KR20070048952A - Multi chip package having interconnectors - Google Patents
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Abstract
본 발명은 내부 접속 단자를 갖는 멀티 칩 패키지에 관한 것으로, 본딩 와이어를 이용하여 반도체 칩들을 연결하는 경우, 피적층 반도체 칩에 비해서 크기가 동일하거나 큰 적층 반도체 칩과 피적층 반도체 칩의 사이에는 고가의 스페이서가 개재되어야 하기 때문에, 제조 비용을 절감하기 위해서는 피적층 반도체 칩이 적층 반도체 칩보다 큰 경우에만 멀티 칩 패키지의 구현이 가능하다. 또한, 반도체 칩에 비아 홀을 형성시킨 다음 반도체 칩을 적층하는 경우, 제조 공정이 복잡하고, 반도체 칩들의 크기가 동일한 경우에만 멀티 칩 패키지의 구현이 가능하다. 이와 같은 문제점을 해결하기 위해서, 본 발명은 반도체 칩의 칩 패드로부터 연장되어 반도체 칩들을 연결시키는 복수개의 내부 접속 단자들과, 칩 패드와 내부 접속 단자들의 연결 부분에 각각 형성되는 도금막을 이용하여 반도체 칩들을 전기적으로 접속시키는 내부 접속 단자를 갖는 멀티 칩 패키지를 제공한다. 본 발명에 따르면, 내부 접속 단자는 어떠한 크기의 반도체 칩에도 용이하게 적용 가능하기 때문에, 반도체 칩들의 크기와 무관하게 적층하여 멀티 칩 패키지를 구현할 수 있으며, 개별적으로 형성된 내부 접속 단자를 이용하여 반도체 칩들을 연결시키기 때문에, 제조 공정이 단순해질 수 있다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-chip package having internal connection terminals. In the case of connecting the semiconductor chips using bonding wires, the present invention is expensive between the stacked semiconductor chip and the stacked semiconductor chip having the same or larger size than the stacked semiconductor chip. Since the spacers must be interposed, the multi-chip package can be implemented only when the stacked semiconductor chip is larger than the stacked semiconductor chip in order to reduce manufacturing costs. In addition, when via holes are formed in the semiconductor chip and then the semiconductor chips are stacked, the manufacturing process is complicated and the multi-chip package may be implemented only when the semiconductor chips have the same size. In order to solve this problem, the present invention uses a plurality of internal connection terminals extending from the chip pads of the semiconductor chip to connect the semiconductor chips, and using a plating film formed on the connection portions of the chip pad and the internal connection terminals, respectively. A multichip package having an internal connection terminal for electrically connecting chips is provided. According to the present invention, since the internal connection terminals are easily applicable to semiconductor chips of any size, the multi-chip package can be implemented by stacking regardless of the size of the semiconductor chips, and the semiconductor chips using the internal connection terminals formed separately. By connecting them, the manufacturing process can be simplified.
반도체 칩, 칩 패드, 내부 접속 단자, 제 1 도금막, 제 2 도금막 Semiconductor chip, chip pad, internal connection terminal, first plating film, second plating film
Description
도 1은 종래기술에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing a multi-chip package according to the prior art.
도 2는 종래기술에 따른 다른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. 2 is a cross-sectional view showing another multi-chip package according to the prior art.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. 3 is a cross-sectional view illustrating a multichip package according to a first embodiment of the present invention.
도 4는 도 3의 "A" 부분을 나타내는 확대도이다. 4 is an enlarged view illustrating portion “A” of FIG. 3.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. 5 is a cross-sectional view illustrating a multichip package according to a second exemplary embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. 6 is a cross-sectional view illustrating a multichip package according to a third exemplary embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
120, 130, 140, 220, 230, 240, 320, 330, 340 : 반도체 칩120, 130, 140, 220, 230, 240, 320, 330, 340: semiconductor chip
122, 132, 142, 222, 232, 242, 322, 332, 342 : 칩 패드122, 132, 142, 222, 232, 242, 322, 332, 342: chip pad
152, 252, 352a, 352b : 내부 접속 단자152, 252, 352a, 352b: internal connection terminals
154, 254, 354 : 도금막154, 254, 354 plating film
155, 255, 355 : 제 1 도금막155, 255, 355: first plating film
157, 257, 357a, 357b : 제 2 도금막157, 257, 357a, and 357b: second plating film
200, 300, 400 : 멀티 칩 패키지200, 300, 400: Multichip Package
본 발명은 반도체 패키지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 복수개의 반도체 칩들을 수직으로 연결하는 내부 접속 단자를 갖는 멀티 칩 패키지에 관한 것이다. The present invention relates to a semiconductor package, and more particularly to a multi-chip package having an internal connection terminal for vertically connecting a plurality of semiconductor chips.
최근 전자 휴대기기의 크기가 소형화됨에 따라, 전자 휴대기기 내에 장착되는 반도체 패키지도 점차 소형화, 박형화 및 경량화되고 있다. 한편, 반도체 패키지에 실장되는 반도체 칩의 용량은 증대되고 있다. 이에 따라, 기존에는 하나의 기능을 담당하는 반도체 칩이 실장된 싱글 칩 패키지(single chip package)가 제조되었으나, 최근에는 하나의 패키지 내에 두 개 이상의 반도체 칩이 실장된 멀티 칩 패키지(Multi Chip Package;MCP)가 제조되고 있는 추세이다. Recently, as the size of an electronic portable device has become smaller, the semiconductor package mounted in the electronic portable device has also become smaller, thinner, and lighter. On the other hand, the capacity of the semiconductor chip mounted in the semiconductor package is increasing. Accordingly, in the past, a single chip package in which a semiconductor chip having one function is mounted has been manufactured, but recently, a multi chip package in which two or more semiconductor chips are mounted in one package; MCP) is being manufactured.
멀티 칩 패키지 기술은 배선 기판에 두 개 이상의 반도체 칩을 실장해 하나의 패키지로 만들어 크기를 축소할 수 있는 반도체 패키징 기술로서, 동일한 종류의 반도체 칩들을 실장하거나 다른 종류의 반도체 칩들을 실장한 혼합형(hybrid type) 등 다양한 방향으로 기술이 발전하고 있다. 이 때, 반도체 칩들은 배선 기판 위에 평면적으로 실장될 수도 있고 수직적으로 실장될 수도 있는데, 반도체 패키지의 소형화, 박형화 및 경량화의 요구에 따라 반도체 칩을 수직적으로 적층시키는 형태가 많이 사용되고 있다. Multi-chip package technology is a semiconductor packaging technology that can be reduced in size by mounting two or more semiconductor chips on a wiring board into a single package, and is a hybrid type in which the same type of semiconductor chips are mounted or different types of semiconductor chips are mounted. The technology is developing in various directions such as hybrid type. In this case, the semiconductor chips may be mounted on the wiring board in a planar manner or vertically. The semiconductor chips are stacked vertically in accordance with the demand for miniaturization, thinning, and weight reduction of the semiconductor package.
종래기술에 따른 멀티 칩 패키지(100a)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 배선 기판(10) 상부면에 크기가 다른 복수개의 반도체 칩들(20, 30, 40)이 적층된 구조로 구현된다. 배선 기판(10)과 반도체 칩들(20, 30, 40)은 본딩 와이어(bonding wire;50)에 의해 전기적으로 연결된다. 배선 기판(10) 상부면에 적층된 반도체 칩들(20, 30, 40)과 본딩 와이어(50)는 성형 공정을 통하여 일괄적으로 성형되어 형성된 수지 봉합부(80)에 의해 외부 환경으로부터 보호된다. 그리고 배선 기판(10)의 하부면에는 솔더 볼(solder ball;60)이 형성되어 있다. As shown in FIG. 1, the
이 때, 피적층 반도체 칩에 비해서 적층 반도체 칩의 크기가 동일하거나 클 경우, 피적층 반도체 칩에서 인출된 본딩 와이어가 적층 반도체 칩의 하부면과 접촉하여 전기적 쇼트(short)가 발생될 수 있다. In this case, when the size of the stacked semiconductor chip is the same as or larger than that of the stacked semiconductor chip, the bonding wires drawn from the stacked semiconductor chip may come into contact with the lower surface of the stacked semiconductor chip to generate an electrical short.
이에 따라, 상하 반도체 칩(30, 40) 사이에 스페이서(spacer;70)를 개재하여 피적층 반도체 칩(30)에서 인출된 본딩 와이어(50)가 적층 반도체 칩(40)의 하부면과 기계적으로 접촉하는 것을 방지한다. 물론 스페이서(70)는 피적층 반도체 칩(30)에서 인출된 본딩 와이어(50)가 적층 반도체 칩(40)의 하부면과 접촉하지 않을 정도의 두께를 갖도록 형성된다. As a result, the
그런데, 스페이서로 사용되는 칩 접착 필름(chip attach film)이 고가(高價)이기 때문에, 스페이서를 사용하여 멀티 칩 패키지를 제조하는 데 있어서 고비용이 요구된다. By the way, since the chip attach film used as a spacer is expensive, high cost is required in manufacturing a multichip package using a spacer.
한편, 종래기술에 따른 다른 멀티 칩 패키지(100b)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 비아 홀(via hole;90)이 형성된 복수개의 반도체 칩들(20, 30, 40)이 적층된 구조로 구현된다. 비아 홀(90)은 반도체 칩(20, 30, 40)을 관통하여 반도체 칩(20, 30, 40)의 활성면과 비활성면을 연결시킨다. 비활성면의 비아 홀(90) 일단부에는 솔더 볼(95)이 형성되어 있다. 그리고, 피적층 반도체 칩의 솔더 볼(95)이 적층 반도체 칩의 활성면의 비아 홀(90) 타단부에 부착됨으로써, 반도체 칩들(20, 30, 40) 이 전기적으로 연결된다. Meanwhile, another
그런데, 이와 같은 종래기술에 따른 다른 멀티 칩 패키지(10b)는 반도체 칩(20, 30, 40)에 비아 홀(90)이 형성되어야 하기 때문에 제조 공정이 복잡하다. 또한, 피적층 반도체 칩의 비아 홀(90)과 적층 반도체 칩의 비아 홀(90)이 각각의 반도체 칩(20, 30, 40)의 동일한 위치에 형성되어야 하기 때문에, 동일한 크기의 반도체 칩들(20, 30, 40)을 적층하는 경우에만 적용이 가능하다. However, the multi-chip package 10b according to the related art has a complicated manufacturing process because the
따라서, 본 발명의 목적은 제조 공정이 단순하고, 반도체 칩의 크기와 무관하게 복수개의 반도체 칩들을 적층할 수 있는 내부 접속 단자를 갖는 멀티 칩 패키지를 제공하는 데 있다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a multi-chip package having a simple manufacturing process and having internal connection terminals capable of stacking a plurality of semiconductor chips regardless of the size of the semiconductor chip.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 일면의 가장자리 영역을 따라서 복수개의 칩 패드들이 형성된 복수개의 반도체 칩들과, 반도체 칩들을 전기적으로 접속시키며 서로 연결되는 복수개의 내부 접속 단자들과, 칩 패드와 내부 접속 단자들의 연결 부분에 각각 형성되는 도금막을 포함하며, 도금막은, 칩 패드의 상부면에 형성되는 제 1 도금막과, 내부 접속 단자의 제 1 도금막과 연결되는 부분 및 수 직으로 이웃하는 내부 접속 단자와 연결되는 부분에 형성되는 제 2 도금막을 포함하는 것을 특징으로 하는 내부 접속 단자를 갖는 멀티 칩 패키지를 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention provides a plurality of semiconductor chips in which a plurality of chip pads are formed along an edge region of one surface, a plurality of internal connection terminals electrically connected to each other by electrically connecting the semiconductor chips, and a chip pad and an internal portion. A plating film formed on each of the connection portions of the connection terminals, wherein the plating film includes a first plating film formed on the upper surface of the chip pad, a portion connected to the first plating film of the internal connection terminal, and a vertically neighboring interior. It provides a multi-chip package having an internal connection terminal comprising a second plating film formed on a portion connected to the connection terminal.
본 발명에 따른 멀티 칩 패키지에 있어서, 내부 접속 단자는 칩 패드로부터 반도체 칩의 측벽을 따라서 연장되어 반도체 칩의 타면을 향하여 노출된다. In the multi-chip package according to the present invention, the internal connection terminals extend from the chip pads along the sidewalls of the semiconductor chip and are exposed toward the other surface of the semiconductor chip.
본 발명에 따른 멀티 칩 패키지에 있어서, 내부 접속 단자의 형태는 "ㄱ, ㄴ, ㄷ 또는 S" 자형 중에 어느 하나인 것이 바람직하다. In the multi-chip package according to the present invention, the form of the internal connection terminal is preferably any one of the "a, b, c or S" shape.
본 발명에 따른 멀티 칩 패키지에 있어서, 내부 접속 단자는 구리(Cu), 또는 합금(alloy) 중에 어느 하나인 것이 바람직하다. In the multi-chip package according to the present invention, it is preferable that the internal connection terminal is either copper (Cu) or an alloy.
본 발명에 따른 멀티 칩 패키지에 있어서, 제 1 및 제 2 도금막은 금(Au), 은(Ag), 주석(Sn), 주석-납(SnPb) 합금 또는 주석-비스무트(SnBi) 합금 중에 어느 하나인 것이 바람직하다. In the multi-chip package according to the present invention, the first and the second plating film is any one of gold (Au), silver (Ag), tin (Sn), tin-lead (SnPb) alloy or tin-bismuth (SnBi) alloy. Is preferably.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail an embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. 도 4는 도 3의 "A" 부분을 나타내는 확대도이다. 3 is a cross-sectional view illustrating a multichip package according to a first embodiment of the present invention. 4 is an enlarged view illustrating portion “A” of FIG. 3.
도 3 및 도 4를 참조하면, 제 1 실시예에 따른 멀티 칩 패키지(200)는 복수개의 반도체 칩들(120, 130, 140)이 3차원으로 적층되어 있으며, 반도체 칩들(120, 130, 140)이 내부 접속 단자(152)에 의해 연결된 구조를 갖는다. 3 and 4, in the
본 발명의 제 1 실시예에 따른 멀티 칩 패키지(200)에 대해서 구체적으로 설명하면, 멀티 칩 패키지(200)는 반도체 칩들(120, 130, 140), 내부 접속 단자(152) 및 도금막(154)을 포함한다. Referring to the
반도체 칩들(120, 130, 140)의 상부면에는 가장자리 영역을 따라서 복수개의 칩 패드들(122, 132, 142)이 형성되어 있다. 칩 패드(122, 132, 142)는 일반적으로 알루미늄(Al)으로 되어 있다. 이 때, 반도체 칩들(120, 130, 140)은 크기가 모두 동일하며, 칩 패드(122, 132, 142)의 개수 및 배치 간격도 모두 동일하다. A plurality of
내부 접속 단자(152)는 이러한 반도체 칩들(120, 130, 140)의 사이를 연결시킨다. 내부 접속 단자(152)는 반도체 칩(120, 130, 140) 상부면의 각각의 칩 패드(122, 132, 142)로부터 반도체 칩(120, 130, 140)의 측벽을 따라서 연장되어 반도체 칩(120, 130, 140)의 하부면을 향하여 노출된다. 반도체 칩(120, 130, 140)의 하부면을 향하여 노출된 내부 접속 단자(152)의 단부는 수직으로 이웃하는 반도체 칩(120, 130, 140)의 대응하는 위치의 내부 접속 단자(152)와 연결된다. 이러한 내부 접속 단자(152)의 형태는 "ㄱ" 자형으로 이루어진다. The
이 때, 이러한 내부 접속 단자(152)는 반도체 칩들(120, 130, 140)을 연결시켜 전기적으로 접속시키는 경로로 이용되기 때문에, 전기 전도성이 우수한 물질, 예컨대, 구리(Cu) 또는 합금(alloy) 중에 어느 하나로 형성되는 것이 바람직하다. In this case, since the
도금막(154)은 반도체 칩들(120, 130, 140)과 내부 접속 단자들(152)의 연결 부분에 각각 도금되어 형성된다. 이러한 도금막(154)은 형성 위치에 따라 분류되는 제 1 도금막(155) 및 제 2 도금막(157)을 포함한다. 제 1 도금막(155)은 반도체 칩들(120, 130, 140)의 칩 패드(122, 132, 142) 상부면에 형성된다. 또한, 제 2 도금막(157)은 내부 접속 단자(152)의 제 1 도금막(155)과 연결되는 부분 및 수직으로 이웃하는 다른 내부 접속 단자(152)와 연결되는 부분, 예컨대, 상부의 반도체 칩으로부터 연장된 내부 접속 단자 및 하부의 반도체 칩으로부터 연장된 내부 접속 단자와 연결되는 부분에 형성된다. The
이러한 도금막(154)은 열 압착 또는 리플로우(reflow)에 의해 서로 접착되어 칩 패드들(122, 132, 142)과 내부 접속 단자들(152)을 연결시킨다. The
이 때, 도금막(154)은 칩 패드들(122, 132, 142)과 내부 접속 단자들(152) 사이의 접합력을 향상시키는 용도로 이용되기 때문에, 내부 접속 단자들(152)에 비하여 저융점을 갖는 금속, 예컨대, 금(Au), 은(Ag), 주석(Sn), 주석-납(SnPb) 합금 또는 주석-비스무트(SnBi) 합금 중에 어느 하나로 형성되는 것이 바람직하다. In this case, since the
한편, 최하부 반도체 칩(120)의 칩 패드(122)로부터 연장된 내부 접속 단자(152)는 솔더링(soldering)을 통해 모 기판(mother board;도시되지 않음)에 연결된다. 이에 따라, 최하부 반도체 칩(120)의 하부면을 향하여 노출된 내부 접속 단자(152)의 단부가 모 기판에 연결됨으로써, 반도체 칩들(120, 130, 140)과 모 기판이 전기적으로 접속된다. Meanwhile, the
한편, 전술한 실시예에서는 "ㄱ" 자형의 내부 접속 단자를 갖는 멀티 칩 패키지에 대해서만 개시하였지만, 다양한 형태의 내부 접속 단자를 이용하여 본 발명의 멀티 칩 패키지를 구현할 수 있다. 도 5는 그러한 예로서, 도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. Meanwhile, in the above-described embodiment, only the multi-chip package having an "a" shaped internal connection terminal is disclosed, but the multi-chip package of the present invention can be implemented by using various types of internal connection terminals. 5 is an example, and FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a multi-chip package according to a second embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 멀티 칩 패키지(300)의 기본 구조는 전술한 실시예의 멀티 칩 패키지(200)와 동일하다. 다만, 본 실시예의 멀티 칩 패키지(300)는 반도체 칩 (220, 230, 240)의 하부면에 칩 패드(222, 232, 242)가 형성되며, "ㄴ" 자형의 내부 접속 단자(252)에 의해 반도체 칩들(220, 230, 240)이 연결된 구조를 갖는다. Referring to FIG. 5, the basic structure of the
즉, 본 발명의 제 2 실시예에 따르면, 반도체 칩들(220, 230, 240)은 복수개의 칩 패드들(222, 232, 242)이 하부면의 가장자리 영역을 따라서 형성된 구조를 갖는다. 이는 상부면에 칩 패드들이 형성된 반도체 칩을 상부면이 하부를 향하도록 회전시킨 경우에 구현 가능하다. 이러한 경우, 내부 접속 단자(252)는 반도체 칩(220, 230, 240) 하부면의 각각의 칩 패드(222, 232, 242)로부터 반도체 칩(220, 230, 240)의 측벽을 따라서 연장되어 반도체 칩(220, 230, 240)의 상부면을 향하여 노출된다. 반도체 칩(220, 230, 240)의 상부면을 향하여 노출된 내부 접속 단자(252)의 단부는 수직으로 이웃하는 반도체 칩(220, 230, 240)의 대응하는 위치의 내부 접속 단자(252)와 도금막(254)을 매개로 연결된다. 이러한 내부 접속 단자(252)의 형태는 "ㄴ" 자형으로 이루어진다. That is, according to the second embodiment of the present invention, the
또한, 전술한 실시예들의 "ㄱ 또는 ㄴ" 자형 내부 접속 단자들 이외에도 "ㄷ 또는 S" 자형의 내부 접속 단자를 이용하여 본 발명의 멀티 칩 패키지를 구현할 수 있다. In addition, the multi-chip package of the present invention may be implemented by using an internal connection terminal having a "c or S" shape in addition to the "a or b" shaped internal connection terminals of the above-described embodiments.
한편, 전술한 실시예에서는 크기가 모두 동일한 반도체 칩들을 적층한 멀티 칩 패키지에 대해서만 개시하였지만, 크기가 각기 다른 반도체 칩들을 적층하여 본 발명의 멀티 칩 패키지를 구현할 수 있다. 도 6은 그러한 예로서, 도 6은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 멀티 칩 패키지를 나타내는 단면도이다. Meanwhile, in the above-described embodiment, only the multi-chip package in which semiconductor chips of the same size are stacked is disclosed. However, the multi-chip package of the present invention may be implemented by stacking semiconductor chips having different sizes. 6 is an example, and FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a multichip package according to a third exemplary embodiment of the present invention.
도 6을 참조하면, 멀티 칩 패키지(400)의 기본 구조는 전술한 실시예들의 멀 티 칩 패키지와 동일하다. 다만, 본 실시예의 멀티 칩 패키지(400)는 다양한 형태의 내부 접속 단자(352a, 352b)에 의해 반도체 칩들(320, 330, 340)이 연결된 구조를 갖는다. Referring to FIG. 6, the basic structure of the
즉, 본 발명의 제 3 실시예에 따르면, 반도체 칩들(320, 330, 340)은 각기 다른 크기를 갖는다. 적층 반도체 칩(340)의 크기가 피적층 반도체 칩(330)보다 클 수도 있고, 적층 반도체 칩(330)의 크기가 피적층 반도체 칩(320)의 크기보다 작을 수도 있다. 이러한 경우, "ㄱ, ㄴ, ㄷ 또는 S" 자형 중에 어느 하나의 형태를 갖는 내부 접속 단자(352a, 352b)를 이용하여 반도체 칩들(320, 330, 340)을 연결시킴으로써, 본 발명의 멀티 칩 패키지(400)를 구현할 수 있다. 또한, 하나의 멀티 칩 패키지(400)에 형태가 각기 다른 둘 이상의 내부 접속 단자(352a, 352b)가 이용될 수도 있다. That is, according to the third embodiment of the present invention, the
예컨대, 최하부 반도체 칩(320)에는 "ㄷ" 자형의 내부 접속 단자(352a)를 연결하고, 최하부 반도체 칩(320)에 비하여 작은 크기를 갖는 중간 반도체 칩(330)에는 "S" 자형의 내부 접속 단자(352b)를 연결시킴으로써, 적층 반도체 칩(330)의 크기가 피적층 반도체 칩(320)보다 작은 두 개의 반도체 칩들(320, 330)을 적층시킬 수 있다. 그리고, 중간 반도체 칩(330)에 비하여 큰 크기를 갖는 최상부 반도체 칩(340)에는 "ㄷ" 자형의 내부 접속 단자(352a)를 연결시킴으로써, 적층 반도체 칩(340)의 크기가 피적층 반도체 칩(330)보다 큰 두 개의 반도체 칩들(330, 340)을 적층시킬 수 있다. For example, an
한편, 전술한 실시예들은 세 개의 반도체 칩들이 적층된 구조를 갖는 멀티 칩 패키지를 개시하였지만, 둘 또는 셋 이상의 반도체 칩들을 적층하여 본 발명의 멀티 칩 패키지를 구현할 수 있다. Meanwhile, although the above-described embodiments disclose a multi-chip package having a structure in which three semiconductor chips are stacked, two or more semiconductor chips may be stacked to implement the multi-chip package of the present invention.
따라서, 본 발명의 구조를 따르면, "ㄱ, ㄴ, ㄷ 또는 S" 자형 중에 어느 하나의 형태를 갖는 내부 접속 단자를 이용하여 반도체 칩들을 연결시킴으로써, 어떠한 크기의 반도체 칩에도 용이하게 적용하는 것이 가능하기 때문에, 반도체 칩들의 크기와 무관하게 복수개의 반도체 칩들을 적층하여 멀티 칩 패키지를 구현할 수 있다. Therefore, according to the structure of the present invention, it is possible to easily apply to any size semiconductor chip by connecting the semiconductor chips using the internal connection terminal having any one of the form "a, b, c or S" shape. Therefore, the multi-chip package may be implemented by stacking a plurality of semiconductor chips regardless of the size of the semiconductor chips.
또한, 개별적으로 형성된 내부 접속 단자를 반도체 칩의 칩 패드에 연결시키고, 각각의 반도체 칩들로부터 연장된 내부 접속 단자를 수직으로 이웃하는 내부 접속 단자들에 연결시켜, 복수개의 반도체 칩들을 수직으로 적층시킴으로써, 반도체 칩에 비아 홀을 형성한 다음 반도체 칩들을 적층하는 종래기술에 따른 멀티 칩 패키지의 제조 공정에 비하여 단순한 제조 공정에 따라서 본 발명에 따른 멀티 칩 패키지를 제조할 수 있다. In addition, by connecting the inner connection terminals formed separately to the chip pad of the semiconductor chip, by connecting the inner connection terminals extending from the respective semiconductor chips to the vertical neighboring inner connection terminals, by stacking a plurality of semiconductor chips vertically In addition, the multi-chip package according to the present invention may be manufactured according to a simple manufacturing process as compared with the manufacturing process of the multi-chip package according to the prior art in which a via hole is formed in a semiconductor chip and then the semiconductor chips are stacked.
Claims (5)
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KR1020050106068A KR20070048952A (en) | 2005-11-07 | 2005-11-07 | Multi chip package having interconnectors |
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100886718B1 (en) * | 2007-10-16 | 2009-03-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | Stacked semiconductor package and method of manufacturing the same |
KR100914987B1 (en) * | 2008-12-11 | 2009-09-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | Molded reconfigured wafer and stack package using the same |
US8551815B2 (en) | 2007-08-03 | 2013-10-08 | Tessera, Inc. | Stack packages using reconstituted wafers |
US8680662B2 (en) | 2008-06-16 | 2014-03-25 | Tessera, Inc. | Wafer level edge stacking |
US8970046B2 (en) | 2011-07-18 | 2015-03-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor packages and methods of forming the same |
US8999810B2 (en) | 2006-10-10 | 2015-04-07 | Tessera, Inc. | Method of making a stacked microelectronic package |
US9048234B2 (en) | 2006-10-10 | 2015-06-02 | Tessera, Inc. | Off-chip vias in stacked chips |
US9159705B2 (en) | 2013-07-11 | 2015-10-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor chip connecting semiconductor package |
-
2005
- 2005-11-07 KR KR1020050106068A patent/KR20070048952A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8999810B2 (en) | 2006-10-10 | 2015-04-07 | Tessera, Inc. | Method of making a stacked microelectronic package |
US9048234B2 (en) | 2006-10-10 | 2015-06-02 | Tessera, Inc. | Off-chip vias in stacked chips |
US9378967B2 (en) | 2006-10-10 | 2016-06-28 | Tessera, Inc. | Method of making a stacked microelectronic package |
US9899353B2 (en) | 2006-10-10 | 2018-02-20 | Tessera, Inc. | Off-chip vias in stacked chips |
US8551815B2 (en) | 2007-08-03 | 2013-10-08 | Tessera, Inc. | Stack packages using reconstituted wafers |
KR100886718B1 (en) * | 2007-10-16 | 2009-03-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | Stacked semiconductor package and method of manufacturing the same |
US8680662B2 (en) | 2008-06-16 | 2014-03-25 | Tessera, Inc. | Wafer level edge stacking |
KR100914987B1 (en) * | 2008-12-11 | 2009-09-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | Molded reconfigured wafer and stack package using the same |
US8970046B2 (en) | 2011-07-18 | 2015-03-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor packages and methods of forming the same |
US9281235B2 (en) | 2011-07-18 | 2016-03-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor packages and methods of forming the same |
US9159705B2 (en) | 2013-07-11 | 2015-10-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor chip connecting semiconductor package |
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