JP7135081B2 - 装置および方法 - Google Patents
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Description
図1を参照して実施形態についての詳細な説明を行う前に、一般的な説明を行う。
(1)
物体に照射するための面状光を発するように構成された発光部と、
上記物体により反射された光のタイムオブフライト検出に基づいて上記物体の第1の位置情報を推定し、
上記物体の第2の位置情報を決定するために上記物体により反射された光を検出するように構成された検出源と
を含む装置であって、
上記物体の第2の位置情報は三角測量に基づいて決定され、
上記三角測量は推定された上記第1の位置情報に基づく
装置。
(2)
(1)に記載の装置であって、
上記第1の位置情報はタイムオブフライトセンサと上記物体の距離を表す
装置。
(3)
(1)または(2)に記載の装置であって、
上記発光部はさらに所定の方向に上記面状光を発するように構成される
装置。
(4)
(1)から(3)のいずれかに記載の装置であって、
上記面状光は平面において複数の光線を有する
装置。
(5)
(1)から(4)のいずれかに記載の装置であって、
上記発光部はさらに複数の面状光を発するように構成される
装置。
(6)
(1)から(5)のいずれかに記載の装置であって、
少なくとも2つの面状光が2つの異なる方向に発せられる
装置。
(7)
(1)から(6)のいずれかに記載の装置であって、
上記複数の面状光がランダムな時間周期で発せられる
装置。
(8)
(1)から(7)のいずれかに記載の装置であって、
上記物体によって反射された光の検出に基づいて、上記物体の形状を決定するように構成された回路をさらに含む
装置。
(9)
(1)から(8)のいずれかに記載の装置であって、
上記検出源はイメージセンサとタイムオブフライトセンサを含む
装置。
(10)
(1)から(9)のいずれかに記載の装置であって、
上記検出源はCMOS(complementary metal-oxide-semiconductor)センサに基づく
装置。
(11)
物体に照射するための面状光を発し、
上記物体の第1の位置情報を推定し、
上記物体の第2の位置情報を決定するために上記物体により反射された光を検出する
ことを含む方法であって、
上記物体の第2の位置情報は三角測量に基づいて決定され、
上記三角測量は推定された上記第1の位置情報に基づく
方法。
(12)
(11)に記載の方法であって、
上記第1の位置情報はタイムオブフライトセンサと上記物体の距離を表す
方法。
(13)
(11)または(12)に記載の方法であって、
所定の方向に上記面状光を発することをさらに含む
方法。
(14)
(11)から(13)のいずれかに記載の方法であって、
平面において複数の光線を有することをさらに含む
方法。
(15)
(11)から(14)のいずれかに記載の方法であって、
複数の面状光を発することをさらに含む
方法。
(16)
(11)から(15)のいずれかに記載の方法であって、
少なくとも2つの面状光が2つの異なる方向に発せられる
方法。
(17)
(11)から(16)のいずれかに記載の方法であって、
上記複数の面状光がランダムな時間周期で発せられる
方法。
(18)
(11)から(17)のいずれかに記載の方法であって、
上記物体によって反射された光の検出に基づいて、上記物体の形状を決定することをさらに含む
方法。
(19)
(11)から(18)のいずれかに記載の方法であって、
検出源はイメージセンサとタイムオブフライトセンサを含む
方法。
(20)
(11)から(19)のいずれかに記載の方法であって、
検出源はCMOS(complementary metal-oxide-semiconductor)センサに基づく
方法。
(21)
コンピュータ上で実行される際に、(11)から(20)のいずれかに記載の方法をコンピュータに行わせるプログラムコードを含むコンピュータプログラム。
(22)
プロセッサにより実行される際に、(11)から(20)のいずれかに記載の方法を行わせるコンピュータプログラム製品を内部に格納する、非一過性のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
Claims (16)
- 物体に面状光を照射するように構成された発光部と、
前記物体により反射された光のタイムオブフライト検出に基づいて前記物体までの距離を第1の位置情報として推定する第1の検出器と、
前記物体により反射された前記光を検出することによって得た前記発光部と前記物体の照射部分と第2の検出器自身からなる三角形の3つの角度と、前記第1の位置情報を用いて三角測量演算により前記物体の第2の位置情報を決定する第2の検出器と
を具備する装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記面状光は平面において複数の光線を有する
装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記発光部はさらに複数の面状光を発するように構成される
装置。 - 請求項3に記載の装置であって、
少なくとも2つの面状光が2つの異なる方向に発せられる
装置。 - 請求項3に記載の装置であって、
前記複数の面状光がランダムな時間周期で発せられる
装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記物体によって反射された光の検出に基づいて、前記物体の形状を決定するように構成された回路をさらに含む
装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記第2の検出器はイメージセンサを含む
装置。 - 請求項1に記載の装置であって、
前記第2の検出器はCMOS(complementary metal-oxide-semiconductor)センサである
装置。 - 発光部より物体に面状光を照射し、
第1の検出器により前記物体により反射された光のタイムオブフライト検出に基づいて前記物体までの距離を第1の位置情報として推定し、
第2の検出器により前記物体により反射された前記光を検出することによって得た前記発光部と前記物体の照射部分と前記第2の検出器自身からなる三角形の3つの角度と、前記第1の位置情報を用いて三角測量演算により前記物体の第2の位置情報を決定する、
方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
平面において複数の光線を有することをさらに含む
方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
複数の面状光を発することをさらに含む
方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
少なくとも2つの面状光が2つの異なる方向に発せられる
方法。 - 請求項11に記載の方法であって、
前記複数の面状光がランダムな時間周期で発せられる
方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
前記物体によって反射された光の検出に基づいて、前記物体の形状を決定することをさらに含む
方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
前記第2の検出器はイメージセンサを含む
方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
第2の検出器はCMOS(complementary metal-oxide-semiconductor)センサである
方法。
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