JPH10260722A - Abnormal value detecting device - Google Patents

Abnormal value detecting device

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JPH10260722A
JPH10260722A JP8562397A JP8562397A JPH10260722A JP H10260722 A JPH10260722 A JP H10260722A JP 8562397 A JP8562397 A JP 8562397A JP 8562397 A JP8562397 A JP 8562397A JP H10260722 A JPH10260722 A JP H10260722A
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JP
Japan
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value
abnormal value
abnormal
result
calculating
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Application number
JP8562397A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuya Hirabayashi
和也 平林
Toshinori Kanetani
利憲 金谷
Itsuro Fujita
逸郎 藤田
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Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make an accurate decision even when a measured value increases gradually and when the measured value varies abruptly as operation is changed by checking one kind of measured value from various angles and totally deciding the check result by employing main component analysis. SOLUTION: An abnormal value detection logic arithmetic unit 2 consists of two 1st and 2nd devices. The 1st abnormal value detection logic arithmetic unit consists of a basic data arithmetic unit 211, a variation quantity overestimate arithmetic unit 212, a similar instrument comparing arithmetic unit 213, and a prediction error arithmetic unit 214. The 2nd abnormal value detection logic arithmetic unit consists of a trend arithmetic unit 221 and a variation quantity underestimate arithmetic unit 222. The measured value is checked from various angles such as the measured value, variation quantity overestimation, variation quantity underestimation, comparison with similar instruments, trends, and relation with other instruments. Then main component analysis is employed to totally decide the result of abnormal value detection logic.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、上下水道処理装置
などのプラントにおいて使用される計測器からの異常デ
ータを検出する異常値検出装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an abnormal value detecting device for detecting abnormal data from a measuring instrument used in a plant such as a water and sewage treatment system.

【0002】[0002]

【従来の技術】上下水処理プラントなどのプロセスで
は、プラントに設置された多数の計測器を中央監視室で
監視しており、それぞれの計測値に異常が発生したと
き、その結果を運転員に報知する。図7は従来の上下水
処理プラントにおける異常値検出装置である。1はプラ
ントから計測、収集された計測値を記憶する計測値蓄積
装置、9は過去の計測値の標準偏差を計算する標準偏差
演算装置、10は標準偏差演算装置9で求められた標準
偏差から計測値の判定基準値(上限値、下限値)を演算
する判定基準値演算装置、11は計測値と判定基準値演
算装置で計算した値を比較し、計測値が判定基準値を越
えているか否かを判定する異常値判定装置、8は異常値
判定装置11で計算された値、つまり計測値が正常か異
常かを表示する異常値検出結果表示装置である。このよ
うな異常値検出装置は、計測器に汚れが蓄積した時、あ
るいは運転条件が変更された場合などは、正常値を異常
値または異常値を正常値と判断することがあった。例え
ば、MLSS(活性汚泥浮遊物質)濃度計においては、洗浄
装置の故障によってセンサー部に汚れが蓄積し、計測値
が一方的に上昇または下降することがある。従来法の上
下限値による異常値検出では、計測値の変化が緩やかな
ためこのような計測値の異常を正常値と判断するので、
汚れの蓄積による計測値異常を検出することができなか
った。また、DO(溶存酸素)計では曝気風量を増加させ
た場合、DO計の値は急上昇するため、従来法では上下限
値を逸脱し、計測値異常と判断していた。しかし、DO計
の上昇は曝気風量を増加させたことによって起こった現
象であり、計測器は正常に動いている。つまり従来法で
は、運転変更の影響を考慮に入れた異常値検出を行って
いないため、計測器が正常に動いている場合でも異常と
判断することがあった。
2. Description of the Related Art In processes such as water treatment and sewage treatment plants, a large number of measuring instruments installed in a plant are monitored in a central monitoring room. When an abnormality occurs in each measured value, the result is reported to an operator. Notify. FIG. 7 shows an abnormal value detection device in a conventional water and sewage treatment plant. 1 is a measured value accumulating device for storing measured values collected and collected from the plant, 9 is a standard deviation calculating device for calculating the standard deviation of past measured values, and 10 is a standard deviation calculated by the standard deviation calculating device 9. A criterion value calculating device for calculating a criterion value (upper limit value, lower limit value) of a measured value, 11 compares the measured value with a value calculated by the criterion value calculating device and determines whether the measured value exceeds the criterion value. An abnormal value judgment device 8 for judging whether or not the value is a value calculated by the abnormal value judgment device 11, that is, an abnormal value detection result display device for displaying whether the measured value is normal or abnormal. Such an abnormal value detection device sometimes determines a normal value to be an abnormal value or an abnormal value to be a normal value when dirt accumulates in a measuring instrument or when operating conditions are changed. For example, in an MLSS (activated sludge suspended solids) concentration meter, contamination may accumulate in a sensor unit due to a failure in a cleaning device, and the measured value may increase or decrease unilaterally. In the abnormal value detection based on the upper and lower limits of the conventional method, since the change in the measured value is gradual, such abnormalities in the measured value are determined as normal values.
Abnormal measurement values due to accumulation of dirt could not be detected. In addition, in the DO (dissolved oxygen) meter, when the aeration air volume was increased, the value of the DO meter rapidly increased. Therefore, the conventional method deviated from the upper and lower limits, and determined that the measured value was abnormal. However, the rise in the DO meter is a phenomenon caused by increasing the amount of aeration air, and the measuring instrument is operating normally. That is, in the conventional method, since the abnormal value is not detected in consideration of the influence of the operation change, it may be determined that the measurement device is abnormal even when the measuring device is operating normally.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】このように従来の上下
限値のチェックで計測器の異常値検出を行うな構成で
は、センサー部に汚れが蓄積することによって計測値が
一方的に上昇または下降する場合や運転の変更などで計
測値が急激な変化を示すような場合に対応した異常値検
出が困難であった。そこで、本発明は一種類の計測値を
種々の角度からチェックし、その結果を主成分分析を用
いて総合的に判定することすることにより、計測値が徐
々に増加する場合や運転の変更によって計測値が急激な
変化を示す場合にも正確な判定ができる異常値検出装置
を提供することを目的とする。
As described above, in the conventional configuration in which the abnormal value of the measuring instrument is detected by checking the upper and lower limits, the measured value unilaterally increases or decreases due to accumulation of dirt in the sensor section. It is difficult to detect an abnormal value corresponding to a case where the measured value shows a sudden change due to a change in operation or a change in operation. Therefore, the present invention checks one type of measured value from various angles and comprehensively determines the result using principal component analysis, so that when the measured value gradually increases or when driving changes. It is an object of the present invention to provide an abnormal value detection device that can perform accurate determination even when a measured value shows a sudden change.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記手段を解決するた
め、本発明は、プラントに設置された計測器から収集さ
れた計測値を蓄積する計測値蓄積装置と、前記計測値蓄
積装置からの計測値を演算する基本データ演算装置と過
大変化量をチェックするために変化量を演算する変化量
過大演算装置と統計手法を用いた予測モデルから予測さ
れる誤差を演算する予測誤差演算装置と前記プラント内
の異なる地点に設置された計測器からの計測値と比較す
る類似計測器比較演算装置とからなる第一の異常値検出
ロジック演算装置と、前記計測値蓄積装置計測値から長
い周期の平均値とその変化量を演算するトレンド演算装
置と過小変化量をチェックするために変化量を演算する
変化量過小演算装置とからなる第二の異常値検出ロジッ
ク演算装置と、前記第一の異常値検出ロジック演算装置
からの結果をそれぞれ集約するデータ集約装置と、前記
データ集約装置からの結果を主成分分析する主成分分析
演算装置と、前記主成分分析演算装置で演算された値か
らマハラノビスの距離を演算し1つの指標にする総合指
標演算装置と、前記総合指標演算装置からの結果を基に
判定基準値を演算する総合指標判定基準値演算装置と前
記第二の異常値検出ロジック演算装置の前記トレンド演
算装置からの結果に基づき判定基準値を演算するトレン
ド判定基準値演算装置と前記変化量過小演算装置からの
結果に基づき判定基準値を演算する変化量過小判定基準
値演算装置とからなる判定基準値演算装置と、前記総合
指標判定基準値演算装置からの結果と前記総合指標演算
装置からの結果とから異常値を判定する総合異常値判定
装置と前記トレンド演算装置からの結果と前記トレンド
判定基準値演算装置からの結果とから異常値を判定する
トレンド異常値判定装置と前記変化量過小演算装置から
の結果と前記変化量過小判定基準値演算装置からの結果
とから異常値を判定する変化量過小異常値判定装置とか
らなる異常値判定装置と、前記異常値判定装置からの結
果を表示する異常値検出結果表示装置とを備えた構成に
している。上記手段により、一種類の計測値を種々の角
度からチェックするので、様々な計測値の変化に対して
も正確な異常値検出ができる。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a measured value accumulating device for accumulating measured values collected from measuring instruments installed in a plant, and a measuring device for measuring measured values from the measured value accumulating device. A basic data calculation device for calculating a value, an excessive change amount arithmetic device for calculating an amount of change for checking an excessive amount of change, a prediction error arithmetic device for calculating an error predicted from a prediction model using a statistical method, and the plant. A first abnormal value detection logic operation device comprising a similar measurement device comparison operation device for comparing with a measurement value from a measurement device installed at a different point in the inside, and an average value of a long cycle from the measurement value accumulation device measurement value And a second abnormal value detection logic operation device comprising a trend operation device that calculates the amount of change and a change amount undercalculation device that calculates the amount of change to check the amount of underchange, and A data aggregating device for aggregating the results from the one abnormal value detection logic arithmetic device, a principal component analysis aggregating device for principal component analysis of the result from the data aggregating device, and a value calculated by the principal component analysis aggregating device Index calculating device for calculating the distance of Mahalanobis from one to one index, a general index determining reference value calculating device for calculating a determination reference value based on the result from the general index calculating device, and the second abnormal value detection A trend judgment reference value operation device for calculating a judgment reference value based on the result from the trend operation device of the logic operation device, and an under-change amount judgment reference value operation for calculating a judgment reference value based on the result from the under-change amount operation device A determination reference value calculation device including a device, and an abnormal value is determined from a result from the general index determination reference value calculation device and a result from the general index calculation device. A trend abnormal value determination device that determines an abnormal value from a result from the general abnormal value determination device and the trend calculation device and a result from the trend determination reference value calculation device, a result from the change amount under-calculation device, and the change amount An abnormal value judging device composed of a change amount undersized abnormal value judging device for judging an abnormal value from a result from the under judging reference value calculating device, and an abnormal value detecting result display device displaying a result from the abnormal value judging device; Is provided. By the above means, one type of measured value is checked from various angles, so that an abnormal value can be accurately detected even with a change in various measured values.

【0005】[0005]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
用いて詳細に説明する。図1は、本発明の下水処理プラ
ントの計測値の異常値検出装置を示す機能ブロック図で
ある。同一のものには同一符号を付している。図におい
て、1は計測値蓄積装置、2は異常値検出ロジック演算
装置、3はデータ集約装置、4は主成分分析演算装置、
5は総合指標演算装置、6は判定基準値演算装置、7は
異常値判定装置、8は異常値検出結果表示装置である。
計測値蓄積装置1は下水処理プラントのプロセスに備え
付けられた計測器から得られる計測値を蓄積する計測値
蓄積装置である。異常値検出ロジック演算装置2は、第
一および第二の二つの装置で構成される。第一の異常値
検出ロジック演算装置は基本データ演算装置211、変
化量過大演算装置212、類似計測器比較演算装置21
3、予測誤差演算装置214の4個の装置からなる。第
二の異常値検出ロジック演算装置はトレンド演算装置2
21および変化量過小演算装置222の2個の装置から
なる。ここで、基本データ演算装置211は、計測値蓄
積装置1に蓄積されているn時点の計測値X(n) を出力
する。変化量過大演算装置212は、次式で定義される
変化量Y(n) を出力する。 Y(n)= X(n)−X(n‐1) ・・・・・(1) 但し、X(n) はn時点の計測値である。類似計測器比較
演算装置213は、処理系が同じで水路の異なるMLS
S濃度計、DO計などの水路1と水路2の計測値の差、
すなわち、次式で定義されるY(n) を出力する。 Y(n)= X1 (n)−X2 (n) ・・・・・(2) 但し、X1(n)はn時点の水路1の計測値、X2(n)はn時
点の水路2の計測値である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a functional block diagram showing an apparatus for detecting an abnormal value of a measured value of a sewage treatment plant of the present invention. The same components are denoted by the same reference numerals. In the figure, 1 is a measurement value storage device, 2 is an abnormal value detection logic operation device, 3 is a data aggregation device, 4 is a principal component analysis operation device,
Reference numeral 5 denotes a general index calculation device, 6 denotes a judgment reference value calculation device, 7 denotes an abnormal value judgment device, and 8 denotes an abnormal value detection result display device.
The measured value accumulating device 1 is a measured value accumulating device that accumulates measured values obtained from a measuring device provided in a process of a sewage treatment plant. The abnormal value detection logic operation device 2 includes two devices, a first device and a second device. The first abnormal value detection logic operation device is a basic data operation device 211, an excessive change amount operation device 212, a similar measurement device comparison operation device 21
3. It is composed of four devices of the prediction error calculation device 214. The second abnormal value detection logic operation device is the trend operation device 2
21 and an under-change amount calculation device 222. Here, the basic data calculation device 211 outputs the measured value X (n) at the time point n stored in the measured value storage device 1. The excessive change amount arithmetic unit 212 outputs a change amount Y (n) defined by the following equation. Y (n) = X (n) −X (n−1) (1) where X (n) is a measured value at the time point n. The similar measurement device comparison / calculation unit 213 has the same processing system and different MLS
The difference between the measured values of channel 1 and channel 2 such as S concentration meter and DO meter,
That is, Y (n) defined by the following equation is output. Y (n) = X 1 (n) −X 2 (n) (2) where X 1 (n) is the measured value of channel 1 at time n, and X 2 (n) is the value measured at time n It is a measured value of the waterway 2.

【0006】予測誤差演算装置214は、自己回帰モデ
ルによって操作変数の動きを考慮に入れた計測値の予測
を行い、その予測誤差を出力する。k個の変数で構成さ
れる自己回帰モデルは、X(n) を時刻nにおけるプロセ
スの状態のk次元ベクトルとすると次の(3)式で定義
される。
[0006] The prediction error calculation unit 214 predicts a measured value in consideration of the movement of the manipulated variable by an autoregressive model, and outputs the prediction error. An autoregressive model composed of k variables is defined by the following equation (3), where X (n) is a k-dimensional vector of the state of the process at time n.

【数1】 ただし、A(m) は自己回帰モデルの回帰係数、U(n) は
自己の固有ノイズベクトル、Mは自己回帰モデルの最適
次数である。予測誤差演算装置214では、X(n) から
U(n) を除いた部分を予測値Xp(n)と考え、次式で定義
される予測誤差Y(n) を出力する。 Y(n)=Xp (n)−X(n) ・・・・・(4) 但し、Xp(n)はn時点の予測値、X(n) はn時点の計測
値である。トレンド演算装置221は、センサー部の汚
れの蓄積などによって計測値が一方的に上昇または下降
した時の異常を検出する。このため、比較的長い周期で
の平均値とその変化量を演算する。下水処理場の計測デ
ータは24時間周期があることから、日単位でデータを
取り扱い、日平均値の変化量を異常値検出の対象データ
とする。変化量過小演算装置222は、計測器の故障な
ど計測値の変化量が殆どない時の異常を検出する。従っ
て、計測値蓄積装置1から得られた計測値の変化量、つ
まり(1)式を異常値検出の対象データとする。データ
集約装置3は、基本データ集約装置31、変化量過大集
約装置32、類似計測値差集約装置33および予測誤差
集約装置34で構成される。ここで、基本データ集約装
置31は計測値蓄積1に蓄積されている計測値の直近3
0日分のデータと現在の計測値を集約する。変化量過大
集約装置32は直近30日の変化量と現在の変化量を集
約する。類似計測値差集約装置33は処理系が同じで水
路の異なる類似計測値の計測値差の直近30日分のデー
タと現在の類似計測値差を集約する。予測誤差集約装置
34は自己回帰モデルによって予測した値と計測値の差
(予測誤差)の直近30日分と現在の予測誤差を集約す
る。
(Equation 1) Here, A (m) is the regression coefficient of the autoregressive model, U (n) is its own eigen noise vector, and M is the optimal order of the autoregressive model. The prediction error calculation unit 214 considers a part obtained by removing U (n) from X (n) as a predicted value Xp (n), and outputs a prediction error Y (n) defined by the following equation. Y (n) = Xp (n) -X (n) (4) where Xp (n) is a predicted value at n time and X (n) is a measured value at n time. The trend calculation device 221 detects an abnormality when the measured value unilaterally increases or decreases due to accumulation of dirt on the sensor unit. For this reason, the average value and its change amount in a relatively long cycle are calculated. Since the measurement data of the sewage treatment plant has a 24-hour cycle, the data is handled on a daily basis, and the amount of change in the daily average value is set as target data for abnormal value detection. The change amount undercalculation device 222 detects an abnormality such as a failure of a measuring instrument when there is almost no change in the measured value. Therefore, the amount of change in the measured value obtained from the measured value accumulating device 1, that is, the expression (1) is used as the target data for abnormal value detection. The data aggregating device 3 includes a basic data aggregating device 31, an excessively large change amount aggregating device 32, a similar measurement value difference aggregating device 33, and a prediction error aggregating device. Here, the basic data aggregating device 31 determines the last three values of the measured values stored in the measured value storage 1.
The data for the 0th day and the current measurement value are aggregated. The excessive change amount aggregation device 32 aggregates the change amount in the last 30 days and the current change amount. The similar measurement value difference aggregating device 33 aggregates the data of the latest 30 days of the measurement value difference of the similar measurement values of the same processing system but different waterways and the current similar measurement value difference. The prediction error aggregating device 34 aggregates the latest 30 days of the difference (prediction error) between the value predicted by the autoregressive model and the measured value and the current prediction error.

【0007】主成分分析演算装置4は、データ集約装置
3で集約された異常値検出ロジック演算装置2の結果を
対象データとして、多変量解析の主成分分析を行う。主
成分分析は、p種類の変量をX1 、X2 、・・・Xp
任意の係数a1 、a2 、・・・ap を用いて次のような
1次式による総合的指標 (合成変量) をつくる。 z =a1 1 +a22 +・・・+ap p =a' X ・・・(5) ここで、a=( a1 、・・・、ap ) ' 、X=(X1、・・
・、X P ) ' である。このように結合されたzは、p個
の変量Xをよく代表していなければならない。そのため
の基準として主成分zの分散の最大化を行う。以下にこ
の基準 (主成分の分散の最大化) を用いた時の主成分分
析の定式化について説明する。p変量から(5)式によ
る合成するときzの分散は、(6)式となる。
[0007] The principal component analysis operation unit 4 performs a principal component analysis of multivariate analysis using the results of the abnormal value detection logic operation unit 2 aggregated by the data aggregation unit 3 as target data. Principal component analysis, a p-type variables X 1, X 2, ··· X p,
Using a given coefficient a 1 , a 2 ,... A p , a comprehensive index (composite variable) is created by the following linear expression. z = a 1 X 1 + a 2 X 2 +... + a p X p = a X (5) where a = (a 1 ,..., a p ) and X = (X 1 ,…
·, X P ) ' . The z thus combined must be well representative of the p variables X. The variance of the principal component z is maximized as a criterion for that. The formulation of principal component analysis using this criterion (maximization of variance of principal components) will be described below. The variance of z when combining from the p variables by equation (5) is given by equation (6).

【数2】 ここにsjkはxjkとxkとの共分散、Sはsjkを
(j,k) 要素にもつ分散共分散行列である。(5)式のz
は、p次元空間の中で原点OからあるOZ方向にz軸を
とることを意味するが、そのときz座標のスケールをx
1 2 ・・・xP 軸を同じにとることにすれば、係数a
1 、a2 ・・・ap はそれぞれ直線OZの方向余弦にな
り、 a' a=a1 2+a2 2 +・・・+ap 2 =1 ・・・・(7) を満たす。したがって、問題は(7)式の制約条件のも
とで(6)式を最大化することになる。このような制約
条件つき最大化問題は、ラグランジェ乗数λを用いて F(a、λ) =a'Sa ―λ'(a'a―1) ・・・・(8) を最大化する問題に変形される。(8)式をa の各要素
で偏微分してゼロとおけば、(9)式のような行列Sの
固有値問題を得る。
(Equation 2) Where sjk is the covariance of xjk and xk, and S is sjk
This is the variance-covariance matrix of the (j, k) element. Z in equation (5)
Means that the z axis is taken in the OZ direction from the origin O in the p-dimensional space, and the scale of the z coordinate is x
1 x 2 ... X If the P axis is the same, the coefficient a
1, a 2 ··· a p each becomes the direction cosines of the straight line OZ, meet a 'a = a 1 2 + a 2 2 + ··· + a p 2 = 1 ···· (7). Therefore, the problem is to maximize equation (6) under the constraints of equation (7). Such a maximization problem with constraints is a problem of maximizing F (a, λ) = a'Sa-λ '(a'a-1) (8) using the Lagrange multiplier λ. Is transformed into If the equation (8) is partially differentiated with respect to each element of a and set to zero, an eigenvalue problem of the matrix S as in the equation (9) is obtained.

【数3】 Sは対称行列であり、任意のa に対してa'Sa =V(a'
x) ≧0より非負値であるから、p個の実数で非負の固
有値λ1 ≧λ2 ≧・・・・・≧λp ≧0をもつ。各固有
値ベクトルをa1、a2、a3、・・・、ap すれば(9)式
より Saij=λj j となり、λj はzj =aj ' Xの分散に等しくなる。し
たがって分散を最大にする主成分は、最大固有値λ1
対応する固有ベクトルa1=(a11、a21 、・・・、app1'
の要素の係数として z1 =a1' x=a11 1 +・・・+a n1n ・・・・(10) となる。これを第1主成分を呼ぶ。第1主成分z1 の分
散はλ1 で、p個の変量をよく代表する合成変量になっ
ている。第1主成分だけで、もとのp次元のデータのば
らつきが十分説明されたいない時には、再び(5)式に
よる線形結合zを考える。ただし、zは第1主成分z1
で説明しきれない部分を説明するために考えるものであ
るから、zとz1 とは互いに無相関になるようにとる。
すなわち、 Cov(z,z1)=a'Sa1= λ1aa1=0 ・・・・(11) 制約条件、(7)式と(11)式のもとで、(6)式の
分散を最大化する。2つのラグランジェ乗数λ、νを用
いると F(a、λ、ν) =a'Sa ―λ(a'a―1) ―ν(a'a1)・・(12) の最大化問題に変形される。これをa の各要素で偏微分
して、ゼロとおくと(13)式となる。
(Equation 3) S is a symmetric matrix, and a'Sa = V (a '
x) Since it is a non-negative value from ≧ 0, it has p real non-negative eigenvalues λ 1 ≧ λ 2 ≧... ≧ λ p ≧ 0. If each eigenvalue vector is a 1 , a 2 , a 3 ,..., A p, then from equation (9), Sa ij = λ j a j , and λ j is equal to the variance of z j = a j X . Therefore, the principal component that maximizes the variance is the eigenvector a 1 = (a 11 , a 21 ,..., Ap p1 ′) corresponding to the maximum eigenvalue λ 1.
Become z 1 = a 1 as the coefficient elements' x = a 11 x 1 + ··· + a n1 x n ···· (10). This is called a first principal component. The variance of the first principal component z 1 is λ 1, which is a composite variate that is representative of p variates. When the variation of the original p-dimensional data is not sufficiently explained only by the first principal component, the linear combination z by the equation (5) is considered again. Here, z is the first principal component z 1
In because those considered to explain the portion which can not be explained, taken in so as to mutually uncorrelated and z and z 1.
That is, Cov (z, z 1 ) = a′Sa 1 = λ 1 aa 1 = 0... (11) Under the constraints, the equations (7) and (11), Maximize variance. Two Lagrange multipliers lambda, the use of ν F (a, λ, ν ) = a'Sa -λ (a'a-1) -ν to (A'A 1) maximization problem .. (12) Be transformed. If this is partially differentiated by each element of a and set to zero, the equation (13) is obtained.

【数4】 この両辺に、左からa1 を掛け(11)式を考慮すると
ν=0になり、(13)式は第1主成分で求めたのと同じ
固有値問題に帰着する。今度は、2番目に大きい固有値
λ2 に対応する固有ベクトルa2=(a12、a22 、・・・、
p2) ' の要素の係数として z2 =a2' x=a12 1 +・・・+apP2xp ・・・(14) のように合成する。これを第2主成分と呼ぶ。以下同様
にして、分散がλ3 、・・、λP となるような第3主成
分、・・、第p主成分を求めることができる。その概要
を図2に示す。第1主成分得点は、(a) 点から第1主成
分の軸に垂直におろした値を表し、第2主成分得点は、
(a) 点から第2主成分の軸に垂直におろした値を表して
いる。このようにして求められた係数a1p 、a2p ・・・
・apppと現在時刻nの異常値検出ロジックのデータx
1(n)、x2(n)、・・・・xp n)から各主成分得点z
p (n) を演算する。 zp (n)= a1p1(n)+a2p 2(n)+・・・・annpp (n) ・・(15)
(Equation 4) This both sides, in consideration of the multiplying a 1 from the left (11) becomes [nu = 0, (13) equation reduces to the same eigenvalue problem as obtained in the first principal component. This time, the eigenvector a 2 = (a 12 , a 22 ,...) Corresponding to the second largest eigenvalue λ 2
a p2) 'as the coefficients of the elements of z 2 = a 2' synthesized as x = a 12 x 1 + ··· + ap P2 xp ··· (14). This is called a second principal component. In the same manner, the dispersion is lambda 3, can be obtained .., third principal component such that lambda P, ..., the first p principal component. The outline is shown in FIG. The first principal component score represents a value perpendicular to the axis of the first principal component from the point (a), and the second principal component score is
(a) represents a value perpendicular to the axis of the second principal component from the point. The coefficients a 1p , a 2p ...
・ Data x of abnormal value detection logic of ap pp and current time n
1 (n), x 2 ( n), ···· x p n) from each of the principal component scores z
Calculate p (n). z p (n) = a 1p x 1 (n) + a 2p x 2 (n) + ···· an np x p (n) ·· (15)

【0008】総合指標演算装置5は、主成分分析演算装
置4から求められた固有値と主成分得点からマハラノビ
スの距離を用いて総合指標を演算する。第2主成分まで
の主成分得点を取り込むと、第1主成分と第2主成分と
は互いに無相関なので、任意の点(z1,z2) と重心(0,0)
との平方距離Dをz1方向の平方距離とz2方向の平方距離
の和として次のように定義する。 D=((Z1 2/V(Z1)) + (Z2 2/V(Z2)) )1/2 ・・・(16) 第3主成分まで取り込むマハラノビスの距離を求める時
も同様に行う。このマハラノビスの距離Dを異常値検出
ロジック出力結果の総合指標とする。その概要を図3に
示す。マハラノビスの距離は、主成分分析で求めた第1
主成分、第2主成分の分散を等しくし、その時の重心か
らの距離を表している。判定基準値演算装置6は、総合
指標判定基準値演算装置61、トレンド判定基準値演算
装置62および変化量過小判定基準値演算装置63によ
り構成される。総合指標判定基準値演算装置61は、総
合指標演算装置5で求めた値が、正常か異常か判定する
ために総合指標の判定基準値を記憶する。判定基準値
は、手入力または計算機による自動設定によって決定す
る。計算機による自動設定では、総合指標を対象データ
として四分位数基準で行う。四分位数とは、相対累積度
数の25%点、50%点、75%点のことであり、25%〜50%
をヒンジ幅1、50%〜75%をヒンジ幅2として、この2
つのヒンジ幅を基準に判定基準値を設定する。25%点か
らヒンジ幅1の6倍以上、75%点からヒンジ幅2の6倍
以上離れたものをファーアウトと呼び異常値とする。つ
まり、四分位数を基準にした判定法では、次式の下限
値、上限値を判定基準値として設定する。 下限値=25%点−6×ヒンジ幅1 ・・・・(17) 上限値=75%点−6×ヒンジ幅2 ・・・・(18) トレンド判定基準値演算装置62は、トレンド演算装置
25で求めた値が正常か否か判定するために、日平均値
の変化量の判定基準値を記憶する。判定基準値は、手入
力または計算機による自動設定によって決定する。ここ
では、日平均値の変化量が数日間連続して正または負を
示している時を異常として検出するため、手入力で判定
基準値を0として記憶する。変化量過小判定基準値演算
装置63は、変化量過小演算装置26で演算した値が正
常か否か判定するために、変化量過小の判定基準値を記
憶する。判定基準値は、手入力または計算機による自動
設定によって決定する。ここでは、計測器の故障などで
計測値の変化が全くないときの異常を検出するため、手
入力で判定基準値を0として記憶する。
[0008] The comprehensive index computing device 5 computes a comprehensive index from the eigenvalues obtained by the principal component analysis computing device 4 and the principal component score using the Mahalanobis distance. When the principal component scores up to the second principal component are taken in, the first principal component and the second principal component are uncorrelated with each other, so that an arbitrary point (z 1 , z 2 ) and a center of gravity (0,0)
Square distance D between defined as follows as the sum of squared distances squared distance and z 2 direction of z 1 direction. D = ((Z 1 2 / V (Z 1 ))) + (Z 2 2 / V (Z 2 ))) 1/2 (16) The same applies when calculating the distance of the Mahalanobis to be taken up to the third principal component. To do. The Mahalanobis distance D is used as an overall index of the abnormal value detection logic output result. The outline is shown in FIG. Mahalanobis distance is calculated by the first principal component analysis.
The variance of the main component and the second main component are made equal, and the distance from the center of gravity at that time is shown. The determination reference value calculation device 6 includes a general index determination reference value calculation device 61, a trend determination reference value calculation device 62, and a change amount under-determination reference value calculation device 63. The comprehensive index determination reference value calculation device 61 stores a determination reference value of the comprehensive index in order to determine whether the value obtained by the comprehensive index calculation device 5 is normal or abnormal. The judgment reference value is determined by manual input or automatic setting by a computer. The automatic setting by the computer is performed on the basis of the quartile using the comprehensive index as the target data. The quartiles are the 25%, 50%, and 75% points of the relative cumulative frequency, from 25% to 50%
Is the hinge width 1 and the hinge width 2 is 50% to 75%.
The reference value is set based on one hinge width. Those that are at least 6 times the hinge width 1 from the 25% point and at least 6 times the hinge width 2 from the 75% point are called far-outs and are abnormal values. That is, in the determination method based on the quartile, the lower limit and the upper limit of the following equation are set as the determination reference values. Lower limit value = 25% point−6 × hinge width 1 (17) Upper limit value = 75% point−6 × hinge width 2 (18) The trend determination reference value calculation device 62 is a trend calculation device. In order to determine whether or not the value obtained in step 25 is normal, a reference value for determining the amount of change in the daily average is stored. The judgment reference value is determined by manual input or automatic setting by a computer. Here, in order to detect when the amount of change in the daily average value indicates positive or negative for several consecutive days as an abnormality, the judgment reference value is manually set to 0 and stored. The under-change amount determination reference value calculation device 63 stores the under-change amount determination reference value to determine whether the value calculated by the under-change amount calculation device 26 is normal. The judgment reference value is determined by manual input or automatic setting by a computer. Here, in order to detect an abnormality when there is no change in the measured value due to a failure of the measuring instrument or the like, the judgment reference value is manually set as 0 and stored.

【0009】異常値判定装置7は、総合異常値判定装置
71、トレンド異常値判定装置72および変化量過小異
常値判定装置73で構成される。総合異常値判定装置7
1は、総合指標演算装置5で求められた総合指標が総合
指標判定基準値演算装置61で計算された判定基準値を
越えているか否かを判定する。トレンド異常値判定装置
72は、トレンド演算装置25で求められた日平均値の
変化量がトレンド判定基準値記憶装置62に記憶してい
る判定基準値を数日間連続して、越えているか否かを判
定する。変化量過小異常値判定装置73は、変化量過小
演算装置26で求められた計測値の変化量が変化量過小
判定基準値記憶装置63に記憶している判定基準値を数
日間連続して判定基準値内に入っているか否かを判定す
る。異常値検出結果表示装置8は、総合異常判定装置7
1、トレンド異常判定装置72、変化量過小異常判定装
置73の何れかの装置で異常が検出された時、運手員に
異常を知らせるための表示装置である。次に、本発明装
置を下水プラントのMLSS濃度計に適用した例を示
す。図4は図1の異常値検出ロジック演算装置で異常が
検出された状況を示している。図より各検出ロジックで
異常と検出された点は、それぞれ異った結果を出力して
いるのが分かる。6つの検出ロジックはそれぞれ違う角
度からデータを見ているため、変化量過大が異常の時で
も、基本データ、予測誤差、類似計測器では正常という
異なった結果が出力されることがある。また、基本デー
タ、変化量過大が異常の時でも、予測誤差、類似計測器
では正常値として出力されることがある。このように計
測値を種々の角度からチェックすることによって正常値
を異常値、異常値を正常値と誤判定することが少なくな
る。
The abnormal value judging device 7 comprises a general abnormal value judging device 71, a trend abnormal value judging device 72, and a change amount undersized abnormal value judging device 73. Total abnormal value determination device 7
1 determines whether or not the comprehensive index calculated by the general index calculating device 5 exceeds the judgment reference value calculated by the general index judgment reference value calculating device 61. The trend abnormal value determination device 72 determines whether or not the amount of change in the daily average value obtained by the trend calculation device 25 exceeds the determination reference value stored in the trend determination reference value storage device 62 for several consecutive days. Is determined. The under-change amount abnormal value determination device 73 determines the determination reference value stored in the under-change amount determination reference value storage device 63 for the change amount of the measurement value obtained by the under-change amount calculation device 26 continuously for several days. It is determined whether it is within the reference value. The abnormal value detection result display device 8 is a
1. A display device for notifying the operator of an abnormality when an abnormality is detected by any of the trend abnormality determination device 72 and the change amount under-determination abnormality determination device 73. Next, an example in which the device of the present invention is applied to an MLSS concentration meter of a sewage plant will be described. FIG. 4 shows a situation where an abnormality is detected by the abnormal value detection logic operation device of FIG. From the figure, it can be seen that points detected as abnormal by each detection logic output different results. Since the six detection logics look at the data from different angles, even when the excessive change amount is abnormal, the basic data, the prediction error, and the similar measurement device may output different results such as normal. In addition, even when the basic data and the excessive change amount are abnormal, the prediction error and the similar measurement device may output a normal value. By checking the measured values from various angles in this way, it is less likely that the normal value is an abnormal value and the abnormal value is erroneously determined as a normal value.

【0010】図5は、総合判定演算装置で演算された総
合指標(マハラノビスの距離)主成分得点の経時変化と
判定基準値(下限値、上限値)を記している。各検出ロ
ジックの総合指標を求めるため、主成分分析を適用した
結果、本例での寄与率は、第1主成分が約43%、第2主
成分が約29%、第3主成分が約15%、第4主成分が約13
%となっていた。ここでは、累積寄与率70%以上を取
り込むため、第1主成分得点と第2主成分得点の統合
を、マハラノビスの距離を用いて行い、この距離が直近
30日のデータから求めた判定基準値を越えていれば異
常としている。図6は、図5で異常と検出された点と計
測値を示す。マハラノビスの距離による総合指標の演算
は、図4で検出された各異常値検出ロジックの結果を1
つの指標にまとめており、オンラインデータを総合的か
つ正確にチェックすることができる。従来のように異常
値検出ロジック演算装置で異常が検出された結果を毎
日、運転員が総合的に判定して、計測値が異常か否かの
判定を行っていたが、本発明を用いることにより、この
監視作業を大幅に自動化できる。なお、本実施例では下
処理装置に適用したものを示したが、これに限らず上水
道の処理装置や廃棄物処理装置など他の処理プラントに
も適用できる。
FIG. 5 shows the change over time of the total index (maharanobis distance) principal component score calculated by the comprehensive judgment operation device and the judgment reference value (lower limit value, upper limit value). As a result of applying the principal component analysis to obtain the comprehensive index of each detection logic, the contribution ratio in this example is about 43% for the first principal component, about 29% for the second principal component, and about 29% for the third principal component. 15%, 4th main component is about 13
%. Here, in order to capture the cumulative contribution rate of 70% or more, the integration of the first principal component score and the second principal component score is performed using the Mahalanobis distance, and this distance is a determination reference value obtained from the data of the last 30 days. Above is considered abnormal. FIG. 6 shows points detected as abnormal in FIG. 5 and measured values. The calculation of the comprehensive index based on the Mahalanobis distance is based on the result of each abnormal value detection logic detected in FIG.
It is summarized in one index, and online data can be checked comprehensively and accurately. As in the conventional case, the operator comprehensively determines the result of the detection of an abnormality by the abnormal value detection logic operation device every day, and determines whether or not the measured value is abnormal. Thereby, this monitoring work can be largely automated. In this embodiment, an example in which the present invention is applied to a lower treatment apparatus is shown. However, the present invention is not limited to this, and may be applied to other treatment plants such as a water treatment apparatus and a waste treatment apparatus.

【0011】[0011]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、計測
値、変化量過大、変化量過小、類似計測器との比較、ト
レンド、他の計測器との関係など種々の角度から計測値
のチェックを行うようにしたので、異常値検出の精度を
向上させることができる。また、主成分分析を用いるこ
とにより、異常値検出ロジックの結果を総合的に判定し
たデータのチェックを行うことができる。
As described above, according to the present invention, measured values can be measured from various angles, such as measured values, excessive change, excessive change, comparison with similar measuring devices, trends, and relationships with other measuring devices. Is checked, the accuracy of abnormal value detection can be improved. In addition, by using the principal component analysis, it is possible to check data that comprehensively determines the result of the abnormal value detection logic.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の異常値検出装置の概要を示す機能ブロ
ック図である。
FIG. 1 is a functional block diagram illustrating an outline of an abnormal value detection device according to the present invention.

【図2】主成分分析の原理を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing the principle of principal component analysis.

【図3】マハラノビスの距離を求める説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram for calculating a Mahalanobis distance.

【図4】本発明の異常値検出ロジックのMLSS濃度の
異常値検出結果を示す特性図である。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing an abnormal value detection result of the MLSS concentration by the abnormal value detection logic of the present invention.

【図5】本発明の総合指標の経時変化を示す特性図であ
る。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a change over time of a comprehensive index of the present invention.

【図6】本発明のMLSS濃度の異常値検出結果を示す
特性図である。
FIG. 6 is a characteristic diagram showing a result of detecting an abnormal value of the MLSS concentration according to the present invention.

【図7】従来の異常値検出装置の概要を示すブロック図
である。
FIG. 7 is a block diagram illustrating an outline of a conventional abnormal value detection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:計測値蓄積装置 2:異常値検出ロジック演算装置 21:第一の異常値検出ロジック演算装置 211:基本データ演算装置 212:変化量過大演算装置 213:類似計測器比較演算装置 214:予測誤差演算装置 22:第二の異常値検出ロジック演算装置 221:トレンド演算装置 222:変化量過小演算装置 3:データ集約装置 31:基本データ集約装置 32:変化量集約装置 33:類似計測値差集約装置 34:予測誤差集約装置 4:主成分分析演算装置 5:総合指標演算装置 6:判定基準値演算装置 61:総合指標判定基準値演算装置 62:トレンド判定基準値演算装置 63:変化量過小判定基準値演算装置 7:異常値判定装置 71:総合指標異常値判定装置 72:トレンド異常判定装置 73:変化量過小異常判定装置 8、12:異常値検出結果表示装置 9:標準偏差演算装置 10:判定基準値演算装置 11:異常値判定装置 1: Measured value accumulation device 2: Abnormal value detection logic operation device 21: First abnormal value detection logic operation device 211: Basic data operation device 212: Excessive change amount operation device 213: Similar measurement device comparison operation device 214: Prediction error Arithmetic unit 22: Second abnormal value detection logic arithmetic unit 221: Trend arithmetic unit 222: Under-change amount arithmetic unit 3: Data aggregator 31: Basic data aggregator 32: Change aggregator 33: Similar measured value difference aggregator 34: Prediction error aggregation device 4: Principal component analysis calculation device 5: Comprehensive index calculation device 6: Judgment reference value calculation device 61: Comprehensive index judgment reference value calculation device 62: Trend judgment reference value calculation device 63: Change amount underdetermination reference Value calculation device 7: Abnormal value judgment device 71: Comprehensive index abnormal value judgment device 72: Trend abnormality judgment device 73: Change amount too small abnormality judgment device 8,12: abnormal value detection result display unit 9: standard deviation calculation unit 10: determination reference value calculation unit 11: an abnormal value determining device

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プラントに設置された計測器から収集さ
れた計測値を蓄積する計測値蓄積装置と、 前記計測値蓄積装置からの計測値を演算する基本データ
演算装置と、過大変化量をチェックするために変化量を
演算する変化量過大演算装置と、統計手法を用いた予測
モデルから予測される誤差を演算する予測誤差演算装置
と、前記プラント内の異なる地点に設置された計測器か
らの計測値と比較する類似計測器比較演算装置とからな
る第一の異常値検出ロジック演算装置と、 前記計測値蓄積装置からの計測値を長い周期の平均値と
その変化量を演算するトレンド演算装置と、過小変化量
をチェックするために変化量を演算する変化量過小演算
装置とからなる第二の異常値検出ロジック演算装置と、 前記第一の異常値検出ロジック演算装置からの結果をそ
れぞれ集約するデータ集約装置と、 前記データ集約装置からの結果を主成分分析する主成分
分析演算装置と、 前記主成分分析演算装置で演算された値からマハラノビ
スの距離を演算し1つの指標にする総合指標演算装置
と、 前記総合指標演算装置からの結果を基に判定基準値を演
算する総合指標判定基準値演算装置と、前記第二の異常
値検出ロジック演算装置の前記トレンド演算装置からの
結果に基づき判定基準値を演算するトレンド判定基準値
演算装置と、前記変化量過小演算装置からの結果に基づ
き判定基準値を演算する変化量過小判定基準値演算装置
とからなる判定基準値演算装置と、 前記総合指標判定基準値演算装置からの結果と前記総合
指標演算装置からの結果とから異常値を判定する総合異
常値判定装置と、前記トレンド演算装置からの結果と前
記トレンド判定基準値演算装置からの結果とから異常値
を判定するトレンド異常値判定装置と、前記変化量過小
演算装置からの結果と前記変化量過小判定基準値演算装
置からの結果とから異常値を判定する変化量過小異常値
判定装置とからなる異常値判定装置と、 前記異常値判定装置からの結果を表示する異常値検出結
果表示装置とを備えた異常値検出装置。
1. A measurement value accumulating device for accumulating measurement values collected from a measuring instrument installed in a plant, a basic data calculation device for calculating a measurement value from the measurement value accumulating device, and checking an excessive change amount An excessive change amount arithmetic device for calculating an amount of change, a prediction error arithmetic device for calculating an error predicted from a prediction model using a statistical method, and a measuring device installed at a different point in the plant. A first abnormal value detection logic operation device comprising a similar measurement device comparison operation device for comparing with a measurement value; and a trend operation device for calculating an average value of a measurement value from the measurement value storage device over a long period and its change amount. And a second abnormal value detection logic operation device including a change amount undercalculation device that calculates the change amount to check the underchange amount, and from the first abnormal value detection logic operation device A data aggregation device that aggregates the results of the above, a principal component analysis device that performs principal component analysis on the result from the data aggregation device, and a Mahalanobis distance calculated from the value calculated by the principal component analysis device. An overall index operation device serving as an index, an overall index determination reference value operation device for calculating a judgment reference value based on a result from the overall index operation device, and the trend operation device of the second abnormal value detection logic operation device A determination reference value calculation device for calculating a determination reference value based on the result from the above, and a change amount under-determination reference value calculation device for calculating a determination reference value based on the result from the under-change amount calculation device A calculating device; a general abnormal value determining device for determining an abnormal value from a result from the general index determining reference value calculating device and a result from the general index calculating device; A trend abnormal value judging device for judging an abnormal value from the result from the rendering operation device and the result from the trend judgment reference value operation device, and a result from the under-change amount operation device and the under-change amount reference value operation device An abnormal value detection device comprising: an abnormal value determination device configured to determine an abnormal value from the result from the abnormal value determination device; and an abnormal value detection result display device configured to display a result from the abnormal value determination device. apparatus.
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