JP2785075B2 - Pulse delay circuit - Google Patents

Pulse delay circuit

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JP2785075B2
JP2785075B2 JP3071175A JP7117591A JP2785075B2 JP 2785075 B2 JP2785075 B2 JP 2785075B2 JP 3071175 A JP3071175 A JP 3071175A JP 7117591 A JP7117591 A JP 7117591A JP 2785075 B2 JP2785075 B2 JP 2785075B2
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delay circuit
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伸一 橋本
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は各種のパルス回路に用
いられるパルス遅延回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pulse delay circuit used for various pulse circuits.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来よりパルス信号を所望の時間遅延さ
せるパルス遅延回路として、半導体回路を利用すること
が知られている。半導体回路の例えばゲートと呼ばれる
回路を所望の段数継続接続することにより、その接続段
数に応じた遅延時間を得ることができる。
2. Description of the Related Art It is conventionally known to use a semiconductor circuit as a pulse delay circuit for delaying a pulse signal by a desired time. By continuously connecting, for example, a circuit called a gate of a semiconductor circuit to a desired number of stages, a delay time corresponding to the number of connected stages can be obtained.

【0003】一方IC試験装置のように装置が大規模化
した場合、全体の電力消費量が大きくなる不都合があ
る。このため装置の電力消費量を低減することを目的と
して、装置全体をMOS型ICによって構成することが
考えられる。MOS型ICはスイッチ素子がオンの状態
でもオフの状態でも、電力消費量がわずかであり、スイ
ッチ素子がオンからオフ、又はオフからオンの状態に反
転するとき最も電力を消費する。このような特性を持つ
ことから装置全体をMOS型ICによって構成すると電
力消費量を低減することができる。
On the other hand, when the scale of the apparatus is increased, such as an IC test apparatus, there is a disadvantage that the entire power consumption increases. Therefore, for the purpose of reducing the power consumption of the device, it is conceivable that the entire device is configured by a MOS type IC. The MOS type IC consumes a small amount of power regardless of whether the switch element is on or off, and consumes the most power when the switch element is inverted from on to off or from off to on. With such characteristics, power consumption can be reduced if the entire device is constituted by a MOS-type IC.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】装置の低電力化を目的
として、装置全体の回路をMOS型ICによって構成し
た場合、特に遅延回路をMOS型ICによって構成した
とすると、MOS型回路は上述したようにオンとオフの
反転動作を行なう毎に電力を消費するから、反転動作に
比例してIC内部の温度が上昇する傾向がある。
When the circuit of the entire device is constituted by a MOS IC for the purpose of reducing the power consumption of the device, and especially when the delay circuit is constituted by a MOS IC, the MOS circuit is described above. As described above, since power is consumed every time the on / off inversion operation is performed, the temperature inside the IC tends to increase in proportion to the inversion operation.

【0005】このために動作中に遅延させるべき入力パ
ルス信号に歯抜けが発生したりすると、IC内部の温度
が変動し、これによって遅延時間が変動してしまう欠点
が生じる。この発明の目的はMOS型ICによって遅延
回路を構成した場合、遅延させるべきパルスの入来個数
が変動しても、IC内部の電力消費量の変動を抑え、遅
延時間が変動することを阻止することができるパルス遅
延回路を提供しようとするものである。
[0005] For this reason, if the input pulse signal to be delayed during operation is missing, the temperature inside the IC fluctuates, which causes a disadvantage that the delay time fluctuates. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to suppress a fluctuation in power consumption inside an IC and prevent a delay time from fluctuating even when the number of pulses to be delayed fluctuates when a delay circuit is constituted by a MOS type IC. It is an object of the present invention to provide a pulse delay circuit.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明ではMOS型I
Cによって構成した遅延回路において、遅延回路を構成
するMOS型ICと同一の半導体チップ内に電力消費量
に関して遅延回路と同等の動作をする疑似回路と、遅延
すべきパルス信号の歯抜けを検出し、歯抜けに応じた数
のパルスを疑似回路に与えるパルス補正回路を設けて遅
延回路を構成したものである。
According to the present invention, a MOS type I is provided.
In the delay circuit constituted by C, the power consumption is in the same semiconductor chip as the MOS type IC constituting the delay circuit.
A delay circuit comprising a pseudo-circuit that performs the same operation as a delay circuit, and a pulse correction circuit that detects a missing tooth of a pulse signal to be delayed and provides the pseudo-circuit with a number of pulses corresponding to the missing tooth. It is.

【0007】この発明の構成によれば、遅延回路に与え
られるパルスに歯抜けが生じると、その歯抜けに応じた
数のパルスが疑似回路に与えられる。この結果遅延回路
を構成するMOS型ICの半導体チップ内の電力消費量
の変動を抑えることができ、遅延時間の変動を阻止する
ことができる。
According to the configuration of the present invention, when the pulse applied to the delay circuit is missing, the number of pulses corresponding to the missing is applied to the pseudo circuit. As a result, fluctuations in power consumption in the semiconductor chip of the MOS IC constituting the delay circuit can be suppressed, and fluctuations in the delay time can be prevented.

【0008】[0008]

【実施例】図1にこの発明の一実施例を示す。図中1は
MOS型ICを示す。このMOS型IC1内に遅延回路
2と、この遅延回路2と電力消費量に関して同等に動作
する疑似回路3とが形成される。遅延回路2は入力端子
5に与えられるパルス信号PB (図2B)を所定時間遅
延させて出力端子6に出力する動作を行なう。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. In the drawing, reference numeral 1 denotes a MOS type IC. The MOS type IC 1 operates in the same manner with respect to the delay circuit 2 and the delay circuit 2 in terms of power consumption.
And a pseudo circuit 3 which is formed. Delay circuit 2 performs an operation of delaying pulse signal P B (FIG. 2B) applied to input terminal 5 for a predetermined time and outputting it to output terminal 6.

【0009】この発明ではパルス補正回路4を設ける。
このパルス補正回路4は遅延回路2に入力される入力パ
ルス信号PB が歯抜けしたことを検出し、歯抜けしたパ
ルス数に対応する数のパルスを疑似回路に与える動作を
行なう。パルス補正回路4は2個のD型フリップフロッ
プ4A、4Bと、基準クロックPA (図2A)を一定の
時間遅延させる遅延素子4Cと、D型フリップフロップ
4Bの出力信号PD (図2D)によって開閉制御され、
遅延素子4Cによって遅延された信号PE (図2E)を
取出すアンドゲート4Dと、入力パルスPB の入来をD
型フリップフロップ4Aに知らせるインバータ4Eとに
よって構成することができる。
In the present invention, a pulse correction circuit 4 is provided.
The pulse correction circuit 4 detects that the input pulse signal P B to be inputted to the delay circuit 2 and missing teeth, an operation which gives the number of pulses corresponding to the number of pulses missing teeth pseudo circuit. The pulse correction circuit 4 includes two D-type flip-flops 4A and 4B, a delay element 4C for delaying the reference clock P A (FIG. 2A) for a predetermined time, and an output signal P D of the D-type flip-flop 4B (FIG. 2D). Is controlled by opening and closing,
An AND gate 4D for taking out the signal P E (FIG. 2E) delayed by the delay element 4C, and receiving an input pulse P B by D
And an inverter 4E that informs the type flip-flop 4A.

【0010】D型フリップフロップ4Aのデータ入力端
子DにはH論理電圧を与え、またトリガ入力端子には図
2Aに示す基準クロックPA を与える。またこのD型フ
リップフロップ4Aのリセット端子にはインバータ4E
を通じて入力パルス信号PB を与える。次段のD型フリ
ップフロップ4Bのデータ入力端子Dには、前段のD型
フリップフロップ4Aの出力端子を与え、トリガ入力端
子には、基準クロックPA を与える。
[0010] The data input terminal D of the D-type flip-flop 4A give H logic voltage and the trigger input terminal providing a reference clock P A shown in Figure 2A. The reset terminal of the D-type flip-flop 4A has an inverter 4E.
Providing an input pulse signal P B through. The data input terminal D of the next-stage D-type flip-flop 4B, provides an output terminal of the front stage D-type flip-flop 4A, the trigger input terminal, provides a reference clock P A.

【0011】このように構成することにより、前段のD
型フリップフロップ4Aは、基準クロックPA が入力さ
れる毎に、データ入力端子Dに与えられているH論理を
読込む。これと共に、このD型フリップフロップ4Aは
入力パルス信号PB が入力される毎にこの入力パルス信
号PB がリセット端子に入力されるためD型フリップフ
ロップ4Aはリセットされる。
With this configuration, the D in the preceding stage
Type flip-flop 4A, every time the reference clock P A is input, reads the H logic applied to data input terminal D. Simultaneously, the D-type flip-flop. 4A D-type flip-flop 4A for the input pulse signal P B is input to the reset terminal every time the input pulse signal P B is input is reset.

【0012】従って入力パルス信号PB の入力が継続し
ている状態(図2に示す期間T1 )では前段のD型フリ
ップフロップ4Aは入力パルス信号PB によってリセッ
トが繰返される。よって次段のD型フリップフロップ4
Bは入力パルスPB が継続して入力されている間はH論
理を読込む機会がなく、このD型フリップフロップ4B
の出力は図2に示す期間T1 に示すようにL論理に維持
される。従ってアンドゲート4Dは閉状態に維持され
る。
Therefore, in the state where the input of the input pulse signal P B is continued (period T 1 shown in FIG. 2), the reset of the preceding D-type flip-flop 4A is repeated by the input pulse signal P B. Therefore, the next stage D-type flip-flop 4
B while the input pulse P B is continuously input has no read no chance logic H, the D-type flip-flop 4B
The output of is maintained at logic L, as shown in the period T 1 shown in FIG. Therefore, the AND gate 4D is maintained in the closed state.

【0013】これに対し、入力パルス信号PB に歯抜が
生じた場合(図2に示す期間T2 )には、歯抜けの期間
だけ前段のD型フリップフロップ4Aはリセットされな
い。よってこの期間T2 では次段のD型フリップフロッ
プ4Bは基準クロックPA の立上りに同期して前段のD
型フリップフロップ4AのH論理出力を読込み、その出
力にパルスPD を出力する。
On the other hand, when the input pulse signal P B is extracted (the period T 2 shown in FIG. 2 ), the D-type flip-flop 4A in the preceding stage is not reset only during the period of the missing tooth. Therefore preceding D in synchronism with the rising of the next-stage D-type flip-flop 4B In the period T 2 are reference clock P A
It reads the H logic output of the type flip-flop 4A and outputs a pulse P D to its output.

【0014】このパルスPD が出力されることによって
アンドゲート4Dが開に制御され遅延素子4Cで一定時
間遅延されたパルスPE を抽出し、パルスPF として出
力する。アンドゲート4Dから出力されるパルスPF
入力パルス信号PB が歯抜けによって欠落したパルスの
数に対応する。つまり図2に示す例では入力パルス信号
B が点線で示すように1個のパルスが歯抜けした場合
にはアンドゲート4Dからは1個のパルスPF が出力さ
れる。
When the pulse P D is output, the AND gate 4D is controlled to be opened, and a pulse P E delayed for a predetermined time by the delay element 4C is extracted and output as a pulse P F. Pulse P F outputted from the AND gate 4D corresponds to the number of pulses input pulse signal P B were missing by omission teeth. That is, in the example shown in FIG. 2 one pulse P F from the AND gates 4D if the input pulse signal P B is one pulse as shown by the dotted line and missing teeth is output.

【0015】このようにアンドゲート4Dから入力パル
ス信号PB 歯抜に応じた数のパルスPF が出力されるか
ら、このパルスPF を疑似回路3に入力することにより
遅延回路2に与えられるパルスの数と疑似回路3に与え
られるパルスの数の和は単位時間内の比較的長い同期
(基準クロックPA の2〜3周期)で見る限り一定とな
る。図2Gに示すパルスBは遅延回路2に入力されたパ
ルス、Aは疑似回路3に入力したパルスを示す。これら
パルスAとBの総数M=10は図2Hに示す基準クロッ
クPA の数N=11に近似している。
[0015] Since the pulse P F number corresponding to the input pulse signal P B tooth disconnect this way AND gate 4D is output, applied to the delay circuit 2 by inputting the pulse P F pseudo circuit 3 the number sum of the pulses applied to the number and the pseudo circuit 3 pulses is constant as far as a relatively long synchronization in a unit time (2-3 cycles of the reference clock P a). A pulse B shown in FIG. 2G indicates a pulse input to the delay circuit 2, and A indicates a pulse input to the pseudo circuit 3. Total M = 10 of these pulses A and B are approximated to the number N = 11 of the reference clock P A shown in FIG. 2H.

【0016】[0016]

【発明の効果】上述したようにこの発明によれば遅延回
路2と疑似回路3に入力されるパルスの数の和は単位時
間内では一定値となる。従って遅延回路2及び疑似回路
3で消費する電力量は入力パルス信号PB の歯抜にかか
わらず一定値に抑えられる。よってこの発明によれば遅
延させるべき入力パルス信号PB に途中で歯抜けが発生
しても、その歯抜けによって生じた入力パルス信号PB
の不足分は疑似回路3に補足される。この結果MOS型
IC1内の電力消費量は一定値に維持され、よって遅延
回路2と疑似回路3を構成する半導体チップ内の温度は
一定値に維持され、遅延回路2の遅延時間は変動しない
ことになる。
As described above, according to the present invention, the sum of the numbers of pulses input to the delay circuit 2 and the pseudo circuit 3 is constant within a unit time. Therefore the amount of power consumed by the delay circuit 2 and the pseudo circuit 3 is suppressed to a constant value irrespective of the teeth disconnect the input pulse signal P B. Therefore, even if generated omission teeth prematurely input pulse signal P B to be delayed according to the present invention, the input pulse signal P B produced by the toothless
Is supplemented by the pseudo circuit 3. As a result, the power consumption in the MOS type IC 1 is maintained at a constant value, the temperature in the semiconductor chip forming the delay circuit 2 and the pseudo circuit 3 is maintained at a constant value, and the delay time of the delay circuit 2 does not fluctuate. become.

【0017】よってMOS型ICを用いて遅延回路を構
成し、入来する入力パルス信号PB の数が変動しても、
遅延時間が変動しない遅延回路を提供することができ
る。
Therefore, a delay circuit is constituted by using a MOS type IC, and even if the number of incoming input pulse signals P B fluctuates,
A delay circuit in which the delay time does not change can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】この発明の動作を説明するための波形図。FIG. 2 is a waveform chart for explaining the operation of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 MOS型IC 2 遅延素子 3 疑似回路 4 パルス補正回路 5 入力端子 6 出力端子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 MOS type IC 2 Delay element 3 Pseudo circuit 4 Pulse correction circuit 5 Input terminal 6 Output terminal

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 A.入力されたパルス信号をMOS型半導体回路によっ
て所定時間遅延させる遅延回路において、 B.上記MOS型半導体回路を構成する半導体チップ内
に設けられ、電力消費量に関して上記遅延回路と同等の
動作をする疑似回路と、 C.上記半導体回路に与えられる入力パルス信号の歯抜
けを検出し、この歯抜けに応じた数のパルスを上記疑似
回路に与えるパルス補正回路と、 を設けたことを特徴とするパルス遅延回路。
1. A. First Embodiment B. A delay circuit that delays an input pulse signal by a MOS semiconductor circuit for a predetermined time; It is provided in a semiconductor chip constituting the MOS type semiconductor circuit and has the same power consumption as the delay circuit.
B. a pseudo-circuit that operates ; A pulse correction circuit for detecting a missing tooth of an input pulse signal applied to the semiconductor circuit and providing a number of pulses corresponding to the missing tooth to the pseudo circuit.
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