JP5343831B2 - 発光装置 - Google Patents

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Description

本発明は、表示装置、照明器具、ディスプレイ、液晶ディスプレイのバックライト光源などに利用可能な発光装置に関し、特に、半導体発光素子チップが表面に配線を有する実装基板に実装されてなる発光装置に関する。
従来、LEDやLDのような半導体発光素子チップからの光取り出し効率を高めるために、半導体発光素子チップが実装された実装基板上に、レンズとして機能する透光性封止部材を一体成形した発光装置が創案されている。このような発光装置においては、更なる光取り出しの高効率化が検討されている。
たとえば、特許文献1では、絶縁性樹脂やセラミックからなる基板にCu配線パターンが配置された実装基板と、Cu配線パターン上に搭載されたLEDチップと、Cu配線パターンとLEDチップとを覆う透光性樹脂と、を有する発光装置において、Cu配線パターンとLEDチップの間にAgメッキを施し、さらに、露出した基板の上面に白色または銀色の樹脂を塗布することが開示されている。これにより、発光装置の光の取り出し効率を向上させている。
特開2007−201420号公報
しかしながら、特許文献1に開示された発光装置は、銀メッキや白色または銀色の塗装によりLEDチップから実装基板へ照射される様々な入射角の光を高い反射率で反射できるものの、LEDチップからの光を完全に反射することはできない。また、上記のような銀メッキや白色または銀色の塗装による反射膜は、十分な反射を得るためには比較的膜厚の厚い塗膜とする必要があり高精度な製品を作製するのが困難であるほか、不要な散乱を伴うことが多いため光取り出し効率を低下させる場合がある。
また、上記の発光装置において、LEDチップを覆う透光性封止部材が硫黄ガスを透過する材料にて構成されている場合、高温高湿下で使用すると、銀メッキが経時的に劣化し、反射機能が大きく低下してしまう。
そこで本発明は、信頼性が高く、高出力に発光することが可能な発光装置を提供することを目的とする。
以上の目的を達成するため、本発明の発光装置は、基体の上面に配線パターンが配置された実装基板と、前記配線パターンの上面に部分的に配置され金属材料からなる第1の層と屈折率の異なる誘電体膜が積層された誘電体多層反射膜からなり前記第1の層の上面と側面を被覆する第2の層とを有する光反射層と、前記光反射層の少なくとも一部を覆うように固定された発光素子チップと、前記光反射層と前記発光素子チップを封止する透光性封止部材と、を有することを特徴とする。
さらに、前記第2の層は、前記配線パターンの間から露出した前記基体の上面を被覆していることが好ましい。
さらに、前記第1の層は、前記配線パターンの間から露出した前記基体の上面と前記第2の層の間に、前記配線パターンと離間して配置されていることが好ましい。
さらに、前記光反射層は、前記第2の層の上面および側面を被覆する第3の層を有し、前記第3の層は、前記透光性封止部材よりも屈折率が低い材料からなり前記発光素子チップからの光を全反射することが可能な膜厚を有していることが好ましい。
また、前記第3の層は、厚みが300nm以上の低屈折率誘電体薄膜からなることが好ましい。
本発明により、発光素子チップからの光が密度高く照射される箇所である実装基板の上面において、発光素子チップからの光の吸収を最小限に抑えることができ、光の取り出し効率の高い発光装置を実現することができる。
図1Aは、本発明に係る発光装置の1つの実施形態を示す模式的平面図である。 図1Bは、図1Aに係る発光装置のA−A´断面における模式的断面図である。 図1Cは、図1Bの点線円領域の模式的拡大図である。 図2は、本発明に係る発光装置の1つの実施形態の一部を示す模式的平面図である。 図3は、本発明に係る発光装置の1つの実施形態の一部を示す模式的平面図である。 図4は、本発明に係る発光装置の1つの実施形態の一部を示す模式的平面図である。
本発明を実施するための最良の形態を、以下に図面を参照しながら説明する。ただし、以下に示す形態は、本発明の技術思想を具体化するための発光装置を例示するものであって、以下に限定するものではない。
また、本明細書は、特許請求の範囲に示される部材を、実施の形態の部材に特定するものでは決してない。特に、実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、特定的な記載がない限りは、本発明の範囲をそれのみに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。尚、各図面が示す部材の大きさや位置関係等は、説明を明確にするため誇張していることがある。さらに以下の説明において、同一の名称、符号については同一もしくは同質の部材を示しており、詳細説明を適宜省略する。
以下、本発明の実施形態について、適宜図面を参照して説明する。
<構成>
図1A乃至図4を参照して、本発明の実施形態の発光装置の構成について説明する。なお、図1Bは、図1Aに示す発光装置100のA−A´断面における模式的断面図を示す。さらに図1Cは、図1Bの点線円領域の模式的拡大図である。
図1A乃至図1Cに示すように、本実施形態の発光装置100は、基体11aの上面に配線パターン11bが配置された実装基板11と、配線パターン11bの発光素子チップ14の電極14bが固定される実装部11b−1と外部接続用電極端子部11b−2以外の上面に配置された光反射層12と、実装部11b−1にフリップチップ実装された発光素子チップ14と、光反射層12と発光素子チップ14を封止する透光性封止部材15と、を有している。特に、光反射層12は、金属材料からなる第1の層12aと、屈折率の異なる誘電体膜が積層された誘電体多層反射膜からなり第1の層の上面と側面を被覆する第2の層12bと、を有しており、発光素子チップ14の電極14bが形成されている側の面の一部と光反射層12の上面の一部は対向している。
(実装基板)
実装基板11は、矩形の平面形状をした基体11a上に、配線パターン11bを有している。本実施の形態の配線パターン11bは、基体11aの上面側に、発光素子チップ14の電極14bが固定される実装部11b−1と、外部と電気的に接続される外部接続用電極端子部11b−2と、を有しているが、これに限定されるものではなく、小型化を図るために、あらかじめ基体11aに貫通ビアなどを設け、外部接続用電極端子部を基体11aの下面側に設けてもよい。
(基体)
基体11aは、その上方に発光素子チップ14を固定することが可能であって、かつ上面に配線パターン11b及び光反射層12を保持することが可能であれば、材質は特に限定されない。なかでも、セラミック、乳白色の樹脂等、絶縁性および遮光性を有する材料でもって構成されることが好ましい。一方で、基体11aは、熱源となりうる発光素子チップ14の近傍に位置するため、熱伝導性に優れた材質であって、外部に放熱可能な構造とすることが好ましい。この場合の材質としては例えば、窒化アルミニウムや、銅、銅合金、アルミニウム等の金属があげられる。導電性の材料を基体11aとして用いる場合は、基体11aの上面と配線パターン11bの下面との間に、絶縁層を設ける必要がある。
(配線パターン)
本実施の形態の配線パターン11bは、発光素子チップ14の電極14bが固定される実装部11b−1と、外部と電気的に接続される外部接続用電極端子部11b−2と、を有している。配線パターン11bは、外部の駆動回路と発光素子チップ14とを電気的に接続するものであり、導電性を有していれば特に限定されず、発光素子チップ14との電気的な接続に用いる部材13との接着性及び電気伝導性が良好なものがよい。
配線パターン11bは、Ni、Au、Pt、Rh、Ag、Cr、Ti、Cu、W、Mo等の金属からなる単層、積層体、もしくは合金等にて構成されている。配線パターンの表面は、後述する光反射層12との密着力を高める目的でTiやNi、Crなどで覆われていてもよい。このとき、配線の厚みは、後述する光反射層12のパターンを微細に形成し易くするため、少なくとも10μm以下であることが好ましく、より好ましくは5μm以下、さらに好ましくは2μm以下であることが好ましい。
また、配線パターン11bの層構成、パターン幅などは、発光素子チップ14に供給する電流量に対し高抵抗とならないよう考慮しておくことが好ましい。具体的な電気抵抗としては、300μΩ−cm以下が好ましく、より好ましくは3μΩ−cm以下である。
配線パターン11bの形成方法は、具体的には、基体11a上に、蒸着やメッキ法などにより配線材料を成膜し、その際にメタルマスキング、フォトリソグラフィー、エッチング、リフトオフなどを用いてパターンを形成することができる。
(光反射層)
本発明の光反射層12は、金属材料からなる第1の層12aと、屈折率の異なる誘電体膜が積層された誘電体多層反射膜からなり第1の層12aの上面と側面を被覆する第2の層12bと、を有しており、配線パターン11bの上面に、部分的に配置されている。具体的には、基体11aの上面に配置された配線パターン11bが、発光素子チップ14の電極14bまたは遮光性の部位が固定される実装部11b−1、発光素子チップの電極とワイヤボンディングされるワイヤ接続部、および、外部と接続される外部接続用電極端子部11b−2のうちの、いずれかを有している場合は、それらを除く配線パターン11bの上面に光反射層12が配置される。光反射層12は、発光素子チップ14よりも下方に配置されており、光反射層12の上面の少なくとも一部は、発光素子チップ14の下面と対向している。光反射層12の厚みは、第1の層12aと第2の層12bがそれぞれ十分な反射機能を発揮し、生産性を損なわない範囲であれば、特に限定されない。
本実施の形態の発光装置100は、同一面側に正負の電極14bを有する発光素子チップ14が、配線パターン11bとフリップチップ実装されていることから、配線パターン11bの上面のうち、発光素子チップ14の電極14bが接合部材13を介して固定される実装部11b−1と、外部接続用電極端子部11b−2を除く領域に、光反射層12が配置されている。光反射層12の発光素子チップ14側の端部は、接合部材13と接しており、光反射層12の上面と発光素子チップ14の側面は、交差している。
このように、光反射層12の少なくとも一部を覆うように発光素子チップ14を固定することにより、発光素子チップ14の側面および電極14bの周辺から高い密度で照射される光を、光反射層12にて効率よく反射させ、有効的に外部へ取り出すことができる。
また、上記のように、上下の面のうち、一方の面側に正負の電極を有し、他方の面が透光性である発光素子チップ14は、発光素子チップ14の電極14b側を上方に向け、他方の面側を実装面として配線パターン11b側と対向させて固定することもできる。たとえば、配線パターンの上面のうち、発光素子チップの電極とワイヤボンディングされる部位と外部接続用電極端子部とを除く領域に、光反射層を配置し、光反射層上に発光素子チップを透光性接合部材にてダイボンディングすることができる。このように、光反射層上に発光素子チップを固定することにより、発光素子チップの側面および下面から高い密度で照射される光を、効率よく反射させ、有効的に外部へ取り出すことができる。
一方、上下の面のうち、一方の面側に正負の電極を有し、他方の面が透光性でかつ少なくとも一部に遮光性である金属膜を有する発光素子チップの場合は、光反射層を、配線パターンの上面のうち、発光素子チップの金属膜と接合部材を介して固定される実装部と外部接続用電極端子部とを除く領域に配置し、発光素子チップの金属膜の部位が、光反射層の間から露出した配線パターンの実装部と接合部材を介して固定されることが好ましい。これにより、発光素子チップの放熱性と接合性を高めることができるとともに、発光素子チップの側面および金属膜の周辺から高い密度で照射される光を、効率よく反射させ、有効的に外部へ取り出すことができる。この場合、接合部材は、光実装部の上面と光反射層の端部の上面とに接して配置されていることが好ましい。
(第1の層)
第1の層12aは、Ag、Al、Rhなどの高反射率の金属から構成されていることが好ましい。また、基体11aや配線パターン11bの材料との密着力を高める目的で、配線パターン11b側にTiやNiなどの金属を予め形成してもよい。このとき第1の層は、配線の機能も備えている。第1の層の厚みは、50nm以上2000nm以下であることが好ましく、これにより生産性を損なわない範囲で十分な反射率を得ることができる。
第1の層12aは金属から構成されるので、基本的には光を反射又は吸収するが、透過はしない。一方、第2の層12bや第3の層22cは透光性を有しており、光を反射しない場合は、透過する。そこで、第1の層12aを第2の層12b及び第3の層22cの下側に設けることにより、光反射層12全体として最低限の反射を得ることができる。
なお、第1の層12aは必ずしも配線パターンと一体的に形成される必要はないが、第1の層12aと配線パターンは一体的に形成されることが好ましい。これにより、配線パターンのみが通電経路である場合と比較して、通電経路の体積を大きくすることができる。これにより電気抵抗を小さくすることができるので、発光装置全体としての抵抗を下げることができる。
また、図4に示すように、第1の層42aは、配線パターン11bの実装部11b−1以外の上面と、配線パターン11bの間から露出した基体11aの上面とを、離間して覆っていることが好ましい。これにより、発光素子チップ14近傍の基体11aの露出部においても、高い光密度で照射される光を、効率良く反射させ、有効的に外部へ取り出すことができる。
(第2の層)
第2の層12bは、上記した第1の層12aの上面および側面を、連続して被覆している。さらに、第2の層12bの上面の一部は、発光素子チップ14の半導体積層構造14aの下面と対向している。このように本発明の第2の層は、発光素子チップ14が下面側に電極14bを有する場合には、配線パターン11bとの短絡を防ぐ絶縁膜的機能をなし、配線パターン11bの腐食や破損を防止する保護膜的機能、そして、発光素子チップ14からの光を好適に反射する反射膜的機能を、同時に備えている。
前記のとおり、第2の層12bは、絶縁膜として機能するためには第1の層12aの上面及び側面を連続して被覆することが好ましいが、反射膜として機能するためには少なくとも第1の層12aの上面を被覆していればよい。
第2の層12bは、屈折率の異なる誘電体膜が積層された誘電体多層反射膜からなる。誘電体多層反射膜は、Si、Ti、Zr、Nb、Ta、Alよりなる群から選択された元素の酸化物または窒化物からなり互いに屈折率の異なる少なくとも2つの誘電体膜が、積層されたものである。具体的には、発光素子チップ14から照射される光波長範囲において好適な反射を有するよう、それぞれ誘電体膜中での平均波長のおよそ1/4に相当する膜厚で交互に積層された多層構造である。これにより、第2の層は、構成する膜の境界面での反射光による干渉を利用して、発光素子チップ14から第2の層12bへ入射される光のうち、入射角が小さい成分を、第1の層12aのみのときよりも効率よく反射することができる。第2の層12bの厚みは、生産性を損なわない範囲で十分な反射率を得ることができれば特に限定されない。たとえば、第2の層12bが、SiO2からなる第1の誘電体膜とNb2O5からなる第2の誘電体膜とが交互に積層されている場合、70nm以上95nm以下の第1の誘電体膜と、40nm以上60nm以下の第2の誘電体膜が、1以上20以下の周期で積層されていることが好ましい。
第2の層12bは発光素子チップ14の真下及びその近傍に位置するので、発光素子チップ14からの光は小さい入射角で正面方向から第2の層12bに入射する。そこで、第2の層12bを入射角の小さい光が反射可能なように設計することが好ましい。具体的には、入射角が0度以上10度以下、好ましくは入射角が0度以上20度以下、より好ましくは入射角が0度以上30度以下の光に対して、第2の層12bの反射率を第1の層12aの反射率よりも高く設定することができる。これにより、光反射層12全体としての反射率を向上させることができる。つまり、第2の層12bは透光性を有するので、第2の層12bで反射できない入射角の光であっても、その下に設けられた第1の層12aで反射させることができる。よって、基体11aから順に第1の層12a及び第2の層12bを設けることにより、よりよい光反射が可能となる。
特に、第2の層12bと対向する発光素子チップ14の面が透光性を有する場合には、発光素子チップから多くの光が小さい入射角で正面方向から第2の層12bに入射されるので、このような構成が有効である。
また、図3および図4に示すように、前記第2の層32b,42bは、第1の層12a,42aと、配線パターン11bの間から露出した基体11aの上面を、連続的に覆っていることが好ましい。これにより、発光素子チップ14から至近距離で高い光密度で照射される光を、さらに効率良く反射させ有効的に外部へ取り出すことができる。特に、配線パターン11b上に発光素子チップ14がフリップチップ実装されている発光装置では、配線パターン11bの間から露出した基体11aの上方に発光素子チップ14の半導体積層構造14aが対向することから、配線パターン11bの間から露出した基体11aの上方には、他の領域よりも至近距離で高い密度の光が照射されるため、上記の構成を用いることによる光出力向上の効果が顕著にあらわれる。
(発光素子チップ)
本実施の形態の発光素子チップ14は、電極14bが配線パターン11bの実装部11b−1上と対向して固定されている。発光素子チップ14は、少なくとも発光層を有し、より好適には基板上に第1導電型半導体、発光層及び第2導電型半導体がこの順に形成される半導体積層構造14aを備え、この半導体積層構造に電流を供給する電極14bが設けられた半導体発光素子構造を有している。半導体積層構造14aの具体的な例として、基板側から順に、n型半導体層、発光層及びp型半導体層が積層された構成を有する。例えば窒化物半導体であるGaN系化合物半導体を用い、サファイア基板上に、バッファ層、マスク層、中間層等の下地層を介して、1〜2μm程度の厚さのn型半導体層、50〜150nm程度の厚さの発光層、100〜300nm程度の厚さのp型半導体層を形成する。なお、発光素子チップ14は、これらの構成に限定されるものではなく、他の半導体材料を用いて構成するようにしてもよく、適宜保護層や光反射層などを備えるように構成してもよい。
また、本実施の形態の発光素子チップ14は、半導体積層構造14aの一方の面側に両電極を有するものであるが、これに限定されるものではなく、半導体積層構造の上下の各面に各電極を有するものであってもよい。また、本実施の形態では、発光素子チップ14は、電極14bと配線パターンの実装部11b−1とを対向させたフリップチップ実装にて固定されているが、これに限定されるものではない。さらに、発光素子チップ14は、複数の半導体発光素子構造を互いに離間して、例えば2×2個のマトリクス状に配置されたものでもよい。
(第3の層)
図2に示すように、本実施の形態の発光装置200は、上記した第2の層12bと、後述する透光性封止部材15との間に、透光性封止部材15よりも屈折率が低い材料からなり発光素子チップ14から出射され透光性封止部材15を透過した光を全反射することが可能な第3の層22cを有していることが好ましい。第3の層22cは、発光素子チップ14よりも下方に配置されており、発光素子チップ14から第3の層22cへ入射される光のうち、第1の層12aや第2の層12bで十分反射することができない入射角領域の光成分の一部(入射角の大きい光、つまり横方向からの光)を、全反射することができる。
第3の層22cは、透光性封止部材15よりも屈折率が低い透明な絶縁材料からなり発光素子チップ14から出射され透光性封止部材15を透過した光の一部を全反射することが可能な材料であれば得に限定されないが、比較的薄い厚みで形成可能な無機材料にて構成されていることが好ましい。第2の層の厚みは、300nm以上2000nm以下であることが好ましく、これにより、生産性を損なわない範囲で形成できるとともに、発光素子チップ14からの光を全反射する際にエバネッセント波の通過を許容せず十分に全反射することができる。特に、厚みが300nm以上の低屈折率誘電体薄膜からなることが好ましく、これにより、下層である第2の層12bとの一体性を高めることができるほか、第2の層12bと同様の方法にて連続的に形成することも可能である。
第3の層22cは、入射角の大きい横方向からの光を全反射することを目的とする。したがって、光の入射角が80度以上90度以下、好ましくは入射角が70度以上90度以下、より好ましくは入射角が60度以上90度以下の場合において、第3の層22cの反射率を第1の層12aの反射率よりも高く設定することができる。これにより、光反射層12全体としての反射率を向上させることができる。つまり、第3の層22cは透光性を有するので、第3の層22cで反射できない入射角のより小さい光であっても、その下に設けられた第2の層12bで反射させることできる。さらに、第2の層12bで反射できない入射角の光であっても、その下に設けられた第1の層12aで反射させることができる。よって、基体11aから順に第1の層12a、第2の層12b、第3の層22cを設けることにより、よりよい光反射が可能となる。
また、図3および図4に示すように、前記第3の層32c,42cは、前記第2の層32b,42bと同様に、第1の層12a,42aと、配線パターン11bの間から露出した基体11aの上方を、連続的に覆っていることが好ましい。これにより、発光素子チップ14から至近距離で高い光密度で照射される光を、さらに効率良く反射させ有効的に外部へ取り出すことができる。
(接合部材)
本実施の形態の実装基板11は、発光素子チップ14をフリップチップ実装する構成を有していることから、配線パターン11bの上面のうち、実装部11b−1の上面と第2の層12bの一部の上面を覆うように、発光素子チップ14の電極14bと接続するための接合部材であるボンディングパッド13が設けられている。
(透光性封止部材)
透光性封止部材15は、発光素子チップ14からの光に対して透光性を有するものであれば特に限定されず、発光素子チップ14と配線パターン11bとの接合部材に対する応力の緩和や材料の耐光性、光の屈折率等を考慮して、例えば、ポリオレフィン系樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、アクリレート樹脂、メタクリル樹脂(PMMA等)、ウレタン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリノルボルネン樹脂、フッ素樹脂、シリコーン樹脂、変性シリコーン樹脂、変性エポキシ樹脂、ガラスエポキシ樹脂等の1種又は2種以上等の樹脂、液晶ポリマー、ガラス等、当該分野で通常用いられる材料から選択することができる。また、透光性封止部材15には、目的に応じて、蛍光体や着色剤、光拡散材を設けてもよい。
透光性封止部材15の形状は、光取り出し側となる上面側がレンズ状となるように成形してもよいし、発光素子チップ14と実装基板11の表面を覆うようなコーティングとしてもよいし、複数層で形成してもよい。また、本実施の形態の透光性封止部材15は、発光素子チップ14と実装基板11の隙間にも充填しているが、これに限定されるものではない。
また、本発明の発光装置には、その他の部材を備えていてもよい。例えば、発光素子を静電気や過電圧から保護するため、ツェナーダイオードをはじめとする静電保護素子等が備えられていてもよい。
本実施例の発光装置100は、下記の方法で製造できる。
1mmの厚みを有する窒化アルミニウム基体11aの上面に、Ti(0.1μm)、Cu(0.5μm)、Ni(1.0μm)、Au(0.5μm)、およびCr(0.1μm)を順に蒸着して配線層を形成し、複数の発光装置を形成するために、所望とする形状の配線パターン11bを複数形成する。次に、各配線パターン11bの上面のうち、各LEDチップ14が実装される実装部以外の領域に、Ti(0.1μm)およびAl(1.0μm)を順に蒸着し、第1の層12aを形成する。続いて、第1の層12aの表面を覆うように、SiO2(87.9nm)とNb2O5(51.6nm)を交互に3周積層してなる積層体を蒸着し、第2の層12bを形成する。そして、各発光素子チップ14が実装される実装部11b−1の上面と第2の層12bの上面の一部を覆うように、Ti(0.1μm)、Pt(0.2μm)、およびAu(0.5μm)を順に積層されてなるボンディングパッド13を形成する。
次に、実装基板11上の各ボンディングパッド13上に、発光波長450nmのInGaN系青色発光LEDチップ14の電極14bを、それぞれペースト状のAu,Snを介して仮固定し、窒素雰囲気のリフロー装置によって、最高到達温度320℃にて共晶接合する。
次に、各LEDチップ14に直径が8mmの半球レンズ形状からなる透光性封止部材15を成形することが可能な形状を有する圧縮成形機の金型内に、各LEDチップ14が実装された実装基板11を配置し、液状シリコーン樹脂を金型に滴下し、150℃にて180秒間硬化させる。そして、金型から取り出し、さらに150℃で4時間硬化させ、実装基板11上に各LEDチップを封止する複数の透光性封止部材15を形成する。最後に、複数の透光性封止部材15付きLEDチップ14が並んだ実装基板を、個々にダイシングして分離する。このようにして、図1に示すような発光装置を得ることができる。
本実施例の発光装置100は、LEDチップ14から出射され透光性封止部材15を透過した光のうち、第2の層12bの表面に対して入射角が0度以上35度以下の光成分を95%以上反射することができるとともに、他の入射角の光の成分を80%以上反射することができる。
配線パターン11aの実装部以外の上方において、第2の層12bの表面を覆うように、SiO2(500nm)からなる第3の層22cを形成する以外は、実施例1と同様にして発光装置200を形成する。本実施例の発光装置200は、LEDチップ14から出射され透光性封止部材15を透過した光のうち、第3の層22cの表面に対して入射角が0度以上35度以下の光成分を95%以上反射でき、65度以上90以下の光成分をほぼ全反射することができるとともに、他の入射角の光の成分を80%以上反射することができる。
第2の層32bと第3の層32cを、第1の層12aの上面と配線パターン11aの間から露出した基体11aの上面とを連続的に覆うように形成する以外は、実施例2と同様にして、発光装置300を形成する。本実施例の発光装置300は、実施例2の発光装置よりもさらに光出力が約3%向上する。
第1の層42aを、配線パターン11bの間から露出した基体の上面11aに、配線パターン11bと離間して覆うように形成し、さらに、第2の層42bと第3の層42cを、第1の層42aの上面と配線パターン11aの間から露出した基体11aの上面とを連続的に覆うように形成する以外は、実施例3と同様にして、発光装置400を形成する。本実施例の発光装置300は、実施例3の発光装置よりもさらに光出力が約2%向上する。
〔実施例5〜実施例8(図面なし)〕
圧縮成形機にてレンズ状透光性封止部材15を成形する前に、実装基板11上に並んだ各LEDチップ14の側面および上面に、熱硬化性のシリコーン樹脂を少量塗布し、所定のサイズに切り出した蛍光体入りセラミックス板を貼り付け、150℃で600sec硬化する以外は、実施例1〜4と同様にして発光装置を形成する。実施例5〜8の発光装置は、それぞれ実施例1〜4と同様の効果を有している。
本発明に係る発光装置は、光の損失を低減し、高出力で発光することが可能な発光装置である。これらの発光装置は、各種表示装置、照明器具、ディスプレイ、液晶ディスプレイのバックライト光源、さらには、ファクシミリ、コピー機、スキャナ等における画像読取装置、プロジェクタ装置、などにも利用することができる。
100、200、300、400・・・発光装置
11・・・実装基板
11a・・・基体
11b・・・配線パターン
11b−1・・・実装部
11b−2・・・外部接続用電極端子部
12・・・光反射層
12a,42a・・・第1の層
12b,32b,42b・・・第2の層
22c,32c,42c・・・第3の層
13,33・・・ボンディングパット
14・・・発光素子チップ
14a・・・半導体積層構造
14b・・・電極
15・・・透光性封止部材

Claims (6)

  1. 基体と、前記基体上に設けられた光反射層と、前記光反射層の一部と対向するように固定された発光素子チップと、前記光反射層と前記発光素子チップを封止する透光性封止部材と、を備える発光装置であって、
    前記光反射層は、
    金属材料からなり、前記基体上に設けられた第1の層と、
    屈折率の異なる誘電体膜が積層された誘電体多層反射膜からなり、前記第1の層の上面を被覆する第2の層と、
    前記透光性封止部材よりも屈折率が低い材料からなり、前記発光素子チップからの光を全反射することが可能な膜厚を有し、且つ、前記第2の層の上面を被覆する第3の層と、
    を有することを特徴とする発光装置。
  2. 前記基体の上面には、前記発光素子チップと接続されるための配線パターンが設けられており、
    前記第2の層は、前記発光素子チップの下方において、前記配線パターンから露出した前記基体上を被覆していることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記第1の層は、前記発光素子チップの下方において、前記配線パターンから露出した前記基体の上面と前記第2の層の間に、前記配線パターンと離間して配置されていることを特徴とする請求項2に記載の発光装置。
  4. 前記第1層は、Ag、Al又はRhの少なくともいずれかを含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光装置。
  5. 前記第3の層は、厚みが300nm以上の低屈折率誘電体薄膜であることを特徴とする 請求項1〜のいずれか1項に記載の発光装置。
  6. 前記基体は、窒化アルミニウムからなることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の発光装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101902371B1 (ko) * 2017-03-02 2018-09-28 주식회사 이츠웰 파장 선택형 엘이디 패키지 및 이를 이용한 엘이디 패키지 어레이

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150062915A1 (en) * 2013-09-05 2015-03-05 Cree, Inc. Light emitting diode devices and methods with reflective material for increased light output
JP2012156213A (ja) * 2011-01-24 2012-08-16 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
TWI517452B (zh) * 2011-03-02 2016-01-11 建準電機工業股份有限公司 發光晶體之多晶封裝結構
EP2648237B1 (en) * 2012-04-02 2019-05-15 Viavi Solutions Inc. Broadband dielectric reflectors for LED
JP2014013818A (ja) * 2012-07-04 2014-01-23 Sony Corp デバイスおよび電子装置
JP6179516B2 (ja) 2012-08-02 2017-08-16 日亜化学工業株式会社 波長変換装置
US9955619B2 (en) * 2013-02-27 2018-04-24 Nichia Corporation Light emitting device, light emitting element mounting method, and light emitting element mounter
JP6201617B2 (ja) 2013-10-17 2017-09-27 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP6252302B2 (ja) * 2014-03-28 2017-12-27 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法
US10403792B2 (en) 2016-03-07 2019-09-03 Rayvio Corporation Package for ultraviolet emitting devices
US20180006203A1 (en) * 2016-07-01 2018-01-04 Rayvio Corporation Ultraviolet emitting device
KR102415812B1 (ko) 2017-09-22 2022-07-01 삼성디스플레이 주식회사 발광 장치 및 발광 장치의 제조 방법
US20190364669A1 (en) * 2018-05-25 2019-11-28 Nichia Corporation Method for manufacturing light emitting module
CN114914350A (zh) * 2021-02-07 2022-08-16 深圳大道半导体有限公司 高光效led及其制造方法
TWI811810B (zh) * 2021-10-13 2023-08-11 錼創顯示科技股份有限公司 微型發光二極體顯示面板
KR20230070097A (ko) * 2021-11-12 2023-05-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Family Cites Families (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5055892A (en) * 1989-08-29 1991-10-08 Hewlett-Packard Company High efficiency lamp or light accepter
US5742120A (en) * 1996-05-10 1998-04-21 Rebif Corporation Light-emmiting diode lamp with directional coverage for the emmitted light
US5813753A (en) * 1997-05-27 1998-09-29 Philips Electronics North America Corporation UV/blue led-phosphor device with efficient conversion of UV/blues light to visible light
TW465123B (en) * 2000-02-02 2001-11-21 Ind Tech Res Inst High power white light LED
US6630689B2 (en) * 2001-05-09 2003-10-07 Lumileds Lighting, U.S. Llc Semiconductor LED flip-chip with high reflectivity dielectric coating on the mesa
US7824937B2 (en) * 2003-03-10 2010-11-02 Toyoda Gosei Co., Ltd. Solid element device and method for manufacturing the same
US7367691B2 (en) * 2003-06-16 2008-05-06 Industrial Technology Research Institute Omnidirectional one-dimensional photonic crystal and light emitting device made from the same
US6876008B2 (en) * 2003-07-31 2005-04-05 Lumileds Lighting U.S., Llc Mount for semiconductor light emitting device
WO2005020338A1 (ja) * 2003-08-26 2005-03-03 Sumitomo Electric Industries, Ltd. 半導体発光素子搭載部材、それを用いた発光ダイオード構成部材、およびそれを用いた発光ダイオード
US7449724B2 (en) * 2003-09-12 2008-11-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US6995402B2 (en) * 2003-10-03 2006-02-07 Lumileds Lighting, U.S., Llc Integrated reflector cup for a light emitting device mount
KR100576856B1 (ko) * 2003-12-23 2006-05-10 삼성전기주식회사 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법
JP2005203448A (ja) * 2004-01-13 2005-07-28 Toyoda Gosei Co Ltd 発光装置
TW200529465A (en) * 2004-02-27 2005-09-01 Opto Tech Corp Light-emitting device with power supply substrate having reflective layer
TWI287880B (en) * 2004-03-18 2007-10-01 Showa Denko Kk Group III nitride semiconductor light-emitting device and method of producing the same
TWI286393B (en) * 2004-03-24 2007-09-01 Toshiba Lighting & Technology Lighting apparatus
US7202504B2 (en) * 2004-05-20 2007-04-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element and display device
KR100624448B1 (ko) * 2004-12-02 2006-09-18 삼성전기주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR100867515B1 (ko) * 2004-12-06 2008-11-07 삼성전기주식회사 발광소자 패키지
US7868349B2 (en) * 2005-02-17 2011-01-11 Lg Electronics Inc. Light source apparatus and fabrication method thereof
US7411225B2 (en) * 2005-03-21 2008-08-12 Lg Electronics Inc. Light source apparatus
JP2006351808A (ja) 2005-06-15 2006-12-28 Matsushita Electric Works Ltd 発光装置
JP2006351964A (ja) * 2005-06-17 2006-12-28 Matsushita Electric Works Ltd 発光素子実装用基板及びその製造方法
JP4678256B2 (ja) 2005-08-01 2011-04-27 ソニー株式会社 面状光源装置及びカラー液晶表示装置組立体
US7709855B2 (en) * 2005-08-23 2010-05-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Light-emitting device, backlight using same, and liquid crystal display
US7719099B2 (en) * 2005-10-21 2010-05-18 Advanced Optoelectronic Technology Inc. Package structure for solid-state lighting devices and method of fabricating the same
JP2007201420A (ja) 2005-12-27 2007-08-09 Sharp Corp 半導体発光装置、半導体発光素子、および半導体発光装置の製造方法
KR101030659B1 (ko) * 2006-03-10 2011-04-20 파나소닉 전공 주식회사 발광 소자
US7622746B1 (en) * 2006-03-17 2009-11-24 Bridgelux, Inc. Highly reflective mounting arrangement for LEDs
CN101410994B (zh) * 2006-03-29 2011-06-15 京瓷株式会社 发光装置
TWI302758B (en) * 2006-04-21 2008-11-01 Silicon Base Dev Inc Package base structure of photo diode and manufacturing method of the same
TW200802917A (en) * 2006-06-02 2008-01-01 Arima Optoelectronics Corp High brightness light emitting diode
KR100854328B1 (ko) * 2006-07-07 2008-08-28 엘지전자 주식회사 발광 소자 패키지 및 그 제조방법
TW200837974A (en) * 2007-03-01 2008-09-16 Touch Micro System Tech Light emitting diode package structure and manufacturing method thereof
JP2008277349A (ja) * 2007-04-25 2008-11-13 Kyocera Corp 発光素子搭載用基体、及びその製造方法、ならびに発光装置
TWI462324B (zh) 2007-05-18 2014-11-21 Delta Electronics Inc 發光二極體裝置及其製造方法
JP2008300621A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Nichia Corp 半導体発光素子及びその製造方法
TWI423467B (zh) * 2007-06-06 2014-01-11 Epistar Corp 半導體發光裝置
TWI343664B (en) * 2007-07-06 2011-06-11 Formosa Epitaxy Inc Light-blending light-emitting diode
US20090065792A1 (en) * 2007-09-07 2009-03-12 3M Innovative Properties Company Method of making an led device having a dome lens
TWI363435B (en) * 2007-09-13 2012-05-01 Delta Electronics Inc Light-emitting diode apparatus and its manufacturing method
DE102007050876A1 (de) * 2007-09-26 2009-04-09 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauteil
DE102007059548A1 (de) * 2007-09-28 2009-04-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Auskoppellinse für ein optoelektronisches Bauelement
CN101459211B (zh) * 2007-12-11 2011-03-02 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 固态发光器件
TW200945620A (en) * 2008-04-25 2009-11-01 Formosa Epitaxy Inc Light-emitting device with reflection layer and structure of the reflection layer
US7947991B2 (en) * 2008-07-29 2011-05-24 Huga Optotech Inc. High efficiency lighting device
TWI366292B (en) * 2008-12-26 2012-06-11 Ind Tech Res Inst Flexible light source device and fabricating method of thereof
KR101064026B1 (ko) * 2009-02-17 2011-09-08 엘지이노텍 주식회사 발광 디바이스 패키지 및 그 제조방법
US20100308300A1 (en) * 2009-06-08 2010-12-09 Siphoton, Inc. Integrated circuit light emission device, module and fabrication process
US20110089446A1 (en) * 2009-10-18 2011-04-21 Shih-Liang Ku Light-emitting diode having optical film structure thereon
US8379392B2 (en) * 2009-10-23 2013-02-19 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light-based sealing and device packaging

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101902371B1 (ko) * 2017-03-02 2018-09-28 주식회사 이츠웰 파장 선택형 엘이디 패키지 및 이를 이용한 엘이디 패키지 어레이

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Publication number Publication date
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