JPH0990622A - ポジ型フォトレジスト組成物 - Google Patents
ポジ型フォトレジスト組成物Info
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- JPH0990622A JPH0990622A JP7244703A JP24470395A JPH0990622A JP H0990622 A JPH0990622 A JP H0990622A JP 7244703 A JP7244703 A JP 7244703A JP 24470395 A JP24470395 A JP 24470395A JP H0990622 A JPH0990622 A JP H0990622A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/022—Quinonediazides
- G03F7/023—Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders
- G03F7/0233—Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders characterised by the polymeric binders or the macromolecular additives other than the macromolecular quinonediazides
- G03F7/0236—Condensation products of carbonyl compounds and phenolic compounds, e.g. novolak resins
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高解像力、広いデフォーカスラチチュードを
保ちつつ、しかも感度のロスなしに、特に広い現像ラチ
チュード、高い耐熱性を有するポジ型フォトレジスト組
成物を提供する。 【解決手段】 (A)m−クレゾール及び2種の特定の
フェノール類と、アルデヒド類とを縮合させて得られる
アルカリ可溶性ノボラック樹脂であって、重量平均分子
量と数平均分子量の比が1.5〜4.0であるアルカリ
可溶性ノボラック樹脂、(B)1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−(及び/又は−4−)スルホン酸エステル
感光剤、(C)1分子中の総炭素数が12〜50で、且
つ、1分子中に2〜8個のフェノール性水酸基を有する
低分子化合物を含有することを特徴とするポジ型フォト
レジスト組成物。
保ちつつ、しかも感度のロスなしに、特に広い現像ラチ
チュード、高い耐熱性を有するポジ型フォトレジスト組
成物を提供する。 【解決手段】 (A)m−クレゾール及び2種の特定の
フェノール類と、アルデヒド類とを縮合させて得られる
アルカリ可溶性ノボラック樹脂であって、重量平均分子
量と数平均分子量の比が1.5〜4.0であるアルカリ
可溶性ノボラック樹脂、(B)1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−(及び/又は−4−)スルホン酸エステル
感光剤、(C)1分子中の総炭素数が12〜50で、且
つ、1分子中に2〜8個のフェノール性水酸基を有する
低分子化合物を含有することを特徴とするポジ型フォト
レジスト組成物。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は特定のアルカリ可溶
性ノボラック樹脂、1,2−キノンジアジド化合物、及
び特定の低分子成分添加剤を含有する、紫外線、遠紫外
線、X線、電子線、分子線、γ線、シンクロトロン放射
線等の輻射線に感応するポジ型フォトレジスト組成物に
関するものであり、更に詳しくは現像ラチチュードに優
れ、高感度でかつ解像力、デフォーカスラチチュード、
耐熱性の良い微細加工用ポジ型フォトレジスト組成物に
関するものである。代表的な利用分野はICなどの半導
体製造工程、液晶、サーマルヘッドなどの回路基板の製
造、更にその他のフォトファブリケーション工程であ
る。
性ノボラック樹脂、1,2−キノンジアジド化合物、及
び特定の低分子成分添加剤を含有する、紫外線、遠紫外
線、X線、電子線、分子線、γ線、シンクロトロン放射
線等の輻射線に感応するポジ型フォトレジスト組成物に
関するものであり、更に詳しくは現像ラチチュードに優
れ、高感度でかつ解像力、デフォーカスラチチュード、
耐熱性の良い微細加工用ポジ型フォトレジスト組成物に
関するものである。代表的な利用分野はICなどの半導
体製造工程、液晶、サーマルヘッドなどの回路基板の製
造、更にその他のフォトファブリケーション工程であ
る。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック樹脂フェノール樹脂/ナフトキノン
ジアジド置換化合物」として米国特許第3666473
号、同第4115128号及び同第4173470号等
に、また最も典型的な組成物として「クレゾール−ホル
ムアルデヒドより成るノボラック樹脂/トリヒドロキシ
ベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホ
ン酸エステル」の例がトンプソン「イントロダクション
・トウ・マイクロリソグラフィー(L.F.Thompson「Intr
oduction to Microlithography」)(ACS出版、N
o.219号、P112〜121)に記載されている。
結合剤としてのノボラック樹脂は、膨潤することなくア
ルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成した画像をエ
ッチングのマスクとして使用する際に特にプラズマエッ
チングに対して高い耐性を与えるが故に本用途に特に有
用である。また、感光物として用いるナフトキノンジア
ジド化合物は、それ自身ノボラック樹脂のアルカリ溶解
性を低下せしめる溶解阻止剤として作用するが、光照射
を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生じてむしろ
ノボラック樹脂のアルカリ溶解度を高める働きをする点
で特異であり、この光に対する大きな性質変化の故にポ
ジ型フォトレジストの感光物として特に有用である。こ
れまで、かかる観点からノボラック樹脂とナフトキノン
ジアジド系感光物を含有する数多くのポジ型フォトレジ
ストが開発、実用化され、1μm程度までの線幅加工に
おいては十分な成果を収めてきた。
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック樹脂フェノール樹脂/ナフトキノン
ジアジド置換化合物」として米国特許第3666473
号、同第4115128号及び同第4173470号等
に、また最も典型的な組成物として「クレゾール−ホル
ムアルデヒドより成るノボラック樹脂/トリヒドロキシ
ベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホ
ン酸エステル」の例がトンプソン「イントロダクション
・トウ・マイクロリソグラフィー(L.F.Thompson「Intr
oduction to Microlithography」)(ACS出版、N
o.219号、P112〜121)に記載されている。
結合剤としてのノボラック樹脂は、膨潤することなくア
ルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成した画像をエ
ッチングのマスクとして使用する際に特にプラズマエッ
チングに対して高い耐性を与えるが故に本用途に特に有
用である。また、感光物として用いるナフトキノンジア
ジド化合物は、それ自身ノボラック樹脂のアルカリ溶解
性を低下せしめる溶解阻止剤として作用するが、光照射
を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生じてむしろ
ノボラック樹脂のアルカリ溶解度を高める働きをする点
で特異であり、この光に対する大きな性質変化の故にポ
ジ型フォトレジストの感光物として特に有用である。こ
れまで、かかる観点からノボラック樹脂とナフトキノン
ジアジド系感光物を含有する数多くのポジ型フォトレジ
ストが開発、実用化され、1μm程度までの線幅加工に
おいては十分な成果を収めてきた。
【0003】しかし、集積回路はその集積度を益々高め
ており、超LSIなどの半導体基板の製造においては、
1μm以下、さらには0.5μm以下の線幅から成る超
微細パターンの細工が必要とされる様になってきてい
る。かかる用途においては、特に高い解像力、デフォー
カスラチチュード、露光マスクの形状を正確に写しとる
高いパターン形状再現精度及び常に一定の加工線幅を確
保する上で広い現像ラチチュードを有するフォトレジス
トが要求されている。更に高い生産性を得るためにレジ
ストの感度が高いことも必要な条件となっている。ま
た、集積回路の集積度を高めるためにエッチング方式
が、従来のウエットエッチング方式からドライエッチン
グ方式に移行しているが、ドライエッチングの際にはレ
ジストの温度が上昇するため、熱変形を起こさないよ
う、レジストには高い耐熱性が要求されている。
ており、超LSIなどの半導体基板の製造においては、
1μm以下、さらには0.5μm以下の線幅から成る超
微細パターンの細工が必要とされる様になってきてい
る。かかる用途においては、特に高い解像力、デフォー
カスラチチュード、露光マスクの形状を正確に写しとる
高いパターン形状再現精度及び常に一定の加工線幅を確
保する上で広い現像ラチチュードを有するフォトレジス
トが要求されている。更に高い生産性を得るためにレジ
ストの感度が高いことも必要な条件となっている。ま
た、集積回路の集積度を高めるためにエッチング方式
が、従来のウエットエッチング方式からドライエッチン
グ方式に移行しているが、ドライエッチングの際にはレ
ジストの温度が上昇するため、熱変形を起こさないよ
う、レジストには高い耐熱性が要求されている。
【0004】従来、解像力を高め、パターン形状の良い
画像再現を得るには高いγ値を有するレジストの利用が
有利とされ、このような目的に合うレジスト組成物の技
術開発が行われてきた。かかる技術を開示する特許、報
告はきわめて多数に上り、特にポジ型フォトレジストの
主要成分であるノボラック樹脂の技術に関しては、その
モノマー組成、分子量分布、合成の方法などに関して多
くの特許出願がなされており、一定の成果をおさめてき
た。しかし、かかる高解像力レジストでは共通して感度
が低いという欠点が生ずることが多かった。一方、感度
を高めるためにはアルカリ可溶基を有する低分子化合物
を溶解促進剤として添加するなどの技術が開示されてい
るが、反面、現像ラチチュードが狭くなったり、耐熱性
が低下するなどの問題がしばしば生じていた。またパタ
ーン形状を損なうなどの欠点が新たに生ずることが多か
った。従って、現像ラチチュードの広いしかも高感度で
解像力、デフォーカスラチチュード、耐熱性の良いレジ
ストを開発することが望まれていた。ここで現像ラチチ
ュードとは、現像して得られるレジスト線幅の現像時間
依存性、あるいは温度依存性で表すことが出来る。デフ
ォーカスラチチュードとは、フォーカス変動に対するレ
ジスト線幅の変化あるいは膜減りなく分離する焦点の幅
で表すことが出来る。
画像再現を得るには高いγ値を有するレジストの利用が
有利とされ、このような目的に合うレジスト組成物の技
術開発が行われてきた。かかる技術を開示する特許、報
告はきわめて多数に上り、特にポジ型フォトレジストの
主要成分であるノボラック樹脂の技術に関しては、その
モノマー組成、分子量分布、合成の方法などに関して多
くの特許出願がなされており、一定の成果をおさめてき
た。しかし、かかる高解像力レジストでは共通して感度
が低いという欠点が生ずることが多かった。一方、感度
を高めるためにはアルカリ可溶基を有する低分子化合物
を溶解促進剤として添加するなどの技術が開示されてい
るが、反面、現像ラチチュードが狭くなったり、耐熱性
が低下するなどの問題がしばしば生じていた。またパタ
ーン形状を損なうなどの欠点が新たに生ずることが多か
った。従って、現像ラチチュードの広いしかも高感度で
解像力、デフォーカスラチチュード、耐熱性の良いレジ
ストを開発することが望まれていた。ここで現像ラチチ
ュードとは、現像して得られるレジスト線幅の現像時間
依存性、あるいは温度依存性で表すことが出来る。デフ
ォーカスラチチュードとは、フォーカス変動に対するレ
ジスト線幅の変化あるいは膜減りなく分離する焦点の幅
で表すことが出来る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は高解像力、広いデフォーカスラチチュードを保ちつ
つ、しかも感度のロスなしに、特に広い現像ラチチュー
ド、高い耐熱性を有するポジ型フォトレジスト組成物を
得ることにある。
は高解像力、広いデフォーカスラチチュードを保ちつ
つ、しかも感度のロスなしに、特に広い現像ラチチュー
ド、高い耐熱性を有するポジ型フォトレジスト組成物を
得ることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し、鋭意検討した結果、ある特定のモノマー種
(フェノール類)を用いたノボラック樹脂の分散度、即
ち、重量平均分子量(Mw)と数平均分子量(Mn)の
比(以下、分散度と記す)が重要であり、さらに該ノボ
ラック樹脂に、特定のフェノール性化合物及び感光剤を
所定の範囲で混合することが重要であることを見い出し
た。
性に留意し、鋭意検討した結果、ある特定のモノマー種
(フェノール類)を用いたノボラック樹脂の分散度、即
ち、重量平均分子量(Mw)と数平均分子量(Mn)の
比(以下、分散度と記す)が重要であり、さらに該ノボ
ラック樹脂に、特定のフェノール性化合物及び感光剤を
所定の範囲で混合することが重要であることを見い出し
た。
【0007】即ち、本発明の目的は、 (A)下記(a)、(b)、(c)からなるフェノール
類と、アルデヒド類とを縮合させて得られるアルカリ可
溶性ノボラック樹脂であって、重量平均分子量と数平均
分子量の比が1.5〜4.0であるアルカリ可溶性ノボ
ラック樹脂、 (a)m−クレゾール 50〜90モル% (b)下記一般式(I)で表されるフェノール類 5〜40モル% (c)下記一般式(II)、(III)より選ばれるフェノール類 0〜40モル%
類と、アルデヒド類とを縮合させて得られるアルカリ可
溶性ノボラック樹脂であって、重量平均分子量と数平均
分子量の比が1.5〜4.0であるアルカリ可溶性ノボ
ラック樹脂、 (a)m−クレゾール 50〜90モル% (b)下記一般式(I)で表されるフェノール類 5〜40モル% (c)下記一般式(II)、(III)より選ばれるフェノール類 0〜40モル%
【0008】
【化4】
【0009】
【化5】
【0010】
【化6】
【0011】(B)1,2−ナフトキノンジアジド−5
−(及び/又は−4−)スルホン酸エステル感光剤(ノ
ボラック樹脂100重量部に対し30重量部を越え10
0重量部未満) (C)1分子中の総炭素数が12〜50で、且つ、1分
子中に2〜8個のフェノール性水酸基を有する低分子化
合物(ノボラック樹脂100重量部に対し20重量部を
越え、60重量部未満) を含有することを特徴とするポジ型フォトレジスト組成
物を用いることにより達成された。ただし、該ノボラッ
ク樹脂の分子量は、標準ポリスチレンを参照値として定
義されたゲルパーミエーションクロマトグラフィー(以
下、GPCと記す)によって得られる値を指す。
−(及び/又は−4−)スルホン酸エステル感光剤(ノ
ボラック樹脂100重量部に対し30重量部を越え10
0重量部未満) (C)1分子中の総炭素数が12〜50で、且つ、1分
子中に2〜8個のフェノール性水酸基を有する低分子化
合物(ノボラック樹脂100重量部に対し20重量部を
越え、60重量部未満) を含有することを特徴とするポジ型フォトレジスト組成
物を用いることにより達成された。ただし、該ノボラッ
ク樹脂の分子量は、標準ポリスチレンを参照値として定
義されたゲルパーミエーションクロマトグラフィー(以
下、GPCと記す)によって得られる値を指す。
【0012】ここで、公知技術と本発明との関係につい
て説明しておく。ノボラック樹脂のモノマー種として、
例えば特開昭58−17112号、特開昭60−573
39号、特開昭62−14148号、特開昭62−35
347号、特開昭62−35349号等に例示されるよ
うに、クレゾールを用いたノボラック樹脂はこれまで数
多く開示されており、実用化されているものも多い。ま
た、解像力、耐熱性、プロファイル等を改良すべくクレ
ゾール以外のモノマー種を用いたノボラックも数多く提
案されている。例えば、キシレノール、トリメチルフェ
ノールを含有するノボラック樹脂が特開昭60−176
034号、特開昭60−164740号、特開昭64−
50044号等に開示され、エチルフェノールを含有す
るノボラック樹脂が特開昭62−260145号に開示
され、2−メチル−4−イソプロピルフェノールを含有
するノボラック樹脂が特開昭62−260146号に開
示され、メトキシフェノール、ジメトキシフェノールを
含有するノボラック樹脂が本発明者らによってすでに提
案されている(特開平2−93651号)。さらに上記
以外のモノマー種を用いたノボラック樹脂に関する提案
もこれまでに数多くなされている。
て説明しておく。ノボラック樹脂のモノマー種として、
例えば特開昭58−17112号、特開昭60−573
39号、特開昭62−14148号、特開昭62−35
347号、特開昭62−35349号等に例示されるよ
うに、クレゾールを用いたノボラック樹脂はこれまで数
多く開示されており、実用化されているものも多い。ま
た、解像力、耐熱性、プロファイル等を改良すべくクレ
ゾール以外のモノマー種を用いたノボラックも数多く提
案されている。例えば、キシレノール、トリメチルフェ
ノールを含有するノボラック樹脂が特開昭60−176
034号、特開昭60−164740号、特開昭64−
50044号等に開示され、エチルフェノールを含有す
るノボラック樹脂が特開昭62−260145号に開示
され、2−メチル−4−イソプロピルフェノールを含有
するノボラック樹脂が特開昭62−260146号に開
示され、メトキシフェノール、ジメトキシフェノールを
含有するノボラック樹脂が本発明者らによってすでに提
案されている(特開平2−93651号)。さらに上記
以外のモノマー種を用いたノボラック樹脂に関する提案
もこれまでに数多くなされている。
【0013】また一方、ノボラック樹脂にある特有の分
子量分布を持たせることによってレジストの特性を改良
する試みは、既に公知である。例えば特開平1−105
243号には分子量が500から5000の範囲が30
%以下になるような分布を持たせたノボラック樹脂が好
ましいと記述されている。また、特開昭62−2271
44号及び特開昭63−2044号には分子量分布に於
ける特定分子量領域の比率に好ましい範囲があることが
示されている。更に、特開昭60−97347号及び特
開昭60−189739号には低分子量成分を分別除去
したノボラック樹脂が、また特に特開昭60−4523
8号、特開平3−208054号、特開平5−1427
70号、特開昭60−140235号等には、本発明に
用いるような分散度が3以下の樹脂を用いることが記載
されている。また、本発明に用いることができる芳香族
水酸基を有する低分子化合物は通常溶解促進剤として、
感度の向上などの目的で用いられるもので、レジスト組
成物への添加については多数の例が開示されている。例
えば、特開昭61−141441号にはトリヒドロキシ
ベンゾフェノンを含有するポジ型フォトレジスト組成物
が開示されている。このトリヒドロキシベンゾフェノン
を含有するポジ型フォトレジストでは感度及び現像性が
改善されるが、耐熱性やプロファイルが悪化するという
問題があった。
子量分布を持たせることによってレジストの特性を改良
する試みは、既に公知である。例えば特開平1−105
243号には分子量が500から5000の範囲が30
%以下になるような分布を持たせたノボラック樹脂が好
ましいと記述されている。また、特開昭62−2271
44号及び特開昭63−2044号には分子量分布に於
ける特定分子量領域の比率に好ましい範囲があることが
示されている。更に、特開昭60−97347号及び特
開昭60−189739号には低分子量成分を分別除去
したノボラック樹脂が、また特に特開昭60−4523
8号、特開平3−208054号、特開平5−1427
70号、特開昭60−140235号等には、本発明に
用いるような分散度が3以下の樹脂を用いることが記載
されている。また、本発明に用いることができる芳香族
水酸基を有する低分子化合物は通常溶解促進剤として、
感度の向上などの目的で用いられるもので、レジスト組
成物への添加については多数の例が開示されている。例
えば、特開昭61−141441号にはトリヒドロキシ
ベンゾフェノンを含有するポジ型フォトレジスト組成物
が開示されている。このトリヒドロキシベンゾフェノン
を含有するポジ型フォトレジストでは感度及び現像性が
改善されるが、耐熱性やプロファイルが悪化するという
問題があった。
【0014】また、特開昭64−44439号、特開平
1−177032号、特開平1−280748号、特開
平2−10350号、特開平3−200251号、特開
平3−191351号、特開平3−200255号、特
開平4−299348号、特開平5−204144号に
はトリヒドロキシベンゾフェノン以外の芳香族ポリヒド
ロキシ化合物を添加することにより、耐熱性を悪化させ
ないで高感度化する工夫が示されている。しかし、かか
る化合物はこれを添加すると未露光部の膜減りが増加
し、結果としてレジストの形状を悪化させるのが普通で
ある。また、現像速度を増加させるが故に、現像ラチチ
ュードも低下するのが一般的である。従って、これらを
最小限に抑えるようにして好ましい化合物の構造選択が
行われてきた。然るに、本発明の効果はある特定のノボ
ラック樹脂を用い、該ノボラック樹脂が特定の分散度を
有し、しかもこれに上記低分子化合物を所定量添加した
場合にのみ発揮される特異な効果である。
1−177032号、特開平1−280748号、特開
平2−10350号、特開平3−200251号、特開
平3−191351号、特開平3−200255号、特
開平4−299348号、特開平5−204144号に
はトリヒドロキシベンゾフェノン以外の芳香族ポリヒド
ロキシ化合物を添加することにより、耐熱性を悪化させ
ないで高感度化する工夫が示されている。しかし、かか
る化合物はこれを添加すると未露光部の膜減りが増加
し、結果としてレジストの形状を悪化させるのが普通で
ある。また、現像速度を増加させるが故に、現像ラチチ
ュードも低下するのが一般的である。従って、これらを
最小限に抑えるようにして好ましい化合物の構造選択が
行われてきた。然るに、本発明の効果はある特定のノボ
ラック樹脂を用い、該ノボラック樹脂が特定の分散度を
有し、しかもこれに上記低分子化合物を所定量添加した
場合にのみ発揮される特異な効果である。
【0015】即ち、かかる低分子化合物を本発明に規定
するノボラック樹脂と組み合わせると、期待通り低分子
化合物の溶解促進作用によりレジストの感度を向上させ
る一方、全く意外なことにいずれか単独で得られるより
も広い現像ラチチュードを与えるのである。しかも、従
来知られているクレゾール、キシレノール、メトキシフ
ェノールを含有する分子量分布の狭いノボラック樹脂に
上記溶解促進剤を組み合せた本発明者らが提案した組成
物(特開平2−93651号、特開平4−296755
号、特開平4−251257号、特開平4−12293
8号)よりさらに解像力、デフォーカスラチチュード、
耐熱性に優れることが判明し、本発明を完成させるに至
った。
するノボラック樹脂と組み合わせると、期待通り低分子
化合物の溶解促進作用によりレジストの感度を向上させ
る一方、全く意外なことにいずれか単独で得られるより
も広い現像ラチチュードを与えるのである。しかも、従
来知られているクレゾール、キシレノール、メトキシフ
ェノールを含有する分子量分布の狭いノボラック樹脂に
上記溶解促進剤を組み合せた本発明者らが提案した組成
物(特開平2−93651号、特開平4−296755
号、特開平4−251257号、特開平4−12293
8号)よりさらに解像力、デフォーカスラチチュード、
耐熱性に優れることが判明し、本発明を完成させるに至
った。
【0016】このような特異な効果が何故発生するのか
は明らかではないが、式(I)で表されるモノマー種、
つまり2位、5位にメチル基又はイソプロピル基(少な
くとも一方はイソプロピル基)を有するモノマー種を導
入した分子量分布の狭いノボラック樹脂による効果が最
も大きいと考えられるが、いずれにしても、本発明のノ
ボラック樹脂と所定範囲の感光剤、溶解促進剤の組合せ
で得られる解像力、デフォーカスラチチュード、現像ラ
チチュード、耐熱性は、いずれの単独または加成の効果
からも期待され得るものではなく、本発明はこの特異な
組合せ効果の発見に基づいてなされたものである。
は明らかではないが、式(I)で表されるモノマー種、
つまり2位、5位にメチル基又はイソプロピル基(少な
くとも一方はイソプロピル基)を有するモノマー種を導
入した分子量分布の狭いノボラック樹脂による効果が最
も大きいと考えられるが、いずれにしても、本発明のノ
ボラック樹脂と所定範囲の感光剤、溶解促進剤の組合せ
で得られる解像力、デフォーカスラチチュード、現像ラ
チチュード、耐熱性は、いずれの単独または加成の効果
からも期待され得るものではなく、本発明はこの特異な
組合せ効果の発見に基づいてなされたものである。
【0017】以下に本発明の態様をさらに、詳細に説明
する。まず、本発明の効果を十分に発揮するための好ま
しいフェノール類の組合せについて以下に、述べる。本
発明ではm−クレゾール成分を必須とし、これに前記一
般式(I)で表されるフェノール類及び前記一般式(I
I)または(III)より選ばれるフェノール類とアルデヒ
ド類とを縮合させて得られるアルカリ可溶性ノボラック
樹脂である。本発明のノボラック樹脂の第1の成分であ
るm−クレゾールは、全モノマー成分のうち50〜90
モル%必要であり、好ましくは50〜70モル%であ
る。本発明に用いられるフェノール類の組合せにおい
て、m−クレゾールが50モル%未満では感度、耐熱性
が不十分となり好ましくない。また、90モル%を越え
ると、解像力、現像ラチチュード、デフォーカスラチチ
ュードが不十分となり好ましくない。
する。まず、本発明の効果を十分に発揮するための好ま
しいフェノール類の組合せについて以下に、述べる。本
発明ではm−クレゾール成分を必須とし、これに前記一
般式(I)で表されるフェノール類及び前記一般式(I
I)または(III)より選ばれるフェノール類とアルデヒ
ド類とを縮合させて得られるアルカリ可溶性ノボラック
樹脂である。本発明のノボラック樹脂の第1の成分であ
るm−クレゾールは、全モノマー成分のうち50〜90
モル%必要であり、好ましくは50〜70モル%であ
る。本発明に用いられるフェノール類の組合せにおい
て、m−クレゾールが50モル%未満では感度、耐熱性
が不十分となり好ましくない。また、90モル%を越え
ると、解像力、現像ラチチュード、デフォーカスラチチ
ュードが不十分となり好ましくない。
【0018】本発明のノボラック樹脂の第2の成分であ
る前記一般式(I)で表されるフェノール類、すなわち
2位、5位にメチル基又はイソプロピル基を有するモノ
マー種は、全モノマー成分のうち5〜40モル%必要で
あり、好ましくは10〜35モル%である。一般式
(I)で表されるフェノール類が5モル%未満では本発
明の効果、すなわち、解像力、現像ラチチュード、デフ
ォーカスラチチュードが不十分となり、また40モル%
を越えると、レジストのプロファイルが悪化する傾向を
示すので好ましくない。
る前記一般式(I)で表されるフェノール類、すなわち
2位、5位にメチル基又はイソプロピル基を有するモノ
マー種は、全モノマー成分のうち5〜40モル%必要で
あり、好ましくは10〜35モル%である。一般式
(I)で表されるフェノール類が5モル%未満では本発
明の効果、すなわち、解像力、現像ラチチュード、デフ
ォーカスラチチュードが不十分となり、また40モル%
を越えると、レジストのプロファイルが悪化する傾向を
示すので好ましくない。
【0019】本発明のノボラック樹脂の第3の成分、す
なわち、前記一般式(II)または(III)より選ばれるフ
ェノール類は、全モノマー中0〜40モル%の範囲であ
り、好ましくは3〜35モル%の範囲である。一般式
(II)または(III)で表されるフェノール類が40モル
%を越えると感度、現像ラチチュードが低下し、好まし
くない。
なわち、前記一般式(II)または(III)より選ばれるフ
ェノール類は、全モノマー中0〜40モル%の範囲であ
り、好ましくは3〜35モル%の範囲である。一般式
(II)または(III)で表されるフェノール類が40モル
%を越えると感度、現像ラチチュードが低下し、好まし
くない。
【0020】本発明では前記フェノール類の他に、さら
に本発明に記載される以外の他のフェノール類を、本発
明の効果をそこなわない範囲、すなわち全モノマー中5
モル%以下で用いることもできる。ここで用いることの
できるモノマーとしては、o−クレゾール、o−メトキ
シフェノール、m−メトキシフェノール、o−エチルフ
ェノール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノー
ル、m−エトキシフェノール、3,5−ジメトキシフェ
ノール、2−メトキシ−4−メチルフェノール、o−プ
ロポキシフェノール、m−プロポキシフェノール、p−
プロポキシフェノール、o−ブトキシフェノール、m−
ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノール、3,
4,5−トリメチルフェノール、2,3,6−トリメチ
ルフェノール、o−ビニルフェノール、m−ビニルフェ
ノール、p−ビニルフェノール、o−アリルフェノー
ル、m−アリルフェノール、p−アリルフェノール、o
−フェニルフェノール、m−フェニルフェノール、p−
フェニルフェノール、o−ベンジルフェノール、m−ベ
ンジルフェノール、p−ベンジルフェノール、o−メト
キシカルボニルフェノール、m−メトキシカルボニルフ
ェノール、p−メトキシカルボニルフェノール、o−ベ
ンゾイルオキシフェノール、m−ベンゾイルオキシフェ
ノール、p−ベンゾイルオキシフェノール、o−クロロ
フェノール、m−クロロフェノール、p−クロロフェノ
ール、カテコール、レゾルシノール、ヒドロキノン、フ
ロログルシノール、ピロガロール、o−シクロヘキシル
フェノール、p−シクロヘキシルフェノール、3−メチ
ル−6−シクロヘキシルフェノール等のポリヒドロキシ
ベンゼン類等を示すことができる。
に本発明に記載される以外の他のフェノール類を、本発
明の効果をそこなわない範囲、すなわち全モノマー中5
モル%以下で用いることもできる。ここで用いることの
できるモノマーとしては、o−クレゾール、o−メトキ
シフェノール、m−メトキシフェノール、o−エチルフ
ェノール、m−エチルフェノール、p−エチルフェノー
ル、m−エトキシフェノール、3,5−ジメトキシフェ
ノール、2−メトキシ−4−メチルフェノール、o−プ
ロポキシフェノール、m−プロポキシフェノール、p−
プロポキシフェノール、o−ブトキシフェノール、m−
ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノール、3,
4,5−トリメチルフェノール、2,3,6−トリメチ
ルフェノール、o−ビニルフェノール、m−ビニルフェ
ノール、p−ビニルフェノール、o−アリルフェノー
ル、m−アリルフェノール、p−アリルフェノール、o
−フェニルフェノール、m−フェニルフェノール、p−
フェニルフェノール、o−ベンジルフェノール、m−ベ
ンジルフェノール、p−ベンジルフェノール、o−メト
キシカルボニルフェノール、m−メトキシカルボニルフ
ェノール、p−メトキシカルボニルフェノール、o−ベ
ンゾイルオキシフェノール、m−ベンゾイルオキシフェ
ノール、p−ベンゾイルオキシフェノール、o−クロロ
フェノール、m−クロロフェノール、p−クロロフェノ
ール、カテコール、レゾルシノール、ヒドロキノン、フ
ロログルシノール、ピロガロール、o−シクロヘキシル
フェノール、p−シクロヘキシルフェノール、3−メチ
ル−6−シクロヘキシルフェノール等のポリヒドロキシ
ベンゼン類等を示すことができる。
【0021】次に本発明の効果を発揮するための分子量
分布について以下に説明する。本組成物に用いるノボラ
ック樹脂は比較的狭い分子量分布を持つ必要がある。こ
のようなポリマーの分子量分布の広がりは、一般に重量
平均分子量(Mw)と数平均分子量(Mn)の比、即ち
Mw/Mn値(分散度)をもって表すことが出来ること
が知られている。分布が広いほど数値は大きくなり、分
布のないものでは比の値は1となる。典型的なポジ型フ
ォトレジストに用いられるノボラック樹脂は比較的広い
分子量分布を有しており、例えば特開昭62−1723
41号に典型的に示されているように、多くは分散度が
5〜10の間にある。またSPIEプロシーディング
「Advances in Resist Technology and Processing V」
第920巻、349ページには、この値が3.0のもの
よりは4.55から6.75迄のものの方が高いγ値を
与えることが示唆されている。本発明に係るノボラック
樹脂がかかる効果を発揮するためには、分散度がこれら
と異なり、1.5〜4.0、更に好ましくは2.0〜
3.5の範囲に入っている必要がある。分散度が大きす
ぎる場合には、本発明の効果である高解像力、広いデフ
ォーカスラチチュード、広い現像ラチチュードが得られ
ない。またこの値が小さすぎるものはそのノボラック樹
脂を合成する上で、高度の精製工程を要するので実用上
の現実性を欠くがゆえに不適切である。本発明のノボラ
ック樹脂はMw値で定義される平均分子量が2000〜
20000の範囲のものが好ましく、さらには3000
〜15000の範囲のものが特に好ましい。Mw値が大
きすぎる場合には、上記同様に、高解像力、広いデフォ
ーカスラチチュード、広い現像ラチチュードを得る本発
明の効果は得られない。
分布について以下に説明する。本組成物に用いるノボラ
ック樹脂は比較的狭い分子量分布を持つ必要がある。こ
のようなポリマーの分子量分布の広がりは、一般に重量
平均分子量(Mw)と数平均分子量(Mn)の比、即ち
Mw/Mn値(分散度)をもって表すことが出来ること
が知られている。分布が広いほど数値は大きくなり、分
布のないものでは比の値は1となる。典型的なポジ型フ
ォトレジストに用いられるノボラック樹脂は比較的広い
分子量分布を有しており、例えば特開昭62−1723
41号に典型的に示されているように、多くは分散度が
5〜10の間にある。またSPIEプロシーディング
「Advances in Resist Technology and Processing V」
第920巻、349ページには、この値が3.0のもの
よりは4.55から6.75迄のものの方が高いγ値を
与えることが示唆されている。本発明に係るノボラック
樹脂がかかる効果を発揮するためには、分散度がこれら
と異なり、1.5〜4.0、更に好ましくは2.0〜
3.5の範囲に入っている必要がある。分散度が大きす
ぎる場合には、本発明の効果である高解像力、広いデフ
ォーカスラチチュード、広い現像ラチチュードが得られ
ない。またこの値が小さすぎるものはそのノボラック樹
脂を合成する上で、高度の精製工程を要するので実用上
の現実性を欠くがゆえに不適切である。本発明のノボラ
ック樹脂はMw値で定義される平均分子量が2000〜
20000の範囲のものが好ましく、さらには3000
〜15000の範囲のものが特に好ましい。Mw値が大
きすぎる場合には、上記同様に、高解像力、広いデフォ
ーカスラチチュード、広い現像ラチチュードを得る本発
明の効果は得られない。
【0022】本発明のように小さな分散度を有するノボ
ラック樹脂を製造するには様々な方法が考えられる。例
えば、特開昭60−189739号、特開昭60−14
0235号、特開昭64−14229号、特開平1−1
05243号、特開平2−60915号、特開平4−1
22938号、特開平4−101147号、特開平4−
251257号、特開平4−296755号報、米国特
許第4795829号、同第5151339号明細書等
に記載の方法、すなわち、特定のフェノール性モノマー
の選択、縮合反応条件の選択、更には分散度の大きな通
常のノボラック樹脂を分別沈澱する等の方法でこれを得
ることが出来る。本発明の効果を得るためにはこれらの
いずれの方法を用いて製造したものでも良い。本発明に
用いられるノボラック樹脂は、上記フェノール類の混合
物をアルデヒド類で重縮合することによって得られる。
ラック樹脂を製造するには様々な方法が考えられる。例
えば、特開昭60−189739号、特開昭60−14
0235号、特開昭64−14229号、特開平1−1
05243号、特開平2−60915号、特開平4−1
22938号、特開平4−101147号、特開平4−
251257号、特開平4−296755号報、米国特
許第4795829号、同第5151339号明細書等
に記載の方法、すなわち、特定のフェノール性モノマー
の選択、縮合反応条件の選択、更には分散度の大きな通
常のノボラック樹脂を分別沈澱する等の方法でこれを得
ることが出来る。本発明の効果を得るためにはこれらの
いずれの方法を用いて製造したものでも良い。本発明に
用いられるノボラック樹脂は、上記フェノール類の混合
物をアルデヒド類で重縮合することによって得られる。
【0023】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセト
アルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フ
ェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、バニリン、o−バニリン、is
o−バニリン、o−クロロベンズアルデヒド、m−クロ
ロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド、o
−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアルデヒ
ド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチルベンズア
ルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベ
ンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p−n
−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、クロロアセ
トアルデヒド及びこれらのアセタール体、例えばクロロ
アセトアルデヒドジエチルアセタール等を使用すること
ができるが、これらの中で、ホルムアルデヒドを主に使
用するのが好ましい。これらのアルデヒド類は、単独で
もしくは2種以上組み合わせて用いられる。酸性触媒と
しては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、p−トルエンスルホン
酸、メタンスルホン酸、マロン酸、メルカプト酢酸及び
シュウ酸等を使用することができ、2種以上組合せて用
いてもよい。
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセト
アルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フ
ェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、バニリン、o−バニリン、is
o−バニリン、o−クロロベンズアルデヒド、m−クロ
ロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド、o
−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアルデヒ
ド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチルベンズア
ルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベ
ンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p−n
−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、クロロアセ
トアルデヒド及びこれらのアセタール体、例えばクロロ
アセトアルデヒドジエチルアセタール等を使用すること
ができるが、これらの中で、ホルムアルデヒドを主に使
用するのが好ましい。これらのアルデヒド類は、単独で
もしくは2種以上組み合わせて用いられる。酸性触媒と
しては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、p−トルエンスルホン
酸、メタンスルホン酸、マロン酸、メルカプト酢酸及び
シュウ酸等を使用することができ、2種以上組合せて用
いてもよい。
【0024】本発明に用いる感光剤としては、以下に示
すポリヒドロキシ化合物の1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリドとの
エステル化物を挙げることができる。
すポリヒドロキシ化合物の1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリドとの
エステル化物を挙げることができる。
【0025】ポリヒドロキシ化合物の例としては、ビス
(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,
3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,
4−ジヒドロキシフェニル)プロパン−1、ビス(2,
3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン−1、ノル
ジヒドログアイアレチン酸、1,1−ビス(4−ヒドロ
キシフェニル)シクロヘキサン等のビス((ポリ)ヒド
ロキシフェニル)アルカン類、
(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,
3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,
4−ジヒドロキシフェニル)プロパン−1、ビス(2,
3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン−1、ノル
ジヒドログアイアレチン酸、1,1−ビス(4−ヒドロ
キシフェニル)シクロヘキサン等のビス((ポリ)ヒド
ロキシフェニル)アルカン類、
【0026】3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸プロ
ピル、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸フェニル、
3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸フェニル等のポリ
ヒドロキシ安息香酸エステル類、
ピル、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸フェニル、
3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸フェニル等のポリ
ヒドロキシ安息香酸エステル類、
【0027】ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾ
イル)メタン、ビス(3−アセチル−4,5,6−トリ
ヒドロキシフェニル)−メタン、ビス(2,3,4−ト
リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、ビス(2,4,6
−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン等のビス(ポリ
ヒドロキシベンゾイル)アルカン又はビス(ポリヒドロ
キシベンゾイル)アリール類、
イル)メタン、ビス(3−アセチル−4,5,6−トリ
ヒドロキシフェニル)−メタン、ビス(2,3,4−ト
リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、ビス(2,4,6
−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン等のビス(ポリ
ヒドロキシベンゾイル)アルカン又はビス(ポリヒドロ
キシベンゾイル)アリール類、
【0028】エチレングリコール−ジ(3,5−ジヒド
ロキシベンゾエート)、エチレングリコール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)等のアルキレン
−ジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類、
ロキシベンゾエート)、エチレングリコール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)等のアルキレン
−ジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類、
【0029】2,3,4−ビフェニルトリオール、3,
4,5−ビフェニルトリオール、3,5,3′,5′−
ビフェニルテトロール、2,4,2′,4′−ビフェニ
ルテトロール、2,4,6,3′,5′−ビフェニルペ
ントール、2,4,6,2′,4′,6′−ビフェニル
ヘキソール、2,3,4,2′,3′,4′−ビフェニ
ルヘキソール等のポリヒドロキシビフェニル類、
4,5−ビフェニルトリオール、3,5,3′,5′−
ビフェニルテトロール、2,4,2′,4′−ビフェニ
ルテトロール、2,4,6,3′,5′−ビフェニルペ
ントール、2,4,6,2′,4′,6′−ビフェニル
ヘキソール、2,3,4,2′,3′,4′−ビフェニ
ルヘキソール等のポリヒドロキシビフェニル類、
【0030】4,4′−チオビス(1,3−ジヒドロキ
シ)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシ)スルフィド
類、
シ)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシ)スルフィド
類、
【0031】2,2′,4,4′−テトラヒドロキシジ
フェニルエーテル等のビス(ポリヒドロキシフェニル)
エーテル類、
フェニルエーテル等のビス(ポリヒドロキシフェニル)
エーテル類、
【0032】2,2′,4,4′−テトラヒドロキシジ
フェニルスルフォキシド等のビス(ポリヒドロキシフェ
ニル)スルフォキシド類、
フェニルスルフォキシド等のビス(ポリヒドロキシフェ
ニル)スルフォキシド類、
【0033】2,2′,4,4′−ジフェニルスルフォ
ン等のビス(ポリヒドロキシフェニル)スルフォン類、
ン等のビス(ポリヒドロキシフェニル)スルフォン類、
【0034】トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタ
ン、4,4′,4″−トリヒドロキシ−3,5,3′,
5′−テトラメチルトリフェニルメタン、4,4′,
3″,4′−テトラヒドロキシ−3,5,3′,5′−
テトラメチルトリフェニルメタン、4−[ビス(3,5
−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)メチル]−2−
メトキシ−フェノール、4,4′−(3,4−ジオール
−ベンジリデン)ビス[2,6−ジメチルフェノー
ル]、4,4′−[(2−ヒドロキシフェニル)メチレ
ン]ビス[2−シクロヘキシル−5−メチルフェノー
ル]、4,4′,2″,3″,4″−ペンタヒドロキシ
−3,5,3′,5′−テトラメチルトリフェニルメタ
ン、2,3,4,2′,3′,4′−ヘキサヒドロキシ
−5,5′−ジアセチルトリフェニルメタン、2,3,
4,2′,3′,4′,3″,4″−オクタヒドロキシ
−5,5′−ジアセチルトリフェニルメタン、2,4,
6,2′,4′,6′−ヘキサヒドロキシ−5,5′−
ジプロピオニルトリフェニルメタン等のポリヒドロキシ
トリフェニルメタン類、
ン、4,4′,4″−トリヒドロキシ−3,5,3′,
5′−テトラメチルトリフェニルメタン、4,4′,
3″,4′−テトラヒドロキシ−3,5,3′,5′−
テトラメチルトリフェニルメタン、4−[ビス(3,5
−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)メチル]−2−
メトキシ−フェノール、4,4′−(3,4−ジオール
−ベンジリデン)ビス[2,6−ジメチルフェノー
ル]、4,4′−[(2−ヒドロキシフェニル)メチレ
ン]ビス[2−シクロヘキシル−5−メチルフェノー
ル]、4,4′,2″,3″,4″−ペンタヒドロキシ
−3,5,3′,5′−テトラメチルトリフェニルメタ
ン、2,3,4,2′,3′,4′−ヘキサヒドロキシ
−5,5′−ジアセチルトリフェニルメタン、2,3,
4,2′,3′,4′,3″,4″−オクタヒドロキシ
−5,5′−ジアセチルトリフェニルメタン、2,4,
6,2′,4′,6′−ヘキサヒドロキシ−5,5′−
ジプロピオニルトリフェニルメタン等のポリヒドロキシ
トリフェニルメタン類、
【0035】4,4′−(フェニルメチレン)ビスフェ
ノール、4,4′−(1−フェニル−エチリデン)ビス
[2−メチルフェノール]、4,4′,4″−エチリデ
ン−トリスフェノール等のポリヒドロキシトリフェニル
エタン類、
ノール、4,4′−(1−フェニル−エチリデン)ビス
[2−メチルフェノール]、4,4′,4″−エチリデ
ン−トリスフェノール等のポリヒドロキシトリフェニル
エタン類、
【0036】3,3,3′,3′−テトラメチル−1,
1′−スピロビ−インダン−5,6,5′,6′−テト
ロール、3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′
−スピロビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′
−ヘキソオール、3,3,3′,3′−テトラメチル−
1,1′−スピロビ−インダン−4,5,6,4′,
5′,6′−ヘキソオール、3,3,3′,3′−テト
ラメチル−1,1′−スピロビ−インダン−4,5,
6,5′,6′,7′−ヘキソオール等のポリヒドロキ
シスピロビ−インダン類、
1′−スピロビ−インダン−5,6,5′,6′−テト
ロール、3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′
−スピロビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′
−ヘキソオール、3,3,3′,3′−テトラメチル−
1,1′−スピロビ−インダン−4,5,6,4′,
5′,6′−ヘキソオール、3,3,3′,3′−テト
ラメチル−1,1′−スピロビ−インダン−4,5,
6,5′,6′,7′−ヘキソオール等のポリヒドロキ
シスピロビ−インダン類、
【0037】2,4,4−トリメチル−2′,4′,
7′−トリヒドロキシフラバン等のポリヒドロキシフラ
バン類、
7′−トリヒドロキシフラバン等のポリヒドロキシフラ
バン類、
【0038】3,3−ビス(3,4−ジヒドロキシフェ
ニル)フタリド、3,3−ビス(2,3,4−トリヒド
ロキシフェニル)フタリド、3′,4′,5′,6′−
テトラヒドロキシスピロ[フタリド−3,9′−キサン
テン]等のポリヒドロキシフタリド類、
ニル)フタリド、3,3−ビス(2,3,4−トリヒド
ロキシフェニル)フタリド、3′,4′,5′,6′−
テトラヒドロキシスピロ[フタリド−3,9′−キサン
テン]等のポリヒドロキシフタリド類、
【0039】モリン、ケルセチン、ルチン等のフラボノ
色素類、
色素類、
【0040】α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシ
フェニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α′,α″−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒド
ロキシフェニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼ
ン、α,α′,α″−トリス(3,5−ジエチル−4−
ヒドロキシフェニル)1,3,5−トリイソプロピルベ
ンゼン、α,α′,α″−トリス(3,5−ジn−プロ
ピル−4−ヒドロキシフェニル)1,3,5−トリイソ
プロピルベンゼン、α,α′,α″−トリス(3,5−
ジイソプロピル−4−ヒドロキシフェニル)1,3,5
−トリイソプロピルベンゼン、α,α′,α″−トリス
(3,5−ジn−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α′,
α″−トリス(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α′,
α″−トリス(3−メトキシ−4−ヒドロキシフェニ
ル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,
α′,α″−トリス(2,4−ジヒドロキシフェニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,3,5−
トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)
ベンゼン、1,3,5−トリス(5−メチル−2−ヒド
ロキシフェニル)ベンゼン、2,4,6−トリス(3,
5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニルチオメチル)メ
シチレン、1−[α−メチル−α−(4′−ヒドロキシ
フェニル)エチル]−4−[α,α′−ビス(4″−ヒ
ドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチ
ル−α−(4′−ヒドロキシフェニル)エチル]−3−
[α,α′−ビス(4″−ヒドロキシフェニル)エチ
ル]ベンゼン、1−[α−メチル−α−(3′,5′−
ジメチル−4′−ヒドロキシフェニル)エチル]−4−
[α,α′−ビス(3″,5″−ジメチル−4″−ヒド
ロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチル
−α−(3′−メチル−4′−ヒドロキシフェニル)エ
チル]−4−[α′,α′−ビス(3″−メチル−4″
−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−
メチル−α−(3′−メトキシ−4′−ヒドロキシフェ
ニル)エチル]−4−[α′,α′−ビス(3″−メト
キシ−4″−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、
1−[α−メチル−α−(2′,4′−ジヒドロキシフ
ェニル)エチル]−4−[α′,α′−ビス(4″−ヒ
ドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチ
ル−α−(2′,4′−ジヒドロキシフェニル)エチ
ル]−3−[α′,α′−ビス(4″−ヒドロキシフェ
ニル)エチル]ベンゼン等の特開平4−253058号
に記載のポリヒドロキシ化合物、
フェニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α′,α″−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒド
ロキシフェニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼ
ン、α,α′,α″−トリス(3,5−ジエチル−4−
ヒドロキシフェニル)1,3,5−トリイソプロピルベ
ンゼン、α,α′,α″−トリス(3,5−ジn−プロ
ピル−4−ヒドロキシフェニル)1,3,5−トリイソ
プロピルベンゼン、α,α′,α″−トリス(3,5−
ジイソプロピル−4−ヒドロキシフェニル)1,3,5
−トリイソプロピルベンゼン、α,α′,α″−トリス
(3,5−ジn−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α′,
α″−トリス(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α′,
α″−トリス(3−メトキシ−4−ヒドロキシフェニ
ル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,
α′,α″−トリス(2,4−ジヒドロキシフェニル)
1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、1,3,5−
トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)
ベンゼン、1,3,5−トリス(5−メチル−2−ヒド
ロキシフェニル)ベンゼン、2,4,6−トリス(3,
5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニルチオメチル)メ
シチレン、1−[α−メチル−α−(4′−ヒドロキシ
フェニル)エチル]−4−[α,α′−ビス(4″−ヒ
ドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチ
ル−α−(4′−ヒドロキシフェニル)エチル]−3−
[α,α′−ビス(4″−ヒドロキシフェニル)エチ
ル]ベンゼン、1−[α−メチル−α−(3′,5′−
ジメチル−4′−ヒドロキシフェニル)エチル]−4−
[α,α′−ビス(3″,5″−ジメチル−4″−ヒド
ロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチル
−α−(3′−メチル−4′−ヒドロキシフェニル)エ
チル]−4−[α′,α′−ビス(3″−メチル−4″
−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−
メチル−α−(3′−メトキシ−4′−ヒドロキシフェ
ニル)エチル]−4−[α′,α′−ビス(3″−メト
キシ−4″−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、
1−[α−メチル−α−(2′,4′−ジヒドロキシフ
ェニル)エチル]−4−[α′,α′−ビス(4″−ヒ
ドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチ
ル−α−(2′,4′−ジヒドロキシフェニル)エチ
ル]−3−[α′,α′−ビス(4″−ヒドロキシフェ
ニル)エチル]ベンゼン等の特開平4−253058号
に記載のポリヒドロキシ化合物、
【0041】α,α,α′,α′,α″,α″−ヘキサ
キス−(4−ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリ
エチルベンゼン等の特開平5−224410号に記載の
ポリヒドロキシ化合物、1,2,2,3−テトラ(p−
ヒドロキシフェニル)プロパン、1,3,3,5−テト
ラ(p−ヒドロキシフェニル)ペンタン等の特開平5−
303200号、欧州特許第530148号に記載のポ
リ(ヒドロキシフェニル)アルカン類、
キス−(4−ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリ
エチルベンゼン等の特開平5−224410号に記載の
ポリヒドロキシ化合物、1,2,2,3−テトラ(p−
ヒドロキシフェニル)プロパン、1,3,3,5−テト
ラ(p−ヒドロキシフェニル)ペンタン等の特開平5−
303200号、欧州特許第530148号に記載のポ
リ(ヒドロキシフェニル)アルカン類、
【0042】p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシベ
ンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,4,6−トリヒド
ロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,3,4−
トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,
4,6−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビ
ス(2,5−ジヒドロキシ−3−ブロムベンゾイル)ベ
ンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−
メチルベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4−
トリヒドロキシ−5−メトキシベンゾイル)ベンゼン、
p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−ニトロベ
ンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒド
ロキシ−5−シアノベンゾイル)ベンゼン、1,3,5
−トリス(2,5−ジヒドロキシベンゾイル)ベンゼ
ン、1,3,5−トリス(2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾイル)ベンゼン、1,2,3−トリス(2,3,
4−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1,2,4
−トリス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)ベ
ンゼン、1,2,4,5−テトラキス(2,3,4−ト
リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、α,α′−ビス
(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)p−キシレ
ン、α,α′,α′−トリス(2,3,4−トリヒドロ
キシベンゾイル)メシチレン、
ンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,4,6−トリヒド
ロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,3,4−
トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,
4,6−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビ
ス(2,5−ジヒドロキシ−3−ブロムベンゾイル)ベ
ンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−
メチルベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4−
トリヒドロキシ−5−メトキシベンゾイル)ベンゼン、
p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−ニトロベ
ンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒド
ロキシ−5−シアノベンゾイル)ベンゼン、1,3,5
−トリス(2,5−ジヒドロキシベンゾイル)ベンゼ
ン、1,3,5−トリス(2,3,4−トリヒドロキシ
ベンゾイル)ベンゼン、1,2,3−トリス(2,3,
4−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1,2,4
−トリス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)ベ
ンゼン、1,2,4,5−テトラキス(2,3,4−ト
リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、α,α′−ビス
(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)p−キシレ
ン、α,α′,α′−トリス(2,3,4−トリヒドロ
キシベンゾイル)メシチレン、
【0043】2,6−ビス−(2−ヒドロキシ−3,5
−ジメチル−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビ
ス−(2−ヒドロキシ−5′−メチル−ベンジル)−p
−クレゾール、2,6−ビス−(2,4,6−トリヒド
ロキシ−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス−
(2,3,4−トリヒドロキシ−ベンジル)−p−クレ
ゾール、2,6−ビス−(2,3,4−トリヒドロキシ
−ベンジル)−3,5−ジメチル−フェノール、4,6
−ビス−(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルべンジ
ル)−ピロガロール、2,6−ビス−(4−ヒドロキシ
−3,5−ジメチルべンジル)−1,3,4−トリヒド
ロキシ−フェノール、4,6−ビス−(2,4,6−ト
リヒドロキシベンジル)−2,4−ジメチル−フェノー
ル、4,6−ビス−(2,3,4−トリヒドロキシベン
ジル)−2,5−ジメチル−フェノール、2,6−ビス
−(4−ヒドロキシベンジル)−p−グレゾール、2,
6−ビス(4−ヒドロキシベンジル)−4−シクロヘキ
シルフェノール,2,6−ビス(4−ヒドロキシ−3−
メチルベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス(4
−ヒドロキシ−3,5−ジメチルベンジル)−p−クレ
ゾール、2,6−ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメ
チルベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス(4−
ヒドロキシ−3−メチルベンジル)−4−フェニル−フ
ェノール、2,2′,6,6′−テトラキス[(4−ヒ
ドロキシフェニル)メチル]−4,4′−メチレンジフ
ェノール、2,2′,6,6′−テトラキス[(4−ヒ
ドロキシ−3−ジメチルフェニル)メチル]−4,4′
−メチレンジフェノール、2,2′,6,6′−テトラ
キス[(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)メチ
ル]−4,4′−メチレンジフェノール、2,2′−ビ
ス[(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)メ
チル]6,6′−ジメチル−4,4′−メチレンジフェ
ノール等を挙げることができる。
−ジメチル−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビ
ス−(2−ヒドロキシ−5′−メチル−ベンジル)−p
−クレゾール、2,6−ビス−(2,4,6−トリヒド
ロキシ−ベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス−
(2,3,4−トリヒドロキシ−ベンジル)−p−クレ
ゾール、2,6−ビス−(2,3,4−トリヒドロキシ
−ベンジル)−3,5−ジメチル−フェノール、4,6
−ビス−(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルべンジ
ル)−ピロガロール、2,6−ビス−(4−ヒドロキシ
−3,5−ジメチルべンジル)−1,3,4−トリヒド
ロキシ−フェノール、4,6−ビス−(2,4,6−ト
リヒドロキシベンジル)−2,4−ジメチル−フェノー
ル、4,6−ビス−(2,3,4−トリヒドロキシベン
ジル)−2,5−ジメチル−フェノール、2,6−ビス
−(4−ヒドロキシベンジル)−p−グレゾール、2,
6−ビス(4−ヒドロキシベンジル)−4−シクロヘキ
シルフェノール,2,6−ビス(4−ヒドロキシ−3−
メチルベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス(4
−ヒドロキシ−3,5−ジメチルベンジル)−p−クレ
ゾール、2,6−ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメ
チルベンジル)−p−クレゾール、2,6−ビス(4−
ヒドロキシ−3−メチルベンジル)−4−フェニル−フ
ェノール、2,2′,6,6′−テトラキス[(4−ヒ
ドロキシフェニル)メチル]−4,4′−メチレンジフ
ェノール、2,2′,6,6′−テトラキス[(4−ヒ
ドロキシ−3−ジメチルフェニル)メチル]−4,4′
−メチレンジフェノール、2,2′,6,6′−テトラ
キス[(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)メチ
ル]−4,4′−メチレンジフェノール、2,2′−ビ
ス[(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)メ
チル]6,6′−ジメチル−4,4′−メチレンジフェ
ノール等を挙げることができる。
【0044】また、ノボラック樹脂、ポリヒドロキシス
チレン樹脂、アセトン・ピロガロール樹脂等も用いる事
ができる。
チレン樹脂、アセトン・ピロガロール樹脂等も用いる事
ができる。
【0045】前記感光物のエステル化反応は、所定量の
ポリヒドロキシ化合物と、1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリドとを
ジオキサン、アセトン、テトラヒドロフラン、メチルエ
チルケトン、N−メチルピロリドン、クロロホルム、ト
リクロロエタン、トリクロロエチレンあるいはジクロロ
エタン等の溶媒に溶かし、塩基性触媒、例えば水酸化ナ
トリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナトリウム、トリ
エチルアミン、N−メチルモルホリン、N−メチルピペ
ラジン、4−ジメチルアミノピリジン等を滴下して縮合
させる。得られた生成物は、水洗後精製し乾燥する。
ポリヒドロキシ化合物と、1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリドとを
ジオキサン、アセトン、テトラヒドロフラン、メチルエ
チルケトン、N−メチルピロリドン、クロロホルム、ト
リクロロエタン、トリクロロエチレンあるいはジクロロ
エタン等の溶媒に溶かし、塩基性触媒、例えば水酸化ナ
トリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナトリウム、トリ
エチルアミン、N−メチルモルホリン、N−メチルピペ
ラジン、4−ジメチルアミノピリジン等を滴下して縮合
させる。得られた生成物は、水洗後精製し乾燥する。
【0046】通常のエステル化反応においては、エステ
ル化数及びエステル化位置が種々異なる混合物が得られ
るが、合成条件又はポリヒドロキシ化合物の構造を選択
することにより、ある特定の異性体のみを選択的にエス
テル化させることもできる。本発明でいうエステル化率
は、この混合物の平均値として定義される。
ル化数及びエステル化位置が種々異なる混合物が得られ
るが、合成条件又はポリヒドロキシ化合物の構造を選択
することにより、ある特定の異性体のみを選択的にエス
テル化させることもできる。本発明でいうエステル化率
は、この混合物の平均値として定義される。
【0047】このように定義されたエステル化率は、原
料であるポリヒドロキシ化合物と1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリ
ドとの混合比により制御できる。即ち、添加された1,
2−ナフトキノンジアジド−5−(及び/又は−4−)
スルホニルクロリドは、実質上総てエステル化反応を起
こすので、所望のエステル化率の混合物を得るために
は、原料のモル比を調整すれば良い。本発明において、
好ましいエステル化率は、30〜90%、さらに好まし
くは40〜80%である。エステル化率が30%未満で
は解像力、デフォーカスラチチュード、プロファイルが
悪化し、90%以上では、感度が低くなる。必要に応じ
て、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルク
ロリドと1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニ
ルクロリドを併用することもできる。また、前記方法に
おける反応温度は、通常−20〜60℃、好ましくは0
〜40℃である。
料であるポリヒドロキシ化合物と1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリ
ドとの混合比により制御できる。即ち、添加された1,
2−ナフトキノンジアジド−5−(及び/又は−4−)
スルホニルクロリドは、実質上総てエステル化反応を起
こすので、所望のエステル化率の混合物を得るために
は、原料のモル比を調整すれば良い。本発明において、
好ましいエステル化率は、30〜90%、さらに好まし
くは40〜80%である。エステル化率が30%未満で
は解像力、デフォーカスラチチュード、プロファイルが
悪化し、90%以上では、感度が低くなる。必要に応じ
て、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルク
ロリドと1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニ
ルクロリドを併用することもできる。また、前記方法に
おける反応温度は、通常−20〜60℃、好ましくは0
〜40℃である。
【0048】前記のような方法で合成される感光性化合
物は、樹脂組成物として使用する際に、単独でもしくは
2種以上混合してアルカリ可溶性樹脂に配合して使用さ
れるが、その配合量は、ノボラック樹脂100重量部に
対し該化合物が30重量部を越え、100重量部未満で
ある。好ましくは35〜90重量部である。この使用比
率が30重量部以下では、本発明の効果、すわなち、感
度、解像力、デフォーカスラチチュード、現像ラチチュ
ードを十分高めることができず、また100重量部を越
えると、感度、プロファイルが悪化するので好ましくな
い。
物は、樹脂組成物として使用する際に、単独でもしくは
2種以上混合してアルカリ可溶性樹脂に配合して使用さ
れるが、その配合量は、ノボラック樹脂100重量部に
対し該化合物が30重量部を越え、100重量部未満で
ある。好ましくは35〜90重量部である。この使用比
率が30重量部以下では、本発明の効果、すわなち、感
度、解像力、デフォーカスラチチュード、現像ラチチュ
ードを十分高めることができず、また100重量部を越
えると、感度、プロファイルが悪化するので好ましくな
い。
【0049】本発明を構成するフェノール性水酸基を有
する低分子化合物としては、分子中の炭素数の総数が1
2〜50で、かつフェノール性水酸基の総数が2〜8の
ものを用いる。かかる化合物のうち、本発明で使用する
ノボラック樹脂に添加した際に、ノボラック樹脂のアル
カリ溶解速度を増大させる化合物が特に望ましい。また
該化合物の炭素数が51以上のものでは本発明の効果が
著しく減少する。また11以下のものでは耐熱性が低下
するなどの新たな欠点が発生する。本発明の効果を発揮
させるためには、分子中に少なくとも2個の水酸基数を
有することが必要であるが、これが9以上になると、解
像力、デフォーカスラチチュード、現像ラチチュードの
改良効果が失われる。この低分子化合物の好ましい添加
量はノボラック樹脂100重量部に対し、20重量部を
越え、60重量部未満、さらに好ましくは30重量部〜
55重量部の範囲である。これまでに本発明者らは、分
散度が1.5〜4.0のノボラック樹脂100重量部
に、30重量部の低分子のフェノール化合物を配合した
ポジ型フォトレジスト組成物を提案した(特開平4−1
22938号)。ここで開示されている様なノボラック
樹脂との組合せにおいては、溶解促進剤が30重量部を
越えた添加量では、現像時にパターンが変形するという
欠点が発生した。ところが不思議なことに、本発明のノ
ボラック樹脂を用いると20重量部を越える添加量の方
がむしろ、本発明の効果が十分に発揮されパターンの変
形がまったく認められないことがわかった。つまり、2
0重量部以下では、本発明の効果が十分得られず、また
60重量部を越えると耐熱性が低下するという問題が生
じる。本発明に用いられる低分子化合物としては、上記
構造要件を満たすものであれば如何なるものを用いても
この効果が得られる。
する低分子化合物としては、分子中の炭素数の総数が1
2〜50で、かつフェノール性水酸基の総数が2〜8の
ものを用いる。かかる化合物のうち、本発明で使用する
ノボラック樹脂に添加した際に、ノボラック樹脂のアル
カリ溶解速度を増大させる化合物が特に望ましい。また
該化合物の炭素数が51以上のものでは本発明の効果が
著しく減少する。また11以下のものでは耐熱性が低下
するなどの新たな欠点が発生する。本発明の効果を発揮
させるためには、分子中に少なくとも2個の水酸基数を
有することが必要であるが、これが9以上になると、解
像力、デフォーカスラチチュード、現像ラチチュードの
改良効果が失われる。この低分子化合物の好ましい添加
量はノボラック樹脂100重量部に対し、20重量部を
越え、60重量部未満、さらに好ましくは30重量部〜
55重量部の範囲である。これまでに本発明者らは、分
散度が1.5〜4.0のノボラック樹脂100重量部
に、30重量部の低分子のフェノール化合物を配合した
ポジ型フォトレジスト組成物を提案した(特開平4−1
22938号)。ここで開示されている様なノボラック
樹脂との組合せにおいては、溶解促進剤が30重量部を
越えた添加量では、現像時にパターンが変形するという
欠点が発生した。ところが不思議なことに、本発明のノ
ボラック樹脂を用いると20重量部を越える添加量の方
がむしろ、本発明の効果が十分に発揮されパターンの変
形がまったく認められないことがわかった。つまり、2
0重量部以下では、本発明の効果が十分得られず、また
60重量部を越えると耐熱性が低下するという問題が生
じる。本発明に用いられる低分子化合物としては、上記
構造要件を満たすものであれば如何なるものを用いても
この効果が得られる。
【0050】好ましいポリヒドロキシ化合物としては、
フェノール類、レゾルシン、フロログルシン、2,3,
4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,
3′,4′,5′−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、
アセトン−ピロガロール縮合樹脂、フロログルシド、
2,4,2′,4′−ビフェニルテトロール、4,4′
−チオビス(1,3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,
4,2′,4′−テトラヒドロキシジフェニルエーテ
ル、2,4,2′,4′−テトラヒドロキシジフェニル
スルフォキシド、2,4,2′,4′−テトラヒドロキ
シジフェニルスルフォン、トリス(4−ヒドロキシフェ
ニル)メタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)シクロヘキサン、4,4′−(α−メチルベンジリ
デン)ビスフェノール、α,α′,α″−トリス(4−
ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリイソプロピル
ベンゼン、α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフ
ェニル)−1−エチル−4−イソプロピルベンゼン、
1,2,2−トリス(ヒドロキシフェニル)プロパン、
1,1,2−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキ
シフェニル)プロパン、2,2,5,5−テトラキス
(4−ヒドロキシフェニル)ヘキサン、1,1,2,2
−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,
1,3−トリス(ヒドロキシフェニル)ブタン、パラ
[α,α,α′,α′−テトラキス(4−ヒドロキシフ
ェニル)]−キシレン等を挙げることができる。さらに
前記感光剤の中間原料(骨格)になるようなポリヒドロ
キシ化合物も利用できる。
フェノール類、レゾルシン、フロログルシン、2,3,
4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,
3′,4′,5′−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、
アセトン−ピロガロール縮合樹脂、フロログルシド、
2,4,2′,4′−ビフェニルテトロール、4,4′
−チオビス(1,3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,
4,2′,4′−テトラヒドロキシジフェニルエーテ
ル、2,4,2′,4′−テトラヒドロキシジフェニル
スルフォキシド、2,4,2′,4′−テトラヒドロキ
シジフェニルスルフォン、トリス(4−ヒドロキシフェ
ニル)メタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニ
ル)シクロヘキサン、4,4′−(α−メチルベンジリ
デン)ビスフェノール、α,α′,α″−トリス(4−
ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリイソプロピル
ベンゼン、α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフ
ェニル)−1−エチル−4−イソプロピルベンゼン、
1,2,2−トリス(ヒドロキシフェニル)プロパン、
1,1,2−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキ
シフェニル)プロパン、2,2,5,5−テトラキス
(4−ヒドロキシフェニル)ヘキサン、1,1,2,2
−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,
1,3−トリス(ヒドロキシフェニル)ブタン、パラ
[α,α,α′,α′−テトラキス(4−ヒドロキシフ
ェニル)]−キシレン等を挙げることができる。さらに
前記感光剤の中間原料(骨格)になるようなポリヒドロ
キシ化合物も利用できる。
【0051】本発明のアルカリ可溶性ノボラック樹脂、
感光剤、溶解促進剤を溶解させる溶剤としては、エチレ
ングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコール
モノエチルエーテル、メチルセロソルブアセテート、エ
チルセロソルブアセテート、ジエチレングリコールモノ
メチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエー
テル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノメチルエーテルプロピオ
ネート、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、シ
クロペンタノン、シクロヘキサノン、2−ヒドロキシプ
ロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピ
オン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エ
チル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、3
−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオ
ン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−エ
トキシプロピオン酸メチル、β−メトキシイソ酪酸メチ
ル、α−ヒドロキシイソ酪酸メチル、ピルビン酸メチ
ル、ピルビン酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル等を用
いることができる。これらの有機溶剤は単独で、又は2
種以上の組み合わせで使用される。
感光剤、溶解促進剤を溶解させる溶剤としては、エチレ
ングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコール
モノエチルエーテル、メチルセロソルブアセテート、エ
チルセロソルブアセテート、ジエチレングリコールモノ
メチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエー
テル、プロピレングリコールメチルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテー
ト、プロピレングリコールモノメチルエーテルプロピオ
ネート、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、シ
クロペンタノン、シクロヘキサノン、2−ヒドロキシプ
ロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピ
オン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エ
チル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン酸メチル、3
−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオ
ン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、3−エ
トキシプロピオン酸メチル、β−メトキシイソ酪酸メチ
ル、α−ヒドロキシイソ酪酸メチル、ピルビン酸メチ
ル、ピルビン酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル等を用
いることができる。これらの有機溶剤は単独で、又は2
種以上の組み合わせで使用される。
【0052】更に、N−メチルホルムアミド、N,N−
ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル等の高沸
点溶剤を混合して使用することができる。
ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジ
メチルスルホキシド、ベンジルエチルエーテル等の高沸
点溶剤を混合して使用することができる。
【0053】本発明のポジ型フォトレジスト用組成物に
は、ストリエーション等の塗布性を更に向上させるため
に、界面活性剤を配合する事ができる。界面活性剤とし
ては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポ
リオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチ
レンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエー
テル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリ
オキシエチレンオクチルフェノールエーテル、ポリオキ
シエチレンノニルフェノールエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレン
・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビ
タンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソ
ルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエー
ト、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステア
レート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエ
チレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレン
ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタ
ントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリ
ステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸
エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトップEF
301,EF303,EF352(新秋田化成(株)
製)、メガファックF171,F173(大日本インキ
(株)製)、フロラードFC430,431(住友スリ
ーエム(株)製)、アサヒガードAG710,サーフロ
ンS−382,SC101,SC102,SC103,
SC104,SC105,SC106(旭硝子(株)
製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリ
マーKP341(信越化学工業(株)製)やアクリル酸
系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.
75,No.95(共栄社油脂化学工業(株)製)等を
挙げることができる。これらの界面活性剤の配合量は組
成物中のアルカリ可溶性樹脂100重量部当たり、通
常、2重量部以下、好ましくは1重量部以下である。こ
れらの界面活性剤は単独で添加してもよいし、また、い
くつかの組み合わせで添加することもできる。
は、ストリエーション等の塗布性を更に向上させるため
に、界面活性剤を配合する事ができる。界面活性剤とし
ては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポ
リオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチ
レンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエー
テル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポリ
オキシエチレンオクチルフェノールエーテル、ポリオキ
シエチレンノニルフェノールエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレン
・ポリオキシプロピレンブロックコポリマー類、ソルビ
タンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、ソ
ルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエー
ト、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステア
レート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエ
チレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレン
ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタ
ントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリ
ステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸
エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトップEF
301,EF303,EF352(新秋田化成(株)
製)、メガファックF171,F173(大日本インキ
(株)製)、フロラードFC430,431(住友スリ
ーエム(株)製)、アサヒガードAG710,サーフロ
ンS−382,SC101,SC102,SC103,
SC104,SC105,SC106(旭硝子(株)
製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリ
マーKP341(信越化学工業(株)製)やアクリル酸
系もしくはメタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.
75,No.95(共栄社油脂化学工業(株)製)等を
挙げることができる。これらの界面活性剤の配合量は組
成物中のアルカリ可溶性樹脂100重量部当たり、通
常、2重量部以下、好ましくは1重量部以下である。こ
れらの界面活性剤は単独で添加してもよいし、また、い
くつかの組み合わせで添加することもできる。
【0054】本発明のポジ型フォトレジスト組成物の現
像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭
酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウ
ム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミン、
n−プロピルアミン等の第一アミン類、ジエチルアミ
ン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類、トリエチ
ルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類、ジ
メチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等のア
ルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキ
シド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリン
等の第四級アンモニウム塩、ピロール、ピペリジン等の
環状アミン類、等のアルカリ類の水溶液を使用すること
ができる。更に、上記アルカリ類の水溶液にイソプロピ
ルアルコール等のアルコール類、ノニオン系界面活性剤
等の界面活性剤を適当量添加して使用することもでき
る。
像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭
酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウ
ム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミン、
n−プロピルアミン等の第一アミン類、ジエチルアミ
ン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類、トリエチ
ルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類、ジ
メチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等のア
ルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキ
シド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリン
等の第四級アンモニウム塩、ピロール、ピペリジン等の
環状アミン類、等のアルカリ類の水溶液を使用すること
ができる。更に、上記アルカリ類の水溶液にイソプロピ
ルアルコール等のアルコール類、ノニオン系界面活性剤
等の界面活性剤を適当量添加して使用することもでき
る。
【0055】本発明のポジ型フォトレジスト組成物に
は、必要に応じ、吸光剤、架橋剤、接着助剤を配合する
ことができる。吸光剤は、基板からのハレーションを防
止する目的や透明基板に塗布した際の視認性を高める目
的で、必要に応じて添加される。例えば、「工業用色素
の技術と市場」(CMC出版)や、染料便覧(有機合成
化学協会編)に機載の市販の吸光剤、例えば、C.I. Dis
perse Yellow 1, 3, 4,5, 7, 8, 13, 23, 31, 49, 50,
51, 54, 56, 60, 64, 66, 68, 79, 82, 88, 90,93, 10
2, 114及び124、C.I. Disperse Orange 1, 5, 13, 25,
29, 30, 31, 44,57, 72 及び73、C.I. Disperse Red 1,
5, 7, 13, 17, 19, 43, 50, 54, 58, 65,72, 73, 88,
117, 137, 143, 199及び210、C.I. Disperse Violet 4
3、C.I. Disperse Blue 96、C.I. Fluorescent Brighte
ning Agent 112, 135及び163、C.I.Solvent Yellow 14,
16, 33及び56、C.I. Solvent Orange 2及び45、C.I. S
olvent Red 1, 3, 8, 23, 24, 25, 27及び49、C.I. Pig
ment Green 10、C.I. Pigment Brown 2等を好適に用い
ることができる。吸光剤は通常、アルカリ可溶性樹脂1
00重量部に対し、100重量部以下、好ましくは50
重量部以下、更に好ましくは30重量部以下の割合で配
合される。
は、必要に応じ、吸光剤、架橋剤、接着助剤を配合する
ことができる。吸光剤は、基板からのハレーションを防
止する目的や透明基板に塗布した際の視認性を高める目
的で、必要に応じて添加される。例えば、「工業用色素
の技術と市場」(CMC出版)や、染料便覧(有機合成
化学協会編)に機載の市販の吸光剤、例えば、C.I. Dis
perse Yellow 1, 3, 4,5, 7, 8, 13, 23, 31, 49, 50,
51, 54, 56, 60, 64, 66, 68, 79, 82, 88, 90,93, 10
2, 114及び124、C.I. Disperse Orange 1, 5, 13, 25,
29, 30, 31, 44,57, 72 及び73、C.I. Disperse Red 1,
5, 7, 13, 17, 19, 43, 50, 54, 58, 65,72, 73, 88,
117, 137, 143, 199及び210、C.I. Disperse Violet 4
3、C.I. Disperse Blue 96、C.I. Fluorescent Brighte
ning Agent 112, 135及び163、C.I.Solvent Yellow 14,
16, 33及び56、C.I. Solvent Orange 2及び45、C.I. S
olvent Red 1, 3, 8, 23, 24, 25, 27及び49、C.I. Pig
ment Green 10、C.I. Pigment Brown 2等を好適に用い
ることができる。吸光剤は通常、アルカリ可溶性樹脂1
00重量部に対し、100重量部以下、好ましくは50
重量部以下、更に好ましくは30重量部以下の割合で配
合される。
【0056】架橋剤は、ポジ画像を形成するのに影響の
無い範囲で添加される。架橋剤の添加の目的は、主に、
感度調整、耐熱性の向上、耐ドライエッチング性向上等
である。架橋剤の例としては、メラミン、ベンゾグアナ
ミン、グリコールウリル等にホルムアルデヒドを作用さ
せた化合物、又はそのアルキル変性物や、エポキシ化合
物、アルデヒド類、アジド化合物、有機過酸化物、ヘキ
サメチレンテトラミン等を挙げることができる。これら
の架橋剤は、感光剤100重量部に対して、10重量部
未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合できる。架
橋剤の配合量が10重量部を超えると感度が低下し、ス
カム(現像残渣)が生じるようになり好ましくない。
無い範囲で添加される。架橋剤の添加の目的は、主に、
感度調整、耐熱性の向上、耐ドライエッチング性向上等
である。架橋剤の例としては、メラミン、ベンゾグアナ
ミン、グリコールウリル等にホルムアルデヒドを作用さ
せた化合物、又はそのアルキル変性物や、エポキシ化合
物、アルデヒド類、アジド化合物、有機過酸化物、ヘキ
サメチレンテトラミン等を挙げることができる。これら
の架橋剤は、感光剤100重量部に対して、10重量部
未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合できる。架
橋剤の配合量が10重量部を超えると感度が低下し、ス
カム(現像残渣)が生じるようになり好ましくない。
【0057】接着助剤は、主に、基板とレジストの密着
性を向上させ、特にエッチング工程においてレジストが
剥離しないようにするための目的で添加される。具体例
としては、トリメチルクロロシラン、ジメチルビニルク
ロロシラン、メチルジフェニルクロロシラン、クロロメ
チルジメチルクロロシラン等のクロロシラン類、トリメ
チルメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、メチ
ルジメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、フェニルトリエトキシシ
ラン等のアルコキシシラン類、ヘキサメチルジシラザ
ン、N,N′−ビス(トリメチルシリル)ウレア、ジメ
チルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリルイミダ
ゾール等のシラザン類、ビニルトリクロロシラン、γ−
クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピ
ルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン等のシラン類、ベンゾトリアゾール、ベ
ンゾイミダゾール、インダゾール、イミダゾール、2−
メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベンズ
チアゾール、2−メルカプトベンズオキサゾール、ウラ
ゾール、チオウラシル、メルカプトイミダゾール、メル
カプトピリミジン等の複素環状化合物や、1,1−ジメ
チルウレア、1,3−ジメチルウレア等の尿素、又はチ
オ尿素化合物を挙げることができる。これらの接着助剤
は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対し、通常10
重量部未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合され
る。
性を向上させ、特にエッチング工程においてレジストが
剥離しないようにするための目的で添加される。具体例
としては、トリメチルクロロシラン、ジメチルビニルク
ロロシラン、メチルジフェニルクロロシラン、クロロメ
チルジメチルクロロシラン等のクロロシラン類、トリメ
チルメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、メチ
ルジメトキシシラン、ジメチルビニルエトキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、フェニルトリエトキシシ
ラン等のアルコキシシラン類、ヘキサメチルジシラザ
ン、N,N′−ビス(トリメチルシリル)ウレア、ジメ
チルトリメチルシリルアミン、トリメチルシリルイミダ
ゾール等のシラザン類、ビニルトリクロロシラン、γ−
クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピ
ルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリ
メトキシシラン等のシラン類、ベンゾトリアゾール、ベ
ンゾイミダゾール、インダゾール、イミダゾール、2−
メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプトベンズ
チアゾール、2−メルカプトベンズオキサゾール、ウラ
ゾール、チオウラシル、メルカプトイミダゾール、メル
カプトピリミジン等の複素環状化合物や、1,1−ジメ
チルウレア、1,3−ジメチルウレア等の尿素、又はチ
オ尿素化合物を挙げることができる。これらの接着助剤
は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対し、通常10
重量部未満、好ましくは5重量部未満の割合で配合され
る。
【0058】上記ポジ型フォトレジスト組成物を精密集
積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリコ
ン/二酸化シリコン被覆、ガラス基板、ITO基板等の
透明基板等)上にスピンコート法、ロールコート法、フ
ローコート法、ディップコート法、スプレーコート法、
ドクターコート法等の適当な塗布方法により塗布後プリ
ペークして、所定のマスクを通して露光し、必要に応じ
て後加熱(PEB:Post Exposure Bake)を行い、現
像、リンス、乾燥することにより良好なレジストを得る
ことができる。
積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリコ
ン/二酸化シリコン被覆、ガラス基板、ITO基板等の
透明基板等)上にスピンコート法、ロールコート法、フ
ローコート法、ディップコート法、スプレーコート法、
ドクターコート法等の適当な塗布方法により塗布後プリ
ペークして、所定のマスクを通して露光し、必要に応じ
て後加熱(PEB:Post Exposure Bake)を行い、現
像、リンス、乾燥することにより良好なレジストを得る
ことができる。
【0059】
〔実施例〕 合成例(1) ノボラック樹脂Aの合成 m−クレゾール 70 g 2−メチル−5−イソプロピルフェノール 41.3g 上記成分と37%ホルマリン水溶液53g及びシュウ酸
0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂aは重量平均分子量42
50(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂a20gをメタノール60gに完全に溶解した
後、これに水30gを攪拌しながら徐々に加え、樹脂成
分を沈澱させた。上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂A
を得た。得られたノボラック樹脂Aは、重量平均分子量
10100(ポリスチレン換算)であり、分散度は3.
2であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含
量は各々、0%、2.6%、3.6%であり、分別再沈
操作により低分子量成分が56%除去されていた。
0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂aは重量平均分子量42
50(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂a20gをメタノール60gに完全に溶解した
後、これに水30gを攪拌しながら徐々に加え、樹脂成
分を沈澱させた。上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂A
を得た。得られたノボラック樹脂Aは、重量平均分子量
10100(ポリスチレン換算)であり、分散度は3.
2であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含
量は各々、0%、2.6%、3.6%であり、分別再沈
操作により低分子量成分が56%除去されていた。
【0060】 合成例(2) ノボラック樹脂Bの合成 m−クレゾール 70 g 2−メチル−5−イソプロピルフェノール 34.8g 2,3−キシレノール 6 g 上記成分と37%ホルマリン水溶液56g及びシュウ酸
0.16gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し16時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂bは重量平均分子量34
20(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂b 20gをアセトン60gに完全に溶解した
後、これにヘキサン60gを攪拌しながら徐々に加え、
2時間静置させ、上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂B
を得た。得られたノボラック樹脂Bは、重量平均分子量
9090(ポリスチレン換算)であり、分散度は2.9
であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量
は各々、0%、2.4%、2.4%であり、分別再沈操
作により低分子量成分が64%除去されていた。
0.16gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し16時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂bは重量平均分子量34
20(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂b 20gをアセトン60gに完全に溶解した
後、これにヘキサン60gを攪拌しながら徐々に加え、
2時間静置させ、上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂B
を得た。得られたノボラック樹脂Bは、重量平均分子量
9090(ポリスチレン換算)であり、分散度は2.9
であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量
は各々、0%、2.4%、2.4%であり、分別再沈操
作により低分子量成分が64%除去されていた。
【0061】合成例(3)〜(13) ノボラック樹脂
c〜mの合成 上記合成例(2)と同様にして表−1に記載のモノマー
を所定のモル%仕込み、ホルムアルデヒドと縮合するこ
とによりノボラック樹脂c〜mを得た。
c〜mの合成 上記合成例(2)と同様にして表−1に記載のモノマー
を所定のモル%仕込み、ホルムアルデヒドと縮合するこ
とによりノボラック樹脂c〜mを得た。
【0062】合成例(14)〜(24) ノボラック樹
脂C〜Mの合成 上記合成例(3)〜(13)で得られたノボラック樹脂
c〜mそれぞれ20gをアセトン80gに溶解した後、
これにヘキサン80gを攪拌しながら徐々に加え、2時
間静置させ、上層をデカンテーションにより除去し、沈
澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下で24
時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂C〜Mを
得た。得られた分別ノボラック樹脂C〜Mの低分子成分
除去率(%)、Mw、Mw/Mn、モノマー、ダイマ
ー、トリマー含量を表−2に示す。
脂C〜Mの合成 上記合成例(3)〜(13)で得られたノボラック樹脂
c〜mそれぞれ20gをアセトン80gに溶解した後、
これにヘキサン80gを攪拌しながら徐々に加え、2時
間静置させ、上層をデカンテーションにより除去し、沈
澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下で24
時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂C〜Mを
得た。得られた分別ノボラック樹脂C〜Mの低分子成分
除去率(%)、Mw、Mw/Mn、モノマー、ダイマ
ー、トリマー含量を表−2に示す。
【0063】〔比較例〕 合成例(25) ノボラック樹脂nの合成 m−クレゾール 43g p−クレゾール 57g 上記成分と37%ホルマリン水溶液49g及びシュウ酸
0.13gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し16時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に5mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を除去し
た。次いで溶融したアルカリ可溶性ノボラック樹脂を室
温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂nは重量
平均分子量7810(ポリスチレン換算)であり、分散
度は6.20であった。また、モノマー、ダイマー、ト
リマーの含量は各々、0.2%、13.1%、7.2%
であった。
0.13gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し16時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に5mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を除去し
た。次いで溶融したアルカリ可溶性ノボラック樹脂を室
温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂nは重量
平均分子量7810(ポリスチレン換算)であり、分散
度は6.20であった。また、モノマー、ダイマー、ト
リマーの含量は各々、0.2%、13.1%、7.2%
であった。
【0064】 合成例(26) ノボラック樹脂oの合成 m−クレゾール 50g p−クレゾール 25g 2,5−キシレノール 28g 上記成分と37%ホルマリン水溶液53g及びシュウ酸
0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂oは重量平均分子量48
20(ポリスチレン換算)であり、分散度は5.7であ
った。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量は各
々、0.1%、14.0%、6.9%であった。
0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂oは重量平均分子量48
20(ポリスチレン換算)であり、分散度は5.7であ
った。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量は各
々、0.1%、14.0%、6.9%であった。
【0065】合成例(27)、(28) ノボラック樹
脂p、qの合成 上記合成例(26)と同様にして表−3に記載のモノマ
ーを所定のモル%を仕込み、ホルムアルデヒドと、縮合
することによりノボラック樹脂p,qを得た。得られた
ノボラック樹脂p、qの重量平均分子量(ポリスチレン
換算)を表−3に示す。
脂p、qの合成 上記合成例(26)と同様にして表−3に記載のモノマ
ーを所定のモル%を仕込み、ホルムアルデヒドと、縮合
することによりノボラック樹脂p,qを得た。得られた
ノボラック樹脂p、qの重量平均分子量(ポリスチレン
換算)を表−3に示す。
【0066】 合成例(29) ノボラック樹脂Rの合成 m−クレゾール 60g p−クレゾール 40g 上記成分と37%ホルマリン水溶液56g及びシュウ酸
0.16gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し16時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂rは重量平均分子量43
10(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂r20gをアセトン60gに完全に溶解した
後、これにヘキサン60gを攪拌しながら徐々に加え、
2時間静置させ、上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂R
を得た。得られたノボラック樹脂Rは、重量平均分子量
8910(ポリスチレン換算)であり、分散度は3.4
であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量
は各々、0%、2.9%、3.8%であり、分別再沈操
作により低分子量成分が61%除去されていた。
0.16gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し16時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂rは重量平均分子量43
10(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂r20gをアセトン60gに完全に溶解した
後、これにヘキサン60gを攪拌しながら徐々に加え、
2時間静置させ、上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂R
を得た。得られたノボラック樹脂Rは、重量平均分子量
8910(ポリスチレン換算)であり、分散度は3.4
であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量
は各々、0%、2.9%、3.8%であり、分別再沈操
作により低分子量成分が61%除去されていた。
【0067】 合成例(30) ノボラック樹脂Sの合成 m−クレゾール 50g p−クレゾール 25g 2,5−キシレノール 28g 上記成分と37%ホルマリン水溶液53g及びシュウ酸
0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂sは重量平均分子量47
00(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂S 20gをメタノール60gに完全に溶解し
た後、これに水30gを攪拌しながら徐々に加え、樹脂
成分を沈澱させた。上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂S
を得た。得られたノボラック樹脂Sは、重量平均分子量
9920(ポリスチレン換算)であり、分散度は3.5
であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量
は各々、0%、2.5%、3.7%であり、分別再沈操
作により低分子量成分が54%除去されていた。
0.15gを3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら1
00℃まで昇温し14時間反応させた。その後温度を2
00℃まで上げ、徐々に1mmHgまで減圧して、水、未反
応のモノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を留去し
た。次いで溶融したノボラック樹脂を室温に戻して回収
した。得られたノボラック樹脂sは重量平均分子量47
00(ポリスチレン換算)であった。次いでこのノボラ
ック樹脂S 20gをメタノール60gに完全に溶解し
た後、これに水30gを攪拌しながら徐々に加え、樹脂
成分を沈澱させた。上層をデカンテーションにより除去
し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱し、減圧下
で24時間乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂S
を得た。得られたノボラック樹脂Sは、重量平均分子量
9920(ポリスチレン換算)であり、分散度は3.5
であった。また、モノマー、ダイマー、トリマーの含量
は各々、0%、2.5%、3.7%であり、分別再沈操
作により低分子量成分が54%除去されていた。
【0068】合成例(31)〜(35) ノボラック樹
脂T〜Xの合成 上記合成例(30)と同様にして表−3記載のモノマー
を所定のモル%仕込み、ホルムアルデヒドと縮合するこ
とにより、ノボラック樹脂t〜xを得た。ここで得られ
たノボラック樹脂t〜xそれぞれ20gをアセトン80
gに溶解した後、これにヘキサン80gを攪拌しながら
徐々に加え、2時間静置させ、上層をデカンテーション
により除去し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱
し、減圧下で24時間乾燥させてアルカリ可溶性樹脂T
〜Xを得た。得られた分別ノボラック樹脂の低分子成分
除去率(%)Mw、Mw/Mn、モノマー、ダイマー、
トリマー含量を表−4に示す。
脂T〜Xの合成 上記合成例(30)と同様にして表−3記載のモノマー
を所定のモル%仕込み、ホルムアルデヒドと縮合するこ
とにより、ノボラック樹脂t〜xを得た。ここで得られ
たノボラック樹脂t〜xそれぞれ20gをアセトン80
gに溶解した後、これにヘキサン80gを攪拌しながら
徐々に加え、2時間静置させ、上層をデカンテーション
により除去し、沈澱した樹脂分を回収して40℃に加熱
し、減圧下で24時間乾燥させてアルカリ可溶性樹脂T
〜Xを得た。得られた分別ノボラック樹脂の低分子成分
除去率(%)Mw、Mw/Mn、モノマー、ダイマー、
トリマー含量を表−4に示す。
【0069】
【表1】
【0070】
【表2】
【0071】
【表3】
【0072】
【表4】
【0073】合成例(36) 感光物Aの合成 2,3,4,4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン1
2.3g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホ
ニルクロリド40.3g及びアセトン300mlを3つ口
フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチル
アミン/アセトン=15.2g/50mlの混合液を徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1
%塩酸水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別
し、水洗・乾燥(40℃)を行い、2,3,4,4′−
テトラヒドロキシベンゾフェノンの1,2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸エステル(感光物A)3
9.7gを得た。
2.3g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホ
ニルクロリド40.3g及びアセトン300mlを3つ口
フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチル
アミン/アセトン=15.2g/50mlの混合液を徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1
%塩酸水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別
し、水洗・乾燥(40℃)を行い、2,3,4,4′−
テトラヒドロキシベンゾフェノンの1,2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸エステル(感光物A)3
9.7gを得た。
【0074】合成例(37) 感光物Bの合成 3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′−スピロ
ビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′−ヘキソ
ール10g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホニルクロリド32.0g及びアセトン500mlを3つ
口フラスコに仕込み均一に溶解した。次いでトリエチル
アミン/アセトン=13.7g/50mlの混合液を徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1
%塩酸水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別
し、水とメタノールで洗浄、乾燥(40℃)を行い、
3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′−スピロ
ビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′−ヘキソ
ールの1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸
エステル(感光物B)27.8gを回収した。生成物を
HPLCで分析したところ、ヘキサエステル体が83
%、残りがその他の低置換体からなる混合物であった。
ビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′−ヘキソ
ール10g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホニルクロリド32.0g及びアセトン500mlを3つ
口フラスコに仕込み均一に溶解した。次いでトリエチル
アミン/アセトン=13.7g/50mlの混合液を徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1
%塩酸水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別
し、水とメタノールで洗浄、乾燥(40℃)を行い、
3,3,3′,3′−テトラメチル−1,1′−スピロ
ビ−インダン−5,6,7,5′,6′,7′−ヘキソ
ールの1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸
エステル(感光物B)27.8gを回収した。生成物を
HPLCで分析したところ、ヘキサエステル体が83
%、残りがその他の低置換体からなる混合物であった。
【0075】合成例(38) 感光物Cの合成 α,α′,α″−トリス(4−ヒドロキシフェニル)−
1−エチル−4−イソプロピルベンゼン35.3g、
1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド53.7g、アセトン800mlを3つ口フラスコに仕
込み、均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン2
1.2gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させた。
反応混合液を1%塩酸水溶液3000ml中に注ぎ、生じ
た沈澱を濾別し、水洗、乾燥を行いα,α′,α″−ト
リス(4−ヒドロキシフェニル)−1−エチル−4−イ
ソプロピルベンゼンの1,2−ナフトキノンジアジド−
5−スルホン酸エステル(感光物C)75.0gを得
た。
1−エチル−4−イソプロピルベンゼン35.3g、
1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド53.7g、アセトン800mlを3つ口フラスコに仕
込み、均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン2
1.2gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させた。
反応混合液を1%塩酸水溶液3000ml中に注ぎ、生じ
た沈澱を濾別し、水洗、乾燥を行いα,α′,α″−ト
リス(4−ヒドロキシフェニル)−1−エチル−4−イ
ソプロピルベンゼンの1,2−ナフトキノンジアジド−
5−スルホン酸エステル(感光物C)75.0gを得
た。
【0076】合成例(39) 感光物Dの合成 2,6−ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルベン
ジル)−p−クレゾール37.6g、1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルホニルクロリド53.7g、及
びアセトン750mlを3つ口フラスコに仕込み、均一に
溶解した。次いで、トリエチルアミン21.2gを徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1
%塩酸水溶液2500ml中に注ぎ、生じた沈澱を濾別
し、水洗、乾燥(40℃)を行い、2,6−ビス(4−
ヒドロキシ−2,5−ジメチルベンジル)−p−クレゾ
ールの1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸
エステル(感光物D)72.1gを得た。
ジル)−p−クレゾール37.6g、1,2−ナフトキ
ノンジアジド−5−スルホニルクロリド53.7g、及
びアセトン750mlを3つ口フラスコに仕込み、均一に
溶解した。次いで、トリエチルアミン21.2gを徐々
に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1
%塩酸水溶液2500ml中に注ぎ、生じた沈澱を濾別
し、水洗、乾燥(40℃)を行い、2,6−ビス(4−
ヒドロキシ−2,5−ジメチルベンジル)−p−クレゾ
ールの1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸
エステル(感光物D)72.1gを得た。
【0077】合成例(40) 感光物Eの合成 4,4′,4″−トリヒドロキシ−3,5,3′,5′
−テトラメチルトリフェニルメタン39.3g、1,2
−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド5
3.7g、及びクロロホルム750mlを3つ口フラスコ
に仕込み、均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン
21.2gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させ
た。反応混合液を濃縮し、アセトンに再溶解した。得ら
れた混合液1%塩酸水溶液2500ml中に注ぎ、生じた
沈澱を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行い、4,
4′,4″−トリヒドロキシ−3,5,3′,5′−テ
トラメチルトリフェニルメタンの1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−スルホン酸エステル(感光物E)72.
1gを得た。
−テトラメチルトリフェニルメタン39.3g、1,2
−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド5
3.7g、及びクロロホルム750mlを3つ口フラスコ
に仕込み、均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン
21.2gを徐々に滴下し、25℃で3時間反応させ
た。反応混合液を濃縮し、アセトンに再溶解した。得ら
れた混合液1%塩酸水溶液2500ml中に注ぎ、生じた
沈澱を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行い、4,
4′,4″−トリヒドロキシ−3,5,3′,5′−テ
トラメチルトリフェニルメタンの1,2−ナフトキノン
ジアジド−5−スルホン酸エステル(感光物E)72.
1gを得た。
【0078】合成例(41) 感光物Fの合成 攪拌器、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4
つ口フラスコに3,3′−ジメチル−4,4′−ジヒド
ロキシビフェニル107.1gと25%TMAH水溶液
455.8g、蒸留水500mlを仕込み、40℃に加
熱、3,3′−ジメチル−4,4′−ジヒドロキシビフ
ェニルを溶解させた。混合溶液に37%ホルマリン水溶
液243.5gを30分かけて滴下し、40℃で12時
間加熱攪拌した。反応混合液に蒸留水500mlと塩酸1
25mlを加え、褐色固体を得た。得られた褐色固体をカ
ラムクロマトグラフィーにより精製し、白色粉末である
下記化合物(a)95.9gを得た。次に、攪拌器、環
流冷却管、温度計を取り付けた3つ口フラスコに上で得
られた化合物(a)82.2gとフェノール282.3
g及びメタノール1000mlを仕込み60℃に加熱、化
合物Cを溶解させた。完溶したところで、濃硫酸3gを
添加し、加熱還流させ、5時間攪拌した。反応混合液を
蒸留水10リットルに晶析し、濾過後得られた黄色固体
をカラムクロマトグラフィーで精製、白色粉体である下
記化合物(b)63.9を得た。化合物(b)39.8
g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルク
ロリド73.9g及びクロロホルム750mlを3つ口フ
ラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチルア
ミン30.6gを徐々に滴下し、25℃で4時間反応さ
せた。反応混合液を濃縮し、アセトンに再溶解した。得
られた混合液を1%塩酸水溶液3000ml中に注ぎ、生
じた沈澱を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行ない、感
光物F79.5gを得た。
つ口フラスコに3,3′−ジメチル−4,4′−ジヒド
ロキシビフェニル107.1gと25%TMAH水溶液
455.8g、蒸留水500mlを仕込み、40℃に加
熱、3,3′−ジメチル−4,4′−ジヒドロキシビフ
ェニルを溶解させた。混合溶液に37%ホルマリン水溶
液243.5gを30分かけて滴下し、40℃で12時
間加熱攪拌した。反応混合液に蒸留水500mlと塩酸1
25mlを加え、褐色固体を得た。得られた褐色固体をカ
ラムクロマトグラフィーにより精製し、白色粉末である
下記化合物(a)95.9gを得た。次に、攪拌器、環
流冷却管、温度計を取り付けた3つ口フラスコに上で得
られた化合物(a)82.2gとフェノール282.3
g及びメタノール1000mlを仕込み60℃に加熱、化
合物Cを溶解させた。完溶したところで、濃硫酸3gを
添加し、加熱還流させ、5時間攪拌した。反応混合液を
蒸留水10リットルに晶析し、濾過後得られた黄色固体
をカラムクロマトグラフィーで精製、白色粉体である下
記化合物(b)63.9を得た。化合物(b)39.8
g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルク
ロリド73.9g及びクロロホルム750mlを3つ口フ
ラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチルア
ミン30.6gを徐々に滴下し、25℃で4時間反応さ
せた。反応混合液を濃縮し、アセトンに再溶解した。得
られた混合液を1%塩酸水溶液3000ml中に注ぎ、生
じた沈澱を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行ない、感
光物F79.5gを得た。
【0079】
【化7】
【0080】合成例(42) 感光物Gの合成 攪拌器、還流冷却管、温度計、滴下装置を取り付けた4
つ口フラスコに2−シクロヘキシル−5−メチルフェノ
ール1141.7g、水酸化ナトリウム60.0g及び
蒸留水300gを仕込み、攪拌、2−シクロヘキシル−
5−メチルフェノールが溶解した時点で50℃に加熱す
る。この水溶液に、37%ホルマリン水溶液を3時間か
けて滴下し、そのまま6時間加熱攪拌した。反応終了
後、室温まで冷却し、濃塩酸で中和、析出した褐色固体
を濾取した。得られた固体を25%テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド水溶液に完全に溶かし、5%炭酸水
素アンモニウム水溶液で中和すると、薄茶色の粉末が析
出、それを濾取した。この粉末を蒸留水、希塩酸水、蒸
留水の順で洗浄し、下記化合物(c)409.2gを得
た。同様の反応装置に、得られた化合物(c)227.
3gとフェノール941.1g及びメタノール1000
mlを仕込み、40℃で加熱攪拌、化合物(c)とフェノ
ールを完溶させたところで、濃硫酸5gを10分かけて
滴下し、そのまま加熱還流下、6時間攪拌した。反応終
了後、混合液を蒸留水10リットルに晶析し、得られた
褐色固体をカラムクロマトグラフィーで精製、下記化合
物(d)150.0gを得た。化合物(d)57.6
g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルク
ロリド53.7g及びクロロホルム750mlを3つ口フ
ラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチルア
ミン22.3gを徐々に滴下し、25℃で4時間反応さ
せた。反応混合液を濃縮し、アセトンに再溶解した。得
られた混合液を1%塩酸水溶液3000ml中に注ぎ、生
じた沈澱を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行ない感光
物G80.1gを得た。
つ口フラスコに2−シクロヘキシル−5−メチルフェノ
ール1141.7g、水酸化ナトリウム60.0g及び
蒸留水300gを仕込み、攪拌、2−シクロヘキシル−
5−メチルフェノールが溶解した時点で50℃に加熱す
る。この水溶液に、37%ホルマリン水溶液を3時間か
けて滴下し、そのまま6時間加熱攪拌した。反応終了
後、室温まで冷却し、濃塩酸で中和、析出した褐色固体
を濾取した。得られた固体を25%テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド水溶液に完全に溶かし、5%炭酸水
素アンモニウム水溶液で中和すると、薄茶色の粉末が析
出、それを濾取した。この粉末を蒸留水、希塩酸水、蒸
留水の順で洗浄し、下記化合物(c)409.2gを得
た。同様の反応装置に、得られた化合物(c)227.
3gとフェノール941.1g及びメタノール1000
mlを仕込み、40℃で加熱攪拌、化合物(c)とフェノ
ールを完溶させたところで、濃硫酸5gを10分かけて
滴下し、そのまま加熱還流下、6時間攪拌した。反応終
了後、混合液を蒸留水10リットルに晶析し、得られた
褐色固体をカラムクロマトグラフィーで精製、下記化合
物(d)150.0gを得た。化合物(d)57.6
g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルク
ロリド53.7g及びクロロホルム750mlを3つ口フ
ラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチルア
ミン22.3gを徐々に滴下し、25℃で4時間反応さ
せた。反応混合液を濃縮し、アセトンに再溶解した。得
られた混合液を1%塩酸水溶液3000ml中に注ぎ、生
じた沈澱を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行ない感光
物G80.1gを得た。
【0081】
【化8】
【0082】合成例(43) 感光物Hの合成 特開平6−167805号記載の合成方法に従がって下
記化合物(e)を得た。化合物(e)14.0g、1,
2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド1
6.1g及びジオキサン150gの混合物にトリエチル
アミン7.3gを徐々に滴下し、滴下終了後30℃で6
時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液750ml
中に注ぎ、生じた沈澱を濾過し、水洗、乾燥(40℃)
を行い、感光物H21.1gを得た。
記化合物(e)を得た。化合物(e)14.0g、1,
2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド1
6.1g及びジオキサン150gの混合物にトリエチル
アミン7.3gを徐々に滴下し、滴下終了後30℃で6
時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液750ml
中に注ぎ、生じた沈澱を濾過し、水洗、乾燥(40℃)
を行い、感光物H21.1gを得た。
【0083】
【化9】
【0084】ポジ型フォトレジスト組成物の調製と評価 (A)上記合成例(1)、(2)および合成例(14)
〜(24)、並びに合成例(25)〜(35)で得られ
たノボラック樹脂A〜M、ノボラック樹脂n〜q、ノボ
ラック樹脂R〜X、 (B) 上記合成例(36)〜(43)で得られた感光
物A〜H、 (C)表−6に示すポリヒドロキシ化合物、及び表−5
に示す溶剤を、それぞれ表7、8に示す割合で混合し、
均一溶液とした後、孔径0.10μmのテフロン製ミク
ロフィルターを用いて濾過し、フォトレジスト組成物を
調製した。このフォトレジスト組成物をスピナーを用
い、回転数を変えてシリコンウエハー上に塗布し、真空
吸着式ホットプレートで90℃、60秒間乾燥して、膜
厚0.97μmのレジスト膜を得た。この膜に縮小投影
露光装置(ニコン社製縮小投影露光装置NSR−200
5i9C)を用い露光した後、110℃で60秒間PE
Bを行い、2.38%のテトラメチルアンモニウムヒド
ロキシド水溶液で1分間現像し、30秒間水洗して乾燥
した。このようにして得られたシリコンウエハーのレジ
ストパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、レジストを
評価した。結果を表9、10に示す。感度は、0.50
μmのマスクパターンを再現する露光量の逆数をもって
定義し、比較例1のレジストにおける感度に対する相対
値で示した。解像力は、0.50μmのマスクパターン
を再現する露光量における限界解像力を表す。耐熱性
は、レジストがパターン形成されたシリコンウエハーを
真空吸着式ホットプレート上で4分間ベークし、そのパ
ターンの変形が起こらない温度を示した。レジストの形
状は、0.50μmのレジストパターン断面におけるレ
ジスト壁面とシリコンウエハーの平面とのなす角(θ)
で表した。スカムは0.05μmのレジストパターンに
おける現像残渣の残り具合で示し残渣が観察されなかっ
たものを○、若干認められたものを△、かなり残ったも
のを×で表した。
〜(24)、並びに合成例(25)〜(35)で得られ
たノボラック樹脂A〜M、ノボラック樹脂n〜q、ノボ
ラック樹脂R〜X、 (B) 上記合成例(36)〜(43)で得られた感光
物A〜H、 (C)表−6に示すポリヒドロキシ化合物、及び表−5
に示す溶剤を、それぞれ表7、8に示す割合で混合し、
均一溶液とした後、孔径0.10μmのテフロン製ミク
ロフィルターを用いて濾過し、フォトレジスト組成物を
調製した。このフォトレジスト組成物をスピナーを用
い、回転数を変えてシリコンウエハー上に塗布し、真空
吸着式ホットプレートで90℃、60秒間乾燥して、膜
厚0.97μmのレジスト膜を得た。この膜に縮小投影
露光装置(ニコン社製縮小投影露光装置NSR−200
5i9C)を用い露光した後、110℃で60秒間PE
Bを行い、2.38%のテトラメチルアンモニウムヒド
ロキシド水溶液で1分間現像し、30秒間水洗して乾燥
した。このようにして得られたシリコンウエハーのレジ
ストパターンを走査型電子顕微鏡で観察し、レジストを
評価した。結果を表9、10に示す。感度は、0.50
μmのマスクパターンを再現する露光量の逆数をもって
定義し、比較例1のレジストにおける感度に対する相対
値で示した。解像力は、0.50μmのマスクパターン
を再現する露光量における限界解像力を表す。耐熱性
は、レジストがパターン形成されたシリコンウエハーを
真空吸着式ホットプレート上で4分間ベークし、そのパ
ターンの変形が起こらない温度を示した。レジストの形
状は、0.50μmのレジストパターン断面におけるレ
ジスト壁面とシリコンウエハーの平面とのなす角(θ)
で表した。スカムは0.05μmのレジストパターンに
おける現像残渣の残り具合で示し残渣が観察されなかっ
たものを○、若干認められたものを△、かなり残ったも
のを×で表した。
【0085】
【表5】
【0086】
【表6】
【0087】
【表7】
【0088】
【表8】
【0089】
【表9】
【0090】
【表10】
【0091】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば高
解像力、広いデフォーカスラチチュードを保ちつつ、し
かも感度のロスなしに、特に広い現像ラチチュード、高
い耐熱性を有するポジ型フォトレジスト組成物が得られ
る。
解像力、広いデフォーカスラチチュードを保ちつつ、し
かも感度のロスなしに、特に広い現像ラチチュード、高
い耐熱性を有するポジ型フォトレジスト組成物が得られ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 (A)下記(a)、(b)、(c)から
なるフェノール類と、アルデヒド類とを縮合させて得ら
れるアルカリ可溶性ノボラック樹脂であって、重量平均
分子量と数平均分子量の比が1.5〜4.0であるアル
カリ可溶性ノボラック樹脂 (a)m−クレゾール 50〜90モル% (b)下記一般式(I)で表されるフェノール類 5〜40モル% (c)下記一般式(II)、(III)より選ばれるフェノール類 0〜40モル% 【化1】 【化2】 【化3】 (B)1,2−ナフトキノンジアジド−5−(及び/又
は−4−)スルホン酸エステル感光剤(ノボラック樹脂
100重量部に対し30重量部を越え100重量部未
満) (C)1分子中の総炭素数が12〜50で、且つ、1分
子中に2〜8個のフェノール性水酸基を有する低分子化
合物(ノボラック樹脂100重量部に対し20重量部を
越え、60重量部未満) を含有することを特徴とするポジ型フォトレジスト組成
物。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7244703A JPH0990622A (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | ポジ型フォトレジスト組成物 |
US08/713,997 US5948587A (en) | 1995-09-22 | 1996-09-19 | Positive working photoresist composition |
EP96115173A EP0766139B1 (en) | 1995-09-22 | 1996-09-20 | Positive working photoresist composition |
DE69600202T DE69600202T2 (de) | 1995-09-22 | 1996-09-20 | Positiv arbeitende Fotoresistzusammensetzung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7244703A JPH0990622A (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | ポジ型フォトレジスト組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0990622A true JPH0990622A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17122678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7244703A Pending JPH0990622A (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | ポジ型フォトレジスト組成物 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5948587A (ja) |
EP (1) | EP0766139B1 (ja) |
JP (1) | JPH0990622A (ja) |
DE (1) | DE69600202T2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1296772C (zh) * | 2002-01-05 | 2007-01-24 | 三星电子株式会社 | 光致抗蚀剂组合物及用该组合物形成图案的方法 |
CN1310087C (zh) * | 2003-10-06 | 2007-04-11 | 东京应化工业株式会社 | 排出喷嘴式涂敷法用正型光致抗蚀剂组合物以及抗蚀图案的形成方法 |
CN100347610C (zh) * | 2003-05-19 | 2007-11-07 | 东京应化工业株式会社 | 正型抗蚀剂组合物以及抗蚀图案的形成方法 |
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JP4006815B2 (ja) * | 1997-06-11 | 2007-11-14 | Jsr株式会社 | 感放射線性樹脂組成物 |
EP0907108B1 (en) * | 1997-10-03 | 2004-01-28 | JSR Corporation | Radiation-sensitive resin composition |
WO1999063385A1 (en) * | 1998-06-04 | 1999-12-09 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Digital optical chemistry micromirror imager |
JP3931486B2 (ja) * | 1999-06-24 | 2007-06-13 | 住友化学株式会社 | ポジ型レジスト組成物 |
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KR20090109432A (ko) * | 2008-04-15 | 2009-10-20 | 삼성전자주식회사 | 감광성 수지, 상기 감광성 수지를 사용한 패턴의 형성 방법및 표시판의 제조 방법 |
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CN107844028B (zh) * | 2017-11-07 | 2021-04-30 | 潍坊星泰克微电子材料有限公司 | 一种光刻胶、制备方法及其光刻工艺 |
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JPH0656487B2 (ja) * | 1986-05-02 | 1994-07-27 | 東京応化工業株式会社 | ポジ型ホトレジスト用組成物 |
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JP2623778B2 (ja) * | 1988-10-18 | 1997-06-25 | 日本合成ゴム株式会社 | 感放射線性樹脂組成物 |
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-
1995
- 1995-09-22 JP JP7244703A patent/JPH0990622A/ja active Pending
-
1996
- 1996-09-19 US US08/713,997 patent/US5948587A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-09-20 EP EP96115173A patent/EP0766139B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-09-20 DE DE69600202T patent/DE69600202T2/de not_active Expired - Lifetime
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EP0766139A1 (en) | 1997-04-02 |
DE69600202D1 (de) | 1998-04-30 |
US5948587A (en) | 1999-09-07 |
EP0766139B1 (en) | 1998-03-25 |
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