JPH01112455A - Memory card circuit - Google Patents

Memory card circuit

Info

Publication number
JPH01112455A
JPH01112455A JP62271415A JP27141587A JPH01112455A JP H01112455 A JPH01112455 A JP H01112455A JP 62271415 A JP62271415 A JP 62271415A JP 27141587 A JP27141587 A JP 27141587A JP H01112455 A JPH01112455 A JP H01112455A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
memory card
terminal
input
power source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62271415A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2588911B2 (en
Inventor
Masatoshi Kimura
正俊 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62271415A priority Critical patent/JP2588911B2/en
Publication of JPH01112455A publication Critical patent/JPH01112455A/en
Priority to US07/760,845 priority patent/US5245582A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2588911B2 publication Critical patent/JP2588911B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

PURPOSE:To guarantee the recording data of a semiconductor memory without fail by providing a power source voltage detecting circuit to cause unidirectional and bidirectional three state buffers to be a conductive condition when a power source input voltage is larger than a specified value and to cause the buffers to be an interrupted condition when it is smaller than the specified value. CONSTITUTION:When a power source input 14 achieves a normal voltage to be larger than the specified value, a power source voltage detecting circuit 21 generates a signal to contact a series transistor (TR) 20 and unidirectional and bidirectional three state buffers 18 and 19. When the input 14 is an abnormal voltage to be smaller than the specified value, or in case of a portable time, the circuit 21 generates a signal to turn off the TR 20 and the buffers 18 and 19. Since the contacting/turning-off is controlled by a card attaching and detaching signal input 23 from a terminal equipment, the storing data of the semiconductor memory are guaranteed when the card is attached and detached in the active condition of the terminal equipment and the memory card. When the input 14 is turned off and in case of the portable time, a power source current is prevented to be flowed to the terminal equipment.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、メモリカード回路に関し、特に、外部記憶
装置を半導体メモリに置換え、半導体メモリの持つ高速
性、低消費電力、無騒音の特長を生かした所持携帯形メ
モリカードの回路に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to memory card circuits, and in particular, to replacing an external storage device with a semiconductor memory and taking advantage of the characteristics of semiconductor memory such as high speed, low power consumption, and no noise. This paper relates to the circuitry of a portable memory card that can be utilized.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図に従来のメモリカードの回路を示す。この図にお
いて、1はスタチックRAM群であり、複数のスタチッ
クRAM2を有している。3はアドレスデコーダ回路で
あり、アドレスバス信号8゜チップイネーブル信号9に
よりスタチックRAM群1の中から各スタチックRAM
2を選択するためのスタチックRAM選択信号13を発
生する。
FIG. 4 shows a conventional memory card circuit. In this figure, 1 is a static RAM group, which has a plurality of static RAMs 2. 3 is an address decoder circuit which decodes each static RAM from static RAM group 1 by address bus signal 8 and chip enable signal 9.
A static RAM selection signal 13 for selecting RAM 2 is generated.

スタチックRAM群1には周知のチップイネーブル信号
(CB)9. ライトイネーブル信号m)10.アウト
プットイネーブル信号(OE)11゜及びデータバス信
号12が接続される。14は電源入力であり、シリーズ
ダイオード16を介し内部電源15となる。この電源人
力14が断(遮断)状態の時または所持携帯時は電池6
が動作し、シリーズ抵抗5.保護ダイオード4を介し内
部電源15として電流を供給する。また、7はコンデン
サ、17はプルアップ抵抗である。なお、信号ピ。
The static RAM group 1 has a well-known chip enable signal (CB)9. Write enable signal m)10. An output enable signal (OE) 11° and a data bus signal 12 are connected. 14 is a power supply input, which becomes an internal power supply 15 via a series diode 16. When this power source 14 is disconnected (cut off) or when you carry it with you, the battery 6
operates, series resistance 5. A current is supplied via the protection diode 4 as an internal power supply 15. Further, 7 is a capacitor, and 17 is a pull-up resistor. In addition, the signal pi.

τT、WE、σ1は“L”アクティブ(“L”で動作可
能)である。
τT, WE, and σ1 are “L” active (operable at “L”).

第4図に示す回路は、メモリガードの回路としては必要
最小限の回路構成であり、一般に良く知られているもの
である。スタチックRAM群1の各スタチックRAM2
を選択するために、アドレスデコーダ回路3が使用され
る。このアドレスデコーダ3の出力であるスタチックR
AM選択信号13は、各々対応するRAM2のチップセ
レクト信号に接続されている。すなわち、この従来のメ
モリカードの回路はRAM2の各端子信号を直接外部に
出している回路である。従って、本図に示す回路の動作
は基本的にRAM2の単体の動作に全く同一である。
The circuit shown in FIG. 4 has the minimum necessary circuit configuration as a memory guard circuit, and is generally well known. Each static RAM 2 of static RAM group 1
Address decoder circuit 3 is used to select. Static R which is the output of this address decoder 3
The AM selection signals 13 are connected to chip select signals of the corresponding RAMs 2, respectively. That is, the circuit of this conventional memory card is a circuit that outputs each terminal signal of the RAM 2 directly to the outside. Therefore, the operation of the circuit shown in this figure is basically exactly the same as that of the RAM 2 alone.

以下、この回路の動作について説明する。The operation of this circuit will be explained below.

まず、電源人力14が無い場合の動作を説明する。RA
M2.アドレスデコーダ3にはシリーズ抵抗5及び保護
ダイオード4を介し電池6の電圧が供給されている。ま
た、デコーダ3の出力であるRAM選択信号13は、チ
ップイネーブル信号9の抵抗17が内部電源15にプル
アップされているので全部“H”レベルにある。よって
、各RAM2の信号9は“H”レベルとなるので、RA
M2のデータバス信号12はフローティング状態となる
。従って、RAM2の記憶データは消滅せず記憶を維持
することができる。
First, the operation when there is no power source 14 will be explained. R.A.
M2. The voltage of a battery 6 is supplied to the address decoder 3 via a series resistor 5 and a protection diode 4. Further, the RAM selection signal 13 which is the output of the decoder 3 is all at the "H" level because the resistor 17 of the chip enable signal 9 is pulled up to the internal power supply 15. Therefore, since the signal 9 of each RAM2 becomes "H" level, the RA
The data bus signal 12 of M2 becomes a floating state. Therefore, the data stored in the RAM 2 does not disappear and can be maintained.

次に、端末機から電源人力14が供給された場合の動作
を説明する。電源人力14はシリーズダイオード16を
介し内部電源15に供給される。
Next, the operation when the power source 14 is supplied from the terminal will be described. Power source 14 is supplied to internal power source 15 via series diode 16 .

一般的に、この時の内部電源15の電圧は電池6よりも
大きく設定されるため、保護ダイオード4の作用により
内部電源15と電池6とは遮断される。よって、電池6
は電流が流れないため消耗は無い。
Generally, the voltage of the internal power source 15 at this time is set higher than that of the battery 6, so the internal power source 15 and the battery 6 are cut off by the action of the protection diode 4. Therefore, battery 6
Since no current flows through it, there is no wear and tear.

RAM2の読出しくリード)及び書込み(ライト)の動
作は単体のRAMの動作と同一であるので、詳細な説明
は省き、以下簡単に説明する。まず、端末機からアドレ
スバス信号8が入力され、デコーダ3.RAM2に印加
される。デコーダ3はアドレスバス信号8に対応するR
AM2のチップイネーブル信号(CE)9をデコードす
るが、実際に出力に出るのはデコーダ3のチップイネー
ブル信号9人力が”L”レベルの時である。今、8亥当
のRAM2がデコーダ3により選択され、そのRAM2
のチップイネーブル信号CEが”L″であるとする。R
AM2の記憶エリアにデータバス信号12からのデータ
を書込む(ライト)場合は、その信号CπのL”レベル
区間にライトイネーブル信号(WE)10を“L”レベ
ルにすることで可能である。この時、アウトプットイネ
ーブル信号(OE)11は“H”レベルとする。また、
RAM2の記憶エリアから読出す(リード)場合は、そ
の信号で百の“L”レベル区間に信号11を“Lルベル
にすれば可能である。この時、信号10は“H”レベル
とする。また、信号9を′H“レベルにすればRAM2
のデータバス(8号12はフローティング状態となり、
読出しくリード)も書込み(ライト)もできない状態と
なる。
Since the read and write operations of the RAM 2 are the same as those of a single RAM, a detailed explanation will be omitted and will be briefly explained below. First, the address bus signal 8 is input from the terminal, and the decoder 3. Applied to RAM2. The decoder 3 has an R corresponding to the address bus signal 8.
The chip enable signal (CE) 9 of AM2 is decoded, but it is actually output when the chip enable signal (CE) 9 of the decoder 3 is at "L" level. Now, the RAM 2 corresponding to 8000 is selected by the decoder 3, and the RAM 2
Assume that the chip enable signal CE of is "L". R
When data from the data bus signal 12 is written into the storage area of AM2, it is possible to do so by setting the write enable signal (WE) 10 to the "L" level during the L" level section of the signal Cπ. At this time, the output enable signal (OE) 11 is set to "H" level.
Reading from the storage area of the RAM 2 can be done by setting the signal 11 to the "L" level during the "L" level interval of 100. At this time, the signal 10 is set to the "H" level. Also, if signal 9 is set to 'H' level, RAM2
data bus (No. 8 and 12 is in a floating state,
It becomes impossible to read (read) or write (write).

これらの動作は単体のRAMの動作に同一であり、一般
的に周知である。
These operations are the same as those of a standalone RAM and are generally well known.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のメモリカード回路では、下記のような問題点があ
る。
Conventional memory card circuits have the following problems.

1)RAM2の単体の端子信号が外部に直接露出(出力
)しており、端末機の動作状B(電源人力14が供給状
B)でメモリカードを挿入する場合、引抜(場合に、メ
モリカードと端末機との結合手段箇所の信号レベル不安
定さ(挿入、引抜きの瞬間を従えた時、各信号は同一レ
ベルで変化せず短時間的に差異が発生する)により、R
AM2の記憶データを破壊する。
1) The single terminal signal of RAM2 is directly exposed (output) to the outside, and when the memory card is inserted in the operating state B of the terminal (power supply 14 is supplied state B), the memory card is The R
Destroy the data stored in AM2.

2)端末機とメモリカードが接続状態にある時に電源人
力14を断とした場合に、チップイネーブル信号9及び
ライトイネーブル信号10が端末機側で“L”レベルで
あると、シリーズ抵抗5゜保護ダイオード4.プルアン
プ抵抗17を介し電池6の電流が端末機側に流出し、電
池6は瞬時に放電、消耗する。
2) If the power supply 14 is cut off while the terminal and memory card are connected, and the chip enable signal 9 and write enable signal 10 are at "L" level on the terminal side, the series resistance 5° protection is applied. Diode 4. The current in the battery 6 flows out to the terminal side through the pull amplifier resistor 17, and the battery 6 is instantly discharged and consumed.

3)基本的にRAM2の各端子信号が外部に出力してい
るために、静電気耐量はRAM2の単体の静電気耐量に
依存する。
3) Since each terminal signal of RAM2 is basically output to the outside, the static electricity resistance depends on the static electricity resistance of RAM2 alone.

4)所持携帯時のメモリカードの入出力インピーダンス
はRAM2.アドレスデコーダ回路3の単体のインピー
ダンスに依存し、これが一般的には非常にハイインピー
ダンスのため、静電気耐量。
4) The input/output impedance of the memory card when carried is RAM2. The static electricity resistance depends on the impedance of the address decoder circuit 3, which is generally very high impedance.

電磁界耐量は低い値となる。The electromagnetic field resistance will be a low value.

5)RAM2が増加すると信号9〜12の各信号の入出
力容量が増加し、各信号の立上り、立下り時間が非常に
長くなり、RAM2の単体における規格値を満足しな(
なり電気的性能が非常に劣化する。
5) When RAM2 increases, the input/output capacity of each signal 9 to 12 increases, and the rise and fall times of each signal become extremely long, making it impossible to satisfy the standard value for RAM2 alone (
The electrical performance will deteriorate significantly.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、端末機とメモリカードが活線状態(通電状態
)で接続されている時においてメモリカードを直接引抜
いたり、直接挿入したりしてもRAM等半導体メモリの
記録データを確実に保証でき、またメモリカードの電池
電流が外部へ流出することは無く、静電気耐量、電磁界
耐量の高い高信頼性の大容量メモリカード回路を提供す
ることを目的とする。
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to directly remove or insert the memory card when the terminal and the memory card are connected in a live wire state (power-carrying state). We provide a highly reliable large-capacity memory card circuit with high static electricity resistance and electromagnetic field resistance, which can reliably guarantee the data recorded in semiconductor memory such as RAM even if The purpose is to

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係るメモリカード回路は、半導体メモリのア
ドレスバス、コントロールバス(チップイネーブル、ラ
イトイネーブル、アウトプットイネーブル信号)に単方
向3ステートバッファ回路を、データバスに双方向3ス
テートバッファ回路を設け、半導体メモリと端末機間を
インターフェイスし、電源入力と半導体メモリ間にシリ
ーズトランジスタを設け、端末機からのカード挿抜信号
によりその動作/非動作を選択する電源入力を検出する
電源電圧検出回路を設け、シリーズトランジスタ及び単
方向、双方向の3ステートバッファを電源入力電圧が規
定値以上の時は“接” (導通)規定値以下の時は“断
” (遮断)とし、全端子に設けたプルアンプ抵抗をプ
ルダウン抵抗を介して接地するようにしたものである。
The memory card circuit according to the present invention includes a unidirectional 3-state buffer circuit for the address bus and control bus (chip enable, write enable, and output enable signals) of a semiconductor memory, and a bidirectional 3-state buffer circuit for the data bus, A series transistor is provided between the semiconductor memory and the terminal device, a series transistor is provided between the power input and the semiconductor memory, and a power supply voltage detection circuit is provided to detect the power input to select operation/non-operation based on the card insertion/removal signal from the terminal device. Series transistors and unidirectional and bidirectional 3-state buffers are "connected" (conducting) when the power supply input voltage is above the specified value, and "disconnected" (blocking) when it is below the specified value, and pull amplifier resistors are installed at all terminals. is grounded via a pull-down resistor.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、 1)アドレスバス信号、信号σ7L、 TFT!、、 
「1゜及びデータバス信号の全信号に単方向もしくは双
方向の3ステートバッファを設けることにより、半導体
メモリの各端子信号が直接に外部へ露出することが防止
され、単品の半導体メモリと同一の電気的性能が達成で
きる。
In this invention, 1) address bus signal, signal σ7L, TFT! ,,
By providing unidirectional or bidirectional 3-state buffers for all 1° and data bus signals, each terminal signal of the semiconductor memory is prevented from being directly exposed to the outside, and the electrical performance can be achieved.

2)シリーズトランジスタにより、電源人力と内部電源
とが接/断される。
2) A series transistor connects/disconnects the power source and the internal power source.

3)電源電圧検出回路は、電源入力が規定値以上の正常
電圧に達した時はシリーズトランジスタ及び単方向、双
方向の3ステートバッファを接とし、規定値以下の異常
電圧の時もしくは所持携帯時にはシリーズトランジスタ
及び単方向、−双方向の3ステートバッファを断とする
信号を発生し、さらに端末機からのカード挿抜信号入力
によりその接/断がコントロールされることにより、端
末機とメモリカードの活線状態(通電状態)において、
挿入、引抜き時における半導体メモリの記憶データを保
証し、また、電源入力の断時及び所持携帯時において電
池電流が端末機へ流出することを防止する。
3) The power supply voltage detection circuit connects the series transistor and unidirectional/bidirectional 3-state buffer when the power supply input reaches a normal voltage above the specified value, and when the power supply input reaches an abnormal voltage below the specified value or when carried. Generates a signal that disconnects the series transistor and the unidirectional and -bidirectional 3-state buffers, and further controls the connection/disconnection by the card insertion/removal signal input from the terminal, thereby making it possible to activate the terminal and memory card. In the line state (energized state),
The data stored in the semiconductor memory is guaranteed when the device is inserted or removed, and the battery current is prevented from flowing out to the terminal device when the power supply is turned off or when the device is carried.

4)所持携帯時に、単方向の3ステートバッファの入力
側及び双方向の3ステートバッファの出力側等全端子を
プルアップ、プルダウン抵抗にて接地することにより、
全端子の入出力インピーダンスが下がる。
4) When carrying in your possession, by grounding all terminals such as the input side of the unidirectional 3-state buffer and the output side of the bidirectional 3-state buffer with pull-up and pull-down resistors,
The input/output impedance of all terminals decreases.

〔実施例〕〔Example〕

第り図は本発明の一実施例によるメモリカード回路を示
す。この図において、1ないし17は基本的に第4図に
同じである。信号8ないし11は単方向3ステートバッ
ファ18、信号12は双方向3ステートバッファ19を
介してRAM2に接続される。電源人力14と内部電源
15との間にシリーズトランジスタ20を介し、その接
/断は電源電圧検出回路21で行なう、この電源電圧検
出回路21はカード挿抜信号入力23で制御可能である
。カード挿抜信号入力23が“H”レベルの時検出回路
21は動作可能であり、この時に電源人力14が印加さ
れ、正常な電圧値に達するとトランジスタ20は動作し
、内部電源15に供給されると同時に、入出カバソファ
接/断信号24は“H”レベルとなり、アドレスデコー
ダ回路3゜単方向3ステートバッファ18を接とする。
FIG. 2 shows a memory card circuit according to one embodiment of the present invention. In this figure, 1 to 17 are basically the same as in FIG. Signals 8 to 11 are connected to the RAM 2 via a unidirectional 3-state buffer 18 and signal 12 via a bidirectional 3-state buffer 19. A series transistor 20 is interposed between the power supply 14 and the internal power supply 15, and connection/disconnection thereof is performed by a power supply voltage detection circuit 21. This power supply voltage detection circuit 21 can be controlled by a card insertion/removal signal input 23. When the card insertion/removal signal input 23 is at the "H" level, the detection circuit 21 is operational, and at this time, the power source 14 is applied, and when the voltage reaches a normal voltage value, the transistor 20 operates and is supplied to the internal power source 15. At the same time, the input/output cover sofa connection/disconnection signal 24 becomes "H" level, and the address decoder circuit 3° unidirectional 3-state buffer 18 is connected.

チップイネーブル信号9はバッファ18を介しバッファ
19の百端子(イネーブル端子)に接続されている。バ
ッファ19はビ端子が“L”レベルの時双方向の接続が
可能であり、“H”レベルの時は?ローティングになり
双方向の接続が不可となる。
The chip enable signal 9 is connected to a terminal (enable terminal) of a buffer 19 via a buffer 18. The buffer 19 can be connected in both directions when the Bi terminal is at the "L" level, and when it is at the "H" level? roating and bidirectional connection becomes impossible.

アウトプットイネーブル信号11はバッファ18を介し
バッファ19のDIR端子(方向制御端子)に接続され
る。バッファ19のDIR端子を“L”レベルにすると
RAM2の記憶データを読出し、“H″レベル時にRA
M2にデータを書込むことができる。22はプルダウン
抵抗であり、メモリカードを所持携帯時信号8〜12に
接続されているプルアップ抵抗17を接地する0図中、
信号Eは“H′″アクティブじH”で動作可能)である
The output enable signal 11 is connected to a DIR terminal (direction control terminal) of a buffer 19 via a buffer 18 . When the DIR terminal of the buffer 19 is set to "L" level, the data stored in RAM2 is read, and when the DIR terminal is set to "H" level, it is read from the RAM2.
Data can be written to M2. 22 is a pull-down resistor, which grounds the pull-up resistor 17 connected to signals 8 to 12 when carrying a memory card.
The signal E is "H'" (active and operable at "H").

次に、本実施例の動作を以下の3つの動作モードに分け
て説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained by dividing it into the following three operation modes.

動作モード1:端末機とメモリカードが接続状態にある
場合の動作 動作モード2:動作モード1からメモリカードを引抜く
場合の動作 動作モード3:端末機にメモリカードを挿入する場合の
動作 まず、動作モード1について以下説明する。
Operation mode 1: Operation when the terminal and memory card are connected. Operation mode 2: Operation when removing the memory card from operation mode 1. Operation mode 3: Operation when inserting the memory card into the terminal. Operation mode 1 will be explained below.

端末機からカード挿抜信号人力23を“H”レベルとし
て電源電圧検出回路21に印加する。検出回路21は“
H″レベル動作可能である。全端末機から電源人力14
が供給されて、その電圧が規定値に達すると検出回路2
1が動作しシリーズトランジスタ20のベース電流を引
込むため、このトランジスタ20は導通し内部電源15
に印加される。これと同時に入出力バッファ接/断信号
24が“H″レベルなりアドレスデコーダ回路3.単方
向3ステートバッファ18に加えられ、これらはイネー
ブル状態となる0通常RAM2をアクセスしない状態で
ある時は、チップイネーブル信号9=“H”レベル、ラ
イトイネーブル信号10=“H”レベル、アウトプット
イネーブル信号11=“H”レベルにある。従ってスタ
チックRAM選択信号13は全て“H”レベル、双方向
3ステートバッファ19の百端子も″H゛レベルにある
。この状態においてRAM2に端末機からデータバス信
号12を書込む場合は以下の通りとなる。
A card insertion/removal signal 23 from the terminal is set to "H" level and applied to the power supply voltage detection circuit 21. The detection circuit 21 is “
H'' level operation is possible. Power supply from all terminals is 14
is supplied, and when the voltage reaches the specified value, the detection circuit 2
1 operates and draws the base current of the series transistor 20, so this transistor 20 conducts and the internal power supply 15
is applied to At the same time, the input/output buffer connection/disconnection signal 24 becomes "H" level and the address decoder circuit 3. These are added to the unidirectional 3-state buffer 18 and are enabled. 0 When RAM 2 is not accessed normally, chip enable signal 9 = "H" level, write enable signal 10 = "H" level, output Enable signal 11 is at "H" level. Therefore, the static RAM selection signals 13 are all at "H" level, and the 100 terminal of the bidirectional 3-state buffer 19 is also at "H" level. In this state, when writing the data bus signal 12 from the terminal to the RAM 2, the following procedure is performed. becomes.

書込みアドレスをアドレスバス信号8に与え、チップイ
ネーブル信号9を“L″レベルすると、アドレスデコー
ダ3は該当メモリのスタチックRAM選択信号13を“
L”レベルにする。このRAM選択信号13の″L″レ
ベル区間にライトイネーブル信号lOを“L”レベルと
することにより、その時のデータバス信号12をRAM
2に書込むことができる。この時、アウトプットイネー
ブル信号11は“H”レベルとする。次にRAM2の記
憶データを端末機へ読出す場合は読出しアドレスを信号
8に与え、信号9を“L”レベルにすると、デコーダ3
は該当メモリの信号13を“L”レベルにする。この“
L”レベル区間に(111を@Lルベルとすることによ
り、そのアドレスに記憶されたデータを端末機に読出す
ことができる。バッファ19のDIR端子は双方向バッ
ファの方向を制御するもので、信号11が“H”レベル
の時は端末機からRAM2に向き、“L”レベルの時は
RAM2から端末機に向く。以上の動作は単品のRAM
に同一であり、−船釣に周知の動作である。本動作モー
ドでは、内部電源15の電圧は電池6の電圧より高いた
め、電池6は保護ダイオード4で遮断されこの電池6の
電流は流れない。
When the write address is given to the address bus signal 8 and the chip enable signal 9 is set to "L" level, the address decoder 3 sets the static RAM selection signal 13 of the corresponding memory to "
By setting the write enable signal lO to the "L" level during the "L" level section of the RAM selection signal 13, the data bus signal 12 at that time is set to the "L" level.
It is possible to write to 2. At this time, the output enable signal 11 is set to "H" level. Next, when reading the data stored in RAM 2 to the terminal, the read address is given to signal 8, and when signal 9 is set to "L" level, decoder 3
sets the signal 13 of the corresponding memory to "L" level. this"
By setting 111 to @L level in the L'' level interval, the data stored at that address can be read to the terminal.The DIR terminal of the buffer 19 controls the direction of the bidirectional buffer. When the signal 11 is at "H" level, it goes from the terminal to RAM2, and when it is at "L" level, it goes from RAM2 to the terminal.The above operation is performed by a single RAM.
- It is a well-known operation in boat fishing. In this operation mode, the voltage of the internal power supply 15 is higher than the voltage of the battery 6, so the battery 6 is cut off by the protection diode 4 and no current flows through the battery 6.

また、電源人力14の電圧が規定値より低下した場合は
検出回路21が作動し、直ちに入出力バソファ接/断信
号24はL”レベルになりトランジスタ20は遮断され
、デコーダ3はディセイブル(非動作)となり信号13
は全て“H”レベルとなる。またバッファ18は遮断さ
れ、従ってバッファ19の■端子はプルアップ抵抗17
でプルアップされるので“H″レベルなり、バッファ1
9はフローティングとなる。すなわち、内部電源15は
電池6により供給されておりRAM2の記憶データは保
持される。
Furthermore, when the voltage of the power source 14 drops below the specified value, the detection circuit 21 is activated, and the input/output bus connection/disconnection signal 24 immediately goes to L'' level, the transistor 20 is cut off, and the decoder 3 is disabled (inoperable). ) next to signal 13
are all at "H" level. Also, the buffer 18 is cut off, so the ■ terminal of the buffer 19 is connected to the pull-up resistor 17.
Since it is pulled up at “H” level, buffer 1
9 is floating. That is, the internal power supply 15 is supplied by the battery 6, and the data stored in the RAM 2 is retained.

次に、動作モード2について以下説明する。Next, operation mode 2 will be explained below.

端末機からメモリカードを引抜く場合に、端末機でカー
ド挿抜信号23を“L”レベルにした上で引抜(と、R
AM2の記憶データを破壊すること無く引抜くことがで
きる。信号23を“L”レベルにすると信号13は全て
“H″レベルバッファ18.19は遮断状態となるため
、端末機とRAM2の全端子信号は完全に遮断される。
When removing the memory card from the terminal, set the card insertion/removal signal 23 to "L" level on the terminal before removing (and R)
It is possible to extract the data stored in AM2 without destroying it. When the signal 23 is set to "L" level, all the signals 13 are "H" level and the buffers 18 and 19 are cut off, so that all terminal signals of the terminal and the RAM 2 are completely cut off.

従って、RAM2は端末機とメモリカードとの結合部(
通常コネクタ)において引抜く瞬間に発生するレベル変
動9時間差等ノイズの影響を受けないため、その記憶デ
ータは破壊することは無く、保証される。この後、メモ
リカードは電源人力14が無く、抵抗22がプルダウン
(“L”レベルを維持)であるため、人出力バッファ接
/断信号24が“L″レベルなり記憶データを保持する
。この時の内部電源15は電池6により供給される。
Therefore, RAM2 is the connection part between the terminal and the memory card (
Since it is not affected by noise such as the level fluctuation 9 time difference that occurs at the moment of pulling out in a normal connector), the stored data is guaranteed not to be destroyed. After this, since the memory card has no power source 14 and the resistor 22 is pulled down (maintains the "L" level), the human output buffer connection/disconnection signal 24 goes to the "L" level and stores the stored data. The internal power source 15 at this time is supplied by the battery 6.

端末機における信号23の発生手段として、第2図に示
すようなスイッチによる方法または第3図に示すような
端末機のcpUft+II?ilによる方法がある。こ
れらの図において、25はメモリカード、30.40は
バッファ、32はスイッチ、31はCPUの割込み信号
またはI10ボートへ接続される信号線、41はCPU
のソフトウェア制御からの信号線である。これらの方法
では、信号23をメモリカード25に供給すると同時に
端末機のCPUの割込み端子またはI10端子に加える
ことにより、メモリカードのアクセス状態(書込み。
As means for generating the signal 23 in the terminal, a method using a switch as shown in FIG. 2 or cpUft+II of the terminal as shown in FIG. 3 is used. There is a method using il. In these figures, 25 is a memory card, 30, 40 is a buffer, 32 is a switch, 31 is a signal line connected to a CPU interrupt signal or I10 port, and 41 is a CPU
This is the signal line from the software control. In these methods, the access status (write) of the memory card is determined by supplying the signal 23 to the memory card 25 and simultaneously applying it to the interrupt terminal or I10 terminal of the CPU of the terminal.

読出し)を中止することができるため、挿入、引抜き時
の誤書込み、誤読出しは完全に防止できる。
Since reading can be stopped, erroneous writing and reading during insertion and removal can be completely prevented.

最後に、動作モード3について以下説明する。Finally, operation mode 3 will be explained below.

・  動作モード2においてメモリカードを引抜いた状
態から、端末機へ挿入する場合の動作を以下に示す、端
末機とRAM2の全端子信号が完全に遮断されているの
で、端末機が活線状態(通電状態)である場合にメモリ
カードを挿入しても、記憶データは破壊されることは無
く保証される。以降の動作は、モード1.モード2に同
じであるので省略する。
- The operation when inserting the memory card into the terminal after being pulled out in operation mode 2 is shown below. All terminal signals of the terminal and RAM2 are completely cut off, so the terminal is in a live state ( Even if a memory card is inserted while the device is in a power-on state, the stored data is guaranteed not to be destroyed. The subsequent operation is in mode 1. This is the same as mode 2, so it will be omitted.

なお、上記実施例によれば半導体メモリはスタチックR
AMとしたが、電池、シリーズ抵抗、保護ダイオードを
除けば本発明は他の半導体メモリにも適用可能である。
Note that, according to the above embodiment, the semiconductor memory has a static R
Although AM is used, the present invention is also applicable to other semiconductor memories except for batteries, series resistors, and protection diodes.

例えばOTP (ワン・タイム・プログラマブル)RO
M、マスクROM、EEFROMにおいても上記実施例
と同様の効果を達成できる。
For example, OTP (one time programmable) RO
The same effects as in the above embodiments can be achieved also in M, mask ROM, and EEFROM.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、本発明に係るメモリカード回路によれば
、以下に示す効果がある。
As described above, the memory card circuit according to the present invention has the following effects.

1)半導体メモリの全端子信号を単方向、双方向バッフ
ァを介して端末機と接続したので、多数の半導体メモリ
を使用しても単品と同じ電気特性を達成できる。
1) All terminal signals of the semiconductor memory are connected to the terminal via unidirectional and bidirectional buffers, so even if a large number of semiconductor memories are used, the same electrical characteristics as a single product can be achieved.

2)電源入力と半導体メモリ間にシリーズトランジスタ
を設け、端末機からのカード挿抜信号により制御され電
源入力を検出する電源電圧検出回路を設け、前記シリー
ズトランジスタ及び上記バッファを電源入力が規定値以
上の時は接、規定値以下の時は断とするようにしたので
、端末機と半導体メモリを前記バッファで遮断でき、端
末機が活線状態にある場合にメモリカードの挿入、引抜
きを行っても記憶データが破壊することを防止でき、ま
た、電池電流が端末機に流出することを防止できる。さ
らに、半導体メモリのアクセス中であってもそのアクセ
スを中断することが可能となり誤書込み、誤読出しも防
止できる。
2) A series transistor is provided between the power supply input and the semiconductor memory, and a power supply voltage detection circuit that is controlled by the card insertion/removal signal from the terminal device and detects the power supply input is provided, and the series transistor and the buffer are connected to each other when the power supply input exceeds a specified value. Since it is connected when the voltage is below the specified value and disconnected when the voltage is below the specified value, the terminal device and the semiconductor memory can be disconnected by the buffer, and even if the memory card is inserted or removed while the terminal device is in a live state. Destruction of stored data can be prevented, and battery current can also be prevented from flowing into the terminal. Furthermore, even if the semiconductor memory is being accessed, it is possible to interrupt the access, thereby preventing erroneous writing and reading.

3)所持携帯時にメモリカードの入出力端子をプルアッ
プ、プルダウン抵抗で接地するので、入出力インピーダ
ンスは単体の半導体メモリに比較し格段に小さくなり、
静電気耐量、電磁界耐量は格段に向上する。
3) Since the input/output terminals of the memory card are grounded using pull-up and pull-down resistors when carried, the input/output impedance is significantly smaller than that of a single semiconductor memory.
Static electricity resistance and electromagnetic field resistance are significantly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例によるメモリカード回路を示
す図、第2図はスイッチによるカード挿抜信号入力を説
明するための図、第3図は端末機のcpuによるカード
挿抜信号入力を説明するための図、第4図は従来のメモ
リカード回路を示す図である。 1はスタチックRAM群、2はスタチックRAM、3は
アドレスデコーダ回路、4は保護ダイオード、5はシリ
ーズ抵抗、6は電池、7はコンデンサ、8はアドレスバ
ス信号、9はチップイネーブル信号、10はライトイネ
ーブル信号、11はアウトプットイネーブル信号、12
はデータバス信号、13はスタチックRAM選択信号、
14は電源入力、15は内部電源、16はシリーズダイ
オード、17はプルアップ抵抗、18は単方向3ステー
トバッファ回路、19は双方向3ステートバッファ回路
、20はシリーズトランジスタ、21は電源電圧検出回
路、22はプルダウン抵抗、23はカード挿抜信号入力
、24は入出力バンファ接/断信号。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a diagram showing a memory card circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining card insertion/removal signal input by a switch, and FIG. 3 is a diagram for explaining card insertion/removal signal input by a terminal CPU. FIG. 4 is a diagram showing a conventional memory card circuit. 1 is a static RAM group, 2 is a static RAM, 3 is an address decoder circuit, 4 is a protection diode, 5 is a series resistor, 6 is a battery, 7 is a capacitor, 8 is an address bus signal, 9 is a chip enable signal, 10 is a write enable signal, 11 is an output enable signal, 12
is a data bus signal, 13 is a static RAM selection signal,
14 is a power supply input, 15 is an internal power supply, 16 is a series diode, 17 is a pull-up resistor, 18 is a unidirectional 3-state buffer circuit, 19 is a bidirectional 3-state buffer circuit, 20 is a series transistor, 21 is a power supply voltage detection circuit , 22 is a pull-down resistor, 23 is a card insertion/removal signal input, and 24 is an input/output bumper connection/disconnection signal. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)所持携帯形のメモリカードを有するメモリカード
回路において、 半導体メモリと端末機間をインターフェイスするための
、該半導体メモリのアドレスバス、コントロールバスに
接続された単方向3ステートバッファ回路及びデータバ
スに接続された双方向3ステートバッファ回路と、 上記メモリカードの電源入力と上記半導体メモリ間に設
けられたシリーズトランジスタと、上記端末機からのカ
ード挿抜信号によりその動作、非動作状態が選択され、
上記メモリカードの電源入力を検出して上記シリーズト
ランジスタ、上記単方向3ステートバッファ及び双方向
3ステートバッファを該電源入力電圧が規定値以上の時
は導通状態、該規定値以下の時は遮断状態とする電源電
圧検出回路と、 上記メモリカードの全端子信号に設けられたプルアップ
抵抗及びこれを接地するためのプルダウン抵抗とを備え
たことを特徴とするメモリカード回路。
(1) In a memory card circuit having a portable memory card, a unidirectional three-state buffer circuit and a data bus connected to the address bus and control bus of the semiconductor memory to interface between the semiconductor memory and the terminal device. A bidirectional 3-state buffer circuit connected to the memory card, a series transistor provided between the power input of the memory card and the semiconductor memory, and a card insertion/removal signal from the terminal device to select its operation or non-operation state;
The power input of the memory card is detected, and the series transistor, the unidirectional 3-state buffer, and the bidirectional 3-state buffer are turned on when the power input voltage is above a specified value, and cut off when it is below the specified value. A memory card circuit comprising: a power supply voltage detection circuit; a pull-up resistor provided to all terminal signals of the memory card; and a pull-down resistor for grounding the pull-up resistor.
JP62271415A 1987-10-27 1987-10-27 Memory card circuit Expired - Fee Related JP2588911B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62271415A JP2588911B2 (en) 1987-10-27 1987-10-27 Memory card circuit
US07/760,845 US5245582A (en) 1987-10-27 1991-09-17 Memory card circuit with power-down control of access buffer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62271415A JP2588911B2 (en) 1987-10-27 1987-10-27 Memory card circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01112455A true JPH01112455A (en) 1989-05-01
JP2588911B2 JP2588911B2 (en) 1997-03-12

Family

ID=17499725

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62271415A Expired - Fee Related JP2588911B2 (en) 1987-10-27 1987-10-27 Memory card circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2588911B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03163641A (en) * 1989-11-21 1991-07-15 Mitsubishi Electric Corp Information card
JPH0689377A (en) * 1992-09-07 1994-03-29 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor storage device
US5625593A (en) * 1990-03-28 1997-04-29 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Memory card circuit with separate buffer chips

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5935918U (en) * 1983-06-23 1984-03-06 京セラ株式会社 electric shutter circuit
JPS5990277A (en) * 1982-11-12 1984-05-24 Toshiba Corp Cassette type storage device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5990277A (en) * 1982-11-12 1984-05-24 Toshiba Corp Cassette type storage device
JPS5935918U (en) * 1983-06-23 1984-03-06 京セラ株式会社 electric shutter circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03163641A (en) * 1989-11-21 1991-07-15 Mitsubishi Electric Corp Information card
US5625593A (en) * 1990-03-28 1997-04-29 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Memory card circuit with separate buffer chips
JPH0689377A (en) * 1992-09-07 1994-03-29 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor storage device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2588911B2 (en) 1997-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5016223A (en) Memory card circuit
US4587640A (en) Cassette type semiconductor memory device
US5245582A (en) Memory card circuit with power-down control of access buffer
JPS6128319Y2 (en)
US4607351A (en) Cartridge memory protection
US5625593A (en) Memory card circuit with separate buffer chips
JPS6345689A (en) Ic card reader/writer
JPH01112455A (en) Memory card circuit
JPH01112456A (en) Memory card circuit
KR0168529B1 (en) Power backup circuit for memory of exchanger
JP3896698B2 (en) Connection state detection circuit and IC chip built-in medium provided with the connection state detection circuit
US5309396A (en) Input buffer circuit, input/output buffer circuit and portable semiconductor memory device with back-up power
JPS63240615A (en) Interface circuit
JPH01116718A (en) Memory card circuit
JPS5990276A (en) Data protection system
JPS5990279A (en) Interface circuit
JPH01116719A (en) Memory card circuit
JPH01116717A (en) Memory card circuit
JP2900551B2 (en) Portable semiconductor storage device
JPH0514285B2 (en)
JP2535546B2 (en) Memory card
JPS5990280A (en) Interface circuit
JPS5990278A (en) Cassette type storage device
JPH03266014A (en) Memory card
JP2655766B2 (en) Information card

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees