RU1779917C - X-ray deformation meter - Google Patents
X-ray deformation meterInfo
- Publication number
- RU1779917C RU1779917C SU884485122A SU4485122A RU1779917C RU 1779917 C RU1779917 C RU 1779917C SU 884485122 A SU884485122 A SU 884485122A SU 4485122 A SU4485122 A SU 4485122A RU 1779917 C RU1779917 C RU 1779917C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- tube
- longitudinal axis
- mirrors
- anodes
- ray
- Prior art date
Links
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл рентгеновских измерений деформаций. Целью изобретени вл етс расширение сортамента контролируемых изделий и повышение точности измерений за счет возможности использовани аппарата в труднодоступных местах и обеспечени оптимального диапазона углов сходимости выходных пучков. При включении источника питани возникают два потока электронов к анодам, расположенным на фокусирующей окружности по обе стороны относительно продольной оси трубки на одинаковых от оси рассто ни х и ориентированных таким образом, что плоскости их зеркал параллельны и наклонены к продольной оси трубки под углом 60-67,5°, и в материале анодов в результате торможени электронов возникает рентгеновское излучение, пучки которого после взаимодействи с контролируемой поверхностью , продифрагировав в материале, поступают на чувствительный элемент датчика регистрации дифрагированных пучков, расположенного на одной из боковых граней трубки, выполненных плоскими. 1 з.п.ф-лы, 4 ил. со СThe invention relates to measuring technique and is intended for x-ray strain measurements. The aim of the invention is to expand the range of controlled products and increase the accuracy of measurements due to the possibility of using the apparatus in hard-to-reach places and providing an optimal range of angles of convergence of the output beams. When the power source is turned on, two electron flows arise to the anodes located on the focusing circle on both sides relative to the longitudinal axis of the tube at the same distances from the axis and oriented so that the planes of their mirrors are parallel and inclined to the longitudinal axis of the tube at an angle of 60-67 , 5 °, and in the anode material as a result of electron deceleration, x-ray radiation occurs, the beams of which, after interacting with the controlled surface, diffracted in the material, and then an integral element of the diffracted beam registration sensor located on one of the side faces of the tube made flat. 1 C.p. f-ls, 4 ill. with C
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл рентгеновских измерений деформаций.The invention relates to measuring technique and is intended for x-ray strain measurements.
Целью изобретени вл етс расширение сортамента контролируемых изделий и повышение точности измерений за счет возможности использовани его в труднодоступных зонах и обеспечени оптимального диапазона углов сходимости выходных пучков .The aim of the invention is to expand the range of controlled products and increase the accuracy of measurements due to the possibility of using it in hard-to-reach areas and providing an optimal range of angles of convergence of the output beams.
На фиг.1 изображена схема рентгеновского аппарата, разрез в положении измерени ; на фиг.2 - то же. вид сбоку; на фиг.З - то же, вид сверху; на фиг.4 - то же, вид сбоку в направлении оси трубки.Figure 1 shows a diagram of an x-ray apparatus, a section in a measurement position; figure 2 is the same. side view; in Fig.Z - the same, a top view; figure 4 is the same side view in the direction of the axis of the tube.
Рентгеновский аппарат содержит рентгеновскую трубку 1, корпус которой выполнен с плоскими боковыми гран ми, с двум массивными идентичными анодами 2, 3, расположенными на фокусирующей окружности 4 с центром в точке 5 измерени по обе стороны относительно продольной оси 6 трубки 1 на одинаковых от нее рассто ни х h, плоскости зеркал анодов 2, 3 параллельны и наклонены к продольной оси 6 трубки 1 на одинаковых от нее рассто ни х h, плоскости зеркал анодов 2, 3 параллельны и наклонены к продольной оси 6 трубки 1 под углами а , равными а 60-67,5°, общий источник 7 электронов, центр которого лежит на пр мой 8, соедин ющей центрыThe x-ray apparatus contains an x-ray tube 1, the body of which is made with flat side faces, with two identical identical anodes 2, 3 located on the focusing circle 4 centered at the measurement point 5 on both sides relative to the longitudinal axis 6 of the tube 1 at the same distance from it x h, the planes of the mirrors of the anodes 2, 3 are parallel and inclined to the longitudinal axis 6 of the tube 1 at equal distances x h, the planes of the mirrors of the anodes 2, 3 are parallel and inclined to the longitudinal axis 6 of the tube 1 at angles a equal to a 60 -67.5 °, total and 7 Tocnik electrons whose center lies on a straight 8 connecting the centers
VIVI
VI Ч)VI h)
юYu
vl vl
зеркал анодов 2, 3, доз выходных окна 9,10 трубки 1 предназначены дл выхода рентгеновского излучени и их оси 11, 12 пересекаютс в точке 5 измерени под углом /, равным /7 45-60°, датчик 13 регистрации дифрагированных пучков соединен гибким кабелем 14с системой регистрации (не показана ) и закреплен на одной из плоских боковых граней трубки 1. Датчик 13 выполнен с чувствительным элементом 15, изогнутым в соответствии со следом нормальной проекции фокусирующей окружности А на эту грань. В качестве чувствительного элемента использован твердотельный полупроводниковый детектор. Аппарат содержит два фокусирующих упора 16, 17, закрепленных на корпусе трубки 1, и высоковольтный источник 18 питани трубки 1. На упоры 16. 17 одеты магнитные шайбы 19, 20, удерживающие аппарат после его фиксации.mirrors of the anodes 2, 3, doses of the output windows 9.10 of the tube 1 are intended for the output of x-ray radiation and their axes 11, 12 intersect at the measurement point 5 at an angle / equal to / 7 45-60 °, the diffracted beam registration sensor 13 is connected by a flexible cable 14 with a registration system (not shown) and mounted on one of the flat side faces of the tube 1. The sensor 13 is made with a sensitive element 15, curved in accordance with the trace of the normal projection of the focusing circle A onto this face. A solid state semiconductor detector is used as a sensitive element. The apparatus contains two focusing stops 16, 17 fixed to the tube 1 body, and a high-voltage power supply 18 of the tube 1. The stops 16 are equipped with magnetic washers 19, 20 that hold the device after it is fixed.
Центры окон 9, 10 и центр источника 7 электронов лежат в плоскости симметрии трубки 1, образованной пересечением ее продольной оси 6 с линией 8, соедин ющей центры зеркал анодов 2, 3, которые ориентированы так, что плоскости, зеркал наклонены к продольной оси трубки под углом 60-67,5°.The centers of the windows 9, 10 and the center of the electron source 7 lie in the plane of symmetry of the tube 1, formed by the intersection of its longitudinal axis 6 with line 8 connecting the mirror centers of the anodes 2, 3, which are oriented so that the planes of the mirrors are inclined to the longitudinal axis of the tube under angle of 60-67.5 °.
Аппарат работает следующим образом.The device operates as follows.
Корпус трубки 1 подвод т к поверхности 21 таким образом, чтобы наконечники упоров 16, 17 касались поверхности и фиксировали аппарат с помощью шайб 19, 20. При включении источника 18 питани возникают два потока электронов от источника 9 к анодам 2 и 3, торможение электронов в материале которых сопро- v вождаетс испусканием рентгеновских пучков в направлении контролируемой точки 5. Геометрические размеры пучков и угол их сходимости определ ютс размерами и расположением зеркал анодов 2,3 и окон 9, 10. После дифракции в контролируемом материале поверхности оба первичных пучка попадают на чувствительный элемент 15, который регистрирует положение дифрагированных пучков, данные о которых поступают по кабелю 14 на вход аналого-вычислительного устройства (на фиг. не показано), преобразующего дани The casing of the tube 1 is brought to the surface 21 in such a way that the tips of the stops 16, 17 touch the surface and fix the device using washers 19, 20. When the power source 18 is turned on, two electron flows from the source 9 to the anodes 2 and 3, the braking of the electrons in the material of which is accompanied by the emission of X-ray beams in the direction of the controlled point 5. The geometric dimensions of the beams and the angle of convergence are determined by the size and location of the mirrors of the anodes 2,3 and windows 9, 10. After diffraction in the controlled material, rhnosti both the primary beam fall on the sensor 15 which detects the position of the diffracted beams, of which data is received via the cable 14 to the input of an analog-computing device (Fig. not shown), which converts tribute
ные о значени углов дифракции Qi и Qa дл пучков, падающих под углами 1р 0° и & - 45-60° соответственно. По значени м углов дифракции по известным методикам рассчитывают величину деформации по формулеThe values of diffraction angles Qi and Qa for beams incident at angles of 1 ° 0 ° and & - 45-60 °, respectively. The values of the diffraction angles by known methods calculate the magnitude of the deformation according to the formula
sinChsinCh
sin Q2 sin Q2
-1-1
1010
sin2$sin2 $
15fifteen
20twenty
2525
4040
Дл обеспечени максимальной точности измерени наклон плоскости зеркал анодов 2, 3 к продольной оси 6 трубки должен составл ть 60-67,5°, т.к. в этом случае соответствующие углы пересечени осей обоих рентгеновских пучков будут лежать в диапазоне 45-60°, т.е. в оптимальном диапазоне углов сходимости.To ensure maximum measurement accuracy, the inclination of the plane of the mirrors of the anodes 2, 3 to the longitudinal axis 6 of the tube should be 60-67.5 °, because in this case, the corresponding intersection angles of the axes of both x-ray beams will lie in the range of 45-60 °, i.e. in the optimal range of angles of convergence.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884485122A RU1779917C (en) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | X-ray deformation meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884485122A RU1779917C (en) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | X-ray deformation meter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1779917C true RU1779917C (en) | 1992-12-07 |
Family
ID=21400334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884485122A RU1779917C (en) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | X-ray deformation meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1779917C (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2443417A1 (en) | 2009-06-17 | 2012-04-25 | Voestalpine Stahl GmbH | Method and device for calculating a surface of a filling material of a container |
-
1988
- 1988-06-20 RU SU884485122A patent/RU1779917C/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент US № 3639758. кл. G01 N23/20, 1972. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2443417A1 (en) | 2009-06-17 | 2012-04-25 | Voestalpine Stahl GmbH | Method and device for calculating a surface of a filling material of a container |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4660970A (en) | Method and apparatus for the contact-less measuring of objects | |
US4691446A (en) | Three-dimensional position measuring apparatus | |
JPH02291908A (en) | Inspection of tandem-layout shaft | |
US4897536A (en) | Optical axis displacement sensor with cylindrical lens means | |
US3977789A (en) | Scanning differential photoelectric autocollimator | |
US20020092978A1 (en) | Deviation detecting device, rotary laser apparatus with the same, and position determining system with deviation detecting/correcting device | |
US4489425A (en) | Means and method for determining residual stress on a polycrystalline sample by X-ray diffraction | |
US5339154A (en) | Method and apparatus for optical measurement of objects | |
GB2166548A (en) | Laser measurement system | |
WO1998028661A3 (en) | Optical height meter, surface-inspection device provided with such a height meter, and lithographic apparatus provided with the inspection device | |
US3604804A (en) | Noncontacting motion sensor | |
RU1779917C (en) | X-ray deformation meter | |
EP0439322A2 (en) | Device and method for measuring the gap between two opposed objects | |
US3639758A (en) | X-ray stress measuring apparatus | |
JPS61220482A (en) | Nondirectional photodiode | |
JP3596561B2 (en) | X-ray stress measuring method and apparatus | |
US3213278A (en) | X-ray spectrograph having plural detectors | |
CN110793468B (en) | Optical element position detection device, control device and detection method | |
JPS61260113A (en) | Detector for tilt angle of plane | |
US4595288A (en) | Method and apparatus for measuring deep mirrors | |
Berger et al. | Application of the/spl Omega/scan to the sorting of doubly rotated quartz blanks | |
JPH02134505A (en) | Thickness measuring apparatus | |
US3427451A (en) | X-ray diffractometer having several detectors movable on a goniometer circle | |
JPH07122566B2 (en) | Optical displacement measuring device | |
JPH01320430A (en) | Optical displacement detector |