JP2014206433A - Optical tomographic image-capturing device - Google Patents

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正宏 山成
Masahiro Yamanari
正宏 山成
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical tomographic image- capturing device in which components to be used are reduced, adjustment is facilitated and further, cost can be reduced, by simplifying a structure of a polarization-sensitive OCT (optical coherence tomography), and which can be mass-produced and is also capable of implementing normal OCT measurement in spite of the polarization-sensitive OCT.SOLUTION: Polarized beam splitters used for a polarization dependent delay line 133 are collected into one, thereby eliminating angle deviation. By employing an inline-type polarized beam splitter for a polarization-sensitive detection arm 136, adjustment is facilitated and cost can be reduced by simplifying a configuration by reducing collimator lens parts of an output section into two. Further, by providing switching means using an optical switch or shielding means using a shield plate in a sample arm part, an optical tomographic image-capturing device is configured to be available not only as a polarization-sensitive OCT but also as a normal OCT.

Description

本発明は、光断層画像像撮影装置に関し、特に、眼科医療等に用いられるOCTにより断層画像を撮る光断層画像撮影装置に関するものである。 The present invention relates to an optical tomographic imaging apparatus, and more particularly to an optical tomographic imaging apparatus that takes a tomographic image by OCT used in ophthalmic medicine or the like.

光コヒーレンストモグラフィー(OCT)は、非侵襲、非接触で測定できることから、眼科における生体組織の高解像度な断層画像を取得する手段として広く使用されている方法である。 Optical coherence tomography (OCT) is a method widely used as a means for acquiring high-resolution tomographic images of living tissue in ophthalmology because it can be measured non-invasively and non-contactly.

光コヒーレンストモグラフィー(OCT)においては、タイムドメイン方式と呼ばれる、ミラーを動かして参照光の光路長を機械的に変化させながら断層画像取得を行うタイムドメインOCTと、フーリエドメイン方式と呼ばれる、分光器を用いてスペクトル情報を検出し断層画像取得を行うスペクトルドメインOCT、もしくは、波長走査光源を用いてスペクトル干渉信号を検出し断層画像取得を行う光周波数掃引OCTとがある。 In optical coherence tomography (OCT), a time domain method called a time domain method, a time domain OCT that acquires a tomographic image while mechanically changing the optical path length of reference light by moving a mirror, and a spectroscope called a Fourier domain method are used. There are spectral domain OCT that uses spectral information to detect tomographic images, and optical frequency swept OCT that detects spectral interference signals using a wavelength scanning light source to acquire tomographic images.

偏光状態を変化させる複屈折は分子が一定方向に配列する組織において生じる。眼底における網膜では網膜神経繊維層、網膜色素上皮層、血管壁、強膜、篩状板に強い複屈折性が存在する。機能性OCTの一つである偏光感受型OCT(PS−OCT)は、この複屈折性の断層化によるこれら組織の可視化のため、近年、さまざまな偏光感受型OCTの開発が試みられている。 Birefringence that changes the polarization state occurs in tissues in which molecules are arranged in a certain direction. In the retina at the fundus, there is strong birefringence in the retinal nerve fiber layer, retinal pigment epithelium layer, blood vessel wall, sclera, and phloem. In recent years, the development of various polarization-sensitive OCTs has been attempted for polarization-sensitive OCT (PS-OCT), which is one of functional OCTs, in order to visualize these tissues by forming a birefringent tomography.

偏光感受型OCT(PS−OCT)は、試料を観察する測定光に円偏光或いは偏光変調した光を用い、干渉光を2つの直交する直線偏光として検出する構成をとる。 Polarization-sensitive OCT (PS-OCT) employs a configuration in which circularly polarized light or polarization-modulated light is used as measurement light for observing a sample, and interference light is detected as two orthogonal linearly polarized lights.

特許文献1には、偏光感受型OCT(PS−OCT)の1例が開示されている。そこには、Bスキャンと同時に(同期して)光源からの偏光ビーム(偏光子により直線的に偏光されたビーム)をEO変調器(偏光変調器、電気光学変調器)によって連続的に変調し、この連続的に偏光を変調した偏光ビームを分けて、一方を試料に照射し、その反射光を得ると共に、他方を参照光として、両者のスペクトル干渉によりOCT計測を行い、このスペクトル干渉成分のうち、垂直偏光成分と水平偏光成分を同時に2つの光検出器で測定することにより、試料の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができるとしている。   Patent Document 1 discloses an example of polarization-sensitive OCT (PS-OCT). At the same time (synchronously) with the B-scan, a polarized beam from a light source (a beam linearly polarized by a polarizer) is continuously modulated by an EO modulator (polarization modulator, electro-optic modulator). Then, the polarized light beam whose polarization is continuously modulated is divided, one of the samples is irradiated, and the reflected light is obtained, and the other is used as the reference light, and OCT measurement is performed by spectral interference between the two. Of these, the Joan matrix representing the polarization characteristics of the sample can be obtained by measuring the vertical polarization component and the horizontal polarization component simultaneously with two photodetectors.

ところが、EO変調器(偏光変調器、電気光学変調器)は非常に高価なものであるため、EO変調器を用いない方法も試みられている。非特許文献1には、EO変調器を用いないで、試料の偏光特性を表すジョーン行列を得る偏光感受型OCT(PS−OCT)の構成が開示されている。 However, since EO modulators (polarization modulators, electro-optic modulators) are very expensive, attempts have been made to use no EO modulator. Non-Patent Document 1 discloses a configuration of a polarization-sensitive OCT (PS-OCT) that obtains a Joan matrix representing the polarization characteristics of a sample without using an EO modulator.

この文献(非特許文献1)では、EO変調器を用いる代わりにサンプルアーム(偏光ビームを試料に照射し、その反射光を得るための光学系)の中で試料に照射する前に光源からの光を偏光子と2つの偏光ビームスプリッター、2つのダブプリズムからなる偏波依存ディレイラインを設けて、試料に入射する垂直偏光及び水平偏光の2つの入射偏光状態の間の遅延を制御することにより、EO変調器を用いることなく試料の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができるとしている。 In this document (Non-Patent Document 1), instead of using an EO modulator, a sample arm (an optical system for irradiating a sample with a polarized beam and obtaining the reflected light) before irradiating the sample from a light source. By providing a polarization-dependent delay line consisting of a polarizer, two polarizing beam splitters, and two dove prisms, and controlling the delay between the two incident polarization states of vertical and horizontal polarization incident on the sample The Joan matrix representing the polarization characteristics of the sample can be obtained without using an EO modulator.

また、検出アームは1つのキューブ型の無偏光ビームスプリッターと2つのキューブ型の偏光ビームスプリッターで構成され、2つの偏光状態の干渉波は2つのバランス型光検出器により検出される。 The detection arm is composed of one cube-type non-polarization beam splitter and two cube-type polarization beam splitters, and interference waves in two polarization states are detected by two balanced photodetectors.

特許第4344829号公報Japanese Patent No. 434429

”Passive component based multifunctional Jones matrix swept source optical coherence tomography for Doppler and polarization imaging“ OPTICS LETTERS,Vol.37,No.11,June 1,2012,p1958"Passive component based multifunctional Jones matrix swept source optical coherence to doppler and polarization immobilization" OPTICSL. 37, no. 11, June 1, 2012, p1958

しかし、非特許文献1に記載の構成では以下に示す課題があり、この構成による偏光感受型OCT(PS−OCT)の量産化は困難であった。 However, the configuration described in Non-Patent Document 1 has the following problems, and mass production of polarization-sensitive OCT (PS-OCT) using this configuration is difficult.

まず、偏波依存ディレイラインに2つの偏光ビームスプリッターを用いているため、ディレイライン自体が大きくなることが避けられないし、また、ディレイラインの光学調整、特に2つの偏光ビームスプリッターの角度を一致させるためには厳密な調整が必要であった。 First, since two polarization beam splitters are used for the polarization-dependent delay line, it is unavoidable that the delay line itself becomes large, and the optical adjustment of the delay line, in particular, the angles of the two polarization beam splitters are matched. In order to achieve this, strict adjustment was necessary.

次に、検出アームでキューブ型の偏光ビームスプリッターを採用しているため、出力側のコリメータレンズ部が4箇所必要となり、検出アーム自体の構造が複雑で、調整も困難であった。 Next, since the detection arm employs a cube-type polarization beam splitter, four output side collimator lens portions are required, the structure of the detection arm itself is complicated, and adjustment is difficult.

さらに、偏波依存ディレイラインを用いた非特許文献1の偏光感受型OCTは、異なる2つの偏光波の時間的に遅延させているため深さの計測レンジが通常のOCTの1/2と浅くなり、より深い部分を見たい場合は通常のOCTで別途計測する必要があった。 Furthermore, the polarization-sensitive OCT of Non-Patent Document 1 using a polarization-dependent delay line delays two different polarized waves in terms of time, so the depth measurement range is as shallow as 1/2 of normal OCT. Therefore, when it is desired to see a deeper portion, it is necessary to separately measure by normal OCT.

本発明は、上記の課題を解決するものであり、偏波依存ディレイラインや検出アームなどの構造を簡略化することにより、使用する部品を削減し、調整が容易でしかもコストの低減を可能にし、量産化が可能であり、かつ、偏光感受型OCTでありながら通常のOCT計測も可能にした光断層画像撮影装置を提供することを目的とする。 The present invention solves the above-mentioned problems, and by simplifying the structure of the polarization-dependent delay line, detection arm, etc., the number of parts used is reduced, adjustment is easy, and cost reduction is possible. An object of the present invention is to provide an optical tomographic imaging apparatus that can be mass-produced and that is capable of performing normal OCT measurement while being polarization-sensitive OCT.

第1に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光(サンプル光)を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを備え、
前記サンプル光分割遅延手段は、1つの偏光ビームスプリッターと2つの全反射プリズムを備え、かつ、前記サンプル光が該偏光ビームスプリッターの中心から所定の距離離れた位置に入射することを特徴とする。
First, an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention includes:
A branching means for branching into a sample arm for irradiating the object to be inspected with light from the light source and a reference arm for irradiating the reference object;
In the sample arm, the light (sample light) applied to the object to be inspected is divided into first light and second light having different polarization directions, and the divided first light and second light are divided. Sample light splitting delay means for delaying the light at different times,
An interference signal composed of a combination of the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm, and the second light reflected from the inspection object of the sample arm. And an acquisition means for acquiring a tomographic image indicating polarization information of the object to be inspected based on an interference signal formed by multiplexing light from the reference arm,
The sample light splitting delay means includes one polarization beam splitter and two total reflection prisms, and the sample light is incident on a position away from the center of the polarization beam splitter by a predetermined distance.

上記構成の装置によれば、
1つの偏光ビームスプリッターで互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光を異なる時間に遅延可能であるため、非特許文献1のように2つの偏光ビームスプリッターの反射面角度を一致させるという調整が不要となるため、調整が容易となると共に、反射面角度ずれそのものが解消され、良好な断層画像が取得可能になる。
また、構成を簡略化したことにより、部品の数が減り、装置の小型化とコスト低減が可能となる。
According to the apparatus having the above configuration,
Since the first light and the second light having different polarization directions can be delayed at different times by one polarization beam splitter, the reflection surface angles of the two polarization beam splitters are matched as in Non-Patent Document 1. Therefore, the adjustment becomes easy and the reflection surface angle deviation itself is eliminated, and a good tomographic image can be acquired.
Further, by simplifying the configuration, the number of parts is reduced, and the size and cost of the apparatus can be reduced.

第2に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光を合波する手段及び前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光を合波する手段にキューブ型またはプレート型の無偏光ビームスプリッターとインライン型の偏光ビームスプリッターを用いることを特徴とする。
Secondly, an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention includes:
Means for combining the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm, and the second light reflected from the inspection object of the sample arm and the reference A cube-type or plate-type non-polarizing beam splitter and an in-line type polarizing beam splitter are used as means for multiplexing the light from the arm.

上記構成の装置によれば、
サンプルアームの被検査物から反射された第一の光と参照アームからの光を合波する手段及びサンプルアームの被検査物から反射された第二の光と参照アームからの光を合波する手段にインライン型の偏光ビームスプリッターを用いることにより出力部のコリメータレンズ部を2箇所に減らすことが可能になり、調整や容易になると共に、部品削減によるコスト低減が可能になる。
According to the apparatus having the above configuration,
The first light reflected from the sample arm inspection object and the light from the reference arm are combined, and the second light reflected from the sample arm inspection object and the light from the reference arm are combined. By using an in-line type polarization beam splitter as the means, it is possible to reduce the collimator lens part of the output part to two places, making adjustment and easy, and cost reduction by reducing parts.

第3に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、偏光角度を45度方向に制御すると共に、前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度も45度に制御する制御手段を備えたことを特徴とする。
Thirdly, an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention includes:
An in-line type polarization controller is provided before the sample light enters the sample light splitting delay means in the sample arm branched by the branch means, and the polarization angle is controlled in the direction of 45 degrees, and in front of the polarization beam splitter. Control means for controlling the polarization angle of the arranged polarizer to 45 degrees is also provided.

上記構成の装置によれば、
インライン型偏光コントローラの偏光角度と偏光素子の偏光角度を45度に制御することにより、垂直方向の偏光波と水平方向の偏光波を効率よく取り出すことが可能になる。
According to the apparatus having the above configuration,
By controlling the polarization angle of the in-line type polarization controller and the polarization angle of the polarization element to 45 degrees, it becomes possible to efficiently extract vertically polarized waves and horizontally polarized waves.

第4に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを備え、
前記サンプルアームには前記分岐手段で光源の光を前記サンプルアームに分岐後、前記サンプル光分割遅延手段を介さない第二の光路を備え、前記サンプル光分割遅延手段を介す第一の光路と前記第二の光路とを切替える切替手段を備えたことを特徴とする。
Fourth, an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention is
A branching means for branching into a sample arm for irradiating the object to be inspected with light from the light source and a reference arm for irradiating the reference object;
Within the sample arm, the light irradiated to the object to be inspected is divided into first light and second light having different polarization directions, and the divided first light and second light are mutually separated. Sample light split delay means for delaying at different times;
An interference signal composed of a combination of the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm, and the second light reflected from the inspection object of the sample arm. And an acquisition means for acquiring a tomographic image indicating polarization information of the object to be inspected based on an interference signal formed by multiplexing light from the reference arm,
The sample arm is provided with a second optical path that does not pass through the sample light splitting delay means after the light from the light source is split into the sample arm by the splitting means, and the first optical path through the sample light splitting delay means Switching means for switching between the second optical path is provided.

上記構成の装置によれば、
切替手段により偏光感受型OCT(PS−OCT)と通常のOCTを切り替えることが可能なため、装置を入れ替えることなく偏光感受型OCTと通常のOCTの両方による断層画像が取得可能となり、通常のOCTに切り替えることにより深さの計測レンジが偏光感受型OCT時に比べ2倍になる。
According to the apparatus having the above configuration,
Since the switching means can switch between the polarization-sensitive OCT (PS-OCT) and the normal OCT, it is possible to acquire tomographic images by both the polarization-sensitive OCT and the normal OCT without replacing the apparatus. By switching to, the depth measurement range is doubled compared to the polarization sensitive OCT.

第5に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段を備え、
前記サンプル光分割遅延手段において、前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか一つの光を遮る遮断手段を備えたことを特徴とする。
Fifth, an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention is
A branching means for branching into a sample arm for irradiating the object to be inspected with light from the light source and a reference arm for irradiating the reference object;
Within the sample arm, the light irradiated to the object to be inspected is divided into first light and second light having different polarization directions, and the divided first light and second light are mutually separated. Sample light split delay means for delaying at different times;
An interference signal composed of a combination of the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm;
Acquisition means for acquiring a tomographic image indicating polarization information of the inspection object based on an interference signal formed by combining the second light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm With
The sample light splitting delay means includes a blocking means for blocking any one of the first light and the second light.

上記構成の装置によれば、
偏波依存ディレイライン内で互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光のいずれか1つを遮断することで、遮断されない方の1つの光の偏光状態のOCTによる断層画像を遮断する前と比べ2倍の深さの計測レンジで取得できる。
According to the apparatus having the above configuration,
By blocking any one of the first light and the second light having different polarization directions in the polarization-dependent delay line, the tomographic image by OCT of the polarization state of one of the light that is not blocked is blocked. It can be obtained in the measurement range twice as deep as before.

第6に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、前記サンプル光分割遅延手段内の遮断手段について、遮断する光を前記第一の光か前記第二の光か選択可能な手段を備えたことを特徴とする。 Sixthly, the optical tomography apparatus according to the present invention includes means for selecting whether the light to be blocked is the first light or the second light as the blocking means in the sample light splitting delay means. It is characterized by that.

上記構成の装置によれば、
選択手段により検者の見たい偏光方向である偏光状態のOCTによる断層画像を遮断する前と比べ2倍の深さの計測レンジで取得できる。
According to the apparatus having the above configuration,
The selection means can obtain a measurement range twice as deep as before the tomographic image by OCT in the polarization state which is the polarization direction the examiner wants to see is cut off.

第7に、本発明に係る光断層画像撮影装置は、
前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記ンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、
前記サンプル光分割遅延手段における遮断手段により遮られることなく、前記被検査物に照射する前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか1つの光の偏光方向の偏光角度に、前記インライン型偏光コントローラにより制御された偏光角度と前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度を一致するように制御する制御手段を備えたことを特徴とする。
Seventh, an optical tomographic imaging apparatus according to the present invention provides:
With an in-line type polarization controller before the sample light is incident on the sample light splitting delay means in the sample arm branching by said branching means,
Without being blocked by the blocking means in the sample light splitting delay means, the polarization angle of the polarization direction of any one of the first light and the second light that irradiates the inspection object, Control means is provided for controlling the polarization angle controlled by the inline polarization controller and the polarization angle of the polarizer disposed in front of the polarization beam splitter so as to coincide with each other.

上記構成の装置によれば、
被検査物に照射する光の強度が最適となるようにインライン型偏光コントローラの複屈折軸や位相遅延量と偏光素子の偏光角度を制御するため、被検査物に照射する偏光波を効率よく取り出すことが可能になる。
According to the apparatus having the above configuration,
In order to control the birefringence axis and phase delay amount of the in-line polarization controller and the polarization angle of the polarizing element so that the intensity of light irradiating the inspection object is optimized, the polarized wave irradiating the inspection object is efficiently extracted. It becomes possible.

本発明によれば、非常に高価なEO変調器(偏光変調器、電気光学変調器)を用いることなく、垂直偏光成分と水平偏光成分を同時に測定し試料の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができ、かつ、偏光感受型OCTでありながら通常のOCT計測も可能な光断層画像撮影装置を、低コストで提供できる。 According to the present invention, a Joan matrix representing a polarization characteristic of a sample can be obtained by simultaneously measuring a vertical polarization component and a horizontal polarization component without using a very expensive EO modulator (polarization modulator, electro-optic modulator). Therefore, an optical tomographic imaging apparatus capable of performing normal OCT measurement while being polarization-sensitive OCT can be provided at low cost.

本発明による光断層画像取得部の一例の詳細を示した図である。It is the figure which showed the detail of an example of the optical tomographic image acquisition part by this invention. 光断層画像撮影装置の構成を示した図である。It is the figure which showed the structure of the optical tomography apparatus. 偏光感受型OCTと通常のOCTの切替手段を示した図である。It is the figure which showed the switching means of polarization-sensitive OCT and normal OCT. 偏波依存ディレイラインの中で垂直方向及び水平方向の2つの偏光状態の測定光のいずれか1つを遮断する方法を示した図である。It is the figure which showed the method of interrupting any one of the measurement light of two polarization states of a perpendicular direction and a horizontal direction in a polarization dependence delay line. 偏光感受型OCTと通常のOCTの切替手段の別の実施例を示した図である。It is the figure which showed another Example of the switching means of polarization-sensitive OCT and normal OCT.

以下、本発明の一実施例に係る光断層画像撮影装置について図面を参照して説明する。図1には断層画像取得部100の詳細構成を示す。 An optical tomographic imaging apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a detailed configuration of the tomographic image acquisition unit 100.

図1に示すように、断層画像取得部100では試料(被検査物)117に測定光を照射することにより、試料117の2次元又は/及び3次元断層画像を撮影する。本実施形態では、時間的に波長を変化させて走査する波長走査光源101を用いたフーリエドメイン(光周波数掃引)方式が採用されている。   As shown in FIG. 1, the tomographic image acquisition unit 100 shoots a two-dimensional or / and three-dimensional tomographic image of the sample 117 by irradiating the sample (inspection object) 117 with measurement light. In this embodiment, a Fourier domain (optical frequency sweep) method using a wavelength scanning light source 101 that scans while changing the wavelength with time is employed.

即ち、波長走査光源101から出力された光は、光ファイバを通してファイバーカプラ102に入力され、このファイバーカプラ102において、例えば5:95の比率で、参照光と測定光とに分波されて各々参照アーム160及びサンプルアーム150へ出力される。そのうち参照アーム160に出力された参照光は、光ファイバを通って光サーキュレーター120に入力後、コリメータレンズ121に入力され、参照ミラー122へ入射される。参照ミラー122は試料の表面位置に参照光路を合わせる光路長調整のため光路軸上で移動制御可能であり、OCT断層像を測定する前に、測定光路長と参照光路長を合わせる。   That is, the light output from the wavelength scanning light source 101 is input to the fiber coupler 102 through the optical fiber, and is split into the reference light and the measurement light at the ratio of, for example, 5:95, and is respectively referred to. It is output to the arm 160 and the sample arm 150. Of these, the reference light output to the reference arm 160 is input to the optical circulator 120 through the optical fiber, is then input to the collimator lens 121, and is incident on the reference mirror 122. The reference mirror 122 can be moved and controlled on the optical path axis to adjust the optical path length for aligning the reference optical path with the surface position of the sample, and the measurement optical path length and the reference optical path length are matched before measuring the OCT tomographic image.

そして、参照ミラー122で反射された参照光はコリメータレンズ121から光ファイバを通り光サーキュレーター120で光路が変更され、偏光コントローラ119を通り、コリメータレンズ123に入力し偏光感受型検出アーム136に入力される。 Then, the reference light reflected by the reference mirror 122 passes through the optical fiber from the collimator lens 121, the optical path is changed by the optical circulator 120, passes through the polarization controller 119, enters the collimator lens 123, and enters the polarization sensitive detection arm 136. The

一方、前記ファイバーカプラ102からサンプルアーム150に出力された測定光は、光ファイバを通って偏光コントローラ103を介して偏波依存ディレイライン133のコリメータレンズ104に入力後、偏光子105を通る。本実施例では偏光子105の偏光角度は45度に設定してある。さらに、偏光コントローラ103を通過しコリメータレンズ104に入力する直前の偏光角度も45度に制御され、45度に偏光された測定光が効率よく取り出せるように、偏光コントローラ103及び偏光子105が調整及び制御されている。 On the other hand, the measurement light output from the fiber coupler 102 to the sample arm 150 is input to the collimator lens 104 of the polarization dependent delay line 133 through the optical fiber via the polarization controller 103 and then passes through the polarizer 105. In this embodiment, the polarization angle of the polarizer 105 is set to 45 degrees. Furthermore, the polarization angle immediately before passing through the polarization controller 103 and entering the collimator lens 104 is also controlled to 45 degrees, and the polarization controller 103 and the polarizer 105 are adjusted and adjusted so that measurement light polarized at 45 degrees can be efficiently extracted. It is controlled.

45度に偏光された測定光は偏波依存ディレイライン133内の偏光ビームスプリッター106を通すことにより互いに直交する2つの直線偏光状態(垂直方向及び水平方向)の光に分割される。分割された測定光は各々異なる全反射プリズム107及び108で反射され、2つの異なる光路で伝播させる。ここで、全反射プリズム107及び108の少なくとも1つの全反射プリズムを移動制御することにより、2つの異なる偏光状態(垂直方向及び水平方向)の間の遅延を生じさせる。図1では、全反射プリズム107を移動可能に示しているが、当然のことながら、全反射プリズム108を移動可能にしてもよいし、また、全反射プリズム107及び108両方を移動可能にしてもよい。 The measurement light polarized at 45 degrees passes through the polarization beam splitter 106 in the polarization-dependent delay line 133 and is split into light in two linear polarization states (vertical direction and horizontal direction) orthogonal to each other. The divided measurement lights are reflected by different total reflection prisms 107 and 108, respectively, and propagate in two different optical paths. Here, the movement between at least one of the total reflection prisms 107 and 108 is controlled to cause a delay between two different polarization states (vertical direction and horizontal direction). In FIG. 1, the total reflection prism 107 is shown to be movable. However, as a matter of course, the total reflection prism 108 may be movable, or both the total reflection prisms 107 and 108 may be movable. Good.

ここで、入射測定光を偏光ビームスプリッター106の中心から一定距離外れた位置に入射するように設定することにより、1つの偏光ビームスプリッター(106)だけで2つの異なる偏光状態の光を生成し、各々異なる全反射プリズム107及び108で反射されることにより、2つの異なる偏光状態(垂直方向及び水平方向)の間にある一定の遅延を持つ測定光が生成され、反射ミラー110で光路を変えた後、コリメータレンズ109により光ファイバ接続される。 Here, by setting the incident measurement light to be incident on a position deviated from the center of the polarization beam splitter 106, light of two different polarization states is generated with only one polarization beam splitter (106), Reflected by different total reflection prisms 107 and 108, measurement light having a certain delay between two different polarization states (vertical and horizontal directions) is generated, and the optical path is changed by the reflection mirror 110. Thereafter, an optical fiber is connected by a collimator lens 109.

光ファイバを通った測定光は、偏光コントローラ111を通った後、光サーキュレーター112で光路が変更され、コリメータレンズ113に入射後、ガルバノミラー114及び115で反射し、レンズ116により集光して、試料(被検査物)117へ入射する。   After the measurement light passing through the optical fiber passes through the polarization controller 111, the optical path is changed by the optical circulator 112, enters the collimator lens 113, is reflected by the galvanometer mirrors 114 and 115, is condensed by the lens 116, It enters the sample (inspection object) 117.

ガルバノミラー114及び115は、測定光を走査させるためのもので、ガルバノミラー114及び115を制御することにより、測定光を試料117の表面において水平方向に及び垂直方向に走査されるようになっている。これにより、試料117の2次元の断層画像や3次元の断層画像が取得できるのである。   The galvanometer mirrors 114 and 115 are for scanning the measurement light. By controlling the galvanometer mirrors 114 and 115, the measurement light is scanned in the horizontal direction and the vertical direction on the surface of the sample 117. Yes. Thereby, a two-dimensional tomographic image and a three-dimensional tomographic image of the sample 117 can be acquired.

試料(被検査物)117で反射された測定光は、上記とは逆にレンズ116、ガルバノミラー115及び114を通り、コリメータレンズ113に入力される。そして、測定光は光ファイバを通って前記光サーキュレーター112で光路が変更され、偏光コントローラ118を通った後、コリメータレンズ125に入力し偏光感受型検出アーム136に入力される   The measurement light reflected by the sample (inspection object) 117 passes through the lens 116 and the galvanometer mirrors 115 and 114, and is input to the collimator lens 113. Then, the optical path of the measurement light is changed by the optical circulator 112 through the optical fiber, and after passing through the polarization controller 118, is input to the collimator lens 125 and input to the polarization sensitive detection arm 136.

コリメータレンズ123から偏光感受型検出アーム136に入力し、偏光子124で偏光された参照光と、試料(被検査物)117で反射された測定光は無偏光ビームスプリッター132を用いて合成され、分割される。分割された光は、その後、コリメータレンズ126及び127に入力後、2つのインライン型の偏光ビームスプリッター128及び129によって2つの直交する偏光状態に分けられる。   The reference light that is input from the collimator lens 123 to the polarization sensitive detection arm 136 and is polarized by the polarizer 124 and the measurement light that is reflected by the sample (inspection object) 117 are combined using a non-polarizing beam splitter 132, Divided. The split light is then input to collimator lenses 126 and 127 and divided into two orthogonal polarization states by two in-line polarization beam splitters 128 and 129.

ここで、インライン型の偏光ビームスプリッター128及び129後の参照光の垂直方向及び水平方向の直線偏光のパワーを等しくするために、偏光子124の偏光角度は45度に調整すると共に、効率を上げるため、事前に通る偏光コントローラ119を用いて偏光子124へ入射する直前の偏光角度がほぼ45度となるように制御されている。   Here, in order to equalize the power of the linearly polarized light in the vertical and horizontal directions of the reference light after the inline polarization beam splitters 128 and 129, the polarization angle of the polarizer 124 is adjusted to 45 degrees and the efficiency is increased. Therefore, the polarization controller 119 passing in advance is controlled so that the polarization angle immediately before entering the polarizer 124 is approximately 45 degrees.

2つの偏光状態の干渉は、2つのバランス型光検出器130及び131により検出される。検出された垂直方向及び水平方向の2つの偏光状態の干渉信号は図2に示す制御装置200に設けられた演算部202において、各干渉信号に対するフーリエ変換などの処理が行われ、もって走査線に沿う断層画像が取得される。取得された断層画像は記憶部203に記憶される。   The interference between the two polarization states is detected by the two balanced photodetectors 130 and 131. The detected interference signals of two polarization states in the vertical direction and the horizontal direction are subjected to processing such as Fourier transform for each interference signal in the arithmetic unit 202 provided in the control device 200 shown in FIG. A tomographic image along is acquired. The acquired tomographic image is stored in the storage unit 203.

上記のようにEO変調器を用いる代わりに、1つの偏光ビームスプリッターと2つの全反射プリズムの構成からなる偏波依存ディレイラインを用いることにより、試料(被検査物)117の偏光特性を表すジョーンズ行列を得られるのである。   Instead of using the EO modulator as described above, a polarization dependent delay line comprising a configuration of one polarization beam splitter and two total reflection prisms is used, so that Jones representing the polarization characteristics of the sample (inspected object) 117 is obtained. You can get a matrix.

次に偏光感受型OCTと通常のOCTの切替方法について図3を用いて説明する。   Next, a method for switching between the polarization-sensitive OCT and the normal OCT will be described with reference to FIG.

図3は偏光感受型OCTと通常のOCTの切替方法の一実施例を示した図であり、光スイッチ301及び302を用いたものである。光スイッチ301と光スイッチ302の間には、偏光感受型OCTのための偏波依存ディレイライン133を介する光路と偏波依存ディレイライン133を介さない光ファイバ303を通る光路の2つの光路を設け、光スイッチ301及び302により、いずれかの光路を切替可能にしたものである。   FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of a method for switching between polarization-sensitive OCT and normal OCT, and uses optical switches 301 and 302. Between the optical switch 301 and the optical switch 302, there are provided two optical paths: an optical path through the polarization-dependent delay line 133 for the polarization-sensitive OCT and an optical path through the optical fiber 303 not through the polarization-dependent delay line 133. Any one of the optical paths can be switched by the optical switches 301 and 302.

光スイッチ301及び302を切り替えることにより、測定光が偏波依存ディレイライン133を通る場合は、断層像取得部100は、偏光感受型OCTとして作用するため、試料117の垂直偏光成分と水平偏光成分の干渉信号を同時に測定して試料117の偏光特性を表すジョーン行列を得ることができる。   When the measurement light passes through the polarization-dependent delay line 133 by switching the optical switches 301 and 302, the tomographic image acquisition unit 100 functions as a polarization-sensitive OCT, and thus the vertical polarization component and the horizontal polarization component of the sample 117 are used. Thus, a Joan matrix representing the polarization characteristic of the sample 117 can be obtained.

測定光が偏波依存ディレイライン133を通らず、光ファイバ303を通る場合は、断層像取得部100は、通常のOCTとして作用するため、測定光は偏光されることなく試料117に入射し、結果的に制御部200では通常のOCTが取得され、記憶部203に記憶される。このとき、取得される断層画像は偏光感受型OCTの時に比べての2倍の深さ計測レンジで取得できる。   When the measurement light does not pass through the polarization-dependent delay line 133 but passes through the optical fiber 303, the tomographic image acquisition unit 100 acts as a normal OCT, so that the measurement light enters the sample 117 without being polarized, As a result, the control unit 200 acquires normal OCT and stores it in the storage unit 203. At this time, the acquired tomographic image can be acquired in a depth measurement range twice as large as that in the polarization-sensitive OCT.

図4は偏波依存ディレイライン133の中で、垂直方向及び水平方向の2つの偏光状態の測定光のいずれか1つを遮断する方法を示す。遮蔽板401は図4記載のように回転方向に移動可能になっており、制御信号により垂直方向及び水平方向の2つの偏光状態の測定光のいずれかを選択して遮断可能となっている。これにより検者が見たい1つの偏光状態の断層画像を上述のような同時に2つの偏光状態の断層画像を取得する場合に比べて深さ方向で2倍の計測レンジを持つ断層画像の取得が可能になる。   FIG. 4 shows a method of blocking any one of the measurement light in two polarization states in the vertical direction and the horizontal direction in the polarization dependent delay line 133. As shown in FIG. 4, the shielding plate 401 can move in the rotation direction, and can select and block one of the measurement lights in two polarization states in the vertical direction and the horizontal direction by a control signal. This makes it possible to acquire a tomographic image having a measurement range twice as deep in the depth direction as compared with the case where a tomographic image of one polarization state that the examiner wants to see is acquired simultaneously as described above. It becomes possible.

また、このとき、もし垂直方向の偏光状態を選択して断層画像を取得する場合は、偏光コントローラ103及び偏光子105を用いて偏光ビームスプリッター106へ入射する偏光の向きを垂直方向(90度)に制御することにより、偏光波が効率よく取り出すことができる。逆に水平方向の偏光状態を選択して断層画像を取得する場合は、偏光コントローラ103及び偏光子105を用いて偏光状態を水平方向(0度)に制御することにより、偏光波が効率よく取り出すことができることは言うまでもない。   At this time, if a tomographic image is acquired by selecting a vertical polarization state, the direction of polarized light incident on the polarization beam splitter 106 using the polarization controller 103 and the polarizer 105 is set to the vertical direction (90 degrees). By controlling to, the polarized wave can be taken out efficiently. Conversely, when acquiring a tomographic image by selecting the polarization state in the horizontal direction, the polarization wave is efficiently extracted by controlling the polarization state in the horizontal direction (0 degree) using the polarization controller 103 and the polarizer 105. It goes without saying that it can be done.

図4では、遮蔽板401は回転方向に移動可能になっているが、当然これに限ったものではなく、検者が手動で遮蔽板を置いてもよいし、垂直方向及び水平方向の2つの偏光状態の測定光のいずれか1つを限定して遮蔽する構成でもよい。勿論、遮蔽する方法は上記に記した構成に限ったものではなく、垂直方向及び水平方向の2つの偏光状態の測定光のいずれか1つを遮蔽可能な構成であればよい。   In FIG. 4, the shielding plate 401 is movable in the rotational direction, but it is naturally not limited to this, and the examiner may manually place the shielding plate, or two in the vertical and horizontal directions. A configuration in which any one of the measurement light in the polarization state is limited and shielded may be used. Of course, the shielding method is not limited to the above-described configuration, and any configuration that can shield any one of the measurement lights in the two polarization states in the vertical direction and the horizontal direction may be used.

また、図5に示すように、偏波依存ディレイライン133の中に反射ミラー501、502及び503を配置することも可能である。この場合は図3に示したような光スイッチ301及び302や光ファイバ303は不要になる。   Further, as shown in FIG. 5, reflection mirrors 501, 502, and 503 can be arranged in the polarization dependent delay line 133. In this case, the optical switches 301 and 302 and the optical fiber 303 as shown in FIG.

上記の実施例では、波長走査光源を用いたフーリエドメイン(光周波数掃引)方式のOCTを採用しているが、勿論のことではあるが、この方式に限ったものではない。タイムドメイン方式と呼ばれる、ミラーを動かして参照光の光路長を機械的に変化させながら断層画像取得を行うタイムドメインOCTや、本実施例と同じフーリエドメイン方式ではあるが、分光器を用いてスペクトル情報を検出し断層画像取得を行うスペクトルドメインOCTでも同様な構成にて本発明の効果は得ることができることは言うまでもない。   In the above embodiment, Fourier domain (optical frequency sweep) type OCT using a wavelength scanning light source is adopted, but it is needless to say that the present invention is not limited to this type. Time domain OCT, which is called the time domain method, acquires tomographic images while mechanically changing the optical path length of the reference light by moving a mirror, or the same Fourier domain method as in the present embodiment. It goes without saying that the effect of the present invention can be obtained with the same configuration even in the spectral domain OCT that detects information and acquires a tomographic image.

以上、本発明の実施形態について詳述してきたが、これらはあくまでも例示であって、本発明はかかる実施形態における具体的な記載によって、何等、限定的に解釈されるものでなく、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた態様において実施され得るものであり、また、そのような実施態様が、本発明の趣旨を逸脱しない限り、何れも、本発明の範囲内に含まれるものであることが、理解されるべきである。   The embodiments of the present invention have been described in detail above. However, these are merely examples, and the present invention is not construed as being limited by specific descriptions in the embodiments. The present invention can be carried out in a mode in which various changes, modifications, improvements, etc. are added based on the knowledge, and such a mode is within the scope of the present invention as long as it does not depart from the gist of the present invention. It should be understood that it is included in.

以上のように、本実施形態によれば、非常に高価なEO変調器(偏光変調器、電気光学変調器)を用いることなく、垂直偏光成分と水平偏光成分を同時に測定し試料の偏光特性を表すジョーンズ行列を得ることができ、かつ、偏光感受型OCTでありながら通常のOCT計測も可能な光断層画像撮影装置を、低コストで提供できるのである。 As described above, according to the present embodiment, the vertical polarization component and the horizontal polarization component are measured simultaneously without using a very expensive EO modulator (polarization modulator, electro-optic modulator), and the polarization characteristics of the sample are measured. It is possible to provide an optical tomographic imaging apparatus capable of obtaining a Jones matrix to be expressed and capable of performing normal OCT measurement while being polarization-sensitive OCT at low cost.

100・・断層画像取得部101・・波長走査光源102・・ファイバーカプラ106・・偏光ビームスプリッター112、120・・光サーキュレーター128、129・・インライン型偏光ビームスプリッター130、131・・バランス型光検出器132・・無偏光ビームスプリッター133・・偏波依存ディレイライン201・・ADボード202・・演算部203・・記憶部 100 .. Tomographic image acquisition unit 101. Wavelength scanning light source 102. Fiber coupler 106. Polarization beam splitter 112, 120. Optical circulators 128, 129. Inline polarization beam splitter 130, 131. Balanced light detection. ... Non-polarizing beam splitter 133.. Polarization dependent delay line 201.. AD board 202.

Claims (7)

光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光(サンプル光)を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、
前記サンプル光分割遅延手段は、1つの偏光ビームスプリッターと2つの全反射プリズムを備え、かつ、前記サンプル光が該偏光ビームスプリッターの中心から所定の距離離れた位置に入射することを特徴とする光断層画像撮影装置。
A branching means for branching into a sample arm for irradiating the object to be inspected with light from the light source and a reference arm for irradiating the reference object;
In the sample arm, the light (sample light) applied to the object to be inspected is divided into first light and second light having different polarization directions, and the divided first light and second light are divided. Sample light splitting delay means for delaying the light at different times,
An interference signal composed of a combination of the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm;
Acquisition means for acquiring a tomographic image indicating polarization information of the inspection object based on an interference signal formed by combining the second light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm An optical tomographic imaging apparatus comprising:
The sample light splitting delay means includes one polarization beam splitter and two total reflection prisms, and the sample light is incident at a position away from the center of the polarization beam splitter by a predetermined distance. Tomographic imaging device.
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光を合波する手段及び前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光を合波する手段にキューブ型またはプレート型の無偏光ビームスプリッターとインライン型の偏光ビームスプリッターを用いることを特徴とする、請求項1に記載の光断層画像撮影装置。 Means for combining the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm, and the second light reflected from the inspection object of the sample arm and the reference 2. The optical tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein a cube-type or plate-type non-polarization beam splitter and an in-line polarization beam splitter are used as means for multiplexing the light from the arm. 光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、
さらに、前記サンプルアームには前記分岐手段で光源の光を前記サンプルアームに分岐後、前記サンプル光分割遅延手段を介さない第二の光路を備え、前記サンプル光分割遅延手段を介す第一の光路と前記第二の光路とを切替える切替手段を備えたことを特徴とする光断層画像撮影装置。
A branching means for branching into a sample arm for irradiating the object to be inspected with light from the light source and a reference arm for irradiating the reference object;
Within the sample arm, the light irradiated to the object to be inspected is divided into first light and second light having different polarization directions, and the divided first light and second light are mutually separated. Sample light split delay means for delaying at different times;
An interference signal composed of a combination of the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm;
Acquisition means for acquiring a tomographic image indicating polarization information of the inspection object based on an interference signal formed by combining the second light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm An optical tomographic imaging apparatus comprising:
The sample arm further includes a second optical path that does not pass through the sample light split delay means after the light from the light source is split into the sample arm by the branch means, and the first light passes through the sample light split delay means. An optical tomographic imaging apparatus comprising switching means for switching between an optical path and the second optical path.
光源の光を被検査物に照射するサンプルアームと参照物に照射する参照アームに分岐する分岐手段と、
前記サンプルアーム内で、前記被検査物に照射する光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光に分割し、該分割した前記第一の光と前記第二の光を互いに異なる時間に遅延させるサンプル光分割遅延手段と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第一の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号と、
前記サンプルアームの前記被検査物から反射された前記第二の光と前記参照アームからの光の合波からなる干渉信号に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段とを有する光断層画像撮影装置であって、
さらに、前記サンプル光分割遅延手段において、前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか一つの光を遮る遮断手段を備えたことを特徴とする光断層画像撮影装置。
A branching means for branching into a sample arm for irradiating the object to be inspected with light from the light source and a reference arm for irradiating the reference object;
Within the sample arm, the light irradiated to the object to be inspected is divided into first light and second light having different polarization directions, and the divided first light and second light are mutually separated. Sample light split delay means for delaying at different times;
An interference signal composed of a combination of the first light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm;
Acquisition means for acquiring a tomographic image indicating polarization information of the inspection object based on an interference signal formed by combining the second light reflected from the inspection object of the sample arm and the light from the reference arm An optical tomographic imaging apparatus comprising:
The optical tomographic imaging apparatus according to claim 1, further comprising: a blocking means for blocking any one of the first light and the second light in the sample light splitting delay means.
前記サンプル光分割遅延手段内の遮断手段は、遮断する光を前記第一の光か前記第二の光かを選択可能な選択手段を備えたことを特徴とする請求項4に記載の光断層画像撮影装置。 5. The optical tomograph according to claim 4, wherein the blocking means in the sample light splitting delay means comprises selection means capable of selecting whether the light to be blocked is the first light or the second light. Image shooting device. 前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、偏光角度を45度方向に制御すると共に、前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度も45度に制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光断層画像撮影装置。 An in-line type polarization controller is provided before the sample light enters the sample light splitting delay means in the sample arm branched by the branch means, and the polarization angle is controlled in the direction of 45 degrees, and in front of the polarization beam splitter. 3. The optical tomographic imaging apparatus according to claim 1, further comprising a control unit that controls the polarization angle of the arranged polarizer to 45 degrees. 前記分岐手段により分岐したサンプルアームの中で前記サンプル光分割遅延手段にサンプル光が入射する前にインライン型偏光コントローラを備え、
前記サンプル光分割遅延手段における遮断手段により遮られることなく、前記被検査物に照射する前記第一の光と前記第二の光の内のいずれか一つの光の偏光方向の偏光角度に、前記インライン型偏光コントローラにより制御された偏光角度と前記偏光ビームスプリッターの前に配置された偏光子の偏光角度を一致するように制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光断層画像撮影装置。
An inline polarization controller is provided before the sample light is incident on the sample light split delay means in the sample arm branched by the branch means,
Without being blocked by the blocking means in the sample light splitting delay means, the polarization angle of the polarization direction of any one of the first light and the second light that irradiates the inspection object, 6. A control means for controlling the polarization angle controlled by an in-line polarization controller to match the polarization angle of a polarizer disposed in front of the polarization beam splitter. An optical tomographic imaging apparatus described in 1.
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