
进一步地，至于伪随机符号的个数可由最终样点数、信号分段段数与采样率来确定，伪随机符号的个数可记为Nsymbol。
进一步地，在获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段之后，还可获取待生成信号的时差，并判断时差的正负，若时差小于0，则可将第一通道对应的通道参数与第二通道对应的通道参数进行互换。互换之后，再执行后续的遍历操作。
进一步地，区别于本发明基于双通道的信号测试方法第一实施例至第三实施例在生成双通道信号进行信号检测时，生成的双通道信号为同源且不同延迟的两路相关信号，本发明基于双通道的信号测试方法第四实施例还额外提供其他两类双通道信号进行信号检测，具体而言，一类双通道信号为同源且多径混合的双通道信号，另一类为多个辐射源的双通道信号。
比如，以同源且多径混合的双通道信号为例，将模拟同一辐射源因经过三条不同的传播路径而产生不同传播时延和多普勒频移，最终生成的双通道信号为在到达接收端双通道时的两路具备两种时差和频差的相关信号。其中，一路通道信号只包含第一条传播路径的延时版本，另一通道信号包含第二和第三条传播路径的混合延时版本。具体而言，所述频差包括主路径与第一副路径之间的第一频差以及所述主路径与第二副路径之间的第二频差。
可以理解的是，考虑到多径混合，将引入主路径、第一副路径与第二副路径，进而存在着两种频差。比如，第一频差可记为频差A，第二频差可记为频差B。
相应地，所述步骤S40，具体包括：
步骤S401：通过所述第一频差对所述采样信号进行调制，以获得第一调制信号。
应当理解的是，为了获得另一通道信号，还可先通过频差A对该采样信号进行调制。
相应地，所述步骤S50，具体包括：
步骤S504：对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号。
需要说明的是，鉴于存在着第一副路径与第二副路径，将先分别生成第一副路径对应的第二分段信号以及第二副路径对应的第二分段信号。至于第适应性调节操作可参见本发明基于双通道的信号测试方法第二实施例至第三实施例。区别在于，以移位样点数量的生成方式，具体而言，鉴于时差包括主路径与第一副路径之间的第一时差以及所述主路径与第二副路径之间的第二时差，所以，将先确定当前分段中的原始样点数，获取待生成信号中的第一时差，并根据所述第一时差确定第一移位样点数量，再应用该第一移位样点数量来进行适应性调节操作。
相应地，所述步骤S504之后，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
步骤S505：通过所述第二频差对所述采样信号进行调制，以获得第二调制信号。
步骤S506：对所述第二调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第二副路径对应的第二分段信号。
可以理解的是，同理，将根据第二时差确定第二移位样点数量，再应用该第二移位样点数量来进行适应性调节操作。
步骤S507：将所述第一副路径对应的第二分段信号与所述第二副路径对应的第二分段信号进行相加，以获得与所述当前分段对应的第二分段信号。
应当理解的是，最终，将把第一副路径对应的第二分段信号与第二副路径对应的第二分段信号进行叠加，再加上复白噪声，并对信号进行量化，将量化后的实部与虚部作为当前分段对应的第二分段信号。
明显地，本实施例在获得第二分段信号时，将区分第一副路径与第二副路径作分别处理。此外，存在三条路径可衍生出三个时延的数值比较操作，进一步地优化移位。
进一步地，所述遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号，具体包括：
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号；
通过所述伪随机符号构成相互独立的伪随机符号序列，并对所述伪随机符号序列进行采样，以获得采样信号。
应当理解的是，至于另一类多个辐射源的双通道信号，将模拟多个辐射源因共同经过两条不同传播路径而产生多组不同传播时延和多普勒频移，最终生成的双通道信号为在到达接收端双通道时的两路混合相关信号。
在具体实现中，为了生成多个辐射源的双通道信号，生成流程大体上与第一种双通道信号即同源且不同延迟的两路相关信号的生成流程相同，区别在于，第一种双通道信号中仅处理了单个伪随机符号序列，而多个辐射源的双通道信号中存在多个伪随机符号序列，并且，多个伪随机符号序列之间相互独立，即将生成多个相互独立的伪随机符号序列。
本实施例中额外提出了两种双通道信号的生成方式可用于微弱信号的检测，包括同源且多径混合的双通道信号以及多个辐射源的双通道信号，均可在分段移位时保证分段间相位连续；而且，三种方式可生成不同类型的双通道信号，在生成非整数倍的采样点时，均可保证时差的高精度，精度达0.01us。
此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有基于双通道的信号测试程序，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时实现如下操作：
获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段；
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号；
根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号；
通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号；
对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；
将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作。
进一步地，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时还实现如下操作：
将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
进一步地，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时还实现如下操作：
确定所述当前分段中的原始样点数；
获取所述待生成信号的时差，并根据所述时差确定移位样点数量；
对所述原始样点数与所述移位样点数量进行减法运算，以获得第一预设数量，并将所述调制信号中从左至右前N个采样点作为第一预设位置处的采样点，所述N为所述第一预设数量。
进一步地，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时还实现如下操作：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
进一步地，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时还实现如下操作：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第四预设位置处的采样点存入第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
相应地，还实现如下操作：
在所述当前分段为第二预设分段时，将所述第一预设转存变量内存入的采样点存入第二预设暂存变量中，将所述调制信号中处于所述第四预设位置处的采样点存入所述第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第二预设暂存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
进一步地，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时还实现如下操作：
通过所述第一频差对所述采样信号进行调制，以获得第一调制信号；
相应地，还实现如下操作：
对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号；
相应地，还实现如下操作：
通过所述第二频差对所述采样信号进行调制，以获得第二调制信号；
对所述第二调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第二副路径对应的第二分段信号；
将所述第一副路径对应的第二分段信号与所述第二副路径对应的第二分段信号进行相加，以获得与所述当前分段对应的第二分段信号。
进一步地，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时还实现如下操作：
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号；
通过所述伪随机符号构成相互独立的伪随机符号序列，并对所述伪随机符号序列进行采样，以获得采样信号。
本实施例中获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据信号分段段数生成与待生成信号对应的各分段；遍历各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对伪随机符号进行采样，以获得采样信号；根据采样信号确定当前分段下的第一分段信号；通过频差对采样信号进行调制，以获得调制信号；对调制信号内的采样点进行变更，以获得当前分段下的第二分段信号；在各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；采用第一通道信号与第二通道信号进行测试操作。明显地，本实施例中由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号，并运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，解决了无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
此外，参照图6，本发明实施例还提出一种基于双通道的信号测试装置，所述基于双通道的信号测试装置包括：
信息获取模块10，用于获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段。
应当理解的是，可通过生成并运用双通道信号来进行相关接收算法的算法测试操作，而本实施例生成的第一通道信号与第二通道信号具有较长的数据量，如此，可以大大提高算法测试的准确性，更加贴合差异化的测试需求。
可以理解的是，待生成信号为期望获得到的双通道信号，为了生成该双通道信号，可先确定双通道信号之间的频差以及双通道信号的信号分段段数。信号分段段数可记为Nseg，Nseg用于将待生成信号均分为多个分段，每个分段内具有相同数量的采样点数。
符号生成模块20，用于遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号。
需要说明的是，考虑到在Nseg的数值大于1时，将存在多个分段，可循环处理每个分段。
在具体实现中，比如，可将此刻遍历到的当前分段记为分段A，可在分段A的循环内，生成多个伪随机符号。可对伪随机符号进行基于多普勒频移的调制操作；在调制后，可对伪随机符号构成的伪随机符号序列进行采样，并采样至100MHz，进而获得采样信号。
应当理解的是，在对伪随机符号构成的伪随机符号序列进行采样时，可采用预防混叠的上采样方式，具体而言，该上采样方式可为一种脉冲成型的滤波操作。比如，若存在着100个伪随机符号，最终脉冲成型滤波后得到的采样信号可能有10000个点。
第一信号生成模块30，用于根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号。
可以理解的是，可对100MHz采样处理的采样信号进行抽取操作以及幅度控制操作，并加上复白噪声；然后，对处理后的信号进行量化，并将量化后的实部与虚部作为分段A对应的第一分段信号。
信号调制模块40，用于通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号。
应当理解的是，为了获得另一通道信号，还可通过频差对该采样信号进行载频调制。
第二信号生成模块50，用于对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
可以理解的是，可适应性调节该调制信号内的采样点，同时，可保证各个分段间的相位连续性，以获得分段A对应的第二分段信号。
循环拼接模块60，用于在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号。
应当理解的是，在获得单个分段A下的第一分段信号后，可将全部分段下的第一分段信号进行拼接，以获得第一分段信号的集合，即第一通道信号。同理，可将全部分段下的第二分段信号进行拼接，以获得第二分段信号的集合，即第二通道信号。第一通道信号与第二通道信号即为双通道信号。
在具体实现中，为了拼接第一分段信号与第二分段信号，实质上，在每次生成分段信号后依次存储入固定文件中，即可实现第一分段信号与第二分段信号的拼接。
信号检测模块70，用于将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作。
可以理解的是，通过该种方式生成的第一通道信号与第二通道信号，由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号。通过运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，不仅可以提高测试的精度，也可以满足更加差异化的测试需求。
本实施例中获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据信号分段段数生成与待生成信号对应的各分段；遍历各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对伪随机符号进行采样，以获得采样信号；根据采样信号确定当前分段下的第一分段信号；通过频差对采样信号进行调制，以获得调制信号；对调制信号内的采样点进行变更，以获得当前分段下的第二分段信号；在各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；采用第一通道信号与第二通道信号进行测试操作。明显地，本实施例中由于对第一通道信号与第二通道信号进行了分段处理，可以获得数据量更长的第一通道信号与第二通道信号，并运用数据量较长的测试信号进行相关接收算法的算法测试操作，解决了无法生成长数据量的双通道信号进行算法测试的技术问题。
在一实施例中，所述第二信号生成模块50，还用于将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
在一实施例中，所述基于双通道的信号测试装置还包括：
预设位置设置模块，用于确定所述当前分段中的原始样点数；获取所述待生成信号的时差，并根据所述时差确定移位样点数量；对所述原始样点数与所述移位样点数量进行减法运算，以获得第一预设数量，并将所述调制信号中从左至右前N个采样点作为第一预设位置处的采样点，所述N为所述第一预设数量。
在一实施例中，所述第二信号生成模块50，还用于在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
在一实施例中，所述基于双通道的信号测试装置还包括：
所述第二信号生成模块50，还用于在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第四预设位置处的采样点存入第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
第三信号生成模块，用于在所述当前分段为第二预设分段时，将所述第一预设转存变量内存入的采样点存入第二预设暂存变量中，将所述调制信号中处于所述第四预设位置处的采样点存入所述第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第二预设暂存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
在一实施例中，所述基于双通道的信号测试装置还包括：
所述信号调制模块40，还用于通过所述第一频差对所述采样信号进行调制，以获得第一调制信号；
所述第二信号生成模块50，还用于对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号；
路径分别处理模块，用于通过所述第二频差对所述采样信号进行调制，以获得第二调制信号；对所述第二调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第二副路径对应的第二分段信号；将所述第一副路径对应的第二分段信号与所述第二副路径对应的第二分段信号进行相加，以获得与所述当前分段对应的第二分段信号。
在一实施例中，所述符号生成模块20，还用于遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号；通过所述伪随机符号构成相互独立的伪随机符号序列，并对所述伪随机符号序列进行采样，以获得采样信号。
本发明所述基于双通道的信号测试装置的其他实施例或具体实现方式可参照上述各方法实施例，此处不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。词语第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序，可将这些词语解释为名称。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器、RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种基于双通道的信号测试方法，其特征在于，所述基于双通道的信号测试方法包括以下步骤：
获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段；
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号；
根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号；
通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号；
对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；
将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作；
所述根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号，包括：
对所述采样信号进行信号抽取、幅度控制以及添加复白噪声，获得目标采样信号；
对所述目标采样信号进行量化，并将量化后的实部与虚部作为所述当前分段下的第一分段信号；
所述对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号，包括：
将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，并保证各分段间的相位连续性，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
2.如权利要求1所述的基于双通道的信号测试方法，其特征在于，所述将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号之前，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
确定所述当前分段中的原始样点数；
获取所述待生成信号的时差，并根据所述时差确定移位样点数量；
对所述原始样点数与所述移位样点数量进行减法运算，以获得第一预设数量，并将所述调制信号中从左至右前N个采样点作为第一预设位置处的采样点，所述N为所述第一预设数量。
3.如权利要求2所述的基于双通道的信号测试方法，其特征在于，所述将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
4.如权利要求3所述的基于双通道的信号测试方法，其特征在于，所述在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
在所述当前分段为第一预设分段时，将所述调制信号中处于第四预设位置处的采样点存入第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为数值为零的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
相应地，所述通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号之后，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
在所述当前分段为第二预设分段时，将所述第一预设转存变量内存入的采样点存入第二预设暂存变量中，将所述调制信号中处于所述第四预设位置处的采样点存入所述第一预设转存变量中，将所述调制信号中处于所述第一预设位置处的采样点右移至所述第二预设位置，并将所述调制信号中处于所述第三预设位置处的采样点修改为所述第二预设暂存变量中的采样点，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
5.如权利要求1所述的基于双通道的信号测试方法，其特征在于，所述频差包括主路径与第一副路径之间的第一频差以及所述主路径与第二副路径之间的第二频差；
相应地，所述通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号，具体包括：
通过所述第一频差对所述采样信号进行调制，以获得第一调制信号；
相应地，所述对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号，具体包括：
对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号；
相应地，所述对所述第一调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第一副路径对应的第二分段信号之后，所述基于双通道的信号测试方法还包括：
通过所述第二频差对所述采样信号进行调制，以获得第二调制信号；
对所述第二调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下所述第二副路径对应的第二分段信号；
将所述第一副路径对应的第二分段信号与所述第二副路径对应的第二分段信号进行相加，以获得与所述当前分段对应的第二分段信号。
6.如权利要求1至5中任一项所述的基于双通道的信号测试方法，其特征在于，所述遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号，具体包括：
遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号；
通过所述伪随机符号构成相互独立的伪随机符号序列，并对所述伪随机符号序列进行采样，以获得采样信号。
7.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行基于双通道的信号测试程序，所述基于双通道的信号测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的基于双通道的信号测试方法的步骤。
8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有基于双通道的信号测试程序，所述基于双通道的信号测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的基于双通道的信号测试方法的步骤。
9.一种基于双通道的信号测试装置，其特征在于，所述基于双通道的信号测试装置包括：
信息获取模块，用于获取待生成信号的频差与信号分段段数，根据所述信号分段段数生成与所述待生成信号对应的各分段；
符号生成模块，用于遍历所述待生成信号对应的各分段，在遍历到的当前分段内生成伪随机符号，并对所述伪随机符号进行采样，以获得采样信号；
第一信号生成模块，用于根据所述采样信号确定所述当前分段下的第一分段信号；
信号调制模块，用于通过所述频差对所述采样信号进行调制，以获得调制信号；
第二信号生成模块，用于对所述调制信号内的采样点进行变更，以获得所述当前分段下的第二分段信号；
循环拼接模块，用于在对所述待生成信号对应的各分段遍历完成时，分别对各分段对应的第一分段信号与第二分段信号进行拼接操作，以获得第一通道信号与第二通道信号；
信号检测模块，用于将所述第一通道信号与所述第二通道信号作为测试信号进行测试操作；
所述第一信号生成模块，还用于对所述采样信号进行信号抽取、幅度控制以及添加复白噪声，获得目标采样信号，对所述目标采样信号进行量化，并将量化后的实部与虚部作为所述当前分段下的第一分段信号；
所述第二信号生成模块，还用于将所述调制信号中处于第一预设位置处的采样点右移至第二预设位置，并将所述调制信号中处于第三预设位置处的采样点修改为预设采样点，并保证各分段间的相位连续性，以获得所述当前分段下的第二分段信号。
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