JPH0263133A - Brightness-variable test circuit of light-emitting diode - Google Patents
Brightness-variable test circuit of light-emitting diodeInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
発生する障害の表示に発光ダイオードを用いた表示回路
に関し、
発光ダイオードの試験中においても同一発光ダイオード
により障害検出を可能とする表示を行うことを目的とし
、
一端に直流電圧を供給し、かつ他の一端には他端がアー
スした発光ダイオード駆動手段を接続し、該発光ダイオ
ード駆動手段に障害信号を入力してオンオフ制御をなし
、発光ダイオードを点燈さセものにおいて、発光ダイオ
ードと発光ダイオード駆動手段の接続点に一端を接続し
、かつ他の一端にはオンオフ制御するスイッチを介して
アースに接続される発光輝度可変手段を設け、準点燈状
態と点燈状態を表示するように構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a display circuit that uses light emitting diodes to display faults that occur, the present invention aims to provide a display that enables fault detection using the same light emitting diode even during testing of the light emitting diode. A light emitting diode driving means is connected to one end of which a DC voltage is supplied and the other end is grounded, and a fault signal is input to the light emitting diode driving means to perform on/off control and turn on the light emitting diode. In this case, a light emitting brightness variable means is provided, one end of which is connected to the connection point between the light emitting diode and the light emitting diode driving means, and the other end of which is connected to the ground via a switch for on/off control, and the light emitting brightness variable means is connected to the connection point between the light emitting diode and the light emitting diode driving means, and the other end is connected to the ground via a switch for on/off control. Configure it to display the on status.
本発明は、発生する障害の表示に発光ダイオードを用い
た表示回路に関する。The present invention relates to a display circuit that uses light emitting diodes to display a fault that has occurred.
データの伝送路の監視を行う監視システムでは、親局、
および子局設備の運用状況や障害状況の把握を常に行っ
ており、そのために発光ダイオード（以下ＬＥＤと称す
る）を障害表示用として広（用いている。この場合発光
ダイオードの動作試験中であっても、障害があったとき
にはＬＥＤに表示させて障害を検出し、システムの高信
幀化を図ることが必要である。In a monitoring system that monitors data transmission paths, a master station,
We constantly monitor the operation status and failure status of slave station equipment, and for this purpose, we widely use light-emitting diodes (hereinafter referred to as LEDs) to indicate failures. However, when a failure occurs, it is necessary to display it on an LED to detect the failure and to improve the reliability of the system.
第４図は従来の一実施例の回路を示す図である。 FIG. 4 is a diagram showing a circuit of a conventional embodiment.
図中４１〜４ｎはＬＥＤであり、Ｄ４１１．０４ｔｒ、
Ｄ４１１１ 、Ｄ４□７は保護用ダイオード、またＲ４
２３、Ｒ４１ａは抵抗である。なおＳａ＋＋は発光ダイ
オードの試験用スイッチである。In the figure, 41 to 4n are LEDs, D411.04tr,
D4111, D4□7 are protection diodes, and R4
23, R41a is a resistor. Note that Sa++ is a switch for testing a light emitting diode.
試験用スイッチ５４１１ は、一端をアースに接続し、
他端はダイオード０４１１のアノードとＤ４、のアノー
ドにそれぞれを接続されている。そしてＤ４□のカソー
ドは、Ｄ４□のカソードとＬＥＤ４１のアノードに接続
し、ＬＥＤ４１のカソードは抵抗Ｒ４，１経由して直流
電圧が供給され、かつＤ４□のアノードには障害信号１
が入力している。なお同様に、Ｄ ４１ ｒ％のカソー
ドは、Ｄ４１のカソードとＬＥＤ４ｎのアノードに接続
されており、ＬＥＤ４ｎのカソードは抵抗Ｒ４１ｎを経
由して直流電圧が供給され、かつＤ４□７のアノードに
は障害信号ｎが入力されている。このように、ＬＥＤ４
１〜ＬＥＤ４ｎは、試験用スイッチ３４１１および障害
信号１〜障害信号ｎに対してＮ個の並列接続の回路を構
成している。Test switch 5411 has one end connected to ground,
The other ends are connected to the anodes of diode 0411 and D4, respectively. The cathode of D4□ is connected to the cathode of D4□ and the anode of LED41, and the cathode of LED41 is supplied with DC voltage via resistor R4,1, and the anode of D4□ is connected to the fault signal 1.
is inputting. Similarly, the cathode of D 41 r% is connected to the cathode of D41 and the anode of LED4n, the cathode of LED4n is supplied with DC voltage via the resistor R41n, and the anode of D4□7 is connected to the anode of D4□7. Signal n is input. In this way, LED4
1 to LED4n constitute N circuits connected in parallel to the test switch 3411 and the fault signals 1 to n.
このように接続された回路において、スイッチＳ４□を
閉じると、Ｄ４１１１Ｌ Ｅ Ｄ４１、Ｒ４１１を経由
し試験電流Ｉ１１が流る。またＤ４Ｉｆｉ、ＬＥＤ４ｎ
ＳＲ４１ｎを経由しＬＥＤ４ｎの試験電流１１＋ｍが流
る。次に障害信号１〜ｎとして°Ｈ゛ レベルの信号が
入力すると、Ｄ４□〜Ｄ４！ｎはオンになり、Ｄ４□１
にはＬＥＤ４１を経由する電流ＩＩＩが流れ、・・・・
、Ｄ４１には、ＬＥＤ４ｎを経由する電流１！＋ｓが流
れる。In the circuit connected in this manner, when the switch S4□ is closed, the test current I11 flows through D4111L E D41 and R411. Also D4Ifi, LED4n
A test current 11+m of LED4n flows through SR41n. Next, when °H゛ level signals are input as fault signals 1 to n, D4□ to D4! n turns on, D4□1
Current III flows through LED 41, and...
, D41 has a current of 1! passing through LED4n. +s flows.
しかしながらスイッチＳ４□のオンの時、即ちＬＥＤ４
１〜ＬＥＤ４ｎの試験中のときに障害信号１〜ｎの入力
したときは、Ｌ Ｅ Ｄ４１〜４ｎにはＩＩｌ＋Ｉ２い
・・・、ＩＩｈ＋ＩｔＩ％の電流が流れずに抵抗Ｒ４
１１〜抵抗Ｒ，、、で決まる一定の電流１．・・・Ｉｌ
ａが流れる。このことは、ＬＥＤ４１〜４ｎは障害信号
１−ｎの入力とスイッチのオンの差を区別しない、即ち
ＬＥＤの試験中に障害信号が入力しても検出することは
出来ない。However, when switch S4□ is on, that is, LED4
When fault signals 1 to n are input during testing of LEDs 1 to 4n, the current of IIl+I2..., IIh+ItI% does not flow through the LEDs 41 to 4n, and the resistor R4
11~ Constant current determined by resistance R, , 1. ...Il
a flows. This means that the LEDs 41 to 4n do not distinguish between the input of the fault signals 1 to 4n and the ON state of the switch, ie, even if a fault signal is input during the test of the LEDs, it cannot be detected.
第５図は、従来の他の実施例の構成を示す図である０図
中、５１は加算器、５２はＬＥＤ、Ｓｓ＋はＬＥＤの試
験用スイッチ、Ｔｒ、、はトランジスタ、またＲ５Ｉと
Ｒｓｔは抵抗である。FIG. 5 is a diagram showing the configuration of another conventional embodiment. In FIG. 5, 51 is an adder, 52 is an LED, Ss+ is a switch for testing the LED, Tr is a transistor, and R5I and Rst are It is resistance.
試験用スイッチＳＳ＋の一端はマイナス直流電源に接続
されており、他の一端は障害信号とともに並列に加算器
５１に接続し、加算器５１の出力はＲ５１を介して、Ｔ
”ｒｓｔのベースに入力している。そして’ｒｒｓ＋の
エミッタはマイナス直流電源に接続されており、また該
トランジスタのコレクタはＬＥＤ５１のアノードに接続
し、またＬＨ，Ｄ５１のカソードはＲｓｔを経由してア
ースに接続されている。One end of the test switch SS+ is connected to a negative DC power supply, and the other end is connected in parallel with the fault signal to an adder 51, and the output of the adder 51 is connected to T via R51.
The emitter of 'rrs+ is connected to the negative DC power supply, the collector of this transistor is connected to the anode of LED51, and the cathodes of LH and D51 are connected to the base of 'rst. connected to ground.
このように接続された回路において、スイッチＳＳ＋を
閉じると、加算器５１はオンとなってＴ’ｒｓｔをオン
とし、ＬＥＤ５２にはＬＥＤ試験電流の電流１１が流れ
て発光ダイオードの試験状態となる。In the circuit connected in this way, when the switch SS+ is closed, the adder 51 is turned on and T'rst is turned on, and the LED test current 11 flows through the LED 52 to bring the light emitting diode into a test state.
次に障害信号が入力すると加算器５１はオンとなり、電
流■２がＬＥＤ５２に流れる。Next, when a fault signal is input, the adder 51 is turned on, and current 2 flows to the LED 52.
しかしながらＳＳ＋のオンと障害信号が同時に入力した
ときは、ＬＥＤ５２に１＋＋Ｉｚの電流が流れずに抵抗
Ｒ５ｔで決まる一定の電流１．が流れるために、ＬＥＤ
４１は障害信号の入力とＳＳ＋のオンの差を区別しない
、即ちＬＥＤの試験中に障害信号が入力しても検出する
ことは出来ない。However, when SS+ is turned on and a fault signal is input at the same time, the current of 1++Iz does not flow through the LED 52, but instead a constant current of 1.+Iz determined by the resistor R5t flows. LED to flow
41 does not distinguish between the input of a fault signal and the ON state of SS+, that is, it cannot be detected even if a fault signal is input during an LED test.
〔発明が解決しようとする課題〕
従って、発光ダイオードの試験中において障害信号を入
力した時には、発光ダイオードに流れる電流は常に試験
中に流れる電流と同一となり、障害の発生した時にＬＥ
Ｄにその光度の差を表示しない。[Problem to be Solved by the Invention] Therefore, when a fault signal is input during a test of a light emitting diode, the current flowing through the light emitting diode is always the same as the current flowing during the test, and when a fault occurs, the LE
D does not display the difference in luminosity.
本発明は、発光ダイオードの試験中においても同一発光
ダイオードにより障害検出を可能とする表示を行う事を
目的とする。An object of the present invention is to provide a display that enables fault detection using the same light emitting diode even during a test of the light emitting diode.
第１図は本発明の原理構成を示す図である。 FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of the present invention.
図中、ｌは発光ダイオード駆動手段であり、障害信号を
入力しオンオフ制御を行うもの、Ｓ、はオンオフ動作を
繰り返す試験用スイッチであり、また２は発光ダイオー
ドであり、直流電圧が供給されており、発光ダイオード
駆動手段およびスイッチＳ、がオンオフされる度に消煙
と点燈を繰り返すもの、なおＲＩは発光輝度可変手段で
あり、発光ダイオード２と発光ダイオード駆動手段１の
接続点に一端を接続し、かつ他の一端をオンオフ制御す
るスイッチＳ、を経由してアースに接続するように構成
する。In the figure, l is a light emitting diode driving means, which performs on/off control by inputting a fault signal, S is a test switch that repeats on/off operations, and 2 is a light emitting diode, which is supplied with DC voltage. RI is a light emitting brightness variable means that repeats extinguishing and lighting each time the light emitting diode driving means and the switch S are turned on and off. and the other end is connected to ground via a switch S for on/off control.
本発明では第１図に示すよう如く、ＬＥＤの試験を行う
ときにはスイッチＳ、をオンにしてＬＥＤ２に準点燈を
表示させ、更にＬＥＤの試験中の時に障害信号が入力す
るときはＬＥＤに点燈を表示するようにする。In the present invention, as shown in FIG. 1, when testing an LED, switch S is turned on to display a quasi-lit light on LED2, and when a fault signal is input during the LED test, the LED is turned on. Make the light appear.
従ってＬＥＤの点燈状態を準点燈と点燈を表示すること
により、ＬＥＤの試験中であっても障害の検出が可とな
る。Therefore, by displaying the lighting status of the LED as semi-lit or on, it is possible to detect a fault even during an LED test.
第２図は本発明の一実施例の回路を示す図である。図中
、２１はＬＥＤ駆動手段であり、保護用ダイオードＤ。FIG. 2 is a diagram showing a circuit according to an embodiment of the present invention. In the figure, 21 is an LED driving means and a protection diode D.
、抵抗Ｒｔｔ、抵抗ＲＺ３、およびトランジスタＴｒ、
、から構成されている。また２２はＬＥＤ、なおＳ□は
発光ダイオードの試験用スイッチ、ＲＺＩは抵抗、Ｉ）
ｔ＋は保護用ダイオードである。, resistor Rtt, resistor RZ3, and transistor Tr,
, is composed of. Also, 22 is an LED, S□ is a light emitting diode test switch, RZI is a resistor, and I)
t+ is a protection diode.
試験用スイッチｓｉ＋の一端はアースに接続され、他の
端子はＲｔ、を介してＤ□のカソードに接続し、Ｄ□の
アノードはＬＥＤ２２のカソードを接続し、ＬＥＤ２２
のアノードには直流電圧が供給されている。またＤ！＋
のアノードとＬＥＤ２２のカソードの接続点は、ＬＥＤ
駆動手段のＲｏを介してＴｒ、。One end of the test switch si+ is connected to ground, the other terminal is connected to the cathode of D□ via Rt, the anode of D□ is connected to the cathode of LED22,
DC voltage is supplied to the anode of. D again! +
The connection point between the anode of the LED 22 and the cathode of the LED
Tr via the driving means Ro.
のコレクタに接続され、該Ｔｒｚ＋のエミッタをアース
している。なおＴｒ□のベースには、Ｄｔ□、Ｒｏを介
して障害信号が入力されている。is connected to the collector of Trz+, and the emitter of Trz+ is grounded. Note that a fault signal is input to the base of Tr□ via Dt□ and Ro.
なお発光ダイオードを並列に多数接続して試験するとき
には、発光ダイオードの試験用スイッチＳＺ＋を共用と
し、ＲＺＩとＤ！ＩおよびＬＥＤ駆動手段２１をそれぞ
れ別に設けて、試験用スイッチＳｔＩの出力端に接続し
た構成とする。Note that when testing a large number of light emitting diodes connected in parallel, the test switch SZ+ of the light emitting diodes is shared, and RZI and D! I and the LED driving means 21 are provided separately and connected to the output end of the test switch StI.
このように接続された回路において、スイッチＳ！ｌを
閉じると、Ｒ２いＩ）ｚ＋を通ってＬＥＤ２２にＬＥＤ
試験電流である電流■１が流れて発光ダイオードは発光
する。次に障害信号としてのＨ′ レベルの信号が入力
するとり、をオンとし、Ｔｒ、。In a circuit connected in this way, switch S! When l is closed, the LED passes through R2 I) z+ to LED22.
Current ■1, which is a test current, flows and the light emitting diode emits light. Next, when an H' level signal as a fault signal is input, the Tr is turned on.
にベース電流が流れて、Ｔｒ２．はオンとなってコレク
タ電流■２が流れて発光する。この結果、ＬＥＤ２２に
はＩｌ＋Ｉｇの電流が流れる。このときＩＩと■２の間
に、ＩＩ＜Ｉｔの関係を保たせるようにする。A base current flows through Tr2. is turned on, collector current (2) flows, and light is emitted. As a result, a current of Il+Ig flows through the LED 22. At this time, the relationship II<It is maintained between II and 2.
このようにすることにより、ＬＥＤの試験時には電流■
１にてＬＥＤは点燈し、準点燈状態が得られる。更に障
害信号が加重される形で印加されるとＬＥＤ２１にはＩ
、＋１．の電流が流れるが、両電流にはＩＩ＜１ｇの関
係があるためＬＥＤの試験時の光度に比較して十分に明
るい光度をもつ点燈状態となる。従ってＬＥＤの試験中
に障害が発生したとしても、準点燈状態と点燈状態に光
度の差をつけて区別した確認ができる。なおこの場合の
抵抗Ｒ１，は光度の調整用抵抗であり、準点燈状態の光
度を設定するものである。By doing this, when testing the LED, the current
At 1, the LED lights up and a quasi-lit state is obtained. Furthermore, when a fault signal is applied in a weighted manner, the LED 21 has an I
, +1. However, since there is a relationship between the two currents such that II<1g, the LED is turned on with a luminous intensity that is sufficiently brighter than the luminous intensity at the time of the LED test. Therefore, even if a failure occurs during an LED test, it is possible to distinguish and confirm the semi-lit state and the lit state by making a difference in luminous intensity. Note that the resistor R1 in this case is a resistance for adjusting the luminous intensity, and is used to set the luminous intensity in the semi-lit state.
第３図は、本発明の他の実施例の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the configuration of another embodiment of the present invention.
図中、３１はＬＥＤ駆動手段であって保護ダイオードＤ
３Ｚから構成されており、該保護ダイオードＤ３ｔのア
ノードは外部から入力する障害信号をオンオフするスイ
ッチＳ。に接続されている。In the figure, 31 is an LED driving means and a protection diode D.
3Z, and the anode of the protection diode D3t is a switch S that turns on/off a fault signal input from the outside. It is connected to the.
また３２はＬＥＤであり、５ｅｌｌは発光ダイオードの
試験用スイッチ、′Ｒ１１とＲ３２は抵抗、Ｄ３＋は保
護用ダイオードである。Further, 32 is an LED, 5ell is a light emitting diode test switch, 'R11 and R32 are resistors, and D3+ is a protection diode.
試験用スイッチＳ３Ｉの一端はアースに接続されており
、他端はＲｆｆｌを介してＤ３１のアノードに接続し、
Ｄ３１のカソードはＬＥＤ３２のアノードに接続し、Ｌ
ＥＤ３２のカソードにはＲ３□を介して直流電圧が供給
されている。また、Ｉ）１１のカソードとＬＥＤ３２の
アノードの接続点からＬＥＤ駆動手段のり。を介してＳ
ＳＺの一端に接続され、またＳ。One end of the test switch S3I is connected to ground, the other end is connected to the anode of D31 via Rffl,
The cathode of D31 is connected to the anode of LED32, and the
A DC voltage is supplied to the cathode of the ED32 via R3□. Also, I) glue the LED driving means from the connection point between the cathode of 11 and the anode of LED 32; via S
Connected to one end of SZ and also S.
の他端は障害信号が入力したときにはアースされてり、
Ｉのアノードをアースする。The other end is grounded when a fault signal is input.
Ground the anode of I.
このように接続された回路において、スイッチＳ３１を
閉じると、即ちＬＥＤの試験を行うときには、ＬＥＤ駆
動手段３１を介してＬＥＤ３２にＬＥＤ試験電流の電流
Ｉ、が流れて発光ダイオードの試験状態となる。次にＳ
３ｇがオンにした時に障害信号が入力すると、０３ｇに
電流■、が流れる。この結果ＬＥＤ２２にはＩＩ＋１！
の電流が流れる。この■、と■８の間に、ｔ＋＜■ｚの
関係を保たせるようにする。In the circuit connected in this manner, when the switch S31 is closed, that is, when testing the LED, a current I of the LED test current flows through the LED 32 via the LED driving means 31, and the light emitting diode is brought into a test state. Next, S
If a fault signal is input when 3g is turned on, current ■ flows through 03g. As a result, LED22 shows II+1!
current flows. The relationship t+<■z is maintained between these ■ and ■8.
このようにして電流！鵬によりＬＥＤの準点燈状態を作
り、更に障害信号が加重される形で印加されるとＬＥＤ
２１は完全点燈状態が得られる。In this way the current! When a quasi-lit state is created for the LED by Peng, and a fault signal is further applied in a weighted manner, the LED
21, a completely lit state can be obtained.
以上説明したように本発明によれば、発光ダイオードの
点燈試験回路に発光輝度可変手段としての抵抗を設ける
ことにより、準点燈、完全点燈の二つの点燈状態をつく
り、発光ダイオードの試験中であっても障害の検出が可
能となり、データ転送監視表示システムの偉績性の向上
に貢献する。As explained above, according to the present invention, by providing a resistor as a light emission brightness variable means in the light-emitting diode lighting test circuit, two lighting states of semi-lighting and full lighting are created, and the light-emitting diode This makes it possible to detect failures even during testing, contributing to improving the performance of data transfer monitoring and display systems.
第１図は本発明の原理構成を示す図、
第２図は本発明の一実施例の回路を示す図、第３図は本
発明の他の実施例の回路を示す図、第４図は従来の一実
施例の回路を示す図、第５図は従来の他の実施例の回路
を示す図、を示す。
図において、
１は発光ダイオード駆動手段、
２は発光ダイオード、
ＳＩは発光ダイオードの試験用スイッチ、Ｒ１は発光輝
度可変手段としての抵抗、である。
μ明り厘理蹟賎°ｌ氷Ｔ口
第１図
第３図
本発明４−更特例の回路１４ｍ
第２図
従来の一突λ西の匣Ｖを９木Ｔ図
第４図Fig. 1 is a diagram showing the principle configuration of the present invention, Fig. 2 is a diagram showing a circuit of one embodiment of the invention, Fig. 3 is a diagram showing a circuit of another embodiment of the invention, and Fig. 4 is a diagram showing a circuit of another embodiment of the invention. FIG. 5 is a diagram showing a circuit of one conventional embodiment, and FIG. 5 is a diagram showing a circuit of another conventional embodiment. In the figure, 1 is a light emitting diode driving means, 2 is a light emitting diode, SI is a test switch for the light emitting diode, and R1 is a resistor as a light emitting brightness variable means. Figure 1 Figure 3 Figure 3 Circuit 14m of the present invention
Claims (1)
スした発光ダイオード駆動手段（１）を接続し、該発光
ダイオード駆動手段（１）に障害信号を入力してオンオ
フ制御をなし、発光ダイオード（２）を点燈させるもの
において、 発光ダイオード（２）と発光ダイオード駆動手段（１）
の接続点に一端を接続し、かつ他の一端にはオンオフ制
御するスイッチ（Ｓ＿１）を介してアースに接続される
発光輝度可変手段（Ｒ＿１）を設け、準点燈状態と点燈
状態を表示することを特徴とする発光ダイオードの輝度
可変試験回路。[Claims] A light emitting diode driving means (1) is connected to one end to which a DC voltage is supplied and the other end is grounded, and a fault signal is input to the light emitting diode driving means (1). The light-emitting diode (2) and the light-emitting diode driving means (1) are controlled to turn on and off and turn on the light-emitting diode (2).
A light emitting brightness variable means (R_1) is connected at one end to the connection point of and the other end is connected to ground via a switch (S_1) for on/off control, and displays the semi-lit state and the lit state. A light emitting diode brightness variable test circuit characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63216112A JPH0263133A (en) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | Brightness-variable test circuit of light-emitting diode |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63216112A JPH0263133A (en) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | Brightness-variable test circuit of light-emitting diode |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0263133A true JPH0263133A (en) | 1990-03-02 |
Family
ID=16683430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63216112A Pending JPH0263133A (en) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | Brightness-variable test circuit of light-emitting diode |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0263133A (en) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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