KR102339677B1 - optical inspection device - Google Patents

optical inspection device Download PDF

Info

Publication number
KR102339677B1
KR102339677B1 KR1020197009783A KR20197009783A KR102339677B1 KR 102339677 B1 KR102339677 B1 KR 102339677B1 KR 1020197009783 A KR1020197009783 A KR 1020197009783A KR 20197009783 A KR20197009783 A KR 20197009783A KR 102339677 B1 KR102339677 B1 KR 102339677B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
unit
light emitting
light
imaging means
coaxial illumination
Prior art date
Application number
KR1020197009783A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20190082198A (en
Inventor
마코토 요네자와
Original Assignee
브이 테크놀로지 씨오. 엘티디
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 브이 테크놀로지 씨오. 엘티디 filed Critical 브이 테크놀로지 씨오. 엘티디
Publication of KR20190082198A publication Critical patent/KR20190082198A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102339677B1 publication Critical patent/KR102339677B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

결함이 피검사물의 단면의 어느 위치에 있었다고 해도, 1개의 장치 또한 1회의 검사로 결함을 검사할 수가 있는 광학 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명의 광학 검사 장치는, 1차원 촬상 수단(13)을 이용하여 피검사물(G)을 대략 연직 상향으로부터 쵤상할 때에, 1차원 촬상 수단(13)을 포함하는 대략 연직 방향의 면인 중심면(S1) 상에 중심축(ax)이 위치하는 대략 반원통면의 제1 영역(31)과, 제1 영역(31)의 양단에 형성된 대략 반구면 또는 대략 반타원구면의 제2 영역(32) 및 제 3영역(33)에 설치된 복수의 발광부(30)로부터 피검사물(G)에 광을 조사한다. 제1 영역에 있어서는, 중심면(S1)의 근방 이외의 영역에, 피검사물(G)의 반송 방향(F)과 대략 직교하는 방향을 따라 발광부(30a)가 늘어놓여져 있다. 또 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)에 있어서는, 중심면(S1) 상의 위치에 발광부(30a)가 늘어놓여져 있다. It aims at providing the optical inspection apparatus which can test|inspect a defect with one apparatus and one test|inspection even if a defect exists in any position of the cross section of a to-be-inspected object. In the optical inspection apparatus of the present invention, when the inspected object G is viewed from a substantially vertical upward direction using the one-dimensional imaging means 13, the central plane ( A first region 31 having a substantially semi-cylindrical surface on which the central axis ax is located on S1), and a second region 32 having a substantially semi-spherical or semi-elliptical surface formed at both ends of the first region 31 And the light is irradiated to the inspection target object (G) from the plurality of light emitting units (30) provided in the third region (33). In a 1st area|region, the light emitting part 30a is arrange|positioned along the direction substantially orthogonal to the conveyance direction F of the to-be-inspected object G in areas other than the vicinity of the center plane S1. Moreover, in the 2nd area|region 32 and the 3rd area|region 33, the light emitting part 30a is arranged in the position on the center plane S1.

Figure 112019034985991-pct00002
Figure 112019034985991-pct00002

Description

광학 검사 장치optical inspection device

본 발명은 광학 검사 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an optical inspection apparatus.

특허 문헌 1에는, 피검사물에 조사되어 1차원 촬상 수단에 입사되는 광이 각각 정반사광, 확산반사광, 투과광으로 되도록 복수의 조명 장치가 배치되어 있고, 이들의 점등 타이밍을 1차원 촬상 수단의 전송회(回)마다 변경하고, 1차원 촬상 수단으로부터 전송된 화상 데이터를 같은 조명 장치가 점등 한 화상 데이터마다 집적하여 집적 화상 데이터를 작성하는 촬상 광학 검사 장치가 개시되어 있다. In Patent Document 1, a plurality of lighting devices are arranged so that the light irradiated onto the object to be inspected and incident on the one-dimensional imaging means becomes specularly reflected light, diffused reflected light, and transmitted light, respectively, and the timing of their lighting is determined by the transmission time of the one-dimensional imaging means. Disclosed is an imaging optical inspection apparatus that changes for each image and integrates image data transmitted from a one-dimensional imaging means for each image data lit by the same lighting device to create integrated image data.

일본국 특허공개 2012-42297호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2012-42297

특허 문헌 1에 기재의 발명은, 투명한 판형상의 피검사물을 검사하는 것이다. 투명한 판형상의 피검사물로서는, 예를 들면 휴대단말 등에 이용되는 커버 유리를 들 수 있다. 커버 유리는, 대략 직사각형 형상이며, 단면이 연마 가공되어 있다. 이러한 커버 유리 등의 단면 가공에 있어서의 결함(예를 들면, 단면의 이지러짐)을 검사하기 위해서는 모든 단면에 똑같이 광을 비추고, 그 반사광을 촬상 수단에 입사시킬 필요가 있다. The invention described in Patent Document 1 is to inspect a transparent plate-shaped object to be inspected. As a transparent plate-shaped to-be-inspected object, the cover glass used for a portable terminal etc. is mentioned, for example. The cover glass has a substantially rectangular shape, and a cross section is polished. In order to inspect a defect (for example, cracking of a cross section) in cross-section processing of such cover glass or the like, it is necessary to illuminate all the end surfaces equally, and to make the reflected light incident on the imaging means.

특허 문헌 1에 기재의 발명에서는, 1차원 촬상 수단의 광축이 피검사물의 법선에 대해서 45°정도 기울어져 있다. 따라서, 특허 문헌 1에 기재의 발명에서는, 일부의 단면(단면 I로 함)에서 반사한 광은 촬상 수단에 입사하지만, 단면 I 이외의 단면(단면 II로 함)에서 반사한 광은 촬상 수단에 입사하지 않을 우려가 있다. 그리고, 단면 II에 있어서는, 결함을 촬상할 수가 없는, 즉 결함을 검출할 수가 없다고 하는 문제가 있다. In the invention described in Patent Document 1, the optical axis of the one-dimensional imaging means is inclined by about 45° with respect to the normal line of the object to be inspected. Accordingly, in the invention described in Patent Document 1, light reflected from a partial end face (referred to as section I) is incident on the imaging means, but light reflected from an end face other than section I (referred to as section II) is sent to the imaging means There is a risk that you will not be hired. And in the cross section II, there exists a problem that a defect cannot be imaged, ie, a defect cannot be detected.

본 발명은 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 결함이 피검사물의 단면의 어느 위치에 있었다고 해도, 1개의 장치 또한 1회의 검사로 결함을 검사할 수가 있는 광학 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide an optical inspection apparatus capable of inspecting a defect with one device and one inspection even if the defect is located at any position in the cross section of the object to be inspected.

상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명과 관련되는 광학 검사 장치는, 예를 들면, 수평 방향으로 피검사물을 재치하는 재치부와, 상기 재치부에 재치된 피검사물을 반송 방향을 따라 이동시키는 반송부와, 상기 피검사물을 대략 연직 상향으로부터 촬상하는 1차원 촬상 수단으로서, 길이 방향이 상기 반송 방향과 대략 직교하도록 배치된 1차원 촬상 수단과, 상기 피검사물에 광을 조사하는 발광부를 복수 가지는 광조사부를 구비하고, 상기 광조사부는, 상기 1차원 촬상 수단을 포함하는 대략 연직 방향의 면인 중심면의 상에 중심축이 위치하는 대략 반원통면의 제1 영역과, 상기 제1 영역의 양단에 형성된 대략 반구면 또는 대략 반타원구면의 제2 영역 및 제3 영역을 가지고, 상기 제1 영역에 있어서는, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향을 따라 상기 발광부가 늘어놓여진 띠모양 발광부를 복수 가지고, 상기 띠모양 발광부는, 상기 제1 영역에 있어서의 상기 중심면의 근방 이외의 영역에 설치되고, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서는, 상기 중심면의 상에 상기 발광부가 늘어놓여지는 것을 특징으로 한다. In order to solve the above problems, the optical inspection apparatus according to the present invention includes, for example, a mounting unit that mounts an inspection target in a horizontal direction, and a transport unit that moves the inspection target placed on the mounting unit along a conveying direction. and a one-dimensional imaging means for imaging the object to be inspected from substantially vertically upward, the one-dimensional imaging means arranged so that a longitudinal direction is substantially orthogonal to the conveying direction, and a light emitting unit having a plurality of light emitting units for irradiating light to the object The light irradiation unit includes a first region of a substantially semi-cylindrical surface in which a central axis is positioned on a central plane that is a plane in a substantially vertical direction including the one-dimensional imaging means, and formed at both ends of the first region. It has a second region and a third region of a substantially hemispherical surface or a substantially semi-elliptical surface, and in the first region, a plurality of band-shaped light emitting units in which the light emitting units are arranged along a direction substantially orthogonal to the conveying direction; The pattern light emitting part is provided in a region other than the vicinity of the central plane in the first region, and in the second region and the third region, the light emitting part is arranged on the central plane, do.

본 발명과 관련되는 광학 검사 장치에 의하면, 1차원 촬상 수단을 이용하여 피검사물을 대략 연직 상향으로부터 촬상할 때에, 1차원 촬상 수단을 포함하는 대략 연직 방향의 면인 중심면의 상에 중심축이 위치하는 대략 반원통면의 제1 영역과, 제1 영역의 양단에 형성된 대략 반구면 또는 대략 반타원구면의 제2 영역 및 제3 영역에 설치된 복수의 광조사부로부터 피검사물에 광을 조사한다. 제1 영역에 있어서는, 중심면 근방 이외의 영역에, 피검사물의 반송 방향과 대략 직교하는 방향을 따라 발광부가 늘어놓여진다. 이에 의해 피검사물의 선단면 및 후단면에서 반사한 광을 1차원 촬상 수단에 입사시킬 수가 있다. 또, 제2 영역 및 제3 영역에 있어서는, 중심면의 상의 위치에 발광부가 늘어놓여진다. 이에 의해 피검사물의 좌우 단면에서 반사한 광을 1차원 촬상 수단에 입사시킬 수가 있다. 따라서, 결함이 피검사물의 단면의 어느 위치에 있었다고 해도, 1개의 장치 또한 1회의 검사로 결함을 검사할 수가 있다. According to the optical inspection apparatus according to the present invention, when an object to be inspected is imaged from substantially vertically upward using the one-dimensional imaging means, the central axis is positioned on the central plane, which is a plane in the substantially vertical direction including the one-dimensional imaging means. Light is irradiated to the object to be inspected from a plurality of light irradiating units provided in a first region having a substantially semi-cylindrical surface, and a second region and a third region having a substantially hemispherical or substantially semi-elliptical surface formed at both ends of the first region. In a 1st area|region, the light emitting part is arranged in the area|region other than the center plane vicinity along the direction substantially orthogonal to the conveyance direction of a to-be-inspected object. Accordingly, the light reflected from the front end surface and the rear end surface of the object to be inspected can be made incident on the one-dimensional imaging means. Moreover, in the 2nd area|region and 3rd area|region, the light emitting part is arranged in the position on the image of a center plane. Thereby, the light reflected from the left and right end surfaces of the object to be inspected can be made incident on the one-dimensional imaging means. Therefore, even if a defect exists in any position of the cross section of a to-be-inspected object, a defect can be test|inspected by one apparatus and one test|inspection.

여기서, 상기 띠모양 발광부는, 광축과, 상기 중심면과 상기 재치부의 상면의 교선이 교차하도록 설치되고, 상기 띠모양 발광부는, 광축과 상기 중심면과의 이루는 각도가 대략 8°또는 대략 17°인 제1 띠모양 발광부를 가져도 좋다. 이에 의해 펄 안료(pearl pigment)를 이용한 경우 또는 펄 안료를 이용하지 않는 경우에 대해, 인쇄부의 색얼룩 등을 검출 가능한 화상을 촬상할 수가 있다. Here, the band-shaped light emitting unit is provided such that an intersection line between the optical axis and the central plane and the upper surface of the mounting unit intersects, and the band-shaped light emitting unit has an angle between the optical axis and the central plane of about 8° or about 17° You may have a 1st strip|belt-shaped light emitting part which is phosphorus. Thereby, in the case where a pearl pigment is used, or when a pearl pigment is not used, the image which can detect the color unevenness of a printing part etc. can be imaged.

여기서, 일정한 속도로 상기 피검사물을 반송하도록 상기 반송부를 제어하고, 일정한 간격으로 화상을 촬상하도록 상기 1차원 촬상 수단을 구동하고, 또한 상기 1차원 촬상 수단에 의한 촬상에 동기하여, 상기 제1 영역의 상기 중심면에서 구분된 반의 영역인 제1 발광 영역, 상기 제1 영역 중의 상기 제1 발광 영역 이외의 제2 발광 영역, 상기 제2 영역 중의 상기 중심면의 상의 제3 발광 영역, 상기 제3 영역 중의 상기 중심면의 상의 제4 발광 영역, 상기 제1 띠모양 발광부를 제각기 조사시키는 제어부를 구비하여도 좋다. 이에 의해 선단 P면에 있어서의 결함이 빛난 화상, 후단 P면에 있어서의 결함이 빛난 화상, 좌우단 P면에 있어서의 결함이 빛난 화상, 인쇄부의 결함이 다른 인쇄부보다 어두운 화상을, 피검사물을 1회 반송하는 동안에 제각기의 타이밍으로 촬영할 수가 있다. Here, the conveying unit is controlled to convey the object to be inspected at a constant speed, the one-dimensional imaging means is driven to capture images at regular intervals, and in synchronization with the imaging by the one-dimensional imaging means, the first area a first light emitting area that is a half area separated from the center plane of a second light emitting area other than the first light emitting area in the first area, a third light emitting area on the central plane of the second area, the third A control unit may be provided for irradiating the fourth light emitting region and the first band-shaped light emitting portion on the central plane of the region, respectively. As a result, an image in which the defect in the front end P surface shines, an image in which the defect in the rear end P surface shines, an image in which the defect in the left and right ends P surface shines, and an image in which the defect in the printed part is darker than in other print parts, are obtained as the inspected object. You can take pictures at different timings during one transfer.

여기서, 상기 광조사부는, 상기 띠모양 발광부와, 상기 중심면과 상기 재치부의 상면과의 교선과의 사이에 배치된 원통 렌즈(cylindrical lens)를 가져도 좋다. 이에 의해 띠모양 발광부로부터 조사된 광을 집광하고, 1차원 촬상 수단의 촬상 주파수를 높게(촬상 시간을 짧게) 할 수가 있다. Here, the light irradiation unit may include a cylindrical lens disposed between the band-shaped light emitting unit and an intersection between the central plane and the upper surface of the mounting unit. Thereby, the light irradiated from the strip|belt-shaped light emitting part can be condensed, and the imaging frequency of a one-dimensional imaging means can be made high (imaging time shortened).

여기서, 상기 재치부의 상측 또는 하측에 설치되는 제1 촬상 수단과, 광축이 상기 제1 촬상 수단의 광축과 일치하도록, 상기 제1 촬상 수단과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 촬상 수단과, 상기 피검사물에 법선 방향으로부터 평행광을 조사하는 제1 동축 조명으로서, 상기 제1 촬상 수단의 동축 조명인 제1 동축 조명과, 상기 제1 동축 조명과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 동축 조명으로서, 상기 제2 촬상 수단의 동축 조명인 제2 동축 조명을 구비하고, 상기 제1 촬상 수단에는, 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광이 입사하고, 상기 제2 촬상 수단에는, 상기 제2 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광, 및 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물을 투과한 광이 입사해도 좋다. 이에 의해 피검사물의 불투명한 부분의 결함(예를 들면 인쇄 부분의 흠집, 인쇄 가장자리(edge)의 이지러짐 등)을 검출 가능한 투과 화상, 피검사물의 표면이나 이면의 흠집이나 이물질 등을 검출 가능한 정반사 화상을 촬상할 수가 있다. Here, a first imaging unit provided above or below the mounting unit, and a second imaging unit provided on the opposite side with the first imaging unit and the mounting unit interposed therebetween so that the optical axis coincides with the optical axis of the first imaging unit; , a first coaxial illumination for irradiating parallel light from a normal direction to the object to be inspected, a first coaxial illumination that is a coaxial illumination of the first imaging means, and a first coaxial illumination provided on the opposite side with the first coaxial illumination and the mounting unit interposed therebetween 2 coaxial illumination comprising a second coaxial illumination that is coaxial illumination of the second imaging means, wherein light irradiated from the first coaxial illumination and specularly reflected from the inspected object is incident on the first imaging unit, and A light irradiated from the second coaxial illumination and specularly reflected by the inspected object, and a light irradiated from the first coaxial illumination and transmitted through the inspected object may enter the second imaging means. Through this, a transmitted image capable of detecting defects in opaque parts of the inspection object (for example, scratches on the printed part, chipping of the printing edge, etc.) Images can be captured.

여기서, 일정한 속도로 상기 피검사물을 반송하도록 상기 반송부를 제어하고, 상기 제1 동축 조명을 제1의 강도로 조사하는 제1 형태, 상기 제2 동축 조명을 상기 제1의 강도로 조사하는 제2 형태, 상기 제1 동축 조명을 제2의 강도로 조사하는 제3 형태의 3개의 조사 패턴으로 상기 제1 동축 조명 또는 상기 제2 동축 조명을 조사시키고, 또한 상기 제1 형태의 조사에 맞추어 상기 제1 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제2 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제3 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하도록, 상기 제1 촬상 수단 및 상기 제2 촬상 수단을 구동하는 제2 제어부를 구비하여도 좋다. 이에 의해 피검사물을 1회 반송하는 동안에 제각기의 타이밍으로 투과 화상, 정반사 화상을 촬영할 수가 있다. Here, a first mode in which the transport unit is controlled to transport the object to be inspected at a constant speed, and irradiating the first coaxial illumination with a first intensity, and a second mode for irradiating the second coaxial illumination with the first intensity form, irradiating the first coaxial illumination or the second coaxial illumination with three irradiation patterns of a third type for irradiating the first coaxial illumination with a second intensity, and further, according to the irradiation of the first type 1 so that an image is acquired by an imaging means, an image is acquired by a said 2nd imaging means in accordance with irradiation of said 2nd form, and an image is acquired by said 2nd imaging means in accordance with irradiation of said 3rd form, An imaging unit and a second control unit for driving the second imaging unit may be provided. Thereby, a transmission image and a specular reflection image can be image|photographed at respective timings while the to-be-inspected object is conveyed once.

여기서, 광축이 상기 1차원 촬상 수단의 광축과 일치하도록, 상기 1차원 촬상 수단과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 촬상 수단과, 상기 피검사물에 법선 방향으로부터 평행광을 조사하는 제1 동축 조명으로서, 상기 1차원 촬상 수단의 동축 조명인 제1 동축 조명과, 상기 제1 동축 조명과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 동축 조명으로서, 상기 제2 촬상 수단의 동축 조명인 제2 동축 조명을 구비하고, 상기 광조사부는, 상기 1차원 촬상 수단과 상기 반송부의 사이에 설치되고, 상기 1차원 촬상 수단에는, 상기 광조사부 또는 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광이 입사하고, 상기 제2 촬상 수단에는, 상기 제2 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광, 및 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물을 투과한 광이 입사해도 좋다. 이에 의해 피검사물의 불투명한 부분의 결함을 검출 가능한 투과 화상, 피검사물의 표면이나 이면의 흠집이나 이물질 등을 검출 가능한 정반사 화상을 보다 적은 촬상 수단으로 촬상할 수가 있다. Here, the second imaging means provided on the opposite side with the one-dimensional imaging means and the mounting unit interposed therebetween so that the optical axis coincides with the optical axis of the one-dimensional imaging means; A first coaxial illumination that is coaxial illumination of the one-dimensional imaging means and a second coaxial illumination provided on the opposite side with the first coaxial illumination and the mounting unit interposed therebetween, the first coaxial illumination being coaxial illumination of the second imaging unit 2 coaxial illumination is provided, wherein the light irradiation unit is provided between the one-dimensional imaging unit and the transport unit, and the one-dimensional imaging unit is irradiated from the light irradiation unit or the first coaxial illumination unit, and in the object to be inspected The specularly reflected light is incident on the second imaging means, and the light that is irradiated from the second coaxial illumination, is specularly reflected from the inspected object, and is irradiated from the first coaxial illumination and transmitted through the inspected object. good to do Thereby, a transmission image capable of detecting defects in an opaque portion of an object to be inspected, and a specular reflection image capable of detecting scratches or foreign substances on the surface or back surface of the object to be inspected, can be captured by fewer imaging means.

여기서, 일정한 속도로 상기 피검사물을 반송하도록 상기 반송부를 제어하고, 상기 제1 동축 조명을 제1의 강도로 조사하는 제1 형태, 상기 제2 동축 조명을 상기 제1의 강도로 조사하는 제2 형태, 상기 제1 동축 조명을 제2의 강도로 조사하는 제3 형태의 3개의 조사 패턴으로 상기 제1 동축 조명 또는 상기 제2 동축 조명을 조사시키고, 또한 상기 제1 형태의 조사에 맞추어 상기 1차원 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제2 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제3 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하도록, 상기 1차원 촬상 수단 및 상기 제2 촬상 수단을 구동하는 제3 제어부를 구비하여도 좋다. 이에 의해 피검사물을 1회 반송하는 동안에 제각기의 타이밍으로 투과 화상, 정반사 화상을 촬영할 수가 있다. Here, a first mode in which the transport unit is controlled to transport the object to be inspected at a constant speed, and irradiating the first coaxial illumination with a first intensity, and a second mode for irradiating the second coaxial illumination with the first intensity form, irradiating the first coaxial illumination or the second coaxial illumination with three irradiation patterns of a third type of irradiating the first coaxial illumination with a second intensity, and also irradiating the 1 the one-dimensional image is acquired by a dimensional imaging means, an image is acquired by the second imaging means in accordance with the irradiation of the second form, and an image is acquired by the second imaging means in accordance with the irradiation of the third mode; An imaging unit and a third control unit for driving the second imaging unit may be provided. Thereby, a transmission image and a specular reflection image can be image|photographed at respective timings while the to-be-inspected object is conveyed once.

여기서, 상기 광조사부는, 상기 발광부에 인접하여 설치되고, 상기 발광부로부터 조사된 광을 확산하는 광확산판을 가져도 좋다. 이에 의해 복수의 발광부로부터 조사된 광을 광확산판으로 가늘고 긴 면광원으로 하고, 피검사물에 발광부의 점형상의 광이 비쳐 버리는 부적합함을 방지할 수가 있다. Here, the light irradiation part may have a light diffusion plate which is provided adjacent to the light emitting part and diffuses the light irradiated from the light emitting part. Thereby, the light irradiated from the plurality of light emitting units is used as an elongated surface light source by the light diffusion plate, and it is possible to prevent inappropriateness in which the dotted light of the light emitting unit is reflected on the object to be inspected.

여기서, 상기 1차원 촬상 수단의 초점거리를 조정하는 초점거리 조정용 광학 소자와, 상기 재치부에 인접하여 설치된 반사경을 구비하고, 상기 초점거리 조정용 광학 소자 및 상기 반사경은, 상기 중심면의 상에 설치되고, 평면시(平面視)에 있어서, 상기 1차원 촬상 수단의 연직 방향 하측에, 상기 피검사물이 재치되는 상기 재치부 상의 영역인 재치 영역이 위치하고, 평면시에 있어서, 상기 반사경은, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향에 있어서, 상기 재치 영역의 외측 또한 상기 재치 영역에 인접하는 위치에 설치되고, 상기 반사경의 반사면은 대략 평면이며, 상기 반사면은, 상기 중심면과 교차하는 선이 수평면에 대해서 경사지도록, 상기 반송 방향으로 대략 따라 연설(延設)되고, 상기 초점거리 조정용 광학 소자는, 상기 1차원 촬상 수단과 상기 반사경을 묶는 선과 겹치도록 배치되어도 좋다. 이에 의해 측면에 부분적인 원통 형상 또는 타원통 형상을 가지는 커버 유리라도, 1회의 검사로 측면의 결함에 대해서도 검사할 수가 있다. 즉, 피검사물의 측면의 상을 반사경에서 반사하여 1차원 촬상 수단에 유도하고, 요컨데 초점거리 조정용 광학 소자로 1차원 촬상 수단의 초점거리를 늘임으로써, 피검사물의 평면보다 하측에 있는 측면에 초점을 맞출 수가 있다. Here, an optical element for adjusting a focal length for adjusting the focal length of the one-dimensional imaging means and a reflecting mirror provided adjacent to the mounting unit are provided, wherein the optical element for adjusting the focal length and the reflecting mirror are installed on the central plane In a plan view, a placement area, which is an area on the placement unit on which the inspection object is placed, is located below the one-dimensional imaging means in the vertical direction, and in a plan view, the reflector is In a direction substantially orthogonal to the direction, it is provided outside the mounting area and at a position adjacent to the mounting area, the reflecting surface of the reflecting mirror is substantially flat, and the reflecting surface is a horizontal plane where a line intersecting the central plane is a horizontal plane. The optical element for focal length adjustment may be arranged so as to overlap a line joining the one-dimensional imaging means and the reflecting mirror, while extending substantially along the conveying direction so as to be inclined with respect to the . Thereby, even if it is a cover glass which has a partial cylindrical shape or an elliptical-cylindrical shape on a side surface, it can test|inspect also about a defect on a side surface by one test|inspection. That is, by reflecting the image of the side of the object to be inspected by the reflector and guiding it to the one-dimensional imaging means, in other words, by increasing the focal length of the one-dimensional imaging means with the optical element for focal length adjustment, focus on the side below the plane of the object to be inspected can match

여기서, 상기 초점거리 조정용 광학 소자는, 유리판이고, 판두께 방향과 대략 직교하는 양단면이 수평으로 되도록 설치되어도 좋다. 이에 의해 초점거리 조정용 광학 소자에 입사하는 과정, 및 광이 초점거리 조정용 광학 소자로부터 출사하는 과정에서 광이 굴절하고, 1차원 촬상 수단의 초점 위치를 늘일 수가 있다. Here, the said optical element for focal length adjustment is a glass plate, and you may provide so that both end surfaces substantially orthogonal to a plate|board thickness direction may become horizontal. Thereby, light is refracted in the process of entering the optical element for focal length adjustment and the process of light exiting from the optical element for focal length adjustment, and the focal position of the one-dimensional imaging means can be extended.

여기서, 상기 1차원 촬상 수단을 상하 방향으로 이동시키는 이동부와, 상기 피검사물의 높이를 취득하는 높이 취득부와, 상기 높이 취득부가 취득한 정보에 기초하여 상기 이동부를 제어하여, 상기 1차원 촬상 수단의 하를 통과하는 상기 피검사물의 높이 변화에 맞추어 상기 1차원 촬상 수단을 상하 방향으로 이동시키는 이동 제어부를 구비하여도 좋다. 이에 의해 피검사물의 높이가 변화하는 경우라도, 초점이 맞은 뚜렷한 상을 1차원 촬상 수단으로 촬상할 수가 있다. Here, a moving unit for moving the one-dimensional imaging means in an up-down direction, a height acquiring unit for acquiring the height of the object to be inspected, and controlling the moving part based on the information acquired by the height acquiring unit, the one-dimensional imaging means A movement control unit may be provided for moving the one-dimensional imaging means in an up-down direction in accordance with a change in height of the object to be inspected passing through. Accordingly, even when the height of the object to be inspected changes, a clear image in focus can be captured by the one-dimensional imaging means.

여기서, 상기 높이 취득부는, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향으로 광을 조사하는 면광원과, 상기 면광원으로부터 조사되고, 상기 피검사물을 통과한 광이 입사하는 측면 촬상 수단을 가져도 좋다. 이에 의해 피검사물에 의해 광이 차단된 부분은 어둡고, 그 외의 부분은 밝은 그림자 그림과 같은 화상을 측면 촬상 수단으로 촬상함으로써, 피검사물의 높이를 정확하게 취득할 수가 있다. Here, the said height acquisition part may have a surface light source which irradiates light in the direction substantially orthogonal to the said conveyance direction, and the side image pickup means which irradiates from the said surface light source, and which the light which passed through the said object is incident. Accordingly, the height of the inspected object can be accurately acquired by capturing an image such as a dark shadow picture in the portion blocked by the inspected object and light in the other portions by the side imaging means.

여기서, 상기 광조사부는, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서, 상기 발광부가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록과, 상기 발광부로부터 조사된 광이 통과하는 제2 원통 렌즈를 가지고, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서는, 상기 발광 블록의 연설(延設) 방향은 수평 방향에 대해서 기울어져 있고, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서는, 상기 발광 블록의 연설 방향에 대해서, 상기 제2 원통 렌즈의 연설 방향이 기울어져 있어도 좋다. 이에 의해 제2 영역 및 제3 영역으로부터 조사된 광의 초점을 피검사물에 맞출 수가 있다. 또, 제2 영역, 제3 영역이 제1 영역을 보충하도록 하여, 제1 영역의 띠모양 발광부가 가지는 발광부의 수를 줄일 수가 있다. Here, the light irradiation unit includes, in the second region and the third region, a light emitting block in which the light emitting units are arranged in a line, and a second cylindrical lens through which the light irradiated from the light emitting unit passes, In the region and the third region, the extension direction of the light emitting block is inclined with respect to the horizontal direction, and in the second region and the third region, with respect to the extension direction of the light emitting block, the The extension direction of the second cylindrical lens may be inclined. Thereby, the focus of the light irradiated from the 2nd area|region and the 3rd area|region can be adjusted to the object to be inspected. In addition, since the second region and the third region supplement the first region, the number of light emitting units included in the band-shaped light emitting unit of the first region can be reduced.

여기서, 상기 광조사부는, 열전도성이 높은 재료로 형성된 방열 부재를 가지고, 상기 발광부는, 상기 방열 부재에 설치되어도 좋다. 이에 의해 발광부로부터 발생한 열을 효율적으로 방열할 수가 있다. Here, the light irradiation part may have a heat dissipation member formed of a material with high thermal conductivity, and the light emitting part may be provided in the heat dissipation member. Thereby, the heat generated from the light emitting part can be efficiently dissipated.

여기서, 상기 방열 부재에 송풍하는 송풍부를 구비하고, 상기 방열 부재는, 상기 발광부가 설치된 플레이트를 복수 가지고, 상기 플레이트는, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향으로 연설되어 있고, 상기 송풍부는, 상기 플레이트의 연설 방향을 따른 방향의 바람을 보내어도 좋다. 이에 의해 방열 부재에 의한 냉각 효과를 향상시킬 수가 있다. Here, the heat dissipating member is provided with a blower for blowing air, the heat dissipating member has a plurality of plates provided with the light emitting section, the plates extending in a direction substantially orthogonal to the conveying direction, and the blowing section includes the plate You may send the wind in a direction along the direction of the speech. Thereby, the cooling effect by a heat radiating member can be improved.

여기서, 상기 제2 촬상 수단은, 상기 재치부의 하측에 설치되고, 상기 제2 촬상 수단의 상측에는, 원편광 필터가 설치되고, 상기 원편광 필터는, 두께 방향과 대략 직교하는 방향의 평면이, 상기 제2 촬상 수단의 광축과 대략 직교하는 방향에 대해서 조금 경사하지록 설치되어 있어도 좋다. 이에 의해 재치부의 하측에 설치된 제2 촬상 수단의 촬상 렌즈 표면에서 반사한 광이, 재치부의 상측에 설치된 카메라에 입사하고, 이 카메라로 촬상된 화상에 밝은 광의 선이 포함되지 않게 할 수가 있다. Here, the second imaging means is provided below the mounting unit, and above the second imaging means, a circularly polarizing filter is provided, the circularly polarizing filter having a plane in a direction substantially perpendicular to the thickness direction, It may be provided so that it may incline slightly with respect to the direction substantially orthogonal to the optical axis of the said 2nd imaging means. Thereby, the light reflected by the imaging lens surface of the 2nd imaging means provided below the mounting part enters the camera provided above the mounting part, and it can prevent the bright light line from being included in the image picked up by this camera.

본 발명에 의하면, 결함이 피검사물의 단면의 어느 위치에 있었다고 해도, 1개의 장치 또한 1회의 검사로 결함을 검사할 수가 있다. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, even if a defect exists in any position of the cross section of a to-be-inspected object, a defect can be test|inspected by one apparatus and one test|inspection.

도 1은 제1의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(1)의 개략을 나타내는 정면도이다.
도 2는 입체 조명부(30)의 상세를 나타내는 도이다.
도 3은 띠모양 발광부(31a)의 상세를 나타내는 모식도이다.
도 4는 제1 영역(31)을 포함하도록 광학 검사 장치(1)를 xz평면과 평행한 면으로 절단했을 때에 있어서의 광학 검사 장치(1)의 단면을 모식적으로 나타내는 도이다.
도 5는 입체 조명부(30)의 평면 모식도이다.
도 6은 띠모양 발광부(32a)의 상세를 나타내는 모식도이다.
도 7은 광학 검사 장치(1)의 전기적인 구성을 나타내는 블록도이다.
도 8은 출력부(73)와 광학 검사 장치(1)의 각 구성과의 전기적인 접속을 설명하는 블록도이다.
도 9는 출력부(73)로부터 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 동축 조명부(20)로 출력되는 신호에 대해 설명하는 도이다.
도 10은 도 9에 나타내는 처리에 있어서의 타이밍 차트(timing chart)이다.
도 11은 출력부(73)로부터 제3 카메라(13) 및 입체 조명부(30)로 출력되는 신호에 대해 설명하는 도이다.
도 12는 도 11에 나타내는 신호 출력과 입체 조명부(30)에서 촬상되는 화상에 포함되는 결함과의 대응을 나타내는 도이다.
도 13은 커버 유리 G의 단면에 있어서의 광의 모습을 나타내는 도이고 광의 경로를 2점 쇄선으로 나타낸다.
도 14는 도 11에 나타내는 처리에 있어서의 타이밍 차트이다.
도 15는 커버 유리 G의 투과 화상의 일례이다.
도 16은 커버 유리 G의 정반사 화상의 일례이다.
도 17은 커버 유리 G의 선단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 화상(부분 확대도)의 일례이다.
도 18은 커버 유리 G의 인쇄부의 결함이 다른 인쇄부보다 어두운 화상(부분 확대도)의 일례이다.
도 19는 변형예와 관련되는 발광 블록(30b-1)을 모식적으로 나타내는 도이고, (A)는 측면도이며, (B)는 (A)에 나타내는 상태를 도에 있어서의 하방향으로부터 본 도이다.
도 20은 제2의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(2)의 개략을 나타내는 정면도이다.
도 21은 촬상 처리의 차례와 제1 카메라(11), 제2 카메라(12)에서 촬상되는 화상과의 대응을 나타내는 도이다.
도 22는 제3의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(3)의 개략을 나타내는 정면도이다.
도 23은 광학 검사 장치(3)의 일부를 확대 표시한 사시도이다.
도 24는 광학 검사 장치(3)를 중심면 S1로 절단한 상태에 있어서의 개략 구성을 나타내는 도이다.
도 25는 커버 유리 G1의 위치와 제3 카메라(13)에서 촬상되는 화상과의 관계를 나타내는 도이고, (A)는 커버 유리 G1의 측면 부분의 확대도이며, (B)는 제3 카메라(13)에서 촬상되는 화상의 일부를 나타낸다.
도 26은 커버 유리 G1의 높이를 측정하는 모습을 모식적으로 나타내는 도이고, 반송 방향 F와 대략 직교하는 방향으로부터 본 도이다.
도 27은 커버 유리 G1의 높이를 측정하는 모습을 모식적으로 나타내는 도이고, 반송 방향 F를 따라 본 도이다.
도 28은 제3의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치가 구비하는 입체 조명부(30A)의 개략을 나타내는 사시도이다.
도 29는 띠모양 발광부(31a-1)의 상세를 나타내는 모식도이다.
도 30은 띠모양 발광부(32a-1)의 상세를 나타내는 모식도이다.
도 31은 입체 조명부(30A)로부터 조사되는 광의 경로에 대해 설명하는 도이다.
도 32는 제5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)의 개략을 나타내는 정면도이다.
1 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment.
2 is a diagram showing the details of the three-dimensional lighting unit 30 .
3 is a schematic diagram showing the details of the band-shaped light emitting part 31a.
4 : is a figure which shows typically the cross section of the optical inspection apparatus 1 when the optical inspection apparatus 1 is cut|disconnected by the plane parallel to the xz plane so that the 1st area|region 31 may be included.
5 is a schematic plan view of the three-dimensional lighting unit 30 .
6 is a schematic diagram showing the details of the strip-shaped light emitting part 32a.
7 is a block diagram showing an electrical configuration of the optical inspection apparatus 1 .
8 is a block diagram for explaining the electrical connection between the output unit 73 and each configuration of the optical inspection device 1 .
9 is a diagram for explaining signals output from the output unit 73 to the first camera 11 , the second camera 12 , and the coaxial lighting unit 20 .
Fig. 10 is a timing chart in the process shown in Fig. 9;
11 is a diagram for explaining signals output from the output unit 73 to the third camera 13 and the stereoscopic illumination unit 30 .
12 is a diagram showing correspondence between the signal output shown in FIG. 11 and a defect included in an image captured by the stereoscopic illumination unit 30 .
13 : is a figure which shows the mode of the light in the cross section of cover glass G, and shows the path|route of light by the dashed-dotted line.
Fig. 14 is a timing chart in the process shown in Fig. 11;
15 : is an example of the transmission image of the cover glass G. FIG.
16 : is an example of the specular reflection image of the cover glass G. FIG.
17 : is an example of the image (partially enlarged view) in which the defect in P inner surface of the front-end|tip of cover glass G shined.
18 : is an example of the image (partially enlarged view) in which the defect of the printing part of cover glass G is darker than other printing parts.
Fig. 19 is a view schematically showing a light emitting block 30b-1 according to a modification, (A) is a side view, (B) is a view of the state shown in (A), viewed from below in the figure to be.
20 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 2 which concerns on 2nd Embodiment.
21 : is a figure which shows the correspondence between the order of imaging processing, and the image imaged by the 1st camera 11 and the 2nd camera 12. FIG.
22 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 3 which concerns on 3rd Embodiment.
23 is an enlarged perspective view of a part of the optical inspection device 3 .
24 : is a figure which shows schematic structure in the state which cut|disconnected the optical inspection apparatus 3 by center plane S1.
25 : is a figure which shows the relationship between the position of cover glass G1, and the image imaged by the 3rd camera 13, (A) is an enlarged view of the side part of cover glass G1, (B) is 3rd camera ( A part of the image captured in 13) is shown.
It is a figure which shows typically a mode that measures the height of cover glass G1, and is the figure seen from the direction substantially orthogonal to conveyance direction F.
It is a figure which shows typically a mode that measures the height of cover glass G1, and is the figure which looked along the conveyance direction F.
Fig. 28 is a perspective view schematically showing a stereoscopic illumination unit 30A included in the optical inspection apparatus according to the third embodiment.
29 is a schematic diagram showing details of the strip-shaped light emitting part 31a-1.
30 is a schematic diagram showing the details of the strip-shaped light emitting part 32a-1.
Fig. 31 is a diagram for explaining the path of light emitted from the three-dimensional lighting unit 30A.
32 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 5 which concerns on 5th Embodiment.

이하, 본 발명의 실시 형태를 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면에 있어, 동일한 요소에는 동일한 부호가 붙어져 있고 중복된 부분에 대해서는 설명을 생략한다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described in detail with reference to drawings. In each drawing, the same reference numerals are attached to the same elements, and descriptions of overlapping parts are omitted.

본 발명은, 피검사물인 휴대단말 등의 커버 유리 G를 검사하는 광학 검사 장치이다. 광학 검사 장치로 촬상된 화상에 기초하여, 커버 유리 G의 단면이나 표면, 이면에 있어서의 흠집, 연마 얼룩짐 등의 결함이나, 커버 유리 G에 인쇄된 부분의 인쇄 얼룩짐, 이지러짐 등의 결함이 검사 가능하다. 또한, 본 실시의 형태에 있어서는, 광학 검사 장치가 휴대단말 등의 커버 유리 G를 검사하는 형태를 예시하지만, 광학 검사 장치가 검사하는 피검사물은 커버 유리에 한정되지 않는다. This invention is an optical inspection apparatus which test|inspects cover glass G, such as a portable terminal which is a to-be-inspected object. Defects such as scratches and polishing irregularities on the end face, surface, and back surface of the cover glass G, and defects such as print irregularities and cracks in the portion printed on the cover glass G are inspected based on the image captured by the optical inspection device It is possible. In addition, in this embodiment, although the form which an optical inspection apparatus test|inspects cover glass G, such as a portable terminal, is illustrated, the to-be-inspected object which an optical inspection apparatus test|inspects is not limited to a cover glass.

커버 유리 G는, 사방이 곡면으로 되도록 연마되어 있다. 또, 커버 유리 G의 이면에는, 부분적으로 인쇄가 되어 있다. 이하, 둘레면의 원호 형상의 연마면을 폴리쉬(polish)면(이하, P면)이라고 한다. 또, 커버 유리 G의 인쇄 부분에는, 단색의 유기 도료를 도포하는 단색 인쇄나, 베이스 칼라(base color)로 되는 단색 안료를 도포하고, 반투명의 입자를 투명한 이산화 티타늄 등으로 덮은 펄 안료(pearl pigment)를 포함하는 투명층을 겹쳐서 도포하는 펄(pearl) 도장이 행해지고 있다. The cover glass G is grind|polished so that all sides may become a curved surface. Moreover, on the back surface of the cover glass G, printing is carried out partially. Hereinafter, the circular arc-shaped polished surface of the circumferential surface is referred to as a polish surface (hereinafter, P surface). In addition, to the printed part of the cover glass G, monochromatic printing in which a monochromatic organic paint is applied, or a monochromatic pigment serving as a base color is applied, and translucent particles are covered with transparent titanium dioxide or the like, pearl pigment ), a transparent layer containing a layered coating of pearl (pearl) coating is performed.

<제1의 실시의 형태> <First embodiment>

도 1은 제1의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(1)의 개략을 나타내는 정면도이다. 광학 검사 장치(1)는, 주로 촬상부(10)와, 동축 조명부(20)와, 입체 조명부(30)와, 재치부(40)와, 반송부(50)(도 8 참조)를 가진다. 1 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 1 which concerns on 1st Embodiment. The optical inspection apparatus 1 mainly has the imaging part 10, the coaxial illumination part 20, the stereoscopic illumination part 30, the mounting part 40, and the conveyance part 50 (refer FIG. 8).

재치부(40)는, 복수의 롤러(roller)(40a)를 가지고, 상측에는 커버 유리 G가 재치된다. 반송부(50)는, 재치부(40)에 설치된 커버 유리 G를 반송 방향 F(여기에서는, x방향)로 이동시키는 것이고, 예를 들면 롤러(40a)를 회전시키는 액츄에이터(actuator)(도시하지 않음) 등을 가진다. 재치부(40) 및 반송부(50)는 이미 공지이기 때문에 설명을 생략한다. The mounting unit 40 has a plurality of rollers 40a, and a cover glass G is mounted on the upper side. The conveyance part 50 moves the cover glass G provided in the mounting part 40 to the conveyance direction F (here, x direction), For example, the actuator which rotates the roller 40a (not shown) not), etc. Since the mounting unit 40 and the conveying unit 50 are already known, their description is omitted.

촬상부(10)는, 주로 제1 카메라(11)와, 제2 카메라(12)와, 제3 카메라(13)(본 실시의 형태에 있어서는, 각각 본 발명의 제1 촬상 수단과, 제2 촬상 수단과, 1차원 촬상 수단에 상당)를 가진다. 제1 카메라(11), 제2 카메라(12), 제3 카메라(13)는, 주로 촬상 렌즈(11a, 12a, 13a)와, 라인 CCD, CMOS 등의 라인 센서(11b, 12b, 13b)를 가진다. 라인 센서(11b, 12b, 13b)는, 길이 방향이 커버 유리 G의 반송 방향 F와 대략 직교하도록(즉, y방향을 따라) 배치된다. 촬상부(10)는 이미 공지이기 때문에 설명을 생략한다. The imaging part 10 mainly consists of the 1st camera 11, the 2nd camera 12, and the 3rd camera 13 (in this embodiment, the 1st imaging means of this invention, respectively, and the 2nd imaging means and equivalent to one-dimensional imaging means). The first camera 11 , the second camera 12 , and the third camera 13 mainly include imaging lenses 11a , 12a , 13a and line sensors 11b , 12b , 13b such as line CCD and CMOS. have The line sensors 11b, 12b, 13b are arrange|positioned so that a longitudinal direction may be substantially orthogonal to the conveyance direction F of the cover glass G (that is, along the y direction). Since the imaging unit 10 is already known, its description is omitted.

제1 카메라(11)는, 재치부(40)의 상측(+z측)에 설치되고, 커버 유리 G를 대략 연직 상향(+z방향)으로부터 촬상한다. 제2 카메라(12)는, 제1 카메라(11)와 재치부(40)를 사이에 두고 반대측(재치부(40)의 하측(-z측))에 설치되고, 커버 유리 G를 대략 연직 하향(-z방향)으로부터 촬상한다. 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)는, 광축 oax가 일치하도록 설치된다. The 1st camera 11 is provided in the upper side (+z side) of the mounting part 40, and images cover glass G from substantially vertical upward (+z direction). The 2nd camera 12 is provided in the opposite side (lower side (-z side) of the mounting part 40) across the 1st camera 11 and the mounting part 40, and covers glass G substantially vertically downward. The image is taken from (-z direction). The first camera 11 and the second camera 12 are installed so that the optical axis oax coincides.

제3 카메라(13)는, 재치부(40)의 상측(+z측)에 설치되고, 커버 유리 G를 대략 연직 상향으로부터 촬상한다. 또, 제3 카메라(13)는, 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)와 수평 방향에 있어서의 위치(xy평면과 평행한 면에 있어서의 위치)가 다르도록 배치된다. The 3rd camera 13 is provided in the upper side (+z side) of the mounting part 40, and images cover glass G from substantially vertical upward. Moreover, the 3rd camera 13 is arrange|positioned so that the position (position in the plane parallel to the xy plane) in a horizontal direction differs from the 1st camera 11 and the 2nd camera 12.

동축 조명부(20)는, 제1 카메라(11)의 동축 조명인 상측 동축 조명(21)과, 제2 카메라(12)의 동축 조명인 하측 동축 조명(22)을 가진다. 상측 동축 조명(21) 및 하측 동축 조명(22)은, 이른바 쾰러 조명(Kohler illumination)이며, 커버 유리 G에 법선 방향(z방향)으로부터 평행광을 조사한다. 상측 동축 조명(21) 및 하측 동축 조명(22)은, 광축 oax가 일치하도록, 재치부(40)를 사이에 두고 반대측(상측 동축 조명(21)은 재치부(40)의 +z측, 하측 동축 조명(22)은 재치부(40)의 -z측)에 설치된다. The coaxial illumination unit 20 includes an upper coaxial illumination 21 that is coaxial illumination of the first camera 11 and a lower coaxial illumination 22 that is a coaxial illumination of the second camera 12 . The upper coaxial illumination 21 and the lower coaxial illumination 22 are so-called Kohler illumination, and irradiate the cover glass G with parallel light from the normal line direction (z direction). The upper coaxial illumination 21 and the lower coaxial illumination 22 are opposite sides with the mounting unit 40 interposed therebetween so that the optical axis oax coincides (the upper coaxial illumination 21 is the +z side, the lower side of the mounting unit 40) The coaxial illumination 22 is installed on the -z side of the mounting unit 40).

상측 동축 조명(21) 및 하측 동축 조명(22)의 구성에 대해 설명한다. 상측 동축 조명(21) 및 하측 동축 조명(22)은, 각각 광원(21a, 22a)과, 조도 분포를 균일화하는 유리제의 인테그레이터(integrator)(21b, 22b)와, 집광 렌즈(21c, 22c)와, 집광 렌즈(21c, 22c)의 초점과 대략 일치하는 위치에 설치되는 조리개(21d, 22d)와, 광을 평행광으로 변환하는 콜리메이터 렌즈(collimator lens)(21e, 22e)와, 광로를 구부리는 미러(mirror)(21f, 22f)와, 평행 직선 모양의 홈(groove)을 가지고, 광을 직선 상에 집광시키는 프레스넬 렌즈(Fresnel lens)(21g, 22g)와, 광로를 구부리는 하프미러(half mirror)(21h, 22h)를 가진다. The configuration of the upper coaxial illumination 21 and the lower coaxial illumination 22 will be described. The upper coaxial illumination 21 and the lower coaxial illumination 22 include light sources 21a and 22a, glass integrators 21b and 22b for uniform illuminance distribution, and condensing lenses 21c and 22c, respectively. ), diaphragms 21d and 22d installed at positions approximately coincident with the focal points of the condensing lenses 21c and 22c, collimator lenses 21e and 22e for converting light into parallel light, and an optical path A bending mirror 21f, 22f, a Fresnel lens 21g, 22g having parallel straight grooves and condensing light on a straight line, and a harp bending an optical path It has half mirrors 21h and 22h.

광원(21a, 22a)은, 알루미늄 등의 금속판에 발광 부재가 면실장되어 있다. 금속판의 배면에는, 방열판(히트 싱크(heat sink))이 설치되어 있다. 발광 부재는, 백색(예를 들면, 색온도가 5700K)의 LED이며, 그 조사각은 120°정도이다. As for the light sources 21a and 22a, the light emitting member is surface mounted on metal plates, such as aluminum. A heat sink (heat sink) is provided on the back surface of the metal plate. The light emitting member is a white (for example, 5700K color temperature) LED, and the irradiation angle is about 120 degrees.

광원(21a, 22a)과 인테그레이터(21b, 22b)는 인접하여 설치된다. LED로부터는 비교적 광역으로 광이 조사되기 때문에, 일부의 광은 인테그레이터(21b, 22b)에 입사되지 않고 누출되어 버리지만, 대부분의 광은 인테그레이터(21b, 22b)에 입사되어 커버 유리 G에 조사된다. The light sources 21a and 22a and the integrators 21b and 22b are provided adjacent to each other. Since light is irradiated from the LED in a relatively wide area, some light leaks out without being incident on the integrators 21b and 22b, but most of the light enters the integrators 21b and 22b and enters the cover glass. irradiated to G.

하프미러(half mirror)(21h)는, 제1 카메라(11)의 광축 상에 설치된다. 따라서, 하프미러(21h)에서 반사된 광은, 커버 유리 G에 대해 수직으로 조사되고, 커버 유리 G에서 정반사한 광은 제1 카메라(11)에 입사한다. 또, 하프미러(21h)에서 반사된 광은, 커버 유리 G를 투과하고, 제2 카메라(12)에 입사한다. A half mirror 21h is installed on the optical axis of the first camera 11 . Accordingly, the light reflected by the half mirror 21h is irradiated perpendicularly to the cover glass G, and the light specularly reflected by the cover glass G is incident on the first camera 11 . Moreover, the light reflected by the half-mirror 21h penetrates the cover glass G, and enters the 2nd camera 12. As shown in FIG.

하프미러(22h)는, 제2 카메라(12)의 광축 상에 설치된다. 따라서, 하프미러(22h)에서 반사된 광은, 커버 유리 G에 대해 수직으로 조사되고, 커버 유리 G에서 정반사한 광은 제2 카메라(12)에 입사한다. The half mirror 22h is provided on the optical axis of the second camera 12 . Accordingly, the light reflected by the half mirror 22h is irradiated perpendicularly to the cover glass G, and the light specularly reflected by the cover glass G is incident on the second camera 12 .

입체 조명부(30)는, 복수의 방향으로부터 커버 유리 G에 광을 조사한다. 입체 조명부(30)로부터 조사되고, 커버 유리 G에서 반사한 광은, 제3 카메라(13)에 입사한다. 도 2는 입체 조명부(30)의 상세를 나타내는 도이다. 도 2에 있어서는, 제3 카메라(13)(촬상 렌즈(13a), 라인 센서(13b))를 점선으로 나타내고, 제3 카메라(13)의 시야 위치(13c) 및 제3 카메라(13)로의 광의 경로를 2점 쇄선으로 나타낸다. The three-dimensional lighting unit 30 irradiates light to the cover glass G from a plurality of directions. The light irradiated from the stereoscopic illumination unit 30 and reflected by the cover glass G is incident on the third camera 13 . 2 is a diagram showing the details of the three-dimensional lighting unit 30 . In FIG. 2 , the third camera 13 (the imaging lens 13a, the line sensor 13b) is indicated by a dotted line, and the viewing position 13c of the third camera 13 and the light to the third camera 13 are The path is indicated by a dashed dotted line.

입체 조명부(30)는, 대략 반원통면의 제1 영역(31)과, 대략 반구면 또는 대략 반타원구면의 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)을 가진다. 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)은, 같은 형상이며, 제1 영역(31)의 양단에 배치된다. The stereoscopic illumination unit 30 has a first area 31 having a substantially semi-cylindrical surface, and a second area 32 and a third area 33 having a substantially semi-spherical or semi-elliptical surface. The second region 32 and the third region 33 have the same shape and are disposed at both ends of the first region 31 .

제1 영역(31)에 있어서는, 대략 반원통면의 상에 발광부(30a)가 설치된다. 발광부(30a)는, 광원(21a, 22a)과 마찬가지이고, 백색의 LED와 방열 부재를 가진다. 제1 영역(31)의 중심축 ax는, 제3 카메라(13)를 포함하는 대략 연직 방향의 면인 중심면 S1 상에 위치한다. In the first region 31, the light emitting portion 30a is provided on a substantially semi-cylindrical surface. The light emitting part 30a is the same as the light sources 21a and 22a, and has a white LED and a heat radiation member. The central axis ax of the first region 31 is located on the central plane S1 , which is a plane in the substantially vertical direction including the third camera 13 .

제2 영역(32) 및 제3 영역(33)에 있어서는, 대략 반구면의 상(上) 또는 대략 반타원구면의 상에 발광부(30a)가 설치된다. 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)의 중심점은 중심면 S1 상에 위치한다. 본 실시의 형태에서는, 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)은 대략 반구면이지만, 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)의 형상은 이에 한정되지 않는다. In the second region 32 and the third region 33 , the light emitting part 30a is provided on a substantially semi-spherical surface or on a substantially semi-elliptical surface. The center points of the second region 32 and the third region 33 are located on the central plane S1 . In the present embodiment, the second region 32 and the third region 33 are substantially hemispherical, but the shapes of the second region 32 and the third region 33 are not limited thereto.

제1 영역(31)에 있어서는, 제3 카메라(13)와 재치부(40)의 사이, 즉 중심면 S1의 근방 이외의 영역에, 반송 방향 F와 대략 직교하는 방향(즉, y방향)을 따라 발광부(30a)가 늘어놓여져 있다. y방향을 따라 늘어놓여진 발광부(30a)를, 띠모양 발광부(31a, 31b, 31c, 32d, 31e, 31f, 31g···)(후에 상술)로 한다. 본 실시의 형태에서는, 10개의 띠모양 발광부(31a~31j)(도 4 참조)를 가지지만, 띠모양 발광부의 수는 이에 한정되지 않는다. In the 1st area|region 31, in the area|region other than the vicinity of the center plane S1 between the 3rd camera 13 and the mounting part 40, the direction substantially orthogonal to the conveyance direction F (that is, the y direction) Light-emitting parts 30a are arranged along the line. The light-emitting portions 30a arranged along the y-direction are referred to as band-shaped light-emitting portions 31a, 31b, 31c, 32d, 31e, 31f, 31g... (described later). Although the present embodiment has ten band-shaped light-emitting units 31a to 31j (see Fig. 4), the number of band-shaped light-emitting units is not limited thereto.

도 3은 띠모양 발광부(31a)의 상세를 나타내는 모식도이다. 띠모양 발광부(31a~31j)는 같은 구성이기 때문에, 띠모양 발광부(31a)에 대해서만 설명하고, 띠모양 발광부(31b~31j)에 대해서는 설명을 생략한다. 3 is a schematic diagram showing the details of the band-shaped light emitting part 31a. Since the band-shaped light-emitting units 31a to 31j have the same configuration, only the band-shaped light-emitting unit 31a will be described, and the description of the band-shaped light-emitting units 31b to 31j will be omitted.

띠모양 발광부(31a)는, 전체의 길이가 3L이며, 길이 방향의 길이가 L로 되도록 발광부(30a)가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록(30b)을 3개 가진다. The strip-shaped light-emitting part 31a has three light-emitting blocks 30b in which the light-emitting parts 30a are arranged in a row so that the total length is 3L and the length in the longitudinal direction is L.

발광부(30a)는, 가로폭 w가 3.4㎜ 정도, 길이 h가 3.4㎜ 정도이며, 인접하는 발광부(30a) 사이의 거리는 대략 0.2㎜이다. 본 실시의 형태에서는, 발광 블록(30b)의 길이 L이 대략 50㎜이기 때문에, 1개의 발광 블록(30b)에 발광부(30a)가 13개 정도 늘어놓여진다. 이에 의해 띠모양 발광부(31a)로부터는, 띠모양(선 형상)의 광이 조사된다. The light emitting part 30a has a width w of about 3.4 mm and a length h of about 3.4 mm, and the distance between the adjacent light emitting parts 30a is about 0.2 mm. In this embodiment, since the length L of the light emitting block 30b is about 50 mm, about 13 light emitting parts 30a are arranged in one light emitting block 30b. Thereby, the band-shaped (linear) light is irradiated from the band-shaped light emitting part 31a.

또한, 본 실시의 형태에서는, 발광부(30a)로서 백색 LED를 이용하지만, 발광부(30a)에 이용되는 것은 백색 LED에 한정되지 않는다. 발광부(30a)에는, 예를 들면, 청색 또는 자외 LED와 황색 형광체를 조합한 것, 적녹청의 3색 칩(chip)을 조합한 것, 청색 LED와 적색 및 녹색 형광제를 조합한 것의 어느 것을 이용하도록 해도 좋다. In addition, although a white LED is used as the light emitting part 30a in this embodiment, the thing used for the light emitting part 30a is not limited to a white LED. The light emitting part 30a includes, for example, a combination of a blue or ultraviolet LED and a yellow phosphor, a combination of red, green and blue three-color chips, and a combination of a blue LED and a red and green phosphor, for example. You can also use that.

다음에, 입체 조명부(30)에 있어서의 띠모양 발광부(31a~31j)의 배치에 대해 설명한다. 도 4는 제1 영역(31)을 포함하도록 광학 검사 장치(1)를 xz평면과 평행한 면으로 절단했을 때에 있어서의 광학 검사 장치(1)의 단면을 모식적으로 나타내는 도이다. 도 4에 있어서 띠모양 발광부(31a~31j)로부터 조사되는 광의 경로를 2점 쇄선으로 나타낸다. Next, the arrangement of the band-shaped light emitting units 31a to 31j in the stereoscopic illumination unit 30 will be described. 4 : is a figure which shows typically the cross section of the optical inspection apparatus 1 when the optical inspection apparatus 1 is cut|disconnected by the plane parallel to the xz plane so that the 1st area|region 31 may be included. In FIG. 4, the path|route of the light irradiated from the strip|belt-shaped light-emitting parts 31a-31j is shown with the dashed-two dotted line.

제1 영역(31)의 중심축 ax는, 커버 유리 G의 상면 근방에 위치하고, 띠모양 발광부(31a~31j)는, 중심축 ax를 중심으로 한 반경 R의 원주(도 4에 있어서의 점선 참조) 상에 설치된다. 또한, 커버 유리 G의 두께는 미소하기 때문에, 커버 유리 G의 상면의 위치는, 중심면 S1과 재치부(40)(도 4에서는 도시 생략)의 상면과의 교선과 대략 일치한다. 반경 R은, 띠모양 발광부(31a~31j)의 길이 3L과 대략 같다. The central axis ax of the first region 31 is located in the vicinity of the upper surface of the cover glass G, and the band-shaped light emitting parts 31a to 31j are the circumferences of the radius R centering on the central axis ax (dotted line in FIG. 4 ). see) installed on the In addition, since the thickness of cover glass G is minute, the position of the upper surface of cover glass G substantially corresponds with the intersection of center plane S1 and the upper surface of the mounting part 40 (not shown in FIG. 4). The radius R is approximately equal to the length 3L of the strip-shaped light emitting portions 31a to 31j.

띠모양 발광부(31a~31j)는, 광축(도 4에 있어서의 일점 쇄선 참조)이 중심면 S1과 재치부(40)와의 교선(중심면 S1과 커버 유리 G와의 교선), 즉 중심축 ax와 교차하도록 설치된다. As for the strip|belt-shaped light emitting parts 31a-31j, the optical axis (refer the dashed-dotted line in FIG. 4) is the intersection of the central plane S1 and the mounting part 40 (intersection of the central plane S1 and the cover glass G), ie, the central axis ax. installed to intersect with

띠모양 발광부(31a~31e)는, 중심면 S1보다 +x측에 위치하고, 띠모양 발광부(31f~31j)는, 중심면 S1보다 -x측에 위치한다. The band-shaped light emitting parts 31a to 31e are located on the +x side of the central plane S1, and the band-shaped light emitting parts 31f to 31j are located on the -x side of the central plane S1.

띠모양 발광부(31a, 31f)는, 중심면 S1에 가장 가까운 위치에 설치된다. 띠모양 발광부(31a, 31f)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ1은 대략 8°이다. The band-shaped light emitting portions 31a and 31f are provided at positions closest to the center plane S1. The angle θ1 between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31a and 31f and the central plane S1 is approximately 8°.

띠모양 발광부(31b, 31g)는, 띠모양 발광부(31a, 31f)의 외측에, 띠모양 발광부(31a, 31f)에 인접하여 설치된다. 띠모양 발광부(31b, 31g)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ2는 대략 17°이다. The band-shaped light emitting units 31b and 31g are provided outside the band-shaped light emitting units 31a and 31f and adjacent to the band-shaped light emitting units 31a and 31f. The angle θ2 between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31b and 31g and the central plane S1 is approximately 17°.

띠모양 발광부(31c, 31h)는, 띠모양 발광부(31b, 31g)의 외측에, 띠모양 발광부(31b, 31g)에 인접하여 설치된다. 띠모양 발광부(31c, 31h)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ3은 대략 26°이다. The band-shaped light emitting parts 31c and 31h are provided outside the band-shaped light emitting parts 31b and 31g and adjacent to the band-shaped light emitting parts 31b and 31g. The angle θ3 between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31c and 31h and the central plane S1 is approximately 26°.

띠모양 발광부(31d, 31i)는, 띠모양 발광부(31c, 31h)의 외측에, 띠모양 발광부(31c, 31h)에 인접하여 설치된다. 띠모양 발광부(31d, 31i)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ4는 대략 35°이다. The band-shaped light emitting units 31d and 31i are provided outside the band-shaped light emitting units 31c and 31h and adjacent to the band-shaped light emitting units 31c and 31h. An angle θ4 between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31d and 31i and the central plane S1 is approximately 35°.

띠모양 발광부(31e, 31j)는, 띠모양 발광부(31d, 31i)의 외측에, 띠모양 발광부(31d, 31i)에 인접하여 설치된다. 띠모양 발광부(31e, 31j)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ5는 대략 44°이다. The band-shaped light emitting units 31e and 31j are provided outside the band-shaped light emitting units 31d and 31i and adjacent to the band-shaped light emitting units 31d and 31i. An angle θ5 between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31e and 31j and the central plane S1 is approximately 44°.

띠모양 발광부(31a~31j)는, 광축 상에 설치된 원통 렌즈(30c)를 가진다. 원통 렌즈(30c)는, 예를 들면 아크릴제의 봉재(棒材)를 중심 축을 따라 절단하고, 절단면을 연마함으로써 형성된다. 원통 렌즈(30c)는, 발광부(30a)와 중심축 ax와의 사이에 설치되고, 발광부(30a)로부터 조사된 광을 중심축 ax 근방에 집광한다. The band-shaped light emitting portions 31a to 31j have a cylindrical lens 30c provided on the optical axis. The cylindrical lens 30c is formed by, for example, cutting an acrylic bar along the central axis and grinding the cut surface. The cylindrical lens 30c is provided between the light emitting part 30a and the central axis ax, and condenses the light irradiated from the light emitting part 30a in the vicinity of the central axis ax.

도 5는 입체 조명부(30)의 평면 모식도이다. 도 5에 있어서는, 제3 카메라(13)의 시야 위치(13c)를 점선으로 나타낸다. 또, 도 5에 있어서는, 발광 블록(30d)(후에 상술)을 파선으로 나타낸다. 5 is a schematic plan view of the three-dimensional lighting unit 30 . In FIG. 5 , the viewing position 13c of the third camera 13 is indicated by a dotted line. 5, the light emitting block 30d (described later) is indicated by a broken line.

제2 영역(32) 및 제3 영역(33)은, 발광부(30a)가 일렬로 늘어놓여진 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)를 가진다. 또한, 본 실시의 형태에서는, 각 9개의 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)를 가지지만, 띠모양 발광부의 수는 이에 한정되지 않는다. The second region 32 and the third region 33 have band-shaped light emitting portions 32a to 32i and 33a to 33i in which the light emitting portions 30a are arranged in a line. Further, in the present embodiment, each of the nine band-shaped light-emitting units 32a to 32i and 33a to 33i is provided, but the number of the band-shaped light-emitting units is not limited thereto.

띠모양 발광부(32a, 33a)는, 중심면 S1 상에 설치된다. 띠모양 발광부(32b~32e, 33b~33e)는, 각각 띠모양 발광부(31a~31d)의 연장선의 상에 설치된다. 띠모양 발광부(32f~32i, 33f~33i)는, 각각 띠모양 발광부(31f~31i)의 연장선의 상에 설치된다. The band-shaped light emitting portions 32a and 33a are provided on the central plane S1. The band-shaped light emitting parts 32b to 32e and 33b to 33e are provided on the extension lines of the band-shaped light emitting parts 31a to 31d, respectively. The band-shaped light emitting portions 32f to 32i and 33f to 33i are provided on the extension lines of the band-shaped light emitting portions 31f to 31i, respectively.

도 6은 띠모양 발광부(32a)의 상세를 나타내는 모식도이다. 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)는 대략 마찬가지의 구성이기 때문에, 띠모양 발광부(32a)에 대해서만 설명하고, 띠모양 발광부(32b~32i, 33a~33i)에 대해서는 설명을 생략한다. 6 is a schematic diagram showing the details of the strip-shaped light emitting part 32a. Since the band-shaped light-emitting units 32a to 32i and 33a to 33i have substantially the same configuration, only the band-shaped light-emitting unit 32a will be described, and the band-shaped light-emitting units 32b to 32i and 33a to 33i will be described. omit

띠모양 발광부(32a)는, 발광부(30a)가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록(30d)을 복수 가진다. 본 실시의 형태에서는, 발광 블록(30d)의 길이 l이 대략 18.5㎜이며, 인접하는 발광부(30a) 사이의 거리는 대략 0.2㎜이기 때문에, 1개의 발광 블록(30d)에 발광부(30a)가 5개 정도 늘어놓여진다. 발광 블록(30d)은, 발광부(30a)가 반경 R의 대략 원통면의 상(도 6 점선 참조)에 위치하도록 인접하여 늘어놓여진다. The strip-shaped light emitting part 32a has a plurality of light emitting blocks 30d in which the light emitting parts 30a are arranged in a line. In this embodiment, the length l of the light emitting block 30d is approximately 18.5 mm and the distance between the adjacent light emitting units 30a is approximately 0.2 mm. About 5 are arranged. The light emitting blocks 30d are arranged adjacently so that the light emitting parts 30a are positioned on a substantially cylindrical surface with a radius R (refer to the dotted line in FIG. 6 ).

도 5의 설명으로 되돌아온다. 띠모양 발광부(32a~32c, 32f, 32g, 33a~33c, 33f, 33g)에 있어서의 발광 블록(30d)의 수는 5개이며, 띠모양 발광부(32d, 32h, 33d, 33h)에 있어서의 발광 블록(30d)의 수는 4개이며, 띠모양 발광부(32d, 32h, 33d, 33h)에 있어서의 발광 블록(30d)의 수는 2개이지만, 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)에 있어서의 발광 블록(30d)의 수는 이에 한정되지 않는다. Returning to the description of FIG. 5 . The number of light-emitting blocks 30d in the band-shaped light-emitting units 32a to 32c, 32f, 32g, 33a to 33c, 33f, and 33g is five, and the The number of light-emitting blocks 30d in the case is four, and the number of light-emitting blocks 30d in the band-shaped light-emitting units 32d, 32h, 33d, and 33h is two, but the band-shaped light-emitting units 32a to 32i are , 33a to 33i), the number of light emitting blocks 30d is not limited thereto.

띠모양 발광부(32a, 33a)에 있어서의 각 발광 블록(30d)의 광축은, 제2 영역(32), 제3 영역(33)의 중심점 O2, O3을 향하고 있다. 띠모양 발광부(32b~32i, 33a~33i)에 있어서의 각 발광 블록(30d)의 광축은, 제1 영역(31)의 중심점 O1을 향하고 있다. 다만, 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)에 있어서의 각 발광 블록(30d)의 광축의 방향은, 도 5에 나타내는 형태에 한정되지 않는다. The optical axis of each light emitting block 30d in the band-shaped light emitting portions 32a and 33a faces the center points O2 and O3 of the second region 32 and the third region 33 . The optical axis of each light emitting block 30d in the band-shaped light emitting units 32b to 32i and 33a to 33i faces the central point O1 of the first region 31 . However, the direction of the optical axis of each light emitting block 30d in the strip light emitting units 32a to 32i and 33a to 33i is not limited to the form shown in FIG. 5 .

도 7은 광학 검사 장치(1)의 전기적인 구성을 나타내는 블록도이다. 광학 검사 장치(1)는, 집적회로(71)와, 입력부(72)와, 출력부(73)와, 전원부(74)와, 통신 인터페이스(I/F)(75)를 가진다. 7 is a block diagram showing an electrical configuration of the optical inspection apparatus 1 . The optical inspection apparatus 1 has an integrated circuit 71 , an input unit 72 , an output unit 73 , a power supply unit 74 , and a communication interface (I/F) 75 .

집적회로(71)는, 예를 들면 FPGA(Field-Programmable Gate Array)이고, 프로그램에 기초하여 동작하고, 각부의 제어를 행한다. 집적회로(71)는, 광학 검사 장치(1)의 각부를 제어하는 제어부(본 발명의 제어부, 제2 제어부를 포함)의 기능을 가진다. 구체적으로는, 집적회로(71)는, 입력부(72), 출력부(73) 등으로부터 신호를 취득하고, 취득한 신호에 기초하여 출력부(73)로부터 출력하는 신호를 생성한다. 본 실시의 형태에서는, 집적회로(71)인 FPGA에 각 기능을 실현하는 프로그램이 격납되어 있지만, 집적회로(71)는 FPGA에 한정되지 않고, 프로그램의 실행 방법도 이에 한정되지 않는다. The integrated circuit 71 is, for example, an FPGA (Field-Programmable Gate Array), operates based on a program, and controls each part. The integrated circuit 71 has a function of a control unit (including the control unit of the present invention and the second control unit) that controls each unit of the optical inspection apparatus 1 . Specifically, the integrated circuit 71 acquires a signal from the input unit 72 , the output unit 73 , and the like, and generates a signal to be output from the output unit 73 based on the acquired signal. In the present embodiment, a program for realizing each function is stored in the FPGA which is the integrated circuit 71. However, the integrated circuit 71 is not limited to the FPGA, and the execution method of the program is not limited thereto.

입력부(72)에는, 위치 검출 센서(81, 82) 등의 각종 센서로부터 신호가 입력된다. 입력부(72)는, 출력부(73)의 각 채널의 출력 모드 설정, 촬상부(10)의 촬상 주파수의 설정 등을 행하는 스위치를 가진다. Signals are input to the input unit 72 from various sensors such as the position detection sensors 81 and 82 . The input unit 72 has a switch for setting the output mode of each channel of the output unit 73 , setting the imaging frequency of the imaging unit 10 , and the like.

출력부(73)는, 복수의 채널을 가지고, 촬상부(10), 동축 조명부(20), 입체 조명부(30) 등에 다른 채널로부터 출력을 행한다. 예를 들면, 출력부(73)는, 구동 모터 펄스를 반송부(50)로 출력하고, 수평 동기 신호 및 수직 동기 신호 등을 촬상부(10)로 출력한다. 또, 출력부(73)는, 통신 에러(error), 타임 아웃(time out) 등의 에러 표시, 커버 유리 G의 주행중, 촬상부(10)의 캡처(capture) 대기중, 동축 조명부(20)나 입체 조명부(30)의 조명중 등을 나타내는 LED, 7세그먼트 디스플레이(7 segment display) 등의 표시 소자를 가진다. The output unit 73 has a plurality of channels, and outputs from other channels to the imaging unit 10 , the coaxial illumination unit 20 , the stereoscopic illumination unit 30 , and the like. For example, the output unit 73 outputs a drive motor pulse to the transport unit 50 , and outputs a horizontal synchronization signal, a vertical synchronization signal, and the like to the imaging unit 10 . In addition, the output unit 73 displays errors such as communication errors and time outs, while the cover glass G is traveling, while the imaging unit 10 is waiting for capture, and the coaxial illumination unit 20 . It has a display element, such as an LED and a 7-segment display which shows the illumination of the three-dimensional illumination part 30, etc.

도 8은 출력부(73)와 광학 검사 장치(1)의 각 구성과의 전기적인 접속을 설명하는 블록도이다. 출력부(73)는, 촬상부(10)(제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 제3 카메라(13))와, 동축 조명부(20)(상측 동축 조명(21) 및 하측 동축 조명(22))과, 입체 조명부(30)(띠모양 발광부(31a~31j, 32a~32i, 33a~33i)와, 반송부(50)에 신호를 출력한다. 8 is a block diagram for explaining the electrical connection between the output unit 73 and each configuration of the optical inspection device 1 . The output unit 73 includes an imaging unit 10 (first camera 11, second camera 12, and third camera 13) and a coaxial illumination unit 20 (upper coaxial illumination 21 and lower side). A signal is output to the coaxial illumination 22 ), the stereoscopic illumination unit 30 (belt-shaped light emitting units 31a to 31j , 32a to 32i , 33a to 33i ), and the carrying unit 50 .

출력부(73)로부터 출력되는 신호는, 통신 I/F(75)를 통해 퍼스널 컴퓨터(PC)(100)로부터 입력되는 수평 동기 신호 등에 기초하여 집적회로(71)에서 생성된다. The signal output from the output unit 73 is generated in the integrated circuit 71 based on a horizontal synchronizing signal or the like input from the personal computer (PC) 100 via the communication I/F 75 .

도 7의 설명으로 되돌아온다. 전원부(74)는, 예를 들면 AC 100V의 전압이 입력되는 것이고, 필요한 전압으로 변환하는 스위칭(switching) 전원을 내부에 포함한다. 전원부(74)는, 동축 조명부(20)나 입체 조명부(30)에 전력을 공급한다. Returning to the description of FIG. 7 . The power supply unit 74 includes, for example, a switching power supply to which a voltage of 100 V AC is input and converted into a required voltage. The power supply unit 74 supplies electric power to the coaxial illumination unit 20 or the stereoscopic illumination unit 30 .

통신 I/F(75)는, 외부 기기로부터 데이터를 수신하여 집적회로(71)에 송신함과 아울러, 집적회로(71)가 생성한 데이터를 다른 기기에 송신한다. 또, 통신 I/F(75)는, 집적회로(71)의 프로그래밍, 디버그(debug)를 행하기 위한 커넥터를 가진다. 통신 I/F(75)는, PC(personal computer)(100)로부터, 수평 동기 신호 및 수직 동기 신호, 구동 모터 스타트(start) 신호 등을 취득하고, 집적회로(71)로 출력한다. 또, 통신 I/F(75)는, PC(100) 등에 촬상부(10)가 촬상한 화상 데이터를 출력한다. The communication I/F 75 receives data from an external device and transmits it to the integrated circuit 71 , and transmits data generated by the integrated circuit 71 to other devices. In addition, the communication I/F 75 has a connector for programming and debugging the integrated circuit 71 . The communication I/F 75 acquires a horizontal synchronization signal, a vertical synchronization signal, a drive motor start signal, and the like from a PC (personal computer) 100 , and outputs them to the integrated circuit 71 . In addition, the communication I/F 75 outputs image data captured by the imaging unit 10 to the PC 100 or the like.

위치 검출 센서(81, 82)는, 커버 유리 G의 위치를 검출한다. 위치 검출 센서(81)는, 커버 유리 G가 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12) 하로 반송된 것 및 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)의 하를 다 통과한 것을 검출한다. 위치 검출 센서(82)는, 커버 유리 G가 제3 카메라(13) 하로 반송된 것 및 제3 카메라(13)의 하를 다 통과한 것을 검출한다. The position detection sensors 81 and 82 detect the position of the cover glass G. As for the position detection sensor 81, the thing which the cover glass G was conveyed under the 1st camera 11 and the 2nd camera 12, and what passed under the 1st camera 11 and the 2nd camera 12 detect The position detection sensor 82 detects that the cover glass G was conveyed under the 3rd camera 13 and that the 3rd camera 13 has passed through.

PC(100)는, CPU(Central Processing Unit)(101)와, RAM(Random Access Memory)(102)과, ROM(Read Only Memory)(103)과, 입출력 인터페이스(I/F)(104)와, 통신 인터페이스(I/F)(105)와, 미디어 인터페이스(I/F)(106)를 가진다. PC 100, CPU (Central Processing Unit) 101, RAM (Random Access Memory) 102, ROM (Read Only Memory) 103, input/output interface (I/F) 104 and , a communication interface (I/F) 105 and a media interface (I/F) 106 .

CPU(101)는, RAM(102), ROM(103)에 격납된 프로그램에 기초하여 동작하고, 각부의 제어를 행한다. CPU(101)로부터 출력된 신호는, 통신 I/F(105)를 통해 광학 검사 장치(1)로 출력된다. The CPU 101 operates based on the programs stored in the RAM 102 and the ROM 103, and controls each unit. The signal output from the CPU 101 is output to the optical inspection device 1 via the communication I/F 105 .

RAM(102)은, 휘발성 메모리이다. RAM(102)은, CPU(101)가 실행하는 프로그램 및 CPU(101)가 사용하는 데이터 등을 격납한다. ROM(103)은, 각종 제어 프로그램 등이 기억되어 있는 불휘발성 메모리이다. CPU(101)는, RAM(102), ROM(103)에 격납된 프로그램에 기초하여 동작하고, 각부의 제어를 행한다. ROM(103)은, PC(100)의 기동시에 CPU(101)가 행하는 부트(boot) 프로그램이나, PC(100)의 하드웨어에 의존하는 프로그램 등을 격납한다. RAM 102 is a volatile memory. The RAM 102 stores programs executed by the CPU 101, data used by the CPU 101, and the like. The ROM 103 is a nonvolatile memory in which various control programs and the like are stored. The CPU 101 operates based on the programs stored in the RAM 102 and the ROM 103, and controls each unit. The ROM 103 stores a boot program performed by the CPU 101 when the PC 100 is started, a program dependent on the hardware of the PC 100, and the like.

CPU(101)는, 입출력 I/F(104)를 통해, 키보드나 마우스 등의 입력 장치(111)나, 표시 장치 등의 출력 장치(112)를 제어한다. CPU(101)는, 통신 I/F(105)를 통해, 네트워크 등을 통해 광학 검사 장치(1)나 다른 기기로부터 데이터를 취득함과 아울러, 생성한 데이터를 광학 검사 장치(1)로 출력한다. The CPU 101 controls an input device 111 such as a keyboard or a mouse, and an output device 112 such as a display device, via the input/output I/F 104 . The CPU 101 acquires data from the optical inspection apparatus 1 or other equipment via a network or the like via the communication I/F 105 , and outputs the generated data to the optical inspection apparatus 1 . .

CPU(101)는, 입력 장치(111)로부터의 입력에 기초하여, 출력부(73)의 채널의 출력 설정, 집적회로(71)에 있어서의 점등 신호 출력의 차례, 처리의 루프(loop) 설정, 커버 유리 G의 가장자리 검출로부터 촬상 개시까지의 커버 유리 G의 이동 거리(공주행(空走行) 거리)의 설정 등, 각종 설정을 행하고, 이들의 설정 데이터를 생성한다. 통신 I/F(105)는, CPU(101)가 생성한 설정 데이터를 광학 검사 장치(1)로 출력한다. 또, CPU(101)는, 촬상부(10)에서 촬상된 화상을 광학 검사 장치(1)로부터 취득하고, 검사용의 화상을 생성한다. 화상 생성 처리의 자세한 것은 후에 상술한다. Based on the input from the input device 111 , the CPU 101 sets the output of the channel of the output unit 73 , the order of outputting the lighting signal in the integrated circuit 71 , and sets the loop of processing Various settings, such as setting of the moving distance (empty running distance) of cover glass G from edge detection of cover glass G to an imaging start, are performed, and these setting data are produced|generated. The communication I/F 105 outputs the setting data generated by the CPU 101 to the optical inspection device 1 . Moreover, CPU101 acquires the image imaged by the imaging part 10 from the optical inspection apparatus 1, and produces|generates the image for inspection. Details of the image generation processing will be described later.

미디어 I/F(106)는, 기억 매체(113)에 격납된 프로그램 또는 데이터를 읽어내고, RAM(102)에 격납한다. 또한, 기억 매체(113)는, 예를 들면, IC카드, SD카드, DVD 등이다. The media I/F 106 reads the program or data stored in the storage medium 113 and stores it in the RAM 102 . The storage medium 113 is, for example, an IC card, an SD card, a DVD, or the like.

또한, 각 기능을 실현하는 프로그램은, 예를 들면, 기억 매체(113)로부터 읽어내져, RAM(102)를 통해 광학 검사 장치(1)에 인스톨(install)되고, CPU(101)에 의해 실행된다. Further, a program for realizing each function is read from, for example, the storage medium 113 , installed in the optical inspection device 1 via the RAM 102 , and executed by the CPU 101 . .

도 7에 나타내는 광학 검사 장치(1) 및 PC(100)의 구성은, 본 실시 형태의 특징을 설명하는데 즈음하여 주요 구성을 설명한 것으로서, 예를 들면 일반적인 정보처리 장치가 구비하는 구성을 배제하는 것은 아니다. 광학 검사 장치(1)의 구성 요소는, 처리 내용에 따라 더 많은 구성 요소로 분류되어도 좋고, 1개의 구성 요소가 복수의 구성 요소의 처리를 실행해도 좋다. 또, 도 7에 있어서는, 광학 검사 장치(1)와 PC(100)를 다른 장치로 하였지만, PC(100)의 구성 요소가 광학 검사 장치(1)에 포함되어 있어도 좋다. The configuration of the optical inspection device 1 and the PC 100 shown in Fig. 7 is a description of the main configuration while describing the characteristics of the present embodiment, and excluding the configuration of a general information processing device, for example. no. The constituent elements of the optical inspection apparatus 1 may be classified into more constituent elements according to the processing content, or one constituent element may process a plurality of constituent elements. In addition, in FIG. 7, although the optical inspection apparatus 1 and the PC 100 were made into different apparatus, the component of the PC 100 may be contained in the optical inspection apparatus 1. As shown in FIG.

이와 같이 구성된 광학 검사 장치(1)로 행하는 처리에 대해 설명한다. 이하의 처리는, 주로 집적회로(71)로 행해진다. The processing performed by the optical inspection apparatus 1 comprised in this way is demonstrated. The following processing is mainly performed by the integrated circuit 71 .

집적회로(71)는 재치부(40)의 롤러(40a)를 구동하는 구동 모터 펄스를 생성하고, 출력부(73)는 이를 반송부(50)로 출력한다. 이에 의해 커버 유리 G가 재치부(40) 상을 반송 방향 F를 따라 일정한 속도로 이동한다. The integrated circuit 71 generates a driving motor pulse for driving the roller 40a of the mounting unit 40 , and the output unit 73 outputs it to the conveying unit 50 . Thereby, cover glass G moves at a constant speed along the conveyance direction F on the mounting part 40 top.

위치 검출 센서(81)로부터 커버 유리 G가 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 하로 반송된 것이 검출되면, 검출 신호가 위치 검출 센서(81)로부터 입력부(72)를 통해 집적회로(71)에 입력된다. 이 검출 신호가 입력되면, 집적회로(71)는, 투과 화상, 정반사 화상을 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)로 촬상하는 처리를 개시한다. 이하, 투과 화상, 정반사 화상을 촬상하는 처리에 있어서, 도 9, 10을 이용하여 설명한다. When it is detected that the cover glass G has been conveyed from the position detection sensor 81 under the first camera 11 and the second camera 12 , a detection signal is transmitted from the position detection sensor 81 via the input unit 72 to the integrated circuit ( 71) is entered. When this detection signal is input, the integrated circuit 71 starts processing for capturing a transmitted image and a specular reflection image with the first camera 11 and the second camera 12 . Hereinafter, the process of imaging a transmission image and a specular reflection image WHEREIN: It demonstrates using FIGS. 9 and 10. FIG.

<투과 화상, 정반사 화상을 촬상하는 처리> <Processing of capturing a transmitted image and a specular reflection image>

도 9는 출력부(73)로부터 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 동축 조명부(20)로 출력되는 신호에 대해 설명하는 도이다. 채널(이하, ch라고 함)은, 출력부(73)가 가지는 채널의 일부이며, ch1~3은 상측 동축 조명(21)으로의 출력이며, ch4~6은 하측 동축 조명(22)으로의 출력이다. ROOP는, 반복 처리를 나타내는 신호이며, 집적회로(71)로 출력된다. 또한, 도 9의 ch1~6에 기재된 수치는, 상측 동축 조명(21), 하측 동축 조명(22)을 조사하는 시간이며, 단위는 ㎲(마이크로초(micro second))이다. 9 is a diagram for explaining signals output from the output unit 73 to the first camera 11 , the second camera 12 , and the coaxial lighting unit 20 . A channel (hereinafter referred to as ch) is a part of a channel of the output unit 73 , ch1 to 3 are outputs to the upper coaxial illumination 21 , and ch4 to 6 are outputs to the lower coaxial illumination 22 . to be. ROOP is a signal indicating repeated processing, and is output to the integrated circuit 71 . In addition, the numerical values described in ch1 - 6 of FIG. 9 are the time for irradiating the upper coaxial illumination 21 and the lower coaxial illumination 22, The unit is microsecond (microsecond).

도 10은 도 9에 나타내는 처리에 있어서의 타이밍 차트이다. 촬상 신호는, 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)를 구동하는 신호이며, 일정한 주기로 입력되는 수평 동기 신호에 기초하여 집적회로(71)에 있어서 생성된다. 본 실시의 형태에서는, 촬상 신호의 주파수가 3㎑이며, 촬상 신호의 간격 T는 대략 330㎲이다. 촬상 신호는, 촬상 기간 T1은 하이(High), 블랭킹(blanking) 기간 T2가 로우(Low)로 되는 신호이며, 촬상 기간 T1을 조정함으로써 제1 카메라(11)나 제2 카메라(12)의 광량(촬상되는 화상의 밝음)을 조정한다. 동축 조명용 신호는, 촬상 신호에 동기하여 생성된다. 본 실시의 형태에서는, 촬상 기간 T1을 300㎲로 하지만, 촬상 기간 T1은 이에 한정되지 않는다. Fig. 10 is a timing chart in the process shown in Fig. 9; The imaging signal is a signal for driving the first camera 11 and the second camera 12 , and is generated in the integrated circuit 71 based on a horizontal synchronization signal input at a constant period. In this embodiment, the frequency of the imaging signal is 3 kHz, and the interval T of the imaging signal is approximately 330 s. The imaging signal is a signal in which the imaging period T1 is High and the blanking period T2 is Low, and the light amount of the first camera 11 or the second camera 12 is adjusted by adjusting the imaging period T1. (brightness of the captured image) is adjusted. The signal for coaxial illumination is generated in synchronization with the image pickup signal. In this embodiment, although the imaging period T1 is set to 300 microseconds, the imaging period T1 is not limited to this.

이하, 도 9, 10에 나타내는 차례 1~3의 처리에 대해 자세하게 설명한다. Hereinafter, the processes of steps 1 to 3 shown in FIGS. 9 and 10 will be described in detail.

(차례 1) (Top 1)

집적회로(71)는, 상측 동축 조명(21)을 5㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이 신호를 상측 동축 조명(21)으로 출력한다. 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제2 카메라(12)로 출력한다. 이에 의해 제2 카메라(12)에는 커버 유리 G를 투과한 광이 입사하고, 제2 카메라(12)로 투과 화상이 촬상된다. 투과 화상에서는, 불투명한 부분의 결함, 예를 들면 인쇄 부분의 흠집, 인쇄 가장자리의 이지러짐 등을 검출할 수가 있다. The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the upper coaxial illumination 21 with 5 μs, and the output unit 73 outputs the signal to the upper coaxial illumination 21 . At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the second camera 12 . Thereby, the light which permeate|transmitted the cover glass G injects into the 2nd camera 12, and the 2nd camera 12 picks up a transmitted image. In the transmitted image, defects in the opaque part, for example, scratches on the printed part, scrambled print edges, etc. can be detected.

차례 1에 있어서, 상측 동축 조명(21)을 조사시키는 신호는, 촬상 신호가 하이(High)로 됨과 동시에 하이(High)로 되고, 5㎲ 경과후에 로우(Low)로 된다. 상측 동축 조명(21)을 조사하는 5㎲라고 하는 시간은, 촬상 기간 300㎲에 비해 매우 짧다. 유리에 있어서는, 4% 정도의 광이 반사하고, 나머지의 96% 정도의 광이 투과한다. 따라서, 상측 동축 조명(21)을 조사하는 시간을 짧게 함으로써, 적절한 명도의 투과 화상을 촬상할 수가 있다. In step 1, the signal for irradiating the upper coaxial illumination 21 becomes high at the same time the imaging signal becomes high, and becomes low after 5 s elapses. The time of 5 microseconds for irradiating the upper coaxial illumination 21 is very short compared with the imaging period of 300 microseconds. In glass, about 4% of light is reflected, and about 96% of the remaining light is transmitted. Therefore, by shortening the time for irradiating the upper coaxial illumination 21, it is possible to capture a transmitted image having an appropriate brightness.

또한, 차례 1에 있어서는, 상측 동축 조명(21)을 5㎲로 조사하고, 제2 카메라(12)로 투과 화상을 촬상하였지만, 하측 동축 조명(22)을 5㎲로 조사하고, 제1 카메라(11)로 투과 화상을 촬상해도 좋다. Further, in Step 1, the upper coaxial illumination 21 was irradiated at 5 μs and the transmitted image was captured by the second camera 12, but the lower coaxial illumination 22 was irradiated at 5 μs, and the first camera ( 11), you may pick up a transmitted image.

(차례 2) (Top 2)

집적회로(71)는, 상측 동축 조명(21)을 100㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이 신호를 상측 동축 조명(21)으로 출력한다. 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제1 카메라(11)로 출력한다. 이에 의해 제1 카메라(11)에는 커버 유리 G의 표면에서 정반사한 광이 입사하고, 제1 카메라(11)로 정반사 화상이 촬상된다. The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the upper coaxial illumination 21 at 100 μs, and the output unit 73 outputs the signal to the upper coaxial illumination 21 . At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the first camera 11 . Thereby, the light specularly reflected from the surface of the cover glass G injects into the 1st camera 11, and the 1st camera 11 picks up a specular reflection image.

상측 동축 조명(21)으로부터는 커버 유리 G에 수직 방향으로부터 광을 조사한다. 따라서, 커버 유리 G의 표면의 흠집, 이물질 등이 없는 부분은, 광이 정반사하여 제1 카메라(11)에 입사하기 때문에, 촬상된 화상에 있어서 밝게 비친다. 이에 반해 커버 유리 G의 표면에 흠집이나 이물질 등이 있는 부분은, 광이 난반사하여 제1 카메라(11)에 입사하지 않기 때문에, 촬상된 화상에 있어서 어둡게 비친다. 이와 같이 하여 커버 유리 G의 표면의 흠집이나 이물질 등을 검출할 수가 있다. 또한, 정반사광으로 표면의 흠집이나 이물질 등을 검출하는 것은, 경면 등 반사율이 높은 것에만 유효하다. Light is irradiated from the upper side coaxial illumination 21 to the cover glass G from the perpendicular|vertical direction. Therefore, since light specularly reflects and injects into the 1st camera 11, the part without a flaw, foreign material, etc. on the surface of cover glass G is reflected brightly in the imaged image. On the other hand, in the part with a flaw, a foreign material, etc. in the surface of cover glass G, since light diffuses and does not enter the 1st camera 11, it appears dark in the picked-up image. In this way, a flaw, foreign material, etc. on the surface of the cover glass G can be detected. In addition, it is effective only for the thing with high reflectance, such as a mirror surface, to detect a surface flaw, a foreign material, etc. with a specular reflection light.

(차례 3) (Top 3)

집적회로(71)는, 하측 동축 조명(22)을 100㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이 신호를 하측 동축 조명(22)으로 출력한다. 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제2 카메라(12)로 출력한다. 이에 의해 제2 카메라(12)에는 커버 유리 G의 이면에서 정반사한 광이 입사하고, 제2 카메라(12)로 반사 화상이 촬상된다. 이와 같이 하여 커버 유리 G의 이면의 흠집이나 이물질 등을 검출할 수가 있다. The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the lower coaxial illumination 22 at 100 μs, and the output unit 73 outputs this signal to the lower coaxial illumination 22 . At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the second camera 12 . Thereby, the light which specularly reflected from the back surface of the cover glass G injects into the 2nd camera 12, and the 2nd camera 12 picks up a reflected image. In this way, a flaw, foreign material, etc. on the back surface of cover glass G can be detected.

또, 집적회로(71)는, 차례 3의 출력을 행함과 동시에 반복 처리를 나타내는 신호를 생성한다. 출력부(73)는, 하측 동축 조명(22)에 신호를 출력함과 동시에, 반복 처리를 나타내는 신호를 집적회로(71)로 출력한다. 집적회로(71)는, 반복 처리를 나타내는 신호를 받아, 처리를 최초로 되돌리고, 차례 1~3에 나타내는 신호를 차례로 출력하는 처리를 반복한다. In addition, the integrated circuit 71 generates a signal representing the iterative process while performing the output of turn 3 . The output unit 73 outputs a signal to the lower coaxial illumination 22 and outputs a signal representing the iterative processing to the integrated circuit 71 . The integrated circuit 71 repeats the process of receiving the signal representing the repeat process, returning the process to the first, and sequentially outputting the signals shown in steps 1 to 3.

차례 2, 3에 있어서, 상측 동축 조명(21)이나 하측 동축 조명(22)을 조사시키는 신호는, 촬상 신호가 하이(High)로 됨과 동시에 하이(High)로 되고, 100㎲ 경과후에 로우(Low)로 된다. 차례 2에서 상측 동축 조명(21), 차례 3에서 하측 동축 조명(22)을 조사하는 100㎲라고 하는 시간은, 촬상 기간 T1(300㎲)의 1/3 정도이며, 차례 1에 있어서의 조사 시간(5㎲)에 비해 대폭 길다. 이와 같이, 정반사 화상을 촬상할 때는 상측 동축 조명(21)이나 하측 동축 조명(22)을 조사하는 시간을 길게 함으로써, 적절한 명도의 반사 화상을 촬상할 수가 있다. In Steps 2 and 3, the signal for irradiating the upper coaxial illumination 21 or the lower coaxial illumination 22 becomes high at the same time as the imaging signal becomes High, and becomes low after 100 µs has elapsed. ) becomes A time of 100 µs for irradiating the upper coaxial illumination 21 in turn 2 and the lower coaxial illumination 22 in turn 3 is about 1/3 of the imaging period T1 (300 µs), and the irradiation time in turn 1 It is significantly longer than (5㎲). Thus, when imaging a specular reflection image, by lengthening the time for irradiating the upper coaxial illumination 21 or the lower coaxial illumination 22, the reflected image of suitable brightness can be imaged.

집적회로(71)는, 상기 차례 1~3의 조사 패턴의 신호 출력과 동시에, 출력부(73)를 통해 반송부(50)에 구동 모터 펄스를 출력한다. 이에 의해 재치부(40) 상에서 커버 유리 G를 일정한 속도로 반송하여 커버 유리 G와 제1 카메라(11), 제2 카메라(12)와의 위치를 상대적으로 변화시키면서, 제1 카메라(11) 또는 제2 카메라(12)로 촬상이 행해진다. The integrated circuit 71 outputs the driving motor pulses to the conveying unit 50 through the output unit 73 simultaneously with the signal output of the irradiation patterns of steps 1 to 3 described above. Thereby, conveying the cover glass G at a constant speed on the mounting part 40 and changing the positions of the cover glass G, the 1st camera 11, and the 2nd camera 12 relatively, the 1st camera 11 or the 1st camera 12 2 The imaging is performed with the camera 12 .

이에 의해 피검사물을 1회 반송하는 동안에, 투과 화상, 정반사 화상을 다른 타이밍으로 촬영할 수가 있다. 제1 카메라(11), 제2 카메라(12)로 커버 유리 G의 투과 화상, 정반사 화상을 촬상하는 처리는, 커버 유리 G가 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)를 다 통과할 때까지 계속한다. 커버 유리 G가 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)를 다 통과하면, 위치 검출 센서(81)에 의한 검출 신호가 집적회로(71)에 입력된다. 이 검출 신호가 입력되면, 집적회로(71)는, 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 동축 조명부(20)로의 신호 출력을 종료한다. Thereby, the transmission image and the specular reflection image can be image|photographed at different timings while the to-be-inspected object is conveyed once. In the process of imaging the transmission image and the specular reflection image of the cover glass G with the 1st camera 11 and the 2nd camera 12, the cover glass G passes through the 1st camera 11 and the 2nd camera 12. Continue until When the cover glass G passes through the first camera 11 and the second camera 12 , a detection signal by the position detection sensor 81 is input to the integrated circuit 71 . When this detection signal is input, the integrated circuit 71 ends signal output to the first camera 11 , the second camera 12 , and the coaxial lighting unit 20 .

집적회로(71)는, 출력부(73)를 통해 반송부(50)로 구동 모터 펄스를 계속하여 출력한다. 위치 검출 센서(82)에 의해 커버 유리 G가 제3 카메라(13) 하로 반송된 것이 검출되면, 검출 신호가 위치 검출 센서(82)로부터 입력부(72)를 통해 집적회로(71)에 입력된다. 이 검출 신호가 입력되면, 집적회로(71)는, 반사 화상을 제3 카메라(13)로 촬상하는 처리를 개시한다. 이하, 반사 화상을 촬상하는 처리에 대해 도 11~도 14를 이용하여 설명한다. The integrated circuit 71 continuously outputs the driving motor pulse to the conveying unit 50 via the output unit 73 . When it is detected by the position detection sensor 82 that the cover glass G has been conveyed under the third camera 13 , a detection signal is input from the position detection sensor 82 to the integrated circuit 71 via the input unit 72 . When this detection signal is input, the integrated circuit 71 starts processing for capturing a reflected image with the third camera 13 . Hereinafter, the process of imaging a reflected image is demonstrated using FIGS. 11-14.

<반사 화상을 촬상하는 처리> <Process of capturing a reflected image>

도 11은 출력부(73)로부터 제3 카메라(13) 및 입체 조명부(30)로 출력되는 신호에 대해 설명하는 도이다. ch11~46은, 출력부(73)가 가지는 채널의 일부이다. ch11~46에 기재된 수치는, 입체 조명부(30)를 조사하는 시간이며, 단위는 ㎲이다. 도 11에 있어서는, 일부의 ch에 대한 도시를 생략한다. 또, 도 12는 도 11에 나타내는 신호 출력과 제3 카메라(13)에서 촬상되는 화상에 포함되는 결함과의 대응을 나타내는 도이다. 도 13은 커버 유리 G의 단면에 있어서의 광의 모습을 나타내는 도이고 광의 경로를 2점 쇄선으로 나타낸다. 도 14는 도 11에 나타내는 처리에 있어서의 타이밍 차트이다. 11 is a diagram for explaining signals output from the output unit 73 to the third camera 13 and the stereoscopic illumination unit 30 . ch11-46 are a part of the channel which the output part 73 has. The numerical value described in ch11-46 is the time for irradiating the three-dimensional illumination part 30, and a unit is microsecond. In FIG. 11, illustration of a part of ch is abbreviate|omitted. Moreover, FIG. 12 is a figure which shows the correspondence between the signal output shown in FIG. 11, and the defect contained in the image imaged with the 3rd camera 13. As shown in FIG. It is a figure which shows the mode of the light in the cross section of cover glass G, and shows the path|route of light by the dashed-dotted line. Fig. 14 is a timing chart in the process shown in Fig. 11;

도 11에 있어서, ch11~40은 띠모양 발광부(31a~31j)로의 출력이다. 본 실시의 형태에서는, 발광 블록(30b)마다 1개의 채널이 할당되어 있다. 예를 들면, ch11~13은 띠모양 발광부(31a)(이를 구성하는 3개의 발광 블록(30d), 이하 같음)으로의 출력이며, ch14~16은 띠모양 발광부(31b)로의 출력이며, ch17~19는 띠모양 발광부(31c)로의 출력이며, ch20~22는 띠모양 발광부(31d)로의 출력이며, ch23~25는 띠모양 발광부(31e)로의 출력이며, ch26~28은 띠모양 발광부(31f)로의 출력이며, ch29~31은 띠모양 발광부(31g)로의 출력이며, ch32~34는 띠모양 발광부(31h)로의 출력이며, ch35~37은 띠모양 발광부(31i)로의 출력이며, ch38~40은 띠모양 발광부(31j)로의 출력이다. In Fig. 11, ch11 to 40 are outputs to the band-shaped light emitting units 31a to 31j. In this embodiment, one channel is allocated to each light emitting block 30b. For example, ch11 to 13 are outputs to the band-shaped light-emitting unit 31a (three light-emitting blocks 30d constituting it, the same hereinafter), ch14 to 16 are outputs to the band-shaped light-emitting unit 31b, ch17 to 19 are outputs to the band-shaped light emitting unit 31c, ch20 to 22 are outputs to the band-shaped light emitting unit 31d, ch23 to 25 are outputs to the band-shaped light emitting unit 31e, and ch26 to 28 are bands output to the light emitting part 31f, ch29 to 31 are outputs to the band light emitting part 31g, ch32 to 34 are outputs to the band light emitting part 31h, ch35 to 37 are the output to the band light emitting part 31i ), and ch38 to 40 are outputs to the band-shaped light emitting unit 31j.

또, ch41은 띠모양 발광부(32a)로의 출력이며, ch42는 띠모양 발광부(32b~32e)로의 출력이며, ch43는 띠모양 발광부(32f~32i)로의 출력이다. 또한, ch44는 띠모양 발광부(33a)로의 출력이며, ch45는 띠모양 발광부(33b~33e)로의 출력이며, ch46는 띠모양 발광부(33f~33i)로의 출력이다. Note that ch41 is an output to the band-shaped light-emitting units 32a, ch42 is an output to the band-shaped light-emitting units 32b to 32e, and ch43 is an output to the band-shaped light-emitting units 32f to 32i. Further, ch44 is an output to the band-shaped light-emitting units 33a, ch45 is an output to the band-shaped light-emitting units 33b to 33e, and ch46 is an output to the band-shaped light-emitting units 33f to 33i.

이하, 도 11, 13에 나타내는 차례 1~9의 처리에 대해 자세하게 설명한다. Hereinafter, the processes of steps 1 to 9 shown in FIGS. 11 and 13 will be described in detail.

(차례 1) (Top 1)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(31f)를 100㎲, 띠모양 발광부(31g)를 120㎲, 띠모양 발광부(31h)를 150㎲, 띠모양 발광부(31i)를 180㎲, 띠모양 발광부(31j)를 210㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(31f~31j)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 -x방향으로부터 조사되고, 커버 유리 G의 선단(+x측의 끝)의 P면의 내측의 면(이하, P내면이라고 함)에서 반사한 광이 입사한다(도 13 참조). 차례 1에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 선단의 P내면에 있어서의 결함(인쇄 얼룩짐, 연마 얼룩짐, 흠집 등)이 빛난 화상이다(도 12 참조). In the integrated circuit 71, the band-shaped light emitting part 31f is 100 µs, the belt-shaped light-emitting part 31g is 120 µs, the belt-shaped light-emitting part 31h is 150 µs, and the belt-shaped light-emitting part 31i is 180 µs. , generates a signal for irradiating the band-shaped light emitting unit 31j at 210 µs, and the output unit 73 outputs this signal to the band-shaped light emitting units 31f to 31j (refer to Fig. 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the light reflected from the surface inside the P surface of the front-end|tip (end of the +x side) of the cover glass G which is irradiated from -x direction to the 3rd camera 13 (it is hereafter referred to as P inner surface) enters (See Fig. 13). What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 1 is the image in which the defect (print irregularity, grinding|polishing irregularity, a flaw, etc.) in P inner surface of the front-end|tip of cover glass G shined (refer FIG. 12).

(차례 2) (Top 2)

커버 유리 G의 인쇄 부분에 펄(pearl) 도장이 되어 있는 경우에는, 집적회로(71)는, 띠모양 발광부(31b)를 300㎲, 띠모양 발광부(31g)를 300㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(31b, 31g)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는, +x방향 17°및 -x방향 17°로부터 조사되고, 커버 유리 G의 인쇄부에서 반사한 광이 입사한다. When the printed portion of the cover glass G is coated with pearl, the integrated circuit 71 irradiates the band-shaped light emitting part 31b with 300 µs and the strip-shaped light-emitting part 31g with 300 µs. , and the output unit 73 outputs this signal to the band-shaped light emitting units 31b and 31g (refer to Fig. 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from +x direction 17 degrees and -x direction 17 degrees, and the light reflected by the printing part of the cover glass G injects.

또, 커버 유리 G의 인쇄 부분에 펄(pearl) 도장 이외의 인쇄(단색 인쇄 등)가 되어 있는 경우에는, 집적회로(71)는, 띠모양 발광부(31a)를 300㎲, 띠모양 발광부(31f)를 300㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(31a, 31f)로 출력한다. 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는, +x방향 8°및 -x방향 8°로부터 조사되고, 커버 유리 G의 인쇄부에서 반사한 광이 입사한다. In addition, when printing other than pearl coating (monochromatic printing, etc.) is performed on the printed part of the cover glass G, the integrated circuit 71 sets the band-shaped light-emitting part 31a to 300 µs, and the band-shaped light-emitting part. A signal for irradiating 31f at 300 s is generated, and the output unit 73 outputs the signal to the band-shaped light emitting units 31a and 31f. At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from +x direction 8 degrees and -x direction 8 degrees, and the light reflected by the printing part of the cover glass G injects.

차례 2에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 인쇄부의 결함(얼룩 등)이 다른 인쇄부와 다른 콘트라스트(contrast)의 화상(예를 들면, 인쇄부의 결함이 다른 인쇄부보다 어둡거나 밝거나 하는 화상)이다(도 12 참조). The image captured by the third camera 13 in turn 2 is an image of contrast (for example, the defect of the printed part is different from that of the other printed part) in which the defect (stain, etc.) of the printed part of the cover glass G is different from that of the other printed part. dark or bright image) (refer to Fig. 12).

(차례 3) (Top 3)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(31a)를 100㎲, 띠모양 발광부(31b)를 120㎲, 띠모양 발광부(31c)를 150㎲, 띠모양 발광부(31d)를 180㎲, 띠모양 발광부(31e)를 210㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(31a~31e)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 +x방향으로부터 조사되고, 커버 유리 G의 후단(-x측의 끝)의 P내면에서 반사한 광이 입사한다(도 13 참조). 차례 3에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 후단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 화상이다(도 12 참조). In the integrated circuit 71, the band-shaped light emitting part 31a is 100 µs, the belt-shaped light-emitting part 31b is 120 µs, the belt-shaped light-emitting part 31c is 150 µs, and the belt-shaped light-emitting part 31d is 180 µs. , generates a signal for irradiating the band-shaped light emitting unit 31e at 210 µs, and the output unit 73 outputs this signal to the band-shaped light emitting units 31a to 31e (refer to Fig. 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from the +x direction, and the light reflected by P inner surface of the rear end (the -x side end) of the cover glass G enters (refer FIG. 13). What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 3 is the image which the defect in P inner surface of the rear end of cover glass G shone (refer FIG. 12).

(차례 4) (Top 4)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(32a)를 200㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(32a)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 -y방향으로부터 조사되고, 커버 유리 G의 좌단(+y측의 끝)의 P내면에서 반사한 광이 입사한다. 차례 4에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 좌단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 화상이다(도 12 참조). The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the band-shaped light emitting unit 32a at 200 μs, and the output unit 73 outputs this signal to the band-shaped light emitting unit 32a (refer to Fig. 11). . At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from -y direction, and the light reflected by P inner surface of the left end (end of the +y side) of cover glass G injects. What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 4 is the image which the defect in P inner surface of the left end of cover glass G shone (refer FIG. 12).

(차례 5) (Top 5)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(33a, 33f~33i, 31f~31j)를 3㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(33a, 33f~33i, 31f~31j)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 +y방향 및 +y방향과 -x방향과의 사이로부터 조사되고, 커버 유리 G의 좌단 또한 좌후단측의 P면의 표측(表側)(이하 P표면이라고 함)에서 반사한 광이 입사한다(도 13 참조). 차례 5에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 좌단 또한 좌후단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 화상이다(도 12 참조). 이 화상에서는, P표면에 있어서의 흠집, 이물질 등의 결함의 대부분이 어둡게 비친다. The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the band-shaped light emitting units 33a, 33f to 33i, and 31f to 31j at 3 μs, and the output unit 73 transmits the signal to the band-shaped light emitting unit 33a, 33f to 33i, and 31f to 31j) (refer to FIG. 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, it irradiates to the 3rd camera 13 from between the +y direction and +y direction, and -x direction, and the left end of cover glass G and the front side of the P surface of the left rear end side (hereinafter referred to as P surface) ) and the reflected light is incident (see FIG. 13). What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 5 is the image which the defect in the P surface of the left end and left rear end side of cover glass G was reflected (refer FIG. 12). In this image, most of the defects such as scratches and foreign substances on the P surface are reflected darkly.

(차례 6) (Top 6)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(33b~33e)를 3㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(33b~33e)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 +y방향과 +x방향과의 사이로부터 조사되고, 커버 유리 G의 좌단으로부터 선단측의 P표면에서 반사한 광이 입사한다. 차례 6에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 좌단으로부터 선단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 화상이다(도 12 참조). The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the band-shaped light-emitting units 33b to 33e at 3 μs, and the output unit 73 outputs the signal to the band-shaped light-emitting units 33b to 33e ( 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from between the +y direction and the +x direction, and the light reflected by the P surface of the front-end|tip side from the left end of the cover glass G injects. What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 6 is the image which the defect in the P surface of the front-end|tip side from the left end of cover glass G reflected (refer FIG. 12).

(차례 7) (Top 7)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(33a)를 200㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(33a)로 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 +y방향으로부터 조사되고, 커버 유리 G의 우단(-y측의 끝)의 P내면에서 반사한 광이 입사한다. 차례 7에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 우단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 화상이다(도 12 참조). The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the band-shaped light emitting unit 33a at 200 µs, and the output unit 73 outputs this signal to the band-shaped light emitting unit 33a (refer to Fig. 11). . At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from the +y direction, and the light reflected by P inner surface of the right end (end of -y side) of cover glass G injects. What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 7 is the image which the defect in P inner surface of the right end of cover glass G shone (refer FIG. 12).

(차례 8) (Top 8)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(32f~32i)를 3㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(32f~32i)에 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 -y방향과 -x방향과의 사이로부터 조사되고, 커버 유리 G의 우단으로부터 후단측의 P표면에서 반사한 광이 입사한다. 차례 8에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 우단으로부터 후단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 화상이다(도 12 참조). The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the band-shaped light-emitting units 32f to 32i at 3 μs, and the output unit 73 outputs this signal to the band-shaped light-emitting units 32f to 32i ( 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from between a -y direction and a -x direction, and the light reflected by the P surface on the rear end side from the right end of the cover glass G enters. What is imaged with the 3rd camera 13 in turn 8 is the image which the defect in P surface of the rear end side from the right end of cover glass G reflected (refer FIG. 12).

(차례 9) (Top 9)

집적회로(71)는, 띠모양 발광부(32a~32e, 31a~31e)를 3㎲로 조사시키는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 이 신호를 띠모양 발광부(32a~32e, 31a~31e)에 출력한다(도 11 참조). 이와 동시에 집적회로(71)는 촬상 신호를 생성하고, 출력부(73)는 이를 제3 카메라(13)로 출력한다. 이에 의해 제3 카메라(13)에는 -y방향 및 -y방향과 +x방향과의 사이로부터 조사되고, 커버 유리 G의 우단으로부터 우선단측의 P표면에서 반사한 광이 입사한다. 차례 9에서 제3 카메라(13)로 촬상되는 것은, 커버 유리 G의 우단 또한 우선단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 화상이다(도 12 참조). The integrated circuit 71 generates a signal for irradiating the band-shaped light-emitting units 32a to 32e and 31a to 31e at 3 μs, and the output unit 73 transmits the signal to the band-shaped light-emitting units 32a to 32e, 31a to 31e) (refer to Fig. 11). At the same time, the integrated circuit 71 generates an imaging signal, and the output unit 73 outputs it to the third camera 13 . Thereby, the 3rd camera 13 is irradiated from between the -y direction and the -y direction and the +x direction, and the light reflected by the P surface on the right end side from the right end of the cover glass G enters. What is imaged by the 3rd camera 13 in turn 9 is the image which the defect in the P surface of the right end and right end side of cover glass G was reflected (refer FIG. 12).

또, 집적회로(71)는, 차례 9의 출력을 행함과 동시에 반복 처리를 나타내는 신호를 생성하고, 출력부(73)는, 반복 처리를 나타내는 신호를 집적회로(71)로 출력한다. 집적회로(71)는, 반복 처리를 나타내는 신호를 받아, 처리를 최초로 되돌리고, 차례 1~9에 나타내는 신호를 차례로 출력하는 처리를 반복한다. In addition, the integrated circuit 71 outputs a sequence of 9 and generates a signal indicating the iterative processing, and the output unit 73 outputs a signal indicating the repetition processing to the integrated circuit 71 . The integrated circuit 71 repeats the process of receiving the signal indicating the iterative process, returning the process to the first, and sequentially outputting the signals shown in steps 1 to 9.

여기서, 차례 4, 7에 있어서 각각 좌단, 우단의 P내면을 검사할 때는, 차례 5, 6, 8, 9에 있어서 P표면을 검사할 때보다 훨씬 긴 시간, 띠모양 발광부(32a, 33a)를 조사한다. 따라서, 차례 4, 7에 있어서 제3 카메라(13)에서는, 각각 커버 유리 G의 P면이 새하얗게 빛난, 포화한 화상이 촬상된다. Here, when inspecting the inner surface of the P at the left end and the right end in steps 4 and 7, respectively, a much longer time than when inspecting the P surface in steps 5, 6, 8, and 9, the band-shaped light emitting parts 32a and 33a investigate Therefore, in the 3rd camera 13 in sequence 4 and 7, the saturated image in which the P surface of the cover glass G shone purely white is imaged, respectively.

또한, 도 11, 12 등에 나타내는 차례 1~9는 일례이며, 검사 부위나 검사 내용의 차례는 임의로 정할 수가 있다. 또, 차례 1에서 나타내는 커버 유리 G의 선단의 P내면의 검사, 및 차례 6에서 나타내는 커버 유리 G의 좌단으로부터 선단측의 P표면의 검사는, 커버 유리 G의 중앙부, 후단부에서는 불필요하고, 차례 3에서 나타내는 커버 유리 G의 후단의 P내면의 검사, 및 차례 8에서 나타내는 커버 유리 G의 우단으로부터 후단측의 P표면의 검사는, 커버 유리 G의 선단부, 중앙부에서는 불필요하다. 집적회로(71)는, 커버 유리 G의 길이를 나타내는 정보로부터 구동 모터 펄스(pulse) 수를 산출하고, 출력한 구동 모터 펄스 수에 기초하여 커버 유리 G의 위치를 구하고, 커버 유리 G의 위치에 따라 차례 1, 3, 6, 8을 생략하도록 해도 좋다. In addition, the order 1-9 shown to FIG. 11, 12 etc. are an example, and the order of an examination site|part and examination content can be set arbitrarily. In addition, the test|inspection of the P inner surface of the front-end|tip of the cover glass G shown in turn 1, and the test|inspection of the P surface on the front-end|tip side from the left end of cover glass G shown in turn 6 are unnecessary in the central part of cover glass G, a rear-end part, The test|inspection of the P inner surface of the rear end of cover glass G shown by 3, and the test|inspection of the P surface on the rear end side from the right end of cover glass G shown by sequence 8 are unnecessary in the front-end|tip part of cover glass G, and a center part. The integrated circuit 71 calculates the number of drive motor pulses from the information indicating the length of the cover glass G, finds the position of the cover glass G based on the output drive motor pulse number, and at the position of the cover glass G You may make it abbreviate|omit sequence 1, 3, 6, and 8 according to it.

도 14는 도 11에 나타내는 처리에 있어서의 타이밍 차트이다. 또한, 차례 1에 있어서는, 100㎲로 조사시키는 신호만을 표시한다. 촬상 신호는 도 10에 나타내는 것과 마찬가지이다. 입체 조명부(30)를 조사시키는 신호는, 촬상 신호가 하이(High)로 됨과 동시에 하이(High)로 되고, 각각 조사 시간 경과후에 로우(Low)로 된다. Fig. 14 is a timing chart in the process shown in Fig. 11; In addition, in turn 1, only the signal to be irradiated with 100 s is displayed. The imaging signal is the same as that shown in FIG. The signal for irradiating the stereoscopic illumination unit 30 becomes high at the same time that the imaging signal becomes high, and becomes low after the irradiation time has elapsed.

또한, P표면에서 반사한 광을 제3 카메라(13)에 입사시키는 경우와 인쇄부에서 반사한 광을 제3 카메라(13)에 입사시키는 경우에는, 필요한 광량은 1:100 정도이다. 따라서, P면에서 반사한 광을 제3 카메라(13)에 입사시키는 경우와 인쇄부에서 반사한 광을 제3 카메라(13)에 입사시키는 경우에 입체 조명부(30)의 조사 시간을 다르게 한다. In addition, when the light reflected from the P surface is made to enter the third camera 13 and when the light reflected from the printing unit is made to enter the third camera 13, the required amount of light is about 1:100. Accordingly, when the light reflected from the P-plane is incident on the third camera 13 and when the light reflected from the printing unit is incident on the third camera 13 , the irradiation time of the stereoscopic illumination unit 30 is different.

집적회로(71)는, 상기 차례 1~9의 신호 출력과 동시에, 출력부(73)를 통해 반송부(50)에 구동 모터 펄스를 출력한다. 이에 의해 재치부(40) 상에서 커버 유리 G를 일정한 속도로 반송하여 커버 유리 G와 제3 카메라(13)와의 위치를 상대적으로 변화시키면서, 제3 카메라(13)로 촬상이 행해진다. The integrated circuit 71 outputs a driving motor pulse to the conveying unit 50 through the output unit 73 simultaneously with outputting the signals of steps 1 to 9 above. Imaging is performed with the 3rd camera 13, conveying the cover glass G at a constant speed on the mounting part 40 by this, and changing the position of cover glass G and the 3rd camera 13 relatively.

이에 의해 선단 P면에 있어서의 결함이 빛난 화상, 후단 P면에 있어서의 결함이 빛난 화상, 좌우단 P면에 있어서의 결함이 빛난 화상, 인쇄부의 결함이 다른 인쇄부보다 어두운 화상을, 커버 유리 G를 1회 반송하는 동안에 제각기의 타이밍으로 촬영할 수가 있다. 제3 카메라(13)로 커버 유리 G의 투과 화상, 정반사 화상을 촬상하는 처리는, 커버 유리 G가 제3 카메라(13)를 다 통과할 때까지 계속한다. 커버 유리 G가 제3 카메라(13)를 다 통과하면, 위치 검출 센서(82)에 의한 검출 신호가 집적회로(71)에 입력된다. 이 검출 신호가 입력되면, 집적회로(71)는, 제3 카메라(13) 및 입체 조명부(30)로의 신호 출력을 종료한다. Thereby, the image in which the defect in the front end P surface shines, the image in which the defect in the rear end P surface shines, the image in which the defect in the left and right ends P surface shines, and the image in which the defect in a printed part is darker than other printed parts are obtained by the cover glass During one transfer of G, it is possible to take pictures at different timings. The process of imaging the transmission image of the cover glass G and the specular reflection image with the 3rd camera 13 continues until the cover glass G passes the 3rd camera 13 all. When the cover glass G passes through the third camera 13 , a detection signal by the position detection sensor 82 is input to the integrated circuit 71 . When this detection signal is input, the integrated circuit 71 ends signal output to the third camera 13 and the stereoscopic illumination unit 30 .

그 후, 집적회로(71)는, 소정의 펄스 수만큼 반송부(50)에 구동 모터 펄스 출력하고, 커버 유리 G를 처리 종료 위치까지 이동시킨다. 그리고, 집적회로(71)는, 일련의 처리를 종료한다. Then, the integrated circuit 71 outputs a drive motor pulse to the conveyance part 50 by a predetermined number of pulses, and moves the cover glass G to the process end position. Then, the integrated circuit 71 ends the series of processing.

일련의 처리가 종료하면, 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 제3 카메라(13)로 촬상된 화상은, 출력부(73)를 통해 PC(100)로 출력된다. CPU(101)는, 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 제3 카메라(13)로 촬상된 화상으로부터 검사용의 화상을 생성한다. 본 실시의 형태에서는, CPU(101)는, 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 제3 카메라(13)로 촬상된 화상 중에서, 같은 조명 패턴으로 촬상된 화상을 추출하고, 이들을 연결하여 평면 화상을 생성한다. 이하, 화상 생성 처리에 대해 설명한다. When the series of processing is finished, the images captured by the first camera 11 , the second camera 12 , and the third camera 13 are outputted to the PC 100 through the output unit 73 . The CPU 101 generates an image for inspection from images captured by the first camera 11 , the second camera 12 , and the third camera 13 . In the present embodiment, the CPU 101 extracts an image captured by the same illumination pattern from among the images captured by the first camera 11 , the second camera 12 , and the third camera 13 , and Connect to create a flat image. Hereinafter, image generation processing will be described.

CPU(101)는, 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)로 촬상된 화상으로부터 투과 화상 및 정반사 화상을 생성한다. 투과 화상, 정반사 화상을 촬상하는 처리에서는, 도 9, 10에 나타내듯이, 차례 1~3의 조사 패턴의 조사를 반복해 가고 있다. 따라서, CPU(101)는, 제2 카메라(12)로 촬상된 화상중 1프레임째를 기준으로 하여 3프레임 띄움(1프레임째, 4프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 투과 화상(평면 화상)이 생성된다. 투과 화상은, 도 15에 나타내듯이, 불투명한 인쇄 부분이 어둡게 비친 화상이며, 인쇄의 결함부(도 15에 있어서의 점선의 둥근 표시부)가 확인 가능하다. The CPU 101 generates a transmitted image and a specular reflection image from images captured by the first camera 11 and the second camera 12 . In the process of imaging a transmitted image and a specular reflection image, as shown in FIGS. 9 and 10, irradiation of the irradiation pattern of steps 1 - 3 is repeated. Accordingly, the CPU 101 extracts frames of three frames offset (the first frame, the fourth frame ...) from the images captured by the second camera 12 based on the first frame, and converts these images to They are connected to create a two-dimensional image. Thereby, the transmission image (planar image) of the cover glass G is produced|generated. As shown in FIG. 15, the transparent image is an image in which the opaque printed part is reflected darkly, and the defect part of printing (the round display part of the dotted line in FIG. 15) can be confirmed.

또, CPU(101)는, 제1 카메라(11)로 촬상된 화상중 2프레임째를 기준으로 하여 3프레임 띄움(2프레임째, 5프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 상측의 정반사 화상, 즉 커버 유리 G의 표면에 있어서의 정반사 화상(평면 화상)이 생성된다. 정반사 화상은, 도 16에 나타내듯이, 결함(도 16에서는 흠집을 예시하고 있음)이 없는 부분은 밝고, 흠집이 어둡게 비친 화상이다. 또한, 흠집이 인쇄 부분과 겹쳐있다고 해도, 인쇄 부분보다 유리 표면에서의 반사율이 높기 때문에, 흠집은 다른 부분보다 어둡게 비친다. Further, the CPU 101 extracts frames of 3 frames offset (2nd frame, 5th frame...) from among the images captured by the first camera 11 on the basis of the 2nd frame, and extracts these images They are connected to create a two-dimensional image. Thereby, the upper regular reflection image, ie, the regular reflection image (planar image) in the surface of the cover glass G is produced|generated. As for the specular reflection image, as shown in FIG. 16, the part without a defect (the flaw is illustrated in FIG. 16) is a bright image, and a flaw is the image reflected darkly. Moreover, even if the flaw overlaps with the printed part, since the reflectance in the glass surface is higher than that of a printed part, the flaw is reflected darker than the other part.

또한, CPU(101)는, 제2 카메라(12)로 촬상된 화상중 3프레임째를 기준으로 하여 3프레임 띄움(3프레임째, 6프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 하측의 정반사 화상, 즉 커버 유리 G의 이면에 있어서의 정반사 화상(평면 화상)이 생성된다. Further, the CPU 101 extracts frames of 3 frames offset (3rd frame, 6th frame...) from among the images captured by the second camera 12 on the basis of the 3rd frame, and extracts these images. They are connected to create a two-dimensional image. Thereby, the regular reflection image of the lower side, ie, the regular reflection image (planar image) in the back surface of the cover glass G is produced|generated.

또, CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상으로부터 반사 화상을 생성한다. 반사 화상을 촬상하는 처리에서는, 도 11~13에 나타내듯이, 차례 1~9의 조사 패턴의 조사를 반복해 가고 있다. 따라서, CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 1프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(1프레임째, 10프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 도 17에 나타내듯이, 커버 유리 G의 선단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. Further, the CPU 101 generates a reflected image from the image captured by the third camera 13 . In the process of imaging a reflected image, as shown in FIGS. 11-13, irradiation of the irradiation pattern of steps 1-9 is being repeated. Accordingly, the CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (1st frame, 10th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the 1st frame, and converts these images to They are connected to create a two-dimensional image. Thereby, as shown in FIG. 17, the planar image of the cover glass G which the defect in P inner surface of the front-end|tip of cover glass G shined is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 2프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(2프레임째, 11프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 도 18에 나타내듯이, 커버 유리 G의 인쇄부의 결함이 다른 인쇄부보다 어둡게 비친 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (2nd frame, 11th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the second frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, as shown in FIG. 18, the flat image of the cover glass G in which the defect of the printing part of cover glass G reflected darker than other printing parts is produced|generated.

또한, 설명을 위해 도 17, 도 18은 평면 화상의 일부를 확대하고 있고, 결함의 주위에 흑선을 표시하고 있다. In addition, for explanation, a part of the planar image is enlarged in FIGS. 17 and 18, and black lines are displayed around the defect.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 3프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(3프레임째, 12프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 후단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (3rd frame, 12th frame...) from among the images captured by the third camera 13 based on the 3rd frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G which the defect in P inner surface of the rear stage of the cover glass G shined is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 4프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(4프레임째, 13프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 좌단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. The CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (4th frame, 13th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the 4th frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G which the defect in P inner surface of the left end of cover glass G shined is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 5프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(5프레임째, 14프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 좌단 또한 후단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. The CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (5th frame, 14th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the 5th frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G which the defect in the P surface of the left end and rear end side of cover glass G reflected is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 6프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(6프레임째, 15프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 좌단으로부터 선단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. The CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (6th frame, 15th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the 6th frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G in which the defect in the P surface of the front-end|tip side was reflected from the left end of cover glass G is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 7프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(7프레임째, 16프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 우단의 P내면에 있어서의 결함이 빛난 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. The CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (7th frame, 16th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the 7th frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G which the defect in P inner surface of the right end of cover glass G shined is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 8프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(8프레임째, 17프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 우단으로부터 후단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. The CPU 101 extracts frames of 9 frames offset (8th frame, 17th frame...) from among the images captured by the third camera 13 on the basis of the 8th frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G which the defect in P surface on the rear end side reflected from the right end of cover glass G is produced|generated.

CPU(101)는, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중 9프레임째를 기준으로 하여 9프레임 띄움(9프레임째, 18프레임째···)의 프레임을 추출하고, 이들 화상을 연결하여 2차원의 화상을 생성한다. 이에 의해 커버 유리 G의 우단 또한 선단측의 P표면에 있어서의 결함이 비친 커버 유리 G의 평면 화상이 생성된다. The CPU 101 extracts the frames of the 9th frame offset (the 9th frame, the 18th frame...) from among the images captured by the third camera 13 based on the 9th frame, and connects these images to Creates a two-dimensional image. Thereby, the planar image of the cover glass G which the defect in the P surface of the right end of cover glass G and the front-end|tip side was reflected is produced|generated.

본 실시의 형태에 의하면, 입체 조명부(30)를 이용하여 여러 가지 방향으로부터 광을 커버 유리 G에 조사하여 화상을 촬상하기 때문에, 결함이 커버 유리 G의 단면의 어느 위치에 있었다고 해도, 1개의 광학 검사 장치(1)를 이용하여, 1회의 검사로 결함을 검사할 수가 있다. According to this embodiment, since the cover glass G is irradiated with light from various directions using the stereoscopic illumination part 30 and an image is imaged, even if a defect existed in any position of the cross section of the cover glass G, one optical A defect can be inspected by one inspection using the inspection apparatus 1 .

특히, 제1 영역(31)에 있어서는, 중심면 S1의 근방 이외의 영역에, y방향을 따라 발광부(30a)가 늘어놓여져 있다. 따라서, 띠모양의 광을 커버 유리 G에 조사하고, y방향의 위치에 의하지 않고 중심축 ax 근방의 영역을 마찬가지로 검사할 수가 있다. In particular, in the first region 31, the light emitting portions 30a are arranged along the y-direction in regions other than the vicinity of the central plane S1. Therefore, by irradiating the strip|belt-shaped light to the cover glass G, the area|region in the vicinity of the central axis ax can be similarly inspected irrespective of the position in the y direction.

또, 복수의 띠모양 발광부(31a~31j)를 구비하기 때문에, 여러 가지 각도로부터 중심축 ax 근방의 영역에 광을 조사할 수가 있다. P면에 있어서의 결함의 전체상을 촬상하기 위해서는, 광축과 중심면 S1이 이루는 각도가 8°근방인 광원으로부터 44°근방인 광원까지 동시에 광을 조사하는 것이 중요하다. 따라서, 선단이나 후단의 P면에 있어서의 결함의 전체상을 촬상하기 위해서는, 복수의 띠모양 발광부(31a~31j)를 구비하는 것이 중요하다. 또, 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)에 있어서는, 중심면 S1 상의 위치에 띠모양 발광부(32a, 33a)가 설치되어 있기 때문에, 좌우 양측의 P면에 대해 결함의 전체상을 촬상할 수가 있다. Further, since the plurality of band-shaped light emitting portions 31a to 31j are provided, light can be irradiated to the region near the central axis ax from various angles. In order to image the entire image of the defect on the P-plane, it is important to simultaneously irradiate light from a light source having an angle between the optical axis and the central plane S1 of around 8° to a light source near 44°. Therefore, in order to image the whole image of the defect in the P surface of a front-end|tip or a rear end, it is important to provide the some strip|belt-shaped light emitting part 31a-31j. In addition, in the second region 32 and the third region 33 , since the band-shaped light emitting portions 32a and 33a are provided at positions on the central plane S1, the overall image of the defect is with respect to the left and right P-planes. can be photographed.

또, 본 실시의 형태에 의하면, 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ2가 대략 17°로 되도록 띠모양 발광부(31b, 31g)가 배치되어 있고, 펄 인쇄에서 광이 반사했을 때의 산란광을 제3 카메라(13)로 촬상함으로써, 펄재(pearl material)의 광택에 비해 결함의 콘트라스트(contrast)가 커진 화상을 촬상할 수가 있다. In addition, according to this embodiment, the band-shaped light emitting parts 31b and 31g are arranged so that the angle θ2 between the optical axis and the central plane S1 is approximately 17°, and the scattered light when the light is reflected in pearl printing is eliminated. 3 By imaging with the camera 13, it is possible to image an image in which the contrast of the defect is increased compared to the luster of the pearl material.

예를 들면, 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ1이 대략 8°인 띠모양 발광부(31a, 31f)로 촬상한 경우에는, 펄재의 광택이 강하게 비쳐들어가 버린다. 또, 예를 들면, 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ3이 대략 26°인 띠모양 발광부(31c, 31h)로 촬상한 경우나, 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ4가 대략 35°인 띠모양 발광부(31d, 31i)로 촬상한 경우에는, 펄(pearl) 도장의 결함 부분의 콘트라스트가 작아져 버린다. For example, when an image is captured by the band-shaped light emitting portions 31a and 31f in which the angle θ1 between the optical axis and the central plane S1 is approximately 8°, the luster of the pearl material is strongly reflected. Further, for example, in the case of imaging with the band-shaped light emitting units 31c and 31h in which the angle θ3 between the optical axis and the central plane S1 is approximately 26°, or in the case where the angle θ4 between the optical axis and the central plane S1 is approximately 35°, the band When imaging with the pattern light-emitting parts 31d and 31i, the contrast of the defective part of the pearl coating will become small.

이에 반해 본 실시의 형태와 같이, 법선 방향에 대해서 17°의 각도로부터 커버 유리 G에 광을 조사함으로써, 펄(pearl) 도장의 결함 부분의 콘트라스트가 다른 부분에 대해서 낮게 되고 또는 높게 된 화상을 촬상할 수가 있고, 또한 펄재의 광택이 결함 검출의 문턱값에 걸리기 어렵다. 따라서, 이 촬상 화상에 기초하여 펄(pearl) 도장의 결함을 용이하게 검출할 수가 있다. On the other hand, as in the present embodiment, by irradiating the cover glass G with light from an angle of 17° with respect to the normal direction, an image in which the contrast of the defective portion of the pearl coating becomes low or high with respect to other portions is captured. It can be done, and the luster of the pearl material does not easily hit the threshold value of defect detection. Accordingly, a defect in the pearl coating can be easily detected based on this captured image.

또, 본 실시의 형태에 의하면, 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ1이 대략 8°로 되도록 띠모양 발광부(31a, 31f)가 배치되어 있고, 법선 방향에 대해서 8°의 각도로부터 커버 유리 G에 광을 조사함으로써 단색 인쇄의 결함 부분의 콘트라스트가 다른 부분에 대해서 낮게 되고 또는 높게 된 화상을 촬상할 수가 있다. Moreover, according to this embodiment, the strip|belt-shaped light emitting parts 31a, 31f are arrange|positioned so that the angle θ1 formed between the optical axis and the central plane S1 is approximately 8°, and the cover glass G from an angle of 8° with respect to the normal direction. By irradiating light to the surface, an image in which the contrast of the defective portion of the monochrome printing is lowered or higher than that of the other portions can be captured.

또, 본 실시의 형태에서는, 촬상부(10)의 촬상 시간을 변경하지 않고, 동축 조명부(20), 입체 조명부(30)로부터의 광의 조사 시간을 변경함으로써, 촬상 내용에 따라 광량을 다르게 할 수가 있다. In addition, in this embodiment, without changing the imaging time of the imaging unit 10, by changing the irradiation time of light from the coaxial illumination unit 20 and the stereoscopic illumination unit 30, the amount of light can be varied according to the contents of the imaging. have.

또, 본 실시의 형태에서는, 제3 카메라(13)에 대응하여 입체 조명부(30)를 설치하고, 제3 카메라(13)로 촬상된 화상중에서 같은 조사 패턴으로 촬상된 화상을 뽑아내고, 조사 패턴마다 다른 평면 화상을 생성함으로써, 복수의 카메라를 사용한 촬상과 동등의 화상을 최소의 카메라 수로 실현할 수가 있다. Moreover, in this embodiment, the three-dimensional illumination part 30 is provided corresponding to the 3rd camera 13, and the image picked up by the same irradiation pattern from the images imaged by the 3rd camera 13 is extracted, and the irradiation pattern By generating different planar images for each, an image equivalent to imaging using a plurality of cameras can be realized with a minimum number of cameras.

또, 본 실시의 형태에서는, 광학 검사 장치(1)는 띠모양 발광부(31a, 31f)와 띠모양 발광부(31b, 31g)를 양쪽 모두 구비하고 있기 때문에, 같은 장치로, 펄 안료를 이용한 경우, 펄 안료를 이용하지 않는 경우의 어느 것에 대해서도, 인쇄부의 색얼룩 등을 검출 가능한 화상을 촬상할 수가 있다. Moreover, in this embodiment, since the optical inspection apparatus 1 is provided with both the strip|belt-shaped light-emitting parts 31a, 31f and the strip|belt-shaped light-emitting parts 31b, 31g, in the same apparatus, a pearl pigment is used. In this case, an image in which color unevenness or the like of the printed part can be detected can be captured in any case in which the pearl pigment is not used.

또한, 본 실시의 형태에서는, 띠모양 발광부(31a, 31f)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ1이 대략 8°이지만, 각도 θ1은 대략 8~10°이면 좋다. 또, 각도 θ2~θ5도 도시한 각도에 한정되지 않는다. In the present embodiment, the angle θ1 between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31a and 31f and the central plane S1 is approximately 8°, but the angle θ1 may be approximately 8 to 10°. In addition, angles θ2 to θ5 are not limited to the illustrated angles.

또, 본 실시의 형태에서는, PC(100)로 결함 검출용의 화상을 생성하였지만, PC(100)에 있어서, 생성한 화상에 기초하여 커버 유리 G의 결함을 검출하도록 해도 좋다. 예를 들면, 도 14에 나타내는 화상에 있어서는, 화소치와 문턱값을 비교함으로써 결함을 검출할 수가 있다. 또, 예를 들면, 도 15에 나타내는 화상에 있어서는, 복수 화소의 평균치를 산출하고, 그 평균치와 문턱값(threshold)을 비교함으로써 결함을 검출할 수가 있다. Moreover, in this embodiment, although the image for defect detection was produced|generated with PC100, you may make it detect the defect of the cover glass G based on the created image in PC100. For example, in the image shown in FIG. 14, a defect can be detected by comparing a pixel value and a threshold value. Moreover, in the image shown in FIG. 15, for example, a defect can be detected by calculating the average value of a plurality of pixels, and comparing the average value with a threshold value.

또, 본 실시의 형태에서는, 띠모양 발광부(31a~31j)의 광축 상에 원통 렌즈(cylindrical lens)(30c)를 설치하였지만, 원통 렌즈(30c)는 필수는 아니다. 다만, 원통 렌즈(30c)를 가지는 경우에는, 원통 렌즈(30c)에 의해 발광부(30a)로부터 조사된 광을 중심축 ax 근방에 집광할 수가 있고, 이에 의해 제3 카메라(13)를 향하는 광량을 증가시킬 수가 있다. 따라서, 촬상부(10)의 촬상 주파수를 높게(촬상 시간을 짧게) 할 수가 있다. Moreover, in this embodiment, although a cylindrical lens 30c is provided on the optical axis of the strip|belt-shaped light emitting parts 31a-31j, the cylindrical lens 30c is not essential. However, in the case of having the cylindrical lens 30c, the light irradiated from the light emitting unit 30a by the cylindrical lens 30c can be focused in the vicinity of the central axis ax, whereby the amount of light directed to the third camera 13 is achieved. can increase Accordingly, it is possible to increase the imaging frequency of the imaging unit 10 (shorten the imaging time).

또, 본 실시의 형태에서는, 도 11에 나타내듯이, 띠모양 발광부(32a, 32b~32e, 32f~32i)를 각각 다른 채널에 접속하고, 띠모양 발광부(33a, 33b~33e, 33f~33i)를 각각 다른 채널에 접속하였지만, 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)와 채널과의 관계는 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 띠모양 발광부(32b~32i, 33b~33i)를 1개의 채널에 접속해도 좋고, 띠모양 발광부(32a~32i, 33a~33i)를 각각 다른 채널에 접속해도 좋다. Moreover, in this embodiment, as shown in FIG. 11, the strip|belt-shaped light-emitting parts 32a, 32b-32e, 32f-32i are connected to different channels, respectively, and the strip|belt-shaped light-emitting parts 33a, 33b-33e, 33f- 33i) are respectively connected to different channels, but the relationship between the band-shaped light emitting units 32a to 32i and 33a to 33i and the channel is not limited thereto. For example, the band-shaped light-emitting units 32b to 32i and 33b to 33i may be connected to one channel, and the band-shaped light-emitting units 32a to 32i and 33a to 33i may be connected to different channels, respectively.

또, 본 실시의 형태에서는, 도 9, 10, 11, 13에 나타내는 각 조사 패턴에 있어서의 조사 시간을 나타냈지만, 조사 시간은 예시이며, 조사 시간은 이들에 기재된 값에 한정되는 것은 아니다. 또, 도 9, 10, 11, 13에 나타내는 각 조사 패턴에 있어서는, 조사 시간을 ㎲로 규정하였지만, 조사 시간은, 촬상 시간에 대한 비율로 규정해도 좋다. In addition, in this embodiment, although the irradiation time in each irradiation pattern shown in FIGS. 9, 10, 11, and 13 was shown, irradiation time is an illustration, and irradiation time is not limited to the value described in these. Moreover, in each irradiation pattern shown in FIGS. 9, 10, 11, and 13, although irradiation time was prescribed|regulated to microsecond, you may prescribe|regulate irradiation time as a ratio with respect to imaging time.

또, 본 실시의 형태에서는, 발광부(30a)가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록(30b, 30d)을 가지지만, 발광 블록(30b, 30d)이 광확산판을 가지고 있어도 좋다. 도 19는 변형예와 관련되는 발광 블록(30b-1)을 모식적으로 나타내는 도이고, 도 19(A)는 측면도이며, 도 19(B)는 도 19(A)에 나타내는 상태를 도 19(A)에 있어서의 하방향으로부터 본 도이다. Moreover, in this embodiment, although the light emitting part 30a has the light emitting blocks 30b and 30d arranged in a line, the light emitting blocks 30b, 30d may have a light-diffusion plate. Fig. 19 is a view schematically showing a light emitting block 30b-1 according to a modification, Fig. 19A is a side view, and Fig. 19B is a state shown in Fig. 19A in Fig. 19(A). It is the figure seen from the downward direction in A).

발광 블록(30b-1)은, 발광부(30a)에 인접하여 광확산판인 렌티큘러 렌즈(Lenti cular lens)(30e)가 설치된다. 렌티큘러 렌즈(30e)는, 복수의 발광부(30a)를 덮도록 설치된다. 렌티큘러 렌즈(30e)는, 단면이 가운데 볼록한 가늘고 긴 볼록 렌즈를 균등한 피치(pitch)로 다수 늘어놓은 것이고, 볼록 렌즈의 배열 방향(볼록 렌즈의 길이 방향과 직교하는 방향)과 동방향의 광의 성분을 확산한다. 발광 블록(30b-1)에서는, 볼록 렌즈의 배열 방향과 발광부(30a)는 같다. 따라서, 발광부(30a)로부터 조사된 광이 렌티큘러 렌즈(30e)에서 확산되고, 복수의 발광부(30a)로부터 조사된 광을 렌티큘러 렌즈(30e)에서 가늘고 긴 1개의 면광원으로 할 수가 있다. In the light emitting block 30b - 1, a lenticular lens 30e which is a light diffusion plate is installed adjacent to the light emitting unit 30a. The lenticular lens 30e is provided so as to cover the plurality of light emitting units 30a. The lenticular lens 30e is formed by arranging a large number of elongated convex lenses with a central convex cross section at an equal pitch, and a light component in the same direction as the arrangement direction of the convex lenses (direction orthogonal to the longitudinal direction of the convex lenses). to spread In the light emitting block 30b-1, the arrangement direction of the convex lenses and the light emitting portion 30a are the same. Accordingly, the light irradiated from the light emitting unit 30a is diffused by the lenticular lens 30e, and the light irradiated from the plurality of light emitting units 30a can be used as one long and thin surface light source from the lenticular lens 30e.

예를 들면, 렌티큘러 렌즈(30e)가 없는 경우에는, 커버 유리 G의 선단 P면이나 후단 P면에서 정반사한 광에 기초하여 검사를 행할 때, 선단 P면이나 후단 P면에 발광부(30a)의 점형상의 광이 비쳐 버릴 가능성이 있지만, 발광부(30a)를 덮도록 렌티큘러 렌즈(30e)를 설치함으로써, 이러한 부적합함의 발생을 방지할 수가 있다. For example, when there is no lenticular lens 30e, when inspection is performed based on the light specularly reflected from the front-end|tip P surface or rear-end P surface of the cover glass G, the light emitting part 30a is on the front-end|tip P surface or the rear-end P surface. Although there is a possibility that the point-shaped light of , the occurrence of such inconsistency can be prevented by providing the lenticular lens 30e so as to cover the light emitting part 30a.

또한, 선단 P면이나 후단 P면의 검사로서, 띠모양 발광부(31b)나 띠모양 발광부(31g)를 약하게 빛나게 하여, 선단 P면이나 후단 P면에 띠모양 발광부(31b)나 띠모양 발광부(31g)의 광을 비쳐 넣는 방법을 생각할 수 있다. 이 때, 띠모양 발광부(31b, 31g)에 렌티큘러 렌즈(30e)가 없는 경우에는, 선단 P면이나 후단 P면에 점형상의 광이 비쳐 버려, 잘 검사할 수 없다. 이에 반해 띠모양 발광부(31b, 31g)에 렌티큘러 렌즈(30e)가 설치되어 있는 경우에는, 선단 P면이나 후단 P면에 점형상의 광이 비치기 때문에, 이 광이 구부러져 있는지 아닌지로 선단 P면이나 후단 P면의 연마에 관한 부적합함을 검사할 수가 있다. In addition, as an inspection of the front-end P-surface or the rear-end P-surface, the band-shaped light-emitting part 31b or the strip-shaped light-emitting part 31g is weakly illuminated, and the band-shaped light-emitting part 31b or the strip is placed on the front-end P surface or the rear end P surface. A method of irradiating the light of the pattern light emitting part 31g is conceivable. At this time, if there is no lenticular lens 30e in the band-shaped light emitting parts 31b and 31g, the point-shaped light is reflected on the front end P surface or the rear end P surface, and inspection cannot be performed easily. On the other hand, when the lenticular lens 30e is provided in the band-shaped light emitting units 31b and 31g, point-shaped light is projected on the tip P surface or the rear end P surface, so it is determined whether the light is bent or not. However, it is possible to inspect the inappropriateness of the rear end P-surface polishing.

또한, 도 19에서는, 1개의 발광 블록(30b-1)에 1매의 렌티큘러 렌즈(30e)가 설치되었지만, 렌티큘러 렌즈(30e)의 매수는 이에 한정되지 않는다. 복수의 렌티큘러 렌즈를 늘어놓은 것을 복수의 발광부(30a)를 덮도록 설치해도 좋다. 또, 광확산판은 렌티큘러 렌즈에 한정되지 않는다. In addition, although one lenticular lens 30e is provided in one light emitting block 30b-1 in FIG. 19, the number of lenticular lenses 30e is not limited to this. A plurality of lenticular lenses may be arranged so as to cover the plurality of light emitting portions 30a. In addition, the light diffusion plate is not limited to a lenticular lens.

<제2의 실시의 형태> <Second embodiment>

본 발명의 제1의 실시의 형태에서는, 동축 조명을 이용한 화상과 입체 조명을 이용한 화상을 다른 카메라로 촬상하였지만, 동축 조명을 이용한 화상과 입체 조명을 이용한 화상을 같은 카메라로 촬상해도 좋다. In the first embodiment of the present invention, an image using coaxial illumination and an image using stereoscopic illumination are captured by different cameras. However, an image using coaxial illumination and an image using stereoscopic illumination may be captured by the same camera.

본 발명의 제2의 실시의 형태는, 2개의 카메라로 촬상을 행하는 형태이다. 이하, 제2의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(2)에 대해 설명한다. 또한, 광학 검사 장치(1)와 동일한 부분에 대해서는 동일한 부호를 붙이고 설명을 생략한다. A second embodiment of the present invention is a form of imaging with two cameras. Hereinafter, the optical inspection apparatus 2 which concerns on 2nd Embodiment is demonstrated. In addition, about the same part as the optical inspection apparatus 1, the same code|symbol is attached|subjected and description is abbreviate|omitted.

도 20은 제2의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(2)의 개략을 나타내는 정면도이다. 광학 검사 장치(2)는, 주로 촬상부(10A)와, 동축 조명부(20)와, 입체 조명부(30)와 ,재치부(40)와, 반송부(50)(도시 생략)를 가진다. 20 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 2 which concerns on 2nd Embodiment. The optical inspection apparatus 2 mainly includes an imaging unit 10A, a coaxial illumination unit 20 , a stereoscopic illumination unit 30 , a mounting unit 40 , and a conveying unit 50 (not shown).

촬상부(10A)는, 제1 카메라(11)(본 실시의 형태에 있어서는, 본 발명의 1차원 촬상 수단에 상당)와, 제2 카메라(12)(본 발명의 제2 촬상 수단에 상당)를 가진다. 제1 카메라(11), 제2 카메라(12)의 배치는, 광학 검사 장치(1)와 마찬가지이다. The imaging unit 10A includes a first camera 11 (corresponding to the one-dimensional imaging means of the present invention in this embodiment), and a second camera 12 (corresponding to the second imaging means of the present invention). have The arrangement of the first camera 11 and the second camera 12 is the same as that of the optical inspection device 1 .

입체 조명부(30)는, 제1 카메라(11)와 재치부(40)의 사이에 설치된다. 또, 입체 조명부(30)는, 중심축 ax가 제1 카메라(11)의 광축과 교차하는 위치에 설치된다. 띠모양 발광부(31a, 31f)의 광축과 중심면 S1이 이루는 각도 θ1(도 4 참조)이 대략 8°이기 때문에, 상측 동축 조명(21)으로부터의 광은 입체 조명부(30)에 의해 차단되지 않는다. The stereoscopic illumination unit 30 is provided between the first camera 11 and the mounting unit 40 . In addition, the stereoscopic illumination unit 30 is provided at a position where the central axis ax intersects the optical axis of the first camera 11 . Since the angle θ1 (refer to FIG. 4) formed between the optical axis of the band-shaped light emitting units 31a and 31f and the central plane S1 is approximately 8°, the light from the upper coaxial illumination unit 21 is not blocked by the stereo illumination unit 30. does not

이와 같이 구성된 광학 검사 장치(2)로 행하는 처리에 대해 설명한다. 집적회로(71)(본 발명의 제3 제어부를 포함)는 재치부(40)의 롤러(40a)를 구동하는 구동 모터 펄스를 생성하고, 출력부(73)는 이를 반송부(50)로 출력한다. 이에 의해 커버 유리 G가 재치부(40) 상을 반송 방향 F를 따라 일정한 속도로 이동한다. The processing performed by the optical inspection apparatus 2 comprised in this way is demonstrated. The integrated circuit 71 (including the third control unit of the present invention) generates a driving motor pulse for driving the roller 40a of the mounting unit 40 , and the output unit 73 outputs it to the conveying unit 50 . do. Thereby, cover glass G moves at a constant speed along the conveyance direction F on the mounting part 40 top.

위치 검출 센서(81)로부터 커버 유리 G가 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 하로 반송된 것이 검출되면, 검출 신호가 위치 검출 센서(81)로부터 입력부(72)를 통해 집적회로(71)에 입력된다. 이 검출 신호가 입력되면, 집적회로(71)는, 반사 화상을 제1 카메라(11)로 촬상하는 처리, 및 투과 화상, 정반사 화상을 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)로 촬상하는 처리를 개시한다. When it is detected that the cover glass G has been conveyed from the position detection sensor 81 under the first camera 11 and the second camera 12 , a detection signal is transmitted from the position detection sensor 81 via the input unit 72 to the integrated circuit ( 71) is entered. When this detection signal is input, the integrated circuit 71 performs a process of capturing a reflected image with the first camera 11 , and capturing a transmitted image and a specular image with the first camera 11 and the second camera 12 . processing is started.

도 21은 촬상 처리의 차례와 제1 카메라(11), 제2 카메라(12)에서 촬상되는 화상과의 대응을 나타내는 도이다. 21 : is a figure which shows the correspondence between the order of imaging processing, and the image imaged by the 1st camera 11 and the 2nd camera 12. FIG.

반사 화상을 제1 카메라(11)로 촬상하는 처리(도 21에 있어서의 차례 1~9의 처리)는, 집적회로(71)가 생성한 촬상 신호를 제1 카메라(11)로 출력하는 점 이외는, 광학 검사 장치(1)에 있어서 행해진 처리(도 11, 도 12 및 도 14)와 마찬가지이기 때문에 상세한 설명을 생략한다. The processing of capturing the reflected image with the first camera 11 (processes in steps 1 to 9 in FIG. 21 ) is other than the point of outputting the image pickup signal generated by the integrated circuit 71 to the first camera 11 . Since it is the same as the process (FIG. 11, FIG. 12, and FIG. 14) performed in the optical inspection apparatus 1, detailed description is abbreviate|omitted.

집적회로(71)는, 차례 1~9의 처리가 끝나면, 차례 10~12에 나타내는 투과 화상, 정반사 화상을 촬상하는 처리를 개시한다. 차례 10~12에 나타내는 처리는, 도 9, 10에 나타내는 처리(차례 1~3의 처리)와 마찬가지이기 때문에 상세한 설명을 생략한다. The integrated circuit 71 starts processing for imaging the transmission image and the specular reflection image shown in the steps 10 to 12 after the processing of steps 1 to 9 is finished. Since the processes shown in steps 10 to 12 are the same as the processes shown in FIGS. 9 and 10 (processes in steps 1 to 3), detailed explanation is omitted.

집적회로(71)는 차례 12의 출력을 행함과 동시에 반복 처리를 나타내는 신호를 생성하고, 출력부(73)를 통해 집적회로(71)로 출력한다. 집적회로(71)는, 반복 처리를 나타내는 신호를 받아, 처리를 최초로 되돌리고, 차례 1~12에 나타내는 신호를 차례로 출력하는 처리를 반복한다. The integrated circuit 71 generates a signal representing the iterative processing while outputting the turn 12, and outputs the signal to the integrated circuit 71 through the output unit 73 . The integrated circuit 71 repeats the process of receiving the signal indicating the iterative process, returning the process to the first, and sequentially outputting the signals shown in steps 1 to 12.

본 실시의 형태에 의하면, 1개의 광학 검사 장치(2)를 이용하여, 1회의 검사로 결함을 검사할 수가 있다. 또, 최소한(2개)의 카메라 수로 반사 화상, 투과 화상, 정반사 화상을 촬상할 수가 있다. According to this embodiment, a defect can be test|inspected by one test|inspection using one optical inspection apparatus 2 . In addition, a reflected image, a transmitted image, and a specular reflection image can be captured with a minimum number of (two) cameras.

또한, 본 실시의 형태에서는, 제1 카메라(11)의 광축 상에 하프미러(21h)가 설치되어 있기 때문에, 입체 조명부(30)로부터 조사되고, 제1 카메라(11)에 입사하는 광량은, 광학 검사 장치(1)에 있어서 입체 조명부(30)로부터 조사되고, 제3 카메라(13)에 입사하는 광량의 대략 반으로 된다. 따라서, 입체 조명부(30)로부터 조사되는 광을 밝게 하는 것이 바람직하다. 또, 본 실시의 형태에서는, 제1 카메라(11)로 촬상하는 화상 수가 제1의 실시의 형태와 비교하여 많기 때문에, 입체 조명부(30)로부터 조사되는 광을 밝게 하고, 촬상 주파수를 높게 하는 것이 바람직하다. In addition, in this embodiment, since the half mirror 21h is provided on the optical axis of the first camera 11, the amount of light irradiated from the stereoscopic illumination unit 30 and incident on the first camera 11 is, In the optical inspection device 1 , it is irradiated from the stereoscopic illumination unit 30 and is approximately half of the amount of light incident on the third camera 13 . Therefore, it is preferable to brighten the light irradiated from the three-dimensional lighting unit 30 . Moreover, in this embodiment, since the number of images imaged by the 1st camera 11 is large compared with the 1st embodiment, it is better to brighten the light irradiated from the stereoscopic illumination part 30 and to raise the imaging frequency. desirable.

<제3의 실시의 형태> <Third embodiment>

본 발명의 제1의 실시의 형태에서는, 주위에 원호 형상의 P면이 형성된 커버 유리 G의 검사를 행하는 것이지만, 커버 유리의 형태는 이에 한정되지 않는다. 최근에는, 커버 유리의 주위의 곡면이 깊어져, 이 곡면 부분이 부분적인 원통 형상 또는 타원통 형상으로 된 커버 유리가 이용되게 되어 있다. In 1st Embodiment of this invention, although it test|inspects the cover glass G in which the circular arc-shaped P surface was formed in the periphery, the form of a cover glass is not limited to this. In recent years, the curved surface around a cover glass deepens, and the cover glass in which this curved-surface part became a partial cylindrical shape or an elliptical-cylindrical shape is used.

본 발명의 제3의 실시의 형태는, 주위에 부분적인 원통 형상 또는 타원통 형상을 가지는 커버 유리를 검사하는 형태이다. 이하, 제3의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(3)에 대해 설명한다. 또한, 광학 검사 장치(1)와 동일한 부분에 대해서는 동일한 부호를 붙이고 설명을 생략한다. 3rd Embodiment of this invention is an aspect which test|inspects the cover glass which has a partial cylindrical shape or an elliptical-cylindrical shape around. Hereinafter, the optical inspection apparatus 3 which concerns on 3rd Embodiment is demonstrated. In addition, about the same part as the optical inspection apparatus 1, the same code|symbol is attached|subjected and description is abbreviate|omitted.

도 22는 제3의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(3)의 개략을 나타내는 정면도이다. 광학 검사 장치(3)는, 주로 촬상부(10)와, 동축 조명부(20)와, 입체 조명부(30)와, 재치부(40)와, 반송부(50)(도시 생략)와, 측면 검사부(60)와, 높이 취득부(90)를 가진다. 22 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 3 which concerns on 3rd Embodiment. The optical inspection apparatus 3 mainly includes an imaging unit 10 , a coaxial illumination unit 20 , a stereo illumination unit 30 , a mounting unit 40 , a conveying unit 50 (not shown), and a side inspection unit. It has (60) and the height acquisition part (90).

도 23은 광학 검사 장치(3)의 일부를 확대 표시한 사시도이다. 측면 검사부(60)는, 주로 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)와 반사경(63, 64)을 가진다. 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62) 및 반사경(63, 64)은, 제3 카메라(13)를 포함하는 대략 연직 방향의 중심면 S1 상에 위치한다. 23 is an enlarged perspective view of a part of the optical inspection device 3 . The side inspection unit 60 mainly includes optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length and reflectors 63 and 64 . The optical elements 61 and 62 for focal length adjustment and the reflecting mirrors 63 and 64 are located on the center plane S1 of the substantially vertical direction containing the 3rd camera 13. As shown in FIG.

초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)는, 제3 카메라(13)의 초점거리를 조정하는 광학 소자이다. 본 실시의 형태에서는, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)로서 후판형상의 유리판을 이용한다. 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)는, 판두께 방향과 대략 직교하는 양단면이 수평으로 되도록 설치된다. The optical elements for focal length adjustment 61 and 62 are optical elements for adjusting the focal length of the third camera 13 . In this embodiment, a thick plate-shaped glass plate is used as the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment. The optical elements 61 and 62 for focal length adjustment are provided so that both end surfaces substantially orthogonal to a plate|board thickness direction may become horizontal.

초점거리 조정용 광학 소자(61)와 초점거리 조정용 광학 소자(62)는, x방향 및 z방향의 위치는 대략 같고, 제3 카메라(13)의 중심을 통과하는 z방향으로 뻗는 선 ax1을 사이에 두고 대향하도록 설치된다. 또, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)는, 입체 조명부(30)보다 상측(+z측)에 설치된다. The optical element 61 for focal length adjustment and the optical element 62 for focal length adjustment have approximately the same positions in the x-direction and the z-direction, and a line ax1 extending in the z-direction passing through the center of the third camera 13 is interposed therebetween. installed to face each other. Moreover, the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment are provided above the stereoscopic illumination part 30 (+z side).

반사경(63, 64)은, 커버 유리 G1의 측면의 상을 반사하고, 제3 카메라(13)에로 유도하는 부재이다. 반사경(63, 64)은, 대략 판형상이며, 재치부(40)에 인접하여 설치된다. 본 실시의 형태에서는, 인접하는 롤러(40a)와 롤러(40a)의 사이에 설치된다. The reflecting mirrors 63 and 64 are members which reflect the image of the side surface of the cover glass G1, and guide|guide it to the 3rd camera 13. The reflectors 63 and 64 are substantially plate-shaped, and are provided adjacent to the mounting part 40 . In this embodiment, it is provided between the adjacent roller 40a and the roller 40a.

반사경(63)과 반사경(64)은, x방향 및 z방향의 위치는 대략 같고, 제3 카메라(13)의 중심을 통과하는 z방향으로 뻗는 선 ax1을 사이에 두고 대향하도록 설치된다. 또 평면시에 있어서, 반사경(63)과 반사경(64)은, 각각 반송 방향 F와 대략 직교하는 방향에 있어서, 재치 영역의 외측 또한 재치 영역에 인접하는 위치에 설치된다. 여기서, 재치 영역이란, 커버 유리 G1이 재치되는 재치부(40) 상의 영역이며, 제3 카메라(13)의 연직 방향 하측의 영역을 포함한다. 도 23에서는, 재치 영역에 커버 유리 G1이 재치된 상태를 도시하고 있다. The reflecting mirror 63 and the reflecting mirror 64 have substantially the same positions in the x-direction and the z-direction, and are installed to face each other with a line ax1 extending in the z-direction passing through the center of the third camera 13 therebetween. Moreover, planar view WHEREIN: The reflecting mirror 63 and the reflecting mirror 64 are respectively provided in the direction substantially orthogonal to the conveyance direction F. WHEREIN: The outside of a mounting area and the position adjacent to a mounting area. Here, a mounting area|region is an area|region on the mounting part 40 in which the cover glass G1 is mounted, and the area|region of the perpendicular direction lower side of the 3rd camera 13 is included. In FIG. 23, the state in which the cover glass G1 was mounted in the mounting area is shown.

도 24는 광학 검사 장치(3)를 중심면 S1로 절단한 상태에 있어서의 개략 구성을 나타내는 도이다. 도 24는 반송 방향 F 하류측(+x방향)으로부터 본 모습을 나타낸다. 도 24에 있어서의 2점 쇄선은, 제3 카메라(13)에 입사하는 광의 경로를 모식적으로 나타낸다. 24 : is a figure which shows schematic structure in the state which cut|disconnected the optical inspection apparatus 3 by center plane S1. 24 : shows the mode seen from the conveyance direction F downstream (+x direction). The dashed-dotted line in FIG. 24 schematically represents the path of the light incident on the third camera 13 .

반사경(63, 64)의 반사면(63a, 64a)은, 대략 평면이며, 중심면 S1과 교차하는 선(도 24에 있어서 반사면(63a, 64a)을 나타내는 선)이 수평면에 대해서 경사지도록, 반송 방향 F를 대략 따라 연설(延設)된다. The reflective surfaces 63a and 64a of the reflective mirrors 63 and 64 are substantially planar, and the line intersecting the central plane S1 (the line indicating the reflective surfaces 63a and 64a in Fig. 24) is inclined with respect to the horizontal plane, It is spread along the conveyance direction F approximately.

중심면 S1 상에서는, 반사경(63)과 반사경(64)은, 각각 커버 유리 G1의 양측에 위치한다. 커버 유리 G1은, 재치부(40)에 재치된 상태에 있어서, 수평 방향과 평행한 평면 Ga와 수평 방향에 대해서 기울어져 있는 측면 Gb를 가진다. 측면 Gb는, 부분적인 원통 형상 또는 타원통 형상이며, 측면 Gb의 수평 방향에 대한 기울기는 대략 30~45°이다. 또, 양측의 측면 Gb의 끝 Ge가 롤러(40a)에 재치된다. On central plane S1, the reflecting mirror 63 and the reflecting mirror 64 are respectively located in both sides of the cover glass G1. The cover glass G1 is a state mounted on the mounting part 40. WHEREIN: It has plane Ga parallel to a horizontal direction, and the side surface Gb inclined with respect to a horizontal direction. The side surface Gb has a partial cylindrical shape or an elliptical cylinder shape, and the inclination of the side surface Gb with respect to the horizontal direction is approximately 30 to 45°. Further, the ends Ge of the side surfaces Gb on both sides are mounted on the roller 40a.

평면 Ga의 상은, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하지 않고 촬상 렌즈(13a)에 유도된다. 바꾸어 말하면, 촬상 렌즈(13a)와 평면 Ga를 묶는 선의 상에는, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)가 존재하지 않는다. The plane Ga image is guided to the imaging lens 13a without passing through the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length. In other words, on the line joining the imaging lens 13a and the plane Ga, the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment do not exist.

이에 반해 측면 Gb의 상은, 반사면(63a, 64a)에서 반사하고, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하고, 촬상 렌즈(13a)에 유도된다. 바꾸어 말하면, 촬상 렌즈(13a)와 반사면(63a, 64a)을 묶는 선과 겹치도록, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)가 배치된다. On the other hand, the image of the side surface Gb is reflected by the reflective surfaces 63a and 64a, passes through the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment, and is guided to the imaging lens 13a. In other words, the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length are arranged so as to overlap the line joining the imaging lens 13a and the reflective surfaces 63a and 64a.

또한, 본 실시의 형태에서는, 촬상 렌즈(13a)와 평면 Ga를 묶는 선의 상에 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)가 위치하지 않게, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)는, 내측이 일부 노치(notch)되어 있다. In addition, in this embodiment, the optical elements for focal length adjustment 61, 62 are inside so that the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment are not located on the line joining the imaging lens 13a and plane Ga. Some are notched.

초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하지 않는 경우의 초점 위치 F1은, 커버 유리 G1의 평면 Ga의 위치이다. 커버 유리 G1의 판두께는 대략 0.5㎜이며, 초점 위치 F1은 평면 Ga에 있어서의 판두께 방향의 중심 근방에 위치하는 것이 바람직하다. The focal position F1 in the case of not passing the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment is the position of plane Ga of the cover glass G1. It is preferable that the plate|board thickness of the cover glass G1 is about 0.5 mm, and it is located in the center vicinity of the focus position F1 of the plate|board thickness direction in plane Ga.

초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하는 경우에는, 광이 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)에 입사하는 과정, 및 광이 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)로부터 출사하는 과정에서 광이 굴절하기 때문에, 초점 위치 F2는 초점 위치 F1보다 먼 위치에 있다. 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하는 것에 의한 초점 위치의 늘어남(도 24에 있어서의 검은 화살표 참조)은, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)의 판압(板壓)을 T로 하고, 유리의 굴절률을 n으로 하면, T-T/n로 나타낼 수 있다. 예를 들면 T가 12㎜이며, n이 1.5이라고 하면, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과함으로써 초점 위치가 4㎜ 늘어난다. 즉, 초점 위치 F2는, 초점 위치 F1보다 4㎜만큼 -z측에 위치한다. When passing through the optical elements for focal length adjustment 61 and 62, a process in which light is incident on the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment, and a process in which light is emitted from the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment Because the light is refracted at , the focal position F2 is at a position farther than the focal position F1. The extension of the focal position by passing through the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment (refer to the black arrow in Fig. 24 ) is T, the plate pressure of the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment. And, if the refractive index of the glass is n, it can be expressed as TT/n. For example, if T is 12 mm and n is 1.5, the focal position increases by 4 mm by passing through the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment. That is, the focal position F2 is located on the -z side by 4 mm from the focal position F1.

도 25는 커버 유리 G1의 위치와 제3 카메라(13)에서 촬상되는 화상과의 관계를 나타내는 도이고, (A)는 커버 유리 G1의 측면 부분의 확대도이며, (B)는 제3 카메라(13)에서 촬상되는 화상의 일부를 나타낸다. 도 25(A)에서는, 반사면(63a)을 점선으로 나타내고, 반사면(63a)에서 반사되어 제3 카메라(13)에 입사하는 광의 경로를 2점 쇄선으로 나타낸다. 25 : is a figure which shows the relationship between the position of cover glass G1, and the image imaged by the 3rd camera 13, (A) is an enlarged view of the side part of cover glass G1, (B) is 3rd camera ( A part of the image captured in 13) is shown. In FIG. 25A , the reflective surface 63a is indicated by a dotted line, and the path of light reflected by the reflective surface 63a and incident on the third camera 13 is indicated by a dashed-dotted line.

커버 유리 G1의 평면 Ga 및 커버 유리 G1의 측면 Gb의 평면 Ga 가까이의 일부의 영역(영역 I)에 있어서는, 그 상은, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하지 않고 촬상 렌즈(13a)에 유도된다. 초점 위치 F1은 평면 Ga의 위치에 있기 때문에, 영역 I의 상은 뚜렷한 상으로 된다. 측면 Gb의 상은, 조금 초점이 맞지 않은 흐릿한 상으로 된다(도 25 그물망을 친 부분 참조). In a part of the area (region I) near the plane Ga of the cover glass G1 and the plane Ga of the side surface Gb of the cover glass G1, the image does not pass through the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment and the imaging lens 13a is induced in Since the focal position F1 is at the position of the plane Ga, the image of the region I becomes a distinct image. The image of the side Gb is a slightly out of focus and a blurry image (see the meshed portion of Fig. 25).

측면 Gb 및 평면 Ga의 측면 Gb 가까이의 일부의 영역(영역 II)의 상은, 반사면(63a)(반사면 64a에 대해서도 마찬가지임)에서 반사하여 촬상 렌즈(13a)에 유도된다. 따라서, 영역 II의 상은 좌우 반전하고, 측면 Gb의 끝 Ge의 상이 내측으로 되고, 측면 Gb의 평면 Ga측의 상이 외측으로 된다. The images of the side surface Gb and a part of the region (region II) near the side surface Gb of the plane Ga are reflected by the reflective surface 63a (the same applies to the reflective surface 64a) and are guided to the imaging lens 13a. Accordingly, the image of the region II is reversed left and right, the image of the end Ge of the side surface Gb becomes the inside, and the image on the plane Ga side of the side surface Gb becomes the outside.

또, 영역 II의 상은, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과하여 촬상 렌즈(13a)에 유도된다. 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과함으로써 초점 위치 F2는 초점 위치 F1보다 하측에 위치하기 때문에, 측면 Gb의 대부분에 대해서는 초점이 맞는 뚜렷한 상으로 된다. 본 실시의 형태에서는, 제3 카메라(13)의 초점 심도와 측면 Gb의 높이를 대략 일치시킴으로써, 측면 Gb의 전체에 대해 초점이 맞는 뚜렷한 상을 얻을 수 있다. 또, 평면 Ga와 측면 Gb의 경계 부분에 있어서는, 조금 초점이 맞지 않은 흐릿한 상으로 된다(도 25 그물망 친 부분 참조). 또한, 영역 II의 상의 가장 중심측은, 커버 유리 G1이 없는 부분이며, 제3 카메라(13)에서는 검은 상이 촬상된다. In addition, the image of the region II is guided to the imaging lens 13a through the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length. Since the focal position F2 is positioned below the focal position F1 by passing through the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length, it becomes a clear image in focus for most of the side Gb. In the present embodiment, by making the depth of focus of the third camera 13 and the height of the side Gb approximately match, a clear image in focus on the entire side Gb can be obtained. In addition, in the boundary portion between the plane Ga and the side surface Gb, the image is slightly out of focus and is blurred (refer to the meshed portion in Fig. 25). In addition, the most central side of the image of area|region II is a part without cover glass G1, and a black image is imaged with the 3rd camera 13.

영역 I와 영역 II는, 일부 겹치도록 설정하는 것이 바람직하다. 이에 의해 평면 Ga와 측면 Gb의 경계 부분에 대해서는, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 통과한 화상과 통과하지 않는 화상과의 2개의 화상을 얻을 수 있기 때문에, 일방의 화상의 초점이 맞지 않은 경우에도 평면 Ga와 측면 Gb의 경계 부분에 대한 결함을 검출할 수가 있다. It is preferable to set the area|region I and area|region II so that it may partially overlap. As a result, for the boundary portion between the plane Ga and the side surface Gb, two images, an image passing through the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment and an image not passing through, can be obtained, so that one image is out of focus. Even if it is not, it is possible to detect a defect in the boundary portion between the plane Ga and the side Gb.

도 23의 설명으로 되돌아온다. 광학 검사 장치(3)는, 커버 유리 G1의 높이를 취득하는 높이 취득부(90)를 가진다. 높이 취득부(90)는, 측면 검사부(60)보다 반송 방향 F의 상류측(-x측)에 설치되고, 주로 면광원(91)과, 카메라(92)와, 반사경(93)을 가진다. Returning to the description of FIG. 23 . The optical inspection apparatus 3 has the height acquisition part 90 which acquires the height of the cover glass G1. The height acquisition part 90 is provided in the upstream (-x side) of the conveyance direction F rather than the side inspection part 60, and mainly has the surface light source 91, the camera 92, and the reflecting mirror 93.

도 26, 도 27은 커버 유리 G1의 높이를 측정하는 모습을 모식적으로 나타내는 도이고, 도 26은 반송 방향 F와 대략 직교하는 방향(여기에서는, -y방향)으로부터 본 도이며, 도 27은 반송 방향 F를 따라(여기에서는, +x방향) 본 도이다. 도 27의 2점 쇄선은, 면광원(91)으로부터 조사된 광의 경로를 나타낸다. 26 and 27 are diagrams schematically illustrating a state of measuring the height of the cover glass G1, and FIG. 26 is a diagram viewed from a direction (here, -y direction) substantially orthogonal to the conveyance direction F, FIG. It is the figure seen along the conveyance direction F (here, +x direction). The dashed-dotted line in FIG. 27 shows the path of the light irradiated from the surface light source 91 .

면광원(91)과, 카메라(92) 및 반사경(93)은, 재치부(40)를 사이에 두고 설치된다. 면광원(91)은, 반송 방향 F와 대략 직교하는 방향(여기에서는, +y방향)으로 광을 조사한다. 카메라(92)는, 면광원(91)으로부터 조사되고, 커버 유리 G1을 통과하고, 반사경(93)에서 반사된 광이 입사한다. 이에 의해 카메라(92)에서는, 커버 유리 G1에 의해 광이 차단된 부분은 어둡고, 그 외의 부분은 밝은 그림자 그림과 같은 화상이 얻어진다. 따라서, 커버 유리 G1의 높이를 정확하게 취득할 수가 있다. 또한, 반사경(93)은 필수는 아니고, 면광원(91)으로부터 조사되고, 커버 유리 G1을 통과한 광이 카메라(92)에 입사하도록 해도 좋다. The surface light source 91 , the camera 92 , and the reflecting mirror 93 are provided with the mounting unit 40 interposed therebetween. The surface light source 91 irradiates light in a direction substantially orthogonal to the conveyance direction F (here, +y direction). The camera 92 is irradiated from the surface light source 91, passes through the cover glass G1, and the light reflected by the reflecting mirror 93 is incident. Thereby, in the camera 92, the part where light was interrupted|blocked by the cover glass G1 is dark, and the image like a shadow figure is obtained in the other part. Therefore, the height of the cover glass G1 can be acquired correctly. In addition, the reflecting mirror 93 is not essential, You may make it irradiate from the surface light source 91, and you may make it inject the light which passed the cover glass G1 into the camera 92.

커버 유리 G1의 선단 Gc와 후단 Gd는, 평면 Ga보다 높이가 낮다. 따라서, 재치부(40)에 의해 커버 유리 G1을 반송 방향 F로 이동시키면서 면광원(91)으로부터 y방향으로 광을 조사하고, 커버 유리 G1을 통과한 광을 카메라(92)로 촬상함으로써, 선단 Gc 및 후단 Gd의 높이 변화를 취득할 수가 있다. The front-end|tip Gc and rear-end|tip Gd of cover glass G1 are lower in height than plane Ga. Therefore, the front-end|tip by irradiating light from the surface light source 91 to the y direction, moving the cover glass G1 in the conveyance direction F by the mounting part 40, and imaging the light which passed the cover glass G1 with the camera 92, Changes in the heights of Gc and the trailing end Gd can be acquired.

도 23의 설명으로 되돌아온다. 제3 카메라(13)에는, 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시키는 이동부(95)가 설치된다. 이동부(95)는, 구동원인 액츄에이터(도시 생략)와, 액츄에이터의 구동을 전달하여 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시키는 이동 기구(도시 생략)를 가진다. 이동 기구에는, 피드 스크루(feed screw) 등의 여러 가지 공지의 기술을 이용할 수가 있다. Returning to the description of FIG. 23 . The 3rd camera 13 is provided with the moving part 95 which moves the 3rd camera 13 up-down direction. The moving unit 95 has an actuator (not shown) serving as a driving source, and a moving mechanism (not shown) that transmits the actuator's drive to move the third camera 13 up and down. Various well-known techniques, such as a feed screw, can be used for a moving mechanism.

CPU(101)(도 7 참조)는, 카메라(92)로 촬상된 화상에 기초하여 이동부(95)를 제어하고, 선단 Gc 및 후단 Gd의 높이 변화에 맞추어 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시킨다. ROM(103)(도 7 참조)에는, 카메라(92)로 촬상된 후, 커버 유리 G1이 제3 카메라(13)의 바로 아래에 위치하기까지, 커버 유리 G1을 반송 방향 F로 보내는 펄스 수가 격납되어 있다. 또, ROM(103)에는, 액츄에이터의 구동량과 제3 카메라(13)의 이동량과의 관계가 격납되어 있다. CPU(101)는, ROM(103)에 격납된 정보에 기초하여 이동부(95)의 액츄에이터를 구동함으로써, 제3 카메라(13)의 하를 통과하는 커버 유리 G1의 높이 변화에 맞추어 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시킨다. The CPU 101 (refer to Fig. 7) controls the moving unit 95 based on the image captured by the camera 92, and moves the third camera 13 in the vertical direction in accordance with the height change of the tip Gc and the rear end Gd. move to After being imaged with the camera 92 in ROM 103 (refer FIG. 7), the pulse number which sends cover glass G1 to the conveyance direction F until cover glass G1 is located just below the 3rd camera 13 is stored has been Moreover, the relationship between the driving amount of an actuator and the movement amount of the 3rd camera 13 is stored in ROM 103. The CPU 101 drives the actuator of the moving unit 95 based on the information stored in the ROM 103 to match the height change of the cover glass G1 passing under the third camera 13 to the third camera. (13) is moved in the vertical direction.

본 실시의 형태에 의하면, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)를 이용하여 제3 카메라(13)의 초점거리를 늘이고, 반사경(63, 64)을 이용하여 제3 카메라(13)에 입사하는 광을 반사시킴으로써, 측면 Gb를 가지는 커버 유리 G1이라도, 1회의 검사로 측면 Gb의 결함에 대해서도 검사할 수가 있다. According to the present embodiment, the focal length of the third camera 13 is increased using the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length, and the third camera 13 is incident using the reflectors 63 and 64 . By reflecting the light, even the cover glass G1 having the side Gb can be inspected for defects on the side Gb by one inspection.

또, 본 실시의 형태에 의하면, 커버 유리의 형상에 따라 반사경(63, 64)의 위치나 기울기를 변경함으로써 여러 가지 종류의 커버 유리에 대응할 수가 있다. 예를 들면, 측면 Gb의 수평 방향에 대한 기울기에 따라 반사면(63a, 64a)의 수평 방향에 대한 기울기를 설정함으로써, 측면 Gb의 수평 방향에 대한 기울기에 의하지 않고 측면 Gb의 결함을 검사할 수가 있다. 또 예를 들면, 커버 유리의 폭에 따라 반사경(63, 64)의 y방향의 위치를 변경함으로써, 커버 유리의 폭에 의하지 않고 측면 Gb의 결함을 검사할 수가 있다. Moreover, according to this embodiment, it can respond to various types of cover glass by changing the position and inclination of the reflecting mirrors 63 and 64 according to the shape of a cover glass. For example, by setting the inclination with respect to the horizontal direction of the reflective surfaces 63a and 64a according to the inclination of the side Gb with respect to the horizontal direction, defects of the side Gb can be inspected without depending on the inclination of the side Gb with respect to the horizontal direction. have. Further, for example, by changing the positions of the reflectors 63 and 64 in the y direction according to the width of the cover glass, the defect of the side Gb can be inspected regardless of the width of the cover glass.

또, 본 실시의 형태에 의하면, 제3 카메라(13)의 하를 통과하는 커버 유리 G1의 높이 변화에 맞추어 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시킴으로써, 선단 Gc 및 후단 Gd의 높이가 변화하는 경우라도, 선단 Gc 및 후단 Gd에 대해서도 초점이 맞은 뚜렷한 상을 제3 카메라(13)로 촬상할 수가 있다. 따라서, 선단 Gc 및 후단 Gd에 대해서도, 결함을 확실하게 검사할 수가 있다. Moreover, according to this embodiment, the height of front-end|tip Gc and rear-end Gd changes by moving the 3rd camera 13 up-down according to the height change of the cover glass G1 which passes under the 3rd camera 13. Even in this case, a clear image in focus with respect to the front end Gc and the rear end Gd can be captured by the third camera 13 . Accordingly, defects can be reliably inspected also for the leading end Gc and the trailing end Gd.

또한, 본 실시의 형태에서는, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)로서 후판형상의 유리판을 이용하였지만, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)의 형태는 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)로서로서 오목 렌즈를 이용해도 좋다. 또한, 유리판의 두께나 오목 렌즈의 형상은 커버 유리의 형상에 따라 설정되지만, 오목 렌즈를 이용하면 초점거리가 용이하게 늘어나므로, 측면 Gb의 높이가 낮은 경우에는 초점거리 조정용 광학 소자(61, 62)로서 유리판을 이용하는 것이 바람직하다. In addition, in this embodiment, although the thick plate-shaped glass plate was used as the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment, the form of the optical elements 61 and 62 for focal length adjustment is not limited to this. For example, a concave lens may be used as the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length. In addition, the thickness of the glass plate and the shape of the concave lens are set according to the shape of the cover glass, but since the focal length is easily increased when the concave lens is used, when the height of the side Gb is low, the optical elements 61 and 62 for adjusting the focal length ), it is preferable to use a glass plate.

또, 본 실시의 형태에서는, CPU(101)가 카메라(92)로 촬상된 화상에 기초하여 이동부(95)를 제어함으로써, 제3 카메라(13)의 하를 통과하는 커버 유리 G1의 높이 변화에 맞추어 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시켰지만, 제3 카메라(13)의 하를 통과하는 커버 유리 G1의 높이 변화에 맞추어 제3 카메라(13)를 상하 방향으로 이동시키는 방법은 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 선단 Gc 및 후단 Gd의 높이 변화에 관한 정보를 미리 ROM(103)에 격납해 두고, 이 정보에 기초하여 CPU(101)가 이동부(95)를 제어해도 좋다. 또 예를 들면, 레이저 변위계로 커버 유리 G1의 높이를 측정하고, 이 측정 결과에 기초하여 CPU(101)가 이동부(95)를 제어해도 좋다. Moreover, in this embodiment, the height change of cover glass G1 which passes under the 3rd camera 13 by CPU101 controlling the moving part 95 based on the image imaged with the camera 92. Although the third camera 13 was moved in the vertical direction in accordance with doesn't happen For example, information regarding the height change of the front end Gc and the rear end Gd may be stored in the ROM 103 in advance, and the CPU 101 may control the moving unit 95 based on this information. Moreover, for example, the height of the cover glass G1 may be measured with a laser displacement meter, and CPU101 may control the moving part 95 based on this measurement result.

<제4의 실시의 형태> <Fourth embodiment>

본 발명의 제1의 실시의 형태에서는, 입체 조명부(30)가 제1 영역(31), 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)을 가지고, 제2 영역(32), 제3 영역(33)에서는 발광부(30a)가 대략 원통면의 상에 배치되었지만, 입체 조명부의 형태는 이에 한정되지 않는다. In the first embodiment of the present invention, the stereoscopic illumination unit 30 has a first region 31 , a second region 32 , and a third region 33 , and includes a second region 32 and a third region. In (33), the light emitting portion 30a is disposed on a substantially cylindrical surface, but the shape of the three-dimensional illumination portion is not limited thereto.

본 발명의 제4의 실시의 형태는, 입체 조명부를 구성하는 모든 띠모양 발광부가, 발광부(30a)를 직선 모양으로 늘어놓여진 발광 블록을 가지는 형태이다. 이하, 제4의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(4)에 대해 설명한다. 또한, 제4의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(4)와 광학 검사 장치(1)의 차이는 입체 조명부뿐이기 때문에, 제4의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(4)가 구비하는 입체 조명부(30A)에 대해 설명하고, 광학 검사 장치(1)와 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략한다. A fourth embodiment of the present invention is an embodiment in which all the band-shaped light-emitting units constituting the three-dimensional lighting unit have light-emitting blocks in which the light-emitting units 30a are arranged in a straight line. Hereinafter, the optical inspection apparatus 4 which concerns on 4th Embodiment is demonstrated. In addition, since the only difference between the optical inspection device 4 and the optical inspection device 1 according to the fourth embodiment is the stereoscopic illumination unit, the optical inspection device 4 according to the fourth embodiment is provided. The three-dimensional illumination unit 30A to be used will be described, and descriptions of the same parts as those of the optical inspection device 1 will be omitted.

도 28은 광학 검사 장치(4)가 구비하는 입체 조명부(30A)의 개략을 나타내는 사시도이다. 입체 조명부(30A)는, 복수의 방향으로부터 커버 유리 G에 광을 조사한다. 입체 조명부(30A)로부터 조사되고, 커버 유리 G에서 반사한 광은, 제3 카메라(13)(도 1 참조)에 입사한다. 28 : is a perspective view which shows the outline of the stereoscopic illumination part 30A with which the optical inspection apparatus 4 is equipped. The three-dimensional illumination part 30A irradiates light to the cover glass G from several directions. The light irradiated from the stereoscopic illumination unit 30A and reflected by the cover glass G is incident on the third camera 13 (refer to FIG. 1 ).

입체 조명부(30A)는, 대략 반원통면의 제1 영역(31A)과, 대략 반구면 또는 대략 반타원구면의 제2 영역(32A) 및 제3 영역(33A)을 가진다. 입체 조명부(30A)에 있어서의 제1 영역(31a), 제2 영역(32A) 및 제3 영역(33A)은, 각각 입체 조명부(30)에 있어서의 제1 영역(31), 제2 영역(32) 및 제3 영역(33)에 상당한다. The stereoscopic illumination unit 30A has a first region 31A having a substantially semi-cylindrical surface, and a second region 32A and a third region 33A having a substantially hemispherical surface or a substantially semi-elliptical spherical surface. The first region 31a, the second region 32A, and the third region 33A in the stereoscopic lighting unit 30A are the first region 31 and the second region ( 32) and the third region 33 .

제1 영역(31A)은, 띠모양 발광부(31a-1, 31b-1, 31c-1, 32d-1, 31e-1, 31f-1, 31g-1, 31h-1, 31i-1, 31j-1)를 가진다. 입체 조명부(30A)에 있어서의 띠모양 발광부(31a-1~31j-1)는, 입체 조명부(30)에 있어서의 띠모양 발광부(31a~31j)에 상당한다. The first region 31A includes the band-shaped light emitting portions 31a-1, 31b-1, 31c-1, 32d-1, 31e-1, 31f-1, 31g-1, 31h-1, 31i-1, 31j. -1). The band-shaped light-emitting units 31a-1 to 31j-1 in the stereoscopic illumination unit 30A correspond to the band-shaped light-emitting units 31a to 31j in the stereoscopic illumination unit 30 .

제2 영역(32A)은, 띠모양 발광부(32a-1, 32b-1, 32c-1, 32d-1, 32f-1, 32g-1, 32h-1)를 가지고, 제3 영역(33A)은, 띠모양 발광부(33a-1, 33b-1, 33c-1, 33d-1, 33f-1, 33g-1, 33h-1)를 가진다. 입체 조명부(30A)에 있어서의 띠모양 발광부(32a-1~32d-1, 32f-1~32h-1)는, 입체 조명부(30)에 있어서의 띠모양 발광부(32a~32d, 32f~32h)에 상당한다. 입체 조명부(30A)에 있어서의 띠모양 발광부(33a-1~33d-1, 33f-1~33h-1)는, 입체 조명부(30)에 있어서의 띠모양 발광부(33a~33d, 33f~33h)에 상당한다. The second region 32A includes band-shaped light emitting portions 32a-1, 32b-1, 32c-1, 32d-1, 32f-1, 32g-1, and 32h-1, and the third region 33A Silver has band-shaped light emitting portions 33a-1, 33b-1, 33c-1, 33d-1, 33f-1, 33g-1, and 33h-1. The band-shaped light-emitting units 32a-1 to 32d-1 and 32f-1 to 32h-1 in the stereoscopic illumination unit 30A are the band-shaped light-emitting units 32a to 32d, 32f to in the stereoscopic illumination unit 30 . 32h). The band-shaped light-emitting units 33a-1 to 33d-1 and 33f-1 to 33h-1 in the stereoscopic illumination unit 30A are the band-shaped light-emitting units 33a to 33d, 33f to in the stereoscopic illumination unit 30 . 33h).

또 입체 조명부(30A)는, 제1 영역(31a), 제2 영역(32A) 및 제3 영역(33A)을 일체화하는 프레임(34)을 가진다. 프레임(34)은, 알루미늄 등의 열전도성이 뛰어난 금속으로 형성된다. 프레임(34)은 2매의 플레이트(34a)를 가지고, 이 2매의 플레이트(34a)의 사이에 제1 영역(31A)이 설치된다. 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)은, 플레이트(34a)의 외측에 설치된다. Moreover, the stereoscopic illumination part 30A has the frame 34 which integrates the 1st area|region 31a, the 2nd area|region 32A, and the 3rd area|region 33A. The frame 34 is formed of a metal excellent in thermal conductivity, such as aluminum. The frame 34 has two plates 34a, and a first region 31A is provided between the two plates 34a. The second region 32a and the third region 33A are provided outside the plate 34a.

도 29는 띠모양 발광부(31a-1)의 상세를 나타내는 모식도이다. 띠모양 발광부(31a-1~31j-1)는 같은 구성이기 때문에, 띠모양 발광부(31a-1)에 대해서만 설명하고, 띠모양 발광부(31b-1~31j-1)에 대해서는 설명을 생략한다. 29 is a schematic diagram showing details of the strip-shaped light emitting part 31a-1. Since the band-shaped light-emitting units 31a-1 to 31j-1 have the same configuration, only the band-shaped light-emitting unit 31a-1 will be described, and the band-shaped light-emitting units 31b-1 to 31j-1 will be described. omit

띠모양 발광부(31a-1)는, 길이 방향의 길이가 L로 되도록 발광부(30a)가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록(30b)과, 원통 렌즈(30c-1)와, 렌티큘러 렌즈(30e-1)를 가지는 발광 유닛이다. 원통 렌즈(30c)와 원통 렌즈(30c-1)의 차이는 길이 방향의 길이뿐이다. 또, 렌티큘러 렌즈(30e)와 렌티큘러 렌즈(30e-1)의 차이는, 길이 방향의 길이뿐이다. The band-shaped light emitting part 31a-1 includes a light emitting block 30b in which the light emitting parts 30a are arranged in a line so that the length in the longitudinal direction becomes L, a cylindrical lens 30c-1, and a lenticular lens 30e- 1) is a light emitting unit having The only difference between the cylindrical lens 30c and the cylindrical lens 30c-1 is the length in the longitudinal direction. The difference between the lenticular lens 30e and the lenticular lens 30e-1 is only the length in the longitudinal direction.

띠모양 발광부(31a-1)는, 직선 모양으로 늘어놓여진 발광 블록(30b)을 2개 가진다. 2개의 발광 블록(30b)은, 부착 부재(34b)를 통해 플레이트(34a)에 직접 장착된다. 원통 렌즈(30c-1)는, 부착 부재(34c)를 통해 플레이트(34a)에 직접 장착된다. The band-shaped light emitting part 31a-1 has two light emitting blocks 30b arranged in a straight line. The two light emitting blocks 30b are directly mounted to the plate 34a via the attachment member 34b. The cylindrical lens 30c-1 is directly mounted to the plate 34a via the attachment member 34c.

발광 블록(30b)과 원통 렌즈(30c-1)의 사이에는, 렌티큘러 렌즈(30e-1)가 설치된다. 렌티큘러 렌즈(30e-1)는, 지지부재(30f)를 통해 발광 블록(30b)에 장착된다. A lenticular lens 30e-1 is provided between the light emitting block 30b and the cylindrical lens 30c-1. The lenticular lens 30e-1 is mounted on the light emitting block 30b through the support member 30f.

발광 블록(30b) 및 원통 렌즈(30c-1)는, 발광 블록(30b)의 발광부(30a)가 설치된 선단면 p1과 원통 렌즈(30c-1)의 상면 p2가 대략 평행하게 되도록, 플레이트(34a)에 설치된다. 바꾸어 말하면, 발광 블록(30b)의 연설(延設) 방향과 원통 렌즈(30c-1)의 연설 방향은 대략 평행이다. The light emitting block 30b and the cylindrical lens 30c-1 are plate ( 34a) is installed. In other words, the extending direction of the light emitting block 30b and the extending direction of the cylindrical lens 30c-1 are substantially parallel.

도 30은 띠모양 발광부(32a-1)의 상세를 나타내는 모식도이다. 띠모양 발광부(32a-1~32d-1, 32f-1~32h-1, 33a-1~33d-1, 33f-1~33h-1)는 같은 구성이기 때문에, 띠모양 발광부(32a-1)에 대해서만 설명하고, 띠모양 발광부(32b-1~32d-1, 32f-1~32h-1, 33a-1~33d-1, 33f-1~33h-1)에 대해서는 설명을 생략한다. 30 is a schematic diagram showing the details of the strip-shaped light emitting part 32a-1. Since the band-shaped light-emitting units 32a-1 to 32d-1, 32f-1 to 32h-1, 33a-1 to 33d-1, and 33f-1 to 33h-1 have the same configuration, the band-shaped light-emitting units 32a- 1) will be described, and descriptions of the band-shaped light emitting units 32b-1 to 32d-1, 32f-1 to 32h-1, 33a-1 to 33d-1, and 33f-1 to 33h-1 will be omitted. .

띠모양 발광부(32a-1)는, 길이 방향의 길이가 L로 되도록 발광부(30a)가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록(30b)과, 원통 렌즈(30c-2)와, 플레이트(30g)를 가지는 발광 유닛이다. 원통 렌즈(30c)와 원통 렌즈(30c-2)의 차이는 길이 방향의 길이뿐이다. The band-shaped light emitting part 32a-1 includes a light emitting block 30b in which the light emitting parts 30a are arranged in a line so that the length in the longitudinal direction becomes L, a cylindrical lens 30c-2, and a plate 30g. The branch is a light emitting unit. The only difference between the cylindrical lens 30c and the cylindrical lens 30c-2 is the length in the longitudinal direction.

플레이트(30g)에는, 발광 블록(30b) 및 원통 렌즈(30c-2)가 장착된다. 플레이트(30g)는, 알루미늄 등의 열전도성이 뛰어난 금속으로 형성된다. 플레이트(30g)에는, 플레이트(30g)를 플레이트(34a)에 부착하기 위한 절곡부(30h)가 형성된다. A light emitting block 30b and a cylindrical lens 30c-2 are mounted on the plate 30g. The plate 30g is made of a metal having excellent thermal conductivity, such as aluminum. The plate 30g is formed with a bent portion 30h for attaching the plate 30g to the plate 34a.

발광 블록(30b) 및 원통 렌즈(30c-2)는, 발광 블록(30b)의 발광부(30a)가 설치된 선단면 p3에 대해서, 원통 렌즈(30c-2)의 상면 p4가 기울어지도록 플레이트(30g)에 설치된다. 바꾸어 말하면, 발광 블록(30b)의 연설 방향에 대해서, 원통 렌즈(30c-1)의 연설 방향이 기울어져 있다. The light emitting block 30b and the cylindrical lens 30c-2 have a plate 30g such that the upper surface p4 of the cylindrical lens 30c-2 is inclined with respect to the front end surface p3 of the light emitting block 30b provided with the light emitting part 30a. ) is installed in In other words, the extending direction of the cylindrical lens 30c-1 is inclined with respect to the extending direction of the light emitting block 30b.

또한, 띠모양 발광부(31a-1~31j-1)는 렌티큘러 렌즈(30e-1)를 가지지만, 띠모양 발광부(32a-1~32d-1, 32f-1~32h-1, 33a-1~33d-1, 33f-1~33h-1)는 렌티큘러 렌즈를 가지지 않는다. 이것은 커버 유리 G의 좌단 및 우단에 형성된 P면에 발광부(30a)의 점형상의 광이 늘어놓여서 비치는 것이 없기 때문이다. In addition, the band-shaped light emitting parts 31a-1 to 31j-1 have a lenticular lens 30e-1, but the band-shaped light emitting parts 32a-1 to 32d-1, 32f-1 to 32h-1, 33a- 1-33d-1, 33f-1-33h-1) do not have a lenticular lens. This is because the dotted light of the light emitting part 30a does not line up and shine on the P surface formed in the left end and the right end of the cover glass G.

도 28의 설명으로 되돌아온다. 띠모양 발광부(31a-1~31e-1)는, 중심면 S1보다 +x측에 위치하고, 띠모양 발광부(31f-1~31j-1)는, 중심면 S1보다 -x측에 위치한다. 띠모양 발광부(31a-1~31j-1)는, 중심면 S1 상에 배치되지 않는다. It returns to the description of FIG. The band-shaped light emitting parts 31a-1 to 31e-1 are located on the +x side of the central plane S1, and the band-shaped light emitting parts 31f-1 to 31j-1 are located on the -x side from the central plane S1. . The band-shaped light emitting portions 31a-1 to 31j-1 are not disposed on the central plane S1.

띠모양 발광부(31a-1~31j-1)는, 광축이 중심면 S1과 재치부(40)(도 28에서는 도시 생략)의 교선, 즉 중심축 ax(도 31 참조)와 교차하도록 설치된다(후에 상술). The band-shaped light emitting portions 31a-1 to 31j-1 are provided so that the optical axis intersects the intersection of the central plane S1 and the mounting portion 40 (not shown in FIG. 28), that is, the central axis ax (refer to FIG. 31). (detailed later).

띠모양 발광부(32a-1, 33a-1)는, 중심면 S1 상에 설치된다. 띠모양 발광부(32b-1~32d-1, 33b-1~33d-1)는, 중심면 S1보다 +x측에 위치하고, 띠모양 발광부(32f-1~32h-1, 33f-1~33h-1)는, 중심면 S1보다 -x측에 위치한다. The band-shaped light emitting portions 32a-1 and 33a-1 are provided on the central plane S1. The band-shaped light-emitting parts 32b-1 to 32d-1 and 33b-1 to 33d-1 are located on the +x side of the central plane S1, and the band-shaped light-emitting parts 32f-1 to 32h-1 and 33f-1 to 33h-1) is located on the -x side of the center plane S1.

띠모양 발광부(32a-1, 33a-1)는, 중심축이 입체 조명부(30A)의 중심축 ax1과 재치부(40)의 교점(중심점 O1, 도 31 참조)을 향하고 있다. 띠모양 발광부(32b-1~32d-1, 32f-1~32h-1, 33b-1~33d-1, 33f-1~33h-1)는, 띠모양 발광부(32a-1, 33a-1)와 대략 평행하게 설치된다. The band-shaped light emitting units 32a-1 and 33a-1 have their central axes facing toward the intersection of the central axis ax1 of the three-dimensional lighting unit 30A and the mounting unit 40 (the central point O1, see FIG. 31 ). The band-shaped light emitting parts 32b-1 to 32d-1, 32f-1 to 32h-1, 33b-1 to 33d-1, and 33f-1 to 33h-1 are the band-shaped light emitting parts 32a-1, 33a- It is installed approximately parallel to 1).

도 31은 입체 조명부(30A)로부터 조사되는 광의 경로에 대해 설명하는 도이다. 도 31에 있어서는, 입체 조명부(30A)를 중심면 S1로 절단했을 때의 개략 구성을 나타냄과 아울러, 광의 경로를 2점 쇄선으로 나타낸다. Fig. 31 is a diagram for explaining the path of light emitted from the three-dimensional lighting unit 30A. In FIG. 31, while showing the schematic structure at the time of cut|disconnecting 30 A of three-dimensional illumination part with center plane S1, the path|route of light is shown with the dashed-dotted line.

띠모양 발광부(31f-1)는, 광축이 중심축 ax와 교차하도록 설치된다. 띠모양 발광부(31f-1)에 있어서, 원통 렌즈(30c-1)는, 발광 블록(30b)과 중심축 ax와의 사이에 설치되고, 발광부(30a)로부터 조사된 광을 중심축 ax 근방에 집광한다. 제1 영역(31A)에 있어서는, 발광부(30a)가 대략 수평으로 늘어놓여 있고, 발광 블록(30b)의 선단면 p1과 원통 렌즈(30c-1)의 상면 p2가 대략 평행이기 때문에, 발광 블록(30b)으로부터 조사되는 광은, 원통 렌즈(30c-1)를 통과하여 중심축 ax에 초점을 맺는다. The band-shaped light emitting part 31f-1 is provided so that the optical axis intersects the central axis ax. In the band-shaped light emitting part 31f-1, the cylindrical lens 30c-1 is provided between the light emitting block 30b and the central axis ax, and the light irradiated from the light emitting part 30a is provided in the vicinity of the central axis ax. focus on In the first region 31A, the light emitting units 30a are arranged substantially horizontally, and the front end surface p1 of the light emitting block 30b and the upper surface p2 of the cylindrical lens 30c-1 are substantially parallel, so that the light emitting block The light irradiated from 30b passes through the cylindrical lens 30c-1 and is focused on the central axis ax.

띠모양 발광부(32a-1, 33a-1)는, 중심축이 중심점 O1을 향하고 있다. 원통 렌즈(30c-2)는, 발광 블록(30b)과 중심점 O1(중심축 ax)의 사이에 설치되고, 발광부(30a)로부터 조사된 광을 중심축 ax 근방에 집광한다. The central axis of the band-shaped light emitting units 32a-1 and 33a-1 faces the central point O1. The cylindrical lens 30c-2 is provided between the light emitting block 30b and the central point O1 (central axis ax), and condenses the light irradiated from the light emitting part 30a in the vicinity of the central axis ax.

제2 영역(32a), 제3 영역(33A)에 있어서는, 발광부(30a)가 대략 수평으로 늘어놓여 있지 않고, 발광 블록(30b)의 연설 방향이 수평 방향에 대해서 기울어져 있다. 만일 발광 블록(30b)의 선단면 p3와 원통 렌즈(30c-2)의 상면 p4가 대략 평행이라고 하면, 발광부(30a)로부터 조사되는 광은 선단면 p3와 대략 평행한 선의 상에 초점을 맺고, 중심축 ax에 초점을 맺지 않는다. 따라서, 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)에 있어서는, 발광부(30a)로부터 조사되는 광이 중심축 ax에 초점을 맺도록 선단면 p3에 대해서 상면 p4를 기울인다. In the second region 32a and the third region 33A, the light emitting portions 30a are not arranged substantially horizontally, and the extension direction of the light emitting block 30b is inclined with respect to the horizontal direction. If the front end surface p3 of the light emitting block 30b and the upper surface p4 of the cylindrical lens 30c-2 are approximately parallel, the light irradiated from the light emitting unit 30a is focused on a line approximately parallel to the front end surface p3, , do not focus on the central axis ax. Accordingly, in the second region 32a and the third region 33A, the upper surface p4 is inclined with respect to the tip surface p3 so that the light irradiated from the light emitting unit 30a is focused on the central axis ax.

이에 의해 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)에 있어서, 발광부(30a)로부터 조사된 광은, 원통 렌즈(30c-2)를 통과하고, 커버 유리 G의 좌단 및 우단에 형성된 P면에 광을 조사하고, 또한 그 광의 초점을 P면에 맺을 수가 있다. 또, 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)은, 제1 영역(31A)이 광을 조사 가능한 범위 A1의 외측의 영역 A2에 광을 조사한다. 이와 같이, 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)이 제1 영역(31A)를 보충하는 기능을 가진다. Thereby, in the 2nd area|region 32a, the 3rd area|region 33A, the light irradiated from the light emitting part 30a passes through the cylindrical lens 30c-2, and P formed in the left and right ends of the cover glass G. It is possible to irradiate light to the surface and to focus the light on the P surface. Moreover, the 2nd area|region 32a and the 3rd area|region 33A irradiate light to the area|region A2 outside the range A1 where the 1st area|region 31A can irradiate light. Thus, the 2nd area|region 32a and the 3rd area|region 33A have the function of supplementing the 1st area|region 31A.

본 실시의 형태에 의하면, 입체 조명부(30A)를 이용하여 여러 가지 방향으로부터 광을 커버 유리 G에 조사할 수가 있다. 특히, 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)에 있어서 선단면 p3에 대해서 상면 p4를 기울임으로써, 발광부(30a)로부터 조사된 광의 초점을 커버 유리 G의 좌단 및 우단에 형성된 P면에 맞출 수가 있다. 또, 선단면 p3에 대해서 상면 p4를 기울임으로써, 제2 영역(32a), 제3 영역(33A)가 제1 영역(31A)를 보충할 수가 있다. 그 결과, 띠모양 발광부(31a-1~31j-1)가 가지는 발광 블록(30b)의 수를 줄일 수가 있다. According to this embodiment, light can be irradiated to the cover glass G from various directions using 30 A of stereoscopic illumination parts. In particular, in the second region 32a and the third region 33A, by inclining the upper surface p4 with respect to the front end surface p3, the focus of the light irradiated from the light emitting part 30a is focused on the P surface formed at the left end and the right end of the cover glass G. can fit Moreover, by inclining the upper surface p4 with respect to the front end surface p3, the 2nd area|region 32a and the 3rd area|region 33A can supplement the 1st area|region 31A. As a result, the number of light emitting blocks 30b included in the strip light emitting units 31a-1 to 31j-1 can be reduced.

또, 본 실시의 형태에 의하면, 열전도성이 높은 재료로 형성된 프레임(34)및 플레이트(30g)가 일체화되어 방열 부재를 구성하고 있기 때문에, 발광부(30a) 등으로부터 발생한 열을 효율적으로 방열할 수가 있다. Further, according to this embodiment, since the frame 34 and the plate 30g formed of a material having high thermal conductivity are integrated to form a heat dissipation member, heat generated from the light emitting portion 30a and the like can be efficiently dissipated. can be

또한, 도 28에 나타내듯이, 입체 조명부(30A)의 근방에 송풍부(35)를 설치하는 것이 바람직하다. 송풍부(35)로부터 입체 조명부(30A)에 바람을 보냄으로써, 방열 부재(프레임(34)및 플레이트(30g))에 의한 냉각 효과를 향상시킬 수가 있다. 또한, 플레이트(30g)가 y방향으로 연설되어 있기 때문에, 송풍부(35)는, 측면(+y방향 및 -y방향의 적어도 일방)으로부터, 플레이트(30g)의 연설 방향을 따른 방향(도 28의 굵은 화살표 참조)의 바람을 입체 조명부(30A)에 보내는 것이 바람직하다. 또한, 도 28에서는, 입체 조명부(30A)의 -y방향으로 송풍부(35)를 설치하고 있지만, 송풍부(35)의 위치는 이에 한정되지 않는다. 또, 도 28에서는 송풍부(35)를 1개 설치하고 있지만, 송풍부(35)의 수도 이에 한정되지 않는다. Moreover, as shown in FIG. 28, it is preferable to provide the ventilation part 35 in the vicinity of 30 A of stereoscopic illumination parts. By sending wind from the blower part 35 to the three-dimensional lighting part 30A, the cooling effect by the heat radiation member (frame 34 and plate 30g) can be improved. In addition, since the plate 30g extends in the y direction, the blower 35 moves from the side surface (at least one of the +y direction and the -y direction) along the extension direction of the plate 30g (Fig. 28). (refer to the bold arrow of ), it is preferable to send the wind to the three-dimensional lighting unit 30A. In addition, in FIG. 28, although the blower part 35 is provided in the -y direction of 30A of three-dimensional illumination part, the position of the blower part 35 is not limited to this. In addition, although one blower part 35 is provided in FIG. 28, the number of the blower part 35 is not limited to this.

<제5의 실시의 형태> <Fifth embodiment>

본 발명의 제1의 실시의 형태에서는, 동축 조명부(20)는, 제1 카메라(11)의 동축 조명인 상측 동축 조명(21)과, 제2 카메라(12)의 동축 조명인 하측 동축 조명(22)을 가졌지만, 동축 조명부의 형태는 이에 한정되지 않는다. In the first embodiment of the present invention, the coaxial illumination unit 20 includes an upper coaxial illumination 21 that is a coaxial illumination of the first camera 11 and a lower side coaxial illumination that is a coaxial illumination of the second camera 12 ( 22), but the shape of the coaxial lighting unit is not limited thereto.

본 발명의 제5의 실시의 형태는, 동축 조명부가 C-PL 필터를 가지는 형태이다. 이하, 제5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)에 대해 설명한다. 또한, 제5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)와 광학 검사 장치(1)의 차이는 동축 조명부뿐이기 때문에, 제4의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)가 구비하는 동축 조명부(20A)에 대해 설명하고, 광학 검사 장치(1)와 동일한 부분에 대해서는 설명을 생략한다. A fifth embodiment of the present invention is an aspect in which the coaxial illumination unit has a C-PL filter. Hereinafter, the optical inspection apparatus 5 which concerns on 5th Embodiment is demonstrated. In addition, since the only difference between the optical inspection device 5 and the optical inspection device 1 according to the fifth embodiment is the coaxial illumination unit, the optical inspection device 5 according to the fourth embodiment is provided. 20A of coaxial lighting units to be used will be described, and descriptions of the same parts as those of the optical inspection apparatus 1 will be omitted.

도 32는 제5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)의 개략을 나타내는 정면도이다. 동축 조명부(20A)는, 제1 카메라(11)의 동축 조명인 상측 동축 조명(21)과, 제2 카메라(12)의 동축 조명인 하측 동축 조명(22)과, C-PL 필터(23a, 23b)를 가진다. C-PL 필터(23a)는, 제1 카메라(11)의 하측에 설치되고, C-PL 필터(23b)는, 제2 카메라(12)의 상측에 설치된다. 32 : is a front view which shows the outline of the optical inspection apparatus 5 which concerns on 5th Embodiment. The coaxial illumination unit 20A includes an upper coaxial illumination 21 that is a coaxial illumination of the first camera 11 , a lower coaxial illumination 22 that is a coaxial illumination of the second camera 12 , a C-PL filter 23a, 23b). The C-PL filter 23a is provided below the first camera 11 , and the C-PL filter 23b is provided above the second camera 12 .

C-PL 필터(23a, 23b)는, 각각 편광판과 편광판을 투과한 투과광에 1/4λ의 위상차를 주는 1/4λ 위상차 판을 가지는 원편광 필터이다. 1/4λ 위상차 판은, 직선 편광을 원편광으로 변환한다. C-PL 필터(23a, 23b)는, 각각 하프미러(half mirror)(21h, 22h)측에 편광판이 위치하고, 하프미러(21h, 22h)로부터 먼 측에 1/4λ 위상차 판이 위치하도록 설치된다. C-PL 필터(23a, 23b)는 이미 공지이기 때문에 상세한 설명을 생략한다. The C-PL filters 23a and 23b are circular polarizing filters each having a polarizing plate and a 1/4λ retardation plate giving a 1/4λ phase difference to transmitted light passing through the polarizing plate. The 1/4λ retardation plate converts linearly polarized light into circularly polarized light. The C-PL filters 23a and 23b are installed so that the polarizing plate is positioned on the half mirror 21h and 22h side, respectively, and the 1/4λ retardation plate is positioned on the far side from the half mirror 21h and 22h. Since the C-PL filters 23a and 23b are already known, their detailed description will be omitted.

C-PL 필터(23a, 23b)는, 각각 제1 카메라(11), 제2 카메라(12)에 인접하여 설치된다. 또, C-PL 필터(23a, 23b)는, 각각 두께 방향과 대략 직교하는 방향의 평면이, 광축 oax와 대략 직교하는 방향에 대해서 조금 경사지도록 설치된다. The C-PL filters 23a and 23b are provided adjacent to the first camera 11 and the second camera 12 , respectively. In addition, the C-PL filters 23a and 23b are provided so that a plane in a direction substantially orthogonal to the thickness direction is slightly inclined with respect to a direction substantially orthogonal to the optical axis oax, respectively.

광원(21a)으로부터 조사되고, 하프미러(21h)에서 하향으로 반사된 광 중의 일부가 커버 유리 G를 투과하여 촬상 렌즈(12a) 표면에서 반사하는 경우가 있다. 이 반사광이 제1 카메라(11)에 입사하면, 제1 카메라(11)로 촬상된 화상의 중앙에 밝은 광의 선이 포함되어 버릴 우려가 있다. C-PL 필터(23b)는, 커버 유리 G를 투과하여 촬상 렌즈(12a) 표면에서 반사한 광이 제1 카메라(11)에 입사하지 않게 한다. 이에 의해 제1 카메라(11)로 촬상된 화상의 중앙에 밝은 광의 선이 포함되지 않게 할 수가 있다. A part of the light irradiated from the light source 21a and reflected downward by the half mirror 21h passes through the cover glass G and is reflected on the surface of the imaging lens 12a in some cases. When this reflected light enters the 1st camera 11, there exists a possibility that the line of bright light may be contained in the center of the image imaged by the 1st camera 11. The C-PL filter 23b prevents light transmitted through the cover glass G and reflected from the surface of the imaging lens 12a from entering the first camera 11 . Thereby, it is possible to prevent a bright light line from being included in the center of the image captured by the first camera 11 .

마찬가지로 C-PL 필터(23a)는, 광원(22a)으로부터 조사되고, 하프미러(22h)에서 상향으로 반사되어 커버 유리 G를 투과하여 촬상 렌즈(11a) 표면에서 반사한 광이 제2 카메라(12)에 입사하지 않게 한다. 이에 의해 제2 카메라(12)로 촬상된 화상의 중앙에 밝은 광의 선이 포함되지 않게 할 수가 있다. Similarly, the C-PL filter 23a is irradiated from the light source 22a, reflected upward by the half mirror 22h, passes through the cover glass G, and the light reflected from the surface of the imaging lens 11a is transmitted to the second camera 12 ) not to enter the Thereby, it is possible to prevent a bright light line from being included in the center of the image captured by the second camera 12 .

또한, 본 실시의 형태에서는, C-PL 필터(23a, 23b)를 가졌지만, C-PL 필터(23a)는 필수는 아니다. In addition, in this embodiment, although the C-PL filters 23a and 23b are provided, the C-PL filter 23a is not essential.

이상, 이 발명의 실시 형태를 도면을 참조하여 상술해 왔지만, 구체적인 구성은 이 실시 형태에 한정되는 것은 아니고, 이 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위의 설계 변경 등도 포함된다. 당업자라면, 실시 형태의 각 요소를 적당하게 변경, 추가, 변환 등을 하는 것이 가능하다. 예를 들면, 제4, 5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(4, 5)에 대해서, 측면 검사부(60)와 높이 취득부(90)를 적용해도 좋다. 또 예를 들면, 제2의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(2)와 제5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)를 조합해도 좋고, 제4의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(4)와 제5의 실시의 형태와 관련되는 광학 검사 장치(5)를 조합해도 좋다. As mentioned above, although embodiment of this invention was described above with reference to drawings, a specific structure is not limited to this embodiment, The design change etc. of the range which do not deviate from the summary of this invention are included. It is possible for those skilled in the art to appropriately change, add, or convert each element of the embodiment. For example, you may apply the side inspection part 60 and the height acquisition part 90 about the optical inspection apparatus 4 and 5 which concerns on 4th and 5th embodiment. Further, for example, the optical inspection apparatus 2 according to the second embodiment and the optical inspection apparatus 5 according to the fifth embodiment may be combined, and the optical inspection apparatus 5 according to the fourth embodiment may be combined. You may combine the optical inspection apparatus 4 and the optical inspection apparatus 5 which concerns on 5th Embodiment.

또, 상기 실시의 형태에서는, 광학 검사 장치(1~5)의 피검사물(검사 대상)이 커버 유리 G, G1이었지만, 광학 검사 장치(1~5)의 검사 대상은 커버 유리에 한정되지 않는다. 예를 들면, 광학 검사 장치(1~5)의 검사 대상이, 랩탑형(laptop type) 퍼스널 컴퓨터의 터치 패드에 이용되는 유리라도 좋다. Moreover, in the said embodiment, although the to-be-inspected object (inspection object) of the optical inspection apparatuses 1-5 was cover glass G and G1, the inspection object of the optical inspection apparatuses 1-5 is not limited to a cover glass. For example, the inspection object of the optical inspection apparatuses 1-5 may be glass used for the touchpad of a laptop-type personal computer.

또, 본 발명에 있어서, 「대략」이란 엄밀하게 동일한 경우뿐만 아니라, 동일성을 잃지 않는 정도의 오차나 변형을 포함한 개념이다. 예를 들면, 대략 수평이란, 엄밀하게 수평의 경우에 한정되지 않고, 예를 들면 몇도 정도의 오차를 포함한 개념이다. 또, 예를 들면, 단지 평행, 직교 등으로 표현하는 경우에 있어서도, 엄밀하게 평행, 직교 등의 경우뿐만 아니라, 대략 평행, 대략 직교 등의 경우를 포함하는 것으로 한다. 또, 본 발명에 있어서 「근방」이란, 기준으로 되는 위치의 가까이의 어느 범위(임의로 정할 수가 있음)의 영역을 포함하는 것을 의미한다. In addition, in the present invention, "approximately" is a concept including not only the strictly identical case, but also errors and deformations to the extent that the identity is not lost. For example, substantially horizontal is not limited to the case of being strictly horizontal, For example, it is a concept including the error of about several degrees. Also, for example, in the case of expressing only parallel, orthogonal, etc., not only strictly parallel, orthogonal cases, but also substantially parallel, substantially orthogonal, etc. cases are included. In the present invention, "near" means including a region in a certain range (which can be arbitrarily determined) near the reference position.

1, 2 : 광학 검사 장치
10, 10A : 촬상부
11 : 제1 카메라 12 : 제2 카메라
13 : 제3 카메라
11a, 12a, 13a : 촬상 렌즈
11b, 12b, 13b : 라인 센서
13c : 제3 카메라의 시야 위치
20, 20A : 동축 조명부
21, 21A : 상측 동축 조명 22, 22A : 하측 동축 조명
21a, 22a : 광원
21b, 22b : 인테그레이터(integrator)
21c, 22c : 집광 렌즈 21d, 22d : 조리개
21e, 22e : 콜리메이터 렌즈(collimator lens)
21f, 22f : 미러(mirror)
21g, 22g : 프레스넬 렌즈(Fresnel lens)
21h, 22h : 하프미러(half mirror) 23a, 23b : C-PL 필터
30, 30A : 입체 조명부
30a : 발광부 30b : 발광 블록
30c, 30c-1, 30c-2 : 원통 렌즈 30d : 발광 블록
30e, 30e-1 : 렌티큘러 렌즈
30g : 플레이트(plate) 30h : 절곡부
31, 31A : 제1 영역
31a~31j, 31a-1~31j-1 : 띠모양 발광부
32, 32A : 제2 영역
32a~32i, 32a-1~32d-1, 32f-1~32h-1 : 띠모양 발광부
33, 33A : 제3 영역
33a~33i, 33a-1~33d-1, 33f-1~33h-1 : 띠모양 발광부
34 : 프레임(frame)
34a : 플레이트 34b, 34c : 부착부재
35 : 송풍부
40 : 재치부 40a : 롤러(roller)
50 : 반송부 60 : 측면 검사부
61, 62 : 초점거리 조정용 광학 소자
63, 64 : 반사경 63a, 64a : 반사면
71 : 집적회로
72 : 입력부 73 : 출력부
74 : 전원부
75 : 통신 I/F(interface)
81 : 위치 검출 센서 82 : 위치 검출 센서
90 : 높이 취득부
91 : 면광원 92 : 카메라
93 : 반사경 95 : 이동부
100 : 퍼스널 컴퓨터(PC : prersonal computer)
101 : CPU(Central Processing Unit)
102 : RAM(Random Access Memory) 103 : ROM(Read Only Memory)
104 : 입출력 인터페이스
105 : 통신 I/F(interface) 106 : 미디어 I/F(interface)
111 : 입력 장치 112 : 출력 장치
113 : 기억 매체
1, 2: Optical inspection device
10, 10A: imaging unit
11: first camera 12: second camera
13: third camera
11a, 12a, 13a: imaging lens
11b, 12b, 13b: line sensor
13c: the viewing position of the third camera
20, 20A: coaxial lighting unit
21, 21A: upper coaxial light 22, 22A: lower coaxial light
21a, 22a: light source
21b, 22b: integrator
21c, 22c: condensing lens 21d, 22d: aperture
21e, 22e: collimator lens
21f, 22f : mirror
21g, 22g : Fresnel lens
21h, 22h: half mirror 23a, 23b: C-PL filter
30, 30A: three-dimensional lighting unit
30a: light emitting unit 30b: light emitting block
30c, 30c-1, 30c-2: Cylindrical lens 30d: Light emitting block
30e, 30e-1 : Lenticular Lens
30g: plate 30h: bent part
31, 31A: first area
31a~31j, 31a-1~31j-1: band-shaped light emitting part
32, 32A: second area
32a~32i, 32a-1~32d-1, 32f-1~32h-1: band-shaped light emitting part
33, 33A: third area
33a~33i, 33a-1~33d-1, 33f-1~33h-1: band-shaped light emitting part
34: frame
34a: plate 34b, 34c: attachment member
35: blower
40: mounting unit 40a: roller (roller)
50: conveyance unit 60: side inspection unit
61, 62: optical element for focal length adjustment
63, 64: reflection mirrors 63a, 64a: reflection surface
71: integrated circuit
72: input unit 73: output unit
74: power supply
75: communication I/F (interface)
81: position detection sensor 82: position detection sensor
90: height acquisition part
91: surface light source 92: camera
93: reflector 95: moving part
100: personal computer (PC: personal computer)
101: CPU (Central Processing Unit)
102: RAM (Random Access Memory) 103: ROM (Read Only Memory)
104: input/output interface
105: Communication I/F (interface) 106: Media I/F (interface)
111: input device 112: output device
113: storage medium

Claims (17)

수평 방향으로 피검사물을 재치하는 재치부와,
상기 재치부에 재치된 상기 피검사물을 반송 방향을 따라 이동시키는 반송부와,
상기 피검사물을 대략 연직 상향으로부터 촬상하는 1차원 촬상 수단으로서, 길이 방향이 상기 반송 방향과 대략 직교하도록 배치된 1차원 촬상 수단과,
상기 피검사물에 광을 조사하는 발광부를 복수 가지는 광조사부를 구비하고,
상기 광조사부는, 상기 1차원 촬상 수단을 포함하는 대략 연직 방향의 면인 중심면의 상에 중심축이 위치하는 대략 반원통면의 제1 영역과, 상기 제1 영역의 양단에 형성된 대략 반구면 또는 대략 반타원구면의 제2 영역 및 제3 영역을 가지고,
상기 제1 영역에 있어서는, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향을 따라 상기 발광부가 늘어놓여진 띠모양 발광부를 복수 가지고,
상기 띠모양 발광부는, 상기 제1 영역에 있어서의 상기 중심면의 근방 이외의 영역에 설치되고,
상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서는, 상기 중심면의 상에 상기 발광부가 늘어놓여진 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
A mounting unit for placing the object to be inspected in the horizontal direction;
a conveying unit for moving the inspected object placed on the mounting unit along a conveying direction;
One-dimensional imaging means for imaging the object to be inspected from substantially vertically upward, the one-dimensional imaging means arranged so that a longitudinal direction is substantially orthogonal to the conveying direction;
and a light irradiation unit having a plurality of light emitting units for irradiating light to the object to be inspected,
The light irradiation unit includes a first area of a substantially semi-cylindrical surface in which a central axis is located on a center surface, which is a surface in a substantially vertical direction including the one-dimensional imaging means, and a substantially hemispherical surface formed at both ends of the first area; or having a second area and a third area of a substantially semi-elliptical surface,
in the first region, a plurality of band-shaped light-emitting units in which the light-emitting units are arranged along a direction substantially orthogonal to the conveying direction;
the strip-shaped light emitting part is provided in a region other than the vicinity of the central plane in the first region;
In the second region and the third region, the light emitting units are arranged on the central plane.
제1항에 있어서,
상기 띠모양 발광부는, 광축과, 상기 중심면과 상기 재치부의 상면의 교선이 교차하도록 설치되고,
상기 띠모양 발광부는, 광축과 상기 중심면과의 이루는 각도가 대략 8°또는 대략 17°인 제1 띠모양 발광부를 가지는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
The method of claim 1,
The band-shaped light emitting unit is installed so that the optical axis and the intersection line of the central plane and the upper surface of the mounting part intersect,
The optical inspection apparatus according to claim 1, wherein the band-shaped light emitting unit has a first band-shaped light emitting unit whose angle between the optical axis and the central plane is approximately 8° or approximately 17°.
제2항에 있어서,
일정한 속도로 상기 피검사물을 반송하도록 상기 반송부를 제어하고, 일정한 간격으로 화상을 촬상하도록 상기 1차원 촬상 수단을 구동하고, 또한 상기 1차원 촬상 수단에 의한 촬상에 동기하여, 상기 제1 영역의 상기 중심면에서 구분된 반의 영역인 제1 발광 영역, 상기 제1 영역 중의 상기 제1 발광 영역 이외의 제2 발광 영역, 상기 제2 영역 중의 상기 중심면의 상의 제3 발광 영역, 상기 제3 영역 중의 상기 중심면의 상의 제4 발광 영역, 상기 제1 띠모양 발광부를 제각기 조사시키는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
3. The method of claim 2,
The conveying unit is controlled to convey the object to be inspected at a constant speed, the one-dimensional imaging means is driven to capture images at regular intervals, and in synchronization with the imaging by the one-dimensional imaging means, the first area is A first light emitting area that is a half area separated from the center plane, a second light emitting area other than the first light emitting area in the first area, a third light emitting area on the central plane in the second area, and among the third areas and a control unit for irradiating a fourth light emitting region on the central plane and the first band-shaped light emitting unit, respectively.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 광조사부는, 상기 띠모양 발광부와, 상기 중심면과 상기 재치부의 상면과의 교선과의 사이에 배치된 원통 렌즈를 가지는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The light irradiation unit includes the strip-shaped light emitting unit and a cylindrical lens disposed between an intersection between the central plane and the upper surface of the mounting unit.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 재치부의 상측 또는 하측에 설치되는 제1 촬상 수단과,
광축이 상기 제1 촬상 수단의 광축과 일치하도록, 상기 제1 촬상 수단과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 촬상 수단과,
상기 피검사물에 법선 방향으로부터 평행광을 조사하는 제1 동축 조명으로서, 상기 제1 촬상 수단의 동축 조명인 제1 동축 조명과,
상기 제1 동축 조명과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 동축 조명으로서, 상기 제2 촬상 수단의 동축 조명인 제2 동축 조명을 구비하고,
상기 제1 촬상 수단에는, 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광이 입사하고,
상기 제2 촬상 수단에는, 상기 제2 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광, 및 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물을 투과한 광이 입사하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
a first imaging means installed on the upper side or the lower side of the mounting unit;
second imaging means provided on the opposite side with the first imaging means and the mounting unit interposed therebetween so that the optical axis coincides with the optical axis of the first imaging means;
first coaxial illumination for irradiating parallel light from a normal direction to the object to be inspected, the first coaxial illumination being coaxial illumination of the first imaging means;
A second coaxial illumination provided on the opposite side with the first coaxial illumination and the mounting unit interposed therebetween, comprising a second coaxial illumination that is a coaxial illumination of the second imaging means;
Light irradiated from the first coaxial illumination and specularly reflected from the inspection object is incident on the first imaging means,
Optical inspection characterized in that the light irradiated from the second coaxial illumination and specularly reflected from the inspection object, and the light irradiated from the first coaxial illumination and transmitted through the inspection object enter the second imaging means Device.
제5항에 있어서,
일정한 속도로 상기 피검사물을 반송하도록 상기 반송부를 제어하고, 상기 제1 동축 조명을 제1의 강도로 조사하는 제1 형태, 상기 제2 동축 조명을 상기 제1의 강도로 조사하는 제2 형태, 상기 제1 동축 조명을 제2의 강도로 조사하는 제3 형태의 3개의 조사 패턴으로 상기 제1 동축 조명 또는 상기 제2 동축 조명을 조사시키고, 또한 상기 제1 형태의 조사에 맞추어 상기 제1 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제2 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제3 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하도록, 상기 제1 촬상 수단 및 상기 제2 촬상 수단을 구동하는 제2 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
6. The method of claim 5,
A first aspect in which the conveying unit is controlled to convey the object to be inspected at a constant speed and irradiating the first coaxial illumination with a first intensity, a second mode of irradiating the second coaxial illumination with the first intensity, The first coaxial illumination or the second coaxial illumination is irradiated with three irradiation patterns of a third type for irradiating the first coaxial illumination with a second intensity, and further, the first imaging according to the irradiation of the first type means for acquiring an image, acquiring an image by the second imaging means in accordance with irradiation of the second form, and acquiring an image by the second imaging means in accordance with irradiation of the third mode; and a second control unit for driving the second imaging unit.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
광축이 상기 1차원 촬상 수단의 광축과 일치하도록, 상기 1차원 촬상 수단과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 촬상 수단과,
상기 피검사물에 법선 방향으로부터 평행광을 조사하는 제1 동축 조명으로서, 상기 1차원 촬상 수단의 동축 조명인 제1 동축 조명과,
상기 제1 동축 조명과 상기 재치부를 사이에 두고 반대측에 설치된 제2 동축 조명으로서, 상기 제2 촬상 수단의 동축 조명인 제2 동축 조명을 구비하고,
상기 광조사부는, 상기 1차원 촬상 수단과 상기 반송부와의 사이에 설치되고,
상기 1차원 촬상 수단에는, 상기 광조사부 또는 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광이 입사하고,
상기 제2 촬상 수단에는, 상기 제2 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물에서 정반사한 광, 및 상기 제1 동축 조명으로부터 조사되고, 상기 피검사물을 투과한 광이 입사하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
second imaging means provided on the opposite side with the one-dimensional imaging means and the mounting unit interposed therebetween so that the optical axis coincides with the optical axis of the one-dimensional imaging means;
first coaxial illumination for irradiating parallel light from a normal direction to the object to be inspected, the first coaxial illumination being coaxial illumination of the one-dimensional imaging means;
A second coaxial illumination provided on the opposite side with the first coaxial illumination and the mounting unit interposed therebetween, comprising a second coaxial illumination that is a coaxial illumination of the second imaging means;
The light irradiation unit is provided between the one-dimensional imaging means and the transport unit,
Light irradiated from the light irradiator or the first coaxial illumination and specularly reflected from the inspection object is incident on the one-dimensional imaging means,
Optical inspection characterized in that the light irradiated from the second coaxial illumination and specularly reflected from the inspection object, and the light irradiated from the first coaxial illumination and transmitted through the inspection object enter the second imaging means Device.
제7항에 있어서,
일정한 속도로 상기 피검사물을 반송하도록 상기 반송부를 제어하고, 상기 제1 동축 조명을 제1의 강도로 조사하는 제1 형태, 상기 제2 동축 조명을 상기 제1의 강도로 조사하는 제2 형태, 상기 제1 동축 조명을 제2의 강도로 조사하는 제3 형태의 3개의 조사 패턴으로 상기 제1 동축 조명 또는 상기 제2 동축 조명을 조사시키고, 또한 상기 제1 형태의 조사에 맞추어 상기 1차원 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제2 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하고, 상기 제3 형태의 조사에 맞추어 상기 제2 촬상 수단으로 화상을 취득하도록, 상기 1차원 촬상 수단 및 상기 제2 촬상 수단을 구동하는 제3 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
8. The method of claim 7,
A first aspect in which the conveying unit is controlled to convey the object to be inspected at a constant speed and irradiating the first coaxial illumination with a first intensity, a second mode of irradiating the second coaxial illumination with the first intensity, The first coaxial illumination or the second coaxial illumination is irradiated with three irradiation patterns of a third form for irradiating the first coaxial illumination with a second intensity, and the one-dimensional imaging according to the irradiation of the first type means for acquiring an image by means of a second imaging means, acquiring an image by the second imaging means in accordance with the irradiation of the second mode, and acquiring an image by the second imaging means in accordance with the irradiation of the third mode; and a third control unit for driving the second imaging unit.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 광조사부는, 상기 발광부에 인접하여 설치되고, 상기 발광부로부터 조사된 광을 확산하는 광확산판을 가지는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The light emitting unit is provided adjacent to the light emitting unit, the optical inspection apparatus characterized in that it has a light diffusion plate for diffusing the light irradiated from the light emitting unit.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 1차원 촬상 수단의 초점거리를 조정하는 초점거리 조정용 광학 소자와,
상기 재치부에 인접하여 설치된 반사경을 구비하고,
상기 초점거리 조정용 광학 소자 및 상기 반사경은, 상기 중심면의 상에 설치되고,
평면시에 있어서, 상기 1차원 촬상 수단의 연직 방향 하측에, 상기 피검사물이 재치되는 상기 재치부 상의 영역인 재치 영역이 위치하고,
평면시에 있어서, 상기 반사경은, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향에 있어서, 상기 재치 영역의 외측 또한 상기 재치 영역에 인접하는 위치에 설치되고,
상기 반사경의 반사면은 대략 평면이며,
상기 반사면은, 상기 중심면과 교차하는 선이 수평면에 대해서 경사지도록, 상기 반송 방향으로 대략 따라 연설되고,
상기 초점거리 조정용 광학 소자는, 상기 1차원 촬상 수단과 상기 반사경을 묶는 선과 겹치도록 배치되는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
an optical element for adjusting a focal length for adjusting the focal length of the one-dimensional imaging means;
and a reflector installed adjacent to the mounting unit,
The optical element for adjusting the focal length and the reflecting mirror are installed on the central plane,
In a plan view, a placement area, which is an area on the placement unit on which the object to be inspected is placed, is located below the one-dimensional imaging means in the vertical direction,
In a plan view, the reflecting mirror is provided at a position outside the mounting area and adjacent to the mounting area in a direction substantially orthogonal to the conveying direction;
The reflective surface of the reflector is approximately planar,
the reflective surface extends substantially along the conveying direction such that a line intersecting the central plane is inclined with respect to the horizontal plane;
The optical inspection device according to claim 1, wherein the optical element for adjusting the focal length is disposed so as to overlap a line joining the one-dimensional imaging means and the reflecting mirror.
제10항에 있어서,
상기 초점거리 조정용 광학 소자는, 유리판이고, 판두께 방향과 대략 직교하는 양단면이 수평으로 되도록 설치되는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
11. The method of claim 10,
The optical element for adjusting the focal length is a glass plate and is provided so that both end surfaces substantially orthogonal to the plate thickness direction are horizontal.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 1차원 촬상 수단을 상하 방향으로 이동시키는 이동부와,
상기 피검사물의 높이를 취득하는 높이 취득부와,
상기 높이 취득부가 취득한 정보에 기초하여 상기 이동부를 제어하여, 상기 1차원 촬상 수단의 하를 통과하는 상기 피검사물의 높이 변화에 맞추어 상기 1차원 촬상 수단을 상하 방향으로 이동시키는 이동 제어부를 구비하는것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
a moving unit for moving the one-dimensional imaging means in an up-down direction;
a height acquisition unit for acquiring the height of the object to be inspected;
A movement control unit for controlling the moving unit based on the information obtained by the height obtaining unit to move the one-dimensional imaging unit in an up-down direction in accordance with a change in the height of the object to be inspected passing under the one-dimensional imaging unit; Optical inspection device characterized.
제12항에 있어서,
상기 높이 취득부는, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향으로 광을 조사하는 면광원과, 상기 면광원으로부터 조사되고, 상기 피검사물을 통과한 광이 입사하는 측면 촬상 수단을 가지는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
13. The method of claim 12,
The height acquisition unit includes a surface light source for irradiating light in a direction substantially orthogonal to the conveying direction, and a side imaging means through which the light irradiated from the surface light source and passed through the inspection object is incident. Optical inspection, characterized in that Device.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 광조사부는, 상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서, 상기 발광부가 일렬로 늘어놓여진 발광 블록과, 상기 발광부로부터 조사된 광이 통과하는 제2 원통 렌즈를 가지고,
상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서는, 상기 발광 블록의 연설 방향은 수평 방향에 대해서 기울어져 있고,
상기 제2 영역 및 상기 제3 영역에 있어서는, 상기 발광 블록의 연설 방향에 대해서, 상기 제2 원통 렌즈의 연설 방향이 기울어져 있는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The light irradiation unit includes, in the second region and the third region, a light emitting block in which the light emitting units are arranged in a line, and a second cylindrical lens through which the light irradiated from the light emitting unit passes,
In the second region and the third region, the extension direction of the light emitting block is inclined with respect to the horizontal direction,
The optical inspection apparatus according to claim 1, wherein in the second region and the third region, the extension direction of the second cylindrical lens is inclined with respect to the extension direction of the light emitting block.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 광조사부는, 열전도성이 높은 재료로 형성된 방열 부재를 가지고,
상기 발광부는, 상기 방열 부재에 설치되는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
The light irradiation unit has a heat dissipation member formed of a material with high thermal conductivity,
The light emitting unit is an optical inspection device, characterized in that provided in the heat dissipation member.
제15항에 있어서,
상기 방열 부재에 송풍하는 송풍부를 구비하고,
상기 방열 부재는, 상기 발광부가 설치된 플레이트를 복수 가지고,
상기 플레이트는, 상기 반송 방향과 대략 직교하는 방향으로 연설되어 있고,
상기 송풍부는, 상기 플레이트의 연설 방향을 따른 방향의 바람을 보내는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
16. The method of claim 15,
and a blower for blowing air to the heat dissipation member;
The heat dissipation member has a plurality of plates provided with the light emitting part,
The plate extends in a direction substantially orthogonal to the conveying direction,
The blower unit, optical inspection device, characterized in that the wind in a direction along the extension direction of the plate.
제5항에 있어서,
상기 제2 촬상 수단은, 상기 재치부의 하측에 설치되고,
상기 제2 촬상 수단의 상측에는, 원편광 필터가 설치되고,
상기 원편광 필터는, 두께 방향과 대략 직교하는 방향의 평면이, 상기 제2 촬상 수단의 광축과 대략 직교하는 방향에 대해서 조금 경사지도록 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치.
6. The method of claim 5,
The second imaging means is provided below the mounting unit,
A circularly polarizing filter is installed above the second imaging means,
The circularly polarizing filter is provided so that a plane in a direction substantially orthogonal to the thickness direction is slightly inclined with respect to a direction substantially orthogonal to the optical axis of the second imaging means.
KR1020197009783A 2016-11-09 2017-11-08 optical inspection device KR102339677B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016218616 2016-11-09
JPJP-P-2016-218616 2016-11-09
PCT/JP2017/040231 WO2018088423A1 (en) 2016-11-09 2017-11-08 Optical inspection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190082198A KR20190082198A (en) 2019-07-09
KR102339677B1 true KR102339677B1 (en) 2021-12-14

Family

ID=62110631

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020197009783A KR102339677B1 (en) 2016-11-09 2017-11-08 optical inspection device

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6912824B2 (en)
KR (1) KR102339677B1 (en)
CN (1) CN109804238B (en)
WO (1) WO2018088423A1 (en)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108535265A (en) * 2018-04-10 2018-09-14 深圳市纳研科技有限公司 A kind of multi-angle polisher and acquisition system
JP7167641B2 (en) * 2018-11-08 2022-11-09 日本電気硝子株式会社 Work manufacturing method and work inspection method
CN110208290A (en) * 2019-06-19 2019-09-06 海南梯易易智能科技有限公司 A kind of 3D bend glass defect detecting device based on line scan camera
US11340284B2 (en) * 2019-07-23 2022-05-24 Kla Corporation Combined transmitted and reflected light imaging of internal cracks in semiconductor devices
JPWO2021090827A1 (en) * 2019-11-05 2021-05-14
JP2021096112A (en) * 2019-12-16 2021-06-24 コニカミノルタ株式会社 Inspection device for transparent body
KR102216999B1 (en) * 2020-09-28 2021-02-18 주식회사 하이브비젼 Non-Lambertian Surface Inspecting System For Line Scan
KR102535869B1 (en) * 2021-03-02 2023-05-26 주식회사 디쌤 Visual inspection assembly
CN116745577A (en) * 2021-05-18 2023-09-12 Lg电子株式会社 Thickness measuring device
TWI782695B (en) * 2021-09-06 2022-11-01 致茂電子股份有限公司 Dual sided optical detection system with fluorescence detection function
KR102368707B1 (en) * 2021-09-07 2022-02-28 주식회사 하이브비젼 Non-Lambertian Surface Inspecting System For Line Scan
TWI781840B (en) * 2021-12-02 2022-10-21 友達光電股份有限公司 A light control device, testing system and method for dark field photography
CN218726727U (en) * 2022-12-12 2023-03-24 宁德时代新能源科技股份有限公司 Appearance detection device and battery cell manufacturing equipment
WO2024190081A1 (en) * 2023-03-15 2024-09-19 パナソニックIpマネジメント株式会社 Image recognition method and device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002196338A (en) 2000-12-22 2002-07-12 Toshiba Corp Liquid crystal display element
JP2003224353A (en) 2002-01-30 2003-08-08 Hitachi Ltd Method for mounting substrate of electronic component
JP2005265741A (en) 2004-03-22 2005-09-29 Mega Trade:Kk Lighting system
JP2010122047A (en) 2008-11-19 2010-06-03 Mega Trade:Kk Lighting system

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1075051A (en) * 1996-07-05 1998-03-17 Toyota Motor Corp Visual inspection device
JP3316501B2 (en) * 2000-03-28 2002-08-19 科学技術振興事業団 Sensor head, luminance distribution measuring device including the same, and display unevenness evaluation device
US7113313B2 (en) * 2001-06-04 2006-09-26 Agilent Technologies, Inc. Dome-shaped apparatus for inspecting a component or a printed circuit board device
CN2867100Y (en) * 2005-07-13 2007-02-07 王锦峰 On-line light supply generation device
DE102008047085B4 (en) * 2008-09-12 2016-02-18 Gp Inspect Gmbh lighting device
JP5806808B2 (en) 2010-08-18 2015-11-10 倉敷紡績株式会社 Imaging optical inspection device
FI125320B (en) * 2012-01-05 2015-08-31 Helmee Imaging Oy EVENTS AND SIMILAR OPTICAL MEASUREMENT PROCEDURES
CN103293162B (en) * 2013-06-17 2015-03-11 浙江大学 Lighting system and method used for dark field detection of defect in spherical optical element surface
JP6287360B2 (en) * 2014-03-06 2018-03-07 オムロン株式会社 Inspection device
US9885671B2 (en) * 2014-06-09 2018-02-06 Kla-Tencor Corporation Miniaturized imaging apparatus for wafer edge

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002196338A (en) 2000-12-22 2002-07-12 Toshiba Corp Liquid crystal display element
JP2003224353A (en) 2002-01-30 2003-08-08 Hitachi Ltd Method for mounting substrate of electronic component
JP2005265741A (en) 2004-03-22 2005-09-29 Mega Trade:Kk Lighting system
JP2010122047A (en) 2008-11-19 2010-06-03 Mega Trade:Kk Lighting system

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2018088423A1 (en) 2019-10-03
WO2018088423A1 (en) 2018-05-17
CN109804238A (en) 2019-05-24
KR20190082198A (en) 2019-07-09
CN109804238B (en) 2021-12-28
JP6912824B2 (en) 2021-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102339677B1 (en) optical inspection device
JP5806808B2 (en) Imaging optical inspection device
US9110035B2 (en) Method and system for detecting defects of transparent substrate
WO2016121878A1 (en) Optical appearance inspection device and optical appearance inspection system using same
US20110310244A1 (en) System and method for detecting a defect of a substrate
US8681211B2 (en) High speed optical inspection system with adaptive focusing
TWI557434B (en) Lighting system
US10887500B2 (en) Optical inspection system
KR101588937B1 (en) Pattern inspection apparatus and pattern inspection method
US20120044346A1 (en) Apparatus and method for inspecting internal defect of substrate
JP5720134B2 (en) Image inspection apparatus and image forming apparatus
KR101577119B1 (en) Pattern inspection apparatus and pattern inspection method
JP2015227793A (en) Inspection device of optical components and inspection method thereof
KR20180116154A (en) Inspection apparatus for cover glass
KR101245622B1 (en) Vision inspection apparatus using stereo vision grid pattern
CN109540899B (en) Inspection apparatus and inspection method
JP2007078404A (en) Inspection device of solar cell panel
EP3428626B1 (en) Inspecting method, inspection system and manufacturing method
KR100671766B1 (en) Inspection device for substrate
KR101245623B1 (en) Vision inspection apparatus using grid pattern of visible ray and ultraviolet ray or infrared light
KR101124567B1 (en) Wafer inspecting apparatus having hybrid illumination
JP2022501580A (en) Multi-modality multiplexed lighting for optical inspection systems
KR101485425B1 (en) Cover-glass Analysis Apparatus
JP6175819B2 (en) Image inspection apparatus and image inspection method
KR20120086333A (en) High speed optical inspection system with adaptive focusing

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant