DE3006657C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3006657C2 DE3006657C2 DE3006657A DE3006657A DE3006657C2 DE 3006657 C2 DE3006657 C2 DE 3006657C2 DE 3006657 A DE3006657 A DE 3006657A DE 3006657 A DE3006657 A DE 3006657A DE 3006657 C2 DE3006657 C2 DE 3006657C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- macroscope
- objects
- comparison
- light
- marking device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Vergleichsmakroskop oder -mikroskop gemäß
dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein derartiges Vergleichsmakroskop oder Vergleichsmikroskop ist aus
der DE-GM 77 39 583 bekannt und dient beispielsweise in der Krimin
alistik, aber auch in der Biologie, Medizin oder Industrie zu Ver
gleichsuntersuchungen an zwei verschiedenen Objekten und bei ent
sprechender instrumenteller Ausstattung zur fotografischen Aufnahme
dieser Objekte. Beim Ausrichten derselben ist es oftmals sehr zeit
aufwendig, die jeweils interessierende Objektstelle in der Mitte des
Sehfeldes anzuordnen. Dieses gilt insbesondere bei der Verwendung
stärker vergrößernder Objektive und für die Untersuchung von Schrift
stücken. Sind Objektive mit unterschiedlichen Abgleichlängen an einem
Objektivrevolver befestigt, so ist bei einem Objektivwechsel jeweils
eine Nachfokussierung durch Verstellen der Vergleichsbrücke erforder
lich. Da keine äußerlich erkennbaren Merkmale für die Richtung vor
liegen, in welche nachfokussiert werden muß, ist auch dieser Vorgang
häufig langwierig.
Aus der DE-OS 26 19 853 ist ein Fotomikroskop mit einer Lichtmeßein
richtung bekannt. Neben einer Meßblende zur integralen Lichtmessung
weist dieses Fotomikroskop eine in X- und Y-Richtung verschiebbar an
geordnete Meßblende zur selektiven Belichtungsmessung auf. Mit dieser
Meßmethode kann die Bedienperson diejenige Objektstelle auswählen, an
der die Belichtungsmessung vorgenommen werden soll. Bei kritischen Ob
jektkontrasten können somit Fehlbelichtungen weitgehend ausgeschlossen
werden.
Die Meßblende wird rückwärtig beleuchtet und über ein Zwischenbild und
einen zusätzlichen Strahlengang mit einem Tripelspiegel in das Okular
abgebildet. Der gemeinsame Strahlengang der beiden Bilder beschränkt
sich somit lediglich auf den Bereich, in dem das Okular angeordnet
ist. Eine Abbildung der Lichtflecke auf das bzw. die Objekte zur
Beurteilung der eingestellten Schärfeebene sowie zur Anzeige des
eingestellten Objektmittelpunkts findet hier nicht statt.
Aus der US-PS 37 34 593 ist ein Mehrfachmikroskop bekannt, mit dem
zwei oder mehrere Beobachter mittels entsprechend gekoppelter Stereo
mikroskope ein Objekt gleichzeitig gemeinsam beobachten können, wobei
mit Hilfe einer fest eingebauten Beleuchtungseinrichtung auf dem Ob
jekt ein Lichtfleck erzeugt wird, der eine bestimmte Stelle des von
den Beobachtern gleichzeitig betrachteten Objektes kennzeichnet. Die
Anzeigevorrichtung ist vertikal verstellbar, wodurch die Größe des
Lichtflecks verändert werden kann. Fallen beim Betrachten des Ob
jektes die beiden Sehfelder der Mikroskope nicht zusammen, erscheint
der Lichtfleck nicht in der Sehfeldmitte eines jeden Mikroskopes;
dadurch wird angezeigt, daß die Mikroskope auf unterschiedliche
Stellen des Objektes gerichtet sind. Eine gleichzeitige Untersuchung
von zwei zu vergleichenden Objekten ist mit dieser bekannten Vor
richtung nicht möglich und auch ohne Belang, da lediglich das Maß der
Übereinstimmung der Lage einer bestimmten Stelle des Objektes fest
gestellt und kein Vergleich vorgenommen werden soll. Hinzu kommt, daß
bei dieser Vorrichtung außer den Beobachtungsstrahlengängen ein
eigener Strahlengang zur Erzeugung des Lichtfleckes mit ent
sprechendem zusätzlichen Aufwand erforderlich ist.
Es ist aus der DE-AS 24 23 136 weiterhin ein Stereomikroskop bekannt,
bei dem mittels eines zusätzlichen Fokussierstrahlenganges auf dem
Objekt ein Lichtfleck erzeugt wird. Dieser wird durch das Stereo
system in Zwischenbildebenen abgebildet, dem Beobachtungsstrahlengang
überlagert und dann aus diesem wieder abgetrennt. Eine Axialver
schiebung der durch den Lichtfleck definierten Objektebene wird durch
Fotoempfänger in ein richtungsabhängiges Signal verwandelt, welches
zur Steuerung eines Fokussiermotors dient. Auf diese Weise wird er
reicht, daß die Schärfeebene der Objektive stets mit dem Objekt zu
sammenfällt. Diese automatische Fokussiereinrichtung ist aufgrund der
beiden unter einem gewissen Konvergenzwinkel stehenden Hauptstrahlen
nur für Stereomikroskope geeignet; eine gleichzeitige Beobachtung von
zwei zu vergleichenden Objekten ist mit dieser Vorrichtung, die zudem
aufwendig in ihrem Aufbau ist, nicht möglich.
Der Erfindung lag die Aufgabe zugrunde, die Einstellbarkeit eines
gattungsgemäßen Vergleichsmakroskops oder -mikroskops auf die beiden zu
vergleichenden Objekte zu verbessern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale
des Anspruchs 1 gelöst.
Der Lichtfleck wird somit gleichzeitig über beide Strahlengänge der
Vergleichsbrücke auf beide Objekte geleitet, da die
Markierungseinrichtung vor dem Strahlenteilerprisma angeordnet ist.
Beim Nachfokussieren nach einem Objektivwechsel befinden sich die
Objekte in der Brennebene, wenn beim Verstellen der Vergleichsbrücke
in Fokussierrichtung der auf die Objekte abgebildete Lichtfleck seinen
kleinsten Durchmesser aufweist. Während des Ausrichtens der Objekte
entfällt auf diese Weise deren Beobachtung durch die Okulare, vielmehr
genügt es, unmittelbar die Veränderung der Durchmesser der Lichtflecke
festzustellen.
Nach einem zweckmäßigen Ausführungsbeispiel der Erfindung reicht es
aus, zur Befestigung der Markierungseinrichtung deren die lichtaus
sendende Fläche definierenden Teil auf dem Okularstutzen festzu
klemmen; ist das Oberteil der Markierungseinrichtung aus dem Strahlen
gang ausschwenkbar, kann diese in einfacher Weise in Verbindung mit
einem der beiden Beobachtungsokulare verwendet werden, ohne daß die
gesamte Markierungseinrichtung beim Vergleichen der Objekte jeweils
entfernt werden muß.
Vorteilhaft kann die Markierungseinrichtung mit ihrem lichtaus
sendenden Flächenteil auch auf dem Fototubus befestigbar und mit einer
in der Brennebene einer Positivlinse angeordneten Lochblende versehen
sein. Zwischen der Positivlinse und der Augenlinse des Okulars besteht
dann ein telezentrischer Strahlengang, und die Lochblende wird in der
Sehfeldebene desjenigen Okulars abgebildet, an dem die Markierungs
einrichtung befestigt ist.
Gemäß einem weiteren zweckmäßigen Ausführungsbeispiel weist ein Okular
des binokularen Tubus eine austauschbare Strichplatte auf. Außer der
Markierung der Objektmitte durch den Lichtfleck wird dabei der über
schaubare Objektdurchmesser für die jeweils verwendete
Okular/Objektivpaarung zusätzlich auf die Objektfläche projiziert,
wozu ein die Lichtaustrittsfläche vergrößerndes Kollektorsystem vor
gesehen ist. Es versteht sich, daß je nach Anwendungsgebiet Strich
platten mit unterschiedlichen Strichbildern eingesetzt werden können.
Alternativ kann nach einem anderen Ausführungsbeispiel der Erfindung
die Markierungseinrichtung ein ihren Strahlengang ablenkendes
optisches Bauteil umfassen, das im Fototubus verschiebbar angeordnet
ist. Als optisches Bauteil können ein vollreflektierender Planspiegel
oder ein Glasprisma Verwendung finden, die zum Fotografieren aus dem
Strahlengang entfernt werden. Das optische Bauteil lenkt den von einem
flexiblen Lichtleiter ausgesandten Strahlengang rechtwinklig ab, wo
durch ein verkleinertes Bild von dessen Austrittsfläche als Lichtfleck
auf die Objektoberfläche projiziert wird.
In der Zeichnung sind drei Ausführungsbeispiele der Erfindung schema
tisch dargestellt und werden im folgenden näher beschrieben. Es
zeigen:
Fig. 1 einen Längsschnitt durch eine erste
Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Vergleichsmakroskops mit angesetzter
Markierungseinrichtung,
Fig. 2 ein Längsschnitt durch eine andere
Ausführungsform der nur gebrochen
dargestellten Markierungseinrichtung, und
Fig. 3 eine perspektivische Ansicht, teilweise im
Schnitt, einer weiteren Ausführungsform der
Markierungseinrichtung.
In Fig. 1 ist der optische Strahlengang eines erfindungsgemäßen
Vergleichsmakroskops mit den für eine ansetzbare Markierungsein
richtung 10 erforderlichen Zusatzteilen gezeigt. Die
Markierungseinrichtung 10 besteht hier im wesentlichen aus einem zylindrischen
Gehäuse 11, in dem eine Lichtquelle 12 und eine Linse 13 angeordnet
sind, einem flexiblen Lichtleiter 14 sowie einem stutzenförmigen An
satz 15. Der Lichtleiter 14 ragt mit seinem Eintrittsende 16 in das
Gehäuse 11 und ist mit seinem Austrittsende 17 mittels einer Fest
stellschraube 18 in dem Ansatz 15 befestigbar. Dieser weist einen
zylindrischen Innenraum 19 auf, der an seinem unteren Ende durch eine
Positivlinse 20 abgeschlossen ist. In deren Brennebene ist eine Loch
blende 21 austauschbar angeordnet. Der Ansatz 15 ist starr auf einer
Schwenkplatte 22 befestigt, und kann mit dieser als Oberteil 47 um
eine Achse 23 geschwenkt werden, deren unteres Ende an einer Auflage
platte 24 befestigt ist. Diese ist mit einer zylindrischen Klemmhülse
25 verbunden. Mittels einer Rändelschraube 26 ist die Klemmhülse 25 an
einem Okularstutzen 27 eines gestrichelt gezeichneten Okulars 28 fest
klemmbar.
Das von der Lichtquelle 12 ausgesandte Licht wird durch die Linse 13
auf die Eintrittsfläche des flexiblen Lichtleiters 14 fokussiert und
zu dessen Austrittsende geleitet und leuchtet die dort angeordnete,
entfernbare Lochblende 21 aus. Da diese in der Brennebene der Positiv
linse 20 liegt, ergibt sich zwischen dieser und einer gestrichelt ge
zeichneten Augenlinse 29 des Okulars 28 ein telezentrischer Strahlen
gang 30.
Dadurch wird die Lochblende 21 in der Ebene der Sehfeldblende 31 des
Okulars 28 abgebildet und ein Lichtfleck 32 durch ein nur angedeutet
dargestelltes Objektiv 33 auf ein Objekt 34 projiziert.
Bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel der Erfindung
erfolgt die Ausleuchtung der Lochblende 21 direkt mittels der Licht
quelle 12 und einer nachgeschalteten Mattscheibe 35. Die mit einer
Zuleitung 36 verbundene Lichtquelle 12, die Mattscheibe 35 und die im
Strahlengang 30 vor dieser angeordnete Lochblende 21, sind hier in
einer zylindrischen Aussparung 37 des Ansatzes 15 angeordnet. Zur
Projektion nicht nur der Markierung der Objektmitte, sondern außerdem
des überschaubaren Objektdurchmessers für die jeweils verwendete Kom
bination von Okular 28 und Objektiv 33 ist im Okular 28 eine an sich
bekannte, austauschbare Stichplatte 38 in Höhe der Sehfeldebene des
Okulars 28 vorgesehen (Fig. 1), die hier ein durchlässiges Strichbild
auf undurchlässigem Grund aufweist. Es versteht sich, daß auch Strich
platten mit anders ausgebildeten Strichbildern, wie beispielsweise
Strichkreuzen, verwendet werden können.
Eine andere Gestaltungsmöglichkeit der Erfindung ist in Fig. 3 dar
gestellt. In einem Fototubus 39, der auf der Oberfläche eines Bin
okulartubus 40 montiert ist, ist ein den Strahlengang 30 hier um 90°
ablenkendes Spiegelelement 41, beispielsweise ein vollreflektierender
Planspiegel oder ein Prisma, angeordnet.
Das Spiegelelement 41 ist in Richtung eines Pfeiles 42 verschiebbar,
so daß es zum Fotografieren durch eine Öffnung 43 im Fototubus 39 aus
dem Strahlengang 30 entfernbar ist. Im Binokulartubus 40, der die
Okulare 28 trägt, ist unterhalb des Spiegelelements 41 ein
Strahlenteilerprisma 44 für die beiden Okulare 28 angeordnet.
Das von einem hier nicht gezeigten Objektiv entworfene Bild eines
Objektes entsteht in einer Zwischenbildebene 45. Dem Abstand a
zwischen dem Reflexionsmittelpunkt 46 des Spiegelelements 41 und der
Zwischenbildebene 45 entsprechend ist die Austrittsfläche des
flexiblen Lichtleiters 14 in gleichem Abstand a vom Reflexions
mittelpunkt 46 des Spiegelelements 41, jedoch rechtwinkelig dazu
angeordnet. Wird nun die Eintrittsfläche des flexiblen Lichtleiters 14
beleuchtet, so entsteht in Reflexionsstellung des Spiegelelements 41
ein verkleinertes Bild der Austrittsfläche des Lichtleiters 14 auf der
Objektoberfläche als Markierung für dessen Mitte. Es versteht sich,
daß auch hier die anhand von Fig. 2 beschriebene direkte Beleuchtung
eingesetzt werden kann.
Die aus der Zeichnung ersichtlichen und beschriebenen Ausführungen
stellen, wie bereits erwähnt, lediglich Beispiele der Erfindung dar.
Diese ist nicht darauf beschränkt. Vielmehr sind noch mancherlei
andere Ausgestaltungen der Erfindung möglich. So ist es beispielsweise
denkbar, farbige Glasplatten im Strahlengang anzuordnen und damit
farbige Lichtflecke zu erzeugen. Auch die Verwendung monokularer Tuben
statt der binokularen Tuben ist möglich.
Bezugszeichenliste
10 Markierungseinrichtung
11 Gehäuse
12 Lichtquelle
13 Linse
14 Lichtleiter
15 Ansatz
16 Eintrittsende
17 Austrittsende
18 Feststellschraube
19 Innenraum
20 Linsensystem; Positivlinse
21 Lochblende
22 Schwenkplatte
23 Achse
24 Auflageplatte
25 Klemmhülse
26 Rändelschraube
27 Okularstutzen
28 Okular
29 Linsensystem; Augenlinse
30 Strahlengang, telezentrisch
31 Sehfeldblende; Ebene der Sehfeldblende
32 Lichtfleck
33 Objektiv
34 Objekt
35 Mattscheibe
36 Zuleitung
37 Aussparung
38 Stichplatte
39 Fototubus
40 Binokulartubus
41 Spiegelelement (Planspiegel)
42 Pfeil
43 Öffnung
44 Strahlenteilerprisma
45 Zwischenbildebene
46 Reflexionsmittelpunkt
47 Oberteil
11 Gehäuse
12 Lichtquelle
13 Linse
14 Lichtleiter
15 Ansatz
16 Eintrittsende
17 Austrittsende
18 Feststellschraube
19 Innenraum
20 Linsensystem; Positivlinse
21 Lochblende
22 Schwenkplatte
23 Achse
24 Auflageplatte
25 Klemmhülse
26 Rändelschraube
27 Okularstutzen
28 Okular
29 Linsensystem; Augenlinse
30 Strahlengang, telezentrisch
31 Sehfeldblende; Ebene der Sehfeldblende
32 Lichtfleck
33 Objektiv
34 Objekt
35 Mattscheibe
36 Zuleitung
37 Aussparung
38 Stichplatte
39 Fototubus
40 Binokulartubus
41 Spiegelelement (Planspiegel)
42 Pfeil
43 Öffnung
44 Strahlenteilerprisma
45 Zwischenbildebene
46 Reflexionsmittelpunkt
47 Oberteil
Claims (5)
1. Vergleichsmakroskop oder -mikroskop zur gleichzeitigen Beob
achtung und gegebenenfalls zur fotografischen Aufnahme von zu ver
gleichenden Objekten, mit einer Vergleichsbrücke, welche alternativ
einen Binokulartubus oder einen Fototubus über einen Strahlenteiler
mit zwei Makro- oder Mikroobjektiven optisch verbindet, die jeweils
den beiden miteinander zu vergleichenden Objekten zugeordnet sind,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Markierungseinrichtung (10) mit einer
Lichtquelle (12) vorgesehen ist, welche am Binokulartubus (40) oder am
Fototubus (39) mechanisch ankoppelbar ist und einen Lichtstrahl über
ein Strahlenteilerprisma (44) im Binokulartubus (40) auf den Strahlen
teiler der Vergleichsbrücke und von dort in die beiden Makro- oder
Mikroobjektive (33) lenkt, so daß auf den beiden zu vergleichenden
Objekten (34) zur Objektausrichtung und gleichzeitigen Anzeige des
Fokuszustandes jeweils in der Mitte des zugehörigen Sehfeldes ein
Lichtfleck (32) erzeugt wird.
2. Vergleichsmakroskop oder -mikroskop nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Oberteil (47) der Markierungseinrichtung (10)
zusammen mit der das Markierungslicht aussendenden Fläche schwenkbar
auf einem der Okularstutzen (27) des Binokulartubus (40) angeordnet
ist und nach einer Verschwenkung des Oberteils (47) den Einblick in
den Binokulartubus (40) freigibt.
3. Vergleichsmakroskop oder -mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß eine Lochblende (21) im Brennpunkt eines
nachgeschalteten, sammelnden Linsensystems (20; 29) mit telezent
rischem Strahlengang (30) angeordnet ist, deren Bild in die Ebene der
Sehfeldblende (31) abgebildet wird.
4. Vergleichsmakroskop oder -mikroskop nach einem der Ansprüche 1
bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine austauschbare Strichplatte
(38) in der Ebene der Sehfeldblende (31) angeordnet ist und auf die
beiden Objekte (34) abgebildet wird.
5. Vergleichsmakroskop oder -mikroskop nach einem der Ansprüche 1
bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß im Fototubus (39) ein Spiegel
element (41) zur wechselseitigen Umschaltung zwischen der Markierungs
einrichtung (10) und der Fotoaufnahmeeinrichtung verschiebbar ange
ordnet ist.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803006657 DE3006657A1 (de) | 1980-02-22 | 1980-02-22 | Vergleichsmakroskop bzw. -mikroskop |
AT0590780A AT386485B (de) | 1980-02-22 | 1980-12-03 | Geraet zur makro- bzw. mikroskopischen beobachtung |
CH132/81A CH649634A5 (de) | 1980-02-22 | 1981-01-09 | Vergleichsmakroskop und/oder -mikroskop. |
FR8101397A FR2476859B1 (fr) | 1980-02-22 | 1981-01-26 | Mascrocope ou microscope de comparaison |
GB8102685A GB2070274B (en) | 1980-02-22 | 1981-01-29 | Optical device for injecting light spot |
JP1177581A JPS56135818A (en) | 1980-02-22 | 1981-01-30 | Comparison observation mirror or comparison microscope |
US06/236,240 US4403839A (en) | 1980-02-22 | 1981-02-20 | Comparator macroscope or microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19803006657 DE3006657A1 (de) | 1980-02-22 | 1980-02-22 | Vergleichsmakroskop bzw. -mikroskop |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3006657A1 DE3006657A1 (de) | 1981-09-03 |
DE3006657C2 true DE3006657C2 (de) | 1991-01-31 |
Family
ID=6095296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19803006657 Granted DE3006657A1 (de) | 1980-02-22 | 1980-02-22 | Vergleichsmakroskop bzw. -mikroskop |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4403839A (de) |
JP (1) | JPS56135818A (de) |
AT (1) | AT386485B (de) |
CH (1) | CH649634A5 (de) |
DE (1) | DE3006657A1 (de) |
FR (1) | FR2476859B1 (de) |
GB (1) | GB2070274B (de) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2231681B (en) * | 1989-05-05 | 1993-04-21 | Hatfield Polytechnic | Optical microscopes |
US5235459A (en) * | 1989-11-18 | 1993-08-10 | Carl-Zeiss-Stiftung | Inverted microscope with integrated ray paths |
DE10150577A1 (de) * | 2001-10-12 | 2003-04-30 | Leica Microsystems | Verfahren und eine Vorrichtung zum Zusammenführen eines ersten und zweiten Strahlenbündels |
EP1416308B1 (de) * | 2002-10-31 | 2006-12-27 | Leica Microsystems CMS GmbH | Vergleichendes optisches System |
EP1416309B1 (de) * | 2002-10-31 | 2006-11-29 | Leica Microsystems CMS GmbH | Vergleichsmakroskop mit einem Beleuchtungssystem für Objekte |
EP2175302B1 (de) * | 2007-08-07 | 2018-09-19 | Nikon Corporation | Mikroskop |
DE102009024884B4 (de) * | 2009-06-09 | 2019-08-22 | Airbus Defence and Space GmbH | Optische Anordnung zur Abbildung von in unterschiedlichen Blickrichtungen befindlichen Objekten |
DE102010060558B3 (de) * | 2010-11-15 | 2012-03-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optisches Element zum Verteilen von Licht |
CN108549145B (zh) * | 2018-05-30 | 2021-08-31 | 四川远瞻智汇科技有限公司 | 一种单物双目望远镜的新结构 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1215954B (de) * | 1963-02-08 | 1966-05-05 | Leitz Ernst Gmbh | Fotometer fuer Beobachtungsinstrumente, insbesondere Mikroskope |
FR1601976A (de) * | 1968-05-16 | 1970-09-21 | ||
US3734593A (en) * | 1970-06-12 | 1973-05-22 | Sony Corp | Plural-microscope with light indicator |
US3851949A (en) * | 1970-06-18 | 1974-12-03 | Leitz Ernst Gmbh | Microscope having a photometer |
DE2051174C3 (de) * | 1970-10-19 | 1974-06-06 | Ernst Leitz Gmbh, 6330 Wetzlar | Doppelmikroskop |
DE2423136C3 (de) * | 1974-05-13 | 1982-07-29 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Vorrichtung zur automatischen Fokussierung von Stereomikroskopen |
DE2619853C2 (de) * | 1976-05-05 | 1982-03-25 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Aufsatzkamera für Mikroskope |
JPS5442914U (de) * | 1977-08-29 | 1979-03-23 | ||
DE7739583U1 (de) * | 1977-12-24 | 1979-05-31 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Lahn- Wetzlar | Vorrichtung fuer mikrofotografische geraete zur beobachtung und aufnahme von zu vergleichenden objekten |
-
1980
- 1980-02-22 DE DE19803006657 patent/DE3006657A1/de active Granted
- 1980-12-03 AT AT0590780A patent/AT386485B/de not_active IP Right Cessation
-
1981
- 1981-01-09 CH CH132/81A patent/CH649634A5/de not_active IP Right Cessation
- 1981-01-26 FR FR8101397A patent/FR2476859B1/fr not_active Expired
- 1981-01-29 GB GB8102685A patent/GB2070274B/en not_active Expired
- 1981-01-30 JP JP1177581A patent/JPS56135818A/ja active Pending
- 1981-02-20 US US06/236,240 patent/US4403839A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2476859B1 (fr) | 1985-11-15 |
CH649634A5 (de) | 1985-05-31 |
ATA590780A (de) | 1988-01-15 |
FR2476859A1 (fr) | 1981-08-28 |
GB2070274A (en) | 1981-09-03 |
GB2070274B (en) | 1984-02-15 |
AT386485B (de) | 1988-08-25 |
DE3006657A1 (de) | 1981-09-03 |
US4403839A (en) | 1983-09-13 |
JPS56135818A (en) | 1981-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2924053A1 (de) | Aufsatzkamera fuer mikroskope | |
DE2415319A1 (de) | Kamera zur aufnahme des augenhintergrundes | |
DE19725483B4 (de) | Mikroskop mit einer Autofokus-Anordnung | |
EP0193818A1 (de) | Stereomikroskop für Operationen | |
DE10125596A1 (de) | Ophthalmoskop | |
DE3938412A1 (de) | Mikroskop mit einem diagonal verlaufenden beobachtungsstrahlengang | |
DE10209844B4 (de) | Inverses Mikroskopsystem | |
DE3006657C2 (de) | ||
EP0085317B1 (de) | Universeller Binokulartubus für Mikroskope | |
DE4323129C2 (de) | Inverses Mikroskop | |
DE102009019575A1 (de) | Stereoskopisches optisches Beobachtungsgerät und stereoskopisches optisches Beobachtungssystem | |
DE3318011C2 (de) | Zusatzeinrichtung für Stereomikroskope | |
DE102007029893A1 (de) | Mikroskop mit zentrierter Beleuchtung | |
DE102007051909A1 (de) | Beleuchtungseinrichtung für ein Lichtmikroskop und Lichtmikroskop mit einer solchen Beleuchtungseinrichtung | |
DE2407270C2 (de) | Vergleichsmikroskop | |
DE3740737C2 (de) | ||
EP1985227A1 (de) | Optikkomponente für ein Stereomikroskop | |
DE10135321B4 (de) | Mikroskop und Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Mikroskop | |
DE2633965B2 (de) | Einrichtung zur Parallelen und zentrischen Justierung eines mittels Strahlablenker manipulierbaren Laserstrahls | |
AT314222B (de) | Mikroskop mit einem für Durchlicht- und Auflichtuntersuchungen eingerichteten Grundkörper | |
DE2848605A1 (de) | Weitfeld-adapter zur verbindung einer fernsehkamera mit einem mikroskop | |
DE3744156A1 (de) | Inversmikroskop fuer durchlichtbeleuchtung | |
DE102012223106B4 (de) | Weitwinkelvorsatz für ein Operationsmikroskop und System aus einem Operationsmikroskop und einem Weitwinkelvorsatz | |
DE3249807C2 (en) | Transmitted-light and/or reflected-light inverse microscope | |
EP0433658B1 (de) | Inverses Mikroskop mit integriertem Photostrahlengang |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: WILD LEITZ GMBH, 6330 WETZLAR, DE |
|
D2 | Grant after examination | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: LEICA INDUSTRIEVERWALTUNG GMBH, 6330 WETZLAR, DE |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |