JP3282008B2 - Paste application method - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば液晶表示装置の
製造工程に使用されるペースト塗布装置におけるペース
ト塗布方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a paste applying method in a paste applying apparatus used in, for example, a manufacturing process of a liquid crystal display.
【0002】[0002]
【従来の技術】液晶表示装置として、TFT(thin fil
m transistor)アレイ基板などを用いたものが知られて
いる。例えばTFTアレイ基板においては、その各電極
への通電のためのトファンスファー電極は、当該TFT
アレイ基板上に形成された塗布対象箇所(トランスファ
ーパッド)への銀ペーストの塗布により製造される。ま
たこの銀ペーストの塗布技術の際には、塗布ノズルをT
FTアレイ基板に僅かに接触させることで、塗布量や塗
布形状の安定を図る技術が広く用いられている。2. Description of the Related Art As a liquid crystal display device, a thin film transistor (TFT) is used.
m transistor) using an array substrate or the like is known. For example, in a TFT array substrate, a fan electrode for energizing each of the electrodes is provided by the TFT.
It is manufactured by applying a silver paste to an application target (transfer pad) formed on the array substrate. In the case of this silver paste application technique, the application nozzle is set to T
A technique for stabilizing an applied amount and an applied shape by slightly contacting the FT array substrate is widely used.
【0003】このような銀ペーストの塗布技術として
は、例えば特開平1−122127号公報に記載された
ものが知られている。この従来例では、塗布対象となる
製品に塗布ノズルを接近ないし離隔させるための移動機
構を塗布ノズルに搭載する構成としている。また、塗布
ノズルには、これと対象商品との接触を検知するために
センサが設けられている。移動機構は、パルスモータを
動力として、マイクロコンピュータによりその動作がデ
ィジタル制御されるものである。As a technique for applying such a silver paste, for example, a technique described in JP-A-1-122127 is known. In this conventional example, a moving mechanism for moving the application nozzle closer to or away from the product to be applied is mounted on the application nozzle. The application nozzle is provided with a sensor for detecting contact between the application nozzle and the target product. The operation of the moving mechanism is digitally controlled by a microcomputer using a pulse motor as power.
【0004】この従来例では、塗布ノズルを塗布の対象
物に徐々に近付けつつ塗布ノズル先端と対象物との接触
を検知し、接触が検知された場合には塗布ノズルの接近
動作を中止して、そのときの位置をマイクロコンピュー
タに記憶させる。また、塗布の際には、上記で記憶され
た位置から所定の間隔が差し引かれた位置をマイクロコ
ンピュータにおいて演算し、パルスモータを駆動して上
記演算位置(所定の間隔の位置)に塗布ノズルを移動し
て塗布を行う構成としている。この構成により、塗布ノ
ズルと対象製品との間隔を一定に保つための間隔の設定
を迅速に行って、塗布ノズルによる塗布形状や塗布量を
安定させている。In this conventional example, the contact between the tip of the application nozzle and the object is detected while gradually approaching the application nozzle to the object to be applied. When the contact is detected, the approach operation of the application nozzle is stopped. The position at that time is stored in the microcomputer. Further, at the time of coating, the microcomputer calculates a position obtained by subtracting a predetermined interval from the position stored above, and drives a pulse motor to move the coating nozzle to the calculated position (a position at a predetermined interval). The coating is performed by moving. With this configuration, an interval for maintaining a constant interval between the application nozzle and the target product is quickly set, and the application shape and the application amount by the application nozzle are stabilized.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般的に
は、加工対象となるTFTアレイ基板表面は完全に平面
ではなく、ある程度のうねりがある。また、実際の装置
においては、塗布ノズルの移動機構の水平軸とTFTア
レイ基板との平行度に不完全さがあり、従って、塗布ノ
ズル先端と基板との間隔が場所により異なってしまう。
このため、上記従来例のように、塗布ノズルを対象製品
のある1点に接触させ、そのときの位置を基準として全
ての塗布対象箇所の高さを求める構成では、上記のうね
りや平行度の不完全さなどが原因で、塗布ノズルの先端
が基板に衝突したり、接触していない状態で塗布が行わ
れてしまう可能性がある。そして、塗布ノズルがTFT
アレイ基板に衝突した場合には、塗布ノズルや塗布対象
箇所の損傷、塵埃の発生、あるいは銀ペーストの飛び散
りなどが起きる虞がある。By the way, generally, the surface of a TFT array substrate to be processed is not completely flat but has some undulations. Further, in an actual apparatus, there is an imperfection in the parallelism between the horizontal axis of the moving mechanism of the application nozzle and the TFT array substrate, so that the distance between the tip of the application nozzle and the substrate differs depending on the location.
For this reason, in the configuration in which the application nozzle is brought into contact with a certain point of the target product and the heights of all the application target locations are determined with reference to the position at that time, as in the above-described conventional example, Due to imperfection or the like, there is a possibility that the tip of the application nozzle collides with the substrate or the application is performed in a state where the application nozzle is not in contact with the substrate. And the application nozzle is TFT
When colliding with the array substrate, there is a possibility that damage to the application nozzle or the application target portion, generation of dust, or scattering of silver paste may occur.
【0006】そこで、塗布ノズルをTFTアレイ基板の
上方約0.2mmの高さまで高速で下降させ接近させて
一時停止し、次いで、この位置から塗布ノズルを0.0
1mmづつ漸次下降させ、塗布ノズルとTFTアレイ基
板とが接触したか否かを検出し、検知した場合には接近
動作を停止して、塗布を行う技術も提案されている。な
お、上記の約0.2mmの高さの位置は、基板上のどの
場所においても塗布ノズルが接触しない最短距離として
の位置である。Accordingly, the application nozzle is moved down to a height of about 0.2 mm above the TFT array substrate at a high speed, approached and temporarily stopped, and then the application nozzle is moved from this position by 0.0 mm.
There has also been proposed a technique in which the application nozzle is gradually lowered by 1 mm to detect whether or not the application nozzle and the TFT array substrate have come into contact with each other. Note that the above-mentioned position having a height of about 0.2 mm is a position as a shortest distance at which the application nozzle does not come into contact with any place on the substrate.
【0007】しかしながら、この技術のように塗布ノズ
ルを漸次下降させつつ塗布ノズルとTFTアレイ基板と
の接触の有無を判断する構成として場合には、全ての塗
布対象箇所において塗布ノズル先端がTFTアレイ基板
表面にわずかに接触するように低速で接近させることか
ら、銀ペーストの塗布開始までの時間がかかり、結果と
して、銀ペーストの塗布時間がかかってしまうという問
題があった。However, in the case where the application nozzle is gradually lowered and the presence or absence of contact between the application nozzle and the TFT array substrate is determined as in this technique, the tip of the application nozzle is set to the TFT array substrate at all application target locations. Since the surface is approached at a low speed so as to make slight contact with the surface, it takes a long time to start the application of the silver paste, and as a result, there is a problem that it takes a long time to apply the silver paste.
【0008】本発明の課題は、かかる問題点に鑑み、互
いに近傍にある複数の塗布対象箇所への銀ペースト塗布
を短時間で行うことができる、ペースト塗布方法を提供
することにある。An object of the present invention is to provide a paste application method capable of applying a silver paste to a plurality of application target locations near each other in a short time in view of the above problems.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明のペースト塗布方法は、ペースト塗布用の塗布ノズル
を有するペースト塗布装置の所定部位に設置した加工対
象基板上で、互いに近傍にある複数の塗布対象箇所の各
々に、前記塗布ノズルの端部よりペーストを塗布する方
法であって、一の塗布対象箇所に於いて前記塗布ノズル
の端部が前記基板の表面に接触したときの塗布ノズルの
位置情報に基づいて該塗布ノズルの端部の相対的高さと
前記一の塗布対象箇所の相対的高さとを検知し、前記一
の塗布対象箇所以外の他の塗布対象箇所を塗布する際
に、前記塗布ノズルの端部を前記検知した高さより高い
位置まで上昇させ、次いで、現在の位置と前記検知した
高さとの中間の高さに前記塗布ノズルの端部を降下させ
る工程を、前記塗布ノズルの端部が前記基板の表面に接
触するまで繰り返すことを特徴とする。According to the present invention, there is provided a paste coating method comprising: a plurality of paste coating apparatuses having a plurality of paste nozzles for applying a paste; A method of applying a paste from an end of the application nozzle to each of the application target portions, wherein the application nozzle is configured such that the end of the application nozzle contacts the surface of the substrate at one application target portion. Detecting the relative height of the end portion of the application nozzle and the relative height of the one application target location based on the position information, and applying another application target location other than the one application target location. Raising the end of the application nozzle to a position higher than the detected height, and then lowering the end of the application nozzle to a height intermediate between the current position and the detected height, End of the nozzle is characterized in that repeated until it contacts the surface of the substrate.
【0010】なお、前記一の塗布対象箇所の相対的高さ
の検知は、例えば、前記塗布ノズルの端部を前記検知し
た高さより高い位置まで上昇させ、次いで、前記塗布ノ
ズルを前記基板側に漸次降下させる工程を、前記塗布ノ
ズルの端部が前記基板の表面に接触するまで繰り返すこ
とにより行われる。The relative height of the one application target portion is detected, for example, by raising the end of the application nozzle to a position higher than the detected height, and then moving the application nozzle toward the substrate. The step of gradually lowering is performed by repeating until the end of the application nozzle comes into contact with the surface of the substrate.
【0011】[0011]
【作用】TFTアレイ基板などの基板上において塗布対
象箇所が互いに近傍にある場合、例えばこれらの塗布対
象箇所の間隔が1〜2mm程度の場合においては、基板
表面のうねりや平行度の不完全さなどによる各塗布対象
箇所の高さはほぼ同じであるとみなすことができる。そ
こで、本発明では、これら複数の塗布対象箇所のうちの
1つの塗布対象箇所における高さを検知して求め、この
検知した高さに基づいて他の塗布対象箇所における塗布
ノズルの昇降を制御するものであり、すなわち、塗布ノ
ズルの端部を、現在の位置と上記検知した高さとの中間
の高さに移動させる工程を、塗布ノズルが基板に接触す
るまで繰り返す。In a case where the application target locations are close to each other on a substrate such as a TFT array substrate, for example, when the distance between the application target locations is about 1 to 2 mm, the undulation of the substrate surface and the imperfect parallelism are caused. It can be considered that the height of each application target portion is substantially the same. Therefore, in the present invention, the height of one of the plurality of application target locations is detected and detected, and the elevation of the application nozzle at the other application target location is controlled based on the detected height. That is, the step of moving the end of the application nozzle to a height intermediate between the current position and the detected height is repeated until the application nozzle comes into contact with the substrate.
【0012】[0012]
【実施例】次に、図面を参照し、TFTアレイ基板の製
造工程を例に挙げて本発明の実施例を詳細に説明する。Next, with reference to the drawings, embodiments of the present invention will be described in detail by taking a manufacturing process of a TFT array substrate as an example.
【0013】図1(a)は本発明の一実施例に係るペー
スト塗布装置の正面図、(b)は同じく側面図である。
これらの図に示すように、本実施例のペースト塗布装置
は、塗布ノズル移動機構1、塗布機構ベース2、スライ
ドレール3、シリンジベース4、シリンジホルダ5、引
張りばね6、シリンジ7、塗布ノズル8、エアチューブ
9、接触検出センサ10、並びにセンサホルダ11から
構成される。なお、図1において、12はTFTアレイ
基板である。FIG. 1A is a front view of a paste coating apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a side view of the same.
As shown in these drawings, the paste coating apparatus of the present embodiment includes a coating nozzle moving mechanism 1, a coating mechanism base 2, a slide rail 3, a syringe base 4, a syringe holder 5, a tension spring 6, a syringe 7, and a coating nozzle 8. , An air tube 9, a contact detection sensor 10, and a sensor holder 11. In FIG. 1, reference numeral 12 denotes a TFT array substrate.
【0014】塗布ノズル移動機構1には塗布機構ベース
2が取り付けられ、また、塗布機構ベース2にはスライ
ドレール3を介してシリンジベース4が取り付けられて
いる。この構成により、シリンジベース4は塗布機構ベ
ース2に対して垂直方向に移動できる。シリンジベース
4には、シリンジホルダ5によって、銀ペースト入りの
シリンジ7が保持される。シリンジ7には塗布ノズル8
が装着される。塗布機構ベース2とシリンジベースとの
間には、引っ張りばね6が取り付けされている。この引
っ張りばね6の作用により、シリンジベース4には常に
下向きの荷重がかけられている。An application mechanism base 2 is attached to the application nozzle moving mechanism 1, and a syringe base 4 is attached to the application mechanism base 2 via a slide rail 3. With this configuration, the syringe base 4 can move vertically with respect to the coating mechanism base 2. A syringe 7 containing silver paste is held by the syringe base 4 by the syringe holder 5. The syringe 7 has a coating nozzle 8
Is attached. A tension spring 6 is mounted between the application mechanism base 2 and the syringe base. Due to the action of the tension spring 6, a downward load is always applied to the syringe base 4.
【0015】塗布機構ベース2には、センサホルダ11
によって接触検出センサ10が保持されている。接触セ
ンサ10の先端はシリンジベース4に接しており、これ
により、シリンジベース4の変位を検知することができ
る。すなわち、塗布ノズル8がTFTアレイ基板12に
接触した場合には、シリンジベース4がスライドして、
接触検出センサ10が作動する。A sensor holder 11 is provided on the coating mechanism base 2.
Holds the contact detection sensor 10. The tip of the contact sensor 10 is in contact with the syringe base 4, whereby the displacement of the syringe base 4 can be detected. That is, when the application nozzle 8 comes into contact with the TFT array substrate 12, the syringe base 4 slides,
The contact detection sensor 10 operates.
【0016】塗布ノズル移動機構1は、図2に示すよう
に、塗布ノズル移動機構制御装置14の指令により、塗
布機構ベース2を水平方向(X、Y軸方向)および垂直
方向(Z軸方向)に移動させる。ここで、塗布ノズル移
動機構1および塗布ノズル移動機構制御装置14は、一
般的には、3軸直交座標型ロボットとして市販されてい
るものを使用することができる。また、塗布ノズル移動
機構制御装置14は、マイクロコンピュータ機能を内蔵
したものが使用される。そして、塗布ノズル移動機構制
御装置14このマイクロコンピュータ機能にしたがって
所定の動作手順のプログラムや演算などを実行し、これ
らに基づいて塗布ノズル移動機構1の動作を制御する。As shown in FIG. 2, the coating nozzle moving mechanism 1 moves the coating mechanism base 2 in the horizontal direction (X and Y axis directions) and in the vertical direction (Z axis direction) according to a command from the coating nozzle moving mechanism control device 14. Move to Here, as the application nozzle moving mechanism 1 and the application nozzle moving mechanism control device 14, generally available ones as a three-axis orthogonal coordinate type robot can be used. As the application nozzle moving mechanism control device 14, a device having a built-in microcomputer function is used. The application nozzle moving mechanism control device 14 executes a program or a calculation of a predetermined operation procedure in accordance with the microcomputer function, and controls the operation of the application nozzle moving mechanism 1 based on these.
【0017】そして、塗布ノズル移動機構制御装置14
には接触検出センサ10からの信号が入力されており、
塗布ノズル移動制御装置14はこの信号を受けて塗布ノ
ズル移動機構1の動作を停止させる。なお、接触検出セ
ンサ10は、本実施例においては接触式のものを使用し
たが、物体の変位を検知できるものであれば、他の方
式、例えば光学式センサなども同様に用いることができ
る。また、塗布ノズル移動機構制御装置14は、シリン
ジ7にエアチューブ9を介して接続されたディスペンサ
13の動作を同様に制御し、これにより、塗布ノズル8
の先端から銀ペーストを所定のタイミングで所定量だけ
吐出させる。The coating nozzle moving mechanism control device 14
Is input with a signal from the contact detection sensor 10,
Upon receiving this signal, the application nozzle movement control device 14 stops the operation of the application nozzle movement mechanism 1. In this embodiment, the contact detection sensor 10 is of a contact type, but any other type, such as an optical sensor, can be used as long as it can detect the displacement of an object. Further, the application nozzle moving mechanism control device 14 similarly controls the operation of the dispenser 13 connected to the syringe 7 via the air tube 9, whereby the application nozzle 8
The silver paste is ejected from the tip of the silver paste at a predetermined timing by a predetermined amount.
【0018】次に、図3〜5をも参照して、本実施例の
動作を説明する。図示しない前工程から送られてきたT
FTアレイ基板12は、本実施例のペースト塗布装置内
の所定の位置において位置決め保持される。ここで、T
FTアレイ基板12上における塗布対象箇所のパターン
は、製品品種などにより異なるが、通常は、塗布対象箇
所同士は互いに近傍に配置されている。このようなTF
Tアレイ基板12の一例を図3(a)に示す。このTF
Tアレイ基板12の所定の位置には、銀ペースト16が
塗布される塗布対象箇所15が形成されている。図示の
例では、2つの塗布対象箇所15が互いに近傍に配置さ
れている。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. T sent from the previous process not shown
The FT array substrate 12 is positioned and held at a predetermined position in the paste application device of the present embodiment. Where T
The pattern of the application target locations on the FT array substrate 12 varies depending on the product type or the like, but usually, the application target locations are arranged close to each other. Such a TF
An example of the T array substrate 12 is shown in FIG. This TF
At a predetermined position on the T-array substrate 12, an application target portion 15 to which a silver paste 16 is applied is formed. In the illustrated example, two application target locations 15 are arranged near each other.
【0019】図4を参照して、まず、互いに近傍にある
塗布対象箇所15の一方の上空、つまり第1の塗布対象
箇所上に、塗布ノズル8を移動させる(S15)。な
お、塗布ノズル8を近傍にある複数個の塗布対象箇所の
内のどこに移動させるか、あるいは残りの塗布対象箇所
がどこにあるかなどは、品種データとして塗布ノズル移
動機構制御装置14のメモリに予め記憶させておく。Referring to FIG. 4, first, the application nozzle 8 is moved over one of the application target locations 15 near each other, that is, on the first application target location (S15). The location of the application nozzle 8 to be moved among the plurality of application target locations in the vicinity or the location of the remaining application target location is previously stored in the memory of the application nozzle movement mechanism control device 14 as type data. Remember.
【0020】上記のように塗布ノズル8を塗布対象箇所
の上空に移動させたならば、ディスペンサ13を動作さ
せて、例えば銀ペーストを所定量だけ吐出させる(S1
6)。この吐出された銀ペーストは、塗布ノズル8から
離隔することなく、塗布ノズル8の端部に付着してい
る。After the application nozzle 8 is moved above the application target area as described above, the dispenser 13 is operated to discharge a predetermined amount of silver paste, for example (S1).
6). The discharged silver paste adheres to the end of the application nozzle 8 without being separated from the application nozzle 8.
【0021】次に、塗布ノズル8の端部と、TFTアレ
イ基板12との間隔が約0.2mmとなる高さまで塗布
ノズル8を高速で下降させる(S17)。ここで、この
約0.2mmの間隔は、TFTアレイ基板12の表面の
うねりやTFTアレイ基板12と塗布ノズル移動機構1
との水平軸との平行度の不完全さなどを考慮して、TF
Tアレイ基板上の任意の位置でも塗布ノズル8が接触し
ないように設定した値である。したがって、上記のうね
りや平行度の不完全さが少ない場合には、この値を小さ
くとることができる。Next, the application nozzle 8 is lowered at a high speed to a height at which the distance between the end of the application nozzle 8 and the TFT array substrate 12 is about 0.2 mm (S17). Here, the interval of about 0.2 mm corresponds to the undulation of the surface of the TFT array substrate 12 or the TFT array substrate 12 and the coating nozzle moving mechanism 1.
Considering imperfect parallelism with the horizontal axis with
This is a value set so that the application nozzle 8 does not come into contact with any position on the T array substrate. Therefore, when the above-mentioned undulation and incomplete parallelism are small, this value can be reduced.
【0022】次いで、塗布ノズル8とTFTアレイ基板
12との接触を検知しつつ、塗布ノズル8を0.01m
mづつ下降させる(S17、S18)。つまり、0.0
1mm下降するごとに接触検出センサ10からの信号を
確認し、接触が検出されてない場合には更に0.01m
m下降させることを繰り返す。そして、接触が検出され
た場合には、塗布ノズル8の下降を停止し、塗布ノズル
8の現在の高さを塗布ノズル移動機構制御装置14に記
憶する(S20)。その後、塗布ノズル8を上昇させる
(S21)。これにより、塗布ノズル8の端部に付着し
ていた銀ペーストは、TFTアレイ基板12の第1の塗
布対象箇所に転写される。Next, while detecting the contact between the application nozzle 8 and the TFT array substrate 12, the application nozzle 8 is moved by 0.01 m.
It is lowered by m (S17, S18). That is, 0.0
The signal from the contact detection sensor 10 is checked every time the sensor descends by 1 mm.
m is repeated. When the contact is detected, the lowering of the application nozzle 8 is stopped, and the current height of the application nozzle 8 is stored in the application nozzle moving mechanism control device 14 (S20). Thereafter, the application nozzle 8 is raised (S21). As a result, the silver paste attached to the end of the application nozzle 8 is transferred to the first application target portion of the TFT array substrate 12.
【0023】次に、塗布ノズル移動機構制御装置14に
記憶された上記の高さを含む位置データに基づいて、第
1の塗布対象箇所の近傍にある他の塗布対象箇所(第2
の塗布対象箇所)の上空に塗布ノズル8を移動させる
(S22)。また、上記と同様にディスペンサ13を動
作させて銀ペーストを所定量だけ吐出させ(S23)、
塗布ノズル8の端部に付着させる。次いで、塗布ノズル
8の端部とTFTアレイ基板12との間隔が約0.2m
mとなる高さまで塗布ノズル8を高速で下降させる(S
24)。この状態を図5に示す。Next, based on the position data including the above-mentioned height stored in the application nozzle moving mechanism control device 14, another application target location (second location) near the first application target location.
The application nozzle 8 is moved to the sky above the application target portion (S22). In the same manner as above, the dispenser 13 is operated to discharge a predetermined amount of silver paste (S23).
It is attached to the end of the application nozzle 8. Next, the distance between the end of the coating nozzle 8 and the TFT array substrate 12 is about 0.2 m.
m, the application nozzle 8 is lowered at a high speed (S
24). This state is shown in FIG.
【0024】次いで、塗布ノズル移動機構制御装置14
により、塗布ノズル8の現在の高さと上記の記憶した高
さとの差、つまり図5における寸法aを求める。次に、
塗布ノズル8の現在の高さと上記の記憶した高さとの中
間の高さ、つまり寸法aの1/2となる距離だけ、塗布
ノズル8を下降させる(S25)。この下降後における
塗布ノズル8の位置を図5に寸法bで示してある。そし
て、この状態で、接触センサ10により、塗布ノズル8
とTFTアレイ基板12との接触の有無を検出する(S
26)。接触していない場合には、再びS25、S26
の処理を繰り返す。この繰り返しの動作においては、塗
布ノズル8の下降距離は徐々に小さくなり、結果的に、
塗布ノズル8をその下降速度を徐々に遅くしながらTF
Tアレイ基板12に接近させることになる。Next, the application nozzle moving mechanism control device 14
Thus, the difference between the current height of the application nozzle 8 and the stored height, that is, the dimension a in FIG. 5 is obtained. next,
The application nozzle 8 is lowered by a distance between the current height of the application nozzle 8 and the stored height, that is, a distance that is 1 / of the dimension a (S25). The position of the application nozzle 8 after this lowering is shown by the dimension b in FIG. Then, in this state, the application sensor 8 is
The presence or absence of contact between the TFT array substrate 12 and the
26). If not, S25 and S26 are repeated.
Is repeated. In this repetitive operation, the descending distance of the application nozzle 8 gradually decreases, and as a result,
While gradually lowering the descending speed of the coating nozzle 8, the TF
It will be close to the T array substrate 12.
【0025】そして、最終的に塗布ノズル8がTFTア
レイ基板12に接触したことが接触検出センサ10によ
り検知されたならば、塗布ノズル8を移動を上昇させる
(S27)。これにより、塗布ノズル8の端部に付着さ
れた銀ペーストはTFTアレイ基板12に転写される。If the contact detection sensor 10 finally detects that the application nozzle 8 has come into contact with the TFT array substrate 12, the application nozzle 8 is moved up (S27). Thereby, the silver paste attached to the end of the application nozzle 8 is transferred to the TFT array substrate 12.
【0026】以上のように構成される本実施例のペース
ト塗布装置では、塗布ノズル5がTFTアレイ基板1に
急激に衝突することなしに高速で下降し、接触させるこ
とができる。具体的には、従来のこの種の装置では、1
つの塗布対象箇所につき3秒かかっていた下降時間が、
本実施例の構成では1秒に短縮することができた。ま
た、塗布状態も従来装置と同等にすることができた。な
お、以上は、本発明をTFTアレイ基板における銀ペー
スト塗布に適用する場合の説明であるが、同様なペース
ト塗布を行う他の基板の加工についても本発明を適用で
きることは勿論である。In the paste coating apparatus of the present embodiment configured as described above, the coating nozzle 5 can descend and contact at high speed without suddenly colliding with the TFT array substrate 1. Specifically, in this type of conventional apparatus, 1
The descent time, which took 3 seconds per coating target,
In the configuration of the present embodiment, the time can be reduced to one second. Also, the application state could be made equal to that of the conventional apparatus. The above description is for the case where the present invention is applied to silver paste application on a TFT array substrate. However, it goes without saying that the present invention can be applied to processing of other substrates that perform similar paste application.
【0027】[0027]
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、互いに近
傍にある複数の塗布対象箇所にペーストを塗布する場合
に、短時間で良好な塗布を行うことできるペースト塗布
方法を提供することができる。As described above, according to the present invention, it is possible to provide a paste application method capable of performing a good application in a short time when applying a paste to a plurality of application target locations near each other. it can.
【図1】(a)は本発明の一実施例のペースト塗布装置
の正面図、(b)は同じく側面図。FIG. 1A is a front view of a paste coating apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIG.
【図2】本実施例のペースト塗布装置のブロック図。FIG. 2 is a block diagram of a paste application device of the present embodiment.
【図3】(a)は本実施例のペースト塗布装置の加工対
象となるTFTアレイ基板の一例を示した平面図、
(b)はこの基板のトランフアーパッド部分の断面図。FIG. 3A is a plan view showing an example of a TFT array substrate to be processed by the paste coating apparatus of the present embodiment,
(B) is a sectional view of a transfer pad portion of the substrate.
【図4】本実施例のペースト塗布装置における動作手順
を示したフローチャート。FIG. 4 is a flowchart showing an operation procedure in the paste application device of the present embodiment.
【図5】本実施例のペースト塗布装置における塗布ノズ
ルの昇降動作の説明図。FIG. 5 is an explanatory diagram of a lifting / lowering operation of a coating nozzle in the paste coating device of the present embodiment.
1 塗布ノズル移動機構 2 塗布機構ベース 3 スライドレール 4 シリンジベース 5 シリンジホルダ 7 シリンジ 8 塗布ノズル 10 接触検出センサ 12 TFTアレイ基板 14 塗布ノズル移動機構制御装置 REFERENCE SIGNS LIST 1 coating nozzle moving mechanism 2 coating mechanism base 3 slide rail 4 syringe base 5 syringe holder 7 syringe 8 coating nozzle 10 contact detection sensor 12 TFT array substrate 14 coating nozzle moving mechanism control device
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B05D 1/26 B05D 3/00 G09F 9/00 338 H05K 3/34 505 B05C 5/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Fields surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) B05D 1/26 B05D 3/00 G09F 9/00 338 H05K 3/34 505 B05C 5/00
Claims (2)
ースト塗布装置の所定部位に設置した加工対象基板上
で、互いに近傍にある複数の塗布対象箇所の各々に、前
記塗布ノズルの端部よりペーストを塗布する方法であっ
て、 一の塗布対象箇所に於いて前記塗布ノズルの端部が前記
基板の表面に接触したときの塗布ノズルの位置情報に基
づいて該塗布ノズルの端部の相対的高さと前記一の塗布
対象箇所の相対的高さとを検知し、 前記一の塗布対象箇所以外の他の塗布対象箇所を塗布す
る際に、前記塗布ノズルの端部を前記検知した高さより
高い位置まで上昇させ、次いで、現在の位置と前記検知
した高さとの中間の高さに前記塗布ノズルの端部を降下
させる工程を、前記塗布ノズルの端部が前記基板の表面
に接触するまで繰り返すことを特徴とするペースト塗布
方法。1. A paste is applied from an end of the application nozzle to each of a plurality of application target locations adjacent to each other on a processing target substrate installed at a predetermined portion of a paste application device having a coating nozzle for applying the paste. A method of applying, wherein the relative height of the end of the application nozzle based on the positional information of the application nozzle when the end of the application nozzle contacts the surface of the substrate in one application target location The relative height of the one application target location is detected, and when applying other application target locations other than the one application target location, the end of the application nozzle is raised to a position higher than the detected height. Then, the step of lowering the end of the application nozzle to a height intermediate between the current position and the detected height is repeated until the end of the application nozzle comes into contact with the surface of the substrate. Paste coating method to.
知は、前記塗布ノズルの端部を前記検知した高さより高
い位置まで上昇させ、次いで、該端部を前記基板側に漸
次降下させる工程を、該端部が前記基板の表面に接触す
るまで繰り返すことにより行われることを特徴とする請
求項1記載のペースト塗布方法。2. The detection of the relative height of the one application target portion includes raising an end of the application nozzle to a position higher than the detected height, and then gradually lowering the end to the substrate side. 2. The paste coating method according to claim 1, wherein the step of performing is performed by repeating until the end portion contacts the surface of the substrate.
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