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=== Microscópio eletrônico de transmissão de alta velocidade ===
Muitos fenômenos em biologia, química e ciência dos materiais ocorrem a taxas que são significativamente mais rápidas que aquelas que podem ser capturadas com técnicas padrão de vídeos. Isto levou ao desenvolvimento dos microscópios eletrônicos de transmissão de alta velocidade, também chamados de microscópios eletrônicos de transmissão dinâmica (DTEM, ''dynamic transmission electron microscopy'').<ref>Wayne E. King, Michael R. Armstrong, Oleg Bostanjoglo and Bryan W. Reed; [https://www.springerlink.com/content/r5853x0u22n41422/ High-Speed Electron Microscopy]; Science of Microscopy 2007, I, 406-444, DOI: 10.1007/978-0-387-49762-4_5</ref>

O microscópio eletrônicos de transmissão de alta velocidade foi desenvolvido para a análise de processos não periódicos rápidos induzidos por [[laser]] na escala de tempo de [[nanosegundo]]s. Pulsos de elétrons de 7 a 11 ns são produzidos por um fotocátodo estimulado a laser. O canhão de elétron pode ser usado tanto para a exposição na escala de nanossegundos como na operação estacionária convencional. Este microscópio é operado em três diferentes modos: imagem de fundo brilhante, para estudo de alterações da textura e de transporte de material neutro; imagem de campo escuro, para plasmas transientes, e difração de área selecionada para estudo de rápidas transições de fase. Em 2003, sua resolução se encontrava na faixa de aproximadamente 200 nm.<ref>Dömer, H.; Bostanjoglo, O.; [https://adsabs.harvard.edu/abs/2003RScI...74.4369D High-speed transmission electron microscope]; Review of Scientific Instruments, Volume 74, Issue 10, pp. 4369-4372 (2003). DOI: 10.1063/1.1611612</ref>