JP2002198568A - Light projecting unit and photoelectric sensor - Google Patents
Light projecting unit and photoelectric sensorInfo
- Publication number
- JP2002198568A JP2002198568A JP2000397638A JP2000397638A JP2002198568A JP 2002198568 A JP2002198568 A JP 2002198568A JP 2000397638 A JP2000397638 A JP 2000397638A JP 2000397638 A JP2000397638 A JP 2000397638A JP 2002198568 A JP2002198568 A JP 2002198568A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- unit
- photoelectric sensor
- collimating lens
- parallel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、出射面における単
位面積当たりの光量が均一な平行光を出射する投光ユニ
ット、及び、この投光ユニットを用いて平行光を送受す
る測定用光路上に位置する被検出物体の遮光状態を検出
することにより、被検出物体の位置や寸法等を測定する
光電センサに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light projecting unit for emitting parallel light having a uniform light amount per unit area on an exit surface, and a measuring optical path for transmitting and receiving parallel light using the light projecting unit. The present invention relates to a photoelectric sensor that measures a position, a size, and the like of a detected object by detecting a light blocking state of the detected object.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、平行光を送受する測定用光路
上に被検出物体が置かれた場合の遮光状態を検出するこ
とに基づいて、この被検出物体の位置や寸法等を測定す
る光電センサがある。例えば図9は、物体の高さ寸法を
測定するための光電センサ100の構成を示すものであ
る。この図9において、投光ユニット101にはLED
102及びコリメートレンズ103が設けられており、
LED102から放射される放射光は、コリメートレン
ズ103を透過することにより平行化されて平行光とし
て出射されるようになっている。2. Description of the Related Art Conventionally, based on detecting a light blocking state when an object to be detected is placed on a measurement optical path for transmitting and receiving parallel light, a photoelectric sensor for measuring the position and size of the object to be detected is used. There are sensors. For example, FIG. 9 shows a configuration of a photoelectric sensor 100 for measuring a height dimension of an object. In FIG. 9, the light emitting unit 101 has an LED.
102 and a collimating lens 103 are provided,
The radiated light emitted from the LED 102 is collimated by passing through the collimating lens 103 and is emitted as parallel light.
【0003】受光ユニット104には矩形状に開口され
たスリット105、集光レンズ106及びフォトダイオ
ード107が設けられており、前記平行光のうちスリッ
ト105を通過したものが集光レンズ106により集光
された状態で、フォトダイオード107にて受光され、
このフォトダイオード107から受光量の大きさに応じ
て光電変換された電気信号が出力される。図示しない信
号処理部は、マイクロコンピュータを主体とした電気回
路で構成されており、受光量と被検出物体の高さ寸法と
の相対関係が予めデータ化されて記録されている。そし
て、前記電気信号に基づいてフォトダイオード107で
の受光量が検出され、この受光量と前記相対関係データ
とを比較することに基づいて被検出物体の高さ寸法の測
定が行われる。The light receiving unit 104 is provided with a slit 105 having a rectangular opening, a condenser lens 106, and a photodiode 107. Of the parallel light, the light passing through the slit 105 is condensed by the condenser lens 106. In this state, the light is received by the photodiode 107,
The photodiode 107 outputs an electric signal that has been photoelectrically converted according to the amount of received light. The signal processing unit (not shown) is composed of an electric circuit mainly composed of a microcomputer, and the relative relationship between the amount of received light and the height of the detected object is previously recorded as data. Then, the amount of light received by the photodiode 107 is detected based on the electric signal, and the height of the detected object is measured based on a comparison between the amount of received light and the relative relationship data.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般的にL
ED102は、光軸付近ほど光強度が大きく、放射角が
大きくなるに従って光強度が小さくなるような光強度分
布の放射光を出射する(図10参照)。そのため、コリ
メートレンズ103を透過して測定光路上を進行する平
行光の光強度分布も略同様な不均一なものとなり、それ
故、この平行光を光束108で表すと、図9に示すよう
な中心が密で外縁に向かって疎となるものとなる。By the way, in general, L
The ED 102 emits radiated light having a light intensity distribution such that the light intensity increases near the optical axis and decreases as the emission angle increases (see FIG. 10). Therefore, the light intensity distribution of the parallel light that passes through the collimator lens 103 and travels on the measurement optical path is also substantially non-uniform, and therefore, when this parallel light is represented by a light beam 108, as shown in FIG. The center is dense and sparse toward the outer edge.
【0005】従って、高さ寸法が異なる被検出物体の高
さ寸法を測定する場合、被検出物体の高さ方向の変化率
と被検出物体により遮光されてスリット105を通過し
なくなる光量の割合(遮光率)とは比例関係にはならな
いので、フォトダイオード107での受光量と遮光率と
が比例関係でなくなり、高さ寸法の測定精度が低下して
しまうという問題が発生していた。そのため、特開平1
−312403号公報や特開平8−240412号公報
のものでは、例えば図11に示すように、スリット10
9の開口幅を平行光の光束108(図9参照)の密な部
分ほど狭めた形状とするとこにより、スリット109を
通過する平行光の光量が光軸に垂直な方向において均一
になるような光量調整を行うようにした。これにより、
例えば箱形の被検出物体では、被検出物体の高さ方向の
変化率と遮光率との関係を比例関係にすることができ、
高さ寸法の測定精度を向上させることができる。Accordingly, when measuring the height dimensions of the detected object having different height dimensions, the rate of change in the height direction of the detected object and the ratio of the amount of light that is blocked by the detected object and no longer passes through the slit 105 ( (Light-shielding ratio) is not proportional to the light-receiving amount of the photodiode 107, and the light-shielding ratio is not proportional to the light-shielding ratio, and the measurement accuracy of the height dimension is reduced. For this reason,
In Japanese Unexamined Patent Publication No. 3-12403 and Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 8-240412, for example, as shown in FIG.
By making the opening width of the aperture 9 narrower toward the denser portion of the parallel light beam 108 (see FIG. 9), the amount of the parallel light passing through the slit 109 becomes uniform in the direction perpendicular to the optical axis. The light amount was adjusted. This allows
For example, in the case of a box-shaped object to be detected, the relationship between the rate of change in the height direction of the object to be detected and the light blocking rate can be made a proportional relationship,
Measurement accuracy of the height dimension can be improved.
【0006】しかしながら、このようなスリット109
による光量調整は、外縁部を通過する単位面積当たりの
光量と等しくなるように中心部を通過する単位面積当た
りの光量を減衰させるような方法であるため、フォトダ
イオード107での受光量が低減し、SN比が低下する
という問題が発生していた。しかも、例えば図12に示
すように、検出部分が同じ曲率の球状で高さの異なる被
検出物体110及び111が測定光路上に置かれた場合
には、スリット109の斜線部Xを透過する光量IXと
斜線部Yを透過する光量IYとが、IX<IYの関係と
なってしまい、被検出物体の高さ方向の変化率と遮光率
とが比例関係でなくなり、高さ寸法の検出精度を低下さ
せてしまうという問題も発生していた。更に、スリット
109の中心を放射光の光軸に合わせるためのアライメ
ント作業が困難であるという欠点があり、また、特殊な
形状のスリット109を製作しなければならないため、
製造コストを上昇させてしまうという欠点もあった。However, such a slit 109
Is a method of attenuating the amount of light per unit area passing through the central portion so as to be equal to the amount of light per unit area passing through the outer edge, so that the amount of light received by the photodiode 107 is reduced. , The SN ratio decreases. In addition, as shown in FIG. 12, for example, when the detection objects 110 and 111 having a spherical shape with the same curvature and different heights are placed on the measurement optical path, as shown in FIG. IX and the amount of light IY transmitted through the shaded portion Y have a relationship of IX <IY, and the change rate in the height direction of the object to be detected and the light blocking ratio are not proportional to each other. There was also a problem of lowering. Further, there is a disadvantage that it is difficult to perform an alignment operation for aligning the center of the slit 109 with the optical axis of the emitted light, and since the slit 109 having a special shape must be manufactured,
There is also a disadvantage that the manufacturing cost is increased.
【0007】また、特開平7−209507号公報や特
開平7−208939号公報のものでは、前記スリット
109と同様の効果を光学フィルターに置き換えたもの
が提案されている。この光学フィルターは、図示はしな
いが、コリメートレンズから出射される平行光の光軸に
垂直な面に設けられ、平行光の光束の密な部分ほど光の
透過率を低下させることにより、光学フィルター透過後
の平行光の光量が均一になるような光量調整を行うもの
である。この場合、スリットの形状は、矩形状のままに
することができる。しかも、被検出物体の形状に関わら
ず、被検出物体の高さ方向の変化率と遮光比率とが比例
関係となり、高さ寸法の測定精度を向上させることがで
きる。In Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 7-209507 and 7-208939, an optical filter is proposed in which the same effect as the slit 109 is replaced by an optical filter. Although not shown, the optical filter is provided on a surface perpendicular to the optical axis of the parallel light emitted from the collimator lens, and the light transmittance of the light is reduced as the light flux of the parallel light becomes denser. The light amount is adjusted so that the light amount of the transmitted parallel light becomes uniform. In this case, the shape of the slit can be left rectangular. Moreover, regardless of the shape of the detected object, the rate of change in the height direction of the detected object and the light-shielding ratio are in a proportional relationship, and the measurement accuracy of the height dimension can be improved.
【0008】しかしながら、フォトダイオードでの全体
的な受光量が低減してSN比が低下するという問題や、
アライメント作業の困難性、光学フィルターを付加させ
ることによる製造コストの上昇といった問題があり、改
善の余地が残されていた。However, there is a problem that the total amount of light received by the photodiode is reduced and the SN ratio is reduced.
There are problems such as difficulty in alignment work and increase in manufacturing cost due to the addition of an optical filter, and there is room for improvement.
【0009】本発明は上述の事情に鑑みてなされたもの
であり、従ってその目的は、発光手段から放射される放
射光の光量を減衰させることなく均一な光強度の平行光
を出射する投光ユニット、及び、この投光ユニットを備
えた光電センサを提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a light projecting device which emits parallel light having a uniform light intensity without attenuating the amount of radiation emitted from a light emitting means. An object of the present invention is to provide a unit and a photoelectric sensor including the light projecting unit.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の光電セン
サは、発光手段から放射され、放射角が大きくなるに従
って光強度分布が小さくなる放射光を平行化して平行光
を出射するコリメートレンズを備えた投光ユニットにお
いて、前記コリメートレンズの曲率は、光軸に垂直な出
射面における前記平行光の単位面積当たりの光量が均一
になるように設定されていることを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a photoelectric sensor including a collimating lens for collimating radiation emitted from a light emitting means and having a light intensity distribution which becomes smaller as the radiation angle becomes larger, to emit parallel light. In the light projection unit provided, the curvature of the collimator lens is set such that the amount of the parallel light per unit area on the exit surface perpendicular to the optical axis is uniform.
【0011】このような構成によれば、例えばスリット
や光学フィルター等を用いて光強度分布が均一な平行光
を出射する方法と異なり、放射光の光量を減衰させるこ
となく大きな強度を維持した状態で光強度分布が均一な
平行光を出射することができる。しかも、新たな光学部
品を付加することなく、コリメートレンズの曲率を調節
するだけでよいので、投光ユニットの製造コストの上昇
を抑制することができる。According to such a configuration, unlike a method of emitting parallel light having a uniform light intensity distribution using, for example, a slit or an optical filter, a state in which a large intensity is maintained without attenuating the amount of emitted light. Thus, parallel light having a uniform light intensity distribution can be emitted. Moreover, since it is only necessary to adjust the curvature of the collimator lens without adding new optical components, it is possible to suppress an increase in the manufacturing cost of the light projecting unit.
【0012】請求項2記載の光電センサでは、前記コリ
メートレンズの曲率は、前記出射面における単位面積か
ら出射される前記平行光に対応して前記発光手段から入
射する前記放射光の光量が一定値となるような演算式に
基づいて設定されていることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, the curvature of the collimating lens is such that the amount of the radiated light incident from the light-emitting means corresponding to the parallel light emitted from a unit area on the emission surface is a constant value. It is characterized by being set based on an arithmetic expression such as
【0013】このような構成によれば、コリメートレン
ズの周縁部ほど放射角範囲の広い放射光が集光されるの
で、光強度の大きい光軸付近と同等な光強度の平行光を
出射面全体から出射することができる。According to such a configuration, since the radiation light having a wider radiation angle range is condensed toward the periphery of the collimator lens, the parallel light having the same light intensity as the vicinity of the optical axis having the higher light intensity is emitted on the entire exit surface. Can be emitted.
【0014】請求項3記載の光電センサでは、前記コリ
メートレンズの曲率は、前記放射角に応じて前記コリメ
ートレンズの表面における反射による減衰分を予め除去
するようにして設定されていることを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, the curvature of the collimating lens is set such that an amount of attenuation due to reflection on the surface of the collimating lens is removed in advance in accordance with the radiation angle. I do.
【0015】このような構成によれば、コリメートレン
ズ表面における反射による減衰分がキャンセルされるの
で、コリメートレンズ表面への入射角に応じて反射率が
変化することにより、出射面に集光される単位面積当た
りの光量が不均一になるのを防ぐことができ、従って、
平行光の光強度分布の均一性をより向上させることがで
きる。According to such a configuration, the amount of attenuation due to the reflection on the surface of the collimator lens is canceled, so that the reflectivity changes according to the angle of incidence on the surface of the collimator lens, so that the light is condensed on the exit surface. It is possible to prevent the amount of light per unit area from becoming non-uniform,
The uniformity of the light intensity distribution of the parallel light can be further improved.
【0016】請求項4記載の光電センサは、請求項1乃
至3の何れかに記載の投光ユニットと、この投光ユニッ
トから出射される前記平行光を集光レンズにて集光し、
この集光光を受光手段にて受光する受光ユニットと、こ
の受光ユニットにより受光される受光量に基づいて、前
記投光ユニット及び前記受光ユニット間に形成される測
定用光路の遮光状態を検出する遮光状態検出手段とを具
備することを特徴とする光電センサ。According to a fourth aspect of the present invention, a photoelectric sensor according to any one of the first to third aspects, and the parallel light emitted from the light emitting unit is condensed by a condenser lens.
A light receiving unit for receiving the condensed light by a light receiving unit, and detecting a light blocking state of a measuring optical path formed between the light projecting unit and the light receiving unit based on an amount of light received by the light receiving unit. A photoelectric sensor, comprising: a light-shielding state detecting unit.
【0017】このような構成によれば、投光ユニットか
ら光強度分布が均一な平行光が出射されるので、測定用
光路の遮光率と受光手段での受光量とを比例関係にする
ことができ、遮光状態の検出精度を向上させることがで
きる。しかも、この平行光の光強度は十分大きいので、
SN比を向上させることができる。また、投光ユニット
と受光ユニットとのアライメント作業も簡単に済み、新
たな光学部品を付加しなくてもよいので製造コストの上
昇を抑制することができる。According to such a configuration, since parallel light having a uniform light intensity distribution is emitted from the light projecting unit, it is possible to make the light blocking rate of the measuring optical path and the amount of light received by the light receiving means proportional. As a result, the detection accuracy of the light-shielded state can be improved. Moreover, since the light intensity of the parallel light is sufficiently large,
The S / N ratio can be improved. In addition, the work of aligning the light emitting unit and the light receiving unit can be simplified, and it is not necessary to add a new optical component, so that an increase in manufacturing cost can be suppressed.
【0018】請求項5記載の光電センサは、発光手段か
ら放射され、放射角が大きくなるに従って光強度分布が
小さくなる放射光を平行化して平行光を出射するコリメ
ートレンズを備えた投光ユニットと、この投光ユニット
から出射される前記平行光を集光レンズにて集光し、こ
の集光光を受光位置が検出可能な受光手段にて受光する
受光ユニットと、この受光ユニットにより検出される前
記受光位置に基づいて、前記投光ユニット及び前記受光
ユニット間に形成される光路の遮光状態を検出する遮光
状態検出ユニットとを備える光電センサにおいて、前記
コリメートレンズの曲率は、前記受光手段の受光面にお
ける前記集光光の単位面積当たりの光量が均一になるよ
うに設定されていることを特徴とする光電センサ。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a photoelectric sensor including a collimating lens for collimating a radiated light emitted from the light emitting means and having a light intensity distribution that becomes smaller as the radiation angle becomes larger, and emitting the parallel light. A light-receiving unit that collects the parallel light emitted from the light-projecting unit with a condenser lens and receives the collected light with a light-receiving unit capable of detecting a light-receiving position, and is detected by the light-receiving unit. A light-shielding state detecting unit that detects a light-shielding state of an optical path formed between the light-emitting unit and the light-receiving unit based on the light-receiving position; A photoelectric sensor, wherein the amount of the condensed light per unit area on a surface is set to be uniform.
【0019】このような構成によれば、投光ユニットか
ら光強度が十分大きく光強度分布が均一な平行光が出射
され、しかも、被検出物体による平行光の遮光状態が受
光手段の受光位置に対応付けされるので、被検出物体の
位置や寸法、形状認識等の測定精度を向上させることが
できる。According to such a configuration, parallel light having sufficiently large light intensity and uniform light intensity distribution is emitted from the light projecting unit, and the state of blocking the parallel light by the detected object is set at the light receiving position of the light receiving means. Since they are associated with each other, it is possible to improve measurement accuracy such as recognition of the position, size, and shape of the detected object.
【0020】請求項6記載の光電センサでは、前記コリ
メートレンズの曲率は、前記受光手段の受光面における
単位面積に入射する前記集光光に対応して前記発光手段
から入射する前記放射光の光量が一定値となるような演
算式に基づいて設定されていることを特徴とする。この
ような構成によっても、請求項2と同様な効果が得られ
る。In the photoelectric sensor according to the sixth aspect, the curvature of the collimating lens may correspond to the amount of the radiated light incident from the light emitting unit corresponding to the condensed light incident on a unit area of the light receiving surface of the light receiving unit. Is set based on an arithmetic expression that makes a constant value. With such a configuration, the same effect as that of the second aspect can be obtained.
【0021】請求項7記載の光電センサでは、前記コリ
メートレンズの曲率は、前記放射角に応じて前記コリメ
ートレンズ及び前記集光レンズの表面における反射によ
る減衰分を予め除去するようにして設定されていること
を特徴とする。According to a seventh aspect of the present invention, the curvature of the collimating lens is set such that an amount of attenuation caused by reflection on the surfaces of the collimating lens and the condenser lens is removed in advance in accordance with the radiation angle. It is characterized by being.
【0022】このような構成によれば、コリメートレン
ズ及び集光レンズの表面における反射による減衰分がキ
ャンセルされるので、各レンズ表面への入射角に応じて
反射率が変化することにより、受光手段の受光面に集光
される単位面積当たりの光量が不均一になるのを防ぐこ
とができ、従って、受光手段の受光面での集光光の光強
度分布の均一性をより向上させることができる。According to such a configuration, the amount of attenuation due to reflection on the surfaces of the collimating lens and the condensing lens is canceled, so that the reflectivity changes in accordance with the angle of incidence on the surface of each lens. The amount of light per unit area condensed on the light receiving surface of the light receiving unit can be prevented from becoming non-uniform, so that the uniformity of the light intensity distribution of the condensed light on the light receiving surface of the light receiving means can be further improved. it can.
【0023】[0023]
【発明の実施の形態】[第1の実施例]以下、本発明の
光電センサを被検出物体の高さ寸法を測定する光電セン
サに適用した第1の実施例について、図1乃至図6を参
照して説明する。図1は、光電センサ1の構成を示すも
のである。この図1において、高さの異なる被検出物体
を流すためのライン2側部には、次のようにして光電セ
ンサ1が設置されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [First Embodiment] FIGS. 1 to 6 show a first embodiment in which the photoelectric sensor of the present invention is applied to a photoelectric sensor for measuring the height of an object to be detected. It will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows a configuration of the photoelectric sensor 1. In FIG. 1, a photoelectric sensor 1 is installed on the side of a line 2 through which objects to be detected having different heights flow, as follows.
【0024】まず、ライン2の一方の側部には箱状のケ
ース3が設置されており、このケース3内には発光手段
たるLED4が設けられている。このLED4は、図示
しない外部電源から電力が供給されることにより発光し
て、放射角が大きくなるに従って光強度分布が小さくな
る放射光を出射する。First, a box-shaped case 3 is provided on one side of the line 2, and an LED 4 as a light emitting means is provided in the case 3. The LED 4 emits light when electric power is supplied from an external power supply (not shown), and emits radiated light whose light intensity distribution decreases as the radiation angle increases.
【0025】また、ケース3の正面部に形成された開口
部3bには、LED4から放射される放射光の光軸に中
心部が位置するようにして両凸型のコリメートレンズ5
が装着されており、LED4から放射される放射光は、
このコリメートレンズ5により平行化されて平行光とし
てライン2上に向かって出射される。尚、このコリメー
トレンズ5の表面には、反射防止膜が施されている。そ
して、これらLED4及びコリメートレンズ5で投光ユ
ニット6が構成されている。An opening 3b formed in the front of the case 3 has a biconvex collimating lens 5 whose center is located on the optical axis of the radiation emitted from the LED 4.
Is mounted, and the radiation emitted from the LED 4 is
The light is collimated by the collimating lens 5 and is emitted toward the line 2 as parallel light. The surface of the collimating lens 5 is provided with an anti-reflection film. The light emitting unit 6 is constituted by the LED 4 and the collimating lens 5.
【0026】次に、ライン2の投光ユニット6に対向す
るもう一方の側部には箱状のケース7が設置されてお
り、このケース7の正面部7aには、長手方向が垂直方
向を指向し、前記光軸に中心部が位置するようにして矩
形状に開口されたスリット手段たるスリット8が形成さ
れている。更に、光軸の延長上には、夫々中心部が位置
するようにして、ケース7内部に両凸型の集光レンズ9
が配置され、この集光レンズ9の焦点位置に受光手段た
るフォトダイオード10が位置決めされている。Next, a box-shaped case 7 is provided on the other side of the line 2 facing the light projecting unit 6, and a front portion 7a of the case 7 has a longitudinal direction perpendicular to the longitudinal direction. A slit 8 is formed as a slit means which is oriented and is opened in a rectangular shape such that the center portion is located at the optical axis. Further, a biconvex condensing lens 9 is provided inside the case 7 so that the central portion is located on the extension of the optical axis.
Are disposed, and a photodiode 10 as a light receiving unit is positioned at the focal position of the condenser lens 9.
【0027】尚、集光レンズ9の表面には、反射防止膜
が施されている。また、フォトダイオード10では、ス
リット8を通過した平行光が全て集光され、この集光光
の光強度に応じて光電変換された電気信号が出力され
る。そして、これらスリット8、集光レンズ9及びフォ
トダイオード10で受光ユニット11が構成されてい
る。The surface of the condenser lens 9 is provided with an anti-reflection film. In the photodiode 10, all the parallel light passing through the slit 8 is collected, and an electric signal that is photoelectrically converted according to the light intensity of the collected light is output. The slit 8, the condenser lens 9 and the photodiode 10 constitute a light receiving unit 11.
【0028】遮光状態検出回路は、図示はしないが、マ
イクロコンピュータを主体とした電気回路で構成されて
おり、フォトダイオード10から受信する電気信号に基
づいて、被検出物体の高さ寸法の測定が行われる。そし
て、測定された被検出物体の高さに関する情報は、図示
しないライン管理装置に送信され、被検出物体の区分等
の制御に使用される。以上のようにして、投光ユニット
6、受光ユニット11及び遮光状態検出回路で光電セン
サ1が構成されている。Although not shown, the light-shielding state detecting circuit is constituted by an electric circuit mainly composed of a microcomputer, and measures the height of an object to be detected based on an electric signal received from the photodiode 10. Done. Then, information on the measured height of the detected object is transmitted to a line management device (not shown), and is used for controlling the division of the detected object. As described above, the photoelectric sensor 1 is configured by the light projecting unit 6, the light receiving unit 11, and the light blocking state detecting circuit.
【0029】<光電センサ1の作用説明>次に、光電セ
ンサ1の作用について説明する。まず初めに、投光ユニ
ット6に装着されたコリメートレンズ5の曲率は、詳細
は後述するが、平行光の光強度分布が光軸に垂直な出射
面13(図2参照)において均一になるように設定され
ている。従って、この平行光を光束で表すと、図1に示
すような出射面13に対して均一なものとなる。<Description of Function of Photoelectric Sensor 1> Next, the function of the photoelectric sensor 1 will be described. First, the curvature of the collimating lens 5 attached to the light projecting unit 6 is such that the light intensity distribution of the parallel light is uniform on the exit surface 13 (see FIG. 2) perpendicular to the optical axis, which will be described later in detail. Is set to Therefore, when this parallel light is represented by a light beam, it becomes uniform with respect to the emission surface 13 as shown in FIG.
【0030】さて、投光ユニット6から出射される光強
度分布が出射面13において均一な平行光は、ライン2
上に測定用光路を形成しながら受光ユニット11のスリ
ット8に向かって照射される。そして、スリット8の開
口幅と同幅の平行光のみがスリット8を通過し、集光レ
ンズ9にて集光され、この集光光がフォトダイオード1
0にて受光される。続いて、フォトダイオード10で
は、集光光の光強度に応じて光電変換された電気信号
が、遮光状態検出回路に出力される。Now, the parallel light whose light intensity distribution emitted from the light projecting unit 6 is uniform on the exit surface 13 is represented by line 2.
The light is emitted toward the slit 8 of the light receiving unit 11 while forming a measurement optical path thereon. Then, only parallel light having the same width as the opening width of the slit 8 passes through the slit 8 and is condensed by the condensing lens 9, and this condensed light is
0 is received. Subsequently, in the photodiode 10, an electric signal photoelectrically converted according to the light intensity of the condensed light is output to the light-shielded state detection circuit.
【0031】遮光状態検出回路では、受信した電気信号
に基づいて、フォトダイオード10での受光量の検出が
行われる。この場合、平行光の光強度分布が出射面13
において均一であるために、フォトダイオード10での
受光量は、測定光路中を被検出物体が通過する際にその
被検出物体の高さに応じて遮光される光量の割合(遮光
率)に比例する。そして、遮光されない状態(スリット
8に平行光が100%入射される状態)で検出される受
光量の受光率を100%として、被検出物体により遮光
された場合に検出される受光率を求めることにより、被
検出物体の高さ寸法の測定が行われる。In the light-shielded state detection circuit, the amount of light received by the photodiode 10 is detected based on the received electric signal. In this case, the light intensity distribution of the parallel light
Is uniform, the amount of light received by the photodiode 10 is proportional to the ratio of the amount of light that is shielded according to the height of the detected object when the detected object passes through the measurement optical path (light blocking ratio). I do. Then, assuming that the light reception rate of the light reception amount detected in a state where light is not blocked (a state where 100% of parallel light is incident on the slit 8) is 100%, a light reception rate detected when light is blocked by the detected object is determined. Thereby, the height dimension of the detected object is measured.
【0032】<コリメートレンズ5の曲率の設定方法>
次に、LED4から放射され、放射角が大きくなるに従
って光強度分布が小さくなる放射光を平行化して、光強
度分布が出射面13において均一になるような平行光を
出射させるコリメートレンズ5の曲率の設定方法につい
て説明する。<Method of Setting Curvature of Collimating Lens 5>
Next, the curvature of the collimating lens 5 that collimates the radiated light emitted from the LED 4 and whose light intensity distribution becomes smaller as the radiation angle becomes larger, and emits parallel light so that the light intensity distribution becomes uniform on the emission surface 13. The setting method of will be described.
【0033】図2は、非球面型のコリメートレンズ5の
光学的構成を示すものである。ここでは説明を簡単にす
るために、LED4は点光源であるものとし、放射光の
光強度は光軸12を基準とした放射角θに対してcos
θで変化するものとする。また、平行光を出射する側の
コリメートレンズ5近傍における光軸に垂直な面を出射
面13とする。更に、入射角θAにおける微小立体角α
Aで入射する放射光をRA、その平行光をHA(光軸付
近)、その光束をΦAとし、入射角θBにおける微小立
体角αBで入射する放射光をRB、その平行光をHB
(光軸と周端部の中間付近)、その光束をΦBとし、入
射角θCにおける微小立体角αCで入射する放射光をR
C、その平行光をHC(周端部付近)、その光束をΦC
とする。FIG. 2 shows an optical configuration of the aspherical collimating lens 5. As shown in FIG. Here, for the sake of simplicity, the LED 4 is assumed to be a point light source, and the light intensity of the emitted light is cos with respect to the emission angle θ with respect to the optical axis 12.
It changes with θ. A plane perpendicular to the optical axis near the collimating lens 5 on the side where parallel light is emitted is referred to as an emission surface 13. Further, the minute solid angle α at the incident angle θA
The radiation light incident at A is RA, the parallel light is HA (near the optical axis), the light flux is ΦA, the radiation light incident at a small solid angle αB at the incident angle θB is RB, and the parallel light is HB
(Near the middle between the optical axis and the peripheral end), the luminous flux is ΦB, and the radiated light incident at a small solid angle αC at the incident angle θC is R
C, the parallel light is HC (near the peripheral end), and the light flux is ΦC
And
【0034】さて、まず初めに、コリメートレンズ5の
曲率の設定方法の概念について説明すると、平行光の光
強度分布を出射面13において均一にするためには、出
射面13の単位面積当たりの光量を均一にすればよい。
即ち、例えば、図2において、平行光HA乃至HCが出
射面13の単位面積tから出射されると仮定した場合
に、それらの光束ΦA乃至ΦCが同一になればよい。そ
のためには、まず、出射面13における単位面積tから
出射される平行光HA乃至HCに対応してLED4から
入射する放射光RA乃至RCの光量が一定値となるよう
な微小立体角αA乃至αCを定める。そして、これら入
射角θA乃至θC及び微小立体角αA乃至αCで入射す
る放射光RA乃至RCが、出射面13の単位面積tから
平行光HA乃至HCとして出射されるような関係を満た
すようにして、コリメートレンズ5の曲率を設定する。First, the concept of the method of setting the curvature of the collimator lens 5 will be described. In order to make the light intensity distribution of the parallel light uniform on the exit surface 13, the amount of light per unit area of the exit surface 13 is required. Should be uniform.
That is, for example, assuming that the parallel light beams HA to HC are emitted from the unit area t of the emission surface 13 in FIG. For this purpose, first, the minute solid angles αA to αC such that the light amounts of the radiated lights RA to RC incident from the LED 4 corresponding to the parallel lights HA to HC emitted from the unit area t on the emission surface 13 become constant. Is determined. Then, the radiated lights RA to RC incident at the incident angles θA to θC and the minute solid angles αA to αC satisfy the relationship such that they are emitted as parallel lights HA to HC from the unit area t of the emission surface 13. , The curvature of the collimating lens 5 is set.
【0035】次に、具体的な設計例を挙げて、コリメー
トレンズ5の曲率の設定方法について説明する。まず、
コリメートレンズ5の設計条件は以下のように設定す
る。屈折率 n=1.486(空気の屈折率を1とす
る)焦点距離 F=32.428mmNext, a method of setting the curvature of the collimator lens 5 will be described with reference to a specific design example. First,
The design conditions of the collimating lens 5 are set as follows. Refractive index n = 1.486 (assuming that the refractive index of air is 1) Focal length F = 32.428 mm
【0036】次に、所定の入射角θにおける微小立体角
αで入射する放射光Rの光強度をI(α)、この放射光
Rがコリメートレンズ表面に入射する場合の微小照射面
積をΔS、この放射光Rにより出射面13の単位面積t
から出射される平行光Hの光束をΔΦとすると、これら
ΔΦ、I(α)、ΔSの間には、次のような関係式が導
かれる。 ΔΦ=I(α)×ΔS … (1)Next, the light intensity of the radiated light R incident at a small solid angle α at a predetermined incident angle θ is I (α), the minute irradiation area when the radiated light R is incident on the collimating lens surface is ΔS, The unit area t of the emission surface 13 is determined by the radiation R.
Let ΔΦ be the luminous flux of the parallel light H emitted from, the following relational expression is derived between ΔΦ, I (α), and ΔS. ΔΦ = I (α) × ΔS (1)
【0037】例えば、前記放射光RA乃至RCの関係
は、(1)式に基づいて、次のような式で表される。 I(αA)×ΔSA=I(αB)×ΔSB=I(αC)×ΔSC … (2)For example, the relationship between the radiated lights RA to RC is expressed by the following equation based on the equation (1). I (αA) × ΔSA = I (αB) × ΔSB = I (αC) × ΔSC (2)
【0038】また、非球面型のコリメートレンズ5の曲
面式は、光軸をz軸とし、光軸に垂直な面にx,y軸を
設定すると、次のような式で表される。The curved surface equation of the aspherical collimator lens 5 is expressed by the following equation when the optical axis is the z-axis and the x and y axes are set on a plane perpendicular to the optical axis.
【数1】 ここで、cはコリメートレンズの曲率を表し、その曲率
半径rとの間にはc=1/rの関係がある。また、d,
e,f,g,Kは係数である。(Equation 1) Here, c represents the curvature of the collimating lens, and there is a relationship of c = 1 / r with the radius of curvature r. D,
e, f, g, and K are coefficients.
【0039】続いて、これらコリメートレンズ5の設計
条件、及び、(1)式の左辺が一定になるような関係
(即ち(2)式)を満たすようにして、(3)式の各係
数c乃至g及びKを最適な値に設定する。尚、この最適
化は、準ニュートン法等を用いてコンピュータにて演算
処理することにより短時間で容易に行うことができる。Subsequently, the design conditions of the collimating lens 5 and the relation (ie, equation (2)) that makes the left side of equation (1) constant are satisfied so that each coefficient c in equation (3) is satisfied. G and K are set to optimal values. It should be noted that this optimization can be easily performed in a short time by performing arithmetic processing on a computer using the quasi-Newton method or the like.
【0040】そして、この最適化により、コリメートレ
ンズ5は、図3に示すような入射角が30°までの放射
光が取り込まれて半径15mmの平行光が出射されるよ
うに設計される。By this optimization, the collimating lens 5 is designed so that the radiated light having an incident angle of up to 30 ° as shown in FIG. 3 is taken in and parallel light having a radius of 15 mm is emitted.
【0041】<平行光の出射面13における光強度分布
の均一性の評価方法>以上のようにしてコリメートレン
ズ5の曲率を設定した場合に、平行光の出射面13にお
ける光強度分布の均一性を評価するために、リニアリテ
ィー誤差という概念を導入する。尚、このリニアリティ
ー誤差は、特開平1−312403号公報にも定義付け
されているものである。<Method of Evaluating Uniformity of Light Intensity Distribution on Outgoing Surface 13 of Parallel Light> When the curvature of the collimating lens 5 is set as described above, the uniformity of light intensity distribution on the outgoing surface 13 of parallel light is determined. In order to evaluate, we introduce the concept of linearity error. This linearity error is also defined in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 1-312403.
【0042】図4は、光電センサ1における受光率と遮
光率との関係を示すものである。尚、この場合の遮光率
とは、スリット8を上方又は下方から同一方向に向かっ
て遮光した場合のものとする。この図4において、一点
鎖線で示された直線は、光強度分布が出射面13におい
て完全に均一な理想的な平行光での受光率と遮光率との
関係を示す基準線14である。これに対して、実線で示
された曲線は、従来例で示した光電センサ100のよう
な中心が密で外縁に向かって疎となるような不均一な光
強度分布の平行光での受光率と遮光率との関係を示す実
測定線15である。FIG. 4 shows the relationship between the light receiving rate and the light blocking rate in the photoelectric sensor 1. The light blocking ratio in this case is defined as a case where the slit 8 is blocked in the same direction from above or below. In FIG. 4, a straight line indicated by a one-dot chain line is a reference line 14 indicating a relationship between a light receiving ratio and a light shielding ratio with ideal parallel light whose light intensity distribution is completely uniform on the emission surface 13. On the other hand, a curve shown by a solid line is a light receiving ratio in a parallel light having a non-uniform light intensity distribution such that the center is dense and becomes sparse toward the outer edge as in the photoelectric sensor 100 shown in the conventional example. 7 is an actual measurement line 15 showing a relationship between the light-shielding ratio and the light-shielding ratio.
【0043】そして、リニアリティー誤差ERは、所定
の遮光率における基準線14の受光率をPS、実測定線
15の受光率をPとし、これらPSとPとの差をΔPと
した場合のPSに対するΔPの割合として次式のように
定義される。 ER=ΔP/PS×100(%) … (4)The linearity error ER is defined as PS with respect to the light receiving rate of the reference line 14 and P with the light receiving rate of the actual measurement line 15 at a predetermined light blocking rate, and the difference between PS and P as ΔP. The ratio of ΔP is defined as the following equation. ER = ΔP / PS × 100 (%) (4)
【0044】図5(a)は、前記コリメートレンズ5を
投光ユニット6に装着した場合の光電センサ1における
リニアリティー誤差ERを示すものである。また、図5
(b)は、比較のため、図6に示すような設計条件が同
じで平行光の半径が15mmとなるような従来のコリメ
ートレンズ(平凸レンズ)103を投光ユニット101
に装着した場合の光電センサ100におけるリニアリテ
ィー誤差ERを示すものである。このように本実施例の
光電センサ1のリニアリティー誤差は、従来のものに比
べ格段に小さくなっていることがわかる。しかも、従来
のコリメートレンズ103の場合は、入射角が21.9
°までの放射光しか取り込まれておらず(図6参照)、
従って、本実施例のコリメートレンズ5では、より広い
範囲の放射角(入射角30°、図3参照)の放射光が取
り込まれることにより、放射光の減衰が抑制されている
ことがわかる。FIG. 5A shows a linearity error ER in the photoelectric sensor 1 when the collimating lens 5 is mounted on the light projecting unit 6. FIG.
6B shows, for comparison, a conventional collimating lens (plano-convex lens) 103 having the same design conditions as shown in FIG.
9 shows a linearity error ER in the photoelectric sensor 100 when the sensor is mounted on the optical sensor 100. Thus, it can be seen that the linearity error of the photoelectric sensor 1 of the present embodiment is much smaller than that of the conventional one. Moreover, in the case of the conventional collimating lens 103, the incident angle is 21.9.
Only synchrotron radiation up to ° is taken in (see Fig. 6).
Therefore, in the collimating lens 5 of the present embodiment, it can be seen that the radiation light of a wider range of radiation angles (incident angle 30 °, see FIG. 3) is taken in, thereby suppressing the radiation light attenuation.
【0045】このように本実施例では、コリメートレン
ズ5の出射面13における単位面積tから出射される平
行光の光量を均一にするために、この出射面13におけ
る単位面積tから出射される平行光に対応してLED4
から入射する放射光の光量が一定値となるようにコリメ
ートレンズ5の曲率を設定するようにした。そして、こ
のコリメートレンズ5を備えた投光ユニット6、受光ユ
ニット11及び遮光状態検出回路で被検出物体の高さ寸
法を測定する光電センサ1を構成するようにした。As described above, in this embodiment, in order to make the amount of parallel light emitted from the unit area t on the exit surface 13 of the collimating lens 5 uniform, the parallel light emitted from the unit area t on the exit surface 13 is used. LED4 corresponding to light
The curvature of the collimator lens 5 is set so that the amount of the radiated light incident from the lens becomes constant. Then, the photoelectric sensor 1 configured to measure the height of the detected object by the light projecting unit 6, the light receiving unit 11, and the light shielding state detecting circuit having the collimating lens 5 is configured.
【0046】このような構成によれば、例えばスリット
や光学フィルター等を用いて光強度分布が均一な平行光
を出射する方法と異なり、放射光の光量を減衰させるこ
となく大きな強度を維持した状態で出射面における光強
度分布が均一な平行光を出射することができる。しか
も、新たな光学部品を付加することなく、コリメートレ
ンズ5の曲率を調節するだけでよいので、投光ユニット
6の製造コストの上昇を抑制することができる。According to such a configuration, unlike a method of emitting parallel light having a uniform light intensity distribution using, for example, a slit or an optical filter, a state in which a large intensity is maintained without attenuating the amount of emitted light. As a result, parallel light having a uniform light intensity distribution on the emission surface can be emitted. Moreover, since it is only necessary to adjust the curvature of the collimator lens 5 without adding new optical components, it is possible to suppress an increase in the manufacturing cost of the light projecting unit 6.
【0047】また、コリメートレンズ5の周縁部ほど放
射角範囲の広い放射光が集光されるので、光強度の大き
い光軸付近と同等な光強度の平行光を出射面13全体か
ら出射することができる。Further, since the radiation light having a wider radiation angle range is condensed toward the periphery of the collimating lens 5, parallel light having the same light intensity as that near the optical axis where the light intensity is large is emitted from the entire exit surface 13. Can be.
【0048】また、投光ユニット6から光強度分布が均
一な平行光が出射されるので、受光率と遮光率とを比例
関係にすることができ、遮光状態の検出精度を向上させ
ることができる。しかも、この平行光の光強度は十分大
きいので、SN比を向上させることができる。また、投
光ユニット6と受光ユニット11とのアライメント作業
も簡単に済み、新たな光学部品を付加しなくてもよいの
で製造コストの上昇を抑制することができる。Further, since parallel light having a uniform light intensity distribution is emitted from the light projecting unit 6, the light receiving rate and the light blocking rate can be made in a proportional relationship, and the detection accuracy of the light blocking state can be improved. . Moreover, since the light intensity of the parallel light is sufficiently large, the SN ratio can be improved. In addition, the work of aligning the light projecting unit 6 and the light receiving unit 11 is simplified, and it is not necessary to add a new optical component, so that an increase in manufacturing cost can be suppressed.
【0049】[第2の実施例]以下、本発明の光電セン
サを被検出物体の高さ寸法を測定する光電センサに適用
した第2の実施例について、図7及び図8を参照して説
明する。尚、第1の実施例と同一部分については同一符
号を付して説明を省略し、以下異なる部分についてのみ
説明する。[Second Embodiment] Hereinafter, a second embodiment in which the photoelectric sensor of the present invention is applied to a photoelectric sensor for measuring the height of an object to be detected will be described with reference to FIGS. I do. The same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description thereof will be omitted, and only different parts will be described below.
【0050】図7に示すように、本第2の実施例の光電
センサ20では、受光ユニット11に装着される集光レ
ンズ21の曲率は、スリット8を通過した平行光の光強
度分布を維持したまま(線形な状態で)集光するように
設定されている。尚、従来の一般的な集光レンズは、こ
のような曲率に設定されている。そして、側壁面7bに
は、長手方向が垂直方向を向くようにして受光位置が検
出可能な受光手段たる一次元受光素子22が装着されて
いる。この一次元受光素子22は、N個の受光部が等間
隔で一列に配置されるようにして構成されている。As shown in FIG. 7, in the photoelectric sensor 20 according to the second embodiment, the curvature of the condenser lens 21 mounted on the light receiving unit 11 maintains the light intensity distribution of the parallel light passing through the slit 8. It is set to condense as it is (in a linear state). Incidentally, a conventional general condenser lens is set to such a curvature. Then, a one-dimensional light receiving element 22 is mounted on the side wall surface 7b as a light receiving means capable of detecting a light receiving position so that a longitudinal direction thereof is oriented in a vertical direction. The one-dimensional light receiving element 22 is configured such that N light receiving units are arranged in a line at equal intervals.
【0051】また、投光ユニット6に装着されるコリメ
ートレンズ23の曲率は、詳細は後述するが、第1の実
施例で示したコリメートレンズ5の曲率とは異なるよう
に設定されている。The curvature of the collimator lens 23 mounted on the light projecting unit 6 is set to be different from the curvature of the collimator lens 5 shown in the first embodiment, as will be described later in detail.
【0052】<光電センサ20の作用説明>次に、光電
センサ20の作用について説明する。まず初めに、投光
ユニット6に装着されたコリメートレンズ23の曲率
は、詳細は後述するが、一次元受光素子22の受光面に
おける集光光の単位面積当たりの光量が均一になるよう
に設定されている。<Description of Operation of Photoelectric Sensor 20> Next, the operation of the photoelectric sensor 20 will be described. First, the curvature of the collimator lens 23 mounted on the light projecting unit 6 is set so that the light amount per unit area of the condensed light on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element 22 is uniform, which will be described later in detail. Have been.
【0053】さて、投光ユニット6から出射される平行
光は、ライン2上に測定用光路を形成しながら受光ユニ
ット11のスリット8に向かって照射され、スリット8
を通過し、集光レンズ21にて集光され、この集光光が
一次元受光素子22にて受光される。一次元受光素子2
2内のN個の受光部では、各受光部毎に独立して受光量
が電気信号に光電変換され、これらN個の受光部からの
電気信号は、所定周期でパラレル−シリアル変換され、
遮光状態検出回路にシリアル信号として出力される。遮
光状態検出回路では、受信した電気信号に基づいて、集
光光の受光位置の検出が行われ、集光光が検出されなか
った受光位置に対応する位置(即ち、遮光位置)に被検
出物体が存在していたものとして、これにより被検出物
体の高さ寸法の測定が行われる。The parallel light emitted from the light projecting unit 6 is applied to the slit 8 of the light receiving unit 11 while forming a measuring optical path on the line 2,
, And is condensed by the condensing lens 21, and the condensed light is received by the one-dimensional light receiving element 22. One-dimensional light receiving element 2
In the N light receiving units in 2, the received light amount is independently photoelectrically converted into an electric signal for each light receiving unit, and the electric signals from these N light receiving units are parallel-serial converted at a predetermined cycle,
It is output as a serial signal to the light shielding state detection circuit. In the light-shielded state detection circuit, the light receiving position of the condensed light is detected based on the received electric signal, and the detected object is located at a position corresponding to the light receiving position where the condensed light was not detected (ie, the light-shielded position). As a result, the height of the detected object is measured.
【0054】<コリメートレンズ23の曲率の設定方法
>次に、コリメートレンズ23の曲率の設定方法につい
て説明する。尚、本第2の実施例では、コリメートレン
ズ23及び集光レンズ21の表面には反射防止膜が施さ
れていないものとする。この場合、コリメートレンズ2
3及び集光レンズ21の表面では、入射光の入射角に応
じて入射角が大きいほど大きな反射率で反射が生じ、こ
れによって光量の減衰が発生する。そのため、平行光の
光強度分布を出射面において均一にした場合には、集光
レンズ21にて集光される際の反射の影響により、一次
元受光素子22の受光面における集光光の単位面積当た
りの光束は中心が密で外縁が疎となってしまう。そこ
で、本第2の実施例では、コリメートレンズ23及び集
光レンズ21の表面反射による光量の減衰分がキャンセ
ルされて、一次元受光素子22の受光面における集光光
の単位面積当たりの光量が均一になるようにコリメート
レンズ23の曲率が設定される。<Method of Setting Curvature of Collimating Lens 23> Next, a method of setting the curvature of the collimating lens 23 will be described. In the second embodiment, it is assumed that the surfaces of the collimator lens 23 and the condenser lens 21 are not provided with an antireflection film. In this case, the collimating lens 2
On the surface of the condenser lens 3 and the condenser lens 21, the larger the incident angle is, the larger the reflection rate is, and the more the light is attenuated. Therefore, when the light intensity distribution of the parallel light is made uniform on the exit surface, the unit of the condensed light on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element 22 is affected by the influence of the reflection when the light is condensed by the condenser lens 21. The luminous flux per area is dense at the center and sparse at the outer edge. Therefore, in the second embodiment, the attenuation of the light amount due to the surface reflection of the collimating lens 23 and the condensing lens 21 is canceled, and the light amount per unit area of the condensed light on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element 22 is reduced. The curvature of the collimator lens 23 is set so as to be uniform.
【0055】図8は、非球面型のコリメートレンズ23
及び集光レンズ21の光学的構成を示すものである。こ
こでは、入射角θ、微小立体角α、光束Φ、放射光R及
び平行光Hについては、第1の実施例と同様の記号を使
用するものとする。また、集光レンズ21により集光さ
れた集光光は、夫々SA乃至SCとする。FIG. 8 shows an aspherical collimating lens 23.
2 illustrates an optical configuration of the condenser lens 21. Here, the same symbols as those in the first embodiment are used for the incident angle θ, the small solid angle α, the light flux Φ, the emitted light R, and the parallel light H. The condensed light condensed by the condensing lens 21 is referred to as SA to SC, respectively.
【0056】さて、一次元受光素子22の受光面におけ
る集光光の単位面積当たりの光量を均一にするために、
まず、集光レンズ21に平行光を入射させる際に、集光
レンズ21への入射角に応じた表面反射により減衰する
光量がキャンセルされて、一次元受光素子22の受光面
における集光光の単位面積当たりの光量が均一になるよ
うに、コリメートレンズ23の出射面13の単位面積t
から出射される平行光HA乃至HCの光束を定める。Now, in order to make the amount of condensed light per unit area on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element 22 uniform,
First, when parallel light is incident on the condenser lens 21, the amount of light attenuated by surface reflection according to the angle of incidence on the condenser lens 21 is canceled, and condensed light on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element 22 is canceled. The unit area t of the exit surface 13 of the collimating lens 23 is set so that the amount of light per unit area becomes uniform.
The light fluxes of the parallel lights HA to HC emitted from are determined.
【0057】次に、前記出射面13における単位面積t
から出射される平行光HA乃至HCの光束ΦA乃至ΦC
に対応させて、LED4からコリメートレンズ23に入
射する放射光RA乃至RCの微小立体角αA乃至αCを
定める。尚、この場合にも、放射光が入射する際に、コ
リメートレンズ23への入射角に応じた表面反射により
減衰する光量がキャンセルされるように微小立体角αA
乃至αCを定めるようにする。また、具体的な設定方法
については第1の実施例と同様にして(1)及び(3)
式に基づいて行えばよいので、説明は省略する。Next, the unit area t on the emission surface 13
ΦA to ΦC of parallel light HA to HC emitted from
The small solid angles αA to αC of the radiated lights RA to RC incident on the collimating lens 23 from the LED 4 are determined in accordance with the following. Also in this case, when the radiated light enters, the small solid angle αA is set so that the amount of light attenuated by surface reflection according to the angle of incidence on the collimator lens 23 is canceled.
To αC. The specific setting method is the same as in the first embodiment (1) and (3).
The description may be omitted because it may be performed based on the equation.
【0058】このように本第2の実施例では、コリメー
トレンズ23の曲率は、コリメートレンズ23及び集光
レンズ21の表面反射による光量の減衰分をキャンセル
した上で、一次元受光素子22の受光面における集光光
の単位面積当たりの光量が均一になるように設定した。
そして、このコリメートレンズ23を備えた投光ユニッ
ト6、平行光の光強度分布を維持したまま集光する集光
レンズ21及びその集光光を受光する一次元受光素子2
2を備えた受光ユニット11、及び、遮光状態検出回路
で被検出物体の高さ寸法を測定する光電センサ20を構
成するようにした。As described above, in the second embodiment, the curvature of the collimating lens 23 is such that the light quantity attenuation due to the surface reflection of the collimating lens 23 and the condensing lens 21 is canceled, and then the light reception of the one-dimensional light receiving element 22 is performed. The amount of condensed light per unit area on the surface was set to be uniform.
The light projecting unit 6 having the collimating lens 23, the condensing lens 21 for condensing light while maintaining the light intensity distribution of the parallel light, and the one-dimensional light receiving element 2 for receiving the condensed light
2 and a photoelectric sensor 20 for measuring the height of the detected object by the light-shielding state detection circuit.
【0059】このような構成によれば、投光ユニット6
から光強度が十分大きく光強度分布が均一な平行光が出
射され、しかも、被検出物体による平行光の遮光状態が
一次元受光素子22の受光位置に対応付けされるので、
被検出物体の高さ寸法の測定精度を向上させることがで
きる。According to such a configuration, the light emitting unit 6
Since a parallel light having a sufficiently large light intensity and a uniform light intensity distribution is emitted from the device, and the light blocking state of the parallel light by the detected object is associated with the light receiving position of the one-dimensional light receiving element 22,
Measurement accuracy of the height dimension of the detected object can be improved.
【0060】また、コリメートレンズ23の周縁部ほど
放射角範囲の広い放射光が集光されるので、光強度の大
きい光軸付近と同等な光強度の平行光を出射面13全体
から出射することができる。Further, since the radiation light having a wider radiation angle range is condensed toward the periphery of the collimator lens 23, parallel light having the same light intensity as that near the optical axis where the light intensity is high is emitted from the entire exit surface 13. Can be.
【0061】また、コリメートレンズ23及び集光レン
ズ21の表面反射による光量の減衰分がキャンセルされ
るので、各レンズ21及び23表面への入射角に応じて
反射率が変化することにより、一次元受光素子22の受
光面に集光される単位面積当たりの光量が不均一になる
のを防ぐことができ、従って、一次元受光素子22の受
光面での集光光の光強度分布の均一性をより向上させる
ことができる。Further, since the amount of attenuation of the light amount due to the surface reflection of the collimating lens 23 and the condensing lens 21 is canceled, the reflectance changes according to the angle of incidence on the surface of each of the lenses 21 and 23, so that the one-dimensional It is possible to prevent the amount of light per unit area condensed on the light receiving surface of the light receiving element 22 from becoming non-uniform. Therefore, the uniformity of the light intensity distribution of the condensed light on the light receiving surface of the one-dimensional light receiving element 22 can be prevented. Can be further improved.
【0062】尚、本発明は、上記し、且つ図面に示す実
施例にのみ限定されるものではなく、次のような変形、
拡張が可能である。本発明の第1の実施例では、コリメ
ートレンズに反射防止膜が施されている構成としたが、
これに限定されるものではなく、反射防止膜が施されて
いない場合には、コリメートレンズでの放射光の入射角
に応じた表面反射がキャンセルされるようにコリメート
レンズの曲率を設定すればよい。The present invention is not limited to the embodiment described above and shown in the drawings.
Extension is possible. In the first embodiment of the present invention, the collimator lens is provided with the antireflection film.
The present invention is not limited to this. When the antireflection film is not provided, the curvature of the collimator lens may be set so that surface reflection according to the incident angle of the radiated light at the collimator lens is canceled. .
【0063】本発明の実施例では、発光手段をLEDに
適用したが、これに限定されるものではなく、例えば半
導体レーザ等のレーザ光源や一般的な電球等に適用して
もよい。また、例えば、光ファイバ端から放射光が出射
されるように構成された光源に適用してもよく、要は、
放射角が大きくなるに従って光強度分布が小さくなる放
射光を出射するものであればよい。In the embodiment of the present invention, the light emitting means is applied to the LED. However, the present invention is not limited to this. For example, the light emitting means may be applied to a laser light source such as a semiconductor laser or a general light bulb. Also, for example, the present invention may be applied to a light source configured to emit radiation light from an optical fiber end.
Any device may be used as long as it emits radiated light whose light intensity distribution decreases as the radiation angle increases.
【0064】本発明の実施例では、光電センサを高さ寸
法を測定するものに適用したが、これに限定されるもの
ではなく、被検出物体を測長するものに適用してもよ
い。また、本発明の第2の実施例における受光手段を例
えば2次元受光素子にすることによって、被検出物体の
2次元的な形状認識を測定するものに適用することも可
能である。更に、受光手段は、例えば集光レンズによる
集光光を光ファイバで一端受け、この光ファイバにより
伝搬された光を受光素子で受光するように構成してもよ
い。In the embodiment of the present invention, the photoelectric sensor is applied to a device for measuring a height dimension. However, the present invention is not limited to this, and may be applied to a device for measuring a length of an object to be detected. Further, the light receiving means in the second embodiment of the present invention is, for example, a two-dimensional light receiving element, so that the present invention can be applied to a device for measuring two-dimensional shape recognition of a detected object. Further, the light receiving means may be configured so that, for example, the light condensed by the condensing lens is once received by the optical fiber, and the light propagated by the optical fiber is received by the light receiving element.
【0065】本発明の実施例では、受光ユニットへ平行
光が入射する位置にスリットを設けたが、これに限定さ
れるものではなく、発光手段と受光手段との間に形成さ
れる光路上であればどの位置に設けてもよい。また、ス
リットは必要に応じて設ければよく、要は、受光手段に
て受光される平行光の領域が矩形スリット状に規制され
るように光電センサの光学系が設定されていればよい。In the embodiment of the present invention, the slit is provided at the position where the parallel light enters the light receiving unit. However, the present invention is not limited to this, and the slit is provided on the optical path formed between the light emitting means and the light receiving means. If necessary, it may be provided at any position. In addition, the slit may be provided as needed. In short, the optical system of the photoelectric sensor may be set so that the area of the parallel light received by the light receiving unit is restricted to a rectangular slit shape.
【0066】[0066]
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
投光ユニットは、コリメートレンズの曲率を調整するこ
とによって、投光ユニットから出射される平行光の光強
度分布が出射面において均一になるようにしたので、発
光手段から出射される放射光の光量を減衰させることな
く大きな光強度を維持した状態で光強度分布が均一な平
行光を出射することができる。そして、この投光ユニッ
ト、受光ユニット及び遮光状態検出手段で光電センサを
構成したので、リニアリティー誤差を小さくして遮光状
態の測定精度を向上させることができる。As is apparent from the above description, in the light emitting unit of the present invention, by adjusting the curvature of the collimating lens, the light intensity distribution of the parallel light emitted from the light emitting unit is uniform on the emitting surface. Therefore, parallel light having a uniform light intensity distribution can be emitted while maintaining a large light intensity without attenuating the amount of radiation light emitted from the light emitting means. Since the light emitting unit, the light receiving unit and the light shielding state detecting means constitute a photoelectric sensor, the linearity error can be reduced and the measurement accuracy in the light shielding state can be improved.
【図1】本発明の第1の実施例を示す光電センサの構成
図FIG. 1 is a configuration diagram of a photoelectric sensor according to a first embodiment of the present invention.
【図2】コリメートレンズの光学的構成図FIG. 2 is an optical configuration diagram of a collimating lens.
【図3】コリメートレンズの設計例を示す図FIG. 3 shows a design example of a collimating lens.
【図4】光電センサの受光率と遮光率との関係を示す図FIG. 4 is a diagram showing a relationship between a light receiving rate and a light blocking rate of a photoelectric sensor.
【図5】光電センサのリニアリティー誤差を示す図FIG. 5 is a diagram showing a linearity error of a photoelectric sensor.
【図6】従来例を示す図3相当図FIG. 6 is a diagram corresponding to FIG. 3 showing a conventional example.
【図7】本発明の第2の実施例を示す図1相当図FIG. 7 is a view corresponding to FIG. 1, showing a second embodiment of the present invention;
【図8】コリメートレンズ及び集光レンズの光学的構成
図FIG. 8 is an optical configuration diagram of a collimator lens and a condenser lens.
【図9】従来例を示す図1相当図FIG. 9 is a diagram corresponding to FIG. 1 showing a conventional example.
【図10】LEDの放射角に対する光強度分布図FIG. 10 is a light intensity distribution diagram with respect to an emission angle of an LED.
【図11】スリットの形状図FIG. 11 is a diagram showing a shape of a slit.
【図12】スリットの遮光状態と通過する光量との関係
を示す図FIG. 12 is a diagram showing the relationship between the light shielding state of a slit and the amount of light passing therethrough.
図面中、1,20は光電センサ、2はライン、4はLE
D(発光手段)、5はコリメートレンズ、6は投光ユニ
ット、8はスリット(スリット手段)、9,21は集光
レンズ、10はフォトダイオード(受光手段)、11は
受光ユニット、22は一次元受光素子(受光手段)を示
す。In the drawing, 1, 20 is a photoelectric sensor, 2 is a line, and 4 is LE
D (light emitting means), 5 is a collimating lens, 6 is a light emitting unit, 8 is a slit (slit means), 9 and 21 are condensing lenses, 10 is a photodiode (light receiving means), 11 is a light receiving unit, and 22 is a primary light. 1 shows a primary light receiving element (light receiving means).
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02B 3/00 G02B 19/00 5F089 3/02 H01L 31/12 D 19/00 G01J 1/02 P H01L 31/12 F21M 1/00 Q // G01J 1/02 Fターム(参考) 2F065 AA07 AA24 DD00 EE04 EE08 FF02 GG07 GG12 HH03 HH13 HH15 JJ02 JJ09 JJ25 LL00 LL28 QQ25 UU01 UU05 2G065 AB23 AB28 BA09 BB06 BB23 DA15 2H052 BA02 BA07 BA09 BA11 3K042 AA01 AC06 BC01 5F041 AA06 EE11 EE16 FF16 5F089 BB04 BC15 GA01 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G02B 3/00 G02B 19/00 5F089 3/02 H01L 31/12 D 19/00 G01J 1/02 P H01L 31 / 12 F21M 1/00 Q // G01J 1/02 F term (reference) 2F065 AA07 AA24 DD00 EE04 EE08 FF02 GG07 GG12 HH03 HH13 HH15 JJ02 JJ09 JJ25 LL00 LL28 QQ25 UU01 UU05 2G065 AB23 BA23 BA09 BA06 3K042 AA01 AC06 BC01 5F041 AA06 EE11 EE16 FF16 5F089 BB04 BC15 GA01
Claims (7)
なるに従って光強度分布が小さくなる放射光を平行化し
て平行光を出射するコリメートレンズを備えた投光ユニ
ットにおいて、 前記コリメートレンズの曲率は、光軸に垂直な出射面に
おける前記平行光の単位面積当たりの光量が均一になる
ように設定されていることを特徴とする投光ユニット。1. A light-projecting unit comprising a collimating lens for collimating radiation emitted from a light-emitting means and having a light intensity distribution that becomes smaller as the radiation angle becomes larger and emitting parallel light, the curvature of the collimator lens is A light emitting unit, wherein the light quantity per unit area of the parallel light on the exit surface perpendicular to the optical axis is set to be uniform.
射面における単位面積から出射される前記平行光に対応
して前記発光手段から入射される前記放射光の光量が一
定値となるような演算式に基づいて設定されていること
を特徴とする請求項1記載の投光ユニット。2. An arithmetic expression for calculating a curvature of the collimating lens such that an amount of the radiated light incident from the light emitting unit becomes a constant value corresponding to the parallel light emitted from a unit area on the emission surface. 2. The light projecting unit according to claim 1, wherein the light emitting unit is set based on:
射角に応じて前記コリメートレンズの表面における反射
による減衰分を予め除去するようにして設定されている
ことを特徴とする請求項2記載の投光ユニット。3. The projection according to claim 2, wherein the curvature of the collimating lens is set in advance so as to remove an attenuation due to reflection on the surface of the collimating lens in accordance with the radiation angle. Light unit.
ニットと、 この投光ユニットから出射される前記平行光を集光レン
ズにて集光し、この集光光を受光手段にて受光する受光
ユニットと、 この受光ユニットにより受光される受光量に基づいて、
前記投光ユニット及び前記受光ユニット間に形成される
測定用光路の遮光状態を検出する遮光状態検出手段とを
具備することを特徴とする光電センサ。4. The light projecting unit according to claim 1, wherein the parallel light emitted from the light projecting unit is condensed by a condenser lens, and the condensed light is transmitted to a light receiving unit. Based on the amount of light received by the light receiving unit
A photoelectric sensor comprising: a light-shielding state detecting unit that detects a light-shielding state of a measurement optical path formed between the light projecting unit and the light receiving unit.
なるに従って光強度分布が小さくなる放射光を平行化し
て平行光を出射するコリメートレンズを備えた投光ユニ
ットと、 この投光ユニットから出射される前記平行光を集光レン
ズにて集光し、この集光光を受光位置が検出可能な受光
手段にて受光する受光ユニットと、 この受光ユニットにより検出される前記受光位置に基づ
いて、前記投光ユニット及び前記受光ユニット間に形成
される光路の遮光状態を検出する遮光状態検出ユニット
とを備える光電センサにおいて、 前記コリメートレンズの曲率は、前記受光手段の受光面
における前記集光光の単位面積当たりの光量が均一にな
るように設定されていることを特徴とする光電センサ。5. A light projecting unit having a collimating lens for collimating emitted light emitted from the light emitting means and having a light intensity distribution that becomes smaller as the radiation angle becomes larger and emitting parallel light, and emitting from the light projecting unit. A light receiving unit that collects the parallel light with a condenser lens, and receives the collected light with a light receiving unit capable of detecting a light receiving position, based on the light receiving position detected by the light receiving unit, A light-blocking state detection unit that detects a light-blocking state of an optical path formed between the light-emitting unit and the light-receiving unit; A photoelectric sensor, wherein the light amount per unit area is set to be uniform.
光手段の受光面における単位面積に入射する前記集光光
に対応して前記発光手段から入射する前記放射光の光量
が一定値となるような演算式に基づいて設定されている
ことを特徴とする請求項5記載の光電センサ。6. The curvature of the collimating lens is such that the amount of radiated light incident from the light emitting means has a constant value corresponding to the condensed light incident on a unit area of the light receiving surface of the light receiving means. The photoelectric sensor according to claim 5, wherein the photoelectric sensor is set based on an arithmetic expression.
射角に応じて前記コリメートレンズ及び前記集光レンズ
の表面における反射による減衰分を予め除去するように
して設定されていることを特徴とする請求項6記載の光
電センサ。7. The curvature of the collimating lens is set in advance so as to remove attenuation due to reflection on the surfaces of the collimating lens and the condenser lens according to the radiation angle. Item 7. The photoelectric sensor according to Item 6.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000397638A JP2002198568A (en) | 2000-12-27 | 2000-12-27 | Light projecting unit and photoelectric sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000397638A JP2002198568A (en) | 2000-12-27 | 2000-12-27 | Light projecting unit and photoelectric sensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002198568A true JP2002198568A (en) | 2002-07-12 |
Family
ID=18862742
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000397638A Pending JP2002198568A (en) | 2000-12-27 | 2000-12-27 | Light projecting unit and photoelectric sensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002198568A (en) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005026371A (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Sunx Ltd | Semiconductor laser drive circuit and photoelectric sensor |
JP2005142447A (en) * | 2003-11-07 | 2005-06-02 | Sharp Corp | Light emitting device, light receiving device, electronic apparatus, and manufacturing method of lens |
JP2006001662A (en) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Mitsubishi Electric Corp | Slide door device |
US7034284B2 (en) | 2002-12-25 | 2006-04-25 | Keyence Corporation | Optical sensor having light projecting prism |
WO2006097990A1 (en) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Hitachi, Ltd. | Adhering matter inspection equipment and adhering matter inspection method |
JP2009031316A (en) * | 2008-11-14 | 2009-02-12 | Hitachi Ltd | Deposit inspection device |
JP2010261948A (en) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Corning Inc | Method and device for detecting defect in glass sheet |
JP2011018798A (en) * | 2009-07-09 | 2011-01-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Laser module, bar code scanner and photoelectric sensor |
JP2011027928A (en) * | 2009-07-23 | 2011-02-10 | Stanley Electric Co Ltd | Shape calculation method of lens for lighting, lens for lighting, and lighting system |
JP2011150857A (en) * | 2010-01-20 | 2011-08-04 | Olympus Corp | Wavelength conversion unit, and illumination apparatus including the unit |
WO2014017163A1 (en) * | 2012-07-25 | 2014-01-30 | アズビル株式会社 | Position detection device |
JP2014059268A (en) * | 2012-09-19 | 2014-04-03 | Hitachi Ltd | Attached substance inspection apparatus |
JP2020021816A (en) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | コーデンシ株式会社 | Passage detection sensor |
WO2022176372A1 (en) * | 2021-02-18 | 2022-08-25 | オムロン株式会社 | Input/output device |
US11560987B2 (en) | 2019-11-20 | 2023-01-24 | Nichia Corporation | Light source device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01312403A (en) * | 1988-06-10 | 1989-12-18 | Fuji Electric Co Ltd | Photoelectric switch |
JPH05329751A (en) * | 1992-05-28 | 1993-12-14 | Union Tool Kk | Inspecting device for cutting tool |
JP2000089161A (en) * | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Fujitsu Ltd | Optical intensity converting element and optical storage device |
-
2000
- 2000-12-27 JP JP2000397638A patent/JP2002198568A/en active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01312403A (en) * | 1988-06-10 | 1989-12-18 | Fuji Electric Co Ltd | Photoelectric switch |
JPH05329751A (en) * | 1992-05-28 | 1993-12-14 | Union Tool Kk | Inspecting device for cutting tool |
JP2000089161A (en) * | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Fujitsu Ltd | Optical intensity converting element and optical storage device |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7034284B2 (en) | 2002-12-25 | 2006-04-25 | Keyence Corporation | Optical sensor having light projecting prism |
JP2005026371A (en) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Sunx Ltd | Semiconductor laser drive circuit and photoelectric sensor |
JP2005142447A (en) * | 2003-11-07 | 2005-06-02 | Sharp Corp | Light emitting device, light receiving device, electronic apparatus, and manufacturing method of lens |
JP2006001662A (en) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Mitsubishi Electric Corp | Slide door device |
JP4481091B2 (en) * | 2004-06-15 | 2010-06-16 | 三菱電機株式会社 | Sliding door device |
US8586916B2 (en) | 2005-03-14 | 2013-11-19 | Hitachi, Ltd. | Adhering matter inspection equipment and method for inspecting adhering matter |
WO2006097990A1 (en) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Hitachi, Ltd. | Adhering matter inspection equipment and adhering matter inspection method |
US8217339B2 (en) | 2005-03-14 | 2012-07-10 | Hitachi, Ltd. | Adhering matter inspection equipment and method for inspecting adhering method |
JP2009031316A (en) * | 2008-11-14 | 2009-02-12 | Hitachi Ltd | Deposit inspection device |
JP2010261948A (en) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Corning Inc | Method and device for detecting defect in glass sheet |
JP2011018798A (en) * | 2009-07-09 | 2011-01-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Laser module, bar code scanner and photoelectric sensor |
JP2011027928A (en) * | 2009-07-23 | 2011-02-10 | Stanley Electric Co Ltd | Shape calculation method of lens for lighting, lens for lighting, and lighting system |
JP2011150857A (en) * | 2010-01-20 | 2011-08-04 | Olympus Corp | Wavelength conversion unit, and illumination apparatus including the unit |
WO2014017163A1 (en) * | 2012-07-25 | 2014-01-30 | アズビル株式会社 | Position detection device |
JP2014025756A (en) * | 2012-07-25 | 2014-02-06 | Azbil Corp | Position detector |
JP2014059268A (en) * | 2012-09-19 | 2014-04-03 | Hitachi Ltd | Attached substance inspection apparatus |
JP2020021816A (en) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | コーデンシ株式会社 | Passage detection sensor |
JP7160317B2 (en) | 2018-07-31 | 2022-10-25 | コーデンシ株式会社 | Passage detection sensor |
US11560987B2 (en) | 2019-11-20 | 2023-01-24 | Nichia Corporation | Light source device |
WO2022176372A1 (en) * | 2021-02-18 | 2022-08-25 | オムロン株式会社 | Input/output device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002198568A (en) | Light projecting unit and photoelectric sensor | |
US6862097B2 (en) | Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus | |
JP6382303B2 (en) | Surface roughness measuring device | |
EP2916157B1 (en) | Photoelectric encoder | |
JP5452245B2 (en) | Lightwave distance measuring device | |
CN109443219B (en) | Novel displacement sensor with refractive mirror and measuring method thereof | |
JP2756331B2 (en) | Interval measuring device | |
JP4732569B2 (en) | Method for continuously determining the optical layer thickness of a coating | |
US10605729B2 (en) | ATR-spectrometer | |
JP7541620B2 (en) | Method for recording silhouette contour of at least one measured object in a measuring position using an imaging device - Patents.com | |
JPH04248509A (en) | Multipoint range finder | |
JP6660584B2 (en) | Object detection device | |
TW201502468A (en) | Shape measuring device | |
US11513048B2 (en) | Optical particle detector | |
JPH0829542A (en) | Optical apparatus and light receiving method | |
JP3593030B2 (en) | Light emitting unit and photoelectric sensor | |
JP6847973B2 (en) | A spectroscope and a microscope equipped with it | |
TWI359936B (en) | ||
JPH01312403A (en) | Photoelectric switch | |
JP2001221688A (en) | Spectroscope | |
TW201622281A (en) | Surface mounted device type laser module | |
US5496994A (en) | Range detection optical system with light emitter behind projection lens focal point and light receiver behind receiving lens focal point | |
JP2006132972A (en) | Defect detecting method and defect detecting device of optical part | |
JP2006071510A (en) | Reflectivity-measuring method and reflectivity-measuring device | |
JP2022017606A (en) | Concentration sensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060228 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060704 |